LT3790B - Measuring device for measuring size of object while periodic moving - Google Patents

Measuring device for measuring size of object while periodic moving Download PDF

Info

Publication number
LT3790B
LT3790B LTIP1604A LTIP1604A LT3790B LT 3790 B LT3790 B LT 3790B LT IP1604 A LTIP1604 A LT IP1604A LT IP1604 A LTIP1604 A LT IP1604A LT 3790 B LT3790 B LT 3790B
Authority
LT
Lithuania
Prior art keywords
receiving elements
measuring
measurement
beams
processing unit
Prior art date
Application number
LTIP1604A
Other languages
English (en)
Inventor
Johann-Peter Woegerbauer
Original Assignee
Gec Alsthom T & D Gmbh
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=3535338&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=LT3790(B) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Gec Alsthom T & D Gmbh filed Critical Gec Alsthom T & D Gmbh
Publication of LTIP1604A publication Critical patent/LTIP1604A/xx
Publication of LT3790B publication Critical patent/LT3790B/lt

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/04—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
    • G01B11/046—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving for measuring width
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Extrusion Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)

Description

šis išradimas aprašo slenkančio objekto dydžio matavimo įtaisą, kuriame yra optinis elektroninis matavimo prietaisas, turintis priėmimo-perdavimo elementų, išdėstytų ne mažiau kaip vienoje matavimo plokštumoje, statmenoje į objekto išilginę ašį, įtaise taip pat yra apdorojimo blokas, be to, matavimo portalo matavimo plokštuma yra ribojama ne mažiau kaip dviem matavimo sijomis, kurios viena su kita sudaro tam tikrą kampą.
Iš Austrijos patento Nr. 351282 yra žinomas įrenginys slenkančio objekto dydžiams nustatyti arba kontroliuoti, kuriame dviejuose plokštumose, viena su kita sudarančiose 90° kampą, yra kameros, kuriose vietoj plėvelės yra plokštuma su -fotodiodų eilutėmis, į kurią yra projektuojamas šešėlis šviesiame -fone, kad būtų gautas objekto vaizdą atitinkantis elektroninis signalas.
šio palyginti brangaus įtaiso, nes jame yra naudojama kamera su totodiodų eilute, trūkumas yra tas, kad šešėlinis vaizdas priklauso nuo matuojamojo objekto padėties ir gali būti neryškus, dėl to sumažėja matavimo tikslumas.
Figai matuojamojo objekto periodiško skaitymo principą, kuriame tam tikru momentu niekada nėra viso matuojamojo objekto vaizdo, dirba įtaisai, žinomi iš VFR pateiktų paraiškų Nr.2019290 ir 2127751. šių įtaisų trūkumas yra tas, kad juose būtina naudoti mechaniškai slenkantį šviesos spinduolį arba veidrodį.
Taip pat yra žinomi įtaisai, kuriuose spinduliavimo sijų viduje yra įtaisytos infraraudonųjų spinduliavimo diodų eilės, kurios nutolusios viena nuo kitos nedideliais vienodais atstumais, be to, matavimo plokštumoje sijos yra įtaisytas i n-f r ar audonuos i us viduryje kiekvienoje iš šių eilių infraraudonasis fotodiodas, o spinduliavimo diodus kartu su atitinkamais infraraudonaisiais fotodiodais įjungia apdorojimo blokas trumpais vienodais laiko tarpais vieną po kito, einant iš viršaus į apačią.
Šis įtaisas, dirbantis periodiško skaitymo principu, turi tą trūkumą, kad infraraudoniesiems spinduliavimo diodams derinti reikia daug laiko, ir derinimas gali būti atliekamas tik naudojant sudėtingas pagalbines priemones, pavyzdžiui, osc i 1 ogr a-f ą. Be to, infraraudonų jų -fotodiodų sukurti signalai yra palyginti silpni ir tolimesniam apdorojimui juos reikia daugiau stiprinti, dėl to gali atsirasti dreifas arba pakisti parametrai priklausomai nuo laiko ir temperatūros, o tai iškraipo matavimo rezultatus.
Šiame išradime aprašoma konstrukcija yra minėto tipo įtaisas, neturintis išvardintų trukumų, kuris ekonomiškai pateisinamai leidžia aidinti slenkančio objekto matavimo tikslumą ir matavimų patikimumą.
Tai yra pasiekiama tuo, kad ant matavimo sijų šoninių paviršių, atsuktų į matavimo plokštumą, yra įtaisyta ne mažiau kaip viena priėmimo elementų eilė, be to, kiekvieną šią eilę atitinka vienas periodiškai įjungiamas spinduliavimo elementas, esantis nustatytu atstumu nuo matavimo sijos ir spinduliuojantis vėduoklinį šviesos spindulį, nukreiptą į priėmimo elementus.
Tikslus objekto dydis yra išmatuojamas tik optoelektroniniu būdu. Taikant šį būdą, visada susidaro visas matuojamojo objekto vaizdas, dėl to pasiekiamas didelis matavimų tikslumas ir nepertrauk iamas matuojamojo dydžio įvertinimas. Įtaisui derinti arba sureguliuoti praktiškai užtenka tik orientuoti abu vėduok iinius sp induli us.
Geriausiame išradimo variante priėmimo elementai išdėstyti iš eilės maždaug apskritimo lanku, kurio centre yra atitinkamas spinduliavimo elementas. Dėl to galima padidinti patikimumą ir atsparumą pašaliniam apšvietimui, nes priėmimo elementai visada suformuoja vienodo stipruma signalus, perduodamus į elektroninį apdorojimo bloką.
Įtaisą paprasta derinti ir patogu eksploatuoti, kai du spinduliavimo elementai sudaro bloką, kuriame yra lazerinis diodas, trijų lęšių kolimatorius, brūkšninė optika ir lengvai valdoma valdymo ir apdorojimo elektronika.
Jeigu lazerinių aiodų blokas sukuria matomą vėduoklinį lazerinį spindulį, kurio bangos ilgis yra apie 670 nm, tai spinduliavimo elementą galima orientuoti vizualiai be papildomų matavimo prietaisų.
Geriausia, kai priėmimo elementai yra padaryti iš
-f ototranz istor ių ir yra išdėstyti vandens nepraleidiiančiose priėmimo sijose su išilgine įpjova, uždengta stiklu vėduok Iinio šviesos spindulio srityje.
Fototranzistoriai turi platų priėmimo kampą. Todėl jų nereikia -fokusuoti ir galima taikyti spausdintinių plokščių serijinio gaminimo metodiką. Fototranzistorių pridengimas priėmimo sijose užkerta kelią išorinių -faktorių poveikiui ir pašalinio apšvietimo trukdymams.
Ekonomiškiausia ir patogiausia eksploatuoti yra tokia konstrukcija, kurioje priėmimo elementų eilė yra suskaidoma į atkarpas, be to, kiekvienos atkarpos priėmimo elementai yra išdėstyti identiškose spausdintinėse plokštėse.
Modulinė priėmimo elementų eilių struktūra ne tik iki minimumo sumažina montavimo išlaidas, bet ir palengvina atkarpų su sugedusiais priėmimo elementais pakeitimą.
Geriausia, kai kiekvienas spindui žavimo elementas yra įtaisytas vandens nepraleidžiančiame korpuse su stiklu uždengta įpjova atitinkamos priėmimo sijos kryptimi, o korpusas yra įmontuotas tarp dviejų, standžiai sujungtų su matavimo portalo stovais, stačiakampių plokštelių, iŠ šono išsikišančių už korpuso kraštų.
Tuo pačiu spinduliavimo elementas taip pat yra apsaugotas nuo išorinių poveikių, jis yra paprastai montuojamas, pakeičiamas ir mačiau pažeidžiamas.
Įtaiso derinimui palengvinti abu spinduliavimo elementai, Įrengiant priėmimo sijas, gali būti veikiami pastovia šviesa.
Geriausia, kai apdorojimo blokas yra mikroprocesorius su atminties bloku, sinchroniškai valdančiu spnduliavimo ir priėmimo elementus taktiniu dažniu, didesniu už 300 Hz.
Nors apdorojimo blokas yra lengvai padaromas ir iš standartinių integrinių grandinių, bet mi kroprocesoriai yra pigesni ir juos lengviau įmontuoti. Parinktas taktinis dažnis garantuoja praktiškai nepertraukiamą matavimų apdorojimą per visą matuojamojo objekto ilgį, net jeigu jis: juda savo išilginės ašies kryptimi didesniu kaip 180 m/min. greičiu.
Kitame realizavimo variante objekto skersmens ir/arba/ objekto tūrio matavimo ir indikacijos apdorojimo blokas įvertina: gautus signalus iš abiejų priėmimo elementų eilių, kiekį objektu uždengtų priėmimo elementų, ir priėmimo elementų eilių atstumą nuo atitinkamų spinduliavimo elementų ir spinduiiavimo elementų tarpusavio atstumą, be to, yra numatyta duoti padėties signalą, kuris įvertina atstumą tarp objekto ir spinduliavimo elementų.
Apdorojimo blokas įvestu į atmintį algoritmu pagal šiuos parametrus gali atlikti tikslų dydžių matematinį o k a i č i av i mą, pavyzdž iui, medž i o k am i eno skersmens skaičiavimą. Tinkamiausias algoritmo pagrindas yra sinusinis dėsn i s.
Viename iŠ variantų apdorojimo blokas gali būti padarytas taip, kad priėmimo elementų pritemdymas nutolusiomis nuo objekto dalimis yra slopinamas.
Dėl šio slopinimo, kurį sukuria, pavyzdžiui, apdorojimo bloko užprogramuota logika, galima išvengti matavimo rezultatų iškraipymo medžio arba žievės dalimis, gulinčiomis ant grandininio transporterio, arba dalimis, nutolusiomis nuo medžio kamieno. Skersmeniui apskaičiuoti visada yra naudojami tik abiejų priėmimo sijų kaimyninių pritemdytų priėmimo elementų signalai.
Toliau Šis išradimas yra aiškinamas konkrečiu pavyzdžiu, pavaizduotu brėžinyje, kuriame:
-fig. i - išradime aprašomo įtaiso eskizas, fig. 2 - įtaiso, pavaizduoto -fig. i, pjūvis E-E linija.
Fig. 1 yra pavaizduotas grandininis transporteris 2, kuriuo kryptimi B <-fig. 2 > yra transportuojamas medžio kamienas 1. Matavimo plokštumos 7 <+ig.2> arba matavimo portalo 10 srityje yra grandininio transporterio 2 plyšys, kad transporteris neturėtų įtakos matavimo procesui. Tačiau vietoj grandininio tr ansporter i o 2, 2< + ig. 2 > plyšio galima numatyti ir pasisukantį velenėlį arba kitokį tarpa, kuris netrukdytų matavimo įtaisui.
Medžio kamieno 1 skersmeniui arba tūriui nustatyti yra matavimo portalas 10, kurį sudaro stovai ii, ii'' bei matavimo sijos 4, 4’, ir pro kurį juda kamienas 1. Stovai
11, ii ir matavimo sijos 4, 4J yra padaryti iŠ metaliniu pro+ilių ir yra standžiai sujungti vienas su kitu.
Simetriškai išdėstytos matavimo sijos 4, 4 ' viena su kita sudaro 90 kampą. Tačiau galima numatyti ir keletą, pavyzdžiui, tris matavimo sijas, kurios viena su kita sudaro
120‘ kampą. Matavimo portalas yra pastatytas vertikaliai ant pagrindo ir nepajudinarna i prie jo pritvirtintas. šoniniuose matavimo sijų 4, 4 ·’ paviršiuose, atsuktuose j matavimo plokštumą 7, yra įrengta po vieną priėmimo siją 5, 5 ·'.
Priėmimo sijos 5, 5 J turi vandens nepraleidžiančius korpusus su išilgine įpjova 50, 50', einančia matavimo plokštumos 7 srityje ir uždengta stiklu.
Priėmimo sijų 5, 5' viduje, maždaug viename apskritimo lanke, nedideliais vienodais apie 3 mm atstumais vienas nuo kito yra išdėstyti -f ototr anz i st or ia i 6, 6'. ši f ototranz istor ių 6, 61 eilė yra suskirstyta į keletą dalių
60, 60 iŠ spausdintinių plokščių, ant kiekvienos iš jų yra
-fototranz istor iai 6, 6 '.
kiekvienos -f ototranz istor ių 6, 6' eilės griežtai nustatytu atstumu A nuo matavimo sijų po vieną lazerinių diodų bloką S, S'1.
Kiekvienas iš šių lazerinių diodų blokų įstatytas į hermetišką korpusą su įpjova 30, S stiklu ir nukreiptą į atitinkamų priėmimo sijų jų išilginės įpjovos 50, 50'“ puse, be to, šis lanko centre
4, 4·' yra
3, 3·' yra
0', uždengtą
5, 5 ’ arba korpusas yra tarp dviejų, standžiai sujungtų su matavimo portalo 10 stovu 11, 11', stačiakampių plokštelių 1S, 19; 1S’, 19' , iš šono išsikišančių už korpuso kraštų, šių plokštelių 13, 19;
13', 19' atsuktos į korpusą pusės yra nudažytos juodais dažais, kad nuo jų neatsispindėtų lazerio spindulys.
Ant matavimo portalo 10 kronšteinų 12, 12·' yra infraraudonasis barjeras 9, 9'. Kai tik medžio kamienas 1 patenka į šio barjero sandūrą, prasideda matavimo procesas.
Be to, pagal infraraudono jo barjero 9, 9·' kirtimo trukmę ir grandininio transporterio 2, 2 ’ greitį galima tiksliai nustatyti kamieno i ilgi- Kontroliuoti arba matuoti grandininio transporterio greičius galima žinomu būdu, naudojant prijungtą impulsų skaitiklį.
Apdorojimo blokas 20 yra elektriškai susijęs su abiem fototranzistorių ό, 6 ' eilėmis, lazerinių diodų blokais
3, 3' ir intraraudonuo ju barjeru 9, 9 ·', tai schematiškai pavaizduota fig. 1.
Be to, prie apdorojimo bloko 20 yra prijungtas skystųjų kristalų displėjus 21 išmatuotosios reikšmės skaitmeninei indikacijai. Nuosekliai prijungtas interfeisas toliau apdoroja ir dokumentuoja išmatuotą reikšmę.
Fig. 2 matyti, kad kamienas 1 praeina pro matavimo portalą 10 arba matavimo plokštumą 7, o jo galas yra kaip tik virš grandininio transporteri o 2, 2J plyšio. Praėjus šviesos barjerą 9, 9', apdorojimo bloke 20 prasideda matavimo procesą i.
Pradėjus veikti ir po tam tikro nustatyta vėlinimo laiko, per kurį kamienas 1 pasiekia matavimo plokštumą 7, prasideda pirmasis matavimo veiksmas. Tuo metu apdorojimo blokas '20, kurį sudaro mikroprocesorių sistema su atminties įtaisu, priverčia veikti lazerinių diodų blokus S, Q‘ taktiniu dažniu ne mažesniu kaip 300 Hz. F'riėmimo sijų 5, 5 J fototranzistoriai įsijungia, įsijungus visam įtaisui arba grandininiam trartsporteriui 2, 2 ' .
Sinchroniškai su abiejų lazerinių diodų blokų 8, SJ taktiniu dažniu yra generuojami vėduoklinių lazerinių spindulių blyksniai matomajame raudonųjų bangų diapazone apie
670 nm arba infraraudonajame diapazone apie 750 nm, esantys matavimo plokštumoje 7, ir blyksniai kaip šviesi linija patenka į -fototranz istor ių eiles 6, 6J, kol jie nėra pritemdomi kamienu 1. Vėduoklinis lazerinis spindulys yra formuojamas trijų lęšių ko1 imatoriumi , fokusuojančiu šviesą, ateinančią iš lazerinio diodo ir transformuojančiu ją į lygiagrečius spindulius, kurie po to pusiau cilindrine inearizuojančia optika yra išsklaidomi vėduok 1iškai .
Lazerinių diodų blokai gali būti puslaidininkiniai lazeriai, kurių išėjimo galia yra apie 3 m 'M arba he 1 io-neon i n ia i lazeriai su besisukančiąja prizme lazeriniams impulsams suformuoti. šviesos linija priėmimo sijų 5, 5 fototranzistoriuose sukuria palyginti stiprius elektrinius signalus, kuriuos toliau galima apdoroti nestiprinant.
Kiekvienas fototranzistorius per f i 1truojančiąją grandinę, kurią sudaro kondensatorius ir rezistorius, yra prijungtas prie trigerinės pakopos, kuri slopina dėl pastovaus apšvietimo atsirandančius triukšmus ir Įsimena lazerių blyksn ius.
Apdorojimo bloke sukaupti suskaičiuojami ir atimami iš žinomo bendro priėmimo sijos
5, 5' fototranzistorių skaičiaus, be to, loginėmis schemomis yra slopinami fototranzistorių pritemdymai, atsirandantys dėl atsikišusių kamieno 1 dalių.
Dėl tam tikros elektroninio optinio matavimo prietaiso geometrijos, t.y. dėl nekintančių atstumų tarp f ototr anz i stor i ų 6, ό ’ eilių ir juos atitinkančių lazerinių diodų blokų S, 3', taip pat dėl stataus kampo tarp priėmimo sijų 5, 5', ir esant žinomam -f ototranz istor ių 6, 6'' eilių lanko ilgiui, taip pat pritemdytų -f ototranz i stor i ų padėčiai ir kiekiui, galima apskaičiuoti skersmenį ir medžio kamieno 1 centro padėtį.
•Jeigu, pavyzdžiui, tarp kamieno 1 centro ir lazerinių diodų blokų S, 8J susidaro trikampis, tai centro atstumas nuo lazerinių diodų blokų S, S'1 yra apskaičiuojamas pagal žinomas formules, naudojant sinusų teoremą.
Aišku, kad pagal žinomas formules taip pat yra apskaičiuojamas ir kampas, kurį sudaro kamieno 1 skersmenys arba pats skersmuo, įvertinant kamieno 1 padėtį, todėl smulkesni aiškinimai nereikalingi.
signalai yra
Apdorojimo bloke reikalingoms formulėms yra užprogramuotas atitinkamas algoritmas, kuriuo galima tiksliai apskaičiuoti kamieno 1 skersmenį, be to, yra numatyta ir temperatūrinė kompensacija.
Mat av imo portalo 10 gerai matomoje vietoje ir/arba apdorojimo bloke 23 galima numatyti raudoną ir žalią šviesą spinduliuojančius diodus, kurie signalizuoja apie nukrypimą nuo taktinio dažnio arba įtampas buvimą perduodanči ajame gale.
Atskiras matavimo operacijas gali taip kontroliuoti apdorojimo blokas 23, kad butų aritmetiškai apskaičiuotas kamieno 1 vidutinis skersmuo.
Apdorojimo blokas 20 per interfeisą 22 gali būti prijungtas prie dokumentavimo bloko arba prie displėjaus su spausdinimo įrenginiu, tai leidžia parodyti ir užrašyti kamieno 1 momentinę skersmens reikšmę, vidutinį skersmenį, ilgį ir kamieno 1 identifikacinį numerį.
Apdorojimo blokas 20 taip pat gali teikti informaciją į centrinę ESM apie tokius trukdymus, kaip elektroninio optinio matavimo prietaiso užteršimas, matavimo diapazono viršijimas, grandininio transporterio 2, 2·' sugedimas.
Pastovus matavimo portalo 10 įtaisas, su kuriuo tvirtai yra sujungtos priėmimo sijos 5, 5’, lazerinių diodų blokai ir šviesos barjeras 9, 9', garantuoja tvirtą ir patikimą įtaiso, matuojančio skersmenį ir/arba medžio kamieno 1 tūrį, konstrukc i ją. Matavimų tikslumą daugiau lemia fototranzistorių 6, skaičius priėmimo sijose 5, 5'.
Aprašytame išradimo variante kiekvienoje priėmimo sijoje
5, 5 ' yra 512 -fototranz istor ių ό, ό ', tačiau paslinkus juos
Šachmatine tvarka, galima nekliudomai padvigubinti jų

