KR830001005B1 - 데코더 회로 - Google Patents

데코더 회로 Download PDF

Info

Publication number
KR830001005B1
KR830001005B1 KR1019800001493A KR800001493A KR830001005B1 KR 830001005 B1 KR830001005 B1 KR 830001005B1 KR 1019800001493 A KR1019800001493 A KR 1019800001493A KR 800001493 A KR800001493 A KR 800001493A KR 830001005 B1 KR830001005 B1 KR 830001005B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
circuit
transistor
current
output
address signal
Prior art date
Application number
KR1019800001493A
Other languages
English (en)
Inventor
도시다까 후꾸시마
가스미 고야마
고오지 우에노
다미오 미야무라
유우이찌 가와바다
Original Assignee
후지쑤 가부시끼 가이샤
고바야시 다이유
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 후지쑤 가부시끼 가이샤, 고바야시 다이유 filed Critical 후지쑤 가부시끼 가이샤
Priority to KR1019800001493A priority Critical patent/KR830001005B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR830001005B1 publication Critical patent/KR830001005B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

데코더 회로
제1도는 종래의 접합단락형의 PROM에 있어서의 데코더 회로의 예를 표시한 그림.
제2도, 제3도는 본 발명의 1실시예에 의한 데코더 회로를 표시한 그림.
제4도, 제5도는 서입회로 및 독출회로의 예를 표시한 그림.
본 발명은 바이폴라형 반도체 메모리(기억장치)에 있어서의 데코더 회로에 관한 것이다.
메모리의 데코더회로는 어드레스 신호에 의하여 메모리의 워드선, 비트선등을 선택하여 이 어드레스 신호에 대응하는 메모리셀을 선출하는 것으로서 그 일례를 제1도에 표시한다.
제1도는 접합파괴형의 PROM(프로그램 가능한 독출 전용 메모리)에 있어서 비트선을 선택하는 데코더 회로의 구성을 표시하는 것으로서 그림에서 1은 하나의 어드레스 신호입력단자, 2, 3은 서입 및 독출 시스템의 어드레스 신호선, 4는 서입회로, 5는 독출회로, 6은 워드선 구동회로, T5는 출력단자를 각각 표시하는 것이다.
제1도의 동작을 설명하면 어드레스신호, 예를들면 A0는 어드레스신호 입력단자 1에 입력하여 인버터 INV1-INV4를 개입하여 어드레스 신호 A0, A0가 작성되고 어드레스 신호선 2, 3에 공급된다. 또, 어드레스 신호가 A0, A1, A2의 3비트로 구성되었다고 하면 타의 2비트의 어드레스 신호 A1, A2도 어드레스 신호 A0과 마찬가지로 도시되어 있지 아니한 인버터회로단을 개입하여 A1, A1, A2, A2가 작성되어 어드레스 신호선 2, 3에 대응하는 선에 공급된다.
어드레스 신호선 2, 3에서의 어드레스 신호는 앤드게이트 회로 G1, G2, 데코더 출력단과 T1, T2를 개입하여 각각 서입회로 4, 독출회로 5에 입력한다.
앤드게이트 회로 G1, G2는 각각 3개의 다이오드 D1, D2, D3및 D4, D5, D6에 의하여 구성되어 있고, 각 다이오드의 출력이 공통으로 데코더 출력단자 T1및 T2에 접속되어 있다.
어드레스 신호는 3비트로 구성되어 있으므로 어드레스 신호선 2,3에 접속되는 앤드게이트 회로는 각각 8개씩 있고, 그 1개마다 G1, G2로서 그림에 표시되어 있으며, 이 앤드게이트는 어드레스 신호의 조합의 하나로 A0, A1, A2가 입력하는 구성을 표시하고 있다.
