KR920010286A - 테스트 요소를 배출 경로로부터 세정 스테이션으로 셔틀링(shuttling) 시키는 장치 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따라 구성된 분석기의 부분적으로 개략적인 평면도.
제2도는 부분적인 사시도이며, 특히 인큐베이터 외측에 있는 본 발명의 셔틀장치를 도시한다.
제3도는 일반적으로 제1도의 Ⅲ-Ⅲ선을 따라 절개한 부분적인 측면 입면도.
Claims (31)
- 인큐베이터 및 이 인큐베이터 외측에 있는 세정 스테이션을 포함하는 처리 스테이션, 테스트 요소를 상기 처리 스테이션의 하나로부터 방출시키기 위한 수단 및, 방출된 요소를 분석기 외부로이동시키는 배출 경로를 형성하는 수단을 지니는 분석기에 있어서, 상기 분석기는 상기 방출 수단에 의해 상기 하나의 처리 스테이션으로부터 방출된 테스트 요소를 포획하기 위한 캐쳐 플레이트(catcher plate) 및, 상기 경로를 따라 움직이는 방출 요소를 인터셉터(intercept)하도록 상기 배출 경로내의 위치로 상기 플레이트를 이동시키는 수단을 지니며, 상기 이동수단은, 상기 경로로부터 상기 세정 스테이션으로 인터셉터된 테스트 요소 및 상기 캐쳐 플레이트 이동시키도록 구성된 트랙 형성 수단을 포함하는 것을 특징지워지는 분석기.
- 제1항에 있어서, 상기 플레이트는 프레임을 포함하며, 이 프레임을, 고정된 테스트 요소가 플레이트에서 이탈되어 벗어나는 것을 방지하도록 숄더 사이에서 테스트 요소를 유지하도록, 마주보고(opposed)돌출된 숄더(shoulder)를 지니는 분석기.
- 제2항에 있어서, 상기 플레이트에서 상기 숄더 사이에 배치된 중앙 지지부재를 포함하고, 상기 부재는 상기 중앙 부재와 상기 프레임 사이에서 상기 프레임 평면의 내,외측으로 상대적인 굽힘이 가능하도록 상기 프레임에 가요성있게 연결된 분석기.
- 제4항에 있어서, 상기 중앙 부재는 상기 프레임 평면의 내,외측으로 굽힐 수 있도록 상기 프레임의 한쪽 측면에서만 이로부터 캔티레버(cantilevered)되어있는 분석기.
- 제3항에 있어서, 상기 숄더는 이것이 상기 세정 스테이션으로부터 상기 트랙을 따라 움직임에 따라 상기 플레이트의 선단 에쥐(leading edge)와 종단 에쥐(trailing edge)상에 각기 배치되며, 상기 선단 에쥐 숄더에 캠표면이 제공되어 있어서, 만약 프레임이 움직일 때 상기 테스트 요소의 상기 트랙을 따른 운동이 고정되면, 상기 플레이트상에 있는 테스트 요소 아래로 상기 프레임이 걸칠 수 있도록 상기 캠표면이 충분히 경사진 분석기.
- 제1항에 있어서, 테스트 요소를 상기 하나의 처리 스테이션내로 분출시키는 분출경로를 형성하는 수단을 포함하는 분석기.
- 제6항에 있어서, 상기 분출경로를 상기 트랙 수단에 교차되도록 교차 위치에 배치되고, 정지수단은 상기 위치에서 테스트 요소가 상기 트랙 수단을 따라 상기 분출경로로부터 이탈되게 움직이는 것을 방지하도록 상기 교차 위치와 상기 분출경로에 근접하게 포함되는 분석기.
- 제2항에 있어서, 상기 정지 수단는 상기 트랙-형성 수단에 가요성 있게 부착되고, 또한 캠밍(camming)표면을 포함하며, 이 캠밍 표면은, 상기 세정 스테이션으로부터 상기 분출경로의 상기 이동수단 및 상기 플레이트에 의해 움직이는 테스트 요소위로 상기 정지 수단이 걸칠 수 있도록 형상이 갖주어진 분석기.
- 제6항에 있어서, 상기 플레이트가 상기 교차 위치에 상기 이동수단에 의해 움직일 때 상기 플레이트 일부를 상향으로 편향시키도록 상기 분출경로 형성 수단아래에 있는 편향수단을 포함하는 분석기.
- 제5항에 있어서, 상기 트랙 형성 수단은 저부 부재 및 커버플레이트를 포함하고, 상기 커버 프레이트 및 부재는 상기 캐쳐 플레이트를 수용하기에 충분한 거리로 수직으로 이격되게 배치되며, 상기 커버 플레이트는, 상기 세정 스테이션에서, 상기 배출경로로부터 이탈되는 상기 트랙상의운동에 대해 데스트 요소를 포획하고 고정시키는 정지부재를 포함하고, 상기 트랙 형셩 수단 및 상기 플레이트 이동수단은 상기 정지수단이 테스트 요소를 포획하는 곳이 아닌 상기 배출경로로부터 이탈되게 상기 플레이트를 움직이도록 구성되며, 따라서 상기 선단 에쥐 캠포면은 테스트 요소를 상기 커버 플레이트에 대해 강제하는 분석기.
- 인큐베이터, 샘플 액체를 포함하는 테스트 요소를 분출경로를 따라 상기 인큐베이트로 분출시키는 수단, 상기 인큐베이트로부터 이탈된(ejected)테스트 요소를 수용하도록 배출경로를 형성하는 수단, 상기 인큐베이트의 외측에 있는 처리 스테이션, 상기 경로를 따라 이탈된 테스트 요소를 인터셉트하는 수단 및, 상기 배출경로와 상기외측 처리 스테이션 사이에서 트랙을 따라 인터셉트된 테스트 요소를 움직이는 구동수단을 포함하는 분석기에 있어서,상기 인터셉트 수단은 이탈된 테스트 요소를 포획하고 고정시키도록 구성된 가동의 가용성 지지부 및 상기 가동 지지부 안내용 트랙을 포함하고, 여기에서, 이동수단은 상기 배출 경로와 상기 처리스테이션 사이에서 상기 트랙을 따라 상기 지지부를 왕복시키는 구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 분석기.
- 제5항에 있어서, 상기 외측 처리 스테이션은 세정 스테이션인 분석기.
- 제11항에 있어서, 상기 가요성 지지부는 프레임을 포함하고 상기 프레임상에 대응의 돌출 숄더를 포함하며, 이 숄더는 고정된 요소가 상기 지지부로부터 이탈되는 것을 방지하도록 상기 숄더 사이에서 테스트 요소를 유지하도록 치수가 정해진 분석기.
- 제13항에 있어서, 상기 지지부에서 상기 숄더 사이에 배치된 중앙부재를 포함하고, 상기 부재는 상기 프레임에 가요성있게 연결되어 부재와 상기 프레임 사이에 상대적인 굽힘이 가능하도록 되어 있는 분석기.
- 제14항에 있어서, 상기 중앙 부재는 상기 프레임으로부터 이것이 한쪽 측면에서만 캔터레버되어 있으며, 다라서 상기 프레임의 평면 내,외측으로 굽힐 수 있는 분석기.
- 제14항에 있어서, 숄더는 이것이 상기 외측 처리 스테이션으로부터 상기 트랙을 따라 움직이면서 상기 지지부의 선단 및 종단 에쥐상에 각기 배치되며, 상기 선단 에쥐 숄더에서 캠표면이 제공되고, 이것은 상기 지지부가 상기 지지부상에 있는 테스트 요소 아래에 걸칠수는 있지만 상기 트랙을 따른 운동으로부터는 고정되도록 충분히 경사져 있는 분석기.
- 제11항에 있어서, 상기 분출경로는 교차 위치에서 상기 트랙에 교차되도록 배치되며, 정지수단은 상기 분출경로와 상기 교촤위치에 근접하게 포함되어, 테스트 요소가 상기 위치에서 상기 트랙을 따라 상기 분출 경로에서 이탈되게 움직이는 것을 방지하는 분석기.
- 제17항에 있어서, 상기 정지 수단은 상기 트랙을 따라 상기 분석기에 가요성있게 부착되며, 이것은 캠밍표면을 포함하고 이 캠밍 표면은 상기 외측 스테이션으로부터 상기 분출 경로로의 상기 이동수단 및 상기 지지부에의해 움직이는 테스트요소위로 상기 정지 수단을 걸치는 것이 가능하도록 형상이 이루어진 분석기.
- 제17항에 있어서, 상기 지지부가 상기 이동 수단에 의해 상기 교차 위치로 움직일 때 상기 지지부의 일부를 상향으로 편향시키는 상기 분출 경로 아래의 편향 수단을 포함하는 분석기.
- 인큐베이터, 샘플 액체를 지니는 테스트 요소를 제1경로를 따라 상기 처리 스테이션중 하나로 분출시키는 수단, 상기 한 스테이션으로부터 테스트 요소를 이탈시키는 수단 및 상기 하나의 스테이션으로부터 이탈된 테스트 요소를 이송시키는 제2경로를 형성하는 배출수단을 지닌 처리 스테이션을 포함하는 분석기에 있어서, 상기 분석기는 상기 제1경로와 상기 제2경로 사이에 정치 메카니즘을 포함하고, 상기 메카니즘은 a)상기 제1경로상의 테스트 요소가 상기 제2경로를 향하는 상기 제1경로에서 이탈되게 움직이는 것을 방지하도록 상기 제1경로에 근접한 숄더 및 b)상기 정지 숄더에 근접하고 그 아래에 있는 캠밍 표면을 포함하며, 상기 캠밍 표면은 상기 제2경로의 근접부로부터 상기 제1경로로 움직인 테스트 요소 위로 상기 정지 메카니즘이 걸칠 수 있도록 형상이 이루어져 있으며, 따라서 테스트 요소는 상기 제2경로로부터 상기 제1경로로만 움직일 수 있으며 상기 제1경로로부터 상기 제2경로로는 움직일 수 없는 분석기.
- 제20항에 있어서, 상기 하나의 처리 스테이션은 상기 인큐베이터를 포함하는 분석기.
- 제10항 또는 제12항에 있어서, 상기 처리 스테이션의 하나로서 세정 스테이션, 상기 제2경로로부터 상기 세정 스테이션 및 이후에 상기 제1경로로 연장된 트랙 형성수단 및, 상기 트랙 형성 수단을 따라 테스트 요소를 이동시키는 이동 수단을 포함하는 분석기.
- 제22항에 있어서, 상기 이동 수단은 프레임을 포함하며, 이 프레임은 숄더 사이에서 테스트 요소를 유지하도록 치수를 갖춘 대응의 돌출 숄더를 지님으로써 고정된 요소가 상기 이동 수단으로 부터 이탈되는 것을 방지하는 분석기.
- 제23항에 있어서. 상기 이동 수단내에 상기 숄더 사이에 배치된 중앙 지지부재를 포함하고, 상기 부재는 상기 프레임에 가요성있게 연결되어 상기 트랙의 평면 내,외측으로 상기 프레임과 상기중앙부재 사이에서 상대적인 굽힘이 가능하도록된 분석기.
- 제24항에 있어서, 상기 중앙부재는 상기 프레임으로부터 이것의 한쪽 측면에서만 캔티레버되어 있음으로써, 상기 프레임 평면의 내,외측으로 굽힐 수 있는 분석기.
- 제24항에 있어서, 상기 숄더는, 이것이 상기 세정 스테이션으로부터 상기 트랙 형성 수단을 따라 움직일대 상기 이동수단의 선단 및 종단 에쥐상에 각기 배치되며, 상기 선단 에쥐 숄더에는 캠표면이 제공되어 있고, 이 캠표면은 상기 테스트 요소가 상기 정지 메카니즘에 의해 상기트랙 형성 수단을 따른 이동이 고정될 때, 상기 지지부상의 테스트 요소 아래에 상기 지지부가 걸치는 것을 가능하게 할 수 있는 정도로 충분히 경사져 있는 분석기.
- 제1항, 10항 또는 20항에 있어서, 상기 트랙-형성 수단은 아치(arch)형의 트랙을 형성하도록 아치형으로 형성되어 있는 분석기.
- 테스트 요소 내에 포함된 체액의 어날라이트(analytes)를 분석하는 분석기에 사용되는 테스트 요소 지지부에 있어서, 상기 지지부는, 프레임을 지닌 플레이트, 상기 프레임에 가요성있게 결합된 그안에 중앙부 및, 요소가지지부에서 이탈되는 것을 방지하도록 상기 숄더 사이에서 테스트 요소를 유지하도록 치수가 잡혀진 상기 프레임의 마주보는 에쥐상의 돌출된 숄더를 포함하고, 상기 중앙부는 상기 프레임으로부터 이것의 한쪽 측부에서만 캔티레버되어 있음으로써 상기 프레임의 평면 내,외측으로 굽힐 수 있는, 분석기용 테스트 요소 지지부.
- 제28항에 있어서, 상기 숄더중 하나에는 상향으로 돌출한 캠표면이 제공되고, 이 켐표면은, 상기 테스트 요소가 상기 지지부로써 이동되는 것이 고정되는 경우 상기 지지부상에 있는 테스트 요소 아래에 상기 프레임이 걸칠 수 있도록 충분히 경사진 테스트 요소 지지부.
- 인큐베이터된 테스트 요소를 세정하는 방법에 있어서, 제1스테이션에서 테스트 요소를 인큐베이터로 적재하는 단계, 제2스테이션에서 상기 인큐베이터로부터 적재된 테스트요소를 방출하는 단계, 방출된 테스트 요소를 포획하는 단계, 포획된 요소를 세정 스테이션으로 셔틀링(shuttling)하는 단계, 셔틀된 테스트 요소를 상기 세정 스테이션에서 세정하는 단계 및, 상기 세정된 요소를 상기 인큐베이터로 되돌아가게 하는 단계를 포함하고, 상기의 인큐베이트로 되돌아가는 단계는 상기의 세정된 요소를 상기의 제1단계로 이동시키는 단계 및 이를 상기 인큐베이터로 재적재시키는 단계를 포함하는 것으로 특징지워지는, 인큐베이터된 테스트 요소 세정방법.
- 제30항에 있어서, 상기 포획단계는 플레이트를 방출 테스트 요소의 경로로 삽입하는 것을 포함하고, 상기 셔틀링 단계는 상기 플레이트 테스트 요소를 상기 세정 스테이션으로 이동시키는 것을 포함하고, 상기 인큐베이트로 되돌아가는 단계는 상기의 플레이트 및 이것의 테스트 요소를 상기의 제1스테이션으로 이동시키는 것을 포함하는, 인큐베이터된 테스트 요소 세정방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US615,530 | 1990-11-19 | ||
US07/615,530 US5174960A (en) | 1990-11-19 | 1990-11-19 | Apparatus for shuttling a test element from a discharge path to a wash station |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR920010286A true KR920010286A (ko) | 1992-06-26 |
Family
ID=24465795
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019910020617A KR920010286A (ko) | 1990-11-19 | 1991-11-19 | 테스트 요소를 배출 경로로부터 세정 스테이션으로 셔틀링(shuttling) 시키는 장치 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5174960A (ko) |
EP (2) | EP0487149B1 (ko) |
JP (1) | JP3068286B2 (ko) |
KR (1) | KR920010286A (ko) |
CA (1) | CA2054454A1 (ko) |
DE (1) | DE69124929T2 (ko) |
HK (1) | HK114797A (ko) |
IE (1) | IE914017A1 (ko) |
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EP0487149A3 (en) | 1993-03-03 |
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EP0639773A1 (en) | 1995-02-22 |
HK114797A (en) | 1997-08-29 |
JPH04291158A (ja) | 1992-10-15 |
EP0487149B1 (en) | 1997-03-05 |
CA2054454A1 (en) | 1992-05-20 |
US5174960A (en) | 1992-12-29 |
JP3068286B2 (ja) | 2000-07-24 |
EP0487149A2 (en) | 1992-05-27 |
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