KR20220105757A - Display module inspection system - Google Patents

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KR20220105757A
KR20220105757A KR1020210008498A KR20210008498A KR20220105757A KR 20220105757 A KR20220105757 A KR 20220105757A KR 1020210008498 A KR1020210008498 A KR 1020210008498A KR 20210008498 A KR20210008498 A KR 20210008498A KR 20220105757 A KR20220105757 A KR 20220105757A
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test pattern
display module
serial interface
phy
phy serial
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KR1020210008498A
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이대원
오달석
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주식회사 두원테크
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Abstract

The present invention relates to a display module inspection device. The display module inspection device comprises: a test pattern generator that generates a test pattern of a D-PHY serial interface and outputs the test pattern as a low voltage differential signal; and a MIPI bridge board that includes a low voltage differential signal receiving unit receiving the test pattern of the D-PHY serial interface output from the test pattern generator and a frame rate converting unit receiving the test pattern of the D-PHY serial interface from the low voltage differential signal receiving unit and transmitting the test pattern to a display module to be inspected or converting the test pattern into a test pattern of a C-PHY serial interface and transmitting the test pattern to the display module to be inspected. As a result, the test pattern generator can transmit the test pattern of the D-PHY or C-PHY serial interface to the display module to be inspected even by generating only the test pattern of the D-PHY serial interface, thereby reducing the design cost and improving the portability of the display module inspection device.

Description

디스플레이 모듈 검사 시스템{DISPLAY MODULE INSPECTION SYSTEM}Display module inspection system {DISPLAY MODULE INSPECTION SYSTEM}

본 발명은 디스플레이 모듈 검사 시스템에 관한 것으로, 좀더 자세하게는 D-PHY 시리얼 인터페이스의 디스플레이 모듈과 C-PHY 시리얼 인터페이스의 디스플레이 모듈을 모두 검사할 수 있는 디스플레이 모듈 검사 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a display module inspection system, and more particularly, to a display module inspection system capable of inspecting both a display module of a D-PHY serial interface and a display module of a C-PHY serial interface.

디스플레이 모듈의 성능을 검사하는 장치의 종래 구성을 도 1을 참고로 하여 살펴보면, 테스트 패턴을 생성하는 테스트 패턴기(10)와, 테스트 패턴기(10)에서 생성한 테스트 패턴을 수신하여 이를 디스플레이 모듈(30)로 전달하는 캐리어 보드(20), 그리고 캐리어 보드(20)로부터 테스트 패턴을 전달받는 디스플레이 모듈(30)을 포함하여 구성된다.Looking at the conventional configuration of the device for inspecting the performance of the display module with reference to FIG. 1 , the test patterner 10 for generating a test pattern, and the test pattern generated by the test patterner 10 are received and the display module It is configured to include a carrier board 20 that transmits to the 30 , and a display module 30 that receives a test pattern from the carrier board 20 .

이때, 디스플레이 모듈이 MIPI(Mobile Industry Processor Interface)을 지원하는 경우, 디스플레이 모듈은 D-PHY 시리얼 인터페이스 또는 D-PHY 시리얼 인터페이스를 통해 데이터를 수신하여 출력할 수 있는데, D-PHY 시리얼 인터페이스는 AP와 디스플레이 간 인터페이스로서 MIPI 협회에서 만든 인터페이스이고, C-PHY 시리얼 인터페이스는 D-PHY 시리얼 인터페이스의 개선버전으로서 MIPI 협회에서 만든 인터페이스이다.At this time, if the display module supports MIPI (Mobile Industry Processor Interface), the display module can receive and output data through the D-PHY serial interface or the D-PHY serial interface. As an interface between displays, it is an interface created by the MIPI Association, and the C-PHY serial interface is an improved version of the D-PHY serial interface and is an interface created by the MIPI Association.

한편, D-PHY 시리얼 인터페이스와 C-PHY 시리얼 인터페이스는 데이터 신호의 핀과 그라운드 핀이 불일치하므로, 프레임 레이트(Frame Rate) 기준으로 60Hz 이상의 시료에서는 임피던스 문제가 발생할 가능성이 매우 높다.On the other hand, the D-PHY serial interface and the C-PHY serial interface do not match the data signal pin and ground pin, so there is a very high possibility of impedance problems occurring in samples with a frame rate of 60Hz or higher.

즉, 종래의 디스플레이 모듈 검사장치는 서로 다른 인터페이스 방식으로 출력되는 테스트 패턴(데이터 신호)을 캐리어 보드(20)를 경유하여 디스플레이 모듈(30)에 전달하므로, 임피던스 문제에 취약하다. That is, the conventional display module inspection apparatus transmits test patterns (data signals) output through different interface methods to the display module 30 via the carrier board 20 , and thus is vulnerable to an impedance problem.

이에 따라, 기존의 디스플레이 모듈 검사장치는 D-PHY 시리얼 인터페이스 및 C-PHY 시리얼 인터페이스를 동시에 지원하는 데 한계가 있어, 두 인터페이스를 각각 지원하도록 테스트 패턴기(10)를 일대일 대응되게 구비해야 하므로, 디스플레이 모듈 검사 시스템의 복잡도 및 생산 비용이 높아지는 문제점이 있다. 따라서, 간소화된 구조를 갖되 D-PHY 시리얼 인터페이스와 C-PHY 시리얼 인터페이스를 모두 지원할 수 있는 구조의 디스플레이 모듈 검사장치의 개발이 필요한 실정이다.Accordingly, the existing display module inspection device has a limit in supporting the D-PHY serial interface and the C-PHY serial interface at the same time, so the test patterner 10 must be provided in a one-to-one correspondence to support each of the two interfaces, There is a problem in that the complexity and production cost of the display module inspection system increase. Therefore, there is a need to develop a display module inspection device having a simplified structure but capable of supporting both the D-PHY serial interface and the C-PHY serial interface.

대한민국 공개특허공보 제10-2009-0128253호(2009.12.15. 공개)Republic of Korea Patent Publication No. 10-2009-0128253 (published on December 15, 2009)

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 디스플레이 모듈 검사용 D-PHY 시리얼 인터페이스 데이터와 C-PHY 시리얼 인터페이스 데이터를 모두 생성하여 이를 검사 대상 디스플레이 모듈로 전달할 수 있는 디스플레이 모듈 검사장치를 제공하기 위한 것이다. An object of the present invention is to provide a display module inspection apparatus capable of generating both D-PHY serial interface data and C-PHY serial interface data for display module inspection and transferring them to a display module to be inspected.

본 발명의 한 실시예에 따른 디스플레이 모듈 검사장치는 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 생성하여 저전압 차동신호로 출력하는 테스트 패턴 발생기, 그리고, 상기 테스트 패턴 발생기에서 출력한 상기 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 수신하는 저전압 차동신호 수신부와, 상기 저전압 차동신호 수신부로부터 상기 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 전달받아 검사 대상 디스플레이 모듈로 전달하거나 C-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴으로 변환하여 상기 검사 대상 디스플레이 모듈로 전달하는 프레임레이트변환부를 구비하는 미피 브리지 보드를 포함한다.A display module inspection apparatus according to an embodiment of the present invention includes a test pattern generator that generates a test pattern of a D-PHY serial interface and outputs it as a low voltage differential signal, and a test pattern generator of the D-PHY serial interface output from the test pattern generator. A low-voltage differential signal receiving unit for receiving a test pattern, and receiving the test pattern of the D-PHY serial interface from the low-voltage differential signal receiving unit and transmitting the test pattern to the display module to be inspected or converted into a test pattern of the C-PHY serial interface to convert the test pattern It includes a Miffy bridge board having a frame rate conversion unit to be transmitted to the display module.

한 예에서, 상기 테스트 패턴 발생기는 30Hz의 테스트 패턴을 생성하는 것을 특징으로 한다.In one example, the test pattern generator is characterized in that it generates a test pattern of 30 Hz.

한 예에서, 상기 프레임레이트변환부는 상기 테스트 패턴 발생기에서 발생한 상기 30Hz의 테스트 패턴을 상기 저전압 차동신호 수신부를 통해 전달받고 이를 60Hz의 테스트 패턴으로 프레임 레이트 변환하는 것을 특징으로 한다.In an example, the frame rate converter receives the 30 Hz test pattern generated by the test pattern generator through the low voltage differential signal receiver and converts the frame rate into a 60 Hz test pattern.

한 예에서, 상기 테스트 패턴 발생기와 상기 미피 브리지 보드의 상기 저전압 차동신호 수신부는 단일 통로로 연결되어 저전압 차동신호인 테스트 패턴을 송수신하는 것을 특징으로 한다.In one example, the test pattern generator and the low voltage differential signal receiver of the MIPI bridge board are connected through a single path to transmit and receive a test pattern that is a low voltage differential signal.

한 예에서, 상기 프레임 레이트 변환부는 상기 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 출력하는 부분과 상기 C-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 출력하는 부분을 각각 구비하는 것을 특징으로 한다.In one example, the frame rate converter is characterized in that it comprises a part for outputting the test pattern of the D-PHY serial interface and a part for outputting the test pattern of the C-PHY serial interface, respectively.

이러한 특징에 따르면, 검사 대상 디스플레이 모듈로 D-PHY 시리얼 인터페이스의 데이터 및 C-PHY 시리얼 인터페이스의 데이터를 모두 전달할 수 있어, 디스플레이 검사에 소요되는 시간을 단축할 수 있는 효과가 있다.According to this feature, it is possible to transfer both the data of the D-PHY serial interface and the data of the C-PHY serial interface to the display module to be inspected, thereby reducing the time required for display inspection.

또한, 패턴 발생기는 D-PHY 시리얼 인터페이스용 레인만을 구비하는 구조를 가지므로, 디스플레이 모듈 검사장치의 휴대성 향상 및 생산 비용 절감의 효과가 있다.In addition, since the pattern generator has a structure including only the lanes for the D-PHY serial interface, there is an effect of improving the portability of the display module inspection apparatus and reducing the production cost.

도 1은 종래의 디스플레이 모듈 검사장치를 개략적으로 나타낸 블록도이다.
도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 디스플레이 모듈 검사장치를 개략적으로 나타낸 블록도이다.1 is a block diagram schematically showing a conventional display module inspection apparatus.
2 is a block diagram schematically showing an apparatus for inspecting a display module according to an embodiment of the present invention.

아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains can easily implement them. However, the present invention may be embodied in various different forms and is not limited to the embodiments described herein. And in order to clearly explain the present invention in the drawings, parts irrelevant to the description are omitted, and similar reference numerals are attached to similar parts throughout the specification.

그러면 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 한 실시예에 따른 디스플레이 모듈 검사장치에 대하여 설명한다.Then, a display module inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 모듈 검사장치를 개략적으로 나타낸 블록도이다.2 is a block diagram schematically showing an apparatus for inspecting a display module according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참고로 하는 한 실시예에서, 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치는 테스트 패턴 발생기(100), 미피 브리지 보드(200)를 포함한다. 테스트 패턴 발생기(100)는 검사 대상인 시료, 즉, 디스플레이 모듈(31)로 송신할 테스트 패턴을 생성한다.In one embodiment with reference to FIG. 2 , the display module inspection apparatus according to the present invention includes a test pattern generator 100 and a Miffy bridge board 200 . The test pattern generator 100 generates a test pattern to be transmitted to the test target sample, that is, the display module 31 .

이때, 테스트 패턴 발생기(100)는 D-PHY 시리얼 인터페이스의 데이터인 테스트 패턴을 생성하여 이를 저전압 차동신호(LVDS; Low Voltage Differential Signal)로 미피 브리지 보드(200)로 전달한다.At this time, the test pattern generator 100 generates a test pattern that is data of the D-PHY serial interface and transmits it to the Miffy bridge board 200 as a low voltage differential signal (LVDS).

테스트 패턴 발생기(100)는 D-PHY 시리얼 인터페이스의 데이터 송신을 위한 단일 출력 통로(Single Out)를 구비하여 이를 통해 테스트 패턴을 미피 브리지 보드(200)로 전달한다.The test pattern generator 100 has a single output path (Single Out) for data transmission of the D-PHY serial interface and transmits the test pattern to the Miffy bridge board 200 through this.

테스트 패턴 발생기(100)는 테스트 패턴 외에 클럭 신호를 미피 브리지 보드(200)로 전달하며, 테스트 패턴 발생기(100)와 미피 브리지 보드(200)를 연결하는 각 레인은 두 개의 핀(Line)을 구비한다. The test pattern generator 100 transmits a clock signal to the Miffy bridge board 200 in addition to the test pattern, and each lane connecting the test pattern generator 100 and the Miffy bridge board 200 has two pins. do.

한 예에서, 테스트 패턴 발생기(100)는 30Hz의 프레임 레이트(Frame rate)를 갖는 테스트 패턴을 생성한다.In one example, the test pattern generator 100 generates a test pattern having a frame rate of 30 Hz.

미피 브리지 보드(200)는 저전압 차동신호 수신부(LVDS Rx)(210) 및 프레임레이트변환부(FRC; Frame Rate Conversion)(220)를 포함한다. 이때, 저전압 차동신호 수신부(210)는 테스트 패턴 발생기(100)에서 송신한 저전압 차동신호를 수신하여 이를 프레임레이트변환부(220)로 전달한다.The MIPI bridge board 200 includes a low voltage differential signal receiving unit (LVDS Rx) 210 and a frame rate conversion unit (FRC) 220 . At this time, the low voltage differential signal receiver 210 receives the low voltage differential signal transmitted from the test pattern generator 100 and transmits it to the frame rate converter 220 .

저전압 차동신호 수신부(210)는 테스트 패턴 발생기(100)에서 발생한 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 수신하여 이를 프레임레이트변환부(220)로 전달하므로, D-PHY 시리얼 인터페이스의 데이터 입출력을 위한 단일 입력(Single In) 통로 및 단일 출력(Single Out) 통로를 각각 구비한다.The low voltage differential signal receiving unit 210 receives the test pattern of the D-PHY serial interface generated by the test pattern generator 100 and transmits it to the frame rate conversion unit 220 , so that a single data input/output of the D-PHY serial interface is provided. It has an input (Single In) path and a single output (Single Out) path, respectively.

프레임레이트변환부(220)는 저전압 차동신호 수신부(210)로부터 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 전달받아 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴으로 출력하거나 또는 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 프레임 레이트 변환하여 C-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴으로 출력한다.The frame rate converter 220 receives the test pattern of the D-PHY serial interface from the low voltage differential signal receiver 210 and outputs it as a test pattern of the D-PHY serial interface, or outputs the test pattern of the D-PHY serial interface at a frame rate It is converted and output as a test pattern of the C-PHY serial interface.

이때, 프레임레이트변환부(220)는 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴 및 C-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 각각 출력하기 위해 두 개의 출력(Dual Out) 통로를 구비한다.At this time, the frame rate converter 220 has two output (Dual Out) passages to output the test pattern of the D-PHY serial interface and the test pattern of the C-PHY serial interface, respectively.

이에 따라, 미피 브리지 보드(200)는 검사 대상 디스플레이 모듈(21)로 D-PHY 시리얼 인터페이스인 테스트 패턴 전달용 출력부분과 D-PHY 시리얼 인터페이스인 테스트 패턴 전달용 출력부분을 각각 구비한다.Accordingly, the MIPI bridge board 200 includes an output part for transmitting a test pattern that is a D-PHY serial interface and an output part for transferring a test pattern that is a D-PHY serial interface to the display module 21 to be inspected, respectively.

프레임레이트변환부(220)가 C-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 출력하는 통로, 즉, 프레임레이트변환부(220)와 디스플레이 모듈(31)을 연결하는 C-PHY 시리얼 인터페이스의 데이터 통로는 레인 당 세 개의 핀을 구비한다.The path through which the frame rate converter 220 outputs the test pattern of the C-PHY serial interface, that is, the data path of the C-PHY serial interface that connects the frame rate converter 220 and the display module 31, is per lane. It has three pins.

한 예에서, 프레임레이트변환부(220)는 30Hz의 프레임 레이트를 갖는 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 60Hz의 프레임 레이트를 갖는 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴으로 프레임 레이트를 변환한다.In one example, the frame rate conversion unit 220 converts the frame rate of the test pattern of the D-PHY serial interface having a frame rate of 30 Hz to the test pattern of the D-PHY serial interface having a frame rate of 60 Hz.

프레임레이트변환부(220)가 저전압 차동신호 수신부(210)로부터 전달받은 30Hz의 테스트 패턴을 60Hz의 테스트 패턴으로 변환하여 출력함에 따라, 검사 대상인 디스플레이 모듈(31)에 고해상도의 테스트 패턴을 안정적으로 전달할 수 있다. As the frame rate converter 220 converts the 30Hz test pattern received from the low voltage differential signal receiver 210 into a 60Hz test pattern and outputs it, the high-resolution test pattern is stably delivered to the display module 31 to be inspected. can

즉, 디스플레이 모듈(31)로 고해상도의 테스트 패턴 전달을 위하여 테스트 패턴 발생기(100)에서 60Hz의 데이터를 발생하지 않고도, 30Hz의 테스트 패턴을 이용하여 디스플레이 모듈(31)로 60Hz의 테스트 패턴을 전달할 수 있어, 60Hz 이상의 고해상도 테스트 패턴 전달을 위해 구비해야 하는 레인 수보다 적은 수의 레인을 구성하여 디스플레이 모듈(31)로 고해상도의 테스트 패턴을 전달하여 검사를 수행할 수 있는 효과가 있다. 이는, 테스트 패턴 발생기(100)와 미피 브리지 보드(200) 사이를 연결하는 레인 수를 감소시켜 디스플레이 모듈 검사장치의 크기를 간소화할 수 있고, 또한 디스플레이 모듈 검사장치의 설계 비용 절감의 효과가 있다.That is, in order to deliver a high-resolution test pattern to the display module 31, the test pattern of 60 Hz can be transmitted to the display module 31 by using the test pattern of 30 Hz without generating data of 60 Hz from the test pattern generator 100. Therefore, there is an effect that the test can be performed by transmitting the high-resolution test pattern to the display module 31 by configuring a number of lanes less than the number of lanes that must be provided to transmit the high-resolution test pattern of 60 Hz or higher. This reduces the number of lanes connecting the test pattern generator 100 and the MIPI bridge board 200 to simplify the size of the display module inspection apparatus, and also has the effect of reducing the design cost of the display module inspection apparatus.

특히, 디스플레이 모듈(31)로 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴 또는 C-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴 전달을 위해 D-PHY/C-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 발생하는 패턴 발생기를 각각 구비해야 함에 따른 디스플레이 모듈 검사장치 구조 복잡도 및 설계비용 증가와 같은 한계점을 극복할 수 있고, 디스플레이 모듈 검사장치의 휴대성이 향상되는 효과가 있다.In particular, in order to transmit the test pattern of the D-PHY serial interface or the test pattern of the C-PHY serial interface to the display module 31, a pattern generator that generates a test pattern of the D-PHY/C-PHY serial interface should be provided, respectively. Accordingly, it is possible to overcome limitations such as an increase in structure complexity and design cost of the display module inspection apparatus, and there is an effect that the portability of the display module inspection apparatus is improved.

그리고 이때, 검사 대상 시료인 디스플레이 모듈(31)과 근접한 위치에서 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 C-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴으로 변환하는 동작을 수행하므로, 테스트 패턴 변환 및 전달을 안정적으로 수행할 수 있다.And at this time, since the operation of converting the test pattern of the D-PHY serial interface into the test pattern of the C-PHY serial interface is performed at a position close to the display module 31, which is the sample to be inspected, the test pattern conversion and delivery are stably performed can do.

프레임레이트변환부(200)가 프레임 레이트를 변환하는 구체적인 동작내용은 공지기술로서, 당업자가 실시할 수 있는 내용이므로 본 명세서에서는 이를 자세하게 설명하지는 않는다.The detailed operation of the frame rate conversion unit 200 for converting the frame rate is well-known technology, and since it can be implemented by those skilled in the art, it will not be described in detail herein.

이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto. is within the scope of the right.

10 : 테스트 패턴기 20 : 캐리어 보드
30 : 디스플레이 모듈 31 : 디스플레이 모듈
100 : 테스트 패턴 발생기 200 : 미피 브리지 보드
210 : 저전압 차동신호 수신기 220 : 프레임레이트변환부10: test pattern machine 20: carrier board
30: display module 31: display module
100: test pattern generator 200: miffy bridge board
210: low voltage differential signal receiver 220: frame rate conversion unit

Claims (5)

D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 생성하여 저전압 차동신호로 출력하는 테스트 패턴 발생기, 그리고,
상기 테스트 패턴 발생기에서 출력한 상기 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 수신하는 저전압 차동신호 수신부와, 상기 저전압 차동신호 수신부로부터 상기 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 전달받아 검사 대상 디스플레이 모듈로 전달하거나 C-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴으로 변환하여 상기 검사 대상 디스플레이 모듈로 전달하는 프레임레이트변환부를 구비하는 미피 브리지 보드를 포함하는 디스플레이 모듈 검사장치.A test pattern generator that generates a test pattern of the D-PHY serial interface and outputs it as a low-voltage differential signal;
a low-voltage differential signal receiving unit for receiving the test pattern of the D-PHY serial interface output from the test pattern generator; A display module inspection apparatus including a Miffy bridge board having a frame rate converter that converts the test pattern of the C-PHY serial interface and transmits it to the display module to be inspected. 제1항에서,
상기 테스트 패턴 발생기는 30Hz의 테스트 패턴을 생성하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사장치.In claim 1,
The test pattern generator is a display module inspection device, characterized in that for generating a test pattern of 30Hz. 제2항에서,
상기 프레임레이트변환부는 상기 테스트 패턴 발생기에서 발생한 상기 30Hz의 테스트 패턴을 상기 저전압 차동신호 수신부를 통해 전달받고 이를 60Hz의 테스트 패턴으로 프레임 레이트 변환하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사장치.In claim 2,
The frame rate converter receives the 30Hz test pattern generated by the test pattern generator through the low voltage differential signal receiver and converts the frame rate into a 60Hz test pattern. 제1항에서,
상기 테스트 패턴 발생기와 상기 미피 브리지 보드의 상기 저전압 차동신호 수신부는 단일 통로로 연결되어 저전압 차동신호인 테스트 패턴을 송수신하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사장치.In claim 1,
The test pattern generator and the low voltage differential signal receiver of the MIPI bridge board are connected through a single path to transmit and receive a test pattern that is a low voltage differential signal. 제1항에서,
상기 프레임 레이트 변환부는 상기 D-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 출력하는 부분과 상기 C-PHY 시리얼 인터페이스의 테스트 패턴을 출력하는 부분을 각각 구비하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사장치.
In claim 1,
The frame rate converter comprises a part for outputting the test pattern of the D-PHY serial interface and a part for outputting the test pattern of the C-PHY serial interface, respectively.
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