KR950009614Y1 - Auto decap device - Google Patents

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Abstract

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Description

자동디캡(Auto Decap)장치Auto Decap Device

제1도는 본 고안에 의한 자동 디캡 장치의 사시도.1 is a perspective view of an automatic decap device according to the present invention.

제2도는 본 고안에 의한 자동 디캡 장치의 내부 구조도.2 is an internal structure diagram of an automatic decap apparatus according to the present invention.

제3도는 (a)는 드릴부의 상세 구조도, (b)는 부식부의 상세 구조도, (c)는 세척부의 상세 구조도.3 is a detailed structural diagram of a drill part, (b) a detailed structural diagram of a corrosion part, and (c) a detailed structural diagram of a washing part.

제4도는 디캡 완료된 반도체 소자의 사시도.4 is a perspective view of a decapsulated semiconductor device.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 : 본체 2 : 키부1: body 2: key part

3 : 스위치 3a : 엔터스위치3: switch 3a: enter switch

3b : 스텝스위치 3c : 스톱스위치3b: step switch 3c: stop switch

4 : 창문 5 : 드릴부4: window 5: drill part

5a : 로딩바 5b : 드릴5a: loading bar 5b: drill

5c : 상승될 이동바의 높이 6 : 부식부5c: Height of moving bar to be raised 6: Corrosion part

6a : 실린더 6b : 후드6a: cylinder 6b: hood

7 : 세척부 7a : 수조7: washing part 7a: water tank

7b : 물 8 : 건조부7b: water 8: drying part

8a : 송풍입구 9 : 언로딩부8a: blower inlet 9: unloading unit

9a : 언로딩바 10 : 레일9a: unloading bar 10: rail

11 : 척(Chuck) 12 : 이동바11: Chuck 12: Moving Bar

13 : 반도체 소자13: semiconductor device

본 고안은 반도체 소자(IC)의 자동 디캡(Auto Decap) 장치에 관한 것으로, 특히 최종 검사시에 불량 처리된소자의 '불량분석'에 적당하도록 한 자동 디캡 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an automatic decap device of a semiconductor device (IC), and more particularly to an automatic decap device that is suitable for the 'failure analysis' of a defective device in the final inspection.

종래에는 디캡(Decap : 페키지(Package)상태의 반도체 소자 내부의 칩을 보기 위해 페키지의 상단부물를 제거해 내는 것)을 하기위한 일련의 작업, 즉 반도체 소자를 드릴로 뚫고 화화약품인 케미컬(Chemical)을 사용해 부식시키고 물로 세척하여 건조시키는 작업등이 수동식으로 진행되어 시간이 많이 소요되고 특히 화화약품품인 케미컬을 공기중에 노출된 상태에서 사용해야 하므로 인체에 해롭고 위험성도 높은 문제점이 있었다.In the related art, a series of operations for decaping a chip in a packaged semiconductor device to remove chips from the upper end of the package, that is, drilling a semiconductor device and chemically treating chemicals There is a problem that it is harmful to the human body and has a high risk because it takes a lot of time because the work of corroding and washing with water and drying by manual process is used manually, especially chemicals, which are chemicals, are exposed to the air.

또한 수동식인 만큼 작업자가 원하는 정도의 정확한 디캡을 수행할 수 없게 되는 문제점이 있었다.In addition, there was a problem that the operator can not perform the precise decap of the desired degree as manual.

본 고안의 목척은 이러한 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 이를 첨부도면에 도시한 실시례에 따라서 상세히 설명하면 다음과 같다.Magnification of the present invention is devised to solve such a conventional problem, described in detail according to the embodiment shown in the accompanying drawings as follows.

제1도는 본 고안에 의한 장치의 사시도이고, 제2도는 내부 구조도이며, 제3도(a) (b)(c)는 각각 드릴부, 부식부, 세척부의 상세 구조를 보인 것이며, 제4도는 디캡이 완료된 반도체 소자의 사시도이다.Figure 1 is a perspective view of the device according to the present invention, Figure 2 is an internal structural view, Figure 3 (a) (b) (c) shows a detailed structure of the drill, corrosion and washing, respectively, Figure 4 It is a perspective view of the semiconductor device which completed the decap.

