Claims (6)
공간 분할 스위치 데이타 입력부, 다중화부, 직렬변환부, 병렬변환부, 역다중화부, 공간분할 스위치 데이터 출력부, 제어장치 데이터 출력부를 각각 구비한 4조의 신분할/공간분할 스위치 정합장치(15 내지 18)과, 제어장치(19)를 포함하고 있는 스위치 정합시스템(20)과, 상기 제어장치(19)에 연결된 프로세서장치(39)를 구비한 하드웨어에 적용되어 스위치 정합시스템의 입출력정합부 시험방법에 있어서, 시험횟수를 지정하고, 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)를 시험모드로 세팅시키고, 제어장치(19)의 송신 메모리에 시험데이터를 쓰는 제1단계(51 내지 53)와; 상기 제1단게(51 내지 53)수행 후, 시험데이타를 송출하여 시험데이타가 첫번째 신분할/공간분할 스위치 정합장치(15)의 제어장치 데이터 입력부(34), 다중화부(32), 직렬 변환부(33), 병렬 변환부(37), 역다중화부(36), 공간분할 스위치 데이터 출력부(35)를 거쳐 두번째 시분할/공간 분할 스위치 정합장치(16)의 공간분할 스위치 데이터 입력부(41), 다중화부(42), 직렬 변환부(43), 병렬 변환부(47), 역다중화부(46), 제어장치 데이터 출력부(48)로 송출되게 하는 제2단계(54)와; 상기 제2단계(54)수행 후, 두번째 신분할/공간분할 스위치 정합장치(16)을 거친 데이타를 수신 메모리에 쓰고, 송신 및 수신 메모리에 데이타가 같은지를 판단하여, 같으면 정상(OK)카운터를 증가시키고, 다르면 비정상(NOK)카운터를 증가시키는 제3단계(55 내지 58) 수행 후, 지정된 시험횟수 만큼 시험했는지 판단하여 모자라면 제어장치(19)의 송신 메모리에 시험 데이터를 쓰는 상기 제1단계로 리턴하고, 지정된 회수만큼 진행되었으면 결과를 출력하고 종료하는 제4단계(59,60)를 구비하여 수행하는 전전자 교환기에서 스위치 정합시스템의 입출력 정합부의 시험방법.Four sets of division / spatial division switch matching devices each including a spatial division switch data input unit, a multiplexing unit, a serial conversion unit, a parallel conversion unit, a demultiplexer, a space division switch data output unit, and a control unit data output unit, respectively. ), A switch matching system 20 including a control device 19, and a processor device 39 connected to the control device 19 is applied to the hardware to test the input and output matching part of the switch matching system A first step (51 to 53) for specifying a test number, setting the first time division / space division switch matching device 15 to a test mode, and writing test data to the transmission memory of the control device 19; After performing the first steps 51 to 53, the test data is sent out so that the test data is the control device data input unit 34, the multiplexing unit 32, and the serial conversion unit of the first division / spatial division switch matching device 15. (33), the space division switch data input unit 41 of the second time division / space division switch matching device 16 via the parallel conversion unit 37, the demultiplexer 36, the space division switch data output unit 35, A second step (54) to be sent to the multiplexer (42), serial converter (43), parallel converter (47), demultiplexer (46), and control device data output unit (48); After performing the second step 54, the data passed through the second division / space division switch matching device 16 is written to the reception memory, and it is determined whether the data is the same in the transmission and reception memory. After the third step (55 to 58) of increasing, and increasing the NOK counter if it is different, determining whether the test has been performed by a specified number of test times, and writing the test data to the transmission memory of the controller 19 if it is not sufficient. And a fourth step (59, 60) of outputting a result and finishing the specified number of times when the number of times has been advanced.
제1항에 있어서, 세번째 시분할/공간분할 스위치(17)와 네번째 시분할 공간분할 스위치(18)에 대해서도 동일하게 수행하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기에서 스위치 정합시스템의 입출력 정합부의 시험방법.The input / output matching unit of the switch matching system of the switch matching system according to claim 1, further comprising the same steps as for the third time division / spatial division switch (17) and the fourth time division division switch (18). Test Methods.
제1항에 있어서, 상기 제3단계(55 내지 58)에서의 송신 및 수신 메모리의 데이타의 비교는, 첫번째 신분할/공간분할 스위치 정합장치(15)에서 두번째 시분할/공간 분할 스위치 정합장치(16)의 데이터가 송신됨에 의한 데이터 타임잉의 변화를 감안하여 수신 메모리의 데이터를 읽을 때 타이밍의 변화만큼 지연된 주소의 데이터를 읽어서 비교하도록 하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기에서 스위치 정합시스템의 입출력 정합부의 시험방법.The comparison of the data of the transmission and reception memory in the third step (55 to 58) is performed by the first time division / space division switch matching device (15). In consideration of the change in data time due to data transmission, the input / output matching unit of the switch matching system of the switch matching system is characterized in that the data of the address delayed by the timing change is compared when the data of the receiving memory is read. Test Methods.
공간 분할 스위치 데이타 입력부, 다중화부, 직력변환부, 병렬변환부, 역다중화부, 공간분할 스위치 데이터 출력부, 제어장치 데이터 출력부를 각각 구비한 4조의 신분할/공간분할 스위치 정합장치(15 내지 18)과, 제어장치(19)를 포함하고 있는 스위치 정합시스템(20)과, 상기 제어장치(19)에 연결된 프로세서장치(39)를 구비한 하드웨어에 적용되어 스위치 정합시스템의 입출력정합부 시험방법에 있어서, 시험횟수를 지정하고, 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)를 시험모드로 세팅시키고, 제어장치(19)의 송신 메모리에 시험데이터를 쓰는 제1단계(61 내지 63)와; 상기 제1단계(61 내지 63)수행 후, 시험데이타를 송출하여 시험데이타가 두번째 신분할/공간분할 스위치 정합장치(16)의 제어장치 데이터 입력부(44), 다중화부(42), 직렬 변환부(43), 병렬 변환부(47), 역다중화부(46), 공간분할 스위치 데이터 출력부(45)를 거쳐 첫번째 시분할/공간 분할 스위치 정합장치(15)의 공간분할 스위치 데이터 입력부(31), 다중화부(32), 직렬 변환부(33), 병렬 변환부(37), 역다중화부(36), 제어장치 데이터 출력부(38)로 송출되게 하는 제2단계(64)와; 상기 제2단계(64)수행 후, 두번째 신분할/공간분할 스위치 정합장치(16)을 거친 데이터를 수신 메모리에 쓰고, 송신 및 수신 메모리에 데이타가 같은지를 판단하여, 같으면 정상(OK) 카운터를 증가시키고, 다르면 비정상(NOK) 카운터를 증가시키는 제3단계(65 내지 68)와; 상기 제3단계(65 내지 68)수행 후, 지정된 시험횟수 만큼 시험 했는지 판단하여, 모자라면 제어장치(19) 송신 메모리에 시험 데이터를 쓰는 상기 제1단계로 리턴하고, 지정된 횟수만큼 진해되었으며 결과를 출력하고 종료하는 제4단계(69, 70)를 구비하여 수행하는 전전자 교환기에서 스위치 정합시스템의 입출력 정합부의 시험방법.4 sets of division / spatial division switch matching devices each including a spatial division switch data input unit, a multiplexing unit, a serial transformation unit, a parallel transformation unit, a demultiplexing unit, a space division switch data output unit, and a control unit data output unit, respectively. ), A switch matching system 20 including a control device 19, and a processor device 39 connected to the control device 19 is applied to the hardware to test the input and output matching part of the switch matching system A first step (61 to 63) for designating a test number, setting the first time division / space division switch matching device 16 to a test mode, and writing test data to the transmission memory of the control device 19; After performing the first steps (61 to 63), the test data is sent out so that the test data is the control device data input unit 44, the multiplexing unit 42, and the serial conversion unit of the second division / spatial division switch matching device 16. (43), the space division switch data input unit 31 of the first time division / space division switch matching device 15 via the parallel conversion unit 47, the demultiplexer 46, and the space division switch data output unit 45; A second step (64) for sending out to the multiplexer (32), the serial converter (33), the parallel converter (37), the demultiplexer (36), and the control device data output (38); After performing the second step 64, the data passed through the second division / space division switch matching device 16 is written to the reception memory, and it is determined whether the data is the same in the transmission and reception memory. A third step (65-68) of incrementing and incrementing the NOK counter if different; After performing the third step (65 to 68), it is determined whether the test is performed by the designated number of tests, and if not, the control device 19 returns to the first step of writing test data to the transmission memory, and the result is darkened by the specified number of times. And a fourth step (69, 70) for outputting and terminating.
제4항에 있어서, 세번째 시분할/공간분할 스위치(17)와 네번째 시분할 공간분할 스위치(18)에 대해서도 동일하게 수행하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기에서 스위치 정합시스템의 입출력 정합부의 시험방법.5. The input / output matching unit of the switch matching system of the electronic switchboard according to claim 4, further comprising the step of performing the same with respect to the third time division / spatial division switch (17) and the fourth time division division switch (18). Test Methods.
제4항에 있어서, 상기 제3단계(65 내지 68)에서의 송신 및 수신 메모리의 데이타의 비교는, 두번째 신분할/공간분할 스위치 정합장치(15)에서 첫번째 시분할/공간 분할 스위치 정합장치(16)의 데이터가 송신됨에 의한 데이터 타이밍의 변화를 감안하여 수신 메모리의 데이터를 읽을 때 타이밍의 변화만큼 지연된 주소의 데이터를 읽어서 비교하도록 하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기에서 스위치 정합시스템의 입출력 정합부의 시험방법.5. The method of claim 4, wherein the comparison of the data in the transmit and receive memories in the third steps (65 to 68) is carried out at the second time division / space division switch matching device (15). In consideration of the change in the data timing due to the transmission of the data, the input / output matching unit of the switch matching system in the all-electronic switch is characterized in that the data of the address delayed by the change of the timing is read and compared. Way.
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.