KR940015518A - 인-서킷(In-Circuit)테스터의 캐패시터 역삽 검출회로 - Google Patents

인-서킷(In-Circuit)테스터의 캐패시터 역삽 검출회로 Download PDF

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KR940015518A
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Abstract

본 발명은 인-서킷 테스터의 캐패시터 역삽 검출회로에 관한 것으로, 종래에는 조립된 피씨비에서 캐패시터의 용량만을 점검하기 때문에 역삽된 상태를 검출할수 없어 장시간 가동시 캐패시터가 파괴되거나 주변회로에 오동작을 유발시키는 문제점이 있었다.
이러한 점을 감안하여 본 발명에서는 캐패시터의 충전전위를 검출하여 역삽 여부를 판별함으로써 장비의 손상 또는 오동작을 방지하고 일일이 육안으로 검사할 필요가 없어 검사시간을 단축시킬 수 있다.

Description

인-서킷(In-Circuit)테스터의 캐패시터 역삽 검출회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명 인-서킷(In-Circuit)테스터의 캐패시터 역삽 검출회로의 블럭도, 제3도는 본 발명에 따른 캐패시터 역삽검출시 신호흐름도.

Claims (6)

  1. 정전압(Vcc1)(Vcc2)을 출력하는 정전압원(11)과, 이 정전압원(11)의 출력(Vcc1)(Vcc2)을 비교하여 이에 따라 전류(I)를 출력하는 전류증폭부(12)와, 이 전류증폭부(12)의 출력(I)을 스위칭시키는 신호스위칭부(13)와, 이 신호스위칭부(13)의 출력을 테스트보드(20)의 콘덴서(C1)(C2)에 충.방전시키기 위한 릴레이부(15)와, 테스트보드(20)의 전위(V1)를 반전증폭하는 반전증폭부(14)와, 상기 신호스위칭부(13)의 출력을 완충증폭하는 전압 플로워(16)와, 상기 테스트보드(20)의 전위(V1)를 분압(V2)와 비교하고 클리핑한 출력(V3)를 출력하는 신호비교부(17)와, 이 신호비교부(17)의 출력(V3)을 완충증폭하여 피씨(19)에 출력하는 버퍼(18)로 구성된 것을 특징으로 하는 인-서킷(In-Circuit)테스터의 캐패시터 역삽 검출회로.
  2. 제1항에 있어서, 반전증폭부(14)는 릴레이부(15)의 릴레이(RY11)가 오프된 후 테스트보드(20)의 전위(V1)를 반전증폭하여 부전압을 출력함으로써 콘덴서의 접지전위를 제공하는 연산증폭기(OP12)로 구성한 것을 특징으로 하는 인-서킷(In-Circuit)테스터의 캐패시터 역삽 검출회로.
  3. 제1항에 있어서, 전압폴로워(16)는 전위(V1)를 완충증폭하여 저항(R4)(R5)의 전위(V1)를 고전위로 유지함으로써 콘덴서의 충전전위를 유지시키는 연산증폭기(OP14)로 구성한 것을 특징으로 하는 인-서킷(In-Circuit)테스터의 캐패시터 역삽 검출회로.
  4. 제1항에 있어서, 신호스위칭부(13)는 테스트보드(20)의 콘덴서(C1)(C2)충전시 일정시간 온되는 릴레이(RY11)로 구성한 것을 특징으로 하는 인-서킷(In-Circuit)테스터의 캐패시터 역삽 검출회로.
  5. 제1항에 있어서, 릴레이부(15)는 테스트보드(20)의 콘덴서(C1)(C2)충전시 온되는 릴레이(RY12)(RY12′)와, 상기 콘덴서(C1)의 충전전(V1)를 유지시키기 위해 온되는 릴레이(RY14)(RY14′)와, 상기 콘덴서(C1)의 충전전위(V1)를 방전시키기 위해 온되는 릴레이(RY13)(RY13′)로 구성한 것을 특징으로 하는 인-서킷(In-Circuit)테스터의 캐패시터 역삽 검출회로.
  6. 제1항에 있어서, 신호비교부(17)는 전압(Vcc)을 분압하는 분압회로(17-1)와, 이 분압회로(17-1)의 출력(V2)과 테스트보드(20)의 전위(V1)를 비교하는 연산증폭기(OP13)와, 이 연산증폭기(OP13)의 출력에서 일정전위를 클리핑시키는 클리핑회로(17-2)로 구성한 것을 특징으로 하는 인-서킷(In-Circuit)테스터의 캐패시터 역삽 검출회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920022992A 1992-12-01 1992-12-01 인-서킷(In-Circuit) 테스터의 캐패시터 역삽 검출회로 KR940007718B1 (ko)

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