KR960005677Y1

KR960005677Y1 - Braun tube testing device

Info

Publication number: KR960005677Y1
Application number: KR2019930015603U
Authority: KR
Inventors: 김보식
Original assignee: 오리온전기 주식회사; 엄길용
Priority date: 1993-08-14
Filing date: 1993-08-14
Publication date: 1996-07-11
Also published as: KR950007276U

Abstract

내용없음.None.

Description

Life test device of CRT

제 1 도는 종래의 시험장치의 구성을 보이는 블록도.1 is a block diagram showing the configuration of a conventional test apparatus.

제 2 도는 본 고안 시험장치의 구성을 보이는 블록도이다.Figure 2 is a block diagram showing the configuration of the subject innovation test apparatus.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

CRT : 브라운관(Braun tube) CH : 시험용 섀시(test chassis)CRT: Braun tube CH: Test chassis

L : 도선(導線) BF-R, G, B : 버퍼회로(buffer circuit)L: Conductor BF-R, G, B: Buffer circuit

AMP : 증폭부 REC : 정류부AMP: Amplifier Section REC: Rectifier

본 고안의 브라운관 제조에 관한 것으로, 더 상세히는 브라운관의 수명시험장치(life test set)에 관한 것이다.The present invention relates to the production of a CRT, and more particularly, to a life test set (CRT) of a CRT.

브라운관의 신뢰성 시험의 한 항목으로 시행되는 수명시험은 장기적인 브라운관의 안정적 작동여부를 시험하는 것으로, 예를들어 칼라 바(color bar)나 소비자 조건으로 채널신호 또는 무신호 상태를 조합한 규정조건 또는 그 이상의 조건에서 24시간 연속작동으로 수개월이상 시행된다.The life test, which is a part of the CRT reliability test, tests the long-term stability of the CRT operation. For example, the specified conditions or the combination of the channel signal or no signal condition by color bar or consumer condition or More than a few months with 24 hours of continuous operation under these conditions.

이러한 수명시험 장치는 제 1 도에 도시된 바와같이 브라운관(CRT)이 접속된 단자판(socket PCB : SP)에 도선(L)을 통해 시험용 섀시(test chassis : CH)를 연결하고 필요에 따라 시험기(TEST)를 연결한 비교적 단순한 구성이다. 이 시험용 섀시(CH)는 일반적으로 일반 TV용 섀시와 동일한 구성의 것이 사용된다.As shown in FIG. 1, the life test apparatus connects a test chassis (CH) to the terminal board (SP) connected to the CRT through a lead (L) and, if necessary, a tester ( It is a relatively simple configuration connecting TEST). This test chassis (CH) is generally used in the same configuration as the general TV chassis.

그런데 시험장치의 구성상 시험용 섀시(CH)와 브라운관(CRT)간의 거리는 실제 TV세트보다 길어질 수 밖에 없는바, 예를들어 TV세트에서 도선(L)의 길이는 20㎝내외이지만 시험장치에서는 적어도 50㎝이상이 될 수 밖에 없게된다. 그러므로 도선(L)의 부하에 의해 시험용 섀시(CH)로부터 브라운관(CRT)에 전달되는 전류, 예를 들어 캐소드 전류(Ik)가 저하되어 브라운관(CRT)의 해상도가 저하되고 감도(感度)가 떨어지게 된다.However, due to the configuration of the test apparatus, the distance between the test chassis (CH) and the CRT is inevitably longer than that of the actual TV set. It must be more than cm. Therefore, the current transmitted from the test chassis CH to the CRT by the load of the conductor L, for example, the cathode current Ik, is lowered, so that the resolution of the CRT is lowered and the sensitivity is lowered. do.

특히 브라운관(CRT)이 칼라 브라운관인 경우에는 선명한 화상이 얻어지지 못하게 되어, 시험장치에서 표시되는 화상이 실제 사용상태를 나타내지 못하는 문제가 있었다. 또한 시험기(TEST)가 도선(L)에 직렬로 연결되는 경우의 전압강화와 병렬로 연결되는 경우의 전유강하등이 상술한 해상도의 저하 문제를 더욱 심화시키고 있었다.In particular, when the CRT is a color CRT, a clear image cannot be obtained, and there is a problem in that the image displayed by the test apparatus does not indicate the actual use state. In addition, the voltage drop when the tester TEST is connected in series with the conducting wire L and the drop in oil when the parallel connection is made in parallel further exacerbate the problem of the above-described resolution degradation.

이와같은 종래의 문제를 감안하여 본 고안의 도선은 연장과 시험기의 부가에 전류 및 또는 전압강하를 보상하여 실제 TV세트의 상태로 수명시험을 행할 수 있는 시험장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.In view of such a conventional problem, the lead of the present invention aims to provide a test apparatus that can perform a life test in the state of an actual TV set by compensating for current and / or voltage drop in extension and addition of a tester.

상술한 목적을 달성하기 위해 본 고안에 의한 브라운관의 수명 시험장치는 섀시와 브라운관 사이에 시험장치의 부가적 부하에 의한 전류 및 또는 전압강하를 보상하는 버퍼(buffer)회로를 구비하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the CRT life test apparatus according to the present invention is characterized by including a buffer circuit for compensating a current and / or voltage drop caused by an additional load of the test apparatus between the chassis and the CRT. .

이와같은 본 고안의 구체적 특징과 이점들은 첨부된 도면을 참조한 이하의 바람직한 실시예 설명으로 더욱 명확해 질것이다.Such specific features and advantages of the present invention will become more apparent from the following description of the preferred embodiments with reference to the accompanying drawings.

제 2 도에서, 시험용 섀시(CH)와 브라운관(CRT)의 단자판(SP)은 도선(L)으로 연결되고 이 도선에는 상시(常時) 접속되어야 할 시험기(TEXST)가 접속되어 있다. 단자판(SP)과 브라운관(CRT) 사이에는 본 고안 특징에 따라 버퍼회로(BF-R, BF-G, BF-B)가 구비되는데, 이들 버퍼회로(BF-R∼B)는 단자판(SP)상에 구성될 수도 있고 필요에 따라 별개의 기판상에 구성될수도 있다. 도시한 실시예에서 시험될 브라운관(CRT)은 칼라 브라운관이므로 버퍼회로(BF-R∼B)는 R, G, B 각 신호에 대해 동일한 구성으로 3개가 병렬구성되어 있다.In FIG. 2, the test chassis CH and the terminal plate SP of the CRT are connected by a lead L, and a tester TEXST to be connected at all times is connected to the lead. Between the terminal plate SP and the CRT, buffer circuits BF-R, BF-G, and BF-B are provided according to the characteristics of the present invention, and these buffer circuits BF-R to B are the terminal plates SP. It may be configured on a separate substrate as needed. In the illustrated embodiment, since the CRTs to be tested are color CRTs, three buffer circuits BF-R to B are configured in parallel in the same configuration for each of R, G and B signals.

버퍼회로(BF-R∼B)는 도선(L) 및 시험기(TEST)의 부가적 부하에 의한 전류 및 또는 전압강하를 보상해주는 적절한 증폭회로로 구성되면 충분하나, 바람직 하기로는 도시된 바와같이 구성을 가진다. 즉 두 증폭트랜지스터(TR1∼TR2)에 의한 증폭부(AMP)는 부가적 부하를 보상하는 역할을 하게 되며, 인가되는 전류 또는 전압의 측정을 위해 디지탈 패널 미터(Digital Panel Meter ; DPM)등의 측정기와 외부측정기를 필요에 따라 접속할 수 있는 잭(jack : J)을 구비하고 있다.The buffer circuits BF-R to B should be composed of an appropriate amplification circuit for compensating the current and / or voltage drop caused by the additional load of the lead L and the tester TEST, but is preferably configured as shown. Has That is, the amplification unit AMP by the two amplifying transistors TR1 to TR2 compensates for the additional load and measures a digital panel meter (DPM) for measuring the applied current or voltage. And a jack (J) for connecting an external measuring device as necessary.

DPM 또는 외부 접속 측정기의 정확한 측정으로 위해서는 인가신호가 안정된 펄스를 유지할 것이 필요한바, 이 실시예에서는 증폭부(AMP)의 전단에 두 제너 다이오드(ZD1,ZD2)로 된 정류부(REC)를 구비하여 전류 또는 전압차에 의한 리플(ripple)을 제거하고, 증폭부(AMP)도 두 증폭트랜지스터(TR1, TR2)에 의해 2단증폭함으로써 인가신호 펄스를 더욱 안정화시키도록 하였다. 나머지 부호 PS는 DPM에 대해 직류 또는 교류 전원을 공급하는 전원 공급기(power supply) 이다.For accurate measurement of the DPM or externally connected measuring device, it is necessary to maintain a stable pulse of the applied signal. The ripple due to the current or voltage difference is eliminated, and the amplifier AMP is also amplified by two stages by the two amplifying transistors TR1 and TR2 to further stabilize the applied signal pulse. The remaining sign PS is a power supply that supplies direct or alternating current power to the DPM.

이와같은 구성에 의하면 시험용 섀시(CH)와 브라운관(CRT)간의 도선길이의 차이와 시험기(TEST)등의 부가적 부하에 의한 실제 TV세트와의 차이가 보상되어 수명시험은 실제 사용자 조건과 동일한 상태에서 이루어질 수 있다. 또한 필요에 따라서는 버퍼회로(BF-R∼B)의 증폭율을 더 증대시켜 실제 TV세트보다 고해상도 및 고감도의 상태로 수명시험을 행함으로써 고정밀도의 측정 및 시험을 수행할 수도 있다.According to such a configuration, the difference in the lead length between the test chassis (CH) and the CRT (CRT) and the difference between the actual TV set due to the additional load such as the tester (TEST) are compensated and the life test is the same as the actual user condition Can be done in If necessary, the amplification factor of the buffer circuits BF-R to B can be further increased, and a high precision measurement and test can be performed by performing a life test at a higher resolution and a higher sensitivity than an actual TV set.

이에따라 본 고안은 브라운관 제조의 신뢰성 향상에 큰 효과가 있다.Accordingly, the present invention has a great effect on improving the reliability of CRT production.

Claims

In the life test device of the CRT which measures the reliability by connecting the CRT to the CRT and connecting the test chassis and the measuring instrument continuously.

The CRT is provided with buffer circuits BIF-R to B for compensating a current difference and a voltage drop according to a difference in length from the actual TV set of the conductive wire L and an additional load such as the tester TEST. Life test device.

3. The rectifying circuit (REC) according to claim 1, wherein the buffer circuits BUF-R to B rectify R, G, and B signals;

Amplifier for amplifying the rectified signal (AMP)

A DPM measuring the amplified signal,

A life test apparatus for a CRT tube, comprising a jack (J) to which an external measuring device can be connected.