KR900005167A - 탁도계 - Google Patents

Abstract

내용 없음

Description

탁도계

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

제1도는 본 발명을 구체화한 탁도계의 정면도.

제2도는 제1도의 탁도계에 이용되는 광원 또는 센서어셈블리의 길이방향 단면도.

제3도는 제2도에 도시된 어셈블리의 우측면도.

Claims (15)

1. a) 광원, 및 광원으로부터의 빛을 빔으로 집중시키기 위한 렌즈 ; b) 입사광의 강도에 응답하는 출력신호를 산출하는 제1광검출기 ; 및 c) 입사광의 강도에 응답하는 출력신호를 산출하는 적어도 하나의 제2광검출기를 구비하는 탁독계에 있어서, d) 시험유체내 광원(10)에 대하여 정해진 위치에서 상기 제1 및 제2광검출기(12,14)를 지지하여서, 상기 빔이 상기 유체를 통하여 상기 제1광검출기 쪽으로 향하게 하며, 각각의 상기 제2광검출기(14)가 상기 빔에 대하여 소정의 각도로 상기 유체에 의해 산란되는 광을 검출하도록 위치시키는 수단(8) ; e) 수득된 출력신호들중 적어도 하나의 진폭이 주어진 범위내에 놓일때를 결정하기 위한 수단 ; f) 광원의 강도, 검출기들중 적어도 하나의 실효감도, 및 상기 검출기들중 적어도 하나의 출력이 상기 범위내에 들도록 선정된 출력신호로부터 선택되는 적어도 한 파라미터를 선택하기 위하여 상기 결정수단에 응답하는 수단(78) ; 및 g) 상기 적어도 한 파라미터의 변경치와 상기 적어도 한 파라미터의 선택치에 따라 가중된 출력신호를 제공하도록 선정된 출력신호의 아이텐티티에 응답하는 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 탁도계.
2. 제1항에 있어서, 광원(10)은 단색광원이며, 검출기(12,14)는 광원의 파장의 빛에 실질적으로 제한되는 스펙트럼 반응을 갖는 것을 특징으로 하는 탁도계.
3. 제1항에 있어서, 광원(10)은 발광다이오드이고, 검출기(12,14)는 광원의 스펙트럼 특성에 대응하는 스펙트럼 반응을 가지는 반도체 광센서인 것을 특징으로 하는 탁도계.
4. 제1항에 있어서, 빛의 통과를 차단할 정도로 광원 또는 검출기상에 물질이 침착하는 것을 방지하기 위한 수단(18,34,44,50)을 포함하는 것을 특징으로 하는 탁도계.
5. 제4항에 있어서, 침착방지수단은 시험유체와 상용성이 있는 가압유체원(18), 및 상용성 유체를 빛이 통과하는 광원 및 검출기의 부위위에 커튼식 흐름으로 방출하기 위한 수단(34,44)를 구비하여서 상용성 유체의 이동체가 시험유체와 상기 부위의 직접적인 접촉을 방지하게 하는 것을 특징으로 하는 탁도계.
6. 제5항에 있어서, 방출수단은 상용성 유체를 상기 부위를 가로지르는 층류로 방출시키기 위하여 각각의 상기 부위의 주변부에 위치하는 출구를 가지는 흐름형성질을 구비하는 것을 특징으로 하는 탁도계.
7. 제1항에 있어서, 검사수단에 응답하는 수단에 의해 변경되는 한 파라미터는 제1광검출기(12)의 감도인 것을 특징으로 하는 탁도계.
8. 제1항에 있어서, 제1광검출기(12)에 의해 산출되는 감쇠측정신호와 제2광검출기(14)에 의해 산출되는 산란측정신호중의 하나를 선택하기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 탁도계.
9. 제1항에 있어서, 검출기출력이 상기 범위내에 들도록 상기 적어도 한 파라미터가 조정될 수 있으면 제1광검출기(12)에 의해 산출되는 감쇠측정신호를 선택하고, 그렇지 않으면 제2광검출기(14)에 의해 산출되는 산란측정신호를 선택하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 탁도계.
10. 제1항에 있어서, 수단(e,f,g)은 마이크로콘트롤러(58)에 의해 충족되고, 마리크로콘트롤러에 의해 제어되는 비휘발성 메모리는 상기 가중된 출력신호들의 계속되는 값을 기억하도록 제공되며, 데이타 출력수단(76,80)은 모니터 및 제어목적의 상기 값을 출력하기 위하여 콘트롤러에 연관되는 것을 특징으로 하는 탁도계.
11. a) 광원, 및 광원으로부터의 빛을 빔으로 집중시키기 위한 렌즈 ; b) 렌즈를 구비하며, 렌즈를 통한 입사광의 강도에 응답하는 출력신호를 산출하는 적어도 하나의 광검출기 ; c) 시험유체내 광원의 렌즈에 대하여 정해진 위치에서 상기 각각의 광검출기를 지지하여서 사이 빔이 상기 유체를 통하여 지향되게 하고, 각각의 상기 광검출기가 상기 유체에 의한 투과 후 또는 산란후에 상기 빔으로부터의 빛을 검출하도록 위치시키는 수단 ; d) 유체의 탁도를 지시하는 신호를 산출하기 위하여 상기 적어도 한 광검출기의 출력신호를 프로세스하는 수단 ; e) 상기 광원 및 각각의 검출기의 렌즈상에 물질이 침착하는 것을 방지하기 위한 수단을 구비하는 탁도계에 있어서, 렌즈상의 침착방지수단은 시험유체와 상용성이 있는 가압유체원(18), 각각의 렌즈(42)에 인접하는 흐름형성 실(44) 및 상기 가압유체원에서 상기 흐름형성실에 이르는 도관(34)을 구비하며, 각각의 흐름형성실은 시험유체 가장 가까이에서 관련 렌즈의 표면주위를 부분적으로 에워싸는 출구 오리피스를 가져서, 상기 상용성 유체의 커튼식 흐름이 렌즈의 상기 표면위에 설정되게 하는 것을 특징으로 하는 탁도계.
12. 제11항에 있어서, 광원(10) 및 광검출기(12,14)는 내장렌즈(42)를 구비한 반도체 디바이스(30)인 것을 특징으로 하는 탁도계.
13. 제11항에 있어서, 각각의 광원 및 검출기는 설치 어셈블리(24)내의 보어(28)에 수용되고 렌즈(42)는 설치어셈블리의 말단부에 한정되는 슬로트(50)의 저부에서 보어의 한쪽 단부로 돌출하며, 흐름형성실(44)은 슬로트의 한쪽단부내에 위치하고 렌즈를 가로질러 슬로트의 대향개방단부에 면하는 개방부는 가지는 것을 특징으로 하는 탁도계.
14. 제13항에 있어서, 흐름형성실(44)은 상기 설치블록내의 제2보어로부터 상기 개방부로 연상하며, 제2보어는 가압유체원(18)에 연결되고, 흐름형성실은 상기 보어로부터의 유체를 상기 커튼식 흐름으로 형성시키는 형태로 되는 것을 특징으로 하는 탁도계.
15. 제1항에 있어서, 가압유체원의 존재를 검증하는 수단(86)에 의해 특징되는 탁도계.

    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.