KR910003409A - 도전성박막이 코우팅된 광파이버의 제조방법 및 그 장치 - Google Patents
도전성박막이 코우팅된 광파이버의 제조방법 및 그 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR910003409A KR910003409A KR1019900010146A KR900010146A KR910003409A KR 910003409 A KR910003409 A KR 910003409A KR 1019900010146 A KR1019900010146 A KR 1019900010146A KR 900010146 A KR900010146 A KR 900010146A KR 910003409 A KR910003409 A KR 910003409A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- thin film
- conductive thin
- optical fiber
- coating
- film
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C25/00—Surface treatment of fibres or filaments made from glass, minerals or slags
- C03C25/10—Coating
- C03C25/12—General methods of coating; Devices therefor
- C03C25/22—Deposition from the vapour phase
- C03C25/223—Deposition from the vapour phase by chemical vapour deposition or pyrolysis
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
- G01B7/10—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
- G01B7/105—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance for measuring thickness of coating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/12—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring diameters
- G01B7/125—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring diameters of objects while moving
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/02—Optical fibres with cladding with or without a coating
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Surface Treatment Of Glass Fibres Or Filaments (AREA)
- Optical Fibers, Optical Fiber Cores, And Optical Fiber Bundles (AREA)
Abstract
내용 없음.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예에 의한 도전성박막이 코우팅된 광파이버의 제조장치를 나타내는 설명도,
제2도는 제1도의 주요부를 나타내는 부분확대도,
제3도는 본 발명의 제2실시예에 의한 도전성박막이 코우팅된 광파이버의 제조장치를 나타내는 설명도.
Claims (13)
- 모재로부터 드로오잉한 광파이버에 도전성박막을 코우팅하는 제1공정과, 상기 도전성박막을 코우팅한 후의 광파이비를 고주파 자계속으로 통과시켜 상기 도전성박막으로 생성된 과전압을 비접촉으로 측정하여 상기 도전성박막의 막성능을 측정하는 제2공정으로 구성된 것을 특징으로 하는 도전성 박막이 코우팅된 광파이버의 제조방법.
- 제1항에 있어서, 상기 도전성박막을 코우팅한 직후에 상기 제2공정을 수행하기 전에 수지를 코우팅하여 경호시키는 공정을 수행하는 것을 특징으로 하는 도전성 박막이 코우팅된 광파이버의 제조방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제1공정에서 도전성박막에 대한 코우팅조건은 상기 제2공정에서 측정된 막성능에 의거하여 제어되는 것을 특징으로 하는 도전성 박막이 코우팅된 광파이버의 제조방법.
- 제2항에 있어서, 상기 제1공정에서 도전성 박막에 대한 코우팅 조건은 상기 제2공정에서 측정된 막성능에 의거하여 제어되는 것을 특징으로 하는 도전성 박막이 코우팅된 광파이버의 제조방법.
- 모재를 가열, 용융한 광파이버를 드로오잉하는 파이버드로오잉로와, 드로오잉한 광파이버에 도전성박막을 코우팅하는 박막 코우팅수단과, 코우팅된 도전성 박막의 막성능을 측정하는 막성능측정수단으로 구성되며, 상기 막성능측정수단은 고주파전원에 접속된 중공의 검출코일을 가지며, 상기 광파이버가 검출코일의 중공부를 통과할 때에 생긴 상기 검출코일의 교류 임피던스의 변화에 의거하여 상기 도전성 박막의 막성능을 측정하는 것을 특징으로 하는 도전성 박막이 코우팅된 광파이버의 제조장치.
- 제5항에 있어서, 상기 박막코우팅수단은 상기 막성능 측정수단에 의하여 상기 막성능의 측정값에 의거하여 코우팅조건을 제어하는 제어수단으로 구성된 것을 특징으로 하는 도전성 박막이 코우팅된 광파이버의 제조장치.
- 제6항에 있어서, 상기 제어수단은 상기 막성능의 측정값과 상기 막성능의 프리세트된 값사이의 차이에 의거하여 코우팅조건을 제어하는 것을 특징으로 하는 도전성 박막이 코우팅된 광파이버의 제조장치.
- 제5항에 있어서, 상기 막성능측정수단은 상기 검출코일과 대략 동일한 특성을 가지는 공심인채로 고주파전원에 접속된 참조용 코일과, 상기 검출코일의 교류 임피이던스와 상기 참조용코일의 교류임피이던스 사이의 차를 검지하므로서 상기 검출코일에서 상기 교류 임피이던스의 변화를 검지하는 검출수단으로 구성된 것을 특징으로 하는 도전성 박막이 코우팅된 광파이버의 제조장치.
- 제8항에 있어서, 상기 박막코우팅수단은 상기 막성능 측정수단에 의해서 상기 막성능의 측정값에 의거하여 코우팅조건을 제어하는 제어수단으로 구성된 것을 특징으로 하는 도전성 박막이 코우팅된 광파이버의 제조장치.
- 제9항에 있어서, 상기 제어수단은 상기 막성능의 측정값과 상기 막성능의 프리세트된 값사이의 차이에 의거하여 코우팅조건을 제어하는 것을 특징으로 하는 도전성 박막이 코우팅된 광파이버의 제조장치.
- 제5항에 있어서, 상기 막성능측정수단은 수지를 상기 도전성박막에 코우팅하는 수지코우팅 장치의 하류쪽에 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 도전성 박막이 코우팅된 광파이버의 제조장치.
- 제11항에 있어서, 상기 박막코우팅수단은 상기 막성능측정수단에 의하여 상기 막성능의 측정값에 의거하여 코우팅조건을 제어하는 제어수단으로 구성된 것을 특징으로 하는 도전성 박막이 코우팅된 광파이버의 제조장치.
- 제12항에 있어서, 상기 제어수단은 상기 막성능의 측정값과 상기 막성능의 프리세트된 값사이의 차이에 의거하여 코우팅조건을 제어하는 것을 특징으로 하는 도전성 박막이 코우팅된 광파이버의 제조장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17497889 | 1989-07-06 | ||
JP1-174978 | 1989-07-06 | ||
JP2-93429 | 1990-04-09 | ||
JP2093429A JP2803310B2 (ja) | 1989-07-06 | 1990-04-09 | 導電性薄膜コート光ファイバの製造方法およびその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR910003409A true KR910003409A (ko) | 1991-02-27 |
KR930009888B1 KR930009888B1 (ko) | 1993-10-13 |
Family
ID=15988078
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019900010146A KR930009888B1 (ko) | 1989-07-06 | 1990-07-05 | 도전성박막이 코우팅된 광파이버의 제조방법 및 그 장치 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2803310B2 (ko) |
KR (1) | KR930009888B1 (ko) |
-
1990
- 1990-04-09 JP JP2093429A patent/JP2803310B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1990-07-05 KR KR1019900010146A patent/KR930009888B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH03131550A (ja) | 1991-06-05 |
JP2803310B2 (ja) | 1998-09-24 |
KR930009888B1 (ko) | 1993-10-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0392393B1 (en) | Process for optical fiber drawing | |
US4410344A (en) | Optical waveguide fiber draw guiding and coating method and apparatus | |
US5142228A (en) | Method for statically or dynamically monitoring the thickness of electrically-conductive coatings on optical fibers | |
KR890001723A (ko) | 내장권선을 지니는 플라스틱 부품을 함께 용접하는 방법 및 장치 | |
DE68918468T2 (de) | Vorrichtung zur Überwachung der Herstellung von Papierrollen. | |
TW359836B (en) | Device and method for eddy current control of tubes | |
KR910003409A (ko) | 도전성박막이 코우팅된 광파이버의 제조방법 및 그 장치 | |
DE69018471T2 (de) | Selbsttragender dünnschichtsensor, verfahren zu seiner herstellung und anwendung in der gasdetektion und gaschromatographie. | |
EP0604665A4 (en) | METHOD FOR MEASURING THE TEMPERATURE OF A WIRE FOR A WIRE SPREADING MACHINE. | |
JPH10182181A (ja) | 光ファイバの製造方法 | |
AU629631B2 (en) | Method and apparatus for monitoring characteristics of electrically-conductive coatings on optical fibers | |
ES2072384T3 (es) | Aparato y metodo para realizar mediciones en una bobina de material en hoja. | |
SU892516A1 (ru) | Способ калибровки уставок времени электрических аппаратов | |
JPS5254466A (en) | Current measuring device | |
JPS58208638A (ja) | 光フアイバのプル−フテスト方法 | |
US4237467A (en) | Thermal writing device for recording apparatus | |
JPS61182566A (ja) | 絶縁電線のピンホ−ル検出方法 | |
SU712212A1 (ru) | Автоматический регул тор рассто ни от инструмента до поверхности издели | |
SU1499215A2 (ru) | Способ контрол физико-механических параметров изделий из ферромагнитных материалов | |
JPS5683045A (en) | Wafer probe | |
JPH03183940A (ja) | 赤外線探傷装置 | |
KR910008825B1 (ko) | 표면 결함 검출방법 | |
KR830002248A (ko) | 광택 파이버 방사장치 | |
JPH04323528A (ja) | 光ファイバの紡糸張力測定方法 | |
JPS5786127A (en) | Clearance adjustment device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20081010 Year of fee payment: 16 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |