KR960001760A - 마이크로 콘트롤러를 이용한 파형검사 조정시스템 - Google Patents

마이크로 콘트롤러를 이용한 파형검사 조정시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR960001760A
KR960001760A KR1019940012883A KR19940012883A KR960001760A KR 960001760 A KR960001760 A KR 960001760A KR 1019940012883 A KR1019940012883 A KR 1019940012883A KR 19940012883 A KR19940012883 A KR 19940012883A KR 960001760 A KR960001760 A KR 960001760A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
motor
microcontroller
waveform inspection
pcb
built
Prior art date
Application number
KR1019940012883A
Other languages
English (en)
Other versions
KR960010754B1 (ko
Inventor
공영준
Original Assignee
배순훈
대우전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 배순훈, 대우전자 주식회사 filed Critical 배순훈
Priority to KR1019940012883A priority Critical patent/KR960010754B1/ko
Publication of KR960001760A publication Critical patent/KR960001760A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR960010754B1 publication Critical patent/KR960010754B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/02—Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Control Of Electric Motors In General (AREA)
  • Control Of Multiple Motors (AREA)

Abstract

본 발명은 PCB파형검사조정시스템에 있어 PCB조정용 DC모터X, Y로보트용 서보모터, 외부 PCV측정신호를 다기능, 고신뢰성을 갖는 단일보드의 마이크로콘트롤러를 이용하여 제어하기 위한 파형검사조정시스템에 관한 것으로, 컴퓨터(10)로서 AC모터제어기와 입,출력보드를 제어하여 AC모터와 DC모터를 구동하여 PCB를 조정한 후 범용인터페이스버스(GPIB)를 통해 계측기(OSC)에 추출된 파형을 나타내는 통상의 파형검사조정기에 있어서, 상기 컴퓨터(10)를, 제어프로그램이 내장된 램(31)과 데이타를 전송하는 직렬포트(32)와 입력되는 아날로그신호를 디지탈신호로 바꾸는 A/D변환기(33)와 PWM신호를 발생하는 EPA(34)와 데이타를 임.
출력시키는 범용I/O포트(35)가 내장된 단이롭드의 마이크로콘트롤러(30)와 연계하여 측정 및 모터제어장비를 조정하여 신회성을 높일수 있다.

Description

마이크로 콘트롤러를 이용한 파형검사 조정시스템
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 구성블럭도.

Claims (1)

  1. 컴퓨터(10)로서 AC모터제어기와 입,출력보드를 제어하여 AC모터와 DC모터를 구동하여 PCB를 조정한후 범용인터페이스버스(GBIB)를 통해 계측기(OSC)에 추출된 파형을 나타내는 통상의 파형검사조정기에 있어서, 상기 컴퓨터(10)를 제어프로그램이 내장된 램(31)과 데이타를 전송하는 직렬포트(32)와 입력되는 아날로그신호를 디지탈신호로 바꾸는 A/D변환기(33)와 PWM신호를 발생하는 EPA(34)와 데이타를 입,출력시키는 범용I/O포트(35)가 내장된 단일보드의 마이크로콘트롤러(30)와 연계하여 측정 및 모터제어장비를 조정하는 것을 특징으로 하는 마이크로콘트롤러를 이용한 파형검사조정시스템.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940012883A 1994-06-08 1994-06-08 마이크로콘트롤러를 이용한 파형검사조정시스템 KR960010754B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940012883A KR960010754B1 (ko) 1994-06-08 1994-06-08 마이크로콘트롤러를 이용한 파형검사조정시스템

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940012883A KR960010754B1 (ko) 1994-06-08 1994-06-08 마이크로콘트롤러를 이용한 파형검사조정시스템

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960001760A true KR960001760A (ko) 1996-01-25
KR960010754B1 KR960010754B1 (ko) 1996-08-08

Family

ID=19384906

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940012883A KR960010754B1 (ko) 1994-06-08 1994-06-08 마이크로콘트롤러를 이용한 파형검사조정시스템

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR960010754B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100919956B1 (ko) * 2007-12-24 2009-10-01 한전케이피에스 주식회사 데이터백 피씨비 카드 검사장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100919956B1 (ko) * 2007-12-24 2009-10-01 한전케이피에스 주식회사 데이터백 피씨비 카드 검사장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR960010754B1 (ko) 1996-08-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ES2082457T3 (es) Motor pilotado.
KR960001760A (ko) 마이크로 콘트롤러를 이용한 파형검사 조정시스템
KR920015683A (ko) 리졸버 여자(勵磁)신호 발생 장치
ATE229257T1 (de) Elektronisches ein-/ausgabemodul
KR870001514A (ko) 제어 장치
CN106862046B (zh) 驱动信号产生装置、方法及超声系统
DE50306195D1 (de) Dynamischer, sicherheitsrelevanter hochstromverbraucher in einem kraftfahrzeugbordnetz
KR830008221A (ko) 수치제어장치
KR970048114A (ko) 차량의 자동온도 제어기의 모의검사장치
CN211604492U (zh) 一种变频器控制模块及电机控制实验装置
CN220121177U (zh) 信号源设备及测试系统
KR100391452B1 (ko) 서보 드라이브/모터 시뮬레이터
KR940001689A (ko) 텔레비젼 수상기 중간주파수(if) 조정 시스템
KR900016914A (ko) 종류가 다른 플랫패널 디스플레이 유닛을 부착할 수 있는 휴대용 컴퓨터
KR980004063A (ko) 피씨(pc)와 통신 가능한 모니터
EP0359236A3 (en) Display control apparatus for converting color/monochromatic crt gradation into pdp gradation
Karthikeyan et al. Sinusoidal PWM signal generation using TMS320C6711 DSP for power control in mobile phones
KR950006466A (ko) 클램프보드를 이용한 중간주파수(if) 자동조정장치
KR950014010B1 (ko) 파형 입, 출력기 및 파형 입, 출력 방법
KR20080055086A (ko) 동기형 휘도전압 주파수 제어회로
KR970056089A (ko) Pcm 데이터 경로 접속 및 프로세서 버스 정합의 시험장치
KR940023157A (ko) 멀티모드 모니터의 모드제어회로
KR940010451A (ko) 모타의 소음 감소장치
JPS62255874A (ja) アナログ出力信号チエツク方式
KR960024855A (ko) 12비트 분해능을 갖는 측정장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 19990731

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee