KR20220136198A - 이벤트 검출 방법, 이벤트 검출 시스템 및 프로그램 - Google Patents

Abstract

미리 정해진 자장 발생부에 의해 발생한 2축 이상의 자장을 자기 센서로 검출함으로써, 자장 발생부의 위치에 따른 이벤트를 검출하는 이벤트 검출 방법으로서, 자기 센서로 검출한 자장에 기초하여 이벤트 발생 위치를 취득하는 단계와, 이벤트 발생 위치에 기초하여, 이벤트 검출용의 검출축을 선택하는 단계와, 검출축에 있어서, 이벤트 발생 위치에 따른 트리거 역치를 산출하는 단계와, 자기 센서로 검출된 자장과 트리거 역치가 소정의 조건을 충족하는 것을 나타내는 트리거 신호를 취득하는 단계를 구비하는 이벤트 검출 방법을 제공한다.

Description

이벤트 검출 방법, 이벤트 검출 시스템 및 프로그램 {EVENT DETECTION METHOD, EVENT DETECTION SYSTEM AND PROGRAM}

본 발명은 이벤트 검출 방법, 이벤트 검출 시스템 및 프로그램에 관한 것이다.

특허문헌 1에는 「검출 대상의 이동량이 커졌다고 해도, 1개의 검출부에 의해 검출 대상의 이동을 검출할 수 있는 포지션 센서를 제공하는」 것이 기재되어 있다. 특허문헌 2에는 「긴 검지 거리에 대하여 출력이 직선성을 가지며, 또한 검출 정밀도가 높은 위치 검출이 가능한 위치 검출 센서를 제공하는」 것이 기재되어 있다.

일본 특허 공개 제2019-2835호 공보 일본 특허 공개 제2003-167627호 공보

본 발명의 제1 양태에 있어서는, 미리 정해진 자장 발생부에 의해 발생한 2축 이상의 자장을 자기 센서로 검출함으로써, 자장 발생부의 위치에 따른 이벤트를 검출하는 이벤트 검출 방법으로서, 자기 센서로 검출한 자장에 기초하여 이벤트 발생 위치를 취득하는 단계와, 이벤트 발생 위치에 기초하여, 이벤트 검출용의 검출축을 선택하는 단계와, 검출축에 있어서, 이벤트 발생 위치에 따른 트리거 역치를 산출하는 단계와, 자기 센서로 검출된 자장과 트리거 역치가 소정의 조건을 충족하는 것을 나타내는 트리거 신호를 수신하는 단계를 구비하는 이벤트 검출 방법을 제공한다.

본 발명의 제2 양태에 있어서는, 미리 정해진 자장을 발생하는 자장 발생부와, 자장 발생부가 발생한 자장을 검출하기 위한 자기 센서와, 자기 센서가 검출한 신호를 처리하는 처리부를 구비하고, 처리부는, 자기 센서로 검출한 자장에 기초하여 이벤트 발생 위치를 취득하는 취득부와, 이벤트 발생 위치에 기초하여, 이벤트 검출용의 검출축을 선택하는 선택부와, 검출축에 있어서, 이벤트 발생 위치에 따른 트리거 역치를 산출하는 산출부를 갖고, 자기 센서는, 검출된 자장과 트리거 역치가 소정의 조건을 충족하는 것을 나타내는 트리거 신호를 출력하는 출력부를 갖는 이벤트 검출 시스템을 제공한다.

본 발명의 제3 양태에 있어서는, 컴퓨터에 본 발명의 제1 양태에 기재된 이벤트 검출 방법을 실행시키기 위한 프로그램을 제공한다.

또한, 상기 발명의 내용은, 본 발명의 특징 전부를 열거한 것은 아니다. 또한, 이들 특징군의 서브 콤비네이션도 또한 발명이 될 수 있다.

도 1a는 이벤트 검출 시스템(100)의 개요를 도시하는 블록도이다.
도 1b는 자기 센서(20) 및 처리부(30)의 보다 구체적인 구성을 도시한다.
도 2a는 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)의 배치 방법의 일례를 도시한다.
도 2b는 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)의 배치 방법의 일례를 도시한다.
도 2c는 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)의 배치 방법의 일례를 도시한다.
도 3a는 자장 발생부(10)가 기준 위치(P0)에 배치되어 있는 상태를 도시한다.
도 3b는 자장 발생부(10)가 이벤트 발생 위치(Pe)에 배치되어 있는 상태를 도시한다.
도 3c는 자장 발생부(10)의 위치에 따른 자장 파형을 도시한다.
도 3d는 도 3c의 자장 파형에 대응하는 자속 밀도와 트리거 신호의 변화를 도시한다.
도 4a는 2축 자장을 사용한 역치 판정 방법의 일례를 도시한다.
도 4b는 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)의 배치 방법의 일례를 도시한다.
도 4c는 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)의 배치 방법의 일례를 도시한다.
도 4d는 2축 자장을 사용한 역치 판정 방법의 일례를 도시한다.
도 5는 1축 자장을 사용한 역치 판정 방법의 비교예를 도시한다.
도 6은 보다 구체적인 역치 판정 방법의 일례를 도시한다.
도 7a는 보다 구체적인 역치 판정 방법의 일례를 도시한다.
도 7b는 보다 구체적인 역치 판정 방법의 일례를 도시한다.
도 7c는 보다 구체적인 역치 판정 방법의 일례를 도시한다.
도 7d는 보다 구체적인 역치 판정 방법의 일례를 도시한다.
도 7e는 보다 구체적인 역치 판정 방법의 일례를 도시한다.
도 8a는 보다 구체적인 역치 판정 방법의 일례를 도시한다.
도 8b는 보다 구체적인 역치 판정 방법의 일례를 도시한다.
도 8c는 보다 구체적인 역치 판정 방법의 일례를 도시한다.
도 8d는 보다 구체적인 역치 판정 방법의 일례를 도시한다.
도 9는 이벤트 검출 시스템(100)의 동작 플로의 일례를 도시한다.
도 10은 이벤트 검출 시스템(100)의 구성의 일례를 도시한다.
도 11은 본 발명의 복수의 양태가 전체적 또는 부분적으로 구현화되어도 되는 컴퓨터(2200)의 예를 도시한다.

이하, 발명의 실시 형태를 통하여 본 발명을 설명하지만, 이하의 실시 형태는 특허청구의 범위에 관한 발명을 한정하는 것은 아니다. 또한, 실시 형태 중에서 설명되고 있는 특징의 조합 전부가 발명의 해결 수단에 필수적이라고는 할 수 없다.

도 1a는, 이벤트 검출 시스템(100)의 개요를 도시하는 블록도이다. 이벤트 검출 시스템(100)은, 자장 발생부(10)와, 자기 센서(20)와, 처리부(30)를 구비한다.

자장 발생부(10)는, 미리 정해진 자장을 발생한다. 예를 들어, 자장 발생부(10)는, 미리 정해진 방향으로 배열된 N극이 S극으로 이루어지는 2극 자석을 포함한다. 자장 발생부(10)는, 자석의 착자 방향에 따라, 미리 정해진 자장 파형의 자장을 발생시킨다. 자장 발생부(10)는, 미리 정해진 방향으로 이동하여 자장 파형을 변화시켜도 된다.

자기 센서(20)는, 자장 발생부(10)가 발생한 자장을 검출한다. 자기 센서(20)는, 적어도 2개 이상의 검출축의 자장을 검출한다. 본 예의 자기 센서(20)는, 2축 이상의 자장을 검출 가능한 다축 자기 센서이다. 단, 자기 센서(20)는, 복수의 1축 센서를 가짐으로써, 2축 이상의 자장을 검출해도 된다. 자기 센서(20)는, 2축 이상의 자장의 자속 밀도를 검출한 측정 데이터를 취득한다. 자기 센서(20)는, 취득한 측정 데이터가 미리 정해진 조건을 충족한 경우에 트리거 신호를 생성한다. 트리거 신호는, 자기 센서(20)의 상태 변화를 통지하는 인터럽트 신호이다.

