KR20240033684A

KR20240033684A - 전자부품 테스트용 핸들러

Info

Publication number: KR20240033684A
Application number: KR1020230117493A
Authority: KR
Inventors: 나윤성
Original assignee: (주)테크윙
Priority date: 2022-09-05
Filing date: 2023-09-05
Publication date: 2024-03-12

Abstract

본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것이다.
본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러는 테스트소켓에 있는 전자부품을 외부로부터 차단하거나 외부에 개방시키는 차폐기를 가지며, 차폐기는 테스트소켓에 대하여 상대적으로 이동되게 구비된다.
본 발명에 따르면 전자부품이 밀폐되거나 개방될 수 있기 때문에, 테스트의 신뢰성을 확보하면서도 부대하는 작업이 수월한 이점이 있다.

Description

전자부품 테스트용 핸들러{HANDLER FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENTS}

본 발명은 전자부품을 테스터에 전기적으로 연결시켜서 전자부품에 대한 테스트를 지원하는 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것이다.

생산된 전자부품들은 테스터에 의한 테스트를 거쳐 양품과 불량품으로 분류된 후 양품만이 출하된다. 이 과정에서 전자부품들을 테스터에 전기적으로 연결시키는 전자부품 테스트용 핸들러가 사용된다.

일반적으로 전자부품 테스트용 핸들러는 전자부품을 테스트소켓으로 공급한 후 가압하여서 전자부품과 테스트소켓을 전기적으로 연결시킨다. 이에 따라 전자부품과 테스터가 전기적으로 연결된다.

전자부품에 대한 테스트는 테스터에서 전자부품으로 테스트신호를 입력시키고, 전자부품에서 되돌아오는 결과신호를 확인하는 방식으로 이루어진다. 그래서 정상적인 테스트신호가 전자부품으로 입력되어야만 테스트에 대한 신뢰성이 확보된다.

한편, 테스트 현장에는 수많은 전자파들에 의한 노이즈들이 존재하고, 이 노이즈들은 테스트신호와 함께 테스트되는 전자부품으로 입력될 수 있다. 만일 노이즈들이 테스트되는 전자부품들로 입력되면, 전자부품은 그릇된 결과신호를 생성하여 테스터로 보내게 된다. 이를 방지하기 위해 노이즈들로부터 테스트되는 전자부품을 고립시킬 필요가 있다.

그래서 대한민국 공개특허 20-2016-0004304호에서는 노이즈방지기구를 구비시키는 기술(이하 ‘종래기술’이라 함)을 제안하고 있다.

종래기술에 따른 노이즈방지기구는 수용공간을 가진 격리실을 구비한다. 격리실은 테스트소켓을 수용하고, 테스트 소켓의 외부에 씌워 장착되며, 속이 빈 챔버로 구성된다. 챔버의 상부에는 전자부품을 가압하기 위한 가압요소가 출입하거나 전자부품을 공급 및 회수하기 위한 출입구멍이 형성되어 있다. 그리고 가압요소에는 전자부품이 테스트 되는 도중에 출입구멍을 완전히 차단할 수 있는 폐쇄물이 구비된다.

위와 같은 종래기술에 따르면 테스트되는 전자부품이 외부의 노이즈로부터 차단되기 때문에 전자부품으로 입력되는 테스트신호가 온전해질 수 있어서 테스트의 신뢰성이 향상될 수 있다.

그러나 종래기술은 몇 가지의 문제를 가지고 있다.

첫째, 테스트소켓에 있는 전자부품의 안착 불량 여부를 확인하기가 곤란해진다.

둘째, 테스트소켓을 수리하거나 교체할 시에 노이즈방지기구가 방해물로 작용하기 때문에 그 만큼 번거로움이 발생한다.

셋째, 전자부품을 테스트소켓으로 공급하거나 테스트소켓으로부터 회수할 시에 정교한 제어가 이루어져야 하고, 때때로 간섭에 따른 작업 불량이 발생할 우려가 있다.

넷째, 지속적인 사용으로 폐쇄물에 변형이 오면 출입구멍 측의 밀폐성이 떨어질 수 있다.

본 발명은 테스트소켓의 개방성과 밀폐성을 동시에 만족할 수 있는 기술에 대한 고민으로부터 안출되었다.

본 발명의 제1 형태에 따른 전자부품 테스트용 핸들러는 테스트소켓에 있는 테스트되어야 할 전자부품을 가압하여 전자부품을 테스터에 전기적으로 연결시키는 연결부; 상기 연결부에 있는 테스트소켓으로 테스트되어야 할 전자부품을 공급하는 공급부; 및 상기 연결부에 있는 테스트소켓으로부터 테스트가 완료된 전자부품을 회수하는 회수부; 를 포함하고, 상기 연결부는 테스트소켓에 있는 전자부품을 가압하는 방향(정방향)으로 이동하거나 그 반대 방향(역방향)으로 이동하도록 구비된 이동체; 상기 이동체를 정방향 또는 역방향으로 이동시키는 이동기; 상기 이동체와 함께 이동하면서 테스트소켓에 있는 전자부품을 가압하거나 전자부품에 대한 가압을 해제하는 푸셔; 상기 푸셔에 의해 가압됨으로써 테스터와 전기적으로 연결된 상태에서 테스트되고 있는 전자부품을 외부의 노이즈로부터 차단시키는 차폐기; 를 포함하며, 상기 차폐기는 상기 이동체에 설치되어서 상기 이동체와 함께 이동함으로써 정방향 또는 역방향 이동에 따라 테스트소켓에 적재된 전자부품을 외부로부터 차단시키거나 외부에 개방시킨다.

