KR20240061059A - Pellicle Frame with Filter and Method of Fabricating the Same - Google Patents

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김용수
이소윤
박성환
강홍구
최재혁
서경원
조상진
배정준
박준우
유준성
윤우현
홍성규
박진수
김경수
우란
김청
이동훈
양성주
이화철
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Abstract

본 발명은 펠리클 프레임 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 필터를 구비한 펠리클 프레임 및 그 제조방법에 관한 것이다. 본 발명은, 펠리클 막을 지지하기 위한 중공의 통 형상의 프레임과; 상기 프레임의 내측 면과 외측 면 중 적어도 하나의 측면에 부착되는 결합부와, 상기 결합부로부터 포토마스크를 향해 연장되는 연장부를 구비하며, 상기 연장부에는 가스가 통과할 수 있는 복수의 기공이 형성되며, 상기 연장부는 상기 프레임을 향해서 굽어 있는 띠 형태의 필름 필터를 포함하는 필터를 구비한 펠리클 프레임을 제공한다. 본 발명에 따른 펠리클 프레임은 통기성을 확보하면서도, 이물질을 차단할 수 있다는 장점이 있다.The present invention relates to a pellicle frame and a method of manufacturing the same, and more specifically, to a pellicle frame equipped with a filter and a method of manufacturing the same. The present invention includes a hollow, cylindrical frame for supporting a pellicle membrane; It has a coupling part attached to at least one of the inner surface and the outer surface of the frame, and an extension part extending from the coupling part toward the photomask, and a plurality of pores through which gas can pass are formed in the extension part. The extension portion provides a pellicle frame equipped with a filter including a band-shaped film filter bent toward the frame. The pellicle frame according to the present invention has the advantage of being able to block foreign substances while ensuring breathability.

Description

필터를 구비한 펠리클 프레임 및 그 제조방법{Pellicle Frame with Filter and Method of Fabricating the Same}Pellicle frame with filter and method of manufacturing the same {Pellicle Frame with Filter and Method of Fabricating the Same}

본 발명은 펠리클 프레임 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 필터를 구비한 펠리클 프레임 및 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a pellicle frame and a method of manufacturing the same, and more specifically, to a pellicle frame equipped with a filter and a method of manufacturing the same.

반도체 디바이스 또는 액정 표시판 등의 제조에 포토리소그라피라는 방법이 사용된다. 포토리소그라피에서는 패터닝의 원판으로서 마스크가 사용되고, 마스크 상의 패턴이 웨이퍼 또는 액정용 기판에 형성된 각종 층에 전사된다. A method called photolithography is used to manufacture semiconductor devices or liquid crystal displays. In photolithography, a mask is used as a patterning plate, and the pattern on the mask is transferred to various layers formed on a wafer or liquid crystal substrate.

이 마스크에 먼지가 부착되어 있으면 이 먼지로 인하여 빛이 흡수되거나, 반사되기 때문에 전사한 패턴이 손상되어 반도체 장치나 액정 표시판 등의 성능이나 수율의 저하를 초래한다. If dust adheres to the mask, light is absorbed or reflected due to the dust, which damages the transferred pattern, resulting in a decrease in performance or yield of semiconductor devices or liquid crystal displays.

따라서, 이들의 작업은 보통 클린룸에서 행해지지만 이 클린룸 내에도 먼지가 존재하므로, 마스크 표면에 먼지가 부착하는 것을 방지하기 위하여 펠리클을 부착하는 방법이 사용된다.Therefore, these works are usually performed in a clean room, but since dust exists even in this clean room, a method of attaching a pellicle is used to prevent dust from attaching to the mask surface.

이 경우, 먼지는 마스크의 표면에는 직접 부착되지 않고, 펠리클 막 위에 부착되고, 리소그라피 시에는 초점이 마스크의 패턴 상에 일치되어 있으므로 펠리클 상의 먼지는 초점이 맞지 않아 패턴에 전사되지 않는 이점이 있다.In this case, the dust is not attached directly to the surface of the mask, but is attached to the pellicle film. During lithography, the focus is aligned with the pattern of the mask, so there is an advantage that the dust on the pellicle is not transferred to the pattern because it is out of focus.

점차 반도체 제조용 노광 장치의 요구 해상도는 높아져 가고 있고, 그 해상도를 실현하기 위해서 광원의 파장이 점점 더 짧아지고 있다. 구체적으로, UV 광원은 자외광 g선(436㎚), I선(365㎚), KrF 엑시머 레이저(248㎚), ArF 엑시머 레이저(193㎚)에서 극자외선(EUV, extreme Ultraviolet, 13.5㎚)으로 점점 파장이 짧아지고 있다.The resolution required for exposure equipment for semiconductor manufacturing is gradually increasing, and in order to realize that resolution, the wavelength of the light source is becoming shorter and shorter. Specifically, the UV light source ranges from ultraviolet g-ray (436㎚), I-ray (365㎚), KrF excimer laser (248㎚), and ArF excimer laser (193㎚) to extreme ultraviolet (EUV, 13.5㎚). The wavelength is getting shorter.

이러한 극자외선을 이용한 노광 기술을 실현하기 위해서는 새로운 광원, 레지스트, 마스크, 펠리클의 개발이 불가결하다. 즉, 종래의 유기 펠리클 막은 높은 에너지를 가진 노광 광원에 의해서 물성이 변화되고, 수명이 짧기 때문에 극자외선용 펠리클에는 사용되기 어렵다는 문제가 있다. 이러한 문제를 해결하기 위해서 다양한 시도가 진행되고 있다.In order to realize exposure technology using extreme ultraviolet rays, the development of new light sources, resists, masks, and pellicles is essential. That is, the conventional organic pellicle film has a problem in that it is difficult to use in a pellicle for extreme ultraviolet rays because its physical properties change due to exposure light sources with high energy and its lifespan is short. Various attempts are being made to solve these problems.

또한, 펠리클 막을 지지하는 펠리클 프레임으로 종래에는 강성과 가공성만을 고려하여 알루미늄, 스테인리스, 폴리에틸렌 등을 사용하고 있었다. 그러나 고에너지의 극자외선을 이용한 노광시에는 광 에너지에 의한 온도 상승으로 인한 펠리클 프레임의 수축과 팽창에 의해 펠리클 막에 주름이 발생하거나 파손될 수 있다는 문제가 있다.Additionally, conventionally, aluminum, stainless steel, polyethylene, etc. were used as a pellicle frame supporting the pellicle membrane, considering only rigidity and processability. However, during exposure using high-energy extreme ultraviolet rays, there is a problem that wrinkles or damage may occur in the pellicle film due to contraction and expansion of the pellicle frame due to a temperature increase due to light energy.

따라서 펠리클 프레임의 재료로 열팽창 계수가 낮은 Si, SiC, SiN 등의 재료를 사용하는 방법이 연구되고 있다. 그러나 이러한 재료는 펠리클 내부와 외부의 압력차를 완화하기 위한 통기구를 가공하기 어렵다는 문제가 있었다. 통상 펠리클 프레임의 측면에는 펠리클을 포토마스크에 부착하거나 박리할 때 압력차에 의해서 펠리클 막이 손상되는 것을 방지하기 위한 통기구가 형성된다.Therefore, methods of using materials with low thermal expansion coefficients such as Si, SiC, and SiN as materials for the pellicle frame are being studied. However, these materials had a problem in that it was difficult to fabricate ventilation holes to alleviate the pressure difference between the inside and outside of the pellicle. Typically, ventilation holes are formed on the side of the pellicle frame to prevent the pellicle membrane from being damaged by pressure differences when attaching or peeling the pellicle from the photomask.

이러한 통기구 형성의 어려움과 펠리클 부착에 따른 포토마스크의 변형(PID, Pellicle-Induced Distortion) 때문에 통기구를 형성하지 않고, 펠리클과 포토마스크 사이에 통기를 위한 간격을 두는 방법도 사용되고 있다. 그러나 이 간격으로 이물질이 유입되어 포토마스크의 표면에 부착될 수 있다는 문제가 있다.Due to the difficulty in forming such ventilation holes and the deformation (PID, Pellicle-Induced Distortion) of the photomask due to attachment of the pellicle, a method of leaving a gap for ventilation between the pellicle and the photomask without forming a ventilation hole is also used. However, there is a problem that foreign substances may enter this gap and attach to the surface of the photomask.

공개특허 제2009-0088396호Public Patent No. 2009-0088396 공개특허 제2009-0122114호Public Patent No. 2009-0122114 등록특허 제1552940호Registered Patent No. 1552940 등록특허 제1303795호Registered Patent No. 1303795 등록특허 제1940791호Registered Patent No. 1940791 공개특허 제2016-0086024호Public Patent No. 2016-0086024 공개특허 제2019-0005911호Public Patent No. 2019-0005911 공개특허 제2019-0107603호Public Patent No. 2019-0107603 공개특허 제2019-0040445호Public Patent No. 2019-0040445 공개특허 제2008-0099920호Public Patent No. 2008-0099920 등록특허 제1866017호Registered Patent No. 1866017

본 발명은 상술한 문제점을 개선하기 위한 것으로서, 통기를 위한 필터를 구비한 펠리클 프레임 및 그 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention is intended to improve the above-mentioned problems and aims to provide a pellicle frame equipped with a filter for ventilation and a method of manufacturing the same.

상술한 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은, 펠리클 막을 지지하기 위한 중공의 통 형상의 프레임과; 상기 프레임의 내측 면과 외측 면 중 적어도 하나의 측면에 부착되는 결합부와, 상기 결합부로부터 포토마스크를 향해 연장되는 연장부를 구비하며, 상기 연장부에는 가스가 통과할 수 있는 복수의 기공이 형성되며, 상기 연장부는 굽어 있는 띠 형태의 필름 필터를 포함하는 필터를 구비한 펠리클 프레임을 제공한다.In order to achieve the above-described object, the present invention includes a hollow cylindrical frame for supporting the pellicle membrane; It has a coupling part attached to at least one of the inner surface and the outer surface of the frame, and an extension part extending from the coupling part toward the photomask, and a plurality of pores through which gas can pass are formed in the extension part. The extension portion provides a pellicle frame equipped with a filter including a curved strip-shaped film filter.

또한, 상기 프레임의 상기 측면에는 오목한 접착제 수용 패턴이 형성되며, 상기 결합부는 상기 접착제 수용 패턴에 채워진 접착제에 의해서 상기 프레임의 상기 측면에 결합하는 필터를 구비한 펠리클 프레임을 제공한다.Additionally, a concave adhesive receiving pattern is formed on the side of the frame, and the coupling portion provides a pellicle frame with a filter coupled to the side of the frame by an adhesive filled in the adhesive receiving pattern.

또한, 상기 접착제 수용 패턴의 내부에는 요철이 형성된 필터를 구비한 펠리클 프레임을 제공한다.In addition, a pellicle frame is provided with a filter having irregularities formed inside the adhesive receiving pattern.

