KR20230101609A - Fabrication method of conductive particle and conductive particle - Google Patents

Fabrication method of conductive particle and conductive particle Download PDF

Info

Publication number
KR20230101609A
KR20230101609A KR1020210191860A KR20210191860A KR20230101609A KR 20230101609 A KR20230101609 A KR 20230101609A KR 1020210191860 A KR1020210191860 A KR 1020210191860A KR 20210191860 A KR20210191860 A KR 20210191860A KR 20230101609 A KR20230101609 A KR 20230101609A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
conductive particles
metal powder
conductive
particles
powder
Prior art date
Application number
KR1020210191860A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR102582710B1 (en
Inventor
이병주
전병서
박종석
이상국
정영배
권도형
Original Assignee
주식회사 아이에스시
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 아이에스시 filed Critical 주식회사 아이에스시
Priority to KR1020210191860A priority Critical patent/KR102582710B1/en
Publication of KR20230101609A publication Critical patent/KR20230101609A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102582710B1 publication Critical patent/KR102582710B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing conductors or cables
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/20Conductive material dispersed in non-conductive organic material
    • H01B1/22Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising metals or alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/20Conductive material dispersed in non-conductive organic material
    • H01B1/24Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising carbon-silicon compounds, carbon or silicon

Abstract

본 발명은 도전성 입자의 제조방법에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 금형에 도전성 입자 형성용 홈을 형성한 후에, 서로 다른 금속분말을 이용하여 복수회 가열하는 소결공정을 다회 수행하여 원하는 도전성 입자를 제조할 수 있는 도전성 입자의 제조방법과, 그 제조방법으로 제조된 도전성 입자에 대한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing conductive particles, and more particularly, after forming grooves for forming conductive particles in a mold, a sintering process of heating a plurality of times using different metal powders is performed multiple times to manufacture desired conductive particles. It relates to a manufacturing method of conductive particles that can be made, and to conductive particles manufactured by the manufacturing method.

Description

도전성 입자의 제조방법 및 도전성 입자{Fabrication method of conductive particle and conductive particle}Manufacturing method of conductive particle and conductive particle {Fabrication method of conductive particle and conductive particle}

본 발명은 전기적 검사에 사용되는 도전성 입자의 제조방법 및 도전성 입자에 대한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing conductive particles used in electrical inspection and to conductive particles.

일반적으로, 반도체 집적 회로나 반도체 패키지 등의 전자 부품이나 이러한 전자 부품을 구성하기 위한 혹은 탑재하기 위한 회로 기판에 대해서는 제조 후에 전기적 특성을 검사하는 것이 필요하다. 이러한 피검사 디바이스의 전기적 특성 검사를 위해서는 피검사 디바이스와 검사장치(테스트 보드)와의 전기적 접속이 안정적으로 이루어져야 하며, 이를 위해 전기접속용 커넥터가 사용된다. 즉, 전기접속용 커넥터 장치의 역할은 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드를 서로 접속시켜 전기적인 신호가 양방향으로 교환 가능하게 하는 것이다. 이러한 전기접속용 커넥터는 피검사 디바이스를 테스트하기 위한 검사장치에 사용되며 피검사 디바이스가 결합된다는 점에서 테스트 소켓이라고도 한다. In general, for electronic components such as semiconductor integrated circuits and semiconductor packages, or circuit boards for constituting or mounting these electronic components, it is necessary to inspect electrical characteristics after manufacturing. In order to test the electrical characteristics of the device to be tested, a stable electrical connection between the device to be tested and a test device (test board) must be made, and a connector for electrical connection is used for this purpose. That is, the role of the connector device for electrical connection is to connect the terminal of the device under test and the pad of the test device to each other so that electrical signals can be exchanged in both directions. Such a connector for electrical connection is also called a test socket in that it is used in a test apparatus for testing a device under test and coupled to the device under test.

종래의 전기접속용 커넥터, 즉 테스트 소켓으로는, 일반적으로 이방 도전성 시트와 포고핀이 사용되고 있다. 이 중에서 이방 도전성 시트는 탄성을 가지는 도전부를 피검사 디바이스의 단자에 접속시키는 구조를 갖고 있으며, 포고핀은 그 내부에 마련된 스프링에 의해 피검사 디바이스의 단자에 탄성 접촉하도록 구성되어 있다. As a conventional connector for electrical connection, that is, a test socket, anisotropic conductive sheets and pogo pins are generally used. Among them, the anisotropic conductive sheet has a structure in which a conductive part having elasticity is connected to the terminal of the device under test, and the pogo pin is configured to elastically contact the terminal of the device under test by a spring provided therein.

이와 같이, 종래의 이방 도전성 시트와 포고핀은 피검사 디바이스와 검사장치와의 연결 시 발생할 수 있는 기계적인 충격을 완충할 수 있는 장점이 있어서, 테스트 소켓으로서 널리 사용되고 있다. As described above, the conventional anisotropic conductive sheet and the pogo pin have an advantage of buffering mechanical shock that may occur when the device under test and the test device are connected, and are widely used as test sockets.

도 1에는 종래의 전기접속용 커넥터의 일 예로서 이방 도전성 시트가 도시되어 있으며, 도 2는 도 1의 이방 도전성 시트를 이용하여 전기적 검사를 수행하는 모습을 나타낸다.1 shows an anisotropic conductive sheet as an example of a conventional connector for electrical connection, and FIG. 2 shows a state in which an electrical test is performed using the anisotropic conductive sheet of FIG. 1 .

종래기술에 따른 이방 도전성 시트(100)는 피검사 디바이스(130)의 단자(131)와 대응되는 위치에 배치된 복수의 도전부(110)와, 상기 복수의 도전부(110)를 지지하면서 서로 절연시키는 절연지지부(120)를 포함하고 있다. The anisotropic conductive sheet 100 according to the prior art supports a plurality of conductive parts 110 disposed at a position corresponding to the terminal 131 of the device under test 130, and mutually supports the plurality of conductive parts 110. It includes an insulating support 120 to insulate.

상기 도전부(110)는 실리콘 고무와 같은 절연성 탄성 물질로 이루어진 기재 내에 도전성 입자들(111)이 두께 방향으로, 즉 수직 방향으로 배열되어 있는 구조를 가지며, 상기 절연지지부(120)는 상기 도전부(110) 내의 탄성 물질과 동일한 소재, 예컨대 실리콘 고무로 이루어진다. The conductive part 110 has a structure in which conductive particles 111 are arranged in a thickness direction, that is, in a vertical direction, in a base material made of an insulating elastic material such as silicone rubber, and the insulating support part 120 is the conductive part It is made of the same material as the elastic material in 110, for example, silicone rubber.

검사가 수행되기 전에 이방 도전성 시트(100)는 검사장치(140)에 탑재되며, 이때 검사장치(140)의 패드(141)에 각 도전부(110)가 접촉되어 있게 된다. 무가압상태에서 도전부(110)는 절연성 탄성 물질 내에서 다수의 도전성 입자(111)들이 서로 이격되어 있게 된다. Before the test is performed, the anisotropic conductive sheet 100 is mounted on the test device 140, and at this time, each conductive part 110 is in contact with the pad 141 of the test device 140. In the non-pressurized state, a plurality of conductive particles 111 are spaced apart from each other in the conductive part 110 in an insulating elastic material.

검사가 요구되는 피검사 디바이스(130)가 하강하면서 피검사 디바이스(130)의 단자(131)가 상기 도전부(110)를 하측으로 가압하면 서로 이격되어 있는 도전성 입자들(111)이 서로 접촉함으로써 도전부(110)가 전기적으로 도통 가능한 상태가 되며, 이 과정에서 도전부(110)가 탄성적으로 압축 변형되면서 피검사 디바이스(130)의 단자(131)와 접촉 시 발생할 수 있는 기계적인 충격을 완충하게 된다. When the device to be tested 130, which requires testing, descends, and the terminal 131 of the device to be tested 130 presses the conductive part 110 downward, the conductive particles 111 that are spaced apart from each other come into contact with each other. The conductive part 110 becomes electrically conductive, and in this process, the conductive part 110 is elastically compressed and deformed to prevent mechanical shock that may occur when it comes into contact with the terminal 131 of the device under test 130. will be full

이와 같이, 피검사 디바이스(130)의 단자(131)와 검사장치(140)의 패드(141)가 이방 도전성 시트(100)의 도전부(110)에 의해 서로 전기적으로 연결된 상태에서, 검사장치(140)의 패드(141)로부터 소정의 검사신호가 인가되면 그 신호가 이방 도전성 시트(100)의 도전부(110)를 거쳐서 피검사 디바이스(130)의 단자(131)로 전달됨으로써 소정의 전기적인 테스트가 수행될 수 있는 것이다. In this way, in a state in which the terminal 131 of the device to be tested 130 and the pad 141 of the testing device 140 are electrically connected to each other by the conductive portion 110 of the anisotropic conductive sheet 100, the testing device ( 140), when a predetermined inspection signal is applied from the pad 141, the signal is transferred to the terminal 131 of the device under test 130 via the conductive portion 110 of the anisotropic conductive sheet 100, thereby providing a predetermined electrical test can be performed.

이러한 도전부 내에 배열되어 있는 다수의 도전성 입자는 통상적으로 구형, 포도상형을 포함한 부정형의 입자형태를 가지게 된다. 이러한 통상적인 도전성 입자는 정밀한 형태를 가지고 있지 않을 뿐 아니라 설계자가 원하는 모양과 형상을 가지고 있지 않아 원하는 기능을 달성하기 어렵게 된다는 단점이 있다. A plurality of conductive particles arranged in such a conductive part usually have an irregular particle shape including a spherical shape and a staphylococcus shape. Such conventional conductive particles do not have a precise shape and do not have a shape and shape desired by a designer, making it difficult to achieve a desired function.

특히 일반적인 도전성 입자의 제조방법은 수분사법, 아토마이징(Atomizing), 전기도금 등을 이용하게 되는데, 이러한 공정에 의하여 제조되는 도전성 입자의 형상과 크기는 매우 불균일하고 구형 외에 원하는 형상을 일정하게 만드는 것은 거의 불가능하다는 문제점이 있다. In particular, general methods of manufacturing conductive particles use water spraying, atomizing, electroplating, etc., and the shape and size of conductive particles produced by these processes are very non-uniform, and making the desired shape constant other than spherical The problem is that it's almost impossible.

이와 같이 도전성 입자가 구형, 포도상형 같은 형상을 가지는 경우에는 도 3에 도시된 바와 같이, 도전부의 가압과정에서 해당 입자가 도전부로부터 이탈되거나 전기적 접속이 불량하게 되는 경우가 많게 된다. 이는 도전성 입자는 금속소재로 이루어져서 이방 도전성 시트의 기재를 구성하는 실리콘 고무와의 결합력이 충분하게 확보되지 않기 때문이다.In this way, when the conductive particles have a spherical or grape-shaped shape, as shown in FIG. 3, the particles are often separated from the conductive portion or electrical connection is poor during the pressing process of the conductive portion. This is because the conductive particles are made of a metal material and thus do not sufficiently secure bonding strength with the silicone rubber constituting the substrate of the anisotropic conductive sheet.

이러한 문제점을 해결하기 위하여 설계자가 원하는 형상으로 도전성 입자를 제작하기 위한 도전성 입자의 제조기술이 일본 공개특허공보 2011-150837호에 개시되어 있게 된다.In order to solve this problem, there is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2011-150837 a manufacturing technique of conductive particles for producing conductive particles in a shape desired by a designer.

예를 들어, 도 4에 개시된 바와 같은 판형(도 3(a)), 링형(도 3(b),(c))의 도전성 입자를 설계자가 원하는 데로 정밀하게 제작하기 위하여 다음과 같은 제조공정을 사용하고 있게 된다.For example, in order to precisely manufacture the plate-shaped (FIG. 3 (a)) or ring-shaped (FIG. 3 (b), (c)) conductive particles as disclosed in FIG. 4 as desired by the designer, the following manufacturing process is performed. going to be using

먼저, 소정의 기판(150)을 준비한 후에(도 4(a)), 기판(150) 상에 동박(151)을 형성하고(도 4(b)), 동박(151) 위에 드라이 필름(152)을 형성하게 된다.(도 4(c)). First, after preparing a predetermined substrate 150 (FIG. 4 (a)), copper foil 151 is formed on the substrate 150 (FIG. 4 (b)), and a dry film 152 is formed on the copper foil 151. is formed (FIG. 4(c)).

이후에, 포토레지스트 공정을 통하여 드라이 필름(152)에 소정의 홈(152a)을 형성하고(도 4(d), 소정의 홈 내부에 금속(111')을 도금한 후에(도 4(e)), 도금층의 상면을 연마하여 도전성 입자(111)를 제조완료하게 된다.(도 4(f)) 이후에, 드라이 필름에 일체화된 도전성 입자(111)를 드라이 필름으로부터 제거하기 위하여 드라이 필름을 용해시킴으로서 도전성 입자를 얻어내게 된다.Thereafter, a predetermined groove 152a is formed in the dry film 152 through a photoresist process (FIG. 4(d), and after plating a metal 111' inside the predetermined groove (FIG. 4(e)) ), the upper surface of the plating layer is polished to complete the manufacture of the conductive particles 111. (FIG. 4(f)) After that, the dry film is dissolved in order to remove the conductive particles 111 integrated into the dry film from the dry film. By doing so, conductive particles are obtained.

이러한 종래기술에 따른 도전성 입자의 제조공정은 도전성 입자를 형성하는 몰드를 드라이 필름으로 제작하고 도전성 입자를 얻어내기 위하여 드라이 필름을 용해시켜 제거해야 하기 때문에, 매회 드라이 필름을 기판 상에 접착해야 하는 문제점이 있다. 또한, 기판 상에 접촉된 드라이 필름을 포토레지스트 공정을 이용하여 소정의 패턴을 형성해야 하기 때문에 몰드 제작 단계에서 비용이 많이 발생한다는 단점이 있게 된다. 또한 종래기술에 따른 도전성 입자의 제조방법은, 도전성 입자를 제작하기 위하여 도금 공정을 이용하기 때문에 금속입자의 두께가 클수록 도금시간이 많이 소요되는 단점이 있게 된다. 또한, 도금 공정을 이용하기 때문에 도금 후 각 도전성 입자의 두께를 일정하게 하기 위해서는 상면을 CMP 공정을 통해 연마해야하는 단점이 있게 된다. 또한, 도전성 입자를 기판과 드라이 필름으로부터 분리하기 위하여 용해 등의 방법을 사용하게 되는데, 이 과정에서 드라이 필름이 완전하게 용해되지 않기 때문에 분리가 용이하지 않다는 단점이 있게 된다.In the manufacturing process of the conductive particles according to the prior art, since the mold for forming the conductive particles is made of a dry film and the dry film must be dissolved and removed to obtain the conductive particles, the dry film must be adhered to the substrate each time. there is In addition, since a predetermined pattern must be formed by using a photoresist process on the dry film contacted on the substrate, there is a disadvantage in that cost is high in the mold manufacturing step. In addition, since the manufacturing method of conductive particles according to the prior art uses a plating process to manufacture the conductive particles, the larger the thickness of the metal particles, the more plating time is required. In addition, since a plating process is used, there is a disadvantage in that the upper surface must be polished through a CMP process to make the thickness of each conductive particle constant after plating. In addition, a method such as dissolution is used to separate the conductive particles from the substrate and the dry film. In this process, since the dry film is not completely dissolved, separation is not easy.

이러한 종래기술의 단점을 해결하기 위하여 본 출원인에 의하여 출원하여 등록된 등록특허 2124997호가 알려져 있다. 위 등록특허에 개시된 도전성 입자의 제조방법은 도 5에 도시된 바와 같이 기판(200)을 준비한 후에(도 5(a)), 그 기판(200)에 도전성 입자 형성용 홈(201)을 형성하고,(도 5(b)), 도전성 입자 형성용 홈(201)에 금속분말(111')을 채워넣고,(도 5(c)) 상기 금속분말(111')에 열을 가하여 고체화된 도전성 입자(111)를 제조한 후에(도 5(d)), 기판(200)에서 도전성 입자(111)를 분리해내는 방식을 채택하고 있게 된다.In order to solve these disadvantages of the prior art, Registered Patent No. 2124997 filed and registered by the present applicant is known. In the manufacturing method of conductive particles disclosed in the above registered patent, after preparing a substrate 200 as shown in FIG. 5 (FIG. 5(a)), forming grooves 201 for forming conductive particles on the substrate 200, , (FIG. 5(b)), filling the groove 201 for forming conductive particles with metal powder 111', and applying heat to the metal powder 111' (FIG. 5(c)) to solidify conductive particles After manufacturing (111) (Fig. 5 (d)), a method of separating the conductive particles 111 from the substrate 200 is adopted.

이러한 제조방법에 의하면, 도금방식을 사용하지 않고 금속분말을 채워넣고 가열에 의하여 원하는 도전성 입자를 빠르게 제조할 수 있어서 제조시간 및 제조비용이 절감되는 장점이 있게 된다.According to this manufacturing method, there is an advantage in that manufacturing time and manufacturing cost are reduced because desired conductive particles can be rapidly manufactured by filling metal powder and heating without using a plating method.

그런데 이러한 종래의 제조방법에 의하면 1회의 소결방식으로 도전성 입자의 중심부와 외각부 또는 특정부위에 소재를 다르게 할 수 없어서 테스트 소켓의 각 부위별 최적의 합금비율로 제조된 도전성 입자를 적용할 수 없게 되는 단점이 있다.However, according to such a conventional manufacturing method, it is impossible to use different materials for the central and outer parts or specific parts of the conductive particles in one sintering method, so that the conductive particles manufactured with the optimal alloy ratio for each part of the test socket cannot be applied. There is a downside to being

특히, 도전성 입자들이 서로 접촉되는 부위만을 고전도성 소재로만 하거나, 피검사 디바이스와 빈번하게 접촉되는 부위만을 고경도 소재만 하는 등의 소재변경을 할 수 없어서 저항, 전류특성 및 내구성을 요구하는 이방 도전성 시트의 경우에는 품질의 저하를 유발하게 되는 단점이 있게 되는 것이다.In particular, anisotropic conductivity that requires resistance, current characteristics, and durability because it is impossible to change the material, such as making only a highly conductive material only for the part where conductive particles come into contact with each other, or using only a high hardness material for only the part that is in frequent contact with the device under test. In the case of the sheet, there is a disadvantage of causing a deterioration in quality.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 원하는 형상, 원하는 특성을 가지는 도전성 입자를 간단하면서도 빠르게 제조할 수 있는 도전성 입자의 제조방법 및 도전성 입자를 제공하는 것을 기술적 목적으로 한다.The present invention has been created to solve the above problems, and has a technical object to provide a method for manufacturing conductive particles and conductive particles capable of simply and quickly producing conductive particles having a desired shape and desired characteristics.

상술한 기술적 목적을 달성하기 위한 본 발명의 도전성 입자의 제조방법은, 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드 사이의 전기적 연결을 위한 이방 도전성 시트에 사용되며, 탄성 절연물질 내에 다수개가 함유되고 피검사 디바이스의 가압에 의하여 상호 접촉하여 단자와 패드의 전기적 연결을 위한 도전로를 형성하는데 이용되는 도전성 입자의 제조방법으로서, The method for manufacturing conductive particles of the present invention for achieving the above technical object is used for an anisotropic conductive sheet for electrical connection between a terminal of a device under test and a pad of a test device, and a plurality of particles are contained in an elastic insulating material and avoid A method of manufacturing conductive particles used to form a conductive path for electrical connection between a terminal and a pad by contacting each other by pressurization of an inspection device,

(a) 금형기판을 준비하는 단계;(a) preparing a mold substrate;

(b) 상기 금형기판의 어느 한 면에 도전성 입자와 대응되는 형상을 가지며 일측으로 개방된 도전성 입자 형성용 홈을 형성하는 단계;(b) forming a groove for forming conductive particles having a shape corresponding to the conductive particles and opened to one side on either side of the mold substrate;

(c) 상기 도전성 입자 형성용 홈 내부에 제1 금속분말을 채우는 단계;(c) filling the first metal powder into the grooves for forming the conductive particles;

(d) 제1 금속분말을 제1 금속분말의 녹는점보다 낮은 온도에서 가열하여 도전성 입자 형성용 홈보다 부피가 축소된 고체상태의 코어입자를 제조하는 단계;(d) heating the first metal powder at a temperature lower than the melting point of the first metal powder to prepare solid core particles whose volume is reduced compared to the grooves for forming conductive particles;

(e) 상기 도전성 입자 형성용 홈에서, 상기 코어입자의 주변에 제1금속분말과 다른 소재로 이루어진 제2 금속분말을 채워넣는 단계;(e) filling a second metal powder made of a different material from the first metal powder around the core particle in the groove for forming the conductive particle;

(f) 상기 제2 금속분말을 제2 금속분말보다 낮은 온도에서 가열하여 도전성 입자 형성용 홈보다 부피가 축소된 고체화된 도전성 입자를 제조하는 단계를 포함한다.(f) heating the second metal powder at a temperature lower than that of the second metal powder to prepare solidified conductive particles having a volume smaller than that of the grooves for forming conductive particles.

상기 도전성 입자의 제조방법에서,In the method for producing the conductive particles,

(f) 단계 이후에, 상기 도전성 입자를 상기 금형기판의 도전성 입자 형성용 홈으로부터 분리해내는 단계가 더 포함될 수 있다.After the step (f), a step of separating the conductive particles from the grooves for forming the conductive particles of the mold substrate may be further included.

상기 도전성 입자의 제조방법에서,In the method for producing the conductive particles,

제1 금속분말은 자성을 나타내는 소재로 이루어지고, 제2 금속분말은 자성이 없는 도전소재로 이루어질 수 있다.The first metal powder may be made of a material exhibiting magnetism, and the second metal powder may be made of a non-magnetic conductive material.

상기 도전성 입자의 제조방법에서,In the method for producing the conductive particles,

상기 제2 금속분말은 제1 금속분말보다 도전성능이 우수한 소재로 이루어질 수 있다.The second metal powder may be made of a material having better conductivity than the first metal powder.

상기 도전성 입자의 제조방법에서,In the method for producing the conductive particles,

제2 금속분말은 자성을 나타내는 소재로 이루어지고, 제1 금속분말은 자성이 없는 도전소재로 이루어질 수 있다.The second metal powder may be made of a material exhibiting magnetism, and the first metal powder may be made of a non-magnetic conductive material.

상기 도전성 입자의 제조방법에서,In the method for producing the conductive particles,

제1 금속분말은 제2 금속분말보다 도전성이 우수한 소재로 이루어질 수 있다.The first metal powder may be made of a material having higher conductivity than the second metal powder.

상기 도전성 입자의 제조방법에서,In the method for producing the conductive particles,

제1 금속분말은 자성을 나타내는 자성분말과, 자성이 없는 도전분말이 포함된 혼합분말로서, 상기 혼합분말에는 자성분말이 도전분말보다 높은 비율로 함유될 수 있다.The first metal powder is a mixed powder including a magnetic powder exhibiting magnetism and a non-magnetic conductive powder, and the mixed powder may contain the magnetic powder in a higher ratio than the conductive powder.

상기 도전성 입자의 제조방법에서,In the method for producing the conductive particles,

제1 금속분말은 자성을 나타내는 자성분말과, 자성이 없는 도전분말이 포함된 혼합분말로서, 상기 혼합분말에는 도전분말이 자성분말보다 높은 비율로 함유될 수 있다.The first metal powder is a mixed powder including a magnetic powder exhibiting magnetism and a non-magnetic conductive powder, and the mixed powder may contain the conductive powder in a higher ratio than the magnetic powder powder.

상기 도전성 입자의 제조방법에서,In the method for producing the conductive particles,

상기 (f) 단계에서 제조된 도전성 입자는 내부에 다수의 기공이 형성될 수 있다.A plurality of pores may be formed inside the conductive particle prepared in step (f).

상기 도전성 입자의 제조방법에서,In the method for producing the conductive particles,

상기 (f) 단계에서 제조된 도전성 입자의 외부에는 내부의 기공과 연결되는 다수의 기공이 형성될 수 있다.A plurality of pores connected to internal pores may be formed on the outside of the conductive particle prepared in step (f).

상기 도전성 입자의 제조방법에서,In the method for producing the conductive particles,

상기 (d) 단계에서의 가열온도는 (f) 단계에서의 가열온도보다 높을 수 있다.The heating temperature in step (d) may be higher than the heating temperature in step (f).

상기 도전성 입자의 제조방법에서,In the method for producing the conductive particles,

상기 제1 금속분말의 녹는점은, 제2 금속분말의 녹는점보다 같거나 높을 수 있다.The melting point of the first metal powder may be equal to or higher than the melting point of the second metal powder.

