KR930006060Y1

KR930006060Y1 - Electrode intervals measuring device

Info

Publication number: KR930006060Y1
Application number: KR2019910008768U
Authority: KR
Inventors: 강종수
Original assignee: 삼성정관 주식회사; 김정배
Priority date: 1991-06-13
Filing date: 1991-06-13
Publication date: 1993-09-13
Also published as: KR930001249U

Abstract

내용없음.None.

Description

Electrode Aperture Gap Measuring Device of Electron Gun

제1도는 본 고안에 관련된 측정장치의 구성을 나타내는 측면도.1 is a side view showing the configuration of a measuring device according to the present invention.

제2도는 종래의 측정장치를 나타내는 측면도.2 is a side view showing a conventional measuring device.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

2 : 프레임 3 : 브라케트2: frame 3: bracket

5 : 푸시로드 7, 8, 9 : 프로브5: push rod 7, 8, 9: probe

본 고안은 다비임(mutibeam) 전자총을 구성하는 다수의 전극 중에서 제어전극과 스크린전극의 각 어퍼쳐 간격을 측정하여 전자총의 불량을 감별하기 위한 전자총의 전극 어퍼쳐 간격 측정장치에 관한 것이다.The present invention relates to an electrode aperture gap measuring device of an electron gun for discriminating defects of an electron gun by measuring the aperture gap between a control electrode and a screen electrode among a plurality of electrodes constituting a mutebeam electron gun.

다비임전자총은 비이드글리스에 의해 일정 간격으로 배열되는 다수의 전극마다 각각 R, G, B에 해당하는 어퍼쳐를 보유하고 있으며, 이러한 구조의 전자총이 그 제조공정에서 불량 선별되지 않고 네크 내부로 봉입되어 칼라 음극선관을 형성하게 되면, 최종적으로 얻어지는 제품의 불량율이 높아지게 됨은 물론, 일단 봉입된 전자총은 불량 판정후에 그 교정이 불가능하기 때문에 전자총의 불량을 해당 공정에서 검사하여 선별해 내는 것이 품질관리면에서 대단히 경제적인 것으로 된다.The multi-electron gun has apertures corresponding to R, G, and B for each of the plurality of electrodes arranged at regular intervals by the bead glider. When the color cathode ray tube is sealed to form a colored cathode ray tube, the defective rate of the finally obtained product is increased, and since the electron gun once enclosed cannot be corrected after the defect is determined, it is necessary to inspect and sort out the defect of the electron gun in the corresponding process. It is very economical in terms of management.

전자총을 조립함에 있어서, 외부관찰을 통해 육안으로 발견할 수 있는 불량은 전극간의 전기적 쇼트 가능성 여부, 이물존재, 비이드글라스 파손여부등이고, 전용의 검사장치를 이용하여 찾아낼 수 있는 불량은 각 전극에 뚫려 있는 어퍼쳐의 동심도 및 간격치수 그리고 전극 배열방향의 비틀림 등과 같이 주로 다수의 전극 배열에 관련된 사항이다.In assembling the electron gun, the defects that can be found with the naked eye through external observation are the possibility of electrical short between the electrodes, the presence of foreign objects, the bead glass breakage, and the like. This is mainly related to a large number of electrode arrays such as concentricity and spacing of the apertures and torsion in the electrode array direction.

전극의 배열에 관련된 불량으로서, 어퍼쳐의 동심도는 전자비임의 집속을 통한 화소형태에 직접적인 영향을 주는 것이고, 또 어퍼쳐의 간격치수는 특히 다수 전극 중에서 캐소오드에 가장 가깝게 인접되는 제어전극과 스크린전극의 그것의 불량할 경우에 캐소오드로 부터 방출되는 열전자의 수집과 가족효과가 좋지 않게 되어 화면의 밝기가 열화되는 원인으로 된다.As a defect related to the arrangement of the electrodes, the concentricity of the aperture directly affects the pixel shape through the focusing of the electron beam, and the aperture dimension of the aperture is particularly closest to the cathode and the screen among the many electrodes. In the case of the poor of the electrode, the collection and family effect of the hot electrons emitted from the cathode becomes poor, which causes the brightness of the screen to deteriorate.

