KR930005727B1 - 지폐류 식별장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
내용 없음.
Description
제1도 및 제2도는 본 발명의 지폐류 식별장치의 기능적 구성을 도시한 블럭도.
제3도는 각 기계마다 광학식 검지수단의 부품오차 및 조립 오차의 영향을 설명하기 위한 모식직인 지폐검지신호외 일예를 도시한 그래프
제4도는 제3도와 같은 기계에서 환경변화나 해가 바뀜에 따른 변화에 의한 광학식 검지수단의 출력오차의 영향을 설명하기 위한 모식적인 지폐검지신호의 일예를 도시한 그래프.
제5도는 본 발명을 적용한 지폐류 식별장치의 1실시예에서 기구부를 개략적으로 도시한 측면도.
제6도는 1실시예에서 제어부의 전기적 하드회로 구성예를 도시한 블럭도.
제7도 내지 제9도는 제6도의 마이크로컴퓨터부에 의해 실행되는 프로그램의 1실시예를 도시한 흐름도.
제10도 및 제11도는 제6도의 마이크로컴퓨터부에 의해 실행되는 프로그램의 다른 실시예를 도시한 흐름도.
제12도는 부품오차의 일예로서 각 발광소자의 발광범위 패턴의 볼균형한 예를 도시한 도면.
제13도는 조립오차의 일예로서 각 발광소자의 발광범위와 수광소자의 위치의 관계가 볼균형한 예를 도시한 도면.
제14도는 투과광 측정방식에서 수광소자 출력의 일예를 도시한 도면.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 광학식 검지수단 2 : 표준 레벨 데이타 제공수단
3 : 기준패턴 제공수단 4 : 피검사데이타 제공수단
5 : 판정수단 6 : 무지폐 레벨 데이타 제공수단
7 : 표준 레벨 데이타 수정수단 11 : 삽입검출용 광센서
12,13 : 특징검출용 광센서 21 : CPU
22 : 프로그램 ROM 23 : 데이타 및 워킹 RAM
27 : A/D콘버터 29 : 기준 패턴 메모리
30 : 라이트 가능한 리드 온리 메모리(EPROM)
본 발명은 지폐 또는 금권 또는 선물 카드등의 지폐류의 진위를 식별하는 지폐류 식별장치 및 이 지폐류 식별장치의 조합방법에 관한 것으로, 특히 광학식센서의 부품오차 또는 조립오차를 고려하여 정확한 식별, 조합을 실행할 수 있는 지폐류 식별장치 및 방법에 관한 것이다.
지폐류 식별장치에서 센서의 하나로써 발광소자와 수광소자를 구비한 광학식센서가 사용되어 있고, 예를들면 발광소자와 수광소자 사이로 지폐를 통하게 하고, 지폐면의 모양에 따른 투과광량을 검지하고, 이것에 따라서 지폐면의 모양패턴을 조합하여 진위를 판정하도록 하고 있다. 또, 투과광량에 한정되지 않고, 지폐면의 모양패턴에 따른 반사광량을 검지하는 것도 고려되어 있다. 이와 같은 광학식의 지폐식별장치 또는 방법의 종래예로서는 일본국 특허공고공보 소화 41-20245호, 실용신안공고 공보 소화 43-23522호, 특허공고공보 소화 53-39151호, 특허공개공보 소화 54-5496호, 특허 공개공보소화 60-61883호, 특허출원 소화 63-89276호등에 개시되어 있다.
일본국 특허공고공보 소화 41-20245호 및 실용신안공고 공보 소화 43-23522호에서는 지폐면의 모양패턴에 따른 수광신호와 소정의 기준패턴의 비교조합에 의해 식별하는 일반적인 기술이 개시되어 있다. 일본국 특허공고공보 소화 53-39151호, 특허공개공보 소화 54-5496호. 특허공개공보 소화 60-61883호, 특허출원 소화 63-89276호등에서는 발광소자나 수광소자의 해가 바뀜에 의한 변화 또는 온도특성에 의한 변화 또는 지폐의 오염등 측정조건의 변동에 의한 수광레벨의 변동에 대처하는 기술이 개시되어 있다
측정조건의 변동에 의한 수광레벨의 변동에 대처하기 위한 종래의 기술의 전형예는 대기상태(지폐가 투입되어 있지 않은 상태)에서의 수광신호레벨을 측정해 두고, 그 값을 기준으로 해서 지폐의 모양 패턴을 정규화하는 방법이다. 즉, 기준패턴 데이타를 대기상태에서 수광신호 레벨에 대한 모양 패턴 수광신호 레벨의 비의 형으로 미리 준비하고, 각 검사기회마다 대기상태에서 수광레벨(현재 대기상태 레벨)을 그때마다 측정하고, 이 검사기 회에서 측정한 투입 지폐의 모양 패턴에 따른 수광신호 레벨을 상기 현재대기상태 레벨에 대한 비로 환산하여 이것과 상기 기준패턴 데이타를 비교하는 것이다. 즉, 절대값인 수광신호레벨의 대기상태를 기준으로 한 상대값으로 환산하여 조합한다.
상술한 종래의 방법에 의하면 식별정밀도가 비교적 낮아도 되는 경우는 그다지 문제가 없지만, 정확히 식별하고자 하는 겅우에는 다음과 같은 문제가 발생한다. 예를 들면 광학식 식별수단 이외에 인쇄 잉크중의 자기성분을 검지하는 것에 의해 식별하는 자기식별수단을 병용하여 식별정밀도를 높이는 경우, 광학식 식별수단 그 자체에 의한 식별정밀도는 비교적 낮아도 되는 겅우가 있다. 그러나, 인쇄잉크중에 자기성분이 없는 경우는 광학식 식별수단에 의해 정확한 식별을 실행하는 이외에 식별 정밀도를 높이는 방법이 없으므로, 광학식 식별수단 그 자체에 의한 식별정밀도가 높은 것이 요구된다.
