Claims (50)
상기 물체를 광조사하고, 상기 물체의 특정 등급의 특정 파장에 대용하는 제1파장의 방사선을 통과시키는 헙대역 통과 필터를 통해 상기 물체를 측정하고, 상기 필터에 의해 통과된 파장을 변경하고, 적어도 하나의 기준 파장에서 상기 물체를 측정하며, 제1 및 제2 기준 파장에서의 측정들을 비교하여 상기 물체가 물체의 특정한 등급에 속하는지 않는지를 분류하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.Irradiate the object, measure the object through a band pass filter that passes radiation of a first wavelength that substitutes for a particular wavelength of a particular class of the object, change the wavelength passed by the filter, and at least Measuring the object at one reference wavelength and comparing the measurements at the first and second reference wavelengths to classify whether the object does not belong to a particular class of object.
제1항에 있어서, 상기 필터는 상기 필터에 의해 통과된 방사선의 대역을 변경하기 위해 그 광축에 수직인 축에 대해서 경사지게 되는 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.2. The method of claim 1, wherein the filter is inclined with respect to an axis perpendicular to its optical axis to change the band of radiation passed by the filter.
제2항에 있어서, 상기 필터는 제1 위치와 제2 위치 사이에서 전후로 경사지게 되는 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.The method of claim 2, wherein the filter is inclined back and forth between the first position and the second position.
제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 파장에서 그리고 기준 파장에서 상기 물체에 의해 습수된 방서선의 강도가 측정되고, 상기 기준 파장은, 특정 등급의 물체에 대한 흡수 스펙트럼에서 특성 파장에 대용하는 흡수 피크 밖에 놓이는 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.The method of claim 1, wherein the intensity of the radiation moistened by the object at the first wavelength and at the reference wavelength is measured, wherein the reference wavelength is characterized in an absorption spectrum for a particular class of object. A method for classifying an object, characterized by being outside of an absorption peak substituted for a wavelength.
제4항에 있어서, 상기 물체는 상기 제1파장에서 흡수된 방사선의 강도가 기준 파장에서 보다 크면 물체의 특정 등급에 속하는 것으로 분류되는 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.5. The method of claim 4, wherein the object is classified as belonging to a specific class of the object if the intensity of the radiation absorbed at the first wavelength is greater than the reference wavelength.
제1항 내지 제5항중 어느 한 항에 있어서, 상기 방법은 다이아몬드를 검사하기 위한 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.A method according to any of the preceding claims, wherein the method is for inspecting diamond.
제6항에 있어서, 상기 제1파장은 415.5nm와 대체로 같으며 상기 물체의 특정 등급은 형태 IaAB 다이아몬드를 포함하는 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.7. The method of claim 6, wherein the first wavelength is approximately equal to 415.5 nm and the particular grade of the object comprises form IaAB diamond.
제7항에 있어서, 상기 기준 파장은 약 410nm인 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.8. The method of claim 7, wherein the reference wavelength is about 410 nm.
전항중 어느 한 항에 있어서, 상기 물체에 조사하는 방사선의 스펙트럼 변동을 허용하기 위해서 상기 제1 파장 및 기준 파장에서 측정을 교정하는 단계를 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.The method of any one of the preceding claims, further comprising calibrating the measurement at the first wavelength and the reference wavelength to allow for spectral variation of the radiation irradiating the object.
전항중 어느 한 항에 있어서, 상기 물체는 적어도 두개의 기준 파장에서 측정되는 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.The method of any one of the preceding claims, wherein the object is measured at at least two reference wavelengths.
제10항에 있어서, 상기 필터에 의해서 통과된 파장은 제1및 제2기준 파장을 포함하는 한 셋트의 파장중 각 파장을 통해서 여러번 순환되며, 상기 물체에 대한 다수의 측정이 상기 셋트의 각 파장에 대해서 수행되며, 상기 셋트의 파장에서 측정은 물체의 특정 등급에 속하는지 아닌지로서 상기 물체를 분류하도록 사용되는 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.11. The method of claim 10, wherein the wavelength passed by the filter is cycled through each one of a set of wavelengths including the first and second reference wavelengths, wherein a plurality of measurements for the object are performed at each wavelength of the set. And measuring at the wavelength of the set is used to classify the object as belonging to a particular class of object or not.
