LT4710B - Optinis fazinių virsmų kristaluose tyrimo įrenginys - Google Patents
Optinis fazinių virsmų kristaluose tyrimo įrenginys Download PDFInfo
- Publication number
- LT4710B LT4710B LT98-192A LT98192A LT4710B LT 4710 B LT4710 B LT 4710B LT 98192 A LT98192 A LT 98192A LT 4710 B LT4710 B LT 4710B
- Authority
- LT
- Lithuania
- Prior art keywords
- input
- output
- synchronous detector
- comparator
- block
- Prior art date
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 11
- 230000007704 transition Effects 0.000 title description 10
- 238000011835 investigation Methods 0.000 title description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000000844 transformation Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 19
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 21
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Žinomas optinis fazinių virsmų kristaluose tyrimo įrenginys, susidedantis iš optiškai sujungtų šviesos šaltinio. šviesos intensyvumo moduliatoriaus, monochromatoriaus su valdymo bloku, šviesos poliarizatoriaus, kriostato su jame įtaisytu bandinio staleliu ir temperatūros matuokliu, fotoimtuvo, prie kurio išėjimo prijungtas sinchroninio detektoriaus pirmas įėjimas, sinchroninio detektoriaus išėjimas prijungtas prie perjungiklio įėjimo, kurio pirmas išėjimas sujungtas su atminties bloko pirmuoju įėjimu, antras - su įtampų dalybos bloko pirmu įėjimu, antrasis atminties bloko įėjimas sujungtas su valdymo bloko išėjimu, o antrasis dalybos bloko įėjimas sujungtas su atminties bloko išėjimu, ir dvikoordinačio registratoriaus, kurio pirmas įėjimas sujungtas su valdymo bloko išėjimu, komparatoriaus, kurio antras įėjimas prijungtas prie dalybos bloko išėjimo, o išėjimas -- prie monochromatoriaus valdymo bloko įėjimo, ir atraminio signalo šaltinio, kurio išėjimas prijungtas prie komparatoriaus pirmo įėjimo Dvikoordinačio registratoriaus antras įėjimas sujungtas su temperatūros matuoklio išėjimu, moduliatoriaus antras išėjimas sujungtas su sinchroninio detektoriaus antai įėjimu (Lietuvos Respublikos Patentas Nr 43 17).
Minėti optiniai fazinių virsmų kristaluose tyrimo įrenginiai tiksliai matuoja, kai matavimai vyksta kristalo fundamentaliosios absorbcijos arba pakankamai plataus spektrinio pločio absorbcijos linijos srityje Žinoma, kad fundamentaliosios absorbcijos kraštas tr plataus spektrinio pločio absorbcijos linija silpnai jaučia kristalo vidinio elektrinio lauko potencialo pokyčius voksiant faziniam virsmui Ypatingai jaučia fazinį virsmą priemaišų (pvz fe, ( r) siauro^ absorbcijos linijos lačiau minėti Įrenginiai negali matuoti siauros linijos maksimumo (arba jos šonines dalies) priklausomybę nuo išoriniu parametrų (temperatūros, slėgio, pridėtos elektrines įtampos). Įrenginys, galintis optiškai tirti fazinius virsmus panaudojant siaurą priemaišinę absorbcijos linija turi patenkinti sekančias sąlygas:
Tiksliai nustatvti siauros absorbcijos linijos maksimumo bangos ilgi λ vykstant faziniam virsmui, kintant išoriniams parametrams
Kintant išoriniams parametrams (temperatūrai - Z. slėgiui - p. įtampai - ' i įrenginys turi keisti monochromatinės bangos ilgį taip, kaip kinta λ,,ίί). λ.ιρι. λ,Νί.
