KR950006513B1 - Water scavengers for hydrochloric acid streams - Google Patents

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Abstract

내용 없음.No content.

Description

HC1 가스 스트림중의 물의 함량을 감소시키는 방법How to reduce the water content in the HC1 gas stream

본 발명은 가스상 염산으로부터 미량의 물을 제거하는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for removing trace amounts of water from gaseous hydrochloric acid.

특히, 본 발명은 스캐빈저로서 어떤 염화물을 사용함으로써 HC1 가스 스트림중의 물의 함량을 1ppm 이하로 가소시키는 방법에 관한 것이다.In particular, the present invention relates to a process for calcining the water content of the HC1 gas stream to 1 ppm or less by using certain chlorides as scavenger.

HC1 가스 스트림중의 물의 함량을 1ppm 이하로 감소시키기 위한 본 발명의 방법에는 HC1 가스 스트림과 실리콘 염화물 또는 4가 이상의 원자가를 지닌 금속 염화물을 접촉시키는 단계가 있다. 상기 염화물은 고형지지체 상에서 부동적인 것이 바람직하다.The method of the present invention for reducing the content of water in the HC1 gas stream to 1 ppm or less comprises contacting the HC1 gas stream with silicon chloride or metal chlorides having valences of at least tetravalent. The chloride is preferably floating on a solid support.

통상적으로, HC1은 물보다 더욱 큰 반응성을 지니며 흡습성을 띠므로, HC1로부터 미량의 물을 제거하는 것은 어렵다. 그러나, 실리콘 및 어떤 고원자가의 금속은 염화물 리간드 보다는 산화물 리간드와 더욱 쉽게 반응한다. 그러한 금속으로는, 예를 들어, Ti, Zr 및 W가 있다. 통상적인 반응은 하기와 같다 :Typically, HC1 is more reactive than water and hygroscopic, so it is difficult to remove traces of water from HC1. However, silicon and certain high valence metals react more easily with oxide ligands than with chloride ligands. Such metals include, for example, Ti, Zr and W. Typical reactions are as follows:

WCl6+3H2O……WO3+6HCl (1)WCl 6 + 3H 2 O... … WO 3 + 6HCl (1)

SiCl4+2H20……SiO2+4HCl (2)SiCl 4 + 2H 2 0... … SiO 2 + 4HCl (2)

기타 적합한 염화물로는 TiCl4및 ZrCl4를 들 수 있는데, 이것에 국한되는 것은 아니다.Other suitable chlorides include, but are not limited to TiCl 4 and ZrCl 4 .

일부용도의 경우에는 본 말여의 스캐빈저를 HC1의 비점 이상의 저온에서 사용하는 것이 유리할 것이다. 온도가 낮을 경우에는 물의 제거를 위한 평형 상수가 더욱 커질 것이다. 이러한 효과는 실온에서 낮은 평형 상수를 지닌 스캐빈저, (예, WCl6)에 있어서 매우 중요하다. 저온으로 인한 또다른 효과는 실온에서 높은 증기 압력을 지닌, SiCl4및 TiCl4와 같은 액체 스캐빈저의 증기 압력을 낮출 수 있다는 점이다. 높은 증기 압력하에서는 금속 또는 실리콘 화합물이 정제된 HC1 스트림으로 배출될 수 있다.In some applications, it may be advantageous to use the scavenger of the present invention at low temperatures above the boiling point of HC1. At lower temperatures, the equilibrium constants for water removal will be greater. This effect is very important for scavengers with low equilibrium constants at room temperature (eg WCl 6 ). Another effect due to low temperatures is that it can lower the vapor pressure of liquid scavengers such as SiCl 4 and TiCl 4 , which have high vapor pressure at room temperature. Under high vapor pressures, metals or silicon compounds may be discharged into the purified HC1 stream.

WCl6및 ZrCl4와 같은 고형 스캐빈저는 거대 망상형의 스티렌-디비닐벤젠 중합체와 같은 고형 지지체상에 흡착함으로써 스캐빈저의 표면적을 증가시킬 수 있다.Solid scavengers such as WCl 6 and ZrCl 4 can increase the surface area of the scavenger by adsorbing on solid supports such as macroreticular styrene-divinylbenzene polymers.

액체 염화물 스캐빈저의 증기압력은 표면상에 유리-OH기 또는 OM'기(M'는 알칼리 또는 알칼리 토금속)가 있는 고형 지지체상에 상기 염화물을 부동화시킴으로써 온도가 실온 미만의 온도로 내려가지 않고도 감소될 수 있다. 그러한 지지체로는 알루미나 및 실리카와 같은 광면적의 무기 지지체가 있다. 염화물과 반응하는 작용기를 함유한 중합체, (예, 폴리비닐 알콜)도 또한 지지체로서 사용할 수 있다. 일례로서 SiCl4를 사용했을때 발생하는 부동화반응은 하기와 같다.The vapor pressure of the liquid chloride scavenger is reduced without immobilizing the chloride on a solid support with free-OH groups or OM 'groups (M' is an alkali or alkaline earth metal) on the surface without the temperature falling below room temperature. Can be. Such supports include wide area inorganic supports such as alumina and silica. Polymers containing functional groups that react with chlorides, such as polyvinyl alcohols, can also be used as supports. As an example, the passivation reaction generated when using SiCl 4 is as follows.

SiCl4+HOMO3……Cl3SiOMO3+HCl (3)SiCl 4 + HOMO 3 ... … Cl 3 SiOMO 3 + HCl (3)

여기에서, HOMO3는 금속 산화물 또는 수산화물 표면을 나타낸다. 알루미나 상에서 부동화된 SiCl4가 바람직한 스캐빈저이다. 액체 염화물 스캐빈저는 고형물 지지체와 직접적으로 반응하거나 또는 지지체와 접촉하기전에 가열에 의해 증발될 수 있다. 지지체를 가스상 염화물로 처리할 경우네는, 표면상에 부동화된 염화물을 지닌 지지체를 뜨거운 HC1가스로 처리함으로써 느슨하게 결합된 염화물을 제거해야 한다.Here, HOMO 3 represents a metal oxide or hydroxide surface. SiCl 4 immobilized on alumina is the preferred scavenger. The liquid chloride scavenger can either react directly with the solid support or evaporate by heating prior to contacting the support. When the support is treated with gaseous chloride, loosely bound chloride must be removed by treating the support with immobilized chloride on the surface with hot HC1 gas.

금속 또는 실리콘 화합물을 정제된 HC1 스트림으로 배출시키는 용도가 유해하기 때문에, HC1 스트림과 접촉하기전에 표면에 부동화된 염화물을 지닌 알루미나를 질소 대가하에서 약 190℃의 온도로 17시간동안 가열하는 것이 바람직하다. 상기 열처리를 통해 약하게 결합된 금속 또는 실리콘 염화물이 제거될 것이다. 염화물-알루미나 스캐빈저의 용량은 통상적으로 약 베드 1

Figure kpo00001
당 2
Figure kpo00002
의 수증기이다. 이어서 정제된 가스 스트림을 활성화된 알루미나를 함유한 포스트-트랩에 통과시킴으로서 잔재된 미량의 실리콘 또는 금속 화합물을 제거할 수 있다. 예를 들면, 열-처리된 SiCl4/Al3O3스캐빈저 및 활성화된 알루미나 포스트-트랩이 통과된 후, 정제된 HC1 스트림내 실리콘의 수치는 통상적으로 0.05ppm 이하이다(HC1 스트림을 100ml의 물에 통과시킨 후 원소 흡착도로서 측정). 포스트-트랩에 사용된 알루미나는 17시간 동안 약 190℃의 질소스트림하에서 가열하고 사용전에 냉각시킨다.Because of the detrimental use of discharging the metal or silicon compound into the purified HC1 stream, it is desirable to heat the alumina with immobilized chlorides on the surface to a temperature of about 190 ° C. for 17 hours before nitrogen contact with the HC1 stream. . The heat treatment will remove the weakly bound metal or silicon chloride. The dose of chloride-alumina scavenger is typically about bed 1
Figure kpo00001
2 per
Figure kpo00002
Water vapor. The purified gas stream can then be passed through a post-trap containing activated alumina to remove residual traces of silicon or metal compounds. For example, after passing through the heat-treated SiCl 4 / Al 3 O 3 scavenger and activated alumina post-trap, the level of silicon in the purified HC1 stream is typically 0.05 ppm or less (100 ml of HC1 stream). Measured as elemental adsorption after passing through water). The alumina used in the post-trap is heated under a nitrogen stream of about 190 ° C. for 17 hours and cooled before use.

정제된 가스 스트림중의 물의 함량은 1ppm 이하이고, 바람직하게는 0.5ppm 이하이다.The content of water in the purified gas stream is 1 ppm or less, preferably 0.5 ppm or less.

산화반응을 최소로 하기 위한 HC1 가스 스트림으로부터의 수분의 제거는 반도체 산업 분야에서 매우 중요한 일이다. 예를들면, 반도체 웨이퍼의 제조시 사용되는 오븐을 세척함에 따라 웨이퍼의 오염을 방지하고, 실리콘 웨이퍼를 에칭함에 따라 웨이퍼 표면상에 산화물이 형성되는 것을 방지하는데 무수 HC1이 필요하다. 무수 가스상 HC1은 페로실리콘(FeSi)을 HSiCl3으로 전환시키는데 사용되며, 또한 실리콘 웨이퍼의 제조시에도 사용된다. HC1를 운반하기 위해 사용되는 튜브의 부식을 방지하는 것도 또한 중요하다.The removal of moisture from the HC1 gas stream to minimize oxidation is a very important task in the semiconductor industry. For example, anhydrous HC1 is needed to prevent contamination of the wafer by cleaning the oven used in the manufacture of semiconductor wafers and to prevent oxides from forming on the wafer surface by etching the silicon wafer. Anhydrous gaseous phase HC1 is used to convert ferrosilicon (FeSi) to HSiCl 3 and is also used in the manufacture of silicon wafers. It is also important to prevent corrosion of the tubes used to carry HC1.

[실시예1]Example 1

산성 Al2O3(Woelm Pharma Gmbh & Co에 의해 제조된, WoelmRA, Akt. 1)을 스테인레스 스틸로 된 150ml의 샘플 실린더내에 장입시켰다. 알루미나를 200℃에서 10시간동안 질소 스트림하에서 건조시켰다.Acidic Al 2 O 3 (Woelm R A, Akt. 1, manufactured by Woelm Pharma Gmbh & Co) was charged into a 150 ml sample cylinder of stainless steel. The alumina was dried under a stream of nitrogen at 200 ° C. for 10 hours.

사염화 실리콘 작용성화된 Al2O3스캐빈저는 다음과 같이 제조했다. 건조된 Al2O3층에 핵산중 30부피%의 SiCl4용액을 흘려보낸후 SiCl4를 한시간 동안 상기 베드에 접촉된 채로 유지시켰다. 다음, 상기층을 4개 베드 부피의 스파지된 헥산으로 세척했다. 샘플을 65℃의 N2스트림하에서 건조시켜 헥산을 제거했다. 작용성화된 알루미나를 17시간 동안 190℃에서 유지시킴으로써 휘발성 성분을 제거했다.Silicon tetrachloride functionalized Al 2 O 3 scavenger was prepared as follows. After flowing 30 vol% SiCl 4 solution in nucleic acid into the dried Al 2 O 3 layer, SiCl 4 was kept in contact with the bed for one hour. The layer was then washed with four bed volumes of sparged hexanes. The sample was dried under a stream of N 2 at 65 ° C. to remove hexane. Volatile components were removed by maintaining the functionalized alumina at 190 ° C. for 17 hours.

열-처리된 스캐빈저를 "의 중합화 튜브에 넣었다. N2를 샘플에 통과시켰다. 삼색 pH 종이로서는 산도가 전혀 감지 되지 않았다. N2를 그후 4"의 중합화 튜브중의 물에 통과시키고 물-함유 가스를 스캐빈저에 통과시켰다. 배출된 가스는 산성을 띠게 되었는데, 이점은 SiCl4가 상기 반응식(2)에 따라 가스 스트림으로 부터 습기를 제거할 수 있음을 보여주는 것이다.The heat-treated scavenger was placed in a polymerization tube of ". N 2 was passed through the sample. No acidity was detected by the tricolor pH paper. N 2 was then passed through water in a 4" polymerization tube. And water-containing gas was passed through a scavenger. The vented gas became acidic, which shows that SiCl 4 can remove moisture from the gas stream in accordance with Scheme 2 above.

[실시예2]Example 2

사염화 실리콘-작용성화된 Al2O3스캐빈저는, 건조된 알루미나에 헥산중의 SiCl4용액보다는 순수한 SiCl4를 흘려보낸 것을 제외하고는, 상기 실시예 1에 기재된 바와같이 제조 및 테스트했다. 반응 혼합물을 가열하기 전에 적어도 한시간 동안 방치함으로써 휘발성분을 제거했다.Silicon tetrachloride-functionalized Al 2 O 3 scavenger was prepared and tested as described in Example 1 above, except that pure SiCl 4 was flowed into the dried alumina rather than a solution of SiCl 4 in hexane. The volatiles were removed by leaving the reaction mixture for at least one hour before heating.

[실시예3]Example 3

산성 알루미나를 1-갤론의 스테인레스 스틸 반응기속에 장입하였다. 알루미나를 190℃의 N2스트림하에서 하룻밤동안 건조시켰다.Acid alumina was charged into a 1-gallon stainless steel reactor. The alumina was dried overnight under N 2 stream at 190 ° C.

사염화 실리콘-작용성화된 알루미나 스캐빈저는 다음과 같이 제조했다. 사염화 실리콘(250ml)를 캐뉼러를 통해 57℃의 온도로 가열된 버블러속으로 옮겼다. SiCl4가 모두 증발돼 반응기중의 알루미나를 통과할때가지 가열된 SiCl4에 질소를 통과시켰다. 이어서 예열된 코일에 통과시켜 가열한 HC1 가스를 5시간 동안 SiCl4- 작용성화된 알루미나에 통과시킴으로써 임의의 느스하게 결합된 SiCl4를 제거했다. 다음, 스캐빈저를 적어도 8시간동안 190℃의 질소 스트림하에서 유지시킴으로써 초과량의 HC1을 제거했다.Silicon tetrachloride-functionalized alumina scavenger was prepared as follows. Silicon tetrachloride (250 ml) was transferred via cannula into a bubbler heated to a temperature of 57 ° C. SiCl 4 that was all passed through the evaporation of the heated nitrogen gotta SiCl 4 when passing through the alumina in the reactor. Any loosely bound SiCl 4 was then removed by passing a heated HC1 gas through a preheated coil through a SiCl 4 -functionalized alumina for 5 hours. The excess HC1 was then removed by maintaining the scavenger under a nitrogen stream at 190 ° C. for at least 8 hours.

[실시예4]Example 4

가스 스트림으로부터 물을 제거하는 SiCl4- 작용성화된 알루미나 스캐빈저의 용량은 하기 방법을 통해 측정했다. N2를 24℃로 유지된 물을 통해 버블화시켰다. 이 온도에서 물의 증기압력은 24mmHg였다. 습 N2를 1분당 200ml 속도로 중합회 튜브내의 30ml의 스캐빈저 샘플에 통과시켰다.The capacity of SiCl 4 -functionalized alumina scavenger to remove water from the gas stream was measured via the following method. N 2 was bubbled through water maintained at 24 ° C. At this temperature, the vapor pressure of water was 24 mmHg. Wet N 2 was passed through a 30 ml scavenger sample in a polymerization ash tube at a rate of 200 ml per minute.

스캐빈저를 함유한 튜브로부터 배출된 가스를 200ml의 물에 통과시켰다. 스테인레스 스틸종인 경우에는 pH 전극과 관련된 제반 문제가 발생하기 때문에 테플론 튜브를 통해 가스를 주입했다. 물의 H+ 농도는 시간과의 함수로서 pH 측정기로 측정했다. 습 N2의 유속은 1분당 0.302 표준리터였다. 물의 트랩 부피, 물 트랩의 최종 프로톤 농도 및 베드의 부피를 알고 있을 경우, 베드의 용량을 계산할 수 있다. 다양한 형태의 SiCl4/Al2O3스캐빈저의 용량은 다음과 같다.The gas exiting the tube containing the scavenger was passed through 200 ml of water. In the case of stainless steel, gas was injected through a Teflon tube because of the problems associated with the pH electrode. The H + concentration of water was measured with a pH meter as a function of time. The wet N 2 flow rate was 0.302 standard liters per minute. If you know the trap volume of water, the final proton concentration of the water trap, and the bed volume, you can calculate the bed capacity. The capacity of the various types of SiCl 4 / Al 2 O 3 scavenger is as follows.

Figure kpo00003
Figure kpo00003

[실시예5]Example 5

건조된 HC1 가스 스트림이 5ppm의 물을 함유할 수 있도록 상기 HC1 가스 스트림을 소정량의 수분을 함유한 질소와 혼합하였다. 다음, 상기 HC1을 실시예 1에 기술된 방법에 따라 제조된 열-처리 SiCl4/Al2O3스캐빈저를 함유한 500ml 컬럼에 1대기압하에서 통과시켰다. 컬럼을 통과하는 HC1 가스의 유속은 1시간당 베드 부피당 160부피의 가스이었으며, 실온에서 진행시켰다. 배출 가스의 수분 함량은 2시간동안 1/2시간 또한 유속을 시간당 베드 부피당 760부피의 HC1로 증가시키는 것을 제외하고는, 20ppm의 물을 함유한 가스 스트림을 사용하여 상기 과정을 다시 반복하였다. 각 경우에 있어서 2시간중 종료시에 HC1 스트림의 습기 함량은 0.1ppm 이하였다. HC1 스트림의 수분 함량은 Anal. Chem. (Flaherty외 다수, 1986, 58, 1903-1904)에 기술된 방법에 따라 측정했다.The HC1 gas stream was mixed with nitrogen containing a predetermined amount of water so that the dried HC1 gas stream could contain 5 ppm of water. The HC1 was then passed under 1 atmosphere to a 500 ml column containing heat-treated SiCl 4 / Al 2 O 3 scavenger prepared according to the method described in Example 1. The flow rate of HC1 gas through the column was 160 volumes of gas per bed volume per hour and was run at room temperature. The process was repeated again with a gas stream containing 20 ppm water, except that the water content of the off gas increased 1/2 hour for 2 hours and the flow rate to 760 volumes of HC1 per bed volume per hour. In each case the moisture content of the HC1 stream was less than 0.1 ppm at the end of the two hours. The moisture content of the HC1 stream was analyzed by Anal. Chem. It was measured according to the method described in (Flaherty et al., 1986, 58, 1903-1904).

[실시예6]Example 6

거대 망상형 스티렌/디비닐벤젠(PSDVB) 중합체(Rohm and Hass에 의해 제조된 Amberlite XAD4)를 물로 세척하고 경사분리방법으로 미세입자를 제거했다. 중합체를 3베드부피의 물, 메탄올, 이소프로필 알콜 및 헥산으로 차례로 세척했다. 공기를 약 2시간동안 베드에 통과시킴으로써 다량의 용매를 제거했다. 공기-건조된 수지를 스테인레스 스틸 반응기내에 장입시켜 10 내지 12시간동안 110℃의 질소 스트림하에서 건조시켰다.Macroreticular styrene / divinylbenzene (PSDVB) polymer (Amberlite XAD4 manufactured by Rohm and Hass) was washed with water and decanted to remove fine particles. The polymer was washed sequentially with three bed volumes of water, methanol, isopropyl alcohol and hexanes. A large amount of solvent was removed by passing air through the bed for about 2 hours. The air-dried resin was charged into a stainless steel reactor and dried under a stream of nitrogen at 110 ° C. for 10-12 hours.

지지된 WCl6스캐빈저는 다음과 같이 제조했다. 건조된 PSDVB(25g)을 50ml의 스파지 처리된 톨루엔 (50ml)중의 WCl6(2.52g)가 혼합하였다. 질소 스티림을 하룻밤동안 110℃에서 상기 혼합물에 통과시킴으로써 톨루엔을 제거시켰다.A supported WCl 6 scavenger was prepared as follows. The dried PSDVB (25 g) was mixed with WCl 6 (2.52 g) in 50 ml sparged toluene (50 ml). Toluene was removed by passing nitrogen stream through the mixture at 110 ° C. overnight.

테스트를 위해 WCl6이 표면에 흡착된 PSDVB를 뷰렛에 넣었다. 건조된 질소를 PSDVB-WCl6스캐빈저에 통과시켰다. 삼색 pH 종이로는 산도가 전혀 감지되지 않았다. 이어서 N2를 4" 중합화 반응 튜브내물에 통과시킴으로써 버블화시키고 물-적하 가스를 상기 스캐빈저에 통과시켰다. 배출-가스는 산성을 띠게 되는데, 이로써 WCl6이 상기 반응식(1)에 따라 가스 스트림으로부터 습기를 제거할 수 있다는 것을 알수 있었다.For testing, PSDVB adsorbed on the surface of WCl 6 was placed in the burette. The dried nitrogen was passed through a PSDVB-WCl 6 scavenger. No acidity was detected with the tricolor pH paper. Subsequently, N 2 was bubbled by passing through the 4 "polymerization reaction tube and water-dropping gas was passed through the scavenger. The exhaust-gas became acidic, so that WCl 6 was reacted according to the above reaction formula (1). It was found that moisture could be removed from the gas stream.

Claims (4)

HCl 가스 스트림을 실리콘 염화물 또는 원자가가 4이상인 금속 염화물과 접촉시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 HCI 가스 스트림중의 물의 함량을 1ppm 이하고 감소시키는 방법.Contacting the HCl gas stream with silicon chloride or metal chloride having a valence of at least 4, wherein the content of water in the HCI gas stream is less than or equal to 1 ppm. 제1항에 있어서, 상기 염화물이 SiCl4인 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 1 wherein the chloride is SiCl 4 . 제2항에 있어서, 상기 SiCl4가 고형 지지체와 반응에 의해 부동화되는 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 2, wherein the SiCl 4 is immobilized by reaction with a solid support. 제3항에 있어서, 가스상 SiCl4를 알루미나 지지체와 반응시키는 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 3 wherein the gaseous SiCl 4 is reacted with an alumina support.
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