KR930008847B1 - 위상반전영역을 갖는 마스크 및 그의 제조방법 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

위상반전영역을 갖는 마스크 및 그의 제조방법

제 1a-f 도는 본 발명의 마스크의 제조과정의 일 실시예를 보인 공정도.

제 2a-d 도는 본 발명의 마스크의 동작특성을 보인 설명도.

제 3a-h 도는 종래의 마스크의 제조과정을 보인 공정도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

11 : 유리기판 13 : 마스크 평판

15 : 감광막 17 : 이온확산층

19 : 위상반전영역

본 발명은 디램(DRAM : Dynamic Random Access Memory)등과 같은 반도체 집적소자를 제조할 경우에 사용되는 마스크(mask)가 통과하는 빛의 위상을 180 반전시키는 위상반전영역을 갖는 마스크 및 그의 제조방법에 관한 것이다.

반도체 집적소자를 제조할 경우에는 포토 리소그래피(photo lithography)방법을 이용하여 웨이퍼(wafer)의 표면에 패턴을 형성하고 있다. 이 포토 리소그래피 방법은 감광막(photo resist)이 도포되어 있는 웨이퍼의 표면에 마스크를 통해 자외선등의 빛을 조사하여 감광막에 소정의 패턴을 형성하는 노광(expose)공정을 포함한다. 노광방법으로는 컨택트(contact)방법, 프록시미티(proximity)방법 및 프로젝션(projection)방법 등이 알려져 있으나 최근의 반도체 제조기술을 발전으로 반도체 집적소자가 초고집적화 되는 추세에 따라 회로의 선폭이 미세하게 되므로 상기와 같은 노광방법은 그 사용에 한계가 있다.

그리고, 열려진 또 하나의 노광방법으로 웨이퍼 스테핑(wafer stepping)방법이 있다. 이 웨이퍼 스테핑 방법은 칩(chip)의 5-10배 정도의 크기를 갖는 마스크를 사용하여 스텝 앤드 리피트(step and repeat)방법으로 노광하는 것으로 미세한 선폭을 얻을 수 있다. 그러나, 웨이퍼 스테핑 방법은 조사되는 빛이 마스크의 패턴을 통과하면서 회절되므로 감광막에 복사되는 패턴의 해상도(resolution)가 저하되고, 이로 인하여 16M비트 디램의 집적도를 갖는 반도체 집적소자를 제조하는 데 큰 어려움이 있었다. 아울러 64MDRAM의 제조는 불가능하다.

그러므로, 최근에는 빛이 마스크에 형성된 소정의 패턴을 통과할 때 인접패턴을 통과하는 빛의 위상이 180° 반전되게 함으로써 빛의 회절을 방지하고 패턴의 해상도를 향상시키는 방법이 제시되고 있다. 즉, 위상반전영역을 갖는 마스크의 소정의 패턴 외측에 조사되는 빛의 위상을 180° 반전시킴으로써 빛의 세기가 0인 점을 얻을 수 있다.

이러한 위상반전영역을 갖느 마스크가 제 3 도에 도시되어 있다. 이 마스크의 제조공정을 설명하면, 제 3a 도에 도시된 바와같이 투명한 유리기판(1)상에 마스크 평판(3)과 감광막(5)을 순차적으로 형성한다. 상기에서 마스크 평판(3)은 그롬으로 형성한다.

그리고, 감광막(5)에 자외선으로 소정의 패턴을 노광하고, 현상하여 제 3b 도에 도시된 바와같이 감광막(5)의 노광된 부분을 제거한다. 계속해서 제 3c 도에 도시된 바와같이 남아있는 감광막(5)을 식각 마스크로 이용하여 마스크 평판(3)의 노출된 부분을 식각하고, 패턴을 형성한 후 제 3d 도에 도시된 바와같이 감광막(5)을 제거하여 마스크 평판(3)을 노출시킨다. 노출된 마스크 평판(3)을 검사하고 결함을 수리한 후 제 3e 도에 도시된 바와같이 유리기판(1)의 노출된 부분과 마스크 평판(3)의 표면에 감광막(7)을 도포한다.

그리고, 제 3f 도에 도시된 바와같이 유리기판(1)의 하부표면을 통해 감광막(7)에 자외선을 조사한다. 이때 마스크 평판(3)은 불투명하므로 유리기판(1)의 표면에 도포된 감광막(7)만이 노광된다. 다음에는 제 3g 도에 도시된 바와같이 감광막(7)을 현상하여 노광된 부분을 제거하고, 남아 있는 감광막(7)을 식각 마스크로 제 3h 도에 도시된 바와 같이 마스크 평판(3)을 오버에칭(over etching)하여 감광막(7)에 일정폭(W1)의 위상반전영역을 형성한다.

이와같이 마스크에서 위상반전영역으로 이용되는 감광막(7)의 두께는 매우 중요하다. 이 감광막(7)의 두께는 감광용액의 점도와 감광용액을 도포할 때의 회전속도에 제어된다. 반도체 집적소자의 포토마스크 공정에서 조사되는 빛의 위상을 180 반전시키기 위한 감광막(7)의 두께(d1)는,

여기서, λ는 조사되는 빛의 파장이고, n은 감광막(7)을 굴절율이다. 그러므로 위상반전영역으로 이용되는 감광막(7)의 두께(d1)가 상기의 식을 만족하면 감광막(7)을 통과하는 빛의 위상을 180°반전시킴으로써 빛의 세기가 0인 점을 얻게되고, 패턴의 해상도가 양호하게 된다.

그러나, 상기한 바와같은 위상반전영역을 갖는 마스크는 위상반전영역이 감광막(7)이므로 외부의 미세한 영향으로도 쉽게 손상되고, 위상반전영역이 파괴되었을 경우에는 그 위상반전영역을 다시 형성하여 사용할 수 없을 뿐만 아니라 마스크가 사용중 오염이 되었을 경우에 이를 클리닝(cleaning)하여 사용할 수 없었다. 또한 상기와 같은 마스크의 제조공정은 검사 및 수리후 다시 포토마스킹과 마스크 평판을 오버에칭하므로 제조공정이 매우 복잡하고, 감광용액의 점도와 감광용액 도포시 회전속도에 의해 제어되는 위상반전영역의 두께조절이 어려우며, 유리기판(1)과 마스크 평판(3)의 단차로 인하여 감광막(7)의 토포그래피(topography)가 불량하게 되어 위상반전영역의 두께가 균일하지 못하는 등의 문제점이 있었다.

그러므로 본 발명의 목적은 쉽게 손상되지 않고 반영구적으로 사용할 수 있는 위상반전영역을 갖는 마스크를 제공하는데 있다.

이와같은 목적을 가지는 본 발명은 유리기판의 패턴영역을 형성할 부위에 이온을 확산하여 이온확산층을 형성하고, 그 이온확산층의 주변부에 일정폭으로 유리기판이 노출되게 유리기판의 상면에 마스크 평판을 형성하여 노출된 유리기판의 부위가 위상반전영역으로 작용하게 구성된다.

그리고, 본 발명의 제조방법에 의하면, 투명한 유리기판의 표면에 불투명한 마스크 평판과 감광막을 순차적으로 형성하는 공정과, 상기 유리기판의 패턴영역을 형성할 부위에 대항되는 감광막의 부위를 노광 및 현상하여 마스크 평판을 노출시키는 공정과, 마스크 평판의 노출된 부위를 식각하여 유리기판의 패턴영역을 형성할 부위를 노출시키는 공정과, 유리기판의 노출된 부위에 이온을 확산하여 패턴영역을 형성하는 공정과, 마스크 평판을 오버에칭하여 이온확산층의 주변부에 위상반전영역으로 유리기판을 노출시키는 공정과, 남아있는 감광막을 제거하는 공정으로 이루어진다.

이하, 본 발명의 실시예를 보인 첨부된 제 1 도 및 제 2 도의 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

제 1 도의 a-f는 본 발명에 의하여 제조되는 위상반전영역을 갖는 마스크의 공정도이다.

제 1a 도를 참조하면, 투명한 유리기판(11)의 마스크 평판(13)과 감광막(15)을 형성한다. 여기서, 마스크 평판(13)은 불투명한 재질인 크롬으로 약 1000Å 정도의 두께로 형성한다. 다음에 자외선을 이용하여 감광막(15)에 패턴을 노광한다.

제 1b 도를 참조하면, 감광막(15)의 노광된 부분을 현상하여 마스크 평판(13)의 소정부위를 노출시킨다.

제 1c 도를 참조하면, 감광막(15)의 제거되지 않은 부분을 식각 마스크로 마스크 평판(13)의 노출된 부위를 식각하여 유리기판(11)의 패턴을 형성할 부위를 노출시킨다. 이때, 마스크 평판(13)을 크롬으로 형성하였을 경우에는 식각용액으로 염산 또는 초산등을 사용한다. 그리고, 이때 마스크 평판(13)의 두께는 1000Å 정도로 매우 얇으므로 마스크 평판(13)의 측면이 식각되는 것은 무시할 수 있다.

