KR20220143938A - Correlation of data between different machines on a production line for electronic components - Google Patents

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KR20220143938A
KR20220143938A KR1020227033219A KR20227033219A KR20220143938A KR 20220143938 A KR20220143938 A KR 20220143938A KR 1020227033219 A KR1020227033219 A KR 1020227033219A KR 20227033219 A KR20227033219 A KR 20227033219A KR 20220143938 A KR20220143938 A KR 20220143938A
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클라우스 위르겐 슈미트
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에이에스엠 어셈블리 시스템즈 게엠베하 운트 콤파니 카게
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Abstract

공통 PCB와 연관된 데이터 세트는 (a) 인쇄 회로 기판 상의 복수의 위치들에서 상기 인쇄 회로 기판의 제품-특징 구조의 특징 목표 특성들에 대한 제1 위치 정보 및 제1 특징 정보를 포함하는 제1 데이터 세트를 제1 기계로부터 제공하는 단계; (b) 인쇄 회로 기판 상의 복수의 위치들에서 상기 인쇄 회로 기판의 제품-특징 구조의 특징 목표 특성들에 대한 제2 위치 정보 및 제2 특징 정보를 포함하는 제2 데이터 세트를 제2 기계로부터 제공하는 단계; (c) 제2 위치 정보에 제1 위치 정보를 기하학적으로 중첩하는 단계; 및 (d) 2개의 상관된 위치 정보 단편들, 즉 인쇄 회로 기판 상의 하나의 동일한 위치로부터 제1 위치 정보 및 연관된 제2 위치 정보 사이의 거리의 총합이 감소되도록 제1 위치 정보 및/또는 제2 위치 정보를 재배치하는 단계에 의해서 상관된다. The data set associated with the common PCB includes: (a) first data including first location information and first feature information for feature target properties of a product-feature structure of the printed circuit board at a plurality of locations on the printed circuit board providing the set from the first machine; (b) providing from the second machine a second data set comprising second positional information and second characteristic information for characteristic target characteristics of a product-feature structure of the printed circuit board at a plurality of positions on the printed circuit board to do; (c) geometrically superimposing the first location information on the second location information; and (d) the first location information and/or the second location information such that the sum of the distances between the two correlated pieces of location information, ie, the first location information and the associated second location information, from one and the same location on the printed circuit board is reduced. It is correlated by the step of rearranging the location information.

Figure P1020227033219
Figure P1020227033219

Description

전자 부품용 생산 라인의 상이한 기계들 사이의 데이터 상관Correlation of data between different machines on a production line for electronic components

본 발명은 특히 인쇄 회로 기판에 전자 부품을 놓기(placing) 위한 플레이스먼트 기계(placement machine) 및 이전 공정 단계의 품질을 결정하기 위한 검사 기계와 같은 복수의 기계들을 갖는 생산 라인에서 전자 조립체들의 생산 기술 분야에 관한 것이다. 본 발명은 특히 이러한 생산 라인의 공정 데이터를 분석하는 방법 및 전자 조립체를 위한 제조 공정을 최적화하는 방법에 관한 것이다.The present invention relates in particular to a technology for the production of electronic assemblies in a production line having a plurality of machines, such as a placement machine for placing an electronic component on a printed circuit board and an inspection machine for determining the quality of a previous process step. It's about the field. The present invention relates in particular to methods of analyzing process data of such production lines and methods of optimizing manufacturing processes for electronic assemblies.

전자 조립체는 일반적으로 인쇄 회로 기판 및 인쇄 회로 기판에 부착되고 도체 트랙에 의해 서로 전기적으로 연결된 복수의 전자 부품들을 가진다. 이러한 전자 조립체는 제조 또는 처리를 위한 컨베이어 벨트를 통해 서로 연결된 복수의 기계들과 중간 제품의 (광학) 검사를 위한 기계를 갖는 생산 라인에서 제조된다. 이러한 기계는 일반적으로 다음을 포함한다.An electronic assembly generally has a printed circuit board and a plurality of electronic components attached to the printed circuit board and electrically connected to each other by conductor tracks. Such electronic assemblies are manufactured on a production line having a plurality of machines interconnected via a conveyor belt for manufacturing or processing and a machine for (optical) inspection of intermediate products. These machines typically include:

(a) 관련 인쇄 회로 기판의 표면에 형성된 부품 연결 영역 또는 연결 영역에 솔더 페이스트를 선택적으로 도포하는 솔더 페이스트 인쇄 기계;(a) a solder paste printing machine for selectively applying solder paste to component connection areas or connection areas formed on the surface of the associated printed circuit board;

(b) 솔더 페이스트의 정확한 도포를 검증하기 위한 솔더 페이스트 검사 기계;(b) a solder paste inspection machine to verify the correct application of the solder paste;

(c) 솔더 페이스트가 제공된 인쇄 회로 기판의 표면에 전자 부품을 놓기 위한 적어도 하나의 플레이스먼트 기계;(c) at least one placement machine for placing an electronic component on a surface of a printed circuit board provided with solder paste;

(d) 인쇄 회로 기판의 정확한 배치를 검증하기 위한 플레이스먼트 검사 기계(placement inspection machine);(d) placement inspection machines for verifying the correct placement of printed circuit boards;

(e) 장착된 인쇄 회로 기판의 부품 연결 영역과 관련 부품의 전기 연결 접점 사이에 위치하는 솔더 페이스트를 용융시키기 위한 솔더링 기계 또는 오븐; 및(e) a soldering machine or oven for melting the solder paste located between the component connection area of the mounted printed circuit board and the electrical connection contact of the associated component; and

(f) 부품의 정확한 솔더링을 검증하기 위한 솔더링 검사 기계.(f) Soldering inspection machines to verify correct soldering of components.

다소 저하될 수 있는 품질 결정을 위해, 앞서 언급한 3개의 검사 기계를 모두 사용할 필요는 없다. 필요한 것은 검사 기계뿐이지만, 반드시 앞서 언급한 솔더링 검사 기계일 필요는 없다.It is not necessary to use all three inspection machines mentioned above for quality determination, which can be somewhat degraded. All you need is an inspection machine, but not necessarily the soldering inspection machine mentioned earlier.

현재 전자 조립체용으로 알려진 생산 라인에서는, 결함이 있거나 제대로 처리되지 않은 인쇄 회로 기판을 생산 공정에서 분리하거나 수리를 지시하기 위해 적어도 하나의 검사 기계가 사용된다. 이 문서에서 기술적으로 게이트라고 하는 적절한 배출 장치에 의해 생산 라인의 특정 지점에서 이러한 분리가 발생한다. 비용-편익상의 이유로 이러한 분리는 가능한 한 빨리 이루어져야 한다.In production lines currently known for electronic assembly, at least one inspection machine is used to separate defective or poorly handled printed circuit boards from the production process or to direct repairs. This separation occurs at certain points in the production line by means of an appropriate evacuation device, technically referred to in this document as a gate. For cost-benefit reasons, this separation should occur as soon as possible.

분리에는 두 가지 다른 이유가 있을 수 있다. 제1 이유는 이 문서에서 제품 또는 중간 제품이라고도 하는 처리된 인쇄 회로 기판이 실제로 결함이 있거나 (매우) 품질이 좋지 않기 때문일 수 있다. 제2 이유는 제품 또는 중간 제품이 완전히 정상이지만 관련 검사 기계가 오류를 잘못 보고한 경우일 수 있다. 따라서 검사 기계를 통한 제품 분류의 경우, 한편으로는 결함 제품을 안정적으로 검출하고 다른 한편으로는 가능한 한 잘못된 오류를 출력하는 것을 최소화하도록 오류 검출을 위한 임계값을 선택하는 것이 합리적이다. Separation can have two different reasons. The first reason may be that the processed printed circuit board, also referred to in this document as the product or intermediate product, is actually defective or (very) poor quality. The second reason may be that the product or intermediate product is completely normal, but the relevant inspection machine incorrectly reports an error. Therefore, in the case of product classification through the inspection machine, it is reasonable to select a threshold for error detection so as to reliably detect defective products on the one hand and minimize the outputting of false errors as much as possible on the other hand.

분리된 제품 또는 분리된 인쇄 회로 기판은 숙련된 작업자가 수동으로 검사하고 필요시 재처리할 수 있다. 이러한 평가 결과에 따라, 솔더 페이스트 인쇄 기계의 스퀴지 속도와 같은 공정 파라미터를 향후 인쇄 공정에 맞게 개선하거나 최적화할 수 있다. 또한, 오류 검출을 위한 상술한 임계값은 적응될 수 있다.Separated products or separated printed circuit boards can be manually inspected by skilled operators and reprocessed if necessary. Based on these evaluation results, process parameters such as the squeegee speed of the solder paste printing machine can be improved or optimized for future printing processes. Also, the above-mentioned thresholds for error detection can be adapted.

그러나 이러한 공정 파라미터의 수동 최적화와 오류 검출을 위한 임계값의 적절한 조정은 실제로 매우 어렵다. 이 두 요소는 특히 공정 파라미터를 최적화하고 이러한 임계값을 조정하는 작업자의 능력과 경험에 따라 달라진다.However, manual optimization of these process parameters and proper adjustment of thresholds for error detection is actually very difficult. These two factors depend, inter alia, on the ability and experience of the operator to optimize process parameters and adjust these thresholds.

본 발명은 전자 조립체를 생산할 때 공정 파라미터를 최적화하고/하거나 오류 검출을 위한 임계값을 조정하는 것을 더 쉽게 만드는 목적에 기초한다.The present invention is based on the object of making it easier to optimize process parameters and/or adjust thresholds for error detection when producing electronic assemblies.

이 목적은 독립항의 주제에 의해 달성된다.This object is achieved by the subject matter of the independent claim.

본 발명의 유리한 실시예는 종속항에 기재되어 있다.Advantageous embodiments of the invention are described in the dependent claims.

본 발명의 제1 양태에 따르면, 생산 라인에서 자동화된 생산에 의해 복수의 전자 부품들을 갖는 전자 조립체가 구축되는 하나의 동일한 인쇄 회로 기판과 연관된 상이한 데이터 세트를 상관시키는 방법이 설명된다. 설명된 방법은 (a) 제1 기계로부터 제1 데이터 세트를 제공하는 단계로서, 상기 제1 데이터 세트는 (al) 상기 제1 기계와 연관되고, (a2) 상기 제1 기계의 동작을 제어하고, 그리고 상기 제1 데이터 세트는 (a3) : According to a first aspect of the present invention, a method is described for correlating different data sets associated with one and the same printed circuit board on which an electronic assembly having a plurality of electronic components is built by automated production in a production line. The described method comprises the steps of (a) providing a first data set from a first machine, the first data set (al) associated with the first machine, (a2) controlling operation of the first machine; , and the first data set is (a3):

상기 인쇄 회로 기판 상의 복수의 위치들에서 상기 인쇄 회로 기판의 제품-특징 구조의 특징 목표 특성들에 대한 제1 위치 정보 및 제1 특징 정보를 포함하는, 상기 제1 데이터 세트를 제공하는 단계; (b) 제2 기계로부터 제2 데이터 세트를 제공하는 단계로서, 상기 제2 데이터 세트는 (b1) 상기 제2 기계와 연관되고, (b2) 상기 제2 기계의 동작을 제어하고, 그리고 상기 제2 데이터 세트는 (b3) : providing the first data set comprising first positional information and first characteristic information for characteristic target characteristics of a product-feature structure of the printed circuit board at a plurality of positions on the printed circuit board; (b) providing a second set of data from a second machine, wherein the second set of data is (b1) associated with the second machine, (b2) controls operation of the second machine, and 2 data sets (b3):

상기 인쇄 회로 기판 상의 복수의 위치들에서 상기 인쇄 회로 기판의 제품-특징 구조의 특징 목표 특성들에 대한 제2 위치 정보 및 제2 특징 정보를 포함하는, 상기 제2 데이터 세트를 제공하는 단계; (c) 상기 제2 위치 정보에 상기 제1 위치 정보를 기하학적으로 중첩하는 단계; 및 providing the second data set comprising second positional information and second characteristic information for characteristic target characteristics of a product-feature structure of the printed circuit board at a plurality of positions on the printed circuit board; (c) geometrically superimposing the first location information on the second location information; and

(d) 상기 인쇄 회로 기판 상의 하나의 동일한 위치로부터의 2개의 상관된 위치 정보 단편들, 즉 제1 위치 정보 및 연관된 제2 위치 정보 사이의 거리의 총합이 감소되도록 상기 제1 위치 정보 및/또는 상기 제2 위치 정보를 재배치하는 단계를 포함한다. (d) the first location information and/or the sum of the distances between the two correlated pieces of location information from one and the same location on the printed circuit board, ie the first location information and the associated second location information, is reduced. and rearranging the second location information.

설명된 방법은 서로에 대한 제1 위치 정보의 제1 좌표계 및/또는 제2 위치 정보의 제2 좌표계의 적절한 기하학적 재배치에 의해 다양한 기계의 공정 데이터가 중간 제품 또는 최종 제품(완성된 조립체)의 제품-특성 결과와 관련하여 서로 비교되거나 서로 상관될 수 있다는 지식에 기초한다. 설명을 위해, 이 재배치는 상이한 기계로부터의 데이터를 비교하거나 상관시키기 위한 기초를 나타낸다. 이는 단일 기계의 처리 결과에 대한 공정 파라미터의 영향 뿐만 아니라 검사할 수 있음을 의미한다. 오히려, 상이한 처리 기계와 연관된 복수의 공정 파라미터의 (조합적) 효과는 중간 제품, 특히 최종 제품의 특징적 특성 또는 품질에 대해 평가될 수 있다. 이것은 유리하게는 최상의 품질의 중간 제품 및 최종 제품과 관련하여 가장 다양한 공정 파라미터의 자동 최적화를 가능하게 한다.The described method allows the process data of various machines to be converted into intermediate products or final products (finished assemblies) by appropriate geometrical repositioning of the first coordinate system of the first position information and/or the second coordinate system of the second position information relative to each other. -based on the knowledge that characteristic outcomes can be compared or correlated with each other For illustrative purposes, this relocation represents a basis for comparing or correlating data from different machines. This means that it is possible to examine as well as the influence of process parameters on the processing results of a single machine. Rather, the (combinatorial) effect of a plurality of process parameters associated with different processing machines can be evaluated on characteristic properties or qualities of an intermediate product, in particular a final product. This advantageously enables automatic optimization of the most diverse process parameters in relation to intermediate and final products of the highest quality.

복수의 기계 및/또는 검사 기계가 공유하는 공통 데이터베이스에서, 서로 상관된 데이터 세트를 갖는 데이터베이스, 처리 기계의 공정 파라미터의 적절한 조정 및/또는 검사 기계 또는 (게이트) 분리용 장치의 임계값의 적절한 조정은 두 가지 방식으로 전자 조립체의 제조 공정을 개선할 수 있다. 먼저, 생산되는 전자 조립체 또는 최종 제품의 품질이 향상될 수 있다. 대안으로 또는 조합하여, 제조 공정에서 잘못 분리된 무결함 (최종) 제품의 비율을 줄일 수 있다.In a common database shared by a plurality of machines and/or inspection machines, databases with mutually correlated data sets, appropriate adjustment of process parameters of processing machines and/or appropriate adjustment of threshold values of inspection machines or devices for (gate) separation can improve the manufacturing process of electronic assemblies in two ways. First, the quality of the produced electronic assembly or final product may be improved. Alternatively or in combination, it is possible to reduce the proportion of defective (final) products that are incorrectly separated in the manufacturing process.

2개의 (상이한) 좌표계의 설명된 상대 재배치는 본 발명에 따라 수행되어 (하나의 동일한) 인쇄 회로 기판에 대해 물론 동일하고 상이한 좌표계의 다양한 기계에 의해 검출 및 처리되거나 처리되는 인쇄 회로 기판의 제품-특징 구조는 재배치 후 두 좌표계에서 가능한 한 크게 겹친다. 설명하자면, 이것은 제품-특징적 인쇄 회로 기판 구조의 (2개의) 기하학적 설명이 두 데이터 세트의 정확한 기하학적 상관이 수행될 수 있도록 설명된 재배치에 의해 서로 적응된다는 것을 의미한다.The described relative repositioning of the two (different) coordinate systems is carried out according to the invention to the (one and the same) printed circuit board, as well as products of the printed circuit board which are detected and processed or processed by various machines in the same and different coordinate systems - The feature structures overlap as much as possible in the two coordinate systems after relocation. To explain, this means that the (two) geometrical descriptions of the product-specific printed circuit board structures are adapted to each other by the described rearrangement so that an exact geometrical correlation of the two data sets can be performed.

이 문서에서, "상관(correlation)"라는 용어는 상이한 좌표계의 좌표들에 대한 모든 유형의 기하학적 연관을 의미하는 것으로 이해될 수 있고, 이 연관은 인쇄 회로 기판의 동일한 구조가 두 좌표계(및 두 데이터 세트 모두)에서 동일한 구조로 설명되도록 한다. 예컨대, 전자 조립체의 특정 부품의 특정 전기 연결 접점을 위해 제공되는 인쇄 회로 기판의 특정 패드는 두 데이터 세트에서 동일한 패드로 설명되어야 한다. 정확한 기하학적 재배치가 가장 중요하다는 것은 분명하다.In this document, the term "correlation" may be understood to mean any type of geometrical association to coordinates in different coordinate systems, which association means that the same structure of a printed circuit board has two coordinate systems (and two data All sets) are described in the same structure. For example, a specific pad on a printed circuit board that is provided for a specific electrical connection contact of a specific component of an electronic assembly should be described as the same pad in both data sets. It is clear that accurate geometrical rearrangement is paramount.

다양한 데이터 세트의 상관은 데이터 세트가 적어도 일시적으로 위치하는 적절하게 프로그래밍된 데이터 처리 장치에서 발생할 수 있다. 이러한 데이터 세트가 적절한 데이터 전송을 통해 생산 라인의 각 기계에서 획득되었는지 여부 또는 두 개의 데이터 세트가 이미 관련 데이터 처리 장치에 저장되어 관련 기계로 전송되었는지 여부는 중요하지 않다.Correlation of the various data sets may occur in an appropriately programmed data processing device in which the data sets are located at least temporarily. It does not matter whether these data sets have been obtained from each machine on the production line through appropriate data transmission or whether the two data sets have already been stored in the relevant data processing unit and transmitted to the relevant machine.

상관, 즉 상관의 결과는 예컨대 상관 테이블이라고도 하는 테이블의 형태로 기록될 수 있다. 이러한 상관 테이블은 다양한 데이터 세트의 다양한 콘텐츠 또는 요소 사이의 연관성을 설명하거나 기록하는 특히 간단하지만 효과적인 방법을 나타낸다. 인쇄 회로 기판의 제품-특징 정보와 함께 여기에 설명된 경우, 부품의 부품 연결 접점과 부품이 장착될 인쇄 회로 기판의 부품 연결 영역은 예컨대 아래에 자세히 설명된 바와 같이 서로 연관될 수 있다. The correlation, that is, the result of the correlation, may be recorded, for example, in the form of a table also called a correlation table. Such correlation tables represent a particularly simple but effective way to describe or record associations between different content or elements of different data sets. When described herein with product-feature information of a printed circuit board, the component connection contact of the component and the component connection area of the printed circuit board to which the component is to be mounted can be associated with each other, for example as detailed below.

이 문서에서, "기계"라는 용어는 전자 조립체의 생산에 기여하는 모든 유형의 장치를 의미하는 것으로 이해될 수 있다. 기계는 처리 기계 또는 검사 기계가 될 수 있다. 기술된 생산 라인의 처리 기계는, 예컨대 서론에서 기술된 솔더 페이스트 인쇄 기계, 플레이스먼트 기계, 또는 리플로우 오븐과 같은 솔더링 기계이다. 검사 기계는 중간 제품 또는 최종 제품을 2차원 또는 3차원으로 검출하는 광학 검사 기계일 수 있다. 검사 기계는 생산 라인에서 가장 다양한 위치에 배열될 수 있다.In this document, the term “machine” may be understood to mean any type of device that contributes to the production of an electronic assembly. The machine can be a processing machine or an inspection machine. The processing machine of the production line described is, for example, a soldering machine, such as a solder paste printing machine, a placement machine, or a reflow oven described in the introduction. The inspection machine may be an optical inspection machine that detects intermediate or final products in two or three dimensions. Inspection machines can be arranged in the most diverse positions on a production line.

(a) 이송 방향을 따라 배열하는 경우, 솔더 페이스트 인쇄 기계의 하류 및 플레이스먼트 기계의 상류에서 솔더 페이스트 인쇄 공정의 결과를 검사할 수 있다. 이러한 검사 기계는 이 문서에서, "솔더 페이스트 검사 기계"로 언급된다.(a) When arranging along the conveying direction, the results of the solder paste printing process can be inspected downstream of the solder paste printing machine and upstream of the placement machine. Such an inspection machine is referred to in this document as a "solder paste inspection machine".

(b) 플레이스먼트 기계의 하류와 솔더링 기계의 상류에 배열하는 경우, 플레이스먼트 공정의 결과를 검사할 수 있다. 이러한 검사 기계를 이 문서에서, "플레이스먼트 검사 기계(placement inspection machine)"라고 한다.(b) In case of arrangement downstream of the placement machine and upstream of the soldering machine, the results of the placement process can be inspected. Such an inspection machine is referred to herein as a "placement inspection machine".

(c) 솔더링 기계의 하류에 배열하는 경우, 인쇄 회로 기판의 각 부품 연결 영역 또는 패드에 놓여진 부품의 (리플로우) 솔더링 결과를 검사할 수 있다. 일반적으로 생산 라인의 최종 제품을 검사하는 이러한 검사 기계를 이 문서에서, "플레이스먼트 검사 기계"라고 한다.(c) In the case of arranging downstream of the soldering machine, the (reflow) soldering result of each component connection area or pad placed on the printed circuit board can be inspected. Such an inspection machine that generally inspects the final product on a production line is referred to in this document as a "placement inspection machine".

이 문서에서, "위치 정보"라는 용어는 인쇄 회로 기판 상의 한 지점 또는 위치에 대한 임의의 위치 특정 표시를 의미하는 것으로 이해될 수 있다. 위치 정보는 특히 인쇄 회로 기판에 부품이 장착될 때 부품의 연결 접점과 전기적으로 접촉하는 인쇄 회로 기판 표면의 부품 연결 영역 또는 패드의 위치이다. 하나의 동일한 인쇄 회로 기판 위치에 대한 위치 정보는 당연히 (상이한 기계의) 상이한 좌표계에서 상이한 값을 갖다.In this document, the term “location information” may be understood to mean any location specific indication of a point or location on a printed circuit board. Positional information is the location of a component connection area or pad on the surface of a printed circuit board that makes electrical contact with the connection contacts of the component, particularly when the component is mounted on the printed circuit board. Positional information for one and the same printed circuit board position will of course have different values in different coordinate systems (on different machines).

이 문서에서, "특징 정보(characteristic information)"라는 용어는 패드와 같은 인쇄 회로 기판의 특정 위치 또는 인쇄 회로 기판의 특정 (작은) 영역의 공간 물리적, 광학적 및/또는 전기적 상태 또는 특성에 대한 모든 정보를 의미하는 것으로 이해될 수 있다. 공간 물리적 특징 정보는 기하학적 2차원 정보, 예컨대 패드의 위치, 크기 및/또는 형상의 표시일 수 있다. 대안적으로 또는 조합하여, 공간 물리적 특징 정보는 3차원 정보, 예컨대 특정 패드 상의 솔더 페이스트 도포량의 표시일 수 있다. 광학적 특징 정보는 예컨대 패드의 색상 및/또는 반사율에 대한 정보일 수 있으며, 이는 예컨대 패드의 가능한 부식 또는 콜드 솔더 조인트의 표시일 수 있다. 전기 특징 정보는 예컨대 인쇄 회로 기판 표면에 있는 도체 트랙의 전기 전도도를 나타낼 수 있다.In this document, the term “characteristic information” refers to any information about the spatial physical, optical and/or electrical state or properties of a specific location on a printed circuit board, such as a pad, or a specific (small) area of a printed circuit board. can be understood to mean The spatial physical characteristic information may be geometrical two-dimensional information, such as an indication of the position, size and/or shape of the pad. Alternatively or in combination, the spatial physical characteristic information may be three-dimensional information, such as an indication of the amount of solder paste applied on a particular pad. The optical characteristic information can be, for example, information about the color and/or reflectivity of the pad, which can be, for example, an indication of possible corrosion of the pad or a cold solder joint. The electrical characteristic information may indicate, for example, the electrical conductivity of a conductor track on the surface of a printed circuit board.

이 문서에서, "제품-특징 구조(product-characteristic structure)"라는 용어는 특정 유형의 인쇄 회로 기판의 특징인 모든 구조적 또는 공간 물리적 특징을 의미하는 것으로 이해될 수 있다. 특히, 한 유형의 인쇄 회로 기판은 (a) 제품-특징 구조(들)에 기초하여 다른 유형의 인쇄 회로 기판과 구별될 수 있다. 이러한 특징은 예컨대 패드의 위치, 크기 및/또는 형상일 수 있다.In this document, the term “product-characteristic structure” may be understood to mean any structural or spatial physical characteristic characteristic of a particular type of printed circuit board. In particular, one type of printed circuit board may be distinguished from another type of printed circuit board based on (a) product-feature structure(s). Such characteristics may be, for example, the location, size and/or shape of the pad.

이 문서에서, "재배치(repositioning)"라는 용어는 관련 데이터 세트의 설명에 사용되는 좌표계의 모든 유형의 기하학적 변화가 될 수 있다. 특히, 재배치는 변위, 회전 및/또는 일부 응용 사례에서 두 데이터 세트들 중 하나와 각각 연관된 두 좌표계 중 적어도 하나의 왜곡일 수 있다.In this document, the term "repositioning" can be any type of geometric change of a coordinate system used in the description of the relevant data set. In particular, the rearrangement may be displacement, rotation and/or distortion of at least one of the two coordinate systems respectively associated with one of the two data sets in some applications.

설명된 "재배치"에서, 좌표계를 기반으로 하는 두 데이터 세트는 문제의 인쇄 회로 기판에서 선택한 위치에 대한 두 데이터 세트의 위치 정보가 재배치 전보다 서로 더 가깝도록 기하학적으로 변화된다. 바람직하게는, 위치 정보는 가능한 한 서로 가깝거나 심지어 중첩된다. 예시하기 위해, 두 좌표계는 적절한 좌표 변환을 통해 서로에 맞게 적응된다. 상술한 바와 같이, 이 좌표 변환은 변위, 회전 및/또는 왜곡을 포함할 수 있다.In the "relocation" described, the two data sets based on the coordinate system are geometrically changed so that the position information of the two data sets for the selected position on the printed circuit board in question is closer to each other than before the relocation. Preferably, the location information is as close to each other as possible or even overlaps. To illustrate, the two coordinate systems are adapted to each other through appropriate coordinate transformations. As noted above, this coordinate transformation may include displacement, rotation and/or distortion.

설명된 "재배치"는 알려진 수학적 기하학적 계산을 통해 구현될 수 있다. 다른 모든 계산 또는 알고리즘과 마찬가지로, 이는 전자 조립체용 관련 생산 라인의 모든 데이터 처리 장치에서 발생할 수 있다. 이 데이터 처리 장치는 특정 기계와 연관될 수 있다. 대안적으로 또는 조합하여, 그것은 또한 개별 기계에 직접 또는 간접적으로 통신 결합된 중심 또는 상위 수준 데이터 처리 장치일 수 있다.The described "relocation" can be implemented through known mathematical and geometric calculations. As with any other calculation or algorithm, it can occur in any data processing unit on an associated production line for an electronic assembly. This data processing device may be associated with a particular machine. Alternatively or in combination, it may also be a central or higher-level data processing unit communicatively coupled, directly or indirectly, to an individual machine.

이 문서에서, "서로 연관된 두 위치 정보 단편들 사이의 거리의 총계"라는 용어는 상이한 좌표계에서 두 위치 정보 단편들 사이의 거리의 합을 의미하는 것으로 이해될 수 있으며, 여기서 두 위치 정보 단편은 인쇄 회로 기판의 동일한 위치와 관련된 좌표 점들이다. 총합은 인쇄 회로 기판의 상이한 위치들에 대한 거리들의 절대 값을 더하여 형성된다. 총계는 또한 인쇄 회로 기판 상의 하나의 동일한 위치와 관련하여 서로 연관된 위치 정보 사이의 모든 제곱 거리의 합일 수 있다. 따라서 재배치는 (통계적) 스프레드를 갖고 설명된 방법에서 거리 값인 복수의 측정 지점에 대한 수학 함수의 최적 적합("최적 적합")과 유사할 수 있다.In this document, the term "sum of the distance between two pieces of location information associated with each other" may be understood to mean the sum of the distances between two pieces of location information in different coordinate systems, where the two pieces of location information are printed Coordinate points related to the same location on the circuit board. The sum is formed by adding the absolute values of the distances for different locations on the printed circuit board. The total may also be the sum of all squared distances between the positional information associated with each other with respect to one and the same position on the printed circuit board. The rearrangement may thus resemble a best fit (“best fit”) of a mathematical function to a plurality of measurement points that are distance values in the described method with a (statistical) spread.

이 지점에서, 설명된 두 데이터 세트가 관련 기계를 제어한다는 것을 다른 말로 다시 강조해야 한다. 이것은 문제의 기계의 실제 작동이 그와 관련된 데이터 세트에 의존한다는 것을 의미한다. 따라서, 본 발명에 따르면, 데이터 세트는 관련 인쇄 회로 기판의 제품-특징 구조에 대한 정보를 포함할 뿐만 아니라, 오히려 데이터 세트는 관련 기계가 그 작업을 수행하는 방법에 대한 지침 또는 정보도 포함한다. 이것은 아래에 설명된 것처럼 처리 기계 또는 검사 기계가 될 수 있는 언급된 모든 기계에 적용된다.At this point, it should be emphasized again, in other words, that the two data sets described control the machines involved. This means that the actual operation of the machine in question depends on the data set associated with it. Thus, according to the present invention, the data set not only contains information about the product-feature structure of the relevant printed circuit board, but rather, the data set also contains instructions or information on how the relevant machine performs its task. This applies to all machines mentioned which may be processing machines or inspection machines as described below.

구체적으로, 처리 기계의 경우, 적절한 제어기가 관련 인쇄 회로 기판의 처리를 보장한다. 예컨대 플레이스먼트 기계의 경우, 이것은 인쇄 회로 기판에서 부품의 정확한 위치 지정이다. 검사 기계의 경우, 관련 데이터 세트는 이전에 수행한 검사 결과를 갖는 측정 데이터 세트가 아니거나 배타적이지 않다. 오히려 관련 데이터 세트(또한)는 관련 검사 기계의 작동을 제어하는 검사 데이터 세트를 나타낸다. 따라서 검사 기계에 대한 데이터 세트 또는 검사 데이터 세트는 공정 데이터 세트가 처리 기계에 대한 작업 레시피(work recipe)인 것처럼 관련 검사 기계에 대한 작업 레시피(일반적으로 복수의 개별 작업 지침 포함)이다.Specifically, in the case of processing machines, suitable controllers ensure processing of the relevant printed circuit boards. In the case of a placement machine, for example, this is the precise positioning of a part on a printed circuit board. For inspection machines, the relevant data set is not or is not exclusive to the measurement data set with the results of a previously performed inspection. Rather, the relevant data set (also) represents the inspection data set that controls the operation of the relevant inspection machine. Thus, a data set for an inspection machine or an inspection data set is a work recipe (typically comprising a plurality of individual work instructions) for an associated inspection machine just as a process data set is a work recipe for a processing machine.

이러한 맥락에서, 검사 기계의 작동도 제어되어야 함은 자명하다. 그 이유는 효율성의 이유로 예컨대 (중간) 제품의 모든 영역, 즉 적어도 부분적으로 처리된 인쇄 회로 기판을 하나의 동일한 정확도로 검사하는 것이 정당화될 수 없기 때문이다. 이것은 실제로 검사를 수행하는 데 걸리는 시간을 상당히 증가시킨다. 예컨대, 특히 관련이 있는 검사 대상 물체의 영역은 특히 정확하게 검사될 수 있고, 상이한 영역은 정확도가 떨어지거나 아예 검사되지 않을 수도 있다.In this context, it is obvious that the operation of the inspection machine must also be controlled. This is because, for reasons of efficiency, it cannot be justified, for example, to inspect all areas of the (intermediate) product, ie at least partially processed printed circuit boards, with one and the same accuracy. This significantly increases the time it takes to actually perform the inspection. For example, regions of the object to be inspected that are particularly relevant may be inspected with particular precision, and different regions may be inspected with poor accuracy or not at all.

본 발명의 예시적인 실시예에 따르면, 제1 기계는 처리 공정에 의해 인쇄 회로 기판 및 제품-특징 구조를 포함하는 제품에 물리적 변화를 만드는 제1 처리 기계이다. 물리적 변화는 제품-특징 구조의 추가 및/또는 제품-특징 구조의 특성 변화를 포함할 수 있다. 제품-특징 구조는 예컨대 솔더 페이스트 인쇄를 통해 (적어도) 하나의 부품 연결 영역 또는 패드에 있거나 도포된 일정 체적의 솔더 페이스트일 수 있으며, 이는 문제의 인쇄 회로 기판의 표면에 형성된다. 제품-특징 구조는 또한 전자 부품 또는 플레이스먼트 기계에 의해 인쇄 회로 기판에 있거나 놓여진 전자 부품의 2차원 또는 3차원 공간 위치일 수 있다.According to an exemplary embodiment of the present invention, the first machine is a first processing machine that makes a physical change to a product including a printed circuit board and a product-feature structure by a processing process. Physical changes may include addition of product-feature structures and/or changes in properties of product-feature structures. The product-feature structure may be, for example, a volume of solder paste applied or applied to (at least) one component connection area or pad via solder paste printing, which is formed on the surface of the printed circuit board in question. The product-feature structure may also be a two-dimensional or three-dimensional spatial location of an electronic component or electronic component placed on or placed on a printed circuit board by a placement machine.

본 발명의 또 다른 예시적인 실시예에 따르면, 제1 처리 기계는 (i) 상기 인쇄 회로 기판의 부품 연결 영역들에 선택적으로 솔더 페이스트를 도포하기 위한 솔더 페이스트 인쇄 기계; (ii) 전자 부품들을 상기 인쇄 회로 기판에 놓기 위한 플레이스먼트 기계; 및 (iii) 상기 인쇄 회로 기판의 부품 연결 영역들과 상기 인쇄 회로 기판에 놓여진 부품들의 전기 연결 접점들 사이에 위치하는 상기 솔더 페이스트를 용융시키기 위한 솔더링 기계(soldering machine)로 이루어진 그룹에서 선택되는 기계이다. According to another exemplary embodiment of the present invention, a first processing machine comprises: (i) a solder paste printing machine for selectively applying solder paste to component connection areas of the printed circuit board; (ii) a placement machine for placing electronic components on the printed circuit board; and (iii) a soldering machine for melting said solder paste located between component connection areas of said printed circuit board and electrical connection contacts of components placed on said printed circuit board. to be.

설명된 처리 기계 선택은 전자 부품 생산 라인의 모든 일반적인 처리 기계가 포함된다는 장점이 있다. 원칙적으로 설명된 방법은 생산 라인의 모든 유형의 처리 기계들 사이의 데이터 상관에 사용할 수 있다. 이는 특정-위치 정보로 작업하거나 측정의 일부로 특정-위치 정보를 제공하는 모든 기계에 적용된다.The described processing machine selection has the advantage that all common processing machines of the electronic component production line are covered. In principle, the described method can be used for data correlation between all types of processing machines on a production line. This applies to any machine that works with location-specific information or provides location-specific information as part of its measurement.

