KR840001154B1 - 모니터에 의한 주행사의 가공균도 측정법 - Google Patents

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Abstract

내용 없음.

Description

모니터에 의한 주행사의 가공균도 측정법
도면은 본 발명의 바람직한 형태의 개요도.
본 발명은 전도율에 의해 사의 가공균도(yarn finish level)를 검지하는 것에 관한 것이며, 특히 주행하는 사의 가공균도를 모니터(monitor)에 의해 측정하는 방법에 관한 것이다.
갓 형성된 인조섬유 또는 사는 가공제라 일컫는 액으로 통상 피복된다. 가공제는 용액 또는 여러성분의 유제로써 통상 윤활, 대전방지와 같은 다양한 기능을 수행하기 위해 사용되었다. 많은 연속공정을 효율적으로 수행하기 위해서는 사의 가공균도를 정확하게 조절할 필요가 있다. 본 발명은 주행사의 가공균도에 대한 정확한 측정을 목적으로 하고 있다.
본 발명에 따라, 주행사에 대한 가공균도를 측정하는데 있어서, 사의 통로를 따라 위치한 각각 제1 및 제2지점에서 접촉시키기 위한 제1 및 제2전도장치, 제1전도장치를 고정된 전위점에 연결시키기 위한 장치, 및 제1과 제2전도장치사이에 걸려 있는 사의 저항에 대해 반응하는 장치를 조합하여 구성되어 있는 장치를 제공한다.
본 발명의 양상에 따라서, 상기한 마지막에 언급한 장치는 제1 및 제2전도장치, 사의 접촉부, 동력원, 제1및 제2전도장치사이의 사를 따라 흐르는 전류에 대해 반응하는 장치로 이루어지는 일련의 폐쇄회로로 구성된다.
본 발명의 다른 양상에 따라서, 본 발명의 장치는 제2전도장치의 하부의 점에서 사를 접촉시키기 위한 제3전도장치 및 제3전도장치를 고정된 전위점에 연결시키기 위한 장치로 구성되어 있다. 본 발명의 또 다른 양상은 고정된 전위점을 접지하는 것이다. 본 발명의 기타양상은 하기에 부분적으로 나타냈으며, 첨부된 도면을 참고로 하여 상세하게 기술하였다.
도면은 본 발명의 바람직한 형태를 도시한 개요도이다.
도시한 바와 같이, 주행사(20)은 사의 통로를 따라 통과하고, 사의 통로를 따라 위치한 일련의 전도 장치와 접촉한다. 전도장치의 바람직한 형태는 전도성 세라믹판이다. 따라서, 사(20)은 가이드핀(22), 제1핀(24), 제2핀(26) 및 제3핀(28)과 연속적으로 접촉한다.
본 발명에 따라 핀(24)는 핀(24)의 상부에 측정을 방해하는 표류정전하가 축적되는 것을 방지하기 위해 고정된 전위점(예를들면, 접지)에 연결한다. 사에 대한 가공균도는 실험적으로 볼때 제1핀(24)와 제2핀(26)에 걸친 사(20)의 저항과 관련이 있다.
저항은 다음과 같이 측정한다. 직류동력원(32)와 계기(34)는 핀(26) 및 지면사이에 연결되어 있으며, 핀(24) 및 핀(26)에 걸친 사(20)를 통과하는 전류를 측정한다. 측정된 전류는 접촉점 사이의 저항과 역관계에 있으며, 주어진 가공조성물의 가공균도와 관계가 있다.
계기(34)의 출력에 비례하는 부호(또는, 전류)는 아날로그를 디지탈로 변환시키는 변환기(36)에 공급할수 있으며, 이 계기의 출력을 컴퓨터로 분석하여 가공균도, 변동계수 등을 측정할 수 있다.
접지된 전극(28)은 전극의 하방으로 일어나는 측정을 방해하는 전기적인 교란을 방지한다. 전극(28)을 접지시켰을 시에, 측정하는 저항은 핀(26)과 (28)에 걸친 사부분에 상응하는 핀(24)와 (26)에 걸친 사부분에 의해서 나타난 저항이다.
예를들면, 직류 동력원의 출력은 45볼트이며, 핀(22),(24),(26) 및 (28)은 각각 12㎜이고, 미터기는 키슬리모델480(Keithley Model 480) 피코암미터(Picoammeter)이다.
의류용 데니어사 및 특수한 가공제로써, 마이크로암페어 정도의 전류를 측정할 수 있으며, 피코암미터 정도의 전류도 검지할 수 있다.

Claims (1)

  1. 전기적으로 전도성인 제1 및 제2접촉체를 사용하여 사의 통로를 따라 위치한 제1 및 제2지점에서 사를 접촉시키며, 제1접촉체를 고정된 전위점에 연결하며, 제1 및 제2접촉체사이에 걸려있는 사의 저항을 측정하여 조합하는 것을 특징으로 하여 주행사의 가공균도를 측정하는 방법.
KR1019810001537A 1980-05-05 1981-05-04 모니터에 의한 주행사의 가공균도 측정법 KR840001154B1 (ko)

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