Įrenginys vykstant matavimams turi stabiliai palaikyti darbo tašką ties pasirinkta linijos vieta
Išradimo tikslas - sukurti optini fazinių virsmų kristaluose tyrimo įrenginį tiksliai matuojantį siauros absorbcines linijos priklausomybę nuo tolygiai arba diskretiškai kintančiu išorinių parametru. (Z. p. Z j
Mindas tikslas pasiekiamas panaudojant įrenginį, susidedantį iš optiškai sujungtų šviesos šaltinio (I). šviesos intensyvumo moduliatoriaus (2). monochromatoriaus (3) su valdymo bloku (4). poliarizatoriaus (5). kriostato (6) su jame įtaisytu bandinio laikikliu ir temperatūros matuoklio (7). fotoimtuvo (8).-prie kurio išėjimo prijungtas sinchroninio detektoriaus (9) pirmas įėjimas Sinchroninio detektoriaus (9) pirmas įėjimas prijungtas prie įtampos dalybos bloko (10) pirmo įėjimo Dalybos bloko (10) įėjimas sujungtas su komporatoriaus (11) pirmuoju įėjimu. Antras komporatoriaus (II) įėjimas sujungtas su atraminio šaltinio (12) išėjimu. Komparatoriaus (11) išėjimas sujungtas su monochromatoriaus (3) valdymo bloko (4) įėjimu, kurio išėjimas sujungtas si.i proporcingo bangos ilgiui signalo bloko (13) įėjimu. Proporcingo bangos ilgiui signalo bloko (13) pirmasis išėįimas sujungtas su registratoriaus (14) pirmuoju (v) įėjimu Registratoriaus (14) antras (\, įėjimas per jungiklį (16) sujungtas su temperatūros matuoklio (7) išėjimu. Papildomai prie fotoimtuvo (S) prijungtas galintis dirbti pastovios arba valdomos įtampos režimuose specializuotas maitinimo šaltinis (15). kurio išėjimas per jungiklį ( Ιό) prijungtas prie registratoriaus f!4) antrojo (\) įėjimo. Sinchroninio detektoriaus (17) Įėjimas sujungtas su bangos ilgio moduliatoriaus (IK) išėjimu Sinchroninio detektoriaus (I7) išėjimas sujungtas su įtampu dalybos bloko (IO) antru įėjimu
Maitinimo šaltinio (15) įjungimas ir įrenginio blokai sujungimas kaip siūloma išradime, leidžia tiksliai nusiauti priemaišų siauros absorbcijos linijos bangos ilgi Įrenginys, panaudodamas siaura absorbcijos liniją, gali registruoti linijos mažiausias anomalijas λ·,,·, (/’. T. f'}. kai išoriniai parametrai (/>. /. i ’) kinta tolvgiai arba diskretiškai
Išradimas aiškinamas brėžiniu, kuriame pavaizduota jienginio blokine schema
Siūlomas įrenginės sudarytas iš optiškai sujungtų šviesos šaltinio (I ). Šviesus intensyvumo moduliatoriaus (2). monochromatoriaus (3) su valdymo bloku (4). poliarizatoriaus (5). kriostato (b) su jame įtaisytu bandinio laikikliu ir temperatūros matuokliu (7). totoimtuvo (S) prie kurio išėjimo prijungtas sinchroninio detektoriaus (6) pirmas įėjimas. Dalvbos bloko (Ί0) išėjimas sujungtas su komparatoriaus) I I) pirmuoju įėjimu Antras komparatoriaus (II) įėjimas sujungtas su atraminio šaltinio (12) išėjimu Komparatoriaus (II) išėjimas sujungtas su monochromatoriaus (3) valdomo bloko (-1.) įėjimu, kurio išėjimas sujungtas su proporcingo bangos ilgiui signalo bloko (13) ieįimu Proporcingo bangos ilgiui signalo bloko (13) pirmasis išėjimas sujungtas su registratoriaus (14) pirmuoju (v) įėjimu. Registratoriaus (14) antras i \) išėjimas sujungtas per jungiklį (16) su temperatūros matuoklio (7) išėjimu Prie totoimtuvo (8) prijunutas specializuotas maitinimo šaltinis (15). kurio, (sėjimas per jungiklį (16) prijungtas prie registratoriaus (14) antrojo (x) įėjimo Sinchroninio detektoriaus (17) įėjimas sujungtas su bangos ilgio moduliatoriaus (18) išėjimu Sinchroninio detektoriaus (17) išėjimas sujungtas su įtampų dalybos bloko (10) antru įėjimu. Bandinys dedamas į kriostate (4) įrengtą bandinio laikikli.
Siūlomas įrenginys veikia sekančiai:
Balta šviesos šaltinio (1 ) šviesa amplitudiškai moduliuojama moduliatoriumi (2). Po toji patenka į monoclvomatorių (3), kur išskiriamas tam tikro šviesos bangos ilgio spindulys, poliarizuojamas poliarizatoriumi (5) ir. praėjęs kriostatą (6) patenka į fotoimtuvą (8). Elektrinis totoimtuvo signalas proporcingas praėjusiam pro bandini šviesos intensyvumui / sinchroniškai moduliacijos dažniu detektuojamas sinchroniniu detektoriumi (9).
Pirmiausia nustatoma priemaišinės absorbcijos linijų spektras, atrenkama linija jautriausiai reaguojanti į fazinį virsmą, nustatomas šios linijos maksimumo bangos ilgis
Tuo tikslu fotoimtuvo (8) maitinimo šaltinis (15) iš pastovios įtampos režimo perjungiamas į valdomos Įtampos režimą. Šaltinis (15) valdomos įtampos režime palaiko signalą proporcingą praėjusios pro bandini šviesos intensyvumui / pastovų, kintant monochromatinės šviesos bangos ilgiui ž arba bandinio temperatūrai Z. Tokiu atveju iš specializuoto maitinimo šaltinio (15) paimta per dalytuvą įtampa atkartoja siauros absorbcijos linijos spektrą, kur In krintančios į bandinį šviesos intensyvumas
Į )
Signalas proporcingas —— paduodamas perjungikli (16) padėtyje 2' į registratoriaus
Z,, (14) pirmą (y) įėjimą, o į antrą (\) įėjimą paduodamas iš bloko (13) signalas proporcingas bangos ilgiui ž. Registratorius (14) registruoja siauros absorbcijos linijos grafiką jr nustatomas jos maksimumo bangos ilgis
Panaudota įrenginio dalis taip pat tinka fazinių virsmų tyrimui kai kristalą v eikiantys išoriniai parametrai (temperatūra - Zj, slėgis - p,. pridėta elektrinė įtampa - Z j kinta diskretiškai (z =1,2. 3...).
Keičiant Zj, />,, P,, registruojami spektrai -^-(/.). Pagal siauros absorbcijos linijos maksimumo ž,„ priklausomybę nuo išorinių faktorių p,. F, sprendžiama apie fazinių virsmų pobūdį.
Norint ištirti fazinius virsmus, kai kristalą veikiantys išoriniai parametrai (temperatūra - Z',, slėgis - p,, pridėta elektrinė įtampa - F,) kinta tolygiai, įjungiami papildomi įrenginio blokai. Tokiu atveju fotoimtuvo (1) maitinimo šaltinis (15) pervedamas iš valdomo įtampos režimo į pastoviosios įtampos režimą Jungiklis (16) iš padėties 'Γ perjungiamas į padėtį '2'. Įjungiami bangos ilgio moduliatorius (18) ir sinchroninis detektorius (17), kuris išskiria signalą proporcingą - kur (I šviesos intensyvumo pokytis esant cz bangos ilgio pokyčiui. Šviesos intensyvumo moduliatorius (2) ir sinchroninis detektorius (9) išskiria signalą proporcingą /. Signalas proporcingas I iš sinchroninio detektoriaus (9) ir signalas proporcingas iš sinchroninio detektoriaus cž (17) paduodami į įtampų dalybos bloką (10). Dalybos bloko (I0) išėjimo signalas proporcingas ‘ /1 komparatoriuje (II) lyginamas su atraminio šaltinio (I2) signalu Jei cz / signalas ('jl nelvuus atraminiam siunalui, tai komparatorius (II) siunčia siunala į monochromatoriaus valdymo bloką (4) Šviesos bangos ilgi monochromatorius (?) valdymo bloku (4) keičia tol, kol signalas proporcingas I susilygina su atraminio c λ / šaltinio (12) signalu. Taip užtikrinama absorbcijos linijos fiksacija. Kintant tolygiai kristalą veikiantiems išoriniams parametrams (T, p, f 0 absorbcijos linijos spektras slenka Registratorius (14) registruoja absorbcijos linijos z,„ ir jos priklausomybę nuo išorinių faktorių z,„(7), λ„.(ρ).
Kai absorbcijos linijos viršūnė nėra aštri, tai darbinio taško fiksacija atliekama linijos šonuose. Ši fiksacija pasiekiama keičiant atraminio šaltinio signalo dydį taip, kad signalas proporcingas I pasiektų didžiausią vertę. Matavimai atliekami, kai darbinio taško fiksacija yra skirtinguose absorbcijos linijos šonuose. Absorbcijos linijos grafikus
7.λ,„(p) ir gauname suradę dviejų matavimų vidurkius
Siūlomo įrenginio teigiamos savybės:
Įrenginys, moduliuodamas bangos ilgį, sukuria signalą I proporcingą fž kuris padeda tiksliai nustatyti priemaišinės siauros absorbcijos linijos bangos ilgi A·».
2. Įrenginys, panaudodamas siaurą absorbcijos liniją, gali registruoti linijos mažiausias anomalijas λ,„(p. T, M). kai išoriniai parametrai (p, T. (f) kinta tolygiai Įrenginys yra jautrus faziniams virsmams.
3. Šviesos šaltinio intensyvumo svyravimai neturi įtakos į grafiko λ,„(p. Ί. (i) eigą, kai išoriniai parametrai (p, t. (!) kinta tolygiai.
4. Įrenginys automatiškai registruoja siauros absorbcijos linijos spektrą ir gali tirti fazinius virsmus, kai išoriniai parametrai p,. U,) kinta diskretiškai (/=1,2,5.).
IŠRADIMO APIBRĖŽTIS
Claims (1)
- Optinis fazinių virsmų kristaluose tyrimo įrenginys, susidedantis iš optiškai sujungtų šviesos šaltinio (1). šviesos intensyvumo moduliatoriaus (2), monochromatoriaus (3) su valdymo bloku (4), poliarizatoriaus (5), kriostato (6) su jame įtaisytu bandinio laikikliu ir temperatūros matuoklio (7), fotoimtuvo (S) prie kurio išėjimo prijungtas sinchroninio detektoriaus(9) pirmas įėjimas, sinchroninio detektoriaus (9) išėjimas prijungtas prie įtampų dalybos bloko (10) pirmojo įėjimo, dalybos bloko (10) išėjimas sujungtas su komparatoriaus (11) pirmuoju įėjimu, antras komparatoriaus (II) įėjimas sujungtas su atraminio šaltinio (12) išėjimu, komparatoriaus (II) išėjimas sujungtas su monochromatoriaus (3) valdymo bloko (4) įėjimu, kurio išėjimas sujungtas su proporcingo bangos ilgiui signalo bloko (13) įėjimu, bloko (13) pirmasis išėjimas sujungtas su registratoriaus (14) pirmuoju (v) įėjimu, registratoriaus (14) antras (x) įėjimas perjungiklį (16) sujungtas su temperatūros matuoklio (7) išėjimu, besiskiriantis tuo, kad papildomai prie fotoimtuvo (8) prijungtas galintis dirbti pastovios įtampos ir valdymo įtampos režimuose specializuotas maitinimo šaltinis (15). kurio išėjimas perjungiklį (16) prijungtas prie registratoriaus (14) antrojo (x) įėjimo, sinchroninio detektoriaus (17) įėjimas sujungtas su bangos ilgio moduliatoriaus (18) išėjimu, sinchroninio detektoriaus (17) išėjimas sujungtas su įtampų dalybos bloko (10) antru įėjimu
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| LT98-192A LT4710B (lt) | 1998-12-23 | 1998-12-23 | Optinis fazinių virsmų kristaluose tyrimo įrenginys |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| LT98-192A LT4710B (lt) | 1998-12-23 | 1998-12-23 | Optinis fazinių virsmų kristaluose tyrimo įrenginys |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| LT98192A LT98192A (lt) | 2000-07-25 |
| LT4710B true LT4710B (lt) | 2000-10-25 |
Family