종래에 사용되고 있는 전극 어퍼쳐 간격 측정장치는 제2도에 도시한 바와 같이 전자총조립체(G)가 장착하는 지그(J)의 상측방에 프레임(F)을 가설하고, 이 프레임(F)에 수직으로 고정 부착된 3개의 부싱(S)을 통해 각각 0.61㎜의 프로브(P)를 탄발스프링(E)와 함께 상하로 슬라이드 가능하게 배열하여 이들 프로브(P)가 항상 상향 위치되게 함과 아울러 전기한 프로브(P)는 인접하는 간격(a)(b)이 6.6±0.005㎜의 공차를 이루게 설정시킨 구조로 되어 있다.In the conventional electrode aperture gap measuring apparatus, as shown in FIG. 2, a frame F is installed on the upper side of the jig J to which the electron gun assembly G is mounted, and is perpendicular to the frame F. The probes of 0.61 mm are slidably arranged up and down with the carbon springs E through three bushings S fixedly attached to each other so that these probes P are always positioned upward and The probe P has a structure in which adjacent intervals a and b are set to have a tolerance of 6.6 ± 0.005 mm.

한편, 지그(J) 상에 장착된 전자총조립체(G)는 아직 캐소오드가 부착되지 않은 상태이므로 측정자에 의해 내리 눌려지는 각 프로브(P)는 제어전극(G1)과 스크린전극(G2)의 어퍼쳐를 관통하게 되는 것이며, 이 과정에서 각 전극(G1), (G2)의 간격(a'), (b')이 프로브(P)의 간격(a), (b)과 같지 않으면 프로브(P)에 저항감이 생기게 되어 그 양부를 감지할 수 있게 되는 것이다.On the other hand, since the electron gun assembly G mounted on the jig J is not yet attached with a cathode, each probe P pressed down by the measurer is upper of the control electrode G1 and the screen electrode G2. If the distances (a ') and (b') of the electrodes (G1) and (G2) are not equal to the distances (a) and (b) of the probe P in this process, the probe P ) Will create a sense of resistance that will be able to detect the good or bad.

그런데 상술한 구조의 측정장치는 제어전극과 스크린전극의 어퍼쳐 간격을 비교적 정밀하고 간편한 방식으로 측정 검사할 수 있는 장점을 갖추고는 있지만 각 프로브(P)를 일거에 조작할 수 없기 때문에 검사시간이 비교적 길어지는 단점이 있다.By the way, the measuring device of the above-mentioned structure has the advantage of measuring and inspecting the aperture gap between the control electrode and the screen electrode in a relatively precise and simple manner, but the inspection time is not available because each probe P cannot be manipulated at once. It has a relatively long disadvantage.

상기 목적에 따라 본 고안은 전자총조립체가 장착되는 지그의 상측방에서 프레임에 관통 지지된 다수의 프로브를 전기한 전자총조립체의 제어전극이 보유하는 어퍼쳐로 하강 관통시켜서 그 어퍼쳐의 인접간격을 측정하는 장치에 있어서, 전기한 프레임의 일측에 형성된 브라케트로 푸시로드의 고정단을 회동 가능하게 지지시킴과 아울러 그 중간부에 각 프로브의 상단부를 각각 등간격으로 요동 가능하게 연결 현수시킨 구성으로 되어 있음을 특징으로 한다.In accordance with the above object, the present invention measures the adjacent distance of the aperture by descending the plurality of probes supported by the frame in the upper side of the jig in which the electron gun assembly is mounted, down to the aperture held by the control electrode of the electron gun assembly. In the apparatus, the bracket is formed on one side of the above frame to support the fixed end of the push rod to be rotatable, and the upper end of each probe in the middle of the probe is connected to each other so as to swing at equal intervals. It is characterized by the presence.

이한 본 고안의 바람직한 실시예를 첨부도면에 따라 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제1도에 도시한 바와 같이, 본 고안은 전자총조립체(G)가 장착되는 지그(1)의 상측방으로 프레임(2)이 위치되어 있고, 이 프레임(2)은 일측에 브라케트(2)를 보유하고 있다.As shown in FIG. 1, in the present invention, the frame 2 is positioned above the jig 1 on which the electron gun assembly G is mounted, and the frame 2 is bracketed on one side. Holds.

브라케트(3)에는 힌지축(4)이 관통 설치되어서 프레임(2)의 상측을 가로질러 설치되는 푸시로드(5)의 고정단을 회동 가능하게 지지시키고 있다.The bracket 3 is provided with a hinge shaft 4 so as to pivotably support the fixed end of the push rod 5 provided across the upper side of the frame 2.

