KR20220065837A - 조직 탄성 검출 방법 및 기기 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 조직 탄성 검출 방법 및 기기를 개시하며, 여기서, 검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하고; 상기 제1 초음파 신호의 적어도 하나의 이미징 라인을 추적하며; 복수개의 시점의 상기 이미징 라인에 따라 각각의 이미징 라인의 움직임 상태를 결정하고; 기설정 조건을 만족하는 움직임 상태를 구비하는 이미징 라인의 위치를 선택하여, 조직 탄성 검출을 수행한다. 이로써 검출할 영역 내 조직의 움직임 상태가 탄성 검출의 정확도에 영향을 미치는 문제를 해결하고, 검출 영역 내 조직에 대한 탄성 검출의 정확도를 향상시킨다.
Description
본 발명은 의학 영상 기술 분야에 관한 것이고, 특히 조직 탄성 검출 방법 및 기기에 관한 것이다.
바이러스성 간염(A형 간염, B형 간염, C형 간염 등)과 같은 다양한 만성 질환은 발달 과정에서 손상된 조직의 섬유화를 동반하게 되며, 조직 섬유화의 과정은 조직 탄성의 변화를 동반하게 된다. 따라서 조직 탄성 정보는 조직 섬유화의 정도를 진단하는 데 사용할 수 있는 파라미터이다.
순간 탄성 영상 기술(Transient Elastography, TE로 약칭)은 조직 탄성계수를 정량적으로 검출하는 기술로, 간 경직도 측정(Liver stiffness measurement, LSM으로 약칭)을 통해 조직의 섬유화 정도를 보다 종합적으로 반영할 수 있다.
그러나 순간 탄성 영상 기술은 검출 영역의 조직 구조 정보, 특히 조직의 2차원 구조 정보를 얻을 수 없으며 기술자는 일반적으로 경험에 기초하여 순간 탄성 영상을 위한 초음파 프로브를 설치 및 배치할 수 밖에 없다. 따라서 조직 탄성 검출 시 초음파 프로브가 검출 영역을 검출하여 이미지를 생성하지만, 호흡, 심장 박동 등에 의해 초래되는 조직의 움직임 및 검출할 영역 내부에 큰 혈관, 낭종 또는 복수 등 영향 요인이 포함되는 경우, 이를 피할 수 없어 검출 오류가 발생하며, 검출 영역을 선택할 때 위와 같은 상황을 피할 수 있는 방법을 고려하여 영향을 덜 받는 검출 영역을 선택해야 한다.
관련 기술에서는 조직 탄성 검출 프로세스에서 조직의 동적 영향이 적은 검출 영역을 선택하는 방법에 대한 효과적인 해결 방안이 지금까지 제안되지 않았다.
관련 기술에서 조직 탄성 검출 프로세스에서, 조직의 동적 영향이 적은 검출 영역을 선택하는 방법의 문제에 대해, 본 발명은 적어도 상기 문제를 해결하기 위한 조직 탄성 검출 방법 및 기기를 제공한다.
본 발명의 일 양태에 따르면, 조직 탄성 검출 방법을 제공하고, 상기 방법은,
검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하는 단계;
상기 제1 초음파 신호의 적어도 하나의 이미징 라인을 추적하는 단계;
복수개의 시점의 상기 이미징 라인에 따라 각각의 이미징 라인의 움직임 상태를 결정하는 단계; 및
기설정 조건을 만족하는 움직임 상태를 구비하는 이미징 라인의 위치를 선택하여, 조직 탄성 검출을 수행하는 단계를 포함한다.
일 실시예에서, 상기 검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하는 단계는,
탄성 검출 프로브 상의 N개의 초음파 배열 요소를 제어하여 초음파 스캐닝을 수행함으로써, 상기 제1 초음파 신호의 적어도 하나의 이미징 라인을 형성하는 단계를 포함하고; 여기서, N은 양의 정수이다.
일 실시예에서, 상기 움직임 상태는 복수개의 움직임 파라미터로 특성화되고; 상기 복수개의 움직임 파라미터가 대응되는 기설정 조건을 만족할 경우, 상기 움직임 상태가 기설정 조건을 만족한다고 판정한다.
일 실시예에서, 상기 조직 탄성 검출을 수행하는 단계는, 검출 영역 내 조직에 전단파를 송신하는 단계; 프로브 상의 M개의 초음파 배열 요소를 제어하여 선택된 위치에서 제2 초음파 신호를 송신하고 상기 제2 초음파 신호의 에코 신호를 수집하는 단계; 및 상기 제2 초음파 신호의 에코 신호를 처리하여 조직 탄성 검출을 수행하는 단계를 포함하고, 여기서, M은 양의 정수이다.
일 실시예에서, 검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하는 단계 이전에,
프로브 상의 R개의 초음파 배열 요소를 제어하여 검출 영역 내 조직에 제3 초음파 신호를 송신하고 제3 초음파 신호의 에코 신호를 수집하여, 상기 검출 영역의 위치를 결정하는 단계를 더 포함하며;
여기서, R은 양의 정수이다.
본 발명의 다른 양태에 따르면, 조직 탄성 검출 기기를 더 제공하며, 상기 조직 탄성 검출 기기는 제어 호스트 및 탄성 검출 프로브를 포함하고;
상기 탄성 검출 프로브는 검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하며;
상기 제어 호스트는 상기 제1 초음파 신호의 적어도 하나의 이미징 라인을 추적하고;
상기 제어 호스트는 복수개의 시점의 상기 이미징 라인에 따라 각각의 이미징 라인의 움직임 상태를 결정하며;
상기 제어 호스트는 기설정 조건을 만족하는 움직임 상태를 구비하는 이미징 라인의 위치를 선택하고, 상기 탄성 검출 프로브는 조직 탄성 검출을 수행한다.
일 실시예에서, 상기 제어 호스트는 탄성 검출 프로브 상의 N개의 초음파 배열 요소를 제어하여 초음파 스캐닝을 수행함으로써, 상기 제1 초음파 신호의 적어도 하나의 이미징 라인을 형성하고; 여기서, N은 양의 정수이다.
일 실시예에서, 상기 움직임 상태는 복수개의 움직임 파라미터로 특성화되고, 상기 복수개의 움직임 파라미터가 대응되는 기설정 조건을 만족할 경우, 상기 움직임 상태가 기설정 조건을 만족한다고 판정한다.
일 실시예에서, 상기 제어 호스트는 검출 영역 내 조직에 전단파를 송신하고; 상기 제어 호스트는 상기 탄성 검출 프로브 상의 M개의 초음파 배열 요소를 제어하여 선택된 위치에서 제2 초음파 신호를 송신하고 제2 초음파 신호의 에코 신호를 수집하며; 상기 제2 초음파 신호의 에코 신호를 처리하고, 여기서, M은 양의 정수이다.
일 실시예에서, 상기 탄성 검출 프로브가 검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하기 전에, 상기 제어 호스트는 상기 탄성 검출 프로브 상의 R개의 초음파 배열 요소를 제어하여 검출 영역 내 조직에 제3 초음파 신호를 송신하고 제3 초음파 신호의 에코 신호를 수집하여, 상기 검출 영역의 위치를 결정하며; 여기서, R은 양의 정수이다.
본 발명을 통해, 검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하고; 상기 제1 초음파 신호의 적어도 하나의 이미징 라인을 추적하며; 복수개의 시점의 상기 이미징 라인에 따라 각각의 이미징 라인의 움직임 상태를 결정하고; 기설정 조건을 만족하는 움직임 상태를 구비하는 이미징 라인의 위치를 선택하여, 조직 탄성 검출을 수행하며, 검출할 영역 내 조직의 움직임 상태가 탄성 검출의 정확도에 영향을 미치는 문제를 해결하고, 검출 영역 내 조직에 대한 탄성 검출의 정확도를 향상시킨다.
본 명세서에 기재된 첨부 도면은 본 발명의 이해를 돕기 위해 사용되고 본 발명의 일부를 구성하며, 본 발명의 예시적인 실시예 및 그 설명은 본 발명을 설명하기 위해 사용되고 본 발명의 부적절한 제한을 구성하지 않는다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 조직 탄성 검출 기기의 구조 블록도 1이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 조직 탄성 검출 기기의 구조 블록도 2이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 조직 탄성 검출 방법의 흐름도 1이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 조직 탄성 검출 방법의 흐름도 2이다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 조직 탄성 검출 기기의 구조 블록도 1이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 조직 탄성 검출 기기의 구조 블록도 2이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 조직 탄성 검출 방법의 흐름도 1이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 조직 탄성 검출 방법의 흐름도 2이다.
본 발명의 목적, 과제 해결 수단 및 이점을 보다 명확하게 하기 위하여, 첨부된 도면 및 실시예를 참조하여 이하에서 본 발명을 더욱 상세하게 설명한다. 본 명세서에 기재된 구체적인 실시예는 본 발명을 설명하기 위해 사용된 것일 뿐, 본 발명을 제한하기 위한 것이 아님을 이해해야 한다.
본 발명의 실시예에서, 도 1은 본 발명의 실시예에 따른 조직 탄성 검출 기기의 구조 블록도 1이고, 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 조직 탄성 검출 기기(100)는 제어 호스트(102) 및 탄성 검출 프로브(104)를 포함하며; 여기서, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 조직 탄성 검출 기기의 구조 블록도 2이고, 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 탄성 검출 프로브(104)는 여기 장치(112) 및 초음파 트랜스듀서(114)를 포함하며, 상기 여기 장치(112) 및 초음파 트랜스듀서(114)는 탄성 검출 프로브(104)에 통합될 수 있고, 상기 제어 호스트(102) 또는 상기 탄성 검출 프로브(104)는 제어 명령을 상기 여기 장치(112) 및 상기 초음파 트랜스듀서(114)에 전송하여, 검출할 영역의 검출을 구현한다. 전단파의 여기 장치(112)는 진동기, 초음파 트랜스듀서, 확성기 중 어느 하나를 포함한다.
전단파의 여기 프로세스는, 진동기가 조직의 외부 표면에 저주파 순간 진동을 가하여, 조직 내에서 전단파를 발생시키는 것; 초음파 트랜스듀서(114)에서 송신된 초음파가 조직 내부에 집중되어 음향 복사력을 발생하여, 조직 내에서 전단파를 발생시키는 것; 확성기가 조직의 외부 표면에서 소정 주파수의 음파를 발생시켜, 조직 내에서 전단파를 발생시키는 것을 포함한다.
설명해야 할 것은, 초음파 트랜스듀서(114)를 사용하여 전단파를 발생하는 방식에서, 전단파를 발생하기 위한 상기 초음파 트랜스듀서(114)와 초음파를 송신하고 초음파 에코 신호를 수신하기 위한 초음파 트랜스듀서(114)는 동일하거나 상이할 수 있다.
상기 초음파 트랜스듀서(114)를 통해 각각의 전단파에 대응되는 초음파 에코 신호를 수신한다. 초음파 트랜스듀서(114)는 각각의 전단파에 대응되는 수신된 초음파 에코 신호를 제어 호스트(102)에 송신하여, 제어 호스트(102)가 각 초음파 에코 신호에 대해 후속 처리를 수행하도록 한다.
각각의 전단파에 대응되는 초음파 에코 신호에 따라, 각각의 전단파의 전파 특성 파라미터를 각각 획득한다. 이러한 전파 특성 파라미터 및 검출할 영역의 조직 밀도에 따라, 검출할 영역의 탄성 파라미터를 산출한다.
상기 탄성 검출 프로세스는
여기 장치(112)가 검출할 영역의 조직의 외부 표면에 저주파 순간 진동을 가하여, 상기 조직 내에서 전단파를 발생시키는 것; 그 다음 초음파 트랜스듀서(114)가 상기 조직에 초음파를 송신하고 초음파 에코를 수집하며, 제어 호스트(102)가 수집된 초음파 에코 신호에 따라 상기 조직의 탄성을 산출하는 것을 포함한다.
본 발명의 다른 실시예에서, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 조직 탄성 검출 방법의 흐름도 1이고, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 방법은 다음과 같은 단계를 포함한다.
단계 S302: 검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하고, 상기 제1 초음파 신호의 적어도 하나의 이미징 라인을 추적한다.
단계 S304: 복수개의 시점의 상기 이미징 라인에 따라 각각의 이미징 라인의 움직임 상태를 결정한다.
단계 S306: 기설정 조건을 만족하는 움직임 상태를 구비하는 이미징 라인의 위치를 선택하여, 조직 탄성 검출을 수행한다.
본 발명을 통해, 검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하고, 상기 제1 초음파 신호의 적어도 하나의 이미징 라인을 추적하며; 복수개의 시점의 상기 이미징 라인에 따라 각각의 이미징 라인의 움직임 상태를 결정하고; 기설정 조건을 만족하는 움직임 상태를 구비하는 이미징 라인의 위치를 선택하여, 조직 탄성 검출을 수행한다. 상기 제1 초음파의 1회 측정을 통해, 기설정 조건을 만족하는 움직임 상태를 구비하는 하나 이상의 이미징 라인의 위치를 자동으로 선택하여, 조직 탄성 검출의 하나 이상의 측정 위치를 결정함으로써, 본 발명은 검출할 영역 내 조직의 움직임 상태가 탄성 검출의 정확도에 영향을 미치는 문제를 해결하고, 검출 영역 내 조직에 대한 탄성 검출의 정확도를 향상시킨다.
본 실시예에서, 상기 탄성 검출 기기(100)가 탄성 검출 프로브(104)를 포함하고, 상기 탄성 검출 프로브(104)가 초음파 트랜스듀서(114)를 포함할 경우, 상기 초음파 트랜스듀서(114)에 기설장된 프로브 여기 영역을 선택할 수 있고, 상기 기설정된 프로브 여기 영역은 N개의 배열 요소 어셈블리에 대응되며, 여기서, N은 양의 정수이고, 상기 N개의 배열 요소 어셈블리는 상이한 그룹 스캐닝 방식을 통해, 상기 제1 초음파 신호를 송신하여, 상기 적어도 하나의 이미징 라인을 형성하고, 상기 적어도 하나의 이미징 라인의 검출 값을 추적하며, 복수개의 시점의 상기 검출 값에 따라 상기 적어도 하나의 이미징 라인 중 각각의 이미징 라인의 상기 움직임 파라미터 값을 결정하고, 상기 각각의 이미징 라인의 움직임 파라미터 값에 따라, 상기 검출 영역 내 조직의 상이한 위치에서 상기 움직임 파라미터 값을 결정하며, 초음파 트랜스듀서(114)가 상기 탄성 검출 프로브(104)에서 복수개의 프로브 여기 영역을 가질 수 있기에, 일부 실험 또는 컴퓨터 시뮬레이션을 통해, 프로브 여기 영역에서 배열 요소 사이의 간섭이 작고 검출 정확도가 높은 배열 요소에 대응되는 프로브 여기 영역을 선택함으로써, 전단파의 탄성 검출 정확도를 향상시킬 수 있다.
본 실시예에서, 탄성 검출 프로브(104)는 상기 검출 영역 내 조직의 초음파 검출 데이터를 획득하고, 상기 검출 데이터는 초음파의 적어도 하나의 이미징 라인을 추적하는 검출 값을 포함하며, 복수개의 시점의 상기 검출 값에 따라 상기 검출 영역의 상기 움직임 파라미터 값을 결정하고, 상기 실시예의 움직임 상태는 복수개의 상기 움직임 파라미터로 특성화되며, 여기서, 탄성 검출 프로브(104)(2차원 이미징 또는 3차원 이미징)는 시간에 따른 하나 이상의 특정 이미징 라인의 복수개의 데이터를 선택하고, 상호 상관, 광학 흐름 등과 같은 블록 매칭 방법, 위상차 계산 또는 필터링 등과 같은 방법을 사용하여 연속적인 3개의 시점 또는 떨어져 있는 몇몇 시점 사이의 움직임 파라미터 값을 산출함으로써, 검출 영역 내 조직에서 이미징 라인에 대응되는 움직임 파라미터 값을 선택하여, 각각의 이미징 라인의 움직임 상태를 추적 및 판단하는 것을 구현할 수 있다. 일부 이미징 라인의 움직임 상태가 상기 임계값 범위를 초과할 경우, 일부 이미징 라인에 대응되는 검출 영역 내 조직에 대해 전단파 검출을 수행하지 않고, 일부 이미징 라인의 움직임 상태의 움직임 파라미터 값이 기설정 임계값보다 작은 경우에만, 일부 이미징 라인에 대응되는 검출 영역 내 조직에 대해 전단파의 검출을 수행하며, 또는, 상기 검출 영역 내 조직의 상기 이미징 라인의 상기 움직임 파라미터 값이 모두 상기 기설정 임계값보다 작을 경우, 상기 검출 영역 내 조직을 전단파 검출 위치로 결정한다. 상기 실시예에서, 상기 탄성 검출 프로브(104)의 가장 최근의 1회의 초음파 이미징 라인 측정을 통해, 기설정 조건을 만족하는 움직임 상태를 구비하는 하나 이상의 이미징 라인의 위치를 자동으로 선택하여, 조직 탄성 검출의 하나 이상의 측정 위치를 결정한다. 상기 각각의 이미징 라인의 움직임 상태를 별도로 추적하는 방식은, 검출 영역 내 조직의 전단파 검출 가능한 범위를 선택하거나; 또는, 상기 방식은 검출 영역 내 조직의 일부 영역이 전단파 검출을 수행할 수 없음을 지시할 수 있고, 시험자가 조직의 다른 영역을 선택하여 검출하도록 지도할 수 있다.
본 실시예에서, 검출 영역 내 조직의 움직임 상태의 판단 시각은 탄성 검출 기기(100)가 전단파를 송신한 후 또는 송신하기 전일 수 있으며, 여기서, 제어 호스트(102)는 탄성 검출 기기(100)가 검출 영역 내 조직에 전단파를 송신한 후, 상기 움직임 파라미터 값이 기설정 임계값보다 작을 경우에, 상기 이미징 라인에 대응되는 검출 영역 내 조직을 탄성 검출 위치로 결정하고, 탄성 검출 프로브(104) 상의 M개의 초음파 배열 요소를 제어하여 선택된 탄성 검출 위치에서 제2 초음파 신호를 송신하며 상기 제2 초음파 신호의 에코 신호를 수집하고, 상기 제2 초음파 신호의 에코 신호를 처리하여 조직 탄성 검출을 수행할 수 있으며, 여기서, M은 양의 정수이다. 제어 호스트(102)는 또한 탄성 검출 기기(100)가 검출 영역 내 조직에 전단파를 송신하기 전에, 상기 제1 초음파의 복수개의 시점의 상기 이미징 라인을 판단하여 각각의 이미징 라인의 움직임 파라미터 값을 결정하고, 상기 움직임 파라미터 값이 기설정 임계값보다 작은 경우, 탄성 검출 기기(100)가 검출 영역 내 조직에 전단파를 송신하며, 탄성 검출 프로브(104) 상의 M개의 초음파 배열 요소를 제어하여 선택된 탄성 검출 위치에서 제2 초음파 신호를 송신하고 상기 제2 초음파 신호의 에코 신호를 수집하며, 상기 제2 초음파 신호의 에코 신호를 처리하여 조직 탄성 검출을 수행할 수 있고, 여기서, M은 양의 정수이다.
본 발명의 다른 실시예에서, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 조직 탄성 검출 방법의 흐름도 2이고, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 방법은 다음과 같은 단계를 포함한다.
단계 S402: 탄성 검출 프로브(104) 상의 R개의 초음파 배열 요소를 제어하여 검출 영역 내 조직에 제3 초음파 신호를 송신하고 제3 초음파 신호의 에코 신호를 수집하여, 상기 검출 영역의 위치를 결정하며, 여기서, R은 양의 정수이다.
단계 S302: 검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하고, 상기 제1 초음파 신호의 적어도 하나의 이미징 라인을 추적한다.
단계 S304: 복수개의 시점의 상기 이미징 라인에 따라 각각의 이미징 라인의 움직임 상태를 결정한다.
단계 S306: 기설정 조건을 만족하는 움직임 상태를 구비하는 이미징 라인의 위치를 선택하여, 조직 탄성 검출을 수행한다.
상술한 단계를 통해, 상기 탄성 검출 기기(100)는 검출 영역 내 조직에 제3 초음파 신호를 송신하고 제3 초음파 신호의 에코 신호를 수집하는 것을 통해, 상기 검출 영역 내 조직의 위치를 결정하고, 검출자가 검출 영역을 선택하는 것을 지도하며, 예를 들어 인체의 간 영역을 검출할 경우, 인체 내부의 이미지를 초음파 이미징하고, 뼈, 대혈관, 낭종 또는 복수개 영역을 피해 검출자가 간 부위를 선택하도록 지도한다.
상기 탄성 검출 기기(100)에서 상기 조직 탄성 검출 방법의 실시는, 상기 검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하는 단계;
제어 호스트(102)가 탄성 검출 프로브(104) 상의 N개의 초음파 배열 요소를 제어하여 초음파 스캐닝을 수행함으로써, 상기 제1 초음파 신호의 적어도 하나의 이미징 라인을 형성하고, 여기서, N은 양의 정수이며; 제1 초음파 신호의 이미징 라인의 움직임 파라미터 값을 추적하고, 상기 제어 호스트(102)가 상기 움직임 파라미터 값을 획득하여 상기 검출 영역 내 조직의 움직임 상태를 결정하는 단계;
상기 제어 호스트(102)가 상기 이미징 라인의 상기 움직임 파라미터 값이 기설정 임계값보다 작은지 여부를 판단하는 단계;
상기 움직임 파라미터 값이 상기 기설정 임계값보다 작을 경우, 상기 제어 호스트(102)가 상기 이미징 라인에 대응되는 검출 영역의 조직을 탄성 검출 위치로 결정하고, 상기 탄성 검출 프로브(104)가 상기 검출 영역에 대해 탄성 검출을 수행하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 메모리 및 프로세서를 포함하는 컴퓨터 기기를 제공하고, 메모리에는 컴퓨터 프로그램이 저장되며, 상기 프로세서가 컴퓨터 프로그램을 실행할 경우 상기 탄성 검출의 상기 단계를 수행한다.
당업자는 상기 실시예의 방법의 프로세스의 전부 또는 일부가 컴퓨터 프로그램을 통해 관련 하드웨어에 명령함으로써, 수행될 수 있음을 이해할 수 있고, 컴퓨터 프로그램은 비휘발성 컴퓨터 판독 가능 저장 매체에 저장될 수 있으며, 상기 컴퓨터 프로그램이 실행될 경우 전술한 각 방법 실시예의 프로세스를 포함할 수 있다. 여기서, 본 발명에서 제공되는 각 실시예에서 사용되는 메모리, 스토리지, 데이터베이스 또는 기타 매체에 대한 임의의 언급은 비휘발성 및/또는 휘발성 메모리를 포함할 수 있다. 비휘발성 메모리는 판독 전용 메모리(ROM), 프로그램 가능 ROM(PROM), 소거 및 프로그램 가능 ROM(EPROM), 전기적 소거 가능한 프로그램 가능 ROM(EEPROM), 또는 플래시 메모리를 포함할 수 있다. 휘발성 메모리는 랜덤 액세스 메모리(RAM) 또는 외부 캐시를 포함할 수 있다. 제한이 아닌 예시로, RAM은 정적 RAM(SRAM), 동적 RAM(DRAM), 동기식 DRAM(SDRAM), 2배속 SDRAM(DDRSDRAM), 인핸스드 SDRAM(ESDRAM), 싱크링크(Synchlink) DRAM(SLDRAM), 램버스(Rambus) 직접 RAM(RDRAM), 직접 램버스 동적 RAM(DRDRAM) 및 램버스 동적 RAM(RDRAM) 등과 같은 다양한 형태로 얻을 수 있다.
상기 실시예의 기술적 특징은 임의로 조합될 수 있으며, 간결함을 위해 상기 실시예의 각 기술적 특징의 모든 가능한 조합에 대해 설명하지 않았만, 이러한 기술적 특징의 조합에 모순이 없는 한, 모두 본 명세서에 기재된 범위로 간주해야 한다.
상기 실시예는 단지 본 발명의 몇몇 실시형태를 나타내고, 그 설명은 구체적이고 상세하지만, 본 발명 특허의 범위를 제한하는 것으로 해석되어서는 아니된다. 당업자라면 본 발명의 개념을 벗어나지 않고 여러 수정 및 개선이 이루어질 수 있으며, 이는 모두 본 발명의 보호 범위에 속한다는 것을 지적해야 한다. 따라서, 본 발명 특허의 보호 범위는 첨부된 청구범위를 기준으로 해야 한다.
Claims (10)
- 조직 탄성 검출 방법에 있어서,
검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하는 단계;
상기 제1 초음파 신호의 적어도 하나의 이미징 라인을 추적하는 단계;
복수개의 시점의 상기 이미징 라인에 따라 각각의 이미징 라인의 움직임 상태를 결정하는 단계; 및
기설정 조건을 만족하는 움직임 상태를 구비하는 이미징 라인의 위치를 선택하여, 조직 탄성 검출을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 조직 탄성 검출 방법. - 제1항에 있어서,
상기 검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하는 단계는,
탄성 검출 프로브 상의 N개의 초음파 배열 요소를 제어하여 초음파 스캐닝을 수행함으로써, 상기 제1 초음파 신호의 적어도 하나의 이미징 라인을 형성하는 단계를 포함하고; N은 양의 정수인 것을 특징으로 하는 조직 탄성 검출 방법. - 제1항에 있어서,
상기 움직임 상태는 복수개의 움직임 파라미터로 특성화되고;
상기 복수개의 움직임 파라미터가 대응되는 기설정 조건을 만족할 경우, 상기 움직임 상태가 기설정 조건을 만족한다고 판정하는 것을 특징으로 하는 조직 탄성 검출 방법. - 제2항에 있어서,
상기 조직 탄성 검출을 수행하는 단계는,
검출 영역 내 조직에 전단파를 송신하는 단계;
프로브 상의 M개의 초음파 배열 요소를 제어하여 선택된 위치에서 제2 초음파 신호를 송신하고 상기 제2 초음파 신호의 에코 신호를 수집하는 단계; 및
상기 제2 초음파 신호의 에코 신호를 처리하여 조직 탄성 검출을 수행하는 단계를 포함하고,
M은 양의 정수인 것을 특징으로 하는 조직 탄성 검출 방법. - 제2항에 있어서,
검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하는 단계 이전에,
프로브 상의 R개의 초음파 배열 요소를 제어하여 검출 영역 내 조직에 제3 초음파 신호를 송신하고 제3 초음파 신호의 에코 신호를 수집하여, 상기 검출 영역의 위치를 결정하는 단계를 더 포함하며;
R은 양의 정수인 것을 특징으로 하는 조직 탄성 검출 방법. - 조직 탄성 검출 기기에 있어서,
상기 조직 탄성 검출 기기는 제어 호스트 및 탄성 검출 프로브를 포함하고;
상기 탄성 검출 프로브는 검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하도록 구성되며;
상기 제어 호스트는 상기 제1 초음파 신호의 적어도 하나의 이미징 라인을 추적하도록 구성되고;
상기 제어 호스트는 또한 복수개의 시점의 상기 이미징 라인에 따라 각각의 이미징 라인의 움직임 상태를 결정하도록 구성되며;
상기 제어 호스트는 또한 기설정 조건을 만족하는 움직임 상태를 구비하는 이미징 라인의 위치를 선택하고, 상기 탄성 검출 프로브는 또한 조직 탄성 검출을 수행하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 조직 탄성 검출 기기. - 제6항에 있어서,
상기 제어 호스트는 또한 탄성 검출 프로브 상의 N개의 초음파 배열 요소를 제어하여 초음파 스캐닝을 수행함으로써, 상기 제1 초음파 신호의 적어도 하나의 이미징 라인을 형성하도록 구성되고; N은 양의 정수인 것을 특징으로 하는 조직 탄성 검출 기기. - 제6항에 있어서,
상기 움직임 상태는 복수개의 움직임 파라미터로 특성화되고, 상기 복수개의 움직임 파라미터가 대응되는 기설정 조건을 만족할 경우, 상기 움직임 상태가 기설정 조건을 만족한다고 판정하는 것을 특징으로 하는 조직 탄성 검출 기기. - 제6항에 있어서,
상기 제어 호스트는 또한 검출 영역 내 조직에 전단파를 송신하도록 구성되고; 상기 제어 호스트는 또한 상기 탄성 검출 프로브 상의 M개의 초음파 배열 요소를 제어하여 선택된 위치에서 제2 초음파 신호를 송신하고 제2 초음파 신호의 에코 신호를 수집하며; 상기 제2 초음파 신호의 에코 신호를 처리하도록 구성되고, M은 양의 정수인 것을 특징으로 하는 조직 탄성 검출 기기. - 제7항에 있어서,
상기 탄성 검출 프로브가 검출 영역 내 조직에 제1 초음파 신호를 송신하기 전에, 상기 제어 호스트는 또한 상기 탄성 검출 프로브 상의 R개의 초음파 배열 요소를 제어하여 검출 영역 내 조직에 제3 초음파 신호를 송신하고 제3 초음파 신호의 에코 신호를 수집하여, 상기 검출 영역의 위치를 결정하도록 구성되며; R은 양의 정수인 것을 특징으로 하는 조직 탄성 검출 기기.
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