KR900004303B1

KR900004303B1 - Test circuit for modem

Info

Publication number: KR900004303B1
Application number: KR1019860010236A
Authority: KR
Inventors: 원진
Original assignee: 삼성전자 주식회사; 정용문
Priority date: 1986-11-30
Filing date: 1986-11-30
Publication date: 1990-06-20
Also published as: KR880006847A

Abstract

The circuit having compatibility between systems for testing MDDEM includes a central process unit (10, 100) transmitting data for controlling loop construction according to test, an address decoder latch (11,110) generating control signal by decoding output address and conrol signal of the CPU, and a latch (12, 120) chip selected by control signal of the latch (11,110) for latching control data according to kind of loopback test so that switches (S1-S4,S'1-S'4) is controlled for executing loopback function.

Description

Loopback circuit of modem

제 1 도는 전송선로에 연결된 모뎀 시스템간의 블럭도.1 is a block diagram of a modem system connected to a transmission line.

제 2 도는 본 발명에 따른 회로도.2 is a circuit diagram according to the present invention.

제 3 도는 제 2 도의 루우프백 회로용 스위치 구체회로 및 스위치상태도.3 is a switch concrete circuit and a switch state diagram for the loopback circuit of FIG.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1,5 : DTE 6,9 : 모뎀집적회로1,5: DTE 6,9: Modem integrated circuit

7,8 : DAA 10,100 : 중앙처리장치7,8: DAA 10,100: Central Processing Unit

11,110 : 어드레스 디코더래치 12,120 : 래치11,110: address decoder latch 12,120: latch

S1-S2,S1'-S4' : 제1-8스위치S1-S2, S1'-S4 ': 1-8 switch

본 발명은 모뎀(Modem)의 테스트회로에 관한 것으로, 특히 LDL(Local Digital Loop Back), LAL(Local Analog Loop Back), RDL(Remote Digital Loop Back), RAL(Remote Analog Loop Back) 및 셀프테스트(Self Test)를 위해 간단하게 경제적으로 시스템간의 호환성을 가질 수 있도록 하는 모뎀의 루우프 백(Loop Back)회로에 관한 것이다.The present invention relates to a test circuit of a modem, and in particular, a local digital loop back (LDL), a local analog loop back (LAL), a remote digital loop back (RDL), a remote analog loop back (RAL), and a self test ( It is a loop back circuit of a modem that enables simple and economical compatibility between systems for self test.

일반적으로 모뎀은 제 1 도와 같이 데이타 터미널장치(DTE)(1,5)간에 각 모뎀 집적회로(6,9)를 사용하여 변복조한 후 DAA(Data Access Arrangement)(7,8)을 통해 공중선(3)을 이용하고 있다. 그리고 모뎀은 최근에 와서 인텔리젼트형으로 변해가는 것으로 인텔리젼트 기능중에는 로컬 DTE(1)(호스트 컴퓨터, 단말기등)가 자신과 로컬모뎀 집적회로(6) 사이의 관련회로 및 선로 상태를 테스트하는 LDL기능과, 로컬 DTE(1)가 로컬모뎀 집적회로(6)로부터 발생시킨 데이타를 공중선(3)으로 송신시 이의 변조된 신호의 상태를 테스트하는 LAL기능과, 원격(Remote) DTE(5)가 공중선(3)을 거쳐 로컬모뎀 집적회로(6)에 입력되기 직전의 복조되지 않은 신호의 상태를 테스트하는 RAL기능과, 원격 DTE(5)가 공중선(3)을 거쳐 로컬 모뎀 집적회로(6)에 의해 복조된 신호의 상태를 테스트하는 RDL회로와, 모뎀이 자체만을 테스트하는 셀프테스트기능등을 가지고 있다. 따라서 이러한 상기 기능을 수행하기 위해 필요한 회로를 루우프 백(Loop Back)회로라고 한다.In general, the modem modulates and demodulates each modem integrated circuit (6, 9) between the data terminal device (DTE) (1, 5) as shown in FIG. 3) is used. In recent years, modems are becoming more intelligent, and among the intelligent functions, the local DTE (1) (host computer, terminal, etc.) tests the state of the circuit and the line between the local modem and the integrated circuit (6). LDL function, LAL function for testing the state of its modulated signal when transmitting data generated by local DTE 1 from local modem integrated circuit 6 to aerial line 3, and Remote DTE 5 RAL function for testing the state of the undemodulated signal immediately before being input to the local modem integrated circuit 6 via the aerial 3, and the remote modem DTE 5 via the aerial 3 to the local modem integrated circuit 6 RDL circuit for testing the state of the demodulated signal, and self-test function for testing the modem itself. Therefore, the circuit necessary to perform this function is called a loop back circuit.

종래의 모뎀은 개별소자를 이용하여 구성하였으므로 상기와 같은 지능적인 기능들을 수행하기가 곤란하였으나 프로세서(Processer)를 사용하여 상기 지능적(인텔리젼트)인 모뎀을 만들고자 하는 것이 최근의 추세이다. 그러나 아직 지능적인 모뎀을 제작하기에는 회로의 복잡화와 시스템간의 호환성을 갖지 못하는 결점이 있다.Conventional modems have been constructed using discrete devices, so it is difficult to perform such intelligent functions. However, the recent trend is to make intelligent (intelligent) modems using processors. However, there are still drawbacks to the complexity of the circuit and the incompatibility between systems to make an intelligent modem.

따라서 본 발명의 목적은 스위칭회로를 간단히 구성하여 제어에 의해 경제적이며, 어떤 형태의 모뎀에서 든지 쉽게 채용할 수 있도록 호환성을 갖추고 지능형 모뎀을 간단히 실현할 수 있는 모뎀의 루우프백용 회로를 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a circuit for loopback of a modem which is economical by control by simply configuring a switching circuit, which can be easily adopted in any type of modem, and which can easily realize an intelligent modem.

이하 본 발명을 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제 2 도는 본 발명에 따른 회로도로서 DTE(1)로부터 직렬 송신데이타단(TD)의 라인(101) 및 직렬수신데이타단(RD)의 라인(102)과 모뎀뎀집적회로(6)의 송수신 데이타단(TD, RD)을 제1,2스위치(S1, S2)의 입출력단(I/O)에 접속하며, 상기 모뎀 집적회로(6)의 변조된 신호의 송수신단(TC,RC)에 제3,4스위치(S3,S4)의 입출력단(I/O)을 접속하고, 상기 제3,4스위치(S3, S4)의 타입출력단(I/O)에 DAA(7)를 연결한다. 그리고 상기 제1-4스위치(Sl, S2, S3, S4)의 제어단(c)에 래치(12)와의 출력단(103-106)을 연결하며, 중앙처리장치(CPU)(10)로부터 데이타 버스(107)를 상기 래치(12)에 연결하고, 상기 중앙처리장치(10)의 어드레스 버스(108)와 제어버스(109)를 어드레스 디코더 래치(11)에 접속하고, 그로 인해 발생되는 어드레스 디코딩 신호에 의해 상기 래치(120)가 칩실렉터(CS)되도록 구성되며, 상기 모뎀접적회로(6)의 송신단(TC)과 제4스위치(S4)의 입출력단(I/O)으로 부터 DAA(7)를 연결하고, 상기 DAA(7)로부터 공중선(3)을 통해 상대편DAA(8)의 제 7스위치(S3')의 입출력단(I/O)과 모뎀집적회로(9)의 송신단(TC)를 연결하고, 한편 DAA(8)로부터 제7,8스위치(S3', S4')의 입출력(I/O)단과 연결하고, 제 8스위치(S4')의 입출력(I/O)단이 모뎀집적회로(9)의 수신단(RC)에 접속되며, 모뎀집적회로(9)의 송신데이타단(TD)과 수신데이타단(RD)과 DTE(5)의 송수신 데이타단(TD),(RD)에 제5,6스위치(S1',S2')의 입출력(I/O)단을 접속하고, 상기 제5-8스위치(S1'-S4')의 제어단(C)을 래치(120)의 출력단(l03'-106')신호에 의해 제어하며 상기 래치(120)는 어드레스 디코더래치(110)에 의해 칩 실렉터(CS)되며, 상기 어드레스 디코더래치(110)과 래치(120)를 제어하는 중앙처리장치(100)로 구성된다.2 is a circuit diagram according to the present invention, which transmits and receives data between the line 101 of the serial transmission data stage (TD) and the line 102 of the serial reception data stage (RD) and the modem modem integrated circuit 6 from the DTE 1. The terminals TD and RD are connected to the input / output terminals I / O of the first and second switches S1 and S2, and are connected to the transmission and reception terminals TC and RC of the modulated signal of the modem integrated circuit 6. The input / output terminals I / O of the 3 and 4 switches S3 and S4 are connected, and the DAA 7 is connected to the type output terminals I / O of the third and fourth switches S3 and S4. The output terminal 103-106 of the latch 12 is connected to the control terminal c of the first to fourth switches S1, S2, S3, and S4, and the data bus from the CPU 10 is connected. 107 to the latch 12, the address bus 108 and the control bus 109 of the central processing unit 10 to the address decoder latch 11, the resulting address decoding signal The latch 120 is configured to be a chip selector CS, and is connected to the DAA 7 from the transmission terminal TC of the modem integrated circuit 6 and the input / output terminal I / O of the fourth switch S4. The input / output terminal I / O of the seventh switch S3 'of the opposing DAA 8 and the transmitting terminal TC of the modem integrated circuit 9 are connected from the DAA 7 through the aerial line 3. Connected to the input / output (I / O) terminals of the seventh and eighth switches S3 'and S4' from the DAA 8, and the input / output (I / O) terminals of the eighth switch S4 'are modem integrated. The transmission data terminal of the modem integrated circuit 9 is connected to the receiving terminal RC of the circuit 9. The input / output (I / O) terminals of the fifth and sixth switches S1 'and S2' are connected to the TD, the reception data terminal RD, and the transmission / reception data terminals TD and RD of the DTE 5, and The control terminal C of the fifth to eighth switches S1 'to S4' is controlled by an output terminal 0303'-106 'signal of the latch 120, and the latch 120 includes an address decoder latch 110. The chip selector CS is configured to include a central processing unit 100 that controls the address decoder latch 110 and the latch 120.

제 3 도의 (A)는 아나로그 스위치로, 제 2 도의 제1-4스위치(S1-S4) 및 제5-8스위치(S1'-S4')의 한 부분을 구체적으로 도시한 것이며, 동작은 제어단(C)의 신호에 의해 (아나로그 신호나 디지탈 신호인 직렬데이타) 온/오프되며, 양방향 입출력(I/O)기능을 갖도록 되어 있고, (B)는 제어신호단(C)의 상태에 따라 스위치 온/오프 진리표를 표시한 것이다.(A) of FIG. 3 is an analog switch, which specifically shows a part of the 1-4 switches S1-S4 and the 5-8 switches S1'-S4 'of FIG. The signal of the control terminal C turns on / off (serial data as an analog signal or a digital signal), and has a bidirectional input / output function (I / O), and (B) is a state of the control signal terminal C. According to the switch on / off truth table is displayed.

따라서 본 발명의 일 실시예를 상술한 제 2,3 도에 의거하여 구체적으로 설명하면, LDL기능시 중앙처리장치(10)에서 어드레스 및 관련 제어 신호가 어드레스 디코더 래치(l1)에 입력되어 래치(12)를 칩 셀렉터하면 상기 중앙처리장치(10)에서 출력된 데이타가 데이터버스(107)를 통해 레치(12)에서 래치되어 라인(103,104)를 통해 제1,2스위치(S1,S2)를 온하고, 라인(105,106)를 통해 제3,4스위치(S3,S4)를 오프하여 DTE(1)로부터 테스트용 데이타가 송신데이타단(TD)가 및 라인(101)을 통해 제1,2스위치(S1,S2)를 지나 DTE(1)의 수신데이타단(RD)으로 입력되도록 루우프를 형성하므로 DTE(1)와 로컬모뎀 집적회로(6)간의 상태를 테스트할 수 있다.Accordingly, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 2 and 3 as described above. In the LDL function, an address and a related control signal are input to the address decoder latch l1 in the LDL function so that the latch ( In the chip selector 12, data output from the central processing unit 10 is latched in the latch 12 through the data bus 107 to turn on the first and second switches S1 and S2 through the lines 103 and 104. The third and fourth switches S3 and S4 are turned off through the lines 105 and 106, so that the test data is transmitted from the DTE 1 to the transmission data stage TD and the first and second switches through the line 101. Since the loop is formed to pass through S1 and S2 to the reception data stage RD of the DTE 1, the state between the DTE 1 and the local modem integrated circuit 6 can be tested.

LAL기능은 상술한 바와같은 동작으로 중앙처리 장치(10)에서 데이타가 어드레스 디코더래치(11)에 의해 래치(12)를 칩 셀렉트하고, 래치(12)에서 중앙처리장치(10)의 데이타를 래치하여 제1,3스위치(S1,S3)를 온하고, 제2,4스위치(S2,S4)를 오프하여 DTE(1)로부터 테스트 신호가 제1스위치(S1)를 통해 모뎀집적회로(6)의 송신데이타단(TD)에 입력되고, 변조된 신호를 송신단(TC)으로 출력시킨다. 그리고 이 신호는 제3스위치(S3)를 통해 모뎀집적회로(6)의 변조된 신호 입력인 수신단(RC)으로 바로 입력되고, 이 신호의 복조된 신호가 수신데이타단(RD)에서 출력되어 DTE(1)의 데이타 수신 데이타단(RD)으로 입력되도록 루우프가 형성된다. 이때 로컬 DTE(1)가 로컬 모뎀집적회로(6)에서 발생시킨 전송캐리어까지 테스트를 할 수 있다.The LAL function operates as described above, in which the data is chip-selected by the address decoder latch 11 to the latch 12, and the latch 12 latches the data of the central processing unit 10. The first and third switches S1 and S3 are turned on, the second and fourth switches S2 and S4 are turned off, and a test signal from the DTE 1 is transmitted through the first switch S1 to the modem integrated circuit 6. Is input to the transmission data terminal TD, and the modulated signal is output to the transmission terminal TC. The signal is directly input to the receiving end RC, which is a modulated signal input of the modem integrated circuit 6, via the third switch S3, and the demodulated signal of the signal is output from the receiving data end RD and then DTE. The loop is formed so as to be inputted into the data receiving data stage RD of (1). At this time, the local DTE 1 can test up to the transmission carrier generated by the local modem integrated circuit 6.

RDL기능은 제 1 도에서 원거리 상대편 모뎀부(4)에서 제 2 도와 같은 회로로 자기측 모뎀부(2)가 동일한 구성으로 연결할 경우 여기서 제5-8스위치(S1'-S4')가 자기측 모뎀부(2)의 제1-4스위치(S1-S4)와 대응되며, 첨부부호 5,9,8,100,110,120이 자기측 모뎀부(2)의 첨부부호 1,6,7,10,11,12와 대응되므로 제1-4스위치(S1-S4)와 제5-8스위치(S1'-S4')를 중앙처리장치(10)(100)의 출력 데이타가 어드레스 디코더 래치(11,110)제어에 의해 래치(12,120)를 칩실렉터하고 중앙처리장치(10,100)의 출력 데이타를 래치(12,120)에서 래치시켜 제1,3스위치(S1,S3)와 제6,8스위치(S2',S3')를 오프하고 제2,4스위치(S2,S4)와 제5,8스위치(S1',S4')를 온시킨다.The RDL function is shown in FIG. 1 when the remote side modem unit 4 is connected in the same configuration as that of the second side modem unit 2 in the same configuration as that of the fifth to eighth switches S1'-S4 '. Corresponding to the first to fourth switches S1-S4 of the modem unit 2, reference numerals 5, 9, 8, 100, 110, and 120 correspond to the 1, 6, 7, 10, 11, 12 of the modem unit 2. Correspondingly, the output data of the central processing unit 10 (100) is latched by the address decoder latches 11 and 110 by controlling the first to fourth switches S1 to S4 and the fifth to eighth switches S1 'to S4'. The chip selector 12 and 120 and the output data of the central processing unit 10 and 100 are latched by the latches 12 and 120 to turn off the first and third switches S1 and S3 and the sixth and eighth switches S2 'and S3'. Turn on the 2, 4 switches (S2, S4) and the 5, 8 switches (S1 ', S4').

DTE(5)로 부터 제5스위치(S1')와 모뎀집적회로(9)의 데이타 송신데이타단(TD)을 통해 모뎀집적회로(9)의 송신단(TC)을 지나 DAA(8)과 공중선(3)을 통해 DAA(7) 및 제4스위치(S4)를 지나 모뎀집적회로(6)의 수신단(RC) 및 수신데이타단(RD)의 통로를 통한다. 이때 제2스위치(S2)가 온되어 있고, 제1스위치(S1)는 오프되어 있으므로 상기 모뎀집적회로(6)의 수신단(RC) 및 송신데이타단(TD)을 통해 다시 DAA(7)과 공중선(3) 및 DAA(8)을 통해 루우프가 형성되는데, 이때 제8스위치(S4')가 온되어 있으므로 이 스위치를 통해 모뎀접적회로(9)의 데이타 수신단(RC) 및 수신데이타단(RD)를 통해 DAA(5)의 수신데이타단(RD)과의 루우프가 형성된다. 이때 원격 DTE(5)가 전송선로를 거쳐 로컬모뎀까지 테스트를 할 수 있다.From the DTE (5) through the data transmission data stage (TD) of the fifth switch (S1 ') and the modem integrated circuit (9) through the transmitting terminal (TC) of the modem integrated circuit (9) and DAA (8) and the aerial ( 3) through the DAA (7) and the fourth switch (S4) through the passage of the receiving end RC and the receiving data end (RD) of the modem integrated circuit (6). At this time, since the second switch S2 is turned on and the first switch S1 is turned off, the DAA 7 and the aerial plane are returned through the receiving end RC and the transmitting data end TD of the modem integrated circuit 6. A loop is formed through (3) and the DAA (8). At this time, since the eighth switch (S4 ') is on, the data receiving end (RC) and the receiving data end (RD) of the modem integrated circuit 9 are connected via this switch. A loop is formed through the reception data stage RD of the DAA 5 through the RD. At this time, the remote DTE (5) can test the local modem via the transmission line.

RAL기능은 중앙처리장치(10,100)의 출력신호에 따라 제3,4스위치(S3, S4)와 제5,8스위치(S1', S4')를 온하고, 제1,2스위치(S1,S2)와 제6,7스위치(S2',S3')를 오프하면, DTE부(5)의 송신데이타단(TD)의 데이타가 제5스위치(Sl')를 통해 모뎀집적회로(9)의 송신데이타단(TD)을 지나 모뎀집적회로(9)의 송신단(TC)으로 출력되어 DAA(8)을 지나 공중선(3)통해 DAA(7)에 입력된 후 제4스위치(S4)와 제3스위치(S3)를 통한다. 이 신호가 DAA(7)에서 공중선(3)을 지나 상대편 DAA(8)에 입력되며 이 신호가 제8스위치(S4')를 통해 모뎀집적회로(9)의 수신단(RC)에서 수신데이타단(RD)을 통해 DTE(5)의 수신데이타단(RD)과 형성되어 원격 DTE(5)의 전송선로를 거쳐 로컬모뎀칩에 입력되기 이전까지의 변조된 신호 및 캐리어상태를 데스트할 수 있다.The RAL function turns on the third and fourth switches S3 and S4 and the fifth and eighth switches S1 'and S4' according to the output signal of the central processing unit 10 and 100, and the first and second switches S1 and S2. ) And the sixth and seventh switches S2 'and S3' are turned off, the data of the transmission data terminal TD of the DTE unit 5 is transmitted to the modem integrated circuit 9 through the fifth switch S1 '. The fourth switch S4 and the third switch after the data terminal TD are output to the transmitting terminal TC of the modem integrated circuit 9, and then the DAA 8 is input to the DAA 7 through the aerial line 3. Via (S3). This signal is input from the DAA 7 through the aerial line 3 to the opposing DAA 8 and the signal is received at the receiving end RC of the modem integrated circuit 9 through the eighth switch S4 '. RD) can form the received data end RD of the DTE 5 and test the modulated signal and carrier state until it is input to the local modem chip via the transmission line of the remote DTE 5.

셀프 테스트시는 로컬 모뎀 집적회로(8)에서만 고려할 때 제3스위치(S3)를 온, 제1,2,4스위치(S1,S2,S4)를 오프하도록 중앙처리장치(10)에서 어드레스 디코더 래치(11)의 제어로 중앙처리장치(10)의 출력 데이타를 래치(12)에서 래치하여 출력한다. 그리고 중앙처리장치(10)에서 직렬데이타를 생성하여 모뎀 집적회로(6)의 송신데이타단(TD)에 입력하면, 모뎀집적회로(6)의 송신데이타단(TD)에서 송신단(TC)을 지나 제3스위치(S3)을 통해 모뎀집적회로(6)의 수신단(RC)을 통해 수신 데이타단(RD)으로 루우프가 형성되어 있으므로 모뎀집적회로(6)의 수신데이타단(RD)의 직렬데이타를 중앙처리 장치부(10)가 모뎀집적회로(6)의 송신데이타단(TD)으로 보낸 직렬데이타와 같은가를 비교할 수 있으므로 자체 기능을 데스트를 할 수 있다.In the self-test, the address decoder latches in the central processing unit 10 to turn on the third switch S3 and to turn off the first, second and fourth switches S1, S2 and S4 when considering only the local modem integrated circuit 8. Under the control of (11), the output data of the central processing unit 10 is latched by the latch 12 and output. When the serial data is generated by the central processing unit 10 and input to the transmission data terminal TD of the modem integrated circuit 6, the serial data passing through the transmission terminal TC from the transmission data terminal TD of the modem integrated circuit 6 is performed. Since a loop is formed from the receiving end RC of the modem integrated circuit 6 through the third switch S3 to the receiving data end RD, the serial data of the receiving data end RD of the modem integrated circuit 6 is received. Since the central processing unit 10 can compare the serial data sent to the transmission data stage TD of the modem integrated circuit 6, it can test its own function.

상술한 바와같이 아나로그 스위치회로와 제어신호에 의해 여러 종류의 루우프 백 회로를 형성하므로 경제적이며, 어떤 형태의 모뎀에든지 쉽게 채용할 수 있도록 호환성이 높은 지능형 모뎀을 간단히 실현한 이점이 있다.As described above, since various types of loop back circuits are formed by analog switch circuits and control signals, it is economical and there is an advantage of simply realizing a highly compatible intelligent modem so that it can be easily adopted for any type of modem.

Claims

Modulation and demodulation of the mutual transmission data using the modem integrated circuit (6, 9) between the DTE (1, 5), and then transmitted to the aerial (3) through the DAA (7, 8) and the 1-8 switch (S1-S4, In the circuit for testing the loopback by switching of (S1'-S4 '), the central processing unit (10,100) for outputting the loop formation control data for each loopback test type, and the output address and control of the central processing unit (10,100) An address decoder latch (11,110) for decoding a signal to generate a control signal, and a chip seal according to the output control signal of the address decoder latch (11,110), and the output terminals are first to eighth switches (S1-S4, S1'-S4). '1-8 switch (S1-S4, S1) connected to the control terminal (C) of the' C 'to execute the loopback function by latching control data for each type of output loopback test of the central processing unit (l0,100). Modem loopback characterized in that it consists of latches 12,120 for controlling '-S4') A.