KR950008460B1 - Detector out of input condition - Google Patents
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Abstract
Description
제1도는 종래의 무입력상태 검출회로를 나타낸 블럭도.1 is a block diagram showing a conventional no-input state detection circuit.
제2도는 제1도에 있어서 무입력상태 검출기의 상세회로도.FIG. 2 is a detailed circuit diagram of the inputless detector of FIG.
제3도는 본 발명에 의한 입력상태 검출회로를 나타낸 블럭도.3 is a block diagram showing an input state detection circuit according to the present invention.
제4도는 제3도에 있어서 무입력상태 검출기의 상세회로도.4 is a detailed circuit diagram of the no-input detector of FIG.
제5a∼5h도는 시리얼 데이타가 입력될때 제3도 및 제4도에 대한 타이밍도.5A to 5H are timing charts for FIGS. 3 and 4 when serial data is input.
제6a∼6i도는 시리얼 데이타가 입력되지 않을때 제3도 및 제4도에 대한 타이밍도.6A-6I are timing diagrams for FIGS. 3 and 4 when no serial data is input.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
11 : 무입력상태 검출기 12 : 카운터11: no input state detector 12: counter
Ⅳ1, Ⅳ2 : 인버터 A1, A2 : NAND게이트IV1, IV2: Inverter A1, A2: NAND gate
TN1 : 전송게이트TN1: Transmission Gate
본 발명은 디지탈 오디오 인터페이스(이하 DAI라 함) IC의 무입력상태 검출회로에 관한 것으로서, 특히 간소화된 회로를 이용하여 무입력상태를 검출함으로써 소비전력을 감소시키기 위한 무입력상태 검출회로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inputless state detection circuit of a digital audio interface (hereinafter referred to as DAI) IC, and more particularly, to an inputless state detection circuit for reducing power consumption by detecting an inputless state using a simplified circuit. .
종래의 DAI IC에 사용된 무입력상태 검출회로는 제1도에 도시된 바와 같이 시리얼(serial) 데이타가 입력될때 시리얼 데이타를 패러럴(parallel) 데이타로 바꿔 주기 위한 32비트 쉬프트 레지스터(10)와, 32비트 쉬프트 레지스터(10)에서 출력되는 패러럴 데이타에 의해 무입력상태를 검출하기 위한 무입력상태 검출기(20)와, 일정시간 이상 무입력상태가 검출된 경우 시스템을 제어하기 위한 카운터(30)로 구성된다.The non-input state detection circuit used in the conventional DAI IC includes a 32-bit shift register 10 for converting serial data into parallel data when serial data is input, as shown in FIG. A non-input state detector 20 for detecting a no-input state by parallel data output from the 32-bit shift register 10 and a counter 30 for controlling the system in the case where an input-in state is detected for a predetermined time or more. It is composed.
구성에 따른 동작을 살펴보면, 우선 시리얼로 입력되는 데이타가 32비트 쉬프트 레지스터(10)에 로딩되어 패러럴 데이타로 변환되면 제2도에 도시된 무입력상태 검출기(20)는 데이타의 존재 유무를 검출한다.Referring to the operation according to the configuration, first, when the serial data is loaded into the 32-bit shift register 10 and converted into parallel data, the non-input state detector 20 shown in FIG. 2 detects the presence or absence of data. .
어느 정도의 시간 여유(time margin)를 주기 위해 카운터(30)를 이용하여 일정시간 이상 무입력상태가 계속되면 데이타가 입력되지 않는 것으로 간주하여 시스콘신호를 '하이논리레벨'로시켜 시스템의 동작을 중단시키고, 카운터(30)가 동작되는 동안에 데이타가 입력되면 카운터(30)는 리되어 시스템은 계속 동작하게 된다.If no input continues for a certain period of time using the counter 30 to give a certain time margin, it is regarded that data is not input and the ciscon signal is set to 'high logic level'. To stop the operation of the system. If data is input while the counter 30 is operating, the counter 30 The system will continue to operate.