제3항에 있어서, 상기 제1 위치는 광축에 대해 수직인 필터에 대응하는 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.4. The method of claim 3, wherein the first position corresponds to a filter perpendicular to the optical axis.
제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 상기 물체는 상기 제1파장 및 기준 파장의 방사선을 통과시키는 광대역 통과 필터를 통해 보여지는 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.4. A method according to any one of claims 1 to 3, wherein the object is viewed through a broadband pass filter through which radiation of the first and reference wavelengths passes.
제13항에 있어서, 상기 광대역 통과 필터를 레이저 차단 필터로서, 상기 물체는 레이저 방사선을 이용하여 조사되는 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.The object classification method according to claim 13, wherein the wide band pass filter is a laser cut filter, and the object is irradiated using laser radiation.
제13항 또는 제14항에 있어서, 상기 특정 방사선은 가사광인 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.The object classification method according to claim 13 or 14, wherein the specific radiation is house light.
제15항에 있어서, 상기 물체는 눈으로 관측되는 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.16. The method of claim 15, wherein the object is observed with the eye.
제13항 내지 제16항중 어느 한 항에 있어서, 상기 파장은 다이아몬드의 라이만 방사선에 대응하는 것을 특징으로 하는 물체 분류 방법.17. A method according to any one of claims 13 to 16, wherein the wavelength corresponds to Lyman radiation of diamond.
물체에 광을 조사하기 위한 수단과, 물체의 특정 등급의 특성 파장에 대응하는 제1 파장에서 방사선을 통과시키는 필터와, 상기 필터에 의해 통과된 대역을 제1 파장과는 다른 기준 파장으로 변경시키기 위한 수단과, 협대역 통과 필터를 통해 물체를 측정하기 위한 수단을 구비하며, 그에 따라 상기 물체는 물체의 제1 등급에 속하는지 또는 속하지 않는지로서 분류될 수 있는 것을 특징으로 하는 물체 분류 장치.Means for irradiating light to the object, a filter for passing radiation at a first wavelength corresponding to a characteristic wavelength of a particular grade of the object, and for changing a band passed by the filter to a reference wavelength different from the first wavelength Means for measuring an object through a narrowband pass filter, whereby the object can be classified as belonging to or not belonging to a first class of object.
제18항에 있어서, 상기 필터는 상기 필터에 의해 통과되는 방사선의 대역을 변경시키기 위해서 그 광축에 수직인 축에 대해 경사지는 것을 특징으로 하는 물체 분류 장치.19. The apparatus of claim 18, wherein the filter is inclined with respect to an axis perpendicular to its optical axis to change the band of radiation passed by the filter.
제19항에 있어서, 상기 필터는 상기 광축에 대해 수직일때 상기 제1 파장의 방사선을 통과시키는 것을 특징으로 하는 물체 분류 장치.20. The apparatus of claim 19, wherein the filter passes radiation of the first wavelength when perpendicular to the optical axis.
제18항 내지 제20항중 어느 한 항에 있어서, 제2항 내지 제17항중 어느 한 항의 방법을 수행하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 물체 분류 장치.An apparatus as claimed in any of claims 18 to 20, configured to perform the method of any one of claims 2 to 17.
두개의 대역 통과 필터를 통해서 물체를 바라보는데, 그중 하나의 필터는 두개의 필터를 통해 통과되는 특성 방사선 파장을 검출하기 위해서 다른 하나 보다 대체로 더 좁은 대역을 통과시키며, 상기 필터중 하나에 의해 통과된 대역을 변경하여 제1 설정 위치에서 상기 특정 방사선은 양 필터를 통과하며, 제2 설정 위치에서 상기 특성 방사선은 양 필터를 통과하지 못하게 되며, 각각의 필터가 변경될때 양 필터를 통해 통과되는 방사선의 변화를 검출하는 것을 특징으로 하는 물체 검사 방법.The object is viewed through two band pass filters, one of which passes a generally narrower band than the other to detect the characteristic radiation wavelengths passed through the two filters, and is passed by one of the filters. By changing the band, the specific radiation passes through the positive filter at the first set position, the characteristic radiation cannot pass through the positive filter at the second set position, and when each filter is changed, An object inspection method, characterized by detecting a change.
