LT4317B - Feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo būdas ir įrenginys - Google Patents
Feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo būdas ir įrenginys Download PDFInfo
- Publication number
- LT4317B LT4317B LT97-110A LT97110A LT4317B LT 4317 B LT4317 B LT 4317B LT 97110 A LT97110 A LT 97110A LT 4317 B LT4317 B LT 4317B
- Authority
- LT
- Lithuania
- Prior art keywords
- input
- output
- light
- absorption coefficient
- curve
- Prior art date
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 15
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 title claims description 27
- 230000007704 transition Effects 0.000 title claims description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 6
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000009466 transformation Effects 0.000 abstract description 2
- 238000000844 transformation Methods 0.000 abstract description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 abstract 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 abstract 1
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
Išradimas priklauso optikos sričiai ir gali būti pritaikytas kristalų optinių savybių tyrimui.
Žinomas feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo būdas, kai du tos pačios medžiagos skirtingo storio bandinius paeiliui patalpina monochromatinės šviesos kelyje, matuoja praėjusios per tuos bandinius šviesos intensyvumus, iš kurių apskaičiuoja absorbcijos koeficientą. Keičiant monochromatinės šviesos bangos ilgį, gauna absorbcijos spektrą, o išmatavus spektrus skirtingose temperatūrose, gauna absorbcijos spektrų temperatūrinę šeimą. Iš šios šeimos nustato vienodo absorbcijos koeficiento padėtį bangų ilgio skalėje ir brėžia izoabsorbcinę kreivę £*(7), kuri parodo, kaip priklauso medžiagos to paties absorbcijos koeficiento padėtis bangų ilgio skalėje nuo temperatūros. (J.I.Uchanov. Optičeskije svoistva poluprovodnikov: M., Nauka, 1977, 63-64, rusų k.).
Taip pat žinomas feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo būdas, kai matuoja į bandinį kritusį bei praėjusį monochromatinės šviesos intensyvumus, apskaičiuoja absorbcijos koeficientą. Keičiant monochromatinės šviesos bangos ilgį, gauna absorbcijos spektrą. Išmatavus absorbcijos spektrus skirtingose temperatūrose gauna absorbcijos spektrų temperatūrinę šeimą, iš kurios išbrėžiama izoabsorbcinę kreivė E* (T), kuri parodo, kaip priklauso medžiagos to paties absorbcijos koeficiento padėtis bangų ilgio skalėje nuo temperatūros (K-Ischikava, Jap. J. of Applied Phys., 1980, 19, No 7, p. 13011509).
Abu žinomi būdai turi eilę trūkumų. Izoabsorbcinei kreivei gauti reikia išmatuoti tiek absorbcijos spektrų skirtingose temperatūrose, iš kiek taškų norime išbrėžti izoabsorbcinę kreivę. Matuojant absorbcijos spektrą vienoje temperatūroje, sunku dideliu tikslumu palaikyti pastovią temperatūrą. Nežymus temperatūros svyravimas, ypač feroelektrinių fazinių virsmų srityje, gali sukurti klaidingas optines anomalijas. Izoabsorbcijos kreivė E* (7) gaunama diskretiniais taškais. Visi aukščiau paminėti trūkumai sumažina izoabsorbcinės kreivės tikslumą.
Matuojant du skirtingo storio feroelektrinius kristalus, kaip tai siūloma pirmajame analoge, gauname paklaidas dėl nepastovios šviesos kritimo į bandinius vietos ir dėl skirtingų domenų susidarymo kristaluose.
Žinomas įrenginys feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimui, susidedantis iš optiškai sujungtų šviesos šaltinio, šviesos intensyvumo moduliatoriaus, monochromatoriaus su jame įtaisytu valdymo bloku, šviesos poliarizatoriaus, kriostato su jame įtaisytu bandinio staleliu ir termometru, fotoimtuvo, sinchroninio detektoriaus ir perjungiklio, kurio vienas išėjimas jungiamas su atminties bloko įėjimu, o kitas su įtampos dalybos bloko pirmu įėjimu. Antras įtampos dalybos bloko įėjimas sujungtas su atminties bloko išėjimu. Įrenginys dar turi dvikoordinatį registratorių, kurio pirmas įėjimas sujungtas su įtampos dalybos bloko išėjimu, o antras registratoriaus įėjimas sujungtas su monochromatoriaus valdymo bloko išėjimu, kuris dar sujungtas ir su atminties bloko antruoju įėjimu (K-Ischikava, Jap. J. of. Applied Phys., 1980, V 19, No 7, p. 13011309).
