KR920005758Y1 - 사출성형기의 전자비례변 제어 pcb 시뮬레이터 시험기 - Google Patents

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Description

사출성형기의 전자비례변 제어 PCB 시뮬레이터 시험기

제1도는 본 고안의 상세회로도.

제2도는 본 고안에 의한 시험기의 명판부 배치도.

제3도는 본 고안에 의한 시험기의 명판부 회로 연결테이블.

제4도는 본 고안에 의한 명판부 LED 구성회로와 셀렉터 스위치의 배선도.

제5도는 콘트롤 PCB의 단자 배열도.

본 고안은 사출 성형기의 압력 및 속도 제어용 전자 비례변 제어 PCB(Printed Circuit Board)에 대한 제품의 성능과 기능을 시험하고, 사용된 부품의 신뢰성을 점검하기 위한 시뮬레이터 시험장치에 관한 것이다.

종래에는 PCB의 시험에 대한 기능만 정검하고, 실제 사용에 대한 현장 시험으로 그 기능을 점검하였던 것으로, 이는 콘트롤 PCB의 부품 조립과 납땜을 완료한 후 현장 시험에 의해 이상 유무를 판별하게 하므로서 대량으로 재작된 PCB를 일일이 현장 시험으로 해야하는 생산성 저하 및 많은 시간이 소요될 뿐 아니라 교환된 PCB를 또 다시 약속된 라인파 일일이 접속해야 하는 비효율적인 수단에 불과한 것이었다.

따라서 본 고안은 상기의 불합리한 문제점을 제거하기 위해 실제 상황과 동일 조건을 만족시킬 수 있도록 한 시뮬레이션 시험장치를 회로적으로 구성하여 시험 분석이 용이롭고, 반복시험을 무인화에 의해 자동으로 실시되도록 하고, PCB 제품 생산에 대한 기능 시험은 물론 양립적으로 시현가능하게 하며, 시뮬레이션 시험을 장시간 실시하게 하므로서 이상 유무를 확실하게 또는 조기에 발견 조치할 수 있을 뿐 아니라, 실험의 악조건에서도 사용부품소자에 대한 정격치를 판별하며, 부품에 대한 써비스의 신뢰성을 확인할 수 있는 장점이 있어 사후 관리 대책 및 효과적인 검사를 실시할 수 있도록 함에 그 목적이 있는 것인바, 이하 첨부된 도면과 관련하여 그 구성을 상세히 설명하면 다음과 같다.

먼저 피시험 제품을 상호 연결할 수 있는 머더 보드 PCB와, 피시험 제품에 조건값을 순차적으로 전달하는 콘트롤 PCB가 있다.

