KR20240047826A - 홀로그램 투사 장치 및 방법 - Google Patents

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유재형
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재단법인 키엘연구원
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Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 장치는 R, G, B 영상을 각각 투사하는 복수의 투사 모듈을 통해, 홀로그램 영상의 테스트를 위한 홀로그램 테스트 영상을 투사판에 투사하는 홀로그램 영상 투사부; 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족하지 못하는 경우, 상기 투사 모듈 각각의 최적 투사 각도를 연산하는 최적 각도 연산부; 및 상기 최적 투사 각도로 상기 투사 모듈 각각의 각도를 조정하는 투사 모듈 조정부를 포함한다.

Description

홀로그램 투사 장치 및 방법{HOLOGRAM PROJECTION APPARATUS AND METHOD}
본 발명의 실시예들은 홀로그램 투사 장치 및 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 홀로그램 영상 품질이 저하되는 것을 방지할 수 있는 홀로그램 투사 장치 및 방법에 관한 것이다.
최근 3D 입체 영상을 제공하는 기술이 발전하여, 3D TV나 홀로그램 공연 같은 다양한 형태의 실감 영상을 제공하는 제품이나 서비스가 등장하고 있다. 영상을 좌안과 우안이 바라보는 시각의 차이를 고려하여 제공하기도 하고, 특수안경을 통해 좌우안이 인식하는 영상을 달리하여 제공하는 것이 3D TV같은 전자적 방식이다.
홀로그램 기술을 이용해 3D 효과를 제공하는 형태는 플로팅 이미지(floating image) 방식이 최근 상용화되어, 투명 또는 반투명의 필름에 투사된 이미지가 배경의 이미지와 겹쳐져 보이도록 함으로써, 전면의 반사 이미지와 배경 이미지 간의 거리 차이를 통해 입체적인 효과를 제공하고 있다.
이러한 플로팅 이미지 기술은 투사되는 면을 하나로 하는 경우의 전면 고정 시야 방식이 보편적이지만, 투사면을 세 개 또는 네 개로 하고, 이를 삼각뿔이나 사각뿔 형태로 구성한 후, 바닥면에서 각 면에 반사되어 비춰지도록 세 개 또는 네 개의 시점에서 보게 될 이미지를 각각 제공함으로써, 동일한 장면을 각 면에서 보는 시야마다 다르게 이미지를 보여줄 수 있다.
이러한 홀로그램 투사 장치는 제작 단계에서 각도 및 파장 대역의 레이저를 투사판에 조사할 경우 원래 품질의 홀로그램 영상이 표시되지만, 실생활에서는 다른 파장 대역의 광(LED 등)을 조사함으로 인하여, 홀로그램 영상 품질이 저하되는 문제점이 있다.
관련 선행기술로는 대한민국 등록특허공보 제10-1848353호(발명의 명칭: 홀로그램 영상 구현을 위한 스마트폰용 홀로그램 투사장치, 등록일자: 2018.04.06.)가 있다.
본 발명의 일 실시예는 투사 모듈 각각의 최적 투사 각도 연산을 통해 투자 모듈 각각의 각도를 조정함으로써 홀로그램 영상 품질이 저하되는 것을 방지할 수 있는 홀로그램 투사 장치 및 방법을 제공한다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에서 언급한 과제(들)로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제(들)은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 장치는 R, G, B 영상을 각각 투사하는 복수의 투사 모듈을 통해, 홀로그램 영상의 테스트를 위한 홀로그램 테스트 영상을 투사판에 투사하는 홀로그램 영상 투사부; 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족하지 못하는 경우, 상기 투사 모듈 각각의 최적 투사 각도를 연산하는 최적 각도 연산부; 및 상기 최적 투사 각도로 상기 투사 모듈 각각의 각도를 조정하는 투사 모듈 조정부를 포함한다.
상기 최적 각도 연산부는 상기 투사판의 색상별 호겔패턴 생성 시 레이저 각도 및 파장 정보에 기초하여 상기 투사 모듈 각각의 최적 투사 각도를 연산할 수 있다.
