KR20230000099A - Method of manufacturing silicon particles - Google Patents

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Abstract

The purpose of this invention is to provide a method for producing silicon particles for efficient surface mounting. The method for producing silicon particles according to one embodiment of the present invention comprises: a conductive paste attachment step of applying conductive paste to a carrier substrate; a silicon particle placing step of placing silicon particles having a central part and a surface part wrapping the central part into holes of the carrier substrate; a curing step of fixing the conductive paste attached to the silicon particles; an underpart removal step of removing protruding underparts of the silicon particles to expose the central parts of the silicon particles; a first electrode formation step of forming a first electrode electrically connected to the exposed central parts of the silicon particles; a second electrode formation step of forming a second electrode electrically connected to the remaining conductive paste; and a silicon particle separation step of separating the carrier substrate and the silicon particles.

Description

실리콘 파티클 제작 방법 { Method of manufacturing silicon particles }Method of manufacturing silicon particles { Method of manufacturing silicon particles }

본 발명은 효율적인 표면 실장을 위한 실리콘 파티클 제작 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing silicon particles for efficient surface mounting.

기존의 패널형 태양 전지에서 실리콘 파티클을 활용한 태양 전지가 개발되고 있다. 하지만 아직까지 제작 공정 및 분리 공정에 있어서 최적화를 이루어 내지는 못하고 있다.A solar cell using silicon particles in the existing panel-type solar cell is being developed. However, optimization has not yet been achieved in the fabrication process and separation process.

표면 실장을 어떤 공정으로 하느냐에 따라 표면 실장의 효율에 크게 차이가 있으므로 다양한 분리 방법이 연구되어야 할 필요가 있다.Since the efficiency of surface mounting varies greatly depending on which process is used for surface mounting, various separation methods need to be studied.

이에 실리콘 파티클을 대량으로 생산하는 기술 및 생산된 실리콘 파티클을 표면 실장에 효율적으로 분리하도록 하는 기술이 연구 중이다.Accordingly, a technology for mass-producing silicon particles and a technology for efficiently separating the produced silicon particles for surface mounting are being researched.

본 발명은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위해 안출 된 것으로써, 본 발명의 목적은 효율적인 표면 실장을 위한 실리콘 파티클 제작 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve the above conventional problems, and an object of the present invention is to provide a method for manufacturing silicon particles for efficient surface mounting.

본 발명의 일실시예에 따른 실리콘 파티클 제작 방법은, 캐리어 기판 하단에 도체 페이스트를 부착하는 도체 페이스트 부착 단계, 중심부 및 중심부를 감싸는 표면부를 가지는 실리콘 파티클을 캐리어 기판의 홀에 안착하는 실리콘 파티클 안착 단계, 실리콘 파티클에 부착된 도체 페이스트를 고착시키는 큐어링 단계, 돌출된 실리콘 파티클의 하부를 제거하여, 실리콘 파티클의 중심부를 노출하는 하부 제거 단계, 노출된 실리콘 파티클의 중심부와 전기적으로 연결되는 제1 전극을 형성하는 제1 전극 형성 단계, 및 캐리어 기판 및 실리콘 파티클을 분리하는 실리콘 파티클 분리 단계,를 포함한다.A silicon particle manufacturing method according to an embodiment of the present invention includes a conductor paste attaching step of attaching a conductor paste to the lower end of a carrier substrate, a silicon particle mounting step of seating silicon particles having a center portion and a surface portion surrounding the center portion in a hole of a carrier substrate. , Curing step of fixing the conductive paste attached to the silicon particle, removing the lower part of the protruding silicon particle to expose the center of the silicon particle, first electrode electrically connected to the center of the exposed silicon particle It includes a first electrode forming step of forming, and a silicon particle separation step of separating the carrier substrate and the silicon particle.

일 실시예에 있어서, 잔존된 도체 페이스트와 전기적으로 연결되는 제2 전극을 형성하는 제2 전극 형성 단계를 더 포함할 수 있다.In one embodiment, a second electrode forming step of forming a second electrode electrically connected to the remaining conductive paste may be further included.

일 실시예에 있어서, 제2 전극 형성 단계 후에, 캐리어 기판 상부에 실리콘 파티클을 고정하는 고정 단을 형성하는 고정 단 형성 단계,를 더 포함할 수 있다.In one embodiment, after the step of forming the second electrode, a fixing end forming step of forming a fixing end for fixing the silicon particles on the carrier substrate may be further included.

일 실시예에 있어서, 큐어링 단계는, 열을 가하여 도체 페이스트를 고착시키는 도체 페이스트 고착 단계를 포함할 수 있다.In one embodiment, the curing step may include a conductor paste fixing step of fixing the conductor paste by applying heat.

일 실시예에 있어서, 실리콘 파티클 분리 단계는, 캐리어 기판 하단에 탄성 패드를 부착하는 탄성 패드 부착 단계, 및 탄성 패드에 압력을 가하여 실리콘 파티클을 분리하는 탄성 가압 분리 단계를 포할 수 있다.In one embodiment, the separating the silicon particles may include attaching an elastic pad to the bottom of the carrier substrate and separating the silicon particles by applying pressure to the elastic pad.

일 실시예에 있어서, 실리콘 파티클 분리 단계는, 복수의 홀에 대응하는 범프가 형성된 레이어를 캐리어 기판 하단에 부착되는 범프 레이어 부착 단계, 및 범프가 형성된 레이어에 힘을 가하여 실리콘 파티클을 분리하는 범프 레이어 가압 분리 단계를 포함할 수 있다.In one embodiment, the step of separating the silicon particles may include attaching a layer having bumps corresponding to a plurality of holes to a lower portion of the carrier substrate, and applying force to the layer having the bumps to separate the silicon particles. A pressure separation step may be included.

일 실시예에 있어서, 범프 레이어 부착 단계 전에, 캐리어 기판 하단에 점착 수단을 부착하는 점착 수단 부착 단계를 더 포함할 수 있다.In an embodiment, before the bump layer attaching step, an attaching step of attaching the sticking means to the bottom of the carrier substrate may be further included.

일 실시예에 있어서, 도체 페이스트는 Ag 을 성분으로 하는 것을 특징으로 할 수 있다.In one embodiment, the conductive paste may be characterized by having Ag as a component.

일 실시예에 있어서, 제1 전극은 Al, Ni, Ti, Ag 및 Cu 중 어느 하나를 재료로 하는 것을 특징으로 할 수 있다.In one embodiment, the first electrode may be characterized in that any one of Al, Ni, Ti, Ag and Cu as a material.

일 실시예에 있어서, 실리콘 파티클은, 실리콘 파티클의 외부에 형성된 표면부, 및 표면부에 포위되는 중심부,를 포함하고, 제2 전극 형성 단계는, 실리콘 파티클의 표면부가, 도체 페이스트가 제거되어 형성한 제2 전극과 연결되고, 제1 전극과 절연되는 단계,를 포함할 수 있다.In one embodiment, the silicon particle includes a surface portion formed outside the silicon particle, and a central portion surrounded by the surface portion, and the second electrode forming step is formed by removing the conductive paste from the surface portion of the silicon particle. It may include a step of being connected to a second electrode and insulated from the first electrode.

일 실시예에 있어서, 소성 단계는, 실리콘 파티클과 전자 전달 물질이 접합하여 오믹 콘텍(ohmic contact)을 형성함으로써 실리콘 파티클과 제1 및 제2 전극 사이의 전자 이동 경로를 형성하는 오믹 콘텍 형성 단계,를 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.In one embodiment, the firing step may include an ohmic contact forming step of forming an electron transfer path between the silicon particle and the first and second electrodes by bonding the silicon particle and the electron transfer material to form an ohmic contact; It may be characterized by including.

일 실시예에 있어서, 전자 전달 물질은, Al, Ti, Ag, Au, Pt 및 Ta 중 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 할 수 있다.In one embodiment, the electron transfer material may be at least one of Al, Ti, Ag, Au, Pt, and Ta.

일 실시예에 있어서, 실리콘 파티클 분리 단계는, 캐리어 기판 하단에 점착 수단을 부착하여 실리콘 파티클의 이탈을 방지하는 실리콘 파티클 이탈 방지 단계,를 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.In one embodiment, the step of separating the silicon particles may include a step of preventing separation of the silicon particles by attaching an adhesive means to a lower end of the carrier substrate to prevent the separation of the silicon particles.

일 실시예에 있어서, 점착 수단의 점착력은 2 내지 100 gf/inch 인 것을 특징으로 할 수 있다.In one embodiment, the adhesive force of the adhesive may be 2 to 100 gf/inch.

일 실시예에 있어서, 실리콘 파티클 분리 단계는, 복수의 실리콘 파티클을 소정의 크기의 블록 단위로 분리하는 블록 단위 분리 단계를 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.In one embodiment, the step of separating silicon particles may include a block unit separating step of separating a plurality of silicon particles into block units having a predetermined size.

일 실시예에 있어서, 캐리어 기판은 복수의 홀이 형성된 안착용 지그를 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.In one embodiment, the carrier substrate may be characterized in that it includes a mounting jig in which a plurality of holes are formed.

일 실시예에 있어서, 하부 제거 단계는, 돌출된 실리콘 파티클의 하단면 및 큐어링 된 도체 페이스트를 연마하는 하단면 연마 단계를 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.In one embodiment, the lower removal step may include a lower surface polishing step of polishing the lower surface of the protruding silicon particles and the cured conductive paste.

일 실시예에 있어서, 제2 전극 형성 단계 이후에, 실리콘 파티클에 형성된 제1 전극 및 제2 전극을 소성하는 전극 소성 단계를 더 포함할 수 있다.In one embodiment, after the step of forming the second electrode, an electrode firing step of firing the first electrode and the second electrode formed of silicon particles may be further included.

일 실시예에 있어서, 실리콘 파티클은, 태양광을 흡수하여 전기를 발생시키는 태양 전지 셀인 것을 특징으로 하고, 중심부 및 표면부가 각각 서로 다른 극성의 전극을 갖는 반도체 물질로 형성되는 것을 특징으로 할 수 있다.In one embodiment, the silicon particle is characterized in that it is a solar cell that absorbs sunlight to generate electricity, and the central and surface portions are formed of a semiconductor material having electrodes of different polarities, respectively. .

따라서 본 발명에 따르면, Therefore, according to the present invention,

첫째, 태양 전지 기능을 가지는 표면 실장용 실리콘 파티클 소자를 대량으로 생산하는 장점이 있다.First, there is an advantage in mass-producing silicon particle devices for surface mounting having solar cell functions.

둘째, 캐리어 기판 상단에 고정단을 형성함으로써 제작된 실리콘 파티클 태양 전지 셀을 대량으로 또는 소정의 블록으로 제작하여 실장할 수 있는 장점도 있다.Second, there is also an advantage in that the silicon particle solar cell manufactured by forming a fixed end on top of the carrier substrate can be manufactured and mounted in large quantities or in a predetermined block.

셋째, 캐리어 기판 하부에 탄성 패드를 부착하여 분리함으로써 제작된 태양 전지 셀을 쉽게 분리하는 장점이 있다.Third, there is an advantage of easily separating the manufactured solar cell by attaching and separating an elastic pad under the carrier substrate.

넷째, 캐리어 기판 하부에 점착 수단을 형성함으로써 제작된 태양 전지 셀이 캐리어 기판에 분리하기 쉽게 부착되도록 하는 장점이 있다.Fourth, by forming an adhesive means under the carrier substrate, there is an advantage in that the fabricated solar cell is easily separated from the carrier substrate.

도 1은 본발명의 일실시예에 따른 실리콘 파티클 제작 방법의 순서를 도시한 파티클 제작 순서도이다.
도 2a는 도 1에 도체 페이스트 부착 단계가 완료된 모습을 도시한 실리콘 파티클 안착도이다.
도 2b는 도 1에 도시한 실리콘 파티클이 안착된 것을 도시한 도면이다.
도 2c는 도 1의 실시예에서, 안착용 지그가 추가로 도시된 도면이다.
도 2d는 도 1에 도시한 하부 제거 단계에 의하여 캐리어 기판 하부가 연마되어 제거된 모습을 도시한 캐리어 기판 하부 제거도이다.
도 3는 제1 또는 제2 전극을 소성 하는 순서를 도시한 전극 소성 순서도이다.
도 4는 도 3의 전극 소성 단계에 의하여 제1 전극이 소성된 모습을 도시한 전극 소성 상태도이다.
도 5은 탄성 패드를 이용하여 제작된 실리콘 파티클을 분리하는 순서를 도시한 탄성 패드에 의한 실리콘 파티클 분리 순서도이다.
도 6는 도 5의 탄성 패드에 의한 실리콘 파티클 분리 과정에서 캐리어 기판 하단에 탄성 패드를 부착한 것을 도시한 탄성 패드 부착도이다.
도 7는 점착 수단을 부착하여 실리콘 파티클의 분리를 보조하는 순서를 도시한 점착 수단 부착에 의한 실리콘 파티클 분리 순서도이다.
도 8는 범프 레이어를 부착하여 실리콘 파티클을 분리하는 순서를 도시한 범프 레이어에 의한 실리콘 파티클 분리 순서도이다.
도 9은 캐리어 기판 위에 고정단을 부가하여 실리콘 파티클의 분리를 보조하는 순서를 도시한 고정단에 의한 실리콘 파티클 분리 순서도이다.
도 10는 도 9의 고정단 형성 단계에서 캐리어 기판 상단에 고정단을 형성한 모습을 도시한 고정단 형성도이다.
1 is a particle manufacturing flow chart showing a sequence of a silicon particle manufacturing method according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2A is a silicon particle seating diagram illustrating a state in which the step of attaching the conductor paste in FIG. 1 is completed.
Figure 2b is a view showing that the silicon particles shown in Figure 1 are seated.
FIG. 2C is a view showing an additional mounting jig in the embodiment of FIG. 1 .
FIG. 2D is a lower removal view of the carrier substrate showing a state in which the lower portion of the carrier substrate is polished and removed by the lower removal step shown in FIG. 1 .
3 is an electrode firing flowchart showing a firing sequence of the first or second electrode.
4 is an electrode firing state diagram showing how the first electrode is fired by the electrode firing step of FIG. 3 .
5 is a flow chart of separating silicon particles by an elastic pad showing a sequence of separating silicon particles manufactured using an elastic pad.
FIG. 6 is an elastic pad attachment diagram showing that an elastic pad is attached to a lower end of a carrier substrate in the process of separating silicon particles by the elastic pad of FIG. 5 .
FIG. 7 is a flow chart for separating silicon particles by attaching an adhesive means, showing a sequence of assisting separation of silicon particles by attaching an adhesive means.
8 is a flow chart of silicon particle separation by a bump layer showing a sequence of separating silicon particles by attaching a bump layer.
9 is a flow chart for separating silicon particles by a fixed end showing a procedure for assisting separation of silicon particles by adding a fixed end on a carrier substrate.
FIG. 10 is a fixed end formation diagram showing a state in which a fixed end is formed on an upper portion of a carrier substrate in the fixed end forming step of FIG. 9 .

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다. 이 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다. 또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로써 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로, 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, a preferred embodiment will be described with reference to the accompanying drawings. In this process, the thickness of lines or the size of components shown in the drawings may be exaggerated for clarity and convenience of explanation. In addition, terms to be described later are terms defined in consideration of functions in the present invention, which may vary according to the intention or custom of a user or operator. Therefore, definitions of these terms will have to be made based on the content throughout this specification.

또한, 하기 실시예는 본 발명의 권리범위를 한정하는 것이 아니라 단지 예시로 제시하는 것이며, 본 기술 사상을 통해 구현되는 다양한 실시예가 있을 수 있다.In addition, the following examples do not limit the scope of the present invention, but are presented as examples only, and there may be various embodiments implemented through the technical idea.

표면 실장(SMT)을 위한 실리콘 파티클 제작 방법Method for fabricating silicon particles for surface mounting (SMT)

도 1을 참조하여 본발명의 일실시예에 따른 실리콘 파티클(1) 제작 방법은, 캐리어 기판(10) 에 도체 페이스트(20)를 바르는 도체 페이스트 부착 단계(S100); 중심부(40) 및 중심부(40)를 감싸는 표면부(50)를 가지는 실리콘 파티클(1)을 상기 캐리어 기판(10)의 홀에 안착하는 실리콘 파티클 안착 단계(S200); 실리콘 파티클(1)에 부착된 도체 페이스트(20)를 고착시키는 큐어링 단계(S300); 돌출된 실리콘 파티클(1)의 하부를 제거하여, 실리콘 파티클(1)의 중심부(40)를 노출하는 하부 제거 단계(S400); 노출된 실리콘 파티클(1)의 중심부(40)와 전기적으로 연결되는 제1 전극(80)을 형성하는 제1 전극(80) 형성 단계(S500); 및 캐리어 기판(10) 및 실리콘 파티클(1)을 분리하는 실리콘 파티클 분리 단계(S700);를 포함한다.Referring to FIG. 1, the method of manufacturing a silicon particle 1 according to an embodiment of the present invention includes a conductive paste attaching step of applying a conductive paste 20 to a carrier substrate 10 (S100); A silicon particle mounting step (S200) of seating the silicon particle 1 having a central portion 40 and a surface portion 50 surrounding the central portion 40 in a hole of the carrier substrate 10; A curing step of fixing the conductive paste 20 attached to the silicon particles 1 (S300); A lower removal step (S400) of removing the lower portion of the protruding silicon particle 1 to expose the central portion 40 of the silicon particle 1; A first electrode 80 forming step (S500) of forming a first electrode 80 electrically connected to the central portion 40 of the exposed silicon particle 1; and a silicon particle separation step (S700) of separating the carrier substrate 10 and the silicon particle 1.

여기서 제1 전극(80) 형성 단계 이후에, 잔존하여 큐어링 된 도체 페이스트(70)와 전기적으로 연결되는 제2 전극(90)을 형성하는 제2 전극(90) 형성 단계(S600)가 추가될 수 있다. 제2 전극(90)은 별도로 형성되거나, 잔존한 도체 페이스트(70)가 경화된 경우 이것 자체를 제2 전극으로 사용할 수 있다.Here, after the first electrode 80 forming step, a second electrode 90 forming step (S600) of forming the second electrode 90 remaining and electrically connected to the cured conductive paste 70 is added. can The second electrode 90 may be formed separately, or may be used as the second electrode when the remaining conductive paste 70 is cured.

큐어링 단계(S300)는, 열을 가하여 도체 페이스트(20)를 고착시키는 도체 페이스트(20) 고착 단계;를 포함한다.The curing step (S300) includes a conductor paste 20 fixing step of fixing the conductor paste 20 by applying heat.

실리콘 파티클 분리 단계(S700)는, 캐리어 기판(10) 하단에 탄성 패드(100)를 부착하는 탄성 패드(100) 부착 단계(S710); 및 탄성 패드(100)에 압력을 가하여 상기 실리콘 파티클(1)을 분리하는 탄성 가압 분리 단계(S720);를 포함한다.The silicon particle separation step (S700) includes an elastic pad 100 attaching step of attaching the elastic pad 100 to the bottom of the carrier substrate 10 (S710); and an elastic pressure separation step (S720) of separating the silicon particles 1 by applying pressure to the elastic pad 100.

실리콘 파티클 분리 단계(S700)는, 복수의 홀에 대응하는 범프가 형성된 레이어를 캐리어 기판(10) 하단에 부착되는 범프 레이어 부착 단계(S730); 및 범프가 형성된 레이어에 힘을 가하여 상기 실리콘 파티클(1)을 분리하는 범프 레이어 가압 분리 단계(S740);를 포함한다.The silicon particle separation step (S700) includes a bump layer attaching step (S730) of attaching a layer having bumps corresponding to a plurality of holes to the bottom of the carrier substrate 10; and a bump layer pressing and separating step (S740) of separating the silicon particles 1 by applying force to the layer on which the bumps are formed.

범프 레이어 부착 단계(s730) 전에, 캐리어 기판(10) 하단에 점착 수단을 부착하는 점착 수단 부착 단계(S650);를 더 포함한다.Prior to the bump layer attaching step (S730), an adhesive means attaching step (S650) of attaching an adhesive means to the bottom of the carrier substrate 10 is further included.

실리콘 파티클(1)은 태양광을 흡수하여 전기를 발생시키는 태양 전지 셀이다. 실리콘 파티클(1)은 중심부(40) 및 상기 표면부(50)가 각각 서로 다른 극성의 전극을 갖는 반도체 물질로 형성된다. 실리콘 파티클(1)은, 실리콘 파티클(1)의 외부에 형성된 표면부(50); 및 표면부(50)에 포위되는 중심부(40);를 포함한다.The silicon particle 1 is a solar cell that generates electricity by absorbing sunlight. In the silicon particle 1, the central portion 40 and the surface portion 50 are formed of a semiconductor material having electrodes of different polarities. The silicon particle 1 includes a surface portion 50 formed on the outside of the silicon particle 1; and a central portion 40 surrounded by the surface portion 50.

제2 전극(90) 형성 단계(S600)는, 실리콘 파티클(1)의 표면부(50)가, 도체 페이스트(20)가 제거되어 형성한 제2 전극(90)과 연결되고, 제1 전극(80)과 절연되는 단계;를 포함한다. 이미 언급한 바와 같이 제2 전극형성 단계는 생략될 수 있다.In the step of forming the second electrode 90 (S600), the surface portion 50 of the silicon particle 1 is connected to the second electrode 90 formed by removing the conductive paste 20, and the first electrode ( 80) and insulated. As already mentioned, the step of forming the second electrode may be omitted.

실리콘 파티클 분리 단계(S700)는, 캐리어 기판(10) 하단에 점착 수단을 부착하여 실리콘 파티클(1)의 이탈을 방지하는 실리콘 파티클(1) 이탈 방지 단계;를 포함한다. The silicon particle separation step (S700) includes a step of preventing separation of the silicon particles 1 by attaching an adhesive means to the bottom of the carrier substrate 10 to prevent separation of the silicon particles 1.

실리콘 파티클(1) 분리 단계(S700)는, 복수의 실리콘 파티클(1)을 소정의 크기의 블록 단위로 분리하는 블록 단위 분리 단계;를 포함한다.The silicon particle 1 separating step (S700) includes a block unit separating step of separating the plurality of silicon particles 1 into block units having a predetermined size.

캐리어 기판(10)은 복수의 홀이 형성된 안착용 지그(60)를 포함한다.The carrier substrate 10 includes a mounting jig 60 in which a plurality of holes are formed.

하부 제거 단계(S400)는, 돌출된 실리콘 파티클(1)의 하단면 및 큐어링 된 도체 페이스트(70)를 연마하는 하단면 연마 단계;를 포함한다.The lower part removal step (S400) includes a lower surface polishing step of polishing the lower surface of the protruding silicon particle 1 and the cured conductive paste 70.

제2 전극(90) 형성 단계(S600) 이후에, 실리콘 파티클(1)에 형성된 제1 전극(80) 및 제2 전극(90)을 소성하는 전극 소성 단계(S630);를 포함할 수 있다.After the second electrode 90 forming step (S600), an electrode firing step (S630) of firing the first electrode 80 and the second electrode 90 formed on the silicon particle 1; may be included.

제2 전극(90) 형성 단계 후에, 캐리어 기판(10) 상부에 실리콘 파티클(1)을 고정하는 고정 단을 형성하는 고정 단 형성 단계(S770);를 포함한다.After the second electrode 90 forming step, a fixed end forming step (S770) of forming a fixed end for fixing the silicon particle 1 on the carrier substrate 10;

이하 실리콘 파티클(1) 제작 방법을 단계 별로 더 자세히 설명하기로 한다.Hereinafter, a method of manufacturing the silicon particle 1 will be described in more detail step by step.

STEP 1. 도체 페이스트 필름 부착(S100)STEP 1. Attaching the conductor paste film (S100)

도 1은 본발명의 일실시예에 따른 실리콘 파티클 제작 방법의 순서를 도시한 파티클 제작 순서도이다. 도 2a는 도 1에 도체 페이스트 부착 단계가 완료된 모습을 도시한 실리콘 파티클 안착도이다. 도 2b는 도 1에 도시한 실리콘 파티클이 안착된 것을 도시한 도면이다. 도 2c는 도 1의 실시예에서, 안착용 지그가 추가로 도시된 도면이다. 도 2d는 도 1에 도시한 하부 제거 단계에 의하여 캐리어 기판 하부가 연마되어 제거된 모습을 도시한 캐리어 기판 하부 제거도이다.1 is a particle manufacturing flow chart showing a sequence of a silicon particle manufacturing method according to an embodiment of the present invention. FIG. 2A is a silicon particle seating diagram illustrating a state in which the step of attaching the conductor paste in FIG. 1 is completed. Figure 2b is a view showing that the silicon particles shown in Figure 1 are seated. FIG. 2C is a view showing an additional mounting jig in the embodiment of FIG. 1 . FIG. 2D is a lower removal view of the carrier substrate showing a state in which the lower portion of the carrier substrate is polished and removed by the lower removal step shown in FIG. 1 .

도 1 및 도 2a를 참조하면, 복수의 홀을 포함하는 캐리어 기판(10)이 제공된다. 여기에 실리콘 파티클의 안정적인 실장을 위해 별도의 안착용 지그(60)를 형성할 수 있다. 안착용 지그(60)는 후술될 도면에서 게시된다. 복수의 홀이 형성된 캐리어 기판(10)에 도체 페이스트(20)를 도포한다(S100). 도체 페이스트(20)는 은(Ag)을 성분으로 할 수 있다. 이것은 캐리어 기판(10)의 홀에 페이스트(20)를 도포할 수 있다면, 별도의 필름 또는 도포용 마스크를 사용하는 등 다양한 방법을 사용할 수 있다. 캐리어 기판(10)은 스테인리스(SUS) 재질일 수 있다.Referring to FIGS. 1 and 2A , a carrier substrate 10 including a plurality of holes is provided. Here, a separate mounting jig 60 may be formed for stable mounting of the silicon particles. Seating jig 60 is posted in the drawings to be described later. A conductive paste 20 is applied to the carrier substrate 10 on which a plurality of holes are formed (S100). The conductive paste 20 may contain silver (Ag) as a component. As long as the paste 20 can be applied to the hole of the carrier substrate 10, various methods such as using a separate film or an application mask can be used. The carrier substrate 10 may be made of stainless steel (SUS).

STEP 2. 실리콘 파티클의 안착(S200)STEP 2. Settlement of silicon particles (S200)

도 2b는 도 1에 도시한 실리콘 파티클이 안착된 것을 도시한 도면이다. 도 2c는 도 1의 실시예에서, 안착용 지그가 추가로 도시된 도면이다. Figure 2b is a view showing that the silicon particles shown in Figure 1 are seated. FIG. 2C is a view showing an additional mounting jig in the embodiment of FIG. 1 .

도 2b 및 2c를 참조하면, 그리고 중심부(40) 및 중심부(40)를 감싸는 표면부(50)를 가지는 실리콘 파티클(1)을 캐리어 기판(10)의 홀에 안착시킨다(S200). 실리콘 파티클(1)은 P형 또는 N형 실리콘을 포함한다. 실리콘 파티클(1)의 표면부(50)는 반사 방지 층 및 패시베이션(passivation) 층을 포함할 수 있다. 그리고 실리콘 파티클(1)의 표면부(50)가 실리콘 파티클(1)의 중심부(40)를 포위하도록 제작된다. Referring to Figures 2b and 2c, and the silicon particles (1) having a central portion 40 and a surface portion 50 surrounding the central portion 40 is seated in the hole of the carrier substrate (10) (S200). The silicon particle 1 includes P-type or N-type silicon. The surface portion 50 of the silicon particle 1 may include an antireflection layer and a passivation layer. In addition, the surface portion 50 of the silicon particle 1 is manufactured to surround the center portion 40 of the silicon particle 1 .

도 2c를 참조하면, 실리콘 파티클(1)이 캐리어 기판(10)은 복수의 홀이 형성된 안착용 지그(60)를 포함할 수 있다. 안착용 지그(60)는 형성된 홀에 실리콘 파티클(1)이 안착할 수 있도록 보조한다.Referring to FIG. 2C , the carrier substrate 10 of the silicon particles 1 may include a mounting jig 60 having a plurality of holes. The seating jig 60 assists the silicon particles 1 to be seated in the formed hole.

캐리어 기판(10) 하단에 실리콘 파티클(1)이 안착되는 부분에 Ag 페이스트를 도포한다. 물론 필름(30)에 실리콘 파티클(1)이 안착되는 부분에 Ag 페이스트를 도포하여 캐리어 기판(10) 하단에 부착할 수도 있다.Ag paste is applied to a portion where the silicon particles 1 are seated on the bottom of the carrier substrate 10 . Of course, Ag paste may be applied to a portion of the film 30 where the silicon particle 1 is seated and attached to the bottom of the carrier substrate 10 .

STEP 3. 도체 페이스트의 큐어링(S300)STEP 3. Curing of conductor paste (S300)

실리콘 파티클(1)에 부착된 도체 페이스트(20)를 고착시키는 큐어링 단계를 거친다(S300). 도체 페이스트(20)에 열을 가함으로써 도체 페이스트(20)를 캐리어 기판(10)에 고착 시킬 수 있다. A curing step of fixing the conductive paste 20 attached to the silicon particles 1 is performed (S300). By applying heat to the conductive paste 20, the conductive paste 20 can be fixed to the carrier substrate 10.

STEP 4. 캐리어 기판 하단면 연마 후 전극 형성(S400 ~ S600)STEP 4. After polishing the lower surface of the carrier substrate, electrode formation (S400 ~ S600)

도 1 및 도 2d를 참조하면 그리고 캐리어 기판(10) 아래로 돌출된 실리콘 파티클(1)의 하부를 제거하여, 실리콘 파티클(1)의 중심부(40)를 노출시킨다(하부 제거 단계, S400). Referring to FIGS. 1 and 2D , and removing the lower part of the silicon particle 1 protruding below the carrier substrate 10, the central part 40 of the silicon particle 1 is exposed (removing the lower part, S400).

하부 제거 단계(S400)는, 돌출된 실리콘 파티클(1)의 하단면 및 큐어링 된 도체 페이스트(70)를 연마하는 하단면 연마 단계;를 포함한다.The lower part removal step (S400) includes a lower surface polishing step of polishing the lower surface of the protruding silicon particle 1 and the cured conductive paste 70.

그리고 노출된 실리콘 파티클(1)의 중심부(40)와 전기적으로 연결되는 제1 전극(80)을 형성한다(제1 전극(80) 형성 단계, S500). 제1 전극(80)은 Al, Ni, Ti, Ag 및 Cu 중 어느 하나를 재료로 한다.Then, a first electrode 80 electrically connected to the central portion 40 of the exposed silicon particle 1 is formed (first electrode 80 forming step, S500). The first electrode 80 is made of any one of Al, Ni, Ti, Ag, and Cu as a material.

다음으로 잔존하여 큐어링 된 도체 페이스트(70)와 전기적으로 연결되는 제2 전극(90)을 형성한다(제2 전극(90) 형성 단계, S600). 실리콘 파티클(1)은 태양광을 흡수하여 전기를 발생시키는 태양 전지 셀이다. 실리콘 파티클(1)은 중심부(40) 및 상기 표면부(50)가 각각 서로 다른 극성의 전극을 갖는 반도체 물질로 형성된다. 실리콘 파티클(1)은, 실리콘 파티클(1)의 외부에 형성된 표면부(50); 및 표면부(50)에 포위되는 중심부(40);를 포함한다.Next, a second electrode 90 electrically connected to the remaining and cured conductive paste 70 is formed (second electrode 90 forming step, S600). The silicon particle 1 is a solar cell that generates electricity by absorbing sunlight. In the silicon particle 1, the central portion 40 and the surface portion 50 are formed of a semiconductor material having electrodes of different polarities. The silicon particle 1 includes a surface portion 50 formed on the outside of the silicon particle 1; and a central portion 40 surrounded by the surface portion 50.

제2 전극(90) 형성 단계(S600)는, 실리콘 파티클(1)의 표면부(50)가, 도체 페이스트(20)가 제거되어 형성한 제2 전극(90)과 연결되고, 제1 전극(80)과 절연되는 단계;를 포함한다. 제2 전극(90)은 별도로 형성될 수 있고, 잔존한 도체 페이스트(70)이 제2 전극으로 사용될 수도 있다.In the step of forming the second electrode 90 (S600), the surface portion 50 of the silicon particle 1 is connected to the second electrode 90 formed by removing the conductive paste 20, and the first electrode ( 80) and insulated. The second electrode 90 may be formed separately, and the remaining conductive paste 70 may be used as the second electrode.

실리콘 파티클(1)은, 태양광을 흡수하여 전기를 발생시키는 태양 전지 셀이다. 실리콘 파티클(1)의 중심부(40) 및 표면부(50)가 각각 서로 다른 극성의 전극을 갖는 반도체 물질로 형성된다. 예를 들면, 중심부(40)는 P형 반도체 물질로 형성되고, 표면부(50)는 N형 반도체 물질로 형성되도록 제공된다.The silicon particle 1 is a solar cell that generates electricity by absorbing sunlight. The central portion 40 and the surface portion 50 of the silicon particle 1 are formed of semiconductor materials each having electrodes of different polarities. For example, it is provided that the central portion 40 is formed of a P-type semiconductor material and the surface portion 50 is formed of an N-type semiconductor material.

STEP 5. 전극 소성STEP 5. Electrode firing

도 3는 제1 또는 제2 전극을 소성 하는 순서를 도시한 전극 소성 순서도이다. 도 4는 도 3의 전극 소성 단계에 의하여 제1 전극이 소성된 모습을 도시한 전극 소성 상태도이다.3 is an electrode firing flowchart showing a firing sequence of the first or second electrode. 4 is an electrode firing state diagram showing how the first electrode is fired by the electrode firing step of FIG. 3 .

도 3 및 도 4를 참조하면, 제2 전극(90) 형성 단계(S600) 이후에, 실리콘 파티클(1)과 제1 전극(80) 또는 제2 전극(90)을 소성하는 전극 소성 단계(S630);를 포함할 수 있다. 제2 전극(90)을 사용하지 않는 구조에서는 제1 전극(80)만 소성한다. 전극 소성 단계(S630)는 실리콘 파티클(1)과 전자 전달 물질이 접합하여 오믹 콘텍(ohmic contact)을 형성함으로써 실리콘 파티클(1)과 제1 및 제2 전극(90) 사이의 전자 이동 경로를 형성하도록 제공된다.3 and 4, after the second electrode 90 forming step (S600), the silicon particle 1 and the first electrode 80 or the second electrode 90 are fired (S630). ); In the structure in which the second electrode 90 is not used, only the first electrode 80 is fired. In the electrode firing step (S630), an electron transfer path between the silicon particle 1 and the first and second electrodes 90 is formed by bonding the silicon particle 1 and the electron transfer material to form an ohmic contact. provided to do

전자 전달 물질은, Al, Ti, Ag, Au, Pt 및 Ta 중 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 한다.The electron transfer material is characterized in that at least one of Al, Ti, Ag, Au, Pt and Ta.

형성되는 경우, 제2 전극(90)은 상기 실리콘 파티클(1) 단면 원주에 형성한다. 즉 큐어링 된 도체 페이스트(70) 아래로 돌출된 실리콘 파티클(1)을 연마함으로써, 실리콘 파티클(1)의 연마된 부분이 중심부가 되고 중심부 주변으로 표면부를 형성한다.When formed, the second electrode 90 is formed on the circumference of the cross section of the silicon particle 1. That is, by polishing the silicon particles 1 protruding below the cured conductor paste 70, the polished portion of the silicon particle 1 becomes the center and forms a surface portion around the center.

또는 큐어링 된 도체 페이스트(70) 및 실리콘 파티클(10)의 표면부에 걸쳐 제2 전극(90)을 형성하도록 제공할 수도 있다. 또는 제2 전극(90)은 생략하여 구성될 수 있다.Alternatively, it may be provided to form the second electrode 90 over the surface of the cured conductive paste 70 and the silicon particle 10 . Alternatively, the second electrode 90 may be omitted.

STEP 6. 실리콘 파티클의 분리 및 그의 다양한 방법STEP 6. Separation of silicon particles and various methods thereof

도 5은 탄성 패드를 이용하여 제작된 실리콘 파티클을 분리하는 순서를 도시한 탄성 패드에 의한 실리콘 파티클 분리 순서도이다.5 is a flow chart of separating silicon particles by an elastic pad showing a sequence of separating silicon particles manufactured using an elastic pad.

도 5를 참조하면, 최종적으로 캐리어 기판(10) 및 실리콘 파티클(1)을 분리한다(실리콘 파티클 분리 단계, S700). 그런데 최종적으로 제작된 실리콘 파티클(1)은 다양한 표면 실장 공정에 따라 분리하는 방법도 다양하게 제공되는데, 이하 제작된 실리콘 파티클(1)의 다양한 분리 방법을 설명하기로 한다.Referring to FIG. 5 , the carrier substrate 10 and the silicon particle 1 are finally separated (silicon particle separation step, S700). However, the finally manufactured silicon particle 1 is also provided with various methods of separating according to various surface mounting processes. Hereinafter, various separating methods of the manufactured silicon particle 1 will be described.

(a)(a) 탄성 패드를 이용(S730 ~ S740)Using an elastic pad (S730 ~ S740)

도 6는 도 5의 탄성 패드에 의한 실리콘 파티클 분리 과정에서 캐리어 기판 하단에 탄성 패드를 부착한 것을 도시한 탄성 패드 부착도이다.FIG. 6 is an elastic pad attachment diagram showing that an elastic pad is attached to a lower end of a carrier substrate in the process of separating silicon particles by the elastic pad of FIG. 5 .

도 5 및 도 6을 참조하면 실리콘 파티클(1)을 분리하는 두번째 방법으로서, 먼저 캐리어 기판(10) 하단에 탄성 패드(100)(Elastic pad)를 부착한다(탄성 패드(100) 부착 단계, S710).5 and 6, as a second method of separating the silicon particles 1, first, an elastic pad 100 is attached to the bottom of the carrier substrate 10 (elastic pad 100 attachment step, S710 ).

그리고 탄성 패드(100)에 위아래로 압력을 가하여 실리콘 파티클(1)을 분리한다(탄성 가압 분리 단계, S720).Then, the silicon particles 1 are separated by applying upward and downward pressure to the elastic pad 100 (elastic pressure separation step, S720).

(b)(b) 캐리어 기판 하단에 점착 수단 부착(S650 ~ S740)Adhesion means attached to the bottom of the carrier substrate (S650 ~ S740)

도 7은 점착 수단을 부착하여 실리콘 파티클의 분리를 보조하는 순서를 도시한 점착 수단 부착에 의한 실리콘 파티클 분리 순서도이다.7 is a flow chart for separating silicon particles by attaching an adhesive means, showing a sequence of assisting separation of silicon particles by attaching an adhesive means.

도 7을 참조하면 실리콘 파티클(1)을 분리하는 네번째 방법으로서, 범프 레이어 부착 단계 전에, 캐리어 기판(10) 하단에 점착 수단을 부착할 수도 있다(점착 수단 부착 단계, S650). 점착 수단을 부착하지 않은 경우 실리콘 파티클(1)이 낱개로 분리되지만, 기판 하단에 점착 수단을 부착하는 경우 점착 수단에 실리콘 파티클(1)이 약하게 점착되도록 한다. 캐리어 기판(10) 하단에 점착 수단을 부착하여 실리콘 파티클(1)의 이탈을 방지하도록 할 수 있다. 점착 수단의 점착력은 2 내지 100 gf/inch 일 수 있다.Referring to FIG. 7 , as a fourth method of separating the silicon particles 1, an adhesive means may be attached to the lower end of the carrier substrate 10 before the bump layer attachment step (attachment means attachment step, S650). When the adhesive means is not attached, the silicon particles 1 are separated individually, but when the adhesive means is attached to the bottom of the substrate, the silicon particles 1 are weakly adhered to the adhesive means. An adhesive means may be attached to the bottom of the carrier substrate 10 to prevent the silicon particles 1 from escaping. The adhesive force of the adhesive means may be 2 to 100 gf/inch.

캐리어 기판(10) 하단에 점착 수단을 부착함으로써, 실리콘 파티클(1)의 운반 및 표면 실장을 용이하게 실시할 수 있는 장점이 있다. 점착 수단 부착에 의하여 제작된 실리콘 파티클(1)들은 릴팩(reel pack)에 저장되도록 제공될 수 있다. 점착력이 있는 필름과 범프 레이어를 이용하여 실리콘 파티클(1)이 캐리어 기판(10)의 홀과 안착용 지그(60)를 살짝 만 벗어나도록 제작할 수 있다.By attaching the adhesive means to the bottom of the carrier substrate 10, there is an advantage in that the silicon particles 1 can be easily transported and surface mounted. The silicon particles 1 manufactured by attaching the adhesive means may be provided to be stored in a reel pack. The silicon particles 1 may be manufactured to slightly deviate from the hole of the carrier substrate 10 and the mounting jig 60 by using an adhesive film and a bump layer.

(c) 범프 레이어를 이용(S750 ~ S760)(c) Using a bump layer (S750 ~ S760)

도 8는 범프 레이어를 부착하여 실리콘 파티클을 분리하는 순서를 도시한 범프 레이어에 의한 실리콘 파티클 분리 순서도이다.8 is a flow chart of silicon particle separation by a bump layer showing a sequence of separating silicon particles by attaching a bump layer.

도 8을 참조하면, 실리콘 파티클(1)을 분리하는 세번째 방법으로서, 복수의 홀에 대응하는 범프가 형성된 레이어를 캐리어 기판(10) 하단에 부착한다(범프 레이어 부착 단계, S730).Referring to FIG. 8 , as a third method of separating the silicon particles 1, a layer having bumps corresponding to a plurality of holes is attached to the bottom of the carrier substrate 10 (bump layer attaching step, S730).

그리고 범프가 형성된 레이어에 힘을 가하여 실리콘 파티클(1)을 분리할 수 있다(범프 레이어 가압 분리 단계, S740).In addition, the silicon particles 1 may be separated by applying force to the layer on which the bump is formed (step of pressing and separating the bump layer, S740).

범프 레이어를 이용하는 경우 실리콘 파티클(1)이 완전 분리되도록 제공할 수 있다.In the case of using the bump layer, the silicon particles 1 may be completely separated.

범프 레이어는 캐리어 기판(10)에 형성된 홀에 대응하여 범프에 돌기를 형성한다. 그리고 범프 레이어에 힘을 가함으로써 실리콘 파티클(1) 셀이 캐리어 기판(10)에서 분리되도록 제공할 수 있다.The bump layer forms protrusions on bumps corresponding to holes formed in the carrier substrate 10 . In addition, the silicon particle 1 cell may be separated from the carrier substrate 10 by applying force to the bump layer.

범프 레이어를 이용하여 스템핑(stamping) 용, 즉 픽앤플레이스(pick and place) 방식으로 표면 실장 하도록 제공될 수 있다. 캐리어 기판(10)에서 하나씩 또는 복수를 묶어서 픽업하여 표면 실장에 이용될 수 있다.It may be provided for stamping using a bump layer, that is, for surface mounting in a pick and place method. It can be used for surface mounting by picking up one or a plurality of them from the carrier substrate 10 .

(d) 실리콘 파티클 상부에 고정단 형성(S770 ~ S780)(d) Forming a fixed end on top of silicon particles (S770 ~ S780)

도 9은 캐리어 기판 위에 고정단을 부가하여 실리콘 파티클의 분리를 보조하는 순서를 도시한 고정단에 의한 실리콘 파티클 분리 순서도이다. 도 10는 도 9의 고정단 형성 단계에서 캐리어 기판 상단에 고정단을 형성한 모습을 도시한 고정단 형성도이다.9 is a flow chart for separating silicon particles by a fixed end showing a procedure for assisting separation of silicon particles by adding a fixed end on a carrier substrate. FIG. 10 is a fixed end formation diagram showing a state in which a fixed end is formed on an upper portion of a carrier substrate in the fixed end forming step of FIG. 9 .

도 9 및 도 10을 참조하면, 실리콘 파티클(1)을 분리하는 방법으로서, 제2 전극(90) 형성 단계 후에, 캐리어 기판(10) 상부에 실리콘 파티클(1)을 고정하는 고정단(110)을 형성할 수 있다(고정단 형성 단계, S770). 고정단(110)에 고정된 실리콘 파티클(1)은 한꺼번에 동시에 실장 되도록 제공될 수 있다. 고정 단은 몰딩으로 형성되도록 제공된다. 캐리어 기판(10)은 고정단(110) 형성 후 제거된다(S780). 고정단(110)은 투명한 재질로 형성될 수 있다.9 and 10, as a method of separating the silicon particles 1, after the second electrode 90 forming step, a fixing end 110 for fixing the silicon particles 1 on the carrier substrate 10 Can be formed (fixed end forming step, S770). The silicon particles 1 fixed to the fixed end 110 may be provided to be simultaneously mounted at once. The fixing end is provided to be formed by molding. The carrier substrate 10 is removed after forming the fixed end 110 (S780). The fixed end 110 may be formed of a transparent material.

고정단(110)으로 형성된 실리콘 파티클(1)은 픽앤플레이스 표면 실장 용도로 제공될 수 있다. The silicon particle 1 formed as the fixed end 110 may be provided for pick-and-place surface mounting.

고정단(110)으로 형성된 실리콘 파티클(1)은 고정단(110)으로서 몰딩된 전체를 표면 실장(SMT) 용으로 제공될 수도 있다. 그리고 형성된 제1 전극(80) 및 제2 전극(90)을 직렬 또는 병렬 중 적어도 어느 하나의 방식으로 제공될 수도 있다.The silicon particle 1 formed as the fixed end 110 may be provided for surface mounting (SMT) as a whole molded as the fixed end 110 . In addition, the formed first electrode 80 and the second electrode 90 may be provided in at least one method of series or parallel.

고정단(110)을 블록 단위로 형성한 경우, 블록 단위로 스템핑한 제품의 직렬 또는 병렬로 된 패턴(pattern)을 PCB에 납땜으로 연결할 수 있고, 별도의 커넥터에 연결하도록 제공할 수도 있다.When the fixed end 110 is formed in block units, a serial or parallel pattern of stamped products in block units may be connected to the PCB by soldering, or may be provided to be connected to a separate connector.

(e) 블록 단위로 분리(e) Separation into blocks

실리콘 파티클(1) 분리 단계(S700)에서, 복수의 실리콘 파티클(1)을 소정의 크기의 블록 단위로 분리할 수 있다. 예를 들어 점착 수단을 블록 단위로 부착하여 블록을 형성하고, 분리 시에 블록 단위로 분리하도록 제공할 수 있다.In the silicon particle 1 separation step (S700), a plurality of silicon particles 1 may be separated into blocks having a predetermined size. For example, it may be provided to form a block by attaching the adhesive unit in a block unit, and separate it in a block unit at the time of separation.

실리콘 파티클의 분리 방법으로서 설명한 실시예로서 (a) 탄성패드를 이용 (b) 캐리어 기판 하단에 점착 수단 부착 (c) 범프 레이어 이용 (d) 실리콘 파티클 상부에 고정단 형성 및 (e) 블록 단위로 분리 등을 설명하였는데, 설명한 방법들을 필요에 따라 조합하여 실시하는 것도 가능하다.As an embodiment described as a method of separating silicon particles, (a) using an elastic pad (b) attaching an adhesive to the bottom of a carrier substrate (c) using a bump layer (d) forming a fixed end on top of silicon particles and (e) in block units Separation and the like have been described, but it is also possible to perform a combination of the described methods as necessary.

이상에서 설명된 본 발명의 일 실시 예는 예시적인 것에 불과하며, 본 발명이 속한 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 잘 알 수 있을 것이다. 그러므로 본 발명은 상기의 상세한 설명에서 언급되는 형태로만 한정되는 것은 아님을 잘 이해할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다. 또한, 본 발명은 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 그 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.One embodiment of the present invention described above is only exemplary, and those skilled in the art will appreciate that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. . Therefore, it will be well understood that the present invention is not limited to the forms mentioned in the detailed description above. Therefore, the true technical protection scope of the present invention should be determined by the technical spirit of the appended claims. It is also to be understood that the present invention includes all modifications, equivalents and alternatives within the spirit and scope of the present invention as defined by the appended claims.

1 : 실리콘 파티클
10 : 캐리어 기판
20 : 도체 페이스트
30 : 필름
40 : 중심부
50 : 표면부
60 : 안착용 지그
70 : 큐어링 된 도체 페이스트
80 : 제1 전극
90 : 제2 전극
100 : 탄성 패드
110 : 고정단
1 : Silicon Particles
10: carrier substrate
20: conductor paste
30: film
40: center
50: surface portion
60: jig for seating
70: cured conductor paste
80: first electrode
90: second electrode
100: elastic pad
110: fixed end

Claims (20)

캐리어 기판에 도체 페이스트를 부착하는 페이스트 부착 단계;
중심부 및 상기 중심부를 감싸는 표면부를 가지는 실리콘 파티클을 상기 캐리어 기판의 홀에 안착하는 실리콘 파티클 안착 단계;
상기 실리콘 파티클에 부착된 상기 도체 페이스트를 고착시키는 큐어링 단계;
상기 돌출된 상기 실리콘 파티클의 하부를 제거하여, 실리콘 파티클의 중심부를 노출하는 하부 제거 단계;
상기 노출된 실리콘 파티클의 중심부와 전기적으로 연결되는 제1 전극을 형성하는 제1 전극 형성 단계;
상기 캐리어 기판 및 상기 실리콘 파티클을 분리하는 실리콘 파티클 분리 단계;를 포함하는 실리콘 파티클 제작 방법.
a paste attaching step of attaching a conductive paste to the carrier substrate;
A silicon particle mounting step of seating silicon particles having a center portion and a surface portion surrounding the center portion in a hole of the carrier substrate;
a curing step of fixing the conductive paste attached to the silicon particles;
a lower removal step of exposing a central portion of the silicon particle by removing a lower portion of the protruding silicon particle;
a first electrode forming step of forming a first electrode electrically connected to the center of the exposed silicon particle;
Silicon particle manufacturing method comprising a; silicon particle separation step of separating the carrier substrate and the silicon particles.
제 1 항에 있어서,
상기 제1 전극 형성 단계 이후에,
상기 잔존된 도체 페이스트와 전기적으로 연결되는 제2 전극을 형성하는 제2 전극 형성 단계;를 더 포함하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 1,
After the first electrode forming step,
The silicon particle manufacturing method further comprising a; second electrode forming step of forming a second electrode electrically connected to the remaining conductor paste.
제 1 항에 있어서,
상기 제1 전극 형성 단계 이후에,
상기 캐리어 기판 상부에 상기 실리콘 파티클을 고정하는 고정단을 형성하는 고정단 형성 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 1,
After the first electrode forming step,
The silicon particle manufacturing method further comprising a; fixed end forming step of forming a fixed end for fixing the silicon particles on the carrier substrate.
제 1 항에 있어서,
상기 큐어링 단계는,
열을 가하여 상기 도체 페이스트를 고착시키는 도체 페이스트 고착 단계;를 포함하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 1,
The curing step,
A method of manufacturing silicon particles comprising a; conducting paste fixing step of fixing the conductor paste by applying heat.
제 1 항에 있어서,
상기 실리콘 파티클 분리 단계는,
상기 캐리어 기판 하단에 탄성 패드를 부착하는 탄성 패드 부착 단계; 및
상기 탄성 패드에 압력을 가하여 상기 실리콘 파티클을 분리하는 탄성 가압 분리 단계;를 포함하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 1,
The silicon particle separation step,
an elastic pad attaching step of attaching an elastic pad to the bottom of the carrier substrate; and
and an elastic pressure separation step of separating the silicon particles by applying pressure to the elastic pad.
제 1 항에 있어서,
상기 실리콘 파티클 분리 단계는,
상기 복수의 홀에 대응하는 범프가 형성된 레이어를 상기 캐리어 기판 하단에 부착되는 범프 레이어 부착 단계; 및
상기 범프가 형성된 레이어에 힘을 가하여 상기 실리콘 파티클을 분리하는 범프 레이어 가압 분리 단계; 를 포함하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 1,
The silicon particle separation step,
a bump layer attaching step of attaching a layer having bumps corresponding to the plurality of holes to a lower portion of the carrier substrate; and
a bump layer pressing and separating step of separating the silicon particles by applying force to the layer on which the bumps are formed; Silicon particle production method comprising a.
제 6 항에 있어서,
상기 범프 레이어 부착 단계 전에,
상기 캐리어 기판 하단에 점착 수단을 부착하는 점착 수단 부착 단계;를 더 포함하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 6,
Before the bump layer attaching step,
The method of manufacturing silicon particles further comprising a step of attaching an adhesive means to a lower portion of the carrier substrate.
제 1 항에 있어서,
상기 제1 전극은 Al, Ni, Ti, Ag 및 Cu 중 어느 하나를 재료로 하는 것을 특징으로 하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 1,
The first electrode is a silicon particle manufacturing method, characterized in that any one of Al, Ni, Ti, Ag and Cu as a material.
제 2 항에 있어서,
상기 실리콘 파티클은,
상기 실리콘 파티클의 외부에 형성된 표면부; 및
상기 표면부에 포위되는 중심부;를 포함하고,

상기 제2 전극 형성 단계는,
상기 실리콘 파티클의 표면부가,
상기 도체 페이스트의 일부가 제거되어 형성한 제2 전극과 연결되고,
상기 제1 전극과 절연되는 단계;를 포함하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 2,
The silicon particles,
a surface portion formed outside the silicon particle; and
Including; center surrounded by the surface portion,

The second electrode forming step,
The surface portion of the silicon particle,
A portion of the conductive paste is connected to a second electrode formed by removing a portion,
Silicon particle manufacturing method comprising the; step of being insulated from the first electrode.
제 1 항에 있어서,
상기 소성 단계는,
상기 실리콘 파티클과 전자 전달 물질이 접합하여 오믹 콘텍(ohmic contact)을 형성함으로써 상기 실리콘 파티클과 상기 제1 및 제2 전극 사이의 전자 이동 경로를 형성하는 오믹 콘텍 형성 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 1,
In the firing step,
An ohmic contact forming step of forming an electron transfer path between the silicon particle and the first and second electrodes by bonding the silicon particle and the electron transfer material to form an ohmic contact. How to make silicon particles.
제 10 항에 있어서,
상기 전자 전달 물질은,
Al, Ti, Ag, Au, Pt 및 Ta 중 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 10,
The electron transport material,
A method for producing silicon particles, characterized in that at least one of Al, Ti, Ag, Au, Pt and Ta.
제 2 항에 있어서,
상기 제2 전극은 상기 실리콘 파티클 단면 원주에 형성하는 것을 특징으로 하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 2,
The second electrode is a silicon particle manufacturing method, characterized in that formed on the cross-sectional circumference of the silicon particle.
제 1 항에 있어서,
상기 실리콘 파티클 분리 단계는,
상기 캐리어 기판 하단에 점착 수단을 부착하여 상기 실리콘 파티클의 이탈을 방지하는 실리콘 파티클 이탈 방지 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 1,
The silicon particle separation step,
and a step of preventing separation of the silicon particles by attaching an adhesive means to the bottom of the carrier substrate to prevent the separation of the silicon particles.
제 13 항에 있어서,
상기 점착 수단의 점착력은 2 내지 100 gf/inch 인 것을 특징으로 하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 13,
Silicon particle manufacturing method, characterized in that the adhesive force of the adhesive means is 2 to 100 gf / inch.
제 1 항에 있어서,
상기 실리콘 파티클 분리 단계는,
상기 복수의 실리콘 파티클을 소정의 크기의 블록 단위로 분리하는 블록 단위 분리 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 1,
The silicon particle separation step,
and a block unit separating step of separating the plurality of silicon particles into blocks having a predetermined size.
제 1 항에 있어서,
상기 캐리어 기판은 복수의 홀이 형성된 안착용 지그를 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 1,
The carrier substrate is a silicon particle manufacturing method, characterized in that it comprises a mounting jig in which a plurality of holes are formed.
제 1 항에 있어서,
상기 하부 제거 단계는,
상기 돌출된 상기 실리콘 파티클의 하단면 및 상기 큐어링 된 도체 페이스트를 연마하는 하단면 연마 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 1,
In the lower removal step,
and a lower surface polishing step of polishing the lower surface of the protruding silicon particle and the cured conductive paste.
제 2 항에 있어서,
상기 제2 전극 형성 단계 이후에,
상기 실리콘 파티클에 형성된 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극을 소성하는 전극 소성 단계;를 더 포함하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 2,
After the second electrode forming step,
The silicon particle manufacturing method further comprising: an electrode firing step of firing the first electrode and the second electrode formed on the silicon particle.
제 1 항에 있어서,
상기 실리콘 파티클은 태양광을 흡수하여 전기를 발생시키는 태양 전지 셀인 것을 특징으로 하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 1,
The silicon particle production method, characterized in that the silicon particle is a solar cell that absorbs sunlight to generate electricity.
제 1 항에 있어서,
상기 중심부 및 상기 표면부가 각각 서로 다른 극성의 전극을 갖는 반도체 물질로 형성되는 것을 특징으로 하는 실리콘 파티클 제작 방법.
According to claim 1,
The method of manufacturing silicon particles, characterized in that the central portion and the surface portion are formed of a semiconductor material having electrodes of different polarities, respectively.
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