처리부(30)는, 자기 센서(20)가 검출한 신호를 처리한다. 처리부(30)는, 자기 센서(20)와 시리얼 통신하여, 자기 센서(20)로부터의 측정 데이터를 수신한다. 또한, 처리부(30)는, 자기 센서(20)로부터의 트리거 신호에 의해 내부 상태를 변화시킨다. 예를 들어, 처리부(30)는, 트리거 신호를 수신함에 따라, 처리부(30)가 마련된 기기를 대기 상태로부터 기동 상태로 변화시킨다.

이벤트 검출 시스템(100)은, 자장 발생부(10)와 자기 센서(20)의 상대적인 위치 관계에 따른 이벤트의 검출에 기초하여 트리거 신호를 생성한다. 본 예의 이벤트 검출 시스템(100)은, 자장 발생부(10)가 미리 정해진 위치로 이동함에 따라 트리거 신호를 생성하여, 미리 정해진 동작을 실행한다.

일례에 있어서, 이벤트 검출 시스템(100)은, 디스플레이가 신축 가능한 스마트폰(예를 들어, 롤러블폰) 등의 휴대 단말기에 탑재되고, 디스플레이가 미리 정해진 위치까지 신축됨에 따라, 디스플레이의 표시를 전환하기 위한 트리거 신호를 출력한다. 또한, 이벤트 검출 시스템(100)은, 이벤트의 검출에 따라, 스마트폰을 대기 상태로부터 기동 상태로 전환해도 된다. 또한, 이벤트 검출 시스템(100)은, 미리 정해진 기간, 조작이 없는 경우에, 기동 상태로부터 대기 상태로 천이시켜도 된다.

도 1b는, 자기 센서(20) 및 처리부(30)의 보다 구체적인 구성을 도시한다. 본 예의 자기 센서(20)는, 검출부(22) 및 출력부(24)를 구비한다. 처리부(30)는, 취득부(32)와, 선택부(34)와, 산출부(36)를 구비한다.

검출부(22)는, 자장 발생부(10)가 발생한 자장을 검출한다. 검출부(22)는, 검출한 자장의 측정 데이터(Bx, By, Bz)를 검출부(22) 또는 처리부(30)에 출력한다. Bx, By 및 Bz는, 각각 X축 방향, Y축 방향, Z축 방향의 자속 밀도를 나타낸다. 본 예의 검출부(22)는, 측정 데이터로서 3축 방향의 자속 밀도를 검출하지만, 2축 방향의 자속 밀도를 검출해도 된다.

취득부(32)는, 자기 센서(20)로부터 측정 데이터(Bx, By, Bz)를 취득한다. 예를 들어, 취득부(32)는, 자장 발생부(10)가 미리 정해진 기준 위치(P0)에 위치하는 경우의 측정 데이터를 취득한다. 기준 위치(P0)는, 자기 센서(20)가 자장 발생부(10)의 위치를 검출 가능한 임의의 위치여도 된다.

또한, 취득부(32)는, 자장 발생부(10)의 이벤트 발생 위치(Pe) 등의, 검출축의 선택 또는 트리거 역치의 산출에 필요한 정보를 취득해도 된다. 이벤트 발생 위치(Pe)의 취득 방법에 대해서는 후술한다. 취득부(32)는, 취득한 이벤트 발생 위치(Pe)를 선택부(34) 및 산출부(36)에 출력한다. 취득부(32)는, 이벤트 발생 위치(Pe) 등의 정보를, 처리부(30)에 마련된 기억부로부터 취득해도 된다.

또한, 취득부(32)는, 검출축마다, 자장 발생부(10)의 위치에 따른 검출 가능 영역 및 검출 불가 영역을 취득해도 된다. 검출 가능 영역은, 대응하는 검출축에 있어서, 트리거 역치를 검출 가능한 영역이다. 검출 불가 영역은, 대응하는 검출축에 있어서, 트리거 역치를 검출할 수 없는 영역이다. 트리거 역치를 검출할 수 없는 경우란, 예를 들어 출력된 자속 밀도로부터 자장 발생부(10)의 위치를 특정할 수 없는 경우이다. 복수의 검출축은, 각각 다른 영역에 검출 가능 영역과 검출 불가 영역을 갖도록 선택되어도 된다.

선택부(34)는, 이벤트 발생 위치(Pe)에 기초하여, 이벤트 검출용의 검출축을 선택한다. 예를 들어, 선택부(34)는, 검출축으로서, 자장 발생부(10)가 이동하는 미리 정해진 제1 방향과 평행인 제1 축, 또는 제1 축과 직교하는 제2 축을 선택한다. 선택부(34)는, 자장 발생부(10)의 위치가 검출 가능 영역에 해당하도록 검출축을 선택한다. 구체적인 검출축의 선택 방법에 대해서는 후술한다.

산출부(36)는, 검출축에 있어서, 이벤트 발생 위치(Pe)에 따른 트리거 역치를 산출한다. 트리거 역치는, 선택된 검출축에 있어서, 이벤트 발생 위치(Pe)에서 자기 센서(20)가 검출하는 자속 밀도이다. 산출부(36)는, 산출한 트리거 역치를 출력부(24)에 출력한다.

출력부(24)는, 미리 정해진 트리거 역치를 검출하여 트리거 신호를 출력한다. 본 예의 출력부(24)는, 검출부(22)가 검출한 자장의 자속 밀도가 트리거 역치를 초과하거나 하회한 경우에, 트리거 신호를 생성한다. 출력부(24)는, 생성된 트리거 신호를 처리부(30)에 출력한다. 처리부(30)는, 트리거 신호의 수신에 따라, 미리 정해진 처리를 실행해도 된다.

도 2a는, 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)의 배치 방법의 일례를 도시한다. 본 도면은, Y축 방향의 시점의 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)를 도시한다.

본 예의 자장 발생부(10)는, X축 방향으로 배열된 N극 및 S극을 갖는다. X축 방향은, 제1 방향의 일례이다. 단, 자장 발생부(10)는, X축 방향에 한하지 않고, Y축 방향, Z축 방향 또는 그 밖의 방향으로 이동해도 된다. 본 예의 자장 발생부(10)는, N극보다 X축 방향의 마이너스측에 S극을 갖지만, 이것에 한정되지 않는다. Z축 방향에 있어서의 자장 발생부(10)와 자기 센서(20)의 거리는, 자기 센서(20)가 자장 발생부(10)의 자장을 검출할 수 있는 거리라면 특별히 한정되지 않는다.

본 예에서는, 자장 발생부(10)의 자석의 형상이 직육면체이지만, 원주 등의 다른 형상이어도 된다. 자석의 재료는, 네오디뮴 또는 페라이트 등의 임의의 재료여도 된다. 일례에 있어서, 이벤트 검출 시스템(100)이 롤러블폰에 탑재되는 경우, 자장 발생부(10)가 디스플레이측에 탑재되고, 자기 센서(20)가 하우징측에 탑재되며, 디스플레이의 신축을 따라 자장 발생부(10)와 자기 센서(20)의 상대적인 위치 관계가 변화한다.

또한, 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)의 상대적인 위치 관계가 변화하면, 자기 센서(20)가 이동해도 되고, 자장 발생부(10)와 자기 센서(20)의 양쪽이 이동해도 된다. 일례에 있어서, 이벤트 검출 시스템(100)이 롤러블폰에 탑재되는 경우, 자장 발생부(10)가 디스플레이측에 탑재되고, 자기 센서(20)가 하우징측에 탑재되며, 디스플레이의 신축을 따라 자장 발생부(10)와 자기 센서(20)의 상대적인 위치 관계가 변화한다.

도 2b는, 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)의 배치 방법의 일례를 도시한다. 본 도면은, Z축 방향의 시점의 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)를 도시한다. 즉, 본 예의 시점은, 도 2a에 대하여 90도 회전한 위치로부터의 시점을 나타내고 있다.

자장 발생부(10)는, XY 평면에 있어서, 자기 센서(20)를 가로지르도록 이동하고 있다. 자장 발생부(10)가 자기 센서(20)를 가로지른다는 것은, XY 평면에 있어서, 자장 발생부(10)와 자기 센서(20)의 일부가 겹치는 것을 가리킨다. 환언하면, 자장 발생부(10)는, 자기 센서(20) 상을 통과하도록 이동해도 된다. 또한, 자장 발생부(10)는, YZ 평면에 있어서, 자기 센서(20)를 가로지르도록 이동해도 된다. 자장 발생부(10)가 미리 정해진 평면에 있어서 자기 센서(20)를 가로지름으로써, 자장 발생부(10)의 이동에 따른 자속 밀도의 변화를 검출하기 쉬워져, 트리거 역치의 판정이 용이하게 된다.

또한, 본 예의 자장 발생부(10)는, X축 방향과 평행으로 이동하고 있지만, XY 평면에 있어서 X축에 대하여 비스듬하게 이동해도 된다. 이와 같이, 자장 발생부(10)는, XY 평면에 있어서, 자기 센서(20)를 가로지르도록 배치되는 경우에 한정되지 않아, 하우징 설계의 자유도를 높일 수 있다.

본 예에서는, 자장 발생부(10)가 직선 상을 이동하는 경우에 대하여 나타내었지만, 이것에 한정되지 않는다. 즉, 자장 발생부(10)는, 곡선 상을 이동해도 되고, 그 밖의 임의의 궤적을 그리고 이동해도 된다. 자장 발생부(10)는, 미리 정해진 원주 상을 회전해도 된다.

도 2c는, 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)의 배치 방법의 일례를 도시한다. 본 도면은, Z축 방향의 시점의 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)를 도시한다. 본 도면은, 자장 발생부(10)가 원주 상을 이동하는 경우를 도시한 상면도이다. 도 2c에서는, 자장 발생부(10)가, XY 평면에 있어서, 자기 센서(20)를 가로지르도록 이동하고 있다. 자장 발생부(10)가 자기 센서(20)를 가로지른다는 것은, XY 평면에 있어서, 자장 발생부(10)와 자기 센서(20)의 일부가 겹치는 것을 가리킨다. 환언하면, 자장 발생부(10)는, 자기 센서(20) 상을 통과하도록 이동해도 된다. 또한, 자장 발생부(10)는, 자기 센서(20) 상을 통과하지 않아도 된다.

예를 들어, 절첩이 가능한 스마트폰(예를 들어, 폴더블폰)의 절첩에 따라 자장 발생부(10)가 이동해도 되고, 스마트 워치의 베젤의 회전에 따라 자장 발생부(10)가 이동해도 된다. 폴더블폰의 경우, 편면에 자장 발생부(10)가 마련되고, 다른 편면에 자기 센서(20)가 마련되며, 개폐에 따라 자장 발생부(10)가 곡선 상을 이동해도 된다. 스마트 워치의 경우, 본체측에 자기 센서(20)가 마련되고, 베젤측에 자장 발생부(10)가 마련되며, 베젤의 회전 구동에 따라 자장 발생부(10)가 원주 상을 회전해도 된다.

도 3a는, 자장 발생부(10)가 기준 위치(P0)에 배치되어 있는 상태를 도시한다. 본 예의 자장 발생부(10)는, N극과 S극의 경계가 자기 센서(20)의 상방에 위치하도록 배치되어 있다. 본 예에 있어서는, Z축 방향의 자속 밀도 Bz보다, X축 방향의 자속 밀도 Bx가 커진다. 단, 기준 위치(P0)에 있어서 자기 센서(20)가 검출하는 자속 밀도는 이것에 한정되지 않는다.

도 3b는, 자장 발생부(10)가 이벤트 발생 위치(Pe)에 배치되어 있는 상태를 도시한다. 즉, 이벤트 검출 시스템(100)은, 자장 발생부(10)가 본 도면의 위치에 배치된 경우에, 미리 정해진 처리를 실행한다. 본 예의 자장 발생부(10)는, 도 3a의 기준 위치(P0)보다 X축 방향의 플러스측으로 이동하고 있다. 이 경우, 도 3a에 있어서 자장 발생부(10)가 기준 위치(P0)에 존재하는 경우보다, Z축 방향의 자속 밀도 Bz의 성분이 커진다. 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)의 상대적인 위치 관계와, 자장 발생부(10)의 이동 방향은, 자기 센서(20)에 의해 트리거 역치를 검출할 수 있는 것이면, 본 예에 한정되지 않는다.

도 3c는, 자장 발생부(10)의 위치에 따른 자장 파형을 도시한다. 횡축은 자장 발생부(10)의 X축 방향에 있어서의 위치를 나타내고, 종축은 Z축 방향의 자속 밀도 Bz를 나타낸다. 자장 발생부(10)의 이동에 따라, 자기 센서(20)로 측정하는 자속 밀도 Bz의 크기가 변화한다. 자속 밀도 Bz_0은, 자장 발생부(10)가 기준 위치(P0)에 배치된 상태에서 자기 센서(20)가 검출하는 자속 밀도이다. 자속 밀도 Bz_1은, 자장 발생부(10)가 기준 위치(P0)보다 X축 방향의 플러스측에 배치된 상태에서 자기 센서(20)가 검출하는 자속 밀도이다.

자속 밀도 Bthz는, 자장 발생부(10)가 이벤트 발생 위치(Pe)에 배치된 상태에서 자기 센서(20)가 검출하는 자속 밀도이다. 본 예의 이벤트 검출 시스템(100)은, 자기 센서(20)가 자속 밀도 Bthz를 초과한 경우에, 트리거 신호를 생성한다. 또한, 본 예에서는, 설명을 위해 1축의 검출축을 사용하는 경우에 대하여 설명하였지만, 2축 이상의 검출축을 사용하여 이벤트를 검출해도 된다.

도 3d는, 도 3c의 자장 파형에 대응하는 자속 밀도와 트리거 신호의 변화를 도시한다. 본 예에서는, 시각 T0부터 시각 T1까지, 자장 발생부(10)가 기준 위치(P0)에서 정지해 있어, 자속 밀도 Bz의 변동이 없다.

시각 T1에 있어서, 자장 발생부(10)가 기준 위치(P0)로부터 이동을 개시하여, 자속 밀도가 Bz_0으로부터 점차 증가한다. 시각 T2에 있어서, 자속 밀도 Bthz를 초과한 경우에 자기 센서(20)로부터 트리거 신호가 생성된다. 그 후, 자장 발생부(10)는, 시각 T3에서 자속 밀도 Bz_1에 따른 위치까지 이동하여 정지하고 있다. 시각 T4에 있어서, 자장 발생부(10)는, 기준 위치(P0)로의 이동을 개시하여, 시각 T5에 있어서 자속 밀도 Bthz를 하회한 경우에 트리거 신호의 생성을 정지하고 있다. 이와 같이, 본 예의 이벤트 검출 시스템(100)은, 자기 센서(20)의 내부의 역치 판정에 기초하여 트리거 신호를 생성하고 있다.

