KR20220066113A - 먼지의 양을 측정하기 위한 장치, 방법, 시스템, 및 부품 키트 - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 먼지(50)의 양을 측정하기 위한 장치(1)에 있어서, 상기 장치(1)는, 샘플 콜렉터(40) - 상기 샘플 콜렉터(40)는 전면(42) 및 후면(44)을 갖고, 먼지 샘플이 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(40)에 달라붙음 - 를 수용하도록 구성된 리시버(2); 수용된 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(42)과 접촉하여, 제1 콘택트 포인트에 배치되도록 구성되는 제1 콘택트(11) 및 수용된 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(42)과 접촉하여, 제2 콘택트 포인트에 배치되도록 구성되는 제2 콘택트(11) - 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12)는 전기 전도성이 있음 - ; 전기 전도성 표면(14); 상기 전기 전도성 표면(14)을 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 후면(44)과 접촉하여 위치시키도록 구성된 얼라이너(20) - 상기 전기 전도성 표면(14)이 상기 얼라이너(20)에 의해 위치될 때, 상기 전기 전도성 표면(14)의 제2 부분은, 상기 전면(42) 상의 상기 제2 콘택트 포인트를 가로지르는 포인트에, 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 후면(44)과 접촉하여 위치됨 - ; 및 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 사이의 전기 저항값을 측정하도록 구성된 저항 미터(30); 를 포함하되, 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12)가 상기 전면(42)과 접촉하여 위치되고 상기 전기 전도성 표면(14)이 상기 후면(44)과 접촉하여 위치될 때, 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 사이의 측정된 상기 전기 저항값은 상기 먼지 샘플의 상기 먼지(50)의 양을 나타내고, 나타내진 양의 상기 먼지(50)는, 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 사이에서 상기 샘플 콜렉터(40)의 전면(42) 상에 놓이게 되는 것을 특징으로 한다.
Description
본 발명은 일반적으로 먼지의 양을 측정하는 것에 관한 것이다.
시설 안의 물체의 청소 중에, 클리너는 의식적으로 또는 무의식적으로 다양한 물체의 청정도를 보통 평가한다. 이는 시설 안의 어떤 물체가 가장 더럽고 가장 청소가 필요한지, 청소된 물체가 충분히 깨끗하거나 더 청소가 필요한지, 청소하지 않은 물체가 충분히 깨끗하고 청소가 필요하지 않은 경우 등을 결정하기 위해 행해질 수 있다. 청정도를 평가함은 고품질의 청소 과정이라는 결과를 가져올 수 있다. 이 품질은 더 많은 청소 시간이 가장 더러운 물체에 사용되고 이미 청결한 물체에 낭비되지 않을 때 전체적인 클리너 시설의 관점에서 높아질 수 있다. 이 품질은 또한 시설 또는 시설 안에 있는 물건이 필요할 때만 청소될 때 시설에 적은 청소 시간이 할당될 필요가 있을 때 더 비용효과적인 청소 과정의 관점에서 높아질 수 있다.
청정도의 평가를 위한 단연코 가장 흔한 방법은 시각적 관찰, 즉 육안으로 물체를 보는 것이다. 물체 위의 유기성 잔재물의 양의 관점에서 청정도를 평가하는 방법은 ATP 방법이다. ATP는 생물학적 세포에서 발견되는 분자이며 ATP 방법에서는 ATP의 존재를 검출하도록 물체의 표면으로부터 샘플이 화학적으로 처리된다. 청정도를 평가하는 다른 방법은 자외선 라이팅으로 표면을 자외선으로 비추어 예를 들면 혈액, 소변, 타액 등, 특정 유형의 먼지로부터의 형광성을 유도하도록 하는 것이다.
비록 이들 평가 방법이 효과가 있지만, 어떻게 먼지의 양이 측정될지를 개선할 여지가 있다.
본 발명은 먼지의 양을 측정하기 위한 개선된 수단을 제공하는 것을 목적으로 한다. 본 발명은 먼지의 양을 측정하기 위한 수단으로서 정확하고, 다용도이고, 빠르고 저렴한 수단을 제공하는 것을 다른 목적으로 한다.
본 발명의 이들 및 기타 목적은 적어도 부분적으로 독립항에 정의된 바와 같이 본 발명에 의해 해결된다. 바람직한 실시예는 종속항에 기재된다.
본 발명의 제 1 태양에 따라서, 먼지의 양을 측정하기 위한 장치에 있어서, 상기 장치는, 샘플 콜렉터 (상기 샘플 콜렉터는 전면 및 후면을 갖고, 먼지 샘플이 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면에 달라붙음) 를 수용하도록 구성된 리시버; 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면과 접촉하여, 제1 콘택트 포인트에 배치되도록 구성되는 제1 콘택트 및 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면과 접촉하여, 제2 콘택트 포인트에 배치되도록 구성되는 제2 콘택트 (상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트는 전기 전도성이 있음) ; 전기 전도성 표면; 상기 전기 전도성 표면을 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 접촉하여 위치시키도록 구성된 얼라이너 (상기 전기 전도성 표면이 상기 얼라이너에 의해 위치될 때, 상기 전기 전도성 표면의 제1 부분은, 상기 전면 상의 상기 제1 콘택트 포인트를 가로지르는 포인트에, 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 접촉하여 위치되며, 상기 전기 전도성 표면의 제2 부분은, 상기 전면 상의 상기 제2 콘택트 포인트를 가로지르는 포인트에, 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 접촉하여 위치됨) ; 및 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이의 전기 저항값을 측정하도록 구성된 저항 미터; 를 포함하되, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트가 상기 전면과 접촉하여 위치되고 상기 전기 전도성 표면이 상기 후면과 접촉하여 위치될 때, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이의 측정된 상기 전기 저항값은 상기 먼지 샘플의 상기 먼지의 양을 나타내고, 나타내진 양의 상기 먼지는, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이에서 상기 샘플 콜렉터의 전면 상에 놓이게 되는 장치가 제공된다.
발명의 사상에 따르면 먼지 샘플은 물체로부터 채취될 수 있으며, 예를 들어 물체는 테이블, 바닥 또는 선반을 들 수 있다. 이는 예를 들면 샘플 콜렉터를 상기 물체의 표면 위로 샘플 콜렉터의 전면을 물체를 향하게 하여 긁음으로써 행해질 수 있다. 상기 샘플 콜렉터 위의 먼지의 양의 측정은 이후 상기 표면이 얼마나 더러운지를 대표하는 것으로 간주될 수 있다. 정확한 측정을 달성하기 위해서는 샘플의 채취는 표준화될 수 있다는 것을 여기서 알 수 있는데, 예를 들면 상기 샘플 콜렉터는 각 측정마다 특정 거리에서 긁어지게 된다. 각 측정마다 신규 또는 세척된 샘플 콜렉터 또한 사용될 수 있다.
상기 샘플 콜렉터는 극세사 직물일 수 있음을 알 수 있다. 샘플 콜렉터로서 극세사 직물을 수용하도록 상기 장치를 구성하는 이점은 상기 장치를 청소 절차에서 포함시키기 쉽다는 것이다. 대부분의 클리너는 극세사 직물을 소지하며 먼지 샘플의 채취에 쓰이는 극세사 직물은 또한 측정이 끝난 후 계속되는 청소에 또한 사용될 수 있다. 다음에서, 본 발명은 상기 샘플 콜렉터가 극세사 직물이라는 맥락으로 지배적으로 설명될 것이다. 그러나, 기타 샘플 콜렉터 또한 사용될 수 있다는 것을 알아야 할 것이며, 예를 들면 극세사 표면을 가진 스티프 샘플 콜렉터가 사용될 수 있다. 상기 샘플 콜렉터의 전면 및 후면은 상기 샘플 콜렉터의 대향하는 면을 지칭할 수 있음을 알 수 있으며, 예를 들면 극세사 직물의 대향하는 면을 지칭한다.
제 1 태양에 따른 장치의 이점은 먼지의 양의 정확한 측정을 제공한다는 것이다. 표면의 먼지는 표면의 표면 저항률을 변화시킬 수 있다는 것이 본 발명의 인식이다. 예를 들면, 극세사 직물은 먼지를 모으도록 정전기를 사용할 수 있으며, 정전기의 양은 수집된 먼지의 양에 반비례할 수 있다. 정전기는 해당 시스템의 저항률에 비례할 수 있다. 표면은 더러울 때 저항이 감소하여 전기적 전류를 더 순조롭게 전도할 수 있다. 먼지는 따라서 샘플 콜렉터의 표면 위에 전도성 통로를 형성할 수 있다. 표면 위의 두 콘택트 포인트 사이의 저항을 측정함으로써 상기 표면 저항률은 저항과 콘택트 크기와 간격에 기반하여 평가될 수 있음을 통상의 기술자는 이해할 것이다. 따라서 발명의 사상에 따라, 상기 샘플 콜렉터의 상기 표면 위의 저항 측정은 상기 제 1 및 제 2 콘택트 사이에서 상기 샘플 콜렉터 위에 있는 먼지의 양을 측정하도록 사용될 수 있다. 이 값은 이후 상기 샘플이 채취되었을 때 물체가 얼마나 더러웠는지에 관련될 수 있다. 먼지 측정을 위한 저항 측정은 상기 샘플 콜렉터와 관련된 기타 전도성 통고에 의해 영향을 받을 수 있음은 본 발명의 추가적인 인식으로, 예를 들면 상기 샘플 콜렉터를 통해서 또는 상기 전면보다는 상기 샘플 콜렉터의 기타 표면 위의 통로에 의해 영향을 받을 수 있다.
본 발명의 발명자는 상기 샘플 콜렉터의 후면 위의 전기 전도성 표면을 위치시키는 것이 정확도를 개선시킬 수 있다는 것을 발견했다. 상기 저항 측정값은 전기 전도성 표면이 상기 후면 위에 위치될 때 더 안정적 및/또는 더 재생산가능해질 수 있다. 상기 전기 전도성 표면 없이 저항 측정 중에, 전류는 한 콘택트로부터 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면을 따라서 다른 콘택트로 흐를 수 있으며, 이 전류 패스는 상기 먼지의 양을 측정하도록 사용될 수 있다. 그러나, 전류는 또한 상기 콘택트의 하나를 통해서도 통할 수 있고, 상기 샘플 콜렉터를 통해서도, 상기 후면을 따라서, 만일 상기 샘플 콜렉터가, 그리고 상기 샘플 콜렉터를 통해서 다시 상기 다른 콘택트로 통한다면, 통하는 것이 가능하다. 이 전류 패스를 전기 전도성 표면을 사용하여 단축하는 것이 가능하며 이는 측정을 개선할 수 있다. 상기 전기 전도성 표면이 상기 후면 위로 전하를 재분배하는 것 또한 가능하다. 또한 상기 전기 전도성 표면은 상기 제 1 및 제 2 콘택트 사이의 총 저항을 낮추는 것이 가능하며, 그로 인해 상기 저항을 저항 미터가 더 정확한 범위로 밀어내는 것이 가능하다.
상기 전면 위의 상기 제 1 콘택트에 횡방향인 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면 위의 지점은 상기 제 1 콘택트 포인트에서 시작하는 벡터에 의해 표시되는 상기 후면 위의 지점으로 정의될 수 있음을 알 수 있으며, 이는 상기 제 1 콘택트 포인트에서 상기 전면에 법선인 방향으로 상기 샘플 콜렉터를 통해 지나가며, 상기 후면 위에서 끝난다. 상기 전면 위의 상기 제 2 콘택트 포인트에 횡방향인 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면 위의 지점은 비슷하게 정의될 수 있음을 알 수 있을 것이다.
지점과 상기 샘플 콜렉터 사이의 적어도 하나의 콘택트 포인트가 대응하는 콘택트 포인트를 상기 샘플 콜렉터의 상기 횡방향 측 위에 갖는 것을 보장하여, 상기 콘택트와 상기 전기 전도성 표면 사이의 짧은 전류 패스가 보장될 수 있다. 이는 상기 측정의 상기 정확도를 개선할 수 있는 상기 샘플을 통해 흐르는 전류에 대한 저항을 줄일 수 있다. 이는 또한 상기 샘플 콜렉터의 상기 횡방향 측 위의 상기 제 1 및 제 2 콘택트에 적어도 부분적으로 상기 전기 전도성 표면이 겹칠 것을 보장할 수 있다. 이는 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면 위로 대응하는 낮은 저항 전류 패스를 보장하며, 상기 전류 패스는 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 접촉하거나 하지 않을 수도 있다. 이와 같은 전류 패스는 후방 전류 패스를 단축 및/또는 상기 후면 위의 전하를 재분배하도록 도울 수 있다.
상기 제 1 태양에 따른 장치의 다른 이점은 먼지의 양의 다양한 측정을 제공한다는 것이다. 상기 저항은 상기 샘플 콜렉터 위의 유기 및 무기 먼지 모두에 의해 영향을 받을 수 있다. 따라서, 상기 장치는 유기 및 무기 먼지 모두를 측정하기 위해 사용될 수 있다. 더욱이, 상기 측정은 육안적시진 또는 자외선과는 대조적으로 양적일 수 있다.
상기 제 1 태양에 따른 장치의 다른 이점은 먼지의 양의 빠른 측정을 제공한다는 것이다. 상기 저항 측정은 예를 들면 화학적 방법보다 빠를 수 있는데, 화학적 방법의 경우 진행시간을 갖는 반응에 의존한다. 상기 장치는 또한 비숙련자에게 사용되기에도 충분히 간단할 수 있다. 샘플은 원거리의 실험실 또는 측정 시설로 보내질 필요가 없고 이는 시간을 절약할 수 있다.
상기 제 1 태양에 따른 장치의 다른 이점은 이는 먼지의 양의 저렴한 측정을 제공한다는 것이다. 상기 장치는 표준 전기적 부품으로 이루어질 수 있으며, 이는 장치를 제조하기 저렴하게 만든다.
상기 리시버는 상기 샘플 콜렉터가 상기 제 1 및 제 2 콘택트의 상부 위에 수용되도록 구성될 수 있으며, 상기 리시버는 예를 들어 상기 제 1 및 제 2 콘택트를 상기 제 1 및 제 2 콘택트 사이의 영역과 함께 포함할 수 있다. 상기 리시버는 또한 상기 샘플 콜렉터가 상기 전기 전도성 표면의 상부 위에 수용되도록 구서오딜 수 있으며, 상기 리시버는 예를 들면 상기 전기 전도성 표면일 수 있다.
상기 먼지 샘플은 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면에 정전기적으로 부착될 수 있음을 알 수 있으며, 예를 들면 정전기에 의해 부착될 수 있다.
상기 제 1 콘택트는 상기 제 1 전면에 최소 접촉면을 가질 수 있으며, 예를 들어 최소 접촉면은 0.5cm2, 1cm2, 또는 5cm2일 수 있다. 상기 제 1 및 제 2 콘택트는 최소 이격 거리를 가질 수 있으며, 상기 최소 이격 거리는 예를 들면 0.5cm, 1cm 또는 5cm 일 수 있다. 상기 제 1 및 제 2 콘택트는 서로 평행일 수 있다. 상기 제 1 및 제 2 콘택트는 상기 콘택트 사이에 이격 방향에 직교 방향으로 동일 한 길이를 가질 수 있다. 상기 길이는 예를 들면 1 cm, 2 cm 또는 5 cm의 최소값을 가질 수 있다. 상기 콘택트 사이의 측정 영역은, 예를 들면 상기 콘택트 사이의 이격 거리를 두 평행 콘택트의 길이를 곱하여 정의된 값으로, 최소 면적으로 예를 들면 0.5 cm2, 5 cm2, 또는 20 cm2를 가질 수 있다. 그와 같은 콘택트 측정은 먼지 위의 저항 측정에 특히 적합할 수 있다.
상기 제 1 및 제 2 콘택트의 모양은 상기 전기 전도성 표면의 모양과 일치할 수 있음을 알 수 있다. 상기 전기 전도성 표면은 예를 들면 볼록한 표면, 예를 들면 구체형으로 볼록한 표면을 형성할 수 있으며, 상기 볼록한 표면 위로 걸린 극세사 직물의 상기 후면을 인터페이싱(interfacing)하며 형성할 수 있다. 상기 제 1 및 제 2 콘택트는 이후 걸린 상기 극세사 직물의 상기 전면에 이들이 인터페이스할 때 상기 볼록 표면에 일치하는 오목한 모양을 가질 수 있다.
상기 얼라이너는 상기 전기 전도성 표면이 상기 제 1 및 제 2 콘택트에 대하여 위치되는 것을 보장하는 동안 상기 수용된 샘플 콜렉터의 상기 후면에 상기 전기 전도성 표면을 접촉하도록 이동시키는 상기 장치의 기계적인 배치일 수 있음을 알 수 있다. 이는 또한 상기 제 1 및 제 2 콘택트가 상기 전기 전도성 표면에 대하여 올바르게 위치되는 것을 보장하는 동안 상기 수용된 샘플 콜렉터의 상기 전면에 상기 제 1 및 제 2 콘택트를 전기적으로 접촉하도록 이동시키는 상기 장치의 기계적인 배치일 수 있음을 알 수 있다.
상기 얼라이너는 사용자의 눈을 위한 가이드 또는 촉각을 위한 가이드가 될 수 있으며, 이는 상기 제 1 및 제 2 콘택트, 상기 샘플 콜렉터 및 상기 전기 전도성 표면을 서로에 대하여 올바른 위치잡기를 보장하는 것이다. 예를 들어, 상기 제 1 및 제 2 콘택트는 플레이트 위에 위치될 수 있으며, 상기 샘플 콜렉터는 상기 제 1 및 제 2 콘택트 넘어 위로 상기 플레이트 위에 위치될 수 있다. 상기 홀더는 이후 상기 전기 전도성 표면의 담체 또는 상기 전기 전도성 표면의 하나 이상의 에지에 대응하는 선반 또는 선의 형태로 하나 이상의 가이드를 포함할 수 있다. 상기 전기 전도성 표면 또는 담체의 전체 둘레 또한 윤곽을 보여줄 수 있다. 따라서, 상기 전기 전도성 표면이 상기 가이드 또는 복수의 가이드에 따라 상기 샘플 홀더의 상부 위에 놓였을 때, 상기 전기 전도성 표면은 이들이 보이지 않을 수 있다 하더라도 상기 밑에 있는 콘택트에 대하여 올바르게 위치될 수 있다.
상기 저항 미터는 예를 들어 옴계일 수 있다. 상기 제 1 및 제 2 콘택트와 함께 상기 저항 미터는 저항률계를 형성할 수 있음을 알 수 있다. 상기 표면 저항률은 예를 들어 상기 콘택트의 길이에 상기 저항을 곱한 것을 상기 콘택트 사이의 이격 거리로 나눈 것일 수 있다.
발명의 사상에 따라 상기 얼라이너는 전방부 (상기 전방부에 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트가 부착됨) ; 후방부 (상기 후방부에 상기 전기 전도성 표면이 부착됨) ; 및 상기 전방부를 상기 후방부와 기계적으로 연결시키는 힌지 (상기 힌지는, 상기 전방부로 하여금 상기 후방부에 대하여 회전 운동을 하도록 하고, 상기 힌지는, 상기 리시버가 상기 샘플 콜렉터를 자유롭게 수용할 수 있는 회전상 개방된 위치, 및 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 상기 전기 전도성 표면이 접촉하게 되는 회전상 폐쇄된 위치를 가짐) ; 를 포함하되, 상기 전방부, 상기 후방부, 및 상기 힌지는, 상기 힌지가 상기 회전상 폐쇄된 위치에 있을 때, 상기 전기 전도성 표면을 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 접촉하여 위치시키도록 구성되는 것을 특징으로 한다.
이와 같은 얼라이너를 갖는 장치는 사용자친화적이다. 상기 장치는 하나의 단일 부품으로서 구축될 수 있다. 상기 전기 전도성 표면과 상기 제 1 및 제 2 콘택트의 얼라이닝은 최소한의 생각만 해도 할 수 있다. 상기 전기 전도성 표면과 상기 제 1 및 제 2 콘택트의 얼라이닝은 한손만 움직여도 할 수 있다. 이와 같은 얼라이너를 갖는 장치는 정확하다. 상기 전기 전도성 표면의 이동을 단일 회전 이동으로 제한하는 것은 오류에 대한 여지를 적게 남긴다.
상기 전방부, 상기 후방부 또는 상기 힌지의 적어도 부분은, 전기적으로 절연성일 수 있다. 이는 상기 샘플 콜렉터를 우회하는 상기 콘택트 사이의 전류 패스를 막을 수 있다.
상기 힌지 및 상기 전기 전도성 표면은 상기 제 1 및 제 2 콘택트를 포함하는 평면의 대향하는 양측 위에 위치할 수 있다. 따라서, 상기 회전 이동의 피벗점과 상기 전기 전도성 표면은 상기 제 1 및 제 2 콘택트를 포함하는 평면의 대향하는 양측 위에 위치할 수 있다. 이는 상기 제 1 및 제 2 콘택트에 대하여 상기 수용된 샘플 콜렉터를 움직이지 않고 상기 수용된 샘플 콜렉터의 상기 후면에 접촉하도록 상기 전기 전도성 표면을 이동시키는 것을 도울 수 있다는 이점이 있다.
발명의 사상에 따라 상기 전기 전도성 표면 및 상기 얼라이너는, 상기 전기 전도성 표면이 상기 얼라이너에 의해 위치될 때, 샘플 콜렉터/전기 전도성 표면 인터페이스(SC/ECS Interface)가, 샘플 콜렉터/제1 콘택트 인터페이스(SC/1C Interface)의 횡방향 배열; 및 샘플 콜렉터/제2 콘택트 인터페이스(SC/2C Interface)의 횡방향 배열;을 커버하도록 구성되고, 상기 SC/ECS 인터페이스는, 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면 및 이에 접촉하는 상기 전기 전도성 표면 간의 인터페이스를 나타내고, 상기 SC/1C 인터페이스는, 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면 및 이에 접촉하는 상기 제1 콘택트 간의 인터페이스를 나타내되, 상기 SC/1C 인터페이스의 횡방향 배열은, 상기 전면부터 상기 후면까지에 걸친 상기 SC/1C 인터페이스의 횡방향 병진에 의해 정의되는, 상기 후면상의 영역이고, 상기 SC/2C 인터페이스는, 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면 및 이에 접촉하는 상기 제2 콘택트 간의 인터페이스를 나타내되, 상기 SC/2C 인터페이스의 횡방향 배열은, 상기 전면부터 상기 후면까지에 걸친 상기 SC/2C 인터페이스의 횡방향 병진에 의해 정의되는, 상기 후면상의 영역인 것을 특징으로 한다.
이와 같은 얼라이너를 갖는 장치가 정확하다는 것이 실험으로 나타났다. 상기 전면상의 샘플 콜렉터/제1 콘택트 인터페이스 및 샘플 콜렉터/제2 콘택트 인터페이스가 상기 후면상의 상기 샘플 콜렉터와 상기 전기 전도성 표면 간에 대응하는 인터페이스를 가질 것을 보장함으로써, 상기 샘플 콜렉터를 통한 짧은 전류 패스가 상기 샘플 콜렉터를 접촉하는 상기 콘택트에서 모든 포인트에 대해 보장될 수 있을 것이다. 이는 상기 측정의 상기 정확도를 개선할 수 있는 상기 샘플을 통해 흐르는 전류에 대한 저항을 줄일 수 있다. 이는 또한 상기 샘플 콜렉터의 상기 횡방향 측 위의 상기 제 1 및 제 2 콘택트에 적어도 부분적으로 상기 전기 전도성 표면이 겹칠 것을 보장할 수 있다. 이는 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면 위로 대응하는 낮은 저항 전류 패스를 보장하며, 상기 전류 패스는 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 접촉하거나 하지 않을 수도 있다. 이와 같은 전류 패스는 후방 전류 패스를 단축 및/또는 상기 후면 위의 전하를 재분배하도록 도울 수 있다.
상기 전면부터 상기 후면까지에 걸친 SC/1C 인터페이스의 횡방향 병진은 상기 전면상의 상기 SC/1C 인터페이스의 각 포인트가 상기 전면부터 상기 포인트의 상기 전면에 대한 법선을 따라, 상기 샘플 콜렉터를 통하여, 상기 후면상의 대응하는 포인트로 병진되는 것으로 정의될 수 있으며, 여기서 상기 후면상의 모든 상기 대응하는 포인트는 상기 SC/1C 인터페이스의 상기 횡방향 배열을 이룬다. 상기 전면부터 상기 후면까지에 걸친 상기 SC/2C 인터페이스의 횡방향 병진은 비슷하게 정의될 수 있다.
상기 전기 전도성 표면 및 얼라이너는, 상기 전기 전도성 표면이 상기 얼라이너에 의해 위치될 때, 상기 샘플 콜렉터/전기 전도성 표면 인터페이스(SC/ECS Interface)가, 샘플 측정 영역의 횡방향 배열;을 추가로 커버하도록 구성되고, 상기 샘플 측정 영역은, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이에서 연장하는 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면 상의 영역이며, 상기 샘플 측정 영역의 횡방향 배열은, 상기 전면부터 상기 후면까지에 걸친 상기 샘플 측정 영역의 횡방향 병진에 의해 정의되는, 상기 후면상의 영역인 것을 특징으로 한다.
이와 같은 얼라이너를 갖는 장치가 정확하다는 것이 실험으로 나타났다. 상기 샘플 측정 영역의 횡방향 배열을 추가적으로 커버하도록 SC/ECS를 구성하는 것이 상기 제 1 및 제 2 콘택트 사이에 놓인 상기 후면 영역상의 어느 포인트에 있는 전하든지 효과적으로 콘택트 상부 위의 포인트로 재분배될 수 있도록 보장할 것이다. 상기 전하는 후속적으로 단거리를 이동하여 상기 샘플 콜렉터를 통과하여 상기 콘택트에 닿도록 할 수 있다.
상기 샘플 측정 영역의 상기 횡방향 배열은 상기 포인트에서 상기 전면에 대한 법선을 따라, 상기 샘플 콜렉터를 통하여, 상기 후면상의 대응하는 포인트로 병진되는 것으로 정의될 수 있으며, 여기서 상기 후면상의 모든 상기 대응하는 포인트는 상기 샘플 측정 영역의 상기 횡방향 배열을 이룬다.
발명의 사상에 따라 상기 장치는, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트가 상기 전면과 접촉하여 위치되고 상기 전기 전도성 표면이 상기 후면과 접촉하여 위치될 때, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 중 적어도 하나와 상기 전기 전도성 표면에 의해 상기 샘플 콜렉터 상에 가해지는 압력을 설정하도록 구성되는 콘택트 압력 컨트롤러;를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
콘택트 압력 컨트롤러를 포함하는 장치는 정확하다. 상기 전기 전도성 표면 및 콘택트에 의해 상기 샘플 콜렉터에 가해지는 상기 압력은 상기 콘택트로부터, 상기 샘플 콜렉터를 통해서, 상기 전기 전도성 표면으로, 전류 패스의 저항에 영향을 미칠 수 있다. 예를 들어, 상기 샘플 콜렉터가 상기 전기 전도성 표면과 콘택트 사이에 끼일 때, 가해진 상기 압력은 얼마나 상기 샘플 콜렉터가 압축될지 영향을 미칠 수 있고 결과적으로 저항에 영향을 준다. 따라서, 한 측정부터 다른 측정으로 상기 압력을 동일하게 설정하는 것은 상기 측정의 재생산성을 개선할 수 있다.
상기 콘택트 압력 컨트롤러는 상기 콘택트와 상기 전기 전도성 표면 사이에 최소 거리를 설정하는 스페이서일 수 있음을 알 수 있다. 상기 스페이서는 예를 들면 상기 얼라이너의 상기 후방부 또는 상기 전방부상의 스페이서로, 상기 회전 이동을 제한한다. 상기 압력 컨트롤러는 상기 압력을 측정하고 설정하는 적극적 장치일 수 있음 또한 알 수 있다.
상기 전기 전도성 표면은 부동 도체일 수 있음을 알 수 있다. 따라서, 상기 전기 전도성 표면의 전위는 전기적으로 플로팅일 수 있으며 그로 인해 이는 땅으로부터 전기적으로 연결해제 및 전기적으로 전원으로부터 연결해제된다. 이는 상기 제 1 콘택트로부터 모든 전류 패스가 상기 제 2 콘택트로 가도록 그리고 그 역을 보장한다. 이는 정확한 측정을 보장할 수 있다.
상기 장치의 표면, 상기 제 1 콘택트부터 상기 제 2 콘택트까지 닿는 상기 표면은, 전기적으로 플로팅할 수 있음을 알 수 있다. 따라서, 상기 제 1 콘택트부터 상기 제 2 콘택트까지 닿는 상기 표면은 땅으로부터 전기적으로 연결해제 및 전기적으로 전원으로부터 연결해제될 수 있다. 이는 상기 제 1 콘택트로부터 모든 전류 패스가 상기 제 2 콘택트로 가도록 그리고 그 역을 보장한다. 이는 정확한 측정을 보장할 수 있다.
상기 샘플 콜렉터는 극세사 직물일 수 있음을 알 수 있다. 따라서, 본 발명의 일 태양에 따라, 극세사 직물상의 먼지의 양을 측정하기 위한 장치에 있어서, 상기 장치는, 샘플 콜렉터 (상기 샘플 콜렉터는 전면 및 후면을 갖고, 먼지 샘플이 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면에 달라붙음) 를 수용하도록 구성된 리시버 (상기 샘플 콜렉터는 극세사 직물임); 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면과 접촉하여, 제1 콘택트 포인트에 배치되도록 구성되는 제1 콘택트 및 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면과 접촉하여, 제2 콘택트 포인트에 배치되도록 구성되는 제2 콘택트 (상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트는 전기 전도성이 있음) ; 전기 전도성 표면; 상기 전기 전도성 표면을 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 접촉하여 위치시키도록 구성된 얼라이너 (상기 전기 전도성 표면이 상기 얼라이너에 의해 위치될 때, 상기 전기 전도성 표면의 제1 부분은, 상기 전면 상의 상기 제1 콘택트 포인트를 가로지르는 포인트에, 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 접촉하여 위치되며, 상기 전기 전도성 표면의 제2 부분은, 상기 전면 상의 상기 제2 콘택트 포인트를 가로지르는 포인트에, 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 접촉하여 위치됨) ; 및 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이의 전기 저항값을 측정하도록 구성된 저항 미터; 를 포함하되, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트가 상기 전면과 접촉하여 위치되고 상기 전기 전도성 표면이 상기 후면과 접촉하여 위치될 때, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이의 측정된 상기 전기 저항값은 상기 먼지 샘플의 상기 먼지의 양을 나타내고, 나타내진 양의 상기 먼지는, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이에서 상기 샘플 콜렉터의 전면 상에 놓이게 되는 장치가 제공된다.
본 발명의 제 2 태양에 따라서, 먼지의 양을 측정하기 위한 시스템에 있어서, 상기 시스템은, 본 발명의 제 1 태양의 상기 장치; 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이에서, 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면 상에 놓인 먼지의 양 및 측정된 전기 저항값 간의 관계를 저장하도록 구성된 메모리; 프로세서; 를 포함하되, 상기 프로세서는, 상기 저항 미터로부터 측정된 상기 전기 저항값을 수신하도록, 상기 메모리로부터 상기 관계를 수신하도록, 그리고 측정된 상기 전기 저항값 및 상기 관계를 사용하여 상기 먼지의 양을 계산하도록 구성되는, 시스템이 제공된다.
이 제 2 태양의 효과와 특징은 일반적으로 상기 제 1 태양과 관련하여 상기 설명된 바와 비슷하다. 상기 제 1 태양과 관련하여 언급된 실시예는 일반적으로 상기 제 2 태양과 호환될 수 있다.
상기 시스템의 추가적인 이점은 사용하기 쉽다는 점이다. 상기 저항은 먼지의 양에 반비례할 수 있지만 상기 시스템은 먼지의 양에 비례하는 값을 계산할 수 있다.
상기 메모리 및/또는 프로세서는 상기 장치 또는 기타 장치, 예를 들면 휴대폰 또는 서버 안에 설치될 수 있음을 알 수 있다.
상기 관계는 다른 양의 먼지에 대해 측정되는 교정치의 세트일 수 있음을 알 수 있다. 상기 관계는 어떻게 저항이 먼지의 양과 함께 달라지는지의 실험적 또는 이론적 모델일 수 있다.
본 발명의 제 3 태양에 따라서, 먼지의 양을 측정하기 위한 방법에 있어서, 상기 방법은, 샘플 콜렉터 (상기 샘플 콜렉터는 전면 및 후면을 갖고, 먼지 샘플이 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면에 달라붙음)를 수용하는 단계(S102); 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면과 접촉하여 제1 콘택트 포인트에 제1 콘택트를 위치시키고, 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면과 접촉하여 제2 콘택트를 제2 콘택트 포인트에 위치시키는 단계(S104); 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 접촉하여 전기 전도성 표면을 배치시키는 단계(S106)(상기 전기 전도성 표면이 배치될 때(S106), 상기 전기 전도성 표면의 제1 부분은, 상기 전면 상의 상기 제1 콘택트 포인트를 가로지르는 포인트에, 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 접촉하여 위치되며, 상기 전기 전도성 표면의 제2 부분은, 상기 전면 상의 상기 제2 콘택트 포인트를 가로지르는 포인트에, 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 접촉하여 위치됨); 및 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이의 전기 저항값을 측정하는 단계;를 포함하되, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트가 상기 전면과 접촉하여 위치되고 상기 전기 전도성 표면이 상기 후면과 접촉하여 배치될 때, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이의 측정된 상기 전기 저항값은 상기 먼지 샘플의 상기 먼지의 양을 나타내고, 나타내진 양의 상기 먼지는, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이에서 상기 샘플 콜렉터의 전면 상에 놓이게 되는, 방법이 제공된다.
이 제 3 태양의 효과와 특징은 일반적으로 상기 제 1 태양과 관련하여 상기 설명된 바와 비슷하다. 상기 제 1 태양과 관련하여 언급된 실시예는 일반적으로 상기 제 2 태양과 호환될 수 있다.
본 발명의 제 3 태양에 따라서, 상기 전기 전도성 표면은, 샘플 콜렉터/전기 전도성 표면 인터페이스(SC/ECS Interface)가, 샘플 콜렉터/제1 콘택트 인터페이스(SC/1C Interface)의 횡방향 배열; 및 샘플 콜렉터/제2 콘택트 인터페이스(SC/2C Interface)의 횡방향 배열;을 커버하도록 배치될 수 있고, 상기 SC/ECS 인터페이스는, 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면 및 이에 접촉하는 상기 전기 전도성 표면 간의 인터페이스를 나타내고, 상기 SC/1C 인터페이스는, 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면 및 이에 접촉하는 상기 제1 콘택트 간의 인터페이스를 나타내되, 상기 SC/1C 인터페이스의 횡방향 배열은, 상기 전면부터 상기 후면까지에 걸친 상기 SC/1C 인터페이스의 횡방향 병진에 의해 정의되는, 상기 후면상의 영역이고, 상기 SC/2C 인터페이스는, 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면 및 이에 접촉하는 상기 제2 콘택트 간의 인터페이스를 나타내되, 상기 SC/2C 인터페이스의 횡방향 배열은, 상기 전면부터 상기 후면까지에 걸친 상기 SC/2C 인터페이스의 횡방향 병진에 의해 정의되는, 상기 후면상의 영역인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제 3 태양에 따라서, 상기 전기 전도성 표면은, 상기 샘플 콜렉터/전기 전도성 표면 인터페이스(SC/ECS Interface)가, 샘플 측정 영역의 횡방향 배열;을 추가로 커버하도록 배치되고, 상기 샘플 측정 영역은, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이에서 연장하는 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면 상의 영역이며, 상기 샘플 측정 영역의 횡방향 배열은, 상기 전면부터 상기 후면까지에 걸친 상기 샘플 측정 영역의 횡방향 병진에 의해 정의되는, 상기 후면상의 영역인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제 3 태양의 상기 상기 방법은, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트가 상기 전면과 접촉하여 위치되고 상기 전기 전도성 표면이 상기 후면과 접촉하여 위치될 때, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 중 적어도 하나와 상기 전기 전도성 표면에 의해 상기 샘플 콜렉터 상에 가해지는 압력을 설정하도록 콘택트 압력을 제어하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 제 3 태양의 상기 방법은, 상기 저항 미터로부터 측정된 전기 저항값을 수신하는 단계; 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이의, 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면 상에 놓인 먼지의 양 및 측정된 전기 저항값 간의 관계를 수신하는 단계; 및 상기 측정된 전기 저항값 및 상기 관계를 사용하여 상기 먼지의 양을 계산하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
앞서 언급되었듯이 상기 샘플 콜렉터는 극세사 직물일 수 있다. 따라서, 본 발명의 일 태양에 따라, 극세사 직물상의 먼지의 양을 측정하기 위한 방법에 있어서, 상기 방법은, 샘플 콜렉터 (상기 샘플 콜렉터는 극세사 직물이며, 상기 샘플 콜렉터는 전면 및 후면을 갖고, 먼지 샘플이 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면에 달라붙음) 를 수용하는 단계; 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면과 접촉하여 제1 콘택트 포인트에 제1 콘택트를 위치시키고, 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면과 접촉하여 제2 콘택트를 제2 콘택트 포인트에 위치시키는 단계; 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 접촉하여 전기 전도성 표면을 배치시키는 단계(상기 전기 전도성 표면이 배치될 때, 상기 전기 전도성 표면의 제1 부분은, 상기 전면 상의 상기 제1 콘택트 포인트를 가로지르는 포인트에, 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 접촉하여 위치되며, 상기 전기 전도성 표면의 제2 부분은, 상기 전면 상의 상기 제2 콘택트 포인트를 가로지르는 포인트에, 상기 샘플 콜렉터의 상기 후면과 접촉하여 위치됨); 및 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이의 전기 저항값을 측정하는 단계;를 포함하되, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트가 상기 전면과 접촉하여 위치되고 상기 전기 전도성 표면이 상기 후면과 접촉하여 배치될 때, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이의 측정된 상기 전기 저항값은 상기 먼지 샘플의 상기 먼지의 양을 나타내고, 나타내진 양의 상기 먼지는, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이에서 상기 샘플 콜렉터의 전면 상에 놓이게 되는, 방법이 제공된다.
본 발명의 제 4 태양에 따라서, 부품 키트에 있어서, 상기 부품 키트는, 전면 및 후면을 포함하는 샘플 콜렉터 (상기 샘플 콜렉터는, 물체가 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면으로 닦일 때 상기 물체로부터 먼지 샘플을 모으도록 구성되고, 상기 샘플 콜렉터는 하나 이상의 전기 저항 속성을 가짐) ; 및 본 발명의 상기 제 2 태양에 따른 시스템;을 포함하되, 상기 시스템의 상기 메모리에 저장된 상기 관계 (상기 관계는, 상기 제1 콘택트 및 상기 제2 콘택트 사이의, 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면 상에 놓인 먼지의 양 및 측정된 전기 저항값 간의 관계임) 는, 상기 샘플 콜렉터의 전기 저항 속성을 적어도 하나 포함하는, 부품 키트가 제공된다.
이 제 4 태양의 효과와 특징은 일반적으로 상기 제 1, 제 2 및 제 3 태양과 관련하여 상기 설명된 바와 비슷하다. 상기 제 1, 제 2, 제 3 태양과 관련하여 언급된 실시예는 일반적으로 상기 제 4 태양과 호환될 수 있다.
상기 부품 키트는 먼지의 양의 정확한 측정을 제공한다. 다른 유형의 샘플 콜렉터, 예를 들면 다른 제조업자에 의해 제조된 극세사 직물은 다른 저항 특성을 가질 수 있다. 따라서, 동일한 먼지의 양을 두 샘플 콜렉터가 포함하더라도 한 샘플 콜렉터상에서의 저항 측정은 한 결과를 내고 다른 샘플 콜렉터상에서의 저항 측정은 다른 결과를 낼 수 있다. 상기 메모리에 저장된 상기 관계에 매칭된 샘플 콜렉터를 사용하는 것은 먼지의 양의 올바른 측정을 보장할 수 있다.
저항 특성은 예를 들면 2 이상의 레벨의 더러움에서 상기 샘플 콜렉터상의 측정으로부터 예상되는 상기 저항에 관련되는 데이터의 보정 세트일 수 있다. 상기 데이터의 보정 세트는 샘플 콜렉터 또는 균등한 샘플 콜렉터상에서 2 이상의 레벨의 더러움에서 보정 측정에 의해 취득될 수 있다. 상기 데이터의 보정 세트는 상기 측정에 사용되는 상기 장치로 또는 균등한 장치로 취득될 수 있다. 측정된 저항은 이후 상기 데이터의 보정 세트로부터 2 이상의 데이터 포인트에 비교될 수 있으며 상기 측정된 저항에 의해 표현되는 먼지의 양은 예를 들면 2 이상의 데이터 포인트로부터 보간법 또는 보외법에 의해 계산될 수 있다. 상기 데이터의 보정 세트는 필수적으로 측정되지 않아도 됨을 알 수 있다. 이는 예를 들어 애초에 계산되거나 또는 다른 데이터의 보정 세트로부터 계산될 수 있다. 예를 들어, 특정 두께의 극세사 직물에 대한 데이터의 보정 세트가 사용되어 동일한 재질이지만 예를 들어 두 배 두꺼운 다른 극세사 직물의 데이터의 보정 세트를 계산하도록 할 수 있다.
저항 특성은 예를 들면 깨끗한 샘플 콜렉터의 표면 저항률 또는 부피 저항률의 측정된 또는 추정된 값일 수 있다.
본 발명의 사상은 또한 부품 키트로서, 상기 부품 키트는, 전면 및 후면을 포함하는 샘플 콜렉터 (상기 샘플 콜렉터는, 물체가 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면으로 닦일 때 상기 물체로부터 먼지 샘플을 모으도록 구성되고, 상기 샘플 콜렉터는 하나 이상의 전기 저항 속성을 가짐) ; 및 본 발명의 제 1 태양에 따른 장치를 포함하는, 부품 키트를 내포하는 것을 알 수 있다.
본 발명의 사상에 따라 상기 부품 키트의 상기 샘플 콜렉터는 극세사 직물일 수 있다.
이와 같은 부품 키트는 정확한 측정을 제공한다. 극세사 직물은 먼지를 모으기 위해 정전기를 이용할 수 있으며 정전기의 양은 수집되는 먼지의 양에 반비례할 수 있고, 상기 정전기는 측정된 상기 저항에 비례할 수 있다.
이와 같은 부품 키트는 또한 저렴하다. 극세사 직물은 생산하기에 저렴할 수 있다. 이들은 또한 대부분 전문 클리너들에 의해 소지되고 사용될 수 있다.
본 발명의 사상에 따라 상기 극세사 직물은 제곱미터 당 무게가 임계값 미만일 수 있으며, 상기 임계값은 제곱미터 당 600그램일 수 있다.
제곱미터 당 적은 무게를 갖는 극세사 직물은 상기 제 1 콘택트와 상기 전기 전도성 표면 사이에 적은 극세사 재질이 있을 것을 보장할 수 있다. 이는 상기 극세사 직물을 통해 전류 패스에 대한 낮은 저항을 초래할 수 있고 결과적으로 측정의 정확도를 개선할 수 있다.
기타 임계값 또한 사용될 수 있음을 알 수 있으며, 예를 들면 제곱미터 당 400그램 또는 제곱미터 당 250그램도 가능하다.
상기 부품 키트는 블록을 더 포함하되, 상기 블록은, 상기 블록의 평면이 상기 물체의 평면 위로 닦일 때 상기 극세사 직물이 상기 블록의 평면 및 상기 물체의 평면 사이에서 압력을 받도록, 상기 블록의 평면 상에서 상기 극세사 직물을 수용하도록 구성되는 것을 특징으로 한다.
이는 상기 먼지 샘플이 균질하게 상기 극세사 직물 위로 분배되도록 보장할 수 있다. 이는 측정의 정확도와 재생산성을 개선할 수 있다.
상기 본 발명의 사상의 추가적인 목적, 특징 및 이점은 첨부된 도면을 참조하여 비제한적인 상세한 설명을 통해 더 잘 이해될 것이다. 달리 명시하지 않는 한 유사한 도면 부호는 유사한 구성을 지칭한다.
도 1은 샘플 콜렉터를 도시한다.
도 2는 극세사 직물을 도시한다.
도 3은 극세사 직물 및 블록을 도시한다.
도 4는 장치의 사시도이다.
도 5는 장치의 사시도이다.
도 6는 수용된 극세사를 갖는 장치의 사시도이다.
도 7은 장치의 배면도이다.
도 8은 장치의 측면도이다.
도 9는 시스템을 도시한다.
도 10은 시스템을 도시한다.
도 11은 방법(100)의 순서도이다.
도 1은 샘플 콜렉터를 도시한다.
도 2는 극세사 직물을 도시한다.
도 3은 극세사 직물 및 블록을 도시한다.
도 4는 장치의 사시도이다.
도 5는 장치의 사시도이다.
도 6는 수용된 극세사를 갖는 장치의 사시도이다.
도 7은 장치의 배면도이다.
도 8은 장치의 측면도이다.
도 9는 시스템을 도시한다.
도 10은 시스템을 도시한다.
도 11은 방법(100)의 순서도이다.
상기 설명으로부터, 비록 다양한 개시의 실시예들이 도시되고 보여졌지만, 본 개시는 이에 제한될 것이 아니고, 뒤따를 청구항에 정의된 주제의 범위 내에서 다른 방식으로 구현될 수 있다. 본원에서 사용되는 용어가 단지 특정한 실시형태를 설명하는 목적을 위한 것이지, 한정하는 것을 의도하지 않는다는 점이 또한 이해될 것이다.
도 1은 극세사 직물(40')의 형태로 샘플 콜렉터(40)를 도시한다. 상기 극세사 직물(40')은 전면(42) 및 후면(44)을 갖는다. 먼지(50)는 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(40)상에 수집된다.
도 2 및 3은 물체(52)의 표면 위로 닦이는 극세사 직물(40')을 도시하며, 도면 안의 상기 오브젝트는 테이블이며, 이는 먼지 샘플을 수집하기 위함이다. 닦는 중에, 상기 극세사 직물(40')의 상기 전면(42)은 평가될 상기 물체 표면을 향한다.
도 3에서 먼지 샘플이 수집될 때 블록(46)이 사용된다. 도면에서 상기 블록(46)은 여기서 직육면체이며, 상기 극세사 직물(40')은 상기 직육면체를 감싼다.
도 4 및 5는 먼지(50)의 양을 측정하기 위한 장치(1)의 사시도이다. 도시된 상기 장치(1)는 제 1 콘택트(11), 제 2 콘택트(12) 및 전기 전도성 표면(14)을 포함한다. 도시된 상기 장치(1)는 평면 전기 전도성 평면(14)을 갖는다. 도시된 상기 장치(1)는 얼라이너(20)를 더 포함하며, 상기 얼라이너(20)는 전방부(22), 후방부(24) 및 힌지(26)를 갖는다. 도시된 상기 장치(1)에서 상기 전방부(22)는 상기 저항 미터(30)와 같은 전자 부품을 갖는다. 상기 저항 미터(30)는 전기적으로 상기 제 1(11) 및 제 2(12) 콘택트에 연결되며 그로 인해 이는 상기 콘택트 사이의 전기적 저항을 측정할 수 있다. 도시된 상기 장치(1)에서 상시 후방부(24)는 2개의 전기절연 아암을 포함하며, 상기 아암은 상기 전기 전도성 표면(14)을 상기 힌지(26)에 연결하는 것이다.
도시된 상기 장치(1)는 극세사 직물(40')을 수용하기 위한 리시버(2)를 갖는다. 상기 리시버(2)는 여기서 상기 전방부(22)상의 평면 영역이며, 상기 평면 영역은 상기 제 1(11) 및 제 2(12) 콘택트를 포함한다. 상기 제 1(11) 및 제 2(12) 콘택트는 상기 평면 영역으로부터 약간 돌출될 수 있다. 그러나, 일부 실시예에서 상기 콘택트는 돌출되지 않을 수 있다.
도 4는 상기 얼라이너(20)의 상기 힌지(26)가 회전적으로 개방 위치일 때의 상기 장치를 도시하며, 반면 도 5는 상기 얼라이너(20)의 상기 힌지(26)가 회전적으로 폐쇄 위치일 때의 상기 장치를 도시한다. 상기 회전적 개방 위치에서 상기 리시버(2)는 상기 극세사 직물(40')을 수용하도록 자유 상태가 된다. 상기 극세사 직물(40')은 여기서 상기 리시버(2)상에 놓일 때 수용될 수 있으며, 상기 제 1(11) 및 제 2(12) 콘택트를 커버하며, 상기 극세사 직물(40')의 상기 전면(42)이 상기 제 1(11) 및 제 2(12) 콘택트를 향한다. 상기 힌지(26)가 회전적 폐쇄 상태일 때 상기 전기 전도성 표면(14)은 상기 제 1(11) 및 제 2(12) 콘택트에 가까운 곳으로 이동된다.
도 6는 상기 극세사 직물(40')을 수용한 장치(1)를 도시하며, 상기 전기 전도성 표면(14)은 상기 회전적 폐쇄 위치에 상기 힌지(26)를 놓음에 의해 제 1(11) 및 제 2(12) 콘택트와 얼라이닝되었다. 이 위치에서 상기 극세사 직물(40')은 상기 리시버(2)와 상기 전기 전도성 표면(14) 사이에 끼이게 된다. 도면에서 상기 제 1(11) 및 제 2(12) 콘택트는 완전히 상기 극세사 직물(40')의 상기 전면(42)과 접촉한다. 상기 극세사 직물 전면(42)의 일부는 상기 제 1(11) 및 제 2(12) 콘택트 사이에 놓이는 것으로, 즉 상기 콘택트의 이격에 대응하는 너비와 상기 콘택트의 길이에 대응하는 길이를 갖는 면적으로, 상기 측정 면적을 정의한다. 상기 측정 면적 상의 먼지(50)는 측정에 영향을 줄 수 있다. 상기 측정은 이 측정 면적의 먼지(50)의 양을 따라서 표현할 수 있다. 상기 제 1 콘택트(11) 및 상기 극세사 직물(40') 사이의 상기 인터페이스, 그리고 상기 측정 면적은 표면 저항률 측정에 대한 관심 표면을 표현한다. 이 관심 표면이 상기 극세사 직물(40')에 대한 법선을 따라 병진되면, 상기 병진은 상기 전면부터 상기 후면까지로, 관심 표면의 횡방향 배열이 형성된다. 상기 관심 표면의 상기 횡방향 배열 내의 상기 후면(44)상의 전하 또는 전류는 상기 측정에 영향을 줄 수 있다. 도면에서 상기 전기 전도성 표면(14)은 이 전체 영역 안에서 상기 극세사 직물 후면(44)에 인터페이스를 형성하는 것, 즉 이 전체 영역 안에서 상기 극세사 직물 후면(44)을 만지는 것에 의해 상기 관심 표면의 이 횡방향 배열을 커버한다.
도 7은 장치(1)의 배면도이며 반면 도 8은 장치(1)의 측면도이다. 도 8의 삽도는 상기 제 2 콘택트(12)에 대한 상기 전기 전도성 표면(14)의 클로즈업을 도시한다. 상기 도면 중 일부에서, 예를 들면 도 6 및 8에서 상기 장치(1)는 상기 콘택트와 상기 전기 전도성 표면(14) 사이에 최소 거리를 설정하는 스페이서의 형태의 콘택트 압력 컨트롤러(60)를 포함한다. 이 최소 거리는 상기 극세사 직물(40')의 두께보다 작을 수 있으며 그로 인해 상기 직물(40')은 기정의된 두께로 압축된다. 그러나, 상기 장치는 또한 콘택트 압력 컨트롤러(60) 없이도 기능할 수 있음을 알 수 있다.
도 9는 메모리(70)와 프로세서(72)를 갖는 장치(1)의 형태의 시스템(90)을 도시한다. 상기 프로세서는 상기 저항 미터로부터 측정된 전기 저항값을 수신 및 상기 메모리로부터 관계를 수신할 수 있고, 상기 관계는 어떻게 측정된 상기 전기 저항값이 상기 제 1 및 제 2 콘택트 사이의 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면상에 놓인 먼지의 양에 종속되는지 정의하는 것을 특징으로 한다. 상기 프로세서는 후속적으로 측정된 상기 전기 저항값 및 상기 관계를 사용하여 먼지의 양을 계산할 수 있다.
도 10은 장치(1), 메모리(70) 및 프로세서(72)를 포함하는 시스템(90)을 도시한다. 상기 메모리(70)와 프로세서(72)는 여기서 외부 장치에 위치하며, 예를 들면 도시된 바와 같이 서버 또는 휴대폰에 위치한다. 상기 장치는 상기 프로세서(72) 및/또는 상기 메모리와 통신할 수 있으며, 예를 들면 무선 통신으로 통신할 수 있다.
도 11은 먼지(50)의 양을 측정하기 위한 방법(100)의 순서도이다. 상기 방법은 단계 S102, S104, S106 및 선택적 단계 S108, S110, S12, S114를 포함한다. 상기 방법(100)의 단계는 하기의 다음 순서대로 반드시 수행될 필요는 없다. 상기 방법(100)에 따라 샘플 콜렉터(40)가 수용된다(S102). 상기 샘플 콜렉터(40)은 예를 들면 상기 제 1(11) 및 제 2(12) 콘택트를 향하는 상기 전면(42)을 갖는 장치(1)에 의해 수용될 수 있다 (S102). 상기 방법(100)에 따라 상기 제 1(11) 및 제 2(12) 콘택트는 수용된 상기 샘플 콜렉터의 상기 전면(42)과 접촉하여 위치된다. 이는 예를 들면 상기 제 1(11) 및 제 2(12) 콘택트상에 놓인 상기 샘플 콜렉터(40) 또는 상기 제 1(11) 및 제 2(12) 콘택트에 대하여 눌린 상기 샘플 콜렉터(40)에 의해 행해질 수 있다. 상기 전기 전도성 표면(14)는 예를 들면 상기 제 1(11) 및 제 2(12) 콘택트에 이를 얼라이닝하는 것에 의해 위치된다(S106). 상기 제 1 콘택트(11)에 얼라이닝하는 것은 예를 들면 상기 전기 전도성 표면(14)이 놓이도록 또는 상기 후면에 대하여 눌리도록 보장하여 상기 제 1 콘택트(11)가 상기 샘플 콜렉터(40)에 대하여 눌리는 한 곳에서 상기 전기 전도성 표면(14)은 동시에 상기 샘플 콜렉터의 가로측상에서 상기 샘플 콜렉터(40)에 대하여 눌리는 것에 의해 행해질 수 있다. 상기 제 2 콘택트(12)를 얼라이닝하는 것은 예를 들면 상기 전기 전도성 표면(14)이 놓이도록 또는 상기 후면에 대하여 눌리도록 보장하여 상기 제 2 콘택트(12)가 상기 샘플 콜렉터(40)에 대하여 눌리는 한 곳에서 상기 전기 전도성 표면(14)은 동시에 상기 샘플 콜렉터의 가로측상에서 상기 샘플 콜렉터(40)에 대하여 눌리는 것에 의해 행해질 수 있다.
상기에 추가적으로 상기 방법(100)은 선택적으로 다음 단계를 포함할 수 있다. 상기 콘택트 압력은 제어될 수 있는데(S108), 예를 들면 상기 전기 전도성 표면(14)과 상기 제 1(11) 및/또는 제 2(12) 콘택트 사이의 거리를 설정하는 것에 의해 제어될 수 있다. 측정된 전기 저항값은 추가적으로 수신될 수 있다 (S110). 관계는 추가적으로 수신될 수 있으며(S112), 상기 관계는 측정된 전기 저항값과 먼지(50)의 양 사이의 관계로, 상기 먼지(50)의 양은 상기 제 1(11) 및 제 2(12) 콘택트 사이의 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(42)상에 위치한 먼지(50)의 양이다. 먼지(50)의 양은 계산될 수 있으며(S114), 예를 들면 프로세서(72)에서 측정된 상기 전기 저항값을 상기 관계에 비교하는 것에 의해 계산될 수 있다.
본 발명의 사상은 제한적인 수의 예시를 참조하여 주로 설명되었다. 따라서, 이러한 장치 및 방법이 변화될 수 있기 때문에, 본 발명이, 설명되는 장치의 특정 구성요소 부분 또는 설명되는 방법의 단계에 한정되지 않는다는 점이 이해되어야 한다. 통상의 기술자는 상기 개시된 예시와는 다른 기타 예시가 균등하게 본 발명의 사상의 범주 안에서 첨부된 청구항에서 정의된 바와 같이 가능함을 알 수 있을 것이다.
Claims (15)
- 먼지(50)의 양을 측정하기 위한 장치(1)에 있어서, 상기 장치(1)는,
샘플 콜렉터(40) - 상기 샘플 콜렉터(40)는 전면(42) 및 후면(44)을 갖고, 먼지 샘플이 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(40)에 달라붙음 - 를 수용하도록 구성된 리시버(2);
수용된 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(42)과 접촉하여, 제1 콘택트 포인트에 배치되도록 구성되는 제1 콘택트(11) 및 수용된 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(42)과 접촉하여, 제2 콘택트 포인트에 배치되도록 구성되는 제2 콘택트(11) - 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12)는 전기 전도성이 있음 - ;
전기 전도성 표면(14);
상기 전기 전도성 표면(14)을 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 후면(44)과 접촉하여 위치시키도록 구성된 얼라이너(20) - 상기 전기 전도성 표면(14)이 상기 얼라이너(20)에 의해 위치될 때, 상기 전기 전도성 표면(14)의 제1 부분은, 상기 전면(42) 상의 상기 제1 콘택트 포인트를 가로지르는 포인트에, 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 후면(44)과 접촉하여 위치되며, 상기 전기 전도성 표면(14)의 제2 부분은, 상기 전면(42) 상의 상기 제2 콘택트 포인트를 가로지르는 포인트에, 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 후면(44)과 접촉하여 위치됨 - ; 및
상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 사이의 전기 저항값을 측정하도록 구성된 저항 미터(30);
를 포함하되,
상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12)가 상기 전면(42)과 접촉하여 위치되고 상기 전기 전도성 표면(14)이 상기 후면(44)과 접촉하여 위치될 때, 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 사이의 측정된 상기 전기 저항값은 상기 먼지 샘플의 상기 먼지(50)의 양을 나타내고, 나타내진 양의 상기 먼지(50)는, 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 사이에서 상기 샘플 콜렉터(40)의 전면(42) 상에 놓이게 되는,
장치(1). - 제1항에 있어서,
상기 얼라이너(20)는,
전방부(22) - 상기 전방부(22)에 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12)가 부착됨 - ;
후방부(24) - 상기 후방부(24)에 상기 전기 전도성 표면(14)이 부착됨 - ; 및
상기 전방부(22)를 상기 후방부(24)와 기계적으로 연결시키는 힌지(26) - 상기 힌지(26)는, 상기 전방부(22)로 하여금 상기 후방부(24)에 대하여 회전 운동을 하도록 하고, 상기 힌지(26)는, 상기 리시버(2)가 상기 샘플 콜렉터(40)를 자유롭게 수용할 수 있는 회전상 개방된 위치, 및 수용된 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 후면(44)과 상기 전기 전도성 표면(14)이 접촉하게 되는 회전상 폐쇄된 위치를 가짐 - ; 를 포함하되,
상기 전방부(22), 상기 후방부(24), 및 상기 힌지(26)는, 상기 힌지(26)가 상기 회전상 폐쇄된 위치에 있을 때, 상기 전기 전도성 표면(14)을 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 후면(44)과 접촉하여 위치시키도록 구성되는,
장치(1). - 제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 전기 전도성 표면(14) 및 상기 얼라이너(20)는, 상기 전기 전도성 표면(14)이 상기 얼라이너(20)에 의해 위치될 때, 샘플 콜렉터/전기 전도성 표면 인터페이스(SC/ECS Interface)가, 샘플 콜렉터/제1 콘택트 인터페이스(SC/1C Interface)의 횡방향 배열; 및 샘플 콜렉터/제2 콘택트 인터페이스(SC/2C Interface)의 횡방향 배열;을 커버하도록 구성되고,
상기 SC/ECS 인터페이스는, 수용된 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 후면(44) 및 이에 접촉하는 상기 전기 전도성 표면(14) 간의 인터페이스를 나타내고,
상기 SC/1C 인터페이스는, 수용된 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(42) 및 이에 접촉하는 상기 제1 콘택트(11) 간의 인터페이스를 나타내되, 상기 SC/1C 인터페이스의 횡방향 배열은, 상기 전면(42)부터 상기 후면(44)까지에 걸친 상기 SC/1C 인터페이스의 횡방향 병진에 의해 정의되는, 상기 후면(44)상의 영역이고,
상기 SC/2C 인터페이스는, 수용된 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(42) 및 이에 접촉하는 상기 제2 콘택트(12) 간의 인터페이스를 나타내되, 상기 SC/2C 인터페이스의 횡방향 배열은, 상기 전면(42)부터 상기 후면(44)까지에 걸친 상기 SC/2C 인터페이스의 횡방향 병진에 의해 정의되는, 상기 후면(44)상의 영역인,
장치(1). - 제3항에 있어서,
상기 전기 전도성 표면(14) 및 상기 얼라이너(20)는, 상기 전기 전도성 표면(14)이 상기 얼라이너(20)에 의해 위치될 때, 상기 샘플 콜렉터/전기 전도성 표면 인터페이스(SC/ECS Interface)가, 샘플 측정 영역의 횡방향 배열;을 추가로 커버하도록 구성되고,
상기 샘플 측정 영역은, 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 사이에서 연장하는 상기 샘플 콜렉터(20)의 상기 전면(42) 상의 영역이며, 상기 샘플 측정 영역의 횡방향 배열은, 상기 전면(42)부터 상기 후면(44)까지에 걸친 상기 샘플 측정 영역의 횡방향 병진에 의해 정의되는, 상기 후면(44)상의 영역인,
장치(1). - 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 장치(1)는, 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12)가 상기 전면(42)과 접촉하여 위치되고 상기 전기 전도성 표면(14)이 상기 후면(44)과 접촉하여 위치될 때, 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 중 적어도 하나와 상기 전기 전도성 표면(14)에 의해 상기 샘플 콜렉터(40) 상에 가해지는 압력을 설정하도록 구성되는 콘택트 압력 컨트롤러(60);를 더 포함하는,
장치(1). - 먼지(50)의 양을 측정하기 위한 시스템에 있어서, 상기 시스템은,
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항의 상기 장치(1);
상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 사이에서, 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(42) 상에 놓인 먼지(50)의 양 및 측정된 전기 저항값 간의 관계를 저장하도록 구성된 메모리(70);
프로세서(72);
를 포함하되, 상기 프로세서(72)는,
상기 저항 미터(30)로부터 측정된 상기 전기 저항값을 수신하도록,
상기 메모리(70)로부터 상기 관계를 수신하도록, 그리고
측정된 상기 전기 저항값 및 상기 관계를 사용하여 상기 먼지(50)의 양을 계산하도록 구성되는,
시스템. - 먼지(50)의 양을 측정하기 위한 방법(100)에 있어서, 상기 방법(100)은,
샘플 콜렉터(40) - 상기 샘플 콜렉터(40)는 전면(42) 및 후면(44)을 갖고, 먼지 샘플이 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(40)에 달라붙음 - 를 수용하는 단계(S102);
수용된 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(42)과 접촉하여 제1 콘택트 포인트에 제1 콘택트(11)를 위치시키고, 수용된 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(42)과 접촉하여 제2 콘택트(11)를 제2 콘택트 포인트에 위치시키는 단계(S104);
수용된 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 후면(44)과 접촉하여 전기 전도성 표면(14)을 배치시키는 단계(S106) - 상기 전기 전도성 표면(14)이 배치될 때(S106), 상기 전기 전도성 표면(14)의 제1 부분은, 상기 전면(42) 상의 상기 제1 콘택트 포인트를 가로지르는 포인트에, 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 후면(44)과 접촉하여 위치되며, 상기 전기 전도성 표면(14)의 제2 부분은, 상기 전면(42) 상의 상기 제2 콘택트 포인트를 가로지르는 포인트에, 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 후면(44)과 접촉하여 위치됨 - ; 및
상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 사이의 전기 저항값을 측정하는 단계;
를 포함하되,
상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12)가 상기 전면(42)과 접촉하여 위치되고 상기 전기 전도성 표면(14)이 상기 후면(44)과 접촉하여 배치될 때, 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 사이의 측정된 상기 전기 저항값은 상기 먼지 샘플의 상기 먼지(50)의 양을 나타내고, 나타내진 양의 상기 먼지(50)는, 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 사이에서 상기 샘플 콜렉터(40)의 전면(42) 상에 놓이게 되는,
방법(100). - 제7항에 있어서,
상기 전기 전도성 표면(14)은, 샘플 콜렉터/전기 전도성 표면 인터페이스(SC/ECS Interface)가, 샘플 콜렉터/제1 콘택트 인터페이스(SC/1C Interface)의 횡방향 배열; 및 샘플 콜렉터/제2 콘택트 인터페이스(SC/2C Interface)의 횡방향 배열;을 커버하도록 배치되고(S106),
상기 SC/ECS 인터페이스는, 수용된 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 후면(44) 및 이에 접촉하는 상기 전기 전도성 표면(14) 간의 인터페이스를 나타내고,
상기 SC/1C 인터페이스는, 수용된 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(42) 및 이에 접촉하는 상기 제1 콘택트(11) 간의 인터페이스를 나타내되, 상기 SC/1C 인터페이스의 횡방향 배열은, 상기 전면(42)부터 상기 후면(44)까지에 걸친 상기 SC/1C 인터페이스의 횡방향 병진에 의해 정의되는, 상기 후면(44)상의 영역이고,
상기 SC/2C 인터페이스는, 수용된 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(42) 및 이에 접촉하는 상기 제2 콘택트(12) 간의 인터페이스를 나타내되, 상기 SC/2C 인터페이스의 횡방향 배열은, 상기 전면(42)부터 상기 후면(44)까지에 걸친 상기 SC/2C 인터페이스의 횡방향 병진에 의해 정의되는, 상기 후면(44)상의 영역인,
방법(100). - 제8항에 있어서,
상기 전기 전도성 표면(14)은, 상기 샘플 콜렉터/전기 전도성 표면 인터페이스(SC/ECS Interface)가, 샘플 측정 영역의 횡방향 배열;을 추가로 커버하도록 배치되고(S106),
상기 샘플 측정 영역은, 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 사이에서 연장하는 상기 샘플 콜렉터(20)의 상기 전면(42) 상의 영역이며, 상기 샘플 측정 영역의 횡방향 배열은, 상기 전면(42)부터 상기 후면(44)까지에 걸친 상기 샘플 측정 영역의 횡방향 병진에 의해 정의되는, 상기 후면(44)상의 영역인,
방법(100). - 제7항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 방법(100)은, 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12)가 상기 전면(42)과 접촉하여 위치되고 상기 전기 전도성 표면(14)이 상기 후면(44)과 접촉하여 위치될 때, 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 중 적어도 하나와 상기 전기 전도성 표면(14)에 의해 상기 샘플 콜렉터(40) 상에 가해지는 압력을 설정하도록 콘택트 압력을 제어하는 단계(S108);를 더 포함하는,
방법(100). - 제7항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 방법(100)은,
상기 저항 미터(30)로부터 측정된 전기 저항값을 수신하는 단계(S110);
상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 사이에서, 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(42) 상에 놓인 먼지(50)의 양 및 측정된 전기 저항값 간의 관계를 수신하는 단계(S112); 및
상기 측정된 전기 저항값 및 상기 관계를 사용하여 상기 먼지(50)의 양을 계산하는 단계(S114);를 더 포함하는,
방법(100). - 부품 키트에 있어서, 상기 부품 키트는,
전면(42) 및 후면(44)을 포함하는 샘플 콜렉터(40) - 상기 샘플 콜렉터(40)는, 물체(52)가 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(42)으로 닦일 때 상기 물체(52)로부터 먼지 샘플을 모으도록 구성되고, 상기 샘플 콜렉터(40)는 하나 이상의 전기 저항 속성을 가짐 - ; 및
제6항의 시스템;을 포함하되,
상기 시스템의 상기 메모리(70)에 저장된 상기 관계 - 상기 관계는, 상기 제1 콘택트(11) 및 상기 제2 콘택트(12) 사이에서, 상기 샘플 콜렉터(40)의 상기 전면(42) 상에 놓인 먼지(50)의 양 및 측정된 전기 저항값 간의 관계임 - 는, 상기 샘플 콜렉터(40)의 전기 저항 속성을 적어도 하나 포함하는,
부품 키트. - 제12항에 있어서,
상기 샘플 콜렉터는 극세사 직물인,
부품 키트. - 제13항에 있어서,
상기 극세사 직물은, 제곱미터 당 무게가 임계값 - 상기 임계값은 제곱미터 당 600 그램임 - 미만인,
부품 키트. - 제13항 또는 제14항에 있어서,
상기 부품 키트는 블록(46)을 더 포함하되, 상기 블록(46)은, 상기 블록(46)의 평면이 상기 물체(52)의 평면 위로 닦일 때 상기 극세사 직물이 상기 블록(46)의 평면 및 상기 물체(52)의 평면 사이에서 압력을 받도록, 상기 블록(46)의 평면 상에서 상기 극세사 직물을 수용하도록 구성되는,
부품 키트.
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