제 1d 도를 참조하면, 유리기판(11)의 노출된 부위에 이온을 확산하여 확산층(17)을 형성한다. 이때, 이온확산층(17)의 두께(d1)는,

여기서, λ은 조사되는 자외선의 파장이고, n은 유리기판(11)의 굴절율이 되게 이온의 밀도를 조절한다.

제 1e 도를 참조하면, 감광막(15)을 식각 마스크로 이용하여 마스크 평판(13)의 측면을 식각한다. 여기서, 마스크 평판(13)의 측면식각에 따라 노출되는 유리기판(11)의 부위는 위상반전영역(19)이 되고, 그 위상반전영역(19)의 폭(W1)은 0.2-0.3m가 적당하다.

제 1f 도를 참조하면, 남아있는 감광막(15)을 모두 제거하여 위상반전영역을 갖는 마스크의 제조를 완성한다.

이와같은 본 발명의 위상반전영역을 갖는 마스크는 제 2a 도에 도시된 바와 같이 자외선 등의 빛을 조사하면, 마스크의 패턴영역인 이온확산층(17)과 위상반전영역(19)을 통과하는 빛의 위상과 세기가 제 2b 도 및 c 도와 같이 된다.

즉, 제 2b 도에서 포물선(A')은 이온확산층(17)을 통과하는 빛의 위상이고, 포물선(B)는 위상반전영역(19)을 통과하는 빛의 위상으로 180의 차가 있게 된다.

그리고, 제 2c 도에서 포물선(A')는 이온확산층(17)을 통과하는 빛의 세기이고, 포물선(B')는 위상반전영역(19)을 통과하는 빛의 세기를 나타내는 것으로 포물선(A') (B')는 빛의 세기가 0인 점에서 만나게 된다. 즉, 이온확산층(17)과 위상반전영역(19)의 사이에는 마스크를 통과하는 빛의 세기가 0으로 된다.

이와같은 본 발명의 위상반전영역을 갖는 마스크로 반도체 집적소자의 제조공정에 사용한 결과가 제 2d 도에 도시되어 있다. 여기서, 부호는 반도체 기판이고, 부호는 감광막이며, 부호 25는 위상반전영역(19)을 통과한 빛에 의해 감광막(23)이 노광 및 현상된 것을 나타낸다. 그리고, 부호 27은 노광시 이온확산층(17)과 위상반전영역(19) 사이의 빛의 세기가 0인 위치에 대응되는 곳으로 감광막(23)에 형성한 패턴을 해상도가 우수함을 알 수 있다.

이상에서 상세히 설명한 바와같이 본 발명은 유리기판에 이온확산층을 형성하여 패턴영역과 위상반전영역을 형성하는 것으로 그 제조공정이 간단하고, 패턴영역과 두께차 조절이 쉽다.

그리고, 패턴영역의 두께를 이온의 확산으로 위상반전영역을 통과하는 빛의 위상과 정확히 180°위상차가 나게 조절할 수 있으며, 사용수명이 길고, 마스크가 오염되었을 경우에도 클리닝하여 재사용 할 수 있는 등의 효과가 있다.

Claims (3)

1. 투명한 유리기판의 패턴영역 부위에 이온확산층을 형성하고, 노출되는 유리기판의 표면에는 불투명한 마스크 평판을 형성하며, 이온확산층의 주변부의 마스크 평판은 식각하여 위상반전영역으로 유리기판이 노출되게 구성함을 특징으로 하는 위상반전영역을 갖는 마스크.
2. 위상반전영역을 갖는 마스크의 제조방법에 있어서, 투명한 유리기판의 표면에 불투명한 마스크 평판과 감광막을 순차적으로 도포하는 공정과, 상기 유리기판에 패턴영역을 형성한 부위의 감광막을 노광 및 현상하여 마스크 평판을 노출시키는 공정과, 상기 마스크 평판의 노출부위를 식각하여 상기 유리기판의 패턴영역을 노출시키는 공정과, 상기 유리기판의 노출부위에 이온확산층을 형성하는 공정과, 상기 마스크 평판을 측면 식각하여 위상반전영역으로 이온확산층의 주변부의 유리기판을 노출시키는 공정과, 상기 감광막을 모두 제거하는 공정으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 위상반전영역을 갖는 마스크의 제조방법.
3. 제 2 항에 있어서, 이온확산층은, 위상반전영역을 통과하는 빛과의 위상차가 180°되게 이온밀도를 조절하는 것을 특징으로 하는 위상반전영역을 갖는 마스크의 제조방법.

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