KR950010673Y1 - B/w electron gun mount alignment tester - Google Patents

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KR950010673Y1
KR950010673Y1 KR92027413U KR920027413U KR950010673Y1 KR 950010673 Y1 KR950010673 Y1 KR 950010673Y1 KR 92027413 U KR92027413 U KR 92027413U KR 920027413 U KR920027413 U KR 920027413U KR 950010673 Y1 KR950010673 Y1 KR 950010673Y1
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Abstract

내용 없음.No content.

Description

흑백 마운트 매립도 측정장치Black and white mount landfill

제1도는 본 고안 측정장치의 외관 사시도.1 is an external perspective view of the measuring device of the present invention.

제2도는 흑백 마운트가 삽입된 본 고안 장치 측면도.Figure 2 is a side view of the subject innovation device, the black and white mount is inserted.

제3도는 그 평면도이다.3 is a plan view thereof.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

2 : 기준 포스트(refernce post) 4 : 마운트 지지핀(mount support pin)2: reference post 4: mount support pin

5 : 스프링 안내면(spring guide face) B1,B2: 비이드 글래스(bead glass)5: Spring guide face B 1 , B 2 : Bead glass

M : 흑백(전자총)마운트M: Black-and-white (electron gun) mount

본 고안은 흑백 브라운관 제조에 관한 것으로 더 상세히는 전자총 마운트(電子銃 mount)의 매립도(埋立度)측정장치에 관한 것이다.The present invention relates to the production of black and white CRTs, and more particularly, to an embedding measurement device of an electron gun mount.

전자총 마운트를 구성하는 각 구성전극은 비이드 글래스(bead glass)라 불리우는 일종의 유리막대에 의해 융착되어 고정된다.Each component electrode constituting the electron gun mount is fused and fixed by a kind of glass rod called bead glass.

이를 위해 각 구성전극의 양측에는 매립편(stud pin)이 부착되어 있어서, 지그(jig)상에 각 구성전극을 소정의 스페이서(spacer)와 함께 배열시킨뒤 양측에서 가열연화(加熱軟化)된 두 비이드 글래스를 압착시키면 매립편이 비이드 글래스에 진입 및 융착되어 전자총 마운크를 구성하게 되는 것이다.For this purpose, a stud pin is attached to both sides of each component electrode, so that each component electrode is arranged on a jig together with a predetermined spacer and heat-softened on both sides. When the bead glass is pressed, the buried piece enters and fuses the bead glass to form an electron gun mount.

이러한 비이드 글래스의 비딩(beading)은 전자총 마운트의 품위를 결정하는 핵심적인 과정인바, 각 구성전극의 매립상태에 편차가 발생되면 전자총 마운트가 틸트(tilt)되어 전자빔의 방사중심이 편이하게 되는 문제가 발생된다. 이에 따라 이러한 매립편차를 판단하는 척도로서 "매립도"를 사용할 수 있는바, 매립도는 전자총 중심으로 부터 양 비이드 글래스 외단까지의 거리간의 차이의 절대값이며, 이 매립도가 "0"인 것이 가장 이상적인 상태이다.The beading of the bead glass is a key process for determining the quality of the electron gun mount. If a deviation occurs in the buried state of each component electrode, the electron gun mount is tilted and the radiation center of the electron beam is shifted. Is generated. Accordingly, the "filling degree" can be used as a measure of determining the landfill deviation, which is the absolute value of the difference between the distances from the center of the electron gun to both bead glass ends. Is the ideal state.

그런데 흑백용 전자총 마운트(이하 흑백 마운트로 약칭함)는 전자빔이 통과되는 통과구멍(aper ture hole)이 하나뿐이므로 이 매립도의 정확한 측정이 매우 곤란하다. 즉 전자빔 통과구멍이 세개인 인라인(in-line)형 칼라 브라운관의 경우에는 세 전자빔 통과구멍에 지그를 세팅(setting)하는 것만으로 비이드 글래스 외면과의 수직이 자동적으로 보장되므로 측정에 곤란이 없으나, 흑백 마운트는 그러하지 못하다. 따라서 종래에는 흑백 마운트의 직선성(straight-ness)을 시감검사(視感檢査)로 판별하였을뿐 매립도등 정략적(定量的)검사는 행하지 못하여 그 품질관리에 많은 문제점이 있었으며, 결과적으로 완성된 브라운관의 화질이나 신뢰성을 확보하지 못하고 있었다.However, the black and white electron gun mount (hereinafter, abbreviated as black and white mount) has only one aperture hole through which the electron beam passes, so it is very difficult to accurately measure the embedding degree. In the case of an in-line type CRT tube with three electron beam through holes, it is not difficult to measure because vertical alignment with the outer surface of the bead glass is automatically guaranteed by simply setting the jig in the three electron beam through holes. Black and white mounts don't. Therefore, conventionally, the straight-ness of the black and white mount was determined by visual inspection, but there were many problems in the quality control due to the lack of quantitative inspection such as landfill. The picture quality and reliability of CRT were not secured.

이러한 종래의 문제점을 감안하여 본 고안의 목적은 흑백전자총 마운트의 매립도를 간편하고도 정확하게 측정할수 있는 측정장치를 제공하는 것이다.In view of these conventional problems, an object of the present invention is to provide a measuring device that can easily and accurately measure the embedding degree of a black and white electron gun mount.

이와같은 목적을 달성하기 위해 본 고안에 의한 매립도 측정장치는 수직의 기준 포스트(referance post)에 평행하는 마운트 지지핀을 설치하여 이에 흑백 마운트를 삽입시킴으로써 흑백 마운트를 기준 포스트와 평행하게 세팅하고,흑백 마운트의 두 지지스프링을 접촉 안내하는 안내면을 구비하여 비이드 글래스와 기준 포스트의 평행을 확보하게 되는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the landfill measuring apparatus according to the present invention sets the black and white mount in parallel with the reference post by installing a mount support pin parallel to the vertical reference post and inserting the black and white mount thereto. It is characterized by having a guide surface for guiding the two support springs of the black and white mount in contact with each other to ensure parallel between the bead glass and the reference post.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 고안의 한 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제1도에서, 본 고안 측정장치는 수평으로 연장되는 베드(bed : 3)와 이로부터 수직상방으로 연장되는 기준포스트(2)를 구비하여 대략 L자형으로 구성되는 측정블록(1)을 구비한다. 베드(3)의 대략 중앙부에는 기준 포스트(2)와 마운트 지지핀(mount support pin : 4)이 상방으로 연장되고, 마운트 지지핀(4)양측의 베드(3)부분은 베드(3)의 축선과 평행하메 인입절삭(引入切削)되어 그 내측에 스프링 안내면(spring guide face : 5)이 형성되어 있다.In FIG. 1, the measuring device of the present invention includes a measuring block 1 which is formed in an approximately L shape with a bed 3 extending horizontally and a reference post 2 extending vertically therefrom. . A reference post 2 and a mount support pin 4 extend upwardly in the center of the bed 3, and the bed 3 portion on both sides of the mount support pin 4 is the axis of the bed 3; It is parallel to the cutting edge, and a spring guide face 5 is formed inside.

마운트 지지핀(4)은 흑백 마운트의 전자빔 관통구멍에 삽입되어 이를 지지하기 위한 것으로 그 길이 및 직경 그리고 형태등은 측정될 흑백 마운트의 구성전극들의 전자빔 관통구멍의 상호관계에 따라 변화된다. 도시된 실시예에서 마운트 지지핀(4)은 컵(cup)형의 최종전극에 삽입되어 이를 지지하는 대경부(大徑部 : 4a)와 나머지 구성전극의 전자빔 간통구멍에 삽입될 소경부(4b)등으로 구성되어 있으나, 아는 단순한 예시일뿐 본 고안을 제한하는 것은 아니다. 한편 두 스프링 안내면(5)은 흑백 마운트의 최종전극에 접합되어 흑백 마운트를 브라운관 네트(neck)에 지지하는 두 지지스프링(support spring)이 접촉 안내되는 면이다.The mount support pin 4 is inserted into and supports the electron beam through hole of the black and white mount, and its length, diameter, and shape are changed depending on the correlation of the electron beam through holes of the constituent electrodes of the black and white mount to be measured. In the illustrated embodiment, the mount support pin 4 is inserted into the cup-shaped final electrode to support the large diameter portion 4a and the small diameter portion 4b to be inserted into the electron beam through hole of the remaining component electrodes. ), But it is merely an example of knowing, but not limiting the invention. On the other hand, the two spring guide surfaces 5 are joined to the final electrode of the black and white mount, and the two support springs for supporting the black and white mount to the CRT are contacted with each other.

이와같은 본 고안 측정장치로 흑백 마운트의 매립도를 측정하는 방법은 다음과 같다.The method of measuring the embedding degree of the black-and-white mount by the measuring device of this invention is as follows.

제2도에서 측정될 흑백 마운트(M)를 도립시켜 그 전자빔 통과구멍에 마운트 지지핀(4)이 삽입되도록 본 고안 측정장치에 삽입시킨다. 그러면 흑백 마운트(M)는 기준 포스트(2)와 평행한 마운트 지지핀(4)상에 지지되므로 그 중심축이 기준 포스트(2)와 평행하게 지지된 상태이다. 이때 최종전극(G)의 두 지지스프링(S)이 베드(3)의 축선에 평행한 스프링 안내면(5)에 접촉 안내되어, 흑백 마운트(M)의 두 비이드 글래스(B1, B2)도 기준 포스트(2)와 평행하게 세팅된다. 세팅이 완료되면 버니어캐리퍼스(vernier calipers)등의 측정구로 도면 좌측의 비이드 글래스(B1)의 외단과 기준 포스트(2)의 외단간의 거리(ℓ)를 측정한다.The black and white mount M to be measured in FIG. 2 is inverted and inserted into the measuring device of the present invention so that the mount support pin 4 is inserted into the electron beam passing hole. The black-and-white mount M is then supported on the mount support pin 4 parallel to the reference post 2 so that its central axis is supported in parallel with the reference post 2. At this time, the two support springs S of the final electrode G are guided in contact with the spring guide surface 5 parallel to the axis of the bed 3, so that the two bead glasses B 1 and B 2 of the black-and-white mount M It is also set parallel to the reference post 2. When the setting is completed, the distance? Between the outer end of the bead glass B 1 on the left side of the drawing and the outer end of the reference post 2 is measured with a measuring instrument such as a vernier calipers.

이 측정과정의 원리와 방법은 제3도에 잘 도시되어 있다. 제3도에서 측정될 흑백 마운트(M)의 매립도는 그 중심축으로부터 양 비이드 글래스(B1,B2)외단과의 거리(d1,d2)의 차이의 절대값, 즉(d1,d2)이다. 이때 측정구로 측정되는 거리(ℓ)는 흑백 마운트(M)를 도시된 측정한 거리(ℓ1)와 이를 180°회전시켜 다른 비이드 글래스(B2)간에 측정한 거리(ℓ2)가 된다. 이때 흑백 마운트(M)중심축과 기준 포스트(2)외 단간의 거리(ℓ0)는 마운트 지지핀(4)과 기준 포스트(2)외단간의 거리로서 기지(旣知)이다. 그러면 d1=ℓ1-ℓ0, d2=ℓ2-ℓ0의 관계를 갖게 된다.The principle and method of this measurement process is well illustrated in FIG. The embedding degree of the black-and-white mount M to be measured in FIG. 3 is the absolute value of the difference of the distances d 1 and d 2 from the outer edges of both bead glasses B 1 and B 2 from their central axis, that is, (d 1 , d 2 ). At this time, the distance (ℓ) that is measured sphere measurement by and rotate it 180 ° the measured distance (ℓ 1) shows a black and white mount (M) is a distance (ℓ 2) measured between the other bead glass (B 2). At this time, the distance (l 0 ) between the center of the black and white mount (M) and the outside of the reference post 2 is known as the distance between the mount support pin 4 and the outside of the reference post 2. Then d 1 = ℓ 1 -ℓ 0 and d 2 = ℓ 2 -ℓ 0 .

그러므로 |d1-d2|=|(ℓ1-ℓ0)-(ℓ2-ℓ0)=|ℓ1-ℓ2|가 된다.Therefore, | d 1 -d 2 | = | (ℓ 1 -ℓ 0 )-(ℓ 2 -ℓ 0 ) = | ℓ 1 -ℓ 2 |

이에따라 흑백 마운트(M)를 마운트 지지핀(4)상에서 180°회전시키며 2회 측정한 외단간 거리(ℓ1, ℓ2)의 차이의 절대값(|ℓ1-ℓ2|)이 바로 이 흑백 마운트(M)의 매립도가 된다.Accordingly, the black and white mount (M) is rotated 180 ° on the mount support pin (4) and the absolute value (| ℓ 1 -ℓ 2 |) of the difference between the distances (l 1 , ℓ 2 ) measured twice is this monochrome. The embedding degree of the mount M is shown.

이상과 같이 본 고안에 의하면 흑백 마운트(M)를 마운트 지지핀(4)에 삽입시키는 조작만으로 측정을 위한 이상과 같이 본 고안에 의하면 흑백 마운트(M)를 마운트 지지핀(4)에 삽입시키는 조작만으로 측정을 위한 세팅이 완료되고 2회의 외단 측정으로 즉시 그 매립도를 파악할 수 있게 된다. 그러므로 다량의 흑백 마운트(M)의 매립도를 신속정확하게 파악할수 있게 되어 흑백 마운트(M)의 정량적이고 통계적인 과학적 품질관리가 가능해진다.As described above, according to the present invention, only the operation for inserting the black and white mount (M) into the mount support pin (4). Only the setting for the measurement is completed, and the landfill can be immediately identified by two external measurements. Therefore, it is possible to quickly and accurately grasp the embedding degree of a large number of black and white mounts (M) to enable quantitative and statistical scientific quality control of the black and white mounts (M).

따라서 본 고안은 흑백 브라운관의 품질 향상과 신뢰성 확보에 큰 효과가 있다.Therefore, the present invention has a great effect in improving the quality and reliability of the CRT.

Claims (1)

수평으로 연장되는 베드(3)와, 상기 베드(3)로 부터 수직으로 연장되는 기준 포스트(2)를 구비하는 측정블록과, 상기 베드(3)로 부터 상기 기준포스트(2)와 평행하도록 수직으로 연장되며, 흑백 마운트(M)의 전자빔 통과구멍에 삽입되어 이를 지지하는 마운트 지지핀(4)과, 상기 마운트 지지핀(4)의 하단 양측의 상기 베드(3)부분이 그 축선에 평행하게 인입절삭되어 형성되며 상기 흑백 마운트(M)의 지지 스프링(S)이 접촉안내되는 스프링 지지핀(5)을 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 흑백 마운트 매립도 측정장치.A measuring block having a bed 3 extending horizontally, a reference post 2 extending vertically from the bed 3, and a vertical block parallel to the reference post 2 from the bed 3; Extending in the direction of the mount support pins 4 inserted into and supporting the electron beam through holes of the black and white mount M, and portions of the bed 3 on both sides of the lower ends of the mount support pins 4 in parallel with the axis thereof. Black and white mount embedding measurement device, characterized in that the cutting is formed by having a spring support pin (5) is formed to be contact guided to the support spring (S) of the black and white mount (M).
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