제22항에 있어서, 상기 더 넓은 대역을 통과시키는 상기 필터는 레이저 방사선 차단 필터인 것을 특징으로 하는 물체 검사 방법.23. The method of claim 22, wherein the filter passing through the wider band is a laser radiation blocking filter.
제22항 또는 제23항에 있어서, 상기 더 좁은 대역을 통과시키는 상기 필터는 헙대역 통과 필터이며, 상기 협대역 통과 필터의 대역은 변경되는 것을 특징으로 하는 물체 검사 방법.24. The method of claim 22 or 23, wherein the filter passing through the narrower band is a band pass filter, and the band of the narrow band pass filter is changed.
제20항 내지 제22항중 어느 한 항에 있어서, 상기 통과된 대역은 광축에 대해서 수직인 축에 대해 상기 필터를 경사지게 하므로써 변경되는 것을 특징으로 하는 물체 검사 방법.23. A method according to any one of claims 20 to 22, wherein the passed band is changed by tilting the filter with respect to an axis perpendicular to the optical axis.
제25항에 있어서, 상기 변경 가능한 필터가 그 광축에 대해 수직이 되도록 배열되며, 상기 특성 방사선이 양 필터를 통해 통과되는 것을 특징으로 하는 물체 검사 방법.27. The method of claim 25, wherein the changeable filter is arranged to be perpendicular to its optical axis, and wherein the characteristic radiation is passed through both filters.
제22항 내지 제26항중 어느 한 학에 있어서, 상기 변경 가능한 필터에 의해 통과된 대역은 두개의 설정 위치 사이에서 전후로 변경되는 것을 특징으로 하는 물체 검사 방법.27. The method of any one of claims 22 to 26, wherein the band passed by the changeable filter is changed back and forth between two set positions.
제22항 내지 제27항중 어느 한 항에 있어서, 상기 특성 방사선은 가시광인 것을 특징으로 하는 물체 검사 방법.28. The method of any one of claims 22 to 27, wherein the characteristic radiation is visible light.
제28항에 있어서, 상기 특성 방사선은 눈으로 직접 측정되는 것을 특징으로 하는 물체 검사 방법.29. The method of claim 28, wherein the characteristic radiation is measured directly by the eye.
제22항 내지 제29항중 어느 한 항에 있어서, 상기 물체는 자극 방사선으로 조산되어 상기 물체의 발광이 검사되는 것을 특징으로 하는 물체 검사 방법.30. The object inspection method according to any one of claims 22 to 29, wherein the object is prematurely irradiated with stimulus radiation and the light emission of the object is examined.
제30항에 있어서, 상기 물체의 상기 라이만 방사선이 검사되는 것을 특징으로 하는 물체 검사 방법.31. The method of claim 30, wherein said Lyman radiation of said object is examined.
제22항 내지 제31항중 어느 한 항에 있어서, 상기 물체가 다이아몬드인지 여부를 확인하기 위해서 사용되는 것을 특징으로 하는 물체 검사 방법.32. The object inspection method according to any one of claims 22 to 31, which is used to check whether the object is diamond.