콘트롤 회로의 발진기(1)로 부터 발진 주파수를 이용 카운트 회로의 분주기(2) 출력을 순차적으로 출력하여 그 신호를 피시험 제품의 입력부로 인가되도록 하는 기본적인 회로의 구성은, 도시한 바와같이 저항(R1-R3)과 콘덴서(C1)가 연결된 발진기(1)의 출력축에 콘덴서(C2)와 분주기(2)가 연결되고, 이 분주기(2)의 출력 K단자에는 저항(R4)과 트랜지스터(Q1)의 콜렉터를 연결한 다음 오어게이트(OR1)의 일측 입력단에 연결되며, 상기 트랜지스터(Q1)의 베이스 측 저항(R5)과 다른 트랜지스터(Q2)의 콜렉터 측 저항(R6)을 연결한 사이와 상기 트랜지스터(Q2)의 베이스 사이에는 수동과 자동(AUTO)선택 스위치와 푸쉬버튼 스위치(PS1) 및 저항(R7)을 연결하고, 콘덴서(C4)가 연결된 트랜지스터(Q2)의 에미터측은 상기 오어게이트(OR1)의 다른 입력측에 연결한 다음 이의 출력측은 콘덴서(C3)와 계량속도용 카운터 디바이더(3,7)의 클럭단자(CL)에 공통 연결하며, 상기 카운터 디바이더(3,7)의 출력측은 인버터회로(4, 8)에 각각 연결한 카운터 디바이더(3, 7)의 캐리어신호(Ca, Cb)는 낸드게이트(NA3)의 입력원으로 하고, 이네이블 신호(NE)는 다른 낸드 게이트(NA1)의 입력원으로 하며, 이들 낸드게이트(NA1, NA3)의 출력단은 오어게이트(OR3, OR4)의 일측 입력단으로 출력하는 플립플롭의 낸드게이트(NA2, NA4)의 입력단에 연결하고, 상기 오어 게이트(OR3, OR4)의 다른 입력단이 상호 연결된 사이에는 스위치(S1)와 저항(R14, R15)을 통해 베이스가 연결된 트랜지스터(Q6)의 콜렉터 측으로 릴레이(Ry1)를 연결하며, 상기 오어 게이트(OR3, OR4)의 각 출력은 링 카운터 디바이더(3, 7)의 리셋트 단자(RE)에 각각 연결되고, 상기 인버터(4, 8)의 출력단(V1-V8) (V9-V12)은 제2도의 명판부 TP-01과 상호 연관되며, 상기 분주기(2)의 다른 출력측(N)은 저항(R8)을 통한 트랜지스터(Q3)의 콜렉터를 연결한 다음 오어게이트(OR2)의 일측입력단에 연결되며, 상기 트랜지스터(Q3)의 베이스 측 저항(R9)과 다른 트랜지스터(Q4)의 콜렉터 측 저항(R10)을 연결한 사이와 상기 트랜지스터(Q4)의 베이스 사이에는 수동과 자동(AUTO) 선택스위치와 푸쉬버튼 스위치(PS2) 및 저항(R11)을 연결하고, 콘덴서(C5)가 연결된 트랜지스터(Q4)의 에미터측은 상기 오어 게이트(OR2)의 다른 입력 측에 연결한 다음, 이의 출력측은 콘덴서(C6)와 압력용 카운트 디바이더(5)의 클럭단자(CL)에 연결하며, 이의 출력측은 인버터 회로(6)에 연결한 카운트 디바이더(5)의 캐리어 신호(Cc)는 다이오드(D1)를 통해 저항(R12)과 스위치(S2) 연결사이에 연결하고, 이의 리셋트 단자(RE)에는 저항(R13)을 통해 릴레이(Ry2)가 콜렉터에 연결된 트랜지스터(Q5)의 베이스가 연결되고, 전자 비례변의 정상동작 조건에 대한 속도 콘트롤측 PCB(100)의 기본 DC직류가 150mA에서 부터 200mA 까지 흐를 수 있도록 설정하는 하한 및 상한치 설정부(400)는 REF. V전원이 인가되는 릴레이 b접점(Ry2-b)과 a 접(Ry-a) 각 단에는 가변저항VR1, VR2)을 통해 상기 인버터회로(4)의 출력단(V1)에 설정한 릴레이(Ry1)의 a, b접점(Ry1-a, Ry-b)과 연결되고, 각 회로의 필요전원을 공급하는 공지의 전원공급부(300)가 상호 연결되어 구성 된 것이다.

상기와 같이 구성된 본 고안의 작용 및 효과를 이 역시 도면에 준한 실시예로서 설명하면 다음과 같다.

먼저 사출성형기의 진자 비례변에 사용되는 기능으로 사출 1속에서 부터 계량 속도와 형판 전, 후진 속도가 있고, 압력에 대한 조건 설정값이 있으며, 또한 변화량이 최대 값에서 부터 최소값에 이르기까지 여러단계로 값을 가질수가 있고 변화되는 값의 속도도 여러단계로 세분화 할 수가 있다.

이러한 조건값에 대한 설정값을 시험 장비에서 가변 가능하게 하기 위하여 각부 위치에 설정 가변저항이있다.

상기한 상태에서 시험하는 절차와 조작에 대하여 순서적으로 설정하면 아래와 같다.

처음 시험 장치에 PCB를 짹에 연결시키면서 상부 스위치(ADJ)를 온(ON)한다.

이때 모니터용 발광다이오드(1) (제2도)가 처음으로 발광하게 되는데 속도에 있어서는 사출 1속에 해당되고, 압력은 제1압이 된다.

제1속 1압을 설정하는 스위치 아래에 위치한 볼륨의 기능이 어드져스트 하는데 사용하기 위한 가변볼륨이 된다.

전자비례변의 정상동작 조건으로 속도 콘트롤 측 PCB(100)는 볼륨을 제로(0)로 하였을때 기본 DC 전류가 150mA에서 부터 200mA까지 흐를 수 있도록 하한 및 상한치 설정부(400)의 하한치 설정용 가변저항(VR1)을 피시험 제품에 맞도록 조정한다.

그리고 임력 콘트롤 측에는 볼륨을 제로(0)로 하였을때 출력부하 전류가 제로 mA가 되도록 입력 조정용 하한 설정 가변저항(VR2)을 피시험 제품에 맞도록 조정한다.

부하의 조건에 있어서, 사용되는 전자비례변의 종류에 따라 달라지면 먼저 부하에 가해지는 공급접압(Vcc)이 알맞도록 구동부측에 마련된(피시험제품) 전압가변 볼륨과 트랜스의 전원탭을 연결하고 세팅시킨다.

보통 전자비례변의 DC 저항이 20오옴 일경우 통상 800mA최대 부하 전류로 기준하여 DC 저항값이 40오옴일 경우 DC35볼트로 하여 부하에 가해지도록 하되, 부하 전류는 최대 800mA기준으로 한다.

시험장비 내부의 콘트롤용 전원은 DC±15볼트와 각기 다른 DC±15볼트 전원이 복수로 준비되어 있는데, 그 일측 전원은 시험장비를 콘트롤 하면서 피시험제품의 신호원으로 사용되고, 다른 전원은 피시험 제품의 자체 콘트롤을 위한 전원으로 사용되기 위하여 마련한 것이다.

수동모우드에 의해 단계적인 변화를 주어 장비내 마련된 푸쉬버튼 스위치(PS1)를 눌러서 1회씩 가하여 원하는 위치에 지정될 수 있게 한다.

여기에서 하한스위치(ADJ)로 하면 상기의 기능은 무효가 된다.

속도는 12단계, 입력은 6단계로 구분하고 출력을 DC전류 메타에 의해 확인되며, 신호가 넘어 갈때마다 모니터용 발광다이오드(제2도 : 12)가 있어 확인이 가능하다.

속도값 설정용 가변저항에서 계량2속(CH2V)와 최대값(MAX)은 준비되지않고, 해당기능 작동시 발광다이오드(제2도 : 12)만 모니터에 표시되게하여 피시험제품 내부에 설정하는 가변저항이 불필요하게 된다.

상기 사항과 마찬가지로 압력값 설정용 가변저항에서도 언로드, 로드기능이 제품자체에 가변값이 포함되어있기 때문에 모니터 발광다이오드(제2도 : 12)만 시험장비에서 점등하고, 내부의 해당설정값에 따라 동작하게 된다.

제2도에 도시한 시험장비의 전면 머더보오드 PCB에 설치된 T/B1와 T/B2는 터미널 블럭으로서 TB/1과 외부부하와 연결하기 위한 설정단자이다.

그리고, 실정값 가션저항에 가해지는 기준 전압 및 전자 비례변을 콘트롤하기 위한 교류입력전압등을 결선하기 위하여 준비되었고, TB/2는 현재 피시험제품이 두가지의 형태가 있어 시험하고자 하는 PCB 선택모우드로 스위치를 맞추고, 이에 해당하는 공급전원을 외부로 부터 T/B2로 연결하여 공급 받는다.

두가지 피시험제품의 콘넥터 짹배열의 순서는 같으므로 상호시험이 가능하고, 앞에서와 같이 셀렉터스위치(SEL-SW)선택과 TB/2의 결선에 유의하여야 한다.

TB/2에서 S4A와 S4A의 단자는 전자비례변의 종류, 즉 전자 비례변의 DC저항값에 따라서 외부의 전원트랜스로부터 알맞은 교류전압을 공급받도록 한다.

시험조건을 규정함에 대한 최초피시험 제품의 반고정저항을 세팅시키고 나서 내구성시험을 위해 부하와 DC전류메타를 결선하고, 시험장비의 머더보오드상의 스피드조정 가변저항을 약 40프로테이지 정도로 위치하고, 2-3시간정도 자동(Auto)로 위치한 상태에서 계속 동작시험하였을때 전류메타의 지시치가 최초 설정했을때의 값파 비교하여 그 차이를 점검한다.

외부신호에 대한 영향을 점검하는 단계에 있어서, 속도에 대한 임의의 설정 값으로 부하를 구동 시킨 다음 압력에 대한 값의 변화를 오토(Auto)로 한 상태에서 계속 동작 시험했을때 속도 설정값에 고정된 부하의 DC전류 변화 유,무를 확인하면 되는 것이다.

이상에서 설명한 바와같이 본 고안에 의하면 실제 상황과 동일 조건을 만족시킬수 있도록 시뮬레이션 시험기를 통해 시험분석이 가능하고, 반복시험을 무인화에 의해 자동으로 실시하여 생산성 향상에 크게 기여 할 수 있을 뿐 아니라 다음과 같은 특성이 있는바, 1. 피시험 제품의 기능 시험 항목의 구분이 가능하고, 2. 시험항목 조건에 대한 설정값의 가변이 가능하고, 3. 시험 특정치의 기록이 가능하며, 4. 표준에 대한 비교 시험이 용이롭고, 5. 소형으로서 운반 사용이 가능하며, 6. 자동 및 수동 겸용 모우드 선택 사용이 가능 할 뿐 아니라, 7. 각 기능에 대한 작동 상태에 따라 모니터가 되는 특징이 있다.

Claims (1)

1. 저항(R1-R3)과 콘덴서(C1)가 연결된 발진기(1)의 출력측에 콘덴서(C2)와 분주기(2)가 연결되고, 이 분주기(2)의 출력 K단자에는 저항(R4)과 트랜지스티(Q1)의 콜렉터를 연결한 다음 오어게이트(OR1)의 일측입력단에 연결되며, 상기 트랜지스터(Q1)의 베이스 측 저항(R5)과 다른 트랜지스터(Q2)의 콜렉터 측 저항(R6)을 연결한 사이와 상기 트랜지스터(Q2)의 베이스 사이에는 수동과 자동(AUTO)선택 스위치와 푸쉬버튼스위치(PS1) 및 저항(R7)을 연결하고, 콘덴서(C4)가 연결된 트랜지스터(Q2)의 에미터측은 상기 오어게이트(OR1)의 다른 입력측에 연결한 다음 이의 출력측은 콘덴서(C3)와 계량속도용 카운터 디바이더(3, 7)의 클럭단자(CL)에 공통 연결하며, 상기 카운터 디바이더(3, 7)의 출력측은 인버터회로(4, 8)에 각각 연결한 카운터디바이더(3, 7)의 캐리어 신호(Ca, Cb)는 낸드게이트(NA3)의 입력원으로 하고, 이네이블 신호(NE)는 다른낸드 게이트(NA1)의 입력원으로 하며, 이들 낸드게이트(NA1,

   NA3)의 출력단은 오어게이트(OR3, OR4)의 일측 입력단으로 출력하는 플립플롭의 낸드게이트(NA2, NA4)의 입력단에 연결하고, 상기 오어 게이트(OR3, OR4)의 다른 입력단이 상호 연결된 사이에는 스위치(S1)와 저항(R14, R15)을 통해 베이스가 연결된 트랜지스터(Q6)의 콜렉터 측으로 릴레이(Ry1)를 연결하며, 상기 오어 게이트(OR3, OR4)의 각 출력은 링 카운터 디바이더(3, 7)의 리셋트 단자(RE)에 각각 연결되고, 상기 인버터(4, 8)의 출력단(V1-V8)(V9-V12)은 제2도의 명판부 TP-01과 상호 연관되며, 상기 분주기(2)의 다른 출력축(N)은 저항(R8)을 통한 트랜지스터(Q3)의 콜렉터를 연결한 다음 오어게이트(OR2)의 일측입력단에 연결되며, 상기 트랜지스터(Q3)의 베이스 측 저항(R9)과 다른 트랜지스터(Q4)의 콜렉터 측 저항(R10)을 연결한 사이와 상기 트랜지스터(Q4)의 베이스 사이에는 수동과 자동(AUTO) 선택 스위치와 푸쉬버튼 스위치(PS2) 및 저항(R11)을 연결하고, 콘덴서(C5)가 연결된 트랜지스터(Q4)의 에미티측은 상기 오어 게이트(OR2)의 다른 입력 측에 연결한 다음, 이의 출력측은 콘덴서(C6)와 압력용 카운트 디바이더(5)의 클럭단자(CL)에 연결하며, 이의 출력측은 인버터 회로(6)에 연결한 카운트 디바이더(5)의 캐리어 신호(Cc)는 다이오드(D1)를 통해 저항(R12)과 스위치(S2) 연결사이에 연결하고, 이의 리셋트 단자(RE)에는 저항(R13)을 통해 릴레이(Ry2)가 콜렉터에 연결된 트랜지스터(Q5)의 베이스가 연결되고, 전자 비례변의 정상동작 조건에 대한 속도 콘트롤측 PCB(100)의 기본 DC직류가 150mA에서부터 200mA 까지 흐를 수 있도록 설정하는 하한 및 상한치 설정부(400)는 REF. V전원이 인가되는 릴레이 b접점(Ry2-b)과 a 접(Ry-a) 각 단에는 가변저항(VR1, VR2)을 통해 상기 인버터회로(4)의 출력단(V1)에 설정한 릴레이(Ry1)의 a, b접점(Ry1-a, Ry-b)과 연결되고, 각 회로의 필요전원을 공급하는 공지의 전원공급부(300)가 상호 연결되어 구성됨을 특징으로 하는 사출성형기의 전자비례변제어 PCB 시뮬레이터 시험기.