KR920008310B1 - Apparatus of testing stray emission of cathode ray tube - Google Patents
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Abstract
Description
제1도는 본 발명에 따른 음극선관의 스트레이 에미션 검사장치를 기능적으로 블록화한 개요도.1 is a schematic diagram functionally blocking the stray emission inspection apparatus of the cathode ray tube according to the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1 : 음극선관 2 : 카메라1: cathode ray tube 2: camera
3 : 구동장치 4 : 아날로그/디지탈 변환기3: drive device 4: analog / digital converter
5 : 메모리장치 6 : 연산처리장치5 memory device 6 processing unit
7 : 입출력장치 9 : 모니터7: input / output device 9: monitor
9 : 전원부9: power supply
본 발명은 음극선관의 스트레이 에미션 검사장치에 관한 것으로서, 특히 고정밀도의 검사가 가능하도록 구성된 스트레이 에미션 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a stray emission inspection apparatus for a cathode ray tube, and more particularly, to a stray emission inspection apparatus configured to enable high-precision inspection.
음극선관에서의 스트레이 에미션이라 함은 전자총의 전극에서의 발광현상을 일컫는 것으로서, 주로 전극에 부착된 이물질 특히, 캐소오드로부터 증발되어 전극에 부착된 전자방사물질로 부터 고전압에 의해 발광하는 현상을 말한다.The stray emission in the cathode ray tube refers to the emission of light from the electrode of the electron gun. The stray emission in the cathode ray tube is mainly used to emit light by high voltage from the foreign matter attached to the electrode, especially the electron emission material evaporated from the cathode. Say.
이러한 스트레이 에미션 현상은 음극선관 특히 칼라 음극선관에서 다발하는 현상으로서, 전극의 전압강하 등을 야기시켜 전자총의 정상적인 작동을 어렵게 한다.Such a stray emission phenomenon is a phenomenon in which a cathode ray tube, especially a color cathode ray tube, is bundled, which causes a voltage drop of an electrode, thereby making it difficult to operate an electron gun.
이러한 스트레이 에미션을 방지하기 위하여 음극선관의 제조공정중 전극에 대한 에이징공정 등의 잔유물 제거공정이 수반된다. 그리고 최종적으로는 스트레이 에미션 발생 여부의 검사가 이루어지게 되는 바, 대개가 음극선관을 동작시키는 상태에서 전자총의 전극부위에서 발광현상이 일어나는 지의 여부를 작업자의 육안을 통하여 검사하도록 되어 있다.In order to prevent such stray emission, a residue removal process such as an aging process for the electrode is involved in the manufacturing process of the cathode ray tube. In the end, the inspection of the stray emission is performed. In general, the operator visually inspects whether the emission phenomenon occurs at the electrode part of the electron gun while the cathode ray tube is operated.
이와 같은 종래의 스트레이 에미션 검사 방법은 상기한 바와 같이 작업자의 육안을 통해서 이루어지기 때문에 미세한 스트레이 에미션 현상을 검사하기에는 불가능하다. 더우기 오랜 작업으로 인해 작업자의 시각적 피로에 의해 검사에 대한 신뢰성이 저하되게 된다.Since such a conventional stray emission inspection method is made through the human eye as described above, it is impossible to inspect the fine stray emission phenomenon. Moreover, the long-term work causes the operator's visual fatigue to reduce the reliability of the inspection.
본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 개선하여 높은 신뢰성으로서 단위시간당 다량의 음극선관에 대한 검사가 가능한 음극선관의 스트레이 에미션 검사장치를 제공함에 그 목적이 있다.An object of the present invention is to provide a stray emission inspection apparatus for a cathode ray tube capable of inspecting a large amount of cathode ray tubes per unit time with high reliability by improving the above problems.
상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 음극선관의 스트레이 에미션 검사장치는, 음극선관에 스트레이 에미션검사를 위한 전력을 공급하는 전원부; 상기 음극선관의 스크린 부위의 전방에 위치되어 스크린을 향하도록 된 비데오 카메라; 상기 비데오 카메라를 구동하는 구동장치; 상기 카메라로부터의 화상신호를 디지탈신호화하는 아날로그/디지탈 변환기; 상기 디지탈화된 화상신호를 저장하는 메모리 장치; 상기 메모리 장치로 부터 화상신호를 독출하여 그 값들을 기설정된 값과 비교하며, 그 결과에 따라 스트레이 에미션 여부를 결정하는 연산 처리장치; 상기 메모리장치에 기억된 화상신호와 상기 연산처리장치로 부터의 연산결과를 별도의 화상표시장치에 출력하는 출력장치; 들을 구비하여된 점에 그 특징이 있다.In order to achieve the above object, the stray emission inspection apparatus of the cathode ray tube of the present invention, the power supply unit for supplying power for the stray emission inspection to the cathode ray tube; A video camera positioned in front of the screen portion of the cathode ray tube and facing the screen; A driving device for driving the video camera; An analog / digital converter for digitally converting an image signal from the camera; A memory device for storing the digitalized image signal; An arithmetic processing unit that reads an image signal from the memory device, compares the values with a preset value, and determines whether stray emission is to be determined according to the result; An output device for outputting an image signal stored in the memory device and a calculation result from the calculation processing device to a separate image display device; It is characterized by the fact that it is provided.
이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다. 제1도는 본 발명에 따른 음극선관의 스트레이 에미션 검사장치를 기능별로 블록화한 개관도가 도시되어 있다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is an overview diagram showing a block emission inspection apparatus of a cathode ray tube according to the present invention for each function.
검사 대상의 음극선관(1)을 중앙으로 하여 그 오른쪽에 음극선관의 전자총에 전력을 인가하는 전원부(9)가 위치되고, 상기 음극선관(1)의 상부에는 상기 음극선관(1)의 스크린 부위의 전방에 위치되어 스크린을 향하도록 된 비데오 카메라(2)가 위치된다. 그리고 그 하방으로는 상기 비데오 카메라(2)와 이의 구동장치(3)가 마련되고, 그 이하에는 상기 비데오 카메라(2)로부터의 신호를 처리하는 일련의 전자장치가 마련된다. 이 전자장치는 상기 카메라(2)로부터의 화상신호를 양자화하여 디지탈 신호화하는 아날로그/디지탈 변환기(4)와 상기 디지탈화된 화상신호를 저장하는 메모리장치(5)와, 상기 메모리장치(5)로 부터 화상신호를 독출하여 그 값들을 기설정된 값과 비교하며, 그 결과에 따라 스트레이 에미션 여부를 결정하는 연산처리장치(6)를 구비한다. 그리고 이에 더하여 상기 메모리장치(5)에 기억된 화상신호와 상기 연산처리장치(6)로부터의 연산결과를 별도의 화상표시장치에 출력하는 출력장치 및 상기 화상표시소자로서의 모니터(8)를 구비한다. 도면중 미설명된 부호 "7"은 입출력장치이다.On the right side of the cathode ray tube 1 to be inspected, a power supply unit 9 for applying electric power to the electron gun of the cathode ray tube is located, and the screen portion of the cathode ray tube 1 is located on the upper portion of the cathode ray tube 1. There is a video camera 2 which is located in front of and facing the screen. Below, the video camera 2 and its driving device 3 are provided, and below that, a series of electronic devices for processing signals from the video camera 2 are provided. The electronic device includes an analog / digital converter 4 for quantizing and digitally converting an image signal from the camera 2, a memory device 5 for storing the digitalized image signal, and the memory device 5. And an arithmetic processing unit 6 for reading out an image signal and comparing the values with a predetermined value, and determining whether or not to stray. In addition, an output device for outputting the image signal stored in the memory device 5 and the calculation result from the arithmetic processing device 6 to a separate image display device and a monitor 8 as the image display element are provided. . Unexplained reference numeral 7 in the drawings is an input / output device.
이와 같은 구조의 본 발명의 스트레이 에미션 검사장치는 보다 신뢰성 있는 검사를 위하여 상기 음극선관(1)과 카메라(2)는 어두운 암실에 위치됨이 바람직하다. 그리고 상기 카메라(2)는 약 27만 내지 30만 화소를 가지는 고체촬상소자를 채용함이 바람직하다.In the stray emission inspection apparatus of the present invention having such a structure, the cathode ray tube 1 and the camera 2 are preferably located in a dark dark room for more reliable inspection. In addition, the camera 2 preferably employs a solid-state imaging device having about 270,000 to 300,000 pixels.
그리고 상기의 입출력 장치(7)는 상기 카메라의 구동장치와 메모리장치 및 모니터의 사이에 위치되어 신호들을 전송해 주는 일종의 인터페이스로서, 상기 카메라로부터 입력값과 이에 의한 상기 연상장치로부터의 결과 값을 상기 모니터에 나타나게 한다. 그리고 상기 연상처리장치(6)는 상기 메모리장치(5)에 저장된 일련의 화상신호, 즉 화소의 휘도값을 순차적으로 상대 비교함과 아울러 기설정된 기준 휘도값과도 비교함으로써 음극선관의 스크린의 부분적인 휘도차와 기준값에 대한 휘도차를 얻음이 바람직하다.The input / output device 7 is a kind of interface located between the driving device of the camera, the memory device, and the monitor, and transmits signals. The input / output device 7 receives an input value from the camera and a result value from the associating device. Make it appear on the monitor. In addition, the associating apparatus 6 sequentially compares a series of image signals stored in the memory device 5, that is, the luminance values of pixels, and also compares a predetermined reference luminance value with a portion of the screen of the cathode ray tube. It is desirable to obtain a luminance difference and a luminance difference with respect to a reference value.
한편 상기의 전원부(9)는 상기 음극선관(1)의 전자총을 구동하여 스트레이 에미션이 일어날 수 있는 상태가 될 수 있는 전압을 상기 음극선관(1)에 공급한다. 이때에 상기 음극선관의 스크린에는 화상이 나타나지 않도록 하여 정상적인 스크린의 휘도는 어두운 상태가 되게 하여야 한다.Meanwhile, the power supply unit 9 drives the electron gun of the cathode ray tube 1 to supply the cathode ray tube 1 with a voltage capable of causing a stray emission to occur. At this time, the image of the cathode ray tube should not appear so that the brightness of the normal screen becomes dark.
이상과 같은 본 발명은 상기 전원부(9)를 통해 상기 음극선관(1)의 스트레이 에미션 검사 준비상태로 구동하면서, 스크린의 전면을 상기 카메라(2)로 촬영하며, 이로 부터 얻어진 신호를 비교함으로써 전자총으로 부터 스트레이 에미션 현상이 야기되는지의 여부를 전자적으로 체크하는 일련의 자동검사 시스템인 것이다. 만일에 전자총의 어느 부위에 스트레이 에미션에 의해 발광이 일어나게 되면 음극선관(1)의 스크린에 미약한 밝은점이 생기게 된다. 이때에 이 밝은 반점은 카메라(2)에 의해 촬영되게 되고, 이는 아날로그/디지탈 변환기(4)로 통해 일정한 그레이 스케일의 값의 디지탈값으로 바뀌게 된다. 그리고 연산처리장치(6)는 상기 메모리장치(5)에 저장된 디지탈 값을 비교하여 화소간의 휘도차를 검출하며, 이와 더불어 기준 휘도값과도 비교한다. 이를 통해서 상기 연산처리장치(6)는 음극선관에서의 스트레이 에미션의 발생여부를 결정 짓게 된다. 이와 동시에 상기 모니터(8)에는 상기 촬영된 스크린의 이미지가 나타나고, 이와 더불어 상기 연산처리장치(6)의 결정에 따른 텍스트 예를 들어 "불량" 또는 "정상"이라는 문구도 같이 나타난다.The present invention as described above, while driving the stray emission inspection ready state of the cathode ray tube 1 through the power supply unit 9, by photographing the front of the screen with the camera 2, by comparing the signals obtained therefrom It is a series of automatic inspection systems that check electronically whether stray emission is caused by an electron gun. If light emission occurs due to stray emission at any part of the electron gun, weak bright spots are generated on the screen of the cathode ray tube 1. This bright spot is then photographed by the camera 2, which is converted into a digital value of a constant gray scale value via the analog / digital converter 4. The arithmetic processing unit 6 compares the digital values stored in the memory device 5 to detect the luminance difference between the pixels, and also compares them with the reference luminance value. Through this, the processing unit 6 determines whether stray emission is generated in the cathode ray tube. At the same time, the image of the photographed screen is displayed on the monitor 8, and together with the text, for example, "bad" or "normal" according to the determination of the arithmetic processing unit 6 is also displayed.
이상과 같은 본 발명에 의하면 사람의 눈으로 감지할 수 없는 정도의 미약한 스트레이 에미션을 체크할 수 있기 때문에 그 신뢰성이 매우 높다. 그리고 이상과 같은 검사는 전자적으로 처리되므로 매우 짧은 시간내에 이루어지게 된다According to the present invention as described above, it is possible to check the weak stray emission of a degree that cannot be detected by the human eye, so the reliability is very high. In addition, the above inspection is processed electronically, so it is performed in a very short time.
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1019900020969A KR920008310B1 (en) | 1990-12-18 | 1990-12-18 | Apparatus of testing stray emission of cathode ray tube |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1019900020969A KR920008310B1 (en) | 1990-12-18 | 1990-12-18 | Apparatus of testing stray emission of cathode ray tube |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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KR920013540A KR920013540A (en) | 1992-07-29 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR1019900020969A KR920008310B1 (en) | 1990-12-18 | 1990-12-18 | Apparatus of testing stray emission of cathode ray tube |
Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR920008310B1 (en) |
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