KR20230056313A - 전극 표면 검사 장치 - Google Patents

전극 표면 검사 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 일 실시예로서 전극을 이송하는 이송부; 상기 전극의 적어도 일면을 조명하는 조명; 및 상기 전극의 적어도 일면의 상기 전극의 길이 방향을 따라 인접한 복수의 영역 각각을 포함하는 복수의 영상을 촬영하고, 상기 복수의 영상 각각으로부터 상기 전극의 복수의 영역 각각의 영상을 크롭(crop)하여, 상기 전극의 복수의 영역 각각의 영상을 획득하는 카메라; 를 포함하는, 전극 표면 검사 장치를 제공한다.

Description

전극 표면 검사 장치 {ELECTRODE SURFACE INSPECTION DEIVCE}
본 개시는 전극 표면 검사 장치에 관한 것이다.
모바일 기기에 대한 기술 개발과 수요가 증가함에 따라, 재충전이 가능한 이차 전지는 다양한 모바일 기기의 에너지원으로서 광범위하게 사용되고 있다. 또한, 이차 전지는 기존의 가솔린 차량이나 디젤 차량의 대기오염 등을 해결하기 위한 방안으로 제시되고 있는 전기 자동차, 하이브리드 자동차 등의 에너지원으로서 또한 주목받고 있다.
이차 전지는 전지 케이스의 형상에 따라 코인형 전지, 원통형 전지, 각형 전지 및 파우치형 전지로 분류된다. 이 중, 특히 원통형 전지에 사용되는 전극의 표면 검사 수행 시, 전극 탭 및 전극 테이프가 있는 일부 영역에 대한 검사만을 수행하고 전극의 표면 전체 영역에 대한 검사는 수행하지 않는 경우가 있다. 또한, 검사 시 측정된 영상의 밝기 균일도 및 영상 왜곡 정도에 따라 영상 품질이 영향을 받게 되므로, 검출력이 저하될 수 있는 문제가 있다.
한국 공개특허 제10-2021-0103180호 (2021.08.23)
본 개시의 목적 중 하나는 전극 표면 전체 영역을 검사할 수 있는 전극 표면 검사 장치를 제공하는 것이다.
본 개시의 목적 중 다른 하나는 검출력이 향상된 전극 표면 검사 장치를 제공하는 것이다.
상기 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은 일 실시예로서 전극을 이송하는 이송부; 상기 전극의 적어도 일면을 조명하는 조명; 및 상기 전극의 적어도 일면의 상기 전극의 길이 방향을 따라 인접한 복수의 영역 각각을 포함하는 복수의 영상을 촬영하고, 상기 복수의 영상 각각으로부터 상기 전극의 복수의 영역 각각의 영상을 크롭(crop)하여, 상기 전극의 복수의 영역 각각의 영상을 획득하는 카메라; 를 포함하는, 전극 표면 검사 장치를 제공한다.
본 개시는 일 효과로서, 전극 표면 전체 영역을 검사할 수 있는 전극 표면 검사 장치를 제공할 수 있다.
본 개시는 다른 일 효과로서, 검출력이 향상된 전극 표면 검사 장치를 제공할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 전극 표면 검사 장치로 검사되는 전극의 평면도를 나타낸다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 표면 검사 장치의 사시도다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 표면 검사 장치의 단면도다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 표면 검사 장치의 카메라로 촬영 및 크롭된 영역을 도시한다.
이하 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명의 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 도면에는 설명의 편의를 위해 구성의 전부 또는 일부가 과장되게 표현되어 있을 수 있다.
또한, 본 발명이 첨부된 도면이나 본 명세서에서 설명된 내용으로 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명이 다양한 형태로 구현될 수 있음은 당업자에게 명백할 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 전극 표면 검사 장치로 검사되는 전극의 평면도를 나타낸다.
전극(10)은 원통형 전지에 사용되는 원통형 전지용 전극일 수 있으나, 다른 종류의 전지에 사용되는 전극을 본 발명의 실시예에 따른 전극 표면 검사 장치로 검사할 수도 있을 것이다. 전극(10)은 길이 방향(L)이 폭 방향(W)보다 긴 사각 형상을 가질 수 있다. 원통형 전지 제조 시, 전극(10)은 분리막과 함께 와인딩(winding)될 수 있다.
전극(10)은 전극(10)의 길이 방향(L)을 따라 인접한 복수의 영역(A)인, 1번째 영역(A1) 내지 n번째 영역(An)을 포함한다. 즉, 전극(10)의 복수의 영역(A)은 길이 방향(L)을 따라 순차적으로 배치되며, 전극(10)의 복수의 영역(A) 중 하나는 전극(10)의 복수의 영역(A) 중 이와 가장 가까이에 배치된 다른 하나(또는 둘)와 경계가 맞닿도록 인접하여 배치된다. 도면 상으로, 복수의 영역(A)은 1번째 영역(A1) 내지 18번?? 영역(A18)을 포함하는 것으로 도시하였으나 이는 예시에 불과할 뿐, 복수의 영역(A)의 개수는 특별히 제한되지 않는다. 또한, 도면에는 편의를 위해 전극(10)의 복수의 영역(A) 중 일부에만 부호(A)를 표시하였음을 밝혀 둔다.
다만, 전극(10)의 복수의 영역(A)은 후술하는 카메라(130)로 촬영 및 크롭되는 영상 각각에 포함되는 전극(10)의 서로 다른 영역을 서로 구분하여 설명하기 위한 것으로, 전극(10)의 복수의 영역(A)이 서로 육안으로 확인되는 경계를 갖는 것은 아니다.
전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 크기는 서로 실질적으로 동일할 수 있다. 달리 말해서, 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 길이 및 폭은 서로 실질적으로 동일할 수 있다. 본 명세서에서, 길이는 길이 방향(L)으로의 길이, 폭은 폭 방향(W)으로의 길이를 의미한다.
한편, 전극(10)은 전극 시트(11), 전극 탭(12) 및 절연부재(13)를 포함할 수 있다. 전극 시트(11)는 전극 집전체의 적어도 일부 영역 상에 전극 활물질이 도포된 것일 수 있다. 전극 탭(12)은 전극 시트(11) 상에 배치되며, 전극 시트(11)로부터 돌출된 영역을 갖는다. 절연부재(13)는 전극 시트(11)의 양면 중 적어도 일면 상에 배치되며, 전극 탭(12)의 전극 시트(11) 상에 배치된 영역을 덮는다. 예컨대, 절연부재(13)는 전극 시트(11)의 양면 각각에 배치되어, 전극 탭(12)을 샌드위칭할 수 있다. 절연부재(13)는 내열성 테이프일 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
다만, 본 발명의 실시예에 따른 전극 표면 검사 장치로 검사되는 전극의 구조가 도면에 도시된 전극(10)의 구조로 제한되는 것은 아니다. 예컨대, 전극 표면 검사 장치로 검사되는 전극은 도면에 도시된 구성 중 일부가 생략된 구조를 가질 수도 있고, 도면에 도시된 구성 이외의 구성을 더 포함한 구조를 가질 수도 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 표면 검사 장치의 사시도다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 표면 검사 장치의 단면도다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전극 표면 검사 장치(100)는 전극(10)을 이송하는 이송부(110), 전극(10)의 적어도 일면을 조명하는 조명(120), 전극(10)의 적어도 일면의 전극(10)의 길이 방향(L)을 따라 인접한 복수의 영역(A) 각각을 포함하는 복수의 영상을 촬영하고, 복수의 영상 각각으로부터 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상을 크롭(crop)하여, 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상을 획득하는 카메라(120), 조명(120)으로부터 조사된 광이 입사하며 입사한 광이 전극(10)의 적어도 일면으로 반사되는 거울(140), 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상을 순서대로 이어 붙인 영상을 형성하는 병합(merging)부(150) 중 적어도 하나를 포함한다.
이송부(110)는 전극(10)을 이송하며, 구체적으로 전극(10)을 전극(10)의 길이 방향(L)으로 이송하는 것일 수 있다. 이송부(110)는 전극(10)을 주행시키는 롤러(roller)를 포함함으로써 전극(10)을 이송하는 것일 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
조명(120)은 전극(10)의 적어도 일면을 조명한다. 조명(120)은 전극(10)의 적어도 일면에 광을 직접적으로 조사하여 전극(10)의 적어도 일면을 조명할 수도 있으나, 전극(10)의 적어도 일면에 광을 간접적으로 조사하여 전극(10)의 적어도 일면을 조명할 수도 있다. 예컨대, 조명(120)은 거울(140)로 광을 조사하고, 거울(140)로 입사한 광이 반사되어 전극(10)의 적어도 일면에 도달할 수 있다. 이를 통해, 조명(120)은 전극(10)의 적어도 일면에 간접적으로 조사하여 전극(10)의 적어도 일면을 조명할 수도 있다.
조명(120)은 각각 전극(10)의 양면 각각을 조명하는 제1 조명(121) 및 제2 조명(122)을 포함할 수 있다. 따라서, 조명(120)은 전극(10)의 양면을 조명할 수 있다. 달리 말해서, 제1 조명(121)은 전극(10)의 일면을 조명하고, 제2 조명(122)은 전극(10)의 일면의 반대 면인 타면을 조명할 수 있다. 본 명세서에서, 전극(10)의 일면 및 타면은 두께 방향(T)으로 서로 마주할 수 있다. 제1 조명(121) 및 제2 조명(122) 각각은 전극(10)의 양면 각각에 광을 직접적으로 조사하여 전극(10)의 양면을 조명할 수도 있으나, 전극(10)의 양면 각각에 광을 간접적으로 조사하여 전극(10)의 양면을 조명할 수도 있음은 물론이다.
카메라(130)는 전극(10)의 적어도 일면 상에 배치될 수 있다. 다만, 카메라(130)가 전극(10)의 적어도 일면 상에 배치될 수 있다는 것은 카메라(130) 및 전극(10) 사이에 다른 구성이 개재되는 것을 배제하는 의미는 아니다. 예컨대, 카메라(130) 및 전극(10) 사이에는 거울(140)이 배치될 수 있다.
카메라(130)는 전극(10)의 적어도 일면의 전극(10)의 길이 방향(L)을 따라 인접한 복수의 영역(A) 각각을 포함하는 복수의 영상을 촬영하고, 복수의 영상 각각으로부터 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상을 크롭(crop)하여, 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상을 획득한다.
카메라(130)는 영역 스캔 카메라(Area Scan Camera)일 수 있다. 이를 통해, 전극(10)의 적어도 일면의 전극(10)의 길이 방향(L)을 따라 인접한 복수의 영역(A) 각각을 포함하는 복수의 영상을 촬영할 수 있다.
또한, 카메라(130)는 관심 영역 조정 가능 기능(Adjustable ROI Function)을 가질 수 있다. 따라서, 카메라(130)는 관심 영역 조정 가능 기능으로 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상을 크롭할 수 있다.
한편, 카메라(130)로 획득된 영상은 전극 시트(11), 전극 탭(12) 및 절연부재(13)를 포함하여, 전극(10)의 표면 전체 영역의 영상을 포함할 수 있다. 따라서, 카메라(130)로 획득된 영상을 통해 전극(10)의 표면 전체 영역을 검사할 수 있다. 다만, 전극(10)의 표면 전체 영역의 영상은 하나의 영상에 포함되는 것은 아니며, 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상이 복수의 영상에 나누어 존재할 수 있다. 복수의 영역(A) 각각의 영상은 병합부(150)에 의해 하나의 영상으로 순서대로 병합될 수 있다.
카메라(130)로 획득된 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상, 즉 크롭된 이후의 영상에서, 각 영역 간의 밝기는 실질적으로 균일할 수 있다. 구체적으로, 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상 각각은 그레이 스케일(gray scale) 이미지일 수 있으며, 이 때 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상 내에서 픽셀 간 그레이 레벨(gray level, gray value는 0 내지 255)의 편차는 약 5% 이하일 수 있다. 그레이 스케일 이미지인 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상 각각은 컬러 이미지가 그레이 스케일로 변환됨으로써 형성된 것일 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
카메라(130)는 전극(10)의 일면의 전극(10)의 길이 방향(L)을 따라 인접한 복수의 영역(A) 각각의 영상을 획득하는 제1 카메라(131) 및 전극(10)의 일면 반대 면인 타면의 전극(10)의 길이 방향(L)을 따라 인접한 복수의 영역(A) 각각의 영상을 획득하는 제2 카메라(132)를 포함할 수 있다. 따라서, 카메라(130)는 전극(10)의 양면 각각에 대한 복수의 영역(A) 각각의 영상을 획득할 수 있다. 이를 통해, 전극(10)의 양면 전체 영역의 전체 영역의 영상을 획득하고, 전극(10)의 양면 전체 영역의 검사를 수행할 수 있다.
거울(140)로는 조명(120)으로부터 조사된 광이 입사하며, 거울(140)로 입사한 광은 전극(10)의 적어도 일면으로 반사될 수 있다. 다만, 조명(120)이 전극(10)의 적어도 일면에 광을 직접적으로 조사할 수 있는 경우, 거울(140)은 필요하지 않을 수 있다.
거울(140)은 전극(10) 및 카메라(130) 사이에 비스듬히 배치될 수 있다. 이 때, 조명(120)은 전극(10) 및 카메라(130) 사이의 영역에서 거울(140) 상에 배치될 수 있다. 즉, 이 경우 조명(120)은 동축 조명일 수 있다. 구체적으로, 거울(140)은 전극(10) 및 조명(120) 각각과 소정의 각도를 이루며 전극(10) 및 조명(120) 사이를 향하여 배치될 수 있다. 예컨대, 거울(140)은 전극(10) 및 조명(120) 각각과 약 45°의 각도를 이루며 전극(10) 및 조명(120) 사이를 향하여 배치될 수 있다. 거울(140)은 카메라(130)는 등질 수 있으며, 카메라(130)로 광을 투과시키기 위해 반투과 거울일 수 있다. 이 때, 조명(120)으로부터 조사된 광은 거울(140)로 입사 후 반사되어, 전극(10)으로 입사 후 반사된 다음 카메라(130)로 입사할 수 있다.
거울(140)은 제1 조명(121)으로부터 조사된 광이 입사하며, 입사한 광이 전극(10)의 일면으로 반사되는 제1 거울(141) 및 제2 조명(122)으로부터 조사된 광이 입사하며, 입사한 광이 전극(10)의 일면의 반대 면인 타면으로 반사되는 제2 거울(142)을 포함할 수 있다. 따라서, 제1 조명(121) 및 제2 조명(122) 각각으로부터 조사된 광은 제1 거울(141) 및 제2 거울(142) 각각을 경유하여 전극(10)의 양면 각각에 도달할 수 있다. 제1 거울(141) 및 제2 거울(142)은 전극(10)을 사이에 두고 서로 마주하여 비스듬히 배치될 수 있다. 이 때, 제1 거울(141) 및 제2 거울(142) 서로 반대 방향으로 기울어져 배치될 수 있다.
병합부(150)는 카메라(140)로 획득된 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상을 순서대로 이어 붙인 영상을 형성한다. 즉, 병합부(150)는 카메라(140)로 획득된 전극(10)의 1번째 영역(A1) 내지 n번째 영역(An) 각각의 영상을 순차적으로 이어 붙인 영상을 형성한다. 따라서, 병합부(150)는 전극(10)의 적어도 일면에 상응하는 영상을 형성할 수 있다. 카메라(140)가 제1 카메라(141) 및 제2 카메라(142)를 포함하는 경우, 병합부(150)는 전극(10)의 양면 각각에 상응하는 영상 각각을 형성할 수 있다. 병합부(150)로 형성된 영상은 도 1에 도시된 전극(10)의 표면과 구조가 실질적으로 동일할 수 있다. 다만, 병합부(150)에 의해 형성된 영상은 복수의 영상을 이어 붙인 형태이므로, 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상 사이에는 경계가 존재할 수 있을 것이다.
병합부(150)는 카메라(130)의 내부에 배치될 수도 있으며, 외부에 배치될 수도 있다. 달리 말해서, 병합부(150)는 카메라(130)에 임베디드(embedded)된 장치일 수도 있으며, 카메라(130)로부터 영상을 전달받는 별도의 장치일 수도 있다.
한편, 전극, 특히 원통형 전지에 사용되는 전극의 표면 검사 수행 시, 전극 탭 및 전극 테이프가 있는 일부 영역에 대한 검사만을 수행하고 전극의 표면 전체 영역에 대한 검사는 수행하지 않는 경우가 있다. 또한, 검사 시 측정된 영상의 밝기 균일도 및 영상 왜곡 정도에 따라 영상 품질이 영향을 받게 되므로, 검출력이 저하될 수 있는 문제가 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 카메라(130)는 전극(10)의 길이 방향(L)을 따라 인접한 복수의 영역(A) 각각을 포함하는 복수의 영상을 촬영하고, 촬영된 복수의 영상 각각으로부터 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상을 크롭(crop)하여, 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상을 획득한다. 또한, 카메라(130)로 획득된 전극(10)의 복수의 영역(A) 각각의 영상은 병합부(150)에 의해 하나의 영상으로 순서대로 병합될 수 있다. 이를 통해, 전극 표면 전체 영역을 일체로 검사할 수 있는 전극 표면 검사 장치를 제공할 수 있다.
뿐만 아니라, 카메라(130)는 밝기가 균일한 영역만을 크롭하며, 크롭된 이후의 영상에서 각 영역 간의 밝기는 실질적으로 균일할 수 있다. 이는 밝기가 균일한 영역만을 크롭하도록 크롭 라인(c)을 설정함으로써 도달할 수 있다. 이를 통해, 밝기 균일도가 향상된 영상을 통해 검사를 수행함으로써, 검출력이 향상된 전극 표면 검사 장치를 제공할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 표면 검사 장치의 카메라로 촬영 및 크롭된 영역을 도시한다.
카메라(130)로 촬영된 영상은 전극(10)의 적어도 일면의 복수의 영역(A) 중 하나를 포함한다. 다만, 도면에 도시된 바와 같이, 카메라(130)로 촬영된 영상은 전극(10)의 복수의 영역(A) 중 다른 하나 이상(예컨대, 전극(10)의 복수의 영역(A) 중 다른 둘)의 적어도 일부를 더 포함할 수 있다. 따라서, 카메라(130)는 촬영된 영상을 크롭 라인(c)을 따라 크롭하여, 전극(10)의 복수의 영역(A) 중 하나만을 포함하는 영상을 획득한다. 즉, 카메라(130)로 획득된 영상은 전극(10)의 복수의 영역(A) 중 하나만을 포함하고, 전극(10)의 복수의 영역(A) 중 다른 하나 이상은 포함하지 않는다. 다만, 카메라(130)로 획득된 영상은 전극(10)의 주변 영역의 영상을 포함할 수는 있다. 크롭 라인(c)은 폭 방향(W)과 평행하며, 따라서 크롭 후 길이 방향(L)을 따라 인접한 전극(10)의 복수의 영역(A) 중 하나만을 포함하는 영상을 획득할 수 있다.
이상으로, 본 발명의 일 실시예를 예시적으로 설명하였으나, 본 발명의 실시 형태를 전술한 실시예로 제한하고자 하는 것은 아니다. 당업자는 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서, 본 명세서 및 첨부된 도면을 참고하여 본 발명의 전부 또는 일부 구성을 생략, 변경, 치환하거나 다른 구성을 추가하는 등 본 발명의 일 실시예를 적절히 변형하여 실시할 수 있을 것이다.
본 명세서에서, 제1, 제2 등의 순번은 구성요소를 서로 구별하기 위한 것이며, 구성요소 간의 우선순위를 의미하거나 절대적인 순번을 의미하는 것이 아니다. 본 명세서의 일부분에서 제1 구성요소는 본 명세서의 다른 부분에서 제2 구성요소로 지칭될 수도 있다.
본 명세서의 용어 및 표현은 광범위하게 해석되어야 하며 제한적인 의미로 해석되어서는 안 된다. 본 명세서에서, '포함'한다라는 표현은 언급된 구성 이외에 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.
본 명세서에서, 단수형의 표현은 문맥 상 명시적으로 배제되지 않는 한 복수형을 포함한다.
본 명세서에서 예시적으로 설명된 각 실시예들은 서로 조합이 가능하며, 모순되지 않는 한 특정 실시예에서 설명된 내용은 다른 실시예에서 설명되지 않았더라도 다른 실시예에 동일하게 적용될 수 있다.
10: 전극
11: 전극 시트
12: 전극 탭
13: 절연부재
A: 전극의 복수의 영역
100: 전극 표면 검사 장치
110: 이송부
120, 121, 122: 조명
130, 131, 132: 카메라
140, 141, 142: 거울
150: 병합부

Claims (10)

  1. 전극을 이송하는 이송부;
    상기 전극의 적어도 일면을 조명하는 조명; 및
    상기 전극의 적어도 일면의 상기 전극의 길이 방향을 따라 인접한 복수의 영역 각각을 포함하는 복수의 영상을 촬영하고, 상기 복수의 영상 각각으로부터 상기 전극의 복수의 영역 각각의 영상을 크롭(crop)하여, 상기 전극의 복수의 영역 각각의 영상을 획득하는 카메라; 를 포함하는,
    전극 표면 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 조명으로부터 조사된 광이 입사하며, 입사한 광이 상기 전극의 적어도 일면으로 반사되는 거울; 을 더 포함하는,
    전극 표면 검사 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 전극의 복수의 영역 각각의 영상을 순서대로 이어 붙인 영상을 형성하는 병합(merging)부; 를 더 포함하는,
    전극 표면 검사 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 카메라는 영역 스캔 카메라(Area Scan Camera)인 것인,
    전극 표면 검사 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 카메라는 관심 영역 조정 가능 기능(Adjustable ROI Function)으로 상기 전극의 복수의 영역 각각의 영상을 크롭하는 것인,
    전극 표면 검사 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 조명은 각각 상기 전극의 양면 각각을 조명하는 제1 조명 및 제2 조명을 포함하고,
    상기 카메라는 상기 전극의 일면의 상기 전극의 길이 방향을 따라 인접한 복수의 영역 각각의 영상을 획득하는 제1 카메라 및 상기 전극의 일면의 반대 면인 타면의 상기 전극의 길이 방향을 따라 인접한 복수의 영역 각각의 영상을 획득하는 제2 카메라를 포함하는 것인,
    전극 표면 검사 장치.
  7. 제2항에 있어서,
    상기 카메라는 상기 전극의 적어도 일면 상에 배치되고,
    상기 거울은 상기 전극 및 상기 카메라 사이에 비스듬히 배치되며,
    상기 조명은 상기 전극 및 상기 카메라 사이의 영역에서 상기 거울 상에 배치된 것인,
    전극 표면 검사 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 전극은 전극 시트, 상기 전극 시트 상에 배치되며 상기 전극 시트로부터 돌출된 영역을 갖는 전극 탭 및 상기 전극 탭의 상기 전극 시트 상에 배치된 영역을 덮는 절연부재를 포함하는 것인,
    전극 표면 검사 장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 카메라로 획득된 영상은 상기 전극 시트, 상기 전극 탭 및 상기 절연부재를 포함하여, 상기 전극의 표면 전체 영역의 영상을 포함하는 것인,
    전극 표면 검사 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 전극의 복수의 영역 각각의 영상 각각은 그레이 스케일 이미지이며,
    상기 전극의 복수의 영역 각각의 영상 내에서, 픽셀 간 그레이 레벨의 편차는 5% 이하인 것인,
    전극 표면 검사 장치.
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