KR20220104966A - 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리 - Google Patents

양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리 Download PDF

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KR20220104966A
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Abstract

본 발명에 따른 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리는 송신광과 수신광의 광 경로를 분리하는 광 경로 분리기로 인해, 투과광을 위한 광섬유와 수신광을 위한 광섬유를 별도로 구비할 필요 없이, 하나의 광섬유만으로도 양방향 광 통신이 가능하기 때문에 통신망 운용의 효율성을 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리에서 제2 에탈론 필터, 제2 온도 감지 소자 및 제2 온도 조절 소자는 함체의 내부에 수용되어 있기 때문에, 수신 파장 대역이 고정되어 있는 수신용 포토 다이오드나 수신용 TO도 얼마든지 활용할 수 있다. 즉, 본 발명에 의하면, 수신단 측에 활용할 수 있는 소자의 폭이 넓어져, 수신단측 수신용 포토 다이오드나 수신용 TO의 재고 부담이 줄어들게 된다.

Description

양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리{WAVELENGTH TUNABLE OPTICAL SUB-ASSEMBLY FOR BI-DIRECTIONAL FIBER OPTIC TELECOMMUNICATION}
본 발명은 가입자 측이나 중앙국 측에 마련되어, 가입자와 중앙국이 서로 광을 송수신함으로써 양방향 통신을 할 수 있도록 하는 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리에 관한 것이다.
스마트폰, 고성능 텔레비전(HDTV, 3D TV, 스마트 TV), 전자상거래 및 주문형 비디오(VOD: Video On Demand) 등 다양한 멀티미디어 서비스에 대한 요구를 충족시키기 위해서는 현존하는 광 통신망의 용량 확장이 요구되며, 이러한 이유로 인해 파장 분할 멀티플렉싱(WDM: Wavelength-Division Multiplexing) 기술이 궁극적인 대안으로 인식되고 있다.
WDM 기술은 한 가닥의 광섬유를 통해 서로 다른 파장을 갖는 광을 묶어서 전송하는 기술이다. WDM 기술은 각 가입자에게 고유의 독립적인 파장 할당을 통해 점대점(point-to-point)의 전용 채널을 제공하며, 가입자는 할당된 고유의 광 신호 파장을 사용하기 때문에 지금까지 나온 기술 중 가장 높은 속도를 제공할 수 있다.
예를 들어, WDM-PON(PON: Passive Optical Network) 기술은 시간분할방식인 TDM(Time-Division Multiplexing)-PON에 비해 많은 파장을 사용하므로 양방향 대칭형 서비스를 보장하고, 대역폭을 독립적으로 할당하며, 해당 가입자는 서로 다른 파장의 광 신호를 수신하므로 보장성이 우수한 장점을 가지고 있다.
이러한 WDM-PON 기술이 실효성 있게 구현되기 위해서는, 가입자 측이나 중앙국 측에 마련되는 광 서브어셈블리에서 광을 양방향으로 송수신할 수 있도록 함으로써 망 운용 효율성을 향상시켜야 한다. 또한, 광 서브어셈블리의 송신단에 포함된 레이저 다이오드에서 출력하는 송신광의 파장을 잠금 및 가변 가능해야 하고, 광 서브어셈블리의 수신단에 포함된 포토 다이오드에서는 특정 파장의 광만을 수신광으로서 수신할 수 있어야 한다. 게다가, 수신광의 파장에 따라 수신용 TO(Transistor Outline package)를 별도 제작할 것이 아니라, 상기 수신용 TO를 수신광의 파장과 관계없이 광 서브어셈블리에 적용시킬 수 있도록 함으로써, 광 서브어셈블리의 제작 효율성을 향상시키는 것 역시 필요하다.
한편, 특허문헌 1에는, 광섬유로부터 발산되는 레이저 광이 투과하는 파장 가변 필터와, 상기 파장 가변 필터를 투과하는 레이저 광을 수신하는 포토 다이오드가 구비된 파장 가변 광 수신기가 개시되어 있다.
한국 등록특허공보 10-1950733호(2019.02.15.)
본 발명은 통신망 운용의 효율성을 향상시킬 수 있는 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리를 제공하는 것에 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 송신단에 포함된 레이저 다이오드에서 출력하는 송신광의 파장을 잠금 및 가변 가능하고, 수신단에 포함된 포토 다이오드에서는 특정 파장의 광만을 수신광으로서 수신할 수 있는 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리를 제공하는 것에 그 목적이 있다.
게다가, 본 발명은 수신광의 파장에 따라 별도 제작된 수신용 TO를 활용할 필요가 없도록 하는 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리를 제공하는 것에 그 목적이 있다.
다만, 본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 상술한 과제만으로 한정되는 것은 아니며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래에 기재된 발명의 설명으로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 통신용 광 모듈은, 송신광을 출력하는 레이저 다이오드; 상기 레이저 다이오드의 후방으로 출력되는 상기 송신광을 검출하는 제1 모니터링 포토 다이오드; 상기 레이저 다이오드의 전방으로 출력되는 상기 송신광을 반사광과 투과광으로 분기하는 광 분기기; 상기 반사광을 제1 파장 대역에서 투과시키는 제1 에탈론 필터; 상기 제1 에탈론 필터를 투과하는 상기 반사광을 검출하는 제2 모니터링 포토 다이오드; 상기 레이저 다이오드 및 상기 제1 에탈론 필터의 온도를 감지하는 제1 온도 감지 소자; 상기 레이저 다이오드 및 상기 제1 에탈론 필터의 온도를 조절하는 제1 온도 조절 소자; 상기 투과광의 광 경로에 배치되어, 상기 투과광과 수신광의 광 경로를 분리하는 광 경로 분리기; 상기 광 경로 분리기를 통과하는 상기 투과광이 입사되는 광섬유; 상기 광섬유에서 출사된 이후 상기 광 경로 분리기를 통과하는 상기 수신광을 제2 파장 대역에서 투과시키는 제2 에탈론 필터; 상기 제2 에탈론 필터의 온도를 감지하는 제2 온도 감지 소자; 상기 제2 에탈론 필터의 온도를 조절하는 제2 온도 조절 소자; 및 상기 제2 에탈론 필터를 투과하는 수신광을 검출하는 수신용 포토 다이오드를 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 통신용 광 모듈은, 상기 제1 에탈론 필터를 지지하며, 상기 제1 에탈론 필터를 투과하는 상기 반사광이 상기 제2 모니터링 포토 다이오드에 입사될 수 있도록 반사광 통과홀이 마련되어 있는 제1 에탈론 필터 지지부재를 더 포함할 수 있으며, 상기 제2 모니터링 포토 다이오드는 상기 제1 에탈론 필터 지지부재의 후방에 배치되어, 상기 제1 에탈론 필터를 투과하는 반사광이 상기 반사광 통과홀을 거쳐 상기 제2 모니터링 포토 다이오드에 입사될 수 있다.
본 발명에 따른 통신용 광 모듈은, 상기 제2 에탈론 필터를 지지하며, 상기 제2 에탈론 필터를 투과하는 상기 수신광이 상기 수신용 포토 다이오드에 입사될 수 있도록 수신광 통과홀이 마련되어 있는 제2 에탈론 필터 지지부재를 더 포함할 수 있으며, 상기 수신용 포토 다이오드는 상기 제2 에탈론 필터 지지부재의 후방에 배치되어, 상기 제2 에탈론 필터를 투과하는 반사광이 상기 수신광 통과홀을 거쳐 상기 수신용 포토 다이오드에 입사될 수 있다.
상기 광 경로 분리기의 제1 포트로는 상기 투과광이 입력되고, 상기 광 경로 분리기의 제2 포트로는 상기 투과광이 출력되어 상기 광섬유로 입사되고, 상기 광섬유에서 출사되는 상기 수신광이 입력되며, 상기 광 경로 분리기의 제3 포트로는 상기 수신광이 출력되어 상기 제2 에탈론 필터로 입사될 수 있다.
본 발명에 따른 통신용 광 모듈은, 상기 레이저 다이오드, 상기 제1 모니터링 포토 다이오드, 상기 광 분기기, 상기 제1 에탈론 필터, 상기 제2 모니터링 포토 다이오드, 상기 제1 온도 감지 소자, 상기 제1 온도 조절 소자, 상기 광 경로 분리기, 상기 제2 에탈론 필터, 상기 제2 온도 감지 소자 및 상기 제2 온도 조절 소자를 내부에 수용하는 함체를 더 포함할 수 있으며, 상기 광섬유는, 상기 함체의 외부이자, 상기 광 경로 분리기를 통과하는 상기 투과광이 진행하는 경로에 배치될 수 있고, 상기 수신용 포토 다이오드는, 상기 함체의 외부이자, 상기 제2 에탈론 필터를 투과하는 수신광이 진행하는 경로에 배치될 수 있다.
상기 제1 온도 조절 소자 및 상기 제2 온도 조절 소자는 상기 함체와 직접적으로 접촉되어 있을 수 있다.
본 발명에 따른 통신용 광 모듈은, 상기 광 경로 분리기를 통과하는 상기 투과광이 진행하는 경로에 구비되며, 상기 함체의 일측을 밀폐시키는 제1 윈도우; 및 상기 제2 에탈론 필터를 투과하는 수신광이 진행하는 경로에 구비되며, 상기 함체의 타측을 밀폐시키는 제2 윈도우를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 통신용 광 모듈은, 상기 제1 윈도우와 상기 광섬유 사이에 배치되며, 상기 함체의 일측에 결합된 제1 평행광 렌즈; 및 상기 제2 윈도우와 상기 수신용 포토 다이오드 사이에 배치되며, 상기 함체의 타측에 결합된 제2 평행광 렌즈를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 통신용 광 모듈은, 상기 수신용 포토 다이오드를 수용하는 TO(Transistor Outline package); 및 상기 TO의 외부에 장착되는 고정부재를 더 포함할 수 있으며, 상기 고정부재는 상기 함체에 레이저 용접에 의해 고정될 수 있다.
본 발명에 따른 통신용 광 모듈은, 상기 제1 온도 감지 소자에 의해 감지되는 상기 레이저 다이오드 및 상기 제1 에탈론 필터의 온도에 기초하여 상기 제1 온도 조절 소자를 제어하고, 상기 제2 온도 감지 소자에 의해 감지되는 상기 제2 에탈론 필터의 온도에 기초하여 상기 제2 온도 조절 소자를 제어하는 제어기를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 의하면, 투과광(즉, 송신광)과 수신광의 광 경로를 분리하는 광 경로 분리기로 인해, 투과광(즉, 송신광)을 위한 광섬유와 수신광을 위한 광섬유를 별도로 구비할 필요 없이, 하나의 광섬유만으로도 양방향 광 통신이 가능하기 때문에, 통신망 운용의 효율성을 향상시킬 수 있게 된다.
또한, 본 발명에 의하면, 제1 모니터링 포토 다이오드와 제2 모니터링 포토 다이오드에서 검출되는 광 및 제1 에탈론 필터를 통해 레이저 다이오드에서 출력하는 송신광의 파장을 잠금 및 가변할 수 있고, 제2 에탈론 필터를 통해 수신용 포토 다이오드에서 특정 파장의 광만을 수신광으로서 수신할 수 있게 되어, 양방향 광 통신의 정확성 및 효율성을 향상시킬 수 있게 된다.
게다가, 본 발명에 의하면, 제2 에탈론 필터, 제2 온도 감지 소자 및 제2 온도 조절 소자가 함체의 내부에 수용되어 있기 때문에, 수신 파장 대역이 고정되어 있는 수신용 포토 다이오드나 수신용 TO도 얼마든지 활용할 수 있다. 즉, 본 발명에 의하면, 수신단 측에 활용할 수 있는 소자의 폭이 넓어져, 수신 파장 대역이 고정되어 있는 수신단측 수신용 포토 다이오드나 수신용 TO의 재고 부담이 줄어들게 된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리의 단면도이다.
도 2 내지 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리의 입체도이다.
도 7은 도 1의 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리에서 송신광의 경로를 나타낸 도면이다.
도 8은 도 1의 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리에서 수신광의 경로를 나타낸 도면이다.
도 9는 광 분기기에서 반사 및 투과되는 송신광을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 10은 에탈론 필터의 투과 스펙트럼(transmission spectrum)을 예시적으로 나타낸 도면이다.
도 11은 제어기가 송신광의 파장을 안정화시키는 모습을 설명하기 위해 나타낸 도면이다.
도 12는 제어기가 송신광의 파장을 잠금 및 가변하는 모습을 설명하기 위해 나타낸 도면이다.
도 13은 제어기가 제2 에탈론 필터에서 투과되는 파장을 변화시키는 모습을 설명하기 위해 나타낸 도면이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리에 대해 상세하게 설명한다. 첨부한 도면들은 통상의 기술자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것으로서, 본 발명은 이하 제시되는 도면들로 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리의 단면도이고, 도 2 내지 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리의 입체도이다. 도 7은 도 1의 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리에서 송신광의 경로를 나타낸 도면이고, 도 8은 도 1의 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리에서 수신광의 경로를 나타낸 도면이다.
도 1 내지 도 8에 나타낸 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리(1000)는 가입자 측 및 중앙국 측에 마련될 수 있으며, 이에 따라 가입자와 중앙국은 상호 간에 양방향 광 통신을 수행할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리(1000)는 함체(100), 광섬유(200) 및 수신용 포토 다이오드(300)를 포함할 수 있다.
함체(100)는 레이저 다이오드(11), 제1 모니터링 포토 다이오드(12), 광 분기기(13), 제1 에탈론 필터(14), 제2 모니터링 포토 다이오드(15), 제1 온도 감지 소자(16), 제1 온도 조절 소자(17), 광 경로 분리기(18), 제2 에탈론 필터(19), 제2 온도 감지 소자(20) 및 제2 온도 조절 소자(21) 등을 내부에 수용할 수 있다.
레이저 다이오드(11)는 송신광을 출력하는 역할을 하며, 이때 송신광은 레이저 다이오드(11)의 전방 및 후방으로 각각 출력될 수 있다.
레이저 다이오드(11)의 후방(도 1에서 레이저 다이오드(11)로부터 제1 모니터링 포토 다이오드(12)로 향하는 방향)으로 출력되는 송신광은 제1 모니터링 포토 다이오드(12)에 의해 검출될 수 있다. 제1 모니터링 포토 다이오드(12)는 송신광을 광전류(photocurrent) 형태로 검출할 수 있으며, 검출된 송신광에 대한 정보는 후술하는 제어기(600)로 전달될 수 있다. 이 경우 제어기(600)는 제1 모니터링 포토 다이오드(12)에서 검출된 송신광에 대한 정보를 통해 송신광의 세기를 획득할 수 있다.
레이저 다이오드(11)의 전방(도 1에서 레이저 다이오드(11)로부터 광 분기기(13)로 향하는 방향)으로 출력되는 송신광은 송신광용 평행광 렌즈(22)에 의해 평행광 형태로 변환될 수 있다. 송신광용 평행광 렌즈(22)에 의해 평행광 형태로 변환된 송신광은 아이솔레이터(23)를 거쳐 광 분기기(13)에 입사될 수 있다. 여기서, 아이솔레이터(23)는 레이저 다이오드(11)에서 광 분기기(13)를 향해서만 광이 진행되도록 하고, 그 반대 방향으로는 광이 진행되는 것을 방지하는 역할을 한다.
광 분기기(13)는 레이저 다이오드(11)의 전방으로 출력되는 송신광을 반사광과 투과광으로 분기한다. 여기서, 광 분기기(13)는 입사되는 광을 일부 투과시키고, 일부는 반사시킬 수 있는 빔 스플리터가 이에 해당될 수 있다.
도 9는 광 분기기(13)에서 반사 및 투과되는 송신광을 개략적으로 나타낸 도면이다. 도 9에 나타낸 바와 같이, 광 분기기(13)는 레이저 다이오드(11)에서 출력되는 송신광 중 90~99%는 투과시키고, 나머지 1~10%는 파장 안정화기(wavelength locker)를 향해 반사시키도록 설계될 수 있다. 여기서, 파장 안정화기는 광 분기기(13), 제1 에탈론 필터(14) 및 제2 모니터링 포토 다이오드(15)를 포함할 수 있으며, 제1 온도 감지 소자(16) 및 제1 온도 조절 소자(17)는 송신광의 파장 안정화에 필수적이므로, 제1 온도 감지 소자(16) 및 제1 온도 조절 소자(17) 역시 상기 파장 안정화기의 구성 요소에 해당될 수 있다.
제1 에탈론 필터(14)는 광 분기기(13)에서 분기된 반사광을 제1 파장 대역에서 선택적으로 투과시키는 역할을 한다. 제1 에탈론 필터(14)는 양단에 위치한 반사면 사이에 유리와 같은 투과 재질이 채워져서 형성된 것일 수 있다. 여기서, 상기 제1 파장 대역은 제1 에탈론 필터(14)를 투과할 수 있는 파장 대역을 의미한다.
도 10은 제1 에탈론 필터(14)의 투과 스펙트럼을 예시적으로 나타낸 도면이다. 도 10에 나타낸 제1 에탈론 필터(14)의 FSR(Free Spectral Range) 및 투과 대역폭은 제1 에탈론 필터(14)의 재질, 두께, 다층 박막 코팅, 반사광의 입사 각도 등에 의해 좌우된다. 도 10에 나타난 바와 같이, 제1 에탈론 필터(14)의 투과 스펙트럼은 투과율(transmittance)이 일정한 주기로 커지는 순환적인(cyclic) 특성을 보이며, 여기서 상기 투과 스펙트럼의 주기를 FSR이라 하고, 투과 대역폭은 피크 투과율을 기준으로 결정될 수 있다. 한편, 제1 에탈론 필터(14)의 제1 파장 대역은 제1 에탈론 필터(14)의 온도 변경을 통해 조정될 수 있다.
제1 에탈론 필터(14)를 투과하는 반사광은 제2 모니터링 포토 다이오드(15)에 의해 검출될 수 있다. 제2 모니터링 포토 다이오드(15) 역시 제1 모니터링 포토 다이오드(12)와 마찬가지로 광전류 형태로 반사광을 검출할 수 있으며, 검출된 반사광에 대한 정보는 제어기(600)로 전달될 수 있다. 이 경우 제어기(600)는 제2 모니터링 포토 다이오드(15)에서 검출된 반사광에 대한 정보를 통해 반사광의 세기를 획득할 수 있다.
제1 에탈론 필터(14)는 제1 에탈론 필터 지지부재(24)에 의해 지지될 수 있다. 보다 구체적으로, 제1 에탈론 필터(14)는 제1 에탈론 필터 지지부재(24)의 전방(반사광이 제1 에탈론 필터 지지부재(24)에 입사되는 쪽)에 고정될 수 있다.
