JP2024521362A - 電極表面の検査装置 - Google Patents
電極表面の検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2024521362A JP2024521362A JP2023574479A JP2023574479A JP2024521362A JP 2024521362 A JP2024521362 A JP 2024521362A JP 2023574479 A JP2023574479 A JP 2023574479A JP 2023574479 A JP2023574479 A JP 2023574479A JP 2024521362 A JP2024521362 A JP 2024521362A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- camera
- regions
- inspection device
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 38
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 9
- 230000032258 transport Effects 0.000 abstract description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000003915 air pollution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/30—Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
- H01M10/04—Construction or manufacture in general
- H01M10/0404—Machines for assembling batteries
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
- H01M4/00—Electrodes
- H01M4/02—Electrodes composed of, or comprising, active material
- H01M4/04—Processes of manufacture in general
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8841—Illumination and detection on two sides of object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/10—Scanning
- G01N2201/105—Purely optical scan
- G01N2201/1053—System of scan mirrors for composite motion of beam
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Connection Of Batteries Or Terminals (AREA)
- Battery Electrode And Active Subsutance (AREA)
Abstract
本発明は、一実施例として電極を移送する移送部;前記電極の少なくとも一面を照明する照明;及び前記電極の少なくとも一面の前記電極の長手方向に沿って隣接する複数の領域それぞれを含む複数の映像を撮影し、前記複数の映像それぞれから前記電極の複数の領域それぞれの映像をクロップ(crop)して、前記電極の複数の領域それぞれの映像を獲得するカメラ;を含む、電極表面の検査装置を提供する。
Description
本出願は、2021年10月20日付け韓国特許出願第10-2021-0140199号に基づく優先権の利益を主張し、当該韓国特許出願の文献に開示されたすべての内容は本明細書の一部として含む。
本開示は、電極表面の検査装置に関する。
モバイル機器に関する技術開発と需要が増加するにつれて、再充電が可能な二次電池は様々なモバイル機器のエネルギー源として広範囲に使用されている。また、二次電池は、既存のガソリン車両やディーゼル車両の大気汚染などを解決するための方案として提示されている電気自動車、ハイブリッド自動車などのエネルギー源としても注目を集めている。
この中で、特に円筒型電池に用いられる電極の表面の検査を行う際に、電極タブ及び電極テープのある一部の領域に対する検査のみを行い、電極の表面全体領域に対する検査は行わない場合がある。また、検査時に測定された映像の明るさの均一度及び映像の歪みの程度によって映像品質が影響を受けるようになるので、検出力が低下する可能性があるという問題がある。
本開示の目的の一つは、電極表面の全体領域を検査することができる電極表面の検査装置を提供することである。
本開示の他の目的は、検出力が向上した電極表面の検査装置を提供することである。
前記課題を解決するために、本発明は、一実施例として電極を移送する移送部;前記電極の少なくとも一面を照明する照明;及び前記電極の少なくとも一面の前記電極の長手方向に沿って隣接する複数の領域それぞれを含む複数の映像を撮影し、前記複数の映像それぞれから前記電極の複数の領域それぞれの映像をクロップ(crop)し、前記電極の複数の領域それぞれの映像を獲得するカメラ;を含む、電極表面の検査装置を提供する。
本開示は、一効果として、電極表面の全体領域を検査することができる電極表面の検査装置を提供することができる。
本開示は、他の一効果として、検出力が向上した電極表面の検査装置を提供することができる。
以下、添付の図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明する。図面には、説明の便宜上、構成の全部または一部を誇張して表現されている場合がある。
また、本発明は添付の図面や本明細書において説明された内容に限定されるものではなく、本発明の技術的思想から逸脱しない範囲内で本発明が様々な形態で具現化されることができることは当業者にとって明らかである。
図1は、本発明の実施例に係る電極表面の検査装置で検査される電極の平面図を示す。
電極10は、円筒型電池に用いられる円筒型電池用電極であってもよいが、他の種類の電池に用いられる電極を本発明の実施例に係る電極表面の検査装置で検査してもよい。電極10は、長手方向Lが幅方向Wよりも長い四角形状を有してもよい。円筒型電池の製造時に、電極10は分離膜と共にワイディング(winding)されることができる。
電極10は、電極10の長手方向Lに沿って隣接する複数の領域Aである、一番目領域A1~n番目領域Anを含む。すなわち、電極10の複数の領域Aは長手方向Lに沿って順次配置され、電極10の複数の領域Aのうちの一方は電極10の複数の領域Aのうちこれと最も近くに配置された他方(または両方)と境界が当接するように隣接して配置される。図において、複数の領域Aは、一番目領域A1~18番目領域A18を含むものと示したが、これは例示にすぎず、複数の領域Aの数は特に制限されない。また、図面には、便宜上、電極10の複数の領域A中の一部にのみ符号Aを表示したことを明らかにする。
ただし、電極10の複数の領域Aは、後述するカメラ130で撮影及びクロップされる映像それぞれに含まれる電極10の異なる領域を互いに区別して説明するためのもので、電極10の複数の領域Aが互いに目視で確認される境界を有するものではない。
電極10の複数の領域Aそれぞれの大きさは、互いに実質的に同一であってもよいる。言い換えれば、電極10の複数の領域Aそれぞれの長さ及び幅は互いに実質的に同一であってもよい。本明細書において、長さとは長手方向Lへの長さ、幅は幅方向Wへの長さを意味する。
一方、電極10は、電極シート11、電極タブ12及び絶縁部材13を含むことができる。電極シート11は、電極集電体の少なくとも一部の領域上に電極活物質が塗布されたものであってもよい。電極タブ12は、電極シート11上に配置され、電極シート11から突出した領域を有する。絶縁部材13は、電極シート11の両面の少なくとも一面上に配置され、電極タブ12の電極シート11上に配置された領域を覆う。例えば、絶縁部材13は、電極シート11の両面それぞれに配置され、電極タブ12を挟むことができる。絶縁部材13は耐熱性テープであってもよいが、これに制限されない。
ただし、本発明の実施例に係る電極表面の検査装置で検査される電極の構造が、図に示された電極10の構造に制限されるものではない。例えば、電極表面の検査装置で検査される電極は、図に示された構成中の一部が省略された構造を有してもよく、図に示された構成以外の構成をさらに含む構成を有してもよい。
図2は、本発明の一実施例に係る電極表面の検査装置の斜視図である。
図3は、本発明の一実施例に係る電極表面の検査装置の断面図である。
本発明の一実施例に係る電極表面の検査装置100は、電極10を移送する移送部110、電極10の少なくとも一面を照明する照明120、電極10の少なくとも一面の電極10の長手方向Lに沿って隣接する複数の領域Aそれぞれを含む複数の映像を撮影し、複数の映像それぞれから電極10の複数の領域Aそれぞれの映像をクロップ(CROP)して、電極10の複数の領域Aそれぞれの映像を獲得するカメラ130、照明120から照射された光が入射し、入射した光が電極10の少なくとも一面に反射されるミラー140、および電極10の複数の領域Aそれぞれの映像を順につなぎ合わせた映像を形成する併合(merging)部150のうちの少なくとも1つを含む。
移送部110は、電極10を移送し、具体的に、電極10を電極10の長手方向Lに移送するものであってもよい。移送部110は、電極10を走行させるローラを含むことによって電極10を移送するものであってもよいが、これに制限されない。
照明120は、電極10の少なくとも一面を照明する。照明120は、電極10の少なくとも一面に光を直接照射して電極10の少なくとも一面を照明することもできるが、電極10の少なくとも一面に光を間接的に照射して電極10の少なくとも一面を照明することもできる。例えば、照明120はミラー140に光を照射し、ミラー140に入射した光が反射されて電極10の少なくとも一面に到達することができる。これを通じて、照明120は、電極10の少なくとも一面に間接的に照射して電極10の少なくとも一面を照明することもできる。
照明120はそれぞれ、電極10の両面それぞれを照明する第1の照明121及び第2の照明122を含むことができる。したがって、照明120は電極10の両面を照明することができる。言い換えれば、第1の照明121は電極10の一面を照明し、第2の照明122は電極10の一面の反対面である他面を照明することができる。本明細書において、電極10の一面及び他面は厚さ方向Tに関して対向することができる。第1の照明121及び第2の照明122それぞれは、電極10の両面それぞれに光を直接照射して電極10の両面を照明することもできるが、電極10の両面それぞれに光を間接的に照射して電極10の両面を照明することもできることは勿論である。
カメラ130は、電極10の少なくとも一面上に配置されることができる。ただし、カメラ130が電極10の少なくとも一面上に配置されることができるというのは、カメラ130及び電極10間に他の構成が介在することを排除する意味ではない。例えば、カメラ130及び電極10間にはミラー140が配置されることができる。
カメラ130は、電極10の少なくとも一面の電極10の長手方向Lに沿って隣接する複数の領域Aそれぞれを含む複数の映像を撮影し、複数の映像それぞれから電極10の複数の領域Aそれぞれの映像をクロップ(crop)して、電極10の複数の領域Aそれぞれの映像を獲得する。
カメラ130は、領域スキャンカメラ(Area Scan Camera)であってもよい。これを通じて、電極10の少なくとも一面の電極10の長手方向Lに沿って隣接する複数の領域Aそれぞれを含む複数の映像を撮影することができる。
また、カメラ130は、関心領域調整可能機能(Adjustable ROI Function)を有してもよい。したがって、カメラ130は、関心領域調整可能機能で電極10の複数の領域Aそれぞれの映像をクロップすることができる。
一方、カメラ130で獲得された映像は、電極シート11、電極タブ12及び絶縁部材13を含み、電極10の表面全体領域の映像を含むことができる。したがって、カメラ130で獲得された映像を通じて電極10の表面全体領域を検査することができる。ただし、電極10の表面全体領域の映像は1つの映像に含まれるものではなく、電極10の複数の領域Aそれぞれの映像が複数の映像に分けて存在することができる。複数の領域Aそれぞれの映像は、併合部150により1つの映像に順に併合されることができる。
カメラ130で獲得された電極10の複数の領域Aそれぞれの映像、すなわちクロップされた後の映像において、各領域間の明るさは実質的に均一であってもよい。具体的に、電極10の複数の領域Aそれぞれの映像それぞれはグレースケール(gray scale)イメージであってもよく、このとき、電極10の複数の領域Aそれぞれの映像内において、ピクセル間のグレーレベル(gray level、gray valueは0~255)の偏差は約5%以下であってもよい。グレースケールイメージである電極10の複数の領域Aそれぞれの映像ぞれぞれは、カラーイメージがグレースケールに変換されることによって形成されたものであってもよいが、これに制限されるものではない。
カメラ130は、電極10の一面の電極10の長手方向Lに沿って隣接する複数の領域Aそれぞれの映像を獲得する第1のカメラ131、及び電極10の一面反対面である他面の電極10の長手方向Lに沿って隣接する複数の領域Aそれぞれの映像を獲得する第2のカメラ132を含むことができる。したがって、カメラ130は、電極10の両面それぞれに対する複数の領域Aそれぞれの映像を獲得することができる。これを通じて、電極10の両面全体領域の映像を獲得し、電極10の両面全体領域の検査を行うことができる。
ミラー140には照明120から照射された光が入射し、ミラー140に入射した光は電極10の少なくとも一面に反射されることができる。ただし、照明120が電極10の少なくとも一面に光を直接照射することができる場合、ミラー140は必要ではない場合がある。
ミラー140は、電極10及びカメラ130間に斜めに配置されることができる。このとき、照明120は、電極10及びカメラ130間の領域でミラー140上に配置されることができる。すなわち、この場合、照明120は同軸照明であってもよい。具体的に、ミラー140は、電極10及び照明120それぞれと所定の角度をなし、電極10及び照明120間に向かって配置されることができる。例えば、ミラー140は、電極10及び照明120それぞれと約45°の角度をなし、電極10及び照明120間に向かって配置されることができる。ミラー140は、カメラ130に背を向けていてもよく、カメラ130に光を透過させるために半透過ミラーであってもよい。このとき、照明120から照射された光はミラー140に入射後反射され、電極10に入射後反射された後、カメラ130に入射することができる。
ミラー140は、第1の照明121から照射された光が入射し、入射した光が電極10の一面に反射される第1のミラー141、及び第2の照明122から照射された光が入射し、入射した光が電極10の一面の反対面である他面に反射される第2のミラー142を含むことができる。したがって、第1の照明121及び第2の照明122それぞれから照射された光は、第1のミラー141及び第2のミラー142それぞれを経由して電極10の両面それぞれに到達することができる。第1のミラー141及び第2のミラー142は、電極10を挟んで対向して斜めに配置されることができる。このとき、第1のミラー141及び第2のミラー142は互いに反対方向に斜めに配置されることができる。
併合部150は、カメラ130で獲得された電極10の複数の領域Aそれぞれの映像を順につなぎ合わせた映像を形成する。すなわち、併合部150は、カメラ130で獲得された電極10の一番目領域A1~n番目領域Anそれぞれの映像を順につなぎ合わせた映像を形成する。したがって、併合部150は、電極10の少なくとも一面に対応する映像を形成することができる。カメラ130が第1のカメラ131及び第2のカメラ132を含む場合、併合部150は、電極10の両面それぞれに対応する映像それぞれを形成することができる。併合部150で形成された映像は、図1に示された電極10の表面と構造が実質的に同一であってもよい。ただし、併合部150により形成された映像は複数の映像をつなぎ合わせた形態であるので、電極10の複数の領域Aそれぞれの映像間には境界が存在することができる。
併合部150は、カメラ130の内部に配置されてもよく、外部に配置されてもよい。言い換えれば、併合部150は、カメラ130に埋め込まれた(embedded)装置でもよく、カメラ130から映像を受け取る別の装置でもよい。
一方、電極、特に円筒型電池に用いられる電極の表面検査を行う際に、電極タブ及び電極テープのある一部の領域に対する検査のみを行い、電極の表面全体領域に対する検査は行わない場合がある。また、検査時に測定された映像の明るさの均一度及び映像の歪みの程度によって映像品質が影響を受けるようになるので、検出力が低下する可能性があるという問題がある。
本発明の一実施例によれば、カメラ130は、電極10の長手方向Lに沿って隣接する複数の領域Aそれぞれを含む複数の映像を撮影し、撮影された複数の映像それぞれから電極10の複数の領域Aそれぞれの映像をクロップして、電極10の複数の領域Aそれぞれの映像を獲得する。また、カメラ130で獲得された電極10の複数の領域Aそれぞれの映像は、併合部150により1つの映像に順に併合されることができる。これを通じて、電極表面の全体領域を一体に検査することができる電極表面の検査装置を提供することができる。
さらに、カメラ130は、明るさが均一な領域のみをクロップし、クロップされた後の映像において各領域間の明るさは実質的に均一であってもよい。これは、明るさが均一な領域のみをクロップするようにクロップラインcを設定することによって達成することができる。これを通じて、明るさの均一度が向上した映像に通じて検査を行うことによって、検出力が向上した電極表面の検査装置を提供することができる。
図4は、本発明の一実施例に係る電極表面の検査装置のカメラで撮影及びクロップされた領域を示す。
カメラ130で撮影された映像は、電極10の少なくとも一面の複数の領域Aのうちの1つを含む。ただし、図に示すように、カメラ130で撮影された映像は、電極10の複数の領域Aのうちの他の1つ以上(例えば、電極10の複数の領域Aのうちの他の2つ)の少なくとも一部をさらに含むことができる。したがって、カメラ130は、撮影された映像をクロップ線cに沿ってクロップして、電極10の複数の領域Aのうちの1つのみを含む映像を獲得する。すなわち、カメラ130で獲得された映像は、電極10の複数の領域Aのうちの1つのみを含み、電極10の複数の領域Aのうちの他の1つ以上は含まない。ただし、カメラ130で獲得された映像は、電極10の周辺領域の映像を含むことはできる。クロップ線cは幅方向Wと平行であり、したがって、クロップ後長手方向Lに沿って隣接する電極10の複数の領域Aのうちの1つのみを含む映像を獲得することができる。
以上、本発明の一実施例を例示的に説明したが、本発明の実施形態を前述した実施例に制限しようとするものではない。当業者は、本発明の技術的思想から逸脱しない範囲内で、本明細書及び添付の図面を参照して、本発明の全部または一部の構成を省略、変更、置換するか、または他の構成を追加するなど本発明の一実施例を適宜変形して実施することができるだろう。
本明細書において、第1、第2などの順番は構成要素を互いに区別するためのものであり、構成要素間の優先順位を意味するか、または絶対的な順番を意味するものではない。本明細書の一部分において、第1の構成要素は本明細書の他の部分において第2の構成要素と称される場合もある。
本明細書の用語及び表現は広範囲に解釈されなければならず、制限的な意味で解釈されてはならない。本明細書において、「含む」という表現は、言及された構成以外に1つ以上の他の構成要素の存在または追加を排除しない。
本明細書において、単数形の表現は文脈上明示的に除外されない限り、複数形を含む。
本明細書において例示的に説明された各実施例は互いに組み合わせが可能であり、矛盾しない限り、特定の実施例において説明された内容は他の実施例において説明されていなくても、他の実施例に同様に適用されることができる。
本明細書において例示的に説明された各実施例は互いに組み合わせが可能であり、矛盾しない限り、特定の実施例において説明された内容は他の実施例において説明されていなくても、他の実施例に同様に適用されることができる。
10:電極
11:電極シート
12:電極タブ
13:絶縁部材
A:電極の複数の領域
100:電極表面の検査装置
110:移送部
120、121、122:照明
130、131、132:カメラ
140、141、142:ミラー
150:併合部
11:電極シート
12:電極タブ
13:絶縁部材
A:電極の複数の領域
100:電極表面の検査装置
110:移送部
120、121、122:照明
130、131、132:カメラ
140、141、142:ミラー
150:併合部
Claims (10)
- 電極を移送する移送部;
前記電極の少なくとも一面を照明する照明;及び
前記電極の少なくとも一面の前記電極の長手方向に沿って隣接する複数の領域それぞれを含む複数の映像を撮影し、前記複数の映像それぞれから前記電極の複数の領域それぞれの映像をクロップ(crop)して、前記電極の複数の領域それぞれの映像を獲得するカメラ;を含む、
電極表面の検査装置。 - 前記照明から照射された光が入射し、入射した光が前記電極の少なくとも一面に反射されるミラー;をさらに含む、
請求項1に記載の電極表面の検査装置。 - 前記電極の複数の領域それぞれの映像を順につなぎ合わせた映像を形成する併合(merging)部;をさらに含む、
請求項1に記載の電極表面の検査装置。 - 前記カメラは、領域スキャンカメラ(Area Scan Camera)である、
請求項1から3のいずれか一項に記載の電極表面の検査装置。 - 前記カメラは、関心領域調整可能機能(Adjustable ROI Function)で前記電極の複数の領域それぞれの映像をクロップする、
請求項1から3のいずれか一項に記載の電極表面の検査装置。 - 前記照明はそれぞれ、前記電極の両面それぞれを照明する第1の照明及び第2の照明を含み、
前記カメラは、前記電極の一面の前記電極の長手方向に沿って隣接する複数の領域それぞれの映像を獲得する第1のカメラ、及び前記電極の一面の反対面である他面の前記電極の長手方向に沿って隣接する複数の領域それぞれの映像を獲得する第2のカメラを含む、
請求項1から3のいずれか一項に記載の電極表面の検査装置。 - 前記カメラは、前記電極の少なくとも一面上に配置され、
前記ミラーは、前記電極及び前記カメラ間に斜めに配置され、
前記照明は、前記電極及び前記カメラ間の領域で前記ミラー上に配置されている、
請求項2に記載の電極表面の検査装置。 - 前記電極は、電極シート、前記電極シート上に配置され、前記電極シートから突出した領域を有する電極タブ、及び前記電極タブの前記電極シート上に配置された領域を覆う絶縁部材を含む、
請求項1から3のいずれか一項に記載の電極表面の検査装置。 - 前記カメラで獲得された映像は、前記電極シート、前記電極タブ及び前記絶縁部材を含み、前記電極の表面全体領域の映像を含む、
請求項8に記載の電極表面の検査装置。 - 前記電極の複数の領域それぞれの映像それぞれはグレースケールイメージであり、
前記電極の複数の領域それぞれの映像内において、ピクセル間のグレーレベルの偏差は5%以下である、
請求項1から3のいずれか一項に記載の電極表面の検査装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2021-0140199 | 2021-10-20 | ||
KR1020210140199A KR20230056313A (ko) | 2021-10-20 | 2021-10-20 | 전극 표면 검사 장치 |
PCT/KR2022/010950 WO2023068496A1 (ko) | 2021-10-20 | 2022-07-26 | 전극 표면 검사 장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2024521362A true JP2024521362A (ja) | 2024-05-31 |
Family
ID=86059305
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2023574479A Pending JP2024521362A (ja) | 2021-10-20 | 2022-07-26 | 電極表面の検査装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP4332554A1 (ja) |
JP (1) | JP2024521362A (ja) |
KR (1) | KR20230056313A (ja) |
CN (1) | CN117480384A (ja) |
WO (1) | WO2023068496A1 (ja) |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101473569B1 (ko) * | 2013-07-03 | 2014-12-26 | 주식회사 앤비젼 | 라인스캔 카메라를 이용한 결함 검사 장치 및 그 방법 |
KR102137539B1 (ko) * | 2018-07-12 | 2020-07-24 | (주) 인텍플러스 | 배터리 외관 검사장치 |
KR102179236B1 (ko) * | 2019-07-22 | 2020-11-16 | 주식회사 에스에프에이 | 다면광학계와 영상 합성을 이용한 검사시스템 및 그 검사방법 |
KR102274922B1 (ko) * | 2019-12-27 | 2021-07-08 | (주) 인텍플러스 | 슬릿빔을 이용한 배터리 외관 검사장치 |
KR20210103180A (ko) | 2020-02-13 | 2021-08-23 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 원통형 전지 및 원통형 전지 제조 방법 |
KR102261757B1 (ko) * | 2020-06-22 | 2021-06-08 | (주) 인텍플러스 | 배터리 전극 검사 시스템 |
-
2021
- 2021-10-20 KR KR1020210140199A patent/KR20230056313A/ko unknown
-
2022
- 2022-07-26 EP EP22883726.6A patent/EP4332554A1/en active Pending
- 2022-07-26 JP JP2023574479A patent/JP2024521362A/ja active Pending
- 2022-07-26 CN CN202280042126.8A patent/CN117480384A/zh active Pending
- 2022-07-26 WO PCT/KR2022/010950 patent/WO2023068496A1/ko active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN117480384A (zh) | 2024-01-30 |
KR20230056313A (ko) | 2023-04-27 |
EP4332554A1 (en) | 2024-03-06 |
WO2023068496A1 (ko) | 2023-04-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6752483B2 (ja) | 電気化学セル用電極の端部位置検出システムおよび製造方法 | |
KR102261757B1 (ko) | 배터리 전극 검사 시스템 | |
KR101877592B1 (ko) | 검사 장치 | |
US20100033080A1 (en) | Coaxial light irradiation device | |
US8199371B2 (en) | Image reader and image formation apparatus | |
WO2011096411A1 (ja) | 照明装置、及び照明装置を備える画像読取装置 | |
JP2024521362A (ja) | 電極表面の検査装置 | |
JP2002330267A (ja) | 原稿読取装置及び画像形成装置 | |
JP2008025990A (ja) | 鋼帯表面欠陥の検出方法及び検出装置 | |
KR102278801B1 (ko) | 고속 양극 노칭기용 이차전지 전극필름의 스패터 검사방법 | |
KR102331995B1 (ko) | 배터리 전극 검사 시스템의 이미지 전송장치 | |
CN218496732U (zh) | 分时频闪成像系统及缺陷检测系统 | |
WO2023158218A1 (ko) | 단위셀 검사장치 | |
CN115656203A (zh) | 一种膜电极ccd检测设备 | |
JP2011133288A (ja) | 筒状物品の画像検査用照明方法およびその照明装置 | |
KR102335304B1 (ko) | 전지용 검사장치 | |
EP4354123A1 (en) | Device for inspecting lateral surface of cylindrical battery | |
CN115829908A (zh) | 对复合料带的阴极极片进行折角检测的方法、装置和系统 | |
JP2002280056A (ja) | 電池の極板群検査方法及び装置 | |
JP2024524712A (ja) | 円筒形電池の側面検査装置 | |
KR20230067820A (ko) | 원통형 전지 외관 검사 장치 | |
JP7495703B2 (ja) | 欠陥検査装置 | |
KR102386450B1 (ko) | 미러를 이용한 영상획득 장치 | |
CN113646624A (zh) | 检查装置、检查方法以及膜的制造方法 | |
US20070188875A1 (en) | Refractive lens array for scanner application that reduces lateral tolerance sensitivity |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20231201 |