상기 차폐기는 상기 푸셔를 내부에 수용하기 위한 수용공간을 가지며, 테스트소켓 방향으로 개방된 밀폐챔버; 를 포함한다.

상기 푸셔는 상기 밀폐챔버에 대하여 상대적으로 진퇴될 수 있게 설치되며, 상기 연결부는 상기 푸셔를 탄성 지지하는 탄성부재; 를 더 포함할 수 있다.

상기 차폐기는 상기 밀폐챔버와 테스트소켓의 접촉면에 있는 틈으로 상기 수용공간으로 새어 들어오는 외부의 노이즈를 차단하기 위한 차단부재; 를 더 포함할 수 있다.

상기 차단부재는 상기 밀폐챔버에 설치되는 것이 바람직하다.

상기 차단부재는 상기 밀폐챔버가 테스트소켓 측에 접하는 접촉면에 설치되는 것이 더 바람직하다.

상기 차단부재는 사각 링 형상의 형태를 가지며, 상기 밀폐챔버의 상기 접촉면에는 사각 링 형상의 설치홈이 형성되어 있고, 상기 차단부재는 상기 설치홈에 삽입 설치되는 것이 가장 바람직하다.

상기 차단부재는 탄성 변형 및 복원이 가능하게 구비될 수 있다.

상기 연결부는 노이즈를 감지하기 위한 노이즈감지기; 를 더 포함할 수 있다.

본 발명의 제2 형태에 따른 전자부품 테스트용 핸들러는 테스트소켓에 있는 테스트되어야 할 전자부품을 가압하여 전자부품을 테스터에 전기적으로 연결시키는 연결부; 상기 연결부에 있는 테스트소켓으로 테스트되어야 할 전자부품을 공급하는 공급부; 및 상기 연결부에 있는 테스트소켓으로부터 테스트가 완료된 전자부품을 회수하는 회수부; 를 포함하고, 상기 연결부는 테스트소켓에 있는 전자부품을 가압하는 방향(정방향)으로 이동하거나 그 반대 방향(역방향)으로 이동하도록 구비된 이동체; 상기 이동체를 이동시키는 이동기; 상기 이동체와 함께 이동하면서 테스트소켓에 있는 전자부품을 가압하거나 전자부품에 대한 가압을 해제하는 푸셔; 상기 푸셔에 의해 가압됨으로써 테스터와 전기적으로 연결된 상태에서 테스트되고 있는 전자부품을 외부의 노이즈로부터 차단시키는 차폐기; 를 포함하며, 상기 차폐기는 테스트소켓에 대하여 상대적으로 위치 이동이 가능하게 구비됨으로써 테스트소켓에 있는 전자부품을 외부로부터 차단시키거나 외부에 개방시킬 수 있다.

본 발명에 따르면 전자부품이 테스트될 때에만 테스트소켓이 폐쇄되고, 그 이외에는 테스트소켓이 개방되기 때문에 다음과 같은 효과가 있다.

첫째, 전자부품의 안착 불량 여부를 쉽게 확인할 수 있다.

둘째, 테스트소켓의 수리나 교체가 수월해진다.

셋째, 전자부품을 테스트소켓에 공급하거나 테스트소켓으로부터 회수하는 작업에 대한 추가적인 정밀성이 요구되지 않아서 그만큼 전자부품의 공급 및 회수에 따른 기구적인 설계 및 제어에 대한 설계의 자유도가 향상된다.

넷째, 푸셔가 차폐기의 내부공간에 설치되기 때문에 그 만큼 전자부품에 대한 밀폐성이 뛰어나다.

다섯째, 노이즈감지기에 의해 감지된 값을 활용하여 밀폐챔버에 의한 밀폐성을 조정할 수 있기 때문에 테스트에 대한 신뢰성을 더 높일 수 있다.

도 1은 본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러에 대한 개념적인 평면도이다.
도 2는 도 1의 전자부품 테스트용 핸들러에 적용된 연결부에 대한 개념적인 발췌도이다.
도 3은 도 2의 연결부의 작동 상태를 참고하기 위한 참고도이다.
도 4는 도 2의 연결부에 적용된 차폐기의 일 구성인 밀폐챔버에 대한 발췌 사시도이다.
도 5는 도 2의 연결부에 적용된 차폐기의 일 구성인 차단부재에 대한 발췌 사시도이다.
도 6 및 도 7은 도 4의 밀폐챔버와 도 5의 차단부재의 구조를 설명하기 위한 참고도이다.
도 8은 도 2의 연결부에 대한 제1 변형예를 설명하기 위한 개념적인 참고도이다.
도 9는 도 2의 연결부에 대한 제2 변혀예를 설명하기 위한 개념적인 참고도이다.
도 10은 도 2의 연결부에 적용될 수 있는 차단부재의 다른 예시를 보여준다.
도 11 및 도 12는 도 1의 전자부품 테스트 핸들러에 적용될 수 있는 노이즈감지기의 배치 위치를 설명하기 위한 참고도이다.

본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하되, 설명의 간결함을 위해 공지되었거나 중복 또는 실질적으로 동일한 구성에 대한 설명은 가급적 생략하거나 압축한다. 참고로 본 명세서 및 도면에서는 동일 기능을 하는 구성들에 대해서는 동일 부호를 부여하였다.

<전자부품 테스트용 핸들러에 대한 개념>

도 1은 본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러(100, 이하 ‘핸들러’라 약칭함)에 대한 개념도이다.

핸들러(100)는 연결부(110), 공급부(120), 회수부(130) 및 제어기(140)를 포함하여 구성된다.

연결부(110)는 테스트소켓(TS)에 있는 테스트되어야 할 전자부품을 가압하여 전자부품(도시되지 않음)을 테스터(도시되지 않음)에 전기적으로 연결시킨다. 이러한 연결부(110)에는 전자부품을 테스터에 전기적으로 연결시키기 위한 테스트소켓(TS)이 구비되는데, 테스트소켓(TS)은 핸들러(100)의 일 구성 부품으로 구비될 수도 있고, 테스터의 일 구성 부품으로 구비될 수도 있다. 본 발명은 이러한 연결부(110)에 특징을 가진다. 참고로 테스트소켓(TS)은 중앙에 전자부품이 적재될 수 있는 적재홈이 형성되어 있으며, 전자부품은 적재홈에 안착되는 상태로 테스트소켓(TS)으로 공급된다.

공급부(120)는 연결부(110)에 마련된 테스트소켓(TS)으로 테스트되어야 할 전자부품을 공급한다.

회수부(130)는 연결부(110)에 있는 테스트소켓(TS)으로부터 테스트가 완료된 전자부품을 회수한다.

제어기(140)는 연결부(110), 공급부(120) 및 회수부(130)를 제어함으로써 전자부품의 테스트에 필요한 핸들러(100)의 모든 동작을 제어한다.

위의 공급부(120), 회수부(130) 및 제어기(140)는 핸들러(100)의 종류에 따라서 다양한 구조와 구성들을 취할 수 있다. 그리고 그 구조와 구성들에 대해서는 종래의 여러 특허 문헌들을 통해 다양한 형태가 제안되어 왔다. 따라서 이하에서는 공급부(120), 회수부(130) 및 제어기(140)에 대한 설명은 생략하고, 본 발명의 특징이 있는 연결부(110)에 대하여 자세히 설명한다.

<연결부에 대한 구체적인 설명>

도 2의 개략도에서와 같이 연결부(110)는 이동체(111), 이동기(112), 푸셔(113), 차폐기(114) 및 2개의 탄성부재(115)를 포함한다.

이동체(111)는 테스트소켓(TS)에 있는 전자부품(ED)을 가압하는 방향(정방향, 본 실시예에서는 하방향)으로 이동하거나 그 반대 방향(역방향, 본 실시예에서는 상방향)으로 이동 가능하게 구비된다. 이러한 이동체(111)는 핸들러(100)의 종류에 따라서 요구되는 기능이나 구조에 맞는 다양한 형태로 구현될 수 있다.

예를 들면, 이동체(111)는 금속뼈대 구조일 수 있다.

예를 들면, 이동체(111)는 넓은 판상의 형태일 수 있다.

예를 들면, 이동체(111)는 다수의 공압 유로나, 냉매 유로가 형성된 구조체일 수 있다.

이동기(112)는 이동체(111)를 정방향 또는 역방향으로 이동시킨다.

이동기(112)가 이동체(111)를 정방향으로 이동시키면 푸셔(113)가 전자부품(ED)을 가압하여 전자부품(ED)이 테스트소켓(TS)과 전기적으로 연결된다. 그리고 이동기(112)가 이동체(111)를 역방향으로 이동시키면 푸셔(113)가 전자부품(ED)으로부터 이격되어 전자부품(ED)이 테스트소켓(TS)과 전기적으로 분리된다. 이러한 이동기(112)는 실린더 또는 모터로 구비될 수 있다.

푸셔(113)는 이동체(111)와 함께 이동하면서 테스트소켓(TS)에 있는 전자부품(ED)을 가압하여 전자부품(ED)을 테스터에 전기적으로 연결시키거나, 전자부품(ED)에 대한 가압을 해제한다.

푸셔(113)는 이동기(112)로부터 제공되는 하강력에 의해 하방으로 이동할 수 있다. 그래서 도 3의 (a)에서와 같이 푸셔(113)의 하단이 테스트소켓(TS)에 적재된 전자부품(ED)에 접하면서 푸셔(113)는 테스트소켓(TS)에 있는 전자부품(ED)을 하방으로 가압하게 된다. 그러면 전자부품(ED)의 단자와 테스트소켓(TS)의 단자를 긴밀하게 접촉된다. 이렇게 양 단자 간의 긴밀한 접촉에 의해 전자부품(ED)이 테스터에 전기적으로 연결된다.

또, 푸셔(113)는 이동기(112)로부터 제공되는 상승력에 의해 상방으로 이동할 수 있다. 그래서 도 3의 (b)에서와 같이 푸셔(113)는 전자부품(ED)으로부터 이격되면서 전자부품(ED)에 대한 가압을 해제하게 된다. 그러면 전자부품(ED)의 단자와 테스트소켓(TS)의 단자가 전기적으로 분리된다. 이에 따라 전자부품(ED)과 테스터 간의 전기적인 연결이 해제된다.

차폐기(114)는 이동체(111)에 결합 설치되어서 이동체(111)와 함께 승강 이동한다.

차폐기(114)가 하강 이동할 시에는 테스트소켓(TS)에 있는 전자부품(ED)을 외부의 노이즈로부터 차단시키는 역할을 수행한다.

바람직한 예시에 따라 푸셔(113)의 가압에 의해 전자부품(ED)이 테스터와 전기적으로 연결된 상태에서, 차폐기(114)는 테스트되고 있는 전자부품(ED)을 외부의 노이즈로부터 차단시키게 된다. 이를 위해 차폐기(114)는 밀폐챔버(114a)와 차단부재(114b)를 포함한다.

밀폐챔버(114a)는 하방으로 개방된 수용공간(ES)을 가지고 있다. 그래서 푸셔(113)는 대략적으로 수용공간(ES)에 수용된다. 즉, 밀폐챔버(114a)는 푸셔(113)를 내부에 형성된 수용공간(ES)에 수용한다.

예를 들어 도 4의 발췌 사시도에서와 같이, 밀폐챔버(114a)는 테스트소켓(TS) 방향인 하방으로 개방된 수용공간(ES)을 가진 사각 박스 형상을 가진다.

도 4의 (b)에 도시된 저면도를 참고하면, 밀폐챔버(114a)에는 2개의 지지홈(IG)과 2개의 결합홈(JG)이 형성되어 있다.

지지홈(IG)은 2개의 탄성부재(115)를 설치하기 위해 형성되어 있다.

결합홈(JG)은 결합수단인 결합볼트(JB)를 이용하여 푸셔(113)를 밀폐챔버(114a)에 결합시키기 위해 형성되어 있다.

밀폐챔버(114a)는 상단이 이동체(111)에 결합되어 있어서, 이동체(111)와 함께 승강 이동한다.

밀폐챔버(114a)가 하강하게 되면 도 3의 (a)에서와 같이, 밀폐챔버(114a)의 하단이 테스트소켓(TS)에 접촉하여 테스트소켓(TS)에 있는 전자부품(ED)을 외부로부터 차단시킨다.

반대로 밀폐챔버(114a)가 상승하게 되면 도 3의 (b)에서와 같이, 밀폐챔버(114a)의 하단이 테스트소켓(TS)으로부터 이격되면서 테스트소켓(TS)에 있는 전자부품(ED)을 외부에 개방시킨다.

도 4를 참고하면, 밀폐챔버(114a)는 테스트소켓(TS) 측에 접하는 접촉면(TF)인 사각 링 형태의 하단면에 역시 사각 링 형상으로 빙 둘러 설치홈(IG)이 형성되어 있다.

밀폐챔버(114a)는 각종 전자기파 형태를 가진 노이즈를 차단할 수 있는 소재로 구비되어야 한다. 예를 들면, 밀폐챔버(114a)는 금속재질의 소재로 구비될 수 있다.

차단부재(114b)는 밀폐챔버(114a)와 테스트소켓(TS)의 접촉면에 있을 수 있는 틈으로 수용공간(ES)으로 새어 들어오는 외부의 노이즈를 차단하기 위해 마련된다.

차단부재(114b)는 밀폐챔버(114a)의 설치홈(IG)에 삽입 설치된다. 따라서 차단부재(114b)는 사각 링 형상을 가질 수 있다.

도 5의 발췌도에서 참조되는 바와 같이, 차단부재(114b)는 나선형으로 감기는 코일스프링 형태를 가질 수 있다. 그래서 차단부재(114b)는 탄성 변형 및 복원이 가능하게 구비된다. 즉, 차단부재(114b)는 탄성 변형 및 복원이 가능한 구조라면 어떠한 구조나 형태로 구현되어도 적절할 수 있다.

도 6의 참고도에서와 같이, 차단부재(114b)의 하단은 접촉면(TF)보다 하방으로 일정 길이(h)만큼 약간 더 돌출되게 구비된다.

도 7에서와 같이 밀폐챔버(114a)가 하강하여 그 하단이 테스트소켓(TS)에 접하게 되면, 차단부재(114b)가 탄성 변형을 일으키며 압축된다. 그리고 도 6에서와 같이 밀폐챔버(114a)가 상승하면, 차단부재(114b)의 형상이 복원된다.

따라서, 차단부재(114b)는 여러 가지 기구적 공차에 의해 밀폐챔버(114a)의 하단이 테스트소켓(TS)과 긴밀하게 접하지 못하는 경우에도 전자부품(ED)을 외부로부터 효과적으로 고립시키는 역할을 수행한다.

마찬가지로 차단부재(114b)도 노이즈의 차단이 가능한 소재로 구비되어야 한다. 예를 들면, 차단부재(114b)는 탄성 변형 및 복원이 가능한 금속재질의 소재로 구비될 수 있다.

한편, 도 6에서와 같이 푸셔(113)는 밀폐챔버(114a)의 내부에서 하방으로 약간 돌출되게 설치될 수 있다. 푸셔(113)의 돌출된 정도는 밀폐챔버(114a)의 하단이 테스트소켓(TS)에 접한 상태에서 테스트소켓(TS)의 적재홈(LG)에 안착되어 있는 전자부품(ED)을 가압할 수 있는 정도인 게 바람직하다. 도 6의 예시에 따르면, 푸셔(113)의 하단이 밀폐챔버(114a)의 하면(TF)보다 소정 길이(g)만큼 더 돌출되어 있음을 알 수 있다.

푸셔(113)는 자체의 돌출 길이 공차, 전자부품(ED)의 두께 공차, 기타 주변 구성부품들의 제작 공차 등을 감안하여 밀폐챔버(114a)에 대하여 상대적으로 상하 방향(이동체가 이동하는 방향)으로 진퇴 가능하게 구비될 필요가 있다. 이를 위해 결합볼트(JB)는 푸셔(113)가 상하 방향으로 어느 정도 진퇴될 수 있는 상태로 푸셔(113)를 밀폐챔버(114a)에 결합시킨다.

탄성부재(115)는 밀폐챔버(114a)에 대하여 푸셔(113)를 탄성 지지한다. 즉, 탄성부재(115)는 푸셔(113)를 하방으로 탄성 가압하는 상태를 유지한다. 따라서 푸셔(113)는 탄성부재(115)에 의해 탄성 지지되는 상태에서 진퇴 가능하게 밀폐챔버(114a)에 설치될 수 있다. 이 때문에 여러 구성부품들에 제작 공차들이 존재하여 푸셔(113)가 전자부품(ED)을 과도하게 가압하여야 되는 상황이 있는 경우라도, 탄성부재(115)가 압축되면서 푸셔(113)가 밀폐챔버(114a)에 대하여 상대적으로 상방으로 후퇴 이동되기 때문에 전자부품(ED)과 테스트소켓(TS)이 손상되는 것이 방지된다. 그리고 이러한 구조는 후술한 노이즈감지기가 구비된 경우에 더욱 필수적인 수단으로 작용할 수 있다.

계속하여 위와 같은 연결부(110)의 작동에 대하여 설명한다.

공급부(120)에 의해 테스트소켓(TS)으로 테스트되어야 할 전자부품(ED)이 공급되면, 이동기(112)가 작동하여 이동체(111)를 하강시킨다. 그리고 이동체(111)의 하강에 연동하여 푸셔(113) 및 차폐기(114)가 함께 하강하게 된다. 이에 따라 푸셔(113)의 하단이 전자부품(ED)에 접하면서 전자부품(ED)이 하방으로 가압된다. 또한, 그와 함께 밀폐챔버(114a)의 하단이 전자부품(ED)을 둘러싸는 형태로 테스트소켓(TS)에 접함으로써 전자부품(ED)을 외부로부터 차단시킨다.

한편, 이동체(111)의 하강 시에 각종 공차에 의해 푸셔(113)의 하단이 요구되는 것보다 먼저 전자부품(ED)에 접할 수 있다. 그런 경우에도 탄성부재(115)가 압축되면서 푸셔(113)가 밀폐챔버(114a)에 대하여 상대적으로 상방으로 후퇴되기 때문에 이동체(111)에 결합된 밀폐챔버(114a)의 하단이 테스트소켓(TS)에 적절히 접할 수 있다.

또한, 밀폐챔버(114a)의 하단이 테스트소켓(TS)에 접하기 전에 먼저 차단부재(114b)의 하단이 테스트소켓(TS)에 접하면서 전자부품(ED)을 외부로부터 고립시키고, 이어서 밀폐챔버(114a)의 하단이 테스트소켓(TS)에 접한다. 이에 따라 차단부재(114b)는 상하 방향으로 압축된 탄성변형 상태가 된다.

차후 전자부품(ED)에 대한 테스트가 종료되면, 이동기(112)가 이동체(111)를 상승시킨다. 이에 따라 밀폐챔버(114a)가 상승하면서 차단부재(114b)는 형상 복원된다. 그리고 테스트소켓(TS)에 적재된 전자부품(ED)도 외부에 개방된다. 물론, 푸셔(113)도 이동체(111)와 함께 상승함으로써 전자부품(ED)에 대한 가압을 해제한다. 그리고 전자부품(ED)이 외부에 개방된 상태에서 회수부(130)가 전자부품(ED)을 회수하게 된다.

<제1 변형예>

도 8은 차폐기(114)가 이동체(111)에 결합되어 함께 이동하는 대신 별도의 동력원(116)에 의해 작동하는 경우를 개략적으로 도시하고 있다. 여기서 동력원(116)은 차폐기(114)를 테스트소켓(TS)에 대하여 상대적으로 이동시킴으로써, 차폐기(114)가 테스트소켓(TS)에 있는 전자부품(ED)을 외부로부터 차단시키거나 외부에 개방시키게 한다.

동력원(116)은 회전이동요소(116a)와 승강이동요소(116b)를 포함할 수 있다.

회전이동요소(116a)는 수직축(P)을 회전축으로 하여 차폐기(114))를 회전시킬 수 있다.

승강이동요소(116b)는 차폐기(114)를 상하 수직 방향으로 이동시킬 수 있다.

제1 변형예에 따르면, 차폐기(114)는 이동기(112)와는 다른 별도의 동력원(116)에 의해 테스트소켓(TS)에 있는 전자부품(ED)을 외부로부터 차단시키거나, 외부에 개방시키게 된다. 그리고 푸셔(113)는 이동체(111)에 직접 설치되어서 이동체(111)와 함께 이동하게 된다. 이에 따라 차폐기(114)는 상단 부위에 푸셔(113)가 출입할 수 있는 출입구멍(IO)이 형성되어 있다. 그래서 이동체(111)는 폐쇄부재(111a)를 구비할 수 있다.

폐쇄부재(111a)는 이동체(111)에 설치된 푸셔(113)가 전자부품(ED)을 가압할 시에 출입구멍(IO)의 나머지 영역을 폐쇄시킨다. 물론, 폐쇄부재(111a)는 탄성 변형 및 복원 구조를 가질 수 있으며, 출입구멍(IO)의 나머지 영역을 폐쇄시킬 수 있다면 어떠한 형상으로 구현되더라도 적절할 수 있다.

제1 변형예에서도, 차폐기(114)는 밀폐챔버(114a)와 차단부재(114b)를 가지는 것이 바람직하다.

<제2 변형예>

도 9는 차폐기(114)가 이동체(111)에 결합되어 함께 이동하되, 푸셔(113)가 이동체(111)에 직접 설치되어서 이동체(111)와 함께 이동하게 된다.

본 변형예에서도 차폐기(114)는 밀폐챔버(114a)와 차단부재(114b)를 가진다.

<부가적인 설명>

1. 푸셔의 개수

위의 예들에서는 연결부(110)가 하나의 푸셔(113)만을 가지는 것으로 설명하고 있다. 그러나 실시하기에 따라서는 복수개의 푸셔(113)가 설치될 수 있다.

만일, 하나의 이동체(111)에 복수개의 푸셔(113)가 구비될 경우에는, 하나의 차폐기(114)가 복수개의 푸셔(113)를 모두 수용하는 형태로 구비될 수도 있다.

다만, 테스트되는 전자부품(ED)들에서도 전자파가 발생할 수 있고, 이 경우 인접하는 전자부품(ED)들에 노이즈를 제공할 수 있다. 따라서 복수개의 차폐기(114)가 각각 대응하는 하나의 푸셔(113)만을 수용하는 형태로 구비되는 게 바람직할 수 있다. 즉, 차폐기(114)는 푸셔(113)에 1 대 1 대응되는 개수로 구비되어서, 하나의 차폐기(114)가 대응하는 하나의 푸셔(113)만을 수용하는 형태로 구비되는 것이 더 바람직하게 고려될 수 있다.

2. 차단부재의 구조 및 형태

앞선 설명들에서, 차단부재(114b)는 코일스프링의 구조 및 형태를 취하고 있다. 그러나, 차단부재(114b)는 다양한 구조 및 형태를 가질 수 있다.

도 10은 다른 예시들에 따른 차단부재(114b)의 단면을 보여주고 있다.

차단부재(114b)는 탄성링(114b-1)과 차단실(114b-2)로 이루어질 수 있다.

탄성링(114b-1)은 탄성적인 변형 및 복원이 가능한 소재의 중공을 가진 관으로 구비될 수 있다. 물론, 탄성링(114b-1)은 예를 들면 굵은 고무줄과 같이 속이 채워진 봉의 형태를 가질 수도 있다.

차단실(114b-2)은 탄성링(114b-1)의 외면을 감싸는 금속재질의 실 형태를 가질 수 있다.

본 예시에 따른 차단부재(114b)에서, 차단실(114b-2)은 탄성링(114b-1)의 외면을 전부 감싸도록 구현됨이 바람직하다.

예를 들어, 차단실(114b-2)은 실타래처럼 엮여서 탄성링(114b-1)의 외면을 빼곡히 감싸도록 구현될 수 있다.

예를 들어, 차단실(114b-2)은 탄성링(114b-1)의 외면을 빼곡히 감도록 구현될 수 있다.

본 예시에 따르면, 차단실(114b-2)은 탄성링(114b-1)의 형상 변형 및 복원에 대응하여 함께 형상 변형 및 복원이 이루어지도록 구현된다.

3. 노이즈감지기의 추가

위의 예들에 따른 연결부(110)는 밀폐챔버(114a)의 내측에서 노이즈를 감지할 수 있는 노이즈감지기를 추가적으로 가질 수 있다.

도 11은 연결부(110)에 노이즈를 감지할 수 있는 노이즈감지기(116)가 추가되어 있다.

도 11의 (a)는 노이즈감지기(116)가 밀폐챔버(114a)의 내면에 설치되어 있는 예시를 보여주고 있다.

도 11의 (b)는 노이즈감지기(116)가 푸셔(113)에 설치되어 있는 예시를 보여주고 있다.

도 12에서와 같이, 노이즈감지기(116)가 테스트소켓(TS)에 설치될 수도 있다.

참고로, 도 11과 도 12는 도 2의 실시예를 바탕으로 하여 노이즈감지기(116)가 추가된 예를 도시하고 있지만, 노이즈감지기(116)는 도 8 및 도 9의 변형예에도 동일하게 추가될 수 있다.

도 2의 실시예나 도 9의 변형예에서는 노이즈감지기(116)가 밀폐챔버(114a) 또는 푸셔(113)에 설치될 수도 있다.

또, 도 2의 실시예나 도 9의 변형예에서는 노이즈감지기(116)가 밀폐챔버(114a)와 푸셔(113) 사이의 공간이면 어디든 배치될 수도 있다.

그러나 도 8의 변형예에서는 이동거리가 크고 승강 및 회전 이동이 이루어져야 하는 밀폐챔버(114a)보다는 푸셔(113)에 노이즈감지기(116)가 설치되는 것이 보다 더 안정적일 수 있다.

노이즈감지기(116)가 구비된 경우, 핸들러(100)는 보다 더 정확한 테스트의 지원이 가능할 수 있다.

예를 들어, 제어기(140)는 노이즈감지기(116)에 의해 감지된 값을 분석하면서 테스트에 필요한 동작을 제어할 수 있다.

바람직한 예시에 따르면, 제어기(140)는 밀폐챔버(114a)의 내부에서 외부의 노이즈가 감지되는 값이 설정값 이하로 차단되는 시점에서 테스트가 이루어지도록 제어할 수 있다. 이에 대하여 좀 더 구체적으로 설명한다.

밀폐챔버(114a)의 하강에 의해 차단부재(114b)가 눌려지면서 차단력이 증가되는 구간에서, 제어기(140)는 노이즈감지기(116)에 의해 감지된 값의 변화를 통해 밀폐챔버(114a) 내부의 노이즈에 대한 값을 확인한다. 그리고 제어기(140)는 감지된 값의 변화를 지속적으로 확인하고, 그 변화되는 값이 설정값에 다다르면 밀폐챔버(114a)의 하강을 정지시킨 뒤에 전자부품(ED)에 대한 테스트가 이루어지도록 제어한다.

더 나아가, 테스트가 진행되는 도중에도 제어기(140)는 노이즈감지기(116)에 의해 감지된 값의 변화를 지속적으로 분석할 수 있다. 그래서 만일 테스트가 진행되는 도중에 감지된 값이 상승하게 되면, 제어기(140)는 밀폐챔버(114a)를 조금 더 하강시켜서 외부로부터 전자부품(ED)을 더 견고하게 차단시키도록 제어할 수 있다.

다만, 도 2 및 도 9의 구조에 따르면 밀폐챔버(114a)의 추가적인 하강은 푸셔(113)에 하강력이 추가적으로 작용한다는 것을 의미한다. 따라서 푸셔(113)의 가압력이 커져서 테스트되는 전자부품(ED)의 손상을 초래할 수 있다. 이에, 전자부품(ED)의 손상을 방지할 구조가 추가적으로 요구될 수 있다. 예를 들면, 탄성부재(115)의 상하 길이를 늘리고 탄성계수를 조정함으로써 밀폐챔버(114a)에 대한 푸셔(113)의 상대적인 승강 이동거리를 늘리는 구조도 충분히 고려될 수 있다.

반면에, 도 8의 구조에 따르면 밀폐챔버(114a)의 하강과 푸셔(113)의 하강은 독립적이다. 따라서 도 8의 구조에서는 밀폐챔버(114a)가 추가적으로 하강하더라도 푸셔(113)에는 추가적인 하강력이 작용하지 않는다. 그러나, 밀폐챔버(114a)의 추가적인 하강에 의해 폐쇄부재(111a) 폐쇄기능이 상실될 수 있다. 따라서 밀폐챔버(114a)가 추가적으로 하강하더라도 폐쇄부재(111a)의 폐쇄기능이 유지될 수 있는 구조가 필요할 수 있다. 예를 들면 폐쇄부재(111a)가 상하 방향으로 탄성 지지되거나 자체적으로 탄성 변형 및 복원 기능을 가짐으로써, 밀폐챔버(114a)의 추가적인 하강에 연동하여 폐쇄부재(111a)가 자동적으로 출입구멍(IO)의 폐쇄를 유지하도록 하는 구조가 고려될 수 있다.

위와 같은 본 발명에 따르면, 차폐기(114)가 테스트소켓(TS)에 있는 전자부품(ED)을 외부로부터 차단시키거나 외부에 개방시킬 수 있다. 그래서 테스트 시에는 전자부품(ED)이 외부의 노이즈로부터 차단되어 테스트신호의 왜곡이 방지된다. 그리고 전자부품(ED)의 공급이나 회수, 테스트소켓(TS)의 수리나 교체 또는 전자부품(ED)의 안착 불량 여부를 확인할 시에는 전자부품(ED)과 테스트소켓(TS)이 외부에 개방되어서 요구되는 작업이 원활하게 이루어질 수 있다.

위와 같이 본 발명에 대한 구체적인 형태에 대한 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예를 기반으로 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예들을 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예들에만 국한되는 것으로 이해되어서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 균등범위로 이해되어야 할 것이다.

100 : 전자부품 테스트용 핸들러
110 : 연결부
111 : 이동체
112 : 이동기
113 : 푸셔
114 : 차폐기
114a : 밀폐챔버
IG : 설치홈
TF : 접촉면
114b : 차단부재
115 : 탄성부재
116 : 노이즈감지기
120 : 공급부
130 : 회수부

Claims

테스트소켓에 있는 테스트되어야 할 전자부품을 가압하여 전자부품을 테스터에 전기적으로 연결시키는 연결부;
상기 연결부에 있는 테스트소켓으로 테스트되어야 할 전자부품을 공급하는 공급부; 및
상기 연결부에 있는 테스트소켓으로부터 테스트가 완료된 전자부품을 회수하는 회수부; 를 포함하고,
상기 연결부는
테스트소켓에 있는 전자부품을 가압하는 방향(정방향)으로 이동하거나 그 반대 방향(역방향)으로 이동하도록 구비된 이동체;
상기 이동체를 정방향 또는 역방향으로 이동시키는 이동기;
상기 이동체와 함께 이동하면서 테스트소켓에 있는 전자부품을 가압하거나 전자부품에 대한 가압을 해제하는 푸셔;
상기 푸셔에 의해 가압됨으로써 테스터와 전기적으로 연결된 상태에서 테스트되고 있는 전자부품을 외부의 노이즈로부터 차단시키는 차폐기; 를 포함하며,
상기 차폐기는 상기 이동체에 설치되어서 상기 이동체와 함께 이동함으로써 정방향 또는 역방향 이동에 따라 테스트소켓에 적재된 전자부품을 외부로부터 차단시키거나 외부에 개방시키는
전자부품 테스트용 핸들러.
제1 항에 있어서,
상기 차폐기는
상기 푸셔를 내부에 수용하기 위한 수용공간을 가지며, 테스트소켓 방향으로 개방된 밀폐챔버; 를 포함하는
전자부품 테스트용 핸들러.
제3 항에 있어서,
상기 푸셔는 상기 밀폐챔버에 대하여 상대적으로 진퇴될 수 있게 설치되며,
상기 연결부는
상기 푸셔를 탄성 지지하는 탄성부재; 를 더 포함하는
전자부품 테스트용 핸들러.
제2 항에 있어서,
상기 차폐기는
상기 밀폐챔버와 테스트소켓의 접촉면에 있는 틈으로 상기 수용공간으로 새어 들어오는 외부의 노이즈를 차단하기 위한 차단부재; 를 더 포함하는
전자부품 테스트용 핸들러.
제4 항에 있어서,
상기 차단부재는 상기 밀폐챔버에 설치되는
전자부품 테스트용 핸들러.
제5 항에 있어서,
상기 차단부재는 상기 밀폐챔버가 테스트소켓 측에 접하는 접촉면에 설치되는
전자부품 테스트용 핸들러.
제6 항에 있어서,
상기 차단부재는 사각 링 형상의 형태를 가지며,
상기 밀폐챔버의 상기 접촉면에는 사각 링 형상의 설치홈이 형성되어 있고,
상기 차단부재는 상기 설치홈에 삽입 설치되는
전자부품 테스트용 핸들러.
제7 항에 있어서,
상기 차단부재는 탄성 변형 및 복원이 가능하게 구비되는
전자부품 테스트용 핸들러.
테스트소켓에 있는 테스트되어야 할 전자부품을 가압하여 전자부품을 테스터에 전기적으로 연결시키는 연결부;
상기 연결부에 있는 테스트소켓으로 테스트되어야 할 전자부품을 공급하는 공급부; 및
상기 연결부에 있는 테스트소켓으로부터 테스트가 완료된 전자부품을 회수하는 회수부; 를 포함하고,
상기 연결부는
테스트소켓에 있는 전자부품을 가압하는 방향(정방향)으로 이동하거나 그 반대 방향(역방향)으로 이동하도록 구비된 이동체;
상기 이동체를 이동시키는 이동기;
상기 이동체와 함께 이동하면서 테스트소켓에 있는 전자부품을 가압하거나 전자부품에 대한 가압을 해제하는 푸셔;
상기 푸셔에 의해 가압됨으로써 테스터와 전기적으로 연결된 상태에서 테스트되고 있는 전자부품을 외부의 노이즈로부터 차단시키는 차폐기; 를 포함하며,
상기 차폐기는 테스트소켓에 대하여 상대적으로 위치 이동이 가능하게 구비됨으로써 테스트소켓에 있는 전자부품을 외부로부터 차단시키거나 외부에 개방시킬 수 있는
전자부품 테스트용 핸들러.
제1 항 또는 제9 항에 있어서,
상기 연결부는
노이즈를 감지하기 위한 노이즈감지기; 를 더 포함하는
전자부품 테스트용 핸들러.