상기 호겔패턴의 단위 유닛은 상기 단위 유닛의 색상 유닛들이 동일한 크기로 형성되거나, 상기 색상 유닛들이 서로 다른 크기 및 숫자 또는 형상으로 형성될 수 있다.
상기 최적 각도 연산부는 상기 투사 모듈 각각의 광원의 파장 정보에 더 기초하여 상기 투사 모듈 각각의 최적 투사 각도를 연산할 수 있다.
상기 투사 모듈 조정부는 상기 투사 모듈 각각의 영상별 위치 편차를 조정하고, 상기 홀로그램 영상 투사부는 각 투사 모듈별 각도 조정 및 위치 편차 조정에 따른 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족하는 경우, 홀로그램 영상을 상기 투사판에 투사할 수 있다.
상기 투사 모듈 조정부는 상기 홀로그램 투사 장치와 상기 투사판 간의 거리를 측정하고, 상기 측정된 거리와 상기 각 투사 모듈별 각도 정보에 기초하여 상기 투사 모듈 각각의 영상별 위치 편차를 산출하며, 상기 산출된 위치 편차에 따라 상기 각 투사 모듈별 높이를 조정함으로써 상기 투사 모듈 각각의 영상별 위치 편차를 조정할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 장치는 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질을 비전 방식으로 감지하는 영상 품질 감지부를 더 포함하고, 상기 투사 모듈 조정부는 상기 영상 품질 감지부에 연동하여 상기 투사 모듈 각각의 색상별 광원들의 각도를 다르게 조정할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 방법은 상기 홀로그램 투사 장치가 R, G, B 영상을 각각 투사하는 복수의 투사 모듈을 통해, 홀로그램 영상의 테스트를 위한 홀로그램 테스트 영상을 투사판에 투사하는 단계; 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족하지 못하는 경우, 상기 홀로그램 투사 장치가 상기 투사 모듈 각각의 최적 투사 각도를 연산하는 단계; 및 상기 홀로그램 투사 장치가 상기 최적 투사 각도로 상기 투사 모듈 각각의 각도를 조정하는 단계를 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 방법은 상기 홀로그램 투사 장치가 상기 투사 모듈 각각의 영상별 위치 편차를 조정하는 단계; 상기 홀로그램 투사 장치가 각 투사 모듈별 각도 조정 및 위치 편차 조정에 따른 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질을 비전 방식으로 감지하는 단계; 및 상기 감지된 품질이 기준 품질을 만족하는 경우, 상기 홀로그램 투사 장치가 홀로그램 영상을 상기 투사판에 투사하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 최적 투사 각도를 연산하는 단계는 상기 투사판의 색상별 호겔패턴 생성 시 레이저 각도 및 파장 정보에 기초하여 상기 투사 모듈 각각의 최적 투사 각도를 연산하는 단계; 및 상기 투사 모듈 각각의 광원의 파장 정보에 기초하여 상기 투사 모듈 각각의 최적 투사 각도를 연산하는 단계 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 첨부 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 투사 모듈 각각의 최적 투사 각도 연산을 통해 투자 모듈 각각의 각도를 조정함으로써 홀로그램 영상 품질이 저하되는 것을 방지할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 영상별 위치 편차를 산출하여 각 투사 모듈별 높이를 조정함으로써 투사 모듈 각각의 영상별 위치 편차를 조정할 수 있으며, 이를 통해 홀로그램 영상 품질이 저하되는 것을 방지할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 홀로그램 테스트 영상의 품질을 비전 방식으로 감지하고 이에 연동하여 투사 모듈 각각의 색상별 광원들의 각도를 다르게 조정함으로써 홀로그램 영상 품질이 저하되는 것을 방지할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 장치를 설명하기 위해 도시한 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 장치의 원리를 설명하기 위해 도시한 개념도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 장치가 영상의 위치 편차를 조정하는 과정을 보여주는 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 방법을 설명하기 위해 도시한 전체 흐름도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따라 영상별 위치 편차를 조정하는 방법을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.