이에 도시한 바와 같이, 본체(l)의 전방부에는 모든 기능을 제어하는 키(2)들과 스위치(3)들이 설치되고, 그 후방에는 드릴부(5). 부식부(6), 세척부(7), 건조부(8) 및 언로딩부(9)가 설치되어 있다.As shown in the figure, keys (2) and switches (3) for controlling all functions are provided at the front part of the main body (1), and the drill part (5) at the rear thereof. The corrosion part 6, the washing | cleaning part 7, the drying part 8, and the unloading part 9 are provided.

상기 스위치(3)들은 엔터(Enter)키(3a)와, 스텝(Step)키(3b) 및 스톱(Stop)키(3c)로 이루어진다.The switches 3 consist of an Enter key 3a, a Step key 3b and a Stop key 3c.

또한 각부마다 창문(4)이 설치되어 작업의 진행을 관찰할 수 있도록 되어 있으며, 작업을 중지할 경우 각부의 창문(4)을 열고 반도체 소자를 꺼낼 수 있도록 되어 있다.In addition, each part is provided with a window (4) to observe the progress of the work, and to stop the work is to open the window (4) of each part to take out the semiconductor element.

상기 드릴부(5). 부식부(6), 세척부(7), 건조부(8) 및 언로딩부(9)의 바닥에는 레일(10)이 설치되어 있다. 상기 드릴부(5)에는 레일(10)의 시단부에 연결되는 로딩바(5a)가 실치되고 반도체 소자(13)에 드릴링을 하기 위한 드릴(5b)이 설치되어 있다.The drill part (5). The rail 10 is provided in the bottom of the corrosion part 6, the washing | cleaning part 7, the drying part 8, and the unloading part 9. As shown in FIG. In the drill part 5, a loading bar 5a connected to the start end of the rail 10 is mounted, and a drill 5b for drilling the semiconductor element 13 is installed.

상기 부식부(6)에는 화학약품을 투입하기 위한 실린더(6a)가 실치됨과 아울러 그 상부에는 화학약품에 의한 부식과정에서 생성되는 부식가스를 수집하기 위한 후드(6b)가 씌워져 있다.The corrosion part 6 is mounted with a cylinder 6a for injecting chemicals, and a hood 6b for collecting the corrosive gas generated during the chemical corrosion process is mounted thereon.

상기 세척부(7)에는 레일(10)이 침수될 수 있는 깊이의 수조(7a)가 형성되어 있으며, 이 수조(7a)에 물을담아 부시된 소자(13)가 레일(10)을 따라 이송되는 과정에서 수세(水洗)되도록 되어 있다.The washing section 7 is formed with a water tank (7a) of the depth that the rail 10 can be submerged, the bushing element (13) is carried along the rail (10) by putting water in the water tank (7a) It is to be washed in the process of becoming.

상기 건조부(8)에는 송풍기(도시되지 않음)에 연결된 송풍입구(8a)가 형성되어 바람을 불어넣는 것에 의하여 세척되는 소자(13)를 건조시키도록 되어 있다.The drying unit 8 is provided with a blower inlet 8a connected to a blower (not shown) to dry the element 13 which is cleaned by blowing air.

상기 언로딩부(9)에는 레일(10)의 최종단에 연결되는 언로딩바(9a)가 설치되어 드릴링, 부식, 세척, 건조를 거쳐 디캡이 완료된 소자(13)가 외부로 인출되도록 되어 있다.The unloading part 9 is provided with an unloading bar 9a connected to the final end of the rail 10 so that the decapsulated element 13 is pulled out through drilling, corrosion, washing and drying.

소자(13)는 소자이송수단에 의하여 로딩바(5a)와 레일(10) 및 언로딩바(9a)을 따라 이동 및 승강되는 것이다.The element 13 is moved and lifted along the loading bar 5a, the rail 10 and the unloading bar 9a by the element transfer means.

상기 소자이송수단은 로딩바(5a)와 레일(10) 및 언로딩바(9a)을 따라 이동됨과 아울러 승강가능하게 설치되는 이동바(12)와, 이 이동바(12)에 결합되어 소자를 지지하는 척(11)으로 구성된다.The device transfer means is moved along the loading bar 5a, the rail 10, and the unloading bar 9a, and is provided to be movable up and down, and is coupled to the moving bar 12 to support the device. It consists of a chuck 11.

여기서 상기 이동바(12)는 콘트롤러에 의하여 이동 및 승강되는 것으로 승강동작을 위하여는 솔레노이드나 유압 또는 공압실린더 또는 직선승강기구동 일반적으로 직선운동을 할 수 있는 수단이리면 어떠한 것을 사용하여도 무방하다.Here, the moving bar 12 is moved and lifted by the controller. For the lifting operation, a solenoid or a hydraulic or pneumatic cylinder or a linear lifting mechanism may be used as long as it is a means capable of linear movement in general.

이와 같이 구성된 본 고안의 자동 디켑 장치의 동작과정을 설명하면, 제2도에 도시한 바와 같이 디캡할 반도체 소자(13)를 척(Chuck)(11)에 꽂아 로딩바(5a)에 올려 놓으면 콘트롤러에 의하여 제어되는 이동바(12)의 이동에 따라서 척(11)은 레일(10)을 따라 드릴부(5)의 드릴작업위치로 옮겨지며 다 옮겨진 뒤에는 창문(4)을 닫는다.Referring to the operation of the automatic dishing device of the present invention configured as described above, as shown in FIG. 2, the semiconductor element 13 to be decapsulated is inserted into the chuck 11 and placed on the loading bar 5a. According to the movement of the moving bar 12 controlled by the chuck 11 is moved to the drill working position of the drill unit 5 along the rail 10 and closes the window 4 after it is moved.

이 상태에서 소자(l3)를 어느 정도의 깊이로 드릴링할 것인가를 키(2)에 의하여 입력한 다음 엔터스위치(3a)를 눌러 척(11)이 어느 정도까지 위로 올라갈 것인지 상승될 이동바(12)의 높이(5c)를 결정한다.In this state, the depth to which the element l3 is to be drilled is input by the key 2, and then the enter switch 3a is pressed to the extent to which the chuck 11 will be raised up to the moving bar 12. ), The height 5c is determined.

드릴링 깊이를 결정하고 스텝스위치(3b)를 누르면 드릴(5b)이 회전하기 시작하여 척(11)의 상승에 따라 척(11)에 지지된 소자(13)가 상승되는 높이만큼 드릴링된다.When the drilling depth is determined and the step switch 3b is pressed, the drill 5b starts to rotate and the element 13 supported by the chuck 11 is drilled by the height as the chuck 11 rises.

소자(13)가 키(2)에 의하여 입력된 깊이만큼 드릴링 완료되면, 들릴(5b)의 회전이 멈추게 된다.When the element 13 is finished drilling by the depth input by the key 2, the rotation of the reel 5b is stopped.

다음 스텝스위치(3b)를 누르면 소자(13)가 지지된 소켓(11)은 레일(10)을 타고 부식부(6)의 정중앙, 즉 도면 제3도(b)에 도시한 위치에서 정지하게 되고, 이때 센서(도시되지 않음)에 의하여 실린더(6a)에 들어있는 부식용액이 콘트롤러의 제어에 의해 소자(13)위로 한방울씩 떨어지면서 소자(13)를 부식시키게 되고, 부식에 따라 생성되는 부식가스등은 그 상부에 설치된 후드(6b)에 의해 수집되어 처리부(도시되지 않음)으로 보내진다.When the next step switch 3b is pressed, the socket 11 on which the element 13 is supported is stopped by the rail 10 at the center of the corrosion portion 6, that is, the position shown in FIG. At this time, the corrosion solution contained in the cylinder (6a) by the sensor (not shown) drops onto the element 13 by the control of the controller to corrode the element 13, the corrosion gas generated by the corrosion, etc. Is collected by the hood 6b installed thereon and sent to a processing unit (not shown).

여기서 소자(13)는 몰드(Mold)표면이 드릴(5b)로 갈려진 상태이므로 소자(13)의 윗면은 빠른 속도로 부식되여 칩(Chip)이 드러나게 된다.In this case, since the surface of the device 13 is ground by the drill 5b, the top surface of the device 13 is rapidly corroded to expose the chip.

부식이 완료되면 소자(13)를 지지하고 있는 척(11)은 도면 제3도(c)에서와 같이 스탭스위치(3b)에 의해 세척부(7)로 옮겨지고, 세척부(7)를 통과하는 과정에서 레일(10)이 수조(7a)에 담겨진 물(7b)이 잠기면서 이동하게 되므로 수세에 의한 세척이 이루어지게 된다.When the corrosion is completed, the chuck 11 supporting the element 13 is transferred to the cleaning part 7 by the step switch 3b as shown in FIG. 3 (c) and passes through the cleaning part 7. In the process, the rail 10 is moved while the water (7b) contained in the water tank (7a) is locked, the washing by water washing is made.

세척부(7)를 통과하는 시간은 소자(13)가 충분히 세척될 수 있는 시간으로 하여야 하며, 이는 키(2)에 의하여 콘트롤러에 입력하는 것에 의하여 달성할 수 있다.The time to pass through the cleaning part 7 should be such that the device 13 can be sufficiently cleaned, which can be achieved by input to the controller by means of the key 2.

세척이 완료되면 소자(13)를 지지하고 있는 척(11)는 레일(10)을 따라 건조부(8)로 이동되고 여기서 송풍기(도시되지 않음)에서 송풍되어 송풍입구(8a)에서 토출되는 뜨겁고 건조한 공기에 의하여 젖은 소자(13)가 건조되어 디캡이 완료되는 것이다.When the cleaning is completed, the chuck 11 supporting the element 13 is moved to the drying unit 8 along the rail 10 where the air is blown from the blower (not shown) and discharged from the blower inlet 8a. The wet element 13 is dried by the dry air to complete the decap.

건조 후에는 언도링부(9)로 옮겨지는데 여기서는 소자(13)를 지지하고 있는 척(11)이 레일(10)의 최종단에 연결된 언로딩바(9a)을 따라 언로딩하기 쉬운 위치로 이동되므로 언로딩부(9)의 문(4)을 열고 디캡이 완료된소자(13)를 인출하면 되는 것이다.After drying, it is moved to the undoing part 9, where the chuck 11 supporting the element 13 is moved to a position where it is easy to unload along the unloading bar 9a connected to the final end of the rail 10. The door 4 of the loading unit 9 may be opened and the decapsulated element 13 may be taken out.

이상과 같이 본 고안에 의하면 부식과정에서 발생되는 부식가스등이 후등에 의하여 수집되어 처리부로 보내지는 것이므로 화학 약품의 부식가스가 외부로 노출됨에 따른 안전사고나 직업병등 산업재해의 위험을 방지할수 있으며, 소자의 로딩에서부터 드릴링, 부식, 세척 및 건조 등 디캡 과정과 언로딩과정이 자동적으로 이루어지는 것이므로 정화하고 간편하게 디캡을 수행할 수 있게 되는 것이다.As described above, according to the present invention, since the corrosive gas generated during the corrosive process is collected by the back light and sent to the treatment unit, the risk of industrial accidents such as safety accidents and occupational diseases caused by the corrosive gas of chemicals exposed to the outside can be prevented. The decap process and unloading process, such as the loading, drilling, corrosion, cleaning and drying of the device, are carried out automatically, so that the decapsulation can be performed easily.