제1 에탈론 필터 지지부재(24)에는 제1 에탈론 필터 지지부재(24)의 전방과 후방(반사광이 제1 에탈론 필터 지지부재(24)에서 출사되는 쪽)을 관통하는 반사광 통과홀(25)이 마련되어 있으며, 제1 에탈론 필터 지지부재(24)의 후방에는 제2 모니터링 포토 다이오드(15)가 배치될 수 있다. 이 경우 제1 에탈론 필터(14)를 투과하는 반사광은 반사광 통과홀(25)을 거쳐 제2 모니터링 포토 다이오드(15)에 입사될 수 있다. 제1 에탈론 필터(14), 제1 에탈론 필터 지지부재(24) 및 제2 모니터링 포토 다이오드(15)가 이와 같은 배치 관계를 가질 경우 본 발명에 따른 광 서브어셈블리(1000)를 비교적 소형으로 제작할 수 있게 된다.
제1 온도 감지 소자(16)는 레이저 다이오드(11) 및 제1 에탈론 필터(14)의 온도를 감지하는 역할을 한다. 이를 위해 제1 온도 감지 소자(16)는 써미스터로 이루어지거나 이를 포함해서 이루어질 수 있다. 도 1 등에는 1개의 제1 온도 감지 소자(16)만 도시되어 있으나, 레이저 다이오드(11)의 온도와 제1 에탈론 필터(14)의 온도를 별도로 감지하기 위해 제1 온도 감지 소자(16)는 2개일 수도 있다. 즉, 제1 온도 감지 소자(16)는 레이저 다이오드(11) 및 제1 에탈론 필터(14)(또는, 제1 에탈론 필터 지지부재(24))에 각각 부착될 수 있다.
제1 온도 조절 소자(17)는 레이저 다이오드(11) 및 제1 에탈론 필터(14)의 온도를 조절하는 역할을 한다. 제1 온도 조절 소자(17)는 레이저 다이오드(11) 및 제1 에탈론 필터(14)의 온도를 변경하기 위해 TEC(Thermo-Electric Cooler)로 이루어지거나 이를 포함해서 이루어질 수 있다. 제어기(600)는 제1 온도 조절 소자(17)의 양 전극에 전압을 인가하여 전류를 흘려줄 수 있으며, 전류가 흐르는 방향에 따라 레이저 다이오드(11) 및 제1 에탈론 필터(14)의 온도가 높아지거나 낮아질 수 있다. 도 1 등에는 1개의 제1 온도 조절 소자(17)만 도시되어 있으나, 레이저 다이오드(11)의 온도와 제1 에탈론 필터(14)의 온도를 별도로 조절하기 위해 제1 온도 조절 소자(17)는 2개일 수도 있다.
제1 온도 조절 소자(17)는 발열 작용 또는 흡열 작용을 통해 레이저 다이오드(11) 및 제1 에탈론 필터(14)의 온도를 조절한다. 이때 제1 온도 조절 소자(17)의 온도 조절에 따라 발생한 열이 광 서브어셈블리(1000)의 외부로 원활히 배출되지 않으면, 레이저 다이오드(11) 및 제1 에탈론 필터(14)의 온도가 제대로 조절될 수 없게 된다. 이에 따라, 제1 온도 조절 소자(17)를 함체(100)와 직접적으로 접촉시킴으로써, 제1 온도 조절 소자(17)의 온도 조절에 따라 발생한 열이 광 서브어셈블리(1000)의 외부로 원활히 배출되도록 하는 것이 바람직하다. 즉, 제1 온도 조절 소자(17)가 함체(100)와 직접적으로 접촉될 경우에는, 제1 온도 조절 소자(17)의 온도 조절에 따라 발생한 열이 함체(100)를 통해 외부로 배출될 수 있기 때문에, 레이저 다이오드(11) 및 제1 에탈론 필터(14)의 온도 조절이 정확하게 이루어지고, 이로 인해 레이저 다이오드(11)에서 출력되는 송신광의 파장을 특정 파장으로 정확하게 가변 및 잠금시킬 수 있게 된다.
한편, 제1 온도 조절 소자(17)의 상부에는 제1 베이스 플레이트(26)가 배치될 수 있다. 또한, 제1 베이스 플레이트(26)의 상부에는 상술한 레이저 다이오드(11), 제1 모니터링 포토 다이오드(12), 송신광용 평행광 렌즈(22), 아이솔레이터(23), 광 분기기(13), 제1 에탈론 필터(14), 제1 에탈론 필터 지지부재(24), 제2 모니터링 포토 다이오드(15) 및 제1 온도 감지 소자(16)가 배치될 수 있다.
특히, 제1 온도 감지 소자(16)는 제1 베이스 플레이트(26)의 상부에서 제1 베이스 플레이트(26)에 직접적으로 접촉될 수 있다. 제1 온도 조절 소자(17)가 발열 작용 또는 흡열 작용에 의한 온도 조절을 할 경우, 제1 베이스 플레이트(26)의 온도가 곧 레이저 다이오드(11)의 온도와 제1 에탈론 필터(14)의 온도가 될 수 있다. 이에 따라, 제1 온도 감지 소자(16)가 제1 베이스 플레이트(26)에 직접적으로 접촉되면, 제1 온도 감지 소자(16)는 제1 베이스 플레이트(26)의 상부에 배치되어 있는 레이저 다이오드(11) 및 제1 에탈론 필터(14)의 온도를 동시에 감지해낼 수 있게 된다.
도 11은 제어기(600)가 송신광의 파장을 안정화시키는 모습을 설명하기 위해 나타낸 도면이다.
도 11을 참고하면, 제어기(600)는 제1 모니터링 포토 다이오드(12) 및 제2 모니터링 포토 다이오드(15)와 연결되어 있으며, 이로 인해 제1 모니터링 포토 다이오드(12)에서 검출된 송신광에 대한 정보와, 제2 모니터링 포토 다이오드(15)에서 검출된 반사광에 대한 정보를 획득할 수 있다.
상술한 바와 같이, 레이저 다이오드(11)의 후방으로 출력되는 송신광은 제1 모니터링 포트 다이오드(12)에 의해 송신광의 세기가 검출된다. 또한, 레이저 다이오드(11)의 전방으로 출력되는 송신광은 광 분기기(13)에서 소량 분기되고, 소량 분기된 반사광은 파장 의존성을 가지는 제1 에탈론 필터(14)를 투과한 뒤, 제2 모니터링 포토 다이오드(15)에 의해 그 세기가 검출된다.