두개의 대역 통과 필터를 구비하는데, 그중 하나는 상기 양 필터를 통과하는 특성 방사선 파장을 검출하기 위해서 다른 필터 보다 대체로 더 좁은 대역을 통과시키며, 상기 필터중 하나에 의해 통과된 대역을 변경하여 제1 설정 위치에서 상기 특성 방사선은 양 필터를 통과하며, 제2 설정 위치에서 특성 방사선은 양 필터를 통과하지 못하게 하는 수단을 구비하며, 그에 따라 각 필터가 변경될때 양 필터를 통해 통과하는 방사선의 변화가 검출되는 것을 특징으로 하는 물체 검사 장치.Two bandpass filters are provided, one of which passes a generally narrower band than the other to detect characteristic radiation wavelengths passing through both filters, and alters the band passed by one of the filters so that the first At the set position the characteristic radiation passes through both filters, and at a second set position the characteristic radiation has a means to prevent it from passing through, so that the change in radiation passing through both filters as each filter is changed is Object inspection apparatus characterized in that the detection.
제33항에 있어서, 더 넓은 대역을 통과하는 상기 필터는 레이저 방사선 차단 필터인 것을 특징으로 하는 물체 검사 장치.34. The apparatus of claim 33, wherein the filter passing through the wider band is a laser radiation blocking filter.
제33항 또는 제34항에 있어서, 제23항 내지 제32항중 어느 한 항의 방법을 수행하도록 장치되는 것을 특징으로 하는 물체 검사 장치.35. An object inspection apparatus according to claim 33 or 34, characterized in that it is arranged to carry out the method of any one of claims 23 to 32.
다이아몬드에 광조사를 하며, 415.5 nm의 파장에서 다이아몬드에 의해 흡수된 방사선의 강도에 의존하여 신호를 유도하며, 상기 다이아몬드의 규격을 표시하는 파라메타에 기초해서 상기 신호를 정규화시키며, 자연산 또는 합성인 다이아몬드의 등급에 속하는 것으로서 또는 정규화된 신호에 기초하여 화실히 자연산인 다이아몬드의 등급에 속하는 것으로서 다이아몬드를 분류하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 다이아몬드 분류 방법.Irradiates the diamond, induces a signal depending on the intensity of the radiation absorbed by the diamond at a wavelength of 415.5 nm, normalizes the signal based on a parameter indicative of the diamond's specification, and is a natural or synthetic diamond And classifying the diamond as belonging to a class of diamonds that are naturally natural based on a class of or based on a normalized signal.
제36항에 있어서, 상기 신호를 적어도 하나의 기준 신호와 비교하므로써 상기 신호는 정규화되며, 상기 기준 신호는 현대 IaAB 다이아몬드의 흡수 스펙트럼에서 415.5 nm에 대응하는 흡수 피크 바깥의 파장에서 상기 다이아몬드에 의해 흡수된 방사선의 강도에 의존하는 것을 특징으로 하는 다이아몬드 분류 방법.The signal of claim 36, wherein the signal is normalized by comparing the signal with at least one reference signal, wherein the reference signal is absorbed by the diamond at a wavelength outside an absorption peak corresponding to 415.5 nm in the absorption spectrum of a modern IaAB diamond. Diamond classification method, characterized in that it depends on the intensity of the irradiated radiation.
다이아몬드 광조사를 위한 수단과, 415.5 nm의 파장에서 다이아몬드에 의해 흡수된 방사선의 강도에 의존하여 신호를 제공하는 수단과, 상기 다이아몬드의 규격을 나타내는 파라메타에 기초하여 상기 신호를 정규화하기 위한 수단을 구비하며, 상기 다이아몬드는 자연산의 또는 합성 다이아몬드를 포함하는 제1등급에 속하는 것으로서 또는 정규화된 신호에 기초해서 단지 자연산 다이아몬드만을 포함하는 제2등급에 속하는 것으로서 분류될 수 있는 것을 특징으로 하는 다이아몬드 분류 장치.Means for irradiating diamond, means for providing a signal depending on the intensity of radiation absorbed by the diamond at a wavelength of 415.5 nm, and means for normalizing the signal based on a parameter indicative of the diamond specification; Wherein the diamond can be classified as belonging to a first class comprising natural or synthetic diamond or as belonging to a second class containing only natural diamond based on a normalized signal.
제38항에 있어서, 415.5 nm에서 흡수되는 방사선의 강도에 의존하는 신호 제공 수단이 415.5 nm의 파장에서 방사선을 통과시키는 필터를 구비하는 것을 특징으로 하는 다이아몬드 분류 장치.39. The diamond sorting apparatus according to claim 38, wherein the signal providing means, which depends on the intensity of the radiation absorbed at 415.5 nm, comprises a filter for passing the radiation at a wavelength of 415.5 nm.
제39항에 있어서, 형태 IaAB 다이아몬드의 홈수 스펙트럼 415.5 nm의 흡수 피크 바깥 파장에서 상기 다이아몬드에 의해 흡수된 방사선의 강도에 의존하여 기준 신호를 제공하는 수단과, 상기 신호와 기준 신호를 비교하기 위한 수단을 구비하며, 보석의 원석은 상기 신호가 상기 기준 신호보다 클때 제2등급에 속하는 것으로서 분류되는 것을 특징으로 하는 다이아몬드 분류 장치.40. The apparatus of claim 39, further comprising: means for providing a reference signal depending on the intensity of radiation absorbed by the diamond at an wavelength outside the absorption peak spectrum 415.5 nm of form IaAB diamond, and means for comparing the signal with the reference signal. And gemstones are classified as belonging to a second class when the signal is greater than the reference signal.
제40항에 있어서, 415.5 nm가 아닌 파장의 광을 통과시키기 위해서 상기 필터를 결사지게 하기 위한 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 다이아몬드 분류 장치.41. The diamond sorting apparatus of claim 40, comprising means for causing the filter to pass through to pass light at wavelengths other than 415.5 nm.
첨부된 도면의 제1도 내지 제6도를 참조하여 설명된 바와같은 물체 검사 방법.An object inspection method as described with reference to FIGS. 1 to 6 of the accompanying drawings.
첨부된 도면의 제1도 내지 제6도에 도시되었고, 상기 도면을 참조하여 설명된 바와 같은 물체 검사 장치.An apparatus for inspecting an object as shown in FIGS. 1 to 6 of the accompanying drawings, as described with reference to the drawings.
확실한 자연산 또는 확실히 자연산이 아닌 다이아몬드 분류 방법에 있어서, 첨부된 도면 제10도 내지 제16도에 도시되었고, 상기 도면을 참조하여 설명된 바와 같은 다이아몬드 분류 방법.Diamond sorting method as shown in the attached drawings, FIGS. 10-16, and described with reference to the drawings, in certain natural or certainly non-natural diamond sorting methods.
확실한 자연산 또는 확실히 자연산이 아닌 다이아몬드 분류 장치에 있어서, 첨부된 도면 제10도 내지 제16도에 도시되었고, 상기 도면을 참조하여 설명된 바와 같은 다이아몬드 분류 장치.Diamond sorting apparatus as shown in the attached drawings 10 to 16, as described with reference to the drawings, for a certain natural or certainly not natural diamond sorting apparatus.
첨부된 도면 제1도 내지 제6도, 제10도 내지 제14도중 어느 것에 도시되었고, 상기 도면을 참조하여 설명된 바와 같은 물체 분류 장치.An apparatus for classifying an object as shown in any of FIGS. 1 to 6, 10 to 14, and with reference to the drawings.
첨부된 도면 제1도 내지 제6도, 또는 제10도 내지 제14도에 도시되었고, 상기 도면을 참조하여 설명된 바와 같은 물체 분류 방법.A method of classifying an object as shown in the accompanying drawings 1 to 6, or 10 to 14, as described with reference to the drawings.
첨부된 도면중 제15도에 도시되었고, 상기 도면을 참조하여 설명된 바와 같은 물체 분류 장치.An object classification apparatus as shown in FIG. 15 of the accompanying drawings and described with reference to the drawings.
첨부된 도면중 제15도 및 제16도에 도시되었고, 상기 도면을 참조하여 설명된 바와 같은 물체 분류 방법.An object classification method as shown in FIGS. 15 and 16 of the accompanying drawings and described with reference to the drawings.
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.