이하에서는, 2축 자장을 사용한 역치 판정 방법의 일례에 대하여 설명한다.

도 4a는, 2축 자장을 사용한 역치 판정 방법의 일례를 도시한다. 본 예에 있어서는, 도 2a 및 도 2b에 도시하는 바와 같이, 자장 발생부(10)는, XY 평면에 있어서, 자기 센서(20)를 가로지르도록 이동하고 있다. 본 예의 이벤트 검출 시스템(100)은, X축 방향의 자속 밀도 Bx와, Z축 방향의 자속 밀도 Bz를 선택적으로 사용하고 있다. 그러나, 이벤트 발생 위치(Pe)는, Z축 방향의 자속 밀도 Bz의 변곡점 부근에 대응하고 있고, Z축을 검출축으로 하면 정확하게 이벤트 발생 위치(Pe)를 검출할 수 없다. 그 때문에, 본 예의 이벤트 검출 시스템(100)은, 이벤트 발생 위치(Pe)에 있어서, 선형적인 변화를 하고 있는 자속 밀도 Bx를 사용하여 이벤트 발생 위치(Pe)를 검출하고 있다. 본 예의 이벤트 검출 시스템(100)은, 2축 이상의 측정 데이터를 사용하여 역치 판정을 행함으로써, 이벤트 검지 가능 영역을 확장할 수 있다.

본 실시 형태에 있어서는, 자장 발생부(10)가, XY 평면에 있어서, 자기 센서(20)를 가로지르지 않도록 이동하는 경우에도, 이벤트 검출할 수 있다.

도 4b는, 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)의 배치 방법의 일례를 도시한다. 본 도면은, Z축 방향의 시점의 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)를 도시한다. 본 예의 자장 발생부(10)는, XY 평면에 있어서, 자기 센서(20)를 가로지르지 않고, 자기 센서(20)로부터 Y축 방향으로 어긋난 위치를 이동하고 있다. 도 4b에 있어서는, Y축 방향으로의 이동량 y는 정의 값이다. 즉, 자장 발생부(10)는 Y축 방향의 정의 방향으로 y만큼 이동하고 있지만, 이것에 한정되지 않는다.

도 4c는, 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)의 배치 방법의 일례를 도시한다. 본 도면은, Z축 방향의 시점의 자장 발생부(10) 및 자기 센서(20)를 도시한다. 본 예의 자장 발생부(10)는, XY 평면에 있어서, 자기 센서(20)를 가로지르지 않고, 자기 센서(20)로부터 Y축 방향으로 어긋난 위치를 이동하고 있다. 자장 발생부(10)는 XZ 평면 내를 X축 방향의 정의 방향으로 이동해도 되며, Y축 방향으로의 이동량 y는 부의 값이다. 즉, 자장 발생부(10)는, XY 평면 내에 있어서, Y축의 부의 방향으로 y만큼 이동해도 된다.

도 4d는, 자장 발생부(10)의 위치에 따른 자장 파형을 도시한다. 횡축은 자장 발생부(10)의 X축 방향에 있어서의 위치를 나타내고, 종축은 X축 방향의 자속 밀도 Bx 및 Z축 방향의 자속 밀도 Bz를 나타낸다. 자장 발생부(10)의 이동에 따라, 자기 센서(20)로 측정하는 자속 밀도 Bx 및 Bz의 크기가 변화한다.

도 2b와 같이 자장 발생부(10)가 자기 센서(20)를 가로지르도록 이동하는 경우의 자장 파형(Bx, Bz)을 파선으로, 도 4c와 같이 자장 발생부(10)가 자기 센서(20)로부터 Y축 방향으로 어긋난 위치를 이동하는 경우의 자장 파형(Bxoff, Bzoff)을 실선으로 나타내고 있다. 도 4c와 같은 경우, 자장 발생부(10)와 자기 센서(20) 사이의 거리가 도 2b의 경우보다 커지기 때문에, 자기 센서(20)로 검출되는 자속 밀도는 감소한다.

그러나, 도 4d에 도시한 바와 같이, XY 평면에 있어서, 자장 발생부(10)가 자기 센서(20)를 가로지르는 경우와, 자기 센서(20)로부터 Y축 방향으로 어긋난 위치를 이동하는 경우에 있어서, 자속 밀도의 피크를 부여하는 자장 발생부(10)의 X축 방향에 있어서의 위치는 크게 변화하지 않는다. 따라서, XY 평면에 있어서, 자장 발생부(10)가 자기 센서(20)를 가로지르지 않는 경우에 있어서도, 자기 센서(20)를 가로지르는 경우와 마찬가지의 이벤트 검출 방법을 적용할 수 있다.

여기서, 자기 센서(20)로 검출되는 자속 밀도의 강도는, 자장 발생부(10)의 Y축 방향으로의 이동량 y가 클수록 작아진다. 도시하고 있지 않지만, 도 4b의 경우에 자기 센서(20)로 검출되는 자속 밀도의 강도는, 도 4c의 경우에 자기 센서(20)로 검출되는 자속 밀도의 강도보다 작아진다.

따라서 자장 발생부(10)의 이동량 y는, 자기 센서(20)의 위치에 있어서의 자속 밀도가, 외부 자장 노이즈 등의 영향을 포함시켜, 이벤트 검출이 가능한 자속 밀도 사이즈를 고려하여 결정할 수 있다. 이와 같이 함으로써, 자장 발생부(10)와 자기 센서(20)의 배치 자유도가 높아지므로, 하우징 설계의 자유도를 높일 수 있다.

도 5는, 1축 자장을 사용한 역치 판정 방법의 비교예를 도시한다. 본 예에서는, 이벤트 발생 위치(Pe)가 Z축 방향의 자속 밀도 Bz의 변곡점 부근에 대응하고 있으므로, 이벤트 발생 위치(Pe) 부근에 있어서 자장 발생부의 위치를 정확하게 판단하는 것이 곤란하다. 그 때문에, 비교예의 역치 판정 방법에서는, 이벤트를 검지할 수 없는 검지 불가 영역(Ru)이 생겨 버린다. 그 때문에, 비교예의 방법에서는, 검지 가능한 이벤트 발생 위치(Pe)가 한정되어 버린다.

도 6은, 보다 구체적인 역치 판정 방법의 일례를 도시한다. 본 예의 이벤트 검출 시스템(100)은, X축 방향의 위치에 따라, 어느 것의 검출축을 선택하여 사용한다. 그래프의 실선은, 자장 발생부(10)의 위치를 검출 가능한 검출 가능 영역을 나타낸다. 그래프의 파선은, 자장 발생부(10)의 위치를 검출할 수 없는 검출 불가 영역을 나타낸다. 일례에 있어서, 검출 가능 영역은, 자속 밀도의 변곡점을 갖지 않고, 자장 발생부(10)의 이동에 따라, 단조롭게 증가하는 영역 또는 단조롭게 감소하는 영역이다. 검출 불가 영역은, 자속 밀도의 파형이 변곡점을 갖는 영역 또는 자장 발생부(10)의 이동에 따른 자속 밀도의 변화가 작은 영역이다.

선택부(34)는, 이벤트 발생 위치(Pe)가, X축에 있어서 자장 발생부(10)의 위치를 검출 가능한 검출 가능 영역에 속하는 경우에 X축을 선택한다. 한편, 선택부(34)는, 이벤트 발생 위치(Pe)가, X축의 검출 가능 영역에 속하지 않고, Z축의 검출 가능 영역에 속하는 경우에 Z축을 선택한다. 또한, 선택부(34)는, 기준 위치(P0) 및 이벤트 발생 위치(Pe)에 기초하여, 검출축을 선택해도 된다.

본 예의 이벤트 검출 시스템(100)은, 영역(R1), 영역(R2), 영역(R3), 영역(R1') 및 영역(R2')의 5개의 영역으로 나누어, 축을 선택하고 있다. 선택부(34)는, 영역(R1), 영역(R3) 및 영역(R1')에 있어서, Z축을 검출축으로 선택하고 있다. 선택부(34)는, 영역(R2) 및 영역(R2')에 있어서, X축을 검출축으로 선택하고 있다.

영역(R1)은, 시점과 경계 1 사이의 구간이며, 단조롭게 감소하는 자속 밀도 Bz를 사용하여 트리거 역치를 판정할 수 있다. 영역(R2)은, 경계 1과 경계 2 사이의 구간이며, 단조롭게 감소하는 자속 밀도 Bx를 사용하여 트리거 역치를 판정할 수 있다. 영역(R3)은, 경계 2와 경계 2' 사이의 구간이며, 단조롭게 증가하는 자속 밀도 Bz를 사용하여 트리거 역치를 판정할 수 있다. 영역(R2')은, 경계 2'와 경계 1' 사이의 구간이며, 단조롭게 증가하는 자속 밀도 Bx를 사용하여 트리거 역치를 판정한다. 영역(R1')은, 경계 1'와 종점 사이의 구간이며, 단조롭게 감소하는 자속 밀도 Bz를 사용하여 트리거 역치를 판정한다. 영역의 설정 방법에 대해서는, 이것에 한정되지 않는다.

이상과 같이, 이벤트 검출 시스템(100)은, 선택된 축의 자속 밀도가 변곡점을 갖지 않도록 각 영역을 설정하여, 검출축을 선택한다. 이에 의해, 이벤트 검출 시스템(100)은, 보다 넓은 범위에 있어서, 트리거 역치를 판정하여 트리거 신호를 생성할 수 있다.

본 실시 형태에서는, 각 검출축에 대하여 트리거 역치를 복수 설정할 수 있는 경우에 있어서, 자장 발생부(10)가 X축의 플러스 방향 또는 마이너스 방향으로 이동하였을 때의 이벤트 검출을 행할 수 있다. 또한, 본 실시 형태에서는, 각 검출축에 대하여 트리거 역치를 1개밖에 설정할 수 없는 경우에 있어서도, 이벤트 검출을 행할 수 있다.

예로서, 자장 발생부(10)가 기준 위치(P0)로부터 이동하였을 때의 이벤트를 검출하는 방법을 나타낸다. 이하에서는, 자장 발생부(10)가 X축의 플러스 방향 또는 마이너스 방향으로 이동하였을 때의 이벤트를 검출하는 방법에 대하여 설명하지만, 자장 발생부(10)의 이동 방향은 이것에 한정되지 않는다.

도 7a는, 자장 발생부(10)의 위치에 따른 자장 파형을 도시한다. 횡축은 자장 발생부(10)의 X축 방향에 있어서의 위치를 나타내고, 종축은 X축 방향의 자속 밀도 Bx 및 Z축 방향의 자속 밀도 Bz를 나타낸다. 기준 위치(P0)의 근처에서 자장 발생부(10)가 X축의 플러스 방향 또는 마이너스 방향으로 이동하였을 때, Bx와 Bz가 모두 변곡점을 포함하지 않는 경우, 기준 위치(P0)로부터 ±1mm 이동하였을 때의 이벤트 검출을 행할 수 있다.

예를 들어, 도 7a에 있어서 기준 위치(P0)가 2mm일 때, 플러스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe+)에 따른 트리거 역치는 Bx를 사용하여, 마이너스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe-)에 따른 트리거 역치는 Bz를 사용하여, 각각 이벤트 검출을 행함으로써, 각 검출축에 대하여 트리거 역치를 1개밖에 설정할 수 없는 경우에 있어서도, 이벤트 검출을 행할 수 있다.

그러나, 예를 들어 도 7a에 있어서 기준 위치(P0)가 0mm일 때, 기준 위치(P0)의 주변에 있어서 Bx의 변화가 작으므로, Bx를 사용한 이벤트 검출을 행할 수 없다. 이러한 경우라도, 자기 센서(20)가 자속 밀도의 제곱합 평방근 Bsum을 산출하는 것이 가능하면, 이벤트 검출을 행할 수 있다. 즉, 제곱합 평방근 Bsum을 사용하여, 이벤트 발생 위치(Pe)에 따른 트리거 역치를 산출함으로써, 이벤트 검출을 행할 수 있다. 자속 밀도의 제곱합 평방근 Bsum은 이하의 수 1에 나타내는 식으로 나타낼 수 있다.

도 7b는, 자장 발생부(10)의 위치에 따른 자장 파형을 도시한다. 횡축은 자장 발생부(10)의 X축 방향에 있어서의 위치를 나타내고, 종축은 X축 방향의 자속 밀도 Bx, Z축 방향의 자속 밀도 Bz 및 자속 밀도의 제곱합 평방근 Bsum을 나타낸다. 예를 들어, 기준 위치(P0)가 0mm인 경우, 좌우 대칭의 형상을 하고 있는 Bsum을 사용함으로써, 기준 위치(P0)로부터 ±1mm 이동하였을 때의 이벤트 검출을 행할 수 있다.

도 7c는, 자장 발생부(10)의 위치에 따른 자장 파형을 도시한다. 도 7c에 있어서, 기준 위치(P0)는 도 7b와 마찬가지로 0mm이다. 도 7c에 있어서는, 플러스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe+)에 따른 트리거 역치는 Bz를 사용하여, 마이너스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe-)에 따른 트리거 역치는 Bsum을 사용하여, 각각 이벤트 검출을 행하고 있다. 이에 의해, 각 검출축에 대하여 트리거 역치를 1개밖에 설정할 수 없는 경우에 있어서도, 이벤트 검출을 행할 수 있다.

도 7d는, 각각 기준 위치(P0)가 1mm인 경우를 나타낸 도면이다. 도 7d에 있어서는, 플러스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe+)에 따른 트리거 역치는 Bsum을 사용하여, 마이너스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe-)에 따른 트리거 역치는 Bz를 사용하여, 각각 이벤트 검출을 행함으로써, 각 검출축에 대하여 트리거 역치를 1개밖에 설정할 수 없는 경우에 있어서도, 이벤트 검출을 행할 수 있다.

도 7e는, 기준 위치(P0)가 -1mm인 경우를 나타낸 도면이다. 도 7e에 있어서는, 플러스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe+)에 따른 트리거 역치는 Bz를 사용하여, 마이너스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe-)에 따른 트리거 역치는 Bsum을 사용하여, 각각 이벤트 검출을 행함으로써, 각 검출축에 대하여 트리거 역치를 1개밖에 설정할 수 없는 경우에 있어서도, 이벤트 검출을 행할 수 있다.

이상과 같이, 이벤트 검출 시스템(100)은, 자속 밀도의 제곱합 평방근 Bsum을 사용함으로써, 양방향의 이벤트 검출이 가능하게 된다. 이에 의해, 이벤트 검출 시스템(100)은, 선택된 검출축에 대하여 트리거 역치를 1개밖에 설정할 수 없는 경우에 있어서도, 트리거 역치를 판정하여 트리거 신호를 생성할 수 있다.

또한, 본 실시 형태에서는, 각 검출축에 대하여 트리거 역치를 1개밖에 설정할 수 없는 경우에 있어서, 자기 센서(20)가 자속 밀도의 제곱합 평방근 Bsum을 산출할 수 없는 경우라도, 이벤트 검출을 행할 수 있다.

도 8a는, 도 4c에서 도시한 바와 같이, 자장 발생부(10)가 자기 센서(20)를 가로지르지 않는 경우에 있어서의, 자장 발생부(10)의 위치에 따른 자장 파형을 도시한다. 횡축은 자장 발생부(10)의 X축 방향에 있어서의 위치를 나타내고, 종축은 X축 방향의 자속 밀도 Bx, Y축 방향의 자속 밀도 By 및 Z축 방향의 자속 밀도 Bz를 나타낸다. 기준 위치(P0)의 근처에서 자장 발생부(10)가 X축의 플러스 방향 또는 마이너스 방향으로 이동하였을 때, Bx와 Bz가 모두 변곡점을 포함하지 않는 경우, 기준 위치(P0)로부터 ±1mm 이동하였을 때의 이벤트 검출을 행할 수 있다.

예를 들어, 도 8a에 있어서 기준 위치(P0)가 2mm일 때, 플러스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe+)에 따른 트리거 역치는 Bx를 사용하여, 마이너스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe-)에 따른 트리거 역치는 Bz를 사용하여, 각각 이벤트 검출을 행함으로써, 각 검출축에 대하여 트리거 역치를 1개밖에 설정할 수 없는 경우에 있어서도, 이벤트 검출을 행할 수 있다.

그러나, 예를 들어 도 8a에 있어서 기준 위치(P0)가 0mm일 때, 기준 위치(P0)의 주변에 있어서 Bx의 변화가 작으므로, Bx를 사용한 이벤트 검출을 행할 수 없다. 이러한 경우라도, Y축을 검출축으로서 선택하고, By를 사용함으로써, 이벤트 검출을 행할 수 있다.

도 8b는, 기준 위치(P0)가 0mm인 경우를 나타낸 도면이다. 본 실시예에서는, 플러스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe+)에 따른 트리거 역치는 Bz를 사용하여, 마이너스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe-)에 따른 트리거 역치는 By를 사용하여, 각각 이벤트 검출을 행함으로써, 각 검출축에 대하여 트리거 역치를 1개밖에 설정할 수 없는 경우에 있어서도, 이벤트 검출을 행할 수 있는 것을 나타내고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 즉, 플러스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe+)에 따른 트리거 역치는 By를 사용하여, 마이너스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe-)에 따른 트리거 역치는 Bz를 사용하여, 각각 이벤트 검출을 행하는 것이 가능하다.

도 8c는, 기준 위치(P0)가 1mm인 경우를 나타낸 도면이다. 본 실시예에서는, 플러스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe+)에 따른 트리거 역치는 Bz를 사용하여, 마이너스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe-)에 따른 트리거 역치는 By를 사용하여, 각각 이벤트 검출을 행함으로써, 각 검출축에 대하여 트리거 역치를 1개밖에 설정할 수 없는 경우에 있어서도, 이벤트 검출을 행할 수 있는 것을 나타내고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 즉, 플러스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe+)에 따른 트리거 역치는 By를 사용하여, 마이너스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe-)에 따른 트리거 역치는 Bz를 사용하여, 각각 이벤트 검출을 행하는 것이 가능하다.

도 8d는, 기준 위치(P0)가 -1mm인 경우를 나타낸 도면이다. 본 실시예에서는, 플러스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe+)에 따른 트리거 역치는 Bz를 사용하여, 마이너스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe-)에 따른 트리거 역치는 By를 사용하여, 각각 이벤트 검출을 행함으로써, 각 검출축에 대하여 트리거 역치를 1개밖에 설정할 수 없는 경우에 있어서도, 이벤트 검출을 행할 수 있는 것을 나타내고 있지만, 이것에 한정되지 않는다. 즉, 플러스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe+)에 따른 트리거 역치는 By를 사용하여, 마이너스측으로 이동한 경우의 이벤트 발생 위치(Pe-)에 따른 트리거 역치는 Bz를 사용하여, 각각 이벤트 검출을 행하는 것이 가능하다.

도 9는, 이벤트 검출 시스템(100)의 동작 플로의 일례를 도시한다. 본 예에서는, 처리부(30)가 대기 상태로 이행한 후에, 미리 정해진 이벤트를 검출하여, 처리부(30)를 기동시키기 위한 트리거 신호를 생성하는 방법을 나타낸다.

스텝 S300 내지 스텝 S314는 처리부(30)에서 실행되고, 스텝 S200 내지 스텝 S206은 자기 센서(20)에서 실행되어도 된다. 스텝 S300에 있어서, 처리부(30)가 기동 상태로 설정되어 있다. 스텝 S302에 있어서, 자장 발생부(10)의 기준 위치(P0)의 측정 데이터를 취득하기 위해, 자기 센서(20)에 측정 데이터의 판독을 리퀘스트한다. 이에 의해, 처리부(30)는, 자기 센서(20)로부터 기준 위치(P0)에 있어서의 측정 데이터(Bx, By, Bz)를 취득한다. 자장 발생부(10)의 기준 위치(P0)는, 특별히 한정되지 않는다.

스텝 S304에 있어서, 처리부(30)는, 취득한 측정 데이터로부터, 자장 발생부(10)의 기준 위치(P0)의 영역을 판정한다. 예를 들어, 처리부(30)는, 미리 작성한 데이터 테이블 또는 함수 피팅을 사용하여, 자장 발생부(10)의 기준 위치(P0)를 산출한다.

스텝 S306에 있어서, 처리부(30)는, 이벤트 발생 위치(Pe)의 영역을 판정한다. 처리부(30)는, 미리 설정된 이벤트 발생 위치(Pe)를 기억하고 있어도 된다. 처리부(30)는, 자장 발생부(10)가 이벤트 발생 위치(Pe)에 위치하는 경우의 측정 데이터로부터 이벤트 발생 위치(Pe)의 영역을 판정해도 된다. 스텝 S308에 있어서, 처리부(30)는, 이벤트 발생 위치(Pe)에 기초하여 트리거 역치를 산출한다. 처리부(30)는, 미리 작성한 데이터 테이블 또는 함수 피팅을 사용하여, 트리거 역치를 산출해도 된다.

스텝 S310에 있어서, 처리부(30)는, 산출한 트리거 역치를 자기 센서(20)에 기입한다. 이에 의해, 스텝 S202에 있어서, 사용할 검출축과 트리거 역치가 자기 센서(20)에 설정된다. 자기 센서(20)는, 트리거 역치의 판정에 필요가 없는 축에 대해서는, 사용하지 않고 자속 밀도를 검출하지 않아도 된다. 자기 센서(20)는, 자장을 측정하여, 설정된 트리거 역치를 초과하거나, 하회한 경우에 트리거 신호를 처리부(30)에 출력한다(스텝 S204, 스텝 S206). 그리고, 처리부(30)는, 트리거 신호를 수신함으로써 기동 상태가 된다(스텝 S314).

도 10은, 이벤트 검출 시스템(100)의 구성의 일례를 도시한다. 본 예의 이벤트 검출 시스템(100)은, 복수의 자기 센서(20)를 구비하는 점에서 도 2a의 실시예와 상이하다. 본 예의 이벤트 검출 시스템(100)은, 자기 센서(20a) 및 자기 센서(20b)의 2개의 자기 센서(20)를 구비한다.

자기 센서(20a) 및 자기 센서(20b)는, 자장 발생부(10)의 이동 방향인 X축 방향에 배치되어 있다. 자기 센서(20a) 및 자기 센서(20b)는, 동일한 종류의 자기 센서여도 되고, 다른 종류의 자기 센서여도 된다. 자기 센서(20b)는, 자기 센서(20a)의 이벤트 검지 가능 영역과 겹쳐 있어도 되고, 겹치지 않아도 된다.

이벤트 검출 시스템(100)은, 복수의 자기 센서(20)를 마련함으로써, 이벤트 검지 가능 영역을 더 확장할 수 있다. 처리부(30)는, 자기 센서(20)가 1개인 경우에 검출축을 결정하는 처리와 마찬가지의 처리에 의해, 사용할 자기 센서(20)를 선택하고, 선택된 자기 센서(20) 중에서 검출축을 결정해도 된다. 이에 의해, 이벤트 검출 시스템(100)은, 이벤트 발생 위치(Pe)에 따라, 최적의 자기 센서(20)에서 최적의 검출축을 사용할 수 있다.

도 11은, 본 발명의 복수의 양태가 전체적 또는 부분적으로 구현화되어도 되는 컴퓨터(2200)의 예를 도시한다. 컴퓨터(2200)에 인스톨된 프로그램은, 컴퓨터(2200)에, 본 발명의 실시 형태에 관한 장치에 관련지어지는 조작 또는 당해 장치의 하나 또는 복수의 섹션으로서 기능시킬 수 있고, 또는 당해 조작 또는 당해 하나 또는 복수의 섹션을 실행시킬 수 있고, 및/또는 컴퓨터(2200)에, 본 발명의 실시 형태에 관한 프로세스 또는 당해 프로세스의 단계를 실행시킬 수 있다. 그러한 프로그램은, 컴퓨터(2200)에, 본 명세서에 기재된 흐름도 및 블록도의 블록 중 몇 개 또는 전부에 관련지어진 특정의 조작을 실행시키기 위해, CPU(2212)에 의해 실행되어도 된다.

본 실시 형태에 따른 컴퓨터(2200)는, CPU(2212), RAM(2214), 그래픽 컨트롤러(2216) 및 디스플레이 디바이스(2218)를 포함하고, 그것들은 호스트 컨트롤러(2210)에 의해 서로 접속되어 있다. 컴퓨터(2200)는 또한, 통신 인터페이스(2222), 하드 디스크 드라이브(2224), DVD-ROM 드라이브(2226) 및 IC 카드 드라이브와 같은 입/출력 유닛을 포함하고, 그것들은 입/출력 컨트롤러(2220)를 통하여 호스트 컨트롤러(2210)에 접속되어 있다. 컴퓨터는 또한, ROM(2230) 및 키보드(2242)와 같은 레거시의 입/출력 유닛을 포함하고, 그것들은 입/출력 칩(2240)을 통하여 입/출력 컨트롤러(2220)에 접속되어 있다.

CPU(2212)는, ROM(2230) 및 RAM(2214) 내에 저장된 프로그램에 따라 동작하고, 그에 의해 각 유닛을 제어한다. 그래픽 컨트롤러(2216)는, RAM(2214) 내에 제공되는 프레임 버퍼 등 또는 그 자체 중에 CPU(2212)에 의해 생성된 이미지 데이터를 취득하고, 이미지 데이터가 디스플레이 디바이스(2218) 상에 표시되도록 한다.

통신 인터페이스(2222)는, 네트워크를 통하여 다른 전자 디바이스와 통신한다. 하드 디스크 드라이브(2224)는, 컴퓨터(2200) 내의 CPU(2212)에 의해 사용되는 프로그램 및 데이터를 저장한다. DVD-ROM 드라이브(2226)는, 프로그램 또는 데이터를 DVD-ROM(2201)으로부터 판독하고, 하드 디스크 드라이브(2224)에 RAM(2214)을 통하여 프로그램 또는 데이터를 제공한다. IC 카드 드라이브는, 프로그램 및 데이터를 IC 카드로부터 판독하고, 및/또는 프로그램 및 데이터를 IC 카드에 기입한다.

ROM(2230)은 그 안에, 액티브화 시에 컴퓨터(2200)에 의해 실행되는 부트 프로그램 등, 및/또는 컴퓨터(2200)의 하드웨어에 의존하는 프로그램을 저장한다. 입/출력 칩(2240)은 또한, 여러 가지의 입/출력 유닛을 패러렐 포트, 시리얼 포트, 키보드 포트, 마우스 포트 등을 통하여 입/출력 컨트롤러(2220)에 접속해도 된다.

프로그램이, DVD-ROM(2201) 또는 IC 카드와 같은 컴퓨터 가독 매체에 의해 제공된다. 프로그램은, 컴퓨터 가독 매체로부터 판독되고, 컴퓨터 가독 매체의 예이기도 한 하드 디스크 드라이브(2224), RAM(2214) 또는 ROM(2230)에 인스톨되어, CPU(2212)에 의해 실행된다. 이들 프로그램 내에 기술되는 정보 처리는, 컴퓨터(2200)에 판독되어, 프로그램과, 상기 여러 가지 타입의 하드웨어 리소스 사이의 연계를 가져온다. 장치 또는 방법이, 컴퓨터(2200)의 사용에 따라 정보의 조작 또는 처리를 실현함으로써 구성되어도 된다.

예를 들어, 통신이 컴퓨터(2200) 및 외부 디바이스간에서 실행되는 경우, CPU(2212)는, RAM(2214)에 로드된 통신 프로그램을 실행하고, 통신 프로그램에 기술된 처리에 기초하여, 통신 인터페이스(2222)에 대하여, 통신 처리를 명령해도 된다. 통신 인터페이스(2222)는, CPU(2212)의 제어 하에, RAM(2214), 하드 디스크 드라이브(2224), DVD-ROM(2201), 또는 IC 카드와 같은 기록 매체 내에 제공되는 송신 버퍼 처리 영역에 저장된 송신 데이터를 판독하고, 판독된 송신 데이터를 네트워크에 송신하거나, 또는 네트워크로부터 수신된 수신 데이터를 기록 매체 상에 제공되는 수신 버퍼 처리 영역 등에 기입한다.

또한, CPU(2212)는, 하드 디스크 드라이브(2224), DVD-ROM 드라이브(2226)(DVD-ROM(2201)), IC 카드 등과 같은 외부 기록 매체에 저장된 파일 또는 데이터베이스의 전부 또는 필요한 부분이 RAM(2214)에 판독되도록 하여, RAM(2214) 상의 데이터에 대하여 여러 가지 타입의 처리를 실행해도 된다. CPU(2212)는 다음에, 처리된 데이터를 외부 기록 매체에 라이트백한다.

여러 가지 타입의 프로그램, 데이터, 테이블 및 데이터베이스와 같은 여러 가지 타입의 정보가 기록 매체에 저장되어, 정보 처리를 받아도 된다. CPU(2212)는, RAM(2214)으로부터 판독된 데이터에 대하여, 본 개시의 곳곳에 기재되며, 프로그램의 명령 시퀀스에 의해 지정되는 여러 가지 타입의 조작, 정보 처리, 조건 판단, 조건 분기, 무조건 분기, 정보의 검색/치환 등을 포함하는, 여러 가지 타입의 처리를 실행해도 되고, 결과를 RAM(2214)에 대하여 라이트백한다. 또한, CPU(2212)는, 기록 매체 내의 파일, 데이터베이스 등에 있어서의 정보를 검색해도 된다. 예를 들어, 각각이 제2 속성의 속성값에 관련지어진 제1 속성의 속성값을 갖는 복수의 엔트리가 기록 매체 내에 저장되는 경우, CPU(2212)는, 제1 속성의 속성값이 지정되는, 조건에 일치하는 엔트리를 당해 복수의 엔트리 중에서 검색하고, 당해 엔트리 내에 저장된 제2 속성의 속성값을 판독하여, 그에 의해 미리 정해진 조건을 충족하는 제1 속성에 관련지어진 제2 속성의 속성값을 취득해도 된다.

상기에서 설명한 프로그램 또는 소프트웨어 모듈은, 컴퓨터(2200) 상 또는 컴퓨터(2200) 근방의 컴퓨터 가독 매체에 저장되어도 된다. 또한, 전용 통신 네트워크 또는 인터넷에 접속된 서버 시스템 내에 제공되는 하드 디스크 또는 RAM과 같은 기록 매체가, 컴퓨터 가독 매체로서 사용 가능하며, 그에 의해 프로그램을, 네트워크를 통하여 컴퓨터(2200)에 제공한다.

이상, 본 발명을 실시 형태를 사용하여 설명하였지만, 본 발명의 기술적 범위는 상기 실시 형태에 기재된 범위에 한정되지 않는다. 상기 실시 형태에, 다양한 변경 또는 개량을 추가하는 것이 가능한 것이 당업자에게 명확하다. 그러한 변경 또는 개량을 추가한 형태도 본 발명의 기술적 범위에 포함될 수 있는 것이, 특허청구의 범위의 기재로부터 명확하다.

특허청구의 범위, 명세서 및 도면 중에 있어서 나타낸 장치, 시스템, 프로그램 및 방법에 있어서의 동작, 수순, 스텝 및 단계 등의 각 처리의 실행 순서는, 특별히 「보다 전에」, 「앞서」 등으로 명시하지 않으며, 또한 전의 처리의 출력을 후의 처리에서 사용하는 것이 아닌 한, 임의의 순서로 실현할 수 있는 것에 유의해야 한다. 특허청구의 범위, 명세서 및 도면 중의 동작 플로에 관하여, 편의상 「우선」, 「다음에」 등을 사용하여 설명하였다고 해도, 이 순으로 실시하는 것이 필수적인 것을 의미하는 것은 아니다.

10: 자장 발생부
20: 자기 센서
22: 검출부
24: 출력부
30: 처리부
32: 취득부
34: 선택부
36: 산출부
100: 이벤트 검출 시스템
2200: 컴퓨터
2201: DVD-ROM
2210: 호스트 컨트롤러
2212: CPU
2214: RAM
2216: 그래픽 컨트롤러
2218: 디스플레이 디바이스
2220: 입/출력 컨트롤러
2222: 통신 인터페이스
2224: 하드 디스크 드라이브
2226: DVD-ROM 드라이브
2230: ROM
2240: 입/출력 칩
2242: 키보드

Claims (16)

1. 미리 정해진 자장 발생부에 의해 발생한 2축 이상의 자장을 자기 센서로 검출함으로써, 상기 자장 발생부의 위치에 따른 이벤트를 검출하는 이벤트 검출 방법으로서,
   상기 자기 센서로 검출한 자장에 기초하여, 이벤트 발생 위치를 취득하는 단계와,
   상기 이벤트 발생 위치에 기초하여, 이벤트 검출용의 검출축을 선택하는 단계와,
   상기 검출축에 있어서, 상기 이벤트 발생 위치에 따른 트리거 역치를 산출하는 단계와,
   상기 자기 센서로 검출된 자장과, 상기 트리거 역치가 미리 정해진 조건을 충족하는 것을 나타내는 트리거 신호를 취득하는 단계
   를 구비하는, 이벤트 검출 방법.
2. 제1항에 있어서, 상기 자장 발생부를 미리 정해진 제1 방향으로 이동시키는 단계와,
   상기 검출축으로서, 상기 제1 방향과 평행인 제1 축, 또는 상기 제1 축과 직교하는 제2 축을 선택하는 단계
   를 구비하는, 이벤트 검출 방법.
3. 제2항에 있어서, 상기 자장 발생부를 미리 정해진 제1 방향으로 이동시키는 단계는, 상기 제1 축 또는 상기 제2 축에 있어서, 상기 자장 발생부가 상기 자기 센서 상을 통과하도록 이동시키는 단계를 포함하는,
   이벤트 검출 방법.
4. 제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 검출축을 선택하는 단계는,
   상기 이벤트 발생 위치가, 상기 제1 축에 있어서 상기 자장 발생부의 위치를 검출 가능한 검출 가능 영역에 속하는 경우에 상기 제1 축을 선택하고,
   상기 이벤트 발생 위치가, 상기 제1 축의 검출 가능 영역에 속하지 않고, 상기 제2 축의 검출 가능 영역에 속하는 경우에 상기 제2 축을 선택하는 단계를 포함하는,
   이벤트 검출 방법.
5. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 자장 발생부의 기준 위치를 취득하는 단계와,
   상기 기준 위치 및 상기 이벤트 발생 위치에 기초하여, 상기 검출축을 선택하는 단계
   를 구비하는, 이벤트 검출 방법.
6. 제4항에 있어서, 상기 자장 발생부의 기준 위치를 취득하는 단계와,
   상기 기준 위치 및 상기 이벤트 발생 위치에 기초하여, 상기 검출축을 선택하는 단계
   를 구비하는, 이벤트 검출 방법.
7. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 자기 센서에 의해 검출되는 자장의 제곱합 평방근을 산출하는 단계와,
   상기 제곱합 평방근을 사용하여, 상기 이벤트 발생 위치에 따른 트리거 역치를 산출하는 단계
   를 구비하는, 이벤트 검출 방법.
8. 미리 정해진 자장을 발생하는 자장 발생부와,
   상기 자장 발생부가 발생한 자장을 검출하기 위한 자기 센서와,
   상기 자기 센서가 검출한 신호를 처리하는 처리부
   를 구비하고,
   상기 처리부는,
   상기 자기 센서로 검출한 자장에 기초하여, 이벤트 발생 위치를 취득하는 취득부와,
   상기 이벤트 발생 위치에 기초하여, 이벤트 검출용의 검출축을 선택하는 선택부와,
   상기 검출축에 있어서, 상기 이벤트 발생 위치에 따른 트리거 역치를 산출하는 산출부를 갖고,
   상기 자기 센서로 검출된 자장과, 상기 트리거 역치가 미리 정해진 조건을 충족하는 것을 나타내는 트리거 신호를 출력하는 출력부를 갖는,
   이벤트 검출 시스템.
9. 제8항에 있어서, 상기 선택부는, 상기 검출축으로서, 상기 자장 발생부가 이동하는 미리 정해진 제1 방향과 평행인 제1 축, 또는 상기 제1 축과 직교하는 제2 축을 선택하는,
   이벤트 검출 시스템.
10. 제9항에 있어서, 상기 자장 발생부는, 상기 제1 방향으로 배열된 N극 및 S극을 갖는,
    이벤트 검출 시스템.
11. 제9항 또는 제10항에 있어서, 상기 제1 방향에 배치된 복수의 자기 센서를 구비하는,
    이벤트 검출 시스템.
12. 제8항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 자기 센서는, 2축 이상의 자장을 검출 가능한 다축 자기 센서인,
    이벤트 검출 시스템.
13. 제11항에 있어서, 상기 자기 센서는, 2축 이상의 자장을 검출 가능한 다축 자기 센서인,
    이벤트 검출 시스템.
14. 제8항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 처리부는, 상기 자기 센서에 의해 검출되는 자장의 제곱합 평방근을 산출하고,
    상기 제곱합 평방근을 사용하여, 상기 이벤트 발생 위치에 따른 트리거 역치를 산출하는,
    이벤트 검출 시스템.
15. 제13항에 있어서, 상기 처리부는, 상기 자기 센서에 의해 검출되는 자장의 제곱합 평방근을 산출하고,
    상기 제곱합 평방근을 사용하여, 상기 이벤트 발생 위치에 따른 트리거 역치를 산출하는,
    이벤트 검출 시스템.
16. 컴퓨터에 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 기재된 이벤트 검출 방법을 실행시키기 위한, 컴퓨터 판독가능 기록 매체에 기록된 프로그램.

Images