본 발명의 이점 및/또는 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성요소를 지칭한다.
또한, 이하 실시되는 본 발명의 바람직한 실시예는 본 발명을 이루는 기술적 구성요소를 효율적으로 설명하기 위해 각각의 시스템 기능구성에 기 구비되어 있거나, 또는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상적으로 구비되는 시스템 기능 구성은 가능한 생략하고, 본 발명을 위해 추가적으로 구비되어야 하는 기능 구성을 위주로 설명한다. 만약 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면, 하기에 도시하지 않고 생략된 기능 구성 중에서 종래에 기 사용되고 있는 구성요소의 기능을 용이하게 이해할 수 있을 것이며, 또한 상기와 같이 생략된 구성 요소와 본 발명을 위해 추가된 구성 요소 사이의 관계도 명백하게 이해할 수 있을 것이다.
또한, 이하의 설명에 있어서, 신호 또는 정보의 "전송", "통신", "송신", "수신" 기타 이와 유사한 의미의 용어는 일 구성요소에서 다른 구성요소로 신호 또는 정보가 직접 전달되는 것뿐만이 아니라 다른 구성요소를 거쳐 전달되는 것도 포함한다. 특히 신호 또는 정보를 일 구성요소로 "전송" 또는 "송신"한다는 것은 그 신호 또는 정보의 최종 목적지를 지시하는 것이고 직접적인 목적지를 의미하는 것이 아니다. 이는 신호 또는 정보의 "수신"에 있어서도 동일하다.
본 발명의 실시예를 설명하기에 앞서 홀로그램 기록 및 복원의 원리에 대해 간략히 설명한다. 홀로그램 기록 및 복원의 원리는 코히어런스 레이저를 이용하여 레퍼런스빔(reference beam)과 오브젝트 빔(objector beam)의 간섭패턴 형성으로 설명된다. 상기 홀로그램 기록 및 복원은 레이저 파장(λ)과 두 빔 간의 각(θ)에 의해 결정된다(매질이 매우 얇은 thin일 경우의 이론적 설명). 만약 기록 매질이 비교적 두꺼운 것이라면 아래의 이론으로 설명할 수 있다.
패턴의 주기(Λ)는 아래 수학식 1과 같이 레이저 파장(λ)과 두 빔 간의 각도(θ)에 의해 결정된다.
여기서 패턴이라 하는 것은 두 빔 간의 간섭현상으로 인해 새겨지는 주기적인 격자 모양을 의미하는 것으로, 이를 흔히 grating이라 표현하고, 홀로그램 기록 과정에서는 3차원 공간에 대한 정보가 함께 들어있는 홀로그램 패턴으로서 호겔(hogel)이라고 한다.
홀로그램 복원과 관련하여, reference beam이 grating의 평행한 방향으로 반사되면 하기 수학식 2의 브래그 조건(Bragg condition)에 따라 하기 수학식 3이 도출된다.
따라서 홀로그램 기록에 대한 복원을 구현할 경우 레이저의 각도(θ)와 파장(λ)이 중요한 파라미터임을 알 수 있다. 본 실시예에서는 홀로그램 기록에 대한 복원 시 홀로그램 영상 품질이 저하되는 것을 방지하기 위하여 상기 레이저의 각도와 파장 정보를 이용할 수 있다.
한편, 본 실시예에서 홀로그램 기록에 사용되는 레이저(diode-pumped solid state laser)의 사양은 각 모듈별로 다음과 같다.
Blue Laser의 경우, 파장(Wavelength)이 457 nm ± 0.3 nm이고, Spectral linewidth (FWHM)이 1 nm 이하이다.
Red Laser의 경우, Wavelength이 639.6 nm ± 0.2 nm이고, Spectral linewidth (FWHM)이 1 nm 이하이다.
Green Laser의 경우, Wavelength이 532.2 nm ± 0.2 nm이고, Spectral linewidth (FWHM)이 1 nm 이하이다.
본 실시예에서, 홀로그램 복원(재생 혹은 구현)에 사용되는 레이저(laser diode) 사양은 각 모듈별로 다음과 같다.
