KR940006751B1 - T-s-t 스위치 네트워크 시험방법 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

T-S-T 스위치 네트워크 시험방법

제1도는 본 발명이 적용되는 T-S-T 스위치 네트워크

제2도는 본 발명에 적용되는 통화로 유지보수 흐름도

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

1∼3.TSL : 타임스위치 장치 4,5. CDL : 데이터 링크 인터페이스 장치

6. SSW : 공간분할 스위치 7.TSI : 타임슬럿 교환회로

8. TLI : 타임스위치 링크 정합회로 9. CMM : 제어메모리 및 유지보수회로

10. HWI : 하이웨이 인터페이스 회로.

본 발명은 디지틀 전자 교환기의 T-S-T 스위치 네트워크 시험 방법에 관한 것이다.

디지틀 전자교환기의 스위치 네트워크는 타임슬럿 교환을 수행하는 타임스위치 장치(T)와 복수의 타임스위치 장치들 간의 타임 스럿을 공간적으로 교환하는 공간스위치 장치(S)로 구성되며 이들간의 여러가지 조합으로 스위치 네트워크를 구성하는 것이 보통이며, 최근의 경향은 효율성이 뛰어난 T-S-T 구조가 가장보편적으로 사용된다.

T-S-T 스위치 네트워크에서 통화로를 유지보수 하는 것은 매우 중요하다. 특히 교환기의 용량이 커지면 통화로가 상당히 복잡해져, 항상 감시하지 않으면 않된다. 항상 감시하고 있지 않으면 통화로에 이상이 발생하여도 상당시간 발견할 수 없다. 통화로를 유지보수 하기 위해서 통화로가 정상인가 비정상인가를 시험해야하고, 비정상인 경우 비정상인 위치를 찾아내어 유지보수를 쉽게 하도록 해야, 교환기의 서비스 질을 향상시킬 수 있다.

본 발명의 목적은 이러한 T-S-T 구조의 스위치 네트워크에 있어서 스위치 네트워크의 고장 유무를 간단하고 정확하게 항상 감시하고 시험할 수 있는 방법을 제공하는데 있다.

이하 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명하면 다음과 같다.

제1도는 타임스위치 장치와 공간스위치 장치간의 하드웨어적 링크 경로를 나타낸 것으로, TSL0-TSLn(1,2,3)은 타임스위치 장치를, SSW(6)는 공간스위치 장치를, SDL(4,5)은 데이터 링크 인터페이스 장치를 각각 나타낸다.

TSL은 타임슬럿 교환회로(TSI)(7), 시험 및 유지보수 장치(CMM)(9)를 포함하고 있으며, TSI는 양방향 1K 타임슬럿에 대한 양방향 타임슬럿 교환 기능을 갖고 있으며, CMM는 타임스위치 장치(TSL)내의각 유니트 상태 및 통화로 상태를 시험하고 소프트웨어에 의한 타임스위치 장치의 이중의 상태제어 기능을 갖고있다.

CMM는 타임스위치 프로세서인(Time Switch Processor)와 연결되어 TSP와 데이터를 상호교환하게 된다.

TSI에 입력된 데이터는 타임슬럿 교환을 거친 후 스위치 네트워크 링크 인터페이스 회로(TLI).(8)를 통하여 65.536Mbps(1K 타임슬럿)의 광 링크를 통하여 데이터 링크 인터페이스 장치(CDL)에 입력된다.

CDL(Central Data Link)은 TSL과 SSW를 연결하여 통화로를 제공하고, 망동기장치로부더 65.536MHz의 합성클럭을 광으로 수신하여, 전기적 신호로 바꾸어 분리/분배 기능과 프로세서 정합기능을 제공한다.

공간분할 스위치(SSW; Space Switch)는 기본모듈 16×16(16k) SSW구조로하여, 최대 교환용량이 63K인 63×63SSW 구조까지 증가시킬 수 있도록 되어 있으며, 개별적으로 이중화 동작한다. CDL로 부터 병렬 8bits/TS의 PCM 데이터를 하이웨이당 1.024 타임슬럿씩 8,192Kbps의 RS-422 방식으로 하이웨이 인터페이스 회로(HWI)(10)를 통하여 수신하여 병렬 스위치 방식으로 공간분할 교환 기능을 수행한다.

제1도와 같은 T-S-T 스위치 네트워크에서 통화로를 유지보수 하는 것은 매우 중요하다. 통화로를 유지보수 하기 위해서 통화로가 정상인가 비정상인가를 시험해야하고, 비정상인 경우 비정상인 위치를 찾아내어 유지보수를 쉽게 하도록 해야한다. 주기적으로 통화로를 이상유무를 시험하는 루프백 시험과 루프백 시험결과 이상이 발견되었을때, 상위프로세서에 보고한다.

T-S-T 스위치 네트워크에서 큰 용량으로 구성되는 경우 TSL이 여러개 사용된다. 이때 각 TSL은 SSW에 정상적으로 연결되어 있는지, 즉 해당 TSL과 SSW가 정상적으로 통화로가 연결되어 운용되는가를 시험하기 위해서, 우선 SSW는 프로세서의 제어를 받아 TSL과 연결되는 1K 타임슬럿 중 하나의 타임슬릿을 할당하여 해당 TSL과 SSW간의 통화로를 연결한다. 즉 SSW는 각각의 1K 타임슬럿중 항상 하나의 타임슬럿을 같은 타임스위치로 공간분할 스위칭을 한다.

우선 TSL을 제어하는 TSP는 해당 TSL을 자체시험하고 이상이 없는 경우, 각 TSL을 제어하는 TSP는CMM을 통해서 임의의 데이터를 발생시켜서 시험을 위해 할당된 타임슬럿으로 송출하고, SSW를 거쳐 해당 TSL로 돌아온 데이터를 다시 CMM을 통하여 받아 시험을 위하여 송출한 데이터와 수신한 데이터를 비교하여 같은 경우 통화로는 정상이고, 서로 상이한 경우 통화로는 비정상이 된다. 상기와 같은 시험은 각TSL의 TSP에서 주기적으로 행하고, 이 때 시험 데이터도 임의의 데이터를 사용한다. 주기적인 시험결과, 통화로가 비정상인 경우 유지보수를 담당하는 상위 프로세서에 보고한다.

제2도 통화로 유지보수 흐름도를 나타낸 것이다. 제2도에서, 우선 각 TSP와 SSP의 초기화가 이루어지고(11), 각 TSP에 의해 TSL의 초기화 단계(12)로 들어간다. 또한 SSP에 의해 SSW 초기화 단계(13)로 들어간다. TSL 초기화 단계(12)는 타임스위치 장치내의 각 회로 및 제어 메모리를 초기화 시키는 단계이다. SSW 초기화 단계(13)는 SSW 제어메모리 초기화 및 자체 시험을 수행한다. SSW 제어메모리 초기화에서 각 TSL과 연결되는 1K 타임슬럿의 하이웨이 중에서 특정 타임슬럿은 루프백 시험이 가능하도록 동일 TSL로 통화로를 연결하도록 제어메모리를 초기화 시킨다. 즉 특정 타임슬럿의 순간에는 TSL0는 TSL0로, TSL1은 TSL1으로, TSLn(n=0-62)은 TSLn으로 통화로가 설정되도록 SSW 제어메모리 데이터를 초기화시킨다.

정상적인 교환기 시스템이 운용되고 있을 때, 즉 온라인 상에서 각 TSP는 해당 TSL의 자체 경로시험을행하는 단계(14)로 들어간다. 자체 경로 시험 단계에서 해당 TSL이 정상이면 TSL-SSW간 루프백 시험단계로 가고, 해당 TSL이 비정상이면 해당 TSP는 해당 TSL의 이상 발생을 유지보수 프로세서에 보고하고 일정시간 후에 단계(14)로 돌아가 통화로 시험을 계속하게 된다.

해당 TSL이 정상이면 TSL-SSW간 루프백 시험 단계인, 루프백 시험을 위한 테스트 패턴 송출 단계(16)로 들어간다. 테스트 패턴 송출단계(16)에서는 해당 TSP가 CMM을 통하여 임의의 패턴을 발생시키고, 또한 TSL의 제어 메모리에 해당 패턴이 SSW에 의해 설정된 통화로를 통하여 송출될 수 있도륵 경로를 설정한다.

다음은 상기의 단계에서 미리 설정된 SSW의 루프백 통화로를 거쳐 돌아오는 테스트 패턴을 수신하기 위한 수신 단계(17)에 들어간다. 테스트 패턴 수신은 TSP가 TSL의 CMM을 통해서 이루어진다.

TSP는 송출한 테스트 데이터와 수신한 테스트 데이터를 비교(18) 단계에서 데이터가 정상인 경우 일정시간 후에 단계(14)로 돌아가 루프백 시험을 계속하게되고, 송출한 테스트 데이터와 수신한 데이터가 상이한 경우, TSL-SSW간 통화로가 비정상이라는 것을 상위프로세서에 보고하고, 일정시간후에 단계(14)로 돌아가 통화로 시험을 계속하게 된다.

상기와 같은 시험루틴이 TSP 프로세서의 여러가지 주기적인 루틴 중에 하나가 되는 것이다.

본 발명은 제1도와 같이 구성된 T-S-T 구조의 스위치 네트워크에 있어서 스위치 네트워크의 고장 유무를 간단하고 정확하게 항상 감시하고 시험할 수 있는 방법을 제공하는 데 있다.

Claims (3)

1. 양방향 1K 타임슬럿에 대한 양방향 타임슬럿 교환 기능을 갓고 있는 타임슬럿 교환회로(TSI)(7), 타임스위치 장치(TSL)내의 각 유니트 상태 및 통화로 상태를 시험하고 소프트웨어에 의한 타임스위치 장치의 이중화 상태제어 기능을 갖고있는 시험·및 유지보수 회로(CMM)(9)를 포함하고 있으며, 타임스위치 프로세서(TSP)의 제어를 받아 최대 8K의 입력을 받아들여 1K의 출력으로 내보내는 타임스위칭, 코드 변환기능 및 중계선 유휴코드 제공기능을 갖는 타임스위치 장치(TSL0-TSLn)(1,2,3), TSL(1,2,3)과 SSW(6)를 연결하여 통화로를 제공하고, 망동기장치로부터 65.536MHz의 합성클럭을 광으로 수신하여, 전기적신호로 바꾸어 분리/분배 기능과 프로세서 정합기능을 제공하는 데이터 링크 인터페이스 장치 CDL(4,5),기본모듈 16×16(16k) SSW구조로하여, 최대 교환용량이 63K인 63×63SSW 구조까지 증가시킬 수 있도록되어 있으며, 개별적으로 이중화로 동작하고, CDL(4,5)로 부터 병렬 8bits/TS의 PCM 데이터를 하이웨이망 1.024 타임슬럿씩 8,192Kbps의 RS-422 방식으로 하이웨이 인터페이스 회로(HWI)(10)를 통하여 수신하여 병렬 스위칭 방식으로 공간분할 교환 기능을 수행하는 공간분할 스위치(SSW)(6)로 구성되는 T-S-T 스위치 네트워크의 시험방법에 있어서, 상기 타임스위치 장치(1,2,3)에서 타임슬럿 교환을 거친 후, 스위치 네트워크 링크 인터페이스 회로(TLI)(8)를 통하고 65.536Mbps(lK 타임슬럿)의 광 링크를 통하여 데이터 링크 인터페이스 장치(CDL)에 입력되고, 공간분할 스위치(SSW)(6)에서 공간분할 스위칭된 후, 역방향으로 다시 해당 타임스위치 까지 연결되는 T-S-T 통화로를 정상인가 비정상인가를 시험하는 제1단계 ; 및 비정상인 경우 비정상인 위치를 찾아내어 유지보수를 쉽게 하도록 하는 테스트 패턴을 통화로에 송출하고, 통화로를 거쳐 들아온 테스트 패턴을 수신하고 비교하여, 그 시험 결과를 유지보수 프로세서에 보고하는 제2단계를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 스위치 네트워크의 시험방법.
2. 상기 제1항에 있어서 상기 타임스위치 프로세서와 공간스위치 프로세서의 초기화가 이루어지고(11), 상기 공간스위치 프로세서에 의해 상기 SSW 초기화 단계(13)로 들어가서 상기 SSW 제어메모리 초기화에서 각 타임스위치장치와 연결되는 각 1K 타임슬럿의 하이웨이 중에서 특정 타임슬럿은 루프백 시험이 가능하도록 각각 동일 타임스위치장치로 통화로를 연결하도록, 상기 SSW 제어메모리 데이터를 초기화하는 제3단계를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 스위치 네트워크의 시험방법.
3. 상기 제1항에 있어서, 온라인 상에서 각 타임스위치 프로세서는 해당 타임스위치장치의 자체 경로시험을 행하는 단계(14)로 들어가, 자체 경로 시험 단계에서 해당 타임스위치장치가 정상이면 TSL-SSW 루프백 시험 단계로 가고, 해당 타임스위치장치가 비정상이면 해당 타임스위치프로세서는 해당 타임스위치창치의 이상 발생을 유지보수 프로세서에 보고하고 일정시간후에 단계(14)로 돌아가, TSL-SSW간 루프백 단계에서 루프백 시험을 위한 테스트 패턴 송출 단계(16)에서 해당 타임스위치프로세서가 상기 시험 및 유지보수회로를 통하여 임의의 패턴을 발생시키고, 또한 TSL의 제어 메모리에 해당 패턴이 SSW에 의해 설정된 통화로를 통하여 송출될 수 있도록 경로를 설정하여 송출한 후, 미리 설징된 SSW의 루프백 통화로를거쳐 들어오는 시험 데이터를 타임스위치 프로세서가 TSL의 시험 및 유지보수회로를 통해서 수신하고, 타임스위치프로세서가 송출한 테스트 데이터와 수신한 테스트 데이터를 비교하여 정상인 경우 일정시간 후에 루프백 시험을 계속하게 되고, 송출한 테스트 데이터와 수신한 데이터가 상이한 경우, TSL-SSW간 통화로가 비정상이라는 것을 상위프로세서에 보고하고, 일정시간후에 단계(14)로 돌아가 통화로 시험을 계속하는 주기적인 통화로 시험단계를 더 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 스위치 네트워크의 시험방법.