광학식 식별수단에 의한 식별정밀도의 분제는 광학식 센서의 부품오차 또는 조립오차에 기인하는 문제이다. 부품오차는 광학식 샌서의 부품으로서 사용하는 개별의 발광소자나 수광소자의 각 개체마다의 오차이다. 각 부품이 소정의 규격에 적합하도록 작성되어 있어도 규격내에서의 각 개체간의 오차가 있으므로 같은 입력전기 신호를 부여해도 발광량이 약간 다르고, 같은 수광량이라도 출력전기신호가 약간 다른 것이 있으며, 또 밭광소자의 발광범위의 패턴이 개체마다 다른 것이 있어, 이것을 부품오차라 한다. 조립오차는 광학식센서의 각 부품사이의 조립정밀도의 불균형이 있어, 발광소자의 발광범위와 수광소자의 위칙관계가 각각 다른 광학식 센서마다 그 조립시의 볼균형에 의해 각각 약간씩 다르다.
제12a, b, c도는 부품오차의 일예로써 각 발광소자마다 발광범위 패턴의 불균형한 예를 도시한 것으로써, (a)는 밝은 장소의 거의 중앙에 희미한 곳이 있는예, (b)는 밝은 장소의 거의 중앙에 희미한 곳이있지만 그 희미한 곳 중앙에 밝은장소가 있는 예, (c)는 밝은 장소의 중앙으로 부터 어느 정도 한쪽으로 치우쳐져 희미한 장소가 있는 예이다.
제13a, b도는 조립오차의 일예로써 발광소자의 발광범위 Ll, L2와 수광소자의 위치 R의 관계가 불균형한 예를 도시한 것이다. L1은 밝은 장소, L2는 희미한 장소이다. 제13c도는 발광범위 L1에 대한 조립오차는 거의 없지만, 발광범위 L1에 대하여 L2가 한쪽으로 치우쳐져 있으므로, 발광범위 L1, L2에 대하여 수광소자의 위치 R이 어긋나 있는 예를 도시하고 있다.
이와 같은 광학식 센서의 부품오차 및 조립오차는 수광소자의 출력신호 레벨에 대하여 영향을 부여한다. 특히 수광포화상태 또는 그 가까운 상태에서는 영향이 비교적 적지만, 지폐면의 모양에 따른 알맞은 정도의 수광상태에 있어서는 영향이 비교적 현저하게 된다.
제14도는 광투과방식에서 수광소자출력신호의 일예를 도시한 도면이다. 대기상태에서는 수광포화상태이고, 수광소자출력신호 레벨은 가장 높다. 광학식센서의 장소를 지폐가 통과하고 있을 때는 광이 차단되므로 수광소자 출력실호 레벨이 저하하고, 또 지폐면의 모양 패턴에 따른 수광소자 출력신호 레벨 변동이 나타난다. 이 지폐통과 시의 수광소자 출력신호 레벌 변동 패턴을 소정의 기준패턴과 비교 조합하는 것에 의해 투입된 지폐의 진위를 판정하는 것이다.
도면중, 실선 X는 기계의 수광소자 출력신호의 일예이고, 파선 Y는 동일지폐에 관한 다른 기계의 수광소자 출력신호의 일예이다. 각각의 기계의 광학식 센서에서 부품오차 및 조립오차에 의해 수광소자 출력신호 레벨이 다르게 되어 있다. 예를 들면, 대기상태에서 수광소자 출력신호 레벨은, 실선 X에서는 T10W이지만, 파선 Y에서는 T20w이다. 또 지페통과시의 수광소자 출력신호 레벨도 실선 X와 파선 Y에서는 다르게 되어 있다. 예를 들면, A점의 실선 X에서는 T10a이다.
대기상태에서 수광소자 출력신호 레벨에 대한 지폐통과시의 수광소자 출력신호 레벨의 비는 A점의 실선 X에서는 T10a/T10w이고, 파선 Y는 T20A/T20w이다. T10W와 T20W의 차 및 T10a와 T20A의 차이에 의해 각 비의 값은 다르게 된다. 따라서 공통의 기준패턴 데이타를 사용한 것으로는 정확한 식별을 실행할 수 없다는 문제점이 있다.
또, 각 기계마다 기준패턴 데이타의 값을 변경해도 정규화의 방법이 종래와 같은 대기상태에서 수광소자 출력신호 레벨에 대한 지폐통과시의 수광소자 출력신호레벨의 비를 구하는 방법에서는 한쪽이 포화값, 다른 쪽이 불포화값이며, 양자의 값이 차가 크므로 비의 값이 작게 되어 정밀도가 낮은 것 및 상술한 바와 같이 포화값에서는 부품오차나 조립오차의 영향을 받기 어렵지만, 볼포화값에서는 영향을 받기 쉬우므로, 부품오차나 조립오차의 영향에 있어서 정밀도가 낮게 되는 영향을 부여한다는 문제점이 있었다. 또, 센서의 오염이나 저하등에 의한 해가 바뀜에 따른 변화의 영향이 부품오차나 조립오차의 영향에 의한 포화값과 불포화 값의 차 또는 비에 대하여 영향을 부여하므로, 이것도 종래와 같은 방법에서는 식별정밀도를 높일 수 없는 이유였다.
본 발명의 목적은 상술한 문제점을 감안하여 이루어진 것으로, 광학식센서의 부품오차 또는 조립오차를 고려하여 정확한 식별, 조합을 할 수 있도록 한 지폐류 식별장치 및 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 광학식센서의 부품오차 또는 조립오차를 고려함과 동시에 지폐류의 오염, 훼손 또는 센서의 오염, 저하등에 의한 계측데이타의 변동에 관계없이 정확한 식별, 조합을 실행할 수 있도록 한 지폐류 식별장칙 및 방법을 제공하는 것이다.
본 발명에 관한 지폐류 식별장치는 투입된 지폐면에 대하여 광을 조사하고, 이것에 의해 이 지폐면의 모양에 대응하는 검지신호를 출력하는 검지수단, 특별한 모양이 없는 표준지폐의 투입에 응답해서 상기 검지 수단에 의해 출력된 검지신호에 따라 기준레벨 데이타를 구하고, 이 표준 레벨 데이타를 제공하는 표준 레벨 데이타 제공수단, 검사대상 지폐의 모양에 대응하는 소정의 기준패턴을 제공하는 기준패턴 제공수단, 지폐의 투입에 따라 상기 검지수단에서 출력된 검지신호를 상기 표준 레벨 데이타 제공수단에 의해 제공된 표준 레벨 데이타에 대한 비 또는 편차의 형으로 변환하여 피검사 데이타로서 제공하는 피검사데이타 제공수단, 상기 피검사 데이타 제공수단에 의해 제공된 피검사데이타와 상기 기준패턴 제공수단에서 제공된 상기 기준패턴을 조합하는 것에 의해 상기 투입된 지폐의 진위를 판정하는 판정수단을 구비한 것이다.
이것을 제1도에 도시하면, (1)은 검지수단, (2)는 표준 레벨 데이타 제공수단, (3)은 기준패턴 제공수단, (4)는 피검사 데이타 제공수단, (5)는 판정수단이다.
또, 본 발명에 관한 지폐류 식별장치는 상기에 부가하여 지폐가 투입되어 있지 않을 때의 상기 검지수단의 출력신호에 따라 무지폐 레벨 데이타를 제공하는 무지폐 레벨 데이타 제공수단, 상기 표준 레벨 데이타를 구했을 때와 같은 시기에 상기 무지폐 레벨 데이타 제공수단에 의해 제공된 상기 무지폐 레벨 데이타를 초기 무지폐 레벨 데이타로 해서 현재 단계에서 상기 무지폐 레벨 데이타 제공수단에 의해 제공된 상기 무지폐 레벨 데이타를 현재 무지폐 레벨 데이타로 하고. 이 현재 무지폐 레벨 데이타와 초기 무지폐 레벨 데이타의 차이에 따라 상기 표준 레벨 데이타를 수정하는 표준 레벨 데이타 수정수단을 또 구비한 것이다.
이것을 제2도에 도시하면, (6)은 무지폐 레벨 데이타 제공수단, (7)은 표준 레벨 데이타 수정수단이다.
본 발명에 관한 지폐류 식별장치에서 조합 방법은 특별한 모양이 없는 표준지폐를 투입하여 이 투입에 응답해서 상기 검지수단에 의해 출력되는 검지신호에 따라 표준 레벨 데이타를 구하는 제1의 스텝, 검사대상 지폐의 모양에 대응하는 소정의 기준패턴을 제공하는 제2의 스텝, 지폐의 투입에 따라 상기 검지수단에서 출력되는 검지신호를 상기 표준 레벨 데이타에 대한 비 또는 편차의 힘으로 변환하여 피검사 데이타로서 제공하는 제3의 스텝과 이 피검사 데이타와 상기 기준 패턴을 조합하여 진위를 판정하는 제4의 스텝을 구비한다.
본 발명에서는 특별한 모양이 없는 표준지폐를 사용하여 정규화를 위해 표준 레벨 데이타를 제공하도록 하고 있다. 그 때문에 표준 레벨 데이타 제공수단(2)가 마련되어 있다. 이 표준 레벨 데이타 제공수단(2)에 의해 표준 레벨 데이타를 제공하기 위해서는 표준지폐를 투입하여 이것에 응답해서 검지수단(1)에 의해 출력되는 피검사신호에 따라 표준 레벨 데이타를 구한다.
예를 들면, 투과광 방식의 경우, 표준지폐를 투입했을 때의 검지수단(1)의 수광레벨은 포화레벨보다 낮고, 피검사 지폐를 투입했을 때의 수광레벨에 가깝다. 제3도에서는 표준지폐에 대응하는 표준 레벨 T10p,T20p의 예를 도시하고 있다. T10p는 하나의 기계에 세트된 광학식 검지수단에 의해 검지된 표준지폐에 대응하는 표준 레벨의 일예이고, 이 기계에 세트된 광학식 검지수단에 의해 검지된 피검사 지폐의 모양패턴의 일예는 실선 X로 나타낸다. T20p는 다른 기계에 세트된 광학식 검지수단에 의해 검지된 동일 표준 지폐에 대응하는 표준 레벨의 일예이고, 이 기계에서 세트된 광학식 검지수단에 의해 검지된 피검사지폐의 모양패턴의 일예는 파선Y로 나타낸다. 제14도와 마찬가지로 T10W, T20W는 대기상태에서 광학식 검지수단의 출력신호 레벨(즉, 포화 레벨)의 일예이고, T10a, T20a는 피검사 지폐의 A점에서 광학식 검지수단의 출력신호 레벨의 일예이다.
기준패턴 제공수단(3)에서는 검사대상 지폐의 모양에 대응하는 소정의 기준패턴을 제공한다. 이 기준패턴은 절대값 레벨로 제공되는 것은 아니고, 표준 레벨데이타에 대한 비 또는 편차의 형으로 재공된다. 예를 들면 A점에서 검사 대상 지폐의 기준의 수광신호 레벨값을 T10a, 표준 레밸을 T10p'라 하면 A점에 대응하는 기준 패턴의 값은 T10a,'T10p'로 되는 비의 형으로 제공된다. 이것은 T10p', T10a,'와 같은 편차의 형이라도 좋다. 이렇게 해서 재공되는 기준패턴은 각 기계마다 개별로 설정한 것이라도 좋고, 공통이라도 좋다. 피검사데이타 제공수단(4)에서는 지폐의 투입에 따라 검지수단(1)에서 출력되는 검지신호를 표준 레밸 데이타에 대한 비 또는 편차의 형으로 변환하여 피검사테이타로서 제공한다. 예를 들면 상술한 기계의 경우, A점에서 피검사 대상지폐의 수광신호 레벨값 T10a에 관해서는 표준 레벨 T10p에 대한 T10a/T10p로 되는 비 또는 편차의 형으로 피검사데이타가 제공된다. 또, 상술한 다른 기계의 경우 A점에서 검사대상지폐의 수광신호 레벨값 T25에 관해서는 표준 레벨 T20p에 대한 T20a/T20p로 되는 비 또는 편차에 형으로 피검사데이타가 제공된다.
판정수단(5)에서는 피검사데이타 제공수단(4)에 의해 제공된 피검사데이타와 기준패턴 제공수단(3)에서 제공된 기준 페턴을 조합하는 것에 의해 투입된 지폐의 진위를 판정한다. 만약, 상술한 하나의 기계와 다른 기계에서 공통의 기준패턴을 사용하면 A점에 관해서 기준패턴의 값은T10a'/T10p'이고, 하나의 기계에서의 투입 지폐에 대한 A점의 측정값 즉, 피검사 데이타가 T20a/T20p인 것으로 하면, 이 양자가 비교조합된다. 또, 다른 기계에서의 투입지폐에 대한 A점의 측정값 즉, 피검사 데이타가 T20a/T20p인것으로 하면 이것과 A점에 관한 기준패턴의 값T10a'/T10p'가 비교조합된다.
이와 같이 비교조합을 위한 측정데이타를 정규화하는 기준을 포화레벨(예를 들면,T10w또는 T20w)로 설정하지 않고, 표준지폐의 레밸(예를 들면,T10p또는 T20p)로 설정했으므로 검지수단(1)로서 사용하는 광학식 센서의 부품오차 및 조립오차의 영향을 받지 않게 되어 식별정밀도를 향상시킬 수가 있다.
또, 각 기계마다 광학식 센서의 부품오차 및 조립오차의 영향을 받기 어렵게 되므로 기준패턴 데이타로서 각 기계에 공통의 것을 사용하는 경우에 있어서 식별 정밀도를 향상시킬 수 있으므로 유리하다.
또, 무지폐 레벨 데이타 제공수단(6)과 표준 레벨 테이타 제6도는 제5도의 기구부에 관련해서 마련되는 제어부의 전기적 하드회로 구성예를 도시한 도면으로서, 이 제어부는 CPU(중앙처리 유니트) (21), 프로그램 ROM(22), 데이타 및 워킹 RAM(23)을 포함한 마이크로컴퓨터를 구비해 두고, 이 마이크로컴퓨터의 제어하에 각종의 처리를 실행한다. 지폐류의 투입을 검지하는 광샌서(11)의 출력은 파형정형회로(24)에 부여되고, 지폐류의 유무에 따른 "1" 또는 "0"의 신호가 상기 파형정형회로(24)에서 출력되어 CPU(21)에 입력된다.
또, 특징검출용 광센서(12), (13)의 출력신호는 증폭회로(25), (26)에 각각 부여되고, 신호증폭후 아날로그 디지탈(A/D) 콘버터 (27)의 2개의 채널 CH1, CH2에 각각 입력된다. A/D콘버터(27)에서는 채널 CH1, CH2에 입력된 각 광센서(12), (13)의 출력 아날로그신호를 시분할 처리에 의해 각각 디지탈 데이타로 변환하고, 디지탈 변환된 신호를 CPU(21)로 출력한다.
반송구동용의 상기 모터(18)의 회전축에는 로터리 엔코더(28)이 부착되어 있고, 상기 모터(18)의 회전에 따라 증가 펄스 또는 절대각도 검출값 데이타를 발생한다. 이 로터리 엔코더(28)의 출력은 CPU(21)에 부여된다.
기준패턴 메모리(29)는 검사대상 지폐의 모양에 대응하는 기준패턴 데이타를 기억하는 것이고, 각 특징검출용 광센서(12), (13)에 각각 대응하여 기준패턴 데이타를 기억하고 있다. 일예로서 이 기준패턴 메모리(29)에 기억되는 기준패틴 데이타는 정규화되어 있지 않은 투과광량 레벨 데이타로 한다.
예를 들면, EPROM으로 되는 라이트 가능한 리드 온리 메모리(ROM)(30)은 각 기계마다 표준 레벨 데이타 또는 이 표준 레벨 데이타를 초기 무지폐 레벨 데이타로 수정한 데이타를 기억하는 것이다. 일예로서, 이 EPROM(30)에 표준 레벨 데이타 그 자체를 기억하는 것으로 한다.
우선, 광센서의 부품오차 및 조립오차에만 대처하여 환겅변화나 해가 바뀜에 의한 변화에 대한 대책을 실시하지 않는 예에 대해서 설멸한다. 이 경우, EPROM(30)에 표준 레벨 데이타 그 자체를 기억한다. 이 경우에서 CPU(21)에 의한 처리순서의 일예가 제7도 내지 제9도에 도시되어 있다.
EPROM(30)으로의 표준 레벨 데이타의 라이트는 제7도에 도시한 바와 같은 순서로 실행된다. 이 제7도의 처리는 지폐식별장치의 개별 기능마다의 제조조립의 최종 단계에서 실행한다.
우선, 특별한 모양이 없는 표준지폐를 투입하는 모드로 설정하고, 이 표준지폐가 투입된다면 특징검출용의 각 광센서(12), (13)에 의해 각각의 표준레벨 데이타를 측정한다. 여기서, 측정한 표준레벨 데이타를 T10p인 약호로 나타낸다. 그리고, 측정한 각 광센서(12), (13)마다 표준레벨 데이타 T10p를 EPROM(30)에 각각 라이트하여 기억시킨다. 또, 표준지폐의 광학적 성질은 어느 면에서도 균일하므로 각 광센서 (12), (13)마다 표준레벨 데이타 T10p를 구하지 않고, 대표적으로 하나의 광센서만으로 표준레벨데이타 T10p를 구하고, 이것을 EPROM(30)에 기억하고, 각 광센서(12), (13)에 공통의 표준레벨 데이타 T10p로서 사용해도 된다.
다음에, 지폐식별장치의 가동시에 있어서의 처리에 대해서 제8도, 제9도를 참조해서 설명한다.
전원투입시에는 제8도의 처리를 실행한다.
우선, EPROM(30)에서 특징검출용의 각 광센서 (12), (13)에 대응하는 표준레벨 데이타 T10p를 각각 리드하고, 또한 데이타 메모리(29)에서 특징검출용의 각 광센서(12), (13)에 대응하는 기준패턴 테이타를 각각 리드한다.
그리고, 기준패턴 데이타를 표준레벨 테이타 T10p에 의해서 정규화하는 연산을 특징검출용의 각 광센서(12), (13)마다 실행한다. 지폐의 각 샘플점에 대응하는 기준 패턴 데이타를 Tx로 나타내면(여기서 x는 지폐의 각 샘플링 점을 나타내고, n샘플링점으로 되는 경우는, x=1,2,3‥‥n이다), 각 x에 대해서 Tx/T10p로 되는 연산을 실행한다. 즉. 표준레벨에 데이타 T10p의 레벨을 100%로 하고 각 샘플점에 대응하는 기준 패턴 테이타 Tx를 이것에 대한 비로 변환한 것이 Tx/T10p이다.
다음에, 이렇게 해서 표준레벨 데이타 T10p에 대한 비의 형으로 변환된 기준패턴 데이타 Tx/T10p를RAM(23)에 기억한다. 이와 같이 정규화된 기준패턴 데이타 Tx/T10p가 각 센서(12), (13)에 대응하여 각각 RAM(23)에 기억된다. 이와 같은 정규화 연산처리에 의해서 표준레벨 데이타 T10p에 대한 비의 형으로 변환된 기준패턴 데이타 Tx/T10p를 RAM(23)으로 리드하는 것에 의해 제공할 수 있게 된다.
지폐가 투입되면 제9도에 따라서 처리된다. 우선, 특징검출용의 각 광센서(12), (13)에 의해 검지된 검지신호를 샘플링해서 필요에 따라 RAM(23)내의 소정의 영역에 각각 저장한다. 또는 측정샘플링점 A에서 검지신호의 레벨을 편의적으로 T10a인 부호로 나타낸 것이다.
다음에, EPROM(30)에서 특징검출용의 각 광센서(12), (13)에 대응하는 표준레벨 데이타 T10p를 각각 리드하고, 각 광센서(12), (13)에 대응하는 검지신호레벨 T10a를 이 표준레벨 데이타 T10p에 대한 비의 형으로 변환하는 연산 T10a/T10p를 각각 실행한다. 즉, 표준레벨 데이타 T10p의 레벨을 100%로 하여 검지신호출력 T10a를 이것에 대한 비로 변환한 것이 T10a/T10p이다. 연산의 결과 T10a/T10p는 필요에 따라 RAM(23)에 저장된다. 이렇게 해서 검지신호레벨 T10a를 표준레벨 데이타 T10p에 대한 비의 형으로 변환한 데이타 T10a/T10p가 피검사데이타로서 제공된다.
다음에, 제8도의 처리에 의해 RAM(23)에 기억된 기준패턴 데이타 Tx/T10p를 리드하고, 상술한 바와같이 해서 구해진 피검사데이타 T10a/T10p와 이 기준패턴 테이타 T10a/T10p를 조합한다. 특징검출용의 각 광센서 (12), (13)에 대응해서 각 측정샘플점에 따라 이와 같은 조합을 각각 실행하는 이들 조합 결과에 따라 투입지폐의 진위를 판정한다.
이상의 실시예의 변형예로서, 데이타 메모리(29)에서 기억하는 기준패턴 데이타로서 미리 정규화된 데이타 Tx/T10p를 제조시에 미리 기억해 놓도록 해도 된다. 이 겅우, 제8도의 처리는 생략된다. 상기 실시예와 같이 제8도의 처리에 의해 정규화된 기준패턴 데이타 Tx/T10p를 구하는 경우는 각 기계마다 T10p가 다르므로, 기준패턴 데이타 Tx/T10p는 각 기계마다 각각 고유의 것으로 된다. 이것에 대하여 변형예와 같이 제조시에 정규화된 기준 패턴 데이타 Tx/T10p를 기억해두는 경우는 어느 기계에도 공통의 기준 패턴 데이타 Tx/T10p가 사용된다. 이 경우라도 제9도의 피검사데이타 T10a/T10p의 연산은 각 기계마다 고유의 표준 패턴 테이타 T10p에 따라서 각 기계마다 각각 실행된다. 따라서, 본 발명에 의한 이점을 받아들일 수 있다.
다음에 광센서의 부품오차 및 조립오차에 대처함과 동시에 환경변화나 해가 바뀜에 의한 변화에 대한 대처의 실시에 대해서 설명한다. 이 경우, 환경변화나 해가 바뀜에 따른 변화에 대처하기 위해서 지폐가 투입되어 있지 않을때의 특징검출용의 각 광센서(12), (13)의 출력인 무지폐 레벨 데이타를 측정하여 제어에 이용한다. 예를 들면, EPROM(30)에서는 초기 무지폐 레벨 데이타에 의해 표준레벨 데이타를 수정한 표준레벨 수정데이타를 기억한다. 이 겅우에 있어서, CPU(21)에 의한 처리순서의 일예가 제10도 및 제11도에 도시되어 있다.
제10도는 제7도와 마찬가지로 EPROM(30)으로의 표준레벨 데이타의 라이트 순서를 도시한 것으로서, 이 처리는 지폐식별장칙의 개별기계마다의 제조조립의 최종단계에서 실행된다.
제10도에서는 제7도와 마찬가지로 특별한 모양이 없는 표준지폐를 투입해서 표준레벨 데이타 T10p를 측정한다. 제7도와 다른 점은 지폐가 투입되어 있지 않을때의 특징 검출용의 각 광센서 (12), (13)의 출력에 따라 무지폐 레벨 데이타를 측정하는 점이다. 표준레벨 데이타 T10p를 측정한 것과 동시에 무지폐 레벨 데이타를 구하고, 즉 표준지폐를 투입하기 직전 또는 투입한 표준지폐를 제거한 직후에 특징검출용의 각 광샌서(12), (13)의 출력을 무지폐 레벨 테이타로서 페치하여 이것을 초기 무지폐 레벨 데이타 T10w로서 제공한다. 그리고 초기 무지폐 레벨 데이타 T10w에 대한 표준레벨 데이타 T10p의 비 T10p/T10w를 구하고, 이것을 표준레벨 수정데이타로서 EPROM(30)에 라이트하여 기억한다. 이와 같은 표준레벨 수정데이타 T10p/T10w는 특징검출용의 각 광센서(12), (13)에 대응해서 각각 구하여지고, EPROM(30)에 기억되도록 되어 있어 좋다.
다음에, 지폐식별장치의 가동시에 있어서의 처리에 대해서 제11도를 참조하여 설명한다.
전원투입시에는 제11도의 처리를 실행한다. 제11도의 처리에서는 우선, 투입검지용 광센서(11)의 출력을 조사하여 지폐를 검지하고 있지 않은 상태, 즉 대기상태로 있으면 특징검출용의 각 광센서(12), (13)의 출력을 각가 폐치하여 현재 무지폐 레벨 데이타(이것을 T11w로 나타낸다)로서 RAM(23)에 각각 저장한다.
다음에, EPROM(30)에서 특징검출용의 각 광센서(12), (13)에 대응하는 표준레벨 수정데이타 T10p/T10w를 각각 리드하고, 이것과 각 광센서(12), (13)에 대응하는 현재 무지폐 레벨 데이타 T11w를 각각 연산하고, 초기 무지폐 레벨 데이타 T10w와 현재 무지폐 레벨 데이타 T11w의 비 T11w/T10w에 의해서 수정된 표준 레벨데이타(이것을, 예를들면 T11p로 나타낸다)를 구한다. 즉, 초기 무지폐 레벨 데이타 T10w와 현재 무지폐 레벨 데이타 T11w의 비 Tllw/T10w는 환경변화나 해가 바뀜에 의한 변화에 따른 광센서외 출력오차에 대응하고, 이 환경변화나 해가 바뀜에 의한 변화에 따른 광센서의 출력오차에 따라서 제품 조립시에 구한 표준레벨 데이타 T10p의 수정을 실행하는 것이다. 연산은 표준레벨 수정데이타 T10p/T10w에 현재 무지폐 레벨 데이타 T11w를 승산하는 것에 의해 실행한다. 이렇게 하면 T11p=T11w×T10p/T10w가 구해진다. 이것은 T11p=T10p×T11w/T10w이고, 초기 무지폐 레벨 데이타 T10w와 현재 무지폐 레벨 데이타 T11w의 비 T11w/T10w와 표준 레벨 데이타 T10p의 곱이며, 비 T11w/T10w에 따라 표준 레벨 데이타 T10p를 수정한 것으로 된다.
예를 들면, 환경변화나 해가 바뀜에 의한 변화에 따른 광센서의 출력오차가 전혀 없는 경우는, T11w=T10w이고, T11p=T11w×T10p/T10w=T10p이며, 표준레벨 데이터 T10p는 수정되지 않는다. 그러나, TllwT10w이면 그 차에 따라서 초기의 표준레벨 데이터 T10P가 변경되고, 이것이 수정후의 표준레벨 테이타 T11p로 된다. 이 수정후의 표준레벨 데이타 Tl1P는 RAM(23)에 기억해 둔다.
다음에, 데이타 메모리(29)에서 특징검출용의 각 광센서(12), (13)에 대응하는 기준패턴 데이타 Tx를 각각 리드하고, 이 기준패턴 데이타 Tx를 수정표준레벨 데이타 T11p에 의해서 정규화하는 연산을 특징검출용의 각 광센서(12), (13)마다 각각 실행한다. 이 연산은 제8도에 도시한 것과 마찬가지로 각 샘플점 X (다만, x=1,2,3‥‥n)에 관한 Tx/T11p로 되는 연산으로 된다. 즉, 수정 표준레벨 데이타 T11p의 레벨을 100%하고, 각 샘플점에 대응하는 기준패턴 데이타 Tx를 이것에 대한 비로 변환한 것이 Tx/T11p이다.