제어기(600)는 제1 온도 감지 소자(16)에 연결되어 있으며, 이에 따라 제1 온도 감지 소자(16)에 의해 감지되는 레이저 다이오드(11)의 온도 및 제1 에탈론 필터(14)의 온도를 획득할 수 있다. 또한, 제어기(600)는 제1 온도 조절 소자(17)에 연결되어 있으며, 상기 레이저 다이오드(11)의 온도 및 제1 에탈론 필터(14)의 온도에 기초하여 제1 온도 조절 소자(17)를 제어할 수 있다.
도 12는 제어기(600)가 송신광의 파장을 잠금 및 가변하는 모습을 설명하기 위해 나타낸 도면이다.
도 12의 상단 그래프는 제1 모니터링 포토 다이오드(12) 및 제2 모니터링 포토 다이오드(15)에 의해 검출되는 광전류(광의 세기를 나타냄)를 파장에 대하여 나타낸 것이다. 도 12의 상단 그래프에 의하면, 제1 모니터링 포토 다이오드(12)에 의해 검출되는 송신광의 세기는 파장과 무관하게 일정한 값을 가지는 데 반하여, 제2 모니터링 포토 다이오드(15)에 의해 검출되는 반사광의 세기는 제1 파장 대역을 갖는 광만을 투과시키는 제1 에탈론 필터(14)에 의하여 파장 의존성을 갖는다는 것을 알 수 있다.
도 12의 하단 그래프는 제어기(600)가 그 내부에 구비된 비교기(미도시)를 통해, 제1 모니터링 포토 다이오드(12)에 의해 검출되는 송신광의 세기와 제2 모니터링 포토 다이오드(15)에 의해 검출되는 반사광의 세기를 비교한 값(즉, 비교값)을 나타낸 것이다.
제어기(600)는 상기 비교값이 도 12의 하단 그래프에 나타나 있는 잠금 파장(Locking Wavelength)이 되도록, 제1 온도 감지 소자(16)에 의해 감지되는 레이저 다이오드(11) 및 제1 에탈론 필터(14)의 온도에 기초하여 제1 온도 조절 소자(17)를 제어할 수 있다. 제어기(600)가 제1 온도 조절 소자(17)를 제어할 경우, 레이저 다이오드(11)에서 출력되는 송신광의 파장이 변하게 되고, 이와 함께 제1 에탈론 필터(14)의 제1 파장 대역 역시 변하게 된다.
상기 잠금 파장은 정확하게 ITU-grid에 해당하는 파장이 되어야 한다. 이를 위해, 제2 모니터링 포토 다이오드(15)가 검출하는 광전류의 기울기 중 선형 부분이 상기 잠금 파장에 오도록 제어기(600)가 제1 온도 조절 소자(17)를 제어하고, 또한 제어기(600)는 그 내부에 구비된 증폭기(미도시) 등을 이용하여 제1 모니터링 포토 다이오드(12)가 검출하는 광전류의 세기를 미세하게 변화시킴으로써, 상기 비교값이 ITU-grid에 해당하는 파장에 정확히 일치되도록 한다.
이와 같이 제어기(600)는 제1 모니터링 포토 다이오드(12) 및 제2 모니터링 포토 다이오드(15)에 의해 검출된 광전류에 의해 그 파장의 변화를 읽고, 그 변화에 기초하여 레이저 다이오드(11)의 온도나 전류 등을 조절함으로써, 레이저 다이오드(11)에서 출력되는 송신광의 파장을 제어하게 된다. 레이저 다이오드(11)에서 출력되는 송신광의 파장을 제어하기 위한 변수로서 온도를 사용할 것인지 또는 전류를 사용할 것인지는 사용되는 레이저 다이오드(11)의 종류에 따라 제각기 선택되어야 하는 사항이며, DFB 레이저 다이오드(distributed feedback laser diode)의 경우에는 일반적으로 온도를 송신광의 파장 제어 수단으로 한다.
한편, 광 경로 분리기(18)는 광 분기기(13)에서 분기된 투과광의 광 경로에 배치되어, 상기 투과광과 후술하는 수신광의 광 경로를 분리한다.
도 1 등에 도시한 광 경로 분리기(18)는 써큘레이터를 나타낸 것이며, 광 경로 분리기(18)에는 제1 포트, 제2 포트 및 제3 포트가 구비되어 있다. 광 경로 분리기(18)의 제1 포트로는 광 분기기(13)에서 분기된 투과광이 입력된다. 광 경로 분리기(18)의 제2 포트로는 상기 투과광이 출력되어 광섬유(200)로 입사되고, 상기 광섬유(200)에서 출사되는 수신광이 입력된다. 그리고 광 경로 분리기(18)의 제3 포트로는 상기 수신광이 출력되어 제2 에탈론 필터(19)로 입사된다. 광 경로 분리기(18)로는 써큘레이터 외에도 광 로테이터, 인터리버 필터 등을 활용할 수 있으며, 이러한 광 경로 분리기(18)에 의해 매우 미세한 파장 간격을 갖는 송신광(여기에서는, 투과광)과 수신광도 분리해낼 수 있게 된다.
광섬유(200)는 함체(100)의 외부이자, 광 경로 분리기(18)를 통과하는 투과광이 진행하는 경로에 배치되며, 상기 광 경로 분리기(18)를 통과하는 투과광이 입사된다. 또한, 광섬유(200)는 광 경로 분리기(18)를 향해 수신광을 출사한다.
제2 에탈론 필터(19)는 광섬유(200)에서 출사된 이후 광 경로 분리기(18)를 통과하는 수신광을 제2 파장 대역에서 선택적으로 투과시킨다. 제2 에탈론 필터(19)는 제1 에탈론 필터(14)와 마찬가지로 양단에 위치한 반사면 사이에 유리와 같은 투과 재질이 채워져서 형성된 것일 수 있다. 여기서, 상기 제2 파장 대역은 제2 에탈론 필터(19)에 입사되는 광의 파장 대역 중에서 제2 에탈론 필터(19)를 투과할 수 있는 파장 대역을 의미한다.
광섬유(200)에서 출사된 이후 광 경로 분리기(18)를 통과하는 수신광에는, 수신용 포토 다이오드(300)에서 수신하고자 하는 파장 대역의 광과, 그 외 노이즈에 해당하는 파장 대역의 광이 혼합되어 있을 수 있다. 이때 제2 에탈론 필터(19)는 상기 제2 파장 대역에 해당하는 광만을 투과시키고, 그 외 파장 대역에 해당하는 광은 차단시키는 역할을 하며, 이에 따라 수신용 포토 다이오드(300)에서는 수신하고자 하는 파장 대역의 광만을 수신할 수 있게 된다.
제2 에탈론 필터(19)의 FSR 및 투과 대역폭은, 상술한 제1 에탈론 필터(14)와 마찬가지로, 필터의 재질, 두께, 다층 박막 코팅, 수신광의 입사 각도 등에 의해 좌우된다. 여기서, 제2 에탈론 필터(19)에 대한 수신광의 입사 각도는 90°일 수 있으며, 제2 에탈론 필터(19)의 제2 파장 대역은 제2 에탈론 필터(19)의 온도 변경을 통해 조정될 수 있다.
제2 에탈론 필터(19)를 투과하는 수신광은 수신용 포토 다이오드(300)에 의해 검출될 수 있다. 수신용 포토 다이오드(300)는 광전류 형태로 수신광을 검출할 수 있다.
제2 에탈론 필터(19)는 제2 에탈론 필터 지지부재(27)에 의해 지지될 수 있다. 보다 구체적으로, 제2 에탈론 필터(19)는 제2 에탈론 필터 지지부재(27)의 전방(수신광이 제2 에탈론 필터 지지부재(27)에 입사되는 쪽)에 고정될 수 있다.
제2 에탈론 필터 지지부재(27)에는 제2 에탈론 필터 지지부재(27)의 전방과 후방(수신광이 제2 에탈론 필터 지지부재(27)에서 출사되는 쪽)을 관통하는 수신광 통과홀(28)이 마련되어 있으며, 제2 에탈론 필터 지지부재(27)의 후방에는 수신용 포토 다이오드(300)가 배치될 수 있다. 이 경우 제2 에탈론 필터(19)를 투과하는 수신광은 상기 수신광 통과홀(28)을 거쳐 수신용 포토 다이오드(300)에 입사될 수 있다. 제2 에탈론 필터(19), 제2 에탈론 필터 지지부재(27) 및 수신용 포토 다이오드(300)가 이와 같은 배치 관계를 가질 경우 광 서브어셈블리(1000)를 비교적 소형으로 제작할 수 있게 된다.
제2 온도 감지 소자(20)는 제2 에탈론 필터(19)의 온도를 감지하는 역할을 한다. 이를 위해 제2 온도 감지 소자(20)는 써미스터로 이루어지거나 이를 포함해서 이루어질 수 있다. 제2 온도 감지 소자(20)는 제2 에탈론 필터(14) 또는 제2 에탈론 필터 지지부재(27)에 부착될 수 있다.
제2 온도 조절 소자(21)는 제2 에탈론 필터(19)의 온도를 조절하는 역할을 한다. 제2 온도 조절 소자(21)는 제2 에탈론 필터(19)의 온도를 변경하기 위해 TEC로 이루어지거나 이를 포함해서 이루어질 수 있다. 제어기(600)는 제2 온도 조절 소자(21)의 양 전극에 전압을 인가하여 전류를 흘려줄 수 있으며, 전류가 흐르는 방향에 따라 제2 에탈론 필터(19)의 온도가 높아지거나 낮아질 수 있다.
제2 온도 조절 소자(21)는 발열 작용 또는 흡열 작용을 통해 제2 에탈론 필터(19)의 온도를 조절한다. 이때 제2 온도 조절 소자(19)의 온도 조절에 따라 발생한 열이 광 서브어셈블리(1000)의 외부로 원활히 배출되지 않으면, 제2 에탈론 필터(19)의 온도가 제대로 조절될 수 없게 된다. 이에 따라, 제2 온도 조절 소자(21)를 함체(100)와 직접적으로 접촉시킴으로써, 제2 온도 조절 소자(21)의 온도 조절에 따라 발생한 열이 광 서브어셈블리(1000)의 외부로 원활히 배출되도록 하는 것이 바람직하다. 즉, 제2 온도 조절 소자(21)가 함체(100)와 직접적으로 접촉될 경우에는, 제2 온도 조절 소자(21)의 온도 조절에 따라 발생한 열이 함체(100)를 통해 외부로 배출될 수 있기 때문에, 제2 에탈론 필터(19)의 온도 조절이 정확하게 이루어지고, 이로 인해 수신용 포토 다이오드(300)에서 수신하고자 하는 파장 대역의 조절 역시 정확하게 이루어질 수 있게 된다.
제2 온도 조절 소자(21)의 상부에는 제2 베이스 플레이트(29)가 배치될 수 있다. 또한, 제2 베이스 플레이트(29)의 상부에는 상술한 제2 에탈론 필터(19), 제2 에탈론 필터 지지부재(27) 및 제2 온도 감지 소자(20)가 배치될 수 있다.
여기서, 제2 온도 감지 소자(20)는 제2 베이스 플레이트(29)의 상부에서 제2 베이스 플레이트(29)에 직접적으로 접촉될 수 있다. 또는, 제2 온도 감지 소자(20)는 도 1 등에 도시된 바와 같이, 제2 베이스 플레이트(29)의 상부에 배치되되, 제2 에탈론 필터 지지부재(27) 상에 배치될 수도 있다. 제2 온도 조절 소자(21)가 발열 작용 또는 흡열 작용에 의한 온도 조절을 할 경우, 제2 베이스 플레이트(29) 또는 제2 에탈론 필터 지지부재(27)의 온도가 곧 제2 에탈론 필터(19)의 온도가 될 수 있다. 이에 따라, 제2 온도 감지 소자(20)가 제2 베이스 플레이트(29)에 직접적으로 접촉되거나, 제2 에탈론 필터 지지부재(27) 상에 배치될 경우, 제2 온도 감지 소자(20)는 제2 에탈론 필터(19)의 온도를 감지해낼 수 있게 된다.
도 13은 제어기가 제2 에탈론 필터에서 투과되는 파장을 변화시키는 모습을 설명하기 위해 나타낸 도면이다.
도 13을 참고하면, 제어기(600)는 제2 온도 감지 소자(20)에 연결되어 있으며, 이에 따라 제2 온도 감지 소자(20)에 의해 감지되는 제2 에탈론 필터(19)의 온도를 획득할 수 있다. 또한, 제어기(600)는 제2 온도 조절 소자(21)에 연결되어 있으며, 이에 따라 상기 제2 에탈론 필터(19)의 온도에 기초하여 제2 온도 조절 소자(21)를 제어할 수 있다. 제어기(600)가 제2 온도 조절 소자(21)를 제어할 경우, 제2 에탈론 필터(19)의 제2 파장 대역 역시 변하게 된다.
한편, 광 경로 분리기(18)를 통과하는 투과광이 진행하는 경로에는 제1 윈도우(30)가 구비될 수 있다. 제1 윈도우(30)는 광 경로 분리기(18)에서 광섬유(200)를 향해 투과광이 이동하는 통로이자, 광섬유(200)에서 광 경로 분리기(18)를 향해 수신광이 이동하는 통로에 해당한다. 이때 제1 윈도우(30)는 함체(100)의 일측을 밀폐시킴으로써, 함체(100) 안으로 외부 물질이 침입하는 현상을 방지할 수 있다.
또한, 제1 윈도우(30)와 광섬유(200) 사이에는 제1 평행광 렌즈(400)가 배치될 수 있으며, 이때 상기 제1 평행광 렌즈(400)는 상기 함체(100)의 일측에 결합되어 있을 수 있다. 이와 같이 함체(100)에 제1 평행광 렌즈(500)가 결합되어 있을 경우에는, 송신단을 위한 광섬유 정렬이 비교적 쉽게 이루어질 수 있기 때문에, 광 서브어셈블리(1000) 제작의 효율성을 크게 향상시킬 수 있다. 제1 평행광 렌즈(400)는 광 경로 분리기(18)에서 광섬유(200)를 향해 이동하는 투과광을 집속시킴과 동시에, 광섬유(200)에서 광 경로 분리기(18)를 향해 이동하는 수신광을 평행광 형태로 변환하는 역할을 한다.
제2 에탈론 필터(19)를 투과하는 수신광이 진행하는 경로에는 제2 윈도우(31)가 구비될 수 있다. 제2 윈도우(31)는 제2 에탈론 필터(19)에서 수신용 포트 다이오드(300)를 향해 수신광이 이동하는 통로에 해당한다. 이때 제2 윈도우(31)는 함체(100)의 타측을 밀폐시킴으로써, 함체(100) 안으로 외부 물질이 침입하는 현상을 방지할 수 있다.
또한, 제2 윈도우(31)와 수신용 포토 다이오드(300) 사이에는 제2 평행광 렌즈(500)가 배치될 수 있으며, 이때 상기 제2 평행광 렌즈(500)는 상기 함체(100)의 타측에 결합되어 있을 수 있다. 제2 평행광 렌즈(500)는 제2 에탈론 필터(19)에서 수신용 포트 다이오드(300)를 향해 이동하는 수신광을 집속시키는 역할을 한다.
수신용 포토 다이오드(300)는 함체(100)의 외부이자, 제2 에탈론 필터(19)를 투과하는 수신광이 진행하는 경로에 배치되어, 상기 제2 에탈론 필터(19)를 투과하는 수신광을 검출하는 역할을 한다. 수신용 포토 다이오드(300)는 수신광을 광전류 형태로 검출할 수 있으며, 검출된 송신광에 대한 정보는 제어기(600)로 전달될 수 있다.
수신용 포토 다이오드(300)는 TO(310)의 내부에 수용될 수 있다. TO(310)의 상단에는, 제2 에탈론 필터(19)를 투과한 수신광이 수신용 포트 다이오드(300)로 이동할 수 있도록 투과 윈도우(315)가 구비될 수 있다.
TO(310)를 함체(100)에 고정시킬 때에는, 제2 에탈론 필터(19)를 투과한 수신광이 수신용 포토 다이오드(300)에 높은 효율로 전달되는 것이 중요하다. 즉, 수신용 포토 다이오드(300)의 수신 효율을 향상시키기 위해서는, 제2 에탈론 필터(19)와 수신용 포토 다이오드(300)가 광학적으로 정렬될 필요가 있다. 이를 위해, TO(310)의 외부에는 고정부재(320)가 장착될 수 있다.
고정부재(320)를 함체(100)에 고정시킬 때에는 자외선 경화제를 이용할 수 있지만, 이 경우에는 자외선 경화제가 경화되는 과정에서 제2 에탈론 필터(19)와 수신용 포토 다이오드(300) 간 광학적 정렬이 어긋나버릴 우려가 있다. 이에 따라, 고정부재(320)를 함체(100)에 고정시킬 때에는 레이저 용접에 의해 고정시키는 것이 바람직하다. 레이저 용접에 의한 고정은 경화제에 의한 고정에 비해 시간 소요가 적고, 제2 에탈론 필터(19)와 수신용 포토 다이오드(300)의 광학적인 정렬이 비교적 정교하게 이루어질 수 있으며, 레이저 용접에 의한 고정 후에는 상기 정렬이 틀어지는 현상이 비교적 적어서, 수신용 포토 다이오드(300)가 수신광을 비교적 높은 효율로 수신할 수 있게 된다.
한편, 상술한 바와 같이 함체(100)는 제2 에탈론 필터(19), 제2 온도 감지 소자(20) 및 제2 온도 조절 소자(21)를 내부에 수용하고 있다. 이때 제2 온도 조절 소자(21)는 제2 온도 감지 소자(20)에 의해 감지되는 제2 에탈론 필터(19)의 온도에 기초하여 제어될 수 있기 때문에, 수신용 포토 다이오드(300)에서 수신하고자 하는 광의 파장 대역을 가변시킬 수 있다.
이와 같이 본 발명은 제2 에탈론 필터(19), 제2 온도 감지 소자(20) 및 제2 온도 조절 소자(21)가 함체(100) 내부에 수용되어 있기 때문에, 수신 파장 대역만을 투과시키는 필터를 수신단 측에 별도로 구비시킬 필요가 없으며, 수신 파장 대역이 고정되어 있는 수신용 포토 다이오드나 수신용 TO(수신용 포토 다이오드, TO 스템 및 캡으로 이루어짐)도 얼마든지 활용할 수 있다. 게다가, 본 발명에 의하면, 함체(100)에 제2 평행광 렌즈(500)가 결합되어 있기 때문에 수신단을 위한 TO 정렬이 비교적 쉽게 이루어질 수 있으며, 이에 따라 광 서브어셈블리(1000) 제작의 효율성을 크게 향상시킬 수 있게 된다.
본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 상기의 실시예에 한정되는 것이 아니라 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 따라서, 본 발명의 기술적 사상은 청구범위에 의해서만 파악되어야 하고, 이의 균등 또는 등가적 변형 모두는 본 발명의 기술적 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.
11: 레이저 다이오드 12: 제1 모니터링 포토 다이오드
13: 광 분기기 14: 제1 에탈론 필터
15: 제2 모니터링 포토 다이오드 16: 제1 온도 감지 소자
17: 제1 온도 조절 소자 18: 광 경로 분리기
19: 제2 에탈론 필터 20: 제2 온도 감지 소자
21: 제2 온도 조절 소자 22: 송신광용 평행광 렌즈
23: 아이솔레이터 24: 제1 에탈론 필터 지지부재
25: 반사광 통과홀 26: 제1 베이스 플레이트
27: 제2 에탈론 필터 지지부재 28: 수신광 통과홀
29: 제2 베이스 플레이트 30: 제1 윈도우
31: 제2 윈도우 100: 함체
200: 광섬유 300: 수신용 포토 다이오드
310: TO 315: 투과 윈도우
320: 고정부재 400: 제1 평행광 렌즈
500: 제2 평행광 렌즈 600: 제어기
1000: 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리

Claims (10)

  1. 송신광을 출력하는 레이저 다이오드;
    상기 레이저 다이오드의 후방으로 출력되는 상기 송신광을 검출하는 제1 모니터링 포토 다이오드;
    상기 레이저 다이오드의 전방으로 출력되는 상기 송신광을 반사광과 투과광으로 분기하는 광 분기기;
    상기 반사광을 제1 파장 대역에서 투과시키는 제1 에탈론 필터;
    상기 제1 에탈론 필터를 투과하는 상기 반사광을 검출하는 제2 모니터링 포토 다이오드;
    상기 레이저 다이오드 및 상기 제1 에탈론 필터의 온도를 감지하는 제1 온도 감지 소자;
    상기 레이저 다이오드 및 상기 제1 에탈론 필터의 온도를 조절하는 제1 온도 조절 소자;
    상기 투과광의 광 경로에 배치되어, 상기 투과광과 수신광의 광 경로를 분리하는 광 경로 분리기;
    상기 광 경로 분리기를 통과하는 상기 투과광이 입사되는 광섬유;
    상기 광섬유에서 출사된 이후 상기 광 경로 분리기를 통과하는 상기 수신광을 제2 파장 대역에서 투과시키는 제2 에탈론 필터;
    상기 제2 에탈론 필터의 온도를 감지하는 제2 온도 감지 소자;
    상기 제2 에탈론 필터의 온도를 조절하는 제2 온도 조절 소자; 및
    상기 제2 에탈론 필터를 투과하는 수신광을 검출하는 수신용 포토 다이오드를 포함하는 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 에탈론 필터를 지지하며, 상기 제1 에탈론 필터를 투과하는 상기 반사광이 상기 제2 모니터링 포토 다이오드에 입사될 수 있도록 반사광 통과홀이 마련되어 있는 제1 에탈론 필터 지지부재를 더 포함하며,
    상기 제2 모니터링 포토 다이오드는 상기 제1 에탈론 필터 지지부재의 후방에 배치되어, 상기 제1 에탈론 필터를 투과하는 반사광이 상기 반사광 통과홀을 거쳐 상기 제2 모니터링 포토 다이오드에 입사되는 것을 특징으로 하는 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제2 에탈론 필터를 지지하며, 상기 제2 에탈론 필터를 투과하는 상기 수신광이 상기 수신용 포토 다이오드에 입사될 수 있도록 수신광 통과홀이 마련되어 있는 제2 에탈론 필터 지지부재를 더 포함하며,
    상기 수신용 포토 다이오드는 상기 제2 에탈론 필터 지지부재의 후방에 배치되어, 상기 제2 에탈론 필터를 투과하는 반사광이 상기 수신광 통과홀을 거쳐 상기 수신용 포토 다이오드에 입사되는 것을 특징으로 하는 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 광 경로 분리기의 제1 포트로는 상기 투과광이 입력되고,
    상기 광 경로 분리기의 제2 포트로는 상기 투과광이 출력되어 상기 광섬유로 입사되고, 상기 광섬유에서 출사되는 상기 수신광이 입력되며,
    상기 광 경로 분리기의 제3 포트로는 상기 수신광이 출력되어 상기 제2 에탈론 필터로 입사되는 것을 특징으로 하는 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 레이저 다이오드, 상기 제1 모니터링 포토 다이오드, 상기 광 분기기, 상기 제1 에탈론 필터, 상기 제2 모니터링 포토 다이오드, 상기 제1 온도 감지 소자, 상기 제1 온도 조절 소자, 상기 광 경로 분리기, 상기 제2 에탈론 필터, 상기 제2 온도 감지 소자 및 상기 제2 온도 조절 소자를 내부에 수용하는 함체를 더 포함하며,
    상기 광섬유는, 상기 함체의 외부이자, 상기 광 경로 분리기를 통과하는 상기 투과광이 진행하는 경로에 배치되고,
    상기 수신용 포토 다이오드는, 상기 함체의 외부이자, 상기 제2 에탈론 필터를 투과하는 수신광이 진행하는 경로에 배치되는 것을 특징으로 하는 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 제1 온도 조절 소자 및 상기 제2 온도 조절 소자는 상기 함체와 직접적으로 접촉되어 있는 것을 특징으로 하는 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 광 경로 분리기를 통과하는 상기 투과광이 진행하는 경로에 구비되며, 상기 함체의 일측을 밀폐시키는 제1 윈도우; 및
    상기 제2 에탈론 필터를 투과하는 수신광이 진행하는 경로에 구비되며, 상기 함체의 타측을 밀폐시키는 제2 윈도우를 더 포함하는 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 제1 윈도우와 상기 광섬유 사이에 배치되며, 상기 함체의 일측에 결합된 제1 평행광 렌즈; 및
    상기 제2 윈도우와 상기 수신용 포토 다이오드 사이에 배치되며, 상기 함체의 타측에 결합된 제2 평행광 렌즈를 더 포함하는 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리.
  9. 제5항에 있어서,
    상기 수신용 포토 다이오드를 수용하는 TO; 및
    상기 TO의 외부에 장착되는 고정부재를 더 포함하며,
    상기 고정부재는 상기 함체에 레이저 용접에 의해 고정되는 것을 특징으로 하는 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 제1 온도 감지 소자에 의해 감지되는 상기 레이저 다이오드 및 상기 제1 에탈론 필터의 온도에 기초하여 상기 제1 온도 조절 소자를 제어하고, 상기 제2 온도 감지 소자에 의해 감지되는 상기 제2 에탈론 필터의 온도에 기초하여 상기 제2 온도 조절 소자를 제어하는 제어기를 더 포함하는 양방향 광통신용 파장 가변 광 서브어셈블리.
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