또한, 상기 요철의 철부의 끝단은 상기 프레임의 상기 측면과 동일 평면상에 위치하는 필터를 구비한 펠리클 프레임을 제공한다.In addition, the ends of the uneven convex portions provide a pellicle frame with a filter located on the same plane as the side surface of the frame.

또한, 본 발명은 a) 펠리클 막을 지지하기 위한 중공의 통 형상의 프레임을 준비하는 단계와, b) 결합부와, 상기 결합부로부터 연장되는 연장부를 구비하며, 상기 연장부에는 가스가 통과할 수 있는 복수의 기공이 형성된 띠 형태의 필름 필터를 준비하는 단계와, c) 상기 결합부를 상기 프레임의 내측 면과 외측 면 중 적어도 하나의 측면에 부착하는 단계와, d) 상기 연장부가 구부러지도록 상기 연장부를 처리하는 단계를 포함하는 필터를 포함하는 펠리클 프레임의 제조방법을 제공한다.In addition, the present invention includes the steps of a) preparing a hollow, cylindrical frame to support the pellicle membrane, and b) providing a coupling portion and an extension portion extending from the coupling portion, the extension portion allowing gas to pass through. preparing a strip-shaped film filter with a plurality of pores, c) attaching the coupling portion to at least one of the inner and outer surfaces of the frame, and d) extending the extension portion so that it is bent. A method of manufacturing a pellicle frame including a filter including the step of processing the portion is provided.

또한, 상기 d) 단계는, 상기 연장부의 길이 방향을 따라서 상기 연장부의 표면에 상기 연장부에 비해서 열전도율이 높은 금속 층을 선 형태로 증착하는 단계와, 유도 가열을 통해서 선 형태로 증착된 상기 금속 층을 가열하여, 상기 금속 층이 형성된 상기 연장부를 수축시키는 단계를 포함하는 필터를 구비한 펠리클 프레임의 제조방법을 제공한다.In addition, step d) includes depositing a metal layer having higher thermal conductivity than the extension in a line shape on the surface of the extension along the longitudinal direction of the extension, and the metal deposited in a line shape through induction heating. A method of manufacturing a pellicle frame with a filter is provided, including heating the layer to shrink the extension portion on which the metal layer is formed.

또한, 상기 d) 단계는, 상기 펠리클 프레임이 포토마스크에 결합하여, 상기 연장부가 상기 포토마스크의 표면에 접근할 때, 상기 연장부가 구부러지도록 상기 연장부를 상기의 포토마스크의 표면과 같은 극성으로 대전시키는 단계를 포함하는 필터를 구비한 펠리클 프레임의 제조방법을 제공한다.In addition, in step d), the pellicle frame is coupled to the photomask, and when the extension part approaches the surface of the photomask, the extension part is charged to the same polarity as the surface of the photomask so that the extension part is bent. Provided is a method of manufacturing a pellicle frame with a filter including the step of:

또한, 상기 프레임의 상기 측면에는 오목한 접착제 수용 패턴이 형성되며, 상기 c) 단계는, 상기 접착제 수용 패턴에 접착제를 채우는 단계와, 상기 접착제 수용 패턴에 채워진 접착제를 이용하여 상기 결합부를 상기 프레임의 상기 측면에 결합하는 단계를 포함하는 필터를 구비한 펠리클 프레임의 제조방법을 제공한다.In addition, a concave adhesive receiving pattern is formed on the side of the frame, and step c) includes filling the adhesive receiving pattern with adhesive, and using the adhesive filled in the adhesive receiving pattern to form the coupling portion on the frame. A method of manufacturing a pellicle frame with a filter including the step of coupling to the side is provided.

본 발명에 따른 펠리클 프레임은 통기성을 확보하면서도, 이물질을 차단할 수 있다는 장점이 있다.The pellicle frame according to the present invention has the advantage of being able to block foreign substances while ensuring breathability.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 필터를 구비한 펠리클 프레임의 사시도이다.
도 2는 포토마스크에 부착된 필터를 구비한 펠리클 프레임의 일부를 나타낸 단면도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 필터를 구비한 펠리클 프레임의 제조방법의 순서도이다.
도 4는 유도 가열을 통한 연장부 처리 방법의 순서도이다.
도 5는 금속 층이 증착된 연장부를 나타낸 도면이다.
도 6은 척력에 의해 연장부가 굽어 있는 상태를 나타낸 도면이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 필터를 구비한 펠리클 프레임의 일부를 나타낸 단면도이다.
Figure 1 is a perspective view of a pellicle frame equipped with a filter according to an embodiment of the present invention.
Figure 2 is a cross-sectional view showing a portion of a pellicle frame equipped with a filter attached to a photomask.
Figure 3 is a flowchart of a method of manufacturing a pellicle frame equipped with a filter according to an embodiment of the present invention.
Figure 4 is a flowchart of a method of processing an extension through induction heating.
Figure 5 is a view showing an extension on which a metal layer is deposited.
Figure 6 is a diagram showing a state in which the extension part is bent due to repulsive force.
Figure 7 is a cross-sectional view showing a portion of a pellicle frame equipped with a filter according to another embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 발명에 대해서 상세히 설명한다. 다음에 소개되는 실시예는 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것이다. 따라서, 본 발명은 이하 설명되는 실시예에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 그리고 도면들에서, 구성요소의 폭, 길이, 두께 등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the attached drawings. The examples introduced below are provided as examples so that the idea of the present invention can be sufficiently conveyed to those skilled in the art. Accordingly, the present invention is not limited to the embodiments described below and may be embodied in other forms. And in the drawings, the width, length, thickness, etc. of components may be exaggerated for convenience. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 필터를 구비한 펠리클 프레임의 사시도이다. 도 2는 포토마스크에 부착된 필터를 구비한 펠리클 프레임의 일부를 나타낸 단면도이다.Figure 1 is a perspective view of a pellicle frame equipped with a filter according to an embodiment of the present invention. Figure 2 is a cross-sectional view showing a portion of a pellicle frame equipped with a filter attached to a photomask.

