MD3688C2 - Полупроводниковый тензочувствительный резистор - Google Patents
Полупроводниковый тензочувствительный резистор Download PDFInfo
- Publication number
- MD3688C2 MD3688C2 MDA20070060A MD20070060A MD3688C2 MD 3688 C2 MD3688 C2 MD 3688C2 MD A20070060 A MDA20070060 A MD A20070060A MD 20070060 A MD20070060 A MD 20070060A MD 3688 C2 MD3688 C2 MD 3688C2
- Authority
- MD
- Moldova
- Prior art keywords
- sensing resistor
- semiconductor strain
- measuring
- sensibility
- thallium
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title abstract 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 abstract 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract 1
- 238000011089 mechanical engineering Methods 0.000 abstract 1
- OCGWQDWYSQAFTO-UHFFFAOYSA-N tellanylidenelead Chemical compound [Pb]=[Te] OCGWQDWYSQAFTO-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 abstract 1
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к полупроводниковому тензочувствительному резистору, который может быть применен для измерения деформаций и усталостных повреждений конструкций в электронике, атомной энергетике, машиностроении, авиации.Полупроводниковый тензочувствительный резистор изготовлен в форме нити из теллурида свинца, легированного таллием, при следующем соотношении компонентов, масс. %:Результат изобретения состоит в повышении чувствительности и в расширении диапазона измерений величин деформаций типа одноосного растяжения.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDA20070060A MD3688C2 (ru) | 2007-03-14 | 2007-03-14 | Полупроводниковый тензочувствительный резистор |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDA20070060A MD3688C2 (ru) | 2007-03-14 | 2007-03-14 | Полупроводниковый тензочувствительный резистор |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| MD3688B1 MD3688B1 (en) | 2008-08-31 |
| MD3688C2 true MD3688C2 (ru) | 2009-03-31 |
Family
ID=39740086
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| MDA20070060A MD3688C2 (ru) | 2007-03-14 | 2007-03-14 | Полупроводниковый тензочувствительный резистор |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| MD (1) | MD3688C2 (ru) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| MD4002C2 (ru) * | 2008-03-19 | 2010-07-31 | Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы | Устройство для измерения напряженности магнитного поля |
| MD174Z (ru) * | 2009-05-19 | 2010-10-31 | Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы | Полупроводниковый материал |
| MD323Z (ru) * | 2009-12-29 | 2011-08-31 | Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы | Термоэлектрический микропровод в стеклянной изоляции |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU101524A1 (ru) * | 1954-07-06 | 1954-11-30 | Е.М. Шулик | Приспособление дл автоматического клеймени листов |
| RU2002101129A (ru) * | 2000-04-20 | 2003-09-27 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. (Nl) | Носитель оптической записи |
| SU1828725A3 (ru) * | 1990-07-09 | 2006-12-27 | Институт электроники АН БССР | Способ получения пленочного многоэлементного термоэлектрического преобразователя |
-
2007
- 2007-03-14 MD MDA20070060A patent/MD3688C2/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU101524A1 (ru) * | 1954-07-06 | 1954-11-30 | Е.М. Шулик | Приспособление дл автоматического клеймени листов |
| SU1828725A3 (ru) * | 1990-07-09 | 2006-12-27 | Институт электроники АН БССР | Способ получения пленочного многоэлементного термоэлектрического преобразователя |
| RU2002101129A (ru) * | 2000-04-20 | 2003-09-27 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. (Nl) | Носитель оптической записи |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| Равич Ю.И., Ефимова Б.А., Смирнов И.А. Методы исследования полупроводников в применении к халькогенидам свинца PbTe, PbSe, PbS. * |
| Равич Ю.И., Ефимова Б.А., Смирнов И.А. Методы исследования полупроводников в применении к халькогенидам свинца PbTe, PbSe, PbS. Москва, Наука, 1968, с. 354 * |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| MD4002C2 (ru) * | 2008-03-19 | 2010-07-31 | Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы | Устройство для измерения напряженности магнитного поля |
| MD174Z (ru) * | 2009-05-19 | 2010-10-31 | Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы | Полупроводниковый материал |
| MD323Z (ru) * | 2009-12-29 | 2011-08-31 | Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы | Термоэлектрический микропровод в стеклянной изоляции |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| MD3688B1 (en) | 2008-08-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Kuo et al. | Measurement of the elastoresistivity coefficients of the underdoped iron arsenide Ba (Fe 0.975 Co 0.025) 2 As 2 | |
| WO2012116227A3 (en) | Measuring seebeck coefficient | |
| Ojaghnezhad et al. | A combined first principles and analytical determination of the modulus of cohesion, surface energy, and the additional constants in the second strain gradient elasticity | |
| WO2009016594A3 (en) | Humidity sensor based on progressive corrosion of exposed material | |
| SG151317A1 (en) | Magnetoresistance effect device | |
| MD3688C2 (ru) | Полупроводниковый тензочувствительный резистор | |
| EP2645093A3 (en) | Method of manufacture gas sensor element, inspection of electrical characteristics of sensor element, and pre-treatment of gas sensor element | |
| Mejri et al. | Characterization of the thermo-mechanical properties of p-type (MnSi1. 77) and n-type (Mg2Si0. 6Sn0. 4) thermoelectric materials | |
| Lee et al. | Role of mechanical strain on thermal conductivity of nanoscale aluminum films | |
| CN110546471A (zh) | 使用应变片的温度测定装置 | |
| WO2013149065A8 (en) | Force gauge for pliable material | |
| WO2009041631A1 (ja) | ZnO系半導体及びZnO系半導体素子 | |
| Yang et al. | The influence of size effect on sensitivity of Cu/CuNi thin-film thermocouple | |
| CN106482883A (zh) | 一种冲击力检测机构 | |
| CN103822755B (zh) | 一种用于应力测量系统校准的拉应力发生装置 | |
| Datta et al. | Magnetostrictive vibration sensor based on iron-gallium alloy | |
| Ueno et al. | Magnetic circuit for stress-based magnetic force control using iron-gallium alloy | |
| Kayama et al. | Pressure induced insulator-to-metal transition at 170 GPa of Kondo semiconductor YbB12 | |
| Kimura et al. | Anelastic properties of La0. 6Sr0. 4Co1− yFeyO3-δ at high temperatures | |
| Lee et al. | A study on physical properties and life time prediction of ACM rubber for automotive engine gasket | |
| Nam et al. | Coefficient of Thermal Expansion Measurement of Concrete using Electrical Resistance Strain Gauge | |
| He et al. | Measurement of foil bonded strain gauges with 3 wire quarter bridge | |
| Otazhonov et al. | Deformation characteristics of PbTe-Te Polycrystalline films | |
| TW200707611A (en) | Evaluating method of dopant contamination of semiconductor wafer | |
| Turek et al. | Investigation of excess charge carrier lifetime measurements on samples of arbitrary thickness |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FG4A | Patent for invention issued | ||
| KA4A | Patent for invention lapsed due to non-payment of fees (with right of restoration) | ||
| MM4A | Patent for invention definitely lapsed due to non-payment of fees |