KR950000308Y1 - Mash electrode check device of crt - Google Patents
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Abstract
내용 없음.No content.
Description
제1도는 정전편향형 음극선관을 나타낸 개략도이다.1 is a schematic diagram showing an electrostatic deflection cathode ray tube.
제2도는 메쉬전극을 나타낸다.2 shows a mesh electrode.
제3도는 본 고안 메쉬전극 검사장치를 개략적으로 나타낸다.3 schematically shows the mesh electrode inspection device of the present invention.
제4도는 본 고안 검사장치를 설명하기 위한 개략도이다.4 is a schematic view for explaining the test device of the present invention.
제5도는 본 고안 검사장치에 있어서 회전판에 메쉬전극을 투입하는 상태를 개략적으로 나타낸다.Figure 5 schematically shows a state in which the mesh electrode is injected into the rotating plate in the inspection device of the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1 : 베이스 2, 2' : 안내봉1: base 2, 2 ': guide rod
3 : 지지대 4 : 플레이트3: support 4: plate
5 : 메쉬전극 8 : 회전판5 mesh electrode 8 rotating plate
본 고안은 정전편향형 음극선관에 사용되는 메쉬전극을 검사하기 위한 검사장치에 관한 것으로서, 더 상세하게는 구형 메쉬전극의 만곡부가 비정상적으로 형성된 메쉬전극을 골라내기 위한 메쉬전극 검사장치에 관한 것이며, 특히 저렴하고, 사용이 간편하여 검사시간을 대폭 감축시킬 수 있도록 그 구조가 개량된 메쉬전극 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus for inspecting a mesh electrode used in an electrostatic deflection cathode ray tube, and more particularly, to a mesh electrode inspection apparatus for selecting a mesh electrode in which a curved portion of a spherical mesh electrode is abnormally formed. In particular, the present invention relates to a mesh electrode inspection apparatus whose structure is improved so that the inspection time can be greatly reduced because it is inexpensive and easy to use.
제1도는 통상적인 정전편향형 음극선관(10)을 나타낸다. 이는 네크부(9)에 내장된 X 및 Y 편향전극(1X), (1y)을 포함하는 전자총(7)과, 상기 편향전극(1x), (1y) 앞쪽에 배치되고 X편향전극 (1x)의 전극과 대략 동일한 전위로 하는 것에 의하여 펀넬부(11) 내부에 형성된 전계의 영향이 편향전극에 미치지 않도록 하여 전자빔의 편향확대를 행하도록 한 메쉬전극(5)을 포함하여 구성된 것이다. 여기서 상기 메쉬전극(5)은 제2도에 도시된 바와 같이 X축 및 Y축 방향의 어느 축방향에 대하여서도 균일한 정전계를 형성할 수 있도록 구면형상의 만곡부(5a)를 갖도록 형성된다. 이러한 구면형상 메쉬전극(5)의 만곡부(5a)에 제조과정중 요홈등의 매끄럽지 못한 부분이 형성되면 전자빔이 비산되는 등 화질에 영향을 미치게 된다.1 shows a conventional electrostatically deflected cathode ray tube 10. The electron gun 7 includes X and Y deflection electrodes 1X and 1y embedded in the neck 9, and is disposed in front of the deflection electrodes 1x and 1y and is disposed in front of the X deflection electrodes 1x. The mesh electrode 5 is configured to increase the deflection of the electron beam by preventing the influence of the electric field formed inside the funnel portion 11 from reaching the deflection electrode by setting the electric potential substantially equal to the electrode of. Here, the mesh electrode 5 is formed to have a spherical curved portion 5a so as to form a uniform electrostatic field in any of the axial directions in the X-axis and Y-axis directions as shown in FIG. If a non-smooth portion such as a groove is formed in the curved portion 5a of the spherical mesh electrode 5, the electron beam is scattered, which affects the image quality.
종래 이러한 불량의 메쉬전극(5)을 검출해 내기 위해서 고배율의 렌즈를 사용하였다. 그러나 렌즈를 사용할시에는 메쉬전극(5)의 각 부분을 일일이 관측하여야 하므로 검사시간이 길어지게 될 뿐만 아니라 렌즈가 고가인 문제점이 있다.Conventionally, a high magnification lens is used to detect such a poor mesh electrode 5. However, when using the lens, each part of the mesh electrode (5) must be observed one by one, so the inspection time becomes long and there is a problem that the lens is expensive.
본 고안의 목적은 상기의 문제점을 해결한 메쉬전극 검사장치를 제공하는데 있는 것으로써, 특히 저렴하고 사용이 간편하여 검사시간을 대폭 줄일 수 있도록 한 메쉬전극 검사장치를 제공하는데 있는 것이다.It is an object of the present invention to provide a mesh electrode inspection apparatus that solves the above problems, and in particular, to provide a mesh electrode inspection apparatus that can significantly reduce the inspection time because it is inexpensive and easy to use.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 고안은 구면형상 메쉬전극의 만곡도를 검사하기 위한 음극선관의 메쉬전극 검사장치에 있어서, 메쉬전극이 안착되는 베이스와, 상기 베이스에 고정설치되는 안내봉과, 상기 메쉬전극 만곡부의 곡률에 따르는 지지면을 가지는 플레이트와, 상기 플레이트가 지지되며 상기 안내봉을 따라 이송 가능하게 설치되는 지지대와, 상기 메쉬전극을 회전시키는 회전수단이 구비되어 된 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a mesh electrode inspection apparatus of a cathode ray tube for inspecting curvature of a spherical mesh electrode, a base on which a mesh electrode is seated, a guide rod fixed to the base, and a curved portion of the mesh electrode. A plate having a support surface according to the curvature of the support, the plate is supported and installed to be transported along the guide rod, characterized in that it is provided with a rotating means for rotating the mesh electrode.
본 고안에 의하면, 상기 플레이트의 지지면을 메쉬전극 만곡부에 접하도록 하면 플레이트와 만곡부간의 간격 차이를 검사자가 한번에 검사할 수 있으므로 검사시간을 대폭 줄일 수 있으며 그 장치 또한 저가로 설치할 수 있다.According to the present invention, when the support surface of the plate is in contact with the curved portion of the mesh electrode, the inspector can inspect the gap between the plate and the curved portion at one time, thereby greatly reducing the inspection time and the device can be installed at low cost.
이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 고안에 따른 바람직한 일 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
제3도는 본 고안에 따른 음극선관 메쉬전극 검사장치를 개략적으로 나타낸 것이다.3 schematically shows a cathode ray tube mesh electrode inspection apparatus according to the present invention.
이는 메쉬전극(5)이 안착되는 베이스(1)와, 상기 베이스(1)의 가장자리에 설치되는 수직안내봉(2), (2')과, 상기 메쉬전극 만곡부(5a)의 소정구간 곡률에 따르는 지지면(4a)을 가지는 복수의 플레이트(4)와, 상기 플레이트(4)가 지지되며 상기 수직안내봉(2), (2')을 따라 상하 이동가능하게 설치되는 지지대(3)가 포함되어 구성된 것이다. 여기서 상기 메쉬전극(5)이 안착되는 베이스(1)에는 회전판(8)을 설치하여 메쉬전극(5)을 회전시키면서 검사할 수 있도록 하였다.This is based on the curvature of the base 1 on which the mesh electrode 5 is seated, the vertical guide rods 2 and 2 'installed at the edge of the base 1, and the curved portion of the mesh electrode curved portion 5a. A plurality of plates (4) having a supporting surface (4a) and a support (3) is supported, the plate (4) is supported and installed to move up and down along the vertical guide rods (2, 2 ') It is composed. Here, the rotating plate 8 is installed on the base 1 on which the mesh electrode 5 is seated so that the mesh electrode 5 can be inspected while rotating the mesh electrode 5.
한편, 상기 플레이트(4)는 제4도에 도시된 바와같이, 상기 메쉬전극 만곡부 (5a)의 전구간(반원호)곡률을 따르는 지지면(4a)을 갖도록 하나의 플레이트(4')로 구성할 수도 있다. 미설명부호 6, 6'는 상기 지지대(3)의 설치높이를 조절하여 고정시키는 스토퍼이다.Meanwhile, as shown in FIG. 4, the plate 4 may be configured as one plate 4 'such that the plate 4 has a supporting surface 4a that conforms to the whole (semicircular) curvature of the mesh electrode curved portion 5a. It may be. Reference numeral 6, 6 'is a stopper for fixing by adjusting the installation height of the support (3).
이러한 구성의 본 고안에 따른 메쉬전극 검사장치를 사용할시에는 먼저 상기 메쉬전극(5)을 제5도에 도시된 바와같이 회전판(8)에 슬라이딩 안착시키고, 상기 플레이트의 지지면(4a)이 상기 메쉬전극(5)의 만곡부(5a)에 접하도록 상기 수직안내봉(2), (2')에 지지대(3)를 고정시킨 다음, 상기 회전판(8)을 회전시키면서 메쉬전극(5)의 만곡부(5a)와 상기 플레이트의 지지면(4a) 사이의 틈새를 검사자가 관측하여 불량의 메쉬전극(5)을 검출해 낸다. 이때 상기 플레이트의 지지면(4a)은 상기 메쉬전극(5)의 만곡부(5a)와 동일 곡률을 가짐으로 만곡부(5a)와 지지면(4a) 사이의 간격차이로 쉽게 검출할 수 있게 된다.When using the mesh electrode inspection device according to the present invention of this configuration, first the mesh electrode (5) is seated on the rotating plate (8) as shown in Figure 5, the support surface (4a) of the plate The support 3 is fixed to the vertical guide rods 2 and 2 'to contact the curved portion 5a of the mesh electrode 5, and then the curved portion of the mesh electrode 5 is rotated while the rotating plate 8 is rotated. The inspector observes the gap between 5a and the support surface 4a of the plate and detects the defective mesh electrode 5. At this time, the support surface 4a of the plate has the same curvature as the curved portion 5a of the mesh electrode 5, so that the support surface 4a can be easily detected by the gap difference between the curved portion 5a and the support surface 4a.
이상에서 설명한 바와같이 본 고안에 따른 음극선관 메쉬전극 검사장치는, 종래 검사기구였던 렌즈보다는 저렴하게 구성할 수 있으며 또한 종래 렌즈를 사용함으로써 검사폭이 좁아 검사시간이 길었던 것과는 달리 메쉬전극(5)을 회전시키면서 메쉬전극의 반원호에 해당하는 폭을 한눈에 관측할 수 있으므로 검사기간을 대폭 줄일 수 있게 된다.As described above, the cathode ray tube mesh electrode inspection apparatus according to the present invention can be configured at a lower cost than the lens used in the conventional inspection mechanism, and also, the inspection width is narrowed by using the conventional lens, so that the inspection time is long. By rotating, the width corresponding to the half-circle arc of the mesh electrode can be observed at a glance, thereby greatly reducing the inspection period.
상술한 바와같이 본 고안의 음극선관 메쉬전극 검사장치는 저렴하게 구성할 수 있으며 검사시간을 대폭 줄일 수 있으므로 생산성 향상 및 생산능률에 효과적인 고안인 것이다.As described above, the cathode ray tube mesh electrode inspection device of the present invention can be inexpensively configured and can significantly reduce the inspection time, thereby effectively improving the productivity and production efficiency.
Claims (2)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR92007117U KR950000308Y1 (en) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | Mash electrode check device of crt |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR92007117U KR950000308Y1 (en) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | Mash electrode check device of crt |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR930024351U KR930024351U (en) | 1993-11-27 |
| KR950000308Y1 true KR950000308Y1 (en) | 1995-01-16 |
Family
ID=19332362
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR92007117U KR950000308Y1 (en) | 1992-04-28 | 1992-04-28 | Mash electrode check device of crt |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR950000308Y1 (en) |
-
1992
- 1992-04-28 KR KR92007117U patent/KR950000308Y1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR930024351U (en) | 1993-11-27 |
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