도 1과 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 필터를 구비한 펠리클 프레임(100)은 프레임(10)과 프레임(10)의 내측 면(14)에 부착되는 필름 필터(20)를 포함한다.As shown in Figures 1 and 2, the pellicle frame 100 equipped with a filter according to an embodiment of the present invention includes a frame 10 and a film filter 20 attached to the inner surface 14 of the frame 10. ) includes.

프레임(10)은 펠리클 막(미도시)을 지지하는 역할을 한다. 프레임(10)은 중공의 통 형상이다. 프레임(10)은 실리콘 웨이퍼나 실리콘 벌크 재료를 습식 에칭하거나 레이저 가공하는 방법으로 제조할 수 있다.The frame 10 serves to support the pellicle membrane (not shown). The frame 10 has a hollow barrel shape. The frame 10 can be manufactured by wet etching or laser processing a silicon wafer or silicon bulk material.

프레임(10)의 두께는 1.0 내지 2.0㎜이며, 폭은 4 내지 6㎜이며, 외측 치수로 장변의 길이는 130 내지 170㎜이며, 단변의 길이는 100 내지 140㎜일 수 있다.The thickness of the frame 10 is 1.0 to 2.0 mm, the width is 4 to 6 mm, and in external dimensions, the length of the long side may be 130 to 170 mm and the length of the short side may be 100 to 140 mm.

도 1과 2에 도시된 바와 같이, 프레임(10)은 도면상 상면인 제1 면(11)과 제1 면(11)과 나란한 도면상 하면인 제2 면(12)을 구비한다. 또한, 외측 면(13)과 내측 면(14)을 구비한다. 프레임(10)의 제1 면(11)에는 펠리클 막(미도시)이 결합된다. As shown in Figures 1 and 2, the frame 10 has a first surface 11, which is the upper surface in the drawing, and a second surface 12, which is the lower surface in the drawing parallel to the first surface 11. Additionally, it has an outer surface 13 and an inner surface 14. A pellicle membrane (not shown) is coupled to the first surface 11 of the frame 10.

프레임(10)의 각각의 장변의 외측 면(13)에는 한 쌍의 날개(16)가 결합될 수 있다. 여기에는 포토마스크(1)에 부착된 돌출구조인 스터드(3)와 맞물리도록 구성된 맞물림 기구(30)가 설치될 수 있다. 프레임(10)을 포토마스크(1)에 결합하면 프레임(10)의 제2 면(12)은 포토마스크(1)의 스터드(3)가 부착된 표면과 간격을 보고 마주본다.A pair of wings 16 may be coupled to the outer surface 13 of each long side of the frame 10. An engaging mechanism 30 configured to engage with the studs 3, which are protruding structures attached to the photomask 1, may be installed here. When the frame 10 is coupled to the photomask 1, the second side 12 of the frame 10 faces the surface to which the studs 3 of the photomask 1 are attached and the gap is between them.

펠리클을 포토마스크(1)에 부착하는 펠리클 부착장치는 복수의 후크형 부재들 및 매니퓰레이터 핀들을 이용하여 맞물림 기구(30)를 조작하여 스터드(3)와 맞물림 기구(30)를 결합할 수 있다.The pellicle attachment device for attaching the pellicle to the photomask 1 can couple the stud 3 and the engagement mechanism 30 by manipulating the engagement mechanism 30 using a plurality of hook-shaped members and manipulator pins.

도 1과 2의 맞물림 기구(30)와 스터드(3)는 프레임(10)을 포토마스크(1)에 결합하기 위한 하나의 예시적인 구조에 불과하며, 다양한 결합 구조를 활용하여 프레임(10)의 제2 면(12)과 포토마스크(1)의 표면 사이에 간격을 유지한 상태로, 프레임(10)을 포토마스크(1)에 부착할 수 있다.The engaging mechanism 30 and studs 3 of FIGS. 1 and 2 are just one example structure for coupling the frame 10 to the photomask 1, and various coupling structures can be used to connect the frame 10 to the photomask 1. The frame 10 can be attached to the photomask 1 while maintaining a gap between the second surface 12 and the surface of the photomask 1.

프레임(10)의 내측 면(14)에는 접착제 수용 패턴(18)이 형성될 수 있다. 접착제 수용 패턴(18)은 프레임(10)의 내측 면(14)에 오목하게 형성한다. 접착제 수용 패턴(18)은 습식 에칭, 건식 에칭 또는 레이저 가공을 통해서 형성할 수 있다. 접착제 수용 패턴(18)은 사각형 또는 원형으로 형성할 수 있다. 접착제 수용 패턴(18)은 내측 면(14) 전체에 걸쳐서 형성될 수도 있으나, 도 1과 2에 도시된 바와 같이, 단속적으로 형성될 수도 있다. 접착제 수용 패턴(18)의 내부에는 요철(19)이 형성된다. 요철(19)은 접착제 수용 패턴(18)의 길이 방향이나 폭 방향을 따라서 길게 형성될 수 있다. 요철(19)의 철부의 끝단은 내측 면(14)과 같은 평면상에 위치할 수 있다. 접착제 수용 패턴(18)은 0.05㎛ 내지 100㎛ 정도의 깊이로 형성할 수 있다.An adhesive receiving pattern 18 may be formed on the inner surface 14 of the frame 10. The adhesive receiving pattern 18 is concavely formed on the inner surface 14 of the frame 10. The adhesive receiving pattern 18 can be formed through wet etching, dry etching, or laser processing. The adhesive receiving pattern 18 can be formed in a square or circular shape. The adhesive receiving pattern 18 may be formed over the entire inner surface 14, but may also be formed intermittently, as shown in FIGS. 1 and 2. Irregularities 19 are formed inside the adhesive receiving pattern 18. The unevenness 19 may be formed long along the length or width direction of the adhesive receiving pattern 18. The end of the convex portion of the unevenness 19 may be located on the same plane as the inner surface 14. The adhesive receiving pattern 18 can be formed to a depth of about 0.05 μm to 100 μm.

접착제 수용 패턴(18)에는 접착제(미도시)가 도포된다. 접착제 재료에는 특별한 제한이 없으며, 공지된 것을 사용할 수 있다. 예를 들어, 아크릴 수지, 실리콘 수지, 에폭시 수지 등을 주재료로 하는 접착제를 사용할 수 있다. 접착제는 디스펜서, 스프레이, 브러시 등을 이용해서 도포할 수 있다. 접착제가 외부로 노출되면 EUV 등의 노광용 광원에 의해서 분해되어 펠리클 막과 포토마스크(1)의 표면을 오염시킬 우려가 있으므로, 접착제 수용 패턴(18) 내에 도포하는 것이 유리하다.An adhesive (not shown) is applied to the adhesive receiving pattern 18. There is no particular limitation on the adhesive material, and known materials can be used. For example, an adhesive whose main materials are acrylic resin, silicone resin, epoxy resin, etc. can be used. Adhesives can be applied using a dispenser, spray, or brush. If the adhesive is exposed to the outside, it may be decomposed by an exposure light source such as EUV and may contaminate the surface of the pellicle film and the photomask 1, so it is advantageous to apply it within the adhesive receiving pattern 18.

프레임(10)의 표면에는 실리콘 질화물 또는 실리콘 산화물 보호층이 형성될 수 있다. 보호층은 CVD나 PVD 공정, 예를 들어, 저압 화학 증착(LPCVD) 공정이나, 원자층 증착(Atomic layer deposition, ALD) 공정 등을 통해서 증착하는 방법으로 형성할 수 있다.A silicon nitride or silicon oxide protective layer may be formed on the surface of the frame 10. The protective layer can be formed by deposition through a CVD or PVD process, for example, a low pressure chemical vapor deposition (LPCVD) process or an atomic layer deposition (ALD) process.

도 1과 2에 도시된 바와 같이, 필름 필터(20)는 긴 띠 형태이다. 필름 필터(20)는 프레임(10)의 내측 면(14) 전체를 따라서 부착된다. 필름 필터(20)는 다공성 필름이다. 필름 필터(20)의 소재로는 활성탄(Activated Carbon), 금속, 폴리프로필렌(Polypropylene), 폴리술폰(Poly-Sulfone), 폴리테트라플루오로에틸렌(Polytetrafluoroethylene) 등이 사용될 수 있다. 필름 필터(20)에는 통기는 허용하지만, 이물질의 유입은 차단하는 다수의 기공들이 형성된다.As shown in Figures 1 and 2, the film filter 20 has a long strip shape. The film filter 20 is attached along the entire inner surface 14 of the frame 10. The film filter 20 is a porous film. Activated carbon, metal, polypropylene, poly-sulfone, polytetrafluoroethylene, etc. may be used as materials for the film filter 20. A plurality of pores are formed in the film filter 20 to allow ventilation but block the inflow of foreign substances.

필름 필터(20)는 긴 띠 형태의 결합부(21)와 결합부(21)로부터 결합부(21)의 폭 방향으로 연장된 연장부(22)를 포함한다. 연장부(22)에는 다수의 기공들이 형성된다. 결합부(21)에는 기공이 형성될 필요가 없으나, 편의상 결합부(21)도 연장부(22)와 동일한 다공성 필름으로 이루어질 수 있다.The film filter 20 includes a long strip-shaped coupling portion 21 and an extension portion 22 extending from the coupling portion 21 in the width direction of the coupling portion 21. A number of pores are formed in the extension portion 22. There is no need for pores to be formed in the coupling portion 21, but for convenience, the coupling portion 21 may be made of the same porous film as the extension portion 22.

도 2에 도시된 바와 같이, 프레임(10)이 포토마스크(1)에 결합된 후에는 포토마스크(1)와 프레임(10) 사이의 간격이 외측으로 굽어 있는 연장부(22)에 의해서 차단된다. 따라서 외부의 이물질이 포토마스크(1)와 펠리클에 의해서 둘러싸인 내부 공간으로 유입되지 않는다. 연장부(22)는 내측으로 굽을 수도 있다.As shown in FIG. 2, after the frame 10 is coupled to the photomask 1, the gap between the photomask 1 and the frame 10 is blocked by the outwardly curved extension portion 22. . Therefore, external foreign substances do not flow into the internal space surrounded by the photomask 1 and the pellicle. The extension portion 22 may be bent inward.

도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 필터를 구비한 펠리클 프레임의 제조방법의 순서도이다.Figure 3 is a flowchart of a method of manufacturing a pellicle frame equipped with a filter according to an embodiment of the present invention.

