Claims (7)
광디스크 재생장치로부터 광디스크의 결함을 검출하는데 있어서, 광디스크로부터 광신호를 검출하는 광픽업수단, 광픽업신호를 음성신호로 변환하는 음성신호발생수단, 음성신호를 디지탈신호처리를 위한 EFM신호로 변환시키는 EFM신호발생수단, 결함신호검출을 위해 음성신호를 증폭하는 음성신호증폭수단, 음성신호를 논리신호로 변환하고 결함신호구간에 포함된 음성신호를 제거하는 비교수단, 음성신호와 결함신호의 혼재신호로부터 결함신호를 분리하여 결함검출신호를 발생시키는 결함신호검출논리수단을 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 디지탈 결함검출회로.In detecting a defect of an optical disc from an optical disc reproducing apparatus, optical pickup means for detecting an optical signal from the optical disc, voice signal generating means for converting the optical pickup signal to a voice signal, and converting the voice signal into an EFM signal for digital signal processing EFM signal generating means, voice signal amplifying means for amplifying a voice signal for detecting a defect signal, comparing means for converting the voice signal into a logic signal and removing the voice signal included in the defect signal section, mixed signal of the voice signal and the defect signal And a defect signal detection logic means for separating the defect signal from the defect signal and generating a defect detection signal.
제1항에 있어서, 상기 음성신호발생수단의 출력파형이 EFM신호발생수단이 비교기와 음성신호 증폭수단의 증폭기에 각각 입력되는 것을 특징으로 하는 디지탈 결함검출회로.2. The digital defect detection circuit according to claim 1, wherein the output waveform of the audio signal generating means is input to the amplifier of the comparator and the audio signal amplifying means, respectively.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 EFM신호발생수단은 비교기와 적분기로 구성되며, 비교기에서 출력된 EFM신호는 적분기에서 적분파형으로 출력되며, 상기 적분된 출력신호는 비교기와 음성신호를 논리신호로 변환하고 결함신호구간의 음성신호는 제거하는 비교수단의 기준전압으로 입력되는 특징으로 하는 디지탈 결함검출회로.According to claim 1 or 2, wherein the EFM signal generating means is composed of a comparator and an integrator, the EFM signal output from the comparator is output in an integrating waveform in the integrator, the integrated output signal is a logic of the comparator and the audio signal A digital defect detection circuit characterized in that it is inputted as a reference voltage of a comparison means for converting a signal and removing a sound signal in a defect signal section.
결함신호검출논리수단을 위해서 비교수단에서 출력된 RFO신호가 입력되는 입력부,CK신호를 1/85분주하여 카운팅클록 신호를 생성하는 분주부, 카운팅클록신호가 TRN을 동기하여 RFO신호의 주기를 업카운트하도록 구성된 동기카운트부, 동기카운트부에 의해 업카운트된 신호의 주기와 분주된 카운트클록신호의 주기를 표본화 및 홀딩하는 과정을 거쳐서 결함검출신호를 출력하는 출력파형정형부로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 디지탈 결함검출회로.Input unit to which the RFO signal output from the comparison unit is inputted for the defect signal detection logic means, division unit for dividing the CK signal by 1/85 to generate the counting clock signal, and the counting clock signal synchronizing the TRN to increase the period of the RFO signal. And an output waveform shaping unit configured to output a defect detection signal by sampling and holding the period of the signal counted up by the synchronization count unit and the period of the divided clock clock signal. Digital defect detection circuit.
제4항에 있어서, 상기 입력부는 1개의 DRN으로 구성하여 RFO신호를 D입력으로 하고, 분주부는 1개의 DRN과 결합하여 7개의 TRN 및 논리게이트를 조합하여 입력된 CK신호주파수를 분주하여 동기카운터부의 TRN의 클록단자 및 논리게이트에 입력시키며 상기 동기카운터부는 9개의 TRN과 논리게이트들이 조합되어 이루어진 것을 특징으로 하는 디지탈 결함검출회로.5. The frequency converter of claim 4, wherein the input unit is composed of one DRN to form an RFO signal as a D input, and the divider is combined with one DRN to divide and synchronize the input CK signal frequency by combining seven TRNs and logic gates. And a clock counter and a logic gate of the TRN of the counter unit, wherein the synchronous counter unit is formed by combining nine TRNs and logic gates.
제5항에 있어서, 상기 DRN 및 TRN은 리셋단자를 구비하여, 클록신호에 부트리거되는 것을 특징으로 하는 디지탈 결함검출회로.6. The digital defect detection circuit according to claim 5, wherein the DRN and the TRN have a reset terminal and are booted by a clock signal.
제4항에 있어서, 상기 결함신호검출논리수단에서 검출가능한 결함신호는 그 주기가 50㎲ec~1.4msec인 것을 특징으로 하는 디지탈 결함검출회로..5. The digital defect detection circuit according to claim 4, wherein the defect signal detectable by said defect signal detection logic means has a period of 50 sec to 1.4 msec.
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.