Šio įrenginio trūkumai tokie patys, kaip ir aukščiau išvardinti matavimo būdui.
Išradimo tikslas - izoabsorbcinės kreivės tikslumo padidinimas.
Siūlomas feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo būdas, susidedantis iš į bandinį kritusio bei pro jį praėjusio monochromatinės šviesos intensyvumų matavimų, iš jų apskaičiavimo absorbcijos koeficiento, keitimo tam tikra seka bangos ilgio ir temperatūros. Apskaičiuotą absorbcijos koeficientą užfiksuoja ir, tolygiai kintant temperatūrai, monochromatinį šviesos bangos ilgį keičia taip, kad bandinio absorbcijos koeficientas išliktų fiksuoto dydžio.
Siūlomas feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo įrenginys susideda iš optiškai sujungtų šviesos šaltinio, šviesos intensyvumo moduliatoriaus, monochromatoriaus su valdymo bloku, šviesos poliarizatoriaus, kriostato su jame įtaisytu bandinio staleliu ir temperatūros matuokliu, fotoimtuvo, prie kurio išėjimo prijungtas sinchroninio detektoriaus pirmas įėjimas, sinchroninio detektoriaus išėjimas prijungtas prie perjungiklio įėjimo, kurio pirmas išėjimas sujungtas su atminties bloko pirmuoju įėjimu, antras - su įtampų dalybos bloko pirmu įėjimu, antrasis atminties bloko įėjimas sujungtas su valdymo bloko išėjimu, o antrasis dalybos bloko įėjimas sujungtas su atminties bloko išėjimu, ir dvikordi nacio registratoriaus, kurio pirmas įėjimas sujungtas su valdymo bloko išėjimu. Palyginus su analogu, papildomai prijungti komparatorius, kurio antras įėjimas prijungtas prie dalybos bloko išėjimo, o išėjimas - prie monochromatoriaus valdymo bloko įėjimo, ir atraminio signalo šaltinis, kurio išėjimas prijungtas prie komparatoriaus pirmo įėjimo. Dvikoordinačio registratoriaus antras įėjimas sujungtas su temperatūros matuoklio išėjimu, moduliatoriaus antras išėjimas sujungtas su sinchroninio detektoriaus antru įėjimu.
Tai, kad siūlomame būde matavimo metu absorbcijos koeficientas palaikomas pastoviu, keičiantis bangos ilgiui ir temperatūrai, o siūlomame Įrenginyje įjungtas atraminio signalo šaltinis, komparatorius, sudaryti nauji dvikoordinačio registratoriaus ryšiai, leidžia izoabsorbcinę kreivę E* (T) išmatuoti tiksliau:
1) izoabsorbcinę kreivė nustatoma ne atskiruose T reikšmių taškuose, o yra tolydi;
2) šviesos kritimo į bandinį vieta viso matavimo proceso metu yra stabili;
3) tolygiai kintant temperatūrai, fazinio virsmo srityje tiksliau išryškinama feroelektrinių kristalų Α*’(Γ) eigos smulkioji struktūra;
4) matavimai supaprastėja, nes visas matavimo procesas yra automatizuotas;
5) temperatūros svyravimai neturi įtakos absorbcinei kreivei E* (J).
Išradimas aiškinamas brėžiniais, kur fig. 1 vaizduoja siūlomo įrenginio blokinę schemą, fig. 2 - siūlomu būdu gautą SbSJ kristalo izoabsorbcinę kreivę
Siūlomas feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo būdas, kada matuojami krintantis ir pro bandinį praėjės monochromatinės šviesos intensyvumai, iš jų santykio surandamas absorbcijos koeficiento užduotas dydis ir, tolygiai keičiant temperatūrą, monochromatinės šviesos bangos ilgis keičiamas taip, kad bandinio absorbcijos koeficientas išliktų užduoto dydžio.
