MA41924B1 - Dispositif et système de mesure optique du coefficient de réflexion d’une surface - Google Patents

Dispositif et système de mesure optique du coefficient de réflexion d’une surface

Info

Publication number
MA41924B1
MA41924B1 MA41924A MA41924A MA41924B1 MA 41924 B1 MA41924 B1 MA 41924B1 MA 41924 A MA41924 A MA 41924A MA 41924 A MA41924 A MA 41924A MA 41924 B1 MA41924 B1 MA 41924B1
Authority
MA
Morocco
Prior art keywords
optical
measurement
illumination
reflection coefficient
del
Prior art date
Application number
MA41924A
Other languages
English (en)
Other versions
MA41924A1 (fr
Inventor
Sanz Noelia Martinez
Vila Carlos Heras
Esteban Rafael Alonso
Ariz Iñigo Salinas
Nuñez David Izquierdo
Garcia Carlos Alcañiz
Gil Cristina Pelayo
Escobar Victor Zarza
Original Assignee
Abengoa Solar New Tech Sa
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Abengoa Solar New Tech Sa filed Critical Abengoa Solar New Tech Sa
Publication of MA41924A1 publication Critical patent/MA41924A1/fr
Publication of MA41924B1 publication Critical patent/MA41924B1/fr

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55—Specular reflectivity

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

La présente invention concerne un dispositif innovant de mesure optique du coefficient de réflexion d’une surface (1), ledit dispositif comprenant un ou plusieurs canaux optiques comprenant chacun une pluralité de del (2) pour l’émission d’un faisceau d’éclairage dans une ou plusieurs longueurs d’onde ; un premier photodétecteur (4) destiné à mesurer le faisceau d’éclairage direct des del dans le canal optique d’éclairage; un diaphragme (5) située à la sortie du canal optique d’éclairage, pour limiter l’ouverture de sortie du faisceau d’éclairage ; une lentille (6) disposée de manière à recevoir le faisceau réfléchi par une surface (1) et pour mettre au point ledit faisceau ; et un second photodétecteur (8) pour mesurer le signal du faisceau d’éclairage réfléchi par la surface (1) à mesurer. Le dispositif selon la présente invention est capable de réduire à un minimum la quantité de lumière diffuse présente lors de la mesure, tout en conservant une tolérance intrinsèque élevée de la mesure vis-à-vis de différentes courbures et de différentes épaisseurs de réflecteurs, sans nécessiter la réalisation d’un réglage additionnel sur ledit dispositif.
MA41924A 2015-07-30 2016-07-13 Dispositif et système de mesure optique du coefficient de réflexion d’une surface MA41924B1 (fr)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
ES201531138A ES2603650B1 (es) 2015-07-30 2015-07-30 Dispositivo y sistema de medida óptica del coeficiente de reflexión de una superficie
PCT/ES2016/070531 WO2017017297A1 (fr) 2015-07-30 2016-07-13 Dispositif et système de mesure optique du coefficient de réflexion d'une surface

Publications (2)

Publication Number Publication Date
MA41924A1 MA41924A1 (fr) 2018-09-28
MA41924B1 true MA41924B1 (fr) 2019-03-29

Family

ID=57885354

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
MA41924A MA41924B1 (fr) 2015-07-30 2016-07-13 Dispositif et système de mesure optique du coefficient de réflexion d’une surface

Country Status (6)

Country Link
CN (1) CN108449967A (fr)
CL (1) CL2018000146A1 (fr)
ES (1) ES2603650B1 (fr)
MA (1) MA41924B1 (fr)
WO (1) WO2017017297A1 (fr)
ZA (1) ZA201800744B (fr)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3073943B1 (fr) * 2017-11-22 2020-05-29 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Systeme de surveillance de la degradation et de l'encrassement d'un miroir
EP3736550A1 (fr) * 2019-05-10 2020-11-11 X-Rite Switzerland GmbH Dispositif d'éclairage pour un spectrophotomètre optique doté d'une optique de mélange intégrée et procédé d'éclairage d'un échantillon
CN110646169B (zh) * 2019-10-28 2022-03-08 沈阳仪表科学研究院有限公司 曲面光学薄膜元件反射率测量方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2560377B1 (fr) * 1984-02-29 1988-05-13 Commissariat Energie Atomique Dispositif optique de mesure de proximite de surface et son application au releve du profil d'une surface
JPH04329334A (ja) * 1991-05-01 1992-11-18 Olympus Optical Co Ltd 屈折率分布測定装置
ES2372191B1 (es) * 2010-02-25 2012-09-06 Abengoa Solar New Technologies, S.A. Espectrofotómetro portátil y método de caracterización de tubos de colectores solares.
ES2375386B1 (es) * 2010-07-21 2012-09-27 Abengoa Solar New Technologies, S.A. Reflectómetro portátil y método de caracterización de espejos de centrales termosolares.
ES2366290B1 (es) * 2010-10-20 2012-08-27 Abengoa Solar New Technologies S.A. Espectrofotómetro para caracterización óptica automatizada de tubos colectores solares y método de funcionamiento.
CN102539387A (zh) * 2011-12-28 2012-07-04 北京奥博泰科技有限公司 一种测量玻璃反射比的方法和装置
ES2533778B1 (es) * 2013-09-13 2016-02-02 Abengoa Solar New Technologies S.A. Espectrofotómetro para caracterización de receptores de colectores solares
CN204255502U (zh) * 2015-01-14 2015-04-08 中国计量学院 一种基于led光源的反射光谱测量仪
CN104792710B (zh) * 2015-04-13 2018-08-03 杭州远方光电信息股份有限公司 一种物体光学特性测量装置

Also Published As

Publication number Publication date
MA41924A1 (fr) 2018-09-28
ES2603650A1 (es) 2017-02-28
CN108449967A (zh) 2018-08-24
WO2017017297A1 (fr) 2017-02-02
ZA201800744B (en) 2018-12-19
CL2018000146A1 (es) 2018-05-18
ES2603650B1 (es) 2017-09-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11463675B2 (en) Light-source characterizer and associated methods
MA41924A1 (fr) Dispositif et système de mesure optique du coefficient de réflexion d’une surface
WO2016175395A3 (fr) Système optique de balayage lidar multicanal utilisant une sorte de rotation de miroir
JP2015090497A5 (fr)
CN107356914B (zh) 一种星载激光雷达探测器校准系统
KR102099935B1 (ko) Ｔｏｆ 카메라 장치
ATE451866T1 (de) Messung der oberflächentopographie und wellenaberration eines linsensystems
JP2014240782A5 (fr)
FR3053463A1 (fr) Dispositif pour limiter l'angle d'incidence d'un spectrometre et procede de gestion du dispositif
CN102778202A (zh) 一种膜厚测量装置及方法
JP2013002819A (ja) 平面度測定装置
WO2020112434A3 (fr) Système d'imagerie optique compact de surveillance de culture cellulaire
JP7164584B2 (ja) 光電子ユニット用測定装置
US20160238525A1 (en) V-block refractometer
CN105651733A (zh) 材料散射特性测量装置及方法
CN204330129U (zh) 内置光源的亮度检测仪
JPH04283683A (ja) 光波測距装置
JP2015011033A (ja) 電磁放射放出装置
RU2470262C1 (ru) Способ и устройство для имитации фоновой засветки без искажения спектра фонового излучения
US11561384B2 (en) Method and device for adjusting the focus or determining the refractive index of a sample medium, non-volatile computer-readable storage medium and microscope
RU2008140241A (ru) Способ калибровки оптического тракта пирометра с помощью модели абсолютно черного тела и устройство его реализующее
RU40680U1 (ru) Устройство для контроля лазерного дальномера, установленного в изделии с телевизионным каналом наблюдения
RU112448U1 (ru) Универсальное устройство для юстировки и проверки многоканальных изделий с лазерным дальномером
CN109633489B (zh) Led蓝光危害亮度测试和蓝光泄漏预测的方法及其装置
RU2017103618A (ru) Универсальная установка для проверки лазерного дальномера