본 발명의 또 다른 예시적인 실시예에 따르면, 제2 기계는 검사 공정에 의해 제품-특징 구조를 검출하는 제1 검사 기계이다. 제1 검사 기계 또는 보다 정확하게는 제1 검사 기계에 포함되거나 제1 검사 기계의 하류에 연결된 데이터 처리 장치는 검출된 실제 제품-특징 구조를 대응하는 미리 결정된 목표 제품-특징 구조와 비교할 수 있고, 그로부터 제조 및 검출된 제품-특징 구조에 대한 품질 값을 결정한다. 이 품질 값은 처리 기계의 공정 파라미터 및/또는 제1 검사 기계 또는 추가 검사 기계의 적어도 하나의 임계값을 적절하게 적응시키는 데 사용될 수 있다.According to another exemplary embodiment of the present invention, the second machine is a first inspection machine that detects a product-feature structure by an inspection process. The first inspection machine, or more precisely, a data processing device included in the first inspection machine or connected downstream of the first inspection machine, can compare the detected actual product-feature structure with a corresponding predetermined target product-feature structure, from Determine quality values for manufactured and detected product-feature structures. This quality value can be used to suitably adapt a process parameter of the processing machine and/or at least one threshold value of the first or further inspection machine.

제1 검사 기계는 바람직하게는 단일 제품-특징 구조뿐만 아니라 복수의 제품-특징 구조를 검출한다. 그 다음, 상기 데이터 처리 장치는 검출된 실제 제품-특징 구조 중 하나 초과 또는 적어도 일부를 대응하는 미리 결정된 목표 제품-특징 구조와 비교하고 그로부터 생산 및 검출된 제품-특징 구조에 대한 복수의 품질 값 및/또는 상위 수준 품질 값을 결정할 수 있다. The first inspection machine preferably detects a single product-feature structure as well as a plurality of product-feature structures. The data processing device is then configured to compare more than one or at least a portion of the detected actual product-feature structure to a corresponding predetermined target product-feature structure, and a plurality of quality values for the product-feature structure produced and detected therefrom; /or determine a higher-level quality value.

이 문서에서, "품질 값"이라는 용어는 제조된 전자 조립체의 품질을 결정하거나 적어도 결정하는 데 도움이 되는 임의의 파라미터 또는 파라미터 값을 의미하는 것으로 이해될 수 있다. 이러한 파라미터는 예컨대 개별 솔더 페이스트 적용의 위치 및 수량(체적), 정확한 플레이스먼트 위치, "콜드 솔더 조인트(cold solder joint)"를 나타낼 수 있는 솔더링 후 솔더의 시각적 형상을 포함한다. 이 목록은 결코 완전한 것이 아니며 플레이스먼트 기술 분야의 숙련된 사람이 거의 임의로 보완할 수 있다.In this document, the term “quality value” may be understood to mean any parameter or parameter value that determines or at least helps to determine the quality of a manufactured electronic assembly. These parameters include, for example, the location and quantity (volume) of individual solder paste applications, the exact placement location, and the visual shape of the solder after soldering, which may indicate a “cold solder joint”. This list is by no means exhaustive and can be almost arbitrarily supplemented by someone skilled in the field of placement technology.

아래에서 상세히 설명되는 바와 같이, 상술한 파라미터는 놓여지거나 솔더링된 부품의 위치 및 높이일 수 있으며, 이는 물론 각각의 솔더링 연결에 사용되는 솔더링 페이스트의 양과도 관련이 있다. 이러한 맥락에서, 이러한 파라미터는 생산된 전자 조립체의 품질과 관련이 있음이 분명하다. 그렇지 않으면 관련 검사 기계에서 이러한 파라미터를 검출하지 않아도 된다.As detailed below, the parameters described above may be the location and height of the placed or soldered component, which of course also relates to the amount of soldering paste used for each soldering connection. In this context, it is clear that these parameters are related to the quality of the electronic assembly produced. Otherwise, it is not necessary to detect these parameters in the relevant inspection machine.

설명된 제1 검사 기계는 1차원, 바람직하게는 2차원, 보다 바람직하게는 3차원에서 제품-특징 구조를 검출하는 광학 검사 기계일 수 있다. 이는 검사를 신속하고 높은 정확도로 수행할 수 있다는 장점을 가진다.The first inspection machine described may be an optical inspection machine for detecting product-feature structures in one dimension, preferably in two dimensions, more preferably in three dimensions. This has the advantage that the inspection can be performed quickly and with high accuracy.

본 발명의 다른 예시적인 실시예에 따르면, 제1 검사 기계는 (i) 도포된 솔더 페이스트를 검출하기 위한 솔더 페이스트 검사 기계; (ii) 놓여진 부품을 검출하기 위한 플레이스먼트 검사 기계; 및 (iii) 솔더링 부품을 검출하기 위한 솔더링 검사 기계로 이루어진 그룹으로부터 선택된 기계이다. According to another exemplary embodiment of the present invention, the first inspection machine comprises (i) a solder paste inspection machine for detecting applied solder paste; (ii) a placement inspection machine for detecting placed parts; and (iii) a soldering inspection machine for detecting soldered parts.

솔더 페이스트의 검출은 예컨대, 솔더 페이스트 적용의 위치, 체적 및/또는 형태의 검출을 포함할 수 있다. 이러한 모든 관찰 가능 항목은 아직 놓여져야 하는 부품의 접촉 품질에 자연스럽게 (강한) 영향을 미친다.Detection of solder paste may include, for example, detection of the location, volume and/or shape of the solder paste application. All these observables have a natural (strong) effect on the contact quality of the part that still has to be placed.

놓여진 부품의 검출에는 예컨대 부품의 유형, 인쇄 회로 기판의 평면에서의 플레이스먼트 위치 및/또는 인쇄 회로 기판의 표면 위의 부품 높이 위치가 포함될 수 있다(부품은 후속 솔더링 전에 일정 체적의 솔더 페이스트에 안착된다). 이러한 모든 관찰 가능한 항목은 후속 솔더링 공정 및 부품의 최종 전기적 접촉에 상당한 영향을 미친다는 것이 분명하다.Detection of placed components may include, for example, the type of component, its placement in the plane of the printed circuit board and/or its height position above the surface of the printed circuit board (the component is seated in a volume of solder paste prior to subsequent soldering). do). It is clear that all these observables have a significant impact on the subsequent soldering process and the final electrical contact of the component.

솔더링된 부품의 검출에는 솔더링된 부품의 유형, 인쇄 회로 기판 평면에서의 최종 위치 및/또는 인쇄 회로 기판 표면 위의 높이 위치도 포함될 수 있다(솔더링 후 부품은 일시적으로 녹은 다음 응고된 일정 체적의 솔더 페이스트 상에 안착된다). 특히, 부품 연결 접점(부품의)이 해당 부품 연결 영역(인쇄 회로 기판의)에 정확하게 솔더링되어 전기적으로 정확하게 접촉되었는지 여부를 검출할 수 있다. 이러한 모든 관찰 가능 항목이 마지막 최종 제품, 즉 생산된 전자 조립체의 품질에 상당한 영향을 미친다는 것은 분명하다. 따라서 설명된 솔더링 검사 기계에 의한 검출은 완제품(최종) 제품의 최종 품질 분석의 중요한 부분이 될 수 있다. 선택적으로 적어도 하나의 비-최종 품질 분석과 함께 최종 품질 분석은 처리 기계의 공정 파라미터 및/또는 제1 검사 기계 및 선택적으로 추가 검사 기계의 임계값을 적절한 학습 공정을 통해 최적화하는 데 사용할 수 있다. Detection of a soldered component may also include the type of component being soldered, its final position in the plane of the printed circuit board, and/or its height position above the surface of the printed circuit board (after soldering, the component is temporarily melted and then solidified with a certain volume of solder It settles on the paste). In particular, it can be detected whether the component connection contact (of the component) has been accurately soldered to the corresponding component connection area (of the printed circuit board) and is in electrical contact correctly. It is clear that all these observables have a significant impact on the quality of the final final product, namely the electronic assembly produced. Therefore, detection by the described soldering inspection machine can be an important part of the final quality analysis of the finished (final) product. Optionally, the final quality analysis in conjunction with the at least one non-final quality analysis may be used to optimize process parameters of the processing machine and/or threshold values of the first and optionally further inspection machines through an appropriate learning process.

제1 기계가 (제1) 처리 기계이고 제2 기계가 (제1) 검사 기계인 실시예에서, 측정 데이터 및 공정 데이터는 유리하게는 설명된 방법에 의해 병합될 수 있다는 점에 유의해야 한다. 이것은 특히 측정 데이터의 도움으로 공정 데이터를 최적화하기 위한 목적으로 수행될 수 있다. 이것은 유리하게는 자동화된 생산의 특히 정확한 분석을 가능하게 할 수 있다.It should be noted that in an embodiment in which the first machine is a (first) processing machine and the second machine is a (first) inspection machine, the measurement data and the process data can advantageously be merged by the described method. This can be done in particular for the purpose of optimizing process data with the aid of measurement data. This may advantageously enable particularly accurate analysis of automated production.

설명된 검사 기계 선택에는 전자 부품 생산 라인의 모든 일반적인 검사 기계가 포함된다는 장점이 있다. 원칙적으로, 설명된 방법은 따라서 생산 라인의 모든 유형의 검사 기계들 사이의 데이터 상관에 사용될 수 있으며 선택적으로 전자 조립체용 생산 라인의 모든 처리 기계들과 모든 검사 기계들 사이의 데이터 상관에도 사용될 수 있다.The described selection of inspection machines has the advantage that all common inspection machines of the electronic component production line are included. In principle, the described method can thus be used for data correlation between all types of inspection machines of a production line and optionally also for data correlation between all processing machines and all inspection machines of a production line for electronic assemblies. .

본 발명의 다른 예시적인 실시예에 따르면, 상기 방법은 (a) 제3 기계로부터 제3 데이터 세트를 제공하는 단계로서, 상기 제3 데이터 세트는 (al) 상기 제3 기계와 연관되고, (a2) 상기 제3 기계의 동작을 제어하고, 그리고 (a3) 상기 제3 데이터 세트는: According to another exemplary embodiment of the present invention, the method comprises the steps of (a) providing a third data set from a third machine, the third data set (al) associated with the third machine, (a2 ) control the operation of the third machine, and (a3) the third data set comprises:

상기 인쇄 회로 기판 상의 복수의 위치들에서 상기 인쇄 회로 기판의 제품-특징 구조의 특징 목표 특성들에 대한 제3 위치 정보 및 제3 특징 정보를 포함하는, 상기 제3 데이터 세트를 제공하는 단계를 추가로 포함하고, providing the third data set comprising third positional information and third characteristic information for characteristic target characteristics of a product-feature structure of the printed circuit board at a plurality of positions on the printed circuit board including as

상기 기하학적 중첩 단계는The geometric overlapping step is

상기 제3 위치 정보를 상기 제1 위치 정보 및/또는 상기 제2 위치 정보와 기하학적으로 중첩하는 것을 추가로 포함하고; 및further comprising geometrically overlapping the third location information with the first location information and/or the second location information; and

상기 재배치 단계는The relocation step

3개의 상관된 위치 정보 단편들의 각각 사이의 3개의 거리들의 합, 즉the sum of the three distances between each of the three correlated location information fragments, i.e.

상기 인쇄 회로 기판 상의 하나의 동일한 지점의, of one and the same point on the printed circuit board,

(i) 상기 제1 위치 정보와 상기 연관된 제2 위치 정보 사이의 제1 거리,(i) a first distance between the first location information and the associated second location information;

(ii) 상기 제1 위치 정보 및 상기 제2 위치 정보와 연관된 상기 제3 위치 정보와 상기 연관된 제2 위치 정보 사이의 제2 거리, 및(ii) a second distance between the third location information associated with the first location information and the second location information and the associated second location information, and

(iii) 상기 제3 위치 정보와 상기 제1 위치 정보 사이의 제3 거리의 합이 감소되도록 (iii) a sum of a third distance between the third location information and the first location information is reduced;

상기 제3 위치 정보의 재배치를 추가로 포함한다. It further includes rearrangement of the third location information.

3개의 (특정 기계의) 데이터 세트 사이의 설명된 상관은 전자 조립체의 생산 공정이 2개뿐만 아니라 3개의 상이한 기계(처리 기계 및/또는 검사 기계)에서 공동으로 분석되고 분석 결과가 처리 기계의 공정 파라미터 및/또는 제1 검사 기계 및 선택적으로 추가 검사 기계의 임계값의 개선된 적응을 위해 사용되는 장점을 가진다.The described correlation between the three (specific machine's) data sets indicates that the production process of the electronic assembly is jointly analyzed on two as well as three different machines (processing machine and/or inspection machine) and the results of the analysis are determined by the process of the processing machine. It has the advantage that it is used for improved adaptation of parameters and/or threshold values of the first and optionally further inspection machines.

특정 적용에 따라, 제3 기계는 처리 기계 또는 검사 기계일 수 있으며, 원칙적으로 위에서 설명된 모든 유형의 처리 기계가 가능하다. 처리 기계의 경우, 제3 기계는 생산 라인에 두 개의 솔더 페이스트 인쇄 기계와 두 개의 솔더링 기계가 없도록 한 유형의 기계여야 한다. 그러나 생산 라인에는 두 개 이상의 플레이스먼트 기계가 포함될 수 있다. 검사 기계의 경우, 검사 기계의 유형도 같다.Depending on the particular application, the third machine can be a processing machine or an inspection machine, in principle all types of processing machines described above are possible. For the processing machine, the third machine should be one type of machine so that the production line does not have two solder paste printing machines and two soldering machines. However, a production line may contain more than one placement machine. For inspection machines, the type of inspection machine is the same.

본 발명의 또 다른 예시적인 실시예에 따르면, 제3 기계는 처리 공정에 의해 인쇄 회로 기판 및 제품-특징 구조를 포함하는 제품에 추가적인 물리적 변화를 만드는 제2 처리 기계이다.According to another exemplary embodiment of the present invention, the third machine is a second processing machine that makes additional physical changes to the product including the printed circuit board and the product-feature structure by the processing process.

추가적인 물리적 변화는 또한 제품-특징 구조를 추가하고/하거나 제품-특징 구조의 특성을 변화시키는 것을 포함할 수 있다. 이미 위에서 설명한 바와 같이, 제품-특징 구조는 예컨대 플레이스먼트 기계에 의해 인쇄 회로 기판에 배치되거나 배치된 전자 부품일 수 있다. 제품-특징 구조는 솔더링 전 상태 또는 솔더링 후 상태와 관련될 수 있다.Additional physical changes may also include adding product-feature structures and/or changing properties of product-feature structures. As already described above, the product-feature structure may be an electronic component placed or placed on a printed circuit board, for example by means of a placement machine. The product-feature structure may relate to a pre-soldered state or a post-soldered state.

제1 검사 기계로서 구현된 상술한 제2 기계는 생산 라인의 이송 방향과 관련하여 2개의 처리 기계들 사이에 배열될 수 있다는 점에 유의해야 한다. 이 경우, 제1 검사 기계는 제1 처리 기계에 의한 처리를 검출하지만, 제2 처리 기계에 의한 처리는 검출하지 않는다.It should be noted that the above-described second machine embodied as the first inspection machine may be arranged between the two processing machines in relation to the conveying direction of the production line. In this case, the first inspection machine detects the processing by the first processing machine, but not the processing by the second processing machine.

제1 검사 기계는 바람직하게는 두 처리 기계의 하류에 배열된다. 이는 두 처리 기계의 "작업"을 공동으로 검사할 수 있음을 의미한다.The first inspection machine is preferably arranged downstream of the two processing machines. This means that the "work" of both processing machines can be inspected jointly.

더욱 바람직하게는, 제1 검사 기계의 하류에 추가 처리 기계가 배열되지 않는다. 이것은 제1 검사 기계가 생산 라인의 최종 제품을 검사한다는 것을 의미한다. 최종 제품의 검사와 두 개의 처리 기계에 대한 검사 결과의 적절한 피드백은 처리 기계(들)의 공정 파라미터가 제조된 전자 조립체의 최종 원하는 제품 특징과 관련하여 적응되거나 최적화될 수 있다는 장점을 가진다. More preferably, no further processing machines are arranged downstream of the first inspection machine. This means that the first inspection machine inspects the final product on the production line. Inspection of the final product and proper feedback of the inspection results to the two processing machines have the advantage that the processing parameters of the processing machine(s) can be adapted or optimized with respect to the final desired product characteristics of the manufactured electronic assembly.

