KR950702707A - 표본의 특성을 결정하는 방법 및 장치(method of and apparatus for determining a property of a sample) - Google Patents

표본의 특성을 결정하는 방법 및 장치(method of and apparatus for determining a property of a sample) Download PDF

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Abstract

본 발명의 목적은 전기적 펄스가 가해진 후에 표본으로부터 얻는 반응에서 유도된 표본의 특성을 결정하기 위한 장치 및 방법을 제공하고자 하는 것이다. 본 발명의 바람직한 실시 예에서 혈구(224)는 전기적 펄스의 영향을 받고, (제3c도) 데이타 검색을 사용하여 반응(제3d도)이 탐지되며 이러한 탐지된 반응에 포리어 변형이 가해진다. 인가된 펄스9202)는 지속 기간이 매우 짧기 때문에 (이상적으로 다락 펄스), 포리어 변형은 매우 폭넓은 주파수대, 통상적으로 수 MHz를 초과해서 정보를 제공하고, 따라서 폭넓은 범위의 주파수 반응 데이타가 제공된다. 이렇게 변형된 데이타로부터 임의의 세포의 결함을 유도해낼 수 있다. 또한, 본 발명의 바람직한 실시 예에서는, 세포가 오리피스(220)의 특정구역을 통과할 때 이 세포(224)의 존재를 정확하게 탐지할 수 있도록 탐지수단(204, 206)이 제공되어 있다. 이러한 탐지수단(204, 206)은 정확하게 제어된 순간에 펄스를 인가하기 위해서 사용된다. 또 이 탐지수단은 무작위의 발산 효과를 줄이고 명백하게 발생하는 피크 잡음을 무시하도록 조절될 수 있다. 본 발명의 장치는 연속적으로 작동될 수 있고, 이전에 가능했던 것 보다 훨씬 넓은 주파수 대를 넘어선 정보를 제공할 수 있다.

Description

표본의 특성을 결정하는 방법 및 장치(METHOD OF AND APPARATUS FOR DETERMINING A PROPERTY OF A SAMPLE)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 세포의 임피던스 특성을 결정하기 위한 장치의 개략도이다.
제2도는 본 발명의 장치의 전기시스템에 대한 블록선도이다.
제3a도는 세포가 통과하는 오리피스의 개략도이다.
제3b도 내지 제3e도는 본 발명의 장치의 작동 결과를 나타낸 도표이다.
제4도는 본 발명에 사용된 장치의 대안적 실시예를 나타내는 단면도이다.
제5도는 본 발명에 사용된 파동 발생기 및 일정 전원의회로도이다.
제6도는 본 발명에 사용된 차동 증폭기의 회로도이다.
제7a도 및 제7b도는 본 발명에 사용된 세포위치 감지회로의 블록선도이다.
제8도는 펄스 발생기와 일정 전원의 대안적 실시예에 대한 블록선도이다.
제9도는 제8도의 대안적 실시예를 수정한 블록선도이다.

Claims (21)