상기 도전성 입자의 제조방법에서,In the method for producing the conductive particles,

상기 (d) 단계와, (f) 단계에서의 가열온도는 제1 금속분말 및 제2 금속분말의 녹는점보다 낮은 온도일 수 있다.The heating temperature in steps (d) and (f) may be lower than the melting points of the first metal powder and the second metal powder.

상술한 기술적 목적을 달성하기 위한 본 발명의 도전성 입자의 제조방법은,The method for producing conductive particles of the present invention for achieving the above technical object is

피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드 사이의 전기적 연결을 위한 이방 도전성 시트에 사용되며, 탄성 절연물질 내에 다수개가 함유되고 피검사 디바이스의 가압에 의하여 상호 접촉하여 단자와 패드의 전기적 연결을 위한 도전로를 형성하는데 이용되는 도전성 입자의 제조방법으로서, It is used for the anisotropic conductive sheet for electrical connection between the terminal of the device under test and the pad of the test device, and a plurality of sheets are contained in an elastic insulating material and are in contact with each other by the pressure of the device under test to conduct electrical connection between the terminal and the pad. As a method for producing conductive particles used to form a furnace,

(a) 금형기판을 준비하는 단계;(a) preparing a mold substrate;

(b) 상기 금형기판의 어느 한 면에 도전성 입자와 대응되는 형상을 가지며 일측으로 개방된 도전성 입자 형성용 홈을 형성하는 단계;(b) forming a groove for forming conductive particles having a shape corresponding to the conductive particles and opened to one side on either side of the mold substrate;

(c) 상기 도전성 입자 형성용 홈 내부에 제1 금속분말을 채우는 단계;(c) filling the first metal powder into the grooves for forming the conductive particles;

(d) 제1 금속분말을 제1 금속분말의 녹는점보다 낮은 온도에서 가열하여 도전성 입자 형성용 홈보다 부피가 축소된 고체상태의 제1 입자를 제조하는 단계;(d) heating the first metal powder at a temperature lower than the melting point of the first metal powder to produce solid first particles whose volume is reduced from that of the grooves for forming conductive particles;

(e) 상기 도전성 입자 형성용 홈에서, 상기 제1 입자의 주변에 제1금속분말과 다른 소재로 이루어진 제2 금속분말을 채워넣는 단계;(e) filling a second metal powder made of a different material from the first metal powder around the first particles in the groove for forming the conductive particles;

(f) 상기 제2 금속분말을 제2 금속분말보다 낮은 온도에서 가열하여 도전성 입자 형성용 홈보다 부피가 축소되어 고체화되고 내부에 제1입자가 일체로 결합되어 있는 제2 입자를 제조하는 단계를 포함할 수 있다.(f) heating the second metal powder at a temperature lower than that of the second metal powder to produce second particles in which the volume is reduced and solidified than the grooves for forming conductive particles and the first particles are integrally bonded therein; can include

상기 도전성 입자의 제조방법에서,In the method for producing the conductive particles,

상기 (f) 단계 이후에는, After step (f),

제1 금속분말과 다른 소재로 이루어진 이종의 금속분말을 이용하여 (e), (f) 단계를 적어도 1회 이상 반복하여 도전성 입자를 제조할 수 있다.Conductive particles may be manufactured by repeating steps (e) and (f) at least once using a different type of metal powder made of a different material from the first metal powder.

상술한 기술적 목적을 달성하기 위한 본 발명의 도전성 입자는,Conductive particles of the present invention for achieving the above technical object,

상술한 제조방법으로 제조된 도전성 입자로서, As the conductive particles produced by the above-described manufacturing method,

제1 금속분말을 소재로 이루어지는 코어입자와,A core particle made of the first metal powder as a material;

제2 금속분말을 소재로 이루어지고 상기 코어 입자의 적어도 일부분을 감싸는 외피층을 포함할 수 있다.It may include an outer layer made of a second metal powder as a material and surrounding at least a portion of the core particle.

상기 도전성 입자에서,In the conductive particles,

상기 도전성 입자는 내부 코어 입자의 내부에는 다수의 기공이 형성될 수 있다.In the conductive particle, a plurality of pores may be formed inside the inner core particle.

상기 도전성 입자에서,In the conductive particles,

상기 다수의 기공은 도전성 입자의 표면까지 연결될 수 있다.The plurality of pores may be connected to the surface of the conductive particles.

상기 도전성 입자에서,In the conductive particles,

상기 코어입자는 다면체로 이루어지고, The core particle is made of a polyhedron,

상기 외피층은, 상기 코어입자의 적어도 2면 이상을 감싸고 있을 수 있다.The outer skin layer may surround at least two or more surfaces of the core particle.

상술한 기술적 목적을 달성하기 위한 본 발명의 도전성 입자는, 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드 사이의 전기적 연결을 위한 이방 도전성 시트에 사용되며, 탄성 절연물질 내에 다수개가 함유되고 피검사 디바이스의 가압에 의하여 상호 접촉하여 단자와 패드의 전기적 연결을 위한 도전로를 형성하는데 이용되는 도전성 입자로서,The conductive particles of the present invention for achieving the above technical object are used in an anisotropic conductive sheet for electrical connection between terminals of a device under test and pads of a test device, and are contained in a plurality of elastic insulating materials and As conductive particles used to form a conductive path for electrical connection between a terminal and a pad by contacting each other by pressing,

제1 금속분말을 소결하여 고체화되며 도전소재로 이루어진 코어입자; 및Core particles made of a conductive material and solidified by sintering the first metal powder; and

상기 코어입자의 적어도 일부를 감싸고 있으며, At least a portion of the core particle is surrounded,

제1 금속분말과는 다른 소재로 이루어진 제2 금속분말로 이루어지고,It consists of a second metal powder made of a material different from the first metal powder,

제2 금속분말을 소결하여 고체화되며 도전소재로 이루어진 외피층을 포함한다.It is solidified by sintering the second metal powder and includes an outer layer made of a conductive material.

상기 도전성 입자에서,In the conductive particles,

제1 금속분말은 자성을 나타내는 소재로 이루어지고, 제2 금속분말은 자성이 없는 도전소재로 이루어질 수 있다.The first metal powder may be made of a material exhibiting magnetism, and the second metal powder may be made of a non-magnetic conductive material.

상기 도전성 입자에서,In the conductive particles,

상기 제2 금속분말은 제1 금속분말보다 도전성능이 우수한 소재로 이루어질 수 있다.The second metal powder may be made of a material having better conductivity than the first metal powder.

상기 도전성 입자에서,In the conductive particles,

제2 금속분말은 자성을 나타내는 소재로 이루어지고, 제1 금속분말은 자성이 없는 도전소재로 이루어질 수 있다.The second metal powder may be made of a material exhibiting magnetism, and the first metal powder may be made of a non-magnetic conductive material.

상기 도전성 입자에서,In the conductive particles,

제1 금속분말은 제2 금속분말보다 도전성이 우수한 소재로 이루어질 수 있다.The first metal powder may be made of a material having higher conductivity than the second metal powder.

상기 도전성 입자에서,In the conductive particles,

상기 코어입자는 내부에 기공이 마련되고, 상기 외피층에도 기공이 마련되어 있으며, 상기 코어입자의 기공과, 외피층의 기공 중 일부는 상호 연통될 수 있다.The core particles are provided with pores inside, pores are provided in the outer skin layer, and some of the pores of the core particles and the pores of the outer skin layer may communicate with each other.

상기 도전성 입자에서,In the conductive particles,

상기 코어입자는 3면 이상을 가지는 다면체로 이루어지고, 상기 외피층은 코어입자의 적어도 2면을 감쌀 수 있다. The core particle is made of a polyhedron having three or more surfaces, and the outer skin layer may cover at least two surfaces of the core particle.

본 발명은 2회 이상의 소결공정을 통하여 서로 다른 소재로 이루어진 금속분말로 도전성 입자를 제조할 수 있어서 테스트 소켓이 요구하는 특성에 맞는 도전성 입자를 간편하고 빠르게 제조할 수 있다.According to the present invention, conductive particles can be manufactured from metal powder made of different materials through two or more sintering processes, so that the conductive particles suitable for the characteristics required by the test socket can be conveniently and quickly manufactured.

본 발명은 도전성과 내구성을 만족하는 도전성 입자를 제조할 수 있다는 장점이 있다.The present invention has the advantage of being able to manufacture conductive particles that satisfy conductivity and durability.

본 발명은 기공이 내부까지 침투한 도전성 입자를 제조함으로서 실리콘 고무가 기공 내에 침투하여 견고하게 결합되어 있으므로 도전성 입자가 도전부에서 이탈되지 않는 장점이 있다.The present invention has an advantage in that the conductive particles do not escape from the conductive part because the silicone rubber penetrates into the pores and is firmly bonded by manufacturing conductive particles having pores penetrated to the inside.

도 1은 일반적인 이방 도전성 시트의 모습을 나타내는 도면.
도 2는 도 1의 이방 도전성 시트를 이용하여 피검사 디바이스의 전기적 검사를 수행하는 모습을 나타내는 도면.
도 3은 도 2의 전기적 검사과정에서 도전성 입자가 도전부에서 이탈되는 모습을 나타내는 도면.
도 4는 종래의 도전성 입자를 제조하는 제조공정을 나타내는 도면.
도 5는 종래의 도전성 입자를 제조하는 제조공정을 나타내는 도면.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 도전성 입자의 사시도.
도 7은 도 6의 Ⅶ-Ⅶ 단면도.
도 8은 본 발명의 제조공정에서 사용되는 기판의 일 형상을 나타내는 도면.
도 9는 도 8의 제조공정에 대한 블럭도
도 10은 도 8에 의하여 제조된 도전성 입자를 이용하여 이방 도전성 시트를 제조하는 모습을 나타내는 도면.
도 11 및 도 12는 도 8에 의하여 제조된 도전성 입자의 실물사진.
1 is a view showing the appearance of a general anisotropic conductive sheet.
FIG. 2 is a diagram illustrating an electrical test of a device under test using the anisotropic conductive sheet of FIG. 1; FIG.
FIG. 3 is a view showing a state in which conductive particles are separated from a conductive part in the electrical inspection process of FIG. 2;
4 is a view showing a manufacturing process for manufacturing conventional conductive particles.
5 is a view showing a manufacturing process for manufacturing conventional conductive particles.
6 is a perspective view of conductive particles according to an embodiment of the present invention.
Fig. 7 is a VII-VII sectional view of Fig. 6;
8 is a view showing one shape of a substrate used in the manufacturing process of the present invention.
Figure 9 is a block diagram of the manufacturing process of Figure 8
10 is a view showing how an anisotropic conductive sheet is manufactured using the conductive particles manufactured in FIG. 8;
11 and 12 are real pictures of the conductive particles prepared in FIG. 8 .

본 개시의 실시예들은 본 개시의 기술적 사상을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것이다. 본 개시에 따른 권리범위가 이하에 제시되는 실시예들이나 이들 실시예들에 대한 구체적 설명으로 한정되는 것은 아니다.Embodiments of the present disclosure are illustrated for the purpose of explaining the technical idea of the present disclosure. The scope of rights according to the present disclosure is not limited to the specific description of the embodiments or these embodiments presented below.

본 개시에 사용되는 모든 기술적 용어들 및 과학적 용어들은, 달리 정의되지 않는 한, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 일반적으로 이해되는 의미를 갖는다. 본 개시에 사용되는 모든 용어들은 본 개시를 더욱 명확히 설명하기 위한 목적으로 선택된 것이며 본 개시에 따른 권리범위를 제한하기 위해 선택된 것이 아니다.All technical terms and scientific terms used in this disclosure have meanings commonly understood by those of ordinary skill in the art to which this disclosure belongs, unless otherwise defined. All terms used in this disclosure are selected for the purpose of more clearly describing the disclosure and are not selected to limit the scope of rights according to the disclosure.

본 개시에서 사용되는 "포함하는", "구비하는", "갖는" 등과 같은 표현은, 해당 표현이 포함되는 어구 또는 문장에서 달리 언급되지 않는 한, 다른 실시예를 포함할 가능성을 내포하는 개방형 용어(open-ended terms)로 이해되어야 한다.Expressions such as "comprising", "including", "having", etc. used in this disclosure are open-ended terms that imply the possibility of including other embodiments, unless otherwise stated in the phrase or sentence in which the expression is included. (open-ended terms).

본 개시에서 기술된 단수형의 표현은 달리 언급하지 않는 한 복수형의 의미를 포함할 수 있으며, 이는 청구범위에 기재된 단수형의 표현에도 마찬가지로 적용된다.Expressions in the singular form described in this disclosure may include plural meanings unless otherwise stated, and this applies equally to expressions in the singular form described in the claims.

본 개시에서 사용되는 "제1", "제2" 등의 표현들은 복수의 구성요소들을 상호 구분하기 위해 사용되며, 해당 구성요소들의 순서 또는 중요도를 한정하는 것은 아니다.Expressions such as "first" and "second" used in the present disclosure are used to distinguish a plurality of elements from each other, and do not limit the order or importance of the elements.

본 개시에서, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 경우, 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로 연결될 수 있거나 접속될 수 있는 것으로, 또는 새로운 다른 구성요소를 매개로 하여 연결될 수 있거나 접속될 수 있는 것으로 이해되어야 한다.In the present disclosure, when an element is referred to as being “connected” or “connected” to another element, that element is directly connectable or connectable to the other element, or a new It should be understood that it can be connected or connected via other components.

본 개시에서 사용되는 "상방"의 방향지시어는 커넥터가 검사장치에 대해 위치하는 방향에 근거하고, "하방"의 방향지시어는 상방의 반대 방향을 의미한다. 본 개시에서 사용되는 "상하 방향"의 방향지시어는 상방 방향과 하방 방향을 포함하지만, 상방 방향과 하방 방향 중 특정한 하나의 방향을 의미하지는 않는 것으로 이해되어야 한다.The direction indicator of "upper" used in the present disclosure is based on the direction in which the connector is positioned relative to the test device, and the direction indicator of "downer" means the opposite direction of the upward direction. It should be understood that the direction indicator of “up and down direction” used in the present disclosure includes an upward direction and a downward direction, but does not mean a specific one of the upward and downward directions.

첨부한 도면에 도시된 예들을 참조하여, 실시예들이 설명된다. 첨부된 도면에서, 동일하거나 대응하는 구성요소에는 동일한 참조부호가 부여되어 있다. 또한, 이하의 실시예들의 설명에 있어서, 동일하거나 대응하는 구성요소를 중복하여 기술하는 것이 생략될 수 있다. 그러나, 구성요소에 관한 기술이 생략되어도, 그러한 구성요소가 어떤 실시예에 포함되지 않는 것으로 의도되지는 않는다. 또한, 개시된 제조 방법의 실시예들은 도면에 도시하는 단계들의 일부 또는 전부를 포함할 수 있다. 도면에 도시하는 단계들은 순차적으로 행해질 수 있거나, 도면에 도시하는 단계들 중 적어도 두 개 이상의 단계가 동시에 행해질 수 있거나, 도면에 도시하는 단계들 중 하나의 단계가 다른 단계에 종속되어 행해질 수 있다. 또한 도면에 도시된 단계들은 일부 단계가 반복적으로 수행될 수 있으며 일 실시예에 나타난 단계가 최종 단계를 의미하는 것은 아니다.Embodiments are described with reference to examples shown in the accompanying drawings. In the accompanying drawings, like reference numerals are assigned to identical or corresponding components. In addition, in the description of the following embodiments, overlapping descriptions of the same or corresponding components may be omitted. However, omission of a description of a component does not intend that such a component is not included in an embodiment. In addition, embodiments of the disclosed manufacturing method may include some or all of the steps shown in the drawings. The steps shown in the figures may be performed sequentially, at least two or more of the steps shown in the figures may be performed simultaneously, or one of the steps shown in the figures may be performed dependent on the other steps. In addition, some of the steps shown in the drawings may be repeatedly performed, and the steps shown in one embodiment do not mean the final steps.

이하에 설명되는 실시예들과 첨부된 도면에 도시된 예들은, 두개의 전자 디바이스의 전기적 접속을 위한 테스트 소켓의 일 구성인 이방 도전성 시트에 이용되는 도전성 입자에 대한 것이다.Embodiments described below and examples shown in the accompanying drawings relate to conductive particles used in an anisotropic conductive sheet, which is a component of a test socket for electrical connection of two electronic devices.

실시예들에 나타난 도전성 입자가 적용되는 테스트 소켓은, 피검사 디바이스의 전기적 검사시에 검사장치와 피검사 디바이스의 전기적 접속을 위해 사용될 수 있다. 일 예로, 도전성 입자를 이용한 테스트 소켓은, 피검사 디바이스의 제조 공정 중 후공정에서, 피검사 디바이스의 최종적인 전기적 검사를 위해 사용될 수 있다. 그러나, 테스트 소켓이 적용되는 검사의 예가 전술한 검사에 한정되지는 않는다.The test socket to which the conductive particles shown in the embodiments are applied may be used to electrically connect the test apparatus and the device under test during the electrical test of the device under test. For example, a test socket using conductive particles may be used for a final electrical test of a device under test in a later process of manufacturing a device under test. However, an example of a test to which the test socket is applied is not limited to the aforementioned test.

테스트 소켓을 이용하여 전기적 검사가 수용되는 피검사 디바이스는 반도체 패키지일 수 있지만, 이에 한정되지는 않는다. 반도체 패키지는, 반도체 IC 칩과 다수의 리드 프레임(lead frame)과 다수의 단자를 수지 재료를 사용하여 육면체 형태로 패키징한 반도체 디바이스이다. 상기 반도체 IC 칩은 메모리 IC 칩 또는 비메모리 IC 칩이 될 수 있다. 상기 단자로서, 핀, 솔더볼(solder ball) 등이 사용될 수 있다. 도 1에 도시된 피검사 디바이스는 그 하측에 반구형의 다수의 단자를 가진다.A device to be tested in which an electrical test is accommodated using a test socket may be a semiconductor package, but is not limited thereto. A semiconductor package is a semiconductor device in which a semiconductor IC chip, a plurality of lead frames, and a plurality of terminals are packaged in a hexahedral shape using a resin material. The semiconductor IC chip may be a memory IC chip or a non-memory IC chip. As the terminal, a pin, a solder ball or the like can be used. The device under test shown in FIG. 1 has a plurality of hemispherical terminals on its lower side.

테스트 소켓을 통하여 피검사 디바이스에 전기적 신호를 인가하는 검사장치는 피검사 디바이스의 전기적 특성, 기능적 특성, 동작 속도 등을 검사할 수 있다. 검사장치는, 검사가 수행되는 보드 내에, 전기적 테스트 신호를 출력할 수 있고 응답 신호를 받을 수 있는 다수의 단자를 가질 수 있다.A test apparatus that applies an electrical signal to a device under test through a test socket may test electrical characteristics, functional characteristics, operation speed, and the like of the device under test. The test device may have a plurality of terminals capable of outputting an electrical test signal and receiving a response signal in a board where the test is performed.

이방 도전성 시트는 소켓 하우징에 의해 검사장치의 단자와 접촉되도록 배치될 수 있다. 피검사 디바이스의 단자는 이방 도전성 시트를 통해 대응하는 검사장치의 단자와 전기적으로 접속되면서 전기적 검사가 수행된다. 이방 도전성 시트는 실리콘 고무와 같은 연질의 탄성물질 내에 도전성 입자가 분포된 구조로 되어 있어서 피검사 디바이스와 접촉시 피검사 디바이스에 대한 소프트한 접촉이 가능하게 함으로서 피검사 디바이스에 대한 파손을 방지할 수 있게 된다. The anisotropic conductive sheet may be disposed to be in contact with the terminal of the test device by the socket housing. The electrical test is performed while the terminal of the device under test is electrically connected to the terminal of the corresponding test device through the anisotropic conductive sheet. The anisotropic conductive sheet has a structure in which conductive particles are distributed in a soft elastic material such as silicone rubber, so that when it comes into contact with a device under test, soft contact with the device under test is possible, thereby preventing damage to the device under test. there will be

본 실시예에 따른 도전성 입자는, 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드 사이의 전기적 연결을 위한 이방 도전성 시트에 사용되며, 탄성 절연물질 내에 다수개가 함유되고 피검사 디바이스의 가압에 의하여 상호 접촉하여 단자와 패드의 전기적 연결을 위한 도전로를 형성하는데 이용되는 것이다.The conductive particles according to the present embodiment are used in an anisotropic conductive sheet for electrical connection between a terminal of a device under test and a pad of a test device, and are contained in a plurality in an elastic insulating material and come into contact with each other by pressing the device under test. It is used to form a conductive path for electrical connection between the terminal and the pad.

이러한 도전성 입자(21)의 제조방법을 도 8 및 도 9을 참조하면서 설명한다.A method of manufacturing such conductive particles 21 will be described with reference to FIGS. 8 and 9 .

먼저, 도 8(a)에 도시된 바와 같이 기판 형태의 금형기판(40)을 마련한다.(S100) 이때 금형기판(40)은 반복하여 사용할 수 있도록 규소, 유리, 석영, 세라믹 등의 소재를 사용하는 것이 바람직하나, 이에 한정되는 것은 아니며 반복하여 재사용할 수 있도록 내구성이 우수한 소재라면 무엇이나 사용가능함은 물론이다.First, as shown in FIG. 8 (a), a mold substrate 40 in the form of a substrate is prepared (S100). At this time, the mold substrate 40 is made of materials such as silicon, glass, quartz, ceramics, etc. so that it can be used repeatedly. It is preferable to use, but is not limited thereto, and of course, any material having excellent durability can be used so that it can be reused repeatedly.

이후에, 도 8(b)에 도시된 바와 같이 상기 금형기판(40)의 상면에 원하는 도전성 입자(21)와 대응되는 형상을 가지는 도전성 입자(21) 형성용 홈(40a)을 형성한다(S200). 구체적으로 도 6에 도시된 원판형태의 도전성 입자(21)를 제조하기 위해서는 해당 도전성 입자(21)와 대응되는 형상을 가지는 도전성 입자(21) 형성용 홈(40a)을 금형기판(40)의 일면(바람직하게는 상면)에 형성하게 되는 것이다.Subsequently, as shown in FIG. 8(b), a groove 40a for forming conductive particles 21 having a shape corresponding to the desired conductive particles 21 is formed on the upper surface of the mold substrate 40 (S200 ). Specifically, in order to manufacture the disk-shaped conductive particles 21 shown in FIG. 6, a groove 40a for forming the conductive particles 21 having a shape corresponding to the corresponding conductive particles 21 is formed on one surface of the mold substrate 40. (preferably the upper surface).

도전성 입자(21) 형성용 홈(40a)의 크기는 도전성 입자(21)가 제조되는 과정에서 제1 금속분말(21')의 부피가 축소되는 정도를 고려하여 제조된 도전성 입자(21)보다는 다소 크게 형성하는 것이 좋다. 가열온도와 소재 등에 따라서 수축률에 차이가 있으므로 복수회 반복시험을 통하여 적절한 수치범위를 파악한 후에 치수를 정하는 것이 바람직하다.The size of the grooves 40a for forming the conductive particles 21 is somewhat smaller than that of the conductive particles 21 manufactured in consideration of the extent to which the volume of the first metal powder 21' is reduced in the process of manufacturing the conductive particles 21. It is better to make it large. Since there is a difference in shrinkage rate depending on heating temperature and material, etc., it is desirable to determine the size after identifying an appropriate numerical range through multiple repetition tests.

금형기판(40)의 일면에 도전성 입자(21) 형성용 홈(40a)을 형성시키는 방법으로는, 드라이 에칭 방법, 레이저 가공, 화학적 에칭 등 다용한 방법을 사용할 수 있게 된다.As a method of forming the grooves 40a for forming the conductive particles 21 on one surface of the mold substrate 40, various methods such as dry etching, laser processing, and chemical etching can be used.

이후에, 도 8(c)에 도시된 바와 같이 상기 도전성 입자(21) 형성용 홈(40a) 내부에 제1 금속분말(21')을 채우게 된다.(S300) 이때 제1 금속분말(21')은 도전성 입자(21) 형성용 홈(40a)에 맞게 적절한 양을 홈 내부에 투입하고, 원하는 도전성 입자(21)의 형상과 대응되는 형상을 가지도록 채우게 되는 것이다. Then, as shown in FIG. 8(c), the inside of the groove 40a for forming the conductive particles 21 is filled with the first metal powder 21'. (S300) At this time, the first metal powder 21' ) is injected into the groove in an appropriate amount according to the groove 40a for forming the conductive particles 21, and filled to have a shape corresponding to the shape of the desired conductive particle 21.