앤드게이트 회로, 예를들면 G1을 구성하는 다이오드 D1, D2, D3에 입력하는 어드레스신호 A0, A1, A2의 1개 이상이 L(低) 레벨에 있으면 앤드게이트 회로 G1이 ON이 되어 서입회로 4로부터의 전류를 인입함으로써 서입회로를 동작 불가능하게 하고, 또 어드레스 신호 A0, A1, A2의 모두가 H(高)레벨에 있으면 앤드게이트 회로 G1이 OFF로 되어 서입회로 4로부터의 전류를 인입하지 않으므로 서입회로 4를 동작이 가능하게 한다.
어드레스신호 A0, A1, A2에 의하여 동작이 가능하게 된 서입회로는 출력단자 T5로부터 서입 전류가 주어진 때에 대응하는 비트선 Bi에 단자 T3을 개입하여 이 전류를 공급한다. 이리하여 서입전류는 워드선 구동회로 6으로 선택된 워드선 Wi와의 사이에 접속된 메모리 셀트랜지스터 Qc의 에미터, 베이스 접합을 단락하여 서입을 행한다.
마찬가지로 어드레스신호 A0, A1, A2의 모두가 H레벨에 있으면 앤드게이트 회로 G2가 OFF로 되어 독출회로 5로부터의 전류를 인입하지 않으므로 독출회로 5에 대응하는 비트선 Bi의 독출 동작을 가능하게 한다.
이리하여 비트선 Bi와 워트선 구동회로 6으로 선택된 워드선 Wi와의 사이에 접속된 메모리셀 트랜지스터 Qc의 에미터, 베이스 접합이 단락되어 있는 경우에는 단자 T4, 비트선 Bi, 트랜지스터 Qc, 워드선 Wi에 독출 전류가 흐르고, 또 단락되어 있지 아니한 경우에는 이 독출 전류가 흐르지 아니한다. 독출 회로 5는 이 독출 전류가 흐르는지 여부에 의하여 메모리셀의 정보를 검출하여 그 검출출력을 출력단자 T5에 출력한다.
또한 워드선 구동회로 6은 그 출력이 L레벨을 나타낼때에 워드선 Wi가 선택되는 것으로서 서입 전류 또는 독출 전류를 인입하는 것이 가능하게 되는 것이다.
그런데 제1도의 구성에 있어서는 앤드게이트회로 G1, G2가 다이오드 구성으로 되어 있기 때문에 서입회로 4와 독출회로 5로부터 인버터 INV1-INV4의 각 출력단에 유입하는 인입 전류가 큰 것이며, 따라서 각 인버터 INV1-INV4의 출력 트랜지스터에 드라이브 능력의 큰 것이 요구된다.
드라이브 능력을 크게 하기 위하여는 트랜지스터의 패턴을 크게 하지 않으면 아니되고 집적도의 약화뿐만 아니라 베이스 용량이 증대하게 되어 스위칭 스피드가 늦어지게 되는 결점을 가지고 있다. 서입회로 4로 부터 인버터 출력단에 유입하는 전류와 독출회로 5로부터 인버터 출력단에 유입하는 전류를 비교하면 PROM의 경우, 서입회로 4에서 인버터 출력단에 유입하는 전류의 것이 독출회로 5로부터의 전류보다 수배정도 큰 것으로서 이 때문에 제1도에 있어서는 서입 시스템과 독출 시스템에의 어드레스 신호를 다른 인버터 출력단에서 얻고 있다.
본 발명은 상기한 종래의 결점을 제거하고 서입시 혹은 독출시에 인버터 출력단에 유입하는 전류를 적게하여 인버터의 출력 트랜지스터의 스위칭 스피드를 향상시키는 것을 목적으로 하고 있다.
그리고 이 목적은 본 발명에 의하면 어드레스 신호선으로 부터의 어드레스 신호를 PNP 트랜지스터의 베이스에 입력하여 이 PNP 트랜지스터의 에미터를 데코더 출력으로 하는 것을 특징으로 하는 데코더 회로를 제공하는 것에 의하여 달성된다.
이하 본 발명의 실시예를 도면에 따라 상술한다.
제2도는 본 발명의 1 실시예를 표시하는 것으로 제1도에 있어서 앤드게이트 회로 G1, G2의 다이오드 D1, D2, D3및 D4, D5, D6를 PNP 트랜지스터 Q1, Q2, Q3으로 바꾼 것인 G1'(G2')이고 기타는 제1도와 마찬가지이므로 생략되어 있다.
트랜지스터 Q1, Q2, Q3의 베이스는 어드레스 신호선 2(3)에 접속되고 공통접속 콜렉터는 접지되고 또 공통접속에미터는 데코더 출력단 T1(T2)에 접속된다.
어드레스 신호선 2(3)로 부터의 어드레스 신호 A0, A1, A2의 하나라도 L레벨에 있으면 트랜지스터 Q1-Q3중 하나가 ON으로 되어 데코더 출력단자 T1(T2)로 부터 전류 I가 흐르지만 트랜지스터 Q1-Q3의 베이스 전류는 이 트랜지스터의 전류증폭률 α에 의하여 정해지는 I(1-α)가 되어 극히 소전류로 할수가 있게 된다. 예를 들면 α=0.98로 하면 베이스 전류는 I/50로 된다.
따라서 어드레스선 2, 3으로 부터 인버터 INV1-INV4의 각 출력단에 유입하는 전류는 저감되므로 인버터 INV1-INV4의 각 출력 트랜지스터는 그 패턴을 작게 할 수 있고 스위칭스피드를 빠르게 할 수 있게 되는 것이다.
이와 같이 본 발명에 의하면 인버터의 출력 트랜지스터의 스위칭 스피드를 빠르게 할수가 있는 것이며, 제3도에 표시하는 바와 같이 제1도에 있어서의 인버터 INV3-INV4를 생략하고 서입 시스템과 독출 시스템에의 어드레스 신호를 인버터 INV1, INV2의 출력단으로 부터 공통으로 공급하는 것도 가능하다. 즉, 제1도의 종래예에 있어서는 독출 시스템의 스위칭 스피드를 서입 시스템보다 빠르게 하기 위하여 서입 시스템과 독출 시스템에의 어드레스 신호를 달리하는 인버터 출력단으로 부터 공급하였던 것이나, 본 발명에 의하면 서입 시스템의 스위칭 스피드를 충분히 빠르게 할수가 있으므로 서입시스템과 독출 시스템에의 어드레스 신호를 공통의 인버터 출력단으로 부터 공급하여 구성을 간략화 할수가 있는 것이다.
제4도는 서입 회로 4의 구성을 표시하는 것으로 Q4는 PNP 트랜지스터, Q5는 NPN 트랜지스터, R1은 저항, ZD1은 예를 들면 제너전압 20V의 제너다이오드를 표시하는 것이다.
제4도의 회로의 동작을 설명하면 출력단자 T5로 부터 예를들면 120mA의 정전류가 공급되면 PNP트랜지스터 Q4의 베이스 전류가 저항 R1, 제너 다이오드 ZD를 통하여 흘러 이 PNP 트랜지스터 Q4는 ON 상태가 된다.
한편, 데코더 출력단자 T1에 접속되는 앤드게이트 G1(G1')이 OFF 상태 즉, 선택상태에 있어서는 PNP 트랜지스터 Q4의 콜렉터전류가 NPN 트랜지스터 Q5의 베이스에 공급되어 이 NPN 트랜지스터 Q5가 ON 상태가 된다.
이리하여 서입 전류는 트랜지스터 Q4, Q5, 단자 T3를 개입하여 대응하는 버트선 Bi에 공급된다.
또한 저항 R1과 제너 다이오드 ZD는 ON 전압 제어회로를 구성하며 독출을 할때에 출력단자 T5로 부터 트랜지스터 Q4를 개입하여 전류가 흐르지 않는 즉, 트랜지스터 Q4를 OFF로 되게 하기 위한 것이다.
제5도는 독출 회로 5의 구성을 표시하는 것이고, D1-D4는 역류방지용 다이오드 Q6-Q9는 NPN 트랜지스터 R2-R6은 저항, INV5는 인버터를 각각 표시하는 것이다.
제5도의 동작을 설명하면 데코더 출력단자 T2와 비트선단자 T4에 공통접속된 트랜지스터 Q6의 베이스가 H레벨에 있을때 (비트선 Bi와 워드선 Wi와의 사이에 있는 선택된 메모리 셀트랜지스터 Qc가 서입전의 상태에 있을때) 이 트랜지스터 Q6이 ON으로 되고 트랜지스터 Q7은 ON 상태가 된다.
이 때문에 트랜지스터 Q9는 ON, 트랜지스터 Q8은 OFF되고, 출력단지 T5에 L 레벨의 "0"을 출력한다. 역으로 메모리셀트랜지스터 Qc가 서입 후의 상태에 있을때는 트랜지스터 Q6의 베이스가 L레벨이고 이 트랜지스터 Q8가 OFF(이때 트랜지스터 Q6에 병렬접속된 다른 비트선에 대응하는 트랜지스터 Q6'는 데코더 출력단자 T2'가 비선택의 L레벨에 있기 때문에 OFF 되어 있다)로 되고 트랜지스터 Q7은 OFF 상태가 된다. 이 때문에 트랜지스터 Q는 OFF, 트랜지스터 Q8은 ON으로 되고, 출력잔자 T5에 H레벨의 "1"을 출력한다.
이상은 독출때의 동작이지만 서입시에는 칩인에이블 신호 CE를 H레벨로 함으로써 인버터 INV5의 출력이 L레벨로 되고, 트랜지스터 Q7-Q9는 모두 OFF 상태가 된다.
이때 출력단자 T5에는 서입용의 고전압, 정전류가 공급되어 제4도에서 설명한 동작이 행하여지지만 트랜지스터 Q8, Q9는 OFF이기 때문에 그 내압이 확보되는 것이다.
이상 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면 데코더의 출력 게이트를 트랜지스터로 구성함으로써 인버터단에 유입하는 전류를 저감할 수가 있고, 인버터의 스위칭스피드를 빨리 할 수 있고, 이와 더불어 그 구성을 간략화 할수가 있는 것이다.
이상은 접합단락형 PROM에 있어서의 데코더 회로에 대하여 설명하였으나, 본 발명은 다른 바이폴라형 메모리에도 적용할 수 있음은 물론이다.

Claims (1)

  1. 어드레스 신호선으로 부터의 어드레스 신호를 PNP 트랜지스터의 베이스에 입력하여 이 PNP 트랜지스터의 에미터를 데코더 출력으로 하는 것을 특징으로 하는 데코더 회로.
KR1019800001493A 1980-04-10 1980-04-10 데코더 회로 KR830001005B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019800001493A KR830001005B1 (ko) 1980-04-10 1980-04-10 데코더 회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019800001493A KR830001005B1 (ko) 1980-04-10 1980-04-10 데코더 회로

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR830001005B1 true KR830001005B1 (ko) 1983-05-24

Family

ID=19216204

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019800001493A KR830001005B1 (ko) 1980-04-10 1980-04-10 데코더 회로

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR830001005B1 (ko)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1219369A (en) Semiconductor memory
US4800529A (en) Semiconductive memory device with current control and comparison means to reduce power consumption and increase operating speed
US4319341A (en) Programming circuit for permanently storing data in a programmable read only memory
US4631707A (en) Memory circuit with power supply voltage detection means
US4424582A (en) Semiconductor memory device
US5016214A (en) Memory cell with separate read and write paths and clamping transistors
US4498022A (en) Tristate output buffer with high-impedance state responsive to increase in power supply voltage
KR0137711B1 (ko) 바이폴라 및 전계 효과 트랜지스터에 의해 구현되고 안정된 감지 증폭기를 갖는 반도체 집적 회로 소자
US4347584A (en) Programmable read-only memory device
JPS582437B2 (ja) スリ−ステイト出力回路
EP0055409A1 (en) A semiconductor memory
JPS60133598A (ja) プログラミング回路
JPH0345478B2 (ko)
US4646264A (en) Programmable read-only memory device
US3436738A (en) Plural emitter type active element memory
KR830001005B1 (ko) 데코더 회로
US4730275A (en) Circuit for reducing the row select voltage swing in a memory array
EP0289893A2 (en) Bipmos decoder circuit
US4656606A (en) Semiconductor memory device providing a selection circuit change-over arrangement
JPS62132300A (ja) マトリツクスアレイリ−ドオンリメモリ装置
US4422162A (en) Non-dissipative memory system
US4899311A (en) Clamping sense amplifier for bipolar ram
US4635231A (en) Semiconductor memory with constant readout capability
US4432076A (en) Bipolar static semiconductor memory device with a high cell holding margin
KR840001460B1 (ko) 반도체 기억장치