Blue Laser의 경우, Wavelength의 최소/최대치(min. ~ max.)가 440 nm, 450 nm, 455 nm, 460 nm 등으로 온도에 따라 파장 편차가 발생하며 제조사에 따라 파장이 다양하다. Spectral linewidth (FWHM)은 3 nm(data sheet) 이하, 10 nm(실험값)이하이다.
Red Laser의 경우, Wavelength의 최소/최대치(min. ~ max.)가 630 nm, 633 nm, 636 nm, 638 nm, 644 nm, 645 nm, 650 nm, 660 nm 등으로 온도에 따라 파장 편차가 발생하며 제조사에 따라 파장이 다양하다. Spectral linewidth (FWHM)은 2 nm(data sheet)이하, 10 nm(실험값)이하이다.
Green Laser의 경우, Wavelength의 최소/최대치(min. ~ max.)가 510 nm, 520 nm, 525 nm, 535 nm 등으로 온도에 따라 파장 편차가 발생하며 제조사에 따라 파장 다양하다. Spectral linewidth (FWHM)은 3 nm(data sheet)이하, 10 nm(실험값)이하이다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 장치를 설명하기 위해 도시한 블록도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 장치의 원리를 설명하기 위해 도시한 개념도이다. 그리고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 장치가 영상의 위치 편차를 조정하는 과정을 보여주는 도면이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 장치(100)는 홀로그램 영상 투사부(110), 최적 각도 연산부(120), 투사 모듈 조정부(130), 영상 품질 감지부(140), 및 제어부(150)를 포함하여 구성될 수 있다.
상기 홀로그램 영상 투사부(110)는 R, G, B 영상을 각각 투사하는 복수의 투사 모듈(102)을 통해, 홀로그램 영상의 테스트를 위한 홀로그램 테스트 영상을 투사판(101)에 투사할 수 있다. 여기서, 상기 복수의 투사 모듈(102)은 예를 들면 RGB 레이저 모듈로 구현될 수 있으며, 이에 한정되지 않고 다양한 다른 모듈, 예컨대 RGB LED 모듈 등으로도 구현 가능하다.
상기 최적 각도 연산부(120)는 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질을 미리 설정된 기준 품질과 비교하고, 상기 비교 결과에 따라 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족하는지 여부를 판단할 수 있다.
상기 판단 결과, 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족하지 못하는 경우, 상기 최적 각도 연산부(120)는 상기 투사 모듈(102) 각각의 최적 투사 각도를 연산할 수 있다.
이를 위해, 일 실시예로서, 상기 최적 각도 연산부(120)는 상기 투사판(101)의 색상별 호겔패턴 생성 시 레이저 각도 및 파장 정보에 기초하여 상기 투사 모듈(102) 각각의 최적 투사 각도를 연산할 수 있다.
여기서, 상기 호겔패턴의 단위 유닛(103)은 상기 단위 유닛(103)의 색상 유닛들이 동일한 크기로 형성될 수 있다. 또 달리, 상기 호겔패턴의 단위 유닛(103)은 상기 단위 유닛(103)의 색상 유닛들이 서로 다른 크기 및 숫자 또는 형상으로 형성될 수 있다.
다른 실시예로서, 상기 최적 각도 연산부(120)는 상기 투사 모듈(102) 각각의 광원의 파장 정보에 기초하여 상기 투사 모듈(102) 각각의 최적 투사 각도를 연산할 수 있다.
또 다른 실시예로서, 상기 최적 각도 연산부(120)는 상기 투사판(101)의 색상별 호겔패턴 생성 시 레이저 각도 및 파장 정보와 더불어, 상기 투사 모듈(102) 각각의 광원의 파장 정보에 기초하여 상기 투사 모듈(102) 각각의 최적 투사 각도를 연산할 수 있다.
상기 투사 모듈 조정부(130)는 상기 최적 투사 각도로 상기 투사 모듈(102) 각각의 각도를 조정할 수 있다(도 2의 각도 조정 참고). 그리고, 상기 투사 모듈 조정부(130)는 상기 투사 모듈(102) 각각의 영상별 위치 편차를 조정할 수 있다(도 2의 높이 조정 참고).