제1 금속분말(21')로서는 철, 니켈, 코발트, 이들 금속을 구리, 수지에 의해 코팅한 것 등을 이용할 수 있으며, 구체적으로는 고전도성 금속, 강자성체 금속, 세라믹, 고강도 금속 및 이들의 조합으로 된 것, 이들이 조합된 것에 카본소재를 혼합한 것이 사용될 수 있다. As the first metal powder 21', iron, nickel, cobalt, and those coated with copper or resin may be used. Specifically, highly conductive metals, ferromagnetic metals, ceramics, high-strength metals, and combinations thereof may be used. A mixture of a carbon material and a combination thereof may be used.

이때, 고전도성 금속이란, 금, 은, 구리, 팔라듐, 로듐, 백금, 등이 포함될 수 있으며, O ℃에 있어서의 도전율이 5 ×106Ω1m-1 이상인 것을 말한다.In this case, the highly conductive metal may include gold, silver, copper, palladium, rhodium, platinum, or the like, and may have a conductivity of 5 × 10 6 Ω 1 m -1 or more at 0 °C.

강자성 금속에는 코발트, 니켈, 철, 페라이트 등이 포함될 수 있으며, 고강도 금속에는 텅스텐, 티타늄등이 포함될 수 있다. 이때 강자성체 금속분말은 그 포화 자화가 0.1 Wb/㎡ 이상인 것을 바람직하게 이용할 수 있고, 보다 바람직하게는 0.3 Wb/㎡ 이상, 특히 바람직하게는 0.5 Wb/㎡ 이상인 것이고, 구체적으로는 철, 니켈, 코발트 또는 이들 의 합금을 예로 들 수 있고 이들 중에서는 니켈 또는 코발트로 이루어진 합금이 바람직하다.Ferromagnetic metals may include cobalt, nickel, iron, ferrite, and the like, and high-strength metals may include tungsten and titanium. In this case, the ferromagnetic metal powder may preferably have a saturation magnetization of 0.1 Wb/m2 or more, more preferably 0.3 Wb/m2 or more, and particularly preferably 0.5 Wb/m2 or more, specifically iron, nickel, or cobalt. or alloys thereof, among which alloys made of nickel or cobalt are preferable.

이 포화 자화가 0.1 Wb/㎡ 이상이면, 후술하는 방법에 의해 이방 도전성 시트(10)을 형성하기 위한 성형 재료층 중에 있어서 도전성 입자(21)를 쉽게 이동시킬 수 있고, 이에 의해 해당 성형 재료층에 있어서의 접속용 도전부(20)가 되는 부분으로 도전성 입자(21)를 확실하게 이동시켜 도전성 입자(21)의 연쇄를 형성할 수 있다.If this saturation magnetization is 0.1 Wb/m 2 or more, the conductive particles 21 can be easily moved in the molding material layer for forming the anisotropic conductive sheet 10 by a method described later, and thereby in the molding material layer. A chain of the conductive particles 21 can be formed by reliably moving the conductive particles 21 to the portion used as the conductive portion 20 for connection in the case.

또한 카본소재에는 CNT, 카본 섬유, 풀러렌, 그래핀 등이 포함될 수 있다.In addition, the carbon material may include CNT, carbon fiber, fullerene, graphene, and the like.

이후에, 도 5(d)에 도시된 바와 같이 제1 금속분말(21')을 가열하여 고체화된 코어입자(21a)를 제조하게 된다.(S400) 구체적으로 제1 금속분말(21')의 녹는점에 가까운 온도에서 가열하는 것에 의하여 금속분말 가루가 서로 밀착하여 고결(固結)화시키게 한다. 이때 소결을 위한 가열 온도는 금속분말 가루의 크기에 따라 금속분말의 재료의 녹는점을 기준으로 10%부터 시작될 수 있으며, 소결을 위한 효과적인 가열온도는 녹는점의 45 ~ 97% 수준인 것이 좋다. Subsequently, as shown in FIG. 5(d), the first metal powder 21' is heated to produce the solidified core particle 21a. (S400) Specifically, the first metal powder 21' By heating at a temperature close to the melting point, the metal powder powder adheres to each other and solidifies. At this time, the heating temperature for sintering may start from 10% based on the melting point of the material of the metal powder depending on the size of the metal powder powder, and the effective heating temperature for sintering is preferably 45 to 97% of the melting point.

이와 같이 금속분말을 높은 온도에서 가열시키는 경우에는 단위 면적당 원자나 분자들이 서로 응집되면서 외부와 접촉하는 표면적이 줄어들게 된다. 이 과정에서 기존의 도전성 입자(21)의 형성용 홈(40a)보다는 부피가 축소된 코어입자(21a)를 얻을 수 있게 된다. 이와 같이 가열후에 고체화된 입자가 도전성 입자(21) 형성용 홈(40a)보다 다소 부피면에서 감소된다는 점을 감안하여 도전성 입자(21) 형성용 홈(40a)은 원하는 입자보다 다소 크게 기판 상에 마련하는 것이 좋다.In this way, when the metal powder is heated at a high temperature, the surface area in contact with the outside is reduced as atoms or molecules per unit area are aggregated with each other. In this process, it is possible to obtain core particles 21a whose volume is reduced rather than the existing grooves 40a for formation of conductive particles 21 . In consideration of the fact that the particles solidified after heating are somewhat smaller in volume than the grooves 40a for forming the conductive particles 21, the grooves 40a for forming the conductive particles 21 are slightly larger than the desired particles on the substrate. It is good to arrange

이후에, 도 8(e)에 상기 도전성 입자(21) 형성용 홈(40a)에서, 상기 코어입자(21a)의 주변에 제1금속분말과는 다른 소재로 이루어지는 제2 금속분말(21'')을 채워넣게 된다. (S500) Subsequently, in the groove 40a for forming the conductive particles 21 in FIG. 8(e), the second metal powder 21'' made of a material different from the first metal powder around the core particle 21a. ) will be filled in. (S500)

구체적으로 제2 금속분말(21'')을 도전성 입자(21) 홈 내에서 코어입자(21a)와, 도전성 입자(21) 홈의 측면 사이의 공간과, 코어입자(21a) 상측 공간에 채워넣게 된다.Specifically, the second metal powder (21'') is filled in the space between the core particle (21a) in the groove of the conductive particle (21), the side surface of the groove of the conductive particle (21), and the space above the core particle (21a). do.

이러한 제2 금속분말(21'')은 제1 금속분말(21')과는 다소 소재로 이루어지게 되는데, 예를 들어 제1 금속분말(21')이 자성을 나타내는 소재로 이루어지는 경우, 제2 금속분말(21'')은 자성이 없는 고도전성 소재로 이루어지게 하는 것이 가능하다. 이때에는 최종적으로 제조된 도전성 입자(21)의 표면에 별도의 고도전성 금속으로 도금작업을 수행할 필요가 없게 되는 것이다.The second metal powder 21'' is made of a material somewhat different from the first metal powder 21'. For example, when the first metal powder 21' is made of a material exhibiting magnetism, the second metal powder 21' The metal powder 21'' may be made of a non-magnetic highly conductive material. In this case, it is not necessary to perform a plating operation with a separate highly conductive metal on the surface of the finally manufactured conductive particles 21 .

또한, 제1 금속분말(21')을 고도전성 소재로 이루어지게 하고, 제2 금속분말(21'')을 자성을 나타내는 소재로 이루어지게 하는 것이 가능하다. 이 경우에는 본질적으로 고 도전성 재료가 주로 이루어지는 입자를 제조하면서도 외부에 자성재료가 포함되어 있으므로 전도성이 우수하면서도 자성을 나타내는 입자를 간편하게 제조할 수 있다. In addition, it is possible to make the first metal powder 21' made of a highly conductive material and the second metal powder 21'' made of a material showing magnetism. In this case, since the magnetic material is included outside while manufacturing the particles mainly composed of the highly conductive material, it is possible to conveniently manufacture the particles showing excellent conductivity and exhibiting magnetism.

또한, 제1 금속분말(21')과 제2 금속분말(21'')이 모두 자성을 나타내는 자성분말과 전도성이 우수한 도전분말이 혼합되도록 하되, 제1 금속분말(21')에서는 자성분말의 비율이 도전분말의 비율보다 높게 하고, 제2 금속분말(21'')에서는 도전분말의 비율이 자성분말의 비율보다 높게 하는 것이 가능하다.In addition, both the first metal powder 21' and the second metal powder 21'' are mixed with a magnetic powder exhibiting magnetism and a conductive powder having excellent conductivity, but in the first metal powder 21', the magnetic powder It is possible to make the ratio higher than that of the conductive powder, and to make the ratio of the conductive powder higher than that of the magnetic powder in the second metal powder 21''.

제1 금속분말(21')과 제2 금속분말(21'')이 모두 자성을 나타내는 자성분말과 전도성이 우수한 도전분말이 혼합되도록 하되, 제1 금속분말(21')에서는 도전분말의 비율이 자성분말의 비율보다 높게 하고, 제2 금속분말(21'')에서는 자성분말의 비율이 도전분말의 비율보다 높게 하는 것이 가능하다.The first metal powder 21' and the second metal powder 21'' are mixed with magnetic powder showing magnetism and conductive powder having excellent conductivity, but the ratio of the conductive powder in the first metal powder 21' is It is possible to set the ratio higher than that of the magnetic powder, and in the second metal powder 21'', the ratio of the magnetic powder is higher than the ratio of the conductive powder.

이와 같이 제2 금속분말(21'')은 제1 금속분말(21')과는 다른 특성을 가지는 단일재료 또는 혼합재료로 이루어지게 함으로서 테스트 소켓의 다양한 특성에 맞게 적절한 위치에 맞는 도전성 입자(21)를 맞춤형으로 제작할 수 있게 된다. In this way, the second metal powder 21'' is made of a single material or a mixed material having characteristics different from that of the first metal powder 21', so that the conductive particles 21 fit in appropriate positions according to various characteristics of the test socket. ) can be custom-made.

도 8(f)에서는 상기 제2 금속분말(21'')을 제2 금속분말(21'')의 녹는점보다 낮은 온도에서 가열하여 도전성 입자(21) 형성용 홈(40a)보다 부피가 축소된 고체화된 도전성 입자(21)를 제조한다.(S600)In FIG. 8(f), the second metal powder 21'' is heated at a temperature lower than the melting point of the second metal powder 21'' to reduce the volume of the groove 40a for forming the conductive particles 21. The solidified conductive particles 21 are prepared. (S600)

이와 같이 소결에 의하여 제조된 도전성 입자(21)는 제2 금속분말(21'')로 이루어진 외피층(21b)이 제1 금속분말(21')로 이루어진 코어입자(21a)의 표면을 감싸고 있는 형태를 가지게 된다. 또한, 제조되는 도전성 입자(21)는 소결로 인하여 부피가 축소된 상태이므로 금형기판(40)의 표면에 부착되지 않고 소정간격 이격되어 있어서 분리가 용이한 상태로 될 수 있다.In the conductive particles 21 manufactured by sintering in this way, the outer layer 21b made of the second metal powder 21'' covers the surface of the core particle 21a made of the first metal powder 21'. will have In addition, since the manufactured conductive particles 21 are reduced in volume due to sintering, they are not attached to the surface of the mold substrate 40 and are spaced apart at predetermined intervals, so that they can be easily separated.

이때, 제2 금속분말(21'')을 가열하는 가열온도는 제2 금속분말(21'')의 녹는점보다 낮은 것이 좋고, 추가적으로 제1 금속분말(21')의 녹는점보다도 낮은 것이 좋다. 즉, 제1 금속분말(21')의 녹는점보다 높은 온도로 가열하게 되는 경우에는 제2 금속분말(21'') 내부의 코어입자(21a)가 용융상태로 될 수 있으나, 제1 금속분말(21')의 가열온도보다 낮은 경우에는 코어입자(21a)가 고체를 유지한 상태에서 새로운 소결체가 코어입자(21a)의 표면에 외피층(21b)이 형성될 수 있게 된다.At this time, the heating temperature for heating the second metal powder 21'' is preferably lower than the melting point of the second metal powder 21'' and additionally lower than the melting point of the first metal powder 21'. . That is, when heated to a temperature higher than the melting point of the first metal powder 21', the core particles 21a inside the second metal powder 21'' may be in a molten state, but the first metal powder If it is lower than the heating temperature of (21'), the outer skin layer 21b can be formed on the surface of the core particle 21a in a new sintered body while the core particle 21a remains solid.

또한, 코어입자(21a)를 제조할 때의 가열온도가 외피층(21b)을 형성할 때의 가열온도보다 높은 것이 좋고 상기 제1 금속분말(21')의 녹는점은, 제2 금속분말(21'')의 녹는점보다 같거나 높은 것이 좋다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며 필요에 따라서 제조된 도전성 입자(21)의 특성에 맞게 적절하게 소재 및 온도를 선정할 수 있다.In addition, it is preferable that the heating temperature at the time of manufacturing the core particle 21a is higher than the heating temperature at the time of forming the outer skin layer 21b, and the melting point of the first metal powder 21' is the second metal powder 21 It is better that it is equal to or higher than the melting point of ''). However, it is not limited thereto, and a material and temperature may be appropriately selected according to the characteristics of the manufactured conductive particles 21 as needed.

이후에는 도 8(g)에 도시된 바와 같이 도전성 입자(21) 형성용 홈(40a)으로부터 제조가 완료된 도전성 입자(21)를 분리해내게 된다.(S700) 이때 도전성 입자(21)는 도전성 입자(21) 형성용 홈(40a)보다 약간 작게 배치되어 있기 때문에 도전성 입자(21) 형성용 홈(40a)으로부터 쉽게 분리해낼 수 있게 되는 것이다.Subsequently, as shown in FIG. 8(g), the conductive particles 21 that have been manufactured are separated from the grooves 40a for forming the conductive particles 21. (S700) At this time, the conductive particles 21 are conductive particles. (21) Since it is arranged slightly smaller than the forming groove 40a, the conductive particles 21 can be easily separated from the forming groove 40a.

도 8에 의하여 제조된 도전성 입자(21)를 이용하여 이방 도전성 시트(10)를 제조하는 방법은 도 10에 도시되어 있다.A method of manufacturing the anisotropic conductive sheet 10 using the conductive particles 21 prepared in FIG. 8 is shown in FIG. 10 .

도전성 입자(21)는 용융상태의 탄성 절연물질(50') 내에 투입되어 균질하게 혼합하여 도전성 입자(21)가 고루 분산된 성형재료(50)를 제조하게 된다. 제조된 성형재료(50)는 도 10(a)에 도시된 바와 같이, 금형 내에 투입한다.The conductive particles 21 are introduced into the elastic insulating material 50' in a molten state and mixed homogeneously to produce the molding material 50 in which the conductive particles 21 are evenly dispersed. The manufactured molding material 50 is put into a mold, as shown in FIG. 10 (a).

이때, 탄성 절연물질은 가교 구조를 갖는 내열성의 고분자 물질이 바람직하다. 이러한 가교 고분자 물질을 얻기 위해 이용할 수 있는 경화성의 고분자 물질 형성 재료로서는 다양한 것을 이용할 수 있지만 액상 실리콘 고무가 바람직하다.At this time, the elastic insulating material is preferably a heat-resistant high molecular material having a cross-linked structure. A variety of materials can be used as a curable high molecular substance forming material that can be used to obtain such a crosslinked high molecular substance, but liquid silicone rubber is preferred.

액상 실리콘 고무는 부가형인 것이라도 좋고 축합형인 것이라도 좋지만, 부가형 액상 실리콘 고무가 바람직하다. 이 부가형 액상 실리콘 고무는, 비닐기와 Si-H 결합의 반응에 의해 경화하는 것이며, 비닐기 및 Si-H 결합의 양방을 함유하는 폴리실록산으로 이루어지는 1액상(1성분형)인 것과, 비닐기를 함유하는 폴리실록산 및 Si-H 결합을 함유하는 폴리실록산으로 이루어지는 2액상(2성분형)인 것이 있지만, 본 발명에 있어서는 2액상의 부가형 액상 실리콘 고무를 이용하는 것이 바람직하다.The liquid silicone rubber may be of an addition type or a condensation type, but an addition type liquid silicone rubber is preferable. This addition-type liquid silicone rubber is cured by a reaction between a vinyl group and a Si-H bond, and is a one-liquid (one-component type) composed of polysiloxane containing both a vinyl group and a Si-H bond, and one containing a vinyl group. There is a two-liquid (two-component type) composed of a polysiloxane and a polysiloxane containing a Si-H bond, but in the present invention, it is preferable to use a two-liquid addition type liquid silicone rubber.

한편, 성형물질이 투입되는 금형(60)은 상금형(61)과 하금형(65)으로 이루어진다. 상금형(61)은 강자성체 기판(62)의 하면에 성형해야 할 이방 도전성 시트(10)의 도전부(20)과 대응되는 위치에 강자성체층(63)이 형성되고, 이 강자성체층(63) 이외의 부위에는 비자성체층(64)이 형성되어 있고, 이들 강자성체층(63) 및 비자성체층(64)에 의해 성형면이 형성되어 있다. On the other hand, the mold 60 into which the molding material is injected is composed of an upper mold 61 and a lower mold 65. In the upper mold 61, a ferromagnetic layer 63 is formed on the lower surface of the ferromagnetic substrate 62 at a position corresponding to the conductive portion 20 of the anisotropic conductive sheet 10 to be molded, and other than the ferromagnetic layer 63 A non-magnetic layer 64 is formed at the portion of , and a molding surface is formed by these ferromagnetic layer 63 and non-magnetic layer 64 .

하금형(65)은 강자성체 기판(66)의 상면에 성형해야 할 이방 도전성 시트(10)의 도전부(20)의 배치 패턴과 동일한 패턴에 따라서 강자성체층(67)이 형성되고, 이 강자성체층(67) 이외의 부위에는 비자성체층(68)이 형성되어 있고, 이들 강자성체층(67) 및 비자성체층(68)에 의해 성형면이 형성되어 있다. In the lower mold 65, a ferromagnetic layer 67 is formed on the upper surface of the ferromagnetic substrate 66 according to the same pattern as the arrangement pattern of the conductive parts 20 of the anisotropic conductive sheet 10 to be molded, and this ferromagnetic layer ( 67), non-magnetic layers 68 are formed in portions other than those, and a molding surface is formed by these ferromagnetic layers 67 and non-magnetic layers 68.

금형은 상금형(61)에 있어서의 강자성체 기판(62)의 상면 및 하금형(65)에 있어서의 강자성체 기판(66)의 하면에 배치된 전자석(도시하지 않음)을 작동시킴으로써, 강도 분포를 갖는 평행 자장, 즉 상금형(61)의 강자성체층(63)과 이것에 대응하는 하금형(65)의 강자성체층(67) 사이에 있어서 큰 강도를 갖는 평행 자장을 두께 방향으로 작용시킨다. 그 결과, 도 10(b)에 도시된 바와 같이, 성형재료(50) 중에 분산되어 있던 도전성 입자(21)가, 상금형(61)의 각각의 강자성체층(63)과 이것에 대응하는 하금형(65)의 강자성체층(67) 사이에 위치하는 도전로가 되어야 할 부분에 집합하는 동시에, 성형재료(50)의 두께 방향으로 늘어서도록 배향한다.The mold has an intensity distribution by operating an electromagnet (not shown) disposed on the upper surface of the ferromagnetic substrate 62 in the upper mold 61 and the lower surface of the ferromagnetic substrate 66 in the lower mold 65. A parallel magnetic field, that is, a parallel magnetic field having a high intensity is applied in the thickness direction between the ferromagnetic layer 63 of the upper mold 61 and the ferromagnetic layer 67 of the lower mold 65 corresponding thereto. As a result, as shown in FIG. 10(b), the conductive particles 21 dispersed in the molding material 50 are transferred to each ferromagnetic layer 63 of the upper mold 61 and the lower mold corresponding thereto. (65) are oriented so as to line up in the thickness direction of the molding material 50 while gathering in the portion to be the conductive path located between the ferromagnetic layers 67.

그리고, 이 상태에 있어서, 성형재료(50)를 경화 처리함으로써, 도 10(c)에 도시된 바와 같이, 탄성 고분자 물질 중에 도전성 입자(21)가 두께 방향으로 늘어서도록 배향한 상태에서 밀하게 충전된 도전부(20)와, 이들 도전부(20)의 주위를 포위하도록 형성된, 도전성 입자(21)가 전혀 혹은 거의 존재하지 않는 절연성의 탄성 고분자 물질로 이루어지는 절연부(30)를 갖는 이방 도전성 시트(10)가 제조된다.And, in this state, by curing the molding material 50, as shown in FIG. 10(c), the conductive particles 21 in the elastic polymer material are tightly packed in a state in which they are aligned in the thickness direction and oriented. An anisotropic conductive sheet having conductive parts 20 formed around the conductive parts 20 and insulating parts 30 made of an insulating elastic polymer material having no or almost no conductive particles 21 present therein. (10) is produced.

본 발명의 실시예에서는 소결공정에 의하여 도전성 입자(21)가 제조되어 있으므로 코어입자(21a)의 내부에 기공이 형성되고 외피층(21b)에도 그 기공이 연장형성되어 있어서 액상물질 내에 투입시 액상물질이 도전성 입자(21)의 기공 내부까지 침투되며 이 상태에서 금형 내에서 경화되면 탄성 절연물질인 실리콘 고무가 도전성 입자(21)의 내부까지 침투되어 도전부(20)에서 도전성 입자(21)가 이탈되지 않는다.In the embodiment of the present invention, since the conductive particles 21 are manufactured by the sintering process, pores are formed inside the core particles 21a and the pores are formed in the outer skin layer 21b as well, so that when the liquid material is put into the liquid material, the pores are formed. It penetrates into the pores of the conductive particles 21, and when cured in the mold in this state, silicone rubber, which is an elastic insulating material, penetrates into the inside of the conductive particles 21, and the conductive particles 21 are separated from the conductive part 20. It doesn't work.

또한, 도전성 입자의 내부까지 기공이 형성되어 있으므로 외력에 의한 3차원 적인 탄성변형이 이루어질 수 있어서 도전성 입자 자체의 파손도 방지되는 장점도 있다.In addition, since pores are formed up to the inside of the conductive particles, three-dimensional elastic deformation by external force can be achieved, thereby preventing damage to the conductive particles themselves.

또한, 도전성 입자의 외부에 다수의 기공이 형성되어 있어서 불규칙한 표면으로 인하여 인접한 도전성 입자와 접촉시 접촉면적이 증가될 수 있어서 전기적 접속능력도 증가될 수 있다.In addition, since a plurality of pores are formed outside the conductive particles, the contact area may be increased when contacting adjacent conductive particles due to the irregular surface, and thus electrical connection capability may be increased.

또한, 도전성 입자(21)는 자성재료와, 고도전성 금속재료가 혼합된 상태로 구성되어 있어서 금형 내에서 자장을 작용시켰을 때 집합이 용이하게 되어 도전부(20) 사이에 도전성 입자(21)가 분포되는 일이 발생하지 않게 된다. 특히 가열에 의하여 다른 특성을 가진 재료가 일체로 결합되기 때문에 외력에 의하여 분리되는 일이 없게 된다.In addition, the conductive particles 21 are composed of a mixture of a magnetic material and a highly conductive metal material, so that when a magnetic field is applied in the mold, the assembly is easy, so that the conductive particles 21 are formed between the conductive parts 20. distribution will not occur. In particular, since materials having different characteristics are integrally combined by heating, they are not separated by external force.

또한, 이방 도전성 시트(10)를 제조한 후에도, 고 도전성 소재가 외피층(21b)에 형성되어 있는 경우에는 별도의 도금작업이 필요없이도 인접한 도전성 입자(21)와의 전도성이 우수하게 되는 장점이 있다. 특히 금과 같은 고도전성 재료를 추가로 피복처리해야 하는 일이 없어서 전체적인 제조시간을 현저하게 단축시킬 수 있는 장점이 있다.In addition, even after manufacturing the anisotropic conductive sheet 10, if the highly conductive material is formed on the outer layer 21b, there is an advantage in that the conductivity with the adjacent conductive particles 21 is excellent without the need for a separate plating operation. In particular, since there is no need to additionally coat a highly conductive material such as gold, there is an advantage in that the overall manufacturing time can be remarkably shortened.

또한 외피층(21b)은 고경도 소재로 이루어지게 하는 경우에는 빈번한 단자와의 접속과정에서 도전성 입자(21)가 파손되는 일이 없고 코어입자(21a)가 고전도성 소재로 이루어지면 전기적 신호를 저항없이 잘 전달할 수 있게 된다.In addition, when the outer layer 21b is made of a material with high hardness, the conductive particles 21 are not damaged in the process of frequent connection with terminals, and when the core particles 21a are made of a highly conductive material, electrical signals are transmitted without resistance. be able to communicate well.

