KR970011581B1 - 파형검사장치 - Google Patents

Abstract

내용없음.

Description

파형검사장치

제 1 도는 VME 버스시스템을 이용한 파형검사장치의 외부 상태를 보이는 도면이다.

제 2 도는 고속 A/D 변환보드를 사용시 설정해 주어야 할 파라메터메뉴를 표시하는 화면이다.

제 3 도는 본 발명에 의한 파형검사장치의 구성을 보이는 블록도이다.

제 4 도는 본 발명에 의한 파형검사장치의 모니터의 화면을 보이는 도면이다.

제 5 도는 본 발명에 의한 파형검사장치의 모니터 화면에 부메뉴가 겹친것을 보이는 도면이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

11 : 제어부32 : 키보드부

33 : 모니터 인터페이스부34 : 모니터

35 : 고속 A/D 변환부37 : 영상트리거부

38 : 카운터부39 : 영상이득 선택부

본 발명 파형검사장치에 관한 것으로, 특히 모니터의 화면에 측정파라메터 설정용 키가 표시되어 그 키를 선택하여 측정 파라메터를 간편하게 설정할 수 있는 파형검사장치에 관한 것이다.

생산라인에서 이용되는 VME(Versa Module Eurocard) 버스시스템상의 파형검사장치는 어떤 키의 누름에 의해 파형이 표시되고 사용자가 원하는 모드대로 자유자재로 변환된다.

제 1 도에 VME 버스시스템을 이용한 파형검사장치의 외부 상태가 도시된다. 1은 VME 버스시스템이며, 직육면체의 상자 형태이며, 그 전면에 선반이 형성되어 그 선반에 소정의 기능을 수행하는 보드(예, 고속 A/D 변환보드, 카운터 보드 등)를 장착하여 기능확장이 가능하다.

2는 플로피 디스크 드라이버이며, 플로피디스크에 데이타를 저장하거나 재생한다. 3은 중앙 제어보드이며, 시스템 전체를 제어한다. 4는, CRT 인터페이스 보드이며, CRT(10)에 데이타를 출력하여 표시한다. 5는 프린터제어보드이며, 프린터에 데이타를 출력한다. 6은 고속 A/D 변환보드이며, 입력된 아날로그 신호를 A/D 변환한다. 7은 영상 이득선택기이며, 여러채널중 한 채널을 선택하고 선택한 채널로부터 연속해서 들어오는 아날로그 신호의 이득을 선택한다. 8은 영상트리거 보드이며, 고속 A/D 변환보드(6)에서 디지탈화된 파형을 트리거한다. 9는 카운터보드이며 파형의 주파수를 카운트하거나 필요에 따라 펄스의 수를 카운트한다.

10은 CRT 모니터이며, CRT 인터페이스보드(4)에서 데이타를 받아 화면에 표시한다.

11은 키보드이며, 사용자가 명령이나 데이타를 입력한다. 12는 CRT 신호선, 13은 키보드선, 14는 피측정체, 15는 피측정체선이다.

상기와 같이 구성된 VME 버스시스템을 이용한 파형검사기는 피측정체(14)로부터 입력받은 영산신호를 영상이득선택보드(7)에 의해 적절히 선택하여 고속 A/D 변환보드(6)로 입력하며, 영상트리거보드(8)에 설정된 대로 고속 A/D 변환보드(6)는 영상신호를 샘플링한다. 고속 A/D 변환보드(6)로부터 최종출력되는 신호는 중앙제어보드의 처리에 따라 CRT 인터페이스보드(4)를 통해 CRT 모니터(10)에 표시된다.

이렇게 영상신호의 파형이 CRT 모니터(10)의 화면에 표시되게 하기 위해, 제 2도에 도시된 바와 같이 여러가지 파라메터를 키보드를 이용하여 설정해 주어야 한다. 제 2도는 고속 A/D 변환보드 사용시 설정해 주어야 할 파라메터들을 표시한다.

이러한 파라메터 설정작업은 전문가가 아닌 이상 정확하고 바르게 설정할 수 없는 사항이며, 측정 대상체가 바뀔때마다 일일히 재설정해야 하기 때문에 시간이 많이 소요된다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로 본 발명의 목적은 측정 파라메타를 설정할 수 있는 기능키를 파형이 표시되는 화면에 동시에 표시되는 파형검사장치를 제공하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은 모니터 화면에 표시된 키조작에 의해 파형측정 파라메터를 간편하게 설정할 수 있는 파형검사장치를 제공하는 것이다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 장치는 전면에 개구된 선반을 구비한 VME 버스장치와, 상기 VME 버스를 통하여 각 부를 제어하는 제어기능을 갖는 제어부와, 상기 VME 버스장치를 통하여, 상기 제어부에 데이타를 입력하는 키보드부와, 상기 VME 버스를 통하여, 피측정체로부터 검출한 아날로그 신호를 디지탈 신호로 변환하여 상기 제어부에 출력하는 고속 A/D 변환부와, 상기 고속 A/D 변환부에 입력되는 아날로그 신호의 샘플링 시점을 결정하는 영상트리거부와, 상기 고속 A/D 변환부의 채널을 선택하는 영상이득선택부와, 상기 고속 A/D 변환부에서 입력되는 디지탈 신호의 주파수를 카운트하는 카운터부와, 상기 제어부로부터 데이타를 받아 상기 피측정체의 파형을 표시함과 동시에 그 파라메터를 변화시킬 수 있는 기능키를 화면에 표시하는 모니터와, 상기 VME 버스를 통하여 상기 모니터에 데이타 송·수신을 하는 모니터 인터페이스부를 구비한다.

이하 본 발명을 도면을 참고로 하여 상세히 설명한다.

제 3 도는 본 발명에 의한 파형검사장치의 구성을 보이는 블록도이다. 제 3 도에 도시된 각 부의 기능을 제 1도에 설명된 대응보드와 같으므로 설명을 생략한다.

제 4도는 본 발명에 의한 파형검사장치의 모니터 화면을 도시한 도면이다.

41은 본 화면의 로고표시, 42는 파형측정표시화면, 43은 피측정체로부터 입력된 영상신호를 표시하는 파형, 44는 Y축의 한눈금당 전압을 표시하는 VOLT/diV과 X축의 한눈금당 시간을 표시하는 ms/diV이다. 45는 측정하고자 하는 기능 선택부이고, 46은 전압 선택키, 47은 시간선택키, 48은 커서 이동키이다. 49는 파형의 저장과 지연표시부이고, 50은 파형의 저장, 불러오기 기능을 선택하는 키이고, 51은 파형을 시간적으로 지연시켜 표시하는 키이다. 52는 현재 화면에 표시되는 파형을 프린트하는 기능을 선택하는 키이다. 53은 시간 및 전압 스케일 변환부이고, 54는 volt/diV을 설정하는 키이며, 이것이 켜져 있을때 전압조정 표시바(Bar)를 조정하여 전압 스케일(Scale)을 변화시킬 수 있다.

55는 volt/diV의 전압조정 표시바이며, 키보드부(32)상의 화살표키를 위아래로 조작함으로써 변경시킬 수 있다.

56은 Time/diV 설정키이며, 이것이 커져 있을때 시간조정 표시바(57)를 조정하여 시간 스케일을 변화시킬 수 있다.

58은 채널선택부이며 59-62는 채널선택키이며, 각각 CH1, CH2, CH3, CH4를 선택한다.

63은 파형측정표시화면(42)에서 x축의 특정점(t₁, t₂)에 대한 시간과 그 사이의 시간간격(△t) 및 그 역수(△t)를 표시해주고 Y축의 특정점(V₁,V₂)에 대한 전압과 그 사이의 전압간격(△V)를 표시해주는 시간 또는 전압 표시부이다. 64-68는 단축 기능키이며, 64는 기능선택부(45)를 선택하고, 65는 파형의 저장과 지연 표시부(49)를 선택하고, 66은 프린트키(52)를 선택하고, 67은 시간 및 전압 스케일 변환부(53)를 선택하고, 68은 채널 선택부(58)를 선택한다.

69는 측정화면 탈출키이고, 70은 측정 파형의 파일(File) 이름이다.

먼저 본 장치에 전원이 인가되면 피측정체(36)에 대한 데이타가 측정입력신호선을 통해 영상이득선택부(39)에 의해 채널 별로 선택된다. 선택된 신호는 영상트리거부(37)에 의해 설정된 샘플링 시점에 고속 A/D 변환부(35)를 통해 피측정체(36)로부터의 영상신호가 디지탈 신호로 변환된다. 이 디지탈 신호는 메모리(30)에 저장되고, 다시 읽혀져서 모니터 인터페이스부(33)를 통해 제 4도와 같이 모니터(34)에 표시된다.

이렇게 피측정체(36)로부터 입력된 영상신호가 모니터(34)에 표시된 후 필요한 파라메터들을 제 4도에 도시된 키화면을 통해 쉽게 변경할 수 있다.

먼저, 전원이 온 된 상태에서, 단축기능키(64)는 다른 부분보다 더 밝게 된다. 이 밝은 부분은 키보드부(32)의 TAB 키에 의해 이동한다. 즉, TAB키를 눌렀다 떼면 단축기능키(64)는 다시 화면의 다른 부분과 같은 밝기가 되고, 단축기능키(65)의 부분이 밝게 된다. 단축기능키(64)를 선택하려면 단축기능키(64)가 밝은 상태에서 키보드부(32)의 ENTER키를 치면 기능선택부(45)가 선택되고 Vtg키(46)가 다른 부분보다 밝게 된다. 이 상태에서 ENTER키를 치면 제 5도에 도시된 부메뉴가 화면에 겹쳐서 표시되고, Vpp부터 커서(예 ; 밝은 부분, 노란색, 등)가 놓인다. 커서는 키보드부(32)의 화살표키에 의해 이동될 수 있다. Vtg(46)에서 Time(47), Time(47)에서 Cursor(48)로의 이동은 키보드부(32)의 TAB키를 이용하며 마찬가지로 Time(47)에서 CH4(62)까지의 이동은 모두 TAB키에 의해 달성된다.

Time키(47)에 커서 놓인 상태(예 : 밝은 부분, 노란색 등)에서 키보드부(32)의 ENTER키를 치면, 측정된 파형의 주파수, 주기 등이 5도에 도시된 바와 같이 방식으로 화면에 겹쳐서 표시된다. Cursor키(48)에 커서가 놓인 상태에서 키보드부(32)의 ENTER키를 치면 파형측정표시화면(42)에서 시간커서(t₁,t₂), 전압커서(V₁,V₂)가 표시되고 키보드부(32)의 화살표키에 의해 이동시킬 수 있고, 그 간격(△t,△V), 그 시간(t₁,t₂)등의 값이 시간 또는 전압표시부(63)에 표시된다.

만약, 파형을 더 확대해서 보고싶을때는 ALT-D(67)로 커서를 옮기고 키보드부(32)의 ENTER키를 쳐서 시간 및 전압스케일 변환부(53)를 선택하고, 키보드부(32)의 TAB키로 커서를 Time/diV 설정키로 옮기고 키보드부(32)의 화살표키로 시간조정표시바(57)를 이동시켜 Time/diV를 낮추고 키보드부(32)의 ENTER키를 치면 파형은 확대된다.

이상 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면 측정할 파라메터를 모니터에 표시된 파라메터 설정키에 의해 간편하게 변경할 수 있으므로 전문가가 아니라도 파라메터를 변경할 수 있으며, 설정에 걸리는 시간도 단축할 수 있다.

Claims (3)

1. 파형검사장치에 있어서, 전면에 개구된 선반을 구비한 VME 버스장치와, 상기 MVE 버스를 통하여 각부를 제어하는 제어 기능을 갖는 제어부와, 상기 VME 버스를 통하여 상기 제어부에 데이타를 입력하는 키보드부와, 상기 VME 버스를 통하여 피측정체로부터 검출한 아날로그 신호를 디지탈 신호로 변환하여 상기 제어부에 출력하는 고속 A/D 변환부와, 상기 고속 A/D 변환부에 입력되는 아날로그 신호의 샘플링 시점을 결정하는 영상트리거부와, 상기 고속 A/D 변환부의 채널을 선택하는 영상이득선택부와, 상기 고속 A/D 변환부에서 입력되는 디지탈 신호의 주파수를 카운트하는 카운터부와, 상기 제어부로부터 데이타를 받아 상기 피측정체의 파형을 표시함과 동시에 그 파라메터를 변화시킬 수 있는 기능키를 화면에 표시하는 모니터와, 상기 제어부와 상기 모니터 사이에 데이타 송,수신을 정합시키는 모니터 인터페이스부를 구비하는 것을 특징으로 하는 파형검사장치.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 모니터에 표시된 기능키는 전압 및 시간, 커서 선택키와, 프린터 선택키와, 저장 및 재생 선택키와, 전압 및 시간 설정키와, 채널 선택키로 구성되는 것을 특징으로 하는 파형검사장치.
3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 모니터에 표시된 기능키는 상기 키보드부의 탭키에 의해 커서를 이동시켜 상기 키보드부의 ENTER키를 치는 것에 의해 선택되는 것을 특징으로 하는 파형검사장치.