다음에, 이렇게 해서 수정표준레벨 데이타 T11p에 대한 비의 형으로 변환된 기준패턴 데이타 Tx/T11p를 RAM(23)에 기억한다. 이와 같이 정규화된 기준 패턴 데이타 Tx/T11p가 각 광센서(12), (13)에 대응해서 각각 RAM(23)에 기억된다. 이와 같은 정규화 연산처리에 의해 수정 표준레벨 데이타 T11p에 대한 비의 형으로 변환된 기준패턴 데이타 Tx/T11p를 RAM(23)에서 리드하는 것에 의해 제공할 수가 있다.
지폐가 투입되면 제11도에서 광센서 (11)의 출력판정의 스텝이 지폐있음로 판정하고, 제9도와 마찬가지로 특징 검출용의 각 광센서(12), (13)의 출력과 RAM(23)의 기준 패턴 테이타 Tx/T11p로 조합한다.
즉, 우선 특징검출용의 각 광센서(12), (13)에 의해 검지된 검지신호를 샘플링하고, 필요에 따라 RAM(23)내의 소정의 영역에 각각 저장한다. 또는 측정샘플링 점 A에서 검지신호의 레벨을 편의적으로 T11a인 부호로 나타낸다.
다음에, RAM(23)에서 특징검출용의 각 광센서(12). (13)에 대응하는 수정표준레벨 데이타 T11p를 각각 리드하고, 각 광센서(12), (13)에 대응하는 검지신호레벨 T11a를 상기 수정 표준레벨 데이타 T11p에 대한 비의 형으로 변환하는 연산 T11a/T11p를 각각 실행한다. 즉, 수정 표준 데이타 T11p의 레벨을 100%로 하로, 검지신호 레벨 T11a를 이것에 대한 비로 변환한 것이 T11a/T11p이다. 연산결과 T11a/T11p는 필요에 따라 RAM(23)에 저장된다. 이렇게 해서 검지신호레벨 T11a를 수정표준 레벨 데이타 T11p에 대한 비의 형으로 변환한 데이타 T11a/T11p가 피검사데이타로서 제공된다.
다음에, 대기시의 처리에 의해 RAM(23)에 기억한 기준패턴 데이타 Tx/T11p를 리드하고, 상술한 바와 같이 해서 구한 피검사테이타 T11a/T11p와 이 기준패턴 테이타 Tx/T11p를 조합한다. 특징검출용의 각 광센서(12), (13)에 대응해서 각 측정샘플점에 따라 이와 같은 조합을 각각 실행하고, 이들 조합 결과에 따라 투입지폐의 진위를 판정한다.
제10도 및 제11도의 예에 있어서도 데이타 메모리(29)에서 기억하는 기준패턴 데이타로서 미리 정류화된 데이타 Tx/T10p를 제조시에 미리 기억하도록 해도 된다. 이 경우, 제11도의 가동시의 처리에서T10w/T11w를 Tx/T10p에 걸면 Tx/T11p를 구할 수가 있다.
또, 상기 각 실시예에서는 표준레벨 데이타 T10p또는 표준레벨 수정데이타 T10p/T10w를 라이트 가능한 리드온리 메모리(29)에 라이트하여 기억하도록 하고 있지만 이것에 한정되지 않고, 제품조립시에 측정한 표준레벨 데이타 T10p또는 표준레벨 수정테이타 T10p/T10w를 적절하게 표시출력하고, 적업자가 이것을 보고 디지탈 스위치 또는 아날로그 설정기등에 의해서 상기 표준레벨 데이타 T10p또는 표준레벨 수정데이타 T10p/T10w를 디지탈 수치 또는 아날로그 값으로 설정 입력해 두도록 해도 된다. 그 경우 가동시에는 필요에 따라 디지탈 스위치 또는 아날로그 설정기의 설정내용을 참조하도록 표준레벨을 조합하여 이것에 의해 표준 레벨 데이타 T10p또는 표준레벌 수정데이타 T10p/T10w를 이용하도록 한다.
또, 상기 각 실시예에서는 소프트웨어 처리에 의해 지폐류의 식별판정을 하도록 한 예를 도시했지만, 하드와이어드로직에 의해서도 적적히 실현할 수 있는 것은 물론이다.
또, 삽입검출용 센서(11) 및 특징검출용 센서(12), (13)은 투과광량측정 형으로 한정되지 않고 반사광량측정형이라고도 된다.
이상 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면 비교 조합을 위해서 측정데이타를 정규화하는 기준를 포화레벨로 설정하지 않고, 표준지폐의 레벨로 설정했으므로 검지수단으로서 사용하는 광학식 센서의 부품오차 및 조립오차의 영향을 받지 않게 되어 식별 정밀도를 향상시킬 수가 있다는 효과가 있다. 또, 환경 변화나 해가 바뀜에 의한 변화에 따라 초기 무지폐 레벨 데이타 와 현재 무지폐 레벨 데이타의 차에 따라서 표준레벨 데이타를 수정 하도록 했으므로 환경변화나 해가 바뀜에 의한 변화에 따른 광학식 검지수단의 오차에도 대처할 수가 있다.
이상 본 발명자에 의해서 이루어진 발명을 상기 실시예에 따라 구체적으로 설명했지만, 본 발명은 상기 실시예에 한정되는 것은 아니고, 그 요지를 이탈하지 않는 범위에서 여러가지로 변경가능한 것은 물론이다.