Siūlomą Įrenginį minėtam būdui įgyvendinti sudaro nuosekliai optiškai sujungti šviesos šaltinis 1, šviesos intensyvumo moduliatorius 2, monochromatorius 3 su valdymo bloku 4, poliarizatorius 5, kriostatas 6 su temperatūros matuokliu 7, lotoimtuvas 8, amplitudinis moduliacijos dažnio sinchroninis detektorius 9, kurio vienas įėjimas sujungtas su fotoimtuvo 8 išėjimu. Kitas sinchroninio detektoriaus 9 įėjimas sujungtas su šviesos intensyvumo moduliatoriumi 2, o išėjimas sujungtas su perjungiklio 10 įėjimu. Pirmas perjungiklio 10 išėjimas sujungtas su atminties bloko 11 įėjimu, antras perjungiklio 10 išėjimas sujungtas su įtampų dalybos bloko 12 dalmens įėjimu. Įtampų dalybos bloko 12 daliklio įėjimas sujungtas su atminties bloko 11 išėjimu. Įtampų dalybos bloko 12 išėjimas sujungtas su pirmu komparatoriaus 13 įėjimu. Antras komparatoriaus 13 įėjimas sujungtas su atraminio signalo, proporcingo absorbcijos koeficientui, šaltinio 14 išėjimu. Komparatoriaus 13 išėjimas sujungtas su įėjimu monochromatoriaus 3 valdymo bloko 4, kurio išėjimas sujungtas su atminties bloko 11 valdymo įėjimu ir su registratoriaus 15 pirmu (y) įėjimu. Registratoriaus 15 antras (x) įėjimas sujungtas su temperatūros matuoklio 7 išėjimu. Bandinys dedamas į kriostate 6 įrengtą bandinio laikiklį 16.
Balta šviesos šaltinio 1 šviesa amplitudiškai moduliuojama moduliatoriumi 2. Po to ji patenka į monochromatorių 3, kur išskiriamas tam tikro šviesos bangos ilgio spindulys, poliarizuojamas poliarizatoriumi 5 ir, perėjęs per kriostatą 6, patenka į fotoimtuvą 8. Elektrinis fotoimtuvo signalas sinchroniškai moduliacijos dažniui detektuojamas sinchroniniu detektoriumi 9. Matavimas vyksta dviem etapais.
1. Kai kriostate 6 nėra bandinio, sinchroninio detektoriaus 9 išėjimo signalas Io perjungikliu 10 nukreipiamas į atminties bloką 11, kur užrašomas monochromatoriaus 3 valdymo bloko 4 nurodomu adresu. Keičiant bangos ilgį atminties bloke 11 užrašoma krintančios šviesos intensyvumo priklausomybė nuo bangos ilgio.
2. Kai šviesos pluošto kelyje kriostate 6 padedame bandinį ant stalelio 16, į dalybos bloką 12 patenka signalai: Io, - išrinktas monochromatoriaus valdymo bloko 4 nurodomu adresu iš atminties bloko 11 ir I - per perjungiklį 10 iš sinchroninio detektoriaus 9. Dalybos bloko 12 išėjimo signalas I/Io komparatoriumi 13 lyginamas su atraminio šaltinio 14 signalu. Jei I/Io nelygus atraminiam signalui, tai komparatorius 13 siunčia signalą į monochromatoriaus valdymo bloką 4 šviesos bangos ilgį keisti tol, kol I/Io susilygins su atraminio šaltinio 14 signalu. Taip užtikrinama absorbcijos koeficiento fiksacija. Kintant bandinio temperatūrai, dvikoordinatis registratorius 15 registruoja monochromatinės šviesos bangos ilgio priklausomybę nuo temperatūros esant pastoviam bandinio absorbcijos koeficientui, t.y. izoabsorbcinę kreivę £‘(7).
Siūlomo būdo ir įrenginio efektyvumą iliustruoja aprašytu būdu gauta SbSJ kristalo izoabsorbcinę kreivė.
Claims (2)
1. Feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo būdas, susidedantis iš į bandinį kritusios bei pro jį praėjusios monochromatinės šviesos intensyvumų matavimų, iš jų apskaičiavimo absorbcijos koeficiento, keitimo tam tikra seka bangos ilgio ir temperatūros, besiskiriantis tuo, kad užfiksuoja apskaičiuotą absorbcijos koeficientą ir, tolygiai kintant temperatūrai, monochromatinės šviesos bangos ilgį keičia taip, kad bandinio absorbcijos koeficientas išliktų užfiksuoto dydžio.
2. Feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo įrenginys, susidedantis iš optiškai sujungtų šviesos šaltinio (1), šviesos intensyvumo moduliatoriaus (2), monochromatoriaus (3) su valdymo bloku (4), šviesos poliarizatoriaus (5), kriostato (6) su jame įtaisytu bandinio laikikliu ir temperatūros matuokliu (7), fotoimtuvo (8), prie kurio išėjimo prijungtas sinchroninio detektoriaus (9) pirmas įėjimas, išėjimas sinchroninio detektoriaus (9) prijungtas prie perjungiklio (10) įėjimo, kurio pirmas išėjimas sujungtas su atminties bloko (11) pirmuoju įėjimu, antras - su įtampos dalybos bloko (12) įėjimu, antrasis atminties bloko (11) įėjimas sujungtas su valdymo bloko (4) išėjimu, o antrasis dalybos bloko (12) įėjimas sujungtas su atminties bloko (ll) išėjimu ir dvikordinačio registratoriaus (15), kurio pirmas įėjimas sujungtas su valdymo bloko (4) išėjimu, besiskiriantis tuo, kad papildomai prijungtas atraminio signalo šaltinis (14) su prie išėjimo prijungtu pirmu komparatoriaus (13) įėjimu, kai jo antras įėjimas prijungtas prie įtampos dalybos bloko (12) išėjimo, išėjimas - prie valdymo bloko (4) įėjimo, o dvikoordinačio registratoriaus (15) antras įėjimas sujungtas su temperatūros matuoklio (7) išėjimu, moduliatoriaus (2) antras išėjimas sujungtas su sinchroninio detektoriaus (9) antru įėjimu.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| LT97-110A LT4317B (lt) | 1997-06-26 | 1997-06-26 | Feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo būdas ir įrenginys |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| LT97-110A LT4317B (lt) | 1997-06-26 | 1997-06-26 | Feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo būdas ir įrenginys |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| LT97110A LT97110A (en) | 1997-12-29 |
| LT4317B true LT4317B (lt) | 1998-03-25 |
Family
ID=19721874
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| LT97-110A LT4317B (lt) | 1997-06-26 | 1997-06-26 | Feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo būdas ir įrenginys |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| LT (1) | LT4317B (lt) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| LT4710B (lt) | 1998-12-23 | 2000-10-25 | Algirdas Audzijonis | Optinis fazinių virsmų kristaluose tyrimo įrenginys |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2374629C1 (ru) * | 2008-04-25 | 2009-11-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный горный институт им. Г.В. Плеханова (технический университет)" | Способ определения качества кристаллов исландского шпата |
-
1997
- 1997-06-26 LT LT97-110A patent/LT4317B/lt unknown
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| J.I. UCHANOV: "Opti2iskije svoistva poluprovodnikov", pages: 63 - 64 |
| K. ISCHIKAVA: "Applied physics", pages: 1301 - 1509 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| LT4710B (lt) | 1998-12-23 | 2000-10-25 | Algirdas Audzijonis | Optinis fazinių virsmų kristaluose tyrimo įrenginys |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| LT97110A (en) | 1997-12-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6052188A (en) | Spectroscopic ellipsometer | |
| Köhler | Thermodiffusion in polymer solutions as observed by forced Rayleigh scattering | |
| JPH0224502A (ja) | 膜厚測定方法 | |
| US4309110A (en) | Method and apparatus for measuring the quantities which characterize the optical properties of substances | |
| US6947137B2 (en) | System and method for measuring birefringence in an optical material | |
| US5126569A (en) | Apparatus for measuring optical properties of materials | |
| JP2711225B2 (ja) | 化学センサを用いた方法のための改善されたデータ採集方法 | |
| US6953281B2 (en) | Method for determining temperatures on semiconductor components | |
| Menzel et al. | Picosecond‐resolution fluorescence lifetime measuring system with a cw laser and a radio | |
| LT4317B (lt) | Feroelektrinių kristalų absorbcijos koeficiento izoabsorbcinės kreivės fazinių virsmų srityje matavimo būdas ir įrenginys | |
| US11221293B2 (en) | Two-dimensional second harmonic dispersion interferometer | |
| Scholl et al. | Broadband precision wavelength meter based on a stepping Fabry–Pérot interferometer | |
| JPH05215672A (ja) | 偏光計 | |
| US6847439B2 (en) | Apparatus and method for synchronizing high-speed optical measurements made over a range of wavelengths | |
| US4624573A (en) | Total optical loss measurement device | |
| RU2287803C2 (ru) | Многокомпонентный газоанализатор ик диапазона | |
| Samedov | Laser-based optical facility for determination of refractive index of liquids | |
| Fleischer et al. | Standardizing the measurement of spatial characteristics of optical beams | |
| JP2004279250A (ja) | 濃度測定装置 | |
| US3256444A (en) | Time ratio spectrophotometers | |
| RU51742U1 (ru) | Газоанализатор | |
| SU1640542A1 (ru) | Способ определени оптической анизотропии прозрачных образцов | |
| SU1746264A1 (ru) | Устройство дл контрол полупроводниковых материалов | |
| JPH0772011A (ja) | 散乱光測定装置及び散乱光測定方法 | |
| SU1374060A1 (ru) | Устройство дл измерени амплитуды колебаний объектов |