KR19990049264A - Microcomputer test device - Google Patents
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Abstract
본 발명은 마이컴 테스트 장치에 관한 것으로, 노이즈 신호를 발생하는 노이즈 발생기(10)와, 마이컴(20)의 각각의 포트들로부터 제공되는 데이타를 디지탈 신호 처리하여 출력하는 I/O(input/output)부(30)와, 노이즈의 영향을 받지 않는 정상 상태에서의 마이컴(20)의 각각의 포트에서의 출력 데이타를 사전 저장하며, 노이즈의 영향하에서의 각각의 마이컴(20) 포트의 출력신호를 정상 상태의 출력신호와 비교하여, 각각의 포트에서의 데이타를 처리하여 출력하는 데이타 제어부(40)와, 데이타 제어부(40)의 출력신호를 디스플레이하는 디스플레이부(50)를 포함한다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a microcomputer test apparatus, and includes an noise generator (10) for generating a noise signal and an input / output (I / O) for digital signal processing and outputting data provided from respective ports of the microcomputer 20. The pre-stores output data at each port of the microcomputer 20 in the normal state which is not affected by the noise, and outputs the output signal of each microcomputer 20 port under the influence of noise. And a display unit 50 for processing and outputting data at each port, and a display unit 50 for displaying the output signal of the data control unit 40 in comparison with the output signal.
따라서 본 발명은, 마이컴이 소정의 전자기기에 장착 및 전자기기가 동작하는 상태에서 노이즈를 인가하여 노이즈의 영향에 따른 각각의 포트에서의 출력신호의 변화에 따라 고장 모드 및 취약포트를 검출할 수 있기 때문에 제품에 적용된 상태에서의 마이컴의 신뢰성을 적절히 측정할 수 있는 효과가 있다.Therefore, the present invention can detect a failure mode and a weak port according to the change of the output signal at each port according to the influence of the noise by applying noise while the microcomputer is mounted on a predetermined electronic device and the electronic device is operated. As a result, the reliability of the microcomputer in the state applied to the product can be measured appropriately.
Description
본 발명은 마이컴 테스트 장치에 관한 것으로, 특히, 소정의 전자기기에 장착된 마이컴을 전자기기가 동작되는 상태에서 테스트하므로써 고장 및 내구성 취약부등을 검출하는 마이컴 테스트 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a microcomputer test apparatus, and more particularly, to a microcomputer test apparatus that detects a failure, durability weakness, and the like by testing a microcomputer mounted on a predetermined electronic device in an operating state.
일반적으로, 최근에 사용되는 대부분의 전자기기에는 마이컴(microcomputer)이 장착되어 사용되는데, 이러한 마이컴은 전자기기의 구성요소들을 제어하여 각각의 기능이 원할히 수행되도록 하는 기능을 한다.In general, most electronic devices used in recent years are equipped with a microcomputer, which functions to control the components of the electronic device so that each function is performed smoothly.
이러한 마이컴이 고장 등의 이유로 제기능을 수행하지 못하면, 이러한 마이컴이 장착된 전자기기들은 오동작을 하거나 또는 동작되지 않는 경우가 발생하게 된다.If the microcomputer does not perform a proper function due to a malfunction or the like, electronic devices equipped with the microcomputer may malfunction or become inoperative.
따라서, 마이컴이 전자 제품에 적용되어 사용되기 이전에 그 성능을 테스트하여야 할 필요성이 발생하였고, 실질적으로 모든 마이컴은 제품에 적용되기 전에 소정의 테스트를 거친 후에 양호한 상태에서만 제품에 장착되어 사용되고 있다.Therefore, there is a need to test the performance of microcomputers before they are applied to and used in electronic products. Substantially, all microcomputers have been subjected to a predetermined test before being applied to a product and are only used in a good state.
그러나, 종래에는 이러한 마이컴을 테스트함에 있어, 제품에 장착되지 않은 단품상태에서 환경시험 및 내부 스캐닝 등의 시험과정을 거쳐 양호, 불량을 검출하고 있다.However, conventionally, in testing such a microcomputer, good or bad is detected through a test procedure such as an environmental test and an internal scanning in a single product state not mounted on a product.
따라서, 종래의 단품 상태에서의 테스트는 실질적으로 마이컴이 제품에 장착되어 사용될 때의 동작상태를 나타내지 못하므로 마이컴의 취약 포트(port)의 검색이 어렵고, 이에따라 고장모드를 검출하기 힘든 문제점이 있었다.Therefore, the conventional single-state test has a problem in that it is difficult to search for a weak port of the microcomputer because it does not substantially indicate the operating state when the microcomputer is mounted and used in the product, and thus it is difficult to detect a failure mode.
본 발명은 상술한 바와같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 소정의 마이컴을 테스트함에 있어 전자기기에 장착된 상태에서 전자기기를 동작시킨 후 마이컴의 각각의 포트에서의 동작상태를 검출하고 이를 디스플레이할 수 있도록 한 마이컴 테스트 장치를 제공하는데 있다.The present invention has been made to solve the problems described above, an object of the present invention is to operate the electronic device in a state mounted on the electronic device in the test of a predetermined microcomputer operating state at each port of the microcomputer The present invention provides a microcomputer test apparatus capable of detecting and displaying the same.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 소정의 가전 기기에 장착된 마이컴을 테스트하기 위한 마이컴 테스트 장치에 있어서, 상기 가전 기기는 항온 항습조내에 위치하고, 상기 가전기기는 동작상태이며, 상기 가전기기)로 노이즈 신호를 발생하는 노이즈 발생기와, 상기 마이컴의 각각의 포트와 접속되어 상기 마이컴의 각각의 포트들로부터 제공되는 데이타를 디지탈 신호 처리하여 출력하는 I/O(input/output)부와, 상기 마이컴이 노이즈의 영향을 받지 않는 정상 상태에서의 각각의 포트에서의 출력 데이타를 사전 저장하며, 상기 노이즈 발생기로부터의 노이즈의 영향하에서 상기 I/O부로부터 제공되는 디지탈 신호 처리된 각각의 마이컴 포트의 출력신호를 상기 정상 상태의 출력신호와 비교하여, 각각의 포트의 상태를 디스플레이 가능하도록 처리하여 출력하는 데이타 제어부와, 상기 데이타 제어부의 출력신호를 디스플레이하는 디스플레이부를 포함하고 구성된다.According to a preferred embodiment of the present invention for achieving this object, in the microcomputer test device for testing a microcomputer mounted on a predetermined home appliance, the home appliance is located in a constant temperature and humidity chamber, the home appliance is in an operating state And an I / O (input / output) for digitally processing and outputting data provided from the respective ports of the microcomputer and a noise generator for generating a noise signal to the home appliance). A pre-stored output data at each port in a steady state where the microcomputer is not affected by noise, and each digital signal processed provided from the I / O unit under the influence of noise from the noise generator. Compares the output signal of the microcomputer port with the output signal of the normal state, and displays the state of each port. And a data controller for processing and outputting the data to be playable, and a display unit for displaying an output signal of the data controller.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 마이컴 테스트 장치를 나타낸 구성 블럭도,1 is a block diagram illustrating a microcomputer test apparatus according to a preferred embodiment of the present invention;
도 2는 도 1에 도시된 마이컴 테스트 장치의 상세 구성도,2 is a detailed configuration diagram of the microcomputer test apparatus shown in FIG. 1;
도 3은 도 2에 도시된 I/O부의 상세 블럭도.3 is a detailed block diagram of the I / O unit shown in FIG. 2;
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the code | symbol about the principal part of drawing>
10 : 노이즈 발생기 20 : 마이컴10: noise generator 20: microcomputer
30 : I/O부 33 : A/D 컨버터30: I / O part 33: A / D converter
36 : DSP 40 : 데이타 제어부36: DSP 40: data control unit
50 : 디스플레이부 100 : 전자기기50: display unit 100: electronic device
200 : 항온 항습조200: constant temperature and humidity bath
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 마이컴 테스트 장치를 나타낸 구성 블럭도이고, 도 2는 도 1에 도시된 마이컴 테스트 장치의 상세 구성도이다.FIG. 1 is a block diagram illustrating a microcomputer test apparatus according to a preferred embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a detailed block diagram of the microcomputer test apparatus shown in FIG. 1.
도 1에 도시된 바와같이 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 마이컴 테스트 장치는 노이즈 신호를 발생하는 노이즈 발생기(10)와, 마이컴(20)의 각각의 포트들로부터 제공되는 데이타를 디지탈 신호 처리하여 출력하는 I/O(input/output)부(30)와, 노이즈의 영향을 받지 않는 정상 상태에서의 마이컴(20)의 각각의 포트에서의 출력 데이타를 사전 저장하며, 노이즈의 영향하에서의 각각의 마이컴(20) 포트의 출력신호를 정상 상태의 출력신호와 비교하여, 각각의 포트에서의 데이타를 처리하여 출력하는 데이타 제어부(40)와, 데이타 제어부(40)의 출력신호를 디스플레이하는 디스플레이부(50)를 포함한다.As shown in FIG. 1, the microcomputer test apparatus according to the exemplary embodiment of the present invention digitally processes and outputs data provided from the noise generator 10 generating a noise signal and the respective ports of the microcomputer 20. Pre-stores the output data of each port of the I / O (input / output) unit 30 and the microcomputer 20 in the normal state which is not influenced by noise, 20) a data controller 40 for processing and outputting data at each port by comparing the output signal of the port with the output signal in the normal state, and a display unit 50 for displaying the output signal of the data controller 40. It includes.
한편, 본 발명에 따르면, 마이컴(20)이 장착된 전자기기(100)는 항온 항습조(200)내에 위치하여, 외부의 영향을 받지 않고 항온 항습조(200)의 상태에 따라 그 환경이 변하게 된다. 또한, 노이즈 발생기(10)는 노이즈 신호, 예를들면 과전압 등을 마이컴(20)으로 직접적으로 제공하는 것이 아니라 전자기기(100)로 제공하여 마이컴(20)이 노이즈의 영향을 받는 상태에 놓이도록 한다.On the other hand, according to the present invention, the electronic device 100 is equipped with a microcomputer 20 is located in the thermo-hygrostat 200, so that the environment is changed according to the state of the thermo-hygrostat 200 without being influenced by the outside. do. In addition, the noise generator 10 does not directly provide a noise signal, such as an overvoltage, to the microcomputer 20, but rather to the electronic device 100 so that the microcomputer 20 may be affected by noise. do.
그리고, 본 발명에 따르면 전자기기(100)는 고유의 기능을 실행하는 동작상태이며, 따라서 마이컴(20)은 노이즈 발생기(10)로부터의 노이즈의 영향하에서 전자기기의 동작에 따라 각각의 포트들로 신호를 출력한다.In addition, according to the present invention, the electronic device 100 is in an operating state for executing a unique function, and thus the microcomputer 20 is connected to respective ports according to the operation of the electronic device under the influence of the noise from the noise generator 10. Output the signal.
I/O부(30)는, 도 2에 도시된 바와같이, 마이컴(20)의 각각의 모든 포트와 접속되어, 각각의 포트들의 출력신호를 디지탈 신호 처리하여 데이타 제어부(40)로 제공하는데, 이러한 I/O부(30)는 도 3에 도시된 바와같이 A/D(analog/digital)컨버터(33) 및 디지탈 신호 처리부(digital signal processor : DSP)(36)로 구성된다.As shown in FIG. 2, the I / O unit 30 is connected to all the ports of the microcomputer 20, and digitally processes the output signals of the respective ports and provides them to the data controller 40. As shown in FIG. 3, the I / O unit 30 includes an analog / digital (A / D) converter 33 and a digital signal processor (DSP) 36.
한편, 데이타 제어부(40)는 마이컴(20)이 노이즈의 영향을 받지 않는 정상 상태에서의 각각의 포트에서의 출력 데이타를 사전 저장한다. 즉, 데이타 제어부(40)는 노이즈 발생기(10)로부터 노이즈신호를 전자기기(100)로 인가하지 않은 상태에서 전자기기(100)의 동작에 따른 마이컴(20)의 각각의 포트에서의 정상 출력신호를 사전 저장하고, 그후에, 노이즈 발생기(10)로부터 노이즈 신호가 전자기기(100)로 인가되어 마이컴(20)이 노이즈 상태하에서의 각각의 포트의 출력신호가 I/O부(30)에서 디지탈 데이타 처리되어 제공되면, 이를 사전 저장된 정상 상태에서의 각각의 포트에서의 출력신호와 비교하고, 이를 디스플레이 가능 하도록 처리하여 디스플레이부(50)로 제공하고, 디스플레이부(50)는 데이타 제어부(40)의 출력신호를 디스플레이한다.On the other hand, the data control unit 40 pre-stores the output data at each port in the normal state in which the microcomputer 20 is not affected by noise. That is, the data controller 40 is a normal output signal at each port of the microcomputer 20 according to the operation of the electronic device 100 in a state in which the noise signal from the noise generator 10 is not applied to the electronic device 100. And a noise signal from the noise generator 10 is applied to the electronic device 100 so that the output signal of each port of the microcomputer 20 under the noise state is processed by the I / O unit 30 in digital data processing. If provided, it is compared with the output signal from each port in the pre-stored normal state, processed to be displayed and provided to the display unit 50, the display unit 50 is the output of the data control unit 40 Display the signal.