도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 필터를 구비한 펠리클 프레임의 제조방법은 a) 프레임을 준비하는 단계(S1)와, b) 결합부와, 연장부를 구비한 띠 형태의 필름 필터를 준비하는 단계(S2)와, c) 결합부를 프레임의 내측 면에 부착하는 단계(S3)와, d) 연장부가 구부러지도록 연장부를 처리하는 단계(S4)를 포함한다.As shown in Figure 3, the method of manufacturing a pellicle frame with a filter according to an embodiment of the present invention includes a) a step of preparing the frame (S1), and b) a strip shape having a coupling portion and an extension portion. It includes the steps of preparing a film filter (S2), c) attaching the coupling portion to the inner surface of the frame (S3), and d) processing the extension portion so that the extension portion is bent (S4).

먼저, 프레임(10)을 준비하는 단계(S1)에 대해서 설명한다. First, the step S1 of preparing the frame 10 will be described.

상술한 바와 같이, 프레임(10)은 중공의 통 형상이다. 프레임(10)은 실리콘 웨이퍼나 실리콘 벌크 재료를 습식 에칭하거나 레이저 가공하는 방법으로 제조할 수 있다.As described above, the frame 10 has a hollow cylindrical shape. The frame 10 can be manufactured by wet etching or laser processing a silicon wafer or silicon bulk material.

다음, 필름 필터(20)를 준비하는 단계(S2)에 대해서 설명한다.Next, the step (S2) of preparing the film filter 20 will be described.

상술한 바와 같이, 필름 필터(20)는 긴 띠 형태이다. 필름 필터(20)는 다공성 필름이다.As described above, the film filter 20 has a long strip shape. The film filter 20 is a porous film.

다음, 결합부(21)를 프레임(10)의 내측 면(14)에 부착하는 단계(S3)를 설명한다.Next, the step (S3) of attaching the coupling portion 21 to the inner surface 14 of the frame 10 will be described.

본 단계에서는 예를 들어, 접착제 등을 이용하여, 결합부(21)를 프레임(10)의 내측 면(14)에 부착한다. 접착제는 프레임(10)의 내측 면(14)에 형성된 접착제 수용 패턴(18)에 도포할 수 있다.In this step, the coupling portion 21 is attached to the inner surface 14 of the frame 10 using, for example, an adhesive. The adhesive may be applied to the adhesive receiving pattern 18 formed on the inner surface 14 of the frame 10.

결합부(22)를 프레임(10)의 내측 면(14)에 부착하면, 필름 필터(20)의 연장부(22)는 프레임(10)의 제2 면(12) 아래로 돌출된다.When the coupling portion 22 is attached to the inner surface 14 of the frame 10, the extension portion 22 of the film filter 20 protrudes below the second surface 12 of the frame 10.

다음, 연장부(22)가 구부러지도록 연장부(22)를 처리하는 단계(S4)에 대해서 설명한다.Next, a step (S4) of processing the extension portion 22 so that the extension portion 22 is bent will be described.

본 단계는 다양한 방법으로 진행될 수 있다. 예를 들어, 연장부(22)의 외측 또는 내측 표면을 열 또는 전자빔 등을 이용하여 국부적으로 가열하여 수축시킴으로써, 연장부(22)를 구부릴 수 있다. 좀 더 구체적으로, 가열된 얇은 팁을 연장부(22)의 외측 또는 내측 표면에 접근시켜서 연장부(22)를 국부적으로 가열할 수 있다.This step can be carried out in various ways. For example, the extension portion 22 may be bent by locally heating and shrinking the outer or inner surface of the extension portion 22 using heat or an electron beam. More specifically, extension 22 can be locally heated by applying a heated thin tip to the outer or inner surface of extension 22.

다른 방법으로는 유도 가열을 이용한 처리 방법이 있다. Another method is a treatment method using induction heating.

도 4는 유도 가열을 통한 연장부 처리 방법의 순서도이며, 도 5는 금속 층이 증착된 연장부를 나타낸 도면이다. Figure 4 is a flowchart of a method of processing an extension through induction heating, and Figure 5 is a diagram showing an extension on which a metal layer is deposited.

도 4에 도시된 바와 같이, 본 방법은 연장부(122)의 길이 방향을 따라서 연장부(122)의 외측 또는 내측 표면에 연장부(122)에 비해서 열전도율이 높은 금속 층(125)을 선 형태로 증착하는 단계(S41)와, 유도 가열을 통해서 선 형태로 증착된 금속 층(125)을 가열하여, 금속 층(125)이 형성된 연장부(122)를 수축시키는 단계(S42)를 포함한다.As shown in FIG. 4, the present method forms a metal layer 125 with higher thermal conductivity than the extension 122 on the outer or inner surface of the extension 122 along the longitudinal direction of the extension 122 in a line shape. It includes a step of depositing (S41) and a step of heating the metal layer 125 deposited in a line shape through induction heating to shrink the extension portion 122 on which the metal layer 125 is formed (S42).

금속 층(125)으로는 유도 가열이 가능한 다양한 금속이 사용될 수 있다. 예를 들어, 철, 니켈, 니크롬(Nichorome) 등이 사용될 수 있다. 유도 가열 시에 금속 층(125)의 가열로 금속 층(125)이 증착된 외측 또는 내측 연장부(122)가 국부적으로 수축하므로 연장부(122)를 구부릴 수 있다. 금속 층(125)은 결합부(121) 측에 가까운 연장부(122)에 형성할 수 있다.As the metal layer 125, various metals capable of induction heating may be used. For example, iron, nickel, nichrome, etc. may be used. During induction heating, the outer or inner extension portion 122 on which the metal layer 125 is deposited is locally contracted due to heating of the metal layer 125, so the extension portion 122 may be bent. The metal layer 125 may be formed in the extension portion 122 close to the coupling portion 121.

또 다른 방법으로는 연장부(222)를 포토마스크(1)의 표면과 같은 극성으로 대전시키는 방법이 있다. 통상적으로 포토마스크(1)는 노광 장비 내에서 - 극성으로 대전되어 있다. Another method is to charge the extension portion 222 to the same polarity as the surface of the photomask 1. Typically, the photomask 1 is charged to - polarity within the exposure equipment.

따라서 도 6에 도시된 바와 같이, 같은 극성인 - 극성으로 연장부(222)를 대전시킨 상태에서 펠리클 프레임(100)을 포토마스크(1)에 결합하면, 연장부(222)가 포토마스크(1)의 표면에 접근할 때, 척력에 의해서 연장부(222)가 프레임(10)의 외측 또는 내측을 향해서 구부러진다.Therefore, as shown in FIG. 6, when the pellicle frame 100 is coupled to the photomask 1 in a state in which the extension portion 222 is charged with the same polarity - polarity, the extension portion 222 is connected to the photomask 1. ), the extension portion 222 is bent toward the outside or inside of the frame 10 due to the repulsive force.

도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 필터를 구비한 펠리클 프레임의 일부를 나타낸 단면도이다. 본 실시예는 프레임(40)의 내측 면(44)뿐 아니라 외측 면(43)에도 필름 필터(50)가 부착된다는 점에서, 도 6에 도시된 실시예와 차이가 있다. 필름 필터(50)들은 프레임(40)을 향해서 굽어 있다.Figure 7 is a cross-sectional view showing a portion of a pellicle frame equipped with a filter according to another embodiment of the present invention. This embodiment differs from the embodiment shown in FIG. 6 in that the film filter 50 is attached not only to the inner surface 44 but also to the outer surface 43 of the frame 40. The film filters 50 are bent toward the frame 40.

이상에서는 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어서는 안 될 것이다.In the above, preferred embodiments of the present invention have been shown and described, but the present invention is not limited to the specific embodiments described above, and may be commonly used in the technical field to which the invention pertains without departing from the gist of the present invention as claimed in the claims. Of course, various modifications can be made by those skilled in the art, and these modifications should not be understood individually from the technical idea or perspective of the present invention.

1: 포토마스크
3: 스터드
100: 펠리클 프레임
10, 40: 프레임
11: 제1 면
12: 제2 면
13, 43: 외측 면
14, 44: 내측 면
16: 날개
18, 48: 접착제 수용 패턴
19: 요철
20, 50, 120, 220: 필름 필터
21, 121, 221: 결합부
22, 122, 222: 연장부
125: 금속 층
30: 맞물림 기구
1: Photomask
3: stud
100: Pellicle frame
10, 40: frame
11: side 1
12: Side 2
13, 43: outer surface
14, 44: inner surface
16: wings
18, 48: Adhesive receiving pattern
19: irregularities
20, 50, 120, 220: Film filter
21, 121, 221: joint
22, 122, 222: extension
125: metal layer
30: Engagement mechanism

Claims (8)

펠리클 막을 지지하기 위한 중공의 통 형상의 프레임과,
상기 프레임의 내측 면과 외측 면 중 적어도 하나의 측면에 부착되는 결합부와, 상기 결합부로부터 포토마스크를 향해 연장되는 연장부를 구비하며, 상기 연장부에는 가스가 통과할 수 있는 복수의 기공이 형성되며, 상기 연장부는 굽어 있는 띠 형태의 필름 필터를 포함하는 필터를 구비한 펠리클 프레임.
A hollow barrel-shaped frame for supporting the pellicle membrane,
It has a coupling part attached to at least one of the inner surface and the outer surface of the frame, and an extension part extending from the coupling part toward the photomask, and a plurality of pores through which gas can pass are formed in the extension part. The extension portion is a pellicle frame equipped with a filter including a curved strip-shaped film filter.
제1항에 있어서,
상기 프레임의 상기 측면에는 오목한 접착제 수용 패턴이 형성되며,
상기 결합부는 상기 접착제 수용 패턴에 채워진 접착제에 의해서 상기 프레임의 상기 측면에 결합하는 필터를 구비한 펠리클 프레임.
According to paragraph 1,
A concave adhesive receiving pattern is formed on the side of the frame,
The coupling portion is a pellicle frame having a filter coupled to the side of the frame by an adhesive filled in the adhesive receiving pattern.
제2항에 있어서,
상기 접착제 수용 패턴의 내부에는 요철이 형성된 필터를 구비한 펠리클 프레임.
According to paragraph 2,
A pellicle frame provided with a filter having irregularities formed inside the adhesive receiving pattern.
제3항에 있어서,
상기 요철의 철부의 끝단은 상기 프레임의 상기 측면과 동일 평면상에 위치하는 필터를 구비한 펠리클 프레임.
According to paragraph 3,
A pellicle frame with a filter in which the end of the uneven convex portion is located on the same plane as the side of the frame.
a) 펠리클 막을 지지하기 위한 중공의 통 형상의 프레임을 준비하는 단계와,
b) 결합부와, 상기 결합부로부터 연장되는 연장부를 구비하며, 상기 연장부에는 가스가 통과할 수 있는 복수의 기공이 형성된 띠 형태의 필름 필터를 준비하는 단계와,
c) 상기 결합부를 상기 프레임의 내측 면과 외측 면 중 적어도 하나의 측면에 부착하는 단계와,
d) 상기 연장부가 구부러지도록 상기 연장부를 처리하는 단계를 포함하는 필터를 포함하는 펠리클 프레임의 제조방법.
a) preparing a hollow, barrel-shaped frame to support the pellicle membrane,
b) preparing a strip-shaped film filter having a coupling portion and an extension portion extending from the coupling portion, the extension portion having a plurality of pores through which gas can pass;
c) attaching the coupling portion to at least one of the inner and outer surfaces of the frame;
d) A method of manufacturing a pellicle frame including a filter including the step of processing the extension portion to bend the extension portion.
제5항에 있어서,
상기 d) 단계는,
상기 연장부의 길이 방향을 따라서 상기 연장부의 표면에 상기 연장부에 비해서 열전도율이 높은 금속 층을 선 형태로 증착하는 단계와,
유도 가열을 통해서 선 형태로 증착된 상기 금속 층을 가열하여, 상기 금속 층이 형성된 상기 연장부를 수축시키는 단계를 포함하는 필터를 구비한 펠리클 프레임의 제조방법.
According to clause 5,
In step d),
depositing a metal layer having higher thermal conductivity than the extension portion in a line shape on the surface of the extension portion along the longitudinal direction of the extension portion;
A method of manufacturing a pellicle frame with a filter, comprising the step of heating the metal layer deposited in a line shape through induction heating and shrinking the extension portion on which the metal layer is formed.
제5항에 있어서,
상기 d) 단계는,
상기 펠리클 프레임이 포토마스크에 결합하여, 상기 연장부가 상기 포토마스크의 표면에 접근할 때, 상기 연장부가 구부러지도록 상기 연장부를 상기의 포토마스크의 표면과 같은 극성으로 대전시키는 단계를 포함하는 필터를 구비한 펠리클 프레임의 제조방법.
According to clause 5,
In step d),
A filter comprising the step of coupling the pellicle frame to a photomask and charging the extension to the same polarity as the surface of the photomask so that the extension is bent when the extension approaches the surface of the photomask. Manufacturing method of one pellicle frame.
제5항에 있어서,
상기 프레임의 상기 측면에는 오목한 접착제 수용 패턴이 형성되며,
상기 c) 단계는,
상기 접착제 수용 패턴에 접착제를 채우는 단계와,
상기 접착제 수용 패턴에 채워진 접착제를 이용하여 상기 결합부를 상기 프레임의 상기 측면에 결합하는 단계를 포함하는 필터를 구비한 펠리클 프레임의 제조방법.


According to clause 5,
A concave adhesive receiving pattern is formed on the side of the frame,
In step c),
filling the adhesive receiving pattern with adhesive;
A method of manufacturing a pellicle frame with a filter, comprising the step of coupling the coupling portion to the side of the frame using an adhesive filled in the adhesive receiving pattern.


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Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20080099920A (en) 2007-05-11 2008-11-14 주식회사 하이닉스반도체 Photomask with suppressing haze
KR20090088396A (en) 2006-11-10 2009-08-19 어드밴스드 마이크로 디바이시즈, 인코포레이티드 Euv pellicle with increased euv light transmittance
KR20090122114A (en) 2008-05-22 2009-11-26 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 Pellicle and method for producing pellicle
KR101303795B1 (en) 2011-12-26 2013-09-04 주식회사 에프에스티 EUV pellicle and manufacturing method of the same
KR101552940B1 (en) 2013-12-17 2015-09-14 삼성전자주식회사 Pellicle film for extreme ultraviolet lithography including graphite-containing thin film
KR20160086024A (en) 2015-01-09 2016-07-19 삼성전자주식회사 Pellicle and method of manufacturing the same
KR101866017B1 (en) 2015-12-17 2018-06-08 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 Pellicle assembly and method for advanced lithography
KR20190005911A (en) 2016-06-28 2019-01-16 미쯔이가가꾸가부시끼가이샤 Pellicle membrane, pellicle frame body, pellicle and manufacturing method thereof
KR101940791B1 (en) 2017-05-19 2019-01-21 주식회사 에프에스티 Manufacturing method of EUV pellicle using organic sacrifice substrate
KR20190040445A (en) 2017-10-10 2019-04-18 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 Pellicle frame and pellicle
KR20190107603A (en) 2019-04-22 2019-09-20 주식회사 에스앤에스텍 Pellicle for Extreme Ultraviolet(EUV) Lithography and Method for fabricating the same

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20090088396A (en) 2006-11-10 2009-08-19 어드밴스드 마이크로 디바이시즈, 인코포레이티드 Euv pellicle with increased euv light transmittance
KR20080099920A (en) 2007-05-11 2008-11-14 주식회사 하이닉스반도체 Photomask with suppressing haze
KR20090122114A (en) 2008-05-22 2009-11-26 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 Pellicle and method for producing pellicle
KR101303795B1 (en) 2011-12-26 2013-09-04 주식회사 에프에스티 EUV pellicle and manufacturing method of the same
KR101552940B1 (en) 2013-12-17 2015-09-14 삼성전자주식회사 Pellicle film for extreme ultraviolet lithography including graphite-containing thin film
KR20160086024A (en) 2015-01-09 2016-07-19 삼성전자주식회사 Pellicle and method of manufacturing the same
KR101866017B1 (en) 2015-12-17 2018-06-08 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 Pellicle assembly and method for advanced lithography
KR20190005911A (en) 2016-06-28 2019-01-16 미쯔이가가꾸가부시끼가이샤 Pellicle membrane, pellicle frame body, pellicle and manufacturing method thereof
KR101940791B1 (en) 2017-05-19 2019-01-21 주식회사 에프에스티 Manufacturing method of EUV pellicle using organic sacrifice substrate
KR20190040445A (en) 2017-10-10 2019-04-18 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 Pellicle frame and pellicle
KR20190107603A (en) 2019-04-22 2019-09-20 주식회사 에스앤에스텍 Pellicle for Extreme Ultraviolet(EUV) Lithography and Method for fabricating the same

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