Claims (8)
- 투입된 지폐면에 대해서 광을 조사하고, 이것에 의한 지폐면의 모양에 대응하는 검지신호를 출력하는 검지수단(1), 특별한 모양이 없는 표준지폐의 투입에 응답해서 상기 검지수단에 의해 출력되는 검지신호에 따라 표준레벨 데이타를 구하고, 상기 표준레벨데이타를 제공하는 표준레벨 데이타 제공수단(2), 검사대상 지폐 모양에 대응하는 소정의 기준 패턴을 제공하는 기준패턴제공수단(3), 지폐의 투입에 따라 상기 검지 수단에서 출력되는 검지신호를 상기 표준레벨데이타 제공수단에 의해 제공되는 표준레벨 데이타에 대한 비 또는 편차의 형으로 변환해서 피검사데이타로서 제공하는 피검사데이타 제공수단(4), 상기 피검사데이타 제공수단에 의해 제공된 피검사 데이타와 상기 기준패턴 제공수단에서 제공되는 상기 기준패턴을 조합하는 것에 의해 상기 투입된 지폐 진위를 판정하는 판정수단(5)를 마련한 지폐류 식별장치.
- 특허청구의 범위 제1항에 있어서, 또 지폐가 투입되어 있지 않을때의 상기 검지수단의 출력신호에 따라 무지폐 레벨 데이타를 제공하는 무지폐 레벨 데이타 제공수단(6), 상기 표준레벨데이타를 구했을때와 같은 시기에 상기 무지폐 레벨 데이타 제공수단에 의해 제공된 상기 무지폐 레벨 데이타를 초기 무지폐 레벨데이타로 하고 현단계에서 상기 무지폐 레벨 데이타 제공수단에 의해 제공된 상기 무지폐 레벨 데이타를 현재 무지폐 레벨 데이타로 하여 이 현재 무지폐 레벨 데이타와 초기 무지폐 레벨 데이타와의 차에 따라 상기 표준레벨 데이타를 수정하는 표준레벨 데이타 수정수단(17)을 마련한 지폐류 식별장치.
- 특허청구의 범위 제2항에 있어서, 상기 표준레벨 데이타 수정수단(7)은 상기 초기 무지폐 래벨 데이타에 대한 상기 표준레벨 데이타의 비 또는 편차를 구하여 표준레벨 수정데이타로서 제공하는 수단, 상기 현재 무지폐 레벨 데이타와 상기 표준레벨 수정데이타를 연산하여 수정한 표준레벨 데이타를 구하는 수단을 포함하는 것인 지폐류 식별장치.
- 특허청구의 범위 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 기준패턴 제공수단은 검사대상지폐의 모양에 대응하는 기준패턴을 상기 표준레벨 데이타에 대한 비 또는 편차의 형으로 제공하는 것인 지폐류 식별장치.
- 특허청구의 범위 제4항에 있어서, 상기 표준레벨데이타 제공수단(7)은 특별한 모양이 없는 표준지폐의 투입에 응답해서 상기 검지수단에 의해 출력되는 검지신호에 따라 표준레벨 데이타를 구하는 수단과 구해진 표준레벨 데이타를 기억하는 수단을 포함하고, 상기 기준패턴 제공수단(3)은 검사대상 지폐의 투입에 응답해서 상기 검지수단에 의해 출력되는 검지신호에 따라 상기 지폐의 모양에 대응하는 패턴 데이타를 구하는 수단. 이 패턴 데이타를 상기 표준레벨 데이타에 대한 비 또는 편차의 형으로 변환하여 상기 기준패턴을 구하는 수단, 상기 패턴데이타 또는 상기 기준패턴의 적어도 한쪽을 기억하는 수단을 포함하는 상기 기준 패턴의 적어도 한족을 기억하는 수단을 포함하는 것인 지폐류 식별장치.
- 투입된 지폐면에 대해서 광을 조사하고, 이것에 의해 상기 지폐면의 모양에 대응하는 검지신호를 출력하는 검지수단을 구비한 지폐류 식별장치에서 지폐의 투입에 응답해서 상기 검지수단에서 출력된 검지신호에 기준 패턴을 조합하기 위한 방법에 있어서, 특별한 모양이 없는 표준지폐를 투입하고, 이 투입에 응답해서 상기 검지수단에 의해 출력되는 검지신호에 따라 표준레벨데이타를 구하는 제1의 스탭, 검사대상지폐의 모양에 대응하는 소정의 기준패턴을 제공하는 제2의 스텝, 지폐의 투입에 따라 상기 검지수단에서 출력되는 검지신호를 상기 기준레벨 데이타에 대한 비 또는 편차의 형으로 변환하여 피검사 데이타로서 제공하는 제3의 스텝, 이 피검사데이타와 상기 기준패턴을 조합하여 진위를 판정하는 제4의 스텝을 마련한 지폐류 식별장치에서의 조합방법.
- 특허청구의 범위 제6항에 있어서, 상기 제2의 스텝은 퍼검사대상지폐를 투입하고, 이 투입에 응답해서 상기 검지수단에 의해 출력되는 검지신호에 따라 상기 지폐면의 모양에 대응하는 패턴데이타를 구하는스텝, 상기 표준레벨데이타에 대한 상기 폐턴데이타의 비 또는 편차를 구하고 이것을 기준패턴으로서 제공하는 스텝을 포함하는 것인 지폐류 식별장치에서의 조합방법.
- 특허청구의 범위 제6항에 있어서. 또 상기 표준레벨 데이타를 구했을 때와 같은 시기에 지페가 투입되어 있지 않을 때의 상기 검지수단의 출력신호에 따라 초기 무지폐 레벨 테이타를 구하는 제5의 스텝, 현단계에서 지폐가 투입되어 있지 않을 때의 상기 검지수단의 출력신호에 따라 현재 무지페 레벨 데이타를 구하는 제6의 스텝, 상기 현재 무지폐 레벨 테이타와 초기 무지폐 레벨 데이타의 차이에 따라 상기 제3의스텝에서 사용하는 표준레벨 데이타를 수정하는 제7의 스텝을 마련한 지폐류 식별장치에서의 조합방법.
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