그러나 상술한 종래의 무입력상태 검출회로는 랜덤 로직을 사용해서 구현했기 때문에 무입력상태 검출기 및 32비트 쉬프트 레지스터를 구성하는 로직 게이트수가 많은 문제점이 있었다.However, since the conventional inputless state detection circuit described above is implemented using random logic, there is a problem in that the number of logic gates configuring the inputless state detector and the 32-bit shift register is large.
따라서 본 발명의 목적은 상기 문제점을 해결하기 위하여 피드백 개념을 도입하여 시스템에 입력되는 데이타의 존재 유무를 검출함으로써 간단하게 회로 구현이 가능할 뿐 아니라 소비전력을 감소시킨 무입력상태 검출회로를 제공하는데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a no-input state detection circuit that can implement a circuit as well as reduce the power consumption by detecting the presence of data input to the system by introducing a feedback concept to solve the above problems. .
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 데이타의 무입력상태를 검출하기 위한 무입력상태 검출기와, 상기 무입력상태 검출기에서 데이타의 무입력상태를 검출한 경우, 카운터 클럭을 소정시간 동안 카운트하여 상기 소정시간 동안 데이타의 무입력상태가 지속되는지를 검출하는 카운터를 구비한 무입력상태 검출회로에 있어서, 상기 무입력상태 검출기는 입력되는 데이타를 반전시키기 위한 제1인버터; 상기 제1인버터의 출력신호와 전송게이트의 출력신호에 대해 NAND 논리를 수행하기 위한 제1NAND 게이트 ; 서브 프레임이 시작됨에 나타내는 신호와 상기 제1NAND 게이트의 출력신호에 대해 NAND 논리를 수행하여 그 출력신호를 상기 카운터로 인가하기 위한 제2NAND 게이트: 상기 데이타를 읽어들이는 비트 클럭을 반전시키기 위한 제2인버터 ; 및 입력단자에는 상기 제2NAND 게이트의 출력신호가 인가되고, 제1제어단자에는 상기 제2인버터의 출력신호가 인가되고, 제2제어단자에는 상기 비트 클럭이 인가되어 상기 제1제어단자 및 제2제어단자에 인가되는 신호의 논리에 따라 상기 제2NAND 게이트의 출력신호를 상기 제1NAND 게이트의 입력단자로 전송하는 전송게이트를 포항하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a non-input state detector for detecting a non-input state of data, and counts a counter clock for a predetermined time by detecting a non-input state of data in the non-input state detector. A non-input state detection circuit having a counter for detecting whether an input-free state of data persists for a time, the input-free state detector comprising: a first inverter for inverting input data; A first NAND gate for performing NAND logic on the output signal of the first inverter and the output signal of the transfer gate; A second NAND gate for performing NAND logic on a signal indicating that a subframe is started and an output signal of the first NAND gate and applying the output signal to the counter: a second for inverting a bit clock reading the data inverter ; And an output signal of the second NAND gate is applied to an input terminal, an output signal of the second inverter is applied to a first control terminal, and the bit clock is applied to a second control terminal so that the first control terminal and the second control terminal are applied. And a transmission gate for transmitting an output signal of the second NAND gate to an input terminal of the first NAND gate according to a logic of a signal applied to a control terminal.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 보다 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail the present invention.
제3도는 본 발명에 의한 무입력상태 검출회로를 나타낸 블럭도이다.3 is a block diagram showing a no-input state detection circuit according to the present invention.
제3도에 도시된 무입력상태 검출회로는, 시리얼 데이타(I)와, 시리얼 데이타(I)를 읽어들이는 비트 클럭(CK)과, 서브 프레임(sub-frame)이 시작됨을 나타내는 신호(EN)로부터 무입력상태를 검출하기 위한 무입력상태 검출기(11)와, 무입력상태 검출기(11)에서의 검출 결과, 일정시간 이상 무입력상태가 계속되면 시스템에 데이타가 입력되지 않는 것으로 간주하여 시스콘 신호를 '하이논리레벨'로시키기 위한 카운터(12)로 구성된다.The non-input state detecting circuit shown in FIG. As a result of detection by the no-input detector 11 and the no-input detector 11 for detecting a no-input state from the system, it is assumed that no data is inputted to the system. Cone signal to 'high logic level' It consists of a counter 12 for making.
제4도는 제3도에 있어서 무입력상태 검출기(11)의 상세회로도이다.4 is a detailed circuit diagram of the non-input state detector 11 in FIG.
제3도에 도시된 무입력상태 검출기(11)는, 시리얼 데이타(I)를 반전시키기 위한 제1인버터(Ⅳ1)와, 제1인버터(Ⅳ1)의 출력신호(W1)와 전송게이트(TN1)의 출력신호(W3)에 대해 NAND 논리를 수행하기 위한 제1NAND 게이트(A1)와, 서브 프레임(sub-frame)이 시작됨을 나타내는 신호(EN)와 제1NAND 게이트(A1)의 출력신호(W2)에 대해 NAND 논리를 수행하여 그 출력신호를 카운터(12)로 인가하기 위한 제2NAND 게이트(A2)와, 시리얼 데이타(I)를 읽어들이는 비트 클럭(CK)을 반전시키기 위한 제2인버터(Ⅳ2)와, 입력단자에는 제2NAND 게이트(A2)의 출력신호가 인가되고, 제1제어단자에는 제2인버터(Ⅳ2)의 출력신호(CKB)가 인가되고, 제2제어단자에는 시리얼 데이타(I)를 읽어들이는 비트 클럭(CK)이 인가되는 전송게이트(TN1)로 구성된다.The non-input state detector 11 shown in FIG. 3 includes a first inverter IV1 for inverting the serial data I, an output signal W1 of the first inverter IV1, and a transfer gate TN1. A first NAND gate A1 for performing NAND logic on the output signal W3 of the signal, a signal EN indicating that a sub-frame starts, and an output signal W2 of the first NAND gate A1. The second NAND gate A2 for applying the output signal to the counter 12, and the second inverter IV2 for inverting the bit clock CK for reading the serial data I. ), An output signal of the second NAND gate A2 is applied to the input terminal, an output signal CKB of the second inverter IV2 is applied to the first control terminal, and serial data I is applied to the second control terminal. It consists of a transfer gate TN1 to which a bit clock CK for reading is applied.
제5a∼5h도는 시리얼 데이타가 입력되때 제3도 및 제4도에 대한 타이밍도로서, 제5a도는 시스콘신호, 제5b도는 서브 프레임(sub-frame)이 시작됨을 나타내는 신호(EN), 제5c도는 시리얼 데이타(I)를 읽어들이는 비트 클럭(CK), 제5d도는 시리얼 데이타(I), 제5e도는 제1인버터(Ⅳ1)의 출력신호(W1), 제5f도는 제1NAND 게이트(A1)의 출력신호(W2), 제5g도는 전송게이트(TN1)의 출력신호(W3), 제5h도는 무입력상태 검출기(11)의 출력신호(O), 즉 제2NAND 게이트(A2)의 출력신호(O)를 각각 나타낸다.5a to 5h are timing charts for FIGS. 3 and 4 when serial data is input, FIG. 5a is a ciscon signal, FIG. 5b is a signal EN indicating that a sub-frame is started, 5c is a bit clock CK for reading serial data I, 5d is serial data I, 5e is an output signal W1 of the first inverter IV1, and 5f is a first NAND gate ( The output signal W2 of A1, FIG. 5g is the output signal W3 of the transmission gate TN1, and FIG. 5h is the output signal O of the non-input state detector 11, that is, the output of the second NAND gate A2. Each signal O is shown.
제6a∼6i도는 시리얼 데이타가 입력되지 않을때 제3도 및 제4도에 대한 타이밍도 제6a도는 시스콘신호, 제6b도는 카운터(12)의 클럭신호(CC), 제6C도는 서브 프레임(sub-frame)이 시작됨을 나타내는 신호(EN), 제6d도는 시리얼 데이타(I)를 읽어들이는 비트 클럭(CK), 제6e도는 시리얼 데이타(I), 제6f도는 제1인버터(INV1)의 출력신호(W1), 제6g도는 제1NAND 게이트(A1)의 출력신호(W2), 제6h도는 전송게이트(TN1)의 출력신호(W3), 제6i도는 무입력상태 검출기(11)의 출력신호(O), 즉 제2NAND 게이트(A2)의 출력신호(O)를 각각 나타낸다.6a to 6i are timing charts for FIGS. 3 and 4 when no serial data is input, FIG. 6a is a scissor signal, FIG. 6b is a clock signal CC of the counter 12, and FIG. 6C is a subframe ( A signal EN indicating the start of the sub-frame, FIG. 6d is a bit clock CK for reading the serial data I, FIG. 6e is the serial data I, and FIG. 6f is the first inverter INV1. Output signal W1, FIG. 6g is an output signal W2 of the first NAND gate A1, FIG. 6h is an output signal W3 of the transfer gate TN1, and FIG. 6i is an output signal of the no-input detector 11 (O), that is, the output signal O of the second NAND gate A2, respectively.
그러면 본 발명의 동작을 제3도 내지 제6도를 참조하여 설명하기로 한다.Next, the operation of the present invention will be described with reference to FIGS. 3 to 6.
본 발명에 의한 무입력상태 검출회로에 대하여 데이타가 입력되는 경우를 제3도 내지 제5도를 참조하여 설명하고, 데이타가 입력되지 않는 경우를 제3도, 제4도 및 제6도를 참조하여 설명하면 다음과 같다.The case where data is input to the no-input state detection circuit according to the present invention will be described with reference to FIGS. 3 to 5, and the case where no data is inputted is shown in FIGS. The description is as follows.
먼저, 데이타가 시스템에 입력되는 경우(제5d도에 있어서 '하이' 논리레벨 구간) 무입력상태 검출기(11)에 있어서, 제1인버터(Ⅳ1)는 시리얼 데이타(I ; 제5d도)를 반전시켜서 출력신호(W1 ; 제5e도)로서 '로우' 논리레벨을 출력하고, 제1NAND 게이트(A1)는 제1인버터(Ⅳ1)의 출력신호(W1 ; 제5e도)와 전송게이트(TN1)의 출력신호(W3 ; 제5g도)에 대해 NAND 논리를 수행한 결과, 출력신호(W2 ; 제5f도)로서 '하이' 논리레벨을 출력한다. 제2NAND 게이트(A2)는 제1NAND 게이트(A1)의 출력신호(W2 ; 제5f도)와 서브 프레임(sub-frame)이 시작됨을 나타내는 신호(EN ; 제5b도)에 대해 NAND 논리를 수행한 결과, 출력신호(O ; 제5h도)로서 '로우' 논리레벨을 출력한다.First, when data is input to the system ('high' logic level section in FIG. 5d), in the no-input state detector 11, the first inverter IV1 inverts the serial data I (FIG. 5d). Outputs the low logic level as the output signal W1 (Fig. 5e), and the first NAND gate A1 is connected to the output signal W1 (Fig. 5e) of the first inverter IV1 and the transfer gate TN1. As a result of performing the NAND logic on the output signal W3 (Fig. 5G), the logic level 'high' is output as the output signal W2 (Fig. 5F). The second NAND gate A2 performs NAND logic on the output signal of the first NAND gate A1 (figure 5f) and the signal EN (figure 5b) indicating that the sub-frame starts. As a result, the logic level 'low' is output as the output signal O (Fig. 5h).
카운터(12)는 무입력상태 검출기(11)로부터 출력되는 '로우' 논리레벨의 신호(제5h도)를 리단자()로 받아 들이게 됨으로써 카운터(12)가 리되고, 따라서 카운터(12)의 출력신호인 시스콘신호는 '로우'논리레벨을 유지하게 된다.The counter 12 receives a signal of the 'low' logic level (FIG. 5h) output from the no-input detector 11. Terminals( Is accepted by the counter 12 Therefore, the sciscon signal, which is the output signal of the counter 12, maintains the 'low' logic level.
한편, 데이타가 시스템에 입력되지 않는 경우(제6e도에 있어서 '로우' 논리레벨 구간) 무입력상태 검출기(11)에 있어서, 제1인버터(Ⅳ1)는 시리얼 데이타(I ; 제6e도)를 반전시켜서 출력신호(W1 ; 제6f도)로서 '하이' 논리레벨을 출력하고, 제1NAND 게이트(A1)는 제1인버터(Ⅳ1)의 출력신호(W1 ; 제6f도)와 전송게이트(TN1)의 출력신호(W3 ; 제6h도)에 대해 NAND 논리를 수행한 결과, 출력신호(W2 ; 제6g도)로서 '로우' 논리레벨을 출력한다. 제2NAND 게이트(A2)는 제1NAND 게이트(A1)의 출력신호(W2 ; 제6g도)와 서브 프레임(sub-frame)이 시작됨을 나타내는 신호(EN ; 제6c도)에 대해 NAND 논리를 수행한 결과, 출력신호(O ; 제6i도)로서 '하이' 논리레벨을 출력한다.On the other hand, when no data is input to the system (the 'low' logic level section in Fig. 6e), in the no-input state detector 11, the first inverter IV1 receives the serial data I (Fig. 6e). Inverts to output a 'high' logic level as the output signal W1 (Fig. 6f), and the first NAND gate A1 is the output signal W1 (Fig. 6f) of the first inverter IV1 and the transfer gate TN1. As a result of performing the NAND logic on the output signal W3 (Fig. 6h), the output signal W2 (Fig. 6g) outputs a 'low' logic level. The second NAND gate A2 performs NAND logic on the output signal W2 (FIG. 6g) of the first NAND gate A1 and the signal EN (FIG. 6c) indicating that the sub-frame starts. As a result, the logic level 'high' is output as the output signal O (Fig. 6i).
카운터(12)는 무입력상태 검출기(11)로부터 출력되는 '하이' 논리레벨의 신호(제6i도)를 리단자(R)로 받아 들이게 됨으로써 카운터(12)가되고, 따라서 카운터(12)는 클럭신호(CC ; 제6b도)를 소정 시간동안 카운트하게 된다. 이때, 소정 시간동안 카운트가 수행되는 경우 카운터(12)의 출력신호인 시스콘신호는 '하이' 논리레벨이 되고, 따라서 이 시스콘신호에 의해 시스템을 데이타가 입력되지 않는 경우에 해당하는 동작 예컨대, 시스템 전원을 오프시키는 등의 동작으로 제어하게 된다. 반면, 소정시간 내에 다시 데이타가 입력되는 경우에는 카운터(12)의 출력신호인 시스콘신호는 다시 '로우' 논리레벨이 됨으로써 시스콘신호는 시스템에 아무런 영향을 미치지 않게 된다.The counter 12 receives the signal of the "high" logic level (Fig. 6i) output from the no-input detector 11. By accepting it to the terminal R, Therefore, the counter 12 counts the clock signal CC (Fig. 6B) for a predetermined time. In this case, when the count is performed for a predetermined time, the ciscon signal, which is an output signal of the counter 12, becomes a 'high' logic level. Control by turning off the system power. On the other hand, when data is input again within a predetermined time, the sciscon signal, which is the output signal of the counter 12, becomes a 'low' logic level, so that the sciscon signal has no effect on the system.
상술한 바와 같이 본 발명에 의한 무입력상태 검출회로에서는 그 구성요소인 무입력상태 검출기를 두개의 인버터 및 두개의 NAND 게이트와 전송게이트를 사용하여 구성함으로써 종래에 사용하던 32비트 쉬프트레지스터를 제거하여 회로를 간소화할 뿐 아니라 소비전력을 감소시킨 이점이 있다.As described above, in the inputless state detection circuit according to the present invention, the inputless state detector, which is a component thereof, is configured by using two inverters, two NAND gates, and a transfer gate to remove 32-bit shift registers. This not only simplifies the circuit but also reduces the power consumption.
Claims (1)
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KR1019930001050A KR950008460B1 (en) | 1993-01-28 | 1993-01-28 | Detector out of input condition |
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