KR20240017302A - Display apparatus - Google Patents
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Abstract
표시 장치가 제공된다. 상기 표시 장치는 기판, 복수의 화소 구동부들과, 데이터 배선들과, 상기 비표시 영역 중 상기 서브 영역에 인접한 디먹스 영역에 배치되는 디먹스 회로부들을 포함한 회로 어레이층, 및 상기 데이터 배선들에 대응하는 데이터 구동 신호들을 공급하는 표시 구동 회로를 포함한다. 디먹스 영역 중 제1 방향의 일측 영역인 제2 디먹스 영역에 배치된 제2 디먹스 회로부에 연결되는 제2 데이터 입력 배선은 메인 입력 배선, 표시 영역에 배치되고 상기 메인 입력 배선과 연결되는 디먹스 우회 배선, 및 상기 디먹스 우회 배선과 상기 제2 디먹스 회로부의 입력단 사이를 연결하는 우회 부가 배선을 포함한다.A display device is provided. The display device includes a substrate, a plurality of pixel drivers, data wires, a circuit array layer including demultiplex circuit units disposed in a demultiplex area adjacent to the sub-area of the non-display area, and corresponding to the data wires. and a display driving circuit that supplies data driving signals. A second data input wire connected to the second demux circuit unit disposed in the second demux area, which is an area on one side of the first direction of the demux area, is a main input wire, and a digital signal disposed in the display area and connected to the main input wire. It includes a mux bypass wiring, and a bypass additional wiring connecting the demux bypass wiring and the input terminal of the second demux circuit unit.
Description
본 발명은 표시 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a display device.
정보화 사회가 발전함에 따라 영상을 표시하기 위한 표시 장치에 대한 요구가 다양한 형태로 증가하고 있다. 예를 들어, 표시 장치는 스마트폰, 디지털 카메라, 노트북 컴퓨터, 네비게이션, 및 스마트 텔레비전과 같이 다양한 전자기기에 적용되고 있다. As the information society develops, the demand for display devices for displaying images is increasing in various forms. For example, display devices are applied to various electronic devices such as smartphones, digital cameras, laptop computers, navigation systems, and smart televisions.
표시 장치는 영상 표시를 위한 광을 방출하는 표시 패널과, 표시 패널의 구동을 위한 신호 또는 전원을 공급하는 구동부를 포함할 수 있다.A display device may include a display panel that emits light for displaying an image, and a driver that supplies a signal or power to drive the display panel.
표시 장치의 적어도 일면은 영상이 표시되는 표시면으로 지칭될 수 있다. 표시면은 영상 표시를 위한 각각의 광을 방출하는 복수의 발광 영역이 배열되는 표시 영역과, 표시영역의 주변인 비표시 영역을 포함할 수 있다. At least one surface of the display device may be referred to as a display surface on which an image is displayed. The display surface may include a display area in which a plurality of light-emitting areas that emit respective lights for image display are arranged, and a non-display area surrounding the display area.
표시 장치는 표시 영역에 배치되고 복수의 발광 영역들에 각각의 데이터 신호를 전달하는 데이터 배선들과, 데이터 배선들에 각각의 데이터 신호를 공급하는 표시 구동 회로를 포함할 수 있다.The display device may include data lines disposed in the display area and transmitting respective data signals to a plurality of light emitting areas, and a display driving circuit supplying respective data signals to the data lines.
한편, 데이터 배선들과 표시 구동 회로 간의 신호 전달 배선들이 비표시 영역에 배치됨에 따라, 해상도 개선을 위해 데이터 배선들의 개수가 증가될수록, 비표시 영역의 너비가 증가될 수 있다. Meanwhile, as signal transmission wires between data wires and the display driving circuit are arranged in the non-display area, as the number of data wires increases to improve resolution, the width of the non-display area may increase.
반면, 표시면 중 표시 영역의 비율을 높이기 위해, 비표시 영역의 너비를 축소하는 경우, 신호 전달 배선들이 쇼트 방지 등을 고려한 임계 이상의 간격으로 배열되기 어려워진다. 즉, 비표시 영역에 배열될 수 있는 신호 전달 배선들의 개수가 소정 개수 이내로 한정되므로, 표시 장치의 해상도를 개선하기 어려운 문제점이 있다. On the other hand, when the width of the non-display area is reduced to increase the ratio of the display area to the display surface, it becomes difficult to arrange the signal transmission wires at intervals greater than a critical distance in consideration of short circuit prevention. That is, since the number of signal transmission wires that can be arranged in the non-display area is limited to a predetermined number, it is difficult to improve the resolution of the display device.
이에 따라, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 해상도에 영향을 미치지 않으면서도 비표시 영역의 너비를 감소시킬 수 있는 표시 장치를 제공하는 것이다. Accordingly, the problem to be solved by the present invention is to provide a display device that can reduce the width of the non-display area without affecting resolution.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems of the present invention are not limited to the problems mentioned above, and other technical problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the description below.
상기 과제 해결을 위한 일 실시예에 따른 표시 장치는 복수의 발광 영역들이 제1 방향 및 제2 방향으로 배열되는 표시 영역과 상기 표시 영역의 주변에 배치된 비표시 영역을 포함한 메인 영역, 및 상기 메인 영역의 일측에서 돌출되는 서브 영역을 포함하는 기판, 상기 기판 상에 배치되고, 상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응되는 복수의 화소 구동부들과, 상기 복수의 화소 구동부들에 데이터 신호를 전달하는 데이터 배선들과, 상기 비표시 영역 중 상기 서브 영역에 인접한 디먹스 영역에 배치되는 디먹스 회로부들을 포함한 회로 어레이층, 및 상기 기판의 상기 서브 영역에 배치되고 상기 데이터 배선들에 대응하는 데이터 구동 신호들을 공급하는 표시 구동 회로를 포함한다. 상기 디먹스 회로부들 중 하나의 디먹스 회로부는 하나의 데이터 구동 신호에 기초하여 둘 이상의 데이터 신호를 출력한다. 상기 디먹스 회로부들은 상기 디먹스 영역 중 상기 서브 영역에 인접한 제1 디먹스 영역에 배치되는 제1 디먹스 회로부와, 상기 디먹스 영역 중 상기 제1 디먹스 영역의 상기 제1 방향의 일측에 접하는 제2 디먹스 영역에 배치되는 제2 디먹스 회로부를 포함한다. 상기 회로 어레이층은 상기 서브 영역에서 상기 제1 디먹스 영역으로 연장되고 상기 제1 디먹스 회로부의 입력단에 연결되는 제1 데이터 입력 배선, 및 상기 제2 디먹스 회로부의 입력단에 연결되는 제2 데이터 입력 배선을 더 포함한다. 상기 제2 데이터 입력 배선은 상기 서브 영역에서 상기 제1 디먹스 영역으로 연장되는 메인 입력 배선, 상기 표시 영역에 배치되고 상기 메인 입력 배선과 연결되는 디먹스 우회 배선, 및 상기 제2 디먹스 영역에 배치되고 상기 디먹스 우회 배선과 상기 제2 디먹스 회로부의 입력단 사이를 연결하는 우회 부가 배선을 포함한다.A display device according to an embodiment for solving the above problem includes a display area in which a plurality of light-emitting areas are arranged in a first direction and a second direction, a main area including a non-display area disposed around the display area, and the main area. A substrate including a sub-region protruding from one side of the region, a plurality of pixel drivers disposed on the substrate, each corresponding to the plurality of light-emitting regions, and data transmitting a data signal to the plurality of pixel drivers. A circuit array layer including wires and demux circuit units disposed in a demux area adjacent to the sub-region of the non-display area, and data driving signals disposed in the sub-region of the substrate and corresponding to the data wires. Includes a display driving circuit that supplies One of the demux circuit units outputs two or more data signals based on one data driving signal. The demux circuit units include a first demux circuit unit disposed in a first demux area adjacent to the sub-area among the demux areas, and a first demux circuit unit in contact with one side of the first demux area in the first direction among the demux areas. It includes a second demux circuit unit disposed in the second demux area. The circuit array layer includes a first data input line extending from the sub-area to the first demultiplex area and connected to the input terminal of the first demultiplex circuit section, and a second data input line connected to the input terminal of the second demultiplex circuit section. It further includes input wiring. The second data input wire includes a main input wire extending from the sub area to the first demultiplex area, a demultiplex bypass wire disposed in the display area and connected to the main input wire, and a main input wire extending from the sub area to the first demultiplex area. It is disposed and includes a bypass additional wiring connecting the demux bypass wiring and the input terminal of the second demux circuit unit.
상기 표시 영역은 상기 디먹스 영역과 인접한 디먹스 인접 영역을 포함할 수 있다. 상기 디먹스 우회 배선은 상기 디먹스 인접 영역 중 상기 제1 디먹스 영역과 인접한 센터 인접 영역에 배치되며 상기 메인 입력 배선과 연결되고 상기 제2 방향으로 연장되는 제1 우회 배선, 상기 제1 우회 배선과 연결되고 상기 제1 방향으로 연장되는 제2 우회 배선, 및 상기 디먹스 인접 영역 중 상기 센터 인접 영역과 상기 비표시 영역 사이의 영역이며 상기 제2 디먹스 영역과 인접한 가장자리 인접 영역에 배치되고 상기 제2 디먹스 영역을 향해 상기 제2 방향으로 연장되며 상기 제2 우회 배선과 상기 우회 부가 배선 사이를 연결하는 제3 우회 배선을 포함할 수 있다. The display area may include a demux adjacent area adjacent to the demux area. The demux bypass wire is disposed in a center adjacent area adjacent to the first demux area among the demux adjacent areas, is connected to the main input wire, and extends in the second direction, the first bypass wire. a second bypass line connected to and extending in the first direction, and an area between the center adjacent area and the non-display area among the demultiplexed adjacent areas, and disposed in an edge adjacent area adjacent to the second demultiplexed area, It may include a third bypass wiring that extends in the second direction toward the second demux area and connects the second bypass wiring and the bypass additional wiring.
상기 우회 부가 배선은 상기 제2 방향으로 연장될 수 있다. The additional bypass wiring may extend in the second direction.
또는, 상기 우회 부가 배선은 상기 제3 우회 배선과 연결되고 상기 제2 방향으로 연장되는 제1 연장부, 및 상기 제1 연장부와 상기 제2 디먹스 회로부의 입력단 사이를 연결하고 상기 제1 방향으로 연장되는 제2 연장부를 포함할 수 있다.Alternatively, the bypass additional wiring may include a first extension connected to the third bypass wiring and extending in the second direction, and connected between the first extension and the input terminal of the second demux circuit and extending in the first direction. It may include a second extension extending to.
상기 서브 영역은 구부러진 형태로 변형되는 벤딩 영역과, 상기 메인 영역과 상기 벤딩 영역의 일측 사이에 배치되는 제1 서브 영역과, 상기 벤딩 영역의 다른 일측 사이에 배치되는 제2 서브 영역을 포함할 수 있다. 상기 회로 어레이층은 상기 제2 서브 영역에 배치되고 상기 표시 구동 회로의 출력단들에 각각 연결되는 제1 데이터 공급 배선과 제2 데이터 공급 배선, 상기 제1 데이터 공급 배선과 상기 제1 데이터 입력 배선 사이를 연결하고 상기 벤딩 영역에 배치되는 제1 데이터 벤딩 배선, 및 상기 제2 데이터 공급 배선과 상기 메인 입력 배선 사이를 연결하고 상기 벤딩 영역에 배치되는 제2 데이터 벤딩 배선을 더 포함할 수 있다.The sub-region may include a bending region that is transformed into a bent shape, a first sub-region disposed between the main region and one side of the bending region, and a second sub-region disposed between the other side of the bending region. there is. The circuit array layer is disposed in the second sub-region and has a first data supply line and a second data supply line respectively connected to output terminals of the display driving circuit, and between the first data supply line and the first data input line. It may further include a first data bending wire connected to and disposed in the bending area, and a second data bending wire connected between the second data supply wire and the main input wire and disposed in the bending area.
상기 표시 장치는 상기 제3 평탄화층 상에 배치되고 상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응한 복수의 발광 소자들을 포함하는 발광 어레이층을 더 포함할 수 있다. 상기 데이터 배선들은 상기 제2 방향으로 연장될 수 있다. 상기 회로 어레이층은 상기 비표시 영역에 배치되고 상기 발광 소자들의 구동을 위한 제1 전원과 제2 전원을 각각 전달하는 제1 전원 공급 배선과 제2 전원 공급 배선, 및 상기 표시 영역에 배치되고 상기 제2 방향으로 연장되며 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제2 전원 보조 배선을 더 포함할 수 있다. 상기 제1 전원 공급 배선 및 상기 제2 전원 공급 배선 각각의 일부는 상기 디먹스 회로부들과 중첩할 수 있다.The display device may further include a light emitting array layer disposed on the third planarization layer and including a plurality of light emitting elements respectively corresponding to the plurality of light emitting regions. The data wires may extend in the second direction. The circuit array layer is disposed in the display area and includes first and second power supply wires that are disposed in the non-display area and transmit first and second power supplies for driving the light-emitting elements, respectively, and the display area. It may further include a second power auxiliary wire extending in a second direction and electrically connected to the second power supply wire. A portion of each of the first power supply wiring and the second power supply wiring may overlap the demux circuit units.
상기 센터 인접 영역에 배치되고 상기 제1 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들 중 어느 하나는 상기 제1 우회 배선과 인접하게 배치될 수 있다. 상기 센터 인접 영역에 배치되고 상기 제1 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들 중 상기 제1 우회 배선과 인접한 어느 하나를 제외한 나머지는 상기 제2 전원 보조 배선과 각각 인접하게 배치될 수 있다.One of two or more data wires disposed in an area adjacent to the center and connected to the first demux circuit unit may be disposed adjacent to the first bypass wire. Among the two or more data wires disposed in the area adjacent to the center and connected to the first demultiplexer circuit, all but one adjacent to the first bypass wire may be disposed adjacent to the second power auxiliary wire.
상기 가장자리 인접 영역에 배치되고 상기 제2 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들 중 어느 하나는 상기 제3 우회 배선과 인접하게 배치될 수 있다. 상기 가장자리 인접 영역에 배치되고 상기 제2 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들 중 상기 제3 우회 배선과 인접한 어느 하나를 제외한 나머지는 상기 제2 전원 보조 배선과 각각 인접하게 배치될 수 있다.Any one of two or more data wires disposed in an area adjacent to the edge and connected to the second demux circuit unit may be disposed adjacent to the third bypass wire. Among the two or more data wires disposed in the area adjacent to the edge and connected to the second demux circuit unit, all but one adjacent to the third bypass wire may be arranged adjacent to the second power auxiliary wire.
상기 센터 인접 영역은 중앙의 미들 영역과, 상기 미들 영역과 상기 가장자리 인접 영역 사이의 사이드 영역을 포함할 수 있다. 상기 제1 디먹스 회로부는 상기 제1 디먹스 영역 중 상기 사이드 영역과 인접한 일부에 배치될 수 있다. 상기 디먹스 회로부들은 상기 제1 디먹스 영역 중 상기 미들 영역과 인접한 다른 일부에 배치되는 제3 디먹스 회로부를 더 포함할 수 있다. 상기 미들 영역에 배치되고 상기 제3 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들은 상기 제2 전원 보조 배선과 각각 인접하게 배치될 수 있다. The center adjacent area may include a central middle area and a side area between the middle area and the edge adjacent area. The first demux circuit unit may be disposed in a portion of the first demux area adjacent to the side area. The demux circuit units may further include a third demux circuit unit disposed in another portion of the first demux area adjacent to the middle area. Two or more data wires arranged in the middle area and connected to the third demux circuit unit may be arranged adjacent to the second power auxiliary wire.
상기 회로 어레이층은 상기 표시 영역에 배치되고 상기 제1 방향으로 연장되며 상기 제1 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제1 전원 보조 배선, 및 상기 표시 영역 중 상기 디먹스 인접 영역을 제외한 나머지인 일반 영역에 배치되고 상기 제1 방향으로 연장되며 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제2 전원 서브 배선을 더 포함할 수 있다. 상기 제1 전원 보조 배선은 상기 디먹스 인접 영역에서 상기 제2 우회 배선과 인접하게 배치되고, 상기 일반 영역에서 상기 제2 전원 서브 배선과 인접하게 배치될 수 있다. The circuit array layer includes a first power auxiliary wire disposed in the display area, extending in the first direction and electrically connected to the first power supply wire, and a general area remaining in the display area excluding the area adjacent to the demux. It may further include a second power sub-wire disposed in the area, extending in the first direction, and electrically connected to the second power supply wire. The first power auxiliary wire may be arranged adjacent to the second bypass wire in the demux adjacent area, and may be arranged adjacent to the second power sub wire in the general area.
상기 회로 어레이층은 상기 제1 우회 배선의 상기 제2 방향의 일측과 상기 제3 우회 배선의 상기 제2 방향의 일측에 각각 나란하게 이격되고 상기 제2 방향으로 연장되는 제1 더미 배선들, 및 상기 제2 우회 배선의 상기 제1 방향의 양측에 각각 나란하게 이격되고 상기 제1 방향으로 연장되는 제2 더미 배선들을 더 포함할 수 있다. The circuit array layer includes first dummy wires spaced side by side on one side of the first bypass wire in the second direction and one side of the third bypass wire in the second direction and extending in the second direction, and It may further include second dummy wires that are spaced apart from each other in parallel on both sides of the second bypass wire in the first direction and extend in the first direction.
상기 제1 더미 배선들 또는 상기 제2 더미 배선들은 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결될 수 있다.The first dummy wires or the second dummy wires may be electrically connected to the second power supply wire.
상기 회로 어레이층은 상기 기판 상의 반도체층, 상기 반도체층을 덮는 제1 게이트 절연층 상의 제1 도전층, 상기 제1 도전층을 덮는 제2 게이트 절연층 상의 제2 도전층, 상기 제2 도전층을 덮는 층간 절연층 상의 제3 도전층, 상기 제3 도전층을 덮는 제1 평탄화층 상의 제4 도전층, 상기 제4 도전층을 덮는 제2 평탄화층 상의 제5 도전층, 및 상기 제5 도전층을 덮는 제3 평탄화층을 포함한 구조로 마련될 수 있다. 상기 데이터 배선들, 상기 제1 우회 배선, 상기 제3 우회 배선, 상기 제2 전원 보조 배선 및 상기 제1 더미 배선들은 상기 제5 도전층으로 이루어질 수 있다. 상기 제2 우회 배선, 상기 제1 전원 보조 배선, 상기 제2 더미 배선들 및 상기 제2 전원 서브 배선은 상기 제4 도전층으로 이루어질 수 있다. The circuit array layer includes a semiconductor layer on the substrate, a first conductive layer on a first gate insulating layer covering the semiconductor layer, a second conductive layer on a second gate insulating layer covering the first conductive layer, and the second conductive layer. a third conductive layer on the interlayer insulating layer covering the third conductive layer, a fourth conductive layer on the first planarization layer covering the third conductive layer, a fifth conductive layer on the second planarization layer covering the fourth conductive layer, and the fifth conductive layer. It may be provided with a structure including a third planarization layer covering the layer. The data wires, the first bypass wire, the third bypass wire, the second power auxiliary wire, and the first dummy wire may be formed of the fifth conductive layer. The second bypass wiring, the first power auxiliary wiring, the second dummy wiring, and the second power sub wiring may be formed of the fourth conductive layer.
상기 디먹스 회로부들 각각은 둘 이상의 디먹스 트랜지스터들을 포함할 수 있다. 상기 둘 이상의 디먹스 트랜지스터들의 게이트 전극은 둘 이상의 디먹스 제어 배선들에 각각 연결될 수 있다. 상기 둘 이상의 디먹스 제어 배선들은 서로 다른 위상의 디먹스 제어 신호를 공급할 수 있다. Each of the demux circuit units may include two or more demux transistors. Gate electrodes of the two or more demux transistors may each be connected to two or more demux control wires. The two or more demux control wires may supply demux control signals of different phases.
상기 발광 어레이층은 상기 제3 평탄화층 상에 배치되며 상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응하고 상기 복수의 화소 구동부들과 각각 전기적으로 연결되는 복수의 애노드 전극들, 상기 제3 평탄화층 상에 배치되며 상기 복수의 발광 영역들 사이의 이격 영역인 비발광 영역에 대응하고 상기 복수의 애노드 전극들 각각의 가장자리를 덮는 화소정의층, 상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응하고 상기 복수의 애노드 전극들 상에 각각 배치되는 복수의 발광층들, 및 상기 복수의 발광 영역들에 대응하고 상기 화소정의층과 상기 복수의 발광층들 상에 배치되며 상기 제2 전원 공급 배선과 연결되는 캐소드 전극을 포함할 수 있다. 상기 복수의 발광 소자들 각각은 상호 대향하는 애노드 전극과 캐소드 전극 및 상기 애노드 전극과 상기 캐소드 전극 사이에 배치된 발광층을 포함할 수 있다. The light emitting array layer is disposed on the third planarization layer and includes a plurality of anode electrodes, each corresponding to the plurality of light emitting regions and electrically connected to the plurality of pixel drivers, respectively, disposed on the third planarization layer. a pixel definition layer corresponding to a non-emission area, which is a spaced area between the plurality of light emitting areas, and covering an edge of each of the plurality of anode electrodes, and a pixel definition layer corresponding to each of the plurality of light emitting areas and covering the edges of each of the plurality of anode electrodes. It may include a plurality of light-emitting layers respectively disposed in, and a cathode electrode corresponding to the plurality of light-emitting regions, disposed on the pixel definition layer and the plurality of light-emitting layers, and connected to the second power supply wire. Each of the plurality of light emitting devices may include an anode electrode and a cathode electrode facing each other, and a light emitting layer disposed between the anode electrode and the cathode electrode.
일 실시예에 따른 표시 장치는 복수의 발광 영역들이 제1 방향 및 제2 방향으로 배열되는 표시 영역과 상기 표시 영역의 주변에 배치된 비표시 영역을 포함한 메인 영역, 및 상기 메인 영역의 일측에서 돌출되는 서브 영역을 포함하는 기판, 상기 기판 상에 배치되고, 상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응되는 복수의 화소 구동부들과, 상기 복수의 화소 구동부들에 데이터 신호를 전달하는 데이터 배선들과, 상기 비표시 영역 중 상기 서브 영역에 인접한 디먹스 영역에 배치되는 디먹스 회로부들을 포함한 회로 어레이층, 상기 기판의 상기 서브 영역에 배치되고 상기 데이터 배선들에 대응하는 데이터 구동 신호들을 공급하는 표시 구동 회로, 및 상기 회로 어레이층 상에 배치되고 상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응한 복수의 발광 소자들을 포함하는 발광 어레이층을 포함한다. 상기 디먹스 회로부들 중 하나의 디먹스 회로부는 하나의 데이터 구동 신호에 기초하여 둘 이상의 데이터 신호를 출력한다. 상기 회로 어레이층은 상기 비표시 영역에 배치되고 상기 발광 소자들의 구동을 위한 제1 전원과 제2 전원을 각각 전달하는 제1 전원 공급 배선과 제2 전원 공급 배선을 더 포함한다. 상기 제1 전원 공급 배선 및 상기 제2 전원 공급 배선 각각의 일부는 상기 디먹스 회로부들과 중첩한다.A display device according to an embodiment includes a display area in which a plurality of light-emitting areas are arranged in a first direction and a second direction, a main area including a non-display area disposed around the display area, and a main area that protrudes from one side of the main area. a substrate including a sub-region, a plurality of pixel drivers disposed on the substrate and corresponding to each of the plurality of light-emitting regions, data lines that transmit data signals to the plurality of pixel drivers, and a circuit array layer including demux circuit units disposed in a demux area adjacent to the sub-area among non-display areas, a display driving circuit disposed in the sub-area of the substrate and supplying data driving signals corresponding to the data lines; and a light emitting array layer disposed on the circuit array layer and including a plurality of light emitting elements each corresponding to the plurality of light emitting regions. One of the demux circuit units outputs two or more data signals based on one data driving signal. The circuit array layer further includes a first power supply wire and a second power supply wire that are disposed in the non-display area and transmit first power and second power for driving the light emitting elements, respectively. A portion of each of the first power supply wiring and the second power supply wiring overlaps the demux circuit portions.
상기 디먹스 회로부들은 상기 서브 영역에 인접한 제1 디먹스 영역에 배치되는 제1 디먹스 회로부와, 상기 제1 디먹스 영역의 상기 제1 방향의 일측에 접하는 제2 디먹스 영역에 배치되는 제2 디먹스 회로부를 포함할 수 있다. 상기 회로 어레이층은 상기 서브 영역에서 상기 제1 디먹스 영역으로 연장되고 상기 제1 디먹스 회로부의 입력단에 연결되는 제1 데이터 입력 배선, 및 상기 제2 디먹스 회로부의 입력단에 연결되는 제2 데이터 입력 배선을 더 포함할 수 있다. 상기 제2 데이터 입력 배선은 상기 서브 영역에서 상기 제1 디먹스 영역으로 연장되는 메인 입력 배선, 상기 표시 영역에 배치되고 상기 메인 입력 배선과 연결되는 디먹스 우회 배선, 및 상기 제2 디먹스 영역에 배치되고 상기 디먹스 우회 배선과 상기 제2 디먹스 회로부의 입력단 사이를 연결하는 우회 부가 배선을 포함할 수 있다.The demux circuit units include a first demux circuit unit disposed in a first demux area adjacent to the sub-region, and a second demux circuit unit disposed in a second demux area adjacent to one side of the first demux area in the first direction. It may include a demux circuit. The circuit array layer includes a first data input line extending from the sub-area to the first demultiplex area and connected to the input terminal of the first demultiplex circuit section, and a second data input line connected to the input terminal of the second demultiplex circuit section. It may further include input wiring. The second data input wire includes a main input wire extending from the sub area to the first demultiplex area, a demultiplex bypass wire disposed in the display area and connected to the main input wire, and a main input wire extending from the sub area to the first demultiplex area. It may include an additional bypass wire that is disposed and connects the demux bypass wire and the input terminal of the second demux circuit unit.
상기 표시 영역은 상기 디먹스 영역과 인접한 디먹스 인접 영역을 포함할 수 있다. 상기 디먹스 우회 배선은 상기 디먹스 인접 영역 중 상기 제1 디먹스 영역과 인접한 센터 인접 영역에 배치되며 상기 메인 입력 배선과 연결되고 상기 제2 방향으로 연장되는 제1 우회 배선, 상기 제1 우회 배선과 연결되고 상기 제1 방향으로 연장되는 제2 우회 배선, 및 상기 디먹스 인접 영역 중 상기 센터 인접 영역과 상기 비표시 영역 사이의 영역이며 상기 제2 디먹스 영역과 인접한 가장자리 인접 영역에 배치되고 상기 제2 디먹스 영역을 향해 상기 제2 방향으로 연장되며 상기 제2 우회 배선과 상기 우회 부가 배선 사이를 연결하는 제3 우회 배선을 포함할 수 있다. The display area may include a demux adjacent area adjacent to the demux area. The demultiplex bypass wire is disposed in a center adjacent area adjacent to the first demultiplex area among the demultiplex adjacent areas, is connected to the main input wire, and extends in the second direction. a second bypass line connected to and extending in the first direction, and an area between the center adjacent area and the non-display area among the demultiplexed adjacent areas, and disposed in an edge adjacent area adjacent to the second demultiplexed area, It may include a third bypass wiring that extends in the second direction toward the second demux area and connects the second bypass wiring and the additional bypass wiring.
상기 우회 부가 배선은 상기 제2 방향으로 연장될 수 있다. The additional bypass wiring may extend in the second direction.
또는, 상기 우회 부가 배선은 상기 제3 우회 배선과 연결되고 상기 제2 방향으로 연장되는 제1 연장부, 및 상기 제1 연장부와 상기 제2 디먹스 회로부의 입력단 사이를 연결하고 상기 제1 방향으로 연장되는 제2 연장부를 포함할 수 있다.Alternatively, the bypass additional wiring may include a first extension connected to the third bypass wiring and extending in the second direction, and connected between the first extension and the input terminal of the second demux circuit and extending in the first direction. It may include a second extension extending to.
상기 회로 어레이층은 상기 표시 영역에 배치되고 상기 제2 방향으로 연장되며 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제2 전원 보조 배선을 더 포함할 수 있다. 상기 센터 인접 영역에 배치되고 상기 제1 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들 중 어느 하나는 상기 제1 우회 배선과 인접하게 배치되고, 나머지는 상기 제2 전원 보조 배선과 각각 인접하게 배치될 수 있다.The circuit array layer may further include a second power auxiliary wire disposed in the display area, extending in the second direction, and electrically connected to the second power supply wire. One of the two or more data wires disposed in the area adjacent to the center and connected to the first demux circuit unit is disposed adjacent to the first bypass wire, and the remaining data wires are arranged adjacent to the second power auxiliary wire. You can.
상기 회로 어레이층은 상기 표시 영역에 배치되고 상기 제2 방향으로 연장되며 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제2 전원 보조 배선을 더 포함할 수 있다. 상기 가장자리 인접 영역에 배치되고 상기 제2 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들 중 어느 하나는 상기 제3 우회 배선과 인접하게 배치되고, 나머지는 상기 제2 전원 보조 배선과 각각 인접하게 배치될 수 있다.The circuit array layer may further include a second power auxiliary wire disposed in the display area, extending in the second direction, and electrically connected to the second power supply wire. One of the two or more data wires disposed in the area adjacent to the edge and connected to the second demux circuit unit is disposed adjacent to the third bypass wire, and the remaining data wires are arranged adjacent to the second power auxiliary wire. You can.
상기 회로 어레이층은 상기 표시 영역에 배치되고 상기 제2 방향으로 연장되며 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제2 전원 보조 배선, 상기 표시 영역에 배치되고 상기 제1 방향으로 연장되며 상기 제1 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제1 전원 보조 배선, 및 상기 표시 영역 중 상기 디먹스 인접 영역을 제외한 나머지인 일반 영역에 배치되고 상기 제1 방향으로 연장되며 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제2 전원 서브 배선을 더 포함할 수 있다. 상기 제1 전원 보조 배선은 상기 디먹스 인접 영역에서 상기 제2 우회 배선과 인접하게 배치되고, 상기 일반 영역에서 상기 제2 전원 서브 배선과 인접하게 배치될 수 있다.The circuit array layer includes a second power auxiliary wire disposed in the display area, extending in the second direction, and electrically connected to the second power supply wire, and a second power auxiliary wire, disposed in the display area, extending in the first direction, and electrically connected to the second power supply wire. 1 A first power auxiliary wire electrically connected to the power supply wire, and disposed in a general area other than the area adjacent to the demux of the display area, extending in the first direction and electrically connected to the second power supply wire. It may further include a connected second power sub-wiring. The first power auxiliary wire may be arranged adjacent to the second bypass wire in the demux adjacent area, and may be arranged adjacent to the second power sub wire in the general area.
상기 회로 어레이층은 상기 제1 우회 배선의 상기 제2 방향의 일측과 상기 제3 우회 배선의 상기 제2 방향의 일측에 각각 나란하게 이격되고 상기 제2 방향으로 연장되는 제1 더미 배선들, 및 상기 제2 우회 배선의 상기 제1 방향의 양측에 각각 나란하게 이격되고 상기 제1 방향으로 연장되는 제2 더미 배선들을 더 포함할 수 있다.The circuit array layer includes first dummy wires spaced side by side on one side of the first bypass wire in the second direction and one side of the third bypass wire in the second direction and extending in the second direction, and It may further include second dummy wires that are spaced apart from each other in parallel on both sides of the second bypass wire in the first direction and extend in the first direction.
상기 제1 더미 배선들 또는 상기 제2 더미 배선들은 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결될 수 있다.The first dummy wires or the second dummy wires may be electrically connected to the second power supply wire.
상기 회로 어레이층은 상기 기판 상의 반도체층, 상기 반도체층을 덮는 제1 게이트 절연층 상의 제1 도전층, 상기 제1 도전층을 덮는 제2 게이트 절연층 상의 제2 도전층, 상기 제2 도전층을 덮는 층간 절연층 상의 제3 도전층, 상기 제3 도전층을 덮는 제1 평탄화층 상의 제4 도전층, 상기 제4 도전층을 덮는 제2 평탄화층 상의 제5 도전층, 및 상기 제5 도전층을 덮는 제3 평탄화층을 포함한 구조로 마련될 수 있다. 상기 데이터 배선들, 상기 제1 우회 배선, 상기 제3 우회 배선, 상기 제2 전원 보조 배선 및 상기 제1 더미 배선들은 상기 제5 도전층으로 이루어질 수 있다. 상기 제2 우회 배선, 상기 제1 전원 보조 배선, 상기 제2 더미 배선들 및 상기 제2 전원 서브 배선은 상기 제4 도전층으로 이루어질 수 있다.The circuit array layer includes a semiconductor layer on the substrate, a first conductive layer on a first gate insulating layer covering the semiconductor layer, a second conductive layer on a second gate insulating layer covering the first conductive layer, and the second conductive layer. a third conductive layer on the interlayer insulating layer covering the third conductive layer, a fourth conductive layer on the first planarization layer covering the third conductive layer, a fifth conductive layer on the second planarization layer covering the fourth conductive layer, and the fifth conductive layer. It may be provided with a structure including a third planarization layer covering the layer. The data wires, the first bypass wire, the third bypass wire, the second power auxiliary wire, and the first dummy wire may be formed of the fifth conductive layer. The second bypass wiring, the first power auxiliary wiring, the second dummy wiring, and the second power sub wiring may be formed of the fourth conductive layer.
상기 발광 어레이층은 상기 제3 평탄화층 상에 배치되며 상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응하고 상기 복수의 화소 구동부들과 각각 전기적으로 연결되는 복수의 애노드 전극들, 상기 제3 평탄화층 상에 배치되며 상기 복수의 발광 영역들 사이의 이격 영역인 비발광 영역에 대응하고 상기 복수의 애노드 전극들 각각의 가장자리를 덮는 화소정의층, 상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응하고 상기 복수의 애노드 전극들 상에 각각 배치되는 복수의 발광층들, 및 상기 복수의 발광 영역들에 대응하고 상기 화소정의층과 상기 복수의 발광층들 상에 배치되며 상기 제2 전원 공급 배선과 연결되는 캐소드 전극을 포함할 수 있다. 상기 복수의 발광 소자들 각각은 상호 대향하는 애노드 전극과 캐소드 전극 및 상기 애노드 전극과 상기 캐소드 전극 사이에 발광층을 포함할 수 있다.The light emitting array layer is disposed on the third planarization layer and includes a plurality of anode electrodes, each corresponding to the plurality of light emitting regions and electrically connected to the plurality of pixel drivers, respectively, disposed on the third planarization layer. a pixel definition layer corresponding to a non-emission area, which is a spaced area between the plurality of light emitting areas, and covering an edge of each of the plurality of anode electrodes; a pixel definition layer corresponding to each of the plurality of light emitting areas and covering the edges of each of the plurality of anode electrodes; It may include a plurality of light-emitting layers respectively disposed in, and a cathode electrode corresponding to the plurality of light-emitting regions, disposed on the pixel definition layer and the plurality of light-emitting layers, and connected to the second power supply wiring. Each of the plurality of light emitting devices may include an anode electrode and a cathode electrode facing each other, and a light emitting layer between the anode electrode and the cathode electrode.
상기 서브 영역은 구부러진 형태로 변형되는 벤딩 영역과, 상기 메인 영역과 상기 벤딩 영역의 일측 사이에 배치되는 제1 서브 영역과, 상기 벤딩 영역의 다른 일측 사이에 배치되는 제2 서브 영역을 포함할 수 있다. 상기 회로 어레이층은 상기 제2 서브 영역에 배치되고 상기 표시 구동 회로의 출력단들에 각각 연결되는 제1 데이터 공급 배선과 제2 데이터 공급 배선, 상기 제1 데이터 공급 배선과 상기 제1 데이터 입력 배선 사이를 연결하고 상기 벤딩 영역에 배치되는 제1 데이터 벤딩 배선, 및 상기 제2 데이터 공급 배선과 상기 메인 입력 배선 사이를 연결하고 상기 벤딩 영역에 배치되는 제2 데이터 벤딩 배선을 더 포함할 수 있다.The sub-region may include a bending region that is transformed into a bent shape, a first sub-region disposed between the main region and one side of the bending region, and a second sub-region disposed between the other side of the bending region. there is. The circuit array layer is disposed in the second sub-region and has a first data supply line and a second data supply line respectively connected to output terminals of the display driving circuit, and between the first data supply line and the first data input line. It may further include a first data bending wire connected to and disposed in the bending area, and a second data bending wire connected between the second data supply wire and the main input wire and disposed in the bending area.
기타 실시예의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.Specific details of other embodiments are included in the detailed description and drawings.
일 실시예에 따른 표시 장치는 복수의 발광 영역들에 각각 대응한 복수의 화소 구동부들에 데이터 신호를 전달하는 데이터 배선들과, 비표시 영역 중 서브 영역에 인접한 디먹스 영역에 배치되는 디먹스 회로부들을 포함한 회로 어레이층, 및 데이터 배선들에 대응하는 데이터 구동 신호들을 공급하는 표시 구동 회로를 포함한다. 여기서, 디먹스 회로부들 각각은 하나의 데이터 구동 신호에 기초하여 둘 이상의 데이터 신호를 출력한다. A display device according to an embodiment includes data wires that transmit data signals to a plurality of pixel drivers corresponding to a plurality of light-emitting areas, and a demultiplex circuit disposed in a demultiplex area adjacent to a sub-region among the non-display areas. It includes a circuit array layer including a display driving circuit that supplies data driving signals corresponding to the data lines. Here, each of the demux circuit units outputs two or more data signals based on one data driving signal.
이와 같이, 일 실시예의 표시 장치는 표시 구동 회로와 데이터 배선들 사이에 연결되는 디먹스 회로부들을 포함함에 따라, 표시 구동 회로의 출력단은 데이터 배선들에 직접 연결되는 것이 아니라, 데이터 배선들보다 적은 개수의 디먹스 회로부들에 연결된다. 그러므로, 표시 구동 회로의 출력단에 연결되는 데이터 공급 배선들의 개수 및 데이터 공급 배선들에 연결되는 데이터 벤딩 배선들의 개수가 데이터 배선들의 개수보다 작아질 수 있으므로, 비표시 영역의 너비가 감소될 수 있다. 또는, 벤딩 영역에 배치되는 데이터 벤딩 배선들 간의 간격이 넓어지거나 또는 벤딩 영역에 배치되는 데이터 벤딩 배선들의 너비가 넓어질 수 있다. As such, the display device of one embodiment includes demux circuit units connected between the display driving circuit and the data wires, so the output terminal of the display driving circuit is not directly connected to the data wires, but has fewer output terminals than the data wires. It is connected to the demux circuits of Therefore, since the number of data supply wires connected to the output terminal of the display driving circuit and the number of data bending wires connected to the data supply wires can be smaller than the number of data wires, the width of the non-display area can be reduced. Alternatively, the spacing between data bending wires placed in the bending area may be widened, or the width of the data bending wires placed in the bending area may be widened.
따라서, 데이터 배선들의 개수를 줄이지 않고서도, 비표시 영역의 너비를 감소시킬 수 있으므로, 비표시 영역의 너비 감소에 따른 해상도의 한정이 배제될 수 있다. Accordingly, since the width of the non-display area can be reduced without reducing the number of data wires, limitations in resolution due to a decrease in the width of the non-display area can be eliminated.
또한, 일 실시예에 따르면, 제1 전원 공급 배선 및 제2 전원 공급 배선 각각의 일부는 디먹스 영역의 디먹스 회로부들과 중첩될 수 있다. 이로써, 디먹스 영역의 너비만큼 비표시 영역의 너비가 증가되지 않으므로, 디먹스 영역을 포함하면서도 비표시 영역의 너비가 크게 증가되는 것이 방지될 수 있다. Additionally, according to one embodiment, a portion of each of the first power supply wiring and the second power supply wiring may overlap with the demux circuit portions of the demux area. Accordingly, since the width of the non-display area does not increase by the width of the demux area, the width of the non-display area can be prevented from being greatly increased while including the demux area.
더불어, 일 실시예에 따르면, 디먹스 회로부들은 서브 영역에 인접한 제1 디먹스 영역에 배치되는 제1 디먹스 회로부와, 제1 디먹스 영역의 제1 방향의 일측에 접하는 제2 디먹스 영역에 배치되는 제2 디먹스 회로부를 포함한다. 제1 디먹스 회로부의 입력단에 연결되는 제1 데이터 입력 배선은 제1 서브 영역에서 제1 디먹스 영역으로 연장될 수 있다. 그리고, 제2 디먹스 회로부의 입력단에 연결되는 제2 데이터 입력 배선은 제1 서브 영역에서 제1 디먹스 영역으로 연장되는 메인 입력 배선과, 표시 영역에 배치되는 디먹스 우회 배선과, 제2 디먹스 영역에 배치되는 우회 부가 배선을 포함한다. In addition, according to one embodiment, the demux circuit units include a first demux circuit unit disposed in a first demux area adjacent to the sub-region, and a second demux area adjacent to one side of the first demux area in the first direction. It includes a second demux circuit unit disposed. The first data input line connected to the input terminal of the first demux circuit unit may extend from the first sub-area to the first demux area. And, the second data input wire connected to the input terminal of the second demux circuit unit includes a main input wire extending from the first sub area to the first demux area, a demux bypass wire disposed in the display area, and a second demux circuit. Includes bypass additional wiring disposed in the mux area.
즉, 제2 데이터 입력 배선은 제1 서브 영역에서 제2 디먹스 영역으로 연장되는 것이 아니라, 제1 서브 영역에서 제1 디먹스 영역 및 표시 영역으로 우회하여 제2 디먹스 영역으로 도달된다. That is, the second data input line does not extend from the first sub-area to the second demux area, but instead detours from the first sub-area to the first demux area and the display area to reach the second demux area.
이와 같이, 제2 데이터 입력 배선이 제1 서브 영역에서 제2 디먹스 영역들로 연장되지 않으므로, 제2 디먹스 영역에 제2 데이터 입력 배선이 배열되지 않음으로써, 기판의 가장자리를 따라 절곡되는 부분을 포함하는 제2 디먹스 영역의 너비가 감소될 수 있다. 그러므로, 비표시 영역의 너비가 더욱 감소될 수 있다.In this way, since the second data input wire does not extend from the first sub-region to the second demux areas, the second data input wire is not arranged in the second demux area, so the portion bent along the edge of the substrate The width of the second demux area including may be reduced. Therefore, the width of the non-display area can be further reduced.
실시예들에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.Effects according to the embodiments are not limited to the contents exemplified above, and further various effects are included in the present specification.
도 1은 일 실시예에 따른 표시 장치를 보여주는 사시도이다.
도 2는 도 1의 표시 장치를 보여주는 평면도이다.
도 3은 도 2의 A-A'를 따라 절단한 면의 일 예시를 보여주는 단면도이다.
도 4는 도 1의 표시 장치 중 메인 영역과 서브 영역을 보여주는 평면도이다.
도 5는 제1 실시예에 따른 도 4의 B 부분을 보여주는 레이아웃도이다.
도 6은 도 5의 화소 구동부에 대한 일 예시를 보여주는 등가 회로도이다.
도 7은 도 5의 화소 구동부에 대한 다른 일 예시를 보여주는 등가 회로도이다.
도 8은 도 5의 이웃한 두 개의 화소 구동부 중 반도체층, 제1 도전층, 제2 도전층 및 제3 도전층에 대한 일 예시를 보여주는 평면도이다.
도 9는 이웃한 두 개의 화소 구동부에 대한 일 예시를 보여주는 평면도이다.
도 10은 도 8 및 도 9의 G-G'를 따라 절단한 면의 일 예시를 보여주는 단면도이다.
도 11은 제1 실시예에 따른 도 5의 디먹스 회로부를 보여주는 등가 회로도이다.
도 12는 도 5의 E 부분에 대한 일 예시를 보여주는 평면도이다.
도 13은 도 12의 H-H'를 따라 절단한 면의 일 예시를 보여주는 단면도이다.
도 14는 도 5의 F-F'를 따라 절단한 면의 일 예시를 보여주는 단면도이다.
도 15는 제1 실시예에 따른 도 4의 C 부분 중 제4 도전층과 제5 도전층에 대한 일 예시를 보여주는 레이아웃도이다.
도 16은 제1 실시예에 따른 도 4의 C 부분 중 제4 도전층과 제5 도전층에 대한 다른 일 예시를 보여주는 레이아웃도이다.
도 17은 제1 실시예에 따른 도 4의 D 부분 중 제4 도전층과 제5 도전층에 대한 일 예시를 보여주는 레이아웃도이다.
도 18은 제2 실시예에 따른 도 5의 디먹스 회로부를 보여주는 등가 회로도이다.
도 19는 제2 실시예에 따른 표시 영역의 일부 및 디먹스 영역의 일부를 보여주는 레이아웃도이다.
도 20은 제3 실시예에 따른 도 4의 B 부분을 보여주는 레이아웃도이다.
도 21은 도 20의 I 부분에 대한 일 예시를 보여주는 평면도이다.1 is a perspective view showing a display device according to an embodiment.
FIG. 2 is a plan view showing the display device of FIG. 1 .
Figure 3 is a cross-sectional view showing an example of a surface cut along line A-A' of Figure 2.
FIG. 4 is a plan view showing the main area and sub area of the display device of FIG. 1 .
FIG. 5 is a layout diagram showing part B of FIG. 4 according to the first embodiment.
FIG. 6 is an equivalent circuit diagram showing an example of the pixel driver of FIG. 5.
FIG. 7 is an equivalent circuit diagram showing another example of the pixel driver of FIG. 5.
FIG. 8 is a plan view showing an example of a semiconductor layer, a first conductive layer, a second conductive layer, and a third conductive layer among two neighboring pixel drivers of FIG. 5 .
Figure 9 is a plan view showing an example of two adjacent pixel drivers.
FIG. 10 is a cross-sectional view showing an example of a surface cut along line G-G' of FIGS. 8 and 9.
FIG. 11 is an equivalent circuit diagram showing the demux circuit unit of FIG. 5 according to the first embodiment.
FIG. 12 is a plan view showing an example of portion E of FIG. 5.
Figure 13 is a cross-sectional view showing an example of a surface cut along line H-H' of Figure 12.
Figure 14 is a cross-sectional view showing an example of a surface cut along line F-F' of Figure 5.
FIG. 15 is a layout diagram showing an example of the fourth and fifth conductive layers in part C of FIG. 4 according to the first embodiment.
FIG. 16 is a layout diagram showing another example of the fourth and fifth conductive layers in part C of FIG. 4 according to the first embodiment.
FIG. 17 is a layout diagram showing an example of the fourth and fifth conductive layers in portion D of FIG. 4 according to the first embodiment.
FIG. 18 is an equivalent circuit diagram showing the demux circuit of FIG. 5 according to the second embodiment.
Figure 19 is a layout diagram showing part of the display area and part of the demux area according to the second embodiment.
FIG. 20 is a layout diagram showing part B of FIG. 4 according to the third embodiment.
FIG. 21 is a plan view showing an example of portion I of FIG. 20.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.The advantages and features of the present invention and methods for achieving them will become clear by referring to the embodiments described in detail below along with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below and will be implemented in various different forms. The present embodiments only serve to ensure that the disclosure of the present invention is complete and that common knowledge in the technical field to which the present invention pertains is not limited. It is provided to fully inform those who have the scope of the invention, and the present invention is only defined by the scope of the claims.
소자(elements) 또는 층이 다른 소자 또는 층의 "상(on)"으로 지칭되는 것은 다른 소자 바로 위에 또는 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 실시예들을 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. When an element or layer is referred to as “on” another element or layer, it includes instances where the element or layer is directly on top of or intervening with the other element. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification. The shape, size, ratio, angle, number, etc. disclosed in the drawings for explaining the embodiments are illustrative and the present invention is not limited to the details shown.
비록 제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.Although first, second, etc. are used to describe various components, these components are of course not limited by these terms. These terms are merely used to distinguish one component from another. Therefore, it goes without saying that the first component mentioned below may also be a second component within the technical spirit of the present invention.
본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.Each feature of the various embodiments of the present invention can be combined or combined with each other, partially or entirely, and various technological interconnections and operations are possible, and each embodiment can be implemented independently of each other or together in a related relationship. It may be possible.
이하 첨부된 도면을 참조하여 구체적인 실시예들에 대해 설명한다.Hereinafter, specific embodiments will be described with reference to the attached drawings.
도 1은 일 실시예에 따른 표시 장치를 보여주는 사시도이다. 도 2는 도 1의 표시 장치를 보여주는 평면도이다. 도 3은 도 2의 A-A'를 따라 절단한 면의 일 예시를 보여주는 단면도이다. 도 4는 도 1의 표시 장치 중 메인 영역과 서브 영역을 보여주는 평면도이다.1 is a perspective view showing a display device according to an embodiment. FIG. 2 is a plan view showing the display device of FIG. 1 . Figure 3 is a cross-sectional view showing an example of a surface cut along line A-A' of Figure 2. FIG. 4 is a plan view showing a main area and a sub area of the display device of FIG. 1 .
도 1을 참조하면, 표시 장치(10)는 동영상이나 정지영상을 표시하는 장치로서, 모바일 폰(mobile phone), 스마트 폰(smart phone), 태블릿 PC(tablet personal computer), 및 스마트 워치(smart watch), 워치 폰(watch phone), 이동 통신 단말기, 전자 수첩, 전자 책, PMP(portable multimedia player), 네비게이션, UMPC(Ultra Mobile PC) 등과 같은 휴대용 전자 기기뿐만 아니라, 텔레비전, 노트북, 모니터, 광고판, 사물 인터넷(internet of things, IOT) 등의 다양한 제품의 표시 화면으로 사용될 수 있다.Referring to FIG. 1, the
표시 장치(10)는 유기 발광 다이오드를 이용하는 유기 발광 표시 장치, 양자점 발광층을 포함하는 양자점 발광 표시 장치, 무기 반도체를 포함하는 무기 발광 표시 장치, 및 초소형 발광 다이오드(micro or nano light emitting diode(micro LED or nano LED))를 이용하는 초소형 발광 표시 장치와 같은 발광 표시 장치일 수 있다. 이하에서는, 표시 장치(10)가 유기 발광 표시 장치인 것을 중심으로 설명한다. 그러나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 유기 절연 재료, 유기 발광 재료 및 금속 재료를 포함한 표시 장치에 적용될 수 있다.The
표시 장치(10)는 평탄하게 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 표시 장치(10)는 좌우측 끝단에 형성되며, 일정한 곡률을 갖거나 변화하는 곡률을 갖는 곡면부를 포함할 수 있다. 이외에, 표시 장치(10)는 구부러지거나, 휘어지거나, 벤딩되거나, 접히거나, 말릴 수 있도록 유연하게 형성될 수 있다.The
표시 장치(10)는 기판(110), 표시 구동 회로(200), 및 회로 보드(300)를 포함할 수 있다.The
기판(110)은 화상을 표시하기 위한 복수의 발광 영역들(도 5의 EA)이 배열되는 표시 영역(DA)을 포함한다.The
즉, 기판(110)은 표시 영역(DA)과 표시 영역(DA)의 주변 영역인 비표시 영역(NDA)을 포함한 메인 영역(MA), 및 메인 영역(MA)의 제2 방향(DR2)의 일 측으로부터 돌출된 서브 영역(SBA)을 포함할 수 있다.That is, the
도 1 및 도 4는 서브 영역(SBA)이 메인 영역(MA)과 나란하게 펼쳐진 상태를 도시한다. 반면, 도 2는 서브 영역(SBA)의 일부가 구부러진 상태를 예시한다.1 and 4 show the sub-area (SBA) spread out parallel to the main area (MA). On the other hand, Figure 2 illustrates a state in which a portion of the sub-area SBA is bent.
도 2를 참조하면, 표시 영역(DA)은 제1 방향(DR1)의 단변과 제1 방향(DR1)과 교차하는 제2 방향(DR2)의 장변을 갖는 직사각형 형태의 평면으로 형성될 수 있다. 제1 방향(DR1)의 단변과 제2 방향(DR2)의 장변이 만나는 코너(corner)는 소정의 곡률을 갖도록 둥글게 형성되거나 직각으로 형성될 수 있다. 표시 영역(DA)의 평면 형태는 사각형에 한정되지 않고, 다른 다각형, 원형 또는 타원형으로 형성될 수 있다. Referring to FIG. 2 , the display area DA may be formed as a rectangular plane having a short side in the first direction DR1 and a long side in the second direction DR2 that intersects the first direction DR1. A corner where the short side in the first direction DR1 and the long side in the second direction DR2 meet may be rounded to have a predetermined curvature or may be formed at a right angle. The planar shape of the display area DA is not limited to a square, and may be formed in other polygonal, circular, or oval shapes.
표시 영역(DA)은 메인 영역(MA)의 대부분의 영역을 차지할 수 있다. 표시 영역(DA)은 메인 영역(MA)의 중앙에 배치될 수 있다.The display area DA may occupy most of the main area MA. The display area DA may be placed in the center of the main area MA.
표시 영역(DA)은 상호 나란하게 배열되는 복수의 발광 영역들(EA)을 포함할 수 있다. 그리고, 표시 영역(DA)은 복수의 발광 영역들(EA) 간의 이격 영역인 비발광 영역(도 10의 NEA)을 더 포함할 수 있다.The display area DA may include a plurality of light emitting areas EA arranged in parallel with each other. Additionally, the display area DA may further include a non-emission area (NEA in FIG. 10 ) that is a spaced area between the plurality of emission areas EA.
복수의 발광 영역들(EA)은 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2)으로 상호 나란하게 배열될 수 있다.The plurality of light emitting areas EA may be arranged parallel to each other in the first direction DR1 and the second direction DR2.
복수의 발광 영역들(EA) 각각은 마름모의 평면 형태 또는 직사각형의 평면 형태일 수 있다. 다만 이는 단지 예시일 뿐이며, 일 실시예에 따른 복수의 발광 영역(EA)들의 평면 형태는 도 9의 도시로 한정되지 않는다. 즉, 복수의 발광 영역(EA)들은 사각형 이외의 다른 다각형, 원형, 또는 타원형의 평면 형태를 가질 수 있다. Each of the plurality of light emitting areas EA may have a diamond-shaped planar shape or a rectangular planar shape. However, this is only an example, and the planar shape of the plurality of light emitting areas EA according to one embodiment is not limited to that shown in FIG. 9. That is, the plurality of light emitting areas EA may have a polygonal, circular, or oval planar shape other than a square.
복수의 발광 영역들(EA)은 소정의 파장 대역에 의한 제1 색상의 광을 발광하는 제1 발광 영역(EA1)들, 제1 색상보다 낮은 파장 대역에 의한 제2 색상의 광을 발광하는 제2 발광 영역(EA2)들, 및 제2 색상보다 낮은 파장 대역에 의한 제3 색상의 광을 발광하는 제3 발광 영역(EA3)들을 포함할 수 있다. The plurality of light-emitting areas EA include a first light-emitting area EA1 that emits light of a first color in a predetermined wavelength band, and a first light-emitting area EA1 that emits light of a second color in a wavelength band lower than the first color. It may include two light-emitting areas EA2 and third light-emitting areas EA3 that emit light of a third color in a wavelength band lower than that of the second color.
일 예로, 제1 색상은 대략 600㎚ 내지 750㎚의 파장 대역에 의한 적색일 수 있다. 제2 색상은 대략 480㎚ 내지 560㎚의 파장 대역에 의한 녹색일 수 있다. 제3 색상은 대략 370㎚ 내지 460㎚의 파장 대역에 의한 청색일 수 있다. As an example, the first color may be red in a wavelength range of approximately 600 nm to 750 nm. The second color may be green in a wavelength range of approximately 480 nm to 560 nm. The third color may be blue in a wavelength band of approximately 370 nm to 460 nm.
도 2의 도시와 같이, 제1 발광 영역(EA1)들과 제3 발광 영역(EA3)들은 제1 방향(DR1) 또는 제2 방향(DR2)으로 교번하여 배치될 수 있다. 그리고, 제2 발광 영역(EA2)들은 제1 방향(DR1) 또는 제2 방향(DR2)으로 상호 나란하게 배열될 수 있다.As shown in FIG. 2 , the first emission areas EA1 and the third emission areas EA3 may be alternately arranged in the first direction DR1 or the second direction DR2. Additionally, the second light emitting areas EA2 may be arranged side by side in the first direction DR1 or the second direction DR2.
이러한 복수의 발광 영역들(EA)에 의해, 각각의 휘도 및 색상을 표시하는 복수의 화소(PX)가 마련될 수 있다. 복수의 화소(PX) 각각은 백색을 비롯한 각종 색상을 소정의 휘도로 표시하는 기본 단위일 수 있다. A plurality of pixels (PX) that display respective luminance and color may be provided by these plurality of light emitting areas (EA). Each of the plurality of pixels (PX) may be a basic unit that displays various colors, including white, at a predetermined luminance.
복수의 화소(PX) 각각은 상호 인접한 적어도 하나의 제1 발광 영역(EA1), 적어도 하나의 제2 발광 영역(EA2) 및 적어도 하나의 제3 발광 영역(EA3)으로 이루어질 수 있다. Each of the plurality of pixels (PX) may include at least one first emission area (EA1), at least one second emission area (EA2), and at least one third emission area (EA3) adjacent to each other.
복수의 화소(PX) 각각은 상호 인접한 적어도 하나의 제1 발광 영역(EA1), 적어도 하나의 제2 발광 영역(EA2) 및 적어도 하나의 제3 발광 영역(EA3) 각각에서 방출되는 광의 혼합으로 이루어진 색상과 휘도를 표시할 수 있다. Each of the plurality of pixels (PX) is composed of a mixture of light emitted from each of at least one first emission area (EA1), at least one second emission area (EA2), and at least one third emission area (EA3) adjacent to each other. Color and luminance can be displayed.
한편, 도 2에서는 복수의 발광 영역들(EA)이 상호 동일한 면적으로 이루어진 경우를 예시하였으나, 이는 단지 예시일 뿐이다. 다른 일 예로, 제3 발광 영역(EA3)이 가장 큰 면적으로 이루어지고, 제2 발광 영역(EA2)이 가장 작은 면적으로 이루어질 수 있다. Meanwhile, FIG. 2 illustrates a case where a plurality of light emitting areas EA have the same area, but this is only an example. As another example, the third light-emitting area EA3 may have the largest area, and the second light-emitting area EA2 may have the smallest area.
그리고, 도 2에서는 복수의 발광 영역들(EA)이 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2)으로 나란하게 배열되는 경우를 예시하였으나, 이는 단지 예시일 뿐이다. 다른 일 예로, 제2 발광 영역(EA2)들은 제1 발광 영역(EA1) 및 제3 발광 영역(EA3)에 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2)에 교차하는 대각선 방향으로 이웃할 수 있다. Also, although FIG. 2 illustrates a case where a plurality of light emitting areas EA are arranged side by side in the first direction DR1 and the second direction DR2, this is only an example. As another example, the second light-emitting areas EA2 may be adjacent to the first light-emitting area EA1 and the third light-emitting area EA3 in a diagonal direction that intersects the first direction DR1 and the second direction DR2. there is.
도 3을 참조하면, 표시 장치(10)의 표시 패널(100)은 메인 영역(MA)과 서브 영역(SBA)을 포함하는 기판(110), 및 기판(110) 상에 배치되는 회로 어레이층(120)을 포함한다. 회로 어레이층(120)은 고 복수의 발광 영역들(EA)에 각각 대응되는 복수의 화소 구동부(도 12, 도 13의 PXD)들과 복수의 화소 구동부(PXD)들에 데이터 신호를 전달하는 데이터 배선(도 5, 도 12, 도 13의 DL)들을 포함한다.Referring to FIG. 3, the
그리고, 표시 장치(10)의 표시 패널(100)은 회로 어레이층(120) 상에 배치되는 발광 어레이층(130)을 더 포함할 수 있다. 발광 어레이층(130)은 복수의 발광 영역들(EA)에 각각 대응한 복수의 발광 소자(도 6, 도 7, 도 10의 LEL)들을 포함한다.Additionally, the
그리고, 표시 장치(10)의 표시 패널(100)은 발광 어레이층(130)을 덮는 밀봉 구조물(140) 및, 밀봉 구조물(140) 상에 배치되는 센서 전극층(150)을 더 포함할 수 있다.In addition, the
기판(110)은 고분자 수지 등의 절연 물질로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 기판(110)은 폴리이미드(polyimide)로 이루어질 수 있다. 기판(110)은 벤딩(bending), 폴딩(folding), 롤링(rolling) 등이 가능한 플렉서블(flexible) 기판일 수 있다.The
또는, 기판(100)은 유리 등의 절연 물질로 이루어질 수 있다.Alternatively, the
밀봉 구조물(140)은 회로 어레이층(120) 상에 배치되고 메인 영역(MA)에 대응되며 발광 어레이층(130)을 덮는다. 밀봉 구조물(140)은 발광 어레이층(130)을 적어도 하나의 무기막과 적어도 하나의 유기막이 교번하여 적층된 구조를 포함할 수 있다.The sealing
센서 전극층(150)은 밀봉 구조물(140) 상에 배치되고 메인 영역(MA)에 대응될 수 있다. 센서 전극층(150)는 사람 또는 물체의 터치를 감지하기 위한 터치 전극들을 포함할 수 있다.The
표시 장치(10)는 센서 전극층(150) 상에 배치되는 커버 윈도우(미도시)를 더 포함할 수 있다. 커버 윈도우는 OCA(optically clear adhesive) 필름 또는 OCR(optically clear resin) 같은 투명 접착 부재에 의해 센서 전극층(150) 상에 부착될 수 있다. 커버 윈도우는 유리와 같은 무기물일 수도 있고, 플라스틱 또는 고분자 재료와 같은 유기물일 수도 있다. 이러한 커버 윈도우에 의해, 표시면에서의 전기적, 물리적 충격으로부터 센서 전극층(150), 밀봉 구조물(140), 발광 어레이층(130) 및 회로 어레이층(120)이 보호될 수 있다.The
또한, 표시 장치(10)는 센서 전극층(150)과 커버 윈도우 사이에 배치되는 반사 방지 부재(미도시)를 더 포함할 수 있다. 반사 방지 부재는 편광 필름 또는 컬러 필터일 수 있다. 이러한 반사 방지 부재에 의해, 센서 전극층(150), 밀봉 구조물(140), 발광 어레이층(130) 및 회로 어레이층(120) 및 이들의 계면에서 반사되는 외부 광이 차단됨으로써, 표시 장치(10)에 의한 화상의 시인성이 저하되는 것이 방지될 수 있다. Additionally, the
표시 장치(10)는 센서 전극층(150)을 구동하기 위한 터치 구동 회로(400)를 더 포함할 수 있다. The
터치 구동 회로(400)는 집적회로(IC)로 마련될 수 있다. 터치 구동 회로(400)는 신호 패드(SPD)들에 본딩된 회로 보드(300)에 실장됨으로써, 센서 전극층(150)과 전기적으로 연결될 수 있다.The
또는, 터치 구동 회로(400)는 표시 구동 회로(200)와 마찬가지로, 기판(110)의 제2 서브 영역(SB2)에 실장될 수 있다. Alternatively, the
터치 구동 회로(400)는 센서 전극층(150)에 구비된 복수의 구동 전극에 터치 구동 신호를 인가하고, 복수의 감지 전극을 통해 복수의 터치 노드 각각의 터치 감지 신호를 수신하며, 터치 감지 신호에 기초하여 상호 정전 용량의 차지 변화량을 감지할 수 있다. The
즉, 터치 구동 회로(400)는 복수의 터치 노드 각각의 터치 감지 신호에 따라 사용자의 터치 여부와 근접 여부 등을 판단할 수 있다. 사용자의 터치는 사용자의 손가락 또는 펜 등과 같은 물체가 표시 장치(10)의 전면(前面)에 직접 접촉하는 것을 지칭한다. 사용자의 근접은 호버링(hovering)과 같이 사용자의 손가락 또는 펜 등과 같은 물체가 표시 장치(10)의 전면(前面) 상에서 떨어져 위치하는 것을 지칭한다.That is, the
도 4를 참조하면, 서브 영역(SBA)은 구부러지는 형태로 변형되는 벤딩 영역(BA)과, 벤딩 영역(BA)의 양측에 접하는 제1 서브 영역(SB1) 및 제2 서브 영역(SB2)을 포함할 수 있다. Referring to FIG. 4, the sub-area SBA includes a bending area BA that is deformed into a bent shape, and a first sub-area SB1 and a second sub-area SB2 adjoining both sides of the bending area BA. It can be included.
제1 서브영역(SB1)은 메인 영역(MA)과 벤딩 영역(BA) 사이에 배치된 영역이다. 제1 서브영역(SB1)의 일 측은 메인 영역(MA)의 비표시 영역(NDA)과 접하며, 제1 서브영역(SB1)의 타 측은 벤딩 영역(BA)에 접할 수 있다.The first sub-area SB1 is an area disposed between the main area MA and the bending area BA. One side of the first sub-area SB1 may be in contact with the non-display area NDA of the main area MA, and the other side of the first sub-area SB1 may be in contact with the bending area BA.
제2 서브영역(SB2)은 벤딩 영역(BA)을 사이에 두고 메인 영역(MA)으로부터 이격되며, 구부러진 형태로 변형된 벤딩 영역(BA)에 의해 기판(110)의 하면에 배치되는 영역이다. 즉, 구부러진 형태로 변형된 벤딩 영역(BA)에 의해, 제2 서브 영역(SB2)은 기판(SUB)의 두께 방향(DR3)에서 메인 영역(MA)과 중첩될 수 있다The second sub-area SB2 is spaced apart from the main area MA with the bending area BA in between, and is an area disposed on the lower surface of the
제2 서브영역(SB2)의 일 측은 벤딩 영역(BA)과 접할 수 있다. 제2 서브영역(SB2)의 다른 일 측은 기판(110)의 가장자리 일부에 접할 수 있다.One side of the second sub-area SB2 may be in contact with the bending area BA. The other side of the second sub-region SB2 may contact a portion of the edge of the
제2 서브영역(SB2)에는 신호 패드(SPD)들과 표시 구동 회로(200)가 배치될 수 있다. Signal pads SPD and the
표시 구동 회로(200)는 표시 영역(DPA)의 화소 구동부(PD)들을 구동하기 위한 신호들과 전압들을 생성할 수 있다. The
표시 구동 회로(200)는 집적회로(integrated circuit, IC)로 마련되고 COG(chip on glass) 방식, COP(chip on plastic) 방식, 또는 초음파 접합 방식으로 기판(110)의 제2 서브 영역(SB2)에 실장될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 표시 구동 회로(200)는 COF(chip on film) 방식으로 회로 보드(300) 상에 부착될 수 있다.The
회로 보드(300)는 이방성 도전 필름이나 SAP과 같은 저저항(低抵抗) 고신뢰성 소재를 이용하여 제2 서브영역(SB2)의 신호 패드(SPD)들에 부착되고 전기적으로 연결될 수 있다. The
표시 영역(DPA)의 화소 구동부(PD)들 및 표시 구동 회로(200)는 회로 보드(300)로부터 디지털 비디오 데이터와, 타이밍 신호들, 및 구동 전압들을 입력 받을 수 있다. The pixel drivers PD in the display area DPA and the
회로 보드(300)는 연성 인쇄 회로 보드(flexible printed circuit board), 인쇄 회로 보드(printed circuit board) 또는 칩온 필름(chip on film)과 같은 연성 필름(flexible film)일 수 있다.The
비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)과 서브 영역(SBA) 사이에 배치되는 디먹스 영역(DMXA)을 포함한다. The non-display area (NDA) includes a demux area (DMXA) disposed between the display area (DA) and the sub-area (SBA).
그리고, 비표시 영역(NDA)은 표시 영역(DA)의 제1 방향(DR1)의 적어도 일측에 인접하게 배치되는 스캔 구동 회로 영역(SCDA)을 더 포함할 수 있다. Additionally, the non-display area NDA may further include a scan driving circuit area SCDA disposed adjacent to at least one side of the display area DA in the first direction DR1.
회로 어레이층(120)은 스캔 구동 회로 영역(SCDA)에 대응하는 스캔 구동 회로(미도시)를 포함할 수 있다. 스캔 구동 회로는 표시 영역(DA)에 배치되고 제1 방향(DR1)으로 연장되는 스캔 배선들에 각각의 스캔 신호를 공급할 수 있다. The
일 예로, 표시 구동 회로(200) 또는 회로 보드(300)는 디지털 비디오 데이터 및 타이밍 신호들에 기초하여 스캔 구동 회로에 스캔 제어 신호를 공급할 수 있다.As an example, the
그리고, 회로 보드(300)는 스캔 신호의 생성을 위한 소정의 정전압을 스캔 구동 회로에 공급할 수 있다. Additionally, the
도 4는 스캔 구동 회로 영역(SCDA)이 비표시 영역(NDA) 중 표시 영역(DA)의 제1 방향(DR1)의 양측에 인접한 일부 영역인 경우를 도시하고 있으나, 이는 단지 예시일 뿐이다. 즉, 별도로 도시하지 않으나, 스캔 구동 회로 영역(SCDA)은 비표시 영역(NDA) 중 표시 영역(DA)의 제1 방향(DR1)의 어느 일측에 인접한 일부 영역일 수도 있고, 표시 영역(DA)의 일부들에 중첩되는 분할 영역들로 마련될 수도 있다. FIG. 4 illustrates a case where the scan driving circuit area SCDA is a partial area adjacent to both sides of the display area DA in the first direction DR1 among the non-display area NDA, but this is only an example. That is, although not separately shown, the scan driving circuit area SCDA may be a portion of the non-display area NDA adjacent to one side of the display area DA in the first direction DR1, and the display area DA It may also be provided as partition areas that overlap parts of .
디먹스 영역(DMXA)은 비표시 영역(NDA) 중 서브 영역(SBA)에 인접한 일부이다. 디먹스 영역(DMXA)에는 표시 영역(DA)의 데이터 배선(DL)들과 표시 구동 회로(200) 사이에 연결되는 디먹스 회로부(도 5의 DMC)들이 배치된다. The demux area (DMXA) is a part of the non-display area (NDA) adjacent to the sub area (SBA). In the demux area DMXA, demux circuit units (DMC in FIG. 5) connected between the data lines DL of the display area DA and the
디먹스 회로부(DMC)들 각각은 하나의 데이터 구동 신호에 기초하여 둘 이상의 데이터 신호를 출력한다. Each of the demux circuit units (DMCs) outputs two or more data signals based on one data driving signal.
즉, 디먹스 회로부(DMC)들 중 하나의 디먹스 회로부(DMC)는 표시 구동 회로(200)로부터 하나의 데이터 구동 신호를 입력단으로 수신하고, 하나의 데이터 구동 신호를 시분할(TIME DEMULTIPLEXING)하여 둘 이상의 데이터 신호를 발생시키며, 둘 이상의 데이터 배선(DL)들에 각각 연결된 둘 이상의 출력단으로 둘 이상의 데이터 신호를 서로 다른 기간 동안 출력할 수 있다.That is, one of the demux circuit units (DMCs) receives one data driving signal from the
디먹스 영역(DMXA)은 서브 영역(SBA)에 인접한 중앙의 제1 디먹스 영역(DMXA1)과, 제1 디먹스 영역(DMXA1)의 제1 방향(DR1)의 양측에 접하는 제2 디먹스 영역(DMXA2)들을 포함할 수 있다. The demux area DMXA includes a central first demux area DMXA1 adjacent to the sub-area SBA and a second demux area adjoining both sides of the first demux area DMXA1 in the first direction DR1. (DMXA2) may be included.
표시 영역(GA)은 디먹스 영역(DMXA)에 인접한 디먹스 인접 영역(DAA)과, 디먹스 인접 영역(DAA)을 제외한 나머지인 일반 영역(GA)을 포함할 수 있다. 여기서, 디먹스 인접 영역(DAA)에는 디먹스 우회 배선(도 5의 DETL)이 배치된다.The display area (GA) may include a demultiplexed area (DAA) adjacent to the demultiplexed area (DMXA) and a general area (GA) excluding the demultiplexed adjacent area (DAA). Here, a demux bypass line (DETL in FIG. 5) is disposed in the demux adjacent area (DAA).
디먹스 인접 영역(DAA)은 제1 디먹스 영역(DMXA1)과 제2 방향(DR2)으로 인접한 센터 인접 영역(CDAA)과, 제2 디먹스 영역(DMXA2)들과 제2 방향(DR2)으로 인접한 가장자리 인접 영역(EDAA)을 포함할 수 있다. The demux adjacent area (DAA) is divided into a center adjacent area (CDAA) adjacent to the first demux area (DMXA1) and the second direction (DR2), and a center adjacent area (CDAA) adjacent to the first demux area (DMXA1) and the second demux area (DMXA2) in the second direction (DR2). It may include an adjacent edge-adjacent area (EDAA).
센터 인접 영역(CDAA)은 디먹스 인접 영역(DAA) 중 중앙 부분이다.The center adjacent area (CDAA) is the central portion of the demux adjacent area (DAA).
가장자리 인접 영역(EDAA)은 디먹스 인접 영역(DAA) 중 센터 인접 영역(CDAA)과 비표시 영역(NDA) 사이의 부분이다.The edge adjacent area (EDAA) is the part of the demux adjacent area (DAA) between the center adjacent area (CDAA) and the non-display area (NDA).
즉, 센터 인접 영역(CDAA)은 제1 방향(DR1)의 양측 각각에서 가장자리 인접 영역(EDAA)과 접할 수 있다.That is, the center adjacent area CDAA may contact the edge adjacent area EDAA on both sides of the first direction DR1.
센터 인접 영역(CDAA)은 제1 방향(DR1)에서 중앙의 미들 영역(MDA), 및 미들 영역(MDA)과 가장자리 인접 영역(EDAA) 사이의 사이드 영역(SDA)을 포함할 수 있다. The center adjacent area (CDAA) may include a central middle area (MDA) in the first direction DR1, and a side area (SDA) between the middle area (MDA) and the edge adjacent area (EDAA).
즉, 미들 영역(MDA)은 제1 방향(DR1)의 양측 각각에서 사이드 영역(SDA)과 접할 수 있다. That is, the middle area MDA may contact the side area SDA on both sides of the first direction DR1.
도 5는 제1 실시예에 따른 도 4의 B 부분을 보여주는 레이아웃도이다.FIG. 5 is a layout diagram showing part B of FIG. 4 according to the first embodiment.
도 5를 참조하면, 일 실시예에 따른 표시 장치(10)는 표시 영역(DA)과 비표시 영역(NDA)을 포함하는 메인 영역(MA), 및 메인 영역(MA)의 일측에서 돌출되는 서브 영역(SBA)을 포함하는 기판(110), 기판(110) 상에 배치되고 복수의 발광 영역들(EA)에 각각 대응되는 복수의 화소 구동부(PXD)들과 복수의 화소 구동부(PXD)들에 데이터 신호를 전달하는 데이터 배선(DL)들과, 비표시 영역(NDA) 중 디먹스 영역(DMXA)에 배치되는 디먹스 회로부(DMC)들을 포함한 회로 어레이층(120), 및 기판(110)의 서브 영역(SBA)에 배치되고 데이터 배선(DL)들에 대응하는 데이터 구동 신호들을 공급하는 표시 구동 회로(200)를 포함한다. Referring to FIG. 5, the
디먹스 회로부(DMC)들은 표시 구동 회로(200)와 데이터 배선(DL)들 사이에 전기적으로 연결되고, 표시 구동 회로(200)로부터 수신한 데이터 구동 신호들에 기초하여 데이터 배선(DL)들 각각의 데이터 신호들을 출력한다. The demux circuit units (DMCs) are electrically connected between the
즉, 디먹스 회로부(DMC) 중 하나의 디먹스 회로부(DMC)는 둘 이상의 데이터 배선(DL)들과 연결되고, 하나의 데이터 구동 신호에 기초하여 둘 이상의 데이터 신호를 출력한다.That is, one of the demux circuit units (DMC) is connected to two or more data lines (DL) and outputs two or more data signals based on one data driving signal.
디먹스 회로부(DMC)들은 제1 디먹스 영역(DMXA1)에 배치되는 제1 디먹스 회로부(DMC1)와, 제2 디먹스 영역(DMXA2)들에 배치되는 제2 디먹스 회로부(DMC2)를 포함한다.The demux circuit units (DMCs) include a first demux circuit unit (DMC1) disposed in the first demux area (DMXA1) and a second demux circuit unit (DMC2) disposed in the second demux areas (DMXA2). do.
회로 어레이층(120)은 제1 디먹스 회로부(DMC1)의 입력단에 연결되는 제1 데이터 입력 배선(DIPL1), 및 제2 디먹스 회로부(DMC2)의 입력단에 연결되는 제2 데이터 입력 배선(DIPL2)을 더 포함한다. The
제1 데이터 입력 배선(DIPL1)은 서브 영역(SBA)에서 제1 디먹스 영역(DMXA1)으로 연장된다.The first data input line DIPL1 extends from the sub-area SBA to the first demux area DMXA1.
제2 데이터 입력 배선(DIPL2)은 서브 영역(SBA)에서 제1 디먹스 영역(DMXA1)으로 연장되는 메인 입력 배선(MIPL), 표시 영역(DA)에 배치되고 메인 입력 배선(MIPL)과 연결되는 디먹스 우회 배선(DETL), 및 제2 디먹스 영역(DMXA2)들에 배치되고 디먹스 우회 배선(DETL)과 제2 디먹스 회로부(DMC2)의 입력단 사이를 연결하는 우회 부가 배선(DEAL)을 포함한다.The second data input wire (DIPL2) is a main input wire (MIPL) extending from the sub area (SBA) to the first demux area (DMXA1), disposed in the display area (DA) and connected to the main input wire (MIPL). A demux bypass line (DETL) and a bypass additional line (DEAL) disposed in the second demux areas (DMXA2) and connected between the demux bypass line (DETL) and the input terminal of the second demux circuit unit (DMC2). Includes.
즉, 제2 데이터 입력 배선(DIPL2)은 메인 입력 배선(MIPL) 및 디먹스 우회 배선(DETL)에 의해 제1 디먹스 영역(DMXA1)과 표시 영역(DA)으로 우회함에 따라, 서브 영역(SBA)에서 제2 디먹스 영역(DMXA2)으로 연장되지 않는다. 이로써, 제2 데이터 입력 배선(DIPL2)이 제2 디먹스 영역(DMXA2)에 배열되지 않으므로, 기판의 모서리를 따라 절곡된 형태로 이루어지는 제2 디먹스 영역(DMXA2)의 너비가 감소될 수 있다.That is, the second data input line DIPL2 is bypassed to the first demux area DMXA1 and the display area DA by the main input line MIPL and the demux bypass line DETL, thereby bypassing the sub area SBA. ) does not extend to the second demux area (DMXA2). Accordingly, since the second data input line DIPL2 is not arranged in the second demux area DMXA2, the width of the second demux area DMXA2, which is bent along the edge of the substrate, may be reduced.
회로 어레이층(120)은 제2 서브 영역(SB2)에 배치되고 표시 구동 회로(200)의 출력단들에 각각 연결되는 제1 데이터 공급 배선(DSPL1)과 제2 데이터 공급 배선(DSPL2), 제1 데이터 공급 배선(DSPL1)과 연결되고 벤딩 영역(BA)에 배치되는 제1 데이터 벤딩 배선(DBDL1), 제2 데이터 공급 배선(DSPL2)과 연결되고 벤딩 영역(BA)에 배치되는 제2 데이터 벤딩 배선(DBDL2)을 더 포함할 수 있다. 제1 데이터 입력 배선(DIPL1)은 제1 데이터 벤딩 배선(DBDL1)과 제1 디먹스 회로부(DMC1)의 입력단 사이를 연결할 수 있다. 제2 데이터 입력 배선(DIPL2)은 제2 데이터 입력 배선(DBDL2)과 제2 디먹스 회로부(DMC2)의 입력단 사이를 연결할 수 있다. The
제2 데이터 입력 배선(DIPL2)의 디먹스 우회 배선(DETL)은 표시 영역(DA) 중 디먹스 인접 영역(DAA)에 배치될 수 있다.The demux bypass line DETL of the second data input line DIPL2 may be disposed in the demux adjacent area DAA of the display area DA.
즉, 디먹스 우회 배선(DETL)은 센터 인접 영역(CDAA)에 배치되며 메인 입력 배선(MIPL)과 연결되고 제2 방향(DR2)으로 연장되는 제1 우회 배선(DETL1), 제1 우회 배선(DETL1)과 연결되고 제1 방향(DR1)으로 연장되는 제2 우회 배선(DETL2), 및 가장자리 인접 영역(EDAA)에 배치되고 제2 디먹스 영역(DMXA2)들을 향해 제2 방향(DR2)으로 연장되며 제2 우회 배선(DETL2)과 우회 부가 배선(DEAL) 사이를 연결하는 제3 우회 배선(DETL3)을 포함할 수 있다.That is, the demux bypass line (DETL) is disposed in the center adjacent area (CDAA), is connected to the main input line (MIPL), and extends in the second direction (DR2), including a first bypass line (DETL1) and a first bypass line ( a second bypass line (DETL2) connected to DETL1) and extending in the first direction (DR1), and disposed in the edge adjacent area (EDAA) and extending in the second direction (DR2) toward the second demux areas (DMXA2) and may include a third bypass wiring (DETL3) connecting the second bypass wiring (DETL2) and the additional bypass wiring (DEAL).
이와 같이, 제2 디먹스 회로부(DMC2)와 제2 데이터 벤딩 배선(DBDL2) 사이의 제2 데이터 입력 배선(DIPL2)은 제1 서브 영역(SB1)에서 제2 디먹스 영역(DMXA2)들로 직접 연장되는 것이 아니라, 제1 서브 영역(SB1)에서 제1 디먹스 영역(DMXA1) 및 표시 영역(DA)으로 우회하여 제2 디먹스 영역(DMXA2)들로 연장된다.In this way, the second data input line DIPL2 between the second demux circuit unit DMC2 and the second data bending line DBDL2 is directly connected from the first sub-area SB1 to the second demux area DMXA2. Rather than extending, it bypasses the first sub-area SB1 to the first demux area DMXA1 and the display area DA and extends to the second demux areas DMXA2.
반면, 제1 디먹스 회로부(DMC1)와 제1 데이터 벤딩 배선(DBDL1) 사이의 제1 데이터 입력 배선(DIPL1)은 제1 서브 영역(SB1)에서 제1 디먹스 영역(DMXA1)으로 연장된다. On the other hand, the first data input line DIPL1 between the first demux circuit unit DMC1 and the first data bending line DBDL1 extends from the first sub-area SB1 to the first demux area DMXA1.
데이터 배선(DL)들은 제2 방향(DR2)으로 연장될 수 있다.The data lines DL may extend in the second direction DR2.
데이터 배선(DL)들은 제1 디먹스 회로부(DMC1)에 연결되고 센터 인접 영역(CDAA)에 배치되는 제1 데이터 배선(DL1)과 제2 데이터 배선(DL2), 및 제2 디먹스 회로부(DMC2)에 연결되고 가장자리 인접 영역(EDAA)에 배치되는 제3 데이터 배선(DL3)과 제4 데이터 배선(DL4)을 포함할 수 있다.The data lines DL include a first data line DL1 and a second data line DL2 connected to the first demux circuit portion DMC1 and disposed in the center adjacent area CDAA, and a second demux circuit portion DMC2. ) and may include a third data line (DL3) and a fourth data line (DL4) connected to the edge adjacent area (EDAA).
표시 영역(DA)의 디먹스 인접 영역(DAA) 중 센터 인접 영역(CDAA)은 제1 방향(DR1)에서 중앙의 미들 영역(MDA), 및 미들 영역(MDA)과 가장자리 인접 영역(EDAA) 사이의 사이드 영역(SDA)을 포함할 수 있다. 즉, 미들 영역(MDA)의 제1 방향(DR1)의 양측은 사이드 영역(SDA)과 접할 수 있다.Among the demultiplexed adjacent areas (DAA) of the display area (DA), the center adjacent area (CDAA) is located between the center middle area (MDA) and the middle area (MDA) and the edge adjacent area (EDAA) in the first direction (DR1). It may include a side area (SDA). That is, both sides of the middle area MDA in the first direction DR1 may contact the side area SDA.
미들 영역(MDA)에는 제1 우회 배선(DETL1)이 배치되지 않는다. The first bypass line (DETL1) is not disposed in the middle area (MDA).
즉, 제1 디먹스 영역(DMXA) 중 사이드 영역(SDA)과 인접한 일부에는 제2 데이터 입력 배선(DIPL2)의 메인 입력 배선(MIPL)이 배치되고, 미들 영역(MDA)과 인접한 다른 일부에는 제2 데이터 입력 배선(DIPL2)의 메인 입력 배선(MIPL)이 배치되지 않는다.That is, the main input line (MIPL) of the second data input line (DIPL2) is disposed in a part of the first demux area (DMXA) adjacent to the side area (SDA), and the main input line (MIPL) of the second data input line (DIPL2) is disposed in the other part adjacent to the middle area (MDA). 2 The main input wire (MIPL) of the data input wire (DIPL2) is not placed.
달리 설명하면, 제1 디먹스 회로부(DMC1)는 제1 디먹스 영역(DMXA1) 중 사이드 영역(SDA)과 인접한 일부에만 배치되고, 디먹스 회로부(DMC)들은 제1 디먹스 영역(DMXA1) 중 미들 영역(MDA)과 인접한 다른 일부에 배치되는 제3 디먹스 회로부(DMC3)를 더 포함할 수 있다.In other words, the first demux circuit unit (DMC1) is disposed only in a portion of the first demux area (DMXA1) adjacent to the side area (SDA), and the demux circuit units (DMCs) are located in the first demux area (DMXA1). It may further include a third demux circuit unit (DMC3) disposed in another part adjacent to the middle area (MDA).
데이터 배선(DL)들은 미들 영역(MDA)에 배치되고 제3 디먹스 회로부(DMC3)에 연결되는 제5 데이터 배선(DL5)을 더 포함할 수 있다.The data lines DL may further include a fifth data line DL5 disposed in the middle area MDA and connected to the third demux circuit unit DMC3.
사이드 영역(SDA)과 달리, 미들 영역(MDA)에는 제1 우회 배선(DETL1)이 배치되지 않으므로, 미들 영역(MDA)에 배치되고 제3 디먹스 회로부(DMC3)에 연결되는 둘 이상의 제5 데이터 배선(D5)들은 제2 전원 보조 배선(VSAL)과 각각 인접하게 배치될 수 있다.Unlike the side area (SDA), the first bypass line (DETL1) is not disposed in the middle area (MDA), so two or more fifth data disposed in the middle area (MDA) and connected to the third demux circuit unit (DMC3) The wires D5 may be disposed adjacent to the second power auxiliary wire VSAL.
회로 어레이층(120)은 비표시 영역(NDA)에 배치되고 발광 어레이층(130)의 발광 소자(LEL)들의 구동을 위한 제1 전원과 제2 전원을 각각 전달하는 제1 전원 공급 배선(VDSPL)과 제2 전원 공급 배선(VSSPL)을 더 포함할 수 있다.The
그리고, 회로 어레이층(120)은 표시 영역(DA)에 배치되고 제2 방향(DR2)으로 연장되며 제2 전원 공급 배선(VSSPL)과 전기적으로 연결되는 제2 전원 보조 배선(VSAL)을 더 포함할 수 있다.In addition, the
제1 전원 공급 배선(VDSPL)은 제1 서브 영역(SB1)에서 비표시 영역(NDA)으로 연장되고, 표시 영역(DA)의 주변을 둘러싸는 형태로 배치될 수 있다. The first power supply line VDSPL extends from the first sub-area SB1 to the non-display area NDA and may be arranged to surround the display area DA.
제2 전원 공급 배선(VSSPL)은 제1 서브 영역(SB1)에서 비표시 영역(NDA)으로 연장되고, 제1 전원 공급 배선(VDSPL)의 주변을 둘러싸는 형태로 배치될 수 있다. The second power supply line (VSSPL) extends from the first sub-area (SB1) to the non-display area (NDA) and may be arranged to surround the first power supply line (VDSPL).
회로 어레이층(120)은 디먹스 영역(DMXA)에 배치되고 디먹스 회로부(DMC)들의 출력단들과 데이터 배선(DL)들 사이를 각각 연결하는 데이터 출력 배선(DMOL)들을 더 포함할 수 있다. The
제1 디먹스 영역(DMXA1)에 배치된 제1 디먹스 회로부(DMC1)의 출력단들은 센터 인접 영역(CDAA)에 배치되고 상호 인접한 제1 데이터 배선(DL1) 및 제2 데이터 배선(DL2)과 연결될 수 있다. The output terminals of the first demux circuit unit (DMC1) disposed in the first demux area (DMXA1) are disposed in the center adjacent area (CDAA) and are connected to the first and second data lines (DL1) and DL2 that are adjacent to each other. You can.
제2 데이터 입력 배선(DIPL2)의 제1 우회 배선(DETL1)은 센터 인접 영역(CDAA)에 배치되고 제2 방향(DR2)으로 연장되므로, 제1 데이터 배선(DL1) 및 제2 데이터 배선(DL2) 중 어느 하나와 인접하게 배치될 수 있다.The first bypass line (DETL1) of the second data input line (DIPL2) is disposed in the center adjacent area (CDAA) and extends in the second direction (DR2), so that the first data line (DL1) and the second data line (DL2) ) may be placed adjacent to any one of the following.
달리 설명하면, 제1 디먹스 회로부(DMC1)에 연결된 제1 데이터 배선(DL1)과 제2 데이터 배선(DL2) 중 어느 하나(예를 들면, 제1 데이터 배선(DL1))는 제1 우회 배선(DETL1)과 인접하게 배치될 수 있다.In other words, one of the first data line DL1 and the second data line DL2 connected to the first demux circuit unit DMC1 (for example, the first data line DL1) is the first bypass line. It can be placed adjacent to (DETL1).
그리고, 제1 디먹스 회로부(DMC1)에 연결된 제1 데이터 배선(DL1)과 제2 데이터 배선(DL2) 중 제1 우회 배선(DETL1)과 인접한 어느 하나를 제외한 나머지(즉, 제2 데이터 배선(DL2))는 제2 전원 보조 배선(VSAL)과 각각 인접하게 배치될 수 있다.And, of the first data line DL1 and the second data line DL2 connected to the first demux circuit unit DMC1, except for one adjacent to the first bypass line DETL1 (i.e., the second data line ( DL2)) may be disposed adjacent to the second power auxiliary line (VSAL).
제2 디먹스 영역(DMXA2)들에 배치된 제2 디먹스 회로부(DMC2)의 출력단들은 가장자리 인접 영역(EDAA)에 배치되고 상호 인접한 제3 데이터 배선(DL3) 및 제4 데이터 배선(DL4)과 연결될 수 있다. The output terminals of the second demux circuit unit DMC2 disposed in the second demux areas DMXA2 are disposed in the edge adjacent area EDAA and are connected to the third data line DL3 and the fourth data line DL4 adjacent to each other. can be connected
제2 데이터 입력 배선(DIPL2)의 제3 우회 배선(DETL3)은 가장자리 인접 영역(EDAA)에 배치되고 제2 방향(DR2)으로 연장되므로, 제3 데이터 배선(DL3) 및 제4 데이터 배선(DL4) 중 어느 하나와 인접하게 배치될 수 있다.The third bypass line (DETL3) of the second data input line (DIPL2) is disposed in the edge adjacent area (EDAA) and extends in the second direction (DR2), so that the third data line (DL3) and the fourth data line (DL4) ) can be placed adjacent to any one of the following.
달리 설명하면, 제2 디먹스 회로부(DMC2)에 연결된 제3 데이터 배선(DL3)과 제4 데이터 배선(DL4) 중 어느 하나(예를 들면, 제3 데이터 배선(DL3))는 제3 우회 배선(DETL3)과 인접하게 배치될 수 있다.In other words, one of the third data line DL3 and the fourth data line DL4 connected to the second demux circuit unit DMC2 (for example, the third data line DL3) is a third bypass line. It can be placed adjacent to (DETL3).
그리고, 제2 디먹스 회로부(DMC2)에 연결된 제3 데이터 배선(DL3)과 제4 데이터 배선(DL4) 중 제3 우회 배선(DETL3)과 인접한 어느 하나를 제외한 나머지(즉, 제4 데이터 배선(DL4))는 제2 전원 보조 배선(VSAL)과 각각 인접하게 배치될 수 있다.And, among the third data line DL3 and the fourth data line DL4 connected to the second demux circuit unit DMC2, all but one adjacent to the third bypass line DETL3 (i.e., the fourth data line ( DL4)) may be disposed adjacent to the second power auxiliary line (VSAL).
제1 실시예에 따르면, 회로 어레이층(120)은 표시 영역(DA)에 배치되고 제1 방향(DR1)으로 연장되며 제1 전원 공급 배선(VDSPL)과 전기적으로 연결되는 제1 전원 보조 배선(VDAL)을 더 포함할 수 있다.According to the first embodiment, the
또한, 회로 어레이층(120)은 표시 영역(DA) 중 일반 영역(GA)에 배치되고 제1 방향(DR1)으로 연장되며 제2 전원 공급 배선(VSSPL)과 전기적으로 연결되는 제2 전원 서브 배선(VSSBL)을 더 포함할 수 있다.In addition, the
제2 우회 배선(DETL2)은 디먹스 인접 영역(DAA)에 배치되고 제1 방향(DR1)으로 연장된다.The second bypass line DETL2 is disposed in the demultiplex adjacent area DAA and extends in the first direction DR1.
이에 따라, 제1 전원 보조 배선(VDAL)은 디먹스 인접 영역(DAA)에서 제2 우회 배선(DETL2)과 인접하게 배치되고, 일반 영역(GA)에서 제2 전원 서브 배선(VSSBL)과 인접하게 배치될 수 있다.Accordingly, the first power auxiliary wiring (VDAL) is disposed adjacent to the second bypass wiring (DETL2) in the demultiplex adjacent area (DAA) and adjacent to the second power sub-wiring (VSSBL) in the general area (GA). can be placed.
즉, 디먹스 인접 영역(DAA)에서, 제1 전원 보조 배선(VDAL)과 제2 우회 배선(DETL2)은 제2 방향(DR2)으로 상호 교번하여 배치될 수 있다. That is, in the demux adjacent area DAA, the first power auxiliary line VDAL and the second bypass line DETL2 may be arranged to alternate with each other in the second direction DR2.
그리고, 일반 영역(GA)에서, 제1 전원 보조 배선(VDAL)과 제2 전원 서브 배선(VSSBL)은 제2 방향(DR2)으로 상호 교번하여 배치될 수 있다.Also, in the general area GA, the first power auxiliary line VDAL and the second power sub line VSSBL may be arranged to alternate with each other in the second direction DR2.
회로 어레이층(120)은 제1 우회 배선(DETL1)의 제2 방향(DR2)의 일측과 제3 우회 배선(DETL3)의 제2 방향(DR2)의 일측에 각각 나란하게 이격되고 제2 방향(DR2)으로 연장되는 제1 더미 배선(DML1)들, 및 제2 우회 배선(DETL2)의 제1 방향(DR1)의 양측에 각각 나란하게 이격되고 제1 방향(DR1)으로 연장되는 제2 더미 배선(DML2)들을 더 포함할 수 있다. The
이러한 제1 더미 배선(DML1)들과 제2 더미 배선(DML2)들과 더불어, 제2 전원 보조 배선(VSAL), 제1 전원 보조 배선(VDAL), 제2 전원 서브 배선(VSSBL)에 의해, 표시 영역(DA)의 일부에만 배치되는 디먹스 우회 배선(DETL: DETL1, DETL2, DETL3)이 또렷하게 시인되는 것이 방지될 수 있다.In addition to these first dummy wires (DML1) and second dummy wires (DML2), the second power auxiliary wire (VSAL), the first power auxiliary wire (VDAL), and the second power sub-wire (VSSBL), The demux bypass wiring (DETL: DETL1, DETL2, DETL3) disposed only in a portion of the display area (DA) can be prevented from being clearly visible.
제1 전원 공급 배선(VDSPL) 및 제2 전원 공급 배선(VSSPL) 각각의 일부는 디먹스 회로부(DMC)들과 중첩할 수 있다. A portion of each of the first power supply line (VDSPL) and the second power supply line (VSSPL) may overlap with the demux circuit units (DMC).
즉, 디먹스 영역(DMXA)에는 디먹스 회로부(DMC)들만 배치되는 것이 아니라, 제1 전원 공급 배선(VDSPL) 및 제2 전원 공급 배선(VSSPL) 각각의 일부가 더 배치된다.That is, not only the demux circuit units (DMCs) are disposed in the demux area (DMXA), but also a portion of each of the first power supply line (VDSPL) and the second power supply line (VSSPL) are further disposed.
이와 같이 하면, 디먹스 영역(DMXA)의 너비만큼 비표시 영역(NDA)의 너비가 증가되는 것이 방지될 수 있다. 이로써, 디먹스 영역(DMXA)의 배치에 의해 비표시 영역(NDA)의 너비가 증가되는 정도가 비교적 작아질 수 있으므로, 비표시 영역(NDA)의 너비 감소에 유리해질 수 있다. In this way, the width of the non-display area (NDA) can be prevented from increasing by the width of the demux area (DMXA). As a result, the extent to which the width of the non-display area (NDA) increases due to the arrangement of the demultiplexing area (DMXA) can be relatively small, which can be advantageous in reducing the width of the non-display area (NDA).
제1 실시예에 따르면, 회로 어레이층(120)은 제1 전원 공급 배선(VDSPL)과 연결되고 벤딩 영역(BA)에 배치되는 제1 전원 벤딩 배선(VDBDL), 제2 전원 공급 배선(VSSPL)과 연결되고 벤딩 영역(BA)에 배치되는 제2 전원 벤딩 배선(VSBDL), 제1 전원 벤딩 배선(VDBDL)과 연결되고 제2 서브 영역(SB2)에 배치되는 제1 전원 패드 배선(VDPDL), 및 제2 전원 벤딩 배선(VSBDL)과 연결되고 제2 서브 영역(SB2)에 배치되는 제2 전원 패드 배선(VSPDL)을 더 포함할 수 있다.According to the first embodiment, the
상세히 도시되지 않았으나, 제1 전원 패드 배선(VDPDL) 및 제2 전원 패드 배선(VSPDL)은 서로 다른 신호 패드(SPD)에 연결될 수 있다.Although not shown in detail, the first power pad wire (VDPDL) and the second power pad wire (VSPDL) may be connected to different signal pads (SPD).
이상과 같이, 제1 실시예에 따른 표시 장치(10)는 표시 구동 회로(200)와 데이터 배선(DL)들 사이에 연결되는 디먹스 회로부(DMC)들을 포함한다. 이에 따라, 표시 구동 회로(200)의 출력단들이 데이터 배선(DL)들에 직접 연결되는 것이 아니라, 데이터 배선(DL)들보다 적은 개수의 디먹스 회로부(DMC)들에 연결된다. As described above, the
즉, 표시 구동 회로(200)에 연결되는 제1 및 제2 데이터 공급 배선(DSPL1, DSPL2)들의 개수, 제1 및 제2 데이터 공급 배선(DSPL1, DSPL2)들에 연결되는 제1 및 제2 데이터 벤딩 배선(DBDL1, DBDL2)들의 개수, 제1 및 제2 데이터 벤딩 배선(DBDL1, DBDL2)들에 연결되는 제1 및 제2 데이터 입력 배선(DIPL1, DIPL2)들의 개수 및 디먹스 회로부(DMC)들의 개수는 디먹스 회로부(DMC)들 각각이 포함하는 디먹스 트랜지스터의 개수에 반비례하여 데이터 배선(DL)들의 개수보다 작아질 수 있다. That is, the number of first and second data supply wires (DSPL1, DSPL2) connected to the
그러므로, 제2 서브 영역(SB2)에 배치되는 제1 및 제2 데이터 공급 배선(DSPL1, DSPL2)들의 개수가 감소되는 만큼, 제1 및 제2 데이터 공급 배선(DSPL1, DSPL2)들 간의 간격이 넓어질 수 있거나, 제2 서브 영역(SB2)의 너비가 감소될 수 있다.Therefore, as the number of first and second data supply lines (DSPL1, DSPL2) disposed in the second sub-area (SB2) is reduced, the gap between the first and second data supply lines (DSPL1, DSPL2) is widened. Alternatively, the width of the second sub-area SB2 may be reduced.
벤딩 영역(BA)에 배치되는 제1 및 제2 데이터 벤딩 배선(DBDL1, DBDL2)들의 개수가 감소되는 만큼, 제1 및 제2 데이터 벤딩 배선(DBDL1, DBDL2)들 간의 간격이 넓어질 수 있거나, 또는 벤딩 영역(BA)의 너비가 감소될 수 있다.As the number of first and second data bending lines DBDL1 and DBDL2 disposed in the bending area BA is reduced, the gap between the first and second data bending lines DBDL1 and DBDL2 may be widened, or Alternatively, the width of the bending area BA may be reduced.
즉, 해상도에 영향을 미치는 데이터 배선(DL)들의 개수를 감소시키지 않고서도, 서브 영역(SBA)에 배치되는 배선들 간의 간격이 넓어질 수 있다.That is, the spacing between wires arranged in the sub-area SBA can be widened without reducing the number of data wires DL, which affects resolution.
더불어, 제2 디먹스 영역(DMXA2)들에 배치된 제2 디먹스 회로부(DMC2)들에 연결되는 제2 데이터 입력 배선(DIPL2)들은 제1 서브 영역(SB1)에서 제2 디먹스 영역(DMXA2)으로 연장되는 것이 아니라, 제1 서브 영역(SB1)에서 제1 디먹스 영역(DMXA1) 및 표시 영역(DA)으로 우회하여 제2 디먹스 영역(DMXA2)으로 연장된다. In addition, the second data input lines DIPL2 connected to the second demux circuit units DMC2 disposed in the second demux areas DMXA2 are connected to the second demux area DMXA2 in the first sub-area SB1. ), but instead extends from the first sub-area SB1 to the first demux area DMXA1 and the display area DA and extends to the second demux area DMXA2.
이로써, 제2 디먹스 회로부(DMC2)들이 배치되는 제2 디먹스 영역(DMXA2)들 중 제2 데이터 입력 배선(DIPL2)들의 배열에 할당되는 면적이 작아질 수 있다. 즉, 메인 영역(MA)의 모서리에 대응하는 제2 디먹스 영역(DMXA2)들의 너비가 작아질 수 있으므로, 비표시 영역(NDA)의 너비 감소에 유리해질 수 있다. Accordingly, the area allocated to the arrangement of the second data input lines DIPL2 among the second demux areas DMXA2 where the second demux circuit units DMC2 are disposed may be reduced. That is, since the width of the second demux areas DMXA2 corresponding to the corners of the main area MA can be reduced, it can be advantageous to reduce the width of the non-display area NDA.
도 6은 도 5의 화소 구동부에 대한 일 예시를 보여주는 등가 회로도이다. 도 7은 도 5의 화소 구동부에 대한 다른 일 예시를 보여주는 등가 회로도이다.FIG. 6 is an equivalent circuit diagram showing an example of the pixel driver of FIG. 5. FIG. 7 is an equivalent circuit diagram showing another example of the pixel driver of FIG. 5.
회로 어레이층(120)은 복수의 발광 영역들(EA)에 각각 대응하는 복수의 화소 구동부(PDX)들을 포함한다. 복수의 화소 구동부(PDX)들은 발광 어레이층(130)에 구비된 복수의 발광 소자(LEL)들에 각각 구동전류를 공급한다. The
복수의 화소 구동부(PDX)들 각각은 구동 트랜지스터(DT)와 적어도 하나의 스위치 소자와, 적어도 하나의 커패시터를 포함할 수 있다.Each of the plurality of pixel drivers PDX may include a driving transistor DT, at least one switch element, and at least one capacitor.
도 6을 참조하면, 회로 어레이층(120)에 구비된 복수의 화소 구동부(PDX)들 중 어느 하나는 구동 트랜지스터(DT)와, 제1 트랜지스터(ST1: Switch Transistor), 제2 트랜지스터(ST2), 제3 트랜지스터(ST3), 제4 트랜지스터(ST4), 제5 트랜지스터(ST5) 및 제6 트랜지스터(ST6)의 스위치 소자들과, 커패시터(C1)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 6, one of the plurality of pixel drivers (PDX) provided in the
그리고, 스캔 구동 회로 영역(SCDA)의 스캔 구동 회로에 연결되는 회로 어레이층(120)의 스캔 배선들은 제1 트랜지스터(ST1)와 제2 트랜지스터(ST2) 각각의 게이트 전극에 연결되는 기입 스캔 배선(GWL), 제3 트랜지스터(ST3)의 게이트 전극에 연결되는 초기화 스캔 배선(GIL), 제4 트랜지스터(ST4)의 게이트 전극에 연결되는 제어 스캔 배선(GCL), 및 제5 트랜지스터(ST5)와 제6 트랜지스터(ST6) 각각의 게이트 전극에 연결되는 발광 제어 배선(ECL)을 포함할 수 있다. In addition, the scan wires of the
구동 트랜지스터(DT)는 제1 전원 배선(VDL)과 제2 전원 배선(VSL) 사이에 발광 소자(LEL)과 직렬로 연결된다.The driving transistor DT is connected in series with the light emitting element LEL between the first power line VDL and the second power line VSL.
구동 트랜지스터(DT)의 제1 전극은 제5 트랜지스터(ST5)를 통해 제1 전원 배선(VDL)에 연결될 수 있다.The first electrode of the driving transistor DT may be connected to the first power line VDL through the fifth transistor ST5.
그리고, 구동 트랜지스터(DT)의 제1 전극은 제2 트랜지스터(ST2)를 통해 데이터 배선(DL)에 연결될 수 있다.Additionally, the first electrode of the driving transistor DT may be connected to the data line DL through the second transistor ST2.
구동 트랜지스터(DT)의 제2 전극은 제6 트랜지스터(ST6)을 통해 발광 소자(LEL)에 연결될 수 있다.The second electrode of the driving transistor DT may be connected to the light emitting element LEL through the sixth transistor ST6.
커패시터(C1)는 제1 전원 배선(VDL)과 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극 사이에 연결된다. 즉, 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극은 커패시터(C1)를 통해 제1 전원 배선(VDL)과 연결될 수 있다.The capacitor C1 is connected between the first power line VDL and the gate electrode of the driving transistor DT. That is, the gate electrode of the driving transistor DT may be connected to the first power line VDL through the capacitor C1.
이로써, 데이터 배선(DL)의 데이터 신호가 구동 트랜지스터(DT)의 제1 전극에 인가되면, 구동 트랜지스터(DT)는 데이터 신호에 대응하는 드레인-소스 간 전류를 발생시킨다. 구동 트랜지스터(DT)의 드레인-소스 간 전류는 발광 소자(LEL)의 구동 전류로 공급된다.Accordingly, when the data signal of the data line DL is applied to the first electrode of the driving transistor DT, the driving transistor DT generates a drain-source current corresponding to the data signal. The current between the drain and source of the driving transistor (DT) is supplied as the driving current of the light emitting element (LEL).
발광 소자(LEL)는 구동 트랜지스터(DT)에 의한 구동 전류에 대응하는 휘도의 광을 방출한다.The light emitting element (LEL) emits light with a brightness corresponding to the driving current by the driving transistor (DT).
발광 소자(LEL)는 상호 마주하는 애노드 전극(도 10의 AND)과 캐소드 전극(도 10의 CTD), 및 애노드 전극(AND)과 캐소드 전극(CTD) 사이의 발광층(도 10의 EML)을 포함할 수 있다.The light emitting element (LEL) includes an anode electrode (AND in Figure 10) and a cathode electrode (CTD in Figure 10) facing each other, and a light emitting layer (EML in Figure 10) between the anode electrode (AND) and the cathode electrode (CTD). can do.
일 예로, 발광 소자(LEL)는 유기발광재료로 이루어진 발광층을 구비한 유기 발광 다이오드일 수 있다. 또는, 발광소자(LEL)는 무기 반도체로 이루어진 발광층을 구비한 무기 발광 소자일 수 있다. 또는, 발광소자(LEL)은 양자점 발광층을 구비한 양자점 발광 소자일 수 있다. 또는, 발광소자(LEL)는 마이크로 발광 다이오드(micro light emitting diode)일 수 있다.As an example, the light emitting element (LEL) may be an organic light emitting diode having a light emitting layer made of an organic light emitting material. Alternatively, the light emitting device (LEL) may be an inorganic light emitting device having a light emitting layer made of an inorganic semiconductor. Alternatively, the light emitting device (LEL) may be a quantum dot light emitting device having a quantum dot light emitting layer. Alternatively, the light emitting element (LEL) may be a micro light emitting diode.
발광소자(LEL)와 병렬로 연결되는 커패시터(Cel)는 애노드 전극과 캐소드 전극 사이의 기생용량이다.The capacitor (Cel) connected in parallel with the light emitting element (LEL) is a parasitic capacitance between the anode and cathode electrodes.
제1 트랜지스터(ST1)는 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극과 구동 트랜지스터(DT)의 제2 전극 사이에 연결된다. The first transistor ST1 is connected between the gate electrode of the driving transistor DT and the second electrode of the driving transistor DT.
제2 트랜지스터(ST2)는 구동 트랜지스터(DT)의 제1 전극과 데이터 배선(DL) 사이에 연결된다.The second transistor ST2 is connected between the first electrode of the driving transistor DT and the data line DL.
제1 트랜지스터(ST1) 및 제2 트랜지스터(ST2) 각각의 게이트 전극은 기입 스캔 배선(GWL)에 연결된다.The gate electrodes of each of the first transistor (ST1) and the second transistor (ST2) are connected to the write scan line (GWL).
기입 스캔 배선(GWL)을 통해 기입 스캔 신호가 공급되면, 제1 트랜지스터(ST1) 및 제2 트랜지스터(ST2)가 턴온되고, 턴온된 제1 트랜지스터(ST1)를 통해 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극과 제2 전극이 동전위가 된다. 그리고, 턴온된 제2 트랜지스터(ST2)를 통해 데이터 배선(DL)의 데이터신호가 구동 트랜지스터(DT)의 제1 전극으로 공급된다.When a write scan signal is supplied through the write scan line (GWL), the first transistor (ST1) and the second transistor (ST2) are turned on, and the gate electrode of the driving transistor (DT) is turned on through the turned-on first transistor (ST1). and the second electrode are at the same potential. Then, the data signal of the data line DL is supplied to the first electrode of the driving transistor DT through the turned-on second transistor ST2.
이때, 구동 트랜지스터(DT) 중 제1 전극과 게이트 전극 간의 전압차가 문턱전압보다 커지면, 구동 트랜지스터(DT)가 턴온하여 구동 트랜지스터(DT)의 제1 전극과 제2 전극 사이에 드레인-소스간 전류가 발생될 수 있다.At this time, when the voltage difference between the first electrode and the gate electrode of the driving transistor (DT) becomes greater than the threshold voltage, the driving transistor (DT) turns on to generate a drain-source current between the first and second electrodes of the driving transistor (DT). may occur.
제3 트랜지스터(ST3)는 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극과 게이트 초기화 전압 배선(VGIL) 사이에 연결된다. 제3 트랜지스터(ST3)의 게이트 전극은 초기화 스캔 배선(GIL)에 연결된다.The third transistor ST3 is connected between the gate electrode of the driving transistor DT and the gate initialization voltage line VGIL. The gate electrode of the third transistor ST3 is connected to the initialization scan line GIL.
초기화 스캔 배선(GIL)을 통해 초기화 스캔 신호가 공급되면, 제3 트랜지스터(ST3)가 턴온한다. 이때, 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극은 턴온된 제3 트랜지스터(ST3)을 통해 게이트 초기화 전압 배선(VGIL)과 연결됨으로써, 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극의 전위가 게이트 초기화 전압 배선(VGIL)의 제1 초기화 전압으로 초기화된다. When an initialization scan signal is supplied through the initialization scan line (GIL), the third transistor (ST3) is turned on. At this time, the gate electrode of the driving transistor DT is connected to the gate initialization voltage line VGIL through the turned-on third transistor ST3, so that the potential of the gate electrode of the driving transistor DT is equal to the gate initialization voltage line VGIL. It is initialized to the first initialization voltage of .
제4 트랜지스터(ST4)는 발광 소자(LEL)의 애노드 전극과 애노드 초기화 전압 배선(VAIL) 사이에 연결된다. 제4 트랜지스터(ST4)의 게이트 전극은 제어 스캔 배선(GCL)에 연결된다.The fourth transistor ST4 is connected between the anode electrode of the light emitting element LEL and the anode initialization voltage line VAIL. The gate electrode of the fourth transistor ST4 is connected to the control scan line GCL.
제어 스캔 배선(GCL)을 통해 제어 스캔 신호가 공급되면, 제4 트랜지스터(ST4)가 턴온한다. 이때, 발광 소자(LEL)의 애노드 전극은 턴온된 제4 트랜지스터(ST4)를 통해 애노드 초기화 전압 배선(VAIL)에 연결됨으로써, 발광 소자(LEL)의 애노드 전극의 전위가 애노드 초기화 전압 배선(VAIL)의 제2 초기화 전압으로 초기화된다.When the control scan signal is supplied through the control scan line (GCL), the fourth transistor (ST4) is turned on. At this time, the anode electrode of the light emitting device (LEL) is connected to the anode initialization voltage line (VAIL) through the turned-on fourth transistor (ST4), so that the potential of the anode electrode of the light emitting device (LEL) is equal to the anode initialization voltage line (VAIL). It is initialized with the second initialization voltage of .
제5 트랜지스터(ST5)는 구동 트랜지스터(DT)의 제1 전극과 제1 전원 배선(VDL) 사이에 연결된다.The fifth transistor ST5 is connected between the first electrode of the driving transistor DT and the first power line VDL.
제6 트랜지스터(ST6)는 구동 트랜지스터(DT)의 제2 전극과 발광 소자(LEL)의 애노드 전극 사이에 연결된다. The sixth transistor ST6 is connected between the second electrode of the driving transistor DT and the anode electrode of the light emitting element LEL.
제5 트랜지스터(ST5)와 제6 트랜지스터(ST6) 각각의 게이트 전극은 발광 제어 배선(ECL)에 연결된다.The gate electrodes of each of the fifth transistor (ST5) and sixth transistor (ST6) are connected to the emission control line (ECL).
발광 제어 배선(ECL)을 통해 발광 제어 신호가 공급되면, 제1 전원 배선(VDL)과 제2 전원 배선(VSL) 사이에 구동 트랜지스터(DT)와 발광 소자(LEL)가 직렬로 연결됨으로써, 발광 소자(LEL)는 구동 트랜지스터(DT)에 의한 구동 전류에 기초하여 광을 방출한다. When a light emission control signal is supplied through the light emission control line (ECL), the driving transistor (DT) and the light emitting element (LEL) are connected in series between the first power line (VDL) and the second power line (VSL), thereby emitting light. The element LEL emits light based on the driving current by the driving transistor DT.
도 6의 도시와 같이, 화소 구동부(PXD)에 구비된 구동 트랜지스터(DT) 및 적어도 하나의 스위치 소자들(ST1~6)은 모두 P 타입 MOSFET으로 마련될 수 있다. As shown in FIG. 6, the driving transistor DT and at least one switch element ST1 to 6 provided in the pixel driver PXD may all be provided as P-type MOSFETs.
이 경우 스캔 배선들(GWL, GIL, GCL, ECL)은 모두 로우 레벨의 턴온 신호를 공급할 수 있다.In this case, all scan wires (GWL, GIL, GCL, ECL) can supply a low-level turn-on signal.
또는, 도 6의 도시와 달리, 화소 구동부(PXD)에 구비된 구동 트랜지스터(DT) 및 적어도 하나의 스위치 소자들(ST1~6) 중 일부는 P 타입 MOSFET으로 마련되고, 다른 나머지 일부는 N 타입 MOSFET으로 마련될 수 있다. 이와 같이 하면, P 타입 MOSFET으로 마련되는 스위칭 소자들과 N 타입 MOSFET으로 마련되는 스위칭 소자들이 서로 다른 반도체 재료의 액티브층을 포함할 수 있다. 그러므로, 적층 구조를 통해 화소 구동부(PXD)의 너비가 축소될 수 있으며, 그로 인해 해상도 향상에 유리해질 수 있다.Alternatively, unlike the illustration in FIG. 6, some of the driving transistor DT and at least one switch element ST1 to 6 provided in the pixel driver PXD are P-type MOSFETs, and the remaining portions are N-type MOSFETs. It can be prepared with MOSFET. In this way, the switching elements provided as P-type MOSFETs and the switching elements provided as N-type MOSFETs may include active layers of different semiconductor materials. Therefore, the width of the pixel driver (PXD) can be reduced through the stacked structure, which can be advantageous in improving resolution.
일 예로, 도 7의 도시와 같이, 다른 일 예시의 화소 구동부(PXD)는 구동 트랜지스터(DT)와 적어도 하나의 스위치 소자들(ST1~6)을 포함하되, 이들 중 구동 트랜지스터(DT), 제2 트랜지스터(ST2), 제4 트랜지스터(ST4), 제5 트랜지스터(ST5) 및 제6 트랜지스터(ST6)은 폴리 실리콘 반도체 재료의 액티브층을 구비한 P 타입 MOSFET으로 마련되고, 제1 트랜지스터(ST1)와 제3 트랜지스터(ST3)는 산화물 반도체 재료의 액티브층을 구비한 N 타입 MOSFET으로 마련될 수 있다.For example, as shown in FIG. 7, the pixel driver PXD of another example includes a driving transistor DT and at least one switch element ST1 to 6, of which the driving transistor DT, The second transistor (ST2), the fourth transistor (ST4), the fifth transistor (ST5), and the sixth transistor (ST6) are provided as P-type MOSFETs with an active layer of polysilicon semiconductor material, and the first transistor (ST1) and the third transistor ST3 may be prepared as an N-type MOSFET with an active layer of an oxide semiconductor material.
이 경우, 제1 트랜지스터(ST1)는 제2 트랜지스터(ST2)와 달리, 하이 레벨의 턴온 신호에 의해 턴온되므로, 제1 트랜지스터(ST1)의 게이트 전극은 기입 스캔 배선(GWL)이 아니라, 별도의 부가 기입 스캔 배선(GWL')에 연결될 수 있다. In this case, unlike the second transistor ST2, the first transistor ST1 is turned on by a high-level turn-on signal, so the gate electrode of the first transistor ST1 is not the write scan line GWL, but a separate It may be connected to an additional write scan line (GWL').
또는, 별도로 도시하지 않으나, 또 다른 예시에 따르면, 스위치 소자들(ST1~6) 중 제1 트랜지스터(ST1)와 제3 트랜지스터(ST3) 뿐만 아니라, 제4 트랜지스터(ST4) 또한 N 타입 MOSFET으로 마련될 수 있다. 이 경우, 제어 스캔 배선(GCL)은 하이 레벨의 턴온 신호를 전달할 수 있다.Alternatively, although not separately shown, according to another example, not only the first transistor (ST1) and the third transistor (ST3) among the switch elements (ST1 to 6), but also the fourth transistor (ST4) is provided as an N-type MOSFET. It can be. In this case, the control scan line (GCL) can transmit a high-level turn-on signal.
도 8은 도 5의 이웃한 두 개의 화소 구동부 중 반도체층, 제1 도전층, 제2 도전층 및 제3 도전층에 대한 일 예시를 보여주는 평면도이다. 도 9는 이웃한 두 개의 화소 구동부에 대한 일 예시를 보여주는 평면도이다. 도 10은 도 8 및 도 9의 G-G'를 따라 절단한 면의 일 예시를 보여주는 단면도이다.FIG. 8 is a plan view showing an example of a semiconductor layer, a first conductive layer, a second conductive layer, and a third conductive layer among two neighboring pixel drivers of FIG. 5 . Figure 9 is a plan view showing an example of two adjacent pixel drivers. FIG. 10 is a cross-sectional view showing an example of a surface cut along line G-G' of FIGS. 8 and 9.
먼저, 도 10을 참조하면, 일 실시예에 따른 표시 장치(10)의 회로 어레이층(120)은 기판(110) 상의 반도체층(도 8의 SEL), 반도체층(SEL)을 덮는 제1 게이트 절연층(도 10의 122) 상의 제1 도전층(도 8의 CDL1), 제1 도전층(CDL1)을 덮는 제2 게이트 절연층(도 10의 123) 상의 제2 도전층(도 8의 CDL2), 제2 도전층(CDL2)을 덮는 층간 절연층(도 10의 124) 상의 제3 도전층(도 8의 CDL3), 제3 도전층(CDL3)을 덮는 제1 평탄화층(도 10의 125) 상의 제4 도전층(도 9의 CDL4), 제4 도전층(CDL4)을 덮는 제2 평탄화층(도 10의 126) 상의 제5 도전층(CDL5) 및, 제5 도전층(CDL5)을 덮는 제3 평탄화층(도 10의 127)을 포함한 구조로 마련될 수 있다.First, referring to FIG. 10, the
그리고, 발광 어레이층(130)은 제3 평탄화층(127) 상에 배치될 수 있다.And, the light emitting
도 8은 도 6의 등가 회로도에 따른 화소 구동부(PXD)의 반도체층(SEL), 제1 도전층(CDL1), 제2 도전층(CDL2) 및 제3 도전층(CDL3)을 도시하고, 도 9는 도 8과 더불어, 도 6의 등가 회로도에 따른 화소 구동부(PXD)의 제4 도전층(CDL4) 및 제5 도전층(CDL5)을 도시한다.FIG. 8 shows a semiconductor layer (SEL), a first conductive layer (CDL1), a second conductive layer (CDL2), and a third conductive layer (CDL3) of the pixel driver (PXD) according to the equivalent circuit diagram of FIG. 6. 9 shows the fourth conductive layer CDL4 and the fifth conductive layer CDL5 of the pixel driver PXD according to the equivalent circuit diagram of FIG. 6, along with FIG. 8.
도 8을 참조하면, 반도체층(SEL)은 구동 트랜지스터(DT) 및 제1 내지 제6 트랜지스터(ST1~6) 각각의 채널부(CHDT, CH1-1, CH1-2, CH2, CH3-1, CH3-2, CH4, CH5, CH6), 소스 전극(SDT, S1-1, S1-2, S2, S3-1, S3-2, S4, S5, S6) 및 드레인 전극(DDT, D1-1, D1-2, D2, D3-1, D3-2, D4, D5, D6)을 포함할 수 있다. Referring to FIG. 8, the semiconductor layer (SEL) is a driving transistor (DT) and the channel portions (CHDT, CH1-1, CH1-2, CH2, CH3-1, CH3-2, CH4, CH5, CH6), source electrodes (SDT, S1-1, S1-2, S2, S3-1, S3-2, S4, S5, S6) and drain electrodes (DDT, D1-1, D1-2, D2, D3-1, D3-2, D4, D5, D6).
제1 도전층(CDL1)은 구동 트랜지스터(DT) 및 제1 내지 제6 트랜지스터(ST1~6) 각각의 게이트 전극(GDT, G1-1, G1-2, G2, G3-1, G3-2, G4, G5, G6)을 포함할 수 있다.The first conductive layer (CDL1) is a gate electrode (GDT, G1-1, G1-2, G2, G3-1, G3-2, G4, G5, G6) may be included.
그리고, 제1 도전층(CDL1)은 제1 내지 제6 트랜지스터(ST1~6)의 게이트 전극(GDT, G1-1, G1-2, G2, G3-1, G3-2, G4, G5, G6)에 연결되는 스캔 배선들, 즉 기입 스캔 배선(GWL), 초기화 스캔 배선(GIL), 발광 제어 배선(ECL) 및 제어 스캔 배선(GCL)을 더 포함할 수 있다. 기입 스캔 배선(GWL), 초기화 스캔 배선(GIL), 발광 제어 배선(ECL) 및 제어 스캔 배선(GCL)은 제1 방향(DR1)으로 연장된다.And, the first conductive layer (CDL1) is the gate electrode (GDT, G1-1, G1-2, G2, G3-1, G3-2, G4, G5, G6) of the first to sixth transistors (ST1 to 6). ), that is, a write scan line (GWL), an initialization scan line (GIL), an emission control line (ECL), and a control scan line (GCL) connected to the line. The write scan line (GWL), the initialization scan line (GIL), the emission control line (ECL), and the control scan line (GCL) extend in the first direction DR1.
제2 도전층(CDL2)은 제3 트랜지스터(ST3)의 드레인 전극(D3-2)에 연결되고 제1 초기화 전압을 전달하는 게이트 초기화 전압 배선(VGIL), 및 제4 트랜지스터(ST4)의 드레인 전극(D4)에 연결되고 제2 초기화 전압을 전달하는 애노드 초기화 전압 배선(VAIL)을 포함할 수 있다. 게이트 초기화 전압 배선(VGIL) 및 애노드 초기화 전압 배선(VAIL)은 제1 방향(DR1)으로 연장될 수 있다.The second conductive layer (CDL2) is connected to the drain electrode (D3-2) of the third transistor (ST3), the gate initialization voltage line (VGIL) that transmits the first initialization voltage, and the drain electrode of the fourth transistor (ST4). It may include an anode initialization voltage line (VAIL) connected to (D4) and transmitting a second initialization voltage. The gate initialization voltage line VGIL and the anode initialization voltage line VAIL may extend in the first direction DR1.
제1 전원 배선(VDL)은 제1 방향(DR1)으로 연장되는 제1 전원 수평 보조 배선(VDSBL1)과, 제2 방향(DR2)으로 연장되는 제2 전원 수직 보조 배선(VDSBL2)을 포함할 수 있다. The first power line (VDL) may include a first power horizontal auxiliary line (VDSBL1) extending in the first direction (DR1) and a second power vertical auxiliary line (VDSBL2) extending in the second direction (DR2). there is.
제2 도전층(CDL2)은 제1 전원 수평 보조 배선(VDSBL1)을 더 포함할 수 있다.The second conductive layer (CDL2) may further include a first power horizontal auxiliary line (VDSBL1).
제3 도전층(CDL3)은 제2 전원 수직 보조 배선(VDSBL2)을 포함할 수 있다.The third conductive layer (CDL3) may include a second power vertical auxiliary line (VDSBL2).
제3 도전층(CDL3)은 게이트 초기화 전압 보조 배선(VGIAL) 및 애노드 초기화 전압 보조 배선(VAIAL)을 더 포함할 수 있다. The third conductive layer (CDL3) may further include a gate initialization voltage auxiliary line (VGIAL) and an anode initialization voltage auxiliary line (VAIAL).
게이트 초기화 전압 보조 배선(VGIAL)은 게이트 초기화 전압 배선(VGIL)과 전기적으로 연결되고 제2 방향(DR2)으로 연장될 수 있다. The gate initialization voltage auxiliary line (VGIAL) is electrically connected to the gate initialization voltage line (VGIL) and may extend in the second direction (DR2).
애노드 초기화 전압 보조 배선(VAIAL)은 애노드 초기화 전압 배선(VAIL)과 전기적으로 연결되고 제2 방향(DR2)으로 연장될 수 있다. The anode initialization voltage auxiliary wiring (VAIAL) may be electrically connected to the anode initialization voltage wiring (VAIL) and extend in the second direction (DR2).
제1 전원 수직 보조 배선(VDSBL2)은 제1 전원 수평 보조 배선(VDSBL1)과 전기적으로 연결될 수 있다.The first power vertical auxiliary wiring (VDSBL2) may be electrically connected to the first power horizontal auxiliary wiring (VDSBL1).
구체적으로, 구동 트랜지스터(DT)는 채널부(CHDT), 채널부(CHDT)의 양측에 이어지는 소스 전극(SDT)과 드레인 전극(DDT), 및 채널부(CHDT)에 중첩되는 게이트전극(DTG)을 포함할 수 있다.Specifically, the driving transistor (DT) includes a channel part (CHDT), a source electrode (SDT) and a drain electrode (DDT) connected to both sides of the channel part (CHDT), and a gate electrode (DTG) overlapping the channel part (CHDT). may include.
구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극(SDT)은 제2 트랜지스터(ST2)의 드레인 전극(D2)과 제5 트랜지스터(ST5)의 드레인 전극(D5)에 이어질 수 있다. The source electrode (SDT) of the driving transistor (DT) may be connected to the drain electrode (D2) of the second transistor (ST2) and the drain electrode (D5) of the fifth transistor (ST5).
구동 트랜지스터(DT)의 드레인 전극(DDT)은 제1-1 트랜지스터(ST1-1)의 소스 전극(S1-1)과 제6 트랜지스터(ST6)의 소스 전극(S6)에 이어질 수 있다.The drain electrode (DDT) of the driving transistor (DT) may be connected to the source electrode (S1-1) of the 1-1 transistor (ST1-1) and the source electrode (S6) of the sixth transistor (ST6).
구동 트랜지스터(DT)의 채널부(CHDT), 소스 전극(SDT) 및 드레인 전극(DDT)은 반도체층(SEL)으로 이루어질 수 있다. 소스 전극(SDT) 및 드레인 전극(DDT)은 반도체층(SEL) 중 반도체 재료에 이온 또는 불순물을 도핑하여 도전화시킨 부분으로 이루어질 수 있다.The channel portion (CHDT), source electrode (SDT), and drain electrode (DDT) of the driving transistor (DT) may be made of a semiconductor layer (SEL). The source electrode (SDT) and drain electrode (DDT) may be formed of a portion of the semiconductor layer (SEL) made conductive by doping ions or impurities into a semiconductor material.
구동 트랜지스터(DT)의 게이트전극(GDT)은 제1 도전층(CDL1)으로 마련될 수 있다.The gate electrode (GDT) of the driving transistor (DT) may be provided with the first conductive layer (CDL1).
제1 트랜지스터(ST1)는 상호 직렬 연결되는 제1-1 트랜지스터(ST1-1)와 제1-2 트랜지스터(ST1-2)를 포함할 수 있다.The first transistor ST1 may include a 1-1 transistor ST1-1 and a 1-2 transistor ST1-2 that are connected in series.
제1-1 트랜지스터(ST1-1)는 채널부(CH1-1), 채널부(CH1-1)의 양측에 이어지는 소스 전극(S1-1)과 드레인 전극(D1-1), 및 채널부(CH1-1)와 중첩되고 기입 스캔 배선(GWL)의 일부로 이루어진 게이트전극(G1-1)을 포함할 수 있다. The 1-1 transistor (ST1-1) includes a channel portion (CH1-1), a source electrode (S1-1) and a drain electrode (D1-1) connected to both sides of the channel portion (CH1-1), and a channel portion ( It may include a gate electrode (G1-1) that overlaps CH1-1) and is formed as part of the write scan line (GWL).
제1-1 트랜지스터(ST1-1)의 소스 전극(S1-1)은 구동 트랜지스터(DT)의 드레인 전극(DDT)에 이어질 수 있다.The source electrode (S1-1) of the 1-1 transistor (ST1-1) may be connected to the drain electrode (DDT) of the driving transistor (DT).
제1-1 트랜지스터(ST1-1)의 드레인 전극(D1-1)은 제1-2 트랜지스터(ST1-2)의 소스 전극(S1-2)에 이어질 수 있다.The drain electrode D1-1 of the 1-1 transistor ST1-1 may be connected to the source electrode S1-2 of the 1-2 transistor ST1-2.
제1-2 트랜지스터(ST1-2)는 채널부(CH1-2), 채널부(CH1-2)의 양측에 연결되는 소스 전극(S1-2)과 드레인 전극(D1-2), 및 채널부(CH1-2)와 중첩되고 기입 스캔 배선(GWL)의 돌출부로 이루어진 게이트전극(G1-2)을 포함할 수 있다.The 1-2 transistor (ST1-2) includes a channel unit (CH1-2), a source electrode (S1-2) and a drain electrode (D1-2) connected to both sides of the channel unit (CH1-2), and a channel unit. It may include a gate electrode (G1-2) that overlaps (CH1-2) and consists of a protrusion of the write scan line (GWL).
제1-2 트랜지스터(ST1-2)의 소스 전극(S1-2)은 제1-1 트랜지스터(ST1-1)의 드레인 전극(D1-1)에 이어질 수 있다.The source electrode (S1-2) of the 1-2 transistor (ST1-2) may be connected to the drain electrode (D1-1) of the 1-1 transistor (ST1-1).
제1-2 트랜지스터(ST1-2)의 드레인 전극(D1-2)은 제3-1 트랜지스터(ST3-1)의 소스 전극(S3-1)에 이어질 수 있다.The drain electrode (D1-2) of the 1-2 transistor (ST1-2) may be connected to the source electrode (S3-1) of the 3-1 transistor (ST3-1).
제1-1 트랜지스터(ST1-1)의 채널부(CH1-1), 소스 전극(S1-1) 및 드레인 전극(D1-1)과, 제1-2 트랜지스터(ST1-2)의 채널부(CH1-2), 소스 전극(S1-2) 및 드레인 전극(D1-2)은 반도체층(SEL)으로 마련될 수 있다. 제1-1 트랜지스터(ST1-1) 및 제1-2 트랜지스터(ST1-2) 각각의 소스 전극(S1-1, S1-2) 및 드레인 전극(D1-1, D1-2)은 반도체층(SEL) 중 반도체 재료에 이온 또는 불순물을 도핑하여 도전화시킨 부분으로 이루어질 수 있다.The channel portion (CH1-1), the source electrode (S1-1), and the drain electrode (D1-1) of the 1-1 transistor (ST1-1), and the channel portion ( CH1-2), the source electrode (S1-2), and the drain electrode (D1-2) may be provided as a semiconductor layer (SEL). The source electrodes (S1-1, S1-2) and drain electrodes (D1-1, D1-2) of each of the 1-1 transistor (ST1-1) and the 1-2 transistor (ST1-2) are formed by a semiconductor layer ( Among SELs, it may be made up of a part that is made conductive by doping ions or impurities into a semiconductor material.
제1-1 트랜지스터(ST1-1) 및 제1-2 트랜지스터(ST1-2) 각각의 게이트전극(G1-1, G1-2)은 제1 도전층(CDL1)으로 마련된 기입 스캔 배선(GWL)의 서로 다른 일부로 각각 이루어질 수 있다.The gate electrodes (G1-1, G1-2) of each of the 1-1 transistor (ST1-1) and the 1-2 transistor (ST1-2) are connected to the write scan line (GWL) provided with the first conductive layer (CDL1). Each may be made up of different parts of .
구동 트랜지스터(DT)의 게이트전극(DTG)은 제1 콘택홀(CT1)을 통해 제1 연결 전극(CE1)에 연결되고, 제1 연결 전극(CE1)은 제2 콘택홀(CT2)을 통해 제1-2 트랜지스터(ST1-2)의 드레인 전극(D1-2)에 연결될 수 있다.The gate electrode (DTG) of the driving transistor (DT) is connected to the first connection electrode (CE1) through the first contact hole (CT1), and the first connection electrode (CE1) is connected to the first connection electrode (CE1) through the second contact hole (CT2). 1-2 It can be connected to the drain electrode (D1-2) of the transistor (ST1-2).
제1 연결 전극(CE1)은 제3 도전층(CDL3)으로 이루어질 수 있다.The first connection electrode (CE1) may be made of a third conductive layer (CDL3).
제2 트랜지스터(ST2)는 채널부(CH2), 채널부(CH2)의 양측에 연결되는 소스 전극(S2)과 드레인 전극(D2), 및 채널부(CH2)와 중첩되고 기입 스캔 배선(GWL)의 다른 일부로 이루어진 게이트전극(G2)을 포함할 수 있다.The second transistor (ST2) overlaps the channel portion (CH2), the source electrode (S2) and drain electrode (D2) connected to both sides of the channel portion (CH2), and the channel portion (CH2) and writes scan wiring (GWL). It may include a gate electrode (G2) made of another part of.
제2 트랜지스터(ST2)의 소스 전극(S2)은 제4 콘택홀(CT4)을 통해 제2 연결 전극(CE2)에 연결될 수 있다. The source electrode S2 of the second transistor ST2 may be connected to the second connection electrode CE2 through the fourth contact hole CT4.
제2 트랜지스터(ST2)의 드레인 전극(D2)은 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극(SDT) 및 제5 트랜지스터(ST5)의 드레인 전극(D5)에 이어질 수 있다.The drain electrode D2 of the second transistor ST2 may be connected to the source electrode SDT of the driving transistor DT and the drain electrode D5 of the fifth transistor ST5.
제2 트랜지스터(ST2)의 채널부(CH2), 소스 전극(S2) 및 드레인 전극(D2)은 반도체층(SEL)으로 이루어질 수 있다. 소스 전극(S2) 및 드레인 전극(D2)은 반도체층(SEL) 중 반도체 재료에 이온 또는 불순물을 도핑하여 도전화시킨 부분으로 이루어질 수 있다.The channel portion (CH2), source electrode (S2), and drain electrode (D2) of the second transistor (ST2) may be made of a semiconductor layer (SEL). The source electrode S2 and the drain electrode D2 may be formed of a portion of the semiconductor layer SEL made conductive by doping ions or impurities into a semiconductor material.
제2 트랜지스터(ST2)의 게이트전극(G2)은 제1 도전층(CDL1)으로 마련된 기입 스캔 배선(GWL)의 일부로 이루어질 수 있다.The gate electrode G2 of the second transistor ST2 may be formed as a part of the write scan line GWL provided with the first conductive layer CDL1.
제2 연결 전극(CE2)은 제3 도전층(CDL3)으로 마련될 수 있다.The second connection electrode (CE2) may be formed of the third conductive layer (CDL3).
제3 트랜지스터(ST3)는 상호 직렬 연결되는 제3-1 트랜지스터(ST3-1)와 제3-2 트랜지스터(ST3-2)를 포함할 수 있다.The third transistor ST3 may include a 3-1 transistor (ST3-1) and a 3-2 transistor (ST3-2) connected in series with each other.
제3-1 트랜지스터(ST3)는 채널부(CH3-1), 채널부(CH3-1)의 양측에 이어지는 소스 전극(S3-1)과 드레인 전극(D3-1), 및 채널부(CH3-1)와 중첩되는 게이트전극(G3-1)을 포함할 수 있다.The 3-1 transistor (ST3) includes a channel portion (CH3-1), a source electrode (S3-1) and a drain electrode (D3-1) connected to both sides of the channel portion (CH3-1), and a channel portion (CH3-1). It may include a gate electrode (G3-1) overlapping with 1).
제3-1 트랜지스터(ST3-1)의 소스 전극(S3-1)은 제1-2 트랜지스터(ST1-2)의 드레인 전극(D1-2)에 이어질 수 있다.The source electrode (S3-1) of the 3-1 transistor (ST3-1) may be connected to the drain electrode (D1-2) of the 1-2 transistor (ST1-2).
제3-1 트랜지스터(ST3-1)의 드레인 전극(D3-1)은 제3-2 트랜지스터(ST3-2)의 소스 전극(S3-2)에 이어질 수 있다.The drain electrode (D3-1) of the 3-1 transistor (ST3-1) may be connected to the source electrode (S3-2) of the 3-2 transistor (ST3-2).
제3-2 트랜지스터(ST3-2)는 채널부(CH3-2), 채널부(CH3-2)의 양측에 연결되는 소스 전극(S3-2)과 드레인 전극(D3-2), 및 채널부(CH3-2)와 중첩되는 게이트전극(G3-2)을 포함할 수 있다.The 3-2 transistor (ST3-2) includes a channel unit (CH3-2), a source electrode (S3-2) and a drain electrode (D3-2) connected to both sides of the channel unit (CH3-2), and a channel unit. It may include a gate electrode (G3-2) overlapping with (CH3-2).
제3-2 트랜지스터(ST3-2)의 드레인 전극(D3-2)은 제2 초기화 콘택홀(VICH2)을 통해 게이트 초기화 보조 배선(VGIAL)에 연결될 수 있다. The drain electrode (D3-2) of the 3-2 transistor (ST3-2) may be connected to the gate initialization auxiliary wiring (VGIAL) through the second initialization contact hole (VICH2).
제3-1 트랜지스터(ST3-1)의 채널부(CH3-1), 소스 전극(S3-1) 및 드레인 전극(D3-1)과, 제3-2 트랜지스터(ST3-2)의 채널부(CH3-2), 소스 전극(S3-2) 및 드레인 전극(D3-2)은 반도체층(SEL)으로 이루어질 수 있다. 제3-1 트랜지스터(ST3-1) 및 제3-2 트랜지스터(ST3-2) 각각의 소스 전극(S3-1, S3-2) 및 드레인 전극(D3-1, D3-2)은 반도체층(SEL) 중 반도체 재료에 이온 또는 불순물을 도핑하여 도전화시킨 부분으로 이루어질 수 있다.The channel portion (CH3-1), the source electrode (S3-1), and the drain electrode (D3-1) of the 3-1 transistor (ST3-1), and the channel portion ( CH3-2), the source electrode (S3-2), and the drain electrode (D3-2) may be made of a semiconductor layer (SEL). The source electrodes (S3-1, S3-2) and drain electrodes (D3-1, D3-2) of each of the 3-1 transistor (ST3-1) and the 3-2 transistor (ST3-2) are formed by a semiconductor layer ( Among SELs, it may be made up of a part that is made conductive by doping ions or impurities into a semiconductor material.
제3-1 트랜지스터(ST3-1) 및 제3-2 트랜지스터(ST3-2) 각각의 게이트전극(G3-1, G3-2)은 제1 도전층(CDL1)으로 마련된 초기화 스캔 배선(GIL)의 서로 다른 일부로 각각 이루어질 수 있다.The gate electrodes (G3-1, G3-2) of each of the 3-1 transistor (ST3-1) and the 3-2 transistor (ST3-2) are connected to an initialization scan line (GIL) formed of the first conductive layer (CDL1). Each may be made up of different parts of .
회로 어레이층(120)은 제3-2 트랜지스터(ST3-2)의 소스 전극(S3-1)의 적어도 일부와 중첩하는 차폐전극(SHE)을 더 포함할 수 있다.The
차폐전극(SHE)은 제2 도전층(CDL2)으로 마련될 수 있다.The shielding electrode (SHE) may be provided as a second conductive layer (CDL2).
차폐전극(SHE)은 제3 콘택홀(CT3)을 통해 제1 전원 수직 보조 배선(VDSBL2)에 연결될 수 있다.The shielding electrode (SHE) may be connected to the first power vertical auxiliary wiring (VDSBL2) through the third contact hole (CT3).
차폐전극(SHE)은 제1-1 트랜지스터(ST1-1)의 드레인 전극(D1-1)의 일부와 더 중첩될 수 있다. The shielding electrode (SHE) may further overlap a portion of the drain electrode (D1-1) of the 1-1 transistor (ST1-1).
제1 전원 수직 보조 배선(VDSBL2)은 제5 콘택홀(CT5)을 통해 제1 전원 수평 보조 배선(VDSBL1)에 연결될 수 있다.The first power vertical auxiliary wiring (VDSBL2) may be connected to the first power horizontal auxiliary wiring (VDSBL1) through the fifth contact hole (CT5).
제4 트랜지스터(ST4)는 채널부(CH4), 채널부(CH4)의 양측에 연결되는 소스 전극(S4)과 드레인 전극(D4), 및 채널부(CH4)와 중첩되고 제어 스캔 배선(GCL)의 일부로 이루어진 게이트전극(G4)을 포함할 수 있다.The fourth transistor (ST4) overlaps the channel portion (CH4), the source electrode (S4) and drain electrode (D4) connected to both sides of the channel portion (CH4), and the channel portion (CH4) and the control scan line (GCL). It may include a gate electrode (G4) made up of a portion of.
제4 트랜지스터(ST4)의 소스 전극(S4)은 제6 트랜지스터(ST6)의 드레인 전극(D6)과 이어질 수 있다.The source electrode S4 of the fourth transistor ST4 may be connected to the drain electrode D6 of the sixth transistor ST6.
제4 트랜지스터(ST4)의 드레인 전극(D4)은 제4 초기화 콘택홀(VACH2)을 통해 애노드 초기화 보조 배선(VAIAL)에 연결될 수 있다. The drain electrode D4 of the fourth transistor ST4 may be connected to the anode initialization auxiliary wiring VAIAL through the fourth initialization contact hole VACH2.
제4 트랜지스터(ST4)의 채널부(CH4), 소스 전극(S4) 및 드레인 전극(D4)은 반도체층(SEL)으로 이루어질 수 있다. 소스 전극(S4) 및 드레인 전극(D4)은 반도체층(SEL) 중 반도체 재료에 이온 또는 불순물을 도핑하여 도전화시킨 부분으로 이루어질 수 있다.The channel portion (CH4), source electrode (S4), and drain electrode (D4) of the fourth transistor (ST4) may be made of a semiconductor layer (SEL). The source electrode S4 and the drain electrode D4 may be formed of a portion of the semiconductor layer SEL made conductive by doping ions or impurities into a semiconductor material.
제4 트랜지스터(ST4)의 게이트전극(G4)은 제1 도전층(CDL1)으로 마련된 제어 스캔 배선(GCL)의 일부로 이루어질 수 있다.The gate electrode (G4) of the fourth transistor (ST4) may be formed as a part of the control scan line (GCL) provided with the first conductive layer (CDL1).
제5 트랜지스터(ST5)는 채널부(CH5), 채널부(CH5)의 양측에 연결되는 소스 전극(S5)과 드레인 전극(D5), 및 채널부(CH5)와 중첩되고 발광 제어 배선(ECL)의 일부로 이루어진 게이트전극(G5)을 포함할 수 있다.The fifth transistor (ST5) overlaps the channel portion (CH5), the source electrode (S5) and drain electrode (D5) connected to both sides of the channel portion (CH5), and the channel portion (CH5) and has an emission control line (ECL). It may include a gate electrode (G5) made up of a portion of.
제5 트랜지스터(ST5)의 소스 전극(S5)은 제6 콘택홀(CT6)을 통해 제1 전원 수직 보조 배선(VDSBL2)에 연결될 수 있다.The source electrode S5 of the fifth transistor ST5 may be connected to the first power vertical auxiliary line VDSBL2 through the sixth contact hole CT6.
제5 트랜지스터(ST5)의 드레인 전극(D5)은 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극(SDT)에 이어질 수 있다.The drain electrode D5 of the fifth transistor ST5 may be connected to the source electrode SDT of the driving transistor DT.
제6 트랜지스터(ST6)는 채널부(CH6), 채널부(CH6)의 양측에 연결되는 소스 전극(S6)과 드레인 전극(D6), 및 채널부(CH6)와 중첩되고 발광 제어 배선(ECL)의 다른 일부로 이루어진 게이트전극(G6)을 포함할 수 있다.The sixth transistor (ST6) overlaps the channel portion (CH6), the source electrode (S6) and drain electrode (D6) connected to both sides of the channel portion (CH6), and the channel portion (CH6) and has an emission control line (ECL). It may include a gate electrode (G6) made up of another part of.
제6 트랜지스터(ST6)의 소스 전극(S6)은 구동 트랜지스터(DT)의 드레인 전극(DDT)에 연결될 수 있다. The source electrode S6 of the sixth transistor ST6 may be connected to the drain electrode DDT of the driving transistor DT.
제6 트랜지스터(ST6)의 드레인 전극(D6)은 제4 트랜지스터(ST4)의 소스 전극(S4)에 이어지고, 제7 콘택홀(CT7)을 통해 제3 연결 전극(CE3)에 연결될 수 있다. The drain electrode D6 of the sixth transistor ST6 is connected to the source electrode S4 of the fourth transistor ST4 and can be connected to the third connection electrode CE3 through the seventh contact hole CT7.
제3 연결 전극(CE3)은 제3 도전층(CDL3)으로 이루어질 수 있다.The third connection electrode (CE3) may be made of a third conductive layer (CDL3).
제5 트랜지스터(ST4)의 채널부(CH5), 소스 전극(S5) 및 드레인 전극(D5)은 반도체층(SEL)으로 이루어질 수 있다. 소스 전극(S5) 및 드레인 전극(D5)은 반도체층(SEL) 중 반도체 재료에 이온 또는 불순물을 도핑하여 도전화시킨 부분으로 이루어질 수 있다.The channel portion (CH5), source electrode (S5), and drain electrode (D5) of the fifth transistor (ST4) may be made of a semiconductor layer (SEL). The source electrode S5 and the drain electrode D5 may be formed of a portion of the semiconductor layer SEL made conductive by doping ions or impurities into a semiconductor material.
제6 트랜지스터(ST6)의 채널부(CH6), 소스 전극(S6) 및 드레인 전극(D6)은 반도체층(SEL)으로 이루어질 수 있다. 소스 전극(S6) 및 드레인 전극(D6)은 반도체층(SEL) 중 반도체 재료에 이온 또는 불순물을 도핑하여 도전화시킨 부분으로 이루어질 수 있다.The channel portion (CH6), source electrode (S6), and drain electrode (D6) of the sixth transistor (ST6) may be made of a semiconductor layer (SEL). The source electrode S6 and the drain electrode D6 may be formed of a portion of the semiconductor layer SEL made conductive by doping ions or impurities into a semiconductor material.
제5 트랜지스터(ST5) 및 제6 트랜지스터(ST6) 각각의 게이트전극(G5, G6)은 제1 도전층(CDL1)으로 마련된 발광 제어 배선(ECL)의 서로 다른 일부로 각각 이루어질 수 있다.The gate electrodes G5 and G6 of each of the fifth transistor ST5 and ST6 may be formed as different parts of the emission control line ECL formed of the first conductive layer CDL1.
커패시터(C1)는 제1 커패시터 전극(CAE1)과 제2 커패시터 전극(CAE2) 간의 중첩으로 마련될 수 있다. The capacitor C1 may be provided by overlapping the first capacitor electrode CAE1 and the second capacitor electrode CAE2.
여기서, 제1 커패시터 전극(CAE1)은 제1 도전층(CDL1)으로 마련된 구동 트랜지스터(DT)의 게이트전극(GDT)의 일부로 이루어질 수 있다. Here, the first capacitor electrode CAE1 may be formed as a part of the gate electrode GDT of the driving transistor DT provided with the first conductive layer CDL1.
제2 커패시터 전극(CAE2)은 제2 도전층(CDL2)으로 마련된 제1 전원 수평 보조 배선(VDSBL1)의 일부로 이루어질 수 있다. The second capacitor electrode CAE2 may be formed as a part of the first power horizontal auxiliary line VDSBL1 provided with the second conductive layer CDL2.
제2 연결 전극(CE2)은 제4 콘택홀(CT4)을 통해 제2 트랜지스터(ST2)의 소스 전극(S2)에 연결된다. The second connection electrode CE2 is connected to the source electrode S2 of the second transistor ST2 through the fourth contact hole CT4.
도 9를 참조하면, 제2 우회 배선(DETL2), 제2 더미 배선(DML2), 제1 전원 보조 배선(VDAL) 및 제2 전원 서브 배선(VSSBL) 각각은 제1 방향(DR1)으로 연장되고 제4 도전층(CDL4)으로 마련될 수 있다.Referring to FIG. 9, the second bypass line (DETL2), the second dummy line (DML2), the first power auxiliary line (VDAL), and the second power sub line (VSSBL) each extend in the first direction (DR1) It may be provided as a fourth conductive layer (CDL4).
그리고, 데이터 배선(DL), 제1 우회 배선(DETL1), 제3 우회 배선(DELT3), 제1 더미 배선(DML1) 및 제2 전원 보조 배선(VSAL) 각각은 제2 방향(DR2)으로 연장되고 제5 도전층(CDL5)으로 마련될 수 있다. And, each of the data wire (DL), the first bypass wire (DETL1), the third bypass wire (DELT3), the first dummy wire (DML1), and the second power auxiliary wire (VSAL) extends in the second direction (DR2). and can be provided as a fifth conductive layer (CDL5).
제4 연결 전극(CE4)은 제4 도전층(CDL4)으로 마련되고, 제10 콘택홀(CT10)을 통해 제2 연결 전극(CE2)에 연결될 수 있다. The fourth connection electrode (CE4) is made of the fourth conductive layer (CDL4) and may be connected to the second connection electrode (CE2) through the tenth contact hole (CT10).
제5 도전층(CDL5)으로 마련된 데이터 배선(DL)은 제11 콘택홀(CT11)을 통해 제4 연결 전극(CE4)에 연결될 수 있다.The data line DL formed of the fifth conductive layer CDL5 may be connected to the fourth connection electrode CE4 through the eleventh contact hole CT11.
이로써, 제2 트랜지스터(ST2)의 소스전극(S2)은 제2 연결 전극(CE2) 및 제4 연결 전극(CE4)을 통해 데이터 배선(DL)에 연결될 수 있다.Accordingly, the source electrode S2 of the second transistor ST2 may be connected to the data line DL through the second connection electrode CE2 and the fourth connection electrode CE4.
제1 전원 보조 배선(VDAL)은 제12 콘택홀(CT12)을 통해 제3 도전층(CDL3)의 제1 전원 수직 보조 배선(VDSBL2)과 전기적으로 연결될 수 있다. The first power auxiliary line VDAL may be electrically connected to the first power vertical auxiliary line VDSBL2 of the third conductive layer CDL3 through the twelfth contact hole CT12.
도 8의 도시와 같이, 제3 도전층(CDL3)으로 마련된 제3 연결 전극(CE3)은 제7 콘택홀(CT7)을 통해 반도체층(SEL)으로 마련된 제4 트랜지스터(ST4)의 소스전극(S4) 및 제6 트랜지스터(ST6)의 드레인전극(D6)에 연결된다.As shown in FIG. 8, the third connection electrode (CE3) made of the third conductive layer (CDL3) is connected to the source electrode (ST4) of the fourth transistor (ST4) made of the semiconductor layer (SEL) through the seventh contact hole (CT7). S4) and the drain electrode (D6) of the sixth transistor (ST6).
도 9의 도시와 같이, 제4 도전층(CDL4)으로 마련된 제5 연결 전극(CE5)은 제8 콘택홀(CT8)을 통해 제3 연결 전극(CE3)과 연결될 수 있다. As shown in FIG. 9 , the fifth connection electrode CE5 formed of the fourth conductive layer CDL4 may be connected to the third connection electrode CE3 through the eighth contact hole CT8.
제5 도전층(CDL5)으로 마련된 제6 연결 전극(CE6)은 제9 콘택홀(CT9)을 통해 제5 연결 전극(CE5)에 연결될 수 있다. The sixth connection electrode CE6 made of the fifth conductive layer CDL5 may be connected to the fifth connection electrode CE5 through the ninth contact hole CT9.
이로써, 제6 연결 전극(CE6)은 제3 연결 전극(CE5) 및 제5 연결 전극(CE5)을 통해 제4 트랜지스터(ST4)의 소스전극(S4) 및 제6 트랜지스터(ST6)의 드레인전극(D6)에 연결될 수 있다.Accordingly, the sixth connection electrode (CE6) is connected to the source electrode (S4) of the fourth transistor (ST4) and the drain electrode (S4) of the sixth transistor (ST6) through the third connection electrode (CE5) and the fifth connection electrode (CE5). D6) can be connected.
이러한 제6 연결 전극(CE6)은 제3 평탄화층(127)을 관통하는 애노드 콘택홀(도 10의 ANCT)을 통해 발광소자(LEL)의 애노드전극과 연결될 수 있다.This sixth connection electrode (CE6) may be connected to the anode electrode of the light emitting element (LEL) through an anode contact hole (ANCT in FIG. 10) penetrating the
제5 도전층(CDL5)으로 마련된 제2 방향(DR2)의 제1 우회 배선(DETL1)은 제4 도전층(CDL4)으로 마련된 제1 방향(DR1)의 제2 우회 배선(DETL2)과 제1 우회 연결홀(DETH1)을 통해 연결될 수 있다. The first bypass wiring DETL1 in the second direction DR2 provided by the fifth conductive layer CDL5 is the second bypass wiring DETL2 and the first bypass wiring DETL1 in the first direction DR1 provided by the fourth conductive layer CDL4. It can be connected through the bypass connection hole (DETH1).
도 10의 도시와 같이, 회로 어레이층(120)은 기판(110) 상의 반도체층(SEL), 반도체층(SEL)을 덮는 제1 게이트 절연층(122) 상의 제1 도전층(CDL1), 제1 도전층(CDL1)을 덮는 제2 게이트 절연층(123) 상의 제2 도전층(CDL2), 제2 도전층(CDL2)을 덮는 층간 절연층(124) 상의 제3 도전층(CDL3), 제3 도전층(CDL3)을 덮는 제1 평탄화층(125) 상의 제4 도전층(CDL4), 제4 도전층(CDL4)을 덮는 제2 평탄화층(126) 상의 제5 도전층(CDL5) 및 제5 도전층(CDL5)을 덮는 제3 평탄화층(127)을 포함할 수 있다.As shown in FIG. 10, the
회로 어레이층(120)은 기판(110)과 반도체층(SEL) 사이에 배치되는 버퍼층(121)을 더 포함할 수 있다.The
버퍼층(121)은 기판(110)을 통해 침투되는 수분으로부터 회로 어레이층(120)과 발광 어레이층(130)을 보호하기 위한 것으로, 적어도 하나의 무기막으로 이루어질 수 있다.The
일 예로, 버퍼층(121)은 실리콘 나이트라이드, 실리콘 옥시 나이트라이드, 실리콘 옥사이드, 티타늄옥사이드, 및 알루미늄옥사이드 중 하나 이상의 무기막이 교번하여 적층된 다중막으로 이루어질 수 있다.As an example, the
반도체층(SEL)은 버퍼층(121) 상에 배치되고, 다결정 실리콘, 단결정 실리콘, 저온 다결정 실리콘, 및 비정질 실리콘과 같은 실리콘 반도체로 이루어질 수 있다.The semiconductor layer (SEL) is disposed on the
반도체층(SEL)은 화소 구동부(PXD)에 구비된 구동 트랜지스터(DT) 및 스위치 소자들(ST1~ST6) 각각의 채널부(도 8의 CHDT, CH1-1, CH1-2, CH2, CH3-1, CH3-2, CH4, CH5, CH6)를 포함할 수 있다. The semiconductor layer (SEL) is a channel unit (CHDT, CH1-1, CH1-2, CH2, CH3- in FIG. 8) of the driving transistor (DT) and switch elements (ST1 to ST6) provided in the pixel driver (PXD). 1, CH3-2, CH4, CH5, CH6).
그리고, 반도체층(SEL)은 구동 트랜지스터(DT) 및 스위치 소자들(ST1~ST6) 각각의 소스 전극(도 8의 SDT, S1-1, S1-2, S2, S3-1, S3-2, S4, S5, S6)과 드레인 전극(도 8의 DDT, D1-1, D1-2, D2, D3-1, D3-2, D4, D5, D6)을 더 포함할 수 있다. In addition, the semiconductor layer (SEL) is the source electrode (SDT, S1-1, S1-2, S2, S3-1, S3-2 in FIG. 8) of the driving transistor (DT) and the switch elements (ST1 to ST6). S4, S5, S6) and drain electrodes (DDT, D1-1, D1-2, D2, D3-1, D3-2, D4, D5, and D6 in FIG. 8).
반도체층(SEL) 중 구동 트랜지스터(DT) 및 스위치 소자들(ST1~ST6) 각각의 소스 전극(도 8의 SDT, S1-1, S1-2, S2, S3-1, S3-2, S4, S5, S6)과 드레인 전극(도 8의 DDT, D1-1, D1-2, D2, D3-1, D3-2, D4, D5, D6)에 대응한 다른 일부는 이온 또는 불순물이 도핑되어 도전성을 가질 수 있다.In the semiconductor layer (SEL), the source electrodes of each of the driving transistor (DT) and switch elements (ST1 to ST6) (SDT, S1-1, S1-2, S2, S3-1, S3-2, S4 in FIG. 8, S5, S6) and some others corresponding to the drain electrodes (DDT, D1-1, D1-2, D2, D3-1, D3-2, D4, D5, D6 in Figure 8) are doped with ions or impurities and are conductive. You can have
반면, 반도체층(SEL) 중 구동 트랜지스터(DT) 및 스위치 소자들(ST1~ST6) 각각의 채널부(도 8의 CHDT, CH1-1, CH1-2, CH2, CH3-1, CH3-2, CH4, CH5, CH6)에 대응한 일부는 게이트 전극(GDT, G1-1, G1-2, G2, G3-1, G3-2, G4, G5, G6)에 의해 도핑되지 않고, 전위차에 따라 캐리어의 이동 통로가 되는 채널을 발생시키는 반도체 특성을 유지할 수 있다. On the other hand, the channel portions of each of the driving transistor (DT) and switch elements (ST1 to ST6) in the semiconductor layer (SEL) (CHDT, CH1-1, CH1-2, CH2, CH3-1, CH3-2 in FIG. 8, Some of them corresponding to CH4, CH5, CH6) are not doped by the gate electrode (GDT, G1-1, G1-2, G2, G3-1, G3-2, G4, G5, G6) and are carriers depending on the potential difference. It is possible to maintain the semiconductor properties that create a channel for the movement of .
제1 게이트 절연층(122)은 버퍼층(121) 상에 배치되고 반도체층(SEL)을 덮는 무기막으로 이루어질 수 있다.The first
일 예로, 제1 게이트 절연층(122)은 실리콘 나이트라이드층, 실리콘 옥시 나이트라이드층, 실리콘 옥사이드층, 티타늄옥사이드층, 또는 알루미늄옥사이드층의 무기막으로 이루어질 수 있다. For example, the first
제1 도전층(CDL1)은 제1 게이트 절연층(122) 상에 배치된다.The first conductive layer CDL1 is disposed on the first
제1 도전층(CDL1)은 화소 구동부(PXD)에 구비된 구동 트랜지스터(DT) 및 스위치 소자들(ST1~ST6) 각각의 게이트 전극(GDT, G1-1, G1-2, G2, G3-1, G3-2, G4, G5, G6)을 포함할 수 있다. The first conductive layer (CDL1) is formed on the gate electrodes (GDT, G1-1, G1-2, G2, G3-1) of each of the driving transistor (DT) and switch elements (ST1 to ST6) provided in the pixel driver (PXD). , G3-2, G4, G5, G6).
그리고, 제1 도전층(CDL1)은 화소 구동부(PXD)에 구비된 제1 내지 제6 트랜지스터(ST1~ST6) 각각의 게이트 전극(G1-1, G1-2, G2, G3-1, G3-2, G4, G5, G6)에 연결되고 제1 방향(DR1)으로 연장되는 기입 스캔 배선(GWL), 초기화 스캔 배선(GIL), 제어 스캔 배선(GCL) 및 발광 제어 배선(ECL)을 더 포함할 수 있다. And, the first conductive layer (CDL1) is the gate electrode (G1-1, G1-2, G2, G3-1, G3-) of each of the first to sixth transistors (ST1 to ST6) provided in the pixel driver (PXD). 2, G4, G5, G6) and further comprising a write scan line (GWL), an initialization scan line (GIL), a control scan line (GCL), and an emission control line (ECL) extending in the first direction (DR1). can do.
제1 도전층(CDL1)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다.The first conductive layer (CDL1) is made of molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), gold (Au), titanium (Ti), nickel (Ni), neodymium (Nd), and copper (Cu). Alternatively, it may be formed as a single layer or multiple layers made of alloys thereof.
제2 게이트 절연층(123)은 제1 게이트 절연층(122) 상에 배치되고 제1 도전층(CDL1)을 덮는 무기막으로 이루어질 수 있다. The second
일 예로, 제2 게이트 절연층(123)은 실리콘 나이트라이드층, 실리콘 옥시 나이트라이드층, 실리콘 옥사이드층, 티타늄옥사이드층, 또는 알루미늄옥사이드층의 무기막으로 이루어질 수 있다.For example, the second
제2 도전층(CDL2)은 제2 게이트 절연층(123) 상에 배치된다.The second conductive layer CDL2 is disposed on the second
제2 도전층(CDL2)은 차폐전극(SHE), 제1 전원 수평 보조 배선(VDSBL1), 게이트 초기화 전압 배선(VGIL) 및 애노드 초기화 전압 배선(VAIL)을 포함할 수 있다.The second conductive layer (CDL2) may include a shielding electrode (SHE), a first power horizontal auxiliary line (VDSBL1), a gate initialization voltage line (VGIL), and an anode initialization voltage line (VAIL).
제2 도전층(CDL2)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 형성될 수 있다.The second conductive layer (CDL2) is made of molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), gold (Au), titanium (Ti), nickel (Ni), neodymium (Nd), and copper (Cu). Alternatively, it may be formed as a single layer or multiple layers made of alloys thereof.
층간 절연층(124)은 제2 게이트 절연층(123) 상에 배치되고 제2 도전층(CDL2)을 덮는 무기막으로 이루어질 수 있다. The interlayer insulating
일 예로, 층간 절연층(124)은 실리콘 나이트라이드층, 실리콘 옥시 나이트라이드층, 실리콘 옥사이드층, 티타늄옥사이드층, 또는 알루미늄옥사이드층의 무기막으로 이루어질 수 있다.For example, the
제3 도전층(CDL3)은 층간 절연층(124) 상에 배치된다.The third conductive layer (CDL3) is disposed on the
제3 도전층(CDL3)은 제1 연결 전극(CE1), 제2 연결 전극(CE2), 제3 연결 전극(CE3), 제1 전원 수직 보조 배선(VDSBL2), 게이트 초기화 전압 보조 배선(VGIAL) 및 애노드 초기화 전압 보조 배선(VAIAL)을 포함할 수 있다.The third conductive layer (CDL3) includes a first connection electrode (CE1), a second connection electrode (CE2), a third connection electrode (CE3), a first power vertical auxiliary line (VDSBL2), and a gate initialization voltage auxiliary line (VGIAL). and an anode initialization voltage auxiliary wiring (VAIAL).
도 8 및 도 10의 도시를 참조하면, 화소 구동부(PXD)는 제1 콘택홀(CT1), 제2 콘택홀(CT2), 제3 콘택홀(CT3), 제4 콘택홀(CT4), 제5 콘택홀(CT5), 제6 콘택홀(CT6) 및 제7 콘택홀(CT7)을 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 8 and 10, the pixel driver PXD includes a first contact hole (CT1), a second contact hole (CT2), a third contact hole (CT3), a fourth contact hole (CT4), and a third contact hole (CT4). It may include a fifth contact hole (CT5), a sixth contact hole (CT6), and a seventh contact hole (CT7).
제1 콘택홀(CT1)은 제1 연결 전극(CE1)과 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극(GDT) 사이를 연결시키기 위한 것이다. The first contact hole (CT1) is for connecting the first connection electrode (CE1) and the gate electrode (GDT) of the driving transistor (DT).
제1 콘택홀(CT1)은 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극(GDT)의 일부에 대응하고, 제2 게이트 절연층(123) 및 층간 절연층(124)을 관통할 수 있다. 이로써, 제3 도전층(CDL3)으로 이루어진 제1 연결 전극(CE1)은 제1 콘택홀(CT1)을 통해, 제1 도전층(CDL1)으로 이루어진 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극(GDT)과 전기적으로 연결될 수 있다.The first contact hole (CT1) corresponds to a portion of the gate electrode (GDT) of the driving transistor (DT) and may penetrate the second
제2 콘택홀(CT2)은 제1-2 트랜지스터(ST1-2)의 드레인 전극(D1-2) 및 제3-1 트랜지스터(ST3-1)의 소스 전극(S3-1) 중 어느 하나와 제1 연결 전극(CE1) 사이를 연결시키기 위한 것이다. 제1-2 트랜지스터(ST1-2)의 드레인 전극(D1-2) 및 제3-1 트랜지스터(ST3-1)의 소스 전극(S3-1)는 상호 이어진 형태이다.The second contact hole (CT2) is connected to any one of the drain electrode (D1-2) of the 1-2 transistor (ST1-2) and the source electrode (S3-1) of the 3-1 transistor (ST3-1). 1 This is to connect between the connection electrodes (CE1). The drain electrode (D1-2) of the 1-2 transistor (ST1-2) and the source electrode (S3-1) of the 3-1 transistor (ST3-1) are connected to each other.
제2 콘택홀(CT2)은 제1-2 트랜지스터(ST1-2)의 드레인 전극(D1-2) 및 제3-1 트랜지스터(ST3-1)의 소스 전극(S3-1) 중 어느 하나의 일부에 대응하고, 제1 게이트 절연층(122), 제2 게이트 절연층(123) 및 층간 절연층(124)을 관통할 수 있다. 이로써, 제3 도전층(CDL3)으로 이루어진 제1 연결 전극(CE1)은 제2 콘택홀(CT2)을 통해, 반도체층(SEL)으로 이루어진 제1-2 트랜지스터(ST1-2)의 드레인 전극(D1-2) 및 제3-1 트랜지스터(ST3-1)의 소스 전극(S3-1)과 전기적으로 연결될 수 있다.The second contact hole (CT2) is a portion of any one of the drain electrode (D1-2) of the 1-2 transistor (ST1-2) and the source electrode (S3-1) of the 3-1 transistor (ST3-1). Corresponds to and may penetrate the first
그리고, 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극(GDT)은 제1 콘택홀(CT1), 제2 콘택홀(CT2) 및 제1 연결 전극(CE1)을 통해, 제1-2 트랜지스터(ST1-2)의 드레인 전극(D1-2) 및 제3-1 트랜지스터(ST3-1)의 소스 전극(S3-1)과 전기적으로 연결될 수 있다.And, the gate electrode (GDT) of the driving transistor (DT) is connected to the 1-2 transistor (ST1-2) through the first contact hole (CT1), the second contact hole (CT2), and the first connection electrode (CE1). It may be electrically connected to the drain electrode (D1-2) of and the source electrode (S3-1) of the 3-1 transistor (ST3-1).
제3 콘택홀(CT3)은 차폐전극(SHE)과 제1 전원 수직 보조 배선(VDSBL2) 사이를 연결시키기 위한 것이다.The third contact hole (CT3) is for connecting the shielding electrode (SHE) and the first power vertical auxiliary wiring (VDSBL2).
제3 콘택홀(CT3)은 제1 전원 수직 보조 배선(VDSBL2)의 일부에 대응하고, 층간 절연층(124)을 관통할 수 있다. 이로써, 제2 도전층(CDL2)으로 이루어진 차폐전극(SHE)은 제3 콘택홀(CT3)을 통해, 제3 도전층(CDL3)으로 이루어진 제1 전원 수직 보조 배선(VDSBL2)과 전기적으로 연결될 수 있다.The third contact hole (CT3) corresponds to a portion of the first power vertical auxiliary wiring (VDSBL2) and may penetrate the interlayer insulating
제4 콘택홀(CT4)은 제2 연결 전극(CE2)과 제2 트랜지스터(ST2)의 소스 전극(S2) 사이를 연결시키기 위한 것이다.The fourth contact hole CT4 is for connecting the second connection electrode CE2 and the source electrode S2 of the second transistor ST2.
제4 콘택홀(CT4)은 제2 트랜지스터(ST2)의 소스 전극(S2)의 일부에 대응하고, 제1 게이트 절연층(122), 제2 게이트 절연층(123) 및 층간 절연층(124)을 관통할 수 있다. 이로써, 제3 도전층(CDL3)으로 이루어진 제2 연결 전극(CE2)은 제4 콘택홀(CT4)을 통해, 반도체층(SEL)으로 이루어진 제2 트랜지스터(ST2)의 소스 전극(S2)과 전기적으로 연결될 수 있다.The fourth contact hole (CT4) corresponds to a part of the source electrode (S2) of the second transistor (ST2), and the first
제5 콘택홀(CT5)은 제1 전원 수평 보조 배선(VDSBL1)과 제1 전원 수직 보조 배선(VDSBL2) 사이를 연결시키기 위한 것이다.The fifth contact hole (CT5) is for connecting the first power horizontal auxiliary wire (VDSBL1) and the first power vertical auxiliary wire (VDSBL2).
제5 콘택홀(CT5)은 제1 전원 수평 보조 배선(VDSBL1)의 일부에 대응하고 층간 절연층(124)을 관통할 수 있다. 이로써, 제3 도전층(CDL3)으로 이루어진 제1 전원 수직 보조 배선(VDSBL2)은 제5 콘택홀(CT5)을 통해, 제2 도전층(CDL2)으로 이루어진 제1 전원 수평 보조 배선(VDSBL1)과 전기적으로 연결될 수 있다.The fifth contact hole CT5 corresponds to a portion of the first power horizontal auxiliary wiring VDSBL1 and may penetrate the interlayer insulating
제6 콘택홀(CT6)은 제1 전원 수직 보조 배선(VDSBL2)과 제5 트랜지스터(ST5)의 소스 전극(S5) 사이를 연결시키기 위한 것이다.The sixth contact hole (CT6) is for connecting the first power vertical auxiliary wiring (VDSBL2) and the source electrode (S5) of the fifth transistor (ST5).
제6 콘택홀(CT6)은 제5 트랜지스터(ST5)의 소스 전극(S5)의 일부에 대응하고 제1 게이트 절연층(122), 제2 게이트 절연층(123) 및 층간 절연층(124)을 관통할 수 있다. 이로써, 제3 도전층(CDL3)으로 이루어진 제1 전원 수직 보조 배선(VDSBL2)은 제6 콘택홀(CT6)을 통해, 반도체층(SEL)으로 이루어진 제5 트랜지스터(ST5)의 소스 전극(S5)과 전기적으로 연결될 수 있다.The sixth contact hole CT6 corresponds to a portion of the source electrode S5 of the fifth transistor ST5 and includes the first
제7 콘택홀(CT7)은 제3 연결 전극(CE3)과 제5 트랜지스터(ST5)의 드레인 전극(D5) 사이를 연결시키기 위한 것이다.The seventh contact hole (CT7) is for connecting the third connection electrode (CE3) and the drain electrode (D5) of the fifth transistor (ST5).
제7 콘택홀(CT7)은 제5 트랜지스터(ST5)의 드레인 전극(D5)의 일부에 대응하고 제1 게이트 절연층(122), 제2 게이트 절연층(123) 및 층간 절연층(124)을 관통할 수 있다. 이로써, 제3 도전층(CDL3)으로 이루어진 제3 연결 전극(CE3)은 제7 콘택홀(CT7)을 통해, 반도체층(SEL)으로 이루어진 제5 트랜지스터(ST5)의 드레인 전극(D5)과 전기적으로 연결될 수 있다. The seventh contact hole (CT7) corresponds to a portion of the drain electrode (D5) of the fifth transistor (ST5) and connects the first
제3 도전층(CDL3)은 저저항 특성의 금속층과, 이의 상, 하면에 각각 배치되는 이온 확산 방지 특성의 금속층을 포함한 다중층 구조로 이루어질 수 있다. The third conductive layer (CDL3) may have a multi-layer structure including a metal layer with low resistance characteristics and a metal layer with ion diffusion prevention characteristics disposed on the top and bottom surfaces, respectively.
일 예로, 제3 도전층(CDL3)은 금속층들의 적층 구조로 이루어질 수 있으며, 제3 도전층(CDL3)의 금속층들 각각은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나로 이루어질 수 있다. As an example, the third conductive layer (CDL3) may be composed of a stacked structure of metal layers, and each of the metal layers of the third conductive layer (CDL3) is molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), and gold (Au). ), titanium (Ti), nickel (Ni), neodymium (Nd), and copper (Cu).
구체적으로, 저저항 특성의 금속층은 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나로 이루어질 수 있다.Specifically, the metal layer with low resistance characteristics may be made of any one of aluminum (Al), chromium (Cr), gold (Au), nickel (Ni), neodymium (Nd), and copper (Cu).
이온 확산 방지 특성의 금속층은 티타늄(Ti)으로 이루어질 수 있다.The metal layer with ion diffusion prevention properties may be made of titanium (Ti).
즉, 제3 도전층(CDL3)은 티타늄(Ti)/알루미늄(Al)/티타늄(Ti)의 적층 구조(Ti/Al/Ti)로 마련될 수 있다.That is, the third conductive layer (CDL3) may be prepared in a stacked structure (Ti/Al/Ti) of titanium (Ti)/aluminum (Al)/titanium (Ti).
제3 도전층(CDL3)을 덮는 제1 평탄화층(125)은 아크릴 수지(acryl resin), 에폭시 수지(epoxy resin), 페놀 수지(phenolic resin), 폴리아미드 수지(polyamide resin), 폴리이미드 수지(polyimide resin) 등의 유기막으로 이루어질 수 있다.The
제4 도전층(CDL4)은 제1 평탄화층(125) 상에 배치된다. The fourth conductive layer CDL4 is disposed on the
도 9의 도시와 같이, 제4 도전층(CDL4)은 제2 전원 서브 배선(VSSBL), 제2 우회 배선(DETL2), 제2 더미 배선(DML2), 제1 전원 보조 배선(VDAL), 제4 연결 전극(CE4) 및 제5 연결 전극(CE5)을 포함할 수 있다.As shown in FIG. 9, the fourth conductive layer (CDL4) includes the second power sub-wiring (VSSBL), the second bypass wiring (DETL2), the second dummy wiring (DML2), the first power auxiliary wiring (VDAL), and the second power sub-wiring (VSSBL). It may include four connection electrodes (CE4) and a fifth connection electrode (CE5).
제4 도전층(CDL4)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 이루어질 수 있다.The fourth conductive layer (CDL4) is made of molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), gold (Au), titanium (Ti), nickel (Ni), neodymium (Nd), and copper (Cu). Alternatively, it may be made of a single layer or multiple layers of alloys thereof.
제4 도전층(CDL4)은 제3 도전층(CDL3)과 마찬가지로, 금속층들의 적층 구조로 이루어질 수 있으며, 제3 도전층(CDL3)의 금속층들 각각은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나로 이루어질 수 있다. Like the third conductive layer (CDL3), the fourth conductive layer (CDL4) may be made of a stacked structure of metal layers, and each of the metal layers of the third conductive layer (CDL3) is molybdenum (Mo), aluminum (Al), and chromium. It may be made of any one of (Cr), gold (Au), titanium (Ti), nickel (Ni), neodymium (Nd), and copper (Cu).
즉, 제4 도전층(CDL4)은 티타늄(Ti)/알루미늄(Al)/티타늄(Ti)의 적층 구조(Ti/Al/Ti)로 마련될 수 있다.That is, the fourth conductive layer (CDL4) may be prepared in a stacked structure (Ti/Al/Ti) of titanium (Ti)/aluminum (Al)/titanium (Ti).
제4 도전층(CDL4)을 덮는 제2 평탄화층(126)은 아크릴 수지(acryl resin), 에폭시 수지(epoxy resin), 페놀 수지(phenolic resin), 폴리아미드 수지(polyamide resin), 폴리이미드 수지(polyimide resin) 등의 유기막으로 이루어질 수 있다.The
제5 도전층(CDL5)은 제2 평탄화층(126) 상에 배치된다. The fifth conductive layer CDL5 is disposed on the
도 9의 도시와 같이, 제5 도전층(CDL5)은 데이터배선(DL), 제1 우회 배선(DETL1), 제3 우회 배선(DETL3), 제1 더미 배선(DML1), 제2 전원 보조 배선(VSAL) 및 제6 연결 전극(CE6)을 포함할 수 있다. As shown in FIG. 9, the fifth conductive layer (CDL5) includes a data line (DL), a first bypass line (DETL1), a third bypass line (DETL3), a first dummy line (DML1), and a second power auxiliary line. (VSAL) and a sixth connection electrode (CE6).
제5 도전층(CDL5)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층으로 이루어질 수 있다.The fifth conductive layer (CDL5) is made of molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), gold (Au), titanium (Ti), nickel (Ni), neodymium (Nd), and copper (Cu). Alternatively, it may be made of a single layer or multiple layers of alloys thereof.
도 10의 도시와 같이, 제5 도전층(CDL5)을 덮는 제3 평탄화층(127)은 아크릴 수지(acryl resin), 에폭시 수지(epoxy resin), 페놀 수지(phenolic resin), 폴리아미드 수지(polyamide resin), 폴리이미드 수지(polyimide resin) 등의 유기막으로 이루어질 수 있다.As shown in FIG. 10, the
도 9 및 도 10의 도시를 참조하면, 화소 구동부(PXD)는 제8 콘택홀(CT8), 제9 콘택홀(CT9), 제10 콘택홀(CT10) 및 제11 콘택홀(CT11)을 더 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 9 and 10, the pixel driver PXD further includes an eighth contact hole (CT8), a ninth contact hole (CT9), a tenth contact hole (CT10), and an eleventh contact hole (CT11). It can be included.
제8 콘택홀(CT8)은 제5 연결 전극(CE5)과 제3 연결 전극(CE3) 사이를 연결시키기 위한 것이다.The eighth contact hole CT8 is for connecting the fifth connection electrode CE5 and the third connection electrode CE3.
제8 콘택홀(CT8)은 제3 연결 전극(CE3)의 일부에 대응하고, 제1 평탄화층(125)을 관통할 수 있다. 이로써, 제4 도전층(CDL4)으로 이루어진 제5 연결 전극(CE5)은 제8 콘택홀(CT8)을 통해, 제3 도전층(CDL3)으로 이루어진 제3 연결 전극(CE3)과 전기적으로 연결될 수 있다.The eighth contact hole CT8 corresponds to a portion of the third connection electrode CE3 and may penetrate the
제9 콘택홀(CT9)은 제5 연결 전극(CE5)과 제6 연결 전극(CE6) 사이를 연결시키기 위한 것이다.The ninth contact hole CT9 is for connecting the fifth connection electrode CE5 and the sixth connection electrode CE6.
제9 콘택홀(CT9)은 제5 연결 전극(CE5)의 다른 일부에 대응하고, 제2 평탄화층(126)을 관통할 수 있다. 이로써, 제5 도전층(CDL5)으로 이루어진 제6 연결 전극(CE6)은 제9 콘택홀(CT9)을 통해, 제4 도전층(CDL4)으로 이루어진 제5 연결 전극(CE5)과 전기적으로 연결될 수 있다. The ninth contact hole CT9 corresponds to another part of the fifth connection electrode CE5 and may penetrate the
제10 콘택홀(CT10)은 제4 연결 전극(CE4)과 제2 연결 전극(CE2) 사이를 연결시키기 위한 것이다.The tenth contact hole CT10 is for connecting the fourth connection electrode CE4 and the second connection electrode CE2.
제10 콘택홀(CT10)은 제2 연결 전극(CE2)의 일부에 대응하고, 제1 평탄화층(125)을 관통할 수 있다. 이로써, 제4 도전층(CDL4)으로 이루어진 제4 연결 전극(CE4)은 제10 콘택홀(CT10)을 통해 제3 도전층(CDL3)으로 이루어진 제2 연결 전극(CE2)에 전기적으로 연결될 수 있다. The tenth contact hole CT10 corresponds to a portion of the second connection electrode CE2 and may penetrate the
제11 콘택홀(CT11)은 제4 연결 전극(CE4)과 데이터 배선(DL) 사이를 연결시키기 위한 것이다.The eleventh contact hole CT11 is for connecting the fourth connection electrode CE4 and the data line DL.
제11 콘택홀(CT11)은 제4 연결 전극(CE4)의 다른 일부에 대응하고, 제2 평탄화층(126)을 관통할 수 있다. 이로써, 제5 도전층(CDL5)으로 이루어진 데이터 배선(DL)은 제11 콘택홀(CT11)을 통해, 제4 도전층(CDL4)으로 이루어진 제4 연결 전극(CE4)과 전기적으로 연결될 수 있다.The eleventh contact hole CT11 corresponds to another part of the fourth connection electrode CE4 and may penetrate the
도 10의 도시와 같이, 발광 어레이층(130)은 회로 어레이층(120)의 제3 평탄화층(127) 상에 배치될 수 있다. As shown in FIG. 10, the light emitting
일 예로, 발광 어레이층(130)은 제3 평탄화층(127) 상에 배치되며 복수의 발광 영역들(EA)에 각각 대응하고 복수의 화소 구동부(PXD)들과 각각 전기적으로 연결되는 복수의 애노드 전극(AND)들, 제3 평탄화층(127) 상에 배치되며 복수의 발광 영역들(EA) 사이의 이격 영역인 비발광 영역(NEA)에 대응하고 복수의 애노드 전극(AND)들 각각의 가장자리를 덮는 화소정의층(PDL), 복수의 발광 영역들(EA)에 각각 대응하고 복수의 애노드 전극(AND)들 상에 각각 배치되는 복수의 발광층(EML)들, 및 복수의 발광 영역들(EA)에 대응하고 화소정의층(PDL)과 복수의 발광층(EML)들 상에 배치되며 제2 전원 공급 배선(VSSPL)과 연결되는 캐소드 전극(CTD)을 포함할 수 있다. As an example, the light emitting
애노드 전극(AND)은 제3 평탄화층(127)을 관통하는 애노트 콘택홀(ANCT)을 통해 제6 연결 전극(CE6)에 연결될 수 있다. The anode electrode (AND) may be connected to the sixth connection electrode (CE6) through the anode contact hole (ANCT) penetrating the third planarization layer (127).
이로써, 애노드 전극(AND)은 제7 콘택홀(CT7), 제3 연결 전극(CE3), 제8 콘택홀(CT8), 제5 연결 전극(CE5), 제9 콘택홀(CT9), 제6 연결 전극(CE6) 및 애노드 콘택홀(ANCT)을 통해 구동 트랜지스터(DT)의 드레인 전극(DDT)과 전기적으로 연결될 수 있다.Accordingly, the anode electrode (AND) is connected to the seventh contact hole (CT7), the third connection electrode (CE3), the eighth contact hole (CT8), the fifth connection electrode (CE5), the ninth contact hole (CT9), and the sixth contact hole (CT9). It can be electrically connected to the drain electrode (DDT) of the driving transistor (DT) through the connection electrode (CE6) and the anode contact hole (ANCT).
화소정의층(PDL)은 유기막으로 이루어질 수 있다.The pixel defining layer (PDL) may be made of an organic layer.
발광층(EML)은 유기발광재료를 포함할 수 있다. The light emitting layer (EML) may include an organic light emitting material.
별도로 도시되지 않았으나, 애노드 전극(AND)과 발광층(EML) 사이에는 적어도 정공 수송 재료를 포함한 제1 공통층(미도시)이 배치될 수 있다. Although not separately shown, a first common layer (not shown) containing at least a hole transport material may be disposed between the anode electrode AND and the light emitting layer EML.
그리고, 발광층(EML)과 캐소드 전극(CTD) 사이에는 적어도 전자 수송 재료를 포함한 제2 공통층(미도시)이 배치될 수 있다. Additionally, a second common layer (not shown) containing at least an electron transport material may be disposed between the emission layer (EML) and the cathode electrode (CTD).
캐소드 전극(CTD)은 표시 영역(DA)의 전면에 대응될 수 있다. The cathode electrode CTD may correspond to the front surface of the display area DA.
별도로 도시되지 않았으나, 캐소드 전극(CTD)은 비표시 영역(NDA)에서 제2 전원 공급 배선(VSSPL)과 연결될 수 있다.Although not separately shown, the cathode electrode (CTD) may be connected to the second power supply line (VSSPL) in the non-display area (NDA).
이로써, 발광 어레이층(130)은 복수의 발광 영역들(EA)에 각각 대응하고, 상호 대향하는 애노드 전극(AND)과 캐소드 전극(CTD) 및 이들 사이에 개재된 발광층(EML)을 포함한 구조로 각각 이루어진 복수의 발광 소자(LEL)를 포함할 수 있다. Accordingly, the light emitting
발광 어레이층(130)은 산소 또는 수분의 침투를 차단하기 위한 밀봉 구조물층(140)으로 덮일 수 있다.The light emitting
밀봉 구조물층(140)은 발광 어레이층(130)을 덮고 적어도 하나의 무기막과 적어도 하나의 유기막이 교차 적층된 구조로 이루어질 수 있다. The sealing
일 예로, 밀봉 구조물층(140)은 캐소드 전극(CTD)을 덮고 비표시 영역(NDA)에서 층간 절연층(124)과 접하며 무기 절연 재료로 이루어지는 제1 밀봉층(141), 제1 밀봉층(141) 상에 배치되고 표시 영역(DA)에 대응하며 유기 절연 재료로 이루어지는 제2 밀봉층(142), 및 제2 밀봉층(142)을 덮고 비표시 영역(NDA)에서 제1 밀봉층(141)과 접하며 무기 절연 재료로 이루어지는 제3 밀봉층(143)을 포함할 수 있다.As an example, the sealing
이어서, 제1 실시예에 대해 더욱 상세히 설명한다.Next, the first embodiment will be described in more detail.
도 11은 제1 실시예에 따른 도 5의 디먹스 회로부를 보여주는 등가 회로도이다. FIG. 11 is an equivalent circuit diagram showing the demux circuit unit of FIG. 5 according to the first embodiment.
도 11은 제1 실시예의 디먹스 회로부(DMC)가 두 개의 데이터 배선(DL)들에 연결되는 경우를 예시한다. FIG. 11 illustrates a case where the demux circuit unit (DMC) of the first embodiment is connected to two data lines (DL).
도 11의 도시와 같이, 제1 실시예에 따른 디먹스 회로부(DMC)들 중 하나의 디먹스 회로부(DMC)는 두 개의 출력단에 각각 대응하는 두 개의 디먹스 트랜지스터들(TDM1, TDM2)을 포함한다.As shown in FIG. 11, one of the demux circuit units (DMC) according to the first embodiment includes two demux transistors (TDM1 and TDM2) corresponding to two output terminals, respectively. do.
두 개의 디먹스 트랜지스터들(TDM1, TDM2)의 제1 전극(예를 들면, 소스 전극)은 데이터 입력 배선(DIPL)과 연결될 수 있다.The first electrode (eg, source electrode) of the two demux transistors TDM1 and TDM2 may be connected to the data input line DIPL.
두 개의 디먹스 트랜지스터들(TDM1, TDM2)의 제2 전극(예를 들면, 드레인 전극)은 제1 데이터 출력 배선(DOPL1) 및 제2 데이터 출력 배선(DOPL2)과 각각 연결될 수 있다.The second electrode (eg, drain electrode) of the two demux transistors TDM1 and TDM2 may be connected to the first data output line DOPL1 and the second data output line DOPL2, respectively.
즉, 제1 디먹스 회로부(DMC1)의 경우, 제1 디먹스 트랜지스터(TDM1)의 제2 전극은 제1 데이터 출력 배선(DOPL1)을 통해 제1 데이터 배선(DL1)에 연결되고, 제2 디먹스 트랜지스터(TDM2)의 제2 전극은 제2 데이터 출력 배선(DOPL2)을 통해 제2 데이터 배선(DL2)에 연결될 수 있다.That is, in the case of the first demux circuit unit DMC1, the second electrode of the first demux transistor TDM1 is connected to the first data line DL1 through the first data output line DOPL1, and the second electrode is connected to the first data line DL1 through the first data output line DOPL1. The second electrode of the mux transistor TDM2 may be connected to the second data line DL2 through the second data output line DOPL2.
또는, 제2 디먹스 회로부(DMC2)의 경우, 제1 디먹스 트랜지스터(TDM1)의 제2 전극은 제1 데이터 출력 배선(DOPL1)을 통해 제3 데이터 배선(DL3)에 연결되고, 제2 디먹스 트랜지스터(TDM2)의 제2 전극은 제2 데이터 출력 배선(DOPL2)을 통해 제4 데이터 배선(DL4)에 연결될 수 있다.Alternatively, in the case of the second demux circuit unit DMC2, the second electrode of the first demux transistor TDM1 is connected to the third data line DL3 through the first data output line DOPL1, and the second electrode is connected to the third data line DL3 through the first data output line DOPL1. The second electrode of the mux transistor TDM2 may be connected to the fourth data line DL4 through the second data output line DOPL2.
제1 디먹스 트랜지스터(TDM1)의 게이트 전극은 제1 디먹스 제어 배선(SCSL1)에 연결되고, 제2 디먹스 트랜지스터(TDM2)의 게이트 전극은 제2 디먹스 제어 배선(SCSL2)에 연결될 수 있다.The gate electrode of the first demux transistor (TDM1) may be connected to the first demux control line (SCSL1), and the gate electrode of the second demux transistor (TDM2) may be connected to the second demux control line (SCSL2). .
제1 디먹스 제어 배선(SCSL1)과 제2 디먹스 제어 배선(SCSL2)은 서로 다른 위상으로 이루어진 제1 디먹스 제어 신호(SCS1)와 제2 디먹스 제어 신호(SCS2)를 각각 전달한다.The first demux control line (SCSL1) and the second demux control line (SCSL2) transmit a first demux control signal (SCS1) and a second demux control signal (SCS2) of different phases, respectively.
이러한 서로 다른 위상의 제1 디먹스 제어 신호(SCS1)와 제2 디먹스 제어 신호(SCS2)에 의해, 제1 디먹스 트랜지스터(TDM1)와 제2 디먹스 트랜지스터(TDM2)는 서로 다른 기간 동안 턴온될 수 있다.By these different phases of the first demux control signal (SCS1) and the second demux control signal (SCS2), the first demux transistor (TDM1) and the second demux transistor (TDM2) are turned on for different periods. It can be.
그러므로, 데이터 입력 배선(DIPL)을 통해 전달된 표시 구동 회로(200)의 데이터 구동 신호는 서로 다른 기간 동안 턴온되는 제1 디먹스 트랜지스터(TDM1)와 제2 디먹스 트랜지스터(TDM2)에 의해 시분할(Time Division) 방식으로 디먹싱(Demultiplexing)될 수 있다. 이로써, 디먹스 회로부(DMC)의 출력단들에 연결된 제1 데이터 배선(DL1) 및 제2 데이터 배선(DL2)에 각각의 데이터 신호가 서로 다른 기간 동안 전달될 수 있다.Therefore, the data driving signal of the
도 12는 도 5의 E 부분에 대한 일 예시를 보여주는 평면도이다. 도 13은 도 12의 H-H'를 따라 절단한 면의 일 예시를 보여주는 단면도이다.FIG. 12 is a plan view showing an example of portion E of FIG. 5. Figure 13 is a cross-sectional view showing an example of a surface cut along line H-H' of Figure 12.
도 12를 참조하면, 디먹스 회로부(DMC)들 각각은 두 개의 데이터 출력 배선(DMOL)을 통해 데이터 배선(DL)들 중 상호 인접한 두 개의 데이터 배선들(DL1, DL2)(DL3, DL4)과 각각 연결될 수 있다. Referring to FIG. 12, each of the demux circuit units (DMCs) connects two adjacent data lines (DL1, DL2) (DL3, DL4) among the data lines (DL) through two data output lines (DMOL). Each can be connected.
도 5의 도시와 같이, 제1 디먹스 영역(DMXA1)의 제1 디먹스 회로부(DMC1)의 입력단에 연결되는 제1 데이터 입력 배선(DIPL1)은 제1 서브 영역(SB1)에서 제1 디먹스 영역(DMXA1)으로 연장된다.As shown in FIG. 5, the first data input line DIPL1 connected to the input terminal of the first demux circuit unit DMC1 of the first demux area DMXA1 is the first demux line in the first sub-area SB1. It extends to the area (DMXA1).
그리고, 제2 디먹스 영역(DMXA2)들의 제2 디먹스 회로부(DMC2)의 입력단에 연결되는 제2 데이터 입력 배선(DIPL2)은 제1 서브 영역(SB1)에서 제1 디먹스 영역(DMXA1)으로 연장되는 메인 입력 배선(MIPL), 표시 영역(DA)의 디먹스 인접 영역(DAA)에 배치되는 디먹스 우회 배선(DETL), 및 제2 디먹스 영역(DMXA2)들에 배치되는 우회 부가 배선(DEAL)을 포함한다. And, the second data input line DIPL2 connected to the input terminal of the second demux circuit part DMC2 of the second demux area DMXA2 is connected from the first sub-area SB1 to the first demux area DMXA1. The extended main input line (MIPL), the demultiplex bypass line (DETL) disposed in the demultiplex adjacent area (DAA) of the display area (DA), and the additional bypass line ( DEAL).
도 12의 도시와 같이, 제1 디먹스 영역(DMXA1)에서, 메인 입력 배선(MIPL)은 제1 데이터 입력 배선(DIPL1)과 나란하게 배치될 수 있다. As shown in FIG. 12 , in the first demux area DMXA1, the main input line MIPL may be arranged in parallel with the first data input line DIPL1.
디먹스 우회 배선(DETL)은 센터 인접 영역(CDAA)에 배치되는 제2 방향(DR2)의 제1 우회 배선(DETL1), 디먹스 인접 영역(DAA)에 배치되는 제1 방향(DR1)의 제2 우회 배선(DETL2), 및 가장자리 인접 영역(EDAA)에 배치되는 제2 방향(DR2)의 제3 우회 배선(DETL3)을 포함할 수 있다. The demultiplex bypass line (DETL) includes a first bypass line (DETL1) in the second direction (DR2) disposed in the center adjacent area (CDAA), and a first bypass line (DETL1) in the first direction (DR1) disposed in the demultiplex adjacent area (DAA). It may include two bypass lines (DETL2) and a third bypass line (DETL3) in the second direction (DR2) disposed in the edge adjacent area (EDAA).
데이터 배선(DL)들은 제1 디먹스 회로부(DMC1)에 연결되고 센터 인접 영역(CDAA)에 배치되는 제1 데이터 배선(DL1)과 제2 데이터 배선(DL2), 및 제2 디먹스 회로부(DMC2)에 연결되고 가장자리 인접 영역(EDAA)에 배치되는 제3 데이터 배선(DL3)과 제4 데이터 배선(DL4)을 포함할 수 있다.The data lines DL include a first data line DL1 and a second data line DL2 connected to the first demux circuit portion DMC1 and disposed in the center adjacent area CDAA, and a second demux circuit portion DMC2. ) and may include a third data line (DL3) and a fourth data line (DL4) connected to the edge adjacent area (EDAA).
제1 디먹스 회로부(DMC1)에 연결되는 제1 데이터 배선(DL1) 및 제2 데이터 배선(DL2) 중 제1 데이터 배선(DL1)은 제1 우회 배선(DETL1)과 이웃하고, 제2 데이터 배선(DL2)은 제2 전원 보조 배선(VSAL)과 이웃할 수 있다.Among the first data line DL1 and the second data line DL2 connected to the first demux circuit unit DMC1, the first data line DL1 is adjacent to the first bypass line DETL1 and the second data line (DL2) may be adjacent to the second power auxiliary line (VSAL).
제2 디먹스 회로부(DMC2)에 연결되는 제3 데이터 배선(DL3) 및 제4 데이터 배선(DL4) 중 제3 데이터 배선(DL3)은 제3 우회 배선(DETL3)과 이웃하고, 제4 데이터 배선(DL4)은 제2 전원 보조 배선(VSAL)과 이웃할 수 있다. Among the third and fourth data lines DL3 and DL4 connected to the second demux circuit unit DMC2, the third data line DL3 is adjacent to the third bypass line DETL3, and is the fourth data line. (DL4) may be adjacent to the second power auxiliary line (VSAL).
도 13의 도시와 같이, 데이터 배선(DL)들, 제1 우회 배선(DETL1), 제3 우회 배선(DETL3), 및 제2 전원 보조 배선(VSAL) 각각은 제2 방향(DR2)으로 연장되며, 제5 도전층(CDL5)으로 이루어질 수 있다.As shown in FIG. 13, each of the data lines DL, the first bypass line DETL1, the third bypass line DETL3, and the second power auxiliary line VSAL extends in the second direction DR2. , It may be made of a fifth conductive layer (CDL5).
또한, 제1 우회 배선(DETL1)의 제2 방향(DR2)의 일측 및 제3 우회 배선(DETL3)의 제2 방향(DR2)의 일측에 각각 나란하게 배치되는 제1 더미 배선(DML1)들 또한 제2 방향(DR2)으로 연장되며, 제5 도전층(CDL5)으로 이루어질 수 있다. In addition, first dummy wires DML1 are arranged in parallel on one side of the first bypass wire DETL1 in the second direction DR2 and on one side of the third bypass wire DETL3 in the second direction DR2. It extends in the second direction DR2 and may be made of a fifth conductive layer CDL5.
제2 우회 배선(DETL2)과 제1 전원 보조 배선(VDAL) 각각은 제1 방향(DR1)으로 연장되며, 제4 도전층(CDL4)으로 이루어질 수 있다. 제2 우회 배선(DETL2)과 제1 전원 보조 배선(VDAL)은 제2 방향(DR2)으로 교번하여 배열될 수 있다. Each of the second bypass line DETL2 and the first power auxiliary line VDAL extends in the first direction DR1 and may be formed of the fourth conductive layer CDL4. The second bypass wiring DETL2 and the first power auxiliary wiring VDAL may be alternately arranged in the second direction DR2.
또한, 제2 우회 배선(DETL2)의 제1 방향(DR1)의 양측에 각각 나란하게 배치되는 제2 더미 배선(DML2)들 또한 제1 방향(DR1)으로 연장되며, 제4 도전층(CDL4)으로 이루어질 수 있다.In addition, the second dummy wires DML2 arranged side by side on both sides of the second bypass wire DETL2 in the first direction DR1 also extend in the first direction DR1, and the fourth conductive layer CDL4 It can be done.
데이터 출력 배선(DOPL)들과 제1 데이터 입력 배선(DIPL1)과 메인 입력 배선(MIPL) 각각은 제1 게이트 절연층(122) 상의 제1 도전층(CDL1) 또는 제2 게이트 절연층(123) 상의 제2 도전층(CDL2)으로 마련될 수 있다. Each of the data output lines (DOPL), the first data input line (DIPL1), and the main input line (MIPL) is connected to the first conductive layer (CDL1) or the second
데이터 배선(DL)들은 데이터 연결홀(DCH)을 통해 데이터 출력 배선(DMOL)들과 각각 연결될 수 있다.The data lines (DL) may be respectively connected to the data output lines (DMOL) through the data connection hole (DCH).
도 12의 도시와 같이, 제1 우회 배선(DETL1)은 제2 우회 배선(DETL2)의 일단에 대응하는 제1 우회 연결홀(DETH1)을 통해 제2 우회 배선(DETL2)과 전기적으로 연결될 수 있다. As shown in FIG. 12, the first bypass wiring (DETL1) may be electrically connected to the second bypass wiring (DETL2) through the first bypass connection hole (DETH1) corresponding to one end of the second bypass wiring (DETL2). .
제3 우회 배선(DETL3)은 제2 우회 배선(DETL2)의 다른 일단에 대응하는 제2 우회 연결홀(DETH2)을 통해 제2 우회 배선(DETL2)과 전기적으로 연결될 수 있다.The third bypass wiring DETL3 may be electrically connected to the second bypass wiring DETL2 through the second bypass connection hole DETH2 corresponding to the other end of the second bypass wiring DETL2.
제3 우회 배선(DETL3)은 우회 부가 배선(DEAL)의 일단에 대응하는 제3 우회 연결홀(DETH3)을 통해 우회 부가 배선(DEAL)과 전기적으로 연결될 수 있다. The third bypass wiring DETL3 may be electrically connected to the additional bypass wiring DEAL through the third bypass connection hole DETH3 corresponding to one end of the additional bypass wiring DEAL.
제1 실시예에 따르면, 우회 부가 배선(DEAL)은 제2 방향(DR2)으로 연장된다. 이에 따라, 우회 부가 배선(DEAL)과 연결되는 제1 디먹스 회로부(DMC1)의 입력단은 우회 부가 배선(DEAL)을 향해 제1 방향(DR1)으로 연장됨에 따라, 제2 디먹스 회로부(DMC2)의 입력단과 상이한 형태일 수 있다.According to the first embodiment, the bypass additional wiring DEAL extends in the second direction DR2. Accordingly, the input terminal of the first demux circuit unit DMC1 connected to the bypass additional wiring DEAL extends in the first direction DR1 toward the bypass additional wiring DEAL, and the second demux circuit unit DMC2 It may be of a different form from the input terminal of .
디먹스 회로부(DMC) 각각은 제1 디먹스 트랜지스터(TDM1)와 제2 디먹스 트랜지스터(TDM2)를 포함할 수 있다.Each demux circuit unit (DMC) may include a first demux transistor (TDM1) and a second demux transistor (TDM2).
도 13의 도시와 같이, 제1 디먹스 트랜지스터(TDM1)와 제2 디먹스 트랜지스터(TDM2) 각각은 반도체층(SEL)으로 마련되는 채널부, 제1 전극 및 제2 전극과, 채널부에 중첩되는 게이트 전극을 포함할 수 있다. As shown in FIG. 13, the first demux transistor (TDM1) and the second demux transistor (TDM2) each overlap a channel portion, a first electrode, and a second electrode provided with the semiconductor layer (SEL), and the channel portion. It may include a gate electrode.
제1 디먹스 트랜지스터(TDM1)의 게이트 전극은 제1 디먹스 트랜지스터(TDM1)의 채널부에 중첩하는 제1 디먹스 제어 배선(SCSL1)의 일부로 이루어질 수 있다.The gate electrode of the first demux transistor (TDM1) may be formed as a part of the first demux control line (SCSL1) overlapping the channel portion of the first demux transistor (TDM1).
제2 디먹스 트랜지스터(TDM2)의 게이트 전극은 제2 디먹스 트랜지스터(TDM2)의 채널부에 중첩하는 제2 디먹스 제어 배선(SCSL2)의 일부로 이루어질 수 있다. The gate electrode of the second demux transistor (TDM2) may be formed as a part of the second demux control line (SCSL2) overlapping the channel portion of the second demux transistor (TDM2).
비표시 영역(NDA) 및 제1 서브 영역(SB1)에 배치되는 제1 전원 공급 배선(VDSPL) 및 제2 전원 공급 배선(VSSPL) 각각의 적어도 일부는 디먹스 영역(DMXA)에 배치된다. 즉, 디먹스 영역(DMXA)에 배치되는 디먹스 회로부(DMC)들은 제1 전원 공급 배선(VDSPL) 및 제2 전원 공급 배선(VSSPL) 각각과 중첩될 수 있다.At least a portion of each of the first power supply line (VDSPL) and the second power supply line (VSSPL) disposed in the non-display area (NDA) and the first sub-area (SB1) is disposed in the demux area (DMXA). That is, the demux circuit units (DMC) disposed in the demux area (DMXA) may overlap each of the first power supply line (VDSPL) and the second power supply line (VSSPL).
제1 전원 공급 배선(VDSPL) 및 제2 전원 공급 배선(VSSPL) 각각은 제3 도전층(CDL3), 제4 도전층(CDL4) 및 제5 도전층(CDL5)의 조합으로 이루어진 점핑 구조로 마련될 수 있다.Each of the first power supply wiring (VDSPL) and the second power supply wiring (VSSPL) is provided in a jumping structure consisting of a combination of the third conductive layer (CDL3), the fourth conductive layer (CDL4), and the fifth conductive layer (CDL5). It can be.
제2 전원 보조 배선(VSAL)은 제5 도전층(CDL5)의 제2 전원 공급 배선(VSSPL)으로부터 분기된 형태일 수 있다. 이 경우, 제2 전원 보조 배선(VSAL)과 교차되는 제1 전원 공급 배선(VDSPL)의 일부는 제3 도전층(CDL3) 또는 제4 도전층(CDL4)으로 이루어질 수 있다. The second power auxiliary wiring (VSAL) may be branched from the second power supply wiring (VSSPL) of the fifth conductive layer (CDL5). In this case, a portion of the first power supply line (VDSPL) crossing the second power auxiliary line (VSAL) may be formed of the third conductive layer (CDL3) or the fourth conductive layer (CDL4).
제1 디먹스 제어 배선(SCSL1)과 제2 디먹스 제어 배선(SCSL2)은 제3 도전층(CDL3)으로 이루어질 수 있다. The first demux control line (SCSL1) and the second demux control line (SCSL2) may be formed of a third conductive layer (CDL3).
다만 이는 단지 예시일 뿐이며, 제1 전원 공급 배선(VDSPL) 및 제2 전원 공급 배선(VSSPL)과, 제1 디먹스 제어 배선(SCSL1) 및 제2 디먹스 제어 배선(SCSL2)의 배치 구조는 상호 절연되고, 데이터 출력 배선(DMOL)들과 데이터 입력 배선(DIPL)들로부터 절연되는 범위 내에서 자유롭게 변형될 수 있다. However, this is only an example, and the arrangement structures of the first power supply line (VDSPL) and the second power supply line (VSSPL), and the first demux control line (SCSL1) and the second demux control line (SCSL2) are mutually It is insulated and can be freely modified within the range of being insulated from the data output lines (DMOL) and data input lines (DIPL).
그리고, 제1 디먹스 제어 배선(SCSL1) 및 제2 디먹스 제어 배선(SCSL2) 각각은 제3 도전층(CDL3) 및 제4 도전층(CDL4)의 조합으로 이루어진 점핑 형태로 배치될 수 있다.Additionally, each of the first demux control line (SCSL1) and the second demux control line (SCSL2) may be arranged in a jumping shape consisting of a combination of the third conductive layer (CDL3) and the fourth conductive layer (CDL4).
더불어, 비표시 영역(NDA)에 배치되고 제1 서브 영역(SB1)에서 스캔 구동 회로 영역(SDCA)으로 연장되는 정전압 공급 배선(CVL)은 제3 도전층(CDL3) 및 제4 도전층(CDL4)의 조합으로 이루어진 점핑 형태로 배치될 수도 있다. In addition, the constant voltage supply line (CVL) disposed in the non-display area (NDA) and extending from the first sub-area (SB1) to the scan driving circuit area (SDCA) is connected to the third conductive layer (CDL3) and the fourth conductive layer (CDL4). ) can also be arranged in a jumping form consisting of a combination of
이와 같이 하면, 제1 전원 공급 배선(VDSPL), 제2 전원 공급 배선(VSSPL), 제1 디먹스 제어 배선(SCSL1), 제2 디먹스 제어 배선(SCSL2) 및 정전압 공급 배선(CVL)은 비표시 영역(NDA)에서 상호 절연되면서도 집적화될 수 있으므로, 비표시 영역(NDA)의 너비 감소에 유리해질 수 있다. In this way, the first power supply wiring (VDSPL), the second power supply wiring (VSSPL), the first demux control wiring (SCSL1), the second demux control wiring (SCSL2), and the constant voltage supply wiring (CVL) are Since they can be integrated while being mutually insulated in the display area (NDA), it can be advantageous to reduce the width of the non-display area (NDA).
한편, 표시 장치(10)는 비표시 영역(NDA)에 배치되고 표시 영역(DA)의 주변을 둘러싸는 형태로 이루어진 댐 구조물(DAMS)을 더 포함할 수 있다.Meanwhile, the
밀봉 구조물층(140)의 제2 밀봉층(142)은 댐 구조물(DAMS)로 둘러싸인 영역 내에 배치될 수 있다.The
도 14는 도 5의 F-F'를 따라 절단한 면의 일 예시를 보여주는 단면도이다.Figure 14 is a cross-sectional view showing an example of a surface cut along line F-F' of Figure 5.
서브 영역(SBA) 중 벤딩 영역(BA)은 벤딩 형태로 변형되는 영역이다. 이러한 벤딩 형태로 변형 시, 무기막은 벤딩 스트레스로 인한 크랙에 취약하므로, 무기막으로 이루어진 버퍼층(121), 제1 게이트 절연층(122), 제2 게이트 절연층(123) 및 층간 절연층(124) 각각 중에서 벤딩 영역(BA)에 대응하는 일부가 제거될 수 있다.Among the sub-areas (SBA), the bending area (BA) is an area that is transformed into a bending shape. When deformed into this bending form, the inorganic film is vulnerable to cracking due to bending stress, so the
그로 인해, 제1 서브 영역(BA1)의 배선들을 제2 서브 영역(BA2)의 배선들과 각각 연결하기 위한 벤딩 영역(BA)의 배선들이 별도로 마련될 수 있다.Therefore, wires in the bending area BA may be separately provided to connect the wires in the first sub-area BA1 with the wires in the second sub-area BA2.
도 14를 참조하면, 비표시 영역(NDA) 및 제1 서브 영역(SBA1)의 제2 전원 공급 배선(VSSPL) 중 적어도 일부와, 제2 서브 영역(SBA2)의 제2 전원 패드 배선(VSPDL) 중 적어도 일부는 제2 평탄화층(126) 상의 제5 도전층(CDL5)으로 마련될 수 있다.Referring to FIG. 14 , at least a portion of the second power supply line (VSSPL) in the non-display area (NDA) and the first sub-area (SBA1) and the second power pad line (VSPDL) in the second sub-area (SBA2) At least some of them may be provided as the fifth conductive layer (CDL5) on the
그리고, 제2 전원 공급 배선(VSSPL)과 제2 전원 패드 배선(VSPDL) 사이를 연결하는 벤딩 영역(BA)의 제2 전원 벤딩 배선(VSBDL)은 제1 평탄화층(125) 상의 제4 도전층(CDL4)으로 마련될 수 있다. 다만 이는 단지 예시일 뿐이며, 벤딩 영역(BA)의 배선들은 제1 평탄화층(125), 제2 평탄화층(126) 및 제3 평탄화층(127) 중 적어도 하나 상에 배치된 도전층으로 각각 마련될 수 있다. In addition, the second power bending line (VSBDL) of the bending area (BA) connecting the second power supply line (VSSPL) and the second power pad line (VSPDL) is the fourth conductive layer on the first planarization layer (125). It can be prepared as (CDL4). However, this is only an example, and the wires in the bending area BA are each formed of a conductive layer disposed on at least one of the
더불어, 별도로 도시하지 않으나, 비표시 영역(NDA) 및 제1 서브 영역(SBA1)의 제1 전원 공급 배선(VDSPL)과, 제2 서브 영역(SBA2)의 제1 전원 패드 배선(VDPDL) 각각은 제2 평탄화층(126) 상의 제5 도전층(CDL5)으로 마련되고, 제1 전원 벤딩 배선(VDBDL)은 제1 평탄화층(125) 상의 제4 도전층(CDL4)으로 마련될 수 있다.In addition, although not separately shown, the first power supply line (VDSPL) of the non-display area (NDA) and the first sub-area (SBA1) and the first power pad line (VDPDL) of the second sub-area (SBA2) are each It may be provided as a fifth conductive layer (CDL5) on the
센서 전극층(150)의 유기막 및 배선들은 벤딩 영역(BA) 및 제2 서브 영역(SB2)으로 연장될 수 있다.The organic layer and wires of the
도 15는 제1 실시예에 따른 도 4의 C 부분 중 제4 도전층과 제5 도전층에 대한 일 예시를 보여주는 레이아웃도이다. 도 16은 제1 실시예에 따른 도 4의 C 부분 중 제4 도전층과 제5 도전층에 대한 다른 일 예시를 보여주는 레이아웃도이다. FIG. 15 is a layout diagram showing an example of the fourth and fifth conductive layers in part C of FIG. 4 according to the first embodiment. FIG. 16 is a layout diagram showing another example of the fourth and fifth conductive layers in part C of FIG. 4 according to the first embodiment.
도 15 및 도 16 각각은 표시 영역(DA) 중 센터 인접 영역(CDAA)과 가장자리 인접 영역(EDAA) 간의 경계에 인접한 센터 인접 영역(CDAA)의 일부 및 가장자리 인접 영역(EDAA)의 일부를 도시한다.15 and 16 each show a portion of the center adjacent area (CDAA) and a portion of the edge adjacent area (EDAA) adjacent to the boundary between the center adjacent area (CDAA) and the edge adjacent area (EDAA) in the display area (DA). .
도 15 및 도 16을 참조하면, 제1 디먹스 회로부(DMC1)과 연결되는 제1 데이터 배선(DL1)과 제2 데이터 배선(DL2)은 센터 인접 영역(CDAA)에 배치된다.Referring to FIGS. 15 and 16 , the first data line DL1 and the second data line DL2 connected to the first demux circuit unit DMC1 are disposed in the center adjacent area CDAA.
센터 인접 영역(CDAA)에서, 제1 데이터 배선(DL1)은 제1 우회 배선(DETL1)과 이웃하고, 제2 데이터 배선(DL2)은 제2 전원 보조 배선(VSAL)과 이웃할 수 있다. 즉, 센터 인접 영역(CDAA)에서, 제1 우회 배선(DETL1), 제1 데이터 배선(DL1), 제2 전원 보조 배선(VSAL) 및 제2 데이터 배선(DL2)이 제1 방향(DR1)의 일측을 따라 반복하여 배열될 수 있다. In the center adjacent area CDAA, the first data line DL1 may be adjacent to the first bypass line DETL1, and the second data line DL2 may be adjacent to the second power auxiliary line VSAL. That is, in the center adjacent area (CDAA), the first bypass line (DETL1), the first data line (DL1), the second power auxiliary line (VSAL), and the second data line (DL2) are connected in the first direction (DR1). It may be arranged repeatedly along one side.
제2 디먹스 회로부(DMC2)과 연결되는 제3 데이터 배선(DL3)과 제4 데이터 배선(DL4)은 가장자리 인접 영역(EDAA)에 배치된다.The third data line DL3 and the fourth data line DL4 connected to the second demux circuit unit DMC2 are disposed in the edge adjacent area EDAA.
가장자리 인접 영역(EDAA)에서, 제3 데이터 배선(DL3)은 제3 우회 배선(DETL3)과 이웃하고, 제4 데이터 배선(DL4)은 제2 전원 보조 배선(VSAL)과 이웃할 수 있다. 즉, 가장자리 인접 영역(EDAA)에서, 제3 우회 배선(DETL3), 제3 데이터 배선(DL3), 제2 전원 보조 배선(VSAL) 및 제4 데이터 배선(DL4)이 제1 방향(DR1)의 일측을 따라 반복하여 배열될 수 있다. In the edge adjacent area EDAA, the third data line DL3 may be adjacent to the third bypass line DETL3, and the fourth data line DL4 may be adjacent to the second power auxiliary line VSAL. That is, in the edge adjacent area EDAA, the third bypass line DETL3, the third data line DL3, the second power auxiliary line VSAL, and the fourth data line DL4 are connected in the first direction DR1. It may be arranged repeatedly along one side.
제2 우회 배선(DETL2)의 일측은 센터 인접 영역(CDAA)에서 제1 우회 연결홀(DETH1)을 통해 제1 우회 배선(DETL1)과 연결되고, 제2 우회 배선(DETL2)의 다른 일측은 가장자리 인접 영역(EDAA)에서 제2 우회 연결홀(DETH2)을 통해 제3 우회 배선(DETL3)과 연결된다.One side of the second bypass wiring (DETL2) is connected to the first bypass wiring (DETL1) through the first bypass connection hole (DETH1) in the center adjacent area (CDAA), and the other side of the second bypass wiring (DETL2) is connected to the edge. It is connected to the third bypass wiring (DETL3) through the second bypass connection hole (DETH2) in the adjacent area (EDAA).
제1 전원 보조 배선(VDAL)은 제1 방향(DR1)으로 연장되고, 제2 우회 배선(DETL2)과 제2 방향(DR2)으로 교번하여 배치된다.The first power auxiliary wiring (VDAL) extends in the first direction (DR1) and is alternately arranged in the second direction (DR2) with the second bypass wiring (DETL2).
제1 더미 배선(DML1)들은 제1 우회 배선(DETL1)의 제2 방향(DR2)의 일측 및 제3 우회 배선(DETL3)의 제2 방향(DR2)의 일측 각각에 나란하게 이격되고, 제2 방향(DR2)으로 연장된다.The first dummy wires DML1 are spaced apart in parallel on one side of the first bypass wire DETL1 in the second direction DR2 and one side of the third bypass wire DETL3 in the second direction DR2, and It extends in the direction (DR2).
제2 더미 배선(DML2)들은 제2 우회 배선(DETL2)의 제1 방향(DR1)의 양측에 나란하게 이격되고 제1 방향(DR1)으로 연장된다.The second dummy wires DML2 are spaced apart from each other in parallel on both sides of the second bypass wire DETL2 in the first direction DR1 and extend in the first direction DR1.
도 15의 도시와 같이, 제2 방향(DR2)으로 인접한 제2 우회 배선(DETL2)들의 제1 우회 연결홀(DETH1)들은 제1 대각 방향(DD1)으로 나란하게 배열될 수 있다.As shown in FIG. 15 , the first bypass connection holes DETH1 of the second bypass wires DETL2 adjacent to each other in the second direction DR2 may be arranged side by side in the first diagonal direction DD1.
제2 방향(DR2)으로 인접한 제2 우회 배선(DETL2)들의 제2 우회 연결홀(DETH2)들은 제2 대각 방향(DD2)으로 나란하게 배열될 수 있다.The second bypass connection holes DETH2 of the second bypass wires DETL2 adjacent in the second direction DR2 may be arranged side by side in the second diagonal direction DD2.
이 경우, 제2 방향(DR2)으로 인접한 제2 우회 배선(DETL2)들은 디먹스 영역(DMXA)으로부터 더 멀리 이격될수록 더 긴 길이로 이루어질 수 있다.In this case, the second bypass wires DETL2 adjacent in the second direction DR2 may have a longer length as they are further away from the demultiplex area DMXA.
또는, 도 16의 도시와 같이, 제2 방향(DR2)으로 인접한 제2 우회 배선(DETL2)들의 제1 우회 연결홀(DETH1)들은 제2 대각 방향(DD2)으로 나란하게 배열될 수 있다.Alternatively, as shown in FIG. 16 , the first bypass connection holes DETH1 of the second bypass wiring DETL2 adjacent to each other in the second direction DR2 may be arranged side by side in the second diagonal direction DD2.
제2 방향(DR2)으로 인접한 제2 우회 배선(DETL2)들의 제2 우회 연결홀(DETH2)들은 제1 대각 방향(DD1)으로 나란하게 배열될 수 있다.The second bypass connection holes DETH2 of the second bypass wires DETL2 adjacent in the second direction DR2 may be arranged side by side in the first diagonal direction DD1.
이 경우, 제2 방향(DR2)으로 인접한 제2 우회 배선(DETL2)들은 디먹스 영역(DMXA)으로부터 더 멀리 이격될수록 더 짧은 길이로 이루어질 수 있다. In this case, the second bypass wires DETL2 adjacent in the second direction DR2 may have shorter lengths as they are further away from the demultiplex area DMXA.
이와 같이 하면, 제1 우회 연결홀(DETH1)들과 제2 우회 연결홀(DETH2)들이 정상적으로 배치되었는지 여부가 제1 우회 연결홀(DETH1)들의 배열 형태 및 제2 우회 연결홀(DETH2)들의 배열 형태로부터 비교적 용이하게 유추될 수 있다.In this way, whether the first bypass connection holes (DETH1) and the second bypass connection holes (DETH2) are normally arranged can be determined by the arrangement of the first bypass connection holes (DETH1) and the arrangement of the second bypass connection holes (DETH2). It can be relatively easily inferred from the shape.
도 15 및 도 16의 도시와 같이, 제2 디먹스 영역(DMXA2)들에 배치된 제2 디먹스 회로부(DMC2)들이 제1 디먹스 영역(DMXA1)으로부터 멀리 이격될수록, 더 긴 제2 우회 배선(DETL2)을 포함한 제2 데이터 입력 배선(DIPL2)과 연결될 수 있다. As shown in FIGS. 15 and 16, the further away the second demux circuit units DMC2 arranged in the second demux areas DMXA2 are from the first demux area DMXA1, the longer the second bypass wiring. It may be connected to a second data input line (DIPL2) including (DETL2).
도 17은 제1 실시예에 따른 도 4의 D 부분 중 제4 도전층과 제5 도전층에 대한 일 예시를 보여주는 레이아웃도이다. FIG. 17 is a layout diagram showing an example of the fourth and fifth conductive layers in portion D of FIG. 4 according to the first embodiment.
도 17은 표시 영역(DA) 중 디먹스 인접 영역(DAA)을 제외한 나머지인 일반 영역(GA)의 일부를 도시한다.FIG. 17 shows a portion of the general area (GA) remaining in the display area (DA) excluding the demultiplexed adjacent area (DAA).
도 17은 도 15 및 도 16의 일부 영역과 제2 방향(DR2)으로 나란한 일반 영역(GA)의 일부에 대한 레이아웃을 예시한다.FIG. 17 illustrates a layout of some areas of FIGS. 15 and 16 and a portion of the general area GA parallel to the second direction DR2.
도 17을 참조하면, 디먹스 인접 영역(DAA)에 배치되는 제1 데이터 배선(DL1), 제2 데이터 배선(DL2), 제3 데이터 배선(DL3), 제4 데이터 배선(DL4), 제1 더미 배선(DML1), 및 제2 전원 보조 배선(VSAL) 각각은 제2 방향(DR2)으로 연장되어 일반 영역(GA)에도 배치된다.Referring to FIG. 17, the first data line DL1, the second data line DL2, the third data line DL3, the fourth data line DL4, and the first data line DL1, the second data line DL2, the third data line DL3, and the first data line DL4 are disposed in the demultiplex adjacent area (DAA). Each of the dummy wire DML1 and the second power auxiliary wire VSAL extends in the second direction DR2 and is also disposed in the general area GA.
제1 실시예에 따르면, 회로 어레이층(120)은 일반 영역(GA)에 배치되고 제2 전원 보조 배선(VSAL)과 연결되며 제1 방향(DR1)으로 연장되는 제2 전원 서브 배선(VSSBL)을 더 포함할 수 있다. According to the first embodiment, the
일반 영역(GA)에서, 제1 전원 보조 배선(VDAL)은 제2 전원 서브 배선(VSSBL)과 이웃한다. 즉, 일반 영역(GA)에서, 제1 전원 보조 배선(VDAL)과 제2 전원 서브 배선(VSSBL)은 제2 방향(DR2)으로 교번하여 배치될 수 있다.In the general area GA, the first power auxiliary line VDAL is adjacent to the second power sub line VSSBL. That is, in the general area GA, the first power auxiliary line VDAL and the second power sub line VSSBL may be alternately arranged in the second direction DR2.
제2 전원 서브 배선(VSSBL)은 제1 전원 보조 배선(VDAL)과 함께, 제1 평탄화층(125) 상의 제4 도전층(CDL4)으로 마련될 수 있다.The second power sub-wiring (VSSBL) may be provided as the fourth conductive layer (CDL4) on the
제2 전원 서브 배선(VSSBL)은 제1 전원 연결홀(PCH1)을 통해 제2 전원 보조 배선(VSAL)과 전기적으로 연결될 수 있다.The second power sub-wiring (VSSBL) may be electrically connected to the second power auxiliary wiring (VSAL) through the first power connection hole (PCH1).
그리고, 제2 전원 서브 배선(VSSBL)은 제2 전원 연결홀(PCH2)을 통해 제1 더미 배선(DML1)과 전기적으로 연결될 수 있다. Additionally, the second power sub-wire (VSSBL) may be electrically connected to the first dummy wire (DML1) through the second power connection hole (PCH2).
이로써, 제1 더미 배선(DML1)은 제2 전원 서브 배선(VSSBL), 제1 전원 연결홀(PCH1) 및 제2 전원 연결홀(PCH2)을 통해, 제2 전원 보조 배선(VSAL)과 전기적으로 연결될 수 있다. Accordingly, the first dummy wiring (DML1) is electrically connected to the second power auxiliary wiring (VSAL) through the second power sub-wiring (VSSBL), the first power connection hole (PCH1), and the second power connection hole (PCH2). can be connected
그리고, 별도로 도시하지 않으나, 디먹스 인접 영역(DAA)의 제2 더미 배선(DML2)은 소정의 연결홀을 통해 제1 더미 배선(DML1)과 전기적으로 연결될 수 있다. Although not separately shown, the second dummy wire DML2 in the demultiplex adjacent area DAA may be electrically connected to the first dummy wire DML1 through a predetermined connection hole.
이로써, 제1 디먹스 우회 배선(DETL1), 제2 디먹스 우회 배선(DETL2) 및 제3 디먹스 우회 배선(DETL3)의 시인성을 낮추기 위한 제1 더미 배선(DML1) 및 제2 더미 배선(DML2)은 플로팅 상태로 유지되는 것이 아니라, 제2 전원 서브 배선(VSSBL)을 통해 제2 전원 보조 배선(VSAL)과 연결됨으로써, 제2 전원 전달 경로의 RC 지연이 감소될 수 있다.Accordingly, the first dummy wire (DML1) and the second dummy wire (DML2) are used to reduce the visibility of the first demultiplex bypass wire (DETL1), the second demultiplex bypass wire (DETL2), and the third demultiplex bypass wire (DETL3). ) is not maintained in a floating state, but is connected to the second power auxiliary wiring (VSAL) through the second power sub-wiring (VSSBL), so that the RC delay of the second power transmission path can be reduced.
제1 전원 연결홀(PCH1)들과 제2 전원 연결홀(PCH2)들은 소정의 대각 방향에서 상호 교번하여 나란하게 배열될 수 있다. The first power connection holes (PCH1) and the second power connection holes (PCH2) may be arranged side by side, alternating with each other in a predetermined diagonal direction.
이와 같이 하면, 제1 전원 연결홀(PCH1)과 제2 전원 연결홀(PCH2)의 배열 형태를 통해, 제1 전원 연결홀(PCH1)과 제2 전원 연결홀(PCH2)이 정상적으로 배치되었는지 여부가 비교적 용이하게 검출될 수 있다.In this way, it can be determined whether the first power connection hole (PCH1) and the second power connection hole (PCH2) are properly arranged through the arrangement of the first power connection hole (PCH1) and the second power connection hole (PCH2). It can be detected relatively easily.
이상과 같이, 제1 실시예에 따르면, 표시 구동 회로(200)와 데이터 배선(DL)들 사이에 연결되는 디먹스 회로부(DMC)들이 비표시 영역(NDA) 중 표시 영역(DA)과 서브 영역(SBA) 사이의 일부인 디먹스 영역(DMXA)에 배치된다.As described above, according to the first embodiment, the demux circuit unit (DMC) connected between the
이에 따라, 디먹스 회로부(DMC)들과 데이터 배선(DL)들 간의 신호 전달 경로가 비교적 짧으므로, 디먹스 회로부(DMC)들로부터 데이터 배선(DL)들에 전달되는 신호의 RC 지연이 감소될 수 있다. Accordingly, since the signal transmission path between the demux circuits (DMCs) and the data lines (DL) is relatively short, the RC delay of the signal transmitted from the demux circuits (DMCs) to the data lines (DL) can be reduced. You can.
데이터 공급 배선(DSPL)들과, 데이터 벤딩 배선(DBDL)들과 데이터 입력 배선(DIPL)들은 디먹스 회로부(DMC)들의 개수만큼 마련되므로, 서브 영역(SBA)에 배치되는 배선들 간의 간격이 넓어지거나, 서브 영역(SBA)에 배치되는 배선들의 너비가 넓어지거나, 또는 서브 영역(SBA)의 너비가 감소될 수 있다. Since the data supply lines (DSPL), data bending lines (DBDL), and data input lines (DIPL) are provided as many as the demux circuit units (DMCs), the spacing between the lines arranged in the sub area (SBA) is wide. Alternatively, the width of the wires arranged in the sub-area SBA may be increased, or the width of the sub-area SBA may be reduced.
제1 실시예에 따르면, 비표시 영역(NDA)에 디먹스 회로부(DMC)들이 배치됨에 따라, 비표시 영역(NDA)의 너비가 다소 커질 수 있다. 그러나, 디먹스 회로부(DMC)들이 나란하게 배치될 수 있어, 제2 디먹스 영역(DMXA2)은 메인 영역(MA)의 모서리를 따라 배치될 수 있다. 그리고, 디먹스 영역(DMXA)은 제1 전원 공급 배선(VDSPL) 및 제2 전원 공급 배선(VSSPL) 각각의 일부와 중첩될 수 있다. 이로써, 디먹스 회로부(DMC)들의 배치에 따른 비표시 영역(NDA)의 너비 증가 폭이 비교적 작아질 수 있다.According to the first embodiment, as the demux circuit units (DMCs) are disposed in the non-display area (NDA), the width of the non-display area (NDA) may become somewhat larger. However, since the demux circuit units (DMCs) can be arranged side by side, the second demux area (DMXA2) can be arranged along the edge of the main area (MA). Additionally, the demux area (DMXA) may overlap with a portion of each of the first power supply line (VDSPL) and the second power supply line (VSSPL). As a result, the increase in width of the non-display area (NDA) according to the arrangement of the demux circuit units (DMCs) can be relatively small.
이뿐만 아니라, 제1 실시예에 따르면, 메인 영역(MA)의 모서리를 따라 배치된 제2 디먹스 회로부(DMC2)들에 연결되는 제2 데이터 입력 배선(DIPL2)들은 제1 서브 영역(SB1)에서 제2 디먹스 영역(DMXA2)들로 연장되는 것이 아니라, 제1 서브 영역(SB1)에서 제1 디먹스 영역(DMXA1) 및 표시 영역(DA)으로 우회하여 제2 디먹스 영역(DMXA2)들로 연장된다. In addition, according to the first embodiment, the second data input lines DIPL2 connected to the second demux circuit units DMC2 disposed along the edges of the main area MA are connected to the first sub area SB1. Instead of extending to the second demux areas DMXA2, it detours from the first sub-area SB1 to the first demux area DMXA1 and the display area DA to form the second demux areas DMXA2. is extended to
이로써, 제2 데이터 입력 배선(DIPL2)들이 메인 영역(MA)의 모서리를 따라 나란하게 배열되지 않으므로, 비표시 영역(NDA)의 너비가 감소될 수 있다. Accordingly, since the second data input lines DIPL2 are not arranged side by side along the edges of the main area MA, the width of the non-display area NDA may be reduced.
따라서, 비표시 영역(NDA)의 너비가 감소될 수 있고, 그로 인해 표시 장치(10)의 표시면 중 표시영역(DA)이 할당된 비율이 커질 수 있으므로, 표시 장치(10)의 미감 및 성능 개선에 유리해질 수 있다. Accordingly, the width of the non-display area (NDA) may be reduced, and as a result, the ratio to which the display area (DA) is allocated among the display surface of the
도 18은 제2 실시예에 따른 도 5의 디먹스 회로부를 보여주는 등가 회로도이다. 도 19는 제2 실시예에 따른 표시 영역 및 디먹스 영역 각각의 일부를 보여주는 레이아웃도이다.FIG. 18 is an equivalent circuit diagram showing the demux circuit of FIG. 5 according to the second embodiment. Figure 19 is a layout diagram showing a portion of each display area and demux area according to the second embodiment.
도 18 및 도 19의 도시와 같이, 제2 실시예의 표시 장치는 디먹스 회로부(DMC)들 각각이 두 개의 출력단이 아닌 세 개의 출력단을 포함하는 점을 제외하면, 제1 실시예의 표시 장치와 사실상 동일하므로, 이하에서 중복되는 설명을 생략한다.As shown in FIGS. 18 and 19, the display device of the second embodiment is substantially similar to the display device of the first embodiment, except that each of the demux circuit units (DMCs) includes three output terminals instead of two output terminals. Since they are the same, redundant descriptions will be omitted below.
도 18을 참조하면, 제2 실시예에 따른 디먹스 회로부(DMC)는 데이터 입력 배선(DIPL)과 제1 데이터 출력 배선(DMOL1) 사이에 연결되는 제1 디먹스 트랜지스터(TDM1), 데이터 입력 배선(DIPL)과 제2 데이터 출력 배선(DMOL2) 사이에 연결되는 제2 디먹스 트랜지스터(TDM2), 및 데이터 입력 배선(DIPL)과 제3 데이터 출력 배선(DMOL3) 사이에 연결되는 제3 디먹스 트랜지스터(TDM3)을 포함한다. Referring to FIG. 18, the demux circuit unit (DMC) according to the second embodiment includes a first demux transistor (TDM1) connected between the data input line (DIPL) and the first data output line (DMOL1), and a data input line. A second demux transistor (TDM2) connected between (DIPL) and the second data output line (DMOL2), and a third demux transistor connected between the data input line (DIPL) and the third data output line (DMOL3) (TDM3).
일 예로, 제1 디먹스 트랜지스터(TDM1), 제2 디먹스 트랜지스터(TDM2) 및 제3 디먹스 트랜지스터(TDM3) 각각의 제1 전극(예를 들면, 소스 전극)은 데이터 입력 배선(DIPL)과 연결될 수 있다. 그리고, 제1 디먹스 트랜지스터(TDM1), 제2 디먹스 트랜지스터(TDM2) 및 제3 디먹스 트랜지스터(TDM3) 각각의 제2 전극(예를 들면, 드레인 전극)은 데이터 출력 배선(DMOL)들에 연결될 수 있다.As an example, the first electrode (eg, source electrode) of each of the first demux transistor (TDM1), the second demux transistor (TDM2), and the third demux transistor (TDM3) is connected to the data input line (DIPL) and can be connected And, the second electrode (for example, drain electrode) of each of the first demux transistor (TDM1), the second demux transistor (TDM2), and the third demux transistor (TDM3) is connected to the data output lines (DMOL). can be connected
제1 디먹스 트랜지스터(TDM1)의 게이트 전극은 소정의 제1 디먹스 제어 신호(SCS1)를 전달하는 제1 디먹스 제어 배선(SCSL1)에 연결될 수 있다.The gate electrode of the first demux transistor TDM1 may be connected to the first demux control line SCSL1 that transmits a predetermined first demux control signal SCS1.
제2 디먹스 트랜지스터(TDM2)의 게이트 전극은 제1 디먹스 제어 신호(SCS1)와 상이한 위상을 갖는 제2 디먹스 제어 신호(SCS2)를 전달하는 제2 디먹스 제어 배선(SCSL2)에 연결될 수 있다.The gate electrode of the second demux transistor (TDM2) may be connected to the second demux control line (SCSL2) that transmits the second demux control signal (SCS2) having a different phase from the first demux control signal (SCS1). there is.
제3 디먹스 트랜지스터(TDM3)의 게이트 전극은 제1 디먹스 제어 신호(SCS1) 및 제2 디먹스 제어 신호(SCS3)와 상이한 위상을 갖는 제3 디먹스 제어 신호(SCS3)를 전달하는 제3 디먹스 제어 배선(SCSL3)에 연결될 수 있다.The gate electrode of the third demux transistor (TDM3) transmits a third demux control signal (SCS3) having a different phase from the first demux control signal (SCS1) and the second demux control signal (SCS3). It can be connected to the demux control wire (SCSL3).
도 19를 참조하면, 제2 실시예에 따른 데이터 배선(DL)들은 제1 디먹스 회로부(DMC1)에 연결되고 센터 인접 영역(CDAA)에 배치되는 제1 데이터 배선(DL1), 제2 데이터 배선(DL2) 및 제3 데이터 배선(DL3)과, 제2 디먹스 회로부(DMC2)에 연결되고 가장자리 인접 영역(EDAA)에 배치되는 제4 데이터 배선(DL4), 제5 데이터 배선(DL5) 및 제6 데이터 배선(DL6)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 19, the data lines DL according to the second embodiment include a first data line DL1 and a second data line connected to the first demux circuit unit DMC1 and disposed in the center adjacent area CDAA. (DL2) and the third data line (DL3), and the fourth data line (DL4), the fifth data line (DL5) and the It may include 6 data lines (DL6).
제1 디먹스 회로부(DMC1)에 연결된 제1 데이터 배선(DL1), 제2 데이터 배선(DL2) 및 제3 데이터 배선(DL3) 중 어느 하나(예를 들면, 제1 데이터 배선(DL1))는 제1 우회 배선(DETL1)과 이웃하고, 다른 나머지들(예를 들면, 제2 데이터 배선(DL2) 및 제3 데이터 배선(DL3)) 각각은 제2 전원 보조 배선(VSAL)과 이웃할 수 있다.Any one of the first data line DL1, the second data line DL2, and the third data line DL3 (for example, the first data line DL1) connected to the first demux circuit unit DMC1 It is adjacent to the first bypass line (DETL1), and each of the others (for example, the second data line (DL2) and the third data line (DL3)) may be adjacent to the second power auxiliary line (VSAL). .
그리고, 제2 디먹스 회로부(DMC2)에 연결된 제4 데이터 배선(DL4), 제5 데이터 배선(DL5) 및 제6 데이터 배선(DL6) 중 어느 하나(예를 들면, 제4 데이터 배선(DL4))는 제3 우회 배선(DETL3)과 이웃하고, 다른 나머지들(예를 들면, 제5 데이터 배선(DL5) 및 제6 데이터 배선(DL6)) 각각은 제2 전원 보조 배선(VSAL)과 이웃할 수 있다.And, one of the fourth data line DL4, the fifth data line DL5, and the sixth data line DL6 (for example, the fourth data line DL4) connected to the second demux circuit unit DMC2. ) is adjacent to the third bypass line (DETL3), and the others (for example, the fifth data line (DL5) and the sixth data line (DL6)) are each adjacent to the second power auxiliary line (VSAL). You can.
다만, 제1 실시예 및 제2 실시예는 단지 예시일 뿐이며, 데이터 구동 신호의 생성이 가능한 범위 내에서, 디먹스 회로부(DMC)들 각각은 넷 이상의 데이터 배선들과 연결될 수도 있음은 당연하다. However, the first and second embodiments are only examples, and it is natural that each of the demux circuit units (DMCs) may be connected to four or more data wires within the range in which data driving signals can be generated.
도 20은 제3 실시예에 따른 도 4의 B 부분을 보여주는 레이아웃도이다. 도 21은 도 20의 I 부분에 대한 일 예시를 보여주는 평면도이다.FIG. 20 is a layout diagram showing part B of FIG. 4 according to the third embodiment. FIG. 21 is a plan view showing an example of portion I of FIG. 20.
도 19 및 도 20을 참조하면, 제3 실시예에 따른 표시 장치(10)는 우회 부가 배선(DEAL')이 제2 방향(DR2)으로 연장되는 제1 연장부(DETP1)과 제1 방향(DR1)으로 연장되는 제2 연장부(DETP2)을 포함하는 점을 제외하면, 제1 실시예의 표시 장치와 사실상 동일하므로, 이하에서 중복되는 설명을 생략한다.Referring to FIGS. 19 and 20 , the
도 20의 도시와 같이, 제3 실시예에 따른 우회 부가 배선(DEAL')은 제3 우회 배선(DETL3)과 연결되고 제2 방향(DR2)으로 연장되는 제1 연장부(DETP1), 및 제1 연장부(DETP1)과 이어지고 제2 디먹스 회로부(DMC2)의 입력단을 향해 제1 방향(DR1)으로 연장되는 제2 연장부(DETP2)을 포함한다.As shown in FIG. 20, the bypass additional wiring DEAL' according to the third embodiment includes a first extension portion DETP1 connected to the third bypass wiring DETL3 and extending in the second direction DR2, and a first extension portion DETP1 connected to the third bypass wiring DETL3 and extending in the second direction DR2. It includes a second extension part (DETP2) connected to the first extension part (DETP1) and extending in the first direction (DR1) toward the input terminal of the second demux circuit part (DMC2).
즉, 제3 실시예의 우회 부가 배선(DEAL')은 절곡된 형태를 포함할 수 있다.That is, the additional bypass wiring DEAL' of the third embodiment may have a bent shape.
이와 같이 하면, 제2 디먹스 회로부(DMC2)의 입력단이 우회 부가 배선(DEAL')을 향해 제1 방향(DR1)으로 연장되지 않고, 제1 디먹스 회로부(DMC1)의 입력단과 유사한 형태로 마련될 수 있다.In this way, the input terminal of the second demux circuit unit DMC2 does not extend in the first direction DR1 toward the bypass additional wiring DEAL', but is provided in a similar form to the input terminal of the first demux circuit unit DMC1. It can be.
그로 인해, 디먹스 회로부(DMC)들의 마련을 위한 패터닝 공정이 보다 용이해질 수 있고, 용적율 개선에 유리해질 수 있다. As a result, the patterning process for preparing demux circuit parts (DMCs) can become easier and it can be advantageous to improve the volume ratio.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.Although embodiments of the present invention have been described above with reference to the attached drawings, those skilled in the art will understand that the present invention can be implemented in other specific forms without changing its technical idea or essential features. You will be able to understand it. Therefore, the embodiments described above should be understood in all respects as illustrative and not restrictive.
10: 표시 장치
100: 표시 패널
MA: 메인영역
SBA: 서브영역
DA: 표시영역
NDA: 비표시영역
200: 표시구동회로
300: 회로보드
EA: 발광 영역
110: 기판
120: 회로 어레이층
130: 발광 어레이층
140: 밀봉 구조물층
150: 센서 전극층
DMXA: 디먹스 영역
DAA: 디먹스 인접 영역
DMXA1, DMXA2: 제1, 제2 디먹스 영역
CDAA: 센터 인접 영역
EDAA: 가장자리 인접 영역
DMC: 디먹스 회로부
DMC1, DMC2: 제1, 제2 디먹스 회로부
DSPL1, DSPL2: 제1, 제2 데이터 공급 배선
DBDL1, DBDL2: 제1, 제2 데이터 벤딩 배선
DIPL1, DIPL2: 제1, 제2 데이터 입력 배선
MIPL: 메인 입력 배선
DETL: 디먹스 우회 배선
DETL1, DETL2, DETL3: 제1, 제2, 제3 우회 배선
DEAL, DEAL': 우회 부가 배선
DMOL: 디먹스 출력 배선
CVL: 정전압 공급 배선
DL: 데이터 배선
PXD: 화소 구동부
DL1, DL2, DL3, DL4: 제1, 제2, 제3, 제4 데이터 배선
DML1, DML2: 제1, 제2 더미 배선
VDAL: 제1 전원 보조 배선
VSAL: 제2 전원 보조 배선
VDSPL: 제1 전원 공급 배선
VSSPL: 제2 전원 공급 배선
VDBDL: 제1 전원 벤딩 배선
VSBDL: 제2 전원 벤딩 배선
VDPDL: 제1 전원 패드 배선
VSPDL: 제2 전원 패드 배선
SEL: 반도체층
CDL1, CDL2, CDL3: 제1, 제2, 제3 도전층
CDL4, CDL5: 제4, 제5 도전층
VSSBL: 제2 전원 서브 배선
DETH1, DETH2, DETH3: 제1, 제2, 제3 우회 연결홀
PCH1, PCH2: 제1, 제2 전원 연결홀
TDM1, TDM2, TDM3: 제1, 제2, 제3 디먹스 트랜지스터
SCSL1, SCSL2, SCSL3: 제1, 제2, 제3 디먹스 제어 배선
DMOL1, DMOL2, DMOL3: 제1, 제2, 제3 디먹스 출력 배선10: display device 100: display panel
MA: Main area SBA: Sub area
DA: Display area NDA: Non-display area
200: display driving circuit 300: circuit board
EA: luminescent area 110: substrate
120: circuit array layer 130: light emitting array layer
140: Sealing structure layer 150: Sensor electrode layer
DMXA: Demux area DAA: Demux adjacent area
DMXA1, DMXA2: 1st, 2nd demux area
CDAA: Center Adjacent Area EDAA: Edge Adjacent Area
DMC: Demux circuitry
DMC1, DMC2: 1st and 2nd demux circuit units
DSPL1, DSPL2: 1st and 2nd data supply wiring
DBDL1, DBDL2: 1st, 2nd data bending wiring
DIPL1, DIPL2: 1st, 2nd data input wiring
MIPL: Main input wiring DETL: Demux bypass wiring
DETL1, DETL2, DETL3: 1st, 2nd, 3rd bypass wiring
DEAL, DEAL': Additional bypass wiring
DMOL: Demux output wiring CVL: Constant voltage supply wiring
DL: Data wiring PXD: Pixel driver
DL1, DL2, DL3, DL4: 1st, 2nd, 3rd, 4th data wires
DML1, DML2: 1st, 2nd dummy wiring
VDAL: 1st power auxiliary wiring VSAL: 2nd power auxiliary wiring
VDSPL: primary power supply wiring VSSPL: secondary power supply wiring
VDBDL: primary power bending wiring VSBDL: secondary power bending wiring
VDPDL: first power pad wiring VSPDL: second power pad wiring
SEL: semiconductor layer
CDL1, CDL2, CDL3: first, second, third conductive layers
CDL4, CDL5: 4th, 5th conductive layer VSSBL: 2nd power sub-wiring
DETH1, DETH2, DETH3: 1st, 2nd, 3rd bypass connection holes
PCH1, PCH2: 1st and 2nd power connection holes
TDM1, TDM2, TDM3: first, second, third demux transistors
SCSL1, SCSL2, SCSL3: 1st, 2nd, 3rd demux control wiring
DMOL1, DMOL2, DMOL3: 1st, 2nd, 3rd demux output wiring
Claims (28)
상기 기판 상에 배치되고, 상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응되는 복수의 화소 구동부들과, 상기 복수의 화소 구동부들에 데이터 신호를 전달하는 데이터 배선들과, 상기 비표시 영역 중 상기 서브 영역에 인접한 디먹스 영역에 배치되는 디먹스 회로부들을 포함한 회로 어레이층; 및
상기 기판의 상기 서브 영역에 배치되고 상기 데이터 배선들에 대응하는 데이터 구동 신호들을 공급하는 표시 구동 회로를 포함하고,
상기 디먹스 회로부들 중 하나의 디먹스 회로부는 하나의 데이터 구동 신호에 기초하여 둘 이상의 데이터 신호를 출력하고,
상기 디먹스 회로부들은 상기 디먹스 영역 중 상기 서브 영역에 인접한 제1 디먹스 영역에 배치되는 제1 디먹스 회로부와, 상기 디먹스 영역 중 상기 제1 디먹스 영역의 상기 제1 방향의 일측에 접하는 제2 디먹스 영역에 배치되는 제2 디먹스 회로부를 포함하며,
상기 회로 어레이층은
상기 서브 영역에서 상기 제1 디먹스 영역으로 연장되고 상기 제1 디먹스 회로부의 입력단에 연결되는 제1 데이터 입력 배선; 및
상기 제2 디먹스 회로부의 입력단에 연결되는 제2 데이터 입력 배선을 더 포함하며,
상기 제2 데이터 입력 배선은
상기 서브 영역에서 상기 제1 디먹스 영역으로 연장되는 메인 입력 배선;
상기 표시 영역에 배치되고 상기 메인 입력 배선과 연결되는 디먹스 우회 배선; 및
상기 제2 디먹스 영역에 배치되고 상기 디먹스 우회 배선과 상기 제2 디먹스 회로부의 입력단 사이를 연결하는 우회 부가 배선을 포함하는 표시 장치.A substrate including a display area in which a plurality of light-emitting areas are arranged in a first direction and a second direction, a main area including a non-display area disposed around the display area, and a sub-area protruding from one side of the main area;
A plurality of pixel drivers disposed on the substrate, each corresponding to the plurality of light-emitting areas, data lines for transmitting data signals to the plurality of pixel drivers, and in the sub-area of the non-display area. a circuit array layer including demux circuit units disposed in adjacent demux areas; and
a display driving circuit disposed in the sub-region of the substrate and supplying data driving signals corresponding to the data lines;
One of the demux circuit units outputs two or more data signals based on one data driving signal,
The demux circuit units include a first demux circuit unit disposed in a first demux area adjacent to the sub-area among the demux areas, and a first demux circuit unit in contact with one side of the first demux area in the first direction among the demux areas. It includes a second demux circuit unit disposed in the second demux area,
The circuit array layer is
a first data input line extending from the sub-region to the first demux region and connected to an input terminal of the first demux circuit unit; and
It further includes a second data input wire connected to the input terminal of the second demux circuit unit,
The second data input wiring is
a main input line extending from the sub-area to the first demux area;
a demux bypass wire disposed in the display area and connected to the main input wire; and
A display device including a bypass additional wiring disposed in the second demultiplex area and connecting the demultiplex bypass wiring and an input terminal of the second demultiplex circuit unit.
상기 표시 영역은 상기 디먹스 영역과 인접한 디먹스 인접 영역을 포함하고,
상기 디먹스 우회 배선은
상기 디먹스 인접 영역 중 상기 제1 디먹스 영역과 인접한 센터 인접 영역에 배치되며 상기 메인 입력 배선과 연결되고 상기 제2 방향으로 연장되는 제1 우회 배선;
상기 제1 우회 배선과 연결되고 상기 제1 방향으로 연장되는 제2 우회 배선; 및
상기 디먹스 인접 영역 중 상기 센터 인접 영역과 상기 비표시 영역 사이의 영역이며 상기 제2 디먹스 영역과 인접한 가장자리 인접 영역에 배치되고 상기 제2 디먹스 영역을 향해 상기 제2 방향으로 연장되며 상기 제2 우회 배선과 상기 우회 부가 배선 사이를 연결하는 제3 우회 배선을 포함하는 표시 장치.According to claim 1,
The display area includes a demultiplexed adjacent area adjacent to the demultiplexed area,
The demux bypass wiring is
a first bypass wire disposed in a center adjacent area adjacent to the first demultiplex area among the demultiplex adjacent areas, connected to the main input wire, and extending in the second direction;
a second bypass wiring connected to the first bypass wiring and extending in the first direction; and
It is an area between the center adjacent area and the non-display area among the demultiplexed adjacent areas, is disposed in an edge adjacent area adjacent to the second demultiplexed area, extends in the second direction toward the second demultiplexed area, and is an area between the center adjacent area and the non-display area. 2. A display device including a third bypass wiring connecting the bypass wiring and the bypass additional wiring.
상기 우회 부가 배선은 상기 제2 방향으로 연장되는 표시 장치. According to clause 2,
The display device wherein the bypass additional wiring extends in the second direction.
상기 우회 부가 배선은
상기 제3 우회 배선과 연결되고 상기 제2 방향으로 연장되는 제1 연장부; 및
상기 제1 연장부와 상기 제2 디먹스 회로부의 입력단 사이를 연결하고 상기 제1 방향으로 연장되는 제2 연장부를 포함하는 표시 장치.According to clause 2,
The bypass additional wiring is
a first extension connected to the third bypass wiring and extending in the second direction; and
A display device comprising a second extension part connected between the first extension part and an input terminal of the second demux circuit unit and extending in the first direction.
상기 서브 영역은 구부러진 형태로 변형되는 벤딩 영역과, 상기 메인 영역과 상기 벤딩 영역의 일측 사이에 배치되는 제1 서브 영역과, 상기 벤딩 영역의 다른 일측 사이에 배치되는 제2 서브 영역을 포함하고,
상기 회로 어레이층은
상기 제2 서브 영역에 배치되고 상기 표시 구동 회로의 출력단들에 각각 연결되는 제1 데이터 공급 배선과 제2 데이터 공급 배선;
상기 제1 데이터 공급 배선과 상기 제1 데이터 입력 배선 사이를 연결하고 상기 벤딩 영역에 배치되는 제1 데이터 벤딩 배선; 및
상기 제2 데이터 공급 배선과 상기 메인 입력 배선 사이를 연결하고 상기 벤딩 영역에 배치되는 제2 데이터 벤딩 배선을 더 포함하는 표시 장치. According to clause 2,
The sub-region includes a bending region that is transformed into a bent shape, a first sub-region disposed between the main region and one side of the bending region, and a second sub-region disposed between the other side of the bending region,
The circuit array layer is
a first data supply line and a second data supply line disposed in the second sub-region and respectively connected to output terminals of the display driving circuit;
a first data bending wire connected between the first data supply wire and the first data input wire and disposed in the bending area; and
The display device further includes a second data bending wire connected between the second data supply wire and the main input wire and disposed in the bending area.
상기 제3 평탄화층 상에 배치되고 상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응한 복수의 발광 소자들을 포함하는 발광 어레이층을 더 포함하며,
상기 데이터 배선들은 상기 제2 방향으로 연장되고,
상기 회로 어레이층은
상기 비표시 영역에 배치되고 상기 발광 소자들의 구동을 위한 제1 전원과 제2 전원을 각각 전달하는 제1 전원 공급 배선과 제2 전원 공급 배선; 및
상기 표시 영역에 배치되고 상기 제2 방향으로 연장되며 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제2 전원 보조 배선을 더 포함하며,
상기 제1 전원 공급 배선 및 상기 제2 전원 공급 배선 각각의 일부는 상기 디먹스 회로부들과 중첩하는 표시 장치.According to clause 2,
It further includes a light emitting array layer disposed on the third planarization layer and including a plurality of light emitting elements respectively corresponding to the plurality of light emitting regions,
The data wires extend in the second direction,
The circuit array layer is
a first power supply line and a second power supply line disposed in the non-display area and transmitting first power and second power for driving the light emitting elements, respectively; and
It further includes a second power auxiliary wire disposed in the display area, extending in the second direction, and electrically connected to the second power supply wire,
A display device wherein a portion of each of the first power supply wiring and the second power supply wiring overlaps the demux circuit units.
상기 센터 인접 영역에 배치되고 상기 제1 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들 중 어느 하나는 상기 제1 우회 배선과 인접하게 배치되고,
상기 센터 인접 영역에 배치되고 상기 제1 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들 중 상기 제1 우회 배선과 인접한 어느 하나를 제외한 나머지는 상기 제2 전원 보조 배선과 각각 인접하게 배치되는 표시 장치.According to clause 6,
One of two or more data wires disposed in an area adjacent to the center and connected to the first demultiplexer circuit is disposed adjacent to the first bypass wire,
A display device in which, of the two or more data wires disposed in an area adjacent to the center and connected to the first demultiplexer circuit, all but one adjacent to the first bypass wire are disposed adjacent to the second power auxiliary wire.
상기 가장자리 인접 영역에 배치되고 상기 제2 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들 중 어느 하나는 상기 제3 우회 배선과 인접하게 배치되고,
상기 가장자리 인접 영역에 배치되고 상기 제2 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들 중 상기 제3 우회 배선과 인접한 어느 하나를 제외한 나머지는 상기 제2 전원 보조 배선과 각각 인접하게 배치되는 표시 장치.According to clause 6,
One of the two or more data wires disposed in the area adjacent to the edge and connected to the second demux circuit unit is disposed adjacent to the third bypass wire,
Of the two or more data wires disposed in the area adjacent to the edge and connected to the second demux circuit unit, except for one adjacent to the third bypass wire, the remaining data wires are arranged adjacent to the second power auxiliary wire.
상기 센터 인접 영역은 중앙의 미들 영역과, 상기 미들 영역과 상기 가장자리 인접 영역 사이의 사이드 영역을 포함하며,
상기 제1 디먹스 회로부는 상기 제1 디먹스 영역 중 상기 사이드 영역과 인접한 일부에 배치되고,
상기 디먹스 회로부들은 상기 제1 디먹스 영역 중 상기 미들 영역과 인접한 다른 일부에 배치되는 제3 디먹스 회로부를 더 포함하며,
상기 미들 영역에 배치되고 상기 제3 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들은 상기 제2 전원 보조 배선과 각각 인접하게 배치되는 표시 장치. According to clause 6,
The center adjacent area includes a central middle area and a side area between the middle area and the edge adjacent area,
The first demux circuit unit is disposed in a portion of the first demux area adjacent to the side area,
The demux circuit units further include a third demux circuit unit disposed in another portion of the first demux area adjacent to the middle area,
Two or more data wires disposed in the middle area and connected to the third demux circuit unit are disposed adjacent to the second power auxiliary wire.
상기 회로 어레이층은
상기 표시 영역에 배치되고 상기 제1 방향으로 연장되며 상기 제1 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제1 전원 보조 배선; 및
상기 표시 영역 중 상기 디먹스 인접 영역을 제외한 나머지인 일반 영역에 배치되고 상기 제1 방향으로 연장되며 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제2 전원 서브 배선을 더 포함하고,
상기 제1 전원 보조 배선은 상기 디먹스 인접 영역에서 상기 제2 우회 배선과 인접하게 배치되고, 상기 일반 영역에서 상기 제2 전원 서브 배선과 인접하게 배치되는 표시 장치.According to clause 6,
The circuit array layer is
a first power auxiliary wire disposed in the display area, extending in the first direction, and electrically connected to the first power supply wire; and
further comprising a second power sub-wire disposed in a general area other than the demultiplexed area of the display area, extending in the first direction, and electrically connected to the second power supply wire;
The first power auxiliary wiring is disposed adjacent to the second bypass wiring in the demux adjacent area, and is disposed adjacent to the second power sub-wiring in the general area.
상기 회로 어레이층은
상기 제1 우회 배선의 상기 제2 방향의 일측과 상기 제3 우회 배선의 상기 제2 방향의 일측에 각각 나란하게 이격되고 상기 제2 방향으로 연장되는 제1 더미 배선들; 및
상기 제2 우회 배선의 상기 제1 방향의 양측에 각각 나란하게 이격되고 상기 제1 방향으로 연장되는 제2 더미 배선들을 더 포함하는 표시 장치. According to clause 9,
The circuit array layer is
first dummy wires spaced apart in parallel on one side of the first bypass wire in the second direction and one side of the third bypass wire in the second direction and extending in the second direction; and
The display device further includes second dummy wires spaced apart from each other in parallel on both sides of the second bypass wire in the first direction and extending in the first direction.
상기 제1 더미 배선들 또는 상기 제2 더미 배선들은 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 표시 장치.According to claim 10,
The first dummy wires or the second dummy wires are electrically connected to the second power supply wire.
상기 회로 어레이층은
상기 기판 상의 반도체층;
상기 반도체층을 덮는 제1 게이트 절연층 상의 제1 도전층;
상기 제1 도전층을 덮는 제2 게이트 절연층 상의 제2 도전층;
상기 제2 도전층을 덮는 층간 절연층 상의 제3 도전층;
상기 제3 도전층을 덮는 제1 평탄화층 상의 제4 도전층;
상기 제4 도전층을 덮는 제2 평탄화층 상의 제5 도전층; 및
상기 제5 도전층을 덮는 제3 평탄화층을 포함한 구조로 마련되고,
상기 데이터 배선들, 상기 제1 우회 배선, 상기 제3 우회 배선, 상기 제2 전원 보조 배선 및 상기 제1 더미 배선들은 상기 제5 도전층으로 이루어지며,
상기 제2 우회 배선, 상기 제1 전원 보조 배선, 상기 제2 더미 배선들 및 상기 제2 전원 서브 배선은 상기 제4 도전층으로 이루어지는 표시 장치.According to claim 10,
The circuit array layer is
a semiconductor layer on the substrate;
a first conductive layer on the first gate insulating layer covering the semiconductor layer;
a second conductive layer on the second gate insulating layer covering the first conductive layer;
a third conductive layer on the interlayer insulating layer covering the second conductive layer;
a fourth conductive layer on the first planarization layer covering the third conductive layer;
a fifth conductive layer on the second planarization layer covering the fourth conductive layer; and
It is provided with a structure including a third planarization layer covering the fifth conductive layer,
The data wires, the first bypass wire, the third bypass wire, the second power auxiliary wire, and the first dummy wire are made of the fifth conductive layer,
The second bypass wiring, the first power auxiliary wiring, the second dummy wiring, and the second power sub wiring are formed of the fourth conductive layer.
상기 디먹스 회로부들 각각은 둘 이상의 디먹스 트랜지스터들을 포함하고,
상기 둘 이상의 디먹스 트랜지스터들의 게이트 전극은 둘 이상의 디먹스 제어 배선들에 각각 연결되며,
상기 둘 이상의 디먹스 제어 배선들은 서로 다른 위상의 디먹스 제어 신호를 공급하는 표시 장치.According to clause 6,
Each of the demux circuit units includes two or more demux transistors,
Gate electrodes of the two or more demux transistors are respectively connected to two or more demux control wires,
The two or more demux control wires supply demux control signals of different phases.
상기 발광 어레이층은
상기 제3 평탄화층 상에 배치되며 상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응하고 상기 복수의 화소 구동부들과 각각 전기적으로 연결되는 복수의 애노드 전극들;
상기 제3 평탄화층 상에 배치되며 상기 복수의 발광 영역들 사이의 이격 영역인 비발광 영역에 대응하고 상기 복수의 애노드 전극들 각각의 가장자리를 덮는 화소정의층;
상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응하고 상기 복수의 애노드 전극들 상에 각각 배치되는 복수의 발광층들; 및
상기 복수의 발광 영역들에 대응하고 상기 화소정의층과 상기 복수의 발광층들 상에 배치되며 상기 제2 전원 공급 배선과 연결되는 캐소드 전극을 포함하며,
상기 복수의 발광 소자들 각각은 상호 대향하는 애노드 전극과 캐소드 전극 및 상기 애노드 전극과 상기 캐소드 전극 사이에 배치된 발광층을 포함하는 표시 장치.According to clause 6,
The light emitting array layer is
a plurality of anode electrodes disposed on the third planarization layer, each corresponding to the plurality of light emitting regions, and each electrically connected to the plurality of pixel drivers;
a pixel definition layer disposed on the third planarization layer, corresponding to a non-emission area that is a spaced area between the plurality of light emitting areas, and covering edges of each of the plurality of anode electrodes;
a plurality of light-emitting layers respectively corresponding to the plurality of light-emitting regions and respectively disposed on the plurality of anode electrodes; and
A cathode electrode corresponding to the plurality of light-emitting regions, disposed on the pixel definition layer and the plurality of light-emitting layers, and connected to the second power supply line,
Each of the plurality of light emitting elements includes an anode electrode and a cathode electrode facing each other, and a light emitting layer disposed between the anode electrode and the cathode electrode.
상기 기판 상에 배치되고, 상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응되는 복수의 화소 구동부들과, 상기 복수의 화소 구동부들에 데이터 신호를 전달하는 데이터 배선들과, 상기 비표시 영역 중 상기 서브 영역에 인접한 디먹스 영역에 배치되는 디먹스 회로부들을 포함한 회로 어레이층;
상기 기판의 상기 서브 영역에 배치되고 상기 데이터 배선들에 대응하는 데이터 구동 신호들을 공급하는 표시 구동 회로; 및
상기 회로 어레이층 상에 배치되고 상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응한 복수의 발광 소자들을 포함하는 발광 어레이층을 포함하고,
상기 디먹스 회로부들 중 하나의 디먹스 회로부는 하나의 데이터 구동 신호에 기초하여 둘 이상의 데이터 신호를 출력하고,
상기 회로 어레이층은 상기 비표시 영역에 배치되고 상기 발광 소자들의 구동을 위한 제1 전원과 제2 전원을 각각 전달하는 제1 전원 공급 배선과 제2 전원 공급 배선을 더 포함하며,
상기 제1 전원 공급 배선 및 상기 제2 전원 공급 배선 각각의 일부는 상기 디먹스 회로부들과 중첩하는 표시 장치.A substrate including a display area in which a plurality of light-emitting areas are arranged in a first direction and a second direction, a main area including a non-display area disposed around the display area, and a sub-area protruding from one side of the main area;
A plurality of pixel drivers disposed on the substrate, each corresponding to the plurality of light-emitting areas, data lines for transmitting data signals to the plurality of pixel drivers, and in the sub-area of the non-display area. a circuit array layer including demux circuit units disposed in adjacent demux areas;
a display driving circuit disposed in the sub-region of the substrate and supplying data driving signals corresponding to the data lines; and
a light emitting array layer disposed on the circuit array layer and including a plurality of light emitting elements respectively corresponding to the plurality of light emitting regions,
One of the demux circuit units outputs two or more data signals based on one data driving signal,
The circuit array layer further includes a first power supply line and a second power supply line disposed in the non-display area and transmitting first power and second power for driving the light emitting elements, respectively,
A display device wherein a portion of each of the first power supply wiring and the second power supply wiring overlaps the demux circuit units.
상기 디먹스 회로부들은 상기 서브 영역에 인접한 제1 디먹스 영역에 배치되는 제1 디먹스 회로부와, 상기 제1 디먹스 영역의 상기 제1 방향의 일측에 접하는 제2 디먹스 영역에 배치되는 제2 디먹스 회로부를 포함하고,
상기 회로 어레이층은
상기 서브 영역에서 상기 제1 디먹스 영역으로 연장되고 상기 제1 디먹스 회로부의 입력단에 연결되는 제1 데이터 입력 배선; 및
상기 제2 디먹스 회로부의 입력단에 연결되는 제2 데이터 입력 배선을 더 포함하며,
상기 제2 데이터 입력 배선은
상기 서브 영역에서 상기 제1 디먹스 영역으로 연장되는 메인 입력 배선;
상기 표시 영역에 배치되고 상기 메인 입력 배선과 연결되는 디먹스 우회 배선; 및
상기 제2 디먹스 영역에 배치되고 상기 디먹스 우회 배선과 상기 제2 디먹스 회로부의 입력단 사이를 연결하는 우회 부가 배선을 포함하는 표시 장치.According to claim 16,
The demux circuit units include a first demux circuit unit disposed in a first demux area adjacent to the sub-region, and a second demux circuit unit disposed in a second demux area adjacent to one side of the first demux area in the first direction. Includes a demux circuit,
The circuit array layer is
a first data input line extending from the sub-region to the first demux region and connected to an input terminal of the first demux circuit unit; and
It further includes a second data input wire connected to the input terminal of the second demux circuit unit,
The second data input wiring is
a main input line extending from the sub-area to the first demux area;
a demux bypass wire disposed in the display area and connected to the main input wire; and
A display device including a bypass additional wiring disposed in the second demultiplex area and connecting the demultiplex bypass wiring and an input terminal of the second demultiplex circuit unit.
상기 표시 영역은 상기 디먹스 영역과 인접한 디먹스 인접 영역을 포함하고,
상기 디먹스 우회 배선은
상기 디먹스 인접 영역 중 상기 제1 디먹스 영역과 인접한 센터 인접 영역에 배치되며 상기 메인 입력 배선과 연결되고 상기 제2 방향으로 연장되는 제1 우회 배선;
상기 제1 우회 배선과 연결되고 상기 제1 방향으로 연장되는 제2 우회 배선; 및
상기 디먹스 인접 영역 중 상기 센터 인접 영역과 상기 비표시 영역 사이의 영역이며 상기 제2 디먹스 영역과 인접한 가장자리 인접 영역에 배치되고 상기 제2 디먹스 영역을 향해 상기 제2 방향으로 연장되며 상기 제2 우회 배선과 상기 우회 부가 배선 사이를 연결하는 제3 우회 배선을 포함하는 표시 장치.According to claim 17,
The display area includes a demultiplexed adjacent area adjacent to the demultiplexed area,
The demux bypass wiring is
a first bypass wire disposed in a center adjacent area adjacent to the first demultiplex area among the demultiplex adjacent areas, connected to the main input wire, and extending in the second direction;
a second bypass wiring connected to the first bypass wiring and extending in the first direction; and
It is an area between the center adjacent area and the non-display area among the demultiplexed adjacent areas, is disposed in an edge adjacent area adjacent to the second demultiplexed area, extends in the second direction toward the second demultiplexed area, and is an area between the center adjacent area and the non-display area. 2. A display device including a third bypass wiring connecting the bypass wiring and the bypass additional wiring.
상기 우회 부가 배선은 상기 제2 방향으로 연장되는 표시 장치.According to clause 18,
The display device wherein the bypass additional wiring extends in the second direction.
상기 우회 부가 배선은
상기 제3 우회 배선과 연결되고 상기 제2 방향으로 연장되는 제1 연장부; 및
상기 제1 연장부와 상기 제2 디먹스 회로부의 입력단 사이를 연결하고 상기 제1 방향으로 연장되는 제2 연장부를 포함하는 표시 장치.According to clause 18,
The bypass additional wiring is
a first extension connected to the third bypass wiring and extending in the second direction; and
A display device comprising a second extension part connected between the first extension part and an input terminal of the second demux circuit unit and extending in the first direction.
상기 회로 어레이층은 상기 표시 영역에 배치되고 상기 제2 방향으로 연장되며 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제2 전원 보조 배선을 더 포함하며,
상기 센터 인접 영역에 배치되고 상기 제1 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들 중 어느 하나는 상기 제1 우회 배선과 인접하게 배치되고,
상기 센터 인접 영역에 배치되고 상기 제1 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들 중 상기 제1 우회 배선과 인접한 어느 하나를 제외한 나머지는 상기 제2 전원 보조 배선과 각각 인접하게 배치되는 표시 장치.According to clause 18,
The circuit array layer further includes a second power auxiliary wire disposed in the display area, extending in the second direction, and electrically connected to the second power supply wire,
One of two or more data wires disposed in an area adjacent to the center and connected to the first demultiplexer circuit is disposed adjacent to the first bypass wire,
A display device in which, of the two or more data wires disposed in an area adjacent to the center and connected to the first demultiplexer circuit, all but one adjacent to the first bypass wire are disposed adjacent to the second power auxiliary wire.
상기 회로 어레이층은 상기 표시 영역에 배치되고 상기 제2 방향으로 연장되며 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제2 전원 보조 배선을 더 포함하며,
상기 가장자리 인접 영역에 배치되고 상기 제2 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들 중 어느 하나는 상기 제3 우회 배선과 인접하게 배치되고,
상기 가장자리 인접 영역에 배치되고 상기 제2 디먹스 회로부에 연결되는 둘 이상의 데이터 배선들 중 상기 제3 우회 배선과 인접한 어느 하나를 제외한 나머지는 상기 제2 전원 보조 배선과 각각 인접하게 배치되는 표시 장치.According to clause 18,
The circuit array layer further includes a second power auxiliary wire disposed in the display area, extending in the second direction, and electrically connected to the second power supply wire,
One of the two or more data wires disposed in the area adjacent to the edge and connected to the second demux circuit unit is disposed adjacent to the third bypass wire,
Of the two or more data wires disposed in the area adjacent to the edge and connected to the second demux circuit unit, except for one adjacent to the third bypass wire, the remaining data wires are arranged adjacent to the second power auxiliary wire.
상기 회로 어레이층은
상기 표시 영역에 배치되고 상기 제2 방향으로 연장되며 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제2 전원 보조 배선;
상기 표시 영역에 배치되고 상기 제1 방향으로 연장되며 상기 제1 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제1 전원 보조 배선; 및
상기 표시 영역 중 상기 디먹스 인접 영역을 제외한 나머지인 일반 영역에 배치되고 상기 제1 방향으로 연장되며 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 제2 전원 서브 배선을 더 포함하고,
상기 제1 전원 보조 배선은 상기 디먹스 인접 영역에서 상기 제2 우회 배선과 인접하게 배치되고, 상기 일반 영역에서 상기 제2 전원 서브 배선과 인접하게 배치되는 표시 장치.According to clause 18,
The circuit array layer is
a second power auxiliary wire disposed in the display area, extending in the second direction, and electrically connected to the second power supply wire;
a first power auxiliary wire disposed in the display area, extending in the first direction, and electrically connected to the first power supply wire; and
further comprising a second power sub-wire disposed in a general area other than the demultiplexed area of the display area, extending in the first direction, and electrically connected to the second power supply wire;
The first power auxiliary wire is disposed adjacent to the second bypass wire in the demux adjacent area, and is arranged adjacent to the second power sub wire in the general area.
상기 회로 어레이층은
상기 제1 우회 배선의 상기 제2 방향의 일측과 상기 제3 우회 배선의 상기 제2 방향의 일측에 각각 나란하게 이격되고 상기 제2 방향으로 연장되는 제1 더미 배선들; 및
상기 제2 우회 배선의 상기 제1 방향의 양측에 각각 나란하게 이격되고 상기 제1 방향으로 연장되는 제2 더미 배선들을 더 포함하는 표시 장치.According to clause 23,
The circuit array layer is
first dummy wires spaced apart in parallel on one side of the first bypass wire in the second direction and one side of the third bypass wire in the second direction and extending in the second direction; and
The display device further includes second dummy wires spaced apart from each other in parallel on both sides of the second bypass wire in the first direction and extending in the first direction.
상기 제1 더미 배선들 또는 상기 제2 더미 배선들은 상기 제2 전원 공급 배선과 전기적으로 연결되는 표시 장치.According to clause 24,
The first dummy wires or the second dummy wires are electrically connected to the second power supply wire.
상기 회로 어레이층은
상기 기판 상의 반도체층;
상기 반도체층을 덮는 제1 게이트 절연층 상의 제1 도전층;
상기 제1 도전층을 덮는 제2 게이트 절연층 상의 제2 도전층;
상기 제2 도전층을 덮는 층간 절연층 상의 제3 도전층;
상기 제3 도전층을 덮는 제1 평탄화층 상의 제4 도전층;
상기 제4 도전층을 덮는 제2 평탄화층 상의 제5 도전층; 및
상기 제5 도전층을 덮는 제3 평탄화층을 포함한 구조로 마련되고,
상기 데이터 배선들, 상기 제1 우회 배선, 상기 제3 우회 배선, 상기 제2 전원 보조 배선 및 상기 제1 더미 배선들은 상기 제5 도전층으로 이루어지며,
상기 제2 우회 배선, 상기 제1 전원 보조 배선, 상기 제2 더미 배선들 및 상기 제2 전원 서브 배선은 상기 제4 도전층으로 이루어지는 표시 장치.According to clause 25,
The circuit array layer is
a semiconductor layer on the substrate;
a first conductive layer on the first gate insulating layer covering the semiconductor layer;
a second conductive layer on the second gate insulating layer covering the first conductive layer;
a third conductive layer on the interlayer insulating layer covering the second conductive layer;
a fourth conductive layer on the first planarization layer covering the third conductive layer;
a fifth conductive layer on the second planarization layer covering the fourth conductive layer; and
It is provided with a structure including a third planarization layer covering the fifth conductive layer,
The data wires, the first bypass wire, the third bypass wire, the second power auxiliary wire, and the first dummy wire are made of the fifth conductive layer,
The second bypass wiring, the first power auxiliary wiring, the second dummy wiring, and the second power sub wiring are formed of the fourth conductive layer.
상기 발광 어레이층은
상기 제3 평탄화층 상에 배치되며 상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응하고 상기 복수의 화소 구동부들과 각각 전기적으로 연결되는 복수의 애노드 전극들;
상기 제3 평탄화층 상에 배치되며 상기 복수의 발광 영역들 사이의 이격 영역인 비발광 영역에 대응하고 상기 복수의 애노드 전극들 각각의 가장자리를 덮는 화소정의층;
상기 복수의 발광 영역들에 각각 대응하고 상기 복수의 애노드 전극들 상에 각각 배치되는 복수의 발광층들; 및
상기 복수의 발광 영역들에 대응하고 상기 화소정의층과 상기 복수의 발광층들 상에 배치되며 상기 제2 전원 공급 배선과 연결되는 캐소드 전극을 포함하며,
상기 복수의 발광 소자들 각각은 상호 대향하는 애노드 전극과 캐소드 전극 및 상기 애노드 전극과 상기 캐소드 전극 사이에 발광층을 포함하는 표시 장치.According to clause 26,
The light emitting array layer is
a plurality of anode electrodes disposed on the third planarization layer, each corresponding to the plurality of light-emitting areas, and each electrically connected to the plurality of pixel drivers;
a pixel definition layer disposed on the third planarization layer, corresponding to a non-emission area that is a spaced area between the plurality of light emitting areas, and covering edges of each of the plurality of anode electrodes;
a plurality of light-emitting layers respectively corresponding to the plurality of light-emitting regions and respectively disposed on the plurality of anode electrodes; and
A cathode electrode corresponding to the plurality of light-emitting regions, disposed on the pixel definition layer and the plurality of light-emitting layers, and connected to the second power supply wire,
Each of the plurality of light emitting elements includes an anode electrode and a cathode electrode facing each other, and a light emitting layer between the anode electrode and the cathode electrode.
상기 서브 영역은 구부러진 형태로 변형되는 벤딩 영역과, 상기 메인 영역과 상기 벤딩 영역의 일측 사이에 배치되는 제1 서브 영역과, 상기 벤딩 영역의 다른 일측 사이에 배치되는 제2 서브 영역을 포함하며,
상기 회로 어레이층은
상기 제2 서브 영역에 배치되고 상기 표시 구동 회로의 출력단들에 각각 연결되는 제1 데이터 공급 배선과 제2 데이터 공급 배선;
상기 제1 데이터 공급 배선과 상기 제1 데이터 입력 배선 사이를 연결하고 상기 벤딩 영역에 배치되는 제1 데이터 벤딩 배선; 및
상기 제2 데이터 공급 배선과 상기 메인 입력 배선 사이를 연결하고 상기 벤딩 영역에 배치되는 제2 데이터 벤딩 배선을 더 포함하는 표시 장치.According to claim 17,
The sub-region includes a bending region that is transformed into a bent shape, a first sub-region disposed between the main region and one side of the bending region, and a second sub-region disposed between the other side of the bending region,
The circuit array layer is
a first data supply line and a second data supply line disposed in the second sub-region and respectively connected to output terminals of the display driving circuit;
a first data bending wire connected between the first data supply wire and the first data input wire and disposed in the bending area; and
The display device further includes a second data bending wire connected between the second data supply wire and the main input wire and disposed in the bending area.
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