이를 위해, 상기 투사 모듈 조정부(130)는 상기 홀로그램 투사 장치(100)와 상기 투사판(101) 간의 거리를 측정할 수 있다. 상기 투사 모듈 조정부(130)는 상기 측정된 거리와 상기 각 투사 모듈(102)별 각도 정보에 기초하여 상기 투사 모듈(102) 각각의 영상별 위치 편차를 산출할 수 있다.
상기 투사 모듈 조정부(130)는 상기 산출된 위치 편차에 따라 상기 각 투사 모듈(102)별 높이를 조정함으로써, 도 3에 도시된 바와 같이 상기 투사 모듈(102) 각각의 영상별 위치 편차를 (a)에서 (b)로 조정할 수 있다.
즉, 도 3의 (a)와 같이 상기 투사 모듈(102)별로 영상의 위치 편차가 있는 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 장치가 영상의 위치 편차를 조정하는 과정을 보여주는 도면이다.
경우, 상기 투사 모듈 조정부(130)가 상기 각 투사 모듈(102)의 높이를 조정하여 도 3의 (b)와 같이 상기 투사 모듈(102) 각각의 영상별 위치 편차를 조정할 수 있다.
상기 각 투사 모듈(102)별 각도 조정 및 위치 편차 조정이 완료되면, 상기 투사 모듈 조정부(130)는 각 투사 모듈별 각도 조정 및 위치 편차 조정에 따른 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질을 기준 품질과 비교하고, 상기 비교 결과에 따라 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족하는지 여부를 판단할 수 있다.
상기 판단 결과, 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족하는 경우, 상기 홀로그램 영상 투사부(110)는 홀로그램 영상을 상기 투사판(101)에 투사할 수 있다. 여기서, 상기 홀로그램 영상은 테스트 영상이 아닌 본래 상기 투사판(101)에 투사하기 위한 메인 홀로그램 영상을 말한다.
상기 영상 품질 감지부(140)는 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질을 비전 방식으로 감지하는 기능을 수행할 수 있다. 이를 위해, 상기 영상 품질 감지부(140)는 카메라로 구현될 수 있다.
이에 따라, 상기 투사 모듈 조정부(140)는 상기 영상 품질 감지부(140)에 연동하여 상기 투사 모듈(102) 각각의 색상별 광원들의 각도를 다르게 조정할 수 있다.
상기 영상 품질 감지부(140)는 상기 최적 각도 연산부(120)가 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질을 기준 품질과 비교하기 전에, 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질을 비전 방식으로 감지할 수 있다.
또 달리, 상기 영상 품질 감지부(140)는 상기 투사 모듈 조정부(130)가 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질을 기준 품질과 비교하기 전에, 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질을 비전 방식으로 감지할 수 있다.
즉, 상기 영상 품질 감지부(140)는 상기 각 투사 모듈(102)별 각도 조정 및 영상별(R, G, B) 위치 편차 조정이 완료된 후에, 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질을 비전 방식으로 감지할 수 있다.
상기 제어부(150)는 본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 장치(100), 즉 상기 홀로그램 영상 투사부(110), 상기 최적 각도 연산부(120), 상기 투사 모듈 조정부(130), 상기 영상 품질 감지부(140) 등의 동작을 전반적으로 제어할 수 있다. 상기 제어부(250)는 상기 홀로그램 영상 투사부(110), 상기 최적 각도 연산부(120), 상기 투사 모듈 조정부(130), 상기 영상 품질 감지부(140) 등의 구성요소들을 기능적으로 일부 또는 전체 포함하여 구현될 수 있다. 즉, 상기 제어부(250)는 상기 구성요소들의 일부 기능을 수행할 수 있으며, 또 달리 상기 구성요소들의 전체 기능을 수행할 수도 있다.