한편, 푸시로드(5)의 자유단은 상기한 브라케트(3)의 대향측에 형성된 홈(6)에 의해 그 하향위치가 제약을 받아 되어 있으며, 또 푸시로드(5)의 중간부에는 프로브(7), (8), (9)를 내리 눌러 주기 위한 링크(7a), (8a), (9a)의 상단부가 각각 핀(7b), (8b), (9b)에 의해 요동 가능하게 또한 등간격으로 연결되어 있다.On the other hand, the free end of the push rod 5 is restricted in the downward position by the groove 6 formed on the opposite side of the bracket 3, and the probe in the middle of the push rod 5 The upper ends of the links 7a, 8a and 9a for pushing down the 7, 8 and 9 are also swingable by the pins 7b, 8b and 9b, respectively. It is connected at equal intervals.

또한, 프로브(7), (8), (9)는 프레임(2)에 고정 부착된 부싱(10)을 관통하여 상하로 슬라이드하게 되는 것이며, 또 부싱(10)의 내부에 수납된 탄발스프링(11)은 각 프로브(7), (8), (9)가 항상 상방으로 위치하고 있도록 탄발력을 가해 주게 된다.Further, the probes 7, 8, and 9 slide through the bushing 10 fixedly attached to the frame 2 and slide up and down, and the ball springs stored inside the bushing 10 ( 11) exerts a repulsive force so that each probe (7), (8), (9) is always located upward.

이와 같이 구성된 본 고안 장치에 있어서 프로브(7), (8), (9)의 간격(a), (b)이 허용오차 이내의 값으로 설정되어서 이들이 각각 하향 슬라이드되어 제어전극(G1)과 스크린전극(G2)의 어퍼쳐를 관통하게 되는 과정을 통하여 전자총조립체(G)의 전극 어퍼쳐 간격 불량여부를 판정함은 종래와 동일하게 행해진다.In the device of the present invention configured as described above, the intervals a and b of the probes 7, 8, and 9 are set to values within the tolerances, and they are respectively slid downward so that the control electrode G1 and the screen It is performed in the same manner as in the prior art to determine whether the electrode aperture spacing of the electron gun assembly G is poor by passing through the aperture of the electrode G2.

그러나 본 고안은 측정에 있어서 측정자가 푸시로드(5)를 내리 누를 때 3개의 링크(7a), (8ba), (9a)가 배열순서대로 순차 연동하여 해당 프로브(7), (8), (9)를 내리 누름에 따라 이들은 차례로 제어전극(G1)의 어퍼쳐를 관통하게 되므로 그 조작은 종래의 측정장치 보다 훨씬 간단하고 신속하게 할 수 있다.However, in the present invention, when the pusher pushes the push rod 5 in the measurement, the three links 7a, 8ba, and 9a are sequentially interlocked in the order of the corresponding probes 7, 8, and ( 9) As they are pushed down, they in turn penetrate through the aperture of the control electrode G1, so that the operation can be made much simpler and faster than the conventional measuring apparatus.

또한, 조작중에 선회하는 푸시로드(5)의 하강력을 링크(7a), (8a), (9a)를 개재하여 프로브(7)(8)(9)로 가해지기 때문에 이들간의 오차로 인한 프로브(7), (8), (9)의 위치변동문제도 생기지 않게 한 것이므로 측정의 정밀도를 보장받을 수 있다.In addition, since the lowering force of the push rod 5 turning during operation is applied to the probes 7, 8, and 9 via the links 7a, 8a, and 9a, the probe due to the error therebetween. Since the positional shift problem of (7), (8) and (9) is not caused, the accuracy of the measurement can be guaranteed.

그러므로 본 고안은 측정의 정밀도를 손상하지 않으면서도 작업성을 종래보다 월등히 향상시켜 주는 이점이 있으며, 보다 구체적으로는 종래에 전자총의 전극 어퍼쳐 간격을 측정함에 소요되는 시간을 대략 ⅓로 단축시킬 수 있는 것이다.Therefore, the present invention has the advantage of significantly improving workability without compromising the accuracy of the measurement, and more specifically, the time required for measuring the electrode aperture interval of the electron gun can be shortened to approximately ⅓. It is.

이와 같이 측정이 간편 신속화함에 따라 결과적으로 전자총의 생산성도 향상시킬 수 있게 되는 것이다.As such, the measurement is simple and quick, and as a result, the productivity of the electron gun can be improved.

Claims

An apparatus for measuring the adjacent distance between the apertures by passing down a plurality of probes supported through the frame in the upper side of the jig in which the electron gun assembly is mounted, down to an aperture held by the control electrode of the electron gun assembly. The bracket 3 formed on one side of the frame 2 supports the fixed end of the push rod 5 so as to be rotatable, and the link 7a, 8a, 9a is interposed in the middle thereof. An interval measuring device for measuring the electrode aperture of an electron gun, wherein the upper ends of the probes (7) (8) (9) are configured to be interlocked.