본 발명의 또 다른 예시적인 실시예에 따르면, 상기 방법은 (a) 제4 기계로부터 제4 데이터 세트를 제공하는 단계로서, (a1) 상기 제4 데이터 세트는 상기 제4 기계와 연관되고, (a2) 상기 제4 기계의 동작을 제어하고, 그리고 (a3) 상기 제4 데이터 세트는: According to another exemplary embodiment of the present invention, the method comprises the steps of (a) providing a fourth data set from a fourth machine, wherein (a1) the fourth data set is associated with the fourth machine, ( a2) control the operation of the fourth machine, and (a3) the fourth data set comprises:

상기 인쇄 회로 기판 상의 복수의 위치들에서 상기 인쇄 회로 기판의 제품-특징 구조의 특징 목표 특성들에 대한 제4 위치 정보 및 제4 특징 정보를 포함하는, 상기 제4 데이터 세트를 제공하는 단계를 추가로 포함한다. providing the fourth data set comprising fourth positional information and fourth characteristic information for characteristic target characteristics of a product-feature structure of the printed circuit board at a plurality of positions on the printed circuit board include as

또한, 상기 기하학적 중첩 단계는 상기 제4 위치 정보를 상기 제1 위치 정보, 상기 제2 위치 정보, 및/또는 상기 제3 위치 정보와 기하학적으로 중첩하는 것을 추가로 포함한다. 또한, 상기 재배치 단계는 4개의 상관된 위치 정보 단편들의 각각 사이의 6개의 거리들의 합, 즉 상기 인쇄 회로 기판 상의 하나의 동일한 지점의, (i) 상기 제1 거리, (ii) 상기 제2 거리, (iii) 상기 제3 거리, (iv) 상기 제4 위치 정보와 상기 제3 위치 정보 사이의 제4 거리, (v) 상기 제4 위치 정보와 상기 제2 위치 정보 사이의 제5 거리, 및 (vi) 상기 제4 위치 정보와 상기 제1 위치 정보 사이의 제6 거리의 합이 감소되도록 상기 제4 위치 정보의 재배치를 추가로 포함한다. Also, the geometrically overlapping step further includes geometrically overlapping the fourth location information with the first location information, the second location information, and/or the third location information. Further, the relocating step may be the sum of six distances between each of the four correlated pieces of location information, i.e., (i) the first distance, (ii) the second distance, of one and the same point on the printed circuit board. , (iii) the third distance, (iv) a fourth distance between the fourth location information and the third location information, (v) a fifth distance between the fourth location information and the second location information, and and (vi) rearranging the fourth location information so that a sum of a sixth distance between the fourth location information and the first location information is reduced.

전자 조립체를 위한 생산 라인의 기계와 각각 연관된 4개 이상의 데이터 세트는 설명된 방법을 사용하여 서로 연관될 수도 있다는 것을 유의해야 한다. 이는 조립체 생산 공정의 최적화를 위해 더 큰 데이터베이스를 생성한다.It should be noted that four or more data sets each associated with a machine on a production line for electronic assembly may be correlated using the described method. This creates a larger database for optimization of the assembly production process.

특정 적용에 따라 제4 기계는 처리 기계 또는 검사 기계가 될 수 있다. 기계의 유형에 관해서는, 상이한 기계에 대해 위에서 설명한 제3 기계와 마찬가지로 제4 기계에도 동일하게 적용된다.Depending on the particular application, the fourth machine may be a processing machine or an inspection machine. As for the type of machine, the same applies to the fourth machine as to the third machine described above for a different machine.

본 발명의 다른 예시적인 실시예에 따르면, 제1 기계는 제1 처리 기계이고; 제2 기계는 생산 라인을 따라 제1 검사 지점에서 제품-특징 구조를 검출하는 제1 검사 기계이고; 제3 기계는 생산 라인의 이송 방향에 대해 제1 처리 기계의 하류에 배열된 제2 처리 기계이고; 제4 기계는 생산 라인을 따라 제2 검사 지점에서 제품-특징 구조를 검출하는 제2 검사 기계이다.According to another exemplary embodiment of the present invention, the first machine is a first processing machine; the second machine is a first inspection machine that detects a product-feature structure at a first inspection point along the production line; the third machine is a second processing machine arranged downstream of the first processing machine with respect to the conveying direction of the production line; The fourth machine is a second inspection machine that detects the product-feature structure at a second inspection point along the production line.

생산 라인의 이송 방향과 관련하여, 제2 검사는 바람직하게는 제1 검사 지점의 상류이며, 더욱 바람직하게는 (a) 제1 처리 기계에 의한 제1 처리 위치와 (b) 제2 처리 기계에 의한 제2 처리 위치 사이이다. With respect to the conveying direction of the production line, the second inspection is preferably upstream of the first inspection point, more preferably at (a) the first processing position by the first processing machine and (b) at the second processing machine. by the second processing position.

이 예시적인 실시예에 따른 생산 라인의 바람직한 구성은 4개의 상이한 기계가 생산 라인의 이송 방향을 따라 다음 순서로 배열되는 기계 유형의 배열 및 분포를 특징으로 한다:A preferred configuration of the production line according to this exemplary embodiment is characterized by the arrangement and distribution of machine types in which four different machines are arranged in the following order along the conveying direction of the production line:

위치 1: 제1 기계 또는 제1 처리 기계는 솔더 페이스트 인쇄 기계이다;Position 1: The first machine or the first processing machine is a solder paste printing machine;

위치 2: 제4 기계 또는 제2 검사 기계는 솔더 페이스트 검사 기계이다;Position 2: The fourth machine or the second inspection machine is a solder paste inspection machine;

위치 3: 제3 기계 또는 제2 처리 기계는 플레이스먼트 기계이다; 및Position 3: the third machine or the second processing machine is a placement machine; and

위치 4: 제2 기계 또는 제1 검사 기계는 플레이스먼트 검사 기계 또는 솔더링 검사 기계이다.Position 4: The second machine or first inspection machine is a placement inspection machine or a soldering inspection machine.

제2 기계 또는 제1 검사 기계가 솔더링 검사 기계인 경우, 제3 처리 기계, 즉 솔더링 기계는 제5 기계로서 상류에 위치한다. 또한, 이 경우, 조립 결과를 직접 검사하는 제3 검사 기계로 구현된 플레이스먼트 검사 기계는 선택적으로 플레이스먼트 기계로 구현된 제2 처리 기계와 솔더링 기계 사이에 위치될 수 있다.When the second machine or the first inspection machine is a soldering inspection machine, the third processing machine, ie the soldering machine, is located upstream as the fifth machine. Also, in this case, the placement inspection machine embodied as a third inspection machine that directly inspects the assembly result may be optionally located between the second processing machine embodied as the placement machine and the soldering machine.

총 6개의 기계가 있는 위에서 설명한 실시예에서, 다양한 유형의 기계는 바람직하게는 다음 순서로 배열된다:In the embodiment described above with a total of six machines, the various types of machines are preferably arranged in the following order:

위치 1: 제1 기계 또는 제1 처리 기계는 솔더 페이스트 인쇄 기계이다;Position 1: The first machine or the first processing machine is a solder paste printing machine;

위치 2: 제4 기계 또는 제2 검사 기계는 솔더 페이스트 검사 기계이다;Position 2: The fourth machine or the second inspection machine is a solder paste inspection machine;

위치 3: 제3 기계 또는 제2 처리 기계는 플레이스먼트 기계이다;Position 3: the third machine or the second processing machine is a placement machine;

위치 4: 제6 기계 또는 제3 검사 기계는 플레이스먼트 검사 기계이다;Position 4: The sixth machine or the third inspection machine is a placement inspection machine;

위치 5: 제5 기계 또는 제3 처리 기계는 솔더링 기계이다; 및Position 5: the fifth machine or the third processing machine is a soldering machine; and

위치 6: 제2 기계 또는 제1 검사 기계는 솔더링 검사 기계이다.Position 6: The second machine or the first inspection machine is a soldering inspection machine.

많은 실시예에서, 플레이스먼트 기계는 2개 이상의 플레이스먼트 장치로 구성된 시스템이다. 플레이스먼트 장치는 각각 하나 이상의 플레이스먼트 헤드를 가질 수 있으며, 이는 포털 시스템을 통해 알려진 방식으로 이동할 수 있으며 플레이스먼트 작업에서 부품 공급 장치에서 부품을 픽업하여 현재 플레이스먼트 장치의 플레이스먼트 영역에 위치되는 인쇄 회로 기판에 놓는다.In many embodiments, the placement machine is a system comprised of two or more placement devices. The placement devices may each have one or more placement heads, which can be moved in a known manner through a portal system and a printing job that picks up a part from a part feeder and is currently positioned in the placement area of the placement device. placed on the circuit board.

본 발명의 다른 양태에 따르면, 생산 라인에서 자동화된 생산에 의해 전자 조립체의 생산을 위한 공정에 대한 공정 파라미터들을 적응시키기 위한 방법이 설명된다. 이 방법은 위에 설명된 방법을 수행하는 단계로서, (al) 제1 기계는 제1 처리 기계이고, 제1 데이터 세트는 제1 공정 데이터 세트를 포함하고, (a2) 제2 기계는 제1 검사 기계이고 제2 데이터 세트는 제1 검사 데이터 세트를 포함하고, (a3) 제3 기계는 제2 처리 기계이고, 제3 데이터 세트는 제2 공정 데이터 세트를 포함하는, 적어도 3개의 기계들로 수행되는 상기 수행 단계를 포함한다. 이 공정 파라미터 적응 방법은 (b) 상기 제1 검사 기계에 의해, 인쇄 회로 기판의 제1 (공간) 영역과 연관된 인쇄 회로 기판의 제1 영역에서 상기 제품-특징 구조의 실제 특성과 목표 특성 사이의 제1 편차를 결정하는 단계; (c) (i) 각각의 경우에, 상기 제1 공정 데이터 세트, 상기 제2 공정 데이터 세트의 (제1 부분), 및 상기 제1 검사 데이터 세트의 적어도 제1 부분으로서, 상기 제1 부분은 상기 인쇄 회로 기판의 제1 영역과 연관되는, 상기 적어도 제1 부분에 기초하고 그리고 (ii) 재배치된 제1 위치 정보 및/또는 재배치된 제2 위치 정보 및/또는 재배치된 제3 위치 정보에 추가로 기초하여 제1 조합 데이터 세트를 생성하는 단계를 추가로 포함한다. 상기 공정 파라미터 적응 방법은 (d) 상기 생성된 제1 조합 데이터 세트 및 상기 결정된 제1 편차에 기초하여 상기 제1 처리 기계의 제1 공정 파라미터들 및/또는 상기 제2 처리 기계의 제2 공정 파라미터들을 적응시키는 단계를 추가로 포함한다. According to another aspect of the present invention, a method for adapting process parameters for a process for the production of an electronic assembly by automated production on a production line is described. The method comprises the steps of performing the method described above, wherein (al) a first machine is a first processing machine, the first data set includes a first process data set, and (a2) the second machine is a first inspection machine and the second data set comprising the first inspection data set, (a3) the third machine is a second processing machine, and the third data set comprises a second process data set. It includes the performing step of being. This process parameter adaptation method comprises (b), by the first inspection machine, between an actual property and a target property of the product-feature structure in a first area of a printed circuit board associated with a first (spatial) area of the printed circuit board. determining a first deviation; (c) (i) in each case, at least a first portion of the first process data set, the second process data set (a first part), and the first inspection data set, the first part comprising: based on the at least first portion, associated with the first region of the printed circuit board, and (ii) in addition to the relocated first location information and/or the relocated second location information and/or the relocated third location information The method further includes generating a first combined data set based on . The process parameter adaptation method comprises (d) first process parameters of the first processing machine and/or second process parameters of the second processing machine based on the generated first combined data set and the determined first deviation. further comprising the step of adapting them.

공정 파라미터들을 적응시키기 위해 설명된 방법은 제품-특징 구조(들)의 원하는 목표 특성에서 사실 실제 특성의 원치 않는 (제1) 편차에 대한 원인과 관련된 여러 가능한 상이한 처리 기계의 공동 고려에 의한 지식에 기초하여, 특히 공정 파라미터를 잘 조정할 수 있다. 이러한 적응은 단일 처리 기계의 공정 데이터 세트만 고려하는 기존 적응에 비해 훨씬 더 나은 결과 또는 개선된 생산으로 이어지기 때문이다. 이러한 바람직하지 않은 편차의 원인은 생산에 관련된 처리 기계의 차선으로 설정된 공정 파라미터이다.The described method for adapting the process parameters is based on the knowledge by joint consideration of several possible different processing machines relating to the causes for the undesired (first) deviations of the in fact actual properties from the desired target properties of the product-feature structure(s). On this basis, the process parameters can be particularly well adjusted. This is because these adaptations lead to significantly better results or improved production compared to traditional adaptations that only consider process data sets from a single processing machine. The cause of these undesirable deviations is the process parameters set to the suboptimal of the processing machines involved in production.

조합 데이터 세트의 도움으로 이러한 공동 고려를 수행할 수 있기 위해, 인쇄 회로 기판의 관련 제1 영역과 관련된 데이터 또는 정보를 사용하여 조합 데이터 세트를 생성하는 것이 필수적이다. 상이한 기계(처리 기계 및/또는 검사 기계)로부터의 데이터 세트는 일반적으로 상이한 (형식) 설명과 상이한 좌표계를 기반으로 하기 때문에, 먼저 위에서 설명한 다양한 데이터 세트의 위치적으로 정확한 상관을 수행하는 것이 필요하다. 이것은 다양한 데이터 세트에 포함된 정보 세트가 인쇄 회로 기판의 각 위치 또는 각 영역과 관련하여 위치적으로 정확하게 서로 상관되도록 하는 유일한 방법이다. 따라서 설명된 상관은 위치적으로 정확한 정보 조합으로 이해될 수도 있다.In order to be able to carry out this joint consideration with the aid of the combinatorial data set, it is essential to generate the combinatorial data set using data or information relating to the first relevant region of the printed circuit board. Since data sets from different machines (processing machines and/or inspection machines) are usually based on different (formal) descriptions and different coordinate systems, it is necessary to first perform a positionally accurate correlation of the various data sets described above. . This is the only way to ensure that the sets of information contained in the various data sets are positionally accurately correlated with respect to each location or each region of the printed circuit board. Accordingly, the described correlation may be understood as a positionally correct information combination.

예시하기 위해, 설명된 공정 파라미터의 적응으로, 상이한 데이터 세트를 상관시키기 위한 상술한 방법은 상이한 기계 특정 데이터 세트(공정 데이터 세트 및/또는 검사 데이터 세트)의 정확한 위치 변환을 보장한다. 이 "변환" 동안, 다양한 데이터 세트의 "언어" 및/또는 "데이터 형식"은 다양한 데이터 세트에 포함된 정보의 위치적으로 정확한 상관이 가능하도록 변환된다.To illustrate, with the adaptation of the described process parameters, the above-described method for correlating different data sets ensures accurate positional transformation of different machine-specific data sets (process data sets and/or inspection data sets). During this "transformation", the "language" and/or "data format" of the various data sets is transformed to enable positionally accurate correlation of the information contained in the various data sets.

여기에 설명된 조합 데이터 세트는 인쇄 회로 기판의 각각의 상이한 영역과 관련하여 출력 데이터 세트의 정보가 위치적으로 정확한 조합을 나타낸다. 설명하자면, 이는 두 공정 데이터 세트와 검사 데이터 세트에 포함된 정보가 실제 인쇄 회로 기판에 대해 위치적으로 정확하게 병합됨을 의미한다.The combined data sets described herein represent a positionally correct combination of information in the output data sets with respect to each different region of the printed circuit board. To put it bluntly, this means that the information contained in the two process data sets and the inspection data set is positionally accurately merged with respect to the actual printed circuit board.

위에서 설명한 재배치 및 데이터 세트의 조합 데이터 세트로의 흐름은 다음과 같이 서로 관련된다: 인쇄 회로 기판의 제품-특징 구조의 특징 목표 특성들 사이에 관한 특징 정보를 위치적으로 정확하게 병합하기 위해, 정보가 위치적으로 정확하게 병합될 수 있도록, 관련 데이터 세트의 상이한 좌표계를 먼저 변환하는 것이 필요하다. 이미 위에서 언급한 바와 같이, 회전 및/또는 왜곡을 포함할 수 있는 재배치는 이러한 변환을 나타낸다. 이것은 지정된 거리의 전체가 감소되거나 최소화되도록 수행된다.The relocation and combination of data sets described above flow into the data set are interrelated as follows: In order to positionally accurately merge the characteristic information regarding the characteristic target characteristics of the product-feature structure of the printed circuit board, the information is It is necessary to first transform the different coordinate systems of the relevant data sets so that they can be merged positionally accurately. As already mentioned above, repositioning, which may include rotation and/or distortion, represents such a transformation. This is done so that the total of the specified distance is reduced or minimized.

본 발명의 다른 실시예에 따르면, 인쇄 회로 기판의 제1(공간) 영역은 제품-특징 구조의 실제 특성과 목표 특성 사이의 제1 편차가 인쇄 회로 기판의 표면 상의 제2 위치와 관련된 인쇄 회로 기판의 제2(공간) 영역에서 제품-특징 구조의 실제 특성과 목표 특성 사이의 제2 편차보다 큰 인쇄 회로 기판의 영역이다. 여기서, 제2 위치 또는 제2 영역은 제1 위치 또는 제1 영역과 상이하다.According to another embodiment of the present invention, a first (spatial) region of the printed circuit board is such that a first deviation between an actual property and a target property of the product-feature structure is related to a second location on the surface of the printed circuit board. An area of the printed circuit board that is greater than a second deviation between the target property and the actual property of the product-feature structure in a second (spatial) area of . Here, the second location or second area is different from the first location or first area.

예시하기 위해, 제1 영역은 제조될 조립체의 품질과 관련하여 제2 영역보다 더 문제가 많거나 중요하다. 이것은, 예컨대, 제1 영역에 더 작은 인쇄 회로 기판 구조, 특히 또한 서로 덜 이격되어 있는 더 작은 부품 연결 영역 또는 더 작은 패드가 있다는 사실에 기인할 수 있다. 이러한 맥락에서, 이러한 "미세한" 구조는 더 큰 구조(제2 영역에서)보다 정확하게 처리하기가 훨씬 더 어렵다는 것이 분명하다. 특히 문제가 있거나 중요한 영역에 중점을 두어 공정 파라미터를 최적화하는 것은 이러한 영역이 솔더링 후 수리할 수 없는 인쇄 회로 기판의 영역인 경우 특히 유리할 수 있다.To illustrate, the first region is more problematic or critical than the second region with respect to the quality of the assembly to be manufactured. This may be due, for example, to the fact that in the first area there is a smaller printed circuit board structure, in particular also smaller component connection areas or smaller pads which are less spaced apart from each other. In this context, it is clear that these "fine" structures are much more difficult to process accurately than larger structures (in the second region). Optimizing process parameters by focusing on particularly problematic or critical areas can be particularly advantageous if those areas are areas of the printed circuit board that cannot be repaired after soldering.

이러한 중요 영역에 대한 배타적 또는 우선적 고려의 추가 이점은 공정 파라미터의 적응을 위해 가장 최적의 공정 파라미터 적응에 거의 또는 전혀 영향을 미치지 않는 데이터를 불필요하게 처리할 필요가 없다는 사실에서 볼 수 있다. 결과적으로, 설명된 방법의 구현은 요구되는 컴퓨팅 파워와 관련하여 덜 까다로워진다. 또한, 이 방법은 사용 가능한 특정 컴퓨팅 성능으로 훨씬 더 빠르게 수행할 수 있다.A further advantage of the exclusive or preferential consideration of these critical areas can be seen in the fact that adaptation of process parameters does not require unnecessary processing of data that has little or no effect on the most optimal process parameter adaptation. As a result, the implementation of the described method becomes less demanding with respect to the required computing power. Also, this method can perform much faster with the specific computing power available.

인쇄 회로 기판의 상이한 영역의 선택은 작업자의 선험적 지식 및/또는 경험을 기반으로 할 수 있다. 더욱이, 선택은 또한 즉 인쇄 회로 기판의 다른 위치 또는 영역에 대해 편차 정도가 결정되는 인쇄 회로 기판의 전체 영역의 적어도 거의 완전한 검사(거의 수행되지 않음)를 기반으로 할 수도 있다. The selection of different regions of the printed circuit board may be based on the a priori knowledge and/or experience of the operator. Moreover, the selection may also be based on at least a nearly complete inspection (rarely performed) of the entire area of the printed circuit board, i.e. the degree of deviation relative to other locations or areas of the printed circuit board is determined.

본 발명의 또 다른 예시적인 실시예에 따르면, 상기 방법은 (a) 상기 제1 검사 기계에 의해, 상기 인쇄 회로 기판의 제2(공간) 영역에서 상기 제품-특징 구조의 실제 특성과 목표 특성 사이의 제2 편차를 결정하는 단계; (b) (bl) 각각의 경우에, 제1 공정 데이터 세트의 적어도 제2 부분, 제2 공정 데이터 세트의 제2 부분, 및 제1 검사 데이터 세트의 제2 부분으로서, 상기 제2 부분은 상기 인쇄 회로 기판의 제2 영역과 연관되는, 상기 적어도 제2 부분에 기초하고 그리고 (b2) 재배치된 제1 위치 정보 및/또는 재배치된 제2 위치 정보 및/또는 재배치된 제3 위치 정보에 추가로 기초하여 제2 조합 데이터 세트를 생성하는 단계; 및 (c) 상기 생성된 제2 조합 데이터 세트 및 상기 결정된 제2 편차에 추가로 기초하여 상기 제1 처리 기계의 제1 공정 파라미터들 및/또는 상기 제2 처리 기계의 제2 공정 파라미터들을 적응시키는 단계를 추가로 포함한다. 제2 영역의 편차(들)를 고려하면, 마무리된 최종 제품의 가능한 최상의 품질과 관련하여 공정 파라미터를 훨씬 더 정확하게 적응시킬 수 있다.According to another exemplary embodiment of the present invention, the method comprises (a) between an actual characteristic and a target characteristic of the product-feature structure in a second (spatial) region of the printed circuit board, by the first inspection machine. determining a second deviation of ; (b) in each case (bl) at least a second portion of a first process data set, a second portion of a second process data set, and a second portion of a first inspection data set, wherein the second portion comprises said based on said at least second portion, associated with a second region of the printed circuit board, and in addition to (b2) relocated first location information and/or relocated second location information and/or relocated third location information generating a second combined data set based on the; and (c) adapting first process parameters of the first processing machine and/or second process parameters of the second processing machine further based on the generated second combined data set and the determined second deviation. further comprising steps. Taking into account the deviation(s) of the second area, it is possible to adapt the process parameters even more precisely in relation to the best possible quality of the finished final product.

여기에 설명된 공정 파라미터 적응은 두 개 초과의 이상의 처리 기계가 있는 생산 라인 및/또는 하나 초과의 검사 기계가 있는 생산 라인에서도 수행할 수 있다는 것을 유의해야 한다. 이를 위해서는, 단지 적당한 조합 데이터 세트를 생성하는 것이 필요하고, 여기서 물론 다양한 공정 데이터 세트와 검사 데이터 세트에 포함된 정보가 위치적으로 정확하게 병합되거나 서로 위치적으로 정확하게 조합되어야 한다는 것을 항상 보장해야 한다. It should be noted that the process parameter adaptation described herein can also be performed on a production line with more than two processing machines and/or on a production line with more than one inspection machine. To this end, it is only necessary to generate suitable combinatorial data sets, where of course it must always be ensured that the information contained in the various process data sets and inspection data sets must be either positionally precisely merged or positionally precisely combined with each other.

본 발명의 또 다른 예시적인 실시예에 따르면, 제1 처리 기계의 제1 공정 파라미터들 및/또는 제2 처리 기계의 제2 공정 파라미터들을 적응시키는 것은 적어도 하나의 학습 알고리즘에 의해 반복적으로 수행된다. 이는 예컨대 인공 지능을 통해 공정 파라미터를 개선할 수 있다는 이점이 있다. 이 목적을 위해, 설명된 방법이 특정 유형의 전자 조립체 생산의 프레임워크 내에서 각 개인에 대해 또는 적어도 많은 수의 조립체 생산에 대해 수행되는 경우 의미가 있다. 그 결과, 필요한 학습 알고리즘이 수행되는 데이터 처리 장치는 많은 양의 학습 데이터를 수신한다. 이는 최종 제품 전자 조립체의 가능한 최상의 품질과 관련하여 공정 파라미터를 특히 적절하게 적응시킬 수 있다.According to another exemplary embodiment of the present invention, the adapting of the first process parameters of the first processing machine and/or the second process parameters of the second processing machine is performed iteratively by the at least one learning algorithm. This has the advantage that process parameters can be improved, for example through artificial intelligence. For this purpose, it makes sense if the described method is carried out for each individual or at least for the production of a large number of assemblies within the framework of the production of a particular type of electronic assembly. As a result, the data processing device on which the necessary learning algorithm is performed receives a large amount of learning data. This makes it possible to adapt the process parameters particularly appropriately with regard to the best possible quality of the final product electronic assembly.

본 발명의 또 다른 양태에 따르면, 전자 조립체의 자동화 생산을 위한 생산 라인으로서, 인쇄 회로 기판 및 상기 인쇄 회로 기판에 부착되고 도체 트랙들에 의해 전기적으로 상호 연결된 복수의 전자 부품들을 갖는, 상기 생산 라인이 기술된다. 기술된 생산 라인은 (a) 인쇄 회로 기판 및 제품-특징 구조를 포함하는 제품을 처리하기 위한 제1 기계; (b) 상기 제품-특징 구조를 검사하기 위한 제2 기계; (c) 상기 제품을 처리하기 위한 제3 기계; 및 상기 제1 기계, 상기 제2 기계, 및 상기 제3 기계에 통신 가능하게 연결되고 공정 파라미터들을 적응시키기 위한 상술한 방법을 수행하도록 배열된 데이터 처리 장치를 가진다. According to another aspect of the present invention, there is provided a production line for the automated production of an electronic assembly, the production line having a printed circuit board and a plurality of electronic components attached to the printed circuit board and electrically interconnected by conductor tracks. This is described. The described production line comprises (a) a first machine for processing a product comprising a printed circuit board and a product-feature structure; (b) a second machine for inspecting the product-feature structure; (c) a third machine for processing said product; and a data processing device communicatively coupled to the first machine, the second machine, and the third machine and arranged to perform the above-described method for adapting process parameters.

본 발명의 또 다른 양태에 따르면, 생산 라인에서 자동화된 생산에 의해 전자 조립체의 생산을 위한 공정에 대한 공정 파라미터들을 적응시키기 위한 컴퓨터 프로그램이 설명된다. 컴퓨터 프로그램은 생산 라인의 데이터 처리 장치에 의해 실행될 때 공정 파라미터들을 적응시키기 위해 위에서 설명한 방법을 수행하도록 배열된다.According to another aspect of the present invention, a computer program is described for adapting process parameters to a process for the production of an electronic assembly by automated production on a production line. The computer program is arranged to perform the method described above for adapting the process parameters when executed by the data processing device of the production line.

이 문서에 따르면, 그러한 컴퓨터 프로그램의 명명은 본 발명에 따른 방법과 관련된 효과를 달성하기 위해 적절한 방식으로 시스템의 작업 방법 또는 방법을 제어하기 위해 컴퓨터 시스템을 제어하기 위한 명령을 포함하는 프로그램 요소, 컴퓨터 프로그램 제품 및/또는 컴퓨터 판독 가능 매체의 용어와 동등하다. According to this document, the name of such a computer program is a program element comprising instructions for controlling a computer system to control a method or method of operation of the system in a suitable manner to achieve the effects associated with the method according to the present invention, computer equivalent to the terms program product and/or computer readable medium.

컴퓨터 프로그램은 임의의 적절한 프로그래밍 언어로 컴퓨터 판독 가능 명령 코드로서 구현될 수 있다. 컴퓨터 프로그램은 컴퓨터 판독 가능 메모리 장치(CD-ROM, DVD, Blu-ray 디스크, 이동식 드라이브, 휘발성 또는 비휘발성 메모리, 내장 메모리/프로세서 등)에 저장할 수 있다. 명령 코드는 원하는 기능이 실행되도록 컴퓨터 또는 기타 프로그래밍 가능한 장치를 프로그래밍할 수 있다. 또한, 컴퓨터 프로그램은 사용자가 필요에 따라 다운로드할 수 있는 인터넷과 같은 네트워크에서 제공될 수 있다.The computer program may be implemented as computer readable instruction code in any suitable programming language. The computer program may be stored on a computer readable memory device (CD-ROM, DVD, Blu-ray Disc, removable drive, volatile or non-volatile memory, internal memory/processor, etc.). The instruction code may program a computer or other programmable device to perform a desired function. In addition, the computer program may be provided on a network, such as the Internet, from which users can download as needed.

본 발명은 컴퓨터 프로그램, 즉 소프트웨어에 의해서 뿐 아니라 하나 또는 복수의 특수 전자 회로에 의해, 즉 하드웨어 또는 임의의 다른 하이브리드 형태에 의해, 즉 소프트웨어 부품 및 하드웨어 부품에 의해 실현될 수 있다.The invention can be realized not only by means of a computer program, ie software, but also by one or a plurality of special electronic circuits, ie by hardware or in any other hybrid form, ie by software parts and hardware parts.

본 발명의 추가적인 이점 및 특징은 현재 바람직한 실시예에 대한 다음의 예시적인 설명으로부터 발생한다.Additional advantages and features of the present invention arise from the following illustrative description of the presently preferred embodiment.

도 1은 생산 라인의 다양한 처리 또는 검사 장치로부터의 공정 데이터와 검사 데이터를 상관시키기 위한 상위 레벨 데이터 처리 장치를 갖는 전자 조립체용 생산 라인을 도시한다.
도 2는 특히 솔더 페이스트 인쇄 기계로 구현되는 처리 기계의 공정 파라미터의 후속 최적화를 위한 공정 데이터와 검사 데이터의 상관을 도시한다.
도 3은 두 가지 다른 유형의 인쇄 회로 기판에 대한 상관 테이블로 구현된 상관 데이터 세트를 도시한다.
도 4는 블록 다이어그램을 사용하여 플레이스먼트(placement)에 대한 공정 데이터의 최적화를 도시한다.
도 5는 위치 데이터의 재배치를 도시한다.
1 depicts a production line for an electronic assembly with high level data processing devices for correlating inspection data with process data from various processing or inspection devices of the production line.
FIG. 2 shows the correlation of process data and inspection data for subsequent optimization of process parameters of a processing machine embodied in particular as a solder paste printing machine.
3 shows a correlation data set implemented as a correlation table for two different types of printed circuit boards.
Figure 4 shows the optimization of process data for a placement using a block diagram.
5 shows the rearrangement of position data.

다음의 상세한 설명에서, 다른 실시예의 대응하는 특징 또는 부품과 동일하거나 적어도 기능적으로 동일한 상이한 실시예의 특징 또는 부품에는 대응하는 동일하거나 적어도 기능적으로 동일한 특징 또는 부품의 참조 기호의 마지막 두 자리가 유사 참조 번호 또는 동일한 참조 번호가 제공된다는 점에 유의해야 한다. 불필요한 반복을 피하기 위해, 앞서 설명된 실시예에 기초하여 이미 설명된 특징 또는 부품은 이후의 지점에서 더 이상 상세하게 설명되지 않는다.In the following detailed description, to a feature or part of a different embodiment that is identical or at least functionally identical to a corresponding feature or part of another embodiment, the last two digits of the reference sign of the corresponding identical or at least functionally identical feature or part are designated by like reference numerals. Or it should be noted that the same reference numbers are provided. In order to avoid unnecessary repetition, features or components already described based on the embodiments described above will not be described in detail at hereinafter points any further.

또한, 다음의 설명된 실시예는 본 발명의 실시예의 가능한 변형의 제한된 선택만을 나타낸다는 점에 유의해야 한다. 특히, 복수의 상이한 실시예가 여기에 명시적으로 설명된 실시예와 함께 당업자에게 명백하게 개시된 것으로 볼 수 있도록 개별 실시예의 특징을 적절한 방식으로 결합하는 것이 가능하다.It should also be noted that the following described embodiments represent only a limited selection of possible variations of embodiments of the present invention. In particular, it is possible to combine the features of individual embodiments in any suitable manner so that a plurality of different embodiments will be apparent to those skilled in the art with the embodiments explicitly described herein.

도 1은 전자 조립체를 위한 생산 라인(100)을 도시한다. 생산 라인에는 인쇄 회로 기판의 이송 경로를 따라 배열된 다양한 장치가 있다. 인쇄 회로 기판 이송 경로의 이송 방향은 도 1에 "T"로 표시된 화살표로 표시된다.1 shows a production line 100 for an electronic assembly. A production line has various devices arranged along the transport path of a printed circuit board. The transport direction of the printed circuit board transport path is indicated by the arrow marked "T" in FIG. 1 .

이송 방향(T)을 따라, 알려진 방식으로 생산 라인(100)은 사전 제작되었지만 아직 인쇄 회로 기판이 공급되지 않는 입력 스테이션(102)을 갖는다. 입력 스테이션(102)의 하류에는, 레이저 빔을 사용하여 인쇄 회로 기판을 마킹하기 위한 장치(104)가 있다.Along the transport direction T, the production line 100 in a known manner has an input station 102 which has been prefabricated but is not yet fed with printed circuit boards. Downstream of the input station 102 is a device 104 for marking printed circuit boards using a laser beam.

다음으로, 제1 처리 기계로서, 공지된 스크린 인쇄 방법에 의해 인쇄 회로 기판 상의 특정 지점에 선택적으로 솔더 페이스트를 도포하는 솔더 페이스트 인쇄 기계(110)가 뒤따른다. 이러한 지점은 일반적으로 관련 인쇄 회로 기판 표면의 부품 연결 영역 또는 패드이다. 솔더 페이스트의 도포는 각 부품 연결 영역에 대해 정확한 위치와 정확한 양으로 솔더 페이스트를 도포해야 하기 때문에 실제로 간단한 공정이 아니다. 이를 위해서는, 솔더 페이스트 인쇄 기계(110)의 복수의 공정 파라미터가 정확하게 설정되어야 한다. 이러한 공정 파라미터는 예컨대 소위 인쇄 스크린의 표면을 따라 안내되고 점성 솔더 페이스트가 인쇄 스크린의 개구로 정확한 양으로 전달되도록 하는 스퀴지의 속도를 포함한다.Next, as a first processing machine, a solder paste printing machine 110 that selectively applies solder paste to specific points on a printed circuit board by a known screen printing method is followed. These points are typically component connection areas or pads on the associated printed circuit board surface. The application of solder paste is not actually a simple process, as the solder paste must be applied in the correct location and in the correct amount for each component connection area. To this end, a plurality of process parameters of the solder paste printing machine 110 must be accurately set. These process parameters include, for example, the speed of the squeegee which is guided along the surface of the so-called printing screen and causes the viscous solder paste to be delivered in the correct amount to the openings of the printing screen.

솔더 페이스트 인쇄 기계(110)의 하류에는, 솔더 페이스트 검사 기계(120)가 있으며, 이를 통해 솔더 페이스트 인쇄가 인쇄 회로 기판을 추가로 처리하는 것이 의미가 있을 만큼 충분한 품질인지를 광학적으로 검증한다. 솔더 페이스트 검사 기계(120)는 또한 SPI 기계로 지칭된다.Downstream of the solder paste printing machine 110 is a solder paste inspection machine 120, which optically verifies that the solder paste printing is of sufficient quality to make sense for further processing of the printed circuit board. Solder paste inspection machine 120 is also referred to as an SPI machine.

그러면 플레이스먼트 시스템이 이송 방향 T를 따라 이어진다. 여기에 도시된 예시적인 실시예에 따르면, 조립 시스템은 총 3개의 플레이스먼트 기계(130)를 포함하며, 각각에 의해 특정 수의 (상이한) 부품이 이전에 도포된 솔더 페이스트 저장소(solder paste depot)에 의해 한정된 부품 위치에 놓여진다. The placement system then follows along the traversing direction T. According to the exemplary embodiment shown here, the assembly system includes a total of three placement machines 130 , each with a solder paste depot onto which a certain number of (different) parts have been previously applied. is placed in the position of the part defined by

조립 시스템의 하류에는, 플레이스먼트 검사 기계(140)가 따르며, 이를 통해 3개의 플레이스먼트 기계(130)에 의해 수행된 인쇄 회로 기판의 플레이스먼트가 올바른지 여부가 검증된다. 여기에 도시된 예시적인 실시예에 따르면, 플레이스먼트 검사 기계(140)는 2차원(2D) 및 3차원(3D)에서 놓여진 부품을 광학적으로 검출한다. 플레이스먼트 검사 기계(140)는 공지된 자동 광학 검사(AOI) 기계이다.Downstream of the assembly system, a placement inspection machine 140 validates whether the placement of the printed circuit boards performed by the three placement machines 130 is correct. According to the exemplary embodiment shown herein, the placement inspection machine 140 optically detects placed parts in two dimensions (2D) and three dimensions (3D). The placement inspection machine 140 is a known automatic optical inspection (AOI) machine.

AOI 기계(140)의 하류에는, 소위 리플로우 오븐(reflow oven)으로 알려진 방식으로 구현되는 솔더링 기계(150)가 있다. 점성 솔더 페이스트는 이 리플로우 오븐(150)에서 용융되어 솔더 페이스트가 나중에 냉각된 후, 부품들이 각 부품 연결 영역과 견고하고 전기 전도성으로 접촉한다.Downstream of the AOI machine 140 is a soldering machine 150 implemented in a manner known as a so-called reflow oven. After the viscous solder paste is melted in this reflow oven 150 and the solder paste is later cooled, the components are in firm and electrically conductive contact with each component connection area.

리플로우 오븐(150)의 하류에는, 다른 인쇄 회로 기판 버퍼(152)가 따르며, 여기에는 특정 수의 솔더링된 인쇄 회로 기판이 저장되거나 버퍼링될 수 있다.Downstream of the reflow oven 150 is another printed circuit board buffer 152 in which a certain number of soldered printed circuit boards may be stored or buffered.

여기에 도시된 예시적인 실시예에 따르면, 솔더링 검사 기계(160)가 뒤따르고(하류), 이를 통해 리플로우 오븐(150)에서 수행된 솔더링 공정이 (정성적으로) 성공적인지 여부가 검증된다. 솔더링 검사 기계(160)는 또한 여기에서 알려진 AOI 기계이다.According to the exemplary embodiment shown here, a soldering inspection machine 160 is followed (downstream), through which it is verified whether the soldering process performed in the reflow oven 150 is (qualitatively) successful. Soldering inspection machine 160 is also an AOI machine known herein.

AOI 기계(160) 뒤에는 출력 스테이션(162)이 따른다. 완전히 처리된 전자 조립체는 작업자에 의해 거기에서 제거될 수 있다.The AOI machine 160 is followed by an output station 162 . The fully processed electronic assembly may be removed therefrom by an operator.

종래 기술에 알려진 생산 라인에서는, 각각의 검사 기계와 직접적으로 연관되거나 또는 각각의 검사 기계의 하류에 있는 개별 처리 기계[솔더 페이스트 인쇄 기계(110), 플레이스먼트 기계(130), 리플로우 오븐(150)]의 공정 파라미터를 검사 기계[솔더 페이스트 검사 기계(120), 플레이스먼트 검사 기계(140), 솔더링 검사 기계(160)]의 검사 데이터를 기반으로 설정하는 것이 관례이다. 제조된 전자 조립체의 최종 품질과 관련하여 서로 완전히 독립적이지 않은 공정 기술 측면에서 결합된 공정 파라미터의 최적화는 알려져 있지 않다.In production lines known in the prior art, individual processing machines (solder paste printing machine 110 , placement machine 130 , reflow oven 150 directly associated with or downstream of each inspection machine) )] is set based on the inspection data of the inspection machine (solder paste inspection machine 120, placement inspection machine 140, soldering inspection machine 160). The optimization of the combined process parameters in terms of process technologies that are not completely independent of each other with respect to the final quality of the manufactured electronic assembly is not known.

여기에 설명된 생산 라인(100)에는, 특히 다양한 검사 기계(120, 140, 160)로부터 검사 데이터를 수집하고 그것들을 공동으로 평가하는 더 높은 수준의 데이터 처리 장치(μP)가 제공된다. 또한, 처리 기계(110, 130, 150), 특히 솔더 페이스트 검사 기계(120)로부터의 현재 공정 데이터가 최종 제품, 즉 생산된 전자 조립체의 가능한 최고 품질에 관한 검사 데이터와 함께 수집 및 평가된다. 이를 위해서는, 인공 지능의 방법이나 알고리즘을 사용하는 것이 바람직하다. 이 평가는 데이터베이스(DB)에 저장할 수 있는 최적화된 공정 파라미터로 이어진다.The production line 100 described herein is provided, inter alia, with a higher level data processing unit (μP) that collects inspection data from various inspection machines 120 , 140 , 160 and jointly evaluates them. In addition, current process data from processing machines 110 , 130 , 150 , in particular solder paste inspection machine 120 , are collected and evaluated along with inspection data regarding the highest possible quality of the final product, ie the electronic assembly produced. For this, it is preferable to use an artificial intelligence method or algorithm. This evaluation leads to optimized process parameters that can be stored in a database (DB).

그러나 다양한 기계가 제공하는 데이터 세트의 공동 평가는 그렇게 간단하지 않다. 내용면에서, 다양한 데이터 세트는 각 인쇄 회로 기판의 모든(관련) 위치와 관련된다. 그러나 각 시스템은 일반적으로 이 목적을 위해 고유한 데이터 형식을 사용한다. 이러한 데이터 형식은 특히 인쇄 회로 기판의 다양한 위치 및 부품에 대한 공정별 다른 위치 설명에서 상이하다. 따라서 다양한 데이터 세트의 대응 위치 정보를 재배치하고 가능한 한 "일치"하도록 기하학적으로 중첩할 필요가 있다. 데이터 처리 장치(μP)에서 수행되고 이 문서에 설명된 본 발명의 중심 양태를 나타내는 다양한 데이터 세트를 상관시키기 위한 대응하는 방법은 아래에서 더 자세히 설명된다.However, joint evaluation of data sets provided by various machines is not so straightforward. In terms of content, the various data sets relate to every (relevant) location on each printed circuit board. However, each system typically uses its own data format for this purpose. These data formats are different, particularly in the different locations descriptions for different locations on the printed circuit board and different locations for each component on the printed circuit board. Therefore, it is necessary to rearrange the corresponding position information of the various data sets and to overlap them geometrically to "match" them as much as possible. Corresponding methods for correlating the various data sets performed in a data processing unit (μP) and representing the central aspect of the invention described in this document are described in more detail below.

이 문서에 설명된 본 발명의 핵심은 생산 라인(100)의 다양한 기계의 기능을 서로 상관시키는 것이다. 이를 이하에서 소위 "장치간 데이터 상관 기능"(IDDCF)이라고 한다. 이러한 IDDCF를 사용하면, 전체 생산 라인(100)의 공정 순서를 최적화할 수 있다. 이를 위해, 다양한 검사 기계의 측정 데이터와 다양한 처리 기계 중 적어도 하나의 공정 데이터를 수집하고 상관 데이터는 모든 기계가 비유적으로 "동일한 언어를 사용"하도록 결정된다. 상관 데이터 세트에 포함된 상관 데이터는 다양한 처리 기계에 대해 최적화된 공정 파라미터를 설정하여 전체 제조 공정(집합적으로)를 최적화하는 데 사용할 수 있다.The essence of the invention described in this document is to correlate the functions of the various machines of the production line 100 with each other. This is hereinafter referred to as the so-called "inter-device data correlation function" (IDDCF). Using such an IDDCF, the process sequence of the entire production line 100 can be optimized. To this end, measurement data of the various inspection machines and process data of at least one of the various processing machines are collected and the correlation data is determined such that all machines figuratively "speak the same language". The correlation data contained in the correlation data set can be used to optimize the entire manufacturing process (collectively) by setting optimized process parameters for various processing machines.

다시 말해서, 데이터 처리 장치(μP)는 기계들 중 적어도 일부를 연결하고 이 문서에서, "작업 레시피"라고도 하는 세부 작업 데이터를 검색한다. 이 작업 레시피에는 관련 기계가 작업을 수행하는 방법에 대한 지침이나 정보가 포함되어 있다. 명료함을 위해: 이것은 처리 기계뿐만 아니라 검사 기계에도 적용된다.In other words, the data processing unit (μP) connects at least some of the machines and retrieves detailed job data, also referred to in this document as “job recipes”. These work recipes contain instructions or information on how the machine involved will do the work. For the sake of clarity: This applies to inspection machines as well as processing machines.

솔더 페이스트 인쇄 기계(110)를 위한 작업 레시피는 예컨대(제한 없이) 관련 인쇄 회로 기판의 크기 및 형식, 솔더 페이스트를 도포할 인쇄 회로 기판 상의 위치, 위에서 언급한 스퀴지의 속도, 스퀴지의 세정 사이클 등이 공정 파라미터를 포함한다.The working recipe for the solder paste printing machine 110 may include (without limitation) the size and type of the relevant printed circuit board, the location on the printed circuit board to apply the solder paste, the speed of the squeegee mentioned above, the cleaning cycle of the squeegee, etc. Includes process parameters.

솔더 페이스트 검사 기계(120)에 대한 작업 레시피는 예컨대, 솔더 페이스트 저장소가 예상되는 위치와 이러한 저장소가 솔더 페이스트 검사 기계(120)에 대해 2D 및 3D로 어떻게 보여야 하는지에 대한 레이아웃 설명을 포함한다. 또한, 레이아웃 설명은 또한 예상되거나 원하는 솔더 페이스트의 양 및 선택적으로 허용 오차에 대한 정보를 포함할 수 있다.The working recipe for the solder paste inspection machine 120 includes, for example, a layout description of where solder paste reservoirs are expected and how these reservoirs should look in 2D and 3D with respect to the solder paste inspection machine 120 . In addition, the layout description may also include information about expected or desired amounts of solder paste and optionally tolerances.

플레이스먼트 기계(130)에 대한 작업 레시피는 예컨대 각각의 플레이스먼트 위치 뿐 아니라 물론 부품이 흡입 그리퍼에 의해 유지되는 부압에 대한 진공 값, 부품이 인쇄 회로 기판 상에 놓여지는 압력 또는 힘, 플레이스먼트 헤드의 이동 속도 등과 같은 공정 정보를 포함한다. The working recipe for the placement machine 130 may include, for example, the vacuum value for each placement position as well as the negative pressure at which the part is held by the suction gripper, the pressure or force at which the part is placed on the printed circuit board, the placement head It includes process information such as the movement speed of

AOI 기계(140 및 160) 모두에 대한 작업 레시피는 예컨대 [리플로우 오븐(150)의 상류 및 하류에서] 검사할 (선택된) 솔더 연결, 놓여지거나 솔더링된 부품의 목표 위치 및 목표 높이 등에 대한 정보를 포함한다. .The working recipes for both AOI machines 140 and 160 contain information such as (selected) solder connections to be inspected (upstream and downstream of reflow oven 150), target positions and target heights of placed or soldered parts, etc. include .

상술한 예시적인 작업 레시피는 상술한 IDDCF를 이용하여 서로 상관된다. 특히, 모든 부품의 위치 정보와 해당 전기 연결은 위치적으로 정확하게 분석된다. 즉, 인쇄 회로 기판의 제품-특징 구조의 정확한 기하학적 중첩을 통해 분석된다.The exemplary working recipes described above are correlated with each other using the IDDCF described above. In particular, the location information of all parts and their electrical connections are analyzed with location accuracy. That is, it is analyzed through the precise geometric overlap of the product-feature structure of the printed circuit board.

여기에 설명된 IDDCF를 사용하면, 소위 게이트에서 생산 공정에서 결함이 있는(중간) 제품을 제거하는 것이 결코 배제되지 않는다는 점에 유의해야 한다. 그러나 최적화된 공정 흐름의 프레임워크 내에서 잘못된 오류 메시지의 가능성을 감소시키도록 (중간) 제품을 결함으로 분류하기 위해 검사 기계의 내부 임계값을 적응시키는 것이 가능하다. 또한, 이미 위에서 설명한 바와 같이, 검사 기계의 측정 결과를 기반으로 다양한 처리 기계에 대한 공정 파라미터를 적용하여 전체 생산의 품질을 향상시킬 수 있다. 이것은 특히 내부 임계값의 적절한 적응에 의해 잘못된 오류 메시지의 수가 감소될 수 있기 때문에, 유리하게는 전체적으로 질적으로 개선된 생산 공정 및 감소된 사이클 시간을 유리하게 얻는다. It should be noted that with the IDDCF described here, the removal of defective (intermediate) products from the production process at the so-called gate is by no means excluded. However, within the framework of an optimized process flow it is possible to adapt the inspection machine's internal thresholds to classify (intermediate) products as defective so as to reduce the likelihood of false error messages. In addition, as already described above, based on the measurement results of the inspection machine, process parameters for various processing machines can be applied to improve the quality of the overall production. This advantageously results in an overall qualitatively improved production process and reduced cycle times, especially since the number of false error messages can be reduced by appropriate adaptation of the internal threshold.

생산 라인 내에서 알려진 인쇄 회로 기판 추적을 사용하고 위에서 언급한 IDDCF를 사용하면 특히 다음과 같은 상관이 나타난다:Using known printed circuit board traces within the production line and using the IDDCF mentioned above, in particular, the following correlations emerge:

(A) AOI 기계에 대한 인쇄 회로 기판 식별 번호는 플레이스먼트 기계에 대한 인쇄 회로 기판 식별 번호에 해당한다.(A) The printed circuit board identification number for the AOI machine corresponds to the printed circuit board identification number for the placement machine.

(B) AOI 기계에 의해 검출된 부품은 플레이스먼트 기계에 의해 놓여진 부품에 해당한다.(B) The parts detected by the AOI machine correspond to the parts placed by the placement machine.

(C) AOI 기계의 어떤 연결 또는 핀 식별 번호가 SPI 기계가 사용하는 부품 연결 영역 식별 번호에 해당한다.(C) Any connection or pin identification number of the AOI machine corresponds to the part connection area identification number used by the SPI machine.

또한, 플레이스먼트 기계(130)에 의해 사용되는 플레이스먼트 위치(placement position)는 각 플레이스먼트 기계(130)의 공정 데이터 관리로부터 획득될 수 있는 부품 수용 위치와 상관될 수 있다. 이러한 위치 상관 또는 식별 번호에 대한 상관은 생산 라인(100)에 관련된 적어도 하나의 기계에 대한 적어도 하나의 작업 레시피가 변화될 때마다 재결정될 수 있다.Further, the placement position used by the placement machine 130 may be correlated with the part receiving position, which may be obtained from process data management of each placement machine 130 . The correlation to the location correlation or identification number may be re-determined whenever at least one work recipe for at least one machine related to the production line 100 is changed.

이러한 상관을 사용할 수 있게 되면, 후속 인쇄 회로 기판의 공정 흐름을 최적화하는 데 사용할 수 있다.When these correlations become available, they can be used to optimize the process flow of subsequent printed circuit boards.

도 2는 특히 솔더 페이스트 인쇄 기계로 구현되는 처리 기계의 공정 파라미터의 후속 최적화를 위한 공정 데이터와 검사 데이터의 상관을 도시한다.FIG. 2 shows the correlation of process data and inspection data for subsequent optimization of process parameters of a processing machine embodied in particular as a solder paste printing machine.

여기에 도시된 예시적인 실시예에 따르면, 이 공정은 단계(SI)에서 플레이스먼트 기계(130)에 의해 수집되는 솔더 페이스트 검사, 플레이스먼트 검사 및 플레이스먼트 공정을 위한 작업 레시피로 시작한다. 작업 레시피에는 특히 각 인쇄 회로 기판의 레이아웃, 그 위에 놓여질 부품(위치 및 크기) 및 해당 부품 연결 접점에 대한 자세한 정보가 포함되어 있다.According to the exemplary embodiment shown herein, the process begins with a solder paste inspection, a placement inspection, and a working recipe for the placement process, which are collected by the placement machine 130 in step SI. The working recipe specifically contains detailed information about the layout of each printed circuit board, the parts (position and size) that will be placed on it, and the contacts that connect those parts.

다음 단계(S2)에서, 위에서 언급한 위치 데이터의 상관은 IDDCF의 도움으로 발생한다. 다양한 기계에 의해 사용되는 작업 레시피들 사이의 부품 연결 접점의 위치 및 부품 위치는 다양한 작업 레시피에 포함된 모든 부품 연결 접점이 서로 정확하게 연관되도록 서로 상관된다. 이 상관의 결과는 관련된 모든 기계에 대해 부품 연결 접점과 부품 연결 영역(패드)을 서로 정확하게 연관시키는 상관 테이블이다. 이 연관은 각 유형의 인쇄 회로 기판 상의 위치를 기반으로 할 뿐만 아니라 부품의 식별 번호, 부품 연결 영역의 식별 번호 및/또는 부품 연결 접점의 식별 번호를 기반으로 한다. 결과적으로 생산 공정과 관련된 다양한 기계의 식별 이름과 부품의 다른 명칭과 작업 레시피는 때때로 정확하게 연관될 수 있다. 특히, 이 상관 테이블은 (a) 적어도 하나의 AOI 검사 기계와 솔더 페이스트 검사 기계의 작업 레시피와 (b) 솔더 페이스트 인쇄 기계와 플레이스먼트 기계의 작업 레시피를 상관시키는 데 사용할 수 있고, 상기 작업 레시피에는 현재 공정 파라미터가 포함되어 있다.In the next step S2, the above-mentioned correlation of position data takes place with the aid of IDDCF. The position of the part connection contact and the part position among the work recipes used by the various machines are correlated with each other so that all the part connection contacts included in the various work recipes are correctly associated with each other. The result of this correlation is a correlation table that accurately correlates the part connection contact and the part connection area (pad) to each other for all machines involved. This association is based not only on the location on each type of printed circuit board, but also on the identification number of the part, the identification number of the part connection area and/or the identification number of the part connection contact. As a result, the identification names of various machines involved in the production process and other names of parts and work recipes can sometimes be accurately associated. In particular, this correlation table may be used to correlate (a) a working recipe of at least one AOI inspection machine and a solder paste inspection machine and (b) a working recipe of a solder paste printing machine and a placement machine, wherein the working recipe includes: Current process parameters are included.

다음 단계(S3)에서는, 다양한 검사 기계의 결과를 기다린다. 이 결과는 모두 특정 인쇄 회로 기판과 관련이 있다.In the next step S3, the results of various inspection machines are awaited. All of these results are related to a specific printed circuit board.

다양한 검사 기계로부터의 결과를 이용할 수 있는 즉시, 이러한 결과를 서로 상관시키기 위해 이전에 결정된 위치 할당이 다음 단계(S4)에서 사용된다. 이를 위해 단계(S2)에서 결정된 상관 테이블이 사용된다.As soon as results from the various inspection machines are available, the previously determined position assignments are used in the next step S4 to correlate these results with each other. For this purpose, the correlation table determined in step S2 is used.

다음 단계(S5)에서, 상관 결과, (현재) 작업 레시피 및 상관 데이터가 데이터베이스(DB)에 저장된다. 데이터베이스(DB)는 도 2에 도시되지 않은 프로세서에 의해 수행되는 소위 "빅 데이터" 분석의 기반이 되고, "빅 데이터" 분석 결과가 적절한 시각화를 통해 운영자에게 표시될 수 있도록 한다. 예컨대, "빅 데이터" 분석은 생산 라인의 끝에서 전자 조립체의 결함에 대한 근원적인 원인(소위 "근본 원인")을 찾는 데 사용할 수 있다.In the next step (S5), the correlation result, the (current) job recipe and the correlation data are stored in the database (DB). The database DB is the basis for the so-called "big data" analysis performed by a processor not shown in FIG. 2, and allows the "big data" analysis results to be displayed to the operator through appropriate visualization. For example, “big data” analysis can be used to find the root cause (the so-called “root cause”) of a defect in an electronic assembly at the end of a production line.

또한, 이러한 "빅 데이터" 분석은 잘못된 오류 메시지의 가능성이 감소되도록 결함이 있는 중간 제품을 분리하기 위한 검사 기계의 임계값을 적응시키는 데에도 사용할 수 있다.This “big data” analysis can also be used to adapt the thresholds of inspection machines to isolate defective intermediate products so that the likelihood of false error messages is reduced.

단계(S6)에서, 상관 결과는 각각의 검사 기계 또는 처리 기계에 전송된다. 솔더 페이스트 검사 기계의 경우, 특히 솔더 페이스트 도포와 관련된 인쇄 회로 기판의 위치가 가능한 결함과 관련하여 식별될 수 있다. 솔더 페이스트 인쇄 기계의 경우, 솔더 페이스트의 결함 도포 가능성이 줄어들도록 적어도 일부 공정 파라미터를 설정할 수 있으며, 따라서 부품들이 놓여지기 이전에도 솔더 페이스트로 인쇄된 인쇄 회로 기판의 불량률이 자동으로 감소될 수 있다. In step S6, the correlation result is transmitted to each inspection machine or processing machine. In the case of a solder paste inspection machine, the location of a printed circuit board, particularly in relation to solder paste application, can be identified with respect to possible defects. In the case of a solder paste printing machine, at least some process parameters can be set to reduce the possibility of defective application of the solder paste, so that the defect rate of a printed circuit board printed with the solder paste can be automatically reduced even before the parts are placed.

도 3은 제1 인쇄 회로 기판(370a) 및 제2 인쇄 회로 기판(370b)인 두 가지 다른 유형의 인쇄 회로 기판에 대한 상관 테이블(375)로서 구현된 상관 데이터 세트를 도시한다. 플레이스먼트 기계에 대한 작업 레시피에서, 제1 인쇄 회로 기판(370a)은 패널 1이라고 하고, 제2 인쇄 회로 기판(370b)은 패널 2라고 한다. AOI 기계에 대한 작업 레시피에서, 제1 인쇄 회로 기판(370a)은 패널 A이라고 하고, 제2 인쇄 회로 기판(370b)은 패널 B라고 한다. 여기에 도시된 예시적인 실시예에 따르면, 이 연관은 상관 테이블(375)의 처음 두 라인에 저장된다. 또한, 상이한 유형의 부품에 관한 추가 상관이 상기 상관 테이블(375)에 저장된다.3 shows a correlation data set implemented as a correlation table 375 for two different types of printed circuit boards, a first printed circuit board 370a and a second printed circuit board 370b. In the working recipe for the placement machine, the first printed circuit board 370a is referred to as panel 1 and the second printed circuit board 370b is referred to as panel 2 . In the working recipe for the AOI machine, the first printed circuit board 370a is referred to as panel A, and the second printed circuit board 370b is referred to as panel B. According to the exemplary embodiment shown here, this association is stored in the first two lines of the correlation table 375 . Further correlations for different types of parts are stored in the correlation table 375 .

이를 위해 고유 식별 번호가 사용된다. 여기에 도시된 예시적인 실시예에 따르면, 이들은A unique identification number is used for this purpose. According to the exemplary embodiment shown here, they are

저항기에 대한 IDs R100, R101, ..., R100_a, R101_a, ... 등,IDs for resistors R100, R101, ..., R100_a, R101_a, ... etc,

커패시터에 대한 IDs C1OO, C101, ..., C100_b, C101_c,IDs for capacitors C100, C101, ..., C100_b, C101_c,

다이오드에 대한 IDs D100, R101, D100_c, D101_cIDs for diodes D100, R101, D100_c, D101_c

및 볼 그리드 어레이에 대한 IDs Q2 및 Q2_x.and IDs Q2 and Q2_x for the ball grid array.

도 4는 블록 다이어그램을 사용하여 플레이스먼트에 대한 공정 데이터의 최적화를 도시한다. 위에서 이미 여러 번 설명한 바와 같이, 최적화는 상이한 기계 또는 상이한 작업 레시피에 의해 하나의 동일한 인쇄 회로 기판에 대한 설명을 위치적으로 정확하게 중첩하는 것을 기반으로 한다. 도 4의 좌측 상단에는 인쇄 회로 기판(470)의 레이아웃이 작업 레시피 또는 플레이스먼트 기계의 좌표계에서 명확하게 시각화되어 있다. 우측 상단에는, 인쇄 회로 기판(470)의 동일한 레이아웃이 AOI 기계의 작업 레시피 또는 좌표계에서 명확하게 시각화되어 있다.Figure 4 shows the optimization of process data for a placement using a block diagram. As already explained several times above, optimization is based on positionally accurately superimposing descriptions of one and the same printed circuit board by different machines or different working recipes. In the upper left of FIG. 4 , the layout of the printed circuit board 470 is clearly visualized in the coordinate system of the working recipe or placement machine. In the upper right, the same layout of the printed circuit board 470 is clearly visualized in the working recipe or coordinate system of the AOI machine.

두 개의 인쇄 회로 기판 레이아웃 아래에 도시된 블록 다이어그램에서 볼 수 있는 바와 같이, 플레이스먼트를 위한 공정 데이터의 최적화는 두 레이아웃의 위치 설명, 즉 플레이스먼트 위치의 설명(482)과 좌표계 또는 각 AOI 기계의 작업 레시피에서 부품 위치의 설명(483)의 위치적으로 정확한 중첩을 필요로 한다. 여기서 플레이스먼트에 대한 위치 설명(482)은 플레이스먼트에 대한 작업 레시피[플레이스먼트 작업 레시피(481)]에 따라 좌우된다. 플레이스먼트 작업 레시피(481), 설명(482) 및 설명(483)으로부터 데이터 세트(484)는 다양한 좌표계 또는 작업 레시피의 부품 위치를 서로 연관시키는 상관 테이블로서 생성된다. (i) 조립체에 대한 공정 데이터를 포함하는 데이터 세트(485), 및 (ii) 부품 위치에 대한 상관 테이블(484)을 기반으로 하여, (i) 플레이스먼트 위치들 사이의 상관이 있는 추가 상관 테이블(486)이 생성되고 및 (ii) 부품 공급기로부터의 각 부품의 부품 픽업 위치가 설명된다. 추가 상관 테이블(486)로부터, 최적화된 공정 데이터(487)는 그 다음 부정확하게 놓여진 부품의 가능한 가장 낮은 비율과 관련하여 부품 픽업 및 부품 플레이스먼트에 대해 결정된다. 잘못 놓여진 부품은 이미 위에서 설명한 것처럼 AOI 기계에서 부품 결함으로 인식된다(정확하게는).As can be seen in the block diagram shown below the two printed circuit board layouts, the optimization of the process data for placement involves the location description of the two layouts, namely the description of the placement location (482) and the coordinate system or of each AOI machine. Requires positionally accurate superimposition of descriptions 483 of part locations in working recipes. Here, the location description 482 for the placement depends on the job recipe for the placement (placement job recipe 481 ). A data set 484 from placement work recipe 481 , description 482 , and description 483 is generated as a correlation table correlating part positions in various coordinate systems or work recipes with each other. Based on (i) a data set 485 containing process data for the assembly, and (ii) a correlation table 484 for part positions, (i) an additional correlation table with correlations between placement positions (486) is created and (ii) the part pickup location of each part from the part feeder is described. From the additional correlation table 486, optimized process data 487 is then determined for part pickup and part placement with respect to the lowest possible percentage of incorrectly placed parts. Misplaced parts are recognized (to be precise) as part defects in the AOI machine, as already described above.

위에서 이미 설명한 바와 같이, 상이한 기계에 대한 대응 설명이 다르기 때문에 인쇄 회로 기판 ID와 같은 참조 지정을 사용하여 상이한 기계의 상이한 작업 레시피를 단순히 상관시킬 수 없다. 적어도 현재로서는, 전자 조립체를 위한 생산 라인에서 상이한 기계에 대해 동일한 참조 지정을 사용하기로 하는 (상이한 기계 제조업체 간에) 합의가 이루어지지 않았다. 상이한 좌표계의 원점도 다를 수 있다. 위치적으로 정확한 상관에 사용할 수 있는 신뢰할 수 있는 데이터는 다양한 부품들 (중심) 사이의 거리뿐이다. 이러한 위치 상관을 확실하게 설정하기 위해, 부품들(중심점)과 각 부품의 부품 연결 접점들 사이의 상대 거리를 사용할 수 있다. 정확한 위치 상관을 통해, 두 레이아웃 사이의 제품-특징 구조, 부품 연결 영역 및 부품 연결 접점 사이의 중첩이 최대한 크게 되도록 상이한 레이아웃을 중첩할 수 있다.As already explained above, it is not possible to simply correlate different working recipes of different machines using reference designations such as printed circuit board IDs because the corresponding descriptions for different machines are different. At least for now, there has been no agreement (between different machine manufacturers) to use the same reference designation for different machines on a production line for electronic assembly. The origins of different coordinate systems may also be different. The only reliable data that can be used for positionally accurate correlation is the distance between the various parts (centers). In order to reliably establish this positional correlation, the relative distance between the parts (center point) and the part connecting contacts of each part can be used. Through accurate positional correlation, different layouts can be superimposed so that the product-feature structure between the two layouts, the overlap between the part connection area and the part connection contact point are as large as possible.

예시하기 위해, 복수의 중심점 위치는 특정 제품 또는 특정 인쇄 회로 기판에 대한 "지문(fingerprint)"으로 볼 수 있다. 이 지문은 상이한 데이터 소스(상이한 기계의)에 대해 적어도 매우 유사해야 한다. 이는 그렇지 않으면 같은 제품이 아니기 때문이다. 바람직한 실시예에 따르면, 위치적으로 정확한 중첩은 인쇄 회로 기판의 2개의 상이한 레이아웃 설명에 대해 이러한 지문을 사용하여 수행되며, 2개의 레이아웃 설명 중 적어도 하나는 2개의 서로 연관된 부품 연결 접점 및/또는 부품 연결 영역 사이의 총 거리가 최소화되도록 변위된다. 예컨대, 이 목적을 위해 알려진 소위 "가장 가까운 이웃" 알고리즘을 사용할 수 있다.To illustrate, the plurality of center point locations may be viewed as a “fingerprint” for a particular product or particular printed circuit board. These fingerprints should be at least very similar for different data sources (on different machines). This is because otherwise it is not the same product. According to a preferred embodiment, positionally correct superposition is performed using these fingerprints for two different layout descriptions of the printed circuit board, wherein at least one of the two layout descriptions comprises two interrelated component connection contacts and/or components. Displaced so that the total distance between the connection areas is minimized. For this purpose, for example, the known so-called "nearest neighbor" algorithm can be used.

도 5는 하나의 동일한 인쇄 회로 기판(570)에 대해 상이한 기계에 의해 사용되는 위치 데이터의 재배치를 예시적으로 도시한다. 열린 원은 AOI 기계에 사용되거나 AOI 기계에 의해 사용되는 부품 연결 접점의 중심점을 나타낸다(도 1의 참조 번호 140). 실선 원은 SPI 기계(도 1의 참조 번호 120 참조)를 위해 또는 SPI 기계에 의해 사용되는 부품 연결 영역의 중심점을 나타낸다.5 exemplarily shows the relocation of position data used by different machines for one and the same printed circuit board 570 . The open circle indicates the center point of the part connecting contact used in or by the AOI machine (reference numeral 140 in FIG. 1 ). The solid circle indicates the center point of the part connection area used for or by the SPI machine (see reference number 120 in FIG. 1 ).

재배치는 또한 복수의 루프를 사용하여 반복적으로 수행될 수 있다는 점에 유의해야 한다. 예컨대, 100% 동의를 제공하지 않는 재배치를 위한 제1 방법 이후에, 개선된 재배치를 위한 제2 방법을 수행할 수 있다.It should be noted that relocation can also be performed iteratively using multiple loops. For example, after a first method for relocation that does not provide 100% consent, a second method for improved relocation may be performed.

100 생산 라인
102 입력 스테이션
104 레이저 방사선으로 인쇄 회로 기판을 마킹하는 장치
110 솔더 페이스트 인쇄 기계
120 솔더 페이스트 검사 기계/SPI 기계
130 플레이스먼트 기계
140 플레이스먼트 검사 기계/AOI 기계
150 솔더링 기계/리플로우 오븐
152 인쇄 회로 기판 버퍼
160 솔더링 검사 기계/AOI 기계
162 출력 스테이션
T 이송 방향
μP 데이터 처리 장치
DB 데이터베이스
51 작업 레시피 획득
52 상이한 기계들 사이의 위치 상관
53 결과 획득
54 기계 결과에 위치 상관 적용
55 상관된 기계 결과의 저장
56 상관된 기계 결과의 실시간 피드백
370a 인쇄 회로 기판(제1 유형)
370b 인쇄 회로 기판(제2 유형)
375 상관 데이터 세트/상관 테이블
470 인쇄 회로 기판
481-487 블록
570 인쇄 회로 기판
100 production lines
102 input station
104 Apparatus for marking printed circuit boards with laser radiation
110 Solder Paste Printing Machine
120 Solder Paste Inspection Machine/SPI Machine
130 Placement Machine
140 Placement Inspection Machine/AOI Machine
150 Soldering Machine/Reflow Oven
152 Printed Circuit Board Buffer
160 Soldering Inspection Machine/AOI Machine
162 output station
T feed direction
μP data processing unit
DB database
51 Job Recipe Acquisition
52 Positional correlation between different machines
53 Get results
54 Applying Position Correlation to Machine Results
55 Storage of correlated machine results
56 Real-time feedback of correlated machine results
370a Printed Circuit Board (Type 1)
370b Printed Circuit Board (Type 2)
375 Correlation Datasets/Correlation Tables
470 Printed Circuit Board
481-487 blocks
570 Printed Circuit Board

Claims (15)

생산 라인(100)에서 자동화된 생산에 의해 복수의 전자 부품들을 갖는 전자 조립체가 구축되는 하나의 동일한 인쇄 회로 기판(470)과 연관된 상이한 데이터 세트들을 상관(correlating)시키는 방법에 있어서, 상기 방법은
제1 기계(110)로부터 제1 데이터 세트를 제공하는 단계로서, 상기 제1 데이터 세트는 상기 제1 기계(110)와 연관되고, 상기 제1 기계(110)의 동작을 제어하고, 그리고 상기 제1 데이터 세트는:
상기 인쇄 회로 기판(470) 상의 복수의 위치들에서 상기 인쇄 회로 기판(470)의 제품-특징 구조의 특징 목표 특성들에 대한 제1 위치 정보 및 제1 특징 정보를 포함하는, 상기 제1 데이터 세트를 제공하는 단계;
제2 기계(160)로부터 제2 데이터 세트를 제공하는 단계로서, 상기 제2 데이터 세트는 상기 제2 기계(160)와 연관되고, 상기 제2 기계(160)의 동작을 제어하고, 그리고 상기 제2 데이터 세트는:
상기 인쇄 회로 기판(470) 상의 복수의 위치들에서 상기 인쇄 회로 기판(470)의 제품-특징 구조의 특징 목표 특성들에 대한 제2 위치 정보 및 제2 특징 정보를 포함하는, 상기 제2 데이터 세트를 제공하는 단계;
상기 제2 위치 정보에 상기 제1 위치 정보를 기하학적으로 중첩하는 단계; 및
상기 인쇄 회로 기판(470) 상의 하나의 동일한 위치로부터의 2개의 상관된 위치 정보 단편들, 즉 제1 위치 정보 및 연관된 제2 위치 정보 사이의 거리의 총합이 감소되도록 상기 제1 위치 정보 및/또는 상기 제2 위치 정보를 재배치하는 단계를 포함하는, 방법.
A method of correlating different data sets associated with one and the same printed circuit board (470) on which an electronic assembly having a plurality of electronic components is built by automated production in a production line (100), the method comprising:
providing a first data set from a first machine (110), wherein the first data set is associated with the first machine (110), controls operation of the first machine (110), and 1 data set is:
the first data set comprising first positional information and first characteristic information for characteristic target characteristics of a product-feature structure of the printed circuit board (470) at a plurality of positions on the printed circuit board (470) providing;
providing a second data set from a second machine (160), wherein the second data set is associated with the second machine (160), controls operation of the second machine (160), and 2 data sets are:
the second data set, including second positional information and second characteristic information for characteristic target characteristics of a product-feature structure of the printed circuit board (470) at a plurality of positions on the printed circuit board (470) providing;
geometrically superimposing the first location information on the second location information; and
the first location information and/or such that the sum of the distances between the two correlated pieces of location information from one and the same location on the printed circuit board 470, ie the first location information and the associated second location information, is reduced. and relocating the second location information.
제1항에 있어서,
상기 제1 기계는 처리 공정에 의해 상기 인쇄 회로 기판(470) 및 상기 제품-특징 구조를 포함하는 제품에 물리적 변화를 가하는 제1 처리 기계(110)인, 방법.
According to claim 1,
wherein the first machine is a first processing machine (110) for applying a physical change to a product including the printed circuit board (470) and the product-feature structure by a processing process.
제2항에 있어서,
제1 처리 기계는
(i) 상기 인쇄 회로 기판(470)의 부품 연결 영역들에 선택적으로 솔더 페이스트를 도포하기 위한 솔더 페이스트 인쇄 기계(110);
(ii) 전자 부품들을 상기 인쇄 회로 기판(470)에 놓기 위한 플레이스먼트 기계(placement machine;130); 및
(iii) 상기 인쇄 회로 기판(470)의 부품 연결 영역들과 상기 인쇄 회로 기판(470)에 놓여진 부품들의 전기 연결 접점들 사이에 위치하는 상기 솔더 페이스트를 용융시키기 위한 솔더링 기계(soldering machine;150)로 이루어진 그룹에서 선택되는 기계인, 방법.
3. The method of claim 2,
the first processing machine
(i) a solder paste printing machine (110) for selectively applying solder paste to component connection areas of the printed circuit board (470);
(ii) a placement machine (130) for placing electronic components on the printed circuit board (470); and
(iii) a soldering machine 150 for melting the solder paste located between component connection regions of the printed circuit board 470 and electrical connection contacts of components placed on the printed circuit board 470; A method, which is a machine selected from the group consisting of
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제2 기계는 검사 공정에 의해 제품-특징 구조를 검출하는 제1 검사 기계(160)인, 방법.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
wherein the second machine is a first inspection machine (160) that detects a product-feature structure by an inspection process.
제4항에 있어서,
상기 제1 검사 기계는
(i) 도포된 솔더 페이스트를 검출하기 위한 솔더 페이스트 검사 기계(120);
(ii) 놓여진 부품들을 검출하기 위한 플레이스먼트 검사 기계(140); 및
(iii) 솔더링된 부품들을 검출하기 위한 솔더링 검사 기계(160)로 이루어진 그룹으로부터 선택된 기계인, 방법.
5. The method of claim 4,
the first inspection machine
(i) a solder paste inspection machine 120 for detecting applied solder paste;
(ii) a placement inspection machine 140 for detecting placed parts; and
(iii) a machine selected from the group consisting of a soldering inspection machine (160) for detecting soldered components.
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
제3 기계(160)로부터 제3 데이터 세트를 제공하는 단계로서, 상기 제3 데이터 세트는 상기 제3 기계(130)와 연관되고, 상기 제3 기계(130)의 동작을 제어하고, 그리고 상기 제3 데이터 세트는:
상기 인쇄 회로 기판(470) 상의 복수의 위치들에서 상기 인쇄 회로 기판(470)의 제품-특징 구조의 특징 목표 특성들에 대한 제3 위치 정보 및 제3 특징 정보를 포함하는, 상기 제3 데이터 세트를 제공하는 단계를 추가로 포함하고,
상기 기하학적 중첩 단계는
상기 제3 위치 정보를 상기 제1 위치 정보 및/또는 상기 제2 위치 정보와 기하학적으로 중첩하는 것을 추가로 포함하고; 및
상기 재배치 단계는
3개의 상관된 위치 정보 단편들의 각각 사이의 3개의 거리들의 합, 즉
상기 인쇄 회로 기판(470) 상의 하나의 동일한 지점의,
(i) 상기 제1 위치 정보와 상기 연관된 제2 위치 정보 사이의 제1 거리,
(ii) 상기 제1 위치 정보 및 상기 제2 위치 정보와 연관된 상기 제3 위치 정보와 상기 연관된 제2 위치 정보 사이의 제2 거리, 및
(iii) 상기 제3 위치 정보와 상기 제1 위치 정보 사이의 제3 거리의 합이 감소되도록
상기 제3 위치 정보의 재배치를 추가로 포함하는, 방법.
6. The method according to any one of claims 1 to 5,
providing a third data set from a third machine (160), wherein the third data set is associated with the third machine (130), controls operation of the third machine (130), and The 3 data sets are:
the third data set, comprising third positional information and third characteristic information for characteristic target characteristics of a product-feature structure of the printed circuit board (470) at a plurality of positions on the printed circuit board (470) Further comprising the step of providing
The geometric overlapping step is
further comprising geometrically overlapping the third location information with the first location information and/or the second location information; and
The relocation step
the sum of the three distances between each of the three correlated location information fragments, i.e.
of one and the same point on the printed circuit board (470),
(i) a first distance between the first location information and the associated second location information;
(ii) a second distance between the third location information associated with the first location information and the second location information and the associated second location information, and
(iii) a sum of a third distance between the third location information and the first location information is reduced;
and relocating the third location information.
제6항에 있어서,
상기 제3 기계는 처리 공정에 의해 상기 인쇄 회로 기판(470)과 상기 제품-특징 구조를 포함하는 제품에 물리적 변화를 추가로 일으키는 제2 처리 기계(130)인, 방법.
7. The method of claim 6,
wherein the third machine is a second processing machine (130) that further causes a physical change to the printed circuit board (470) and a product comprising the product-feature structure by a processing process.
제7항에 있어서,
제4 기계(120)로부터 제4 데이터 세트를 제공하는 단계로서, 상기 제4 데이터 세트는 상기 제4 기계(120)와 연관되고, 상기 제4 기계(120)의 동작을 제어하고, 그리고 상기 제4 데이터 세트는:
상기 인쇄 회로 기판(470) 상의 복수의 위치들에서 상기 인쇄 회로 기판(470)의 제품-특징 구조의 특징 목표 특성들에 대한 제4 위치 정보 및 제4 특징 정보를 포함하는, 상기 제4 데이터 세트를 제공하는 단계를 추가로 포함하고,
상기 기하학적 중첩 단계는
상기 제4 위치 정보를 상기 제1 위치 정보, 상기 제2 위치 정보, 및/또는 상기 제3 위치 정보와 기하학적으로 중첩하는 것을 추가로 포함하고; 및
상기 재배치 단계는
4개의 상관된 위치 정보 단편들의 각각 사이의 6개의 거리들의 합, 즉
상기 인쇄 회로 기판 상의 하나의 동일한 지점의,
(i) 상기 제1 거리,
(ii) 상기 제2 거리,
(iii) 상기 제3 거리,
(iv) 상기 제4 위치 정보와 상기 제3 위치 정보 사이의 제4 거리,
(v) 상기 제4 위치 정보와 상기 제2 위치 정보 사이의 제5 거리, 및
(vi) 상기 제4 위치 정보와 상기 제1 위치 정보 사이의 제6 거리의 합이 감소되도록
상기 제4 위치 정보의 재배치를 추가로 포함하는, 방법.
8. The method of claim 7,
providing a fourth data set from a fourth machine (120), wherein the fourth data set is associated with the fourth machine (120), controls operation of the fourth machine (120), and The 4 data sets are:
the fourth data set, comprising fourth positional information and fourth characteristic information for characteristic target characteristics of the product-feature structure of the printed circuit board (470) at a plurality of positions on the printed circuit board (470) Further comprising the step of providing
The geometric overlapping step is
further comprising geometrically overlapping the fourth location information with the first location information, the second location information, and/or the third location information; and
The relocation step
the sum of the six distances between each of the four correlated location information fragments, i.e.
of one and the same point on the printed circuit board,
(i) said first distance;
(ii) said second distance;
(iii) said third distance;
(iv) a fourth distance between the fourth location information and the third location information;
(v) a fifth distance between the fourth location information and the second location information, and
(vi) the sum of the sixth distance between the fourth location information and the first location information is reduced;
and relocating the fourth location information.
제2항, 제4항 및 제7항에 따라, 제8항에 있어서,
상기 제1 기계는 상기 제1 처리 기계(110)이고;
상기 제2 기계는 상기 생산 라인(100)을 따라 제1 검사 지점에서 상기 제품-특징 구조를 검출하는 상기 제1 검사 기계(160)이고;
상기 제3 기계는 상기 생산 라인(100)의 이송 방향(T)에 대해 상기 제1 처리 기계(110)의 하류에 배열된 상기 제2 처리 기계(130)이고; 및
상기 제4 기계는 상기 생산 라인(100)을 따라 제2 검사 지점에서 상기 제품-특징 구조를 검출하는 상기 제2 검사 기계(120)인, 방법.
According to claim 2, 4 and 7, according to claim 8,
the first machine is the first processing machine 110;
the second machine is the first inspection machine (160) for detecting the product-feature structure at a first inspection point along the production line (100);
the third machine is the second processing machine 130 arranged downstream of the first processing machine 110 with respect to the conveying direction T of the production line 100 ; and
and the fourth machine is the second inspection machine (120) for detecting the product-feature structure at a second inspection point along the production line (100).
생산 라인(100)에서 자동화된 생산에 의해 전자 조립체들을 생산하기 위한 공정에 대한 공정 파라미터들을 적응시키기 위한 방법에 있어서, 상기 방법은:
제6항 내지 제9항 중 어느 한 항에 따른 방법을 수행하는 단계로서, 제1 기계는 제1 처리 기계(110)이고, 제1 데이터 세트는 제1 공정 데이터 세트를 포함하고, 제2 기계는 제1 검사 기계(160)이고 제2 데이터 세트는 제1 검사 데이터 세트를 포함하고, 제3 기계는 제2 처리 기계(130)이고, 제3 데이터 세트는 제2 공정 데이터 세트를 포함하는, 상기 수행 단계;
상기 제1 검사 기계(160)에 의해, 인쇄 회로 기판(470)의 표면 상의 제1 위치와 연관된 상기 인쇄 회로 기판(470)의 제1 영역에서 상기 제품-특징 구조의 실제 특성과 목표 특성 사이의 제1 편차를 결정하는 단계;
(i) 각각의 경우에, 상기 제1 공정 데이터 세트, 상기 제2 공정 데이터 세트, 및 상기 제1 검사 데이터 세트의 적어도 제1 부분으로서, 상기 제1 부분은 상기 인쇄 회로 기판(470)의 제1 영역과 연관되는, 상기 적어도 제1 부분에 기초하고 그리고
(ii) 재배치된 제1 위치 정보 및/또는 재배치된 제2 위치 정보 및/또는 재배치된 제3 위치 정보에 추가로 기초하여 제1 조합 데이터 세트(375)를 생성하는 단계;
상기 생성된 제1 조합 데이터 세트(375) 및 상기 결정된 제1 편차에 기초하여 상기 제1 처리 기계(110)의 제1 공정 파라미터들 및/또는 상기 제2 처리 기계(130)의 제2 공정 파라미터들을 적응시키는 단계를 포함하는, 방법.
A method for adapting process parameters for a process for producing electronic assemblies by automated production in a production line ( 100 ), said method comprising:
10. Carrying out the method according to any one of claims 6 to 9, wherein the first machine is a first processing machine (110), the first data set comprises a first process data set, and a second machine is a first inspection machine 160 and the second data set includes a first inspection data set, the third machine is a second processing machine 130, and the third data set includes a second process data set. the performing step;
between an actual characteristic and a target characteristic of the product-feature structure in a first area of the printed circuit board 470 associated with a first position on the surface of the printed circuit board 470 by the first inspection machine 160 . determining a first deviation;
(i) in each case, at least a first portion of the first process data set, the second process data set, and the first inspection data set, wherein the first portion comprises a second portion of the printed circuit board (470). based on said at least a first portion associated with a region and
(ii) generating a first combined data set (375) further based on the relocated first location information and/or the relocated second location information and/or the relocated third location information;
First process parameters of the first processing machine 110 and/or second process parameters of the second processing machine 130 based on the generated first combined data set 375 and the determined first deviation A method comprising the step of adapting them.
제10항에 있어서,
상기 인쇄 회로 기판(470)의 제1 영역은 상기 제품-특징 구조의 실제 특성 및 목표 특성 사이의 제1 편차가 상기 인쇄 회로 기판(470)의 표면 상의 제2 위치와 연관된 상기 인쇄 회로 기판(470)의 제2 영역에서 상기 제품-특징 구조의 실제 특성 및 목표 특성 사이의 제2 편차보다 큰 상기 인쇄 회로 기판(470)의 영역이고,
상기 제2 위치는 상기 제1 위치와 상이한, 방법.
11. The method of claim 10,
A first region of the printed circuit board 470 is such that a first deviation between an actual characteristic and a target characteristic of the product-feature structure is associated with a second location on the surface of the printed circuit board 470 . ) is an area of the printed circuit board (470) that is greater than a second deviation between an actual property and a target property of the product-feature structure in a second area;
wherein the second location is different from the first location.
제10항에 있어서,
상기 제1 검사 기계(160)에 의해, 상기 인쇄 회로 기판(470)의 제2 영역에서 상기 제품-특징 구조의 실제 특성과 목표 특성 사이의 제2 편차를 결정하는 단계;
(i) 각각의 경우에, 제1 공정 데이터 세트, 제2 공정 데이터 세트, 및 제1 검사 데이터 세트의 적어도 제2 부분으로서, 상기 제2 부분은 상기 인쇄 회로 기판(470)의 제2 영역과 연관되는, 상기 적어도 제2 부분에 기초하고 그리고
(ii) 재배치된 제1 위치 정보 및/또는 재배치된 제2 위치 정보 및/또는 재배치된 제3 위치 정보에 추가로 기초하여 제2 조합 데이터 세트를 생성하는 단계; 및
상기 생성된 제2 조합 데이터 세트 및 상기 결정된 제2 편차에 추가로 기초하여 상기 제1 처리 기계(110)의 제1 공정 파라미터들 및/또는 상기 제2 처리 기계(130)의 제2 공정 파라미터들을 적응시키는 단계를 추가로 포함하는, 방법.
11. The method of claim 10,
determining, by the first inspection machine (160), a second deviation between an actual characteristic and a target characteristic of the product-feature structure in a second region of the printed circuit board (470);
(i) in each case at least a second portion of a first process data set, a second process data set, and a first inspection data set, the second portion comprising a second region of the printed circuit board (470); associated, based on the at least second part, and
(ii) generating a second combined data set further based on the relocated first location information and/or the relocated second location information and/or the relocated third location information; and
first process parameters of the first processing machine 110 and/or second process parameters of the second processing machine 130 further based on the generated second combined data set and the determined second deviation The method further comprising the step of adapting.
제10항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 제1 처리 기계(110)의 제1 공정 파라미터들 및/또는 상기 제2 처리 기계(130)의 제2 공정 파라미터들을 적응시키는 단계는 적어도 하나의 학습 알고리즘에 의해 반복적으로 수행되는, 방법.
13. The method according to any one of claims 10 to 12,
The step of adapting the first process parameters of the first processing machine (110) and/or the second process parameters of the second processing machine (130) is performed iteratively by at least one learning algorithm.
전자 조립체의 자동화 생산을 위한 생산 라인(100)으로서, 인쇄 회로 기판(470) 및 상기 인쇄 회로 기판(470)에 부착되고 도체 트랙들에 의해 전기적으로 상호 연결된 복수의 전자 부품들을 갖는, 상기 생산 라인(100)에 있어서,
인쇄 회로 기판 및 제품-특징 구조를 포함하는 제품을 처리하기 위한 제1 기계(110);
상기 제품-특징 구조를 검사하기 위한 제2 기계(160);
상기 제품을 처리하기 위한 제3 기계(130); 및
상기 제1 기계(110), 상기 제2 기계(160), 및 상기 제3 기계(130)에 통신 가능하게 연결되고 공정 파라미터들을 적응시키기 위한 제10항 내지 제13항 중 어느 한 항에 따른 방법을 수행하도록 배열된 데이터 처리 장치(μP)를 갖는, 생산 라인.
A production line (100) for the automated production of an electronic assembly, the production line having a printed circuit board (470) and a plurality of electronic components attached to the printed circuit board (470) and electrically interconnected by conductor tracks. The method of (100),
a first machine 110 for processing products including printed circuit boards and product-feature structures;
a second machine (160) for inspecting the product-feature structure;
a third machine 130 for processing the product; and
14. A method according to any one of claims 10 to 13, communicatively connected to the first machine (110), the second machine (160) and the third machine (130) and for adapting process parameters. A production line having a data processing unit (μP) arranged to perform
생산 라인(100)에서 자동화된 생산에 의한 전자 조립체의 생산을 위한 공정에 대한 공정 파라미터들을 적응시키기 위한 컴퓨터 프로그램에 있어서,
상기 컴퓨터 프로그램은, 상기 생산 라인(100)의 데이터 처리 장치(μP)에 의해 실행될 때 제10항 내지 제13항 중 어느 한 항에 따른 방법을 수행하도록 배열되는, 컴퓨터 프로그램.
A computer program for adapting process parameters to a process for the production of an electronic assembly by automated production on a production line (100), the computer program comprising:
The computer program, when executed by a data processing unit (μP) of the production line (100), is arranged to perform the method according to any one of claims 10 to 13.
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