상기 제어부(150)는 상기 홀로그램 투사 장치(100)의 전체적인 동작을 제어하며, CPU 등과 같은 프로세서를 포함할 수 있다. 상기 제어부(150)는 입출력부를 통해 수신한 사용자 입력에 대응되는 동작을 수행하도록 상기 홀로그램 투사 장치(100)에 포함된 다른 구성들을 제어할 수 있다. 여기서 상기 프로세서는 컴퓨팅 장치 내에서 명령어를 처리할 수 있는데, 이런 명령어로는, 예컨대 고속 인터페이스에 접속된 디스플레이처럼 외부 입력, 출력 장치상에 GUI(Graphic User Interface)를 제공하기 위한 그래픽 정보를 표시하기 위해 메모리나 저장 장치에 저장된 명령어를 들 수 있다. 다른 실시예로서, 다수의 프로세서 및(또는) 다수의 버스가 적절히 다수의 메모리 및 메모리 형태와 함께 이용될 수 있다. 또한 상기 프로세서는 독립적인 다수의 아날로그 및(또는) 디지털 프로세서를 포함하는 칩들이 이루는 칩셋으로 구현될 수 있다.
이상에서 설명된 장치는 하드웨어 구성 요소, 소프트웨어 구성 요소, 및/또는 하드웨어 구성 요소 및 소프트웨어 구성 요소의 조합으로 구현될 수 있다. 예를 들어, 실시예들에서 설명된 장치 및 구성 요소는, 예를 들어, 프로세서, 컨트롤러, ALU(arithmetic logic unit), 디지털 신호 프로세서(digital signal processor), 마이크로컴퓨터, FPA(field programmable array), PLU(programmable logic unit), 마이크로프로세서, 또는 명령(instruction)을 실행하고 응답할 수 있는 다른 어떠한 장치와 같이, 하나 이상의 범용 컴퓨터 또는 특수 목적 컴퓨터를 이용하여 구현될 수 있다. 처리 장치는 운영 체제(OS) 및 상기 운영 체제 상에서 수행되는 하나 이상의 소프트웨어 애플리케이션을 수행할 수 있다. 또한, 처리 장치는 소프트웨어의 실행에 응답하여, 데이터를 접근, 저장, 조작, 처리 및 생성할 수도 있다. 이해의 편의를 위하여, 처리 장치는 하나가 사용되는 것으로 설명된 경우도 있지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는, 처리 장치가 복수 개의 처리 요소(processing element) 및/또는 복수 유형의 처리 요소를 포함할 수 있음을 알 수 있다. 예를 들어, 처리 장치는 복수 개의 프로세서 또는 하나의 프로세서 및 하나의 컨트롤러를 포함할 수 있다. 또한, 병렬 프로세서(parallel processor)와 같은, 다른 처리 구성(processing configuration)도 가능하다.
소프트웨어는 컴퓨터 프로그램(computer program), 코드(code), 명령(instruction), 또는 이들 중 하나 이상의 조합을 포함할 수 있으며, 원하는 대로 동작하도록 처리 장치를 구성하거나 독립적으로 또는 결합적으로(collectively) 처리 장치를 명령할 수 있다. 소프트웨어 및/또는 데이터는, 처리 장치에 의하여 해석되거나 처리 장치에 명령 또는 데이터를 제공하기 위하여, 어떤 유형의 기계, 구성요소(component), 물리적 장치, 가상 장치(virtual equipment), 컴퓨터 저장 매체 또는 장치, 또는 전송되는 신호 파(signal wave)에 영구적으로, 또는 일시적으로 구체화(embody)될 수 있다. 소프트웨어는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템 상에 분산되어서, 분산된 방법으로 저장되거나 실행될 수도 있다. 소프트웨어 및 데이터는 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 기록 매체에 저장될 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 홀로그램 투사 방법을 설명하기 위해 도시한 전체 흐름도이다.
여기서 설명하는 홀로그램 투사 방법은 도 1의 홀로그램 투사 장치(100)에 의해 수행될 수 있다. 상기 홀로그램 투사 방법은 본 발명의 하나의 실시예에 불과하며, 그 이외에 필요에 따라 다양한 단계들이 아래와 같이 부가될 수 있고, 하기의 단계들도 순서를 변경하여 실시될 수 있으므로, 본 발명이 하기에 설명하는 각 단계 및 그 순서에 한정되는 것은 아니다.
먼저 도 1 및 도 4를 참조하면, 단계(410)에서 상기 홀로그램 투사 장치(100)는 R, G, B 영상을 각각 투사하는 복수의 투사 모듈(102)을 통해, 홀로그램 영상의 테스트를 위한 홀로그램 테스트 영상을 투사판(101)에 투사할 수 있다.
다음으로, 단계(420)에서 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족하지 못하는 경우(420의 예 방향), 단계(430)에서 상기 홀로그램 투사 장치(100)는 상기 투사 모듈(102)별로 최적 투사 각도를 연산할 수 있다.
반면, 단계(420)에서 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족하는 경우(420의 아니오 방향), 상기 홀로그램 투사 장치(100)는 단계(470)으로 이동하여 홀로그램 영상을 투사할 수 있다.
다음으로, 단계(440)에서 상기 홀로그램 투사 장치(100)는 상기 최적 투사 각도로 상기 투사 모듈(102) 각각의 각도를 조정할 수 있다.
다음으로, 단계(450)에서 상기 홀로그램 투사 장치(100)는 상기 투사 모듈(102) 각각의 영상별 위치 편차를 조정할 수 있다.
다음으로, 단계(460)에서 각 투사 모듈(102)별 각도 조정 및 위치 편차 조정에 따른 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족하는 경우(460의 예 방향), 단계(470)에서 상기 홀로그램 투사 장치(100)는 홀로그램 영상을 상기 투사판(101)에 투사할 수 있다.
반면, 단계(460)에서 각 투사 모듈(102)별 각도 조정 및 위치 편차 조정에 따른 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족하지 못하는 경우(460의 아니오 방향), 단계(480)에서 상기 홀로그램 투사 장치(100)는 각 투사 모듈(102)의 미세 각도를 조정할 수 있다. 이후, 상기 홀로그램 투사 장치(100)는 상기 단계(450)을 다시 수행할 수 있다. 이러한 과정은 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족할 때까지 반복 수행될 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따라 영상별 위치 편차를 조정하는 방법을 설명하기 위해 도시한 흐름도이다.
도 1 및 도 5를 참조하면, 단계(510)에서 상기 홀로그램 투사 장치(100)는 상기 홀로그램 투사 장치(100)와 상기 투사판(101) 간의 거리를 측정할 수 있다.
다음으로, 단계(520)에서 상기 홀로그램 투사 장치(100)는 상기 측정된 거리와 상기 각 투사 모듈(102)별 각도 정보에 기초하여 상기 투사 모듈(102) 각각의 영상별 위치 편차를 산출할 수 있다.
다음으로, 단계(530)에서 상기 홀로그램 투사 장치(100)는 상기 산출된 위치 편차에 따라 상기 각 투사 모듈(102)별 높이를 조정할 수 있다.
이에 따라, 단계(540)에서 상기 홀로그램 투사 장치(100)는 상기 투사 모듈(102) 각각의 영상별 위치 편차를 조정할 수 있다(도 3 참조).
실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 실시예를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CDROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 실시예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.
그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 청구범위와 균등한 것들도 후술하는 청구범위의 범위에 속한다.
101: 투사판
102: 투사 모듈
103: 호겔패턴 단위 유닛
100: 홀로그램 투사 장치
110: 홀로그램 영상 투사부
120: 최적 각도 연산부
130: 투사 모듈 조정부
140: 영상 품질 감지부
150: 제어부

Claims (10)

  1. R, G, B 영상을 각각 투사하는 복수의 투사 모듈을 통해, 홀로그램 영상의 테스트를 위한 홀로그램 테스트 영상을 투사판에 투사하는 홀로그램 영상 투사부;
    상기 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족하지 못하는 경우, 상기 투사 모듈 각각의 최적 투사 각도를 연산하는 최적 각도 연산부; 및
    상기 최적 투사 각도로 상기 투사 모듈 각각의 각도를 조정하는 투사 모듈 조정부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 홀로그램 투사 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 최적 각도 연산부는
    상기 투사판의 색상별 호겔패턴 생성 시 레이저 각도 및 파장 정보에 기초하여 상기 투사 모듈 각각의 최적 투사 각도를 연산하는 것을 특징으로 하는 홀로그램 투사 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 호겔패턴의 단위 유닛은
    상기 단위 유닛의 색상 유닛들이 동일한 크기로 형성되거나, 상기 색상 유닛들이 서로 다른 크기 및 숫자 또는 형상으로 형성되는 것을 특징으로 하는 홀로그램 투사 장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 최적 각도 연산부는
    상기 투사 모듈 각각의 광원의 파장 정보에 더 기초하여 상기 투사 모듈 각각의 최적 투사 각도를 연산하는 것을 특징으로 하는 홀로그램 투사 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 투사 모듈 조정부는
    상기 투사 모듈 각각의 영상별 위치 편차를 조정하고,
    상기 홀로그램 영상 투사부는
    각 투사 모듈별 각도 조정 및 위치 편차 조정에 따른 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족하는 경우, 홀로그램 영상을 상기 투사판에 투사하는 것을 특징으로 하는 홀로그램 투사 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 투사 모듈 조정부는
    상기 홀로그램 투사 장치와 상기 투사판 간의 거리를 측정하고, 상기 측정된 거리와 상기 각 투사 모듈별 각도 정보에 기초하여 상기 투사 모듈 각각의 영상별 위치 편차를 산출하며, 상기 산출된 위치 편차에 따라 상기 각 투사 모듈별 높이를 조정함으로써 상기 투사 모듈 각각의 영상별 위치 편차를 조정하는 것을 특징으로 하는 홀로그램 투사 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 홀로그램 테스트 영상의 품질을 비전 방식으로 감지하는 영상 품질 감지부
    를 더 포함하고,
    상기 투사 모듈 조정부는
    상기 영상 품질 감지부에 연동하여 상기 투사 모듈 각각의 색상별 광원들의 각도를 다르게 조정하는 것을 특징으로 하는 홀로그램 투사 장치.
  8. 홀로그램 투사 장치를 이용한 홀로그램 투사 방법에 있어서,
    상기 홀로그램 투사 장치가 R, G, B 영상을 각각 투사하는 복수의 투사 모듈을 통해, 홀로그램 영상의 테스트를 위한 홀로그램 테스트 영상을 투사판에 투사하는 단계;
    상기 홀로그램 테스트 영상의 품질이 기준 품질을 만족하지 못하는 경우, 상기 홀로그램 투사 장치가 상기 투사 모듈 각각의 최적 투사 각도를 연산하는 단계; 및
    상기 홀로그램 투사 장치가 상기 최적 투사 각도로 상기 투사 모듈 각각의 각도를 조정하는 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 홀로그램 투사 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 홀로그램 투사 장치가 상기 투사 모듈 각각의 영상별 위치 편차를 조정하는 단계;
    상기 홀로그램 투사 장치가 각 투사 모듈별 각도 조정 및 위치 편차 조정에 따른 상기 홀로그램 테스트 영상의 품질을 비전 방식으로 감지하는 단계; 및
    상기 감지된 품질이 기준 품질을 만족하는 경우, 상기 홀로그램 투사 장치가 홀로그램 영상을 상기 투사판에 투사하는 단계
    를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 홀로그램 투사 방법.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 최적 투사 각도를 연산하는 단계는
    상기 투사판의 색상별 호겔패턴 생성 시 레이저 각도 및 파장 정보에 기초하여 상기 투사 모듈 각각의 최적 투사 각도를 연산하는 단계; 및
    상기 투사 모듈 각각의 광원의 파장 정보에 기초하여 상기 투사 모듈 각각의 최적 투사 각도를 연산하는 단계
    중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 홀로그램 투사 방법.
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