즉, 부연하면, 데이타 제어부(40)는 도 2에 도시된 바와같이, 사전 저장된 정상 상태에서의 마이컴(20)의 각각의 포트의 출력신호와 노이즈 영향하에서의 마이컴(20)의 각각의 포트의 출력신호를 비교하여 그 차이신호를 소정의 채널을 통하여 디스플레이할 수 있도록 하며, 또한, 정상 상태의 출력신호와 노이즈 영향하에서의 출력신호를 각각의 채널 신호로써 디스플레이할 수 있도록 한다. 이에따라, 모니터등으로 구성되는 디스플레이부(50)는 데이타 제어부(50)로부터 제공되는 각각의 포트에서의 정상 상태의 출력신호와 노이즈 영향하에서의 출력신호의 차이신호 또는 정상 상태의 출력신호 및 노이즈 영향하에서의 출력신호를 각각 다른 채널을 통하여 디스플레이하고, 이에따라 사용자는 모니터(50)에 디스플레이된 각각의 포트에서의 출력신호를 통하여 불량 또는 취약 포트를 인식할 수 있게된다.In other words, as illustrated in FIG. 2, the data control unit 40 outputs the output signal of each port of the microcomputer 20 in the pre-stored normal state and the output of each port of the microcomputer 20 under the influence of noise. By comparing the signals, the difference signals can be displayed through a predetermined channel, and the output signals under normal noise and noise effects can be displayed as respective channel signals. Accordingly, the display unit 50 constituted of a monitor or the like is provided with a difference signal between the output signal in the normal state and the output signal under the noise effect or the output signal and the noise effect in the normal state at each port provided from the data controller 50. The output signals are displayed through different channels, and accordingly, the user can recognize the defective or vulnerable ports through the output signals at the respective ports displayed on the monitor 50.
한편, 상술한 바와같은 데이타 제어부(40)는 퍼스널 컴퓨터 또는 다른 마이컴을 이용하여 구성할 수 있다.On the other hand, the data control unit 40 as described above can be configured using a personal computer or other microcomputer.
이상 설명한 바와같이, 본 발명은 마이컴을 테스트함에 있어 마이컴이 소정의 전자기기에 장착 및 전자기기가 동작하는 상태에서 노이즈를 인가하여 노이즈의 영향에 따른 각각의 포트에서의 출력신호의 변화에 따라 고장 모드 및 취약포트를 검출할 수 있기 때문에 제품에 적용된 상태에서의 마이컴의 신뢰성을 적절히 측정할 수 있는 효과가 있다.As described above, according to the present invention, when the microcomputer is tested, the microcomputer is mounted on a predetermined electronic device and the noise is applied while the electronic device is in operation, thereby failing according to the change of the output signal at each port according to the influence of the noise. Since the mode and the weak port can be detected, the reliability of the microcomputer in the state applied to the product can be measured appropriately.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1019970068170A KR19990049264A (en) | 1997-12-12 | 1997-12-12 | Microcomputer test device |
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KR1019970068170A KR19990049264A (en) | 1997-12-12 | 1997-12-12 | Microcomputer test device |
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KR (1) | KR19990049264A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020013187A (en) * | 2000-08-11 | 2002-02-20 | 윤종용 | Test system of a semiconductor memory device |
WO2006049353A1 (en) * | 2004-11-01 | 2006-05-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | The test system and method of the electric device |
KR100780941B1 (en) * | 2005-08-24 | 2007-12-03 | 삼성전자주식회사 | High speed test data generator capable of inserting noise and automatic test system using the same |
-
1997
- 1997-12-12 KR KR1019970068170A patent/KR19990049264A/en not_active Application Discontinuation
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