Claims (7)

드릴(5b)에 의하여 소자의 표면을 갈아내는 들리부(5)와, 부식용액을 떨어뜨려 소자를 부시시키는 부식부(6)와, 부시된 소자를 세척하는 세척부(7)와, 세척된 소자를 건조시키는 건조부(8) 및, 건조된 소자를 언로딩시키는 언로딩부(9)과, 이들 드릴부(5). 부시부(6), 세척부(7), 건조부(8), 언로딩부(9)에 걸쳐서 실치되어 소자를 이송안내하는 레일(10)을 가지는 소자이송수단을 구비하여서 됨을 특징으로 하는 자동 디캡 장치.A drilling part 5 for grinding the surface of the device by the drill 5b, a corrosion part 6 for dropping the corrosion solution to bush the device, a cleaning part 7 for washing the bushing device, and A drying section 8 for drying the elements, an unloading section 9 for unloading the dried elements, and these drill sections 5. An element transfer means having a rail (10) mounted over the bush (6), the washing portion (7), the drying portion (8), and the unloading portion (9) to guide the element. Decap device. 제1항에 있어서, 상기 드릴부(5)에는 상기 레일(10)의 시단부에 연결되어 소자를 드릴(5b)의 중심에 일치되는 위치로 이송하기 위한 로딩바(5a)를 설치한 것을 특징으로 하는 자동 디캡 장치.The method of claim 1, wherein the drill portion 5 is provided with a loading bar (5a) is connected to the start end of the rail 10 for transferring the element to a position coinciding with the center of the drill (5b) Automatic decap device. 제1항에 있어서. 상기 부식부(6)에는 정중앙위치에 부식용액을 수용하는 실린더(6a)를 설치함과 아울러 그 상부에는 부시가스를 배출하기 위한 후드(6b)를 설치하여서 됨을 특징으로 하는 자동 디캡 장치.The method of claim 1. Automatic decap device, characterized in that the corrosion portion 6 is provided with a cylinder (6a) for accommodating the corrosion solution in the center position and a hood (6b) for discharging the bush gas on the upper portion. 제1항에 있어서, 상기 세척부(7)에는 담수된 물(7b)에 상기 레일(10)을 바라 이송되는 소자가 잠길 수 있도록 배치된 수조(7a)를 설치하여서 됨을 특징으로 하는 자동 디캡 장치.2. The automatic decap apparatus according to claim 1, wherein the washing unit (7) is provided with a water tank (7a) disposed in the fresh water (7b) so that the element transported toward the rail (10) can be locked. . 제1항에 있어서. 상기 건조부(8)에는 뜨겁고 건조한 공기를 불어넣기 위한 송품입구(8a)가 설치된 것을 특징으로 하는 자동 디캡 장치.The method of claim 1. Automatic decap device, characterized in that the drying unit 8 is provided with a supply inlet (8a) for blowing hot and dry air. 제1항에 있어서, 상기 언로딩부(9)에는 상기 레일(10)의 최종단에 연결되어 디캡완료된 소자를 인출위치로 언로딩하기 위한 언로딩바(9a)가 설치된 것을 특징으로 하는 자동 디캡 장치.2. The automatic decap device according to claim 1, wherein the unloading part (9) is provided with an unloading bar (9a) connected to the final end of the rail (10) for unloading the decap completed element to a withdrawal position. . 제1항에 있어서, 상기 소자이송수단은 로딩바(5a)와 레일(10) 및 언로링바(9a)을 따라 이동됨과 아울러 승강가능하게 실치되는 이동바(12)와, 이 이동바(12)에 결합되어 소자를 지지하는 척(11)으로 구성됨을 특징으로 하는 자동 디캡 장치.According to claim 1, wherein the device conveying means is moved along the loading bar (5a) and the rail (10) and the unrolling bar (9a) and the movable bar 12 which is mounted to be elevated and lowered, and the movement bar (12) Automatic decap device, characterized in that consisting of a chuck (11) coupled to support the device.
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