Claims (7)

  1. IŠRADIMU Ab'I-BKtŽ I Ib išdėstyti ne statmenois i
    1. Slenkančio objekto dydžių matavimo įtaisas <ί>, turintis optoelektroninį matavimo prietaisą, kurį sudaro perdavimo ir priėmimo elementai <6, 6 ‘, 8, 8 0, mažiau kaip vienoje matavimo plokštumoje <7>, objekto <1> išilgine ašį, taip pat apdorojimo blokas <20>, be to, matavimo portalo <10> matavimo plokštuma <7> yra ribojama ne mažiau kaip dviem matavimo sijomis <4, 4';1, išdėstytomis tam tikru kampu, b e s i s k iriantis t u o, kad ant matavimo sijų <4, 4 0 šoninių paviršių, atsuktų į matavimo plokštumą <7>, yra ne mažiau kaip viena priėmimo elementų <8, 6 0 eilė, be to, kiekvienai šiai eilei yra skirtas vienas periodiškai įjungiamas spinduliavimo elementas <3, 30', esantis matavimo plokštumoje <7> tam tikru atstumu < A > nuo matavimo sijos <4, 40 ir spinduliuojantis vėduoklinį šviesos spindulių srautą, kuris yra nukreiptas į priėmimo elementus <6,
    Įtaisas pagal ί p besi kirianti t u o, kad priėmimo elementai <6, 60 yra išdėstyti iš eilės maždaug apskritimo lanku, kurio centre yra atitinkamas spinduliavimo elementas <8, 8 O>.
  2. 3. Įtaisas pagal 1 arba 2 p., b e s i s k i r i a ntuo, kad kiekvienas spinduliavimo e 1 ementas <3, 30 yra blokas, kuriame yra lazerinis diodas, trijų lęšių ko 1 imatorius, brūkšninė optika ir lengvai valdoma valdymo ir apdorojimo elektronika.
  3. 4. Įtaisas pagal vienų iŠ 1 - 3 p., besiskiriantis tuo, kad priėmimo elementai <6, 6'> yra + ototranzistori a i, išdėstyti vandens nepraleidžiančiose priėmimo sijose <5, 5 ' > su išilgine Įpjova <50, 50·'>, uždengta stiklu vėduoklinio šviesos spindulio srityje.
  4. 5. Įtaisas pagal vienų iš i - 4 p., b e s i s k iriantis tuo, kad priėmimo elementų <6, 6 ' > eilė yra padalinta į vienodas atkarpas <60, 600, be to, kiekvienos atkarpos <60, 60 0' priėmimo elementai <6, 6 0' yra išdėstyti identiškose spausdintinėse plokštėse.
  5. 6. Įtaisas pagal vienų iš 1 - 5 p., besiskiriantis tuo, kad kiekvienas spinduliavimo elementas <3,30' yra vandens nepra1eidžiančiame korpuse, turinčiame stiklu uždengtų įpjovų <30, 800, kuri nukreipta į
    priėmimo sijų <5, 5 0, o 1 iorpusas yra sumontuotas tarp dviejų, standžiai sujungtų su matavimo portalo < 10 > stovais <11, 11 ' i, stačiakampių plokštelių <13, 19, 4 0·’ 1 UJ , i9 O, iš šono išsik iŠančių už korpuso kraštų • 7. Įtaisas pagal vienų iš 1 - 6 p., b e s i s k i- riantis t u o, kad derinimo rež ime spinduliavimo
    elementai <3, 8 ' > gali pastoviai šviesti.
    3. Įtaisas pagal vienų iš 1 ~7 p. , b e s i s k i — riantis tuo, kad apdorojimo blokas < 20 > yra mikroprocesorių sistema, turinti atminties bloką, kuris sinchronizuoja spinduliavimo ir priėmimo elementų <6, fa',
    3, SJ veikimą taktiniu dažniu, didesniu už 300 Hz.
  6. 9. Įtaisas pagal vieną iš 1 -8p., besiskiriantis tuo, kad apdorojimo blokas <20} matuoja ir parodo objekto <i} skersmenį ir/arba turį, kuris yra apskaičiuojamas: iš uždengtų priėmimo elementų <6, fa'} skaičiaus, nustatomo iš abiejų eilių priėmimo elementų <6, fa'}, ir iš priėmimo elementų <fa, fa'} pastovaus eilių ilgio, taip pat iš atstumo tarp priėmimo elementų (6, fa'} eilių ir atitinkamų spinduliavimo elementų <3, S'}, tuo pačiu yra numatytas padėties signalo, kuris įvertina atstumą tarp objekto <1} ir spinduliavimo elementų < S 9 s ' }, parodymas.
  7. 10. įtaisas pagal vieną iŠ 1 - 7 p., besiskiriantis tuo, kad apdorojimo blokas <20} slopina priėmimo elementų pritemdymus, kuriuos sukuria atsikišusios nuo objekto <1} dalys.
LTIP1604A 1990-12-10 1993-12-15 Measuring device for measuring size of object while periodic moving LT3790B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
AT0249790A AT396181B (de) 1990-12-10 1990-12-10 Einrichtung zum erfassen der masse eines gegebenenfalls bewegten gegenstandes

Publications (2)

Publication Number Publication Date
LTIP1604A LTIP1604A (en) 1995-07-25
LT3790B true LT3790B (en) 1996-03-25

Family

ID=3535338

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
LTIP1604A LT3790B (en) 1990-12-10 1993-12-15 Measuring device for measuring size of object while periodic moving

Country Status (12)

Country Link
US (1) US5212539A (lt)
EP (1) EP0490867B1 (lt)
AT (1) AT396181B (lt)
CA (1) CA2057290A1 (lt)
CZ (1) CZ280853B6 (lt)
DE (1) DE59105443D1 (lt)
FI (1) FI915789A (lt)
HU (1) HU214530B (lt)
LT (1) LT3790B (lt)
LV (1) LV10669B (lt)
NO (1) NO914834L (lt)
PL (2) PL292691A1 (lt)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH683370A5 (de) * 1992-04-10 1994-02-28 Zumbach Electronic Ag Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Abmessung eines Objekts.
SE505671C2 (sv) * 1995-12-06 1997-09-29 Svenska Elektronikprodukter Ab Sätt och anordning vid diametermätning av långsträckta föremål
IT1296705B1 (it) * 1997-11-06 1999-07-15 Automation Spa Centro Dispositivo di selezione e controllo barre e procedimento connesso
US6166811A (en) * 1999-08-12 2000-12-26 Perceptron, Inc. Robot-based gauging system for determining three-dimensional measurement data
DE10304503A1 (de) * 2003-02-05 2004-08-19 Hauni Maschinenbau Ag Vorrichtung und Verfahren zum Messen des Durchmessers eines stabförmigen Gegenstandes insbesondere der tabakverarbeitenden Industrie
CA2737169C (en) * 2006-04-28 2014-04-01 Global Sensor Systems Inc. Device for measuring package size
DE102010006116A1 (de) * 2010-01-29 2011-08-04 Hans-Hermann Trautwein SB-Technik GmbH, 73760 Verfahren und Vorrichtung zur Identifizierung der Kontur von Körpern, vorzugsweise von zumindest nahezu achssymmetrischen Flüssigkeitsbehältern
CN103673906B (zh) * 2013-12-12 2016-07-06 北京动力源创科技发展有限公司 激光扫描测径仪以及测量工件外径的方法
FI128235B (en) * 2018-12-10 2020-01-15 Procemex Oy Ltd Top side light

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2019290A1 (de) 1970-04-22 1971-11-04 Joerg Kg Apparatebau Elektroni Einrichtung zur Messung der Dimensionen von vorbewegten Gegenstaenden,wie Baumstaemmen oder Schuettguetern
DE2127751A1 (de) 1971-06-04 1972-12-14 Exatest Messtechnik Gmbh Verfahren zur Ermittlung des Durchmessers eines runden Drahtes, Stabes oder Rohres mittels fotoelektrischer Abtastung
AT351282B (de) 1975-10-30 1979-07-10 Kletzmaier Karl Einrichtung zum feststellen bzw. ueberwachen der masse eines gegebenenfalls bewegten gegenstandes

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT244075B (de) * 1962-01-15 1965-12-10 Philips Nv Vorrichtung zum Feststellen von schrägen Kanten bei Brettern od. dgl.
US3513321A (en) * 1967-08-03 1970-05-19 Weyerhaeuser Co Log tally system with minimum diameter measuring means
FI43360B (lt) * 1967-11-22 1970-11-30 E Naulapaeae
US3819918A (en) * 1973-03-19 1974-06-25 Kratos Electronic device for determining the height, width, length and volume of a container
US3953128A (en) * 1974-03-25 1976-04-27 Atlantic Research Corporation Process and apparatus for filament or slit size monitoring
DE2729576A1 (de) * 1977-06-28 1979-01-11 Siemens Ag Vorrichtung zur umfangsmessung strangfoermigen gutes
US4417817A (en) * 1980-06-19 1983-11-29 General Mining Union Corporation, Limited Volumetric measurement of particles
SE8105051L (sv) * 1981-08-26 1982-08-30 Kockumation Ab Forfarande for indikering av ett foremals nervaro i en metzon och anordning for genomforande av forfarandet
CA1253620A (en) * 1985-04-30 1989-05-02 Jon Claesson Method relating to three dimensional measurement of objects
DE3634065A1 (de) * 1985-10-08 1987-04-09 Boesl A Fa Einrichtung zur erfassung von messdaten bei der volumenbestimmung von koerpern
FR2595814A1 (fr) * 1986-03-14 1987-09-18 Bertin & Cie Procede et dispositif de mesure du diametre d'une fibre, en particulier d'une fibre optique
GB8612038D0 (en) * 1986-05-17 1986-06-25 Tole W R Dimensional measurement of object

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2019290A1 (de) 1970-04-22 1971-11-04 Joerg Kg Apparatebau Elektroni Einrichtung zur Messung der Dimensionen von vorbewegten Gegenstaenden,wie Baumstaemmen oder Schuettguetern
DE2127751A1 (de) 1971-06-04 1972-12-14 Exatest Messtechnik Gmbh Verfahren zur Ermittlung des Durchmessers eines runden Drahtes, Stabes oder Rohres mittels fotoelektrischer Abtastung
AT351282B (de) 1975-10-30 1979-07-10 Kletzmaier Karl Einrichtung zum feststellen bzw. ueberwachen der masse eines gegebenenfalls bewegten gegenstandes

Also Published As

Publication number Publication date
HUT60536A (en) 1992-09-28
CZ280853B6 (cs) 1996-04-17
CS365091A3 (en) 1992-06-17
PL292691A1 (en) 1992-07-13
LV10669A (lv) 1995-04-20
ATA249790A (de) 1991-10-15
NO914834L (no) 1992-06-11
NO914834D0 (no) 1991-12-09
AT396181B (de) 1993-06-25
EP0490867A2 (de) 1992-06-17
DE59105443D1 (de) 1995-06-14
FI915789A (fi) 1992-06-11
PL167445B1 (pl) 1995-09-30
HU913866D0 (en) 1992-03-30
LTIP1604A (en) 1995-07-25
FI915789A0 (fi) 1991-12-09
EP0490867A3 (en) 1993-01-13
HU214530B (hu) 1998-03-30
EP0490867B1 (de) 1995-05-10
US5212539A (en) 1993-05-18
CA2057290A1 (en) 1992-06-11
LV10669B (en) 1995-12-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10429289B2 (en) Particle detection
DE69024073D1 (de) Potoelektrischer mit Reflexion wirkender Sensor
ATE398764T1 (de) Optische positionsmesseinrichtung
KR970707424A (ko) 교정가능한 광학거리감지시스템 및 방법(Calibratable Optical Disatance Sensing System and Method)
US6354716B1 (en) Light curtain device
LT3790B (en) Measuring device for measuring size of object while periodic moving
SE8405802D0 (en) Eye movement measuring apparatus
GB2147697A (en) Level measurement method and apparatus
JPH06331543A (ja) 浮遊粒子濃度計測装置
KR101124607B1 (ko) 격자판을 이용한 빔의 폭 측정 장치 및 그 방법
GB2267963A (en) Obscuration sensor
JPS6122278Y2 (lt)
US5453839A (en) Optoelectronic measuring scale
RU2103663C1 (ru) Устройство для измерения размера периодически перемещающегося объекта
US4804265A (en) Aircraft landing light alignment system
SE8604390D0 (sv) Forfarande for att bestemma banan for ett pulsat ljusstralknippe
EP0629983A1 (en) Obscuration type smoke detector
KR0147234B1 (ko) 차량충돌방지 장치용 광학식 거리측정장치
US8324557B2 (en) Optoelectronic sensor for the detection of pallets
JPH032402B2 (lt)
JPH07218618A (ja) レーザレーダ光軸調整装置
RU2021108052A (ru) Способ и устройство для оптического измерения диаметра кабеля
SU382037A1 (ru) УСТРОЙСТВО дл ИЗМЕРЕНИЯ ПРОЗРАЧНОСТИ L АТМОСФЕРЫ
SU501376A1 (ru) Фотоэлектрическое автоколлимационное устройство
KR960024277A (ko) 차량충돌방지 장치용 광학식 거리측정장치 및 방법

Legal Events

Date Code Title Description
MM9A Lapsed patents

Effective date: 19971215