  1. 표본의 특성을 결정하는 방법으로서, (a)표본에 전기적 펄스를 인가하는 단계와, (b)상기 펄스에 대한 반응을 탐지하는 단계와, (c)상기 탐지된 반응을 변형시키는 단계와, 그리고 (d)상기 변형된 반응으로부터 표본의 특성을 결정하는 단계를 포함하고 있는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 특성이 전기적 특성인 방법.
  3. 제1항 또는 2항에 있어서, 상기 표본이 세포를 포함하고 있는 방법.
  4. 제1항에 있어서, 전극의 배열에 의해서 펄스가 인가되고 반응이 탐지되며, 전해액내의 표본이 상기전극배열에 대해서 운반되는 방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 전극의 배열에 대한 상기 표본의 위치가 탐지되고, 상기 탐지된 표본의 위치에 따라서 상기 펄스가 인가되는 방법.
  6. 제4항 또는 제5항에 있어서, 상기 표본이 입자이고, 상기 입자가 통과하는 오리피스가 제공되어 있으며, 상기 입자가 상기 오리피스를 통과할 때 상기 입자에 펄스가 인가되도록 상기 전극의 배열이 설치되어있는 방법.
  7. 제6항에 있어서, 상기 펄스의 지속기간은 상기 입자가 상기 오리피스를 통과하는 운반기간보다 20% 내지 10%가 더 짧은 방법.
  8. 상기 항들 중 어느 한 항에 있어서, 상기 반응은 상기 표본 자체로 인한 요소와 상기 표본에 대한 외부적 영향으로 인한 요소를 포함하고 있고, 그리고 상기 반응은 상기 표본의 존재시와 상기표본의 부재시에 모두 결정되며, 상기 표본의 존재시 및 부재시의 2가지 반응간의 차이로부터 상기 반응에 포함되어 있는 상기 표본으로 인한 요소가 결정되는 방법.
  9. 표본의 특성을 결정하기 위한 장치로서, (a)상기 표본에 전기적 펄스를 인가하기 위한 수단과, (b) 상기 펄스에 대한 반응을 탐지하기 위한 수단과, (c) 상기 탐지된 반응을 변형시키기 위한 수단과, (d)상기 변형된 반응으로부터 상기 표본의 특성을 결정하기 위한 수단을 포함하고 있는 장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 표본의 특성이 전기적 특성인 장치.
  11. 제9항에 있어서, 펄스가 인가되고 반응이 탐지되는 전극 배열과, 상기 전극배열에 대해서 표본을 운반하기 위한 수단을 더 포함하고 있는 장치,
  12. 제11항에 있어서, 상기 전극의 배열에 대한 상기 표본의 위치를 탐지하는 수단과, 상기 탐지된 표본의 위치에 따라서 펄스를 인가하도록 배열되어 있는 펄스인가수단을 더 포함하고 있는 장치.
  13. 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 운반 수단은 상기 입자가 롱과해서 운반되는 오리피스를 포함하고 있고 상기 입자가 상기 오리피스를 통과해서 운반될 때 상기 입자에 펄스가 인가되도록 상기 전극배열이 설치되어 있는 장치.
  14. 제13항에 있어서, 상기 펄스의 지속기간은 상기 오리피스를 통과하는 상기 입자의 운반기간보다 20% 내지 10%가 더 짧은 장치.
  15. 제9항 내지 제14항 중 어느 한항에 있어서, 상기 표본의 존재시 및 부재시의 펄스에 대한 2가지의 반응을 결정하고, 상기 2가지 반응간의 차이로부터 상기표본으로 인한 반응의 요소를 결정하기 위한 수단을 더 포함하고 있는 장치.
  16. 제15항에 있어서, 상기 결정 수단이 작동 및 관련 테스트 장치(102, 104)를 포함하고 있고, 그리고 상기 결정수단은 각각 상기 작동 및 관련 테스트 장치(102, 104)에서 상기 표본의 존재시와 부재시의 반응을 결정하도록 배열되어 있는 장치.
  17. 제9항 내지 제14항 중 어느 한항에 있어서, 낮은 절연 상수를 가진 재료가 상기 전극 배열(208, 210)의 각각의 2개의 전극의 안쪽 사이에 끼워져 있는 장치.
  18. 제17항에 있어서, 상기 각각의 2개의 전극 사이의 거리와 상기 재료의 두께의 비가 25% 내지 50%이상인 장치.
  19. 제9항 내지 제18항 중 어느 한항에 있어서, 상기 전극의 배열의 면적과 상기 전극의 분리간의 비가 500이하이고, 200이하이며, 최적으로는 100이하인 장치.
  20. 제13항 내지 제19항 중 어느 한항에 있어서, 상기 탐지 수단의 일부를 형성하고 상기 오리피스(220,222)의 각각의 단부에 장착되어 있는 각각의 전극(208, 210)을 포함하고 있는 장치.
  21. 제8항에 있어서, 상기 외부적인 영향으로인한 요소가 상기 오리피스의 특성을 나타내는 값을 포함하고 있는 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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