KR960009939B1 - Testing system for switching ic - Google Patents
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Abstract
Description
제1도는 본 발명의 1실시예에 따른 스위칭 IC의 검사장치의 구성을 나타낸 도면.1 is a diagram showing the configuration of an inspection apparatus for a switching IC according to an embodiment of the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1 : 스위칭 IC2 : 신호합성기1: switching IC2: signal synthesizer
3 : ROM4 : 테스트입력부3: ROM4: Test input part
5 : 스위칭부6 : 신호입력부5: switching unit 6: signal input unit
7 : 고장표시부8 : 마이크로 컴퓨터.7: Fault display part 8: Microcomputer.
본 발명은 스위칭 IC의 검사장치에 관한 것으로, 특히 스위칭 IC의 신호에 대한 선택기능을 자동으로 검사함과 더불어 이상유무를 외부로 표시하도록 된 스위칭 IC의 검사장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection apparatus for a switching IC, and more particularly, to an inspection apparatus for a switching IC configured to automatically check a selection function for a signal of a switching IC and to display an abnormality.
전자기기의 기능과 작용이 복잡화되면서 제어신호의 인가상태에 따라 입력되는 신호중에 어느 한 신호를 선택적으로 출력하는 이른바, 멀티플렉싱(multiplexing) 기능을 갖춘 스위칭 IC의 사용이 증가되고 있다.As the functions and operations of electronic devices are complicated, the use of so-called multiplexing switching ICs for selectively outputting any signal among input signals according to an application state of a control signal is increasing.
이러한 스위칭 IC의 동작에 이상이 발생되면 신호전달이 지장을 받아 전자기기가 바른 기능을 수행할 수 없게 된다. 또한, 스위칭 IC의 고장으로 전자기기에 동작이상이 발생하는 경우에도 이를 손쉽게 찾아낼 수 없는 관계로 수리에 많은 시간과 노고가 필요하며, 따라서 스위칭 IC의 고장유무를 손쉽게 검사할 수 있는 검사장치가 필요한 실정이다.If an abnormality occurs in the operation of the switching IC, signal transmission is disturbed, and the electronic device cannot perform a proper function. In addition, even if a malfunction occurs in the electronic device due to a failure of the switching IC, it is not easy to find it. Therefore, a lot of time and labor are required for repairing. Therefore, an inspection device that can easily check the failure of the switching IC is provided. It is necessary.
본 발명은 상기한 사정을 감안해서 창출된 것으로, 스위칭 IC의 이상유무를 자동으로 검사함은 물론, 검사결과를 기기의 외부로 표시하도록 된 스위칭 IC의 검사장치를 제공함에 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide an inspection apparatus for a switching IC which not only automatically checks for abnormalities of the switching IC, but also displays the inspection results to the outside of the apparatus.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 스위칭 IC의 검사장치는 제어입력의 설정상태에 따라 다중의 입력신호중에서 소정신호를 선택적으로 출력하는 스위칭 IC와, 이 스위칭 IC를 검사하기 위한 검사용 신호 및 고장을 표시하기 위한 음성신호를 생성하는 신호합성기, 상기 신호합성기의 신호합성을 위한 기초데이터를 저장하는 ROM, 검사모드를 설정하기 위한 선택신호를 입력하는 테스트입력부, 검사모드에서 상기 스위칭 IC로 공급되는 외부신호를 단속하기 위한 스위칭부, 상기 스위칭 IC의 출력신호를 검출하는 신호입력부, 검사결과를 표시하기 위한 고정표시부 및 상기 신호입력부를 통해 입력된 스위칭 IC의 출력신호를 판별하여 고장유무를 판정하는 마이크로 컴퓨터를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.An inspection apparatus for a switching IC according to the present invention for achieving the above object includes a switching IC for selectively outputting a predetermined signal among a plurality of input signals according to the setting state of the control input, an inspection signal for inspecting the switching IC and A signal synthesizer for generating a voice signal for indicating a fault, a ROM for storing basic data for signal synthesis of the signal synthesizer, a test input for inputting a selection signal for setting an inspection mode, and a supply to the switching IC in an inspection mode Determines whether there is a failure by determining a switching unit for intermittent external signal, a signal input unit for detecting an output signal of the switching IC, a fixed display unit for displaying an inspection result, and an output signal of the switching IC inputted through the signal input unit Characterized in that configured to include a microcomputer.
상기 구성으로 된 본 발명에 의하면, 스위칭 IC에 소정의 검사신호를 인가하고 스위칭 IC의 출력신호를 검출하여 이상유무를 판정하는 한편, 이를 기기의 외부에 소정의 표시수단을 통해 표시하는 스위칭 IC의 검사장치가 실현된다.According to the present invention having the above-described configuration, the switching IC is configured to apply a predetermined test signal to the switching IC, detect an output signal of the switching IC, determine whether there is an abnormality, and display it on the outside of the apparatus through predetermined display means. The inspection device is realized.
이하, 도면을 참조하면서 본 발명의 실시예를 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the Example of this invention is described, referring drawings.
제1도는 본 발명의 1실시예에 따른 스위칭 IC의 검사장치의 개략적인 구성을 나타낸 도면으로, 도면에서 참조번호 1은 제어입력의 설정상태(하이레벨 또는 로우레벨)에 따라 2의 입력신호(도면에서의 신호 A와 신호 B)중 어느 하나의 신호를 선택적으로 출력하는 스위칭 IC이고, 2는 상기 스위칭 IC(1)를 검사하기 위한 검사용 신호를 생성함과 더불어 후술할 고정표시부에 있어 고장유무를 음성신호로 표시하는 경우에 사용되는 음성신호를 생성하는 신호합성기, 3은 상기 신호합성기(2)의 신호생성에 필요한 기초데이타를 저장하고 있는 ROM, 4는 검사모드를 설정하기 위한 선택신호를 입력하는 데스트입력부로서, 이는 예컨대 소정의 누름스위치 또는 리모콘 장치의 선택신호를 수신하는 리모콘 신호수신부로 구성된다. 또한, 참조번호 5는 검사모드에서 기존의 외부신호(도면에서는 신호 A와 신호 B)가 상기 스위칭 IC(1)로 입력되지 못하도록 차단하는 스위칭부, 6은 상기 스위칭 IC(1)에서 스위칭되어 출력되는 출력신호를 검출하는 신호입력부로서, 후술할 마이크로 컴퓨터의 제어신호에 의해 온되어 스위칭 IC(1)의 출력신호가 입력되도록 하는 스위칭 트랜지스터(T3)로 구성되어 있다. 또한, 참조번호 7은 검사결과를 표시하기 위한 고장표시부이고, 8은 상기 신호입력부(6)를 통해 입력되는 스위칭 IC(1)의 출력신호를 근거로 고장여부를 판정하는 한편 상기 고장표시부(7)를 제어하여 검사결과를 표시하는 마이크로 컴퓨터이다.1 is a view showing a schematic configuration of an inspection apparatus of a switching IC according to an embodiment of the present invention, wherein reference numeral 1 denotes an input signal of 2 according to a setting state (high level or low level) of a control input. A switching IC for selectively outputting any one of the signals A and B) in the drawing, and 2 generates a test signal for inspecting the switching IC 1 and also has a failure in a fixed display unit to be described later. A signal synthesizer for generating a voice signal used in the presence or absence of a voice signal; 3 is a ROM storing basic data necessary for signal generation of the signal synthesizer 2, and 4 is a selection signal for setting an inspection mode As a test input unit for inputting a, it is composed of, for example, a remote control signal receiving unit for receiving a predetermined push switch or a selection signal of the remote control unit. Further, reference numeral 5 denotes a switching unit which blocks an existing external signal (signal A and signal B in the drawing) from being input to the switching IC 1 in the test mode, and 6 is switched by the switching IC 1 and output. As a signal input section for detecting an output signal to be used, it is composed of a switching transistor T3 which is turned on by a control signal of a microcomputer to be described later so that an output signal of the switching IC 1 is input. In addition, reference numeral 7 denotes a fault display unit for displaying a test result, and 8 denotes a fault based on an output signal of the switching IC 1 input through the signal input unit 6, and the fault display unit 7 Is a microcomputer that displays the test results by controlling
상기 테스트입력부(4)를 통해 검사모드가 설정되면, 상기 마이크로 컴퓨터(8)는 상기 스위칭부(5)로 예컨대 로우레벨의 신호를 출력하여 스위칭 트랜지스터(T1, T2)를 오프시키는 바, 그에 따라 상기 외부신호(신호 A 와 신호 B)의 입력이 차단된다. 다음으로, 마이크로 컴퓨터(8)는 상기 ROM(3)에 기억되어 있는 신호합성을 위한 기초데이타를 인출하여 상기 신호합성기(2)로 공급함으로써 검사용 신호가 생성되도록 한다. 또한, 마이크로 컴퓨터(8)는 상기 스위칭 IC의 제어입력 단자로 소정의 제어신호를 인가하는 한편, 상기 신호입력부(6)로 하이레벨의 신호를 인가한다. 따라서, 상기 스위칭 IC(1)의 출력신호가 상기 신호입력부(6)를 통해 입력되는 바, 마이크로 컴퓨터(8)는 상기 ROM(3)의 기초데이터와 입력된 스위칭 IC(1)의 출력신호를 근거로 고장유무를 판정한다.When the test mode is set through the test input unit 4, the microcomputer 8 outputs a low level signal, for example, to the switching unit 5 to turn off the switching transistors T1 and T2. The input of the external signals (signal A and signal B) is cut off. Next, the microcomputer 8 extracts the basic data for signal synthesis stored in the ROM 3 and supplies it to the signal synthesizer 2 so that a test signal is generated. The microcomputer 8 also applies a predetermined control signal to the control input terminal of the switching IC, while applying a high level signal to the signal input unit 6. Therefore, the output signal of the switching IC 1 is input through the signal input unit 6, so that the microcomputer 8 outputs the basic data of the ROM 3 and the input signal of the switching IC 1 input. Determine whether there is a failure on the basis.
예컨대 소정의 코드데이터가 인가된 신호입력 단자의 신호가 출력되도록 상기 스위칭 IC(1)의 제어입력을 설정하고 상기 신호입력부(6)를 통해 스위칭 IC(1)의 출력을 궤환입력 받는 한편, 마이크로 컴퓨터(8)에서 이를 비교하여 고장유무를 판정하게 된다.For example, the control input of the switching IC 1 is set to output a signal of a signal input terminal to which predetermined code data is applied, and the output of the switching IC 1 is fed back through the signal input unit 6 while the micro The computer 8 compares this to determine whether there is a failure.
상기 마이크로 컴퓨터(8)는 고장으로 판단되는 경우에 상기 고장검출부(7)를 통해 이를 표시하게 된다. 상기 고장검출부(7)는 텔레비젼과 같은 영상기기의 경우에는 OSD 발생장치(71)를 이용해서 화면상에 고장여부를 표시하도록 구성할 수 있다. 또한 상기 신호합성기(2)의 합성신호를 이용해 음성신호로 고장을 표시할 수도 있는 바, 이 경우에는 상기 마이크로 컴퓨터(8)가 신호합성기(2)의 음성신호(코드데이타)를 고장검출부(7)의 D/A 변환기(72)로 출력하여 음성신호로 변환하는 한편, 이를 증폭부(73)에서 소정레벨로 증폭하여 스피커로 출력한다.If it is determined that the microcomputer 8 is a failure, the microcomputer 8 displays it through the failure detection unit 7. The fault detector 7 may be configured to display a fault on a screen by using the OSD generator 71 in the case of a video device such as a television. In addition, a fault may be indicated by a voice signal using the synthesized signal of the signal synthesizer 2. In this case, the microcomputer 8 may detect a voice signal (code data) of the signal synthesizer 2. The D / A converter 72 converts the audio signal to a voice signal, and amplifies it to a predetermined level by the amplifier 73 to output to the speaker.
한편, 상기 실시예에서는 상기 테스트입력부(4)로 선택신호가 인가되는 경우에만 스위칭 IC(1)의 검사모드가 설정되도록 구성하였지만, 예컨대 전자기기의 전원온시에 상기 테스트입력부(4)에 선택신호가 인가되도록 하면 전자기기를 동작시킬 때마다 검사가 행해지도록 구성할 수도 있다.On the other hand, in the above embodiment, the inspection mode of the switching IC 1 is set only when the selection signal is applied to the test input unit 4, but, for example, the test input unit 4 is selected when the electronic device is powered on. If a signal is applied, the inspection may be performed every time the electronic device is operated.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 검사신호(코드데이타)를 스위칭 IC에 인가하고 그 출력신호를 신호입력부로 검출하여 입력신호와 비교함으로써 스위칭 IC의 고장유무를 검사하며, 그 결과를 고장표시부를 통해 표시하는 스위칭 IC의 검사장치가 실현된다.As described above, according to the present invention, the inspection signal (code data) is applied to the switching IC, the output signal is detected by the signal input unit, and compared with the input signal to check whether there is a failure of the switching IC, and the result is the fault display unit. The inspection device of the switching IC displayed by means of is realized.
또한, 본 발명은 상기 실시예에 한정되지는 않으며, 본원 발명의 기술적 요지를 벗어나지 않는 범위내에서 변형실시할 수 있다.In addition, this invention is not limited to the said Example, It can change in a range which does not deviate from the technical summary of this invention.
Claims (1)
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KR1019940006513A KR960009939B1 (en) | 1994-03-30 | 1994-03-30 | Testing system for switching ic |
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Family Applications (1)
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KR1019940006513A KR960009939B1 (en) | 1994-03-30 | 1994-03-30 | Testing system for switching ic |
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