ID=19722036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| LT98-192A LT4710B (lt) | 1998-12-23 | 1998-12-23 | Optinis fazinių virsmų kristaluose tyrimo įrenginys |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| LT (1) | LT4710B (lt) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| LT3848B (en) | 1994-07-12 | 1996-04-25 | Algirdas Audzijonis | Method and device for measuring of a materials agsorbing coefficient |
| LT4317B (lt) | 1997-06-26 | 1998-03-25 | Algirdas Audzijonis | Feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo būdas ir įrenginys |
-
1998
- 1998-12-23 LT LT98-192A patent/LT4710B/lt not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| LT3848B (en) | 1994-07-12 | 1996-04-25 | Algirdas Audzijonis | Method and device for measuring of a materials agsorbing coefficient |
| LT4317B (lt) | 1997-06-26 | 1998-03-25 | Algirdas Audzijonis | Feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo būdas ir įrenginys |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| LT98192A (lt) | 2000-07-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| AU2005266503B2 (en) | A method and apparatus for measuring the phase shift induced in a light signal by a sample | |
| US20030062485A1 (en) | Compact multiwavelength phase fluorometer | |
| KR100929202B1 (ko) | 가간섭성 반스토크스 라만 산란을 이용한 영상 획득 장치및 방법 | |
| KR920020185A (ko) | 액정셀의 두께 측정방법 | |
| WO2005062008A1 (en) | System and method for measuring birefringence in an optical material | |
| Oakberg | Measurement of low-level strain birefringence in optical elements using a photoelastic modulator | |
| KR970070995A (ko) | 자기 광학 효과 측정 장치 | |
| HU219940B (hu) | Eljárás és dikrográf optikailag aktív anyag cirkuláris dikroizmusának, optikai forgatásának és abszorpciójának mérésére | |
| LT4710B (lt) | Optinis fazinių virsmų kristaluose tyrimo įrenginys | |
| US6673626B1 (en) | Optoelectronic circuit for detecting changes in fluorescence lifetime | |
| US3967902A (en) | Method and apparatus for investigating the conformation of optically active molecules by measuring parameters associated with their luminescence | |
| Bächinger et al. | Conversion of a Cary 60 spectropolarimeter into a fast circular dichroism instrument for use with standard rapid reaction techniques | |
| US4624573A (en) | Total optical loss measurement device | |
| CN106850065A (zh) | 一种微波光子温度传感系统 | |
| LT4317B (lt) | Feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo būdas ir įrenginys | |
| CN106840452A (zh) | 一种微波光子温度传感系统的测温方法 | |
| Morgan et al. | High‐frequency modulated light source for phase fluorometry and fluorescence lifetime imaging | |
| RU4380U1 (ru) | Установка контроля газовых примесей | |
| Domanski et al. | Method of optical axis determination in crystals by use of light depolarization measurements | |
| CN108449132B (zh) | 一种高精度可调光滤波器波长调谐量的测量方法 | |
| US20070031154A1 (en) | Measurement system having modulated laser source | |
| SU938031A1 (ru) | Устройство дл измерени температуры перегрева | |
| SU376701A1 (ru) | Магнитоспектрополяриметр | |
| SU1022086A1 (ru) | Устройство дл определени магнитных и магнитооптических характеристик материалов | |
| Thevenaz et al. | Review of chromatic dispersion measurements techniques |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM9A | Lapsed patents |
Effective date: 20001223 |