KR960006174A - Semiconductor laser diode manufacturing method - Google Patents

Semiconductor laser diode manufacturing method Download PDF

Info

Publication number
KR960006174A
KR960006174A KR1019940018755A KR19940018755A KR960006174A KR 960006174 A KR960006174 A KR 960006174A KR 1019940018755 A KR1019940018755 A KR 1019940018755A KR 19940018755 A KR19940018755 A KR 19940018755A KR 960006174 A KR960006174 A KR 960006174A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
laser diode
trenches
forming
substrate
current limiting
Prior art date
Application number
KR1019940018755A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
서주옥
Original Assignee
이헌조
엘지전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 이헌조, 엘지전자 주식회사 filed Critical 이헌조
Priority to KR1019940018755A priority Critical patent/KR960006174A/en
Publication of KR960006174A publication Critical patent/KR960006174A/en

Links

Landscapes

  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 레이저다이오드의 제조방법에 관한 것으로, 한개의 레이저다이오드에서 진동모드를 가지는 광 및 단일모드, 고출력을 가지는 광을 동시에 발생시키는 레이저 다이오드구조를 제조하기 위한 것이다. 본 발명은 기판위에 전류제한층을 형성하는 단계와, 상기 전류제한층을 선택적으로 식각하여 기판 양쪽에 서로 다른 넓이와 깊이를 가지며 윗부분이 아래부분보다 좁은 형태의 제1및 제2도랑을 각각 형성하는 단계, 상기 제1및 제2도랑이 형성된 전류 제한층상에 더블 헤테로 구조를 형성하는 단계, 상기 더블 헤테로 구조를 선택적으로 식각하여 상기 제1 및 제2도랑과 수직한 방향으로 일정간격 이격된 2개의 제3도랑을 형성하는 단계, 상기 2개의 제3도랑 사이의 양측면에 반사막을 형성하는 단계, 상기 더블 헤테로 구조 상부면 및 기판 후면에 각각 전극을 형성하는 단계로 구성된 반도체 레이저다이오드 제조방법을 제공함으로써 한개의 칩에 각각 다른 특징을 가지는 레이저다이오드구조를 구성하여 재생 및 기록을 하나의 레이저다이오드로 수행할 수 있게 하여 시스템을 축소화하고 효율성을 향상시킬 수 있도록 하고, 기판 표면과 수직한 방향으로 광이 진행되도록 하여 다른 소자와의 집적화를 용이하게 할 수 있게 한다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor laser diode, and to fabricate a laser diode structure that simultaneously generates light having a vibration mode and light having a single mode and high power in one laser diode. The present invention provides a method of forming a current limiting layer on a substrate, and selectively etching the current limiting layer to form first and second grooves having different widths and depths on both sides of the substrate and having upper portions narrower than lower portions. Forming a double heterostructure on the current confined layer in which the first and second trenches are formed, selectively etching the double heterostructure, and two spaced apart at regular intervals in a direction perpendicular to the first and second trenches. Providing a method of manufacturing a semiconductor laser diode comprising forming a third trench, forming reflective films on both sides between the two third trenches, and forming electrodes on the upper surface of the double heterostructure and the rear surface of the substrate, respectively. A laser diode structure having different characteristics on one chip is used to perform playback and recording with a single laser diode. This allows the system to be reduced in size and improved in efficiency, and to allow light to travel in a direction perpendicular to the substrate surface to facilitate integration with other devices.

Description

반도체 레이저다이오드 제조방법Semiconductor laser diode manufacturing method

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음As this is a public information case, the full text was not included.

제1도는 종래의 레이저다이오드 제조방법을 도시한 공정순서도.1 is a process flowchart showing a conventional method of manufacturing a laser diode.

제2도는 본 발명에 의한 반도체 레이저다이오드 제조방법을 도시한 공정순서도.2 is a process flowchart showing a method for manufacturing a semiconductor laser diode according to the present invention.

Claims (4)

기판위에 전류제한층을 형성하는 단계와, 상기 전류제한층을 선택적으로 식각하여 기판 양쪽에 서로 다른 넓이와 깊이를 가지며 윗부분이 아래부분보다 좁은 형태의 제1 및 제2도랑을 각각 형성하는 단계, 상기 제1및 제2도랑이 형성된 전류제한층상에 더블 헤테로 구조를 형성하는 단계, 상기 더블 헤테로 구조를 선택적으로 식각하여 상기 제1및 제2도랑과 수직한 방향으로 일정 간격 이격된 2개의 제3도랑을 형성하는 단계, 상기 2개의 제3도랑 사이의 양측면에 반사막을 형성하는 단계, 상기 더블 헤테로 구조 상부면 및 기판 후면에 각각 전극을 형성하는 단계로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 레이저다이오드 제조방법.Forming a current limiting layer on the substrate, and selectively etching the current limiting layer to form first and second grooves having different widths and depths on both sides of the substrate and having upper portions narrower than lower portions, respectively; Forming a double heterostructure on the current limiting layer in which the first and second trenches are formed, and selectively etching the double heterostructure to form two third trenches spaced at regular intervals in a direction perpendicular to the first and second trenches Forming a reflective film on both side surfaces between the two third trenches, and forming electrodes on the upper surface of the double heterostructure and the rear surface of the substrate, respectively. 제1항에 있어서, 상기 제1도랑은 윗부분의 넓이를 4㎛정도, 깊이를 1.2㎛정도로 형성하고, 제2도랑은 윗부분의 넓이를 6㎛정도, 깊이를 1.1㎛정도로 형성하고, 제1도랑과 제2도랑사이의 전류제한층 부분이 약 15㎛정도가 남도록 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저다이오드 제조방법.According to claim 1, wherein the first groove is about 4㎛ the width of the upper portion and the depth of about 1.2㎛, the second groove is about 6㎛ and the depth of about 1.1㎛ the upper portion of the first groove A method of manufacturing a semiconductor laser diode, wherein a portion of the current limiting layer between the second trench and the second trench is formed to remain about 15 µm. 제1항에 있어서, 상기 더블 헤테로 구조는 P형 클래드층 P형 활성층, n형 클래드층 및 n형 캡층을 차례로 적층하여 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저다이오드 제조방법.The method of claim 1, wherein the double heterostructure is formed by sequentially stacking a P-type cladding layer, a P-type active layer, an n-type cladding layer, and an n-type cap layer. 제1항에 있어서, 상기 제3도랑은 2개의 도랑 사이가 상기 제1및 제2도랑 사이의 식각되지 않은 전류제한층 부분 상부에 오도록 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 레이저다이오드 제조방법.The method of claim 1, wherein the third trench is formed so that a gap between two trenches is located above a portion of an unetched current limiting layer between the first and second trenches. ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.
KR1019940018755A 1994-07-29 1994-07-29 Semiconductor laser diode manufacturing method KR960006174A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940018755A KR960006174A (en) 1994-07-29 1994-07-29 Semiconductor laser diode manufacturing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940018755A KR960006174A (en) 1994-07-29 1994-07-29 Semiconductor laser diode manufacturing method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR960006174A true KR960006174A (en) 1996-02-23

Family

ID=66698006

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940018755A KR960006174A (en) 1994-07-29 1994-07-29 Semiconductor laser diode manufacturing method

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR960006174A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040022113A (en) * 2002-09-06 2004-03-11 엘지이노텍 주식회사 Mirror coating method for raser diode

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040022113A (en) * 2002-09-06 2004-03-11 엘지이노텍 주식회사 Mirror coating method for raser diode

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1283574A3 (en) Semiconductor laser element
KR960006174A (en) Semiconductor laser diode manufacturing method
KR890013839A (en) Semiconductor laser device and manufacturing method thereof
JPS61259593A (en) Distributed reflection type semiconductor laser
KR960006172A (en) Manufacturing method of laser diode
JPS63120491A (en) Semiconductor laser
JPS5946082A (en) Photo semiconductor device and manufacture thereof
JPS60198884A (en) Semiconductor laser element
JPH04296079A (en) Manufacture of semiconductor laser
JPS6058689A (en) Semiconductor laser
JPS60213076A (en) Semiconductor laser
KR920011003A (en) Compound semiconductor laser
JPH05226775A (en) Semiconductor laser element
KR950004656A (en) Laser diode manufacturing method
KR960036223A (en) Semiconductor laser
KR970054996A (en) Structure of Semiconductor Laser Diode
JPS6354234B2 (en)
KR950004657A (en) Semiconductor laser diode manufacturing method
KR950010250A (en) Laser Diode and Manufacturing Method
KR950012878A (en) Semiconductor laser device and its manufacturing method
KR960043392A (en) Gallium-arsenic (Ga-As) laser diode and its manufacturing method
KR930020784A (en) Manufacturing method of semiconductor laser diode
KR950012894A (en) Manufacturing method of semiconductor laser diode
JPS62165388A (en) Semiconductor laser
KR930020792A (en) Array Method of Laser Diode

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination