KR20230162926A - Organic EL display device and method of manufacturing the same - Google Patents

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KR20230162926A
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카즈토 미요시
다이사쿠 타나카
아키히로 이시카와
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도레이 카부시키가이샤
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Abstract

화소 분할층과 스페이서의 형성을 포함하는 유기 EL 표시 장치의 제조를 간편한 방법으로 행하고, 플렉시블한 표시 장치로서 신뢰성이 높고, 또한 외광 반사를 억제할 수 있는 유기 EL 표시 장치, 및 그 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. 해결 수단은 기재 상에 제 1 전극, 화소 분할층, 스페이서를 갖는 기판, 또한 유기 EL층 및 제 2 전극을 갖는 유기 EL 표시 장치로서, 상기 화소 분할층의 표면 거칠기(Ra1)와 상기 스페이서의 표면 거칠기(Ra2)에 있어서의 최대값을 Ramax로 했을 때에, Ramax가 1.0㎚ 이상 50㎚ 이하인 유기 EL 표시 장치이다.To provide an organic EL display device that manufactures an organic EL display device including the formation of a pixel division layer and a spacer by a simple method, is highly reliable as a flexible display device, and can suppress external light reflection, and a method for manufacturing the same. The purpose is to The solution is an organic EL display device having a substrate having a first electrode, a pixel split layer, and a spacer on a substrate, and also an organic EL layer and a second electrode, wherein the surface roughness (Ra1) of the pixel split layer and the surface of the spacer are When the maximum value of roughness (Ra2) is taken as Ramax, it is an organic EL display device in which Ramax is 1.0 nm or more and 50 nm or less.

Description

유기 EL 표시 장치 및 그 제조 방법Organic EL display device and method of manufacturing the same

본 발명은 매트릭스상으로 형성된 복수의 표시 화소를 갖는 유기 EL 표시 장치 및 그 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an organic EL display device having a plurality of display pixels formed in a matrix and a method of manufacturing the same.

차세대 플랫 패널 디스플레이로서 유기 EL 표시 장치가 주목받고 있다. 유기 EL이란, 2개의 전극 사이에 형성된 유기 화합물로 이루어지는 유기 EL층의 전계 발광이다. 그리고, 유기 EL의 발광 소자를 이용한 표시 장치가 유기 EL 표시 장치이다. 자기 발광형의 유기 EL 표시 장치는 광시야각, 고속 응답, 고콘트라스트의 화상 표시가 가능하며, 박형 유리나 플라스틱 수지 등의 기판을 사용함으로써 박형화, 경량화, 플렉시블화가 가능하다는 점에서 최근 활발히 연구 개발이 진행되어 있다. 플렉시블한 유기 EL 표시 장치는 갈라지지 않고 구부릴 수 있는 벤더블, 둥글게 할 수 있는 롤러블, 접을 수 있는 폴더블 등, 다양한 분야에서의 응용이 기대되어 있다.Organic EL displays are attracting attention as next-generation flat panel displays. Organic EL is electroluminescence from an organic EL layer made of organic compounds formed between two electrodes. And, a display device using organic EL light-emitting elements is an organic EL display device. Self-luminous organic EL display devices are capable of wide viewing angles, high-speed response, and high-contrast image display, and are being actively researched and developed recently in that they can be made thinner, lighter, and more flexible by using substrates such as thin glass or plastic resin. It is done. Flexible organic EL display devices are expected to be applied in various fields, such as bendable devices that can be bent without cracking, rollable devices that can be rounded, and foldable devices that can be folded.

그러나, 이와 같은 플렉시블한 유기 EL 표시 장치는 굽힘이나 접는다는 제조 공정이나 사용 방법에 의해 기판과 유기 EL층의 박리를 일으킬 우려가 있으며, 그 결과 유기 EL 표시 장치의 신뢰성이 저하되어버린다(예를 들면, 특허문헌 1 참조).However, in such a flexible organic EL display device, there is a risk of separation of the substrate and the organic EL layer due to the manufacturing process or usage method such as bending or folding, and as a result, the reliability of the organic EL display device decreases (e.g. For example, see Patent Document 1).

한편, 모바일 기기라고 하면, 표시 장치로서는 실내외 불문하고 다양한 환경에 있어서 표시 품위를 유지하는 것도 필요하며, 특히 외광 반사 억제에 있어서는 원평광판과의 조합이나 기판의 흑색화 등의 제안이 있다(예를 들면, 특허문헌 2 참조).On the other hand, speaking of mobile devices, it is necessary for display devices to maintain display quality in various environments, both indoors and outdoors. In particular, in order to suppress reflection of external light, there are suggestions such as combination with a circular light plate or blackening the substrate (for example, For example, see Patent Document 2).

일본 특허공개 2020-87935호 공보Japanese Patent Publication No. 2020-87935 일본 특허공개 2004-281365호 공보Japanese Patent Publication No. 2004-281365

그러나, 플렉시블성을 위한 박리 억제를 목적으로 해서, 역테이퍼상의 스페이서를 화소 분할층 상에 설치하고 있는 특허문헌 1에 기재되어 있는 유기 EL 표시 장치에서는, 스페이서 형상의 특징으로부터 재료나 제작 조건의 설정이 어렵고, 또한 화소 분할층과 스페이서의 일괄 가공을 할 수 없는 등, 패널의 제품 비율 저하나 대폭적인 코스트업을 일으키는 등의 과제가 있었다.However, in the organic EL display device described in Patent Document 1, in which an inversely tapered spacer is provided on the pixel division layer for the purpose of suppressing peeling for flexibility, the material and manufacturing conditions can be set based on the characteristics of the spacer shape. This was difficult, and there were problems such as the inability to process the pixel division layer and spacer simultaneously, leading to a decrease in the panel product ratio and a significant cost increase.

또한, 외광 반사 억제를 목적으로 해서, 제 1 전극이나 화소 분할층을 흑색화한 특허문헌 2에 기재되어 있는 유기 EL 표시 장치에서는, 착색에 의한 외광 반사 억제를 다소 기대할 수 있지만, 반사면의 평활성으로부터 외광 반사 억제가 충분하지 않았다.Additionally, in the organic EL display device described in Patent Document 2 in which the first electrode and the pixel division layer are blackened for the purpose of suppressing external light reflection, suppression of external light reflection by coloring can be expected to some extent, but the smoothness of the reflective surface Suppression of extraneous light reflection from was not sufficient.

그래서, 본 발명은 화소 분할층과 스페이서의 형성을 포함하는 유기 EL 표시 장치의 제조를 간편한 방법으로 행하고, 플렉시블한 표시 장치로서 신뢰성이 높고, 또한 외광 반사를 억제할 수 있는 유기 EL 표시 장치 및 그 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.Therefore, the present invention provides an organic EL display device that manufactures an organic EL display device including the formation of a pixel split layer and a spacer in a simple manner, is highly reliable as a flexible display device, and can suppress external light reflection, and the same. The purpose is to provide a manufacturing method.

본 발명의 유기 EL 표시 장치는 기재 상에 제 1 전극, 화소 분할층, 스페이서를 갖는 기판, 또한 유기 EL층 및 제 2 전극을 갖는 유기 EL 표시 장치로서, 상기 화소 분할층의 표면 거칠기(Ra1)와 상기 스페이서의 표면 거칠기(Ra2)에 있어서의 최대값을 Ramax로 했을 때에, Ramax가 1.0㎚ 이상 50㎚ 이하이다.The organic EL display device of the present invention is an organic EL display device having a substrate having a first electrode, a pixel split layer, and a spacer on a substrate, and also an organic EL layer and a second electrode, wherein the surface roughness (Ra1) of the pixel split layer is When Ramax is the maximum value of the surface roughness (Ra2) of the spacer, Ramax is 1.0 nm or more and 50 nm or less.

또한, 본 발명의 유기 EL 표시 장치의 제조 방법은 기재 상에 제 1 전극, 화소 분할층, 스페이서를 갖는 기판, 또한 유기 EL층 및 제 2 전극을 갖는 유기 EL 표시 장치의 제조 방법으로서, 화소 분할층과 스페이서를 일괄 가공하는 공정을 갖고, 일괄 가공을 위한 포토마스크가 투광부, 차광부, 및 반투광부를 갖는 하프톤 포토마스크이다.In addition, the method of manufacturing an organic EL display device of the present invention is a method of manufacturing an organic EL display device having a substrate having a first electrode, a pixel division layer, and a spacer on a substrate, and also an organic EL layer and a second electrode, wherein the pixel division is It has a process for batch processing the layer and the spacer, and the photomask for batch processing is a halftone photomask having a light transmitting part, a light blocking part, and a semi-transmissive part.

본 발명의 유기 EL 표시 장치는 화소 분할층과 스페이서의 형성을 포함하는 유기 EL 표시 장치의 제조를 간편한 방법으로 행하고, 유기 EL층의 박리가 없고, 또한 기판의 확산 반사광을 늘림으로써 외광 반사를 억제할 수 있다.In the organic EL display device of the present invention, the production of an organic EL display device including the formation of a pixel dividing layer and a spacer is performed in a simple manner, there is no peeling of the organic EL layer, and external light reflection is suppressed by increasing the diffused reflected light of the substrate. can do.

도 1은 본 발명에 있어서의 유기 EL 표시 장치의 개략 단면도이다.
도 2는 본 발명의 일례인 기판의 개략 단면도이다.
도 3은 본 발명에 있어서의 Ra1과 Ra2의 개략 단면도이다.
도 4는 본 발명에 있어서의 화소 분할층의 테이퍼각의 개략도이다.
도 5는 일반적인 유기 EL 표시 장치의 개략 단면도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 의한 제 1 전극과 하프톤 포토마스크의 개략도이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 의한 절곡 시험의 개략도이다.
도 8은 본 발명의 실시예에 의한 유기 EL 표시 장치의 개략도이다.
도 9는 본 발명의 실시예에 있어서의 발광 소자의 개략도이다.
1 is a schematic cross-sectional view of an organic EL display device in the present invention.
Figure 2 is a schematic cross-sectional view of a substrate as an example of the present invention.
Figure 3 is a schematic cross-sectional view of Ra1 and Ra2 in the present invention.
Figure 4 is a schematic diagram of the taper angle of the pixel division layer in the present invention.
Figure 5 is a schematic cross-sectional view of a typical organic EL display device.
Figure 6 is a schematic diagram of a first electrode and a halftone photomask according to an embodiment of the present invention.
Figure 7 is a schematic diagram of a bending test according to an embodiment of the present invention.
Figure 8 is a schematic diagram of an organic EL display device according to an embodiment of the present invention.
Figure 9 is a schematic diagram of a light emitting device in an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명을 실시하기 위한 형태(이하, 「실시형태」라고 한다)에 대해서 상세하게 설명한다. 또한, 본 발명은 이하에 설명하는 실시형태에 의해서만 한정되어야 하는 것은 아니다.Hereinafter, modes for carrying out the present invention (hereinafter referred to as “embodiments”) will be described in detail. Additionally, the present invention is not limited only to the embodiments described below.

<유기 EL 표시 장치><Organic EL display device>

본 발명의 유기 EL 표시 장치는 매트릭스상으로 형성된 복수의 표시 화소를 갖는 유기 EL 표시 장치이다. 유기 EL층에서의 발광을 인출하는 방향에 따라 톱 에미션과 보텀 에미션으로 대별되지만, 특별히 한정되지 않는다. 또한, 구동 방식에 따라서도, 전극을 열과 행으로 나누어 전극 사이에 끼워져 있는 표시 화소만을 발광시키는 패시브 구동형과, 수개의 TFT를 각각의 표시 화소에 형성해서 스위칭하는 액티브 구동형으로 대별되지만, 특별히 한정되지 않는다.The organic EL display device of the present invention is an organic EL display device having a plurality of display pixels formed in a matrix. Depending on the direction in which light emission from the organic EL layer is extracted, it is broadly classified into top emission and bottom emission, but is not particularly limited. In addition, depending on the driving method, it is roughly divided into a passive driving type in which the electrodes are divided into columns and rows and only the display pixels sandwiched between the electrodes emit light, and an active driving type in which several TFTs are formed in each display pixel and switched. It is not limited.

본 발명의 유기 EL 표시 장치는 기재 상에 제 1 전극, 화소 분할층, 스페이서를 갖는 기판, 또한 유기 EL층 및 제 2 전극을 갖는 유기 EL 표시 장치로서, 상기 화소 분할층의 표면 거칠기(Ra1)와 상기 스페이서의 표면 거칠기(Ra2)에 있어서의 최대값을 Ramax로 했을 때에, Ramax가 1.0㎚ 이상 50㎚ 이하인 유기 EL 표시 장치이다.The organic EL display device of the present invention is an organic EL display device having a substrate having a first electrode, a pixel split layer, and a spacer on a substrate, and also an organic EL layer and a second electrode, wherein the surface roughness (Ra1) of the pixel split layer is and an organic EL display device in which Ramax is 1.0 nm or more and 50 nm or less, when the maximum value of the surface roughness (Ra2) of the spacer is Ramax.

도 1에 본 발명의 일례인 유기 EL 표시 장치의 개략 단면도를 나타낸다. 유기 EL 표시 장치에 있어서, 기재(1) 상에 제 1 전극(2)을 갖는다. 기재(1) 상에서 제 1 전극(2)이 존재하지 않는 영역(이후, 기재(1) 상에서 제 1 전극(2)이 존재하지 않는 영역을 제 1 전극의 공극이라고 기재하는 경우가 있다)에 화소 분할층(3)을 갖고, 또한 화소 분할층 상에 스페이서(4)를 갖는다. 유기 EL 표시 장치에 있어서, 이러한 기재 상에 제 1 전극, 화소 분할층, 스페이서를 갖는 단위를 기판이라고 기재한다. 또한, 그 기판 상에 유기 EL층(5)과 제 2 전극(6)을 가짐으로써 유기 EL 표시 장치가 된다.Figure 1 shows a schematic cross-sectional view of an organic EL display device as an example of the present invention. In an organic EL display device, a first electrode (2) is provided on a substrate (1). A pixel is formed in a region on the substrate 1 where the first electrode 2 does not exist (hereinafter, the region on the substrate 1 where the first electrode 2 does not exist may be referred to as a gap of the first electrode). It has a split layer (3) and also has a spacer (4) on the pixel split layer. In an organic EL display device, a unit having a first electrode, a pixel division layer, and a spacer on this substrate is referred to as a substrate. Additionally, by having an organic EL layer 5 and a second electrode 6 on the substrate, it becomes an organic EL display device.

<기판><Substrate>

본 발명의 유기 EL 표시 장치에 있어서, 기판은 후술하는 기재(1), 제 1 전극(2), 화소 분할층(3), 스페이서(4)로만 이루어지는 것을 최소 단위로 한다. 이러한 최소 단위를 구비하고 있으면, 기판은 배선이나 TFT(7), 패턴 안테나, 및 평탄화층(8) 등을 더 갖는 구성(예를 들면, 도 2의 구성)이어도 좋다. 단, 본 발명에 있어서, 상술한 배선이나 TFT(7), 센서류, 패턴 안테나 등, 및 평탄화층(8) 등, 제 1 전극(2)의 밑바탕이 되는 것은 모두 기재(1)의 일부로서 취급하는 것으로 한다.In the organic EL display device of the present invention, the minimum unit of the substrate is made up of only the base material 1, the first electrode 2, the pixel division layer 3, and the spacer 4, which will be described later. As long as such a minimum unit is provided, the substrate may have a configuration (for example, the configuration shown in FIG. 2) that further includes wiring, a TFT 7, a pattern antenna, and a planarization layer 8. However, in the present invention, everything that forms the basis of the first electrode 2, such as the above-mentioned wiring, TFT 7, sensors, pattern antenna, etc., and the planarization layer 8, is treated as a part of the base material 1. Do it by doing it.

배선은 구동을 위해 FPC(Flexible Printed Circuit)를 통해 외부의 기기와 접속되는 경우가 많다. 또한, TFT(7) 이외에도 카메라, ID나 지문의 판독이나 조도 등의 센서류, 통신이나 급전용의 패턴 안테나 등이 설치되어 있는 것이어도 좋다. 이와 같이 해서 다기능을 집적하는 기재(1)에 있어서는, 평탄화층(8)을 형성하는 것이 바람직하다. 평탄화층(8)을 형성함으로써, 제 1 전극(2)을 형성하기 전에 배선이나 TFT(7) 등의 요철을 덮어 기재(1)를 평탄화할 수 있다. 기재(1)를 평탄화함으로써, 기재 상에 형성하는 제 1 전극(2), 화소 분할층(3), 스페이서(4)에서의 결함을 방지하고, 고품위인 기판을 얻을 수 있다. 도 2에 본 발명의 일례인 기판의 개략 단면도를 나타낸다.Wiring is often connected to external devices through FPC (Flexible Printed Circuit) for operation. Additionally, in addition to the TFT 7, a camera, sensors such as ID or fingerprint reading or illuminance, and a pattern antenna for communication or power supply may be installed. In this way, in the base material 1 integrating multiple functions, it is preferable to form the planarization layer 8. By forming the planarization layer 8, it is possible to flatten the substrate 1 by covering irregularities such as wiring and the TFT 7 before forming the first electrode 2. By planarizing the substrate 1, defects in the first electrode 2, pixel division layer 3, and spacer 4 formed on the substrate can be prevented, and a high-quality substrate can be obtained. Figure 2 shows a schematic cross-sectional view of a substrate as an example of the present invention.

<기재><Description>

도 1에 있어서의 기재(1) 및 도 2에 있어서의 기재(1) 중 TFT(7)보다 하방의 기재의 베이스(1a)로서는 금속이나 유리, 수지 필름 등, 표시 장치의 지지나 후공정의 반송에 바람직한 것을 적당히 선택할 수 있다. 특히, 플렉시블성을 가질 필요가 있는 경우에는, 수지 필름이 바람직하다.Among the substrate 1 in FIG. 1 and the substrate 1 in FIG. 2, the base 1a of the substrate below the TFT 7 is used for supporting the display device or for post-processing, such as metal, glass, or resin film. One suitable for conveyance can be appropriately selected. In particular, when flexibility is required, a resin film is preferable.

유리로서는, 소다라임 유리나 무알칼리 유리 등을 사용할 수 있다. 유리의 두께는 기계적 강도를 유지하는 것에 충분한 두께가 있으면 좋다. 유리의 재질에 대해서는 유리로부터의 용출 이온이 적은 쪽이 좋으므로 무알칼리 유리 쪽이 바람직하지만, SiO2 등의 배리어 코트를 실시한 소다라임 유리를 사용할 수도 있다.As glass, soda lime glass, alkali-free glass, etc. can be used. The thickness of the glass should be sufficient to maintain mechanical strength. Regarding the material of the glass, alkali-free glass is preferable since it is better to have fewer ions eluted from the glass, but soda lime glass coated with a barrier coat such as SiO 2 can also be used.

수지 필름의 재료로서는, 투광성이 우수한 점에서 폴리벤조옥사졸 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드 수지, 및 폴리(p-크실릴렌) 수지로부터 선택되는 수지 재료를 포함하는 것이 바람직하다. 기재는 이들 수지 재료를 단독으로 포함하고 있어도 좋고, 복수 종이 조합되어 포함하고 있어도 좋다.The material of the resin film preferably contains a resin material selected from polybenzoxazole resin, polyamidoimide resin, polyimide resin, polyamide resin, and poly(p-xylylene) resin because of its excellent light transmittance. do. The base material may contain these resin materials individually or may contain them in combination of multiple types.

예를 들면, 폴리이미드 수지로 기재를 형성하는 경우에는 폴리이미드 수지의 전구체인 폴리아믹산(일부가 이미드화된 폴리아믹산을 포함한다) 수지, 또는 가용성 폴리이미드 수지를 포함하는 용액을 지지 기판에 도포하고, 소성함으로써 형성할 수도 있다.For example, when forming a base material with a polyimide resin, a solution containing a polyamic acid (including a polyamic acid in which part of the imidized polyamic acid is partially imidized) resin, which is a precursor of the polyimide resin, or a soluble polyimide resin is applied to the support substrate. It can also be formed by firing.

또한, 상술한 발광 소자는 산소나 수분에 약한 것이 알려져 있기 때문에, 기재의 구성으로서 적당히 가스 배리어층을 형성해도 좋다. 특히, 수지 필름의 경우에는 무기의 박막을 적층해서 사용함으로써, 신뢰성이 높은 표시 장치를 얻을 수 있다. 또한, 기재는 배선이나 TFT(7), 평탄화층(8) 등이 형성된 것이어도 좋다.Additionally, since it is known that the above-mentioned light-emitting element is weak to oxygen and moisture, a gas barrier layer may be formed as appropriate as a component of the base material. In particular, in the case of a resin film, a highly reliable display device can be obtained by laminating inorganic thin films. Additionally, the base material may be one on which wiring, TFT 7, planarization layer 8, etc. are formed.

<제 1 전극><First electrode>

본 발명에 있어서의 제 1 전극(2)은, 보텀 에미션형의 경우에는 광투과성의 전극, 톱 에미션형의 경우에는 광반사성의 전극일 필요가 있다.The first electrode 2 in the present invention must be a light-transmitting electrode in the case of the bottom emission type, and a light-reflective electrode in the case of the top emission type.

보텀 에미션형이면, 예를 들면 투명한 산화주석, 산화인듐, 산화주석 인듐(ITO) 등의 도전성 금속 산화물, 또는 금, 은, 크롬 등의 금속, 요오드화구리, 황화구리 등의 무기 도전성 물질, 폴리티오펜, 폴리피롤, 및 폴리아닐린 등의 도전성 폴리머 등을 사용할 수 있지만, 특별히 한정되는 것은 아니다.If it is a bottom emission type, for example, conductive metal oxides such as transparent tin oxide, indium oxide, indium tin oxide (ITO), or metals such as gold, silver, and chromium, inorganic conductive materials such as copper iodide and copper sulfide, and polythiide. Conductive polymers such as ophene, polypyrrole, and polyaniline can be used, but are not particularly limited.

톱 에미션형이면, 어느 막 두께 이상에서 가시광이 높은 반사율을 나타내고, 또한 낮은 전기 저항을 나타내는 재료가 바람직하다. 또한, 후공정이 되는 웨트 에칭이나 세정, 보관이나 사용 환경에서의 내후성의 면으로부터도 재료 선정이 필요해진다. 특히, Ag 또는 Ag를 주체로서 포함하는 Ag 합금막이, 반사율이 높기 때문에 유용하다. Ag 합금막은 주성분을 Ag로 한 AgPdCu나 AgTiCu 등을 사용할 수 있고, 이들 Ag 합금막을 ITO막이나 IZO막 등의 산화물 도전막과 적층시키는 것이, 유기 EL층과 낮은 접촉 저항을 실현할 수 있기 때문에 바람직하다. 또한, Al 또는 Al을 주체로서 포함하는 Al 합금막도 톱 에미션형의 제 1 전극으로서 양호하다. Ni를 0.1~2원자% 함유하는 Al-Ni 합금막은 순Al 수준의 높은 반사율을 갖기 때문에 바람직하다. 그 외에는, 몰리브덴(Mo)이나 텅스텐(W) 등의 반사성 금속막도 사용할 수 있다.If it is a top emission type, a material that exhibits high reflectance of visible light above a certain film thickness and low electrical resistance is preferable. In addition, it is necessary to select a material in terms of wet etching, cleaning, storage, and weather resistance in the use environment in the post-process. In particular, Ag or an Ag alloy film mainly containing Ag is useful because it has a high reflectance. The Ag alloy film can be made of AgPdCu or AgTiCu, etc., whose main component is Ag, and it is preferable to laminate these Ag alloy films with an oxide conductive film such as an ITO film or IZO film because it can achieve low contact resistance with the organic EL layer. . Additionally, Al or an Al alloy film containing Al as a main body is also good as a top emission type first electrode. An Al-Ni alloy film containing 0.1 to 2 at% Ni is preferable because it has a high reflectance at the level of pure Al. In addition, a reflective metal film such as molybdenum (Mo) or tungsten (W) can also be used.

제 1 전극의 저항은 발광 소자의 발광에 충분한 전류를 공급할 수 있으면 좋으므로 한정되지 않지만, 발광 소자의 소비 전력의 관점으로부터는 저저항인 것이 바람직하다. 예를 들면, 300Ω/□ 이하의 ITO이면 소자 전극으로서 기능하지만, 현재에서는 10Ω/□ 정도의 ITO의 공급도 가능하게 되어 있는 점에서, 저저항품을 사용하는 것이 특히 바람직하다. 제 1 전극의 두께는 투과율이나 저항값 등의 특성에 맞춰 임의로 선택할 수 있지만, 통상 100~300㎚ 사이에서 사용할 수 있다.The resistance of the first electrode is not limited as long as it can supply enough current for light emission of the light emitting element, but it is preferable to have low resistance from the viewpoint of power consumption of the light emitting element. For example, ITO of 300 Ω/□ or less functions as a device electrode, but since ITO of about 10 Ω/□ is currently available, it is particularly desirable to use a low-resistance product. The thickness of the first electrode can be arbitrarily selected according to characteristics such as transmittance and resistance, but is usually between 100 and 300 nm.

제 1 전극의 형성 방법은 공지의 방법을 사용할 수 있다. 예를 들면, 스퍼터링 등의 진공 성막법으로 성막한 후, 포토레지스트를 이용한 에칭 가공에 의해 패터닝할 수 있다.A known method may be used to form the first electrode. For example, after forming a film using a vacuum film forming method such as sputtering, it can be patterned by etching using a photoresist.

<화소 분할층><Pixel division layer>

본 발명의 유기 EL 표시 장치에 있어서, 화소 분할층(3)은 제 1 전극(2)의 공극에 형성된다. 제 1 전극의 공극에 화소 분할층을 형성함으로써 표시 화소를 분할할 수 있다. 즉, 제 1 전극의 공극에 화소 분할층을 패터닝함으로써 제 1 전극의 노출 부분이 한정되고, 화소 분리층의 개구부만이 표시 화소로서 기능하도록 된다. 또한, 화소 분할층이 라인형이나 아일랜드형의 제 1 전극의 둘레 가장자리를 덮음으로써 제 1 전극의 가장자리에서 발생하는 단락이나 제 2 전극의 단선을 방지하는 것에도 연결되어 표시 장치의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명의 유기 EL 표시 장치에 있어서, 화소 분할층은 필요에 따라 제 1 전극의 공극 이외의 장소에도 형성된다.In the organic EL display device of the present invention, the pixel split layer (3) is formed in the gap of the first electrode (2). Display pixels can be divided by forming a pixel division layer in the gap of the first electrode. That is, by patterning the pixel separation layer in the gap of the first electrode, the exposed portion of the first electrode is limited, and only the opening portion of the pixel separation layer functions as a display pixel. In addition, the pixel division layer covers the peripheral edge of the line-shaped or island-shaped first electrode, preventing short circuits that occur at the edge of the first electrode or disconnection of the second electrode, thereby improving the reliability of the display device. You can. Additionally, in the organic EL display device of the present invention, the pixel split layer is formed in places other than the gap of the first electrode as needed.

본 발명에 있어서는, 화소 분할층의 표면 거칠기(Ra1)와 스페이서의 표면 거칠기(Ra2)에 있어서의 최대값을 Ramax로 했을 때에, Ramax가 1.0㎚ 이상 50㎚ 이하이다. 또한, 화소 분할층의 표면 거칠기(Ra1)가 Ramax인 것이 보다 바람직하다. 또한, 화소 분할층의 표면 거칠기(Ra1)와 스페이서의 표면 거칠기(Ra2)의 양방이 Ramax이어도 좋다.In the present invention, when Ramax is the maximum value of the surface roughness (Ra1) of the pixel division layer and the surface roughness (Ra2) of the spacer, Ramax is 1.0 nm or more and 50 nm or less. Additionally, it is more preferable that the surface roughness (Ra1) of the pixel dividing layer is Ramax. Additionally, both the surface roughness (Ra1) of the pixel division layer and the surface roughness (Ra2) of the spacer may be Ramax.

또한, 본 발명에 있어서 표면 거칠기의 측정에 사용하는 원자간력 현미경(AFM)은, 일반적으로 수평인 면에 둔 유기 EL 표시 장치의 기판에 대해서 연직 상방으로부터 측정을 행하고, Ra1과 Ra2의 대상 범위를 도 3에 나타낸다. 따라서, 본 발명에 있어서 「화소 분할층의 표면 거칠기」란, 화소 분할층의 유기 EL층과 접하는 면 중, AFM에 의해 측정 가능한 면, 즉 기판과 대략 평행한 면의 표면 거칠기를 가리킨다.In addition, the atomic force microscope (AFM) used to measure surface roughness in the present invention generally performs measurements from vertically above on the substrate of an organic EL display device placed on a horizontal surface, and measures the target ranges of Ra1 and Ra2. is shown in Figure 3. Therefore, in the present invention, “surface roughness of the pixel split layer” refers to the surface roughness of the surface that can be measured by AFM, that is, the surface that is substantially parallel to the substrate, among the surfaces in contact with the organic EL layer of the pixel split layer.

또한, 화소 분할층 상에는 스페이서가 형성되므로, 스페이서가 없는 부분이 유기 EL층과 접하는 계면이 된다. 종래, 화소 분할층과 유기 EL층의 밀착성이 나쁘기 때문에 박리가 일어나기 쉽고, 특히 플렉시블한 제품에 있어서는 큰 과제이었다. 본 발명에 있어서는, 화소 분할층의 표면 거칠기(Ra1)를 1.0㎚ 이상으로 함으로써 앵커 효과를 얻을 수 있고, 바람직하게는 5.0㎚ 이상, 보다 바람직하게는 20㎚ 이상으로 함으로써 유기 EL층과의 밀착성을 향상시킬 수 있다.Additionally, since spacers are formed on the pixel division layer, the portion without spacers becomes an interface in contact with the organic EL layer. Conventionally, because the adhesion between the pixel dividing layer and the organic EL layer was poor, peeling easily occurred, which was a major problem, especially for flexible products. In the present invention, the anchor effect can be obtained by setting the surface roughness (Ra1) of the pixel dividing layer to 1.0 nm or more, and adhesion to the organic EL layer is improved by preferably setting it to 5.0 nm or more, more preferably 20 nm or more. It can be improved.

또한, 화소 분할층의 표면 거칠기(Ra1)에 대해서는 1.0㎚ 이상 있으면 앵커 효과를 얻을 수 있지만, 제 2 전극에 있어서의 핀홀이나, 후술하는 밀봉 공정에서의 결함을 억제할 목적으로부터 50㎚ 이하로 하는 것이 바람직하다. 또한, Ra1이 큼으로써 밀착성을 향상시키는 경우에는, 화소 분할층과 유기 EL층이 접하는 계면을 할 수 있는 한 크게 확보하는 것이 유효하며, Ra1이 후술하는 스페이서의 표면 거칠기 Ra2보다 큰, 즉 Ra1이 Ramax가 되는 경우에는, 기판과 유기 EL층이 접하는 계면의 면적 중, 화소 분할층과 유기 EL층이 접하는 계면의 면적이 50% 이상인 것이 바람직하다. 이것은 화소 분할층이 기판의 표면적의 50% 이상인 것을 나타낸다.In addition, with respect to the surface roughness (Ra1) of the pixel dividing layer, an anchor effect can be obtained if it is 1.0 nm or more, but for the purpose of suppressing pinholes in the second electrode and defects in the sealing process described later, it is set to 50 nm or less. It is desirable. In addition, when improving adhesion by increasing Ra1, it is effective to ensure that the interface where the pixel division layer and the organic EL layer contact is as large as possible, and Ra1 is larger than the surface roughness Ra2 of the spacer described later, that is, Ra1 In the case of Ramax, it is preferable that the area of the interface between the pixel division layer and the organic EL layer is 50% or more of the area of the interface between the substrate and the organic EL layer. This indicates that the pixel dividing layer is more than 50% of the surface area of the substrate.

또한, 화소 분할층의 가장자리의 형상에 따라서는 제 2 전극의 단선의 원인이 되기 때문에, 완만한 순테이퍼형상인 것이 바람직하다. 여기에서 순테이퍼형상이란, 제 1 전극과 화소 분할층의 계면에 있어서의 접선과, 화소 분할층의 테이퍼 부분의 표면에 있어서의 화소 분할층 최대 두께의 50%의 막 두께의 위치에 있어서의 접선이 만드는 각도(이후, 이 각도를 화소 분할층의 테이퍼각이라고 기재하는 경우가 있다)가 90° 미만인 상태를 가리킨다. 본 발명에 있어서는, 제 2 전극의 단선을 억제한 신뢰성이 높은 표시 장치를 얻기 위해, 화소 분할층의 테이퍼각은 60° 미만이 바람직하고, 50° 미만이 보다 바람직하다.Additionally, depending on the shape of the edge of the pixel division layer, it may cause disconnection of the second electrode, so it is preferable to have a gentle forward taper shape. Here, the forward tapered shape refers to the tangent at the interface between the first electrode and the pixel division layer and the tangent at the position of the film thickness of 50% of the maximum thickness of the pixel division layer on the surface of the tapered portion of the pixel division layer. This refers to a state in which the created angle (hereinafter, this angle may be referred to as the taper angle of the pixel division layer) is less than 90°. In the present invention, in order to obtain a highly reliable display device that suppresses disconnection of the second electrode, the taper angle of the pixel dividing layer is preferably less than 60°, and more preferably less than 50°.

도 4를 사용해서 화소 분할층의 테이퍼각에 대해서 구체적으로 설명한다. 도 4에 있어서는, 기재(1) 상에 제 1 전극(2)을 갖는다. 제 1 전극(2)의 공극에 화소 분할층(3)을, 또한 화소 분할층 상에 스페이서(4)를 갖는다. 제 1 전극과 화소 분할층의 계면에 있어서의 접선과, 화소 분할층의 테이퍼 부분의 표면에 있어서의 화소 분할층 최대 두께의 50%의 막 두께의 위치(점 A)에 있어서의 접선이 만드는 각도(B)인 것을 화소 분할층의 테이퍼각이라고 정의한다.Using FIG. 4, the taper angle of the pixel division layer will be explained in detail. In Fig. 4, a first electrode 2 is provided on the base material 1. A pixel split layer (3) is provided in the gap of the first electrode (2), and a spacer (4) is provided on the pixel split layer. The angle formed by the tangent at the interface between the first electrode and the pixel division layer and the tangent at the position (point A) of the film thickness of 50% of the maximum thickness of the pixel division layer on the surface of the tapered portion of the pixel division layer. (B) is defined as the taper angle of the pixel division layer.

화소 분할층으로서는, 공지의 유기물 또는 무기물 중 어느 쪽에도 한정되지 않지만, 표면 거칠기의 조정이 용이하다는 점으로부터, 화소 분할층이 알칼리 가용성 수지를 함유하는 감광성 수지 조성물의 경화막을 포함하는 것이 바람직하다. 화소 분할층은 단층이어도 다층이어도 좋지만, 예를 들면 화소 분할층이 다층인 경우에는, 표면 거칠기의 측정 대상이 되는 기판과 대략 평행한 면이 알칼리 가용성 수지를 함유하는 감광성 수지 조성물의 경화막인 것이 바람직하다.The pixel split layer is not limited to either a known organic material or an inorganic material, but from the viewpoint of easy adjustment of the surface roughness, it is preferable that the pixel split layer includes a cured film of a photosensitive resin composition containing an alkali-soluble resin. The pixel dividing layer may be a single layer or a multilayer. For example, in the case where the pixel dividing layer is a multilayer, the surface substantially parallel to the substrate to be measured for surface roughness is a cured film of a photosensitive resin composition containing an alkali-soluble resin. desirable.

감광성 수지 조성물은 (A) 알칼리 가용성 수지, (B) 감광제, 및 (C) 유기 용제를 함유하는 것이 바람직하고, 또한 (D) 착색 재료나 (E) 발액(撥液) 재료를 포함해도 좋다. 감광성 수지 조성물로서 (A) 알칼리 가용성 수지와 (B) 감광제를 조합해서 함유시킴으로써, 감광성을 이용한 패턴 가공이 가능해진다. 또한, (C) 유기 용제를 함유함으로써 바니시의 상태로 할 수 있고, 도포성을 향상시킬 수 있는 경우가 있다. 또한, 감광성 수지 조성물이 (D) 착색 재료를 함유함으로써, 화소 분할층을 흑색화할 수 있다. 또한, (E) 발액 재료를 함유함으로써 화소 분할층에 발액성을 부여할 수 있다. 이들 (D) 착색 재료나 (E) 발액 재료와, (A) 알칼리 가용성 수지의 노광 감도나 용해 속도의 상위함에 의해, 후술하는 하프톤 마스크를 사용한 공정에 따라 화소 분할층과 스페이서의 표면 거칠기가 커지고, 또한 화소 분할층과 스페이서의 표면 거칠기를 각각 조정할 수 있는 점에서 바람직하다. 감광성 수지 조성물은, 다른 성분을 더 함유해도 좋다.The photosensitive resin composition preferably contains (A) an alkali-soluble resin, (B) a photosensitive agent, and (C) an organic solvent, and may also contain (D) a coloring material and (E) a liquid-repelling material. By containing (A) alkali-soluble resin and (B) a photosensitive agent in combination as a photosensitive resin composition, pattern processing using photosensitivity becomes possible. Additionally, by containing (C) an organic solvent, it can be made into a varnish and the applicability can be improved in some cases. Additionally, when the photosensitive resin composition contains the coloring material (D), the pixel dividing layer can be blackened. Additionally, (E) by containing a liquid-repellent material, liquid-repellent properties can be imparted to the pixel dividing layer. Due to the difference in exposure sensitivity and dissolution speed of the (D) coloring material or (E) liquid-repellent material and (A) alkali-soluble resin, the surface roughness of the pixel division layer and the spacer varies depending on the process using the halftone mask described later. It is desirable in that it can be made large and the surface roughness of the pixel dividing layer and the spacer can be adjusted respectively. The photosensitive resin composition may further contain other components.

화소 분할층의 형성 방법은 공지의 방법을 사용할 수 있다. 그 중에서도, 대판(大判) 기판에 얇은 막을 균일하게 형성할 수 있는 점에서 웨트 코팅법이 바람직하다. 웨트 코팅법의 예로서는 스핀 코트법, 슬릿 코팅법, 딥 코팅법, 스프레이 코팅법, 인쇄법 등을 들 수 있다.A known method may be used to form the pixel division layer. Among them, the wet coating method is preferable because it can uniformly form a thin film on a large substrate. Examples of wet coating methods include spin coating, slit coating, dip coating, spray coating, and printing.

화소 분할층의 두께는, 통상 0.3㎛~10㎛지만, 제 1 전극의 요철을 덮는 것에 충분하면 특별히 한정되지 않는다. 또한, 화소 분할층은 패터닝 가공이 필수이며, 제거부의 잔사는 단락이나 흑점 등의 결함에 직결하는 경우가 있다. 또한, 후공정에 있어서 제 2 전극 상을 덮는 구조물을 지지하고, 표시 장치의 강도를 확보하기 위해 화소 분할층 상에 스페이서를 제작할 필요가 있다.The thickness of the pixel division layer is usually 0.3 μm to 10 μm, but is not particularly limited as long as it is sufficient to cover the unevenness of the first electrode. In addition, patterning processing is essential for the pixel division layer, and residues from the removed area may be directly connected to defects such as short circuits and black spots. In addition, it is necessary to fabricate a spacer on the pixel split layer to support the structure covering the second electrode in the post-process and to secure the strength of the display device.

<(A) 알칼리 가용성 수지><(A) Alkali-soluble resin>

본 발명에 있어서의 알칼리 가용성이란, 수지를 γ-부티로락톤(GBL)에 용해한 용액을 실리콘 웨이퍼 상에 도포하고, 120℃에서 4분간 프리베이크를 행하여 막 두께 10㎛±0.5㎛의 프리베이크막을 형성하고, 상기 프리베이크막을 23℃±1℃의 2.38중량% 테트라메틸암모늄히드록시드 수용액에 1분간 침지한 후, 순수로 린스 처리했을 때의 막 두께 감소로부터 구해지는 용해 속도가 50㎚/분 이상인 것을 말한다.Alkali solubility in the present invention means applying a solution in which the resin is dissolved in γ-butyrolactone (GBL) onto a silicon wafer and prebaking it at 120°C for 4 minutes to form a prebaked film with a film thickness of 10 μm ± 0.5 μm. After forming, the prebaked film was immersed in a 2.38% by weight tetramethylammonium hydroxide aqueous solution at 23°C ± 1°C for 1 minute, and then rinsed with pure water, the dissolution rate obtained from the decrease in film thickness was 50 nm/min. It says something more than that.

(A) 알칼리 가용성 수지는, 내열성 향상의 점으로부터 방향족 카르복실산 구조를 갖는 것이 바람직하다. 또한, 본 발명에 있어서 방향족 카르복실산 구조란, 방향환과 직접 공유 결합한 카르복실산 구조를 말한다.(A) The alkali-soluble resin preferably has an aromatic carboxylic acid structure from the viewpoint of improving heat resistance. In addition, in the present invention, the aromatic carboxylic acid structure refers to a carboxylic acid structure directly covalently bonded to an aromatic ring.

(A) 알칼리 가용성 수지로서는 아크릴 수지, 페놀 수지, 폴리실록산 수지, 카르도 수지, 폴리이미드 수지, 폴리이미드 전구체 수지, 폴리벤조옥사졸 수지, 및 폴리벤조옥사졸 전구체 수지로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상의 것을 함유하는 것이 바람직하다.(A) The alkali-soluble resin is one selected from the group consisting of acrylic resin, phenol resin, polysiloxane resin, Cardo resin, polyimide resin, polyimide precursor resin, polybenzoxazole resin, and polybenzoxazole precursor resin. It is preferable to contain the above.

이들 수지 중에서도 내열성과 내약품성을 양립할 수 있는 점으로부터, (A) 알칼리 가용성 수지가 폴리이미드 수지, 폴리이미드 전구체 수지, 폴리벤조옥사졸 수지, 및/또는 폴리벤조옥사졸 전구체 수지를 함유하는 것이 바람직하다. 내약품성이 높으면 화소 분할층을 웨트 에칭으로 가공할 때의 막 감소가 작아지기 때문에 바람직하다. 또한, 고온 조건하에 있어서의 아웃 가스량이 적은 점에서, 특히 폴리이미드 전구체 수지가 바람직하다. 또한, 알칼리 가용성 향상의 점으로부터, 아미드산 구조를 갖는 폴리이미드 전구체 수지가 보다 바람직하다.Among these resins, since heat resistance and chemical resistance are compatible, (A) the alkali-soluble resin contains polyimide resin, polyimide precursor resin, polybenzoxazole resin, and/or polybenzoxazole precursor resin. desirable. High chemical resistance is preferable because film reduction when processing the pixel division layer by wet etching is reduced. Moreover, polyimide precursor resin is particularly preferable because the amount of outgassing under high temperature conditions is small. Additionally, from the viewpoint of improved alkali solubility, a polyimide precursor resin having an amic acid structure is more preferable.

<화소 분할층에 있어서의 실리카 입자><Silica particles in the pixel division layer>

본 발명의 유기 EL 표시 장치에 있어서의 화소 분할층은 (a) 1차 입자 지름이 5~30㎚인 실리카 입자(이하, (a) 성분이라고 부르는 경우가 있다)를 함유하는 것이 바람직하다. 화소 분할층이 (a) 성분에 추가하여, 후술하는 (D) 착색 재료를 더 함유하는 것이 보다 바람직하고, 이러한 경우 (D) 착색 재료로서 후술하는 (D1) 유기 안료를 함유하는 것이 더 바람직하고, (D1) 유기 안료로서 후술하는 (b) 성분을 함유하는 것이 더 바람직하다. 또한, (a) 성분은 1차 입자 지름이 5~30㎚이며, 애스펙트비(장경/단경)가 1.0~1.5인 것이 바람직하다. 이러한 (a) 성분을 함유함으로써, 개구부의 개구폭의 균일성을 높여 휘도 불균일을 저감하는 효과를 나타낸다. 여기에서 말하는 1차 입자 지름이란, 입자의 장경인 것을 말하고, 1차 입자 지름이 5~30㎚인 실리카 입자란, 1차 입자 지름이 5~30㎚의 범위에 포함되는 것을 말한다. 여기에서 말하는 「애스펙트비(장경/단경)」란, 실리카 입자의 1차 입자 지름에 있어서, 장경을 단경으로 나눈 값의 소수점 2번째 자리를 반올림한 값인 것을 의미한다.The pixel split layer in the organic EL display device of the present invention preferably contains (a) silica particles with a primary particle diameter of 5 to 30 nm (hereinafter sometimes referred to as (a) component). It is more preferable that the pixel dividing layer further contains the (D) coloring material described later in addition to the component (a), and in this case, it is more preferable to contain the organic pigment (D1) described later as the (D) coloring material. , (D1) It is more preferable to contain the component (b) described later as the organic pigment. In addition, component (a) preferably has a primary particle diameter of 5 to 30 nm and an aspect ratio (major axis/minor axis) of 1.0 to 1.5. Containing such component (a) has the effect of increasing the uniformity of the opening width of the opening and reducing luminance unevenness. The primary particle diameter here refers to the long diameter of the particle, and silica particles with a primary particle diameter of 5 to 30 nm refer to those with a primary particle diameter within the range of 5 to 30 nm. The "aspect ratio (major axis/minor axis)" herein means the value obtained by dividing the major axis by the minor axis in the primary particle diameter of the silica particle, rounded to the second decimal place.

여기에서 말하는 실리카 입자란, 물을 제외한 중량 중 SiO2의 함유율이 90중량% 이상인 입자, 이산화규소(무수 규산)로 이루어지는 입자, 이산화규소 수화물(함수 규산)로 이루어지는 입자, 및 석영 유리로 이루어지는 입자인 것을 의미한다. 함수 규산의 존재 형태는 특별히 한정되지 않고, 오쏘 규산, 메타 규산 및/또는 메타 2규산으로 이루어지는 입자도 역시, 여기에서 말하는 실리카 입자에 해당한다. 물을 제외한 중량이란, 입자의 중량으로부터 입자 중의 수분의 중량을 뺀 중량을 의미한다.The silica particles referred to herein include particles with a SiO 2 content of 90% by weight or more excluding water, particles made of silicon dioxide (anhydrous silicic acid), particles made of silicon dioxide hydrate (hydrous silicic acid), and particles made of quartz glass. It means that The form in which hydrous silicic acid exists is not particularly limited, and particles made of ortho-silicic acid, meta-silicic acid, and/or meta-disilicic acid also correspond to the silica particles referred to herein. Weight excluding water means the weight obtained by subtracting the weight of moisture in the particles from the weight of the particles.

단, 코어-셸형 복합 입자에 있어서, 코어로서 SiO2를 함유하지 않는 입자, 예를 들면 유기 폴리머로 이루어지는 입자, 유기 안료 또는 무기 안료의 표면의 적어도 일부에, 셸로서 실시된 표면 처리제 및 피복층은 SiO2를 함유하고 있었다고 해도 SiO2의 함유율에 관계없이, 그들 단독으로는 실리카 입자에 해당하지 않는 것이라고 정의한다. 한편, 코어에 SiO2를 함유하고, 또한 물을 제외한 중량 중 SiO2 함유율이 90중량% 이상인 코어-셸형 복합 입자는 실리카 입자에 해당하는 것이라고 정의한다. 즉, (a) 성분은 입자로서 화소 분할층 중에서 분산된 형태로 충전된 것이다. (a) 성분의 입자 구조는 특별히 한정되지 않고, 내부 공극을 갖고 있어도 좋다.However, in core-shell type composite particles, the surface treatment agent and the coating layer applied as a shell to at least a portion of the surface of the particles that do not contain SiO 2 as the core, for example, particles made of organic polymers, organic pigments, or inorganic pigments, are Even if SiO 2 is contained, it is defined that they alone do not correspond to silica particles, regardless of the SiO 2 content rate. Meanwhile, core-shell composite particles containing SiO 2 in the core and having a SiO 2 content of 90% by weight or more excluding water are defined as silica particles. That is, component (a) is filled as particles in a dispersed form in the pixel division layer. The particle structure of component (a) is not particularly limited and may have internal voids.

상술한 이산화규소로 이루어지는 입자, 이산화규소 수화물로 이루어지는 입자, 및 석영 유리로 이루어지는 입자 이외의 실리카 입자로서는, 예를 들면 물을 제외한 중량 중 SiO2의 함유율이 90중량% 이상인, 규소와 금속의 복합 산화물로 이루어지는 실리카 입자를 들 수 있다. 여기에서 말하는 금속으로서는, 예를 들면 지르코늄, 티타늄, 세륨을 들 수 있다. 단, 하프늄 원자를 함유하는 실리카 입자에 한해서는, 실리카 입자와 하프늄 원자(이하, (c) 성분이라고 부르는 경우가 있다)의 혼합물이다라고 정의한다.Silica particles other than the above-described particles made of silicon dioxide, particles made of silicon dioxide hydrate, and particles made of quartz glass include, for example, a composite of silicon and metal with a SiO 2 content of 90% by weight or more based on the weight excluding water. Examples include silica particles made of oxide. Examples of metals referred to here include zirconium, titanium, and cerium. However, only for silica particles containing hafnium atoms, it is defined as a mixture of silica particles and hafnium atoms (hereinafter sometimes referred to as component (c)).

유기 EL 표시 장치의 휘도의 불균일을 보다 저감함에 있어서, (a) 성분은 1차 입자 지름이 5~20㎚인 실리카 입자를 함유하는 것이 보다 바람직하고, 5~15㎚인 실리카 입자를 함유하는 것이 더 바람직하다. 여기에서 말하는 1차 입자 지름은, 실리카 입자의 장경인 것을 말한다. 애스펙트비로서는 1.0~1.3의 실리카 입자를 함유하는 것이 보다 바람직하고, 1.0~1.2의 실리카 입자를 함유하는 것이 더 바람직하다. 또한, 애스펙트비가 1.0일 경우, 진구상 실리카 입자로 간주할 수 있다.In further reducing the unevenness of luminance of an organic EL display device, component (a) more preferably contains silica particles with a primary particle diameter of 5 to 20 nm, and contains silica particles with a primary particle diameter of 5 to 15 nm. It is more desirable. The primary particle diameter referred to here refers to the major axis of the silica particle. As for the aspect ratio, it is more preferable to contain silica particles of 1.0 to 1.3, and it is further preferable to contain silica particles of 1.0 to 1.2. Additionally, when the aspect ratio is 1.0, it can be regarded as a spherical silica particle.

(a) 성분 및 (a) 성분 이외의 실리카 입자는 화소 분할층 및 스페이서층을 얇게 할단(割斷)한 것을 관측 시료로 하고, 바람직하게는 이온 밀링, 보다 바람직하게는 집속 이온빔(FIB) 가공에 의한 전처리에 의해 연마해서 평활성을 높인 단면에 대해서, 화소 분할층 또는 스페이서층의 최표층으로부터 막 깊이 방향으로 0.2~0.8㎛의 범위에 위치하는 개소를 투과형 전자 현미경-에너지 분산형 X선 분광법(TEM-EDX)으로 해석함으로써 입자를 구성하는 원소를 원소 매핑 정보로부터 판별해서 특정할 수 있다. 투과형 전자 현미경-전자 에너지 손실 분광법(TEM-EELS) 또는 주사 투과형 전자 현미경-에너지 분산형 X선 분광법(STEM-EDX)도 역시 해석에 사용할 수 있다.Component (a) and silica particles other than component (a) are obtained by thinly cutting the pixel division layer and spacer layer as observation samples, and are preferably subjected to ion milling, more preferably focused ion beam (FIB) processing. For a cross section that was polished and smoothed by pretreatment, a location located in the range of 0.2 to 0.8 ㎛ in the film depth direction from the outermost layer of the pixel division layer or spacer layer was subjected to transmission electron microscopy-energy dispersive X-ray spectroscopy (TEM). By analyzing with -EDX), the elements that make up the particle can be identified and specified from the element mapping information. Transmission electron microscopy-electron energy loss spectroscopy (TEM-EELS) or scanning transmission electron microscopy-energy dispersive X-ray spectroscopy (STEM-EDX) can also be used for interpretation.

구체적으로는, 시료를 투과형 전자 현미경-에너지 분산형 X선 분광법(TEM-EDX)에 의해 배율 50000배의 조건으로 관측한 촬상을, 화상 해석식 입도 분포 측정기 「Mac-View」(MOUNTECH Co., Ltd.제)를 사용해서 측정함으로써, (a) 성분에 해당하는 실리카 입자와 (a) 성분에 해당하지 않는 실리카 입자를 구별할 수 있다. 즉, 화소 분할층의 단면에 있어서 TEM의 촬상 상의 실리카 입자를 무작위로 30개 선택하고, 각각에 대해서 TEM의 촬상 상의 장경, 단경, 및 애스펙트비를 측정하고, 장경(㎚)이 5~30㎚이며, 또한 애스펙트비가 1.0~1.5의 범위에 있는 실리카 입자를 (a) 성분이라고 정의한다. 또한, 1개의 실리카 입자에 대해서 TEM의 촬상 상의 단경과 장경이 동일한 경우, 즉 진원이었던 경우에는 그 직경을 장경으로 간주한다. (a) 성분에 해당하는 실리카 입자의 특징을 나타내는 대표값으로서는 1차 입자 지름의 평균값, 즉 장경의 평균값을 산출하고, 소수점 1번째 자리를 반올림한 값, 및 애스펙트비의 평균값, 즉 (a) 성분에 해당하는 각각의 실리카 입자의 애스펙트비의 평균값을 산출하고, 소수점 2번째 자리를 반올림한 값을 사용한다. 여기에서, 폴리머로 이루어지는 입자, 유기 안료 및/또는 무기 안료 등의 입자의 표면과 접점을 갖는 SiO2에 대해서는 제외하고 해석을 행한다. 스페이서층이 함유하는 실리카 입자의 장경 및 애스펙트비에 대해서도 마찬가지의 방법으로 측정할 수 있다.Specifically, the sample was observed and imaged using a transmission electron microscope-energy dispersive Ltd.), it is possible to distinguish between silica particles corresponding to component (a) and silica particles not corresponding to component (a). That is, in the cross section of the pixel dividing layer, 30 silica particles in the TEM image were randomly selected, and the major axis, minor axis, and aspect ratio of the TEM image were measured for each, and the major axis (nm) was 5 to 30 nm. , and silica particles with an aspect ratio in the range of 1.0 to 1.5 are defined as component (a). Additionally, for one silica particle, if the minor axis and major axis in the TEM image are the same, that is, if it is a perfect circle, the diameter is regarded as the major axis. Representative values representing the characteristics of silica particles corresponding to component (a) are the average value of the primary particle diameter, i.e., the average value of the major axis, calculated and rounded to one decimal place, and the average value of the aspect ratio, i.e. (a) Calculate the average value of the aspect ratio of each silica particle corresponding to the component, and use the value rounded to 2 decimal places. Here, the analysis is performed excluding SiO 2 having a contact point with the surface of particles such as polymer particles, organic pigments, and/or inorganic pigments. The major axis and aspect ratio of the silica particles contained in the spacer layer can be measured in a similar manner.

또한, 본 발명의 유기 EL 표시 장치가 구비하는 화소 분할층은, 또한 (a) 성분에 해당하지 않는 실리카 입자, 즉 5㎚ 미만 또는 30㎚를 초과하는 1차 입자 지름을 갖는 실리카 입자나, 애스펙트비(장경/단경)가 1.5를 초과하는 실리카 입자를 함유해도 상관없다. (a) 성분에 해당하지 않는 실리카 입자로서는, 예를 들면 "ADMAFINE"(등록 상표) SO-E2, SO-E4(이상, 어느 것이나 ADMATECHS COMPANY LIMITED 제), KE-P10, KE-S10(이상, 어느 것이나 NIPPON SHOKUBAI CO., LTD.제)을 들 수 있다.In addition, the pixel dividing layer provided in the organic EL display device of the present invention further contains silica particles that do not correspond to component (a), that is, silica particles having a primary particle diameter of less than 5 nm or more than 30 nm, or aspect particles. It may contain silica particles whose ratio (major axis/minor axis) exceeds 1.5. Silica particles that do not correspond to component (a) include, for example, "ADMAFINE" (registered trademark) SO-E2, SO-E4 (all manufactured by ADMATECHS COMPANY LIMITED), KE-P10, KE-S10 (above, Any product made by NIPPON SHOKUBAI CO., LTD. can be mentioned.

본 발명의 유기 EL 표시 장치가 구비하는 화소 분할층은, 또한 물을 제외한 중량 중 SiO2의 함유율을 90중량% 미만의 비율로 포함하고, 또한 본 명세서 중의 실리카 입자에 해당하지 않는 입자를 함유시켜도 상관없다. 상술한 실리카 입자에 해당하지 않는 입자로서는, 예를 들면 일본 특허공개 2018-97251호에 개시된 실리카:폴리머비=중량 비율 70:30의 유기 무기 복합 입자인 "ATLAS"(등록 상표) 100(Cabot Corporation제)을 들 수 있다.The pixel split layer provided in the organic EL display device of the present invention further contains SiO 2 in a proportion of less than 90% by weight, excluding water, and further contains particles that do not correspond to silica particles in the present specification. Does not matter. As particles that do not correspond to the above-mentioned silica particles, for example, "ATLAS" (registered trademark) 100 (Cabot Corporation), which is an organic-inorganic composite particle with a silica:polymer ratio = weight ratio of 70:30 disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2018-97251. 1) can be mentioned.

본 발명의 유기 EL 표시 장치가 구비하는 화소 분할층이 함유하는 실리카 입자의 평균 1차 입자 지름은, 휘도 불균일을 억제하는 관점에서 5~30㎚가 바람직하고, 5~25㎛가 보다 바람직하다. 평균 애스펙트비(장경/단경)는 1.0~1.3이 바람직하고, 1.0~1.2가 보다 바람직하다. 즉, 본 발명의 유기 EL 표시 장치가 구비하는 화소 분할층이 (a) 성분에 해당하지 않는 실리카 입자를 함유하는 경우이어도, 함유하는 모든 실리카 입자의 평균 1차 입자 지름이 5~30㎚인 것이 바람직하다. 또한, 마찬가지로 평균 애스펙트비(장경/단경)가 1.0~1.3인 것이 바람직하다. 여기에서 말하는 실리카 입자란, (a) 성분 및 (a) 성분에 해당하지 않는 실리카 입자의 양방을 포함하는 것이다. 여기에서 말하는 평균 1차 입자 지름이란, 상술한 투과형 전자 현미경-에너지 분산형 X선 분광법(TEM-EDX)에 의해 배율 50000배의 조건으로 화소 분할층의 최표층으로부터 막 깊이 방향으로 0.2~0.8㎛의 범위에 위치하는 단면을 관측한 촬상을, 화상 해석식 입도 분포 측정기(Mac-View, MOUNTECH Co., Ltd.제)를 사용해서 무작위로 30개 취득한 모든 실리카 입자의 장경의 평균값의 소수점 1번째 자리를 반올림한 값인 것을 말한다. 여기에서 말하는 「평균 애스펙트비(장경/단경)」란, 동 화상의 무작위로 30개 취득한 모든 실리카 입자의 1차 입자 각각에 있어서 장경을 단경으로 나눈 값을 평균한 평균값의 소수점 2번째 자리를 반올림한 값인 것을 말한다. 평균 1차 입자 지름이 5~30㎚인 실리카 입자란, 평균 1차 입자 지름이 5~30㎚의 범위에 포함되는 것을 말하고, 평균 애스펙트비가 1.0~1.3인 실리카 입자란, 평균 애스펙트비가 1.0~1.3의 범위에 포함되는 것을 말한다.The average primary particle diameter of the silica particles contained in the pixel split layer of the organic EL display device of the present invention is preferably 5 to 30 nm, and more preferably 5 to 25 μm, from the viewpoint of suppressing luminance unevenness. The average aspect ratio (major axis/minor axis) is preferably 1.0 to 1.3, and more preferably 1.0 to 1.2. That is, even if the pixel dividing layer of the organic EL display device of the present invention contains silica particles that do not correspond to component (a), the average primary particle diameter of all the silica particles contained is 5 to 30 nm. desirable. Also, similarly, it is preferable that the average aspect ratio (major axis/minor axis) is 1.0 to 1.3. The silica particles referred to herein include both component (a) and silica particles that do not correspond to component (a). The average primary particle diameter referred to here is 0.2 to 0.8 μm in the film depth direction from the outermost layer of the pixel division layer under the condition of a magnification of 50,000 times using the transmission electron microscope-energy dispersive X-ray spectroscopy (TEM-EDX) described above. 1 decimal point of the average value of the major axis of all 30 silica particles obtained at random using an image analysis particle size distribution measuring device (Mac-View, manufactured by MOUNTECH Co., Ltd.) by observing the cross-section located in the range of . This means that the value is rounded off. The “average aspect ratio (major axis/minor axis)” referred to here is the average value obtained by dividing the major axis by the minor axis for each primary particle of all 30 randomly acquired silica particles in the same image, rounded to the second decimal place. It means that it is one value. Silica particles with an average primary particle diameter of 5 to 30 nm mean those with an average primary particle diameter within the range of 5 to 30 nm, and silica particles with an average aspect ratio of 1.0 to 1.3 mean those with an average aspect ratio of 1.0 to 1.3. refers to what is included in the scope of.

상술한 1차 입자 지름에 대응하는 (a) 성분의 비표면적으로서는, 50~500㎡/g이 바람직하고, 200~400㎡/g이 보다 바람직하다. 여기에서 말하는 비표면적은 질소를 흡착 가스로 하는 BET법에 의해 측정된 비표면적인 것을 말한다. (a) 성분의 표면은 다공질이어도 무공질이어도 좋고, 내부 표면적을 갖고 있어도 좋다.The specific surface area of component (a) corresponding to the above-mentioned primary particle diameter is preferably 50 to 500 m2/g, and more preferably 200 to 400 m2/g. The specific surface area referred to here refers to the specific surface area measured by the BET method using nitrogen as the adsorption gas. The surface of the component (a) may be porous or non-porous, and may have an internal surface area.

(a) 성분이 그 표면에 갖는 관능기로서는, 예를 들면 에틸렌성 불포화 이중 결합기를 포함하는 표면 수식기의 반응 잔기, 실라놀기, 알콕시실릴기, 트리알킬실릴기, 디페닐실릴기를 들 수 있다. 그 중에서도, 휘도의 불균일을 보다 저감함에 있어서, 에틸렌성 불포화 이중 결합기를 포함하는 표면 수식기의 반응 잔기를 갖는 것이 바람직하다. 여기에서 말하는 에틸렌성 불포화 이중 결합기를 포함하는 표면 수식기의 반응 잔기란, 에틸렌성 불포화 이중 결합기를 포함하는 표면 수식기의 에틸렌성 불포화 이중 결합기가 광 및/또는 열에 의해 라디칼 중합 반응한 후에 남은 기인 것을 의미한다. (a) 성분이 에틸렌성 불포화 이중 결합기를 포함하는 표면 수식기의 반응 잔기를 입자 표면에 갖는 실리카 입자를 함유하고, 상기 에틸렌성 불포화 이중 결합기를 포함하는 표면 수식기의 반응 잔기가 식 (3)으로 나타내어지는 구조 및/또는 식 (4)로 나타내어지는 구조를 갖는 것이 보다 바람직하다. 상기 에틸렌성 불포화 이중 결합기를 포함하는 표면 수식기의 반응 잔기는, 후술하는 라디칼 중합성기를 분자 내에 2개 이상 갖는 화합물과의 라디칼 중합 반응에 의해 발생하는 잔기인 것이 보다 바람직하다.Examples of the functional group that component (a) has on its surface include a reactive residue of a surface modification group containing an ethylenically unsaturated double bond group, a silanol group, an alkoxysilyl group, a trialkylsilyl group, and a diphenylsilyl group. Among them, in order to further reduce the unevenness of brightness, it is preferable to have a reactive residue of a surface modifying group containing an ethylenically unsaturated double bond group. The reactive residue of the surface modifying group containing an ethylenically unsaturated double bond group as used herein refers to the residue remaining after the ethylenically unsaturated double bond group of the surface modifying group containing an ethylenically unsaturated double bond undergoes radical polymerization reaction by light and/or heat. means that (a) The component contains silica particles having on the surface of the particle a reactive residue of a surface modifying group containing an ethylenically unsaturated double bond group, and the reactive residue of the surface modifying group containing an ethylenically unsaturated double bond group is represented by formula (3) It is more preferable to have a structure represented by and/or a structure represented by formula (4). It is more preferable that the reactive residue of the surface modification group containing the ethylenically unsaturated double bond group is a residue generated by a radical polymerization reaction with a compound having two or more radical polymerizable groups in the molecule, which will be described later.

식 (3) 중, R17 16은 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다. R18 17은 탄소수 1~7의 2가의 탄화수소기를 나타낸다. j 및 k는 정수이며, 각각 독립적으로 0 또는 1을 나타낸다. 단, j가 1일 경우, k는 1이다. *1은 탄소 원자와의 결합 부위를 나타낸다.In formula (3), R 17 16 represents a hydrogen atom or a methyl group. R 18 17 represents a divalent hydrocarbon group having 1 to 7 carbon atoms. j and k are integers and each independently represents 0 or 1. However, when j is 1, k is 1. * 1 represents the bonding site with a carbon atom.

*2는 실리카 입자가 입자 표면에 갖는, 규소 원자와 결합한 산소 원자와의 결합 부위를 나타낸다. R19 18은 탄소 원자수 1~3의 알킬기를 나타낸다. m, n은 정수이며, m은 1~3을 나타내고, n은 0~2를 나타낸다. 단, m+n=3을 충족한다.* 2 represents the bonding site of the silica particle with the oxygen atom bonded to the silicon atom on the particle surface. R 19 18 represents an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms. m and n are integers, m represents 1 to 3, and n represents 0 to 2. However, m+n=3 is satisfied.

식 (4) 중, R20 19는 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다. R21 20은 탄소수 1~3의 옥시알킬렌기를 나타낸다. r은 정수이며, 1~4를 나타낸다. *3은 탄소 원자와의 결합 부위를 나타낸다.In formula (4), R 20 19 represents a hydrogen atom or a methyl group. R 21 20 represents an oxyalkylene group having 1 to 3 carbon atoms. r is an integer and represents 1 to 4. * 3 represents the bonding site with a carbon atom.

*4는 실리카 입자가 입자 표면에 갖는, 규소 원자와 결합한 산소 원자와의 결합 부위를 나타낸다.* 4 represents the bonding site of the silica particle with the oxygen atom bonded to the silicon atom on the particle surface.

식 (3)으로 나타내어지는 구조를 갖는 (a) 성분은, 에틸렌성 불포화 이중 결합기를 갖는 유기 알콕시실란 화합물을 유래로 하는 표면 수식기를 실리카 입자 표면의 실라놀기와의 탈수 축합 반응에 의해 도입하고, 표면 수식기가 포함하는 에틸렌성 불포화 이중 결합기를 광 및/또는 열에 의해 라디칼 중합 반응시킴으로써 얻을 수 있다.Component (a) having the structure represented by formula (3) introduces a surface modifying group derived from an organic alkoxysilane compound having an ethylenically unsaturated double bond group through a dehydration condensation reaction with a silanol group on the surface of the silica particle, , can be obtained by subjecting the ethylenically unsaturated double bond group contained in the surface modification group to radical polymerization using light and/or heat.

에틸렌성 불포화 이중 결합기를 갖는 유기 알콕시실란 화합물로서는, 예를 들면 비닐트리메톡시실란, 비닐트리에톡시실란, p-스티릴트리메톡시실란, p-스티릴트리에톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필메틸디메톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필메틸디에톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필트리메톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필트리에톡시실란, 3-아크릴옥시프로필메틸디메톡시실란, 3-아크릴옥시프로필메틸디에톡시실란, 3-아크릴옥시프로필트리메톡시실란, 3-아크릴옥시프로필트리에톡시실란, 알릴트리메톡시실란, 알릴트리에톡시실란을 들 수 있다.Examples of organic alkoxysilane compounds having an ethylenically unsaturated double bond group include vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, p-styryltrimethoxysilane, p-styryltriethoxysilane, and 3-methacryl. Oxypropylmethyldimethoxysilane, 3-methacryloxypropylmethyldiethoxysilane, 3-methacryloxypropyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropyltriethoxysilane, 3-acryloxypropylmethyldimethoxysilane, Examples include 3-acryloxypropylmethyldiethoxysilane, 3-acryloxypropyltrimethoxysilane, 3-acryloxypropyltriethoxysilane, allyltrimethoxysilane, and allyltriethoxysilane.

반응 잔기가 식 (4)로 나타내어지는 구조를 갖는 (a) 성분은, 에틸렌성 불포화 이중 결합기를 갖는 이소시아네이트 화합물을 유래로 하는 표면 수식기를 실리카 입자 표면의 실라놀기와의 우레탄화 반응에 의해 도입하고, 표면 수식기가 포함하는 에틸렌성 불포화 이중 결합기를 광 및/또는 열에 의해 라디칼 중합 반응시킴으로써 얻을 수 있다. 에틸렌성 불포화 이중 결합기를 갖는 이소시아네이트 화합물로서는, 예를 들면 2-메타크릴로일옥시에틸이소시아네이트, 2-아크릴로일옥시에틸이소시아네이트, 2-(2-메타크릴로일옥시에틸옥시)에틸이소시아네이트를 들 수 있다.Component (a), whose reactive residue has a structure represented by formula (4), introduces a surface modifier derived from an isocyanate compound having an ethylenically unsaturated double bond group through a urethanation reaction with a silanol group on the surface of the silica particle. It can be obtained by subjecting the ethylenically unsaturated double bond group included in the surface modification group to radical polymerization using light and/or heat. Examples of the isocyanate compound having an ethylenically unsaturated double bond group include 2-methacryloyloxyethyl isocyanate, 2-acryloyloxyethyl isocyanate, and 2-(2-methacryloyloxyethyloxy)ethyl isocyanate. You can.

또한, 에틸렌성 불포화 이중 결합기를 갖는 유기 알콕시실란 화합물을 유래로 하는 표면 수식기와, 에틸렌성 불포화 이중 결합기를 갖는 이소시아네이트 화합물을 유래로 하는 표면 수식기를 실리카 입자의 표면에 순서대로 수식함으로써, 반응 잔기가 식 (3)으로 나타내어지는 구조 및 식 (4)로 나타내어지는 구조를 갖는 (a) 성분을 얻을 수 있다.In addition, by sequentially modifying the surface of the silica particles with a surface modifying group derived from an organic alkoxysilane compound having an ethylenically unsaturated double bond group and a surface modifying group derived from an isocyanate compound having an ethylenically unsaturated double bond group, a reaction occurs. Component (a), whose residues have the structure represented by formula (3) and the structure represented by formula (4), can be obtained.

예를 들면, 네거티브형의 감광성 조성물 중에 있어서의 (a) 성분의 분산 안정성을 향상하기 위해서는, (a) 성분은 트리알킬실릴기를 더 갖는 것이 바람직하고, 트리메틸실릴기를 갖는 것이 보다 바람직하다. 트리메틸실릴기는 트리메틸실릴화제를 사용해서 실리카 입자의 표면 실라놀기 중의 수소 원자를 트리메틸실릴기로 변환함으로써, (a) 성분에 도입할 수 있다. 트리메틸실릴화제로서는, 예를 들면 헥사메틸디실라잔, 트리메틸알콕시실란을 들 수 있고, 각각 탈암모니아 반응, 탈수 축합 반응에 의해 도입할 수 있다. (a) 성분의 분산 안정성을 향상함으로써, 보다 안정적으로 휘도 불균일을 저감할 수 있는 경우가 있다.For example, in order to improve the dispersion stability of component (a) in a negative photosensitive composition, component (a) preferably further has a trialkylsilyl group, and more preferably has a trimethylsilyl group. Trimethylsilyl group can be introduced into component (a) by converting hydrogen atoms in the surface silanol groups of the silica particles into trimethylsilyl groups using a trimethylsilylating agent. Examples of the trimethylsilylating agent include hexamethyldisilazane and trimethylalkoxysilane, which can be introduced through deammonification reaction and dehydration condensation reaction, respectively. By improving the dispersion stability of component (a), there are cases where luminance unevenness can be reduced more stably.

휘도의 불균일을 보다 저감함에 있어서, (a) 성분은 나트륨 원자를 갖는 실리카 입자를 함유하는 것이 바람직하다. 나트륨 원자의 존재 형태로서는, 예를 들면 이온(Na+), 실라놀기와의 염(Si-ONa)을 들 수 있다. 나트륨 원자의 함유량은 (a) 성분 중 100~5000중량ppm이 바람직하다. 나트륨 원자를 갖는 실리카 입자는 알칼리 조건하, 규소원으로서 강알칼리성인 규산 나트륨과, 강산인 광산과의 반응에 의해 합성할 수 있다. 또한, 실리카 입자가 갖는 나트륨 원자는 상술한 TEM-EDX를 사용하여, 1차 입자의 단면의 촬상에 있어서 장축과 단축의 교점에 해당하는 중심 부위에 있어서 검출할 수 있다.In order to further reduce the unevenness of brightness, it is preferable that component (a) contains silica particles having sodium atoms. Examples of the form in which the sodium atom exists include an ion (Na+) and a salt with a silanol group (Si-ONa). The content of sodium atoms is preferably 100 to 5000 ppm by weight in component (a). Silica particles having sodium atoms can be synthesized by reaction between strongly alkaline sodium silicate as a silicon source and mineral acid, which is a strong acid, under alkaline conditions. Additionally, the sodium atoms contained in the silica particles can be detected at the central portion corresponding to the intersection of the major axis and the minor axis when imaging the cross section of the primary particle using the TEM-EDX described above.

(a) 성분의 함유량은 휘도의 불균일을 억제함에 있어서 화소 분할층 중, SiO2 환산으로 1~50중량%가 바람직하고, 5~20중량%가 보다 바람직하다. 화소 분할층 중의 모든 실리카 성분에 대해서도, 또한 마찬가지의 관점에서 SiO2 환산으로 1~50중량%가 바람직하고, 7~30중량%가 보다 바람직하다. 여기에서 말하는 SiO2 환산에서의 함유량이란, 당업자의 기술 상식에 의거하여 열이력에 의해 변동하는 실리카 입자 중의 수분의 중량을 제외하고 환산한 함유량을 의미한다.The content of component (a) is preferably 1 to 50% by weight, more preferably 5 to 20% by weight, in terms of SiO 2 in the pixel division layer in suppressing unevenness of luminance. For all silica components in the pixel dividing layer, from the same viewpoint, 1 to 50% by weight is preferable in terms of SiO 2 , and 7 to 30% by weight is more preferable. The content in terms of SiO 2 as used herein refers to the content converted by excluding the weight of moisture in the silica particles, which fluctuates due to thermal history, based on the technical common sense of those skilled in the art.

휘도의 불균일을 보다 저감함에 있어서, 본 발명의 유기 EL 표시 장치에 있어서의 화소 분할층은, 또한 (c) 하프늄 원자(이하, (c) 성분이라고 부르는 경우가 있다)를 1~50중량ppm 함유하는 것이 바람직하다. 1~30중량ppm이 보다 바람직하다. (c) 성분으로서는, 하프늄 원자를 포함하는 무기 입자로서 화소 분할층 중에 함유하는 것이 바람직하다.In order to further reduce the unevenness of luminance, the pixel dividing layer in the organic EL display device of the present invention further contains 1 to 50 ppm by weight of (c) hafnium atoms (hereinafter sometimes referred to as the (c) component). It is desirable to do so. 1 to 30 ppm by weight is more preferable. The component (c) is an inorganic particle containing a hafnium atom, which is preferably contained in the pixel dividing layer.

(c) 성분을 포함하는 무기 입자로서는, 예를 들면 산화하프늄(HfO2), 하프늄 이외의 금속과 하프늄의 복합 산화물, 하프늄 이외의 금속의 산화물과 산화하프늄의 고용체, 산질화하프늄, 하프늄 이외의 금속과 하프늄의 복합 산질화물, 하프늄 이외의 금속의 산질화물과 산질화하프늄의 고용체를 들 수 있다. 그 중에서도, 휘도의 불균일을 저감하는 효과가 우수한 점에서, 산화하프늄(HfO2), 또는 하프늄 이외의 금속과 하프늄의 복합 산화물이 바람직하고, 지르코늄과 하프늄의 복합 산화물(ZrO2-HfO2)이 보다 바람직하다.(c) Inorganic particles containing the component include, for example, hafnium oxide (HfO 2 ), complex oxides of metals other than hafnium and hafnium, solid solutions of oxides of metals other than hafnium and hafnium oxide, hafnium oxynitride, and hafnium oxides other than hafnium. Examples include complex oxynitrides of metals and hafnium, oxynitrides of metals other than hafnium, and solid solutions of hafnium oxynitride. Among them, hafnium oxide (HfO 2 ) or a composite oxide of a metal other than hafnium and hafnium is preferable, and a composite oxide of zirconium and hafnium (ZrO 2 -HfO 2 ) is preferable because it is excellent in reducing the unevenness of luminance. It is more desirable.

(c) 성분을 포함하는 무기 입자로서는, 분말 형태로 입수 가능한 시판품을 사용할 수 있고, 예를 들면 Hafnium oxide P, 동 R, 동 S(이상, 어느 것이나 ATI METALS사제), 산화하프늄 미립자(Kojundo Chemical Laboratory Co., Ltd.제)를 들 수 있다. 다른 방법으로서, 후술하는 (b) 성분을 포함하는 안료 분산액을 조제하는 과정에서, (c) 성분을 포함하는 분쇄 미디어의 표면을 기계적 에너지에 의해 습식 연마해서 발생한 미립자를 (b) 성분과 공분산시킴으로써, 최종적으로 얻어지는 화소 분할층 중에 (c) 성분을 함유시켜도 좋다.As the inorganic particles containing the component (c), commercial products available in powder form can be used, for example, Hafnium oxide P, Copper R, Copper S (all of the above are manufactured by ATI METALS), hafnium oxide fine particles (Kojundo Chemical) (manufactured by Laboratory Co., Ltd.) can be mentioned. As another method, in the process of preparing a pigment dispersion containing component (b), which will be described later, the surface of the grinding media containing component (c) is wet-polished using mechanical energy, and the fine particles generated are codispersed with component (b). , component (c) may be contained in the pixel division layer finally obtained.

(c) 성분의 함유량은 화소 분할층의 최표층으로부터 막 깊이 방향으로 0.2~0.8㎛의 범위에 위치하는 개소를 깎아 내고, 전기로를 사용해서 800℃ 이상 온도에서 가열 회화시키고, 또한 황산, 질산, 및 불화수소산으로 가열 분해시킨 후에 희질산으로 가온 용해해서 얻어지는 용액을 분석 시료로 해서 ICP(고주파 유도 결합 플라즈마) 발광 분광 분석법에 의해 정량할 수 있다. 분석 장치로서는, PS3520VDDII(Hitachi High-Tech Science Corporation제)를 사용할 수 있다.(c) The content of the component is determined by carving out a portion located in the range of 0.2 to 0.8 ㎛ from the outermost layer of the pixel division layer in the film depth direction, heating and incinerating it at a temperature of 800°C or higher using an electric furnace, and adding sulfuric acid, nitric acid, And the solution obtained by heating and dissolving with hydrofluoric acid and then heating and dissolving with dilute nitric acid can be used as an analysis sample and quantified by ICP (inductively coupled plasma) emission spectroscopy. As an analysis device, PS3520VDDII (manufactured by Hitachi High-Tech Science Corporation) can be used.

<(D) 착색 재료><(D) Coloring material>

차광성이나 반사 방지의 관점으로부터 착색이 필요하게 된 경우에는, 본 발명에 있어서 사용되는 감광성 수지 조성물이 (D) 착색 재료를 함유하는 것이 바람직하다. 감광성 수지 조성물이 (D) 착색 재료를 함유함으로써, 화소 분할층이 (D) 착색 재료를 함유하는 것이 되고, 후술하는 각 효과가 얻어지는 점에서 바람직하다. (D) 착색 재료란, 특정 파장의 광을 흡수하는 화합물이며, 특히 가시광선의 파장(380~780㎚)의 광을 흡수함으로써 착색되는 화합물을 말한다. (D) 착색 재료를 함유시킴으로써 감광성 수지 조성물로부터 얻어지는 경화막을 착색시킬 수 있고, 감광성 수지 조성물의 경화막을 투과하는 광, 또는 감광성 수지 조성물의 경화막으로부터 반사하는 광을 소망의 색으로 착색시키는 착색성을 부여할 수 있다. 또한, 감광성 수지 조성물의 경화막을 투과하는 광, 또는 감광성 수지 조성물의 경화막으로부터 반사하는 광으로부터 (D) 착색 재료가 흡수하는 파장의 광을 차광하는 차광성을 부여할 수 있다.When coloring is required from the viewpoint of light-shielding properties or anti-reflection, it is preferable that the photosensitive resin composition used in the present invention contains the coloring material (D). It is preferable that the photosensitive resin composition contains the coloring material (D), because the pixel split layer contains the coloring material (D), and each effect described later is obtained. (D) A coloring material is a compound that absorbs light of a specific wavelength, and in particular, refers to a compound that is colored by absorbing light of the wavelength of visible light (380 to 780 nm). (D) By containing a coloring material, the cured film obtained from the photosensitive resin composition can be colored, and the coloring property of coloring the light passing through the cured film of the photosensitive resin composition or the light reflected from the cured film of the photosensitive resin composition to a desired color. It can be granted. In addition, it is possible to provide light-shielding properties that block light of a wavelength absorbed by the coloring material (D) from light that passes through the cured film of the photosensitive resin composition or light reflected from the cured film of the photosensitive resin composition.

본 발명에 사용되는 (D) 착색 재료의 함유량은 화소 분할층 중 1중량% 이상이 바람직하고, 10중량% 이상이 보다 바람직하고, 15중량% 이상이 더 바람직하다. 함유 비율이 상기 범위 내이면 차광성, 착색성, 또는 조색성을 향상시킬 수 있다. 한편, 함유 비율은 70중량% 이하가 바람직하고, 65중량% 이하가 보다 바람직하고, 60중량% 이하가 더 바람직하다. 함유 비율이 상기 범위 내이면 노광 시의 감도를 향상시킬 수 있다.The content of the (D) coloring material used in the present invention is preferably 1% by weight or more, more preferably 10% by weight or more, and still more preferably 15% by weight or more in the pixel dividing layer. If the content ratio is within the above range, light-shielding properties, coloring properties, or color matching properties can be improved. On the other hand, the content ratio is preferably 70% by weight or less, more preferably 65% by weight or less, and even more preferably 60% by weight or less. If the content ratio is within the above range, sensitivity during exposure can be improved.

(D) 착색 재료로서는 가시광선의 파장의 광을 흡수하고, 백색, 적색, 등색, 황색, 녹색, 청색, 또는 자색으로 착색되는 (D1) 유기 안료, (D2) 무기 안료나, (D3) 염료 등의 공지의 화합물을 들 수 있다. 이들 착색 재료를 2종 이상 조합해서 사용해도 좋고, 2색 이상 조합해도 좋다. 2종 이상 조합함으로써, 얻어지는 화소 분할층이 후술하는 효과를 겸비하는 것이 되는 점에서 바람직하다. 2색 이상 조합함으로써 감광성 수지 조성물의 경화막을 투과하는 광, 또는 감광성 수지 조성물의 경화막으로부터 반사하는 광을 소망의 색 좌표로 조색하는 조색성을 향상시킬 수 있다.(D) Coloring materials include (D1) organic pigments, (D2) inorganic pigments, and (D3) dyes that absorb light in the wavelength of visible light and are colored white, red, orange, yellow, green, blue, or purple. Known compounds may be mentioned. These coloring materials may be used in combination of two or more, and two or more colors may be combined. Combining two or more types is preferable because the obtained pixel division layer has the effects described later. By combining two or more colors, the color mixing property of coloring the light passing through the cured film of the photosensitive resin composition or the light reflected from the cured film of the photosensitive resin composition to desired color coordinates can be improved.

(D) 착색 재료로서 (D1) 유기 안료를 적용함으로써, (D1) 유기 안료의 특징인 화학 구조 변화 또는 관능기 변환 기능에 의해 소망의 특정 파장의 광을 투과 또는 차광하는 등, 감광성 수지 조성물의 경화막의 투과 스펙트럼 또는 흡수 스펙트럼을 조정하여 조색성을 향상시킬 수 있다. 이와 같은 (D1) 유기 안료의 상세에 대해서는 후술한다.(D) Curing of the photosensitive resin composition by applying the (D1) organic pigment as a coloring material, such as transmitting or blocking light of a desired specific wavelength by changing the chemical structure or functional group conversion function characteristic of the (D1) organic pigment. Color matching can be improved by adjusting the transmission spectrum or absorption spectrum of the membrane. Details of such (D1) organic pigment will be described later.

(D) 착색 재료로서 (D2) 무기 안료를 적용함으로써, (D2) 무기 안료의 특징인 내열성 및 내후성이 우수한 성질 때문에 감광성 수지 조성물의 경화막의 내열성 및 내후성을 향상시킬 수 있다. (D2) 무기 안료로서는, 예를 들면 질화지르코늄, 산화지르코늄, 산화티탄, 탄산 바륨, 아연화, 황화아연, 연백, 탄산 칼슘, 황산 바륨, 화이트카본, 알루미나화이트, 이산화규소, 카올린클레이, 탤크, 벤토나이트, 벵갈라, 몰리브덴 레드, 몰리브덴 오렌지, 크롬 버밀리언, 황연, 카드뮴 엘로우, 황색 산화철, 티탄 옐로, 산화크롬, 비리디안, 티탄 코발트 그린, 코발트 그린, 코발트 크롬 그린, 빅토리아 그린, 군청, 감청, 코발트 블루, 세룰리안 블루, 코발트 실리카 블루, 코발트 아연 실리카 블루, 망간 바이올렛, 코발트 바이올렛, 그래파이트 혹은 은 주석 합금, 또는 티탄, 구리, 철, 망간, 코발트, 크롬, 니켈, 아연, 칼슘 혹은 은 등의 금속의 미립자, 산화물, 복합 산화물, 황화물, 황산염, 질산염, 탄산염, 질화물, 탄화물 혹은 산질화물을 들 수 있다.(D) By applying the (D2) inorganic pigment as the coloring material, the heat resistance and weather resistance of the cured film of the photosensitive resin composition can be improved due to the excellent heat resistance and weather resistance characteristics of the (D2) inorganic pigment. (D2) Inorganic pigments include, for example, zirconium nitride, zirconium oxide, titanium oxide, barium carbonate, zinc oxide, zinc sulfide, soft white, calcium carbonate, barium sulfate, white carbon, alumina white, silicon dioxide, kaolin clay, talc, and bentonite. , Bengala, molybdenum red, molybdenum orange, chrome vermillion, yellow lead, cadmium yellow, yellow iron oxide, titanium yellow, chromium oxide, viridian, titanium cobalt green, cobalt green, cobalt chrome green, Victoria green, ultramarine blue, royal blue, cobalt blue. , cerulean blue, cobalt silica blue, cobalt zinc silica blue, manganese violet, cobalt violet, graphite or silver-tin alloy, or metals such as titanium, copper, iron, manganese, cobalt, chromium, nickel, zinc, calcium or silver. Examples include particulates, oxides, complex oxides, sulfides, sulfates, nitrates, carbonates, nitrides, carbides, or oxynitrides.

이 중에서, 화소 분할층의 표면 거칠기(Ra1)를 1.0㎚ 이상 50㎚ 이하로 하기 위해, 질화지르코늄과 같은 비중이 큰 무기 안료를 분산하는 것이 바람직하다. 후술하는 바와 같이, 하프톤 노광부에 해당하는 화소 분할층에 있어서 현상 시의 안료 석출을 기대하기 때문이다. 무기 안료에는 경시에서의 안료 응집, 증점, 감도 저하 등의 과제가 있지만, (a) 성분의 산 당량을 200g/㏖ 이상, 500g/㏖ 이하로 함으로써 후술하는 노광부, 미노광부, 하프톤 노광부의 알칼리 용해성을 바람직하게 조정할 수 있다. (a) 성분의 산 당량이 200g/㏖ 미만이면, 예를 들면 포지티브형 감광성 수지 조성물의 경화막을 얻을 때, 미노광부의 알칼리 용해성이 높아지고, 노광부와의 용해 속도차가 작아 소망의 패턴을 형성할 수 없다. 산 당량을 200g/㏖ 이상으로 함으로써 미노광부의 용해성을 억제할 수 있고, 미노광부로부터의 용출물 부착에 의한 개구부의 잔사가 적은 패턴이 형성 가능해진다. 또한, (a) 성분의 산 당량을 500g/㏖ 이하로 함으로써, 질화지르코늄 입자의 분산 안정화를 촉진하여 보존 안정성이 우수한 감광성 수지 조성물을 얻을 수 있다.Among these, in order to keep the surface roughness (Ra1) of the pixel dividing layer from 1.0 nm to 50 nm, it is preferable to disperse an inorganic pigment with a large specific gravity such as zirconium nitride. As will be described later, this is because pigment precipitation is expected during development in the pixel division layer corresponding to the halftone exposure area. Inorganic pigments have problems such as pigment aggregation, thickening, and decreased sensitivity over time, but by setting the acid equivalent of component (a) to 200 g/mol or more and 500 g/mol or less, the exposed area, unexposed area, and halftone exposed area described later can be improved. Alkali solubility can be adjusted preferably. If the acid equivalent of component (a) is less than 200 g/mol, for example, when obtaining a cured film of a positive photosensitive resin composition, the alkali solubility of the unexposed area increases and the dissolution rate difference with the exposed area is small, so that a desired pattern cannot be formed. I can't. By setting the acid equivalent to 200 g/mol or more, the solubility of the unexposed area can be suppressed, and a pattern with less residue in the opening area due to adhesion of the eluate from the unexposed area can be formed. Additionally, by setting the acid equivalent of component (a) to 500 g/mol or less, the dispersion stabilization of the zirconium nitride particles is promoted, and a photosensitive resin composition with excellent storage stability can be obtained.

(D3) 염료란, 대상물의 표면 구조에 염료 중의 이온성기 혹은 히드록시기 등의 치환기가 화학 흡착 또는 강하게 상호 작용 등을 함으로써 대상물을 착색시키는 화합물을 말하고, 일반적으로 용제 등에 가용이다. 또한, 염료에 의한 착색은 분자 하나하나가 대상물과 흡착하기 때문에 착색력이 높고, 발색 효율이 높다. 염료로서는, 예를 들면 직접 염료, 반응성 염료, 황화 염료, 배트 염료, 황화 염료, 산성 염료, 함금속 염료, 함금속 산성 염료, 염기성 염료, 매염 염료, 산성 매염 염료, 분산 염료, 양이온 염료 또는 형광 증백 염료 등으로 분류할 수 있다. 재료계로부터 안트라퀴논계 염료, 아조계 염료, 아진계 염료, 프탈로시아닌계 염료, 메틴계 염료, 옥사진계 염료, 퀴놀린계 염료, 인디고계 염료, 인디고이드계 염료, 카르보늄계 염료, 스렌계 염료, 페리논계 염료, 페릴렌계 염료, 트리아릴메탄계 염료 또는 크산텐계 염료 등을 들 수 있지만, (C) 유기 용제로의 용해성 및 내열성의 관점으로부터 안트라퀴논계 염료, 아조계 염료, 아진계 염료, 메틴계 염료, 트리아릴메탄계 염료, 크산텐계 염료가 바람직하다.(D3) A dye refers to a compound that colors an object by chemical adsorption or strong interaction of substituents such as ionic groups or hydroxy groups in the dye with the surface structure of the object, and is generally soluble in solvents, etc. In addition, coloring with dyes has high coloring power and high color development efficiency because each molecule adsorbs with the object. Dyes include, for example, direct dyes, reactive dyes, sulphide dyes, vat dyes, sulphide dyes, acid dyes, metal-containing dyes, metal-containing acid dyes, basic dyes, mordant dyes, acid mordant dyes, disperse dyes, cationic dyes, or fluorescent dyes. It can be classified as whitening dye, etc. From the materials group, anthraquinone-based dyes, azo-based dyes, azine-based dyes, phthalocyanine-based dyes, methine-based dyes, oxazine-based dyes, quinoline-based dyes, indigo-based dyes, indigoide-based dyes, carbonium-based dyes, srene-based dyes, Examples include perinone-based dyes, perylene-based dyes, triarylmethane-based dyes, or xanthene-based dyes, but (C) from the viewpoint of solubility in organic solvents and heat resistance, anthraquinone-based dyes, azo-based dyes, azine-based dyes, and methine dyes. Based dyes, triarylmethane based dyes, and xanthene based dyes are preferred.

이 중에서, 화소 분할층의 표면 거칠기(Ra1)를 1.0㎚ 이상 50㎚ 이하로 하기 위해, (D) 착색 재료로서 (D3-1) 산성 염료와 염기성 염료로 이루어지는 조염 화합물을 함유하는 것이 바람직하다. (D3-1) 산성 염료와 염기성 염료로 이루어지는 조염 화합물을 함유함으로써, 하프톤 노광부에 해당하는 화소 분할층에 있어서 현상 시의 염료 석출을 기대하기 때문이다.Among these, in order to set the surface roughness (Ra1) of the pixel dividing layer to 1.0 nm or more and 50 nm or less, it is preferable to contain (D3-1) a salt-forming compound consisting of an acidic dye and a basic dye as the coloring material (D). (D3-1) This is because, by containing a salt-forming compound consisting of an acidic dye and a basic dye, precipitation of the dye during development is expected in the pixel dividing layer corresponding to the halftone exposed area.

(D3-1) 산성 염료와 염기성 염료로 이루어지는 조염 화합물이란, 산성 염료와 염기성 염료를 반응시켜서 얻어지는 화합물이다. 염료 이온이 음이온성인 산성 염료와, 염료 이온이 양이온성인 염기성 염료의 화학(조염) 반응에 의해 얻어지는 화합물이며, 화학적으로 안정적이다.(D3-1) A salt-forming compound consisting of an acid dye and a basic dye is a compound obtained by reacting an acid dye and a basic dye. It is a compound obtained through a chemical (salt formation) reaction between an acidic dye with an anionic dye ion and a basic dye with a cationic dye ion, and is chemically stable.

산성 염료란, 색소의 분자 중에 술포기나 카르복시기 등의 산성의 치환기를 갖는 화합물이거나, 또는 그 염인 음이온성의 수용성 염료이다. 또한, 산성 염료로서는 술포기나 카르복시기 등의 산성의 치환기를 갖고, 직접 염료로 분류되는 것을 포함한다. 그 중에서도, 산성 염료는 개구부 잔사를 적게 할 수 있는 점에서 크산텐계 산성 염료를 함유하는 것이 바람직하다. 크산텐계 산성 염료는 개구부 잔사를 보다 적게 할 수 있는 점에서, C. I. 애시드 레드 50, 52, 289 등의 로다민계 산성 염료를 함유하는 것이 보다 바람직하다. 또한, 로다민계 산성 염료는 경화막의 흑색도를 높게 할 수 있는 점에서, C. I. 애시드 레드 52를 함유하는 것이 더 바람직하다.An acidic dye is a compound having an acidic substituent such as a sulfo group or a carboxyl group in the dye molecule, or an anionic water-soluble dye that is a salt thereof. Additionally, acidic dyes include those that have acidic substituents such as sulfo groups or carboxyl groups and are classified as direct dyes. Among them, it is preferable that the acid dye contains a xanthene-based acid dye because it can reduce opening residues. Since the xanthene-based acid dye can reduce opening residues, it is more preferable to contain a rhodamine-based acid dye such as C.I. Acid Red 50, 52, and 289. Additionally, since the rhodamine-based acid dye can increase the blackness of the cured film, it is more preferable to contain C.I. Acid Red 52.

염기성 염료란, 분자 중에 아미노기나 이미노기 등의 염기성의 기를 갖는 화합물이거나 또는 그 염이며, 수용액 중에서 양이온이 되는 염료이다. 그 중에서도, 염기성 염료는 경화막의 흑색도를 높게 할 수 있는 점에서, 트리아릴메탄계 염기성 염료를 함유하는 것이 바람직하다. 트리아릴메탄계 염기성 염료는 경화막의 흑색도를 보다 높게 할 수 있는 점에서, C. I. 베이식 블루 7 및/또는 C. I. 베이식 블루 26을 함유하는 것이 보다 바람직하다.A basic dye is a compound or a salt thereof that has a basic group such as an amino group or an imino group in the molecule, and is a dye that becomes a cation in an aqueous solution. Among these, the basic dye preferably contains a triarylmethane-based basic dye because it can increase the blackness of the cured film. Since the triarylmethane-based basic dye can increase the blackness of the cured film, it is more preferable to contain C.I. Basic Blue 7 and/or C.I. Basic Blue 26.

산성 염료와 염기성 염료의 조염 화합물은 공지의 방법으로 합성할 수 있다. 예를 들면, 산성 염료의 수용액과 염기성 염료의 수용액을 각각 조제하고, 양자를 교반하면서 천천히 혼합하면, 석출물로서 산성 염료와 염기성 염료의 조염 화합물이 생성된다. 이것을 여과에 의해 회수함으로써 상기 조염 화합물을 얻을 수 있다. 얻어진 상기 조염 화합물은 60~70℃ 정도에서 건조하는 것이 바람직하다.Salt-forming compounds of acidic dyes and basic dyes can be synthesized by known methods. For example, when an aqueous solution of an acid dye and an aqueous solution of a basic dye are prepared separately and mixed slowly while stirring, a salt-forming compound of the acid dye and the basic dye is produced as a precipitate. By recovering this by filtration, the salt-forming compound can be obtained. It is preferable to dry the obtained salt-forming compound at about 60 to 70°C.

또한, 감광성 수지 조성물에 있어서의 조염 화합물의 함유량을 (A) 알칼리 가용성 수지의 100중량부에 대해서 10중량부 이상으로 함으로써 흑색화를 달성하고, 75중량부 이하로 함으로써 개구부 잔사를 저감시킬 수 있다. 이 범위에서 조염 화합물을 함유함으로써 후술하는 노광부, 미노광부, 하프톤 노광부의 알칼리 용해성을 바람직하게 조정할 수 있다.In addition, blackening can be achieved by setting the content of the salt-forming compound in the photosensitive resin composition to 10 parts by weight or more with respect to 100 parts by weight of the alkali-soluble resin (A), and opening residues can be reduced by setting it to 75 parts by weight or less. . By containing the salt-forming compound in this range, the alkali solubility of the exposed part, unexposed part, and halftone exposed part described later can be suitably adjusted.

또한, 경화막의 흑색도를 높게 하고 싶은 경우에는 (D) 착색 재료로서 (D3-2) 비이온성 염료를 함유하는 것이 바람직하다.Additionally, when it is desired to increase the blackness of the cured film, it is preferable to contain a nonionic dye (D3-2) as the (D) coloring material.

(D3-2) 비이온성 염료란, 산성 염료 및 염기성 염료 이외의 염료이며, 이온성의 구조를 갖지 않는 것을 말한다.(D3-2) Nonionic dyes are dyes other than acid dyes and basic dyes and do not have an ionic structure.

비이온성 염료로서는, 예를 들면 C. I. 디스퍼스 오렌지 5; C. I. 디스퍼스 레드 58; C. I. 디스퍼스 블루 165; C. I. 솔벤트 레드 18 등의 아조계 비이온성 염료; C. I. 배트 블루 4; C. I. 디스퍼스 레드 22, 60; C. I. 디스퍼스 바이올렛 26, 28, 31; C. I. 디스퍼스 블루 14, 56, 60; C. I. 솔벤트 바이올렛 13, 31, 36; C. I. 솔벤트 블루 35, 36, 45, 63, 78, 87, 97, 104, 122 등의 안트라퀴논계 비이온성 염료 등을 들 수 있다.Nonionic dyes include, for example, C.I. Dispers Orange 5; C. I. Dispers Red 58; C. I. Disperse Blue 165; C. I. Azo-based nonionic dyes such as Solvent Red 18; C. I. Bat Blue 4; C. I. Dispers Red 22, 60; C. I. Disperse Violet 26, 28, 31; C. I. dispers blue 14, 56, 60; C. I. Solvent Violet 13, 31, 36; C.I. Anthraquinone-based nonionic dyes such as Solvent Blue 35, 36, 45, 63, 78, 87, 97, 104, and 122, etc. can be mentioned.

그 중에서도, 비이온성 염료로서는 경화막의 흑색도를 높게 할 수 있는 점에서 안트라퀴논계 비이온성 염료인 것이 바람직하다.Among them, an anthraquinone-based nonionic dye is preferable as the nonionic dye because it can increase the blackness of the cured film.

<(D1) 유기 안료><(D1) Organic Pigment>

(D) 착색 재료로서 사용되는 (D1) 유기 안료로서는, 예를 들면 프탈로시아닌계 안료, 안트라퀴논계 안료, 퀴나크리돈계 안료, 피란트론계 안료, 디옥사진계 안료, 티오인디고계 안료, 디케토피롤로피롤계 안료, 퀴노프탈론계 안료, 스렌계 안료, 인돌린계 안료, 이소인돌린계 안료, 이소인돌리논계 안료, 벤조푸라논계 안료, 페릴렌계 안료, 아닐린계 안료, 아조계 안료, 아조메틴계 안료, 축합 아조계 안료, 카본블랙, 금속 착체계 안료, 레이크 안료, 토너 안료, 또는 형광 안료를 들 수 있다. 내열성의 관점으로부터 안트라퀴논계 안료, 퀴나크리돈계 안료, 피란트론계 안료, 디케토피롤로피롤계 안료, 벤조푸라논계 안료, 페릴렌계 안료, 축합 아조계 안료, 및 카본블랙이 바람직하다.(D) Organic pigments (D1) used as coloring materials include, for example, phthalocyanine-based pigments, anthraquinone-based pigments, quinacridone-based pigments, pyranthrone-based pigments, dioxazine-based pigments, thioindigo-based pigments, and diketopyrrolopi. Roll-based pigments, quinophthalone-based pigments, srene-based pigments, indoline-based pigments, isoindoline-based pigments, isoindolinone-based pigments, benzofuranone-based pigments, perylene-based pigments, aniline-based pigments, azo-based pigments, azomethine-based pigments , condensed azo pigments, carbon black, metal complex pigments, lake pigments, toner pigments, or fluorescent pigments. From the viewpoint of heat resistance, anthraquinone-based pigments, quinacridone-based pigments, pyranthrone-based pigments, diketopyrrolopyrrole-based pigments, benzofuranone-based pigments, perylene-based pigments, condensed azo-based pigments, and carbon black are preferable.

본 발명에 있어서는 화소 분할층에 차광성을 부여하는 효과로부터, 화소 분할층을 형성할 때에 사용되는 감광성 수지 조성물이 유기 안료를 함유하는 것이 바람직하다. 감광성 수지 조성물이 유기 안료를 함유함으로써, 화소 분할층이 유기 안료를 함유하는 것이 되어 이하에 설명하는 각 효과가 얻어지는 점에서 바람직하다. 이러한 경우, (D1) 유기 안료로서 유기 흑색 안료 및/또는 혼색 유기 흑색 안료(이하, (b) 성분이라고 부르는 경우가 있다)를 더 함유하는 것이 바람직하다.In the present invention, from the effect of imparting light-shielding properties to the pixel split layer, it is preferable that the photosensitive resin composition used when forming the pixel split layer contains an organic pigment. It is preferable that the photosensitive resin composition contains an organic pigment because the pixel dividing layer contains the organic pigment and the effects described below are obtained. In this case, it is preferable to further contain an organic black pigment and/or a mixed-color organic black pigment (hereinafter sometimes referred to as (b) component) as the organic pigment (D1).

유기 흑색 안료로서는 벤조디푸라논계 흑색 안료, 페릴렌계 흑색 안료, 아조메틴계 흑색 안료를 들 수 있다.Examples of organic black pigments include benzodifuranone-based black pigments, perylene-based black pigments, and azomethine-based black pigments.

벤조디푸라논계 흑색 안료로서는, 예를 들면 국제공개 제2009/010521호에서 개시된 안료를 들 수 있다. 후술하는 식 (5)로 나타내어지는 화합물로 이루어지는 벤조디푸라논계 흑색 안료의 시판품으로서 Irgaphor Black(등록 상표) S0100CF, Experimental Black 582(이상, 어느 것이나 BASF SE제)를 바람직하게 사용할 수 있다.Examples of the benzodifuranone-based black pigment include the pigment disclosed in International Publication No. 2009/010521. Irgaphor Black (registered trademark) S0100CF and Experimental Black 582 (both manufactured by BASF SE) can be preferably used as a commercially available benzodifuranone-based black pigment consisting of a compound represented by formula (5) described later.

페릴렌계 흑색 안료로서는, 예를 들면 C. I. 피그먼트 블랙 31, C. I. 피그먼트 블랙 32, 페릴렌테트라카르복실산 벤조이미다졸 또는 그 유도체, 국제공개 제2005/078023호에서 개시된 안료를 들 수 있다. 시판품으로서는 Spectrasense(등록 상표) Black S0084, 동 L0086, 동 K0087, 동 K0088(이상, 어느 것이나 BASF SE제)을 사용할 수 있다.Examples of the perylene-based black pigment include C.I. Pigment Black 31, C.I. Pigment Black 32, perylenetetracarboxylic acid benzoimidazole or its derivatives, and the pigment disclosed in International Publication No. 2005/078023. As commercial products, Spectrasense (registered trademark) Black S0084, L0086, K0087, and K0088 (all manufactured by BASF SE) can be used.

아조메틴계 흑색 안료로서는, 예를 들면 미국 특허출원 공개 제2002-121228호 명세서에서 개시된 안료를 들 수 있다. 시판품으로서는 CHROMOFINE BLACK A1103(Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd.제)을 사용할 수 있다.Examples of the azomethine-based black pigment include the pigment disclosed in US Patent Application Publication No. 2002-121228. As a commercial product, CHROMOFINE BLACK A1103 (manufactured by Dainichiseika Color & Chemicals Mfg. Co., Ltd.) can be used.

혼색 유기 흑색 안료란, (b-1) 유기 황색 안료, 유기 적색 안료, 및 유기 등색 안료로부터 선택되는 적어도 1색의 유기 안료(이하, (b-1) 성분이라고 부르는 경우가 있다)와, (b-2) 유기 청색 안료 및 유기 자색 안료로부터 선택되는 적어도 1색의 유기 안료(이하, (b-2) 성분이라고 부르는 경우가 있다)를 함유하고, (b-1) 성분과 (b-2) 성분의 합계량에 대해서 (b-2) 성분의 함유량이 20중량% 이상인 안료 혼합물인 것을 의미한다.Mixed-color organic black pigment means (b-1) at least one organic pigment selected from organic yellow pigment, organic red pigment, and organic orange pigment (hereinafter sometimes referred to as (b-1) component) and ( b-2) Contains at least one color organic pigment (hereinafter sometimes referred to as (b-2) component) selected from organic blue pigment and organic purple pigment, and (b-1) component and (b-2) ) means a pigment mixture in which the content of component (b-2) is 20% by weight or more relative to the total amount of components.

유기 황색 안료로서는, 예를 들면 C. I. 피그먼트 옐로 24, 120, 138, 139, 151, 175, 180, 185, 181, 192, 193, 194를 들 수 있다. 유기 등색 안료로서는, 예를 들면 C. I. 피그먼트 오렌지 13, 36, 43, 60, 61, 62, 64, 71, 72를 들 수 있다. 유기 적색 안료로서는, 예를 들면 C. I. 피그먼트 레드 122, 123, 149, 178, 177, 179, 180, 189, 190, 202, 209, 254, 255, 264를 들 수 있다. 유기 청색 안료로서는, 예를 들면 C. I. 피그먼트 블루 15, 15:1, 15:2, 15:3, 15:6, 16, 25, 56, 57, 60, 61, 64, 65, 66, 75, 79, 80을 들 수 있다. 유기 자색 안료로서는, 예를 들면 C. I. 피그먼트 바이올렛 19, 23, 29, 32, 37을 들 수 있다.Examples of organic yellow pigments include C.I. Pigment Yellow 24, 120, 138, 139, 151, 175, 180, 185, 181, 192, 193, and 194. Examples of organic orange pigments include C.I. Pigment Orange 13, 36, 43, 60, 61, 62, 64, 71, and 72. Examples of organic red pigments include C.I. Pigment Red 122, 123, 149, 178, 177, 179, 180, 189, 190, 202, 209, 254, 255, and 264. Organic blue pigments include, for example, C.I. Pigment Blue 15, 15:1, 15:2, 15:3, 15:6, 16, 25, 56, 57, 60, 61, 64, 65, 66, 75, Examples include 79 and 80. Examples of organic purple pigments include C.I. Pigment Violet 19, 23, 29, 32, and 37.

이상의 (b) 성분에 해당하는 성분 중, 휘도의 불균일을 저감함에 있어서, 본 발명의 유기 EL 표시 장치에 있어서의 화소 분할층이 함유하는 (b) 성분은 유기 흑색 안료를 함유하고, 상기 유기 흑색 안료가 식 (5) 또는 식 (6)으로 나타내어지는 화합물 및/또는 그 이성체를 함유하는 것이 바람직하다. 화소 분할층이 함유하는 (b) 성분은 식 (7)로 나타내어지는 화합물 또는 그 이성체를 함유하는 것이 보다 바람직하다. 식 (5)~식 (7)로 나타내어지는 화합물은 산성 촉매하, 2,5-디히드록시-1,4-벤젠 2아세트산과, 이사틴 또는 그 유도체의 반응에 의해 합성하고, 안료화함으로써 얻을 수 있다.Among the components corresponding to component (b) above, in reducing unevenness of luminance, component (b) contained in the pixel dividing layer in the organic EL display device of the present invention contains an organic black pigment, and the organic black pigment It is preferable that the pigment contains the compound represented by formula (5) or formula (6) and/or its isomer. It is more preferable that the component (b) contained in the pixel dividing layer contains the compound represented by formula (7) or an isomer thereof. The compounds represented by formulas (5) to (7) are synthesized by reaction of 2,5-dihydroxy-1,4-benzene diacetic acid with isatin or its derivatives under an acidic catalyst, and then converted into pigments. You can get it.

식 (5) 및 식 (6) 중, R22 1~R31 10은 각각 독립적으로 수소 원자 또는 탄소수 1~12의 알킬기를 나타낸다.In formulas (5) and (6), R 22 1 to R 31 10 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms.

(b) 성분에 해당하는 성분은 휘도의 불균일을 더 억제함에 있어서, 솔벤트 솔트 밀링법, 애시드 페이스트법 등의 공지 방법에 의해 미세화 처리가 실시된 것이어도 좋다. 벤조디푸라논계 흑색 안료를 미세화할 경우, 식 (8)로 나타내어지는 화합물 또는 그 염을 공존시키고, 안료 표면에 흡착시킴으로써 휘도 불균일을 억제하기 쉬워지는 경우가 있다.In order to further suppress unevenness of brightness, the component corresponding to component (b) may have been subjected to micronization treatment by a known method such as a solvent salt milling method or an acid paste method. When micronizing a benzodifuranone-based black pigment, it may become easy to suppress brightness unevenness by coexisting the compound represented by formula (8) or its salt and adsorbing it on the pigment surface.

식 (8) 중, n 및 m은 정수를 나타내고, 각각 독립적으로 0~2이다. 단, n+m≥1을 충족한다.In formula (8), n and m represent integers and are each independently 0 to 2. However, n+m≥1 is satisfied.

또한, (b) 성분이 벤조디푸라논계 흑색 안료를 함유할 경우, 현상성을 높여서 개구부에 있어서의 현상 잔사를 억제하기 위해, 그 안료 표면에 실리카를 함유하는 피복층을 갖는 것이 바람직하다. 여기에서 말하는 피복층 중에 함유하는 실리카는 앞서 설명한 (a) 성분이 아니라, (b) 성분을 구성하는 일부로 한다.In addition, when component (b) contains a benzodifuranone-based black pigment, it is preferable to have a coating layer containing silica on the surface of the pigment in order to improve developability and suppress development residue in the opening. The silica contained in the coating layer herein is not the component (a) described above, but is considered a part of component (b).

(b) 성분의 함유량은 높은 차광성을 발현시킴에 있어서 화소 분할층 중 1중량% 이상이 바람직하고, 10중량% 이상이 보다 바람직하다. 휘도의 불균일을 저감함에 있어서 50중량% 이하가 바람직하고, 30중량% 이하가 보다 바람직하다.The content of component (b) is preferably 1% by weight or more, and more preferably 10% by weight or more in the pixel dividing layer in order to achieve high light-shielding properties. In reducing unevenness of brightness, 50% by weight or less is preferable, and 30% by weight or less is more preferable.

또한, (b) 성분에 추가하여, (a) 성분을 더 함유할 경우, (b) 성분 100중량부에 대한 (a) 성분의 함유량은 휘도 불균일을 저감함에 있어서 SiO2 환산으로 20~70중량부가 바람직하고, 30~50중량부가 보다 바람직하다. 즉, 본 발명의 유기 EL 표시 장치는 화소 분할층 중, (b) 성분에 대한 상기 (a) 성분의 함유량이 SiO2 환산으로 20~70중량부인 것이 바람직하다.In addition, when component (a) is further contained in addition to component (b), the content of component (a) relative to 100 parts by weight of component (b) is 20 to 70 weight in terms of SiO 2 in reducing brightness unevenness. parts by weight is preferable, and 30 to 50 parts by weight is more preferable. That is, in the organic EL display device of the present invention, the content of component (a) relative to component (b) in the pixel division layer is preferably 20 to 70 parts by weight in terms of SiO 2 .

<(E) 발액 재료><(E) Liquid-repellent material>

유기 EL층을 잉크젯법에 의해 형성하는 경우에는, 본 발명에 사용되는 감광성 수지 조성물이 발액 재료를 함유하는 것이 바람직하다. 불소계 폴리머나 실란 화합물을 갖는 불소 함유 화합물 등 공지의 것을 이용할 수 있지만, 적어도 아미드기 또는 우레탄기를 갖는 발액 재료가 바람직하다. 아미드기 또는 우레탄기를 가짐으로써 상술한 알칼리 가용성 수지 (A)와의 상용성이 향상되고, 튕김 등의 결점을 저감시켜 경화막의 막 두께 균일성을 향상하는 효과가 있으며, 그 결과로서 표시 장치의 표시 불량을 저감한다.When forming the organic EL layer by an inkjet method, it is preferable that the photosensitive resin composition used in the present invention contains a liquid-repellent material. Although known materials such as fluorine-based polymers and fluorine-containing compounds having silane compounds can be used, liquid-repellent materials having at least an amide group or a urethane group are preferable. Having an amide group or a urethane group improves compatibility with the alkali-soluble resin (A) described above and has the effect of reducing defects such as bounce and improving film thickness uniformity of the cured film, resulting in poor display of the display device. reduce.

발액 재료의 일례로서, 퍼플루오로알킬기를 갖는 (메타)아크릴레이트 모노머인 2-(퍼플루오로부틸)에틸(메타)아크릴레이트, 2-(퍼플루오로헥실)에틸(메타)아크릴레이트, 시판품으로서 "MEGAFACE(등록 상표)" RS-72-K, RS-72-A, RS-75, RS-76-E, RS-76-NS, RS-78, RS-90(DIC Corporation제) 등을 들 수 있다.Examples of liquid-repellent materials include 2-(perfluorobutyl)ethyl(meth)acrylate, 2-(perfluorohexyl)ethyl(meth)acrylate, which are (meth)acrylate monomers having a perfluoroalkyl group, and commercial products. "MEGAFACE (registered trademark)" RS-72-K, RS-72-A, RS-75, RS-76-E, RS-76-NS, RS-78, RS-90 (manufactured by DIC Corporation), etc. I can hear it.

또한, 에폭시기 함유 (메타)아크릴레이트 모노머의 바람직한 예로서는 글리시딜아크릴레이트, 글리시딜메타크릴레이트, 4-히드록시부틸아크릴레이트글리시딜에테르(4-HBAGE), 4-히드록시부틸메타릴레이트글리시딜에테르, 지환식 에폭시기를 갖는 아크릴레이트, 지환식 에폭시기를 갖는 메타릴레이트를 들 수 있다.In addition, preferred examples of epoxy group-containing (meth)acrylate monomers include glycidyl acrylate, glycidyl methacrylate, 4-hydroxybutylacrylate glycidyl ether (4-HBAGE), and 4-hydroxybutyl metharylate. Examples include triglycidyl ether, acrylate having an alicyclic epoxy group, and metarylate having an alicyclic epoxy group.

아미드기 또는 우레탄기를 갖는 발액 재료 (E)는, 또한 상이한 관능기 치환 (메타)아크릴 모노머를 공중합시킨 공중합물이어도 좋다. 상이한 관능기 치환 (메타)아크릴 모노머를 공중합시킴으로써, 발액성과 용해성의 밸런스를 잡기 쉽게 할 수 있다. 예를 들면, 수산기 함유 (메타)아크릴레이트류, 수산기 함유 (메타)아크릴아미드류, 알콕시기 함유 (메타)아크릴레이트류, 블록 이소시아네이트기 함유 (메타)아크릴레이트류, 페녹시기 함유 (메타)아크릴레이트류, 알킬(메타)아크릴레이트류, 비닐기 함유 화합물류 등을 들 수 있다. 수산기 함유 (메타)아크릴레이트류는, 예를 들면 2-히드록시에틸(메타)아크릴레이트 등을 들 수 있다. 수산기 함유 (메타)아크릴아미드류는, 예를 들면 N-히드록시메틸아크릴아미드 등을 들 수 있다. 알콕시기를 갖는 (메타)아크릴레이트류는, 예를 들면 3-메타크릴옥시프로필메틸디메톡시실란 등을 들 수 있다. 블록 이소시아네이트기 함유 (메타)아크릴레이트류는, 예를 들면 메타크릴산 2-(0-[1'-메틸프로필리덴아미노]카르복시아미노)에틸(KARENZ MOI-BM: Resonac Corporation제; 등록 상표) 등을 들 수 있다. 페녹시기 함유 (메타)아크릴레이트류는, 예를 들면 2-페녹시벤질아크릴레이트, 3-페녹시벤질아크릴레이트 등을 들 수 있다. 알킬(메타)아크릴레이트류는 무치환, 또는 아미노기, 모노알킬아미노기, 디알킬아미노기, 탄화수소 방향환, 복소환 중 적어도 어느 하나로 치환되거나 혹은 히드록시기에 산무수물이 개열 부가되어 있어도 좋은 직쇄상, 분기쇄상, 및/또는 환상에서 탄소수 1~12의 알킬기를 갖는 무치환 또는 치환 알킬(메타)아크릴레이트인 희석 모노머, 예를 들면 알킬아크릴레이트 등을 들 수 있다. 비닐기 함유 화합물류는, 예를 들면 n-부틸비닐에테르 등을 들 수 있다.The liquid-repellent material (E) having an amide group or a urethane group may be a copolymer obtained by copolymerizing (meth)acrylic monomers substituted with different functional groups. By copolymerizing different functional group-substituted (meth)acrylic monomers, it is possible to easily maintain a balance between liquid repellency and solubility. For example, (meth)acrylates containing hydroxyl groups, (meth)acrylamides containing hydroxyl groups, (meth)acrylates containing alkoxy groups, (meth)acrylates containing block isocyanate groups, (meth)acrylates containing phenoxy groups. Rates, alkyl (meth)acrylates, vinyl group-containing compounds, etc. can be mentioned. Examples of hydroxyl group-containing (meth)acrylates include 2-hydroxyethyl (meth)acrylate. Examples of hydroxyl group-containing (meth)acrylamides include N-hydroxymethylacrylamide. Examples of (meth)acrylates having an alkoxy group include 3-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane. Block isocyanate group-containing (meth)acrylates include, for example, 2-(0-[1'-methylpropylidenamino]carboxyamino)ethyl methacrylate (KARENZ MOI-BM: manufactured by Resonac Corporation; registered trademark), etc. can be mentioned. Examples of phenoxy group-containing (meth)acrylates include 2-phenoxybenzyl acrylate and 3-phenoxybenzyl acrylate. Alkyl (meth)acrylates may be unsubstituted or substituted with at least one of an amino group, monoalkylamino group, dialkylamino group, hydrocarbon aromatic ring, or heterocyclic ring, or may be linear or branched, with an acid anhydride cleavage added to the hydroxy group. , and/or a diluting monomer that is an unsubstituted or substituted alkyl (meth)acrylate having an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms in a ring, for example, alkyl acrylate. Examples of vinyl group-containing compounds include n-butyl vinyl ether.

아미드기 또는 우레탄기를 갖는 발액 재료 (E)에 포함되는 화합물은, 통상 (공)중합물이다. 발액 재료 (E)에 포함되는 화합물로서의 (공)중합물은 공지의 중합 방법으로 얻을 수 있다. (공)중합물은, 예를 들면 라디칼 중합이나 음이온 중합 등과 같은 이온 중합으로 얻어져도 좋다. 또한, 랜덤 공중합체, 블록 공중합체, 그래프트 (공)중합체 중 어느 하나이어도 좋고, 상호 공중합체이어도 좋다. 여기에서는 라디칼 (공)중합 방법을 예로 든다. 예를 들면, 디메틸(메타)아크릴아미드의 소정량과, 소정량의 불소 함유 (메타)아크릴레이트 모노머와, 필요에 따라 소정량의 에폭시기 함유 (메타)아크릴레이트류, 수산기 함유 (메타)아크릴레이트류, 수산기 함유 (메타)아크릴아미드류, 알콕시기 함유 (메타)아크릴레이트류, 블록 이소시아네이트기 함유 (메타)아크릴레이트류, 페녹시기 함유 (메타)아크릴레이트류, 알킬(메타)아크릴레이트류, 비닐기 함유 화합물류를 적당히 용제 중에서 라디칼 중합 개시제와 랜덤 공중합시킴으로써 발액 재료 (E)를 얻을 수 있다. 랜덤 공중합 시, 필요에 따라 연쇄 이동제를 첨가해도 좋다. 라디칼 중합 개시제로서는, 예를 들면 tert-부틸퍼옥시-2-에틸헥사노에이트를 사용할 수 있다. 연쇄 이동제로서는, 예를 들면 도데실메르캅탄을 사용할 수 있다. 또한, 용제로서는, 예를 들면 시클로헥사논 등의 불활성 용제를 사용할 수 있다.The compound contained in the liquid-repellent material (E) having an amide group or a urethane group is usually a (co)polymer. The (co)polymer as a compound contained in the liquid-repellent material (E) can be obtained by a known polymerization method. The (co)polymerization may be obtained, for example, by ionic polymerization such as radical polymerization or anionic polymerization. Additionally, it may be any one of random copolymers, block copolymers, and graft (co)polymers, or it may be mutual copolymers. Here, the radical (co)polymerization method is taken as an example. For example, a predetermined amount of dimethyl (meth)acrylamide, a predetermined amount of fluorine-containing (meth)acrylate monomer, and, if necessary, a predetermined amount of epoxy group-containing (meth)acrylates and hydroxyl group-containing (meth)acrylates. hydroxyl group-containing (meth)acrylamides, alkoxy group-containing (meth)acrylates, block isocyanate group-containing (meth)acrylates, phenoxy group-containing (meth)acrylates, alkyl (meth)acrylates, The liquid-repellent material (E) can be obtained by randomly copolymerizing vinyl group-containing compounds with a radical polymerization initiator in an appropriate solvent. During random copolymerization, a chain transfer agent may be added as needed. As a radical polymerization initiator, for example, tert-butylperoxy-2-ethylhexanoate can be used. As a chain transfer agent, for example, dodecyl mercaptan can be used. Additionally, as a solvent, for example, an inert solvent such as cyclohexanone can be used.

아미드기 또는 우레탄기를 갖는 발액 재료 (E)의 중량 평균 분자량은 1500~50000의 범위인 것이 바람직하다. 이 범위 내의 분자량으로 함으로써, 감광성 수지 조성물에 사용되는 용제로, 보다 용이하게 용해할 수 있다. 또한, 이 범위 내의 분자량으로 함으로써, 감광성 수지 조성물 용액의 소포성이 높아지기 때문에 바람직하다. 아미드기 또는 우레탄기를 갖는 발액 재료 (E)는 알칼리 가용성 수지 (A) 100중량부에 대해서, 얻어진 경화막이 발액성을 충분히 발현하기 쉬워지는 관점으로부터 0.1중량부 이상이 바람직하고, 0.3중량부 이상이 보다 바람직하다. 또한, 화소 내에 발액성을 발생시키기 어렵고, 높은 내구성이 얻어지기 쉬워지는 관점으로부터 10중량부 이하가 바람직하고, 5중량부 이하가 보다 바람직하다.The weight average molecular weight of the liquid-repellent material (E) having an amide group or a urethane group is preferably in the range of 1,500 to 50,000. By setting the molecular weight within this range, it can be more easily dissolved in a solvent used in the photosensitive resin composition. In addition, setting the molecular weight within this range is preferable because the anti-foaming property of the photosensitive resin composition solution increases. The liquid-repellent material (E) having an amide group or a urethane group is preferably 0.1 part by weight or more, and 0.3 parts by weight or more, based on 100 parts by weight of the alkali-soluble resin (A), from the viewpoint of making it easy for the obtained cured film to sufficiently exhibit liquid repellency. It is more desirable. Furthermore, from the viewpoint of making it difficult to create liquid repellency in the pixel and making it easy to obtain high durability, 10 parts by weight or less is preferable, and 5 parts by weight or less is more preferable.

<스페이서><Spacer>

본 발명의 유기 EL 표시 장치에 있어서, 스페이서(4)는 화소 분할층 상에 설치된다. 제 1 목적으로서, 스페이서를 설치함으로써 유기 EL층을 형성할 때의 기판과 증착 마스크의 접촉 면적을 작게 할 수 있고, 그것에 의해 공정 중에서의 파티클 발생을 억제할 수 있다. 이 결과, 패널의 제품 비율 저하나, 발광 소자의 열화를 억제할 수 있다. 또한, 제 2 목적으로서 상술한 바와 같이, 후공정에 있어서 제 2 전극 상을 덮는 구조물을 지지하고, 표시 장치의 강도를 확보하기 위해 화소 분할층 상에 스페이서를 제작할 필요가 있다. 스페이서는 화소 분할층과 마찬가지로 패터닝 가공이 필수이며, 제거부의 잔사는 단락이나 흑점 등의 결함에 직결하는 경우가 있다. 또한, 스페이서의 가장자리의 형상에 따라서는 제 2 전극의 단선의 원인이 되기 때문에, 완만한 순테이퍼형상인 것 등의 가공성도 요구된다.In the organic EL display device of the present invention, the spacer 4 is installed on the pixel division layer. As a first purpose, by providing a spacer, the contact area between the substrate and the deposition mask when forming the organic EL layer can be reduced, thereby suppressing the generation of particles during the process. As a result, a decrease in the product ratio of the panel and deterioration of the light emitting element can be suppressed. In addition, as described above for the second purpose, it is necessary to fabricate a spacer on the pixel division layer to support the structure covering the second electrode in the post-process and to ensure the strength of the display device. As with the pixel division layer, patterning processing is essential for the spacer, and the residue from the removed area may be directly connected to defects such as short circuits and black spots. In addition, because the shape of the edge of the spacer may cause disconnection of the second electrode, workability such as a gentle forward taper shape is also required.

스페이서로서는, 필요한 기계적 특성이나 전기적 특성을 갖는 재료이면 특별히 한정 없이 사용 가능하기 때문에, 공지의 유기물 또는 무기물 중 어느 쪽에도 한정되지 않지만, 가공성의 면으로부터 감광성 수지 조성물의 경화막인 것이 바람직하다. 또한, 화소 분할층과 동일한 재료를 일괄 가공으로 형성함으로써, 프로세스 타임을 단축한 패널의 제품 비율 향상이나 코스트 다운을 달성할 수 있다.As the spacer, any material having the necessary mechanical or electrical properties can be used without particular limitation, and is not limited to any of known organic or inorganic materials. However, from the viewpoint of processability, a cured film of a photosensitive resin composition is preferable. Additionally, by forming the same material as the pixel division layer through batch processing, it is possible to achieve improved production rates and lower costs for panels with shorter process times.

상술한 바와 같이, 화소 분할층과 유기 EL층의 박리의 과제는 스페이서와 유기 EL층이 접하는 계면에 있어서도 마찬가지의 과제가 되기 때문에, 본 발명에 있어서는 화소 분할층의 표면 거칠기(Ra1)와 스페이서의 표면 거칠기(Ra2)에 있어서의 최대값을 Ramax로 했을 때에, Ramax가 1.0㎚ 이상 50㎚ 이하이다. 또한, 스페이서의 표면 거칠기(Ra2)가 Ramax인 것이 보다 바람직하다. 또한, 화소 분할층의 표면 거칠기(Ra1)와 스페이서의 표면 거칠기(Ra2)의 양방이 Ramax이어도 좋다. 또한, 스페이서의 표면 거칠기도 화소 분할층과 마찬가지로 원자간력 현미경(AFM)으로 측정할 수 있다.As described above, the problem of separation between the pixel split layer and the organic EL layer is also a problem at the interface where the spacer and the organic EL layer are in contact. Therefore, in the present invention, the surface roughness (Ra1) of the pixel split layer and the surface roughness (Ra1) of the spacer are When Ramax is the maximum value of surface roughness (Ra2), Ramax is 1.0 nm or more and 50 nm or less. Additionally, it is more preferable that the surface roughness (Ra2) of the spacer is Ramax. Additionally, both the surface roughness (Ra1) of the pixel division layer and the surface roughness (Ra2) of the spacer may be Ramax. Additionally, the surface roughness of the spacer can be measured using atomic force microscopy (AFM) like the pixel division layer.

또한, 스페이서는 기판의 최표면에 형성되므로, 스페이서의 표면은 유기 EL층과 접하는 계면이 된다. 종래, 스페이서와 유기 EL층의 밀착성이 나쁘기 때문에 박리가 일어나기 쉽고, 특히 플렉시블한 제품에 있어서는 큰 과제이었다. 본 발명에 있어서는, 스페이서의 표면 거칠기(Ra2)를 1.0㎚ 이상으로 함으로써 앵커 효과를 얻을 수 있고, 바람직하게는 5.0㎚ 이상, 보다 바람직하게는 20㎚ 이상으로 함으로써 유기 EL층과의 밀착성을 향상시킬 수 있다. 또한, 스페이서의 표면 거칠기(Ra2)에 대해서는 1.0㎚ 이상 있으면 앵커 효과를 얻을 수 있지만, 제 2 전극에 있어서의 핀홀이나, 후술하는 밀봉 공정에서의 결함을 억제할 목적으로부터 50㎚ 이하로 하는 것이 바람직하다. 또한, Ra2가 큼으로써 밀착성을 향상시키는 경우에는, 스페이서와 유기 EL층이 접하는 계면을 할 수 있는 한 크게 확보하는 것이 유효하며, Ra2가 상술한 화소 분할층의 표면 거칠기 Ra1보다 큰, 즉 Ra2가 Ramax가 되는 경우에는 기판과 유기 EL층이 접하는 계면의 면적 중, 스페이서와 유기 EL층이 접하는 계면의 면적이 50% 이상인 것이 바람직하다. 이것은 스페이서가 기판의 표면적의 50% 이상인 것을 나타낸다.Additionally, since the spacer is formed on the outermost surface of the substrate, the surface of the spacer becomes an interface in contact with the organic EL layer. Conventionally, because the adhesion between the spacer and the organic EL layer was poor, peeling easily occurred, which was a major problem, especially for flexible products. In the present invention, the anchor effect can be obtained by setting the surface roughness (Ra2) of the spacer to 1.0 nm or more, and adhesion to the organic EL layer can be improved by preferably setting it to 5.0 nm or more, more preferably 20 nm or more. You can. Additionally, with respect to the surface roughness (Ra2) of the spacer, an anchor effect can be obtained if it is 1.0 nm or more, but for the purpose of suppressing pinholes in the second electrode and defects in the sealing process described later, it is preferable to set it to 50 nm or less. do. In addition, when improving adhesion by increasing Ra2, it is effective to ensure that the interface between the spacer and the organic EL layer is as large as possible, and Ra2 is larger than the surface roughness Ra1 of the pixel division layer described above, that is, Ra2 In the case of Ramax, it is preferable that the area of the interface between the spacer and the organic EL layer is 50% or more of the area of the interface between the substrate and the organic EL layer. This indicates that the spacer is more than 50% of the surface area of the substrate.

Ra1이나 Ra2가 1.0㎚ 이상으로 큰 경우에는 이와 같은 밀착성 향상의 효과에 추가하여, 기판의 확산 반사광을 늘리는 것에 의한 표시 장치의 외광 반사 억제도 달성할 수 있다. 일반적으로, 기판에 외광이 입사한 경우에는 그 기판 표면에 있어서는 정반사광과 확산 반사광의 2종류의 반사광이 발생하고, 그 합계가 반사광의 양이 되지만, 사람이 눈부심이나 비침으로서 인식하는 것은 정반사광의 영향이 크다. 즉, 표시 장치로서의 표시 품위를 유지하기 위해서는 기판의 확산 반사광을 늘리고, 정반사광을 줄이는 것이 유효하다. 즉, 기판의 표면에 포함되는 화소 분할층이나 스페이서의 표면 거칠기인 Ra1이나 Ra2를 1.0㎚ 이상으로 크게 함으로써 기판 표면에서의 확산 반사광이 늘어나고, 결과적으로 표시 장치의 표시 품위를 확보하는 것에 연결된다.When Ra1 or Ra2 is large, such as 1.0 nm or more, in addition to the effect of improving adhesion, it is also possible to suppress external light reflection of the display device by increasing the diffused reflected light of the substrate. Generally, when external light is incident on a substrate, two types of reflected light, regular reflection and diffuse reflection, are generated on the surface of the substrate, and the total amount becomes the amount of reflected light, but what humans perceive as glare or reflection is regular reflected light. has a great influence. In other words, in order to maintain display quality as a display device, it is effective to increase the diffuse reflected light of the substrate and reduce the regular reflected light. In other words, by increasing Ra1 or Ra2, which is the surface roughness of the pixel division layer or spacer included in the surface of the substrate, to 1.0 nm or more, the diffuse reflected light on the substrate surface increases, which ultimately leads to securing the display quality of the display device.

또한, Ra1과 Ra2의 차의 절대값이 1.0㎚ 이상 있으면 2종류의 앵커 효과가 얻어지고, 밀착성 향상으로부터 보다 바람직하다.Additionally, if the absolute value of the difference between Ra1 and Ra2 is 1.0 nm or more, two types of anchor effects are obtained, which is more preferable from the viewpoint of improved adhesion.

또한, 스페이서의 가장자리의 형상에 따라서는 제 2 전극의 단선의 원인이 되기 때문에, 완만한 순테이퍼형상인 것이 바람직하다. 여기에서 순테이퍼형상이란, 화소 분할층과 스페이서의 계면에 있어서의 접선과, 스페이서의 테이퍼 부분의 표면에 있어서의 스페이서 최대 두께의 50%의 막 두께의 위치에 있어서의 접선이 만드는 각도가 90° 미만인 상태를 가리킨다.Additionally, depending on the shape of the edge of the spacer, it may cause disconnection of the second electrode, so it is preferable to have a gentle forward taper shape. Here, the forward tapered shape means that the angle formed by the tangent at the interface between the pixel division layer and the spacer and the tangent at the position of the film thickness of 50% of the maximum thickness of the spacer on the surface of the tapered portion of the spacer is 90°. It refers to a state of less than .

스페이서의 두께는, 통상 0.3㎛~10㎛지만, 증착 마스크와의 접촉이나 제 2 전극 상을 덮는 구조물을 유지하는 것에 충분하면 특별히 한정되지 않는다.The thickness of the spacer is usually 0.3 μm to 10 μm, but is not particularly limited as long as it is sufficient to maintain the structure that contacts the deposition mask or covers the second electrode.

<유기 EL층><Organic EL layer>

본 발명의 유기 EL 표시 장치에 있어서 유기 EL층(5)의 구성은 특별히 한정되지 않고, 예를 들면 (1) 정공 수송층/발광층, (2) 정공 수송층/발광층/전자 수송층, (3) 발광층/전자 수송층 중 어느 하나이어도 좋다. 또한, 상기 구성을 전하 발생층을 통해 복수 적층한 탠덤형이어도 좋다. 전하 발생층은, 일반적으로 전자 인발층, 접속층, 중간층, 중간 전극, 중간 도전층, 중간 절연층이라고도 불리고, 공지의 재료 구성을 사용할 수 있다. 탠덤형으로 함으로써, 발광 휘도나 발광 수명의 향상을 기대할 수 있기 때문에 바람직하다. 탠덤형의 구체예는, 예를 들면 (4) 정공 수송층/발광층/전자 수송층/전하 발생층/정공 수송층/발광층/전자 수송층, (5) 정공 주입층/정공 수송층/발광층/전자 수송층/전자 주입층/전하 발생층/정공 주입층/정공 수송층/발광층/전자 수송층/전자 주입층, (6) 정공 수송층/발광층/전자 수송층/전하 발생층/정공 수송층/발광층/전자 수송층/전하 발생층/정공 수송층/발광층/전자 수송층이라는, 양극과 음극 사이에 전하 발생층을 포함하는 적층 구성을 들 수 있다.In the organic EL display device of the present invention, the structure of the organic EL layer 5 is not particularly limited, and for example, (1) hole transport layer/light-emitting layer, (2) hole transport layer/light-emitting layer/electron transport layer, (3) light-emitting layer/ It may be any one of the electron transport layers. Additionally, a tandem type may be used in which a plurality of the above configurations are laminated with charge generation layers. The charge generation layer is also generally called an electron extraction layer, a connection layer, an intermediate layer, an intermediate electrode, an intermediate conductive layer, and an intermediate insulating layer, and a known material composition can be used. The tandem type is preferable because improvements in emission luminance and emission lifetime can be expected. Specific examples of the tandem type include (4) hole transport layer/light-emitting layer/electron transport layer/charge generation layer/hole transport layer/light-emitting layer/electron transport layer, (5) hole injection layer/hole transport layer/light-emitting layer/electron transport layer/electron injection. Layer/charge generation layer/hole injection layer/hole transport layer/light-emitting layer/electron transport layer/electron injection layer, (6) hole transport layer/light-emitting layer/electron transport layer/charge generation layer/hole transport layer/light-emitting layer/electron transport layer/charge generation layer/hole A laminated structure including a charge generation layer between an anode and a cathode, such as a transport layer/light-emitting layer/electron transport layer, can be given.

또한, 상기 각 층은 각각 단일층, 복수층 중 어느 하나이어도 좋고, 도핑되어 있어도 좋다. 특히, 상기 전자 수송층 및 전하 발생층은 금속을 도프한 금속 도핑층으로 하는 것이 바람직하고, 전자 수송 능력이나 인접하는 타층으로의 전자 주입 능력을 향상시킬 수 있다. 또한, 상기 각 층에 추가하여, 보호층(캡층)을 더 가져도 좋고, 광학 간섭 효과에 의해 발광 효율을 보다 향상시킬 수 있다. 각 층의 두께는 각 층 재료의 저항값이나 EL 발광의 인출 효율로의 영향을 고려해서 일반적으로 1~200㎚ 사이로부터 선택된다.Additionally, each of the above layers may be either a single layer or multiple layers, and may be doped. In particular, it is preferable that the electron transport layer and the charge generation layer are metal doped layers, and the electron transport ability and the electron injection ability into other adjacent layers can be improved. Additionally, in addition to each of the above layers, a protective layer (cap layer) may be further provided, and the luminous efficiency can be further improved by the optical interference effect. The thickness of each layer is generally selected from 1 to 200 nm in consideration of the resistance value of each layer material and the influence on the extraction efficiency of EL light emission.

<정공 수송층><Hole transport layer>

정공 수송층은, 예를 들면 정공 수송 재료의 1종 또는 2종 이상을 적층 또는 혼합하는 방법이나, 정공 수송 재료와 고분자 결착제의 혼합물을 사용하는 방법에 의해 형성된다. 또한, 정공 수송 재료에 염화철(III)과 같은 무기염을 첨가해서 정공 수송층을 형성해도 좋다. 정공 수송 재료는, 발광 소자의 제작에 필요한 박막을 형성하고, 양극이 되는 전극으로부터 정공을 주입할 수 있고, 또한 정공을 수송할 수 있는 화합물이면 특별히 한정되지 않는다. 정공 수송층은 단층이어도, 복수의 층이 적층되어 구성되어 있어도 좋다.The hole transport layer is formed, for example, by a method of laminating or mixing one or two or more types of hole transport materials, or a method of using a mixture of a hole transport material and a polymer binder. Additionally, an inorganic salt such as iron (III) chloride may be added to the hole transport material to form a hole transport layer. The hole transport material is not particularly limited as long as it is a compound that forms a thin film necessary for manufacturing a light emitting device, can inject holes from an electrode serving as an anode, and can transport holes. The hole transport layer may be a single layer or may be composed of a plurality of layers stacked.

정공 수송 재료의 적합한 예로서는 4,4'-비스(N-(3-메틸페닐)-N-페닐아미노)비페닐, 4,4'-비스(N-(1-나프틸)-N-페닐아미노)비페닐, 4,4',4"-트리스(3-메틸페닐(페닐)아미노)트리페닐아민 등의 트리페닐아민 유도체, 비스(N-알릴카르바졸), 비스(N-알킬카르바졸) 등의 비스카르바졸 유도체, 피라졸린 유도체, 스틸벤계 화합물, 히드라존계 화합물, 벤조푸란 유도체, 티오펜 유도체, 옥사디아졸 유도체, 프탈로시아닌 유도체, 포르피린 유도체 등의 복소환 화합물, 폴리머계에서는 상기 단량체를 측쇄에 갖는 폴리카보네이트나 스티렌 유도체, 폴리티오펜, 폴리아닐린, 폴리플루오렌, 폴리비닐카르바졸, 및 폴리실란 등을 들 수 있다.Suitable examples of hole transport materials include 4,4'-bis(N-(3-methylphenyl)-N-phenylamino)biphenyl, 4,4'-bis(N-(1-naphthyl)-N-phenylamino) Triphenylamine derivatives such as biphenyl, 4,4',4"-tris(3-methylphenyl(phenyl)amino)triphenylamine, bis(N-allylcarbazole), bis(N-alkylcarbazole), etc. Heterocyclic compounds such as biscarbazole derivatives, pyrazoline derivatives, stilbene-based compounds, hydrazone-based compounds, benzofuran derivatives, thiophene derivatives, oxadiazole derivatives, phthalocyanine derivatives, and porphyrin derivatives, and polymers having the above-mentioned monomer in the side chain. Examples include polycarbonate, styrene derivatives, polythiophene, polyaniline, polyfluorene, polyvinylcarbazole, and polysilane.

<발광층><Emitting layer>

발광층에서는 주입된 전자와 정공이 재결합하여 발광한다. 이 발광층을 구성하는 재료를 선택함으로써, 다양한 다색 발광이 가능하다는 것이 유기 EL 표시 장치의 큰 특징이다.In the light-emitting layer, injected electrons and holes recombine to emit light. A major feature of the organic EL display device is that various multi-colored light emission is possible by selecting the material constituting the light emitting layer.

발광층은 정공 및 전자의 충돌에 의한 재결합 에너지에 의해 발광 재료가 여기되고, 발광하는 층이다. 발광층은 단층이어도, 복수의 층이 적층되어 구성되어 있어도 좋고, 각각 발광 재료(호스트 재료 및/또는 도펀트 재료)에 의해 형성된다. 각 발광층은 호스트 재료 또는 도펀트 재료 중 어느 일방으로만 구성되어 있어도, 각각 1종 이상의 호스트 재료와 1종 이상의 도펀트 재료의 조합에 의해 구성되어 있어도 좋다. 즉, 각 발광층에 있어서 호스트 재료 또는 도펀트 재료만이 발광해도 좋고, 호스트 재료와 도펀트 재료가 함께 발광해도 좋다. 전기 에너지를 효율 좋게 이용하고, 고색 순도의 발광을 얻는다는 관점으로부터는, 발광층은 호스트 재료와 도펀트 재료의 조합에 의해 구성되는 것이 바람직하다. 도펀트 재료는 호스트 재료의 전체에 포함되어 있어도, 부분적으로 포함되어 있어도 좋다.The light-emitting layer is a layer in which a light-emitting material is excited and emits light by recombination energy resulting from collisions of holes and electrons. The light-emitting layer may be a single layer or may be composed of a plurality of layers stacked, and each light-emitting layer is formed of a light-emitting material (host material and/or dopant material). Each light-emitting layer may be composed of only one of the host material and the dopant material, or may be composed of a combination of one or more host materials and one or more dopant materials. That is, in each light-emitting layer, only the host material or the dopant material may emit light, or the host material and the dopant material may emit light together. From the viewpoint of efficiently using electrical energy and obtaining light emission with high color purity, it is preferable that the light emitting layer is composed of a combination of a host material and a dopant material. The dopant material may be contained entirely or partially in the host material.

발광층 중의 도펀트 재료의 함유량은 농도 소광 현상을 억제하는 관점으로부터, 호스트 재료 100중량부에 대해서 30중량부 이하가 바람직하고, 20중량부 이하가 보다 바람직하다.From the viewpoint of suppressing the concentration quenching phenomenon, the content of the dopant material in the light-emitting layer is preferably 30 parts by weight or less, and more preferably 20 parts by weight or less, with respect to 100 parts by weight of the host material.

발광층은 호스트 재료와 도펀트 재료를 공증착하는 방법이나, 호스트 재료와 도펀트 재료를 미리 혼합하고 나서 증착하는 방법 등에 의해 형성할 수 있다.The light-emitting layer can be formed by a method of co-depositing a host material and a dopant material, or a method of mixing the host material and the dopant material in advance and then depositing them.

발광 재료를 구성하는 호스트 재료로서는, 예를 들면 나프탈렌, 안트라센, 페난트렌, 피렌, 크리센, 나프타센, 트리페닐렌, 페릴렌, 플루오란텐, 플루오렌, 인덴 등의 축합 아릴환을 갖는 화합물 등을 들 수 있다. 이들을 2종 이상 사용해도 좋다. 발광층이 삼중항 발광(인광 발광)을 행할 때에 사용되는 호스트로서는 금속 킬레이트화 옥시노이드 화합물, 디벤조푸란 유도체, 디벤조티오펜 유도체, 카르바졸 유도체, 인돌로카르바졸 유도체, 트리아진 유도체, 트리페닐렌 유도체 등이 적합하게 사용된다. 그 중에서도 안트라센 골격이나 피렌 골격을 갖는 화합물이 고효율 발광이 얻어지기 쉽기 때문에, 보다 바람직하다.Host materials constituting the light-emitting material include, for example, compounds having a condensed aryl ring such as naphthalene, anthracene, phenanthrene, pyrene, chrysene, naphthacene, triphenylene, perylene, fluoranthene, fluorene, and indene. etc. can be mentioned. You may use two or more of these. Hosts used when the light-emitting layer emits triplet light (phosphorescence) include metal chelated oxinoid compounds, dibenzofuran derivatives, dibenzothiophene derivatives, carbazole derivatives, indolocarbazole derivatives, triazine derivatives, and triphenyl derivatives. Ren derivatives and the like are suitably used. Among them, compounds having an anthracene skeleton or a pyrene skeleton are more preferable because highly efficient light emission is easily obtained.

발광 재료를 구성하는 도펀트 재료로서는, 예를 들면 안트라센이나 피렌 등의 축합환 유도체, 트리스(8-퀴놀리노레이트)알루미늄 등의 금속 착체 화합물, 비스스티릴안트라센 유도체나 디스티릴벤젠 유도체 등의 비스스티릴 유도체, 테트라페닐부타디엔 유도체, 디벤조푸란 유도체, 카르바졸 유도체, 인돌로카르바졸 유도체, 폴리페닐렌비닐렌 유도체 등을 들 수 있다. 발광층이 삼중항 발광(인광 발광)을 행할 때에 사용되는 도펀트 재료로서는 이리듐(Ir), 루테늄(Ru), 팔라듐(Pd), 백금(Pt), 오스뮴(Os), 및 레늄(Re)으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 금속을 포함하는 금속 착체 화합물이 바람직하다. 금속 착체 화합물을 구성하는 배위자는 요구되는 발광색, 유기 EL 표시 장치 성능, 호스트 화합물의 관계로부터 적당히 선택할 수 있고, 페닐피리딘 골격, 페닐퀴놀린 골격, 카르벤 골격 등의 질소 함유 방향족 복소환을 갖는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 트리스(2-페닐피리딜)이리듐 착체 비스(2-페닐피리딜)(아세틸아세토네이트)이리듐 착체, 테트라에틸포르피린 백금 착체 등을 들 수 있다. 이들을 2종 이상 사용해도 좋다.Dopant materials constituting the light-emitting material include, for example, condensed ring derivatives such as anthracene and pyrene, metal complex compounds such as tris(8-quinolinolate)aluminum, and bistyryl anthracene derivatives and distyrylbenzene derivatives. Examples include reel derivatives, tetraphenylbutadiene derivatives, dibenzofuran derivatives, carbazole derivatives, indolocarbazole derivatives, and polyphenylenevinylene derivatives. Dopant materials used when the light-emitting layer emits triplet light (phosphorescence) include iridium (Ir), ruthenium (Ru), palladium (Pd), platinum (Pt), osmium (Os), and rhenium (Re). A metal complex compound containing at least one metal selected from the following is preferred. The ligand constituting the metal complex compound can be appropriately selected from the relationship between the required emission color, organic EL display device performance, and host compound, and preferably has a nitrogen-containing aromatic heterocycle such as a phenylpyridine skeleton, phenylquinoline skeleton, or carbene skeleton. do. Specifically, tris(2-phenylpyridyl)iridium complex, bis(2-phenylpyridyl)(acetylacetonate)iridium complex, tetraethylporphyrin platinum complex, etc. are mentioned. You may use two or more of these.

<전자 수송층><Electron transport layer>

전자 수송층은 음극으로부터 주입된 전자를 발광층까지 수송하는 층이다. 저구동 전압을 달성하기 위해서도, 본 발명의 유기 EL층이 전자 수송층을 포함하는 것이 바람직하다. 전자 수송층에는 전자 주입 효율이 높고, 주입된 전자를 효율 좋게 수송하는 것이 요망된다. 그 때문에, 전자 수송층은 전자 친화력 및 전자 이동도가 크고, 안정성이 우수하고, 트랩이 되는 불순물이 제조 시 및 사용 시에 발생하기 어려운 물질인 것이 바람직하다. 특히, 막 두께가 큰 경우에는 저분자량의 화합물은 결정화되는 등 해서 막질이 열화되기 쉽기 때문에, 분자량 400 이상의 화합물이 바람직하다. 또한, 정공과 전자의 수송 밸런스를 생각한 경우에, 재결합하지 않은 정공이 양극으로부터 음극측으로 흐르는 것을 효율 좋게 저지할 수 있는 역할을 전자 수송층이 갖는 것도 바람직하고, 본 발명에 있어서의 전자 수송층에는 정공의 이동을 효율 좋게 저지할 수 있는 정공 저지층도 동의의 것으로서 포함된다. 전자 수송층은 단층이어도, 복수의 층이 적층되어 구성되어 있어도 좋다.The electron transport layer is a layer that transports electrons injected from the cathode to the light-emitting layer. In order to achieve a low driving voltage, it is preferable that the organic EL layer of the present invention includes an electron transport layer. It is desired that the electron transport layer has high electron injection efficiency and transports the injected electrons efficiently. Therefore, it is desirable that the electron transport layer be made of a material that has high electron affinity and electron mobility, is excellent in stability, and impurities that become traps are unlikely to be generated during manufacture and use. In particular, when the film thickness is large, a compound with a molecular weight of 400 or more is preferable because low molecular weight compounds tend to crystallize and thus deteriorate the film quality. In addition, when considering the transport balance between holes and electrons, it is desirable for the electron transport layer to have a role of efficiently preventing unrecombined holes from flowing from the anode to the cathode, and the electron transport layer in the present invention contains holes. A hole blocking layer that can efficiently prevent movement is also included as a consent. The electron transport layer may be a single layer or may be composed of a plurality of layers stacked.

전자 수송층을 구성하는 전자 수송 재료로서는, 예를 들면 나프탈렌, 안트라센 등의 축합 다환 방향족 유도체 등을 들 수 있다. 이들을 2종 이상 사용해도 좋다. 이들 중에서도 구동 전압을 보다 저감하고, 고효율 발광이 얻어지는 점에서, 전자 수용성 질소를 포함하는 헤테로아릴환 구조를 갖는 화합물이 바람직하다.Examples of the electron transport material constituting the electron transport layer include condensed polycyclic aromatic derivatives such as naphthalene and anthracene. You may use two or more of these. Among these, compounds having a heteroaryl ring structure containing electron-accepting nitrogen are preferred because the driving voltage can be further reduced and high-efficiency light emission can be obtained.

여기에서 말하는 전자 수용성 질소란, 인접 원자와의 사이에 다중 결합을 형성하고 있는 질소 원자를 나타낸다. 질소 원자가 높은 전자 음성도를 갖는 점에서, 이러한 다중 결합은 전자 수용적인 성질을 갖는다. 그 때문에, 전자 수용성 질소를 포함하는 방향족 복소환은 높은 전자 친화성을 갖는다. 전자 수용성 질소를 갖는 전자 수송 재료는 높은 전자 친화력을 갖는 음극으로부터의 전자를 받기 쉬운 점에서, 구동 전압을 보다 저감할 수 있다. 또한, 발광층으로의 전자의 공급이 많아지고, 재결합 확률이 높아지기 때문에 발광 효율이 향상된다.Electron-accepting nitrogen as used herein refers to a nitrogen atom that forms multiple bonds with adjacent atoms. Since the nitrogen atom has high electronegativity, these multiple bonds have electron-accepting properties. Therefore, the aromatic heterocycle containing electron-accepting nitrogen has high electron affinity. The driving voltage can be further reduced because the electron transport material containing electron-accepting nitrogen easily receives electrons from the cathode with high electron affinity. Additionally, the supply of electrons to the light-emitting layer increases and the probability of recombination increases, thereby improving luminous efficiency.

전자 수용성 질소를 포함하는 헤테로아릴환으로서는, 예를 들면 트리아진환, 피리딘환 등을 들 수 있다. 이들 헤테로아릴환 구조를 갖는 화합물로서는 N-나프틸-2,5-디페닐-1,3,4-트리아졸 등의 트리아졸 유도체, 2,5-비스(6'-(2',2"-비피리딜))-1,1-디메틸-3,4-디페닐실롤 등의 비피리딘 유도체, 1,3-비스(4'-(2,2':6'2"-터피리디닐))벤젠 등의 터피리딘 유도체가 전자 수송능의 관점으로부터 바람직하게 사용된다. 이들을 2종 이상 사용해도 좋다.Examples of heteroaryl rings containing electron-accepting nitrogen include triazine rings and pyridine rings. Compounds having these heteroaryl ring structures include triazole derivatives such as N-naphthyl-2,5-diphenyl-1,3,4-triazole, 2,5-bis(6'-(2',2") -Bipyridyl))-1,1-dimethyl-3,4-diphenylsilol and other bipyridine derivatives, 1,3-bis(4'-(2,2':6'2"-terpyridinyl) ) Terpyridine derivatives such as benzene are preferably used from the viewpoint of electron transport ability. You may use two or more of these.

또한, 전자 수송층에 요구되는 조건을 충족하는 물질로서 페난트롤린 골격을 갖는 화합물을 들 수 있다. 장시간에 걸쳐 안정적인 발광을 얻기 위해서는, 열적 안정성이나 박막 형성성이 우수한 재료가 요망되고, 페난트롤린 골격을 갖는 화합물 중에서도 치환기 자신이 3차원적 입체 구조를 갖거나, 페난트롤린 골격과의 또는 인접 치환기와의 입체 반발에 의해 3차원적 입체 구조를 갖는 것, 또는 복수의 페난트롤린 골격을 연결한 것이 바람직하다. 또한, 복수의 페난트롤린 골격을 연결할 경우, 연결 유닛 중에 공역 결합, 치환 혹은 무치환의 방향족 탄화수소, 치환 혹은 무치환의 방향 복소환을 포함하고 있는 화합물이 보다 바람직하다.Additionally, a compound having a phenanthroline skeleton can be cited as a material that satisfies the conditions required for the electron transport layer. In order to obtain stable light emission over a long period of time, a material with excellent thermal stability and thin film formation is required, and among compounds having a phenanthroline skeleton, the substituent itself has a three-dimensional structure or is adjacent to or adjacent to the phenanthroline skeleton. It is preferable to have a three-dimensional structure due to steric repulsion with substituents, or to have a plurality of phenanthroline skeletons linked together. Additionally, when connecting multiple phenanthroline skeletons, a compound containing a conjugate bond, a substituted or unsubstituted aromatic hydrocarbon, or a substituted or unsubstituted aromatic heterocycle in the connecting unit is more preferable.

전자 수송 재료는 페난트롤린 골격을 갖는 화합물 1종에만 한정될 필요는 없고, 복수의 상기 화합물을 혼합해서 사용해도 좋고, 기지의 전자 수송 재료의 1종류 이상을 상기 화합물과 혼합해서 사용해도 좋다. 기지의 전자 수송 재료로서는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 8-히드록시퀴놀린알루미늄으로 대표되는 퀴놀리놀 유도체 금속 착체, 벤조퀴놀린 금속 착체, 트로폴론 금속 착체, 플라보놀 금속 착체, 페릴렌 유도체, 페리논 유도체, 나프탈렌, 쿠마린 유도체, 옥사디아졸 유도체, 알다진 유도체, 비스스티릴 유도체, 피라진 유도체, 페난트롤린 유도체, 퀴놀린 유도체, 벤즈이미다졸 유도체, 트리아졸 유도체, 퀴녹살린 유도체, 벤조퀴놀린 유도체 등이 있지만 특별히 한정되는 것은 아니다. 이들 전자 수송 재료는 단독으로도 사용되지만, 상이한 전자 수송 재료와 적층 또는 혼합해서 사용해도 상관없다. 또한, 페난트롤린 유도체 및 올리고피리딘 유도체 등의 질소 함유 방향족 복소환을 갖는 화합물을 사용할 수도 있다. 특히, 후술하는 페난트롤린 골격을 갖는 화합물은 우수한 전자 수송능을 나타내기 때문에 바람직하다.The electron transport material does not need to be limited to only one type of compound having a phenanthroline skeleton. A plurality of the above compounds may be mixed and used, or one or more types of known electron transport materials may be mixed with the above compound. Known electron transport materials are not particularly limited, but include quinolinol derivative metal complexes such as 8-hydroxyquinoline aluminum, benzoquinoline metal complexes, tropolone metal complexes, flavonol metal complexes, perylene derivatives, and perinone derivatives. , naphthalene, coumarin derivatives, oxadiazole derivatives, aldazine derivatives, bistyryl derivatives, pyrazine derivatives, phenanthroline derivatives, quinoline derivatives, benzimidazole derivatives, triazole derivatives, quinoxaline derivatives, benzoquinoline derivatives, etc. There is no particular limitation. These electron transport materials can be used alone, but may be used by stacking or mixing them with different electron transport materials. Additionally, compounds having a nitrogen-containing aromatic heterocycle, such as phenanthroline derivatives and oligopyridine derivatives, can also be used. In particular, compounds having a phenanthroline skeleton, which will be described later, are preferred because they exhibit excellent electron transport ability.

상기 전자 수송 재료는 단독으로도 사용되지만, 상기 전자 수송 재료의 2종 이상을 혼합해서 사용해도 좋고, 그 외의 전자 수송 재료의 1종 이상을 상기 전자 수송 재료에 혼합해서 사용해도 상관없다. 또한, 본 발명에 있어서의 전자 수송층이 도너성 도펀트 재료를 포함하는 것이 바람직하다. 여기에서, 도너성 도펀트 재료란 전자 주입 장벽의 개선에 의해 음극 또는 전자 주입층으로부터의 전자 수송층으로의 전자 주입을 용이하게 하고, 또한 전자 수송층의 전기 전도성을 향상시키는 화합물이다. 본 발명에 있어서는, 도너성 도펀트 재료가 알칼리 금속, 알칼리토류 금속, 희토류 금속, 상기 금속류의 무기염, 상기 금속류와 유기물의 착체로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상의 것을 함유하는 것이 바람직하다. 도너성 도펀트 재료는 진공 중에 있어서의 증착이 용이하며 취급이 우수한 점에서, 금속 단체보다 무기염 또는 유기물과의 착체가 바람직하고, 대기 중에서의 취급이 용이하며 첨가 농도를 조정하기 쉬운 점에서, 유기물과의 착체가 보다 바람직하다.The electron transport material may be used alone, but two or more types of the electron transport material may be mixed and used, and one or more other electron transport materials may be mixed with the electron transport material. Additionally, it is preferable that the electron transport layer in the present invention contains a donor dopant material. Here, the donor dopant material is a compound that facilitates electron injection from the cathode or electron injection layer into the electron transport layer by improving the electron injection barrier, and also improves the electrical conductivity of the electron transport layer. In the present invention, the donor dopant material preferably contains at least one selected from the group consisting of alkali metals, alkaline earth metals, rare earth metals, inorganic salts of the above metals, and complexes of the above metals and organic substances. The donor dopant material is preferably a complex with an inorganic salt or an organic substance rather than a metal alone because it is easy to deposit in a vacuum and is excellent in handling, and because it is easy to handle in the air and the addition concentration is easy to adjust, the organic substance is preferred. A complex with is more preferable.

<전하 발생층><Charge generation layer>

전하 발생층은 일반적으로 2중층으로 이루어지고, 구체적으로는 n형 전하 발생층 및 p형 전하 발생층으로 이루어지는 pn 접합형 전하 발생층을 사용할 수 있다. 상기 pn 접합형 전하 발생층은 유기 EL층 중에서 전압이 인가됨으로써 전하를 발생, 또는 전하를 정공 및 전자로 분리하고, 이들 정공 및 전자를 정공 수송층 및 전자 수송층을 경유해서 발광층에 주입한다. 구체적으로는, 유기 EL층에 포함되는 복수의 발광층에 대해서 중간의 전하 발생층으로서 기능한다. n형 전하 발생층은 양극측에 존재하는 발광층에 전자를 공급하고, p형 전하 발생층은 음극측에 존재하는 발광층에 정공을 공급한다. 그 때문에, 복수의 발광층을 포함하는 유기 EL층에 있어서의 발광 휘도와 발광 효율을 보다 향상시켜 구동 전압을 내릴 수 있고, 유기 EL층의 발광 수명도 보다 향상시킬 수 있다. 이와 같은 점에서, 본 발명에 있어서 유기 EL층이 전하 발생층을 포함하는 것이 바람직하다. 또한, 후술하는 바와 같이, 본 발명에 있어서 전하 발생층이 도너성 도펀트 재료를 포함하는 것이 바람직하고, 도너성 도펀트 재료가 알칼리 금속, 알칼리토류 금속, 희토류 금속, 상기 금속류의 무기염, 상기 금속류와 유기물의 착체로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상의 것을 함유하는 것이 바람직하다.The charge generation layer is generally made of a double layer, and specifically, a pn junction type charge generation layer consisting of an n-type charge generation layer and a p-type charge generation layer can be used. The pn junction type charge generation layer generates charges or separates the charges into holes and electrons by applying a voltage in the organic EL layer, and injects these holes and electrons into the light emitting layer via the hole transport layer and the electron transport layer. Specifically, it functions as an intermediate charge generation layer for the plurality of light-emitting layers included in the organic EL layer. The n-type charge generation layer supplies electrons to the light-emitting layer present on the anode side, and the p-type charge generation layer supplies holes to the light-emitting layer existing on the cathode side. Therefore, the luminance and luminous efficiency of the organic EL layer containing a plurality of light-emitting layers can be further improved, the driving voltage can be lowered, and the luminescence life of the organic EL layer can also be further improved. From this point of view, in the present invention, it is preferable that the organic EL layer includes a charge generation layer. In addition, as will be described later, in the present invention, the charge generation layer preferably contains a donor dopant material, and the donor dopant material is an alkali metal, an alkaline earth metal, a rare earth metal, an inorganic salt of the above metals, or the above metals. It is preferable to contain one or more types selected from the group consisting of complexes of organic substances.

상기 n형 전하 발생층은 n형 도펀트 재료 및 호스트 재료로 이루어지는 것이 바람직하고, 이들은 공지의 재료를 사용할 수 있다. 예를 들면, n형 도펀트 재료로서 알칼리 금속, 알칼리토류 금속, 또는 희토류 금속을 사용할 수 있다. 또한, 호스트 재료로서 페난트롤린 골격을 갖는 화합물 및 올리고피리딘 유도체 등의 질소 함유 방향족 복소환을 갖는 화합물을 사용할 수 있다. 특히, 후술하는 페난트롤린 골격을 갖는 화합물은 상기 n형 전하 발생층의 호스트 재료로서 우수한 성질을 나타내기 때문에 바람직하고, 이들을 조합해서 사용해도 좋다.The n-type charge generation layer is preferably made of an n-type dopant material and a host material, and known materials can be used. For example, an alkali metal, alkaline earth metal, or rare earth metal can be used as the n-type dopant material. Additionally, as a host material, compounds having a nitrogen-containing aromatic heterocycle, such as compounds having a phenanthroline skeleton and oligopyridine derivatives, can be used. In particular, compounds having a phenanthroline skeleton described later are preferred because they exhibit excellent properties as host materials for the n-type charge generation layer, and they may be used in combination.

상기 p형 전하 발생층은 p형 도펀트 재료 및 호스트 재료로 이루어지는 것이 바람직하고, 이들은 공지의 재료를 사용할 수 있다. 예를 들면, p형 도펀트 재료로서 테트라플루오레-7,7,8,8-테트라시아노퀴노디메탄(F4-TCNQ), 테트라시아노퀴노디메탄 유도체, 라디알렌 유도체, 요오드, FeCl3, FeF3, SbCl5 등을 사용할 수 있다. p형 도펀트 재료로서 바람직하게는 라디알렌 유도체이다. 호스트 재료로서 바람직하게는 아릴아민 유도체이다.The p-type charge generation layer is preferably made of a p-type dopant material and a host material, and known materials can be used. For example, as a p-type dopant material, tetrafluore-7,7,8,8-tetracyanoquinodimethane (F4-TCNQ), tetracyanoquinodimethane derivative, radialene derivative, iodine, FeCl 3 , FeF 3 , SbCl 5 , etc. can be used. The p-type dopant material is preferably a radialene derivative. The host material is preferably an arylamine derivative.

<페난트롤린 골격을 갖는 화합물><Compound having a phenanthroline skeleton>

본 발명에 있어서 전자 수송층 및/또는 전하 발생층은 하기 일반식 (1)로 나타내어지는 페난트롤린 골격을 갖는 화합물을 포함하는 것이 바람직하다.In the present invention, the electron transport layer and/or the charge generation layer preferably contain a compound having a phenanthroline skeleton represented by the following general formula (1).

여기에서 R1~R8은 각각 동일해도 상이해도 좋고, 수소 원자, 알킬기, 시클로알킬기, 알케닐기, 시클로알케닐기, 아릴기, 헤테로아릴기, 복소환기 중으로부터 선택된다. 단, R1, R3, R6, R8 중의 적어도 1개는 아다만틸기, 노보닐기, 페닐비닐기, β-나프틸기, 페난트렌기, 피레닐기로부터 선택된다.Here, R 1 to R 8 may be the same or different, and are selected from a hydrogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group, an alkenyl group, a cycloalkenyl group, an aryl group, a heteroaryl group, and a heterocyclic group. However, at least one of R 1 , R 3 , R 6 , and R 8 is selected from adamantyl group, norbornyl group, phenylvinyl group, β-naphthyl group, phenanthrene group, and pyrenyl group.

또한, 본 발명에 있어서 전자 수송층 및/또는 전하 발생층은 하기 일반식 (2)로 나타내어지는 페난트롤린 골격을 갖는 화합물을 포함하는 것이 보다 바람직하다.Furthermore, in the present invention, it is more preferable that the electron transport layer and/or the charge generation layer contain a compound having a phenanthroline skeleton represented by the following general formula (2).

여기에서 R9~R16은 각각 동일해도 상이해도 좋고, 수소 원자, 알킬기, 시클로알킬기, 알케닐기, 시클로알케닐기, 아릴기, 헤테로아릴기, 복소환기, X1 중으로부터 선택된다. 단, R9~R16 중의 적어도 1개는 X1이다. n은 2~6의 자연수를 나타낸다. X1은 단결합, 또는 벤젠, 안트라센, 피리딘, 에틸렌, 티오펜, 푸란, 메틸렌, 카르바졸, 시클로헥산, 스피로비플루오렌, 트리페닐아민, 트립티센 및 이들을 조합해서 이루어지는 구조 중 어느 하나로부터 유래되는 n가의, 복수의 페난트롤린 골격을 연결하는 연결 유닛이다.Here, R 9 to R 16 may be the same or different, and are selected from a hydrogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group, an alkenyl group, a cycloalkenyl group, an aryl group, a heteroaryl group, a heterocyclic group, and X 1 . However, at least one of R 9 to R 16 is X 1 . n represents a natural number from 2 to 6. and It is a linking unit that connects multiple n-valent phenanthroline skeletons.

이들 치환기 내, 알킬기란, 예를 들면 메틸기, 에틸기, n-프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, sec-부틸기, tert-부틸기 등의 포화 지방족 탄화수소기를 나타내고, 이것은 치환기를 갖고 있어도, 갖고 있지 않아도 좋다. 치환되어 있는 경우의 추가의 치환기에는 특별히 제한은 없고, 예를 들면 알킬기, 할로겐, 아릴기, 헤테로아릴기 등을 들 수 있고, 이 점은 이하의 기재에도 공통된다. 또한, 알킬기의 탄소수는 특별히 한정되지 않지만, 입수의 용이성이나 비용의 점으로부터 바람직하게는 1 이상 20 이하, 보다 바람직하게는 1 이상 8 이하의 범위이다. 또한, 시클로알킬기란, 예를 들면 시클로프로필기, 시클로헥실기, 노보닐기, 아다만틸기 등의 포화 지환식 탄화수소기를 나타내고, 이것은 치환기를 갖고 있어도, 갖고 있지 않아도 좋다. 알킬기 부분의 탄소수는 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 3 이상 20 이하의 범위이다. 또한, 아랄킬기란, 예를 들면 벤질기, 페닐에틸기 등의 지방족 탄화수소를 통한 방향족 탄화수소기를 나타내고, 지방족 탄화수소와 방향족 탄화수소는 어느 것이나 무치환이어도 치환되어 있어도 상관없다. 또한, 알케닐기란, 예를 들면 비닐기, 알릴기, 부타디에닐기 등의 이중 결합을 포함하는 불포화 지방족 탄화수소기를 나타내고, 이것은 무치환이어도 치환되어 있어도 상관없다. 또한, 시클로알케닐기란, 예를 들면 시클로펜테닐기, 시클로펜타디에닐기, 시클로헥센기 등의 이중 결합을 포함하는 불포화 지환식 탄화수소기를 나타내고, 이것은 무치환이어도 치환되어 있어도 상관없다. 또한, 알키닐기란, 예를 들면 아세틸레닐기 등의 삼중 결합을 포함하는 불포화 지방족 탄화수소기를 나타내고, 이것은 무치환이어도 치환되어 있어도 상관없다. 또한, 알콕시기란, 예를 들면 메톡시기 등의 에테르 결합을 통한 지방족 탄화수소기를 나타내고, 지방족 탄화수소기는 무치환이어도 치환되어 있어도 상관없다. 또한, 알킬티오기란, 알콕시기의 에테르 결합의 산소 원자가 황원자로 치환된 것이다. 또한, 아릴에테르기란, 예를 들면 페녹시기 등의 에테르 결합을 통한 방향족 탄화수소기를 나타내고, 방향족 탄화수소기는 무치환이어도 치환되어 있어도 상관없다. 또한, 아릴티오에테르기란, 아릴에테르기의 에테르 결합의 산소 원자가 황원자로 치환된 것이다. 또한, 아릴기란, 예를 들면 페닐기, 나프틸기, 비페닐기, 페난트릴기, 터페닐기, 피레닐기 등의 방향족 탄화수소기를 나타내고, 이것은 무치환이어도 치환되어 있어도 상관없다. 또한, 복소환기란, 예를 들면, 피란환, 피페리딘환, 환상 아미드 등의 탄소 이외의 원자를 환 내에 갖는 지방족환을 나타내고, 이것은 치환기를 갖고 있어도, 갖고 있지 않아도 좋다. 복소환기의 탄소수는 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 2 이상 20 이하의 범위이다. 할로겐이란, 불소, 염소, 브롬, 요오드를 나타낸다. 할로알칸, 할로알켄, 할로알킨이란, 예를 들면 트리플루오로메틸기 등의 상술한 알킬기, 알케닐기, 알키닐기의 일부 또는 전부가 상술한 할로겐으로 치환된 것을 나타내고, 남은 부분은 무치환이어도 치환되어 있어도 상관없다. 알데히드기, 카르보닐기, 에스테르기, 카르바모일기, 아미노기에는 지방족 탄화수소, 지환식 탄화수소, 방향족 탄화수소, 복소환 등으로 치환된 것도 포함하고, 또한 지방족 탄화수소, 지환식 탄화수소, 방향족 탄화수소, 복소환은 무치환이어도 치환되어 있어도 상관없다. 실릴기란, 예를 들면 트리메틸실릴기 등의 규소 화합물기를 나타내고, 이것은 무치환이어도 치환되어 있어도 상관없다. 실록사닐기란, 예를 들면 트리메틸실록사닐기 등의 에테르 결합을 통한 규소 화합물기를 나타내고, 이것은 무치환이어도 치환되어 있어도 상관없다. 또한, 인접 치환기와의 사이에 환구조를 형성해도 상관없다. 형성되는 환구조는 무치환이어도 치환되어 있어도 상관없다.In these substituents, an alkyl group refers to a saturated aliphatic hydrocarbon group such as, for example, methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, and tert-butyl group, even if it has a substituent. , you don’t have to have it. There is no particular limitation on the additional substituent when substituted, and examples include alkyl group, halogen, aryl group, heteroaryl group, etc. This point is also common to the description below. Additionally, the number of carbon atoms in the alkyl group is not particularly limited, but is preferably in the range of 1 to 20, more preferably 1 to 8, from the viewpoint of availability and cost. In addition, the cycloalkyl group refers to a saturated alicyclic hydrocarbon group such as, for example, cyclopropyl group, cyclohexyl group, norbornyl group, and adamantyl group, which may or may not have a substituent. The number of carbon atoms in the alkyl group portion is not particularly limited, but is preferably in the range of 3 to 20. Additionally, an aralkyl group refers to an aromatic hydrocarbon group through an aliphatic hydrocarbon such as a benzyl group or phenylethyl group, and both the aliphatic hydrocarbon and the aromatic hydrocarbon may be unsubstituted or substituted. In addition, an alkenyl group refers to an unsaturated aliphatic hydrocarbon group containing a double bond, such as a vinyl group, an allyl group, or a butadienyl group, and may be unsubstituted or substituted. In addition, the cycloalkenyl group refers to an unsaturated alicyclic hydrocarbon group containing a double bond, such as a cyclopentenyl group, cyclopentadienyl group, or cyclohexene group, and may be unsubstituted or substituted. In addition, an alkynyl group refers to an unsaturated aliphatic hydrocarbon group containing a triple bond, such as an acetylenyl group, and may be unsubstituted or substituted. In addition, an alkoxy group refers to an aliphatic hydrocarbon group through an ether bond, such as a methoxy group, and the aliphatic hydrocarbon group may be unsubstituted or substituted. Additionally, an alkylthio group is one in which the oxygen atom of the ether bond of an alkoxy group is replaced with a sulfur atom. Additionally, an aryl ether group refers to an aromatic hydrocarbon group through an ether bond such as a phenoxy group, and the aromatic hydrocarbon group may be unsubstituted or substituted. Additionally, an arylthioether group is one in which the oxygen atom of the ether bond of an arylether group is replaced with a sulfur atom. In addition, an aryl group refers to an aromatic hydrocarbon group such as a phenyl group, naphthyl group, biphenyl group, phenanthryl group, terphenyl group, and pyrenyl group, which may be unsubstituted or substituted. In addition, the heterocyclic group refers to, for example, an aliphatic ring having atoms other than carbon in the ring, such as a pyran ring, piperidine ring, or cyclic amide, which may or may not have a substituent. The number of carbon atoms in the heterocyclic group is not particularly limited, but is preferably in the range of 2 to 20. Halogen refers to fluorine, chlorine, bromine, and iodine. Haloalkane, haloalkene, and haloalkyne mean that part or all of the above-mentioned alkyl group, alkenyl group, and alkynyl group, such as trifluoromethyl group, are substituted with the above-mentioned halogen, and the remaining portion is substituted even if unsubstituted. It doesn't matter if there is. Aldehyde group, carbonyl group, ester group, carbamoyl group, and amino group include those substituted with aliphatic hydrocarbons, alicyclic hydrocarbons, aromatic hydrocarbons, heterocycles, etc., and aliphatic hydrocarbons, alicyclic hydrocarbons, aromatic hydrocarbons, and heterocycles may be unsubstituted. It doesn't matter if it's replaced. The silyl group refers to a silicon compound group such as trimethylsilyl group, which may be unsubstituted or substituted. The siloxanyl group refers to a silicon compound group through an ether bond, such as a trimethylsiloxanyl group, which may be unsubstituted or substituted. Additionally, a ring structure may be formed between adjacent substituents. The ring structure formed may be unsubstituted or substituted.

또한, 치환기 자신이 3차원적 입체 구조를 갖거나, 페난트롤린 골격 또는 인접 치환기와의 입체 반발에 의해 3차원적 입체 구조를 초래함으로써, 페난트롤린 골격을 포함하는 화합물은 평면성이 낮고 결정화가 일어나기 어려워져, 양호한 어모퍼스 박막 상태를 유지할 수 있다. 치환기 자신이 3차원적 입체 구조를 갖는다란, 예를 들면 t-부틸기, 아다만틸기, 노보닐기 등의 2차원적 평면 구조가 아닌, 부피가 큰 입체 구조를 나타내고, 무치환이어도 치환되어 있어도 상관없다. 또한, 페난트롤린 골격 또는 인접 치환기와의 입체 반발에 의해 3차원적 입체 구조를 초래하는 치환기란, α-나프틸기, 페난트렌기, 메시틸기 등의, 치환기 자신은 평면 구조라고 해도 그 치환기와 페난트롤린 골격, 또는 그 치환기와 인접 치환기의 입체 반발에 의해 치환기 평면이 페난트롤린 골격 평면과 상이한 평면에 있는 것을 나타낸다. 이들은 분자 모형이나 계산기 화학 등을 사용해서 고찰할 수 있다.In addition, the substituent itself has a three-dimensional structure, or a three-dimensional structure is created through steric repulsion with the phenanthroline skeleton or adjacent substituents, so the compound containing the phenanthroline skeleton has low planarity and is difficult to crystallize. It becomes difficult to wake up, and a good amorphous thin film state can be maintained. The fact that the substituent itself has a three-dimensional three-dimensional structure refers to a bulky three-dimensional structure rather than a two-dimensional planar structure such as, for example, a t-butyl group, adamantyl group, or norbornyl group, and can be substituted or unsubstituted. Does not matter. In addition, a substituent that gives rise to a three-dimensional structure by steric repulsion with the phenanthroline skeleton or adjacent substituents, such as α-naphthyl group, phenanthrene group, mesityl group, etc., refers to the substituent group even if the substituent itself has a planar structure. This indicates that the plane of the substituent is in a different plane from the plane of the phenanthroline skeleton due to steric repulsion between the phenanthroline skeleton or its substituents and adjacent substituents. These can be examined using molecular models, computer chemistry, etc.

또한, 복수의 페난트롤린 골격을 연결함으로써, 페난트롤린 골격을 포함하는 화합물은 고분자량화되어 유리 전이 온도가 상승하고, 역시 결정화가 일어나기 어려워져 양호한 어모퍼스 박막 상태를 유지할 수 있다.Additionally, by connecting a plurality of phenanthroline skeletons, the compound containing the phenanthroline skeleton becomes high molecular weight, increases the glass transition temperature, and also makes it difficult for crystallization to occur, thereby maintaining a good amorphous thin film state.

본 발명에 있어서의 일반식 (1)의 페난트롤린 골격을 갖는 화합물 중에서는, 페난트롤린 골격의 2, 4, 7, 9번째 자리에 치환기를 도입하는 것이 더 적합하다. 이들 치환기에 대해서는 상술한 바와 마찬가지이다. 상기 페난트롤린 골격을 갖는 화합물로서, 구체적으로는 하기와 같은 구조를 들 수 있지만, 이것에 한정되는 것은 아니다.Among the compounds having the phenanthroline skeleton of general formula (1) in the present invention, it is more suitable to introduce substituents at the 2nd, 4th, 7th, and 9th positions of the phenanthroline skeleton. These substituents are the same as described above. Specific examples of the compound having the phenanthroline skeleton include, but are not limited to, the following structures.

전자 수송층 및/또는 전하 발생층의 호스트 재료는 페난트롤린 골격을 갖는 화합물 1종에만 한정될 필요는 없고, 복수의 페난트롤린 골격을 갖는 화합물을 혼합해서 사용하거나, 기지의 호스트 재료의 1종류 이상을 페난트롤린 골격을 갖는 화합물과 혼합해서 사용해도 좋다. 기지의 호스트 재료로서는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 이전부터 알려져 있었던 안트라센, 페난트렌, 피렌, 페릴렌, 크리센 등의 축합환 유도체, 트리스(8-퀴놀리노라토)알루미늄을 비롯한 퀴놀리놀 유도체의 금속 착체, 벤즈옥사졸 유도체, 스틸벤 유도체, 벤즈티아졸 유도체, 티아디아졸 유도체, 티오펜 유도체, 테트라페닐부타디엔 유도체, 시클로펜타디엔 유도체, 옥사디아졸 유도체, 비스스티릴안트라센 유도체나 디스티릴벤젠 유도체 등의 비스스티릴 유도체, 퀴놀리놀 유도체와 상이한 배위자를 조합한 금속 착체, 옥사디아졸 유도체 금속 착체, 벤즈아졸 유도체 금속 착체, 쿠마린 유도체, 피롤로피리딘 유도체, 페리논 유도체, 티아디아졸로피리딘 유도체, 폴리머계에서는 폴리페닐렌비닐렌 유도체, 폴리파라페닐렌 유도체, 그리고 폴리티오펜 유도체 등을 사용할 수 있다.The host material of the electron transport layer and/or charge generation layer need not be limited to only one compound having a phenanthroline skeleton, and a mixture of compounds having a plurality of phenanthroline skeletons may be used, or one type of known host material may be used. The above may be mixed and used with a compound having a phenanthroline skeleton. The known host material is not particularly limited, but includes previously known condensed ring derivatives such as anthracene, phenanthrene, pyrene, perylene, and chrysene, and quinolinol derivatives such as tris(8-quinolinolato)aluminum. Metal complexes, benzoxazole derivatives, stilbene derivatives, benzthiazole derivatives, thiadiazole derivatives, thiophene derivatives, tetraphenylbutadiene derivatives, cyclopentadiene derivatives, oxadiazole derivatives, bistyrylanthracene derivatives or distyrylbenzene. Derivatives such as bistyryl derivatives, quinolinol derivatives and metal complexes combining different ligands, oxadiazole derivative metal complexes, benzazole derivative metal complexes, coumarin derivatives, pyrrolopyridine derivatives, perinone derivatives, thiadiazolopyridine In derivatives and polymers, polyphenylenevinylene derivatives, polyparaphenylene derivatives, and polythiophene derivatives can be used.

또한, 페난트롤린 골격을 갖는 화합물은 도펀트 재료로서 사용해도 상관없지만, 우수한 전자 수송능을 갖는 점에서 호스트 재료로서 사용하는 것이 바람직하다.In addition, a compound having a phenanthroline skeleton may be used as a dopant material, but it is preferable to use it as a host material because it has excellent electron transport ability.

<제 2 전극><Second electrode>

본 발명에 있어서 제 2 전극(6)은, 보텀 에미션형의 경우에는 광반사성의 전극, 톱 에미션형의 경우에는 광투과성의 전극일 필요가 있다.In the present invention, the second electrode 6 must be a light-reflective electrode in the case of the bottom emission type, and a light-transmissive electrode in the case of the top emission type.

보텀 에미션형이면, 어느 막 두께 이상에서 가시광이 높은 반사율을 나타내고, 또한 낮은 전기 저항을 나타내는 재료가 바람직하고, Ag 또는 Ag를 주체로서 포함하는 Ag 합금막이 반사율이 높기 때문에 유용하다. Ag 합금막은 주성분을 Ag로 한 MgAg 합금 등을 사용할 수 있다. 또한, Al 또는 Al을 주체로서 포함하는 Al 합금막도 보텀 에미션용의 제 2 전극으로서 양호하다. Cr을 함유하는 AlCr 합금막이나 Ni를 함유하는 AlNi 합금막은 순Al 수준의 높은 반사율을 갖고, 또한 낮은 전기 저항을 실현할수 있기 때문에 바람직하다.In the case of the bottom emission type, a material that exhibits high reflectance of visible light above a certain film thickness and low electrical resistance is preferable, and Ag or an Ag alloy film mainly containing Ag is useful because it has a high reflectance. The Ag alloy film may use an MgAg alloy whose main component is Ag. Additionally, Al or an Al alloy film mainly containing Al is also good as a second electrode for bottom emission. An AlCr alloy film containing Cr or an AlNi alloy film containing Ni is preferable because it has a high reflectance at the level of pure Al and can also achieve low electrical resistance.

톱 에미션형이면, 예를 들면 투명한 산화주석, 산화인듐, 산화주석 인듐(ITO) 등의 도전성 금속 산화물을 사용할 수 있지만, 유기 EL층으로의 대미지를 피하기 위해서도 증착으로 제작할 수 있는 MgAg 합금의 박막이 바람직하다.If it is a top emission type, for example, a conductive metal oxide such as transparent tin oxide, indium oxide, or indium tin oxide (ITO) can be used. However, to avoid damage to the organic EL layer, a thin film of MgAg alloy that can be produced by vapor deposition is used. desirable.

제 2 전극의 저항은, 제 1 전극과 마찬가지로 발광 소자의 발광에 충분한 전류를 공급할 수 있으면 좋으므로 한정되지 않지만, 발광 소자의 소비 전력의 관점으로부터는 저저항인 것이 바람직하다. 전극의 두께는 투과율이나 저항값 등의 특성에 맞춰 임의로 선택할 수 있지만, 보텀 에미션형이면 100~300㎚, 톱 에미션형이면 10~30㎚ 사이에서 사용할 수 있다.The resistance of the second electrode is not limited, as is the case with the first electrode, as long as it can supply sufficient current for light emission of the light-emitting element, but it is preferably low in resistance from the viewpoint of power consumption of the light-emitting element. The thickness of the electrode can be selected arbitrarily according to characteristics such as transmittance and resistance value, but it can be used between 100 and 300 nm for the bottom emission type and 10 to 30 nm for the top emission type.

<배선, TFT><Wiring, TFT>

본 발명에 있어서는 상술한 바와 같이, 기재(1)에 포함되는 것으로서 배선이나 TFT(7) 등의 구동 회로가 형성되는 경우가 있다.In the present invention, as described above, a driving circuit such as wiring or TFT 7 may be formed as included in the base material 1.

유기 EL 표시 장치가 액티브 구동형 톱 에미션 방식일 경우, 패터닝 가공된 아일랜드형의 제 1 전극(2)이 미리 기재(1)의 일부로서 형성되어 있는 TFT(7)와 접속되는 경우가 많다.When the organic EL display device is an active drive type top emission type, the patterned island-shaped first electrode 2 is often connected to the TFT 7 formed in advance as a part of the substrate 1.

TFT의 반도체층으로서는 a-Si(비정질 실리콘), p-Si(다결정 실리콘), 마이크로 크리스탈 실리콘, In-Ga-Zn-O 등으로 대표되는 산화물, p-Si와 산화물을 병용한 LTPO(Low Temperature Polycrystalline Oxide) 등이 있지만, 일반적으로 a-SiTFT, p-SiTFT의 2종류가 사용된다. a-SiTFT는 전자의 움직이기 쉬움을 나타내는 지표인 이동도가 낮은 반면, 비교적 제조 프로세스가 짧고, 대형 기판에도 제조할 수 있기 때문에 소형~대형 디스플레이까지 폭넓게 사용할 수 있다. 한편, p-SiTFT는 이동도가 높고, 기판 상에 드라이버 회로 등을 형성할 수 있다. 제조 공정은 a-Si보다 길고, 대형 기판에서는 제조의 난이도가 높기 때문에 중소형의 디스플레이에 주로 사용하는 것이 바람직하다. 특히, p-SiTFT에 있어서의 p-Si는, 일반적으로 a-Si를 스타트막으로 해서 레이저 광을 조사하고, 순간적으로 용융, 결정화를 행함으로써 형성할 수 있다. 또한, a-SiTFT의 제조 공정에서는 사용하지 않는 인이나 붕소를 Si 중에 주입하는 도핑이라는 공정이 있으며, Si막으로의 불순물 도핑에 의해 TFT 특성의 역치 제어를 해도 좋다.The semiconductor layer of the TFT is oxides such as a-Si (amorphous silicon), p-Si (polycrystalline silicon), microcrystal silicon, In-Ga-Zn-O, and LTPO (Low Temperature) using a combination of p-Si and oxide. Polycrystalline Oxide), etc., but generally two types are used: a-SiTFT and p-SiTFT. While a-SiTFT has a low mobility, which is an indicator of the ease of movement of electrons, the manufacturing process is relatively short and it can be manufactured on large substrates, so it can be used for a wide range of small to large displays. On the other hand, p-SiTFT has high mobility, and driver circuits, etc. can be formed on the substrate. The manufacturing process is longer than that of a-Si, and the difficulty of manufacturing is high on large substrates, so it is preferable to mainly use it for small and medium-sized displays. In particular, p-Si in p-SiTFT can generally be formed by using a-Si as a starting film and irradiating laser light to instantaneously melt and crystallize. Additionally, in the manufacturing process of a-SiTFT, there is a process called doping in which unused phosphorus or boron is injected into Si, and the threshold of TFT characteristics may be controlled by doping impurities into the Si film.

TFT를 구조면으로부터 대별하면, 보텀 게이트형과 톱 게이트형으로 분류할 수 있다. a-SiTFT에서는 보텀 게이트형, p-SiTFT에서는 톱 게이트형으로 하는 것이 바람직하다. 예를 들면, 톱 게이트형이면 반도체층에 드레인측의 전극, 소스측의 전극이 접속하고, 반도체층 상방에 게이트 전극이 형성된다. TFT는 박막 형성, 패터닝, 에칭, 세정의 요소 공정을 수회 반복함으로써 기재에 형성된다. TFT의 형성 방법은 공지의 방법을 사용할 수 있다. 또한, 보텀 게이트형에서는 게이트 전극을 최하층에 배치하고, 그 상층에 반도체층/절연막이 있으며, 더욱 상층에 소스 전극, 드레인 전극이 형성된다. 게이트 전극과 소스 전극 및 드레인 전극을 직선으로 연결하면 역삼각형이 되고, 「역스태거 구조」라고도 불리는 구조이어도 좋다.If TFTs are broadly classified based on their structure, they can be classified into bottom gate type and top gate type. It is preferable to use a bottom gate type for a-SiTFT and a top gate type for p-SiTFT. For example, in the top gate type, the drain side electrode and the source side electrode are connected to the semiconductor layer, and the gate electrode is formed above the semiconductor layer. TFTs are formed on a substrate by repeating the element processes of thin film formation, patterning, etching, and cleaning several times. A known method can be used to form the TFT. Additionally, in the bottom gate type, the gate electrode is disposed on the lowest layer, the semiconductor layer/insulating film is on the upper layer, and the source electrode and drain electrode are formed on the upper layer. When the gate electrode, source electrode, and drain electrode are connected with a straight line, an inverted triangle may be formed, which may also be called an “inverted stagger structure.”

<평탄화층><Planarization layer>

특히 액티브 구동형과 같이, 예를 들면 도 2에 나타내어지는 바와 같이 기재(1)의 내부에 배선이나 TFT(7)가 형성될 경우, 평탄화층(8)을 사용하는 것이 바람직하다. 평탄화층(8)을 형성함으로써, 배선이나 TFT(7)의 요철을 덮어 평탄화할 수 있다. 이 경우, 평탄화층 상에 제 1 전극(2)이 형성되기 때문에, 제 1 전극(2)과 배선이나 TFT(7)는 평탄화층(8)에 형성된 콘택트 홀을 통해 접속하는 것이 바람직하다. 평탄화층(8)으로서는, 공지의 유기물 또는 무기물 중 어느 쪽에도 한정되지 않지만, 가공성의 면으로부터 감광성 수지 조성물의 경화막을 포함하는 것이 바람직하다. 평탄화층(8)은 대판 기판에 얇은 막을 균일하게 형성할 수 있는 스핀 코트법, 슬릿 코팅법, 딥 코팅법, 스프레이 코팅법, 인쇄법 등의 웨트 코팅법으로 도포할 수 있다.In particular, in the case of active drive type, for example, as shown in FIG. 2, when wiring or TFT 7 is formed inside the base material 1, it is preferable to use the planarization layer 8. By forming the planarization layer 8, the unevenness of the wiring or TFT 7 can be covered and planarized. In this case, since the first electrode 2 is formed on the planarization layer, it is desirable to connect the first electrode 2 and the wiring or TFT 7 through a contact hole formed in the planarization layer 8. The planarization layer 8 is not limited to either a known organic material or an inorganic material, but preferably includes a cured film of a photosensitive resin composition from the viewpoint of processability. The planarization layer 8 can be applied by a wet coating method such as spin coating, slit coating, dip coating, spray coating, or printing that can uniformly form a thin film on a base substrate.

감광성 수지 조성물은 (A) 알칼리 가용성 수지, (B) 감광제 및 (C) 유기 용제를 함유하는 것이 바람직하고, (D) 착색 재료를 더 포함해도 좋다. 감광성 수지 조성물로서 (A) 알칼리 가용성 수지와 (B) 감광제를 조합해서 함유시킴으로써 감광성을 이용한 패턴 가공이 가능해진다. 또한, (C) 유기 용제를 함유함으로써 바니시의 상태로 할 수 있고, 도포성을 향상시킬 수 있는 경우가 있다. 또한, 감광성 수지 조성물이 (D) 착색 재료를 함유함으로써 평탄화층을 흑색화할 수 있다. 감광성 수지 조성물은 다른 성분을 더 함유해도 좋다.The photosensitive resin composition preferably contains (A) an alkali-soluble resin, (B) a photosensitive agent, and (C) an organic solvent, and may further contain a coloring material (D). By containing a combination of (A) an alkali-soluble resin and (B) a photosensitive agent as a photosensitive resin composition, pattern processing using photosensitivity becomes possible. Moreover, by containing (C) an organic solvent, it can be made into a varnish state and applicability can be improved in some cases. Additionally, the planarization layer can be blackened by the photosensitive resin composition containing the coloring material (D). The photosensitive resin composition may further contain other components.

(A) 알칼리 가용성 수지의 재료로서는, 예를 들면 아크릴 수지, 에폭시 수지, 폴리아미드 수지, 실록산 수지, 및 이들 수지의 전구체 등을 들 수 있고, 막 두께는 요철을 덮는 것에 충분하면 특별히 한정되지 않는다. 차광성이나 반사 방지의 관점으로부터 착색이 필요하게 된 경우에는, 적당히 착색 재료를 함유하는 것이 바람직하다.(A) Materials of the alkali-soluble resin include, for example, acrylic resin, epoxy resin, polyamide resin, siloxane resin, and precursors of these resins, and the film thickness is not particularly limited as long as it is sufficient to cover the unevenness. . When coloring is required from the viewpoint of light blocking properties or anti-reflection, it is preferable to contain a coloring material appropriately.

<밀봉층><Sealing layer>

제 2 전극을 형성 후, 예를 들면 도 5에 나타내어지는 바와 같이 밀봉층(9)에 의해 밀봉을 행하는 것이 바람직하다. 유기 EL의 발광 소자가 산소나 수분에 약하다고 하기 때문이며, 신뢰성이 높은 표시 장치를 얻기 위해서는 할 수 있는 한 산소와 수분이 적은 분위기하에서 밀봉을 행하는 것이 바람직하다. 밀봉층(9)에 사용하는 부재에 대해서도 가스 배리어성이 높은 것을 선정하는 것이 바람직하고, 기재(1)와 마찬가지로 유리, 수지 필름, 가스 배리어막 등으로부터 적당히 선택한다. 예를 들면, 가스 배리어막의 일례로서 SiO2(산화실리콘), SiN(질화실리콘), SiON(산질화실리콘) 등의 재료를 들 수 있다. 또한, SiO2(산화실리콘), SiN(질화실리콘), SiON(산질화실리콘) 등의 재료를 사용하여 형성된 층 상에 아크릴 수지, 실리콘 수지 등의 수지 재료로 이루어지는 밀봉층(9)을 형성해도 좋다. 톱 에미션형인 표시 장치의 경우에 있어서는 광투과성의 재료로 형성되는 것이 바람직하다.After forming the second electrode, it is preferable to seal it with a sealing layer 9, for example, as shown in FIG. 5. This is because organic EL light-emitting elements are said to be weak to oxygen and moisture, and in order to obtain a highly reliable display device, it is desirable to perform sealing in an atmosphere with as little oxygen and moisture as possible. It is also desirable to select a member with high gas barrier properties for the member used in the sealing layer 9, and similarly to the base material 1, it is appropriately selected from glass, resin film, gas barrier film, etc. For example, examples of gas barrier films include materials such as SiO 2 (silicon oxide), SiN (silicon nitride), and SiON (silicon oxynitride). In addition, the sealing layer 9 made of a resin material such as acrylic resin or silicone resin may be formed on a layer formed using a material such as SiO 2 (silicon oxide), SiN (silicon nitride), or SiON (silicon oxynitride). good night. In the case of a top emission type display device, it is preferably made of a light-transmissive material.

또한, 접착이 필요할 경우에 사용하는 접착제에도 가스 배리어성이 높은 것이 필요하게 되지만, 2액 에폭시 접착제(XNR, Nagase ChemteX Corporation제)나 유기 디바이스용 밀봉재(MOISTURE CUT, MORESCO Corporation제) 등의 일반적으로 알려져 있는 것으로부터 선택하면 좋고, 표시 장치의 주변부에 있어서 프릿 유리를 레이저로 용융하는 방법이어도 좋다.In addition, when adhesion is required, the adhesive used also needs to have high gas barrier properties, but generally, such as two-component epoxy adhesive (XNR, manufactured by Nagase ChemteX Corporation) or sealant for organic devices (MOISTURE CUT, manufactured by MORESCO Corporation), Any known method may be selected, and a method of melting the frit glass in the peripheral portion of the display device with a laser may be used.

또한, 수분으로의 배려로서, 밀봉 공정에서 건조제를 도입하는 것도 유효하다. 건조제로서는 산화바륨이나 산화칼슘 등이 알려져 있지만, 수분의 흡착 성능이 높으면 좋고, 특별히 한정되지 않는다.Additionally, as a consideration for moisture, it is also effective to introduce a desiccant in the sealing process. As a desiccant, barium oxide, calcium oxide, etc. are known, but it is not particularly limited as long as the moisture adsorption performance is high.

<편광층><Polarizing layer>

본 발명의 유기 EL 표시 장치는, 예를 들면 도 5에 나타내어지는 바와 같이 편광층(10)을 더 갖는 것이 바람직하다. 구체적으로는 직선 편광층과 λ/4 위상차층이 적층되고, 표시 장치에 외부로부터 입사한 광의 반사를 억제한다. 직선 편광층으로서는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면 폴리비닐알코올계 필름을 요오드로 염색하여 1축 연신해서 얻어지는 필름이 많이 사용되어 있다. λ/4 위상차층을 구성하는 재료로서도 특별히 한정되지 않지만, 내열성을 갖는 폴리이미드계 수지 등이 바람직하다.The organic EL display device of the present invention preferably further includes a polarizing layer 10, as shown in Fig. 5, for example. Specifically, a linear polarization layer and a λ/4 phase difference layer are stacked, and reflection of light incident on the display device from the outside is suppressed. The linear polarizing layer is not particularly limited, but for example, a film obtained by dyeing a polyvinyl alcohol-based film with iodine and stretching it uniaxially is often used. The material constituting the λ/4 phase difference layer is not particularly limited, but a heat-resistant polyimide resin or the like is preferable.

<자외선 흡수층><UV absorbing layer>

본 발명의 유기 EL 표시 장치는, 예를 들면 도 5에 나타내어지는 바와 같이 자외선 흡수층(11)을 더 갖는 것이 바람직하다. 자외선 흡수층(11)을 가짐으로써 자외선에 의한 기판이나 유기 EL층(5)의 열화를 억제하고, 표시 장치의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 자외선 흡수층(11)으로서는 파장 320㎚ 이하의 광을 흡수하는 층이 바람직하고, 파장 360㎚ 이하의 광을 흡수하는 층이 보다 바람직하고, 파장 420㎚ 이하의 광을 흡수하는 층이 더 바람직하다. 단, 파장 420㎚ 이상의 광은 표시에 사용하는 청색의 발광 파장과 중복되기 때문에, 자외선 흡수층(11)은 파장 420㎚ 이상의 영역에 있어서 높은 투과율을 갖는 것이 바람직하다. 이것은 본 발명의 유기 EL 표시 장치가 옥외에서 사용되는 경우에 있어서 특히 유효하다.The organic EL display device of the present invention preferably further includes an ultraviolet ray absorption layer 11, as shown in Fig. 5, for example. By having the ultraviolet ray absorption layer 11, deterioration of the substrate and the organic EL layer 5 due to ultraviolet rays can be suppressed, and the reliability of the display device can be improved. As the ultraviolet absorption layer 11, a layer that absorbs light with a wavelength of 320 nm or less is preferable, a layer that absorbs light with a wavelength of 360 nm or less is more preferable, and a layer that absorbs light with a wavelength of 420 nm or less is still more preferable. However, since light with a wavelength of 420 nm or more overlaps with the blue emission wavelength used for display, the ultraviolet absorbing layer 11 preferably has a high transmittance in the region with a wavelength of 420 nm or more. This is particularly effective when the organic EL display device of the present invention is used outdoors.

자외선 흡수층(11)은 폴리이미드 수지, 폴리아미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리에스테르 수지, 폴리에테르술폰 수지, 폴리아릴레이트 수지, 폴리올레핀 수지, 폴리에틸렌테레프탈레이트 수지, 폴리메틸메타크릴레이트 수지, 폴리술폰 수지, 폴리에틸렌 수지, 폴리염화비닐 수지, 지환식 올레핀 폴리머 수지, 아크릴계 폴리머 수지, 셀룰로오스에스테르 수지 등의 수지를 함유하는 것이 바람직하다. 이들을 2종 이상 함유해도 좋다. 이들 중에서도, 폴리이미드 수지나 폴리아미드 수지가 보다 바람직하다.The ultraviolet absorbing layer 11 is made of polyimide resin, polyamide resin, polyamideimide resin, polycarbonate resin, polyester resin, polyethersulfone resin, polyarylate resin, polyolefin resin, polyethylene terephthalate resin, and polymethyl methacrylate. It is preferable to contain resins such as polysulfone resin, polyethylene resin, polyvinyl chloride resin, alicyclic olefin polymer resin, acrylic polymer resin, and cellulose ester resin. You may contain two or more of these. Among these, polyimide resin and polyamide resin are more preferable.

자외선 흡수층(11)은 자외선 흡수제를 함유해도 좋다. 자외선 흡수제로서는 벤조페논계 화합물, 옥시벤조페논계 화합물, 벤조트리아졸계 화합물, 살리실레이트계 화합물, 살리실산 에스테르계 화합물, 아크릴니트릴계 화합물, 시아노아크릴레이트계 화합물, 힌더드 아민계 화합물, 트리아진계 화합물, 니켈 착염계 화합물, 초미립자 산화티탄, 금속 착염계 화합물, 그 외 공지의 고분자 자외선 흡수제 등을 들 수 있다. 이들을 2종 이상 함유해도 좋다. 자외선 흡수제는 투명성이 우수한 점에서 벤조트리아졸계 화합물, 벤조페논계 화합물이 바람직하고, 벤조트리아졸계 화합물이 보다 바람직하다.The ultraviolet absorbing layer 11 may contain an ultraviolet absorber. UV absorbers include benzophenone-based compounds, oxybenzophenone-based compounds, benzotriazole-based compounds, salicylate-based compounds, salicylic acid ester-based compounds, acrylnitrile-based compounds, cyanoacrylate-based compounds, hindered amine-based compounds, and triazine-based compounds. compounds, nickel complex salt compounds, ultrafine titanium oxide, metal complex salt compounds, and other known polymer ultraviolet absorbers. You may contain two or more of these. Since the ultraviolet absorber has excellent transparency, benzotriazole-based compounds and benzophenone-based compounds are preferable, and benzotriazole-based compounds are more preferable.

고분자 자외선 흡수제로서는, 예를 들면 Otsuka Chemical Co., Ltd.제의 반응형 자외선 흡수제 RUVA-93을 아크릴계 모노머와 공중합시킨 것을 들 수 있다.As a polymer ultraviolet absorber, for example, a reactive ultraviolet absorber RUVA-93 manufactured by Otsuka Chemical Co., Ltd. can be copolymerized with an acrylic monomer.

<유기 EL 표시 장치의 제조 방법><Method for manufacturing organic EL display device>

본 발명의 유기 EL 표시 장치의 제조 방법은 기재(1) 상에 제 1 전극(2), 화소 분할층(3), 스페이서(4)를 갖는 기판, 또한 유기 EL층(5) 및 제 2 전극(6)을 갖는 유기 EL 표시 장치의 제조 방법으로서, 화소 분할층(3)과 스페이서(4)를 일괄 가공하는 공정을 갖고, 일괄 가공을 위한 포토마스크가 투광부, 차광부 및 반투광부를 갖는 하프톤 포토마스크이다.The manufacturing method of the organic EL display device of the present invention includes a substrate having a first electrode 2, a pixel dividing layer 3, and a spacer 4 on a substrate 1, and an organic EL layer 5 and a second electrode. A manufacturing method of an organic EL display device having (6), comprising a step of batch processing the pixel split layer (3) and the spacer (4), wherein a photomask for batch processing has a light transmitting portion, a light blocking portion, and a semi-transmissive portion. It is a halftone photomask.

본 발명의 유기 EL 표시 장치의 제조 방법의 일례에 대해서, 도 5의 톱 에미션형 유기 EL 표시 장치를 제조하는 경우를 예로서 사용해서 설명한다.An example of the manufacturing method of the organic EL display device of the present invention will be described using the case of manufacturing the top emission type organic EL display device in FIG. 5 as an example.

우선, 수지 필름인 기재 상에 배선과 TFT(7)를 형성한다. 공정으로서는 「게이트 전극 형성 공정」, 「게이트 절연막 형성 공정」, 「Si막 형성 공정」, 「소스, 드레인 전극 형성 공정」 등의 TFT 형성 공정에 추가하여, 전기적인 접속을 확보하기 위한 배선을 배치하지만, 모두 공지의 방법을 사용해서 형성할 수 있다.First, wiring and the TFT 7 are formed on a base material that is a resin film. As a process, in addition to the TFT formation process such as “gate electrode formation process”, “gate insulating film formation process”, “Si film formation process”, and “source, drain electrode formation process”, wiring is placed to ensure electrical connection. However, all can be formed using known methods.

이어서, 평탄화층(8)을 슬릿 코팅법으로 도포해서 성막, 가열 경화시킨다. 이때에, 제 1 전극(2)과의 접속을 목적으로 한 콘택트 홀을 형성해 두지만, 평탄화층(8)으로서 사용하는 재료가 감광성이면 포토리소그래피 가공으로, 비감광이면 레지스트 재료를 마스크로 한 일반적인 에칭 가공으로 대응할 수 있다. 이와 같이 해서 기재(1)가 완성된다.Next, the planarization layer 8 is applied by a slit coating method, formed into a film, and cured by heating. At this time, a contact hole is formed for the purpose of connection with the first electrode 2, but if the material used as the planarization layer 8 is photosensitive, it is photolithographically processed, and if it is not photosensitive, it is used as a general process using a resist material as a mask. This can be handled by etching processing. In this way, the base (1) is completed.

계속해서, 기재 상에 제 1 전극(2)으로서 AgPdCu와 ITO를 순서대로 성막하고, 패터닝 가공을 실시해서 제 1 전극(2)으로 한다.Subsequently, AgPdCu and ITO are sequentially deposited on the substrate as the first electrode 2, and patterning is performed to form the first electrode 2.

본 발명의 유기 EL 표시 장치의 제조 방법은 제 1 전극(2)의 공극에 화소 분할층(3)을, 또한 화소 분할층 상에 스페이서(4)를 형성한다. 공정으로서는, 감광성 수지를 전체 면 도포한 후에 포토리소그래피 가공으로 제 1 전극 상에 개구부를 형성하고, 개구부가 표시 화소가 된다.The manufacturing method of the organic EL display device of the present invention forms a pixel split layer (3) in the gap of the first electrode (2) and further forms a spacer (4) on the pixel split layer. As a process, after applying photosensitive resin to the entire surface, an opening is formed on the first electrode through photolithography processing, and the opening becomes a display pixel.

본 발명의 유기 EL 표시 장치의 제조 방법은, 화소 분할층(3)과 화소 분할층 상에 스페이서(4)를 형성하는 공정을 일괄 가공으로 행하고, 화소 분할층(3)과 스페이서(4)를 일괄 가공하기 위한 포토마스크가 투광부, 차광부 및 반투광부를 갖는 하프톤 포토마스크일 필요가 있다. 일반적으로, 감광성을 이용한 가공을 행하는 경우에는 차광부와 투광부로 구성되는 풀톤 마스크를 사용하지만, 본 발명에서 사용하는 하프톤 포토마스크란, 예를 들면 도 6과 같이 투광부(12) 및 차광부(14)를 포함하는 패턴을 갖는 것에 추가하여, 투광부(12)와 차광부(14) 사이에 투과율이 투광부(12)의 값보다 낮고, 또한 투과율이 차광부(14)의 값보다 높은 반투광부(13)를 갖는 포토마스크를 말한다. 하프톤 포토마스크를 사용해서 노광함으로써, 현상 후 및 가열 경화 후에 단차형상을 갖는 패턴을 형성하는 것이 가능해진다. 또한, 감광성 수지 조성물이 포지티브형일 경우, 상기 투광부에 의해 활성 화학선이 조사된 노광부가 알칼리 가용성을 발현하여 개구부가 되고, 상기 차광부에 의해 활성 화학선을 조사하지 않는 미노광부가 두께막이 되고, 스페이서(4)에 상당하고, 상기 반투광부를 통해 활성 화학선을 조사한 하프톤 노광부는 스페이서(4)보다 막 두께가 작은 상기 화소 분할층(3)에 상당하다. 반대로, 감광성 수지 조성물이 네거티브형일 경우, 상기 투광부를 통해 활성 화학선을 조사한 경화부는 상기 스페이서(4)에 상당하고, 상기 반투광부를 통해 활성 화학선을 조사한 하프톤 노광부는 상기 화소 분할층(3)에 상당하다.The manufacturing method of the organic EL display device of the present invention includes forming the pixel split layer 3 and the spacer 4 on the pixel split layer by batch processing, and forming the pixel split layer 3 and the spacer 4. The photomask for batch processing needs to be a halftone photomask having a light transmitting part, a light blocking part, and a semi-transmissive part. Generally, when performing processing using photosensitivity, a full-tone mask composed of a light-shielding portion and a light-transmitting portion is used. However, the halftone photomask used in the present invention includes a light-transmitting portion 12 and a light-shielding portion as shown in FIG. 6, for example. In addition to having a pattern including (14), the transmittance between the light transmitting portion 12 and the light blocking portion 14 is lower than the value of the light transmitting portion 12, and the transmittance is higher than the value of the light transmitting portion 14. It refers to a photomask having a semi-transmissive portion (13). By exposing using a halftone photomask, it becomes possible to form a pattern with a step shape after development and heat curing. In addition, when the photosensitive resin composition is a positive type, the exposed portion irradiated with active actinic rays by the light transmitting portion develops alkali solubility and becomes an opening, and the unexposed portion not irradiated with active actinic rays by the light shielding portion becomes a thick film. , corresponds to the spacer 4, and the halftone exposed portion irradiated with active actinic rays through the semi-transmissive portion corresponds to the pixel division layer 3 whose film thickness is smaller than that of the spacer 4. Conversely, when the photosensitive resin composition is a negative type, the cured portion irradiated with active actinic rays through the light transmitting portion corresponds to the spacer 4, and the halftone exposure portion irradiated with active actinic rays through the semi-transmissive portion corresponds to the pixel division layer 3. ) is equivalent to

후술하는 바와 같이, 본 발명에 있어서 사용되는 하프톤 포토마스크로서는, 반투광부의 투과율이 투광부의 투과율의 15~50%인 것이 바람직하다. 상기 투광부의 투과율을 (%TFT)로 한 경우, 상기 반투광부의 투과율(%THT)은 (%TFT)의 15% 이상이 바람직하고, 20% 이상이 더 바람직하다. 반투광부의 투과율(%THT)이 상기 범위 내이면, 단차형상을 갖는 경화 패턴 형성 시의 노광량을 저감할 수 있음으로써 택트 타임 단축이 가능해진다. 한편, 반투광부의 투과율(%THT)은 (%TFT)의 50% 이하가 바람직하고, 45% 이하가 더 바람직하다. 반투광부의 투과율(%THT)이 상기 범위 내이면, 스페이서(4)와 화소 분할층(3)의 막 두께차를 충분히 크게 할 수 있음으로써 표시 장치의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 또한, 반투과부의 투과율이 상기 범위에 있으면, 감광성 수지 조성물의 패터닝 가공에 있어서 반투광부에서 충분한 활성 화학선의 노광량이 얻어지지 않게 되고, 활성 화학선의 조사 후에 행하는 현상 공정 후 화소 분할층(3)과 스페이서(4)의 표면 거칠기에 상위함이 발생하게 된다. 이와 같이 해서, 화소 분할층(3)의 표면 거칠기 Ra1과 스페이서(4)의 표면 거칠기 Ra2의 차의 절대값에 차를 둠으로써, 상술한 바와 같이 2종류의 앵커 효과를 얻고, 밀착성의 향상을 달성한다. 앵커 효과를 효과적으로 얻기 위해서도, Ra1과 Ra2의 차는 1.0㎚ 이상 확보하는 것이 바람직하다. 반투광부의 투과율에 추가하여, 감광성 수지 조성물에 착색 재료나 발액 재료를 함유하는 것 등, 수지 조성의 조정에 의해서도 Ra1, Ra2 모두 조정이 가능하다.As will be described later, as a halftone photomask used in the present invention, it is preferable that the transmittance of the semi-transmissive portion is 15 to 50% of the transmittance of the translucent portion. When the transmittance of the translucent portion is (%TFT), the transmittance (%THT) of the semi-transmissive portion is preferably 15% or more, and more preferably 20% or more of (%TFT). If the transmittance (%THT) of the semi-transparent portion is within the above range, the exposure amount when forming a cured pattern having a step shape can be reduced, thereby enabling shortening of the tact time. Meanwhile, the transmittance (%THT) of the semi-transparent portion is preferably 50% or less of (%TFT), and more preferably 45% or less. If the transmittance (%THT) of the semi-transmissive portion is within the above range, the film thickness difference between the spacer 4 and the pixel dividing layer 3 can be sufficiently increased, thereby improving the reliability of the display device. Furthermore, if the transmittance of the semi-transmissive portion is in the above range, a sufficient amount of active actinic ray exposure cannot be obtained in the semi-transmissive portion during patterning processing of the photosensitive resin composition, and the pixel division layer 3 and Differences occur in the surface roughness of the spacer 4. In this way, by differentiating the absolute value of the difference between the surface roughness Ra1 of the pixel dividing layer 3 and the surface roughness Ra2 of the spacer 4, two types of anchor effects are obtained as described above, and adhesion is improved. achieve In order to effectively obtain the anchor effect, it is desirable to ensure that the difference between Ra1 and Ra2 is 1.0 nm or more. In addition to the transmittance of the semi-transparent portion, both Ra1 and Ra2 can be adjusted by adjusting the resin composition, such as including a coloring material or a liquid-repellent material in the photosensitive resin composition.

또한, 상술한 하프톤 포토마스크를 사용한 공정에 추가하여, 연마재를 사용하는 기계 연마나, 연마재를 분사하는 숏 블라스트나 웨트 블라스트, 플라즈마 처리나 RIE 등의 드라이 에칭 처리 등, 몇 개의 방법을 조합해서 표면 거칠기를 조정하는 것도 가능하지만, 본 발명에 있어서는 Ra1과 Ra2의 차의 절대값이 1.0㎚ 이상이 되도록 하기 위해서도, 하프톤 포토마스크를 사용하는 것이 필요해진다.In addition to the process using the halftone photomask described above, several methods can be combined, such as mechanical polishing using an abrasive, shot blasting or wet blasting by spraying an abrasive, and dry etching treatment such as plasma treatment or RIE. Although it is possible to adjust the surface roughness, in the present invention, it is necessary to use a halftone photomask to ensure that the absolute value of the difference between Ra1 and Ra2 is 1.0 nm or more.

본 발명의 유기 EL 표시 장치의 제조 방법에 있어서는, 후술하는 유기 EL층(5)을 형성하는 공정 전에 세정을 행하는 공정을 가져도 좋다. 일반적으로, 제 1 전극 표면에는 포토리소그래피 가공 등 이전 공정의 오염이 잔존하고 있는 경우도 많기 때문에, 웨트나 드라이의 세정을 행하는 것은 유효하다. 웨트 세정이면 유기 용제나 계면활성제, 물, 산액, 알칼리액 등을 사용해서 침지, 초음파 세정, 자비(煮沸) 세정 등으로부터 선택할 수 있다. 또한, 드라이 세정이면 글로우 방전 처리, 플라즈마 방전 처리, UV/오존 처리 등으로부터 선택할 수 있다. 산소 분위기를 사용한 드라이 세정이면 오염 물질의 제거나 일함수의 조정이 가능하다. 제 1 전극(2)의 특성을 조정함으로써, 제 1 전극(2)으로부터 인접하는 유기 EL층(5)으로의 캐리어 주입 효율이 높아지고, 결과적으로 발광 효율이나 신뢰성 등 표시 장치로서의 특성이 향상되기 쉬워진다.In the method for manufacturing an organic EL display device of the present invention, a cleaning step may be included before the step of forming the organic EL layer 5 described later. In general, since there are many cases where contamination from previous processes such as photolithography processing remains on the surface of the first electrode, wet or dry cleaning is effective. Wet cleaning can be done using organic solvents, surfactants, water, acid solutions, alkaline solutions, etc., and can be selected from immersion, ultrasonic cleaning, boiling cleaning, etc. Additionally, in the case of dry cleaning, you can select from glow discharge treatment, plasma discharge treatment, UV/ozone treatment, etc. Dry cleaning using an oxygen atmosphere allows removal of contaminants and adjustment of work function. By adjusting the characteristics of the first electrode 2, the carrier injection efficiency from the first electrode 2 to the adjacent organic EL layer 5 is increased, and as a result, the characteristics of the display device, such as luminous efficiency and reliability, are likely to be improved. Lose.

계속해서, 본 발명의 유기 EL 표시 장치의 제조 방법은 유기 EL층(5)을 형성하는 공정을 갖는다. 유기 EL층(5)을 구성하는 정공 수송층이나 발광층, 전자 수송층 등 각 층은 공지의 방법으로 형성할 수 있고, 예를 들면 마스크 증착법이나 잉크젯법에 의해 형성할 수 있다.Continuing, the manufacturing method of the organic EL display device of the present invention includes a step of forming the organic EL layer 5. Each layer, such as a hole transport layer, a light-emitting layer, and an electron transport layer, which constitute the organic EL layer 5, can be formed by a known method, for example, by a mask deposition method or an inkjet method.

마스크 증착법이란, 증착 마스크를 사용해서 유기 화합물을 증착하여 패터닝하는 방법이며, 예를 들면 소망의 패턴을 개구부로 한 증착 마스크를 기판의 증착원측에 배치해서 증착을 행하는 방법을 들 수 있다. 고정밀도의 증착 패턴을 얻기 위해서는, 평탄성이 높은 증착 마스크를 기판에 밀착시키는 것이 중요하며, 일반적으로 증착 마스크에 장력을 가하는 기술이나, 기판 배면에 배치한 자석에 의해 증착 마스크를 기판에 밀착시키는 기술 등을 사용할 수 있다. 단, 기판과 증착 마스크의 접촉에 의한 파티클의 발생은 패널의 제품 비율 저하나, 발광 소자의 열화에 연결되기 때문에, 증착 마스크와 접촉하는 스페이서(4)를 할 수 있는 한 작게, 또한 적게 하는 것이 바람직하다.The mask deposition method is a method of depositing and patterning an organic compound using a deposition mask, for example, a method of depositing by placing a deposition mask with a desired pattern as an opening on the deposition source side of the substrate. In order to obtain a high-precision deposition pattern, it is important to adhere a highly flat deposition mask to the substrate. Generally, a technique is used to apply tension to the deposition mask or to adhere the deposition mask to the substrate using a magnet placed on the back of the substrate. etc. can be used. However, since the generation of particles due to contact between the substrate and the deposition mask leads to a decrease in the product ratio of the panel and deterioration of the light emitting element, it is better to keep the spacer 4 in contact with the deposition mask as small as possible. desirable.

증착 마스크의 제조 방법으로서는 에칭법이나 기계적 연마, 샌드 블라스트법, 소결법, 레이저 가공법, 감광성 수지의 이용, 전기 주조법 등을 들 수 있지만, 미세한 패턴이 필요한 경우에는 가공 정밀도가 우수한 에칭법이나 전기 주조법을 사용하는 것이 바람직하다.Methods for producing a deposition mask include etching, mechanical polishing, sand blasting, sintering, laser processing, use of photosensitive resin, and electroforming. However, when a fine pattern is required, etching or electroforming with excellent processing precision can be used. It is desirable to use

마스크 증착법이나 잉크젯법은 패턴이 세밀해질수록 난이도가 높기 때문에, 예를 들면 발광색을 결정하는 발광층 등 필요 최소한으로 채용하는 것이 요구된다. 이 경우, 예를 들면 발광층 이외의 정공 수송층이나 전자 수송층 등을 각 색 공통으로 함으로써 전체 면에 성막하는 것이 허용되고, 패널의 제품 비율 향상이나 코스트 다운을 달성할 수 있다.Since the mask deposition method or inkjet method becomes more difficult as the pattern becomes more detailed, it is required to employ the minimum necessary amount, for example, of a light-emitting layer that determines the light-emitting color. In this case, for example, by making the hole transport layer and electron transport layer other than the light emitting layer common to each color, it is allowed to form a film on the entire surface, thereby improving the product ratio and reducing the cost of the panel.

본 발명의 유기 EL 표시 장치의 제조 방법은 제 2 전극(6)을 형성하는 공정을 더 갖는다. 형성 방법은 공지의 방법을 사용할 수 있지만, 밑바탕이 되는 유기 EL층(5)의 열화나 대미지를 피하기 쉽기 때문에, 진공 증착법이 바람직하다.The manufacturing method of the organic EL display device of the present invention further includes a step of forming the second electrode 6. Although known methods can be used for the formation method, vacuum deposition is preferable because it is easy to avoid deterioration or damage to the underlying organic EL layer 5.

도 5의 유기 EL 표시 장치를 제조하는 방법에 있어서는 제 2 전극(6)을 형성하는 공정 후 밀봉층(9), 편광층(10), 자외선 흡수층(11)을 순서대로 적층 형성한다. 각 층 모두 공지의 방법으로 형성할 수 있고, 이상과 같이 해서 도 5의 유기 EL 표시 장치가 완성된다.In the method of manufacturing the organic EL display device of FIG. 5, after the step of forming the second electrode 6, the sealing layer 9, the polarizing layer 10, and the ultraviolet absorbing layer 11 are sequentially laminated. Each layer can be formed by a known method, and as described above, the organic EL display device of FIG. 5 is completed.

(실시예)(Example)

이하, 실시예 등을 들어서 본 발명을 설명하지만, 본 발명은 이들 예에 의해 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

이하의 각 평가에 있어서 시험 n수가 기재되어 있지 않은 것에 대해서는, n=1로 평가를 행했다.In each of the following evaluations, for cases where the test n number was not described, the evaluation was performed with n = 1.

<화소 분할층과 스페이서의 막 두께 측정, 테이퍼 관찰><Measurement of film thickness of pixel division layer and spacer, observation of taper>

각 실시예 및 비교예에 있어서의 화소 분할층과 스페이서의 막 두께는, 패턴을 갖는 기판(100㎜×100㎜)의 화소 분할층과 스페이서의 단차로부터, 표면 거칠기 측정기(SURFCOM 1400D, TOKYO SEIMITSU CO., LTD.제)를 사용해서 측정했다. 테이퍼의 모양은, 패턴을 갖는 기판을 절단한 단면을 주사형 전자 현미경(SEM, S-3000N, Hitachi High-Tech Corporation제)으로 관찰했다.The film thickness of the pixel division layer and the spacer in each example and comparative example was determined from the level difference between the pixel division layer and the spacer on the patterned substrate (100 mm × 100 mm) using a surface roughness measuring device (SURFCOM 1400D, TOKYO SEIMITSU CO. ., LTD.) was used to measure it. The shape of the taper was observed through a scanning electron microscope (SEM, S-3000N, manufactured by Hitachi High-Tech Corporation) on a cross section of a patterned substrate.

<화소 분할층과 스페이서의 표면 거칠기><Surface roughness of pixel division layer and spacer>

각 실시예 및 비교예에 있어서의 화소 분할층과 스페이서의 표면 거칠기는, 패턴을 갖는 기판(100㎜×100㎜)의 화소 분리층과 스페이서 상을 원자간력 현미경(AFM, Dimension Icon, Bruker Corporation제)으로 관찰한 결과 중, 산술 평균 거칠기(Ra)를 채용했다. 관찰 조건으로서는 RTESP-300 프로브, 태핑 모드, 스캔 사이즈 5㎛□, 스캔 레이트 0.1㎐, 샘플 라인수 1024개로 했다.The surface roughness of the pixel separation layer and spacer in each example and comparative example was determined by examining the pixel separation layer and spacer of a patterned substrate (100 mm × 100 mm) using an atomic force microscope (AFM, Dimension Icon, Bruker Corporation). Among the observed results, the arithmetic average roughness (Ra) was adopted. Observation conditions were RTESP-300 probe, tapping mode, scan size of 5 ㎛□, scan rate of 0.1 Hz, and number of sample lines were 1024.

<화소 분할층에 포함되는 실리카 입자의 관찰><Observation of silica particles included in the pixel division layer>

각 실시예 및 비교예에 있어서의 화소 분할층에 포함되는 실리카 입자는, 투과형 전자 현미경-에너지 분산형 X선 분광법(TEM-EDX)에 의해 배율 50000배의 조건으로 관측한 촬상을 화상 해석식 입도 분포 측정기(Mac-View, MOUNTECH Co., Ltd.제)를 사용해서 측정했다. 즉, 패턴을 갖는 기판(100㎜×100㎜)의 화소 분할층의 단면에 있어서 TEM의 촬상 상의 실리카 입자를 무작위로 30개 선택하고(시험 n수 30), 각각에 대해서 TEM의 촬상 상의 장경, 단경, 및 애스펙트비를 측정하고, 장경(㎚)이 5~30㎚이며, 또한 애스펙트비가 1.0~1.5의 범위에 있는 실리카 입자를 (a) 성분이라고 정의했다. 또한, 1개의 실리카 입자에 대해서 TEM의 촬상 상의 단경과 장경이 동일한 경우, 즉 진원이었던 경우에는 그 직경을 장경으로 간주했다. (a) 성분에 해당하는 실리카 입자의 특징을 나타내는 대표값으로서는 1차 입자 지름의 평균값, 즉 장경의 평균값을 산출하고, 소수점 1번째 자리를 반올림한 값, 및 애스펙트비의 평균값, 즉 (a) 성분에 해당하는 각각의 실리카 입자의 애스펙트비의 평균값을 산출하고, 소수점 2번째 자리를 반올림한 값을 사용했다.The silica particles contained in the pixel dividing layer in each Example and Comparative Example were imaged using a transmission electron microscope-energy dispersive It was measured using a distribution measuring device (Mac-View, manufactured by MOUNTECH Co., Ltd.). That is, in the cross section of the pixel division layer of the patterned substrate (100 mm The minor axis and aspect ratio were measured, and silica particles with a major axis (nm) of 5 to 30 nm and an aspect ratio in the range of 1.0 to 1.5 were defined as component (a). In addition, for one silica particle, if the minor axis and major axis in the TEM image were the same, that is, if it was a perfect circle, the diameter was regarded as the major axis. Representative values representing the characteristics of silica particles corresponding to component (a) are the average value of the primary particle diameter, i.e., the average value of the major axis, calculated and rounded to one decimal place, and the average value of the aspect ratio, i.e. (a) The average value of the aspect ratio of each silica particle corresponding to the component was calculated, and the value rounded to 2 decimal places was used.

각 실시예 및 비교예에 있어서의 (a) 성분의 유무를, (a) 성분 있음을 A, (a) 성분 없음을 B로 해서 표 10에, (a) 성분이 존재한 실시예 23, 24, 25의 단면 해석 결과를 표 11에 나타낸다.The presence or absence of component (a) in each example and comparative example is shown in Table 10, with A indicating the presence of the component (a) and B indicating the absence of the component (a). Examples 23 and 24 in which the component (a) was present. The cross-sectional analysis results of , 25 are shown in Table 11.

<확산 반사광 측정><Diffuse reflected light measurement>

각 실시예 및 비교예에 있어서의 기판의 확산 반사광 측정은, 패턴을 갖는 기판(100㎜×100㎜)의 화소 분리층과 스페이서가 형성된 면을 분광 측색계(CM-2600d, KONICA MINOLTA JAPAN, INC.제)로 측정하고, 정반사광 제거인 SCE 모드에 있어서의 파장 550㎚의 확산 반사율을 채용했다. 확산 반사율이 높을수록 정반사광을 억제할 수 있다고 해서, 특성 양호로 판정했다.The diffused reflected light of the substrate in each example and comparative example was measured by measuring the surface of the patterned substrate (100 mm .J) was measured, and the diffuse reflectance at a wavelength of 550 nm in SCE mode, which removes regular reflection light, was adopted. It was said that the higher the diffuse reflectance, the better the ability to suppress regular reflected light, so the characteristics were judged to be good.

<밀착성 시험><Adhesion test>

각 실시예 및 비교예에 있어서의 유기 EL 표시 장치의 밀착성 시험은 도 7에 나타내는 바와 같이, 발광 소자가 형성된 기판(100㎜×100㎜)의 발광 소자가 형성된 면과 반대면의 중앙부에 직경 5㎜의 금속 원기둥을 고정하고, 이 원기둥을 따라 원기둥의 랩각 0°(기판이 평면인 상태)로부터 원기둥으로의 랩각이 180°(원기둥에서 되접힌 상태)가 되는 범위에서 반복해서 절곡 동작을 행한 후, 절곡부를 광학 현미경으로 관찰했다. 박리 발생이 절곡 동작 1~100회이었던 것은 밀착성이 낮아 특성 (C), 101~1000회이었던 것을 특성 (B), 1001회 이상이었던 것은 밀착성이 높아 특성 (A)로 판정했다. 또한, 시험은 10회 행하고(시험 n수 10), 박리 발생까지의 횟수가 가장 작은 결과를 채용했다.As shown in FIG. 7, the adhesion test of the organic EL display device in each Example and Comparative Example was performed on a substrate (100 mm A metal cylinder of ㎜ is fixed, and a bending operation is repeatedly performed along this cylinder in a range from the cylinder's wrap angle of 0° (when the substrate is flat) to the cylinder's wrap angle of 180° (when the cylinder is folded back). , the bends were observed under an optical microscope. Those in which peeling occurred between 1 and 100 bending operations were judged to be characteristic (C) due to low adhesion, those with 101 to 1000 bending operations were judged to be characteristic (B), and those with 1001 or more bending operations were judged to be characteristic (A) due to high adhesion. In addition, the test was performed 10 times (test n number 10), and the result with the smallest number of times until peeling occurred was adopted.

<내후 신뢰성 시험><Weather reliability test>

각 실시예 및 비교예에 있어서의 유기 EL 표시 장치의 내후 신뢰성 시험은, 후술하는 각 실시예 및 비교예에서 제작한 유기 EL 표시 장치의 실온 23℃ 습도 45%에서 24시간 방치 후의 모양을 확인했다. 시험에는 표시 장치를 10개 투입하고(시험 n수 10), 제 2 전극에 부식이 관찰되지 않은 경우에는 내후 신뢰성 양호로서 (A), 1개라도 부식이 관찰된 경우에는 제 2 전극에 핀홀 있음으로서 (B)의 판정으로 했다.The weathering reliability test of the organic EL display device in each example and comparative example confirmed the appearance of the organic EL display device manufactured in each example and comparative example described later after being left for 24 hours at room temperature 23°C and humidity 45%. . 10 display devices were put into the test (test n number: 10), and if corrosion was not observed on the second electrode, the weather resistance reliability was good (A). If corrosion was observed on even one device, there was a pinhole in the second electrode. As such, it was decided as (B).

<전기 신뢰성 시험><Electrical reliability test>

각 실시예 및 비교예에 있어서의 유기 EL 표시 장치의 전기 신뢰성 시험은, 후술하는 각 실시예 및 비교예에서 제작한 유기 EL 표시 장치에 있어서, 인접하는 2개의 스트라이프상 제 1 전극 사이에 전압 5V를 인가했을 때의 전류값을 측정했다. 측정에는 소스 미터(2400, Keithley Instruments, Inc.제)를 사용하고, 전류값이 작을수록 누설 전류가 적어 특성 양호로 판정했다. 또한, 시험은 20군데에서 행하고(시험 n수 20), 측정 결과의 대소 5개씩을 제외한 10회분의 평균값을 채용했다.The electrical reliability test of the organic EL display device in each Example and Comparative Example was conducted by testing the organic EL display device manufactured in each Example and Comparative Example described later by measuring a voltage of 5V between two adjacent stripe-shaped first electrodes. The current value when applied was measured. A source meter (2400, manufactured by Keithley Instruments, Inc.) was used for the measurement, and the smaller the current value, the smaller the leakage current, so the characteristics were judged to be good. In addition, the test was conducted at 20 locations (n. of tests was 20), and the average value of 10 measurements was adopted, excluding 5 large and small measurements.

<발광 특성 시험><Luminous characteristics test>

각 실시예 및 비교예에 있어서의 유기 EL 표시 장치의 발광 특성 시험은, 후술하는 각 실시예 및 비교예에서 제작한 유기 EL 표시 장치에 있어서, 교차하는 제 1 전극과 제 2 전극을 1쌍 선택한 1개의 발광 소자에 10㎃/㎠의 전류를 흘렸을 때의 전압과 휘도를 측정했다. 전압의 측정에는 소스 미터(2400, Keithley Instruments, Inc.제)를 사용하고, 휘도의 측정에는 분광 방사 휘도계(CS-1000, KONICA MINOLTA, INC제)를 사용했다.The luminescence characteristic test of the organic EL display device in each example and comparative example was performed by selecting a pair of crossing first and second electrodes in the organic EL display device manufactured in each example and comparative example described later. The voltage and luminance when a current of 10 mA/cm2 was passed through one light emitting element were measured. A source meter (2400, manufactured by Keithley Instruments, Inc.) was used to measure voltage, and a spectroradiometer (CS-1000, manufactured by KONICA MINOLTA, Inc.) was used to measure luminance.

<제 1 전극과 하프톤 포토마스크의 설계><Design of the first electrode and halftone photomask>

각 실시예 및 비교예에 있어서의 제 1 전극과 하프톤 포토마스크의 설계를 도 6에 나타낸다. 도 6a와 같이, 제 1 전극(2)은 기재(1)(100㎜×100㎜)의 중앙부에 선폭 60㎛, 100㎛ 피치, 길이 10㎜, 100개를 스트라이프상으로 제작했다. 즉, 기재(1)의 노출 부분은 40㎛ 폭이 된다. 이것에 대해서, 포지티브형용 하프톤 포토마스크(b)는 차광부(14)가 스페이서, 반투광부(13)가 화소 분할층이 되도록 100㎛ 피치로 각 선폭을 조정했다. 네거티브형용 하프톤 포토마스크(c)는 투광부(12)가 스페이서, 반투광부(13)가 화소 분할층이 되도록 각 선폭(I와 II)을 조정했다. 어느 쪽의 경우에도, 화소 분할층과 스페이서가 제 1 전극의 공극에 배치되도록 도 6과 같이 위치 맞춤을 행했다. 완성된 기판에 있어서는 선폭(I)이 화소 분할층과 유기 EL층의 접하는 계면, 선폭(II)이 스페이서와 유기 EL층의 접하는 계면에 상당하다.The design of the first electrode and halftone photomask in each example and comparative example is shown in FIG. 6. As shown in FIG. 6A, 100 first electrodes 2 were manufactured in the form of stripes with a line width of 60 μm, a pitch of 100 μm, and a length of 10 mm in the central part of the substrate 1 (100 mm × 100 mm). That is, the exposed portion of the substrate 1 is 40 μm wide. In contrast, in the positive halftone photomask (b), each line width was adjusted at a pitch of 100 μm so that the light-shielding portion 14 served as a spacer and the semi-transmissive portion 13 served as a pixel dividing layer. In the negative halftone photomask (c), the line widths (I and II) were adjusted so that the light-transmissive portion 12 was a spacer and the semi-transmissive portion 13 was a pixel dividing layer. In either case, alignment was performed as shown in FIG. 6 so that the pixel division layer and the spacer were disposed in the gap of the first electrode. In the completed substrate, the line width (I) corresponds to the interface where the pixel division layer and the organic EL layer contact, and the line width (II) corresponds to the interface where the spacer contacts the organic EL layer.

<감광성 수지 조성물의 조제><Preparation of photosensitive resin composition>

각 실시예 및 비교예에서 사용한 감광성 수지 조성물 R-1~R-15는, 다음과 같이 해서 조제했다. 또한, 사용한 화합물 중 약어를 사용하고 있는 것에 대해서 명칭을 이하에 나타낸다.Photosensitive resin compositions R-1 to R-15 used in each Example and Comparative Example were prepared as follows. In addition, among the compounds used, the names of those for which abbreviations are used are shown below.

BAHF: 2,2-비스(3-아미노-4-히드록시페닐)헥사플루오로프로판BAHF: 2,2-bis(3-amino-4-hydroxyphenyl)hexafluoropropane

BFE: 1,2-비스(4-포르밀페닐)에탄BFE: 1,2-bis(4-formylphenyl)ethane

BIP-PHBZ: 4,4',4"-메틸리딘트리스페놀(ASAHI YUKIZAI CORPORATION제)BIP-PHBZ: 4,4',4"-methylidine trisphenol (manufactured by ASAHI YUKIZAI CORPORATION)

BYK-333: 실리콘계 계면활성제 "BYK"(등록 상표) 333(BYK-Chemie GmbH제)BYK-333: Silicone-based surfactant "BYK" (registered trademark) 333 (manufactured by BYK-Chemie GmbH)

DAE: 디아미노디페닐에테르DAE: Diaminodiphenyl ether

DFA: N,N-디메틸포름아미드디메틸아세탈DFA: N,N-dimethylformamidedimethylacetal

DMAA: N,N-디메틸아크릴아미드DMAA: N,N-dimethylacrylamide

DPCA-60: 카프로락톤 6몰 변성 디펜타에리스리톨헥사아크릴레이트(펜틸렌옥시쇄를 6개 갖는 6관능 아크릴레이트, Nippon Kayaku Co., Ltd.제)DPCA-60: Caprolactone 6 mol modified dipentaerythritol hexaacrylate (a hexafunctional acrylate with 6 pentyleneoxy chains, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)

EL: 락트산 에틸EL: ethyl lactate

FAMAC-6: 2-(퍼플루오로헥실)에틸메타크릴레이트FAMAC-6: 2-(perfluorohexyl)ethyl methacrylate

GBL: γ-부티로락톤GBL: γ-butyrolactone

GMA: 글리시딜메타크릴레이트GMA: Glycidyl methacrylate

HA: 히드록시기 함유 디아민 화합물HA: diamine compound containing hydroxy group

HMOM-TPHAP: 페놀성 수산기를 갖고, 또한 페놀성 수산기의 양 오쏘 위치에 분자량 40 이상의 치환기를 갖는 하기 화학식으로 나타내는 화합물(Honshu Chemical Industry Co., Ltd.제)HMOM-TPHAP: A compound represented by the following formula having a phenolic hydroxyl group and substituents with a molecular weight of 40 or more at both ortho positions of the phenolic hydroxyl group (manufactured by Honshu Chemical Industry Co., Ltd.)

KBM-403: 3-글리시독시프로필트리메톡시실란(Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.제)KBM-403: 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)

MAP: 3-아미노페놀; 메타아미노페놀MAP: 3-aminophenol; meta-aminophenol

MBA: 3-메톡시-n-부틸아세테이트MBA: 3-methoxy-n-butylacetate

MEK-ST-40: 실리카 입자 분산액(Nissan Chemical Corporation제). 용제종은 메틸에틸케톤이다MEK-ST-40: Silica particle dispersion (manufactured by Nissan Chemical Corporation). The solvent species is methyl ethyl ketone.

MEK-ST-L: 실리카 입자 분산액(Nissan Chemical Corporation제). 용제종은 메틸에틸케톤이다MEK-ST-L: Silica particle dispersion (manufactured by Nissan Chemical Corporation). The solvent species is methyl ethyl ketone.

MeTMS: 메틸트리메톡시실란MeTMS: Methyltrimethoxysilane

NA: 5-노보넨-2,3-디카르복실산 무수물; 나딕산 무수물NA: 5-norbornene-2,3-dicarboxylic anhydride; nadic anhydride

TMOS: 테트라메톡시실란TMOS: Tetramethoxysilane

NCI-831: "ADEKA ARKLS"(등록 상표) NCI-831(ADEKA CORPORATION제)NCI-831: "ADEKA ARKLS" (registered trademark) NCI-831 (made by ADEKA CORPORATION)

NMP: N-메틸-2-피롤리돈NMP: N-methyl-2-pyrrolidone

ODPA: 비스(3,4-디카르복시페닐)에테르 2무수물; 옥시디프탈산 2무수물ODPA: bis(3,4-dicarboxyphenyl)ether dianhydride; Oxidiphthalic dianhydride

OSCAL-1421: 실리카 입자 분산액(JGC Catalysts and Chemicals Ltd.제). 용제종은 이소프로필알코올이다OSCAL-1421: Silica particle dispersion (manufactured by JGC Catalysts and Chemicals Ltd.). The solvent is isopropyl alcohol.

PGME: 프로필렌글리콜모노메틸에테르PGME: propylene glycol monomethyl ether

PGMEA: 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트PGMEA: propylene glycol monomethyl ether acetate

PhTMS: 페닐트리메톡시실란PhTMS: phenyltrimethoxysilane

S0100CF: Irgaphor Black(등록 상표) S0100CFS0100CF: Irgaphor Black (registered trademark) S0100CF

SiDA: 1,3-비스(3-아미노프로필)테트라메틸디실록산SiDA: 1,3-bis(3-aminopropyl)tetramethyldisiloxane

S-20000: "SOLSPERSE"(등록 상표) 20000(폴리에테르계 분산제, Lubrizol Corporation제)S-20000: "SOLSPERSE" (registered trademark) 20000 (polyether-based dispersant, manufactured by Lubrizol Corporation)

TMSSucA: 3-트리메톡시실릴프로필숙신산 무수물TMSSucA: 3-trimethoxysilylpropylsuccinic anhydride

TrisP-PA: 1,1-비스(4-히드록시페닐)-1-[4-[1-(4-히드록시페닐)-1-메틸에틸]페닐]에탄(Honshu Chemical Industry Co., Ltd.제)TrisP-PA: 1,1-bis(4-hydroxyphenyl)-1-[4-[1-(4-hydroxyphenyl)-1-methylethyl]phenyl]ethane (Honshu Chemical Industry Co., Ltd. my)

WR-301: "ADEKA ARKLS"(등록 상표) WR-301(ADEKA CORPORATION제)WR-301: “ADEKA ARKLS” (registered trademark) WR-301 (made by ADEKA CORPORATION)

KARENZ MOI-BM: 메타크릴산 2-(0-[1'-메틸프로필리덴아미노]카르복시아미노)에틸KARENZ MOI-BM: 2-(0-[1'-methylpropylideneamino]carboxyamino)ethyl methacrylate

비스페놀 AF: 2,2-비스(4-히드록시페닐)헥사플루오로프로판(Central Glass Co., Ltd.제)Bisphenol AF: 2,2-bis(4-hydroxyphenyl)hexafluoropropane (manufactured by Central Glass Co., Ltd.)

6FDA: 2,2-(3,4-디카르복시페닐)헥사플루오로프로판 2무수물; 4,4'-헥사플루오로프로판-2,2-디일-비스(1,2-프탈산무수물)6FDA: 2,2-(3,4-dicarboxyphenyl)hexafluoropropane dianhydride; 4,4'-Hexafluoropropane-2,2-diyl-bis(1,2-phthalic anhydride)

안료 분산제 1: 일본 특허공개 2020/70352호의 합성예 2에서 개시된 안료 분산제 1(고형분 100중량%). 직쇄상 폴리알킬렌아민 구조와 폴리에테르계 고분자쇄를 갖는 폴리머형 분산제.Pigment Dispersant 1: Pigment Dispersant 1 (solid content 100% by weight) disclosed in Synthesis Example 2 of Japanese Patent Application Laid-Open No. 2020/70352. A polymer-type dispersant with a linear polyalkylene amine structure and a polyether polymer chain.

<합성예 1 폴리이미드 수지(PI-1)의 합성><Synthesis Example 1 Synthesis of polyimide resin (PI-1)>

건조 질소 기류하, 3구 플라스크에 BAHF를 31.13g(0.085㏖; 전체 아민 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 77.3㏖%), SiDA를 1.24g(0.0050㏖; 전체 아민 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 4.5㏖%), 말단 밀봉제로서 MAP를 2.18g(0.020㏖; 전체 아민 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 18.2㏖%), NMP를 150.00g 칭량해서 용해시켰다. 여기에, NMP 50.00g에 ODPA를 31.02g(0.10㏖; 전체 카르복실산 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 100㏖%) 녹인 용액을 첨가하고, 20℃에서 1시간 교반하고, 이어서 50℃에서 4시간 교반했다. 그 후, 크실렌 15g을 첨가하고, 물을 크실렌과 함께 공비하면서 150℃에서 5시간 교반했다. 반응 종료 후 반응 용액을 물 3L에 투입하고, 석출한 고체 침전을 여과해서 얻었다. 얻어진 고체를 물로 3회 세정한 후, 80℃의 진공 건조기로 24시간 건조하여 폴리이미드 수지(PI-1)를 얻었다. 얻어진 폴리이미드 수지(PI-1)의 중량 평균 분자량(Mw)은 27,000, 산 당량은 350이었다.Under a dry nitrogen stream, 31.13 g (0.085 mol; 77.3 mol% of structural units derived from all amines and their derivatives) of BAHF and 1.24 g (0.0050 mol; of structural units derived from all amines and their derivatives) were added to a three-necked flask. 4.5 mol% relative to the structural unit), 2.18 g (0.020 mol; 18.2 mol% relative to the structural units derived from all amines and their derivatives) of MAP as an end cap agent, and 150.00 g of NMP were weighed and dissolved. Here, a solution of 31.02 g (0.10 mol; 100 mol% of structural units derived from all carboxylic acids and their derivatives) of ODPA dissolved in 50.00 g of NMP was added, stirred at 20°C for 1 hour, and then stirred at 50°C. and stirred for 4 hours. After that, 15 g of xylene was added, and the mixture was stirred at 150°C for 5 hours while azeotropically mixing water with xylene. After completion of the reaction, the reaction solution was added to 3 L of water, and the precipitated solid was filtered. The obtained solid was washed with water three times and then dried in a vacuum dryer at 80°C for 24 hours to obtain polyimide resin (PI-1). The weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyimide resin (PI-1) was 27,000 and the acid equivalent was 350.

<합성예 2 HA의 합성><Synthesis Example 2 Synthesis of HA>

3구 플라스크에 BAHF를 18.31g(0.05㏖), 프로필렌옥시드를 17.42g(0.3㏖), 아세톤을 100mL 칭량해서 용해시켰다. 여기에, 아세톤 10mL에 염화 3-니트로벤조일을 20.41g(0.11㏖) 녹인 용액을 적하했다. 적하 종료 후, -15℃에서 4시간 반응시키고, 그 후 실온으로 되돌렸다. 석출한 백색 고체를 여과 채취하고, 50℃에서 진공 건조시켰다. 얻어진 고체 30g을 300mL의 스테인리스 오토클레이브에 넣고, 2-메톡시에탄올 250mL에 분산시키고, 5% 팔라듐 탄소를 2g 첨가했다. 여기에 수소를 풍선으로 도입하고, 실온에서 2시간 반응시켰다. 2시간 후, 풍선이 더 이상 오므라지지 않는 것을 확인했다. 반응 종료 후, 여과해서 촉매인 팔라듐 화합물을 제거하고, 감압 증류 제거시켜서 농축하여 하기 구조의 히드록시기 함유 디아민 화합물(HA)을 얻었다.In a three-necked flask, 18.31 g (0.05 mol) of BAHF, 17.42 g (0.3 mol) of propylene oxide, and 100 mL of acetone were weighed and dissolved. Here, a solution of 20.41 g (0.11 mol) of 3-nitrobenzoyl chloride dissolved in 10 mL of acetone was added dropwise. After the dropwise addition was completed, the reaction was performed at -15°C for 4 hours and then returned to room temperature. The precipitated white solid was collected by filtration and dried under vacuum at 50°C. 30 g of the obtained solid was placed in a 300 mL stainless steel autoclave, dispersed in 250 mL of 2-methoxyethanol, and 2 g of 5% palladium carbon was added. Hydrogen was introduced using a balloon and reacted at room temperature for 2 hours. After 2 hours, it was confirmed that the balloon was no longer deflated. After completion of the reaction, the catalyst palladium compound was removed by filtration, distilled off under reduced pressure, and concentrated to obtain a hydroxy group-containing diamine compound (HA) having the following structure.

<합성예 3 폴리이미드 전구체 수지(PIP-1)의 합성><Synthesis Example 3 Synthesis of polyimide precursor resin (PIP-1)>

건조 질소 기류하, 3구 플라스크에 6FDA를 44.42g(0.10㏖; 전체 카르복실산 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 100㏖%), NMP를 150g 칭량해서 용해시켰다. 여기에, NMP 50g에 BAHF를 14.65g(0.040㏖; 전체 아민 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 32.0㏖%), HA를 18.14g(0.030㏖; 전체 아민 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 24.0㏖%), SiDA를 1.24g(0.0050㏖; 전체 아민 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 4.0㏖%) 녹인 용액을 첨가하고, 20℃에서 1시간 교반하고, 이어서 50℃에서 2시간 교반했다. 이어서, 말단 밀봉제로서 NMP 15g에 MAP를 5.46g(0.050㏖; 전체 아민 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 40.0㏖%) 녹인 용액을 첨가하고, 50℃에서 2시간 교반했다. 그 후, NMP 15g에 DFA를 23.83g(0.20㏖) 녹인 용액을 투입했다. 투입 종료 후, 50℃에서 3시간 교반했다. 반응 종료 후, 반응 용액을 실온에 냉각한 후 반응 용액을 물 3L에 투입하고, 석출한 고체 침전을 여과해서 얻었다. 얻어진 고체를 물로 3회 세정한 후, 80℃의 진공 건조기로 24시간 건조하고, 폴리이미드 전구체 수지(PIP-1)를 얻었다. 얻어진 폴리이미드 전구체 수지(PIP-1)의 중량 평균 분자량(Mw)은 20,000, 산 당량은 450이었다.Under a dry nitrogen stream, 44.42 g (0.10 mol; 100 mol% of structural units derived from all carboxylic acids and their derivatives) of 6FDA and 150 g of NMP were weighed and dissolved in a three-necked flask. Here, in 50 g of NMP, 14.65 g (0.040 mol; 32.0 mol% of the structural units derived from all amines and their derivatives) and 18.14 g (0.030 mol; of structural units derived from all amines and their derivatives) of HA. A solution containing 24.0 mol%) and 1.24 g (0.0050 mol; 4.0 mol% relative to structural units derived from all amines and their derivatives) of SiDA was added, stirred at 20°C for 1 hour, and then stirred at 50°C for 2 hours. Stirred. Next, as an end capping agent, a solution of 5.46 g (0.050 mol; 40.0 mol% of structural units derived from all amines and their derivatives) of MAP dissolved in 15 g of NMP was added, and stirred at 50°C for 2 hours. After that, a solution of 23.83 g (0.20 mol) of DFA dissolved in 15 g of NMP was added. After completion of the addition, it was stirred at 50°C for 3 hours. After completion of the reaction, the reaction solution was cooled to room temperature, the reaction solution was added to 3 L of water, and the precipitated solid was filtered. After washing the obtained solid three times with water, it was dried in a vacuum dryer at 80°C for 24 hours to obtain a polyimide precursor resin (PIP-1). The weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyimide precursor resin (PIP-1) was 20,000 and the acid equivalent was 450.

<합성예 4 폴리이미드 전구체 수지(PIP-2)의 합성><Synthesis Example 4 Synthesis of polyimide precursor resin (PIP-2)>

건조 질소 기류하, 합성예 2에서 얻어진 HA를 21.2g(0.035㏖), DAE를 7.0g(0.035㏖), SiDA를 1.2g(0.005㏖)을 NMP 400g에 용해했다. 여기에, ODPA 31.0g(0.10㏖)을 NMP 50g과 함께 첨가하고, 40℃에서 1시간 교반했다. 그 후, MAP 5.5g(0.050㏖)을 첨가해서 40℃에서 1시간 교반했다. 또한, NMP 10g에 DFA를 8.3g(0.07㏖)을 녹인 용액을 투입했다. 투입 종료 후, 40℃에서 3시간 교반했다. 교반 종료 후, 용액을 실온까지 냉각한 후 용액을 물 3L에 투입해서 백색 침전을 얻었다. 이 침전을 여과로 모으고, 물로 3회 세정한 후 50℃의 진공 건조기로 72시간 건조하고, 산 당량 275g/㏖의 폴리이미드 전구체 수지로 이루어지는 알칼리 가용성 수지(PIP-2)를 얻었다.Under a dry nitrogen stream, 21.2 g (0.035 mol) of HA, 7.0 g (0.035 mol) of DAE, and 1.2 g (0.005 mol) of SiDA obtained in Synthesis Example 2 were dissolved in 400 g of NMP. Here, 31.0 g (0.10 mol) of ODPA was added along with 50 g of NMP, and stirred at 40°C for 1 hour. After that, 5.5 g (0.050 mol) of MAP was added and stirred at 40°C for 1 hour. Additionally, a solution of 8.3 g (0.07 mol) of DFA dissolved in 10 g of NMP was added. After the addition was completed, it was stirred at 40°C for 3 hours. After the stirring was completed, the solution was cooled to room temperature and then added to 3L of water to obtain a white precipitate. This precipitate was collected by filtration, washed three times with water, and then dried in a vacuum dryer at 50°C for 72 hours to obtain an alkali-soluble resin (PIP-2) made of a polyimide precursor resin with an acid equivalent of 275 g/mol.

<합성예 5 폴리이미드 전구체 수지(PIP-3)의 합성><Synthesis Example 5 Synthesis of polyimide precursor resin (PIP-3)>

합성예 4와 마찬가지의 방법으로, 투입하는 DFA의 양을 13.1g(0.11㏖)으로 함으로써 산 당량 329g/㏖의 폴리이미드 전구체 수지로 이루어지는 알칼리 가용성 수지(PIP-3)를 얻었다.In the same manner as in Synthesis Example 4, an alkali-soluble resin (PIP-3) consisting of a polyimide precursor resin with an acid equivalent of 329 g/mol was obtained by adjusting the amount of DFA charged to 13.1 g (0.11 mol).

<합성예 6 폴리이미드 전구체 수지(PIP-4)의 합성><Synthesis Example 6 Synthesis of polyimide precursor resin (PIP-4)>

합성예 4와 마찬가지의 방법으로, 투입하는 DFA의 양을 16.7g(0.14㏖)으로 함으로써 산 당량 366g/㏖의 폴리이미드 전구체 수지로 이루어지는 알칼리 가용성 수지(PIP-4)를 얻었다.In the same manner as in Synthesis Example 4, an alkali-soluble resin (PIP-4) consisting of a polyimide precursor resin with an acid equivalent weight of 366 g/mol was obtained by adjusting the amount of DFA charged to 16.7 g (0.14 mol).

<합성예 7 폴리벤조옥사졸 수지(PBO-1)의 합성><Synthesis Example 7 Synthesis of polybenzoxazole resin (PBO-1)>

톨루엔을 충족한 딘스타크 물 분리기 및 냉각관을 부착한 500mL 둥근 바닥 플라스크에 BAHF를 34.79g(0.095㏖; 전체 아민 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 95.0㏖%), SiDA를 1.24g(0.0050㏖; 전체 아민 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 5.0㏖%), NMP를 75.00g 칭량해서 용해시켰다. 여기에, NMP 25.00g에 BFE를 19.06g(0.080㏖; 전체 카르복실산 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 66.7㏖%), 말단 밀봉제로서 NA를 6.57g(0.040㏖; 전체 카르복실산 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 33.3㏖%) 녹인 용액을 첨가하고, 20℃에서 1시간 교반하고, 이어서 50℃에서 1시간 교반했다. 그 후, 질소 분위기하, 200℃ 이상에서 10시간 가열 교반하고, 탈수 반응을 행했다. 반응 종료 후, 반응 용액을 물 3L에 투입하고, 석출한 고체 침전을 여과해서 얻었다. 얻어진 고체를 물로 3회 세정한 후, 80℃의 진공 건조기로 24시간 건조하고, 폴리벤조옥사졸 수지(PBO-1)를 얻었다. 얻어진 폴리벤조옥사졸 수지(PBO-1)의 중량 평균 분자량(Mw)은 25,000, 산 당량은 330이었다.In a 500 mL round-bottomed flask equipped with a Dean-Stark water separator and cooling tube containing toluene, 34.79 g (0.095 mol; 95.0 mol% of structural units derived from all amines and their derivatives) of BAHF and 1.24 g (0.0050 mol) of SiDA. mol; 5.0 mol% relative to the structural units derived from all amines and their derivatives), 75.00 g of NMP was weighed and dissolved. Here, 19.06 g (0.080 mol; 66.7 mol% of structural units derived from total carboxylic acids and their derivatives) of BFE to 25.00 g of NMP, and 6.57 g (0.040 mol; total carboxylic acids) of NA as an end capping agent. and the structural unit derived from its derivative (33.3 mol%) was added and stirred at 20°C for 1 hour, followed by stirring at 50°C for 1 hour. After that, the mixture was heated and stirred at 200°C or higher for 10 hours under a nitrogen atmosphere to perform a dehydration reaction. After completion of the reaction, the reaction solution was added to 3 L of water, and the precipitated solid was filtered. After washing the obtained solid three times with water, it was dried in a vacuum dryer at 80°C for 24 hours to obtain polybenzoxazole resin (PBO-1). The weight average molecular weight (Mw) of the obtained polybenzoxazole resin (PBO-1) was 25,000, and the acid equivalent was 330.

<합성예 8 폴리벤조옥사졸 전구체 수지(PBOP-1)의 합성><Synthesis Example 8 Synthesis of polybenzoxazole precursor resin (PBOP-1)>

톨루엔을 충족한 딘스타크 물 분리기 및 냉각관을 부착한 500mL 둥근 바닥 플라스크에 BAHF를 34.79g(0.095㏖; 전체 아민 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 95.0㏖%), SiDA를 1.24g(0.0050㏖; 전체 아민 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 5.0㏖%), NMP를 70.00g 칭량해서 용해시켰다. 여기에, NMP 20.00g에 BFE를 19.06g(0.080㏖; 전체 카르복실산 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 66.7㏖%) 녹인 용액을 첨가하고, 20℃에서 1시간 교반하고, 이어서 50℃에서 2시간 교반했다.In a 500 mL round-bottomed flask equipped with a Dean-Stark water separator and cooling tube containing toluene, 34.79 g (0.095 mol; 95.0 mol% of structural units derived from all amines and their derivatives) of BAHF and 1.24 g (0.0050 mol) of SiDA. mol; 5.0 mol% relative to the structural units derived from all amines and their derivatives), 70.00 g of NMP was weighed and dissolved. Here, a solution of 19.06 g (0.080 mol; 66.7 mol% of structural units derived from total carboxylic acids and their derivatives) of BFE dissolved in 20.00 g of NMP was added, stirred at 20°C for 1 hour, and then stirred at 50°C. and stirred for 2 hours.

이어서, 말단 밀봉제로서 NMP 10g에 NA를 6.57g(0.040㏖; 전체 카르복실산 및 그 유도체로부터 유래되는 구조 단위에 대해서 33.3㏖%) 녹인 용액을 첨가하고, 50℃에서 2시간 교반했다. 그 후, 질소 분위기하, 100℃에서 2시간 교반했다. 반응 종료 후, 반응 용액을 물 3L에 투입하고, 석출한 고체 침전을 여과해서 얻었다. 얻어진 고체를 물로 3회 세정한 후, 80℃의 진공 건조기로 24시간 건조하고, 폴리벤조옥사졸 전구체 수지(PBOP-1)를 얻었다. 얻어진 폴리벤조옥사졸 전구체 수지(PBOP-1)의 중량 평균 분자량(Mw)은 20,000, 산 당량은 330이었다.Next, as an end capping agent, a solution of 6.57 g (0.040 mol; 33.3 mol% based on structural units derived from all carboxylic acids and their derivatives) of NA dissolved in 10 g of NMP was added, and stirred at 50°C for 2 hours. After that, it was stirred at 100°C for 2 hours under a nitrogen atmosphere. After completion of the reaction, the reaction solution was added to 3 L of water, and the precipitated solid was filtered. After washing the obtained solid three times with water, it was dried in a vacuum dryer at 80°C for 24 hours to obtain polybenzoxazole precursor resin (PBOP-1). The weight average molecular weight (Mw) of the obtained polybenzoxazole precursor resin (PBOP-1) was 20,000 and the acid equivalent was 330.

<합성예 9 폴리실록산 수지 용액(PS-1)의 합성><Synthesis Example 9 Synthesis of polysiloxane resin solution (PS-1)>

3구 플라스크에 MeTMS를 23.84g(35㏖%), PhTMS를 49.57g(50㏖%), TMOS를 3.81g(5㏖%), PGMEA를 76.36g 주입했다. 플라스크 내에 공기를 0.05L/분으로 흘리고, 혼합 용액을 교반하면서 오일 배스에서 40℃로 가열했다. 혼합 용액을 더 교반하면서, 물 28.38g에 인산 0.271g을 녹인 인산 수용액을 10분 걸쳐서 적하했다. 적하 종료 후, 40℃에서 30분간 교반하고, 실란 화합물을 가수 분해시켰다. 가수 분해 종료 후, PGMEA 8.48g에 TMSSucA 13.12g(10㏖%)을 녹인 용액을 첨가했다. 그 후, 배스 온도를 70℃로 해서 1시간 교반한 후, 계속해서 배스 온도를 115℃까지 승온했다. 승온 개시 후, 약 1시간 후에 용액의 내부 온도가 100℃에 도달하고, 거기에서 2시간 가열 교반했다(내부 온도는 100~110℃). 2시간 가열 교반해서 얻어진 수지 용액을 빙욕에 의해 냉각한 후, 음이온 교환 수지 및 양이온 교환 수지를 각각 수지 용액에 대해서 2중량% 첨가하여 12시간 교반했다. 교반 후, 음이온 교환 수지 및 양이온 교환 수지를 여과해서 제거하여 폴리실록산 수지 용액(PS-1)을 얻었다. 얻어진 폴리실록산 수지의 중량 평균 분자량(Mw)은 4,200이며, 카르복실산 당량(산 당량)은 700g/㏖이었다.23.84 g (35 mol%) of MeTMS, 49.57 g (50 mol%) of PhTMS, 3.81 g (5 mol%) of TMOS, and 76.36 g of PGMEA were injected into the three-necked flask. Air was flowed into the flask at 0.05 L/min, and the mixed solution was heated to 40°C in an oil bath while stirring. While further stirring the mixed solution, an aqueous phosphoric acid solution containing 0.271 g of phosphoric acid dissolved in 28.38 g of water was added dropwise over 10 minutes. After completion of the dropwise addition, the mixture was stirred at 40°C for 30 minutes to hydrolyze the silane compound. After completion of hydrolysis, a solution of 13.12 g (10 mol%) of TMSSucA dissolved in 8.48 g of PGMEA was added. After that, the bath temperature was set to 70°C and stirred for 1 hour, and then the bath temperature was continuously raised to 115°C. After the start of the temperature increase, the internal temperature of the solution reached 100°C about 1 hour later, and the solution was heated and stirred for 2 hours (internal temperature was 100 to 110°C). After heating and stirring the resulting resin solution for 2 hours and cooling it in an ice bath, 2% by weight of anion exchange resin and cation exchange resin were added to the resin solution, respectively, and stirred for 12 hours. After stirring, the anion exchange resin and cation exchange resin were removed by filtration to obtain a polysiloxane resin solution (PS-1). The weight average molecular weight (Mw) of the obtained polysiloxane resin was 4,200, and the carboxylic acid equivalent (acid equivalent) was 700 g/mol.

<합성예 10 감광제(퀴논디아지드 화합물 b-1)의 합성><Synthesis Example 10 Synthesis of photosensitizer (quinonediazide compound b-1)>

건조 질소 기류하, TrisP-PA(상품명, Honshu Chemical Industry Co., Ltd.제) 21.22g(0.05몰)과 5-나프토퀴논디아지드술포닐산 클로라이드 36.27g(0.135몰)을 1,4-디옥산 450g에 용해시키고, 실온으로 했다. 여기에, 1,4-디옥산 50g과 혼합한 트리에틸아민 15.18g을, 계내가 35℃ 이상이 되지 않도록 적하했다. 적하 후 30℃에서 2시간 교반했다. 트리에틸아민염을 여과하고, 여과액을 물에 투입했다. 그 후, 석출한 침전을 여과로 모았다. 이 침전을 진공 건조기로 건조시켜서 하기 구조의 감광제(퀴논디아지드 화합물 b-1)를 얻었다.Under a dry nitrogen stream, 21.22 g (0.05 mol) of TrisP-PA (trade name, manufactured by Honshu Chemical Industry Co., Ltd.) and 36.27 g (0.135 mol) of 5-naphthoquinone diazidesulfonilic acid chloride were mixed with 1,4-di. It was dissolved in 450 g of oxalic acid and brought to room temperature. Here, 15.18 g of triethylamine mixed with 50 g of 1,4-dioxane was added dropwise so that the temperature inside the system did not exceed 35°C. After dropping, it was stirred at 30°C for 2 hours. The triethylamine salt was filtered, and the filtrate was added to water. Afterwards, the precipitate that precipitated was collected by filtration. This precipitate was dried with a vacuum dryer to obtain a photosensitizer (quinonediazide compound b-1) with the following structure.

<조염 화합물 d-1의 조제><Preparation of salt-forming compound d-1>

세퍼러블 플라스크에 염기성 염료로서 C. I. 베이식 블루 7 9.25g(0.018몰), 순수 200g을 투입하고, 60℃에서 30분 교반했다. 산성 염료로서 C. I. 애시드 레드 52 11.50g(0.019.8몰)을 순수 120g에 용해시킨 수용액을 투입 후, 60℃에서 60분 교반했다. 그 후, 가열을 정지하여 실온까지 교반 냉각했다. 실온까지 냉각 후, 반응액을 여과하여 자색의 고체를 얻었다. 이 고체를 감압하 60℃에서 8시간 건조시켜서 조염 화합물 d-1을 얻었다.9.25 g (0.018 mol) of C.I. Basic Blue 7 and 200 g of pure water as a basic dye were added to the separable flask, and stirred at 60°C for 30 minutes. As an acid dye, an aqueous solution in which 11.50 g (0.019.8 mol) of C.I. Acid Red 52 was dissolved in 120 g of pure water was added and stirred at 60°C for 60 minutes. After that, heating was stopped and the mixture was stirred and cooled to room temperature. After cooling to room temperature, the reaction solution was filtered to obtain a purple solid. This solid was dried at 60°C under reduced pressure for 8 hours to obtain salt-forming compound d-1.

<조염 화합물 d-2의 조제><Preparation of salt-forming compound d-2>

d-1과 마찬가지의 방법으로, 염기성 염료로서 C. I. 베이식 블루 7 대신에 C. I. 베이식 블루 26을 사용해서 조염 화합물 d-2를 얻었다.In the same manner as d-1, salt-forming compound d-2 was obtained using C.I. Basic Blue 26 instead of C.I. Basic Blue 7 as a basic dye.

<안료 분산액 1의 조제><Preparation of pigment dispersion 1>

용제 성분인 742.39g의 PGMEA 중에 염기성기를 갖는 안료 분산제인 15.00g의 S-20000을 첨가한 후에, 4-메틸벤젠술폰산을 1.00중량% 함유하는 PGMEA 용액을 2.70g 첨가했다. 이어서, 대기압하/액온 25℃에서 1시간 교반 후, 6시간 더 정치시킴으로써 S-20000이 갖는 염기성기와, 4-메틸벤젠술폰산이 갖는 술포기를 미리 염형성시켰다. 또한, 149.91g의 알칼리 가용성 수지 용액(상기 PIP-1을 고형분 30중량%가 되도록 PGMEA를 사용해서 용해하여 얻어진 수지 용액(고형분 30.0중량%))을 첨가하고, 30분간 교반한 후에 90.00g의 하기 구조로 나타내어지는 벤조디푸라논계 흑색 안료를 혼합해서 20분간 교반하여 예비 분산액을 얻었다. 분산용 미디어로서 0.4㎜φ의 지르코니아 비즈("TORAYCERAM"(등록 상표), Toray Industries, Inc.제)가 75체적% 충전된 비즈 밀에 예비 분산액을 송액해서 분산 처리를 1회 행하고, 이어서 순환식으로 습식 미디어 분산 처리를 행했다. 30분간을 경과한 이후, 분산 처리 시간이 10분간 경과할 때마다 분산기의 토출구로부터 유리병 용기 중으로 적량 뽑아내어 샘플링한 안료 분산액을 레이저 회절·산란법 입도 분포 측정 장치(UPA150, Microtrac Retsch GmbH제)에 세팅해서 평균 분산 입자 지름을 측정했다. 샘플링하고 나서 30분간 경과한 시점에서의 평균 분산 입자 지름이 메디아 지름 D50(누적 50% 체적 평균 지름)으로서 150±10㎚이며, 또한 메디아 지름 D90(누적 90% 체적 평균 지름)으로서 300±30㎚의 범위 내가 된 안료 분산액을 「안료 분산액 1」로 했다.After adding 15.00 g of S-20000, a pigment dispersant having a basic group, to 742.39 g of PGMEA as a solvent component, 2.70 g of a PGMEA solution containing 1.00% by weight of 4-methylbenzenesulfonic acid was added. Next, after stirring for 1 hour at atmospheric pressure/liquid temperature of 25°C, the mixture was allowed to stand for an additional 6 hours to form a salt in advance of the basic group of S-20000 and the sulfo group of 4-methylbenzenesulfonic acid. Additionally, 149.91 g of alkali-soluble resin solution (resin solution obtained by dissolving PIP-1 using PGMEA to a solid content of 30% by weight (solid content 30.0% by weight)) was added, and after stirring for 30 minutes, 90.00 g of the following was added. The benzodifuranone-based black pigment represented by the structure was mixed and stirred for 20 minutes to obtain a preliminary dispersion. The preliminary dispersion liquid is fed into a bead mill filled with 75% by volume of 0.4 mmϕ zirconia beads ("TORAYCERAM" (registered trademark), manufactured by Toray Industries, Inc.) as a dispersion medium, and dispersion treatment is performed once, followed by a circulation method. Wet media dispersion treatment was performed. After 30 minutes, every 10 minutes of dispersion treatment time, an appropriate amount is extracted from the discharge port of the disperser into the glass bottle container, and the sampled pigment dispersion is subjected to a laser diffraction/scattering method particle size distribution measuring device (UPA150, manufactured by Microtrac Retsch GmbH). was set to measure the average dispersed particle diameter. The average dispersed particle diameter at 30 minutes after sampling is 150 ± 10 nm as media diameter D50 (cumulative 50% volume average diameter), and 300 ± 30 nm as media diameter D90 (cumulative 90% volume average diameter). The pigment dispersion liquid that fell within the range was designated as “pigment dispersion liquid 1.”

<안료 분산액 2의 조제><Preparation of pigment dispersion 2>

「안료 분산액 1」과 마찬가지의 수순으로, PIP-1의 용해를 PGMEA로 바꾸고 MBA를 사용해서 「안료 분산액 2」를 조제했다.In the same procedure as in “Pigment Dispersion 1,” the dissolution of PIP-1 was changed to PGMEA, and “Pigment Dispersion 2” was prepared using MBA.

<안료 분산액 3의 조제><Preparation of pigment dispersion 3>

열 플라즈마법에 의해 제조한 질화지르코늄 입자(ZrN, NISSHIN ENGINEERING INC.제) 200g, 폴리이미드 전구체 수지(PIP-1) 50g, 및 γ-부티로락톤(GBL) 1000g을 탱크에 주입하고, 호모믹서로 20분 교반하여 예비 분산액을 얻었다. 0.05㎜φ 지르코니아 비즈를 75체적% 충전한 원심 분리 세퍼레이터를 구비한 분산기(ULTRA APEX MILL, Hiroshima Metal & Machinery Co., Ltd.제)로 얻어진 예비 분산액을 공급하고, 회전 속도 10m/s로 3시간 분산을 행하여 고형분 농도 20중량%, 착색재/수지(중량비)=80/20의 안료 분산액 3을 얻었다. 조성을 표 1에 나타낸다.200 g of zirconium nitride particles (ZrN, manufactured by NISSHIN ENGINEERING INC.) manufactured by the thermal plasma method, 50 g of polyimide precursor resin (PIP-1), and 1000 g of γ-butyrolactone (GBL) were injected into the tank and mixed with a homomixer. The mixture was stirred for 20 minutes to obtain a preliminary dispersion. The obtained preliminary dispersion was supplied to a disperser (ULTRA APEX MILL, manufactured by Hiroshima Metal & Machinery Co., Ltd.) equipped with a centrifugal separator filled with 75% by volume of 0.05 mmϕ zirconia beads, and incubated at a rotation speed of 10 m/s for 3 hours. Dispersion was performed to obtain pigment dispersion 3 with a solid content concentration of 20% by weight and a colorant/resin (weight ratio) = 80/20. The composition is shown in Table 1.

<안료 분산액 4의 조제><Preparation of pigment dispersion 4>

안료 분산액 3와 마찬가지의 방법으로, 투입하는 알칼리 가용성 수지를 PIP-2로 함으로써 안료 분산액 4를 얻었다.In the same manner as pigment dispersion 3, pigment dispersion 4 was obtained by changing the alkali-soluble resin to be added to PIP-2.

<안료 분산액 5의 조제><Preparation of pigment dispersion 5>

안료 분산액 3와 마찬가지의 방법으로, 투입하는 알칼리 가용성 수지를 PIP-3으로 함으로써 안료 분산액 5를 얻었다.In the same manner as pigment dispersion 3, pigment dispersion 5 was obtained by changing the alkali-soluble resin to be added to PIP-3.

<안료 분산액 6의 조제><Preparation of pigment dispersion 6>

안료 분산액 3와 마찬가지의 방법으로, 투입하는 알칼리 가용성 수지를 PIP-4로 함으로써 안료 분산액 6을 얻었다.In the same manner as pigment dispersion 3, pigment dispersion 6 was obtained by changing the alkali-soluble resin to be added to PIP-4.

<안료 분산액 7의 조제><Preparation of pigment dispersion 7>

용제인 770.00g의 PGMEA에 30.00g의 안료 분산제 1을 첨가하고, 5분간 교반한 후에 100.00g의 ZCR-1569H를 첨가해서 30분간 교반했다. 또한, (b) 성분으로서 100.00g의 S0100CF를 첨가한 후 30분간 교반해서 예비 교반액을 얻었다. 0.4㎜φ의 복합 산화물로 이루어지는 분쇄 미디어(산화지르코늄:산화하프늄:산화이트륨:산화알루미늄=중량비 93.3:1.5:4.9:0.3, Toray Industries, Inc.제)가 충전율 75체적%로 베셀 내에 충전된 종형 비즈 밀에 예비 교반액을 송액하고, 순환 방식으로 제 1 습식 미디어 분산 처리를 둘레 속도 8m/s로 3시간 행했다. 또한, 0.05㎜φ의 복합 산화물로 이루어지는 분쇄 미디어(산화지르코늄:산화하프늄:산화이트륨:산화알루미늄=중량비 93.3:1.5:4.9:0.3, Toray Industries, Inc.제)가 충전율 75체적%로 베셀 내에 충전된 종형 비즈 밀에 송액하고, 순환 방식으로 제 2 습식 미디어 분산 처리를 둘레 속도 9m/s로 6시간 행한 후, 구경 0.8㎛의 필터로 여과를 행하여 고형분 20.00중량%의 안료 분산액 1을 조제했다. 각 원료의 배합 중량을 표 2에 나타낸다.30.00 g of Pigment Dispersant 1 was added to 770.00 g of PGMEA as a solvent, and after stirring for 5 minutes, 100.00 g of ZCR-1569H was added and stirred for 30 minutes. Additionally, after adding 100.00 g of S0100CF as component (b), it was stirred for 30 minutes to obtain a preliminary stirred solution. A vertical vessel filled with pulverizing media (zirconium oxide: hafnium oxide: yttrium oxide: aluminum oxide = weight ratio 93.3:1.5:4.9:0.3, manufactured by Toray Industries, Inc.) made of a complex oxide of 0.4 mmϕ at a filling rate of 75% by volume. The preliminary stirring liquid was sent to the bead mill, and the first wet media dispersion treatment was performed in a circular manner at a circumferential speed of 8 m/s for 3 hours. In addition, pulverizing media (zirconium oxide: hafnium oxide: yttrium oxide: aluminum oxide = weight ratio 93.3:1.5:4.9:0.3, manufactured by Toray Industries, Inc.) made of a complex oxide of 0.05 mmϕ was filled into the vessel at a filling rate of 75% by volume. The liquid was sent to a vertical bead mill, and a second wet media dispersion treatment was performed in a circular manner at a circumferential speed of 9 m/s for 6 hours, followed by filtration through a filter with a diameter of 0.8 μm to prepare Pigment Dispersion 1 with a solid content of 20.00% by weight. The combined weight of each raw material is shown in Table 2.

<감광성 수지 조성물 R-1의 조제><Preparation of photosensitive resin composition R-1>

황색등 하, 1:1의 중량 비율인 γ-부티로락톤(GBL) 및 락트산 에틸(EL)의 (C) 용제에 (A) 알칼리 가용성 수지로서 합성예 1에서 얻은 폴리이미드 전구체 수지 PI-1, (B) 감광제로서 합성예 10에서 얻은 화합물 b-1, (D) 착색 재료 중, 산성 염료와 염기성 염료로 이루어지는 조염 화합물로서 화합물 d-1, 비이온성 염료 d-3으로서 C. I. 솔벤트 블루 45, 하기 구조로 나타내어지는 열발색성 화합물 f-1(BIP-PHBZ), 그 외 첨가제로서 열가교제 g-1(HMOM-TPHAP), 페놀성 수산기를 갖는 화합물 h-1(비스페놀 AF), 밀착 개량제 i-1(KBM-403)을 표 3에 나타내는 양을 첨가하고, 교반하여 용해시켜서 포지티브형 감광성 수지 조성물 R-1을 조제했다.Polyimide precursor resin PI-1 obtained in Synthesis Example 1 as (A) alkali-soluble resin in (C) solvent of γ-butyrolactone (GBL) and ethyl lactate (EL) at a weight ratio of 1:1 under yellow light. , (B) Compound b-1 obtained in Synthesis Example 10 as a photosensitizer, (D) Compound d-1 as a salt-forming compound consisting of an acidic dye and a basic dye among the coloring materials, C.I. Solvent Blue 45 as a nonionic dye d-3, Thermochromic compound f-1 (BIP-PHBZ) represented by the following structure, other additives include heat crosslinking agent g-1 (HMOM-TPHAP), compound h-1 (bisphenol AF) having a phenolic hydroxyl group, and adhesion improving agent i- 1 (KBM-403) was added in the amount shown in Table 3 and stirred to dissolve, thereby preparing positive photosensitive resin composition R-1.

<감광성 수지 조성물 R-2~R-6의 조제><Preparation of photosensitive resin compositions R-2 to R-6>

R-1의 조제와 마찬가지로, R-2~6을 표 3에 기재된 조성에 의해 조제했다.Similar to the preparation of R-1, R-2 to 6 were prepared according to the compositions shown in Table 3.

<감광성 수지 조성물 R-7의 조제><Preparation of photosensitive resin composition R-7>

황색등 하, 감광제인 0.20g의 NCI-831을 13.01g의 PGMEA에 첨가해서 3분간 교반하여 용해시켰다. 이것에 4.28g의 알칼리 가용성 폴리이미드 수지 용액 A(PI-1를 고형분 30중량%가 되도록 PGMEA를 사용해서 용해하여 얻어진 수지 용액)와, 1.02g의 알칼리 가용성 카르도 수지 용액 A(아민가 0(mgKOH/g)이며, 수지 산가 90(mgKOH/g)이며, 고형분 44.2중량%이며, 알칼리 가용성기로서 카르복실기를 갖는 알칼리 가용성 카르도 수지의 PGMEA 용액인 "ADEKA ARKLS"(등록 상표) WR-301 (ADEKA CORPORATION제))을 첨가하고, 2개 이상의 라디칼 중합성기를 갖는 화합물인 0.99g의 DPCA-60을 첨가해서 교반하여 조합액을 얻었다. 이 조합액과, 유리병 용기의 상청액으로부터 샘플링한 10.50g의 안료 분산액 1을 혼합해서 30분간 교반하여 네거티브형 감광성 수지 조성물 R-7을 얻었다. 원료의 배합량을 표 4에 나타낸다.Under yellow light, 0.20 g of NCI-831, a photosensitizer, was added to 13.01 g of PGMEA and stirred for 3 minutes to dissolve. To this, 4.28 g of alkali-soluble polyimide resin solution A (a resin solution obtained by dissolving PI-1 using PGMEA so that the solid content is 30% by weight), and 1.02 g of alkali-soluble Cardo resin solution A (amine value 0 (mgKOH) /g), the resin acid value is 90 (mgKOH/g), the solid content is 44.2% by weight, and "ADEKA ARKLS" (registered trademark) WR-301 (ADEKA) is a PGMEA solution of alkali-soluble Cardo resin having a carboxyl group as an alkali-soluble group. (manufactured by CORPORATION) was added, and 0.99 g of DPCA-60, a compound having two or more radical polymerizable groups, was added and stirred to obtain a preparation solution. This mixture and 10.50 g of pigment dispersion liquid 1 sampled from the supernatant in a glass bottle were mixed and stirred for 30 minutes to obtain negative photosensitive resin composition R-7. The mixing amounts of raw materials are shown in Table 4.

<감광성 수지 조성물 R-8의 조제><Preparation of photosensitive resin composition R-8>

알칼리 가용성 폴리이미드 수지 용액 A 대신에 알칼리 가용성 폴리이미드 수지 용액 B(PI-1을 고형분 30중량%가 되도록 MBA를 사용해서 용해하여 얻어진 수지 용액)를 사용하고, 또한 안료 분산액 1 대신에 안료 분산액 2를 사용해서, R-7과 마찬가지의 수순으로 네거티브형 감광성 수지 조성물 R-8을 조제했다. 원료의 배합량을 표 4에 나타낸다.Instead of alkali-soluble polyimide resin solution A, alkali-soluble polyimide resin solution B (a resin solution obtained by dissolving PI-1 using MBA so that the solid content is 30% by weight) was used, and instead of pigment dispersion 1, pigment dispersion 2 was used. Using the same procedure as R-7, negative photosensitive resin composition R-8 was prepared. The mixing amounts of raw materials are shown in Table 4.

<합성예 11 발액 재료 (e-1) 및 (e-2)의 합성><Synthesis Example 11 Synthesis of liquid-repellent materials (e-1) and (e-2)>

교반 장치, 환류 냉각관, 적하 로트, 온도계 및 질소 가스 취입구를 구비한 1000mL의 반응 용기에 시클로헥사논을 100중량부 첨가하고, 질소 가스 분위기하에서 110℃로 승온했다. 시클로헥사논의 온도를 110℃로 유지하고, 표 5에 나타내는 모노머 혼합 용액을 적하 로트에 의해 2시간으로 등속 적하해서 각 모노머 용액을 조제했다. 적하 종료 후, 모노머 용액을 115℃까지 승온시키고, 2시간 반응시켜서 발액 재료 (e-1) 및 (e-2)를 얻었다.100 parts by weight of cyclohexanone was added to a 1000 mL reaction vessel equipped with a stirring device, a reflux cooling tube, a dropping funnel, a thermometer, and a nitrogen gas inlet, and the temperature was raised to 110°C in a nitrogen gas atmosphere. The temperature of cyclohexanone was maintained at 110°C, and the monomer mixed solution shown in Table 5 was added dropwise at a constant rate over 2 hours using a dropping funnel to prepare each monomer solution. After the dropwise addition was completed, the monomer solution was heated to 115°C and reacted for 2 hours to obtain liquid-repellent materials (e-1) and (e-2).

<합성예 12 페놀 수지(j-1)의 합성><Synthesis Example 12 Synthesis of phenol resin (j-1)>

건조 질소 기류하, m-크레졸 108.0g(1.00몰), 37중량% 포름알데히드 수용액 75.5g(포름알데히드 0.93몰), 옥살산 2수화물 0.63g(0.005몰), 메틸이소부틸케톤 264g을 주입한 후 유욕 중에 침지하고, 반응액을 환류시키면서 4시간 중축합 반응을 행했다. 그 후, 유욕의 온도를 3시간 걸쳐서 승온하고, 그 후에 플라스크 내의 압력을 4.0㎪~6.7㎪까지 감압하고, 휘발분을 제거하고, 용해하고 있는 수지를 실온까지 냉각해서 노볼락형 페놀 수지(j-1)를 얻었다. GPC로부터 중량 평균 분자량은 3,500이었다.Under a dry nitrogen stream, 108.0 g (1.00 mol) of m-cresol, 75.5 g (0.93 mol of formaldehyde) of 37% by weight formaldehyde solution, 0.63 g (0.005 mol of formaldehyde) of oxalic acid dihydrate, and 264 g of methyl isobutyl ketone were injected into the oil bath. It was immersed in the solution and a polycondensation reaction was performed for 4 hours while refluxing the reaction solution. After that, the temperature of the oil bath was raised over 3 hours, and then the pressure in the flask was reduced to 4.0 kPa to 6.7 kPa, volatile matter was removed, and the dissolved resin was cooled to room temperature to form a novolak-type phenol resin (j- 1) was obtained. The weight average molecular weight from GPC was 3,500.

<감광성 수지 조성물 R-9, R-10의 조제><Preparation of photosensitive resin compositions R-9 and R-10>

황색등 하, 표 6에 나타내는 배합비로 각 성분을 혼합하고, 실온에서 충분히 교반을 행하여 용해시켰다. 그 후, 얻어진 용액을 구멍 지름 1㎛의 필터로 여과하여 포지티브형 감광성 수지 조성물 R-9, R-10을 얻었다.Under the yellow light, each component was mixed in the mixing ratio shown in Table 6 and stirred sufficiently at room temperature to dissolve. Thereafter, the obtained solution was filtered through a filter with a pore diameter of 1 μm to obtain positive photosensitive resin compositions R-9 and R-10.

<감광성 수지 조성물 R-11의 조제><Preparation of photosensitive resin composition R-11>

93.8g의 안료 분산액 3에 알칼리 가용성 수지(PIP-1)를 50.5g, 광산 발생제로서 퀴논디아지드 화합물(b-1)을 17.0g, 페놀 화합물(h-1, 비스페놀 AF)을 13.6g, 실리콘계 계면활성제(BYK-333)를 0.2g, GBL을 105.0g, PGME를 720.0g 첨가해서 전체 고형분 농도 10중량%, 안료/수지(중량비)=15/85의 포지티브형 감광성 수지 조성물 R-11을 얻었다. 조성을 표 7에 나타낸다.In 93.8 g of pigment dispersion 3, 50.5 g of alkali-soluble resin (PIP-1), 17.0 g of quinonediazide compound (b-1) as a photoacid generator, 13.6 g of phenol compound (h-1, bisphenol AF), Positive type photosensitive resin composition R-11 with a total solid concentration of 10% by weight and pigment/resin (weight ratio) = 15/85 was prepared by adding 0.2g of silicone surfactant (BYK-333), 105.0g of GBL, and 720.0g of PGME. got it The composition is shown in Table 7.

<감광성 수지 조성물 R-12의 조제><Preparation of photosensitive resin composition R-12>

R-11과 마찬가지의 방법으로, 투입하는 안료 분산액으로서 안료 분산액 3을 안료 분산액 4로, 알칼리 가용성 수지로서 PIP-1을 PIP-2로 바꿔서 포지티브형 감광성 수지 조성물 R-12를 얻었다. 조성을 표 7에 나타낸다.In the same manner as R-11, pigment dispersion 3 was replaced with pigment dispersion 4 as the pigment dispersion, and PIP-1 was replaced with PIP-2 as the alkali-soluble resin, thereby obtaining positive photosensitive resin composition R-12. The composition is shown in Table 7.

<감광성 수지 조성물 R-13의 조제><Preparation of photosensitive resin composition R-13>

R-11과 마찬가지의 방법으로, 투입하는 안료 분산액으로서 안료 분산액 3을 안료 분산액 5로, 알칼리 가용성 수지로서 PIP-1을 PIP-3으로 바꿔서 포지티브형 감광성 수지 조성물 R-13을 얻었다. 조성을 표 7에 나타낸다.In the same manner as R-11, pigment dispersion 3 was replaced with pigment dispersion 5 as the pigment dispersion to be added, and PIP-1 was replaced with PIP-3 as the alkali-soluble resin, thereby obtaining positive photosensitive resin composition R-13. The composition is shown in Table 7.

<감광성 수지 조성물 R-14의 조제><Preparation of photosensitive resin composition R-14>

R-11과 마찬가지의 방법으로, 투입하는 안료 분산액으로서 안료 분산액 3을 안료 분산액 6으로, 알칼리 가용성 수지로서 PIP-1을 PIP-4로 바꿔서 포지티브형 감광성 수지 조성물 R-14를 얻었다. 조성을 표 7에 나타낸다.In the same manner as R-11, pigment dispersion 3 was replaced with pigment dispersion 6 as the pigment dispersion, and PIP-1 was replaced with PIP-4 as the alkali-soluble resin, thereby obtaining positive photosensitive resin composition R-14. The composition is shown in Table 7.

<감광성 수지 조성물 R-15의 조제><Preparation of photosensitive resin composition R-15>

황색등 하, (A) 알칼리 가용성 수지로서 폴리이미드 전구체 수지(PIP-1)(10.0g), (B) 감광제로서 f-1(1.2g)을 (C) 유기 용제인 PGME(32.0g)와 GBL(8.0g)에 첨가했다. 그 후, 얻어진 용액을 0.45㎛φ의 필터로 여과하여 포지티브형 감광성 수지 조성물 R-15를 얻었다.Yellow light, (A) polyimide precursor resin (PIP-1) (10.0g) as an alkali-soluble resin, (B) f-1 (1.2g) as a photosensitizer, and (C) PGME (32.0g) as an organic solvent. Added to GBL (8.0 g). Thereafter, the obtained solution was filtered through a 0.45 μm phi filter to obtain positive photosensitive resin composition R-15.

<감광성 수지 조성물 R-16의 조제><Preparation of photosensitive resin composition R-16>

황색등 하, 8.50g의 MBA와 16.16g의 PGMEA의 혼합 용제 중에 광중합 개시제로서 0.38g의 OXE03을 첨가해서 10분간 교반하여 용해시켰다. 거기에, 실리카 입자 분산액인 (a) 성분으로서 1.88g의 MEK-ST-40을 첨가하여 10분간 교반해서 용해시켰다. 이어서, 4.61g의 ZAH-106과, 0.45g의 TR4020G와, 0.38g의 DPCA-60과, 0.97g의 GA-5060P를 첨가해서 30분간 교반하여 투명한 조합액을 얻었다. 이 조합액에 16.69g의 안료 분산액 7을 혼합해서 30분간 교반하여 고형분 15.00중량%인 네거티브형 감광성 수지 조성물 R-16을 조제했다. 각 원료의 배합 중량을 표 8에 나타낸다.Under a yellow light, 0.38 g of OXE03 as a photopolymerization initiator was added to a mixed solvent of 8.50 g of MBA and 16.16 g of PGMEA and stirred for 10 minutes to dissolve. There, 1.88 g of MEK-ST-40 as component (a), which is a silica particle dispersion, was added and stirred for 10 minutes to dissolve. Next, 4.61 g of ZAH-106, 0.45 g of TR4020G, 0.38 g of DPCA-60, and 0.97 g of GA-5060P were added and stirred for 30 minutes to obtain a transparent mixture. 16.69 g of pigment dispersion liquid 7 was mixed with this mixture and stirred for 30 minutes to prepare negative photosensitive resin composition R-16 with a solid content of 15.00% by weight. The combined weight of each raw material is shown in Table 8.

<감광성 수지 조성물 R-17의 조제><Preparation of photosensitive resin composition R-17>

R-16의 조제와 마찬가지로, MEK-ST-40 대신에 OSCAL-1421을 사용해서 표 8에 나타내는 배합량으로 네거티브형 감광성 수지 조성물 R-17을 조제했다. 각 원료의 배합 중량을 표 8에 나타낸다.As in the preparation of R-16, negative photosensitive resin composition R-17 was prepared using OSCAL-1421 instead of MEK-ST-40 in the mixing ratio shown in Table 8. The combined weight of each raw material is shown in Table 8.

<감광성 수지 조성물 R-18의 조제><Preparation of photosensitive resin composition R-18>

R-16의 조제와 마찬가지로, MEK-ST-40 대신에 MEK-ST-L을 사용해서 표 8에 나타내는 배합량으로 네거티브형 감광성 수지 조성물 R-18을 조제했다. 각 원료의 배합 중량을 표 8에 나타낸다.As in the preparation of R-16, negative photosensitive resin composition R-18 was prepared using MEK-ST-L instead of MEK-ST-40 and in the mixing ratio shown in Table 8. The combined weight of each raw material is shown in Table 8.

<실시예 1~25, 비교예 1~3><Examples 1 to 25, Comparative Examples 1 to 3>

각 실시예 및 비교예에 있어서의 화소 분할층과 스페이서의 표면 거칠기, 기판의 확산 반사광, 유기 EL 표시 장치의 밀착성, 내후 신뢰성, 전기 신뢰성, 발광 특성은 다음과 같이 평가했다.The surface roughness of the pixel division layer and the spacer, the diffused reflected light of the substrate, the adhesion to the organic EL display device, weather resistance reliability, electrical reliability, and luminescence characteristics of each Example and Comparative Example were evaluated as follows.

우선, 100㎜×100㎜의 PET 기재 중앙부에 제 1 전극으로서 AgPdCu(100㎚)와 결정성 ITO(10㎚)를 순서대로 진공 스퍼터법으로 성막하고, 선폭 60㎛, 100㎛ 피치, 길이 10㎜, 100개의 스트라이프상으로 에칭했다. 즉, 기재의 노출 부분은 40㎛ 폭이 된다. 여기에, 표 9에 나타낸 각 실시예 및 비교예에 입각한 감광성 수지 조성물을 스핀 코트법으로 도포하고, 그 후 100℃의 핫플레이트 상에서 2분간 프리베이크해서 막을 형성했다.First, AgPdCu (100 nm) and crystalline ITO (10 nm) were sequentially deposited as first electrodes on the center part of a 100 mm × 100 mm PET substrate using a vacuum sputtering method, with a line width of 60 μm, a pitch of 100 μm, and a length of 10 mm. , etched in 100 stripes. That is, the exposed portion of the substrate is 40 μm wide. Here, the photosensitive resin composition based on each example and comparative example shown in Table 9 was applied by spin coating, and then prebaked for 2 minutes on a hot plate at 100°C to form a film.

이 막에 표 9에 나타낸 하프톤 포토마스크를 통해 UV 노광한 후 2.38% TMAH 수용액으로 현상하고, 네거티브형이면 미노광 부분만을 용해, 포지티브형이면 노광부만을 용해시킨 후, 순수로 린스하여 패턴을 얻었다. 그 후, 250℃, 질소 분위기하의 오븐 중에서 60분간 큐어해서 화소 분할층과 스페이서의 패턴을 갖는 기판을 얻었다. 또한, 스핀 코트법에서의 회전수를 조정함으로써, 모든 실시예와 비교예에 있어서 화소 분할층의 막 두께는 1.5um, 스페이서의 막 두께는 1.5um로 했다.This film was exposed to UV through the halftone photomask shown in Table 9, then developed with a 2.38% TMAH aqueous solution. If it was a negative type, only the unexposed portion was dissolved, if it was a positive type, only the exposed portion was dissolved, and then rinsed with pure water to form a pattern. got it After that, it was cured in an oven at 250°C in a nitrogen atmosphere for 60 minutes to obtain a substrate with a pixel division layer and a spacer pattern. Additionally, by adjusting the rotation speed in the spin coating method, the film thickness of the pixel dividing layer was set to 1.5 um and the film thickness of the spacer was set to 1.5 um in all examples and comparative examples.

또한, 비교예 1에 있어서는, 반투과부가 없는 일반적으로 풀톤 마스크라고 불리는 포토마스크를 사용해서 화소 분할층과 스페이서를 개별로 제작했다. 즉, 화소 분할층의 도포, 프리베이크, 노광, 현상, 큐어 후 스페이서의 도포, 프리베이크, 노광, 현상, 큐어의 공정을 거치는 것이 된다. 또한, 비교예 3에 있어서는, 큐어 후에 플라즈마 처리 장치(SPC-100B+H, Hitachi High-Tech Corporation제)를 사용해서 RIE 모드, 산소 가스, 1000W, 60초의 조화(粗化) 처리를 행했다.Additionally, in Comparative Example 1, the pixel division layer and the spacer were manufactured separately using a photomask generally called a Fullton mask without a semi-transparent portion. In other words, the pixel division layer is applied, pre-baked, exposed, developed, and cured, and then the spacer is applied, pre-baked, exposed, developed, and cured. Additionally, in Comparative Example 3, after curing, a roughening treatment was performed using a plasma processing device (SPC-100B+H, manufactured by Hitachi High-Tech Corporation) in RIE mode, oxygen gas, 1000 W, and 60 seconds.

이 상태에서 화소 분할층과, 스페이서의 표면 거칠기와, 기판의 확산 반사광을 평가한 결과를 표 10에 나타낸다.Table 10 shows the results of evaluating the surface roughness of the pixel division layer, the spacer, and the diffuse reflected light of the substrate in this state.

이어서, 이 패턴을 갖는 기판에 대해서, 진공 증착법에 의해 유기 EL층을 전체 면에 형성했다. 또한, 증착 시의 진공도는 1×10-3㎩ 이하로 하고, 증착 중에는 증착원에 대해서 기판을 회전시켰다. 우선, 정공 주입층으로서 화합물(HT-1)을 10㎚, 정공 수송층으로서 화합물(HT-2)을 50㎚ 증착했다. 이어서, 발광층으로서 호스트 재료로서의 화합물(GH-1)과 도펀트 재료로서의 화합물(GD-1)을 도프 농도가 체적비 10%가 되도록 해서 40㎚의 두께로 증착했다. 이어서, 전자 수송층으로서 화합물(ET-1)과 LiQ를 체적비 1:1로, 40㎚의 두께로 적층했다. 여기까지의 정공 주입층, 정공 수송층, 발광층, 전자 수송층을 제 1 발광 유닛이라고 부른다.Next, an organic EL layer was formed on the entire surface of the substrate with this pattern by vacuum deposition. Additionally, the degree of vacuum during deposition was set to 1×10 -3 Pa or less, and the substrate was rotated with respect to the deposition source during deposition. First, 10 nm of compound (HT-1) was deposited as a hole injection layer, and 50 nm of compound (HT-2) was deposited as a hole transport layer. Next, as the light emitting layer, a compound (GH-1) as a host material and a compound (GD-1) as a dopant material were deposited to a thickness of 40 nm with a dope concentration of 10% by volume. Next, as an electron transport layer, compound (ET-1) and LiQ were laminated at a volume ratio of 1:1 and a thickness of 40 nm. The hole injection layer, hole transport layer, light emitting layer, and electron transport layer up to this point are called the first light emitting unit.

그 후, 전자 주입층으로서 LiQ를 2㎚ 증착했다. 유기 EL층으로서 사용한 화합물의 구조를 이하에 나타낸다.After that, 2 nm of LiQ was deposited as an electron injection layer. The structure of the compound used as the organic EL layer is shown below.

또한, 제 1 전극과 교차하도록 선폭 400㎛, 500㎛ 피치, 길이 10㎜, 20개의 스트라이프상 제 2 전극을 Mg와 Ag를 체적비 10:1로 10㎚ 증착했다. 또한, 여기에서 말하는 막 두께는 수정 발진식 막 두께 모니터 표시값이다.Additionally, a 10 nm stripe-shaped second electrode with a line width of 400 μm, a 500 μm pitch, and a length of 10 mm was deposited to intersect the first electrode with 10 nm of Mg and Ag at a volume ratio of 10:1. In addition, the film thickness mentioned here is the value displayed by a crystal oscillation type film thickness monitor.

이와 같이 해서, 제 1 전극 100개, 제 2 전극 20개, 그들이 교차하는 200개의 발광 소자를 갖는 유기 EL 표시 장치를 완성시켰다. 본 실시예의 유기 EL 표시 장치의 개략도를 도 8에, 유기 EL층을 생략한 발광 소자의 개략도를 도 9 나타낸다. 그 후, 유기 EL 표시 장치의 밀착성, 내후 신뢰성, 전기 신뢰성을 평가했다. 결과를 표 10에 나타낸다.In this way, an organic EL display device having 100 first electrodes, 20 second electrodes, and 200 light-emitting elements where they intersect was completed. Figure 8 shows a schematic diagram of the organic EL display device of this embodiment, and Figure 9 shows a schematic diagram of the light emitting element omitting the organic EL layer. After that, the adhesion, weather resistance reliability, and electrical reliability of the organic EL display device were evaluated. The results are shown in Table 10.

(표 9-1)(Table 9-1)

(표 9-2)(Table 9-2)

(표 10-1)(Table 10-1)

(표 10-2)(Table 10-2)

<실시예 26><Example 26>

제 1 발광 유닛 중, 전자 수송층에 LiQ를 사용하지 않고 화합물(ET-1)로만 한 이외에는 실시예 1과 마찬가지로 유기 EL 표시 장치를 제작하고, 유기 EL 표시 장치의 밀착성, 내후 신뢰성, 전기 신뢰성, 발광 특성을 평가했다. 감광성 수지 조성물과 포토마스크의 조건을 표 9, 평가 결과를 표 10에 나타낸다.In the first light emitting unit, an organic EL display device was manufactured in the same manner as in Example 1 except that LiQ was not used in the electron transport layer and only a compound (ET-1) was used, and the adhesion, weathering reliability, electrical reliability, and light emission of the organic EL display device were tested. characteristics were evaluated. The conditions of the photosensitive resin composition and photomask are shown in Table 9, and the evaluation results are shown in Table 10.

<실시예 27><Example 27>

제 1 발광 유닛 중, 전자 수송층에 LiQ를 사용하지 않고 화합물(ET-2)로만 한 이외에는 실시예 1과 마찬가지로 유기 EL 표시 장치를 제작하고, 유기 EL 표시 장치의 밀착성, 내후 신뢰성, 전기 신뢰성, 발광 특성을 평가했다. 감광성 수지 조성물과 포토마스크의 조건을 표 9, 평가 결과를 표 10에 나타낸다.In the first light emitting unit, an organic EL display device was manufactured in the same manner as in Example 1 except that LiQ was not used in the electron transport layer and only a compound (ET-2) was used, and the adhesion, weathering reliability, electrical reliability, and light emission of the organic EL display device were tested. characteristics were evaluated. The conditions of the photosensitive resin composition and photomask are shown in Table 9, and the evaluation results are shown in Table 10.

<실시예 28><Example 28>

제 1 발광 유닛 중, 전자 수송층에 LiQ를 사용하지 않고 화합물(ET-3)로만 한 이외에는 실시예 1과 마찬가지로 유기 EL 표시 장치를 제작하고, 유기 EL 표시 장치의 밀착성, 내후 신뢰성, 전기 신뢰성, 발광 특성을 평가했다. 감광성 수지 조성물과 포토마스크의 조건을 표 9, 평가 결과를 표 10에 나타낸다.In the first light emitting unit, an organic EL display device was manufactured in the same manner as in Example 1 except that LiQ was not used in the electron transport layer and only a compound (ET-3) was used, and the adhesion, weathering reliability, electrical reliability, and light emission of the organic EL display device were tested. characteristics were evaluated. The conditions of the photosensitive resin composition and photomask are shown in Table 9, and the evaluation results are shown in Table 10.

<실시예 29><Example 29>

제 1 발광 유닛 중, 전자 수송층에 LiQ를 사용하지 않고 화합물(ET-4)로만 한 이외에는 실시예 1과 마찬가지로 유기 EL 표시 장치를 제작하고, 유기 EL 표시 장치의 밀착성, 내후 신뢰성, 전기 신뢰성, 발광 특성을 평가했다. 감광성 수지 조성물과 포토마스크의 조건을 표 9, 평가 결과를 표 10에 나타낸다.In the first light emitting unit, an organic EL display device was manufactured in the same manner as in Example 1 except that LiQ was not used in the electron transport layer and only a compound (ET-4) was used, and the adhesion, weathering reliability, electrical reliability, and light emission of the organic EL display device were tested. characteristics were evaluated. The conditions of the photosensitive resin composition and photomask are shown in Table 9, and the evaluation results are shown in Table 10.

<실시예 30><Example 30>

실시예 1과 마찬가지로, 패턴을 갖는 기판을 얻은 후 유기 EL층으로서 제 1 발광 유닛을 적층했다. 그 후, 제 1 발광 유닛 상에 n형 전하 발생층으로서 화합물(ET-1)과, 도펀트 재료인 금속 Li를 증착 속도비가 화합물(ET-1):Li=99:1이 되도록 10㎚ 증착하고, 이어서 p형 전하 발생층으로서 화합물(HT-1)을 10㎚ 증착했다.Similarly to Example 1, after obtaining a substrate with a pattern, the first light emitting unit was laminated as an organic EL layer. Thereafter, on the first light emitting unit, compound (ET-1) as an n-type charge generation layer and metal Li as a dopant material were deposited at 10 nm so that the deposition rate ratio was compound (ET-1):Li = 99:1. Then, 10 nm of compound (HT-1) was deposited as a p-type charge generation layer.

전하 발생층에 계속해서, 제 1 발광 유닛과 마찬가지의 유기 EL층을 다시 형성하고, 탠덤형으로 했다. 그 후, 전자 주입층으로서 LiQ를 2㎚ 증착했다. 또한, 제 1 전극과 교차하도록 선폭 400㎛, 500㎛ 피치, 길이 10㎜, 20개의 스트라이프상 제 2 전극을 Mg와 Ag를 체적비 10:1로 10㎚ 증착했다. 또한, 여기에서 말하는 막 두께는 수정 발진식 막 두께 모니터 표시값이다.Continuing with the charge generation layer, an organic EL layer similar to that of the first light emitting unit was formed again and made into a tandem type. After that, 2 nm of LiQ was deposited as an electron injection layer. Additionally, a 10 nm stripe-shaped second electrode with a line width of 400 μm, a 500 μm pitch, and a length of 10 mm was deposited to intersect the first electrode with 10 nm of Mg and Ag at a volume ratio of 10:1. In addition, the film thickness mentioned here is the value displayed by a crystal oscillation type film thickness monitor.

이와 같이 해서 제 1 전극 100개, 제 2 전극 20개, 그들이 교차하는 200개의 발광 소자를 갖는 유기 EL 표시 장치를 완성시켰다. 그 후, 유기 EL 표시 장치의 밀착성, 내후 신뢰성, 전기 신뢰성, 발광 특성을 평가했다. 감광성 수지 조성물과 포토마스크의 조건을 표 9, 평가 결과를 표 10에 나타낸다.In this way, an organic EL display device having 100 first electrodes, 20 second electrodes, and 200 light-emitting elements where they intersect was completed. After that, the adhesion, weathering reliability, electrical reliability, and luminescence characteristics of the organic EL display device were evaluated. The conditions of the photosensitive resin composition and photomask are shown in Table 9, and the evaluation results are shown in Table 10.

<실시예 31><Example 31>

n형 전하 발생층 중, 화합물(ET-1)을 화합물(ET-2)로 한 이외에는 실시예 30과 마찬가지로 유기 EL 표시 장치를 제작하고, 유기 EL 표시 장치의 밀착성, 내후 신뢰성, 전기 신뢰성, 발광 특성을 평가했다. 감광성 수지 조성물과 포토마스크의 조건을 표 9, 평가 결과를 표 10에 나타낸다.An organic EL display device was manufactured in the same manner as in Example 30 except that compound (ET-1) was replaced with compound (ET-2) in the n-type charge generation layer, and the adhesion, weather resistance reliability, electrical reliability, and light emission of the organic EL display device were tested. characteristics were evaluated. The conditions of the photosensitive resin composition and photomask are shown in Table 9, and the evaluation results are shown in Table 10.

<실시예 32><Example 32>

n형 전하 발생층 중, 화합물(ET-1)을 화합물(ET-3)로 한 이외에는 실시예 30과 마찬가지로 유기 EL 표시 장치를 제작하고, 유기 EL 표시 장치의 밀착성, 내후 신뢰성, 전기 신뢰성, 발광 특성을 평가했다. 감광성 수지 조성물과 포토마스크의 조건을 표 9, 평가 결과를 표 10에 나타낸다.An organic EL display device was manufactured in the same manner as in Example 30 except that compound (ET-1) was replaced with compound (ET-3) in the n-type charge generation layer, and the adhesion, weather resistance reliability, electrical reliability, and light emission of the organic EL display device were tested. characteristics were evaluated. The conditions of the photosensitive resin composition and photomask are shown in Table 9, and the evaluation results are shown in Table 10.

<실시예 33><Example 33>

n형 전하 발생층 중, 화합물(ET-1)을 화합물(ET-4)로 한 이외에는 실시예 30과 마찬가지로 유기 EL 표시 장치를 제작하고, 유기 EL 표시 장치의 밀착성, 내후 신뢰성, 전기 신뢰성, 발광 특성을 평가했다. 감광성 수지 조성물과 포토마스크의 조건을 표 9, 평가 결과를 표 10에 나타낸다.An organic EL display device was manufactured in the same manner as in Example 30 except that compound (ET-1) was replaced with compound (ET-4) in the n-type charge generation layer, and the adhesion, weather resistance reliability, electrical reliability, and light emission of the organic EL display device were tested. characteristics were evaluated. The conditions of the photosensitive resin composition and photomask are shown in Table 9, and the evaluation results are shown in Table 10.

1: 기재 2: 제 1 전극
3: 화소 분할층 4: 스페이서
5: 유기 EL층 6: 제 2 전극
7: TFT 8: 평탄화층
9: 밀봉층 10: 편광층
11: 자외선 흡수층 12: 투광부
13: 반투광부 14: 차광부
15: 원기둥 16: Ra1의 측정 대상 범위
17: Ra2의 측정 대상 범위 18: 유기 EL 표시 장치
19: 발광 소자
1: Substrate 2: First electrode
3: Pixel division layer 4: Spacer
5: Organic EL layer 6: Second electrode
7: TFT 8: Planarization layer
9: sealing layer 10: polarizing layer
11: ultraviolet absorbing layer 12: light transmitting portion
13: semi-transparent part 14: light-shielding part
15: Cylinder 16: Measurement target range of Ra1
17: Ra2 measurement target range 18: Organic EL display device
19: light emitting element

Claims (18)

기재 상에 제 1 전극, 화소 분할층, 스페이서를 갖는 기판, 또한 유기 EL층 및 제 2 전극을 갖는 유기 EL 표시 장치로서, 상기 화소 분할층의 표면 거칠기(Ra1)와 상기 스페이서의 표면 거칠기(Ra2)에 있어서의 최대값을 Ramax로 했을 때에, Ramax가 1.0㎚ 이상 50㎚ 이하인 유기 EL 표시 장치.An organic EL display device having a substrate having a first electrode, a pixel split layer, and a spacer on a substrate, and also an organic EL layer and a second electrode, wherein the surface roughness (Ra1) of the pixel split layer and the surface roughness (Ra2) of the spacer are ) An organic EL display device in which Ramax is 1.0 nm or more and 50 nm or less, when the maximum value is Ramax. 제 1 항에 있어서,
상기 Ra1이 Ramax가 되는 유기 EL 표시 장치.
According to claim 1,
An organic EL display device in which Ra1 is Ramax.
제 2 항에 있어서,
상기 기판과 상기 유기 EL층이 접하는 계면의 면적 중, 상기 화소 분할층과 상기 유기 EL층이 접하는 계면의 면적이 50% 이상인 유기 EL 표시 장치.
According to claim 2,
An organic EL display device, wherein the area of the interface between the pixel division layer and the organic EL layer is 50% or more of the area of the interface between the substrate and the organic EL layer.
제 1 항에 있어서,
상기 Ra2가 Ramax가 되는 유기 EL 표시 장치.
According to claim 1,
An organic EL display device in which Ra2 is Ramax.
제 4 항에 있어서,
상기 기판과 상기 유기 EL층이 접하는 계면의 면적 중, 상기 스페이서와 상기 유기 EL층이 접하는 계면의 면적이 50% 이상인 유기 EL 표시 장치
According to claim 4,
An organic EL display device in which the area of the interface between the spacer and the organic EL layer is 50% or more of the area of the interface between the substrate and the organic EL layer.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 Ra1과 Ra2의 차의 절대값이 1.0㎚ 이상인 유기 EL 표시 장치.
The method according to any one of claims 1 to 5,
An organic EL display device in which the absolute value of the difference between Ra1 and Ra2 is 1.0 nm or more.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 화소 분할층이 1차 입자 지름 5~30㎚의 실리카 입자를 포함하는 유기 EL 표시 장치.
The method according to any one of claims 1 to 6,
An organic EL display device in which the pixel split layer contains silica particles with a primary particle diameter of 5 to 30 nm.
제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 화소 분할층이 알칼리 가용성 수지를 함유하는 감광성 수지 조성물의 경화막을 포함하는 유기 EL 표시 장치.
The method according to any one of claims 1 to 7,
An organic EL display device wherein the pixel split layer includes a cured film of a photosensitive resin composition containing an alkali-soluble resin.
제 8 항에 있어서,
상기 알칼리 가용성 수지가 아크릴 수지, 페놀 수지, 폴리실록산 수지, 카르도 수지, 폴리이미드 수지, 폴리이미드 전구체 수지, 폴리벤조옥사졸 수지, 및 폴리벤조옥사졸 전구체 수지로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상의 것을 함유하는 유기 EL 표시 장치.
According to claim 8,
The alkali-soluble resin is at least one selected from the group consisting of acrylic resin, phenol resin, polysiloxane resin, cardo resin, polyimide resin, polyimide precursor resin, polybenzoxazole resin, and polybenzoxazole precursor resin. An organic EL display device containing
제 8 항 또는 제 9 항에 있어서,
상기 감광성 수지 조성물이 착색 재료를 포함하는 유기 EL 표시 장치.
According to claim 8 or 9,
An organic EL display device wherein the photosensitive resin composition contains a coloring material.
제 8 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 감광성 수지 조성물이 발액 재료를 포함하는 유기 EL 표시 장치.
The method according to any one of claims 8 to 10,
An organic EL display device in which the photosensitive resin composition contains a liquid-repellent material.
제 1 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 유기 EL층이 전자 수송층 및/또는 전하 발생층을 포함하는 유기 EL 표시 장치.
The method according to any one of claims 1 to 11,
An organic EL display device wherein the organic EL layer includes an electron transport layer and/or a charge generation layer.
제 12 항에 있어서,
상기 전자 수송층 및/또는 전하 발생층이 도너성 도펀트를 포함하는 유기 EL 표시 장치.
According to claim 12,
An organic EL display device wherein the electron transport layer and/or the charge generation layer include a donor dopant.
제 13 항에 있어서,
상기 도너성 도펀트가 알칼리 금속, 알칼리토류 금속, 희토류 금속, 상기 금속류의 무기염, 상기 금속류와 유기물의 착체로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상의 것을 함유하는 유기 EL 표시 장치.
According to claim 13,
An organic EL display device wherein the donor dopant contains at least one member selected from the group consisting of alkali metals, alkaline earth metals, rare earth metals, inorganic salts of the above metals, and complexes of the above metals and organic substances.
제 12 항 내지 제 14 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 전자 수송층 및/또는 전하 발생층이 하기 일반식 (1)로 나타내어지는 페난트롤린 골격을 갖는 화합물을 포함하는 유기 EL 표시 장치.

(여기에서 R1~R8은 각각 동일해도 상이해도 좋고, 수소 원자, 알킬기, 시클로알킬기, 알케닐기, 시클로알케닐기, 아릴기, 헤테로아릴기, 복소환기 중으로부터 선택된다. 단, R1, R3, R6, R8 중의 적어도 1개는 아다만틸기, 노보닐기, 페닐비닐기, β-나프틸기, 페난트렌기, 피레닐기로부터 선택된다.)
The method according to any one of claims 12 to 14,
An organic EL display device wherein the electron transport layer and/or the charge generation layer include a compound having a phenanthroline skeleton represented by the following general formula (1).

(Here, R 1 to R 8 may be the same or different, and are selected from a hydrogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group, an alkenyl group, a cycloalkenyl group, an aryl group, a heteroaryl group, and a heterocyclic group. However, R 1 At least one of R 3 , R 6 , and R 8 is selected from adamantyl group, norbornyl group, phenylvinyl group, β-naphthyl group, phenanthrene group, and pyrenyl group.)
제 12 항 내지 제 14 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 전자 수송층 및/또는 전하 발생층이 하기 일반식 (2)로 나타내어지는 페난트롤린 골격을 갖는 화합물을 포함하는 유기 EL 표시 장치.

(여기에서 R9~R16은 각각 동일해도 상이해도 좋고, 수소 원자, 알킬기, 시클로알킬기, 알케닐기, 시클로알케닐기, 아릴기, 헤테로아릴기, 복소환기, X1 중으로부터 선택된다. 단, R9~R16 중의 적어도 1개는 X1이다. n은 2~6의 자연수를 나타낸다. X1은 단결합, 또는 벤젠, 안트라센, 피리딘, 에틸렌, 티오펜, 푸란, 메틸렌, 카르바졸, 시클로헥산, 스피로비플루오렌, 트리페닐아민, 트립티센 및 이들을 조합해서 이루어지는 구조 중 어느 하나로부터 유래되는 n가의, 복수의 페난트롤린 골격을 연결하는 연결 유닛이다.)
The method according to any one of claims 12 to 14,
An organic EL display device wherein the electron transport layer and/or the charge generation layer include a compound having a phenanthroline skeleton represented by the following general formula (2).

(Here, R 9 to R 16 may be the same or different, and are selected from a hydrogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group, an alkenyl group, a cycloalkenyl group, an aryl group, a heteroaryl group, a heterocyclic group , and At least one of R 9 to R 16 is X 1. n represents a natural number from 2 to 6. It is a linking unit that connects a plurality of n-valent phenanthroline skeletons derived from any one of hexane, spirobifluorene, triphenylamine, tryptycene, and structures formed by combining them.)
기재 상에 제 1 전극, 화소 분할층, 스페이서를 갖는 기판, 또한 유기 EL층 및 제 2 전극을 갖는 유기 EL 표시 장치의 제조 방법으로서, 화소 분할층과 스페이서를 일괄 가공하는 공정을 갖고, 일괄 가공을 위한 포토마스크가 투광부, 차광부 및 반투광부를 갖는 하프톤 포토마스크인 유기 EL 표시 장치의 제조 방법.A method of manufacturing an organic EL display device having a substrate having a first electrode, a pixel split layer, and a spacer on a substrate, and also having an organic EL layer and a second electrode, comprising a step of batch processing the pixel split layer and the spacer, and batch processing the pixel split layer and the spacer. A method of manufacturing an organic EL display device, wherein the photomask is a halftone photomask having a light transmitting portion, a light blocking portion, and a semi-transmissive portion. 제 17 항에 있어서,
상기 반투광부의 투과율이 상기 투광부의 투과율의 15~50%인 유기 EL 표시 장치의 제조 방법.
According to claim 17,
A method of manufacturing an organic EL display device, wherein the semi-transmissive portion has a transmittance of 15 to 50% of the transmittance of the light transmitting portion.
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