특히 소결과정에서 고경도 소재로 이루어진 외피층의 내면이 코어입자의 외피층과 기공에 의하여 상호 얽혀져 있으므로 외피층과 코어입자간의 큰 결속력을 얻을 수 있다는 장점이 있다.In particular, since the inner surface of the outer layer made of a material of high hardness is intertwined with the outer layer of the core particle by pores in the sintering process, there is an advantage in that a large binding force between the outer layer and the core particle can be obtained.

도 11 및 도 12에서는 본 발명의 실시예에 따라서 제작된 도전성 입자(21)의 실물 사진을 도시한다. 도 11 및 도 12에서 나타난 바와 같이, 코어입자(21a)가 다면체 형상을 가지고 있는 경우 외피층(21b)은 코어입자(21a)의 적어도 2면을 둘러싸고 있으므로 다양한 특성을 효과적으로 나타내게 할 수 있다. 11 and 12 show real pictures of conductive particles 21 manufactured according to an embodiment of the present invention. As shown in FIGS. 11 and 12, when the core particle 21a has a polyhedral shape, the outer skin layer 21b surrounds at least two surfaces of the core particle 21a, so that various characteristics can be effectively displayed.

특히, 자성을 나타내면서도 도전성능이 우수하고, 내구성이 향상된 도전성 입자는 설계자의 필요에 따라서 다양한 형태와 구조로 간편하게 제작할 수 있다.In particular, conductive particles exhibiting magnetism, excellent conductivity, and improved durability can be easily manufactured in various shapes and structures according to the needs of designers.

특히, 기존의 소결방식을 이용한 도전성 입자는 1회 소결 후 금형기판에서 분리하여 사용하는 반면, 본 실시예에서는 형상 및 소재에 따른 소결시 나타나는 부피 변화를 이용하여 2회 또는 그 이상 횟수로 입자를 재충진 하여 소결하는 방식으로 특정 부위에 원하는 소재를 충진하여 소결 시킬 수 있어 목적에 맞는 도전성 입자를 제조 할 수 있을 뿐 아니라 도전성 입자의 특성을 대폭 향상 시킬 수 있게 된다.In particular, the conductive particles using the existing sintering method are separated from the mold substrate after being sintered once and used. In the method of refilling and sintering, a desired material can be filled in a specific area and sintered, so that not only can the purpose-fitting conductive particles be manufactured, but also the characteristics of the conductive particles can be significantly improved.

또한, 이방 도전성 시트에서 도전부는 상부/중간부/하부로 나누어 그 특성에 최적화된 입자를 적용해야 하는데, 상부 및 하부는 각각 디바이스 단자와 검사장치의 패드와 접촉하므로 전도성과 함께 접촉 내구성이 뛰어나야 하며, 중간부는 도전성 입자간 접촉 저항이 낮아야 전체 도전부의 전류 특성을 향상시킬 수 있는데, 이러한 각 영역별 특성에 맞게 간편하게 다양한 특성을 가지는 도전성 입자를 소결횟수를 증대시킴으로서 쉽게 제조할 수 있게 된다.In addition, in the anisotropic conductive sheet, the conductive part should be divided into upper / middle / lower parts, and particles optimized for its characteristics should be applied. , The middle part can improve the current characteristics of the entire conductive part when the contact resistance between conductive particles is low, and it is possible to easily manufacture conductive particles having various characteristics according to the characteristics of each region by increasing the number of times of sintering.

또한, 특정 부위의 소결은 특성을 제어 할 수 있는 큰 요인으로 내마모성과 수명을 향상 시킬 수 있고 전체 입자의 중심부 또는 최외층의 특정 부위에 들어가는 소재의 선정이 자유로워 진다. 수회 또는 수만회 접촉되어 전기적 신호를 전달하는 전도성 입자는 입자간의 누적된 피로와 마모로 그 특성을 잃게 되는 문제점을 보완 하기 위해 특정 부위에 내마모 또는 전기적 특성이 우수한 소재를 선택적으로 제작할 수 있게 되는 것이다.In addition, the sintering of a specific area is a big factor that can control the characteristics, and it can improve wear resistance and lifespan, and it is free to select the material that goes into the center of the entire particle or a specific area of the outermost layer. Conductive particles that transmit electrical signals by being contacted several times or tens of thousands of times can selectively manufacture materials with excellent wear resistance or electrical properties in specific areas to compensate for the problem of losing their properties due to accumulated fatigue and wear between particles. will be.

상술한 실시예에서는 2회의 소결공정을 이용하여 도전성 입자를 제조하는 방식을 예시하고 있으나, 필요에 따라서는 3회 또는 그 이상의 횟수를 이용하여 도전성 입자를 제조하는 것이 가능하다. 또한, 각 단계에 필요에 따라서 추가적인 공정을 추가로 실시하거나 후공정으로 도금등을 실시하는 등의 추가 작업이 병행되는 것도 가능하다.In the above-described embodiment, but exemplifying a method of manufacturing conductive particles using two sintering processes, it is possible to manufacture conductive particles using three or more times, if necessary. In addition, it is also possible to perform additional operations such as performing additional processes or performing plating as a post-process as needed in each step.

이상에서 바람직한 실시예를 들어 본 발명을 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시예들 및 변형예에 한정되는 것은 아니고 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다.Although the present invention has been described in detail with preferred embodiments above, the present invention is not necessarily limited to these embodiments and modifications, and can be variously modified without departing from the technical spirit of the present invention.

10...이방 도전성 시트 20...도전부
21...도전성 입자 30...절연부
21'...제1 금속분말 21''...제2 금속분말
21a...코어입자 21b...외피층
40...금형기판 40a...도전성 입자 형성용 홈
10 ... anisotropic conductive sheet 20 ... conductive part
21 ... conductive particles 30 ... insulation
21'...first metal powder 21''...second metal powder
21a ... core particle 21b ... outer layer
40 ... mold substrate 40a ... groove for forming conductive particles

Claims (26)

피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드 사이의 전기적 연결을 위한 이방 도전성 시트에 사용되며, 탄성 절연물질 내에 다수개가 함유되고 피검사 디바이스의 가압에 의하여 상호 접촉하여 단자와 패드의 전기적 연결을 위한 도전로를 형성하는데 이용되는 도전성 입자의 제조방법으로서,
(a) 금형기판을 준비하는 단계;
(b) 상기 금형기판의 어느 한 면에 도전성 입자와 대응되는 형상을 가지며 일측으로 개방된 도전성 입자 형성용 홈을 형성하는 단계;
(c) 상기 도전성 입자 형성용 홈 내부에 제1 금속분말을 채우는 단계;
(d) 제1 금속분말을 제1 금속분말의 녹는점보다 낮은 온도에서 가열하여 도전성 입자 형성용 홈보다 부피가 축소된 고체상태의 코어입자를 제조하는 단계;
(e) 상기 도전성 입자 형성용 홈에서, 상기 코어입자의 주변에 제1금속분말과 다른 소재로 이루어진 제2 금속분말을 채워넣는 단계;
(f) 상기 제2 금속분말을 제2 금속분말보다 낮은 온도에서 가열하여 도전성 입자 형성용 홈보다 부피가 축소된 고체화된 도전성 입자를 제조하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 도전성 입자의 제조방법.
It is used for the anisotropic conductive sheet for electrical connection between the terminal of the device under test and the pad of the test device, and a plurality of sheets are contained in an elastic insulating material and are in contact with each other by the pressure of the device under test to conduct electrical connection between the terminal and the pad. As a method for producing conductive particles used to form a furnace,
(a) preparing a mold substrate;
(b) forming a groove for forming conductive particles having a shape corresponding to the conductive particles and opened to one side on either side of the mold substrate;
(c) filling the first metal powder into the grooves for forming the conductive particles;
(d) heating the first metal powder at a temperature lower than the melting point of the first metal powder to prepare solid core particles whose volume is reduced compared to the grooves for forming conductive particles;
(e) filling a second metal powder made of a different material from the first metal powder around the core particle in the groove for forming the conductive particle;
(f) heating the second metal powder at a temperature lower than that of the second metal powder to produce solidified conductive particles having a volume smaller than that of the grooves for forming conductive particles.
제1항에 있어서,
(f) 단계 이후에, 상기 도전성 입자를 상기 금형기판의 도전성 입자 형성용 홈으로부터 분리해내는 단계가 더 포함되는 것을 특징으로 하는 도전성 입자의 제조방법.
According to claim 1,
After step (f), a step of separating the conductive particles from the grooves for forming conductive particles of the mold substrate is further included.
제1항에 있어서,
제1 금속분말은 자성을 나타내는 소재로 이루어지고, 제2 금속분말은 자성이 없는 도전소재로 이루어지는 것을 특징으로 하는 도전성 입자의 제조방법.
According to claim 1,
A method for producing conductive particles, characterized in that the first metal powder is made of a material exhibiting magnetism, and the second metal powder is made of a non-magnetic conductive material.
제3항에 있어서,
상기 제2 금속분말은 제1 금속분말보다 도전성능이 우수한 소재로 이루어진 것을 특징으로 하는 도전성 입자의 제조방법.
According to claim 3,
The method of producing conductive particles, characterized in that the second metal powder is made of a material having better conductivity than the first metal powder.
제1항에 있어서,
제2 금속분말은 자성을 나타내는 소재로 이루어지고, 제1 금속분말은 자성이 없는 도전소재로 이루어지는 것을 특징으로 하는 도전성 입자의 제조방법.
According to claim 1,
The method of producing conductive particles, characterized in that the second metal powder is made of a material exhibiting magnetism, and the first metal powder is made of a non-magnetic conductive material.
제5항에 있어서,
제1 금속분말은 제2 금속분말보다 도전성이 우수한 소재로 이루어지는 것을 특징으로 하는 도전성 입자의 제조방법.
According to claim 5,
A method for producing conductive particles, characterized in that the first metal powder is made of a material having higher conductivity than the second metal powder.
제1항에 있어서,
제1 금속분말은 자성을 나타내는 자성분말과, 자성이 없는 도전분말이 포함된 혼합분말로서, 상기 혼합분말에는 자성분말이 도전분말보다 높은 비율로 함유되어 있는 것을 특징으로 하는 도전성 입자의 제조방법.
According to claim 1,
The first metal powder is a mixed powder containing a magnetic powder showing magnetism and a non-magnetic conductive powder, wherein the mixed powder contains the magnetic powder in a higher ratio than the conductive powder. Method for producing conductive particles.
제1항에 있어서,
제1 금속분말은 자성을 나타내는 자성분말과, 자성이 없는 도전분말이 포함된 혼합분말로서, 상기 혼합분말에는 도전분말이 자성분말보다 높은 비율로 함유되어 있는 것을 특징으로 하는 도전성 입자의 제조방법.
According to claim 1,
The first metal powder is a mixed powder containing a magnetic powder showing magnetism and a non-magnetic conductive powder, wherein the mixed powder contains the conductive powder in a higher ratio than the magnetic powder powder. Method for producing conductive particles.
제1항에 있어서,
상기 (f) 단계에서 제조된 도전성 입자는 내부에 다수의 기공이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 도전성 입자의 제조방법.
According to claim 1,
The method of producing conductive particles, characterized in that the conductive particles prepared in step (f) have a plurality of pores formed therein.
제9항에 있어서,
상기 (f) 단계에서 제조된 도전성 입자의 외부에는 내부의 기공과 연결되는 다수의 기공이 형성되는 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 도전성 입자의 제조방법.
According to claim 9,
A method for producing conductive particles, characterized in that a plurality of pores connected to internal pores are formed on the outside of the conductive particles prepared in step (f).
제1항에 있어서,
상기 (d) 단계에서의 가열온도는 (f) 단계에서의 가열온도보다 높은 것을 특징으로 하는 도전성 입자의 제조방법.
According to claim 1,
The heating temperature in step (d) is a method for producing conductive particles, characterized in that higher than the heating temperature in step (f).
제1항에 있어서,
상기 제1 금속분말의 녹는점은, 제2 금속분말의 녹는점보다 같거나 높은 것을 특징으로 하는 도전성 입자의 제조방법.
According to claim 1,
The method of producing conductive particles, characterized in that the melting point of the first metal powder is equal to or higher than the melting point of the second metal powder.
제1항에 있어서,
상기 (d) 단계와, (f) 단계에서의 가열온도는 제1 금속분말 및 제2 금속분말의 녹는점보다 낮은 온도인 것을 특징으로 하는 도전성 입자의 제조방법.
According to claim 1,
The heating temperature in steps (d) and (f) is a method for producing conductive particles, characterized in that the temperature is lower than the melting point of the first metal powder and the second metal powder.
피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드 사이의 전기적 연결을 위한 이방 도전성 시트에 사용되며, 탄성 절연물질 내에 다수개가 함유되고 피검사 디바이스의 가압에 의하여 상호 접촉하여 단자와 패드의 전기적 연결을 위한 도전로를 형성하는데 이용되는 도전성 입자의 제조방법으로서,
(a) 금형기판을 준비하는 단계;
(b) 상기 금형기판의 어느 한 면에 도전성 입자와 대응되는 형상을 가지며 일측으로 개방된 도전성 입자 형성용 홈을 형성하는 단계;
(c) 상기 도전성 입자 형성용 홈 내부에 제1 금속분말을 채우는 단계;
(d) 제1 금속분말을 제1 금속분말의 녹는점보다 낮은 온도에서 가열하여 도전성 입자 형성용 홈보다 부피가 축소된 고체상태의 제1 입자를 제조하는 단계;
(e) 상기 도전성 입자 형성용 홈에서, 상기 제1 입자의 주변에 제1금속분말과 다른 소재로 이루어진 제2 금속분말을 채워넣는 단계;
(f) 상기 제2 금속분말을 제2 금속분말보다 낮은 온도에서 가열하여 도전성 입자 형성용 홈보다 부피가 축소되어 고체화되고 내부에 제1입자가 일체로 결합되어 있는 제2 입자를 제조하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 도전성 입자의 제조방법.
It is used for the anisotropic conductive sheet for electrical connection between the terminal of the device under test and the pad of the test device, and a plurality of sheets are contained in an elastic insulating material and are in contact with each other by the pressure of the device under test to conduct electrical connection between the terminal and the pad. As a method for producing conductive particles used to form a furnace,
(a) preparing a mold substrate;
(b) forming a groove for forming conductive particles having a shape corresponding to the conductive particles and opened to one side on either side of the mold substrate;
(c) filling the first metal powder into the grooves for forming the conductive particles;
(d) heating the first metal powder at a temperature lower than the melting point of the first metal powder to produce solid first particles whose volume is reduced from that of the grooves for forming conductive particles;
(e) filling a second metal powder made of a different material from the first metal powder around the first particles in the groove for forming the conductive particles;
(f) heating the second metal powder at a temperature lower than that of the second metal powder to produce second particles in which the volume is reduced and solidified than the grooves for forming conductive particles and the first particles are integrally bonded therein; Method for producing conductive particles, characterized in that it comprises.
제14항에 있어서,
상기 (f) 단계 이후에는,
제1 금속분말과 다른 소재로 이루어진 이종의 금속분말을 이용하여 (e), (f) 단계를 적어도 1회 이상 반복하여 도전성 입자를 제조하는 것을 특징으로 하는 도전성 입자의 제조방법.
According to claim 14,
After step (f),
A method for producing conductive particles, characterized in that the conductive particles are produced by repeating steps (e) and (f) at least once using a different type of metal powder made of a material different from the first metal powder.
제1항 또는 제14항의 제조방법으로 제조된 도전성 입자로서,
제1 금속분말을 소재로 이루어지는 코어입자와,
제2 금속분말을 소재로 이루어지고 상기 코어 입자의 적어도 일부분을 감싸는 외피층을 포함하는 것을 특징으로 하는 도전성 입자.
As the conductive particles produced by the manufacturing method of claim 1 or claim 14,
A core particle made of the first metal powder as a material;
Conductive particles comprising a second metal powder as a material and an outer layer covering at least a portion of the core particles.
제16항에 있어서,
상기 도전성 입자는 내부 코어 입자의 내부에는 다수의 기공이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 도전성 입자.
According to claim 16,
The conductive particles are conductive particles, characterized in that a plurality of pores are formed inside the inner core particles.
제17항에 있어서, 상기 다수의 기공은 도전성 입자의 표면까지 연결된 것을 특징으로 하는 도전성 입자.The conductive particle according to claim 17, wherein the plurality of pores are connected to the surface of the conductive particle. 제16항에 있어서,
상기 코어입자는 다면체로 이루어지고,
상기 외피층은, 상기 코어입자의 적어도 2면 이상을 감싸고 있는 것을 특징으로 하는 도전성 입자.
According to claim 16,
The core particle is made of a polyhedron,
The outer skin layer is conductive particle, characterized in that surrounding at least two or more surfaces of the core particle.
피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드 사이의 전기적 연결을 위한 이방 도전성 시트에 사용되며, 탄성 절연물질 내에 다수개가 함유되고 피검사 디바이스의 가압에 의하여 상호 접촉하여 단자와 패드의 전기적 연결을 위한 도전로를 형성하는데 이용되는 도전성 입자로서,
제1 금속분말을 소결하여 고체화되며 도전소재로 이루어진 코어입자; 및
상기 코어입자의 적어도 일부를 감싸고 있으며,
제1 금속분말과는 다른 소재로 이루어진 제2 금속분말로 이루어지고,
제2 금속분말을 소결하여 고체화되며 도전소재로 이루어진 외피층을 포함하는 것을 특징으로 하는 도전성 입자.
It is used for the anisotropic conductive sheet for electrical connection between the terminal of the device under test and the pad of the test device, and a plurality of sheets are contained in an elastic insulating material and are in contact with each other by the pressure of the device under test to conduct electrical connection between the terminal and the pad. As the conductive particles used to form the furnace,
Core particles made of a conductive material and solidified by sintering the first metal powder; and
At least a portion of the core particle is surrounded,
It consists of a second metal powder made of a material different from the first metal powder,
Conductive particles characterized in that they are solidified by sintering the second metal powder and include an outer layer made of a conductive material.
제20항에 있어서,
제1 금속분말은 자성을 나타내는 소재로 이루어지고, 제2 금속분말은 자성이 없는 도전소재로 이루어지는 것을 특징으로 하는 도전성 입자.
According to claim 20,
Conductive particles, characterized in that the first metal powder is made of a material exhibiting magnetism, the second metal powder is made of a non-magnetic conductive material.
제21항에 있어서,
상기 제2 금속분말은 제1 금속분말보다 도전성능이 우수한 소재로 이루어진 것을 특징으로 하는 도전성 입자.
According to claim 21,
The second metal powder is conductive particles, characterized in that made of a material superior in conductivity performance than the first metal powder.
제20항에 있어서,
제2 금속분말은 자성을 나타내는 소재로 이루어지고, 제1 금속분말은 자성이 없는 도전소재로 이루어지는 것을 특징으로 하는 도전성 입자.
According to claim 20,
Conductive particles, characterized in that the second metal powder is made of a material exhibiting magnetism, the first metal powder is made of a non-magnetic conductive material.
제23항에 있어서,
제1 금속분말은 제2 금속분말보다 도전성이 우수한 소재로 이루어지는 것을 특징으로 하는 도전성 입자.
According to claim 23,
Conductive particles characterized in that the first metal powder is made of a material having higher conductivity than the second metal powder.
제20항에 있어서,
상기 코어입자는 내부에 기공이 마련되고, 상기 외피층에도 기공이 마련되어 있으며, 상기 코어입자의 기공과, 외피층의 기공 중 일부는 상호 연통되어 있는 것을 특징으로 하는 도전성 입자.
According to claim 20,
Conductive particles, characterized in that pores are provided inside the core particles, pores are provided in the outer layer, and some of the pores of the core particles and the pores of the outer layer are in communication with each other.
제20항에 있어서,
상기 코어입자는 3면 이상을 가지는 다면체로 이루어지고, 상기 외피층은 코어입자의 적어도 2면을 감싸고 있는 것을 특징으로 하는 도전성 입자.
According to claim 20,
Conductive particles, characterized in that the core particle is made of a polyhedron having three or more surfaces, and the outer skin layer surrounds at least two surfaces of the core particle.
KR1020210191860A 2021-12-29 2021-12-29 Fabrication method of conductive particle and conductive particle KR102582710B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210191860A KR102582710B1 (en) 2021-12-29 2021-12-29 Fabrication method of conductive particle and conductive particle

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210191860A KR102582710B1 (en) 2021-12-29 2021-12-29 Fabrication method of conductive particle and conductive particle

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20230101609A true KR20230101609A (en) 2023-07-06
KR102582710B1 KR102582710B1 (en) 2023-09-26

Family

ID=87185753

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020210191860A KR102582710B1 (en) 2021-12-29 2021-12-29 Fabrication method of conductive particle and conductive particle

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102582710B1 (en)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008066077A (en) * 2006-09-06 2008-03-21 Sumitomo Electric Ind Ltd Anisotropic conductive sheet and forming method therefor, laminated sheet object, and inspection unit
JP5173173B2 (en) * 2006-09-12 2013-03-27 協立化学産業株式会社 Method for aligning conductive material and method for manufacturing electronic device having anisotropic material or anisotropic material using this alignment method
KR20140109102A (en) * 2013-03-05 2014-09-15 삼성디스플레이 주식회사 Anisotropic Conductive Film And Display Apparatus Having The Same
KR101525520B1 (en) * 2015-02-03 2015-06-03 (주)티에스이 Testing socket including conductive particles having combinable shape
JP2016541098A (en) * 2013-11-15 2016-12-28 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー Conductive article containing molded particles and method for producing the same
KR20170017951A (en) * 2017-01-20 2017-02-15 주식회사 아이에스시 anisotropic conductive sheet
KR20200039401A (en) * 2018-10-05 2020-04-16 주식회사 아이에스시 Manufacturing method of conductive particle and conductive particle manufactured by the method

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008066077A (en) * 2006-09-06 2008-03-21 Sumitomo Electric Ind Ltd Anisotropic conductive sheet and forming method therefor, laminated sheet object, and inspection unit
JP5173173B2 (en) * 2006-09-12 2013-03-27 協立化学産業株式会社 Method for aligning conductive material and method for manufacturing electronic device having anisotropic material or anisotropic material using this alignment method
KR20140109102A (en) * 2013-03-05 2014-09-15 삼성디스플레이 주식회사 Anisotropic Conductive Film And Display Apparatus Having The Same
JP2016541098A (en) * 2013-11-15 2016-12-28 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー Conductive article containing molded particles and method for producing the same
KR101525520B1 (en) * 2015-02-03 2015-06-03 (주)티에스이 Testing socket including conductive particles having combinable shape
KR20170017951A (en) * 2017-01-20 2017-02-15 주식회사 아이에스시 anisotropic conductive sheet
KR20200039401A (en) * 2018-10-05 2020-04-16 주식회사 아이에스시 Manufacturing method of conductive particle and conductive particle manufactured by the method

Also Published As

Publication number Publication date
KR102582710B1 (en) 2023-09-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5950366B2 (en) Test socket having high-density conductive portion and method of manufacturing the same
JP4467721B2 (en) Contactor and test method using contactor
KR100618017B1 (en) Electric resistance measuring connector and measuring device and measuring method for circuit board electric resistance
TWI725562B (en) Method of manufacturing conductive particles and conductive particles manufactured by the method
JP2013522874A (en) Wiring board with customized layer
JPWO2008120654A1 (en) Anisotropic conductive connector, probe member and wafer inspection device
KR101506131B1 (en) Fabrication method of test sheet and test sheet
KR102582710B1 (en) Fabrication method of conductive particle and conductive particle
JP2000241498A (en) Semiconductor element connecting device, and semiconductor element inspection device and its method
CN113994217A (en) Test socket
KR20180049425A (en) Anisotropic conductive sheet
JP3674300B2 (en) Semiconductor element inspection apparatus and inspection method
KR101042374B1 (en) Manufacturing method of interfering sheet and interfering sheet
KR20230151389A (en) Conductive particle, conductive particle manufacturing method and electric connecting connector
JP2024508918A (en) Flexible contactor and its manufacturing method
KR101037787B1 (en) Manufacturing method of interfering sheet and interfering sheet
TW202407724A (en) Method of manufacturing conductive particle, conductive particle, and connector for electrical connection
JP2000292484A (en) Semiconductor element-connecting apparatus, semiconductor element-inspecting apparatus and inspection method
US11231443B2 (en) Semiconductor device test socket
JP2006284418A (en) Wafer inspection probe card and wafer inspection device
KR102571582B1 (en) Testor socket
KR102511313B1 (en) Contactor array and manufacturing method thereof
JPWO2007029766A1 (en) Wafer inspection probe card, wafer inspection apparatus and wafer inspection method
JPH10197591A (en) Circuit board inspection device
KR100988304B1 (en) Elastic conductive sheet and manufacturing method thereof

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant