KR20220023290A - Method for processing a workpiece - Google Patents

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KR20220023290A
KR20220023290A KR1020210094555A KR20210094555A KR20220023290A KR 20220023290 A KR20220023290 A KR 20220023290A KR 1020210094555 A KR1020210094555 A KR 1020210094555A KR 20210094555 A KR20210094555 A KR 20210094555A KR 20220023290 A KR20220023290 A KR 20220023290A
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쯔토무 마에다
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가부시기가이샤 디스코
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Abstract

The present invention provides a novel method for processing a workpiece which can process a flat workpiece having a rectangular processing surface with high precision. The method for processing a workpiece is used when processing a workpiece having a first surface of a rectangular shape with four edges and a second surface of a rectangular shape positioned opposite to the first surface by using a chuck table having a maintaining surface and a processing unit maintained on the chuck table and comprises: an acquisition step of acquiring four XY coordinates representing the positions of the four edges in an XY plane and directions of the edges in the XY plane parallel with the maintaining surface from displacement information obtained by measuring the height of an area including the four edges of the workpiece while the second surface side of the workpiece is maintained on the maintaining surface of the chuck table; and a processing step of processing the workpiece based on the four XY coordinates and the directions of the edges.

Description

피가공물의 가공 방법{METHOD FOR PROCESSING A WORKPIECE}The processing method of the workpiece {METHOD FOR PROCESSING A WORKPIECE}

본 발명은, 직사각형 형상의 표리면을 가지는 판형의 피가공물을 가공할 때에 이용되는 피가공물의 가공 방법에 관한 것이다.[0001] The present invention relates to a processing method of a workpiece used when processing a plate-shaped workpiece having a rectangular front and back surfaces.

플랫 패널 디스플레이의 화면을 구성하는 기판과 같은 광학 부품은, 가시 영역에서 투명한 유리판 등의 피가공물을 가공하는 것에 의해서 제조된다. 이러한 피가공물을 가공할 때에는, 예컨대, 고출력의 레이저 빔을 생성하여 이용하는 레이저 가공 장치나, 지립을 포함한 환형의 절삭 블레이드를 스핀들에 장착한 절삭 장치 등의 가공 장치가 사용된다(예컨대, 특허 문헌 1 참조).BACKGROUND ART An optical component such as a substrate constituting a screen of a flat panel display is manufactured by processing a workpiece such as a transparent glass plate in a visible region. When processing such a workpiece, for example, a processing apparatus such as a laser processing apparatus that generates and uses a high-power laser beam or a cutting apparatus in which an annular cutting blade containing an abrasive grain is mounted on a spindle (eg, Patent Document 1) is used. Reference).

이러한 가공 장치는, 일반적으로, 피가공물을 카메라로 촬상하여 얻어지는 화상으로부터, 피가공물에 존재하는 디바이스 등의 패턴을 추출하고, 피가공물이 가공되어야 할 위치(가공 예정 라인)를 확인한다. 한편, 패턴이 존재하지 않는 피가공물을 가공하는 경우에는, 예컨대, 가공 장치가 구비한 척 테이블의 결정된 위치에 피가공물을 배치하여, 피가공물의 결정된 위치를 가공할 수 있도록 하고 있다.Generally, such a processing apparatus extracts a pattern, such as a device, which exists in a to-be-processed object from the image obtained by imaging a to-be-processed object with a camera, and confirms the position (processing schedule line) where a to-be-processed object should be processed. On the other hand, in the case of machining a workpiece without a pattern, for example, the workpiece is placed at a determined position on a chuck table provided by the processing device so that the determined position of the workpiece can be machined.

일본 공개 특허 공보 2006-93333호 공보Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2006-93333

그런데, 가공 장치 내에서 피가공물을 반송하는 반송 기구는, 척 테이블에 대해서 높은 정밀도로 피가공물을 반입할 수 있도록 구성되어 있지만, 실제로 반입된 피가공물의 위치와, 목표로 하는 피가공물의 위치와의 사이에는, 5 mm 이하의 어긋남이 생기는 일도 많다. 따라서, 척 테이블이 결정된 위치에 피가공물을 배치하는 상술한 방법에서는, 반드시 충분히 높은 정밀도로 피가공물을 가공할 수 없다. By the way, although the conveyance mechanism which conveys a to-be-processed object in a processing apparatus is comprised so that a to-be-processed object can be carried in with high precision with respect to a chuck table, the position of the to-be-processed object actually carried in, and the target position of a to-be-processed object A gap of 5 mm or less often occurs between . Therefore, in the above-described method of arranging the workpiece at the position where the chuck table is determined, it is not always possible to process the workpiece with sufficiently high precision.

예컨대, 원형의 표리면을 가진 피가공물을 가공하는 경우에는, 외주 가장자리의 3 점의 위치로부터 원의 중심에 상당하는 위치를 구하는 것에 의해, 높은 정밀도로 피가공물을 가공할 수 있다. 그러나, 직사각형 형상의 표리면을 가진 피가공물을 가공하는 경우에는, 이러한 원형의 표리면을 가진 피가공물을 가공하기 위한 방법을 그대로 유용할 수 없었다. For example, when machining a workpiece having circular front and back surfaces, by obtaining a position corresponding to the center of the circle from the positions of three points on the outer peripheral edge, the workpiece can be machined with high precision. However, in the case of machining the workpiece having the front and back surfaces of a rectangular shape, the method for processing the workpiece having the circular front and back surfaces cannot be used as it is.

따라서, 본 발명의 목적은, 직사각형 형상의 표리면을 가지는 판형의 피가공물을 높은 정밀도로 가공할 수 있는 새로운 피가공물의 가공 방법을 제공하는 것이다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a novel processing method of a workpiece capable of processing a plate-shaped workpiece having a rectangular front and back surfaces with high precision.

본 발명의 일 측면에 의하면, 4 개의 변을 가지는 직사각형 형상의 제1 면과, 상기 제1 면과는 반대 측에 위치하는 직사각형 형상의 제2 면을 가지는 판형의 피가공물을, 유지면을 가지는 척 테이블과, 상기 척 테이블에 유지된 상기 피가공물을 가공하는 가공 유닛을 이용하여 가공할 때에 이용되는 피가공물의 가공 방법으로서, 상기 피가공물의 상기 제2 면 측이 상기 척 테이블의 상기 유지면에 유지된 상태로, 상기 피가공물의 4 개의 상기 변을 포함한 영역의 높이를 측정하여 얻어진 변위 정보로부터, 상기 변의 상기 유지면에 평행한 XY 평면 내에서의 방향과, 4 개의 상기 변의 상기 XY 평면 내에서의 위치를 나타내는 4 개의 XY 좌표를 취득하는 취득 단계와, 상기 변의 방향과, 상기 4 개의 XY 좌표에 기초하여 상기 피가공물을 가공하는 가공 단계를 포함하는 피가공물의 가공 방법이 제공된다. According to one aspect of the present invention, a plate-shaped to-be-processed object having a first surface in a rectangular shape having four sides and a second surface in a rectangular shape located on the opposite side to the first surface is provided, A processing method for a workpiece used when processing using a chuck table and a processing unit for processing the workpiece held by the chuck table, wherein the second surface side of the workpiece is the holding surface of the chuck table From the displacement information obtained by measuring the height of a region including the four sides of the workpiece while held in the There is provided a processing method of a workpiece, comprising: an acquisition step of acquiring four XY coordinates indicating a position within the body; and a processing step of processing the workpiece based on the direction of the side and the four XY coordinates.

상술한 본 발명의 일 측면에 있어서, 상기 취득 단계는, 높이를 측정하기 위한 측정기와, 상기 척 테이블을 상대적으로 이동시키는 것에 의해, Y 방향에 있어서 상이한 위치를 지나 X 방향에 평행한 2 개의 직선 상에서 상기 피가공물의 1 개의 상기 변을 포함한 영역의 높이를 측정하고, 얻어진 변위 정보로부터, 상기 변과 상기 2 개의 직선이 교차하는 2 개의 위치를 나타내는 XY 좌표를 산출하여, 상기 변의 방향을 취득하는 방향 취득 단계와, 상기 방향 취득 단계에서 취득된 상기 변의 방향이 상기 Y 방향에 대해서 평행이 되도록, 상기 XY 평면에 대해서 수직인 회전축의 둘레의 상기 척 테이블의 방향을 조정한 후에, 상기 측정기와 상기 척 테이블을 상대적으로 이동시키는 것에 의해, 상기 X 방향에 평행한 1 개의 직선 상에서 상기 피가공물의 대향하는 2 개의 상기 변을 포함한 영역의 높이를 측정하고, 얻어진 변위 정보로부터, 대향하는 2 개의 상기 변과 상기 1 개의 직선이 교차하는 2 개의 위치를 나타내는 2 개의 XY 좌표를 취득하는 제1 좌표 취득 단계와, 상기 방향 취득 단계에서 취득된 상기 변의 방향이 상기 Y 방향에 대해서 수직이 되도록, 상기 회전축의 둘레의 상기 척 테이블의 방향을 조정한 후, 상기 측정기와, 상기 척 테이블을 상대적으로 이동시키는 것에 의해, 상기 X 방향에 평행한 1 개의 직선 상에서 상기 피가공물의 대향하는 상이한 2 개의 상기 변을 포함한 영역의 높이를 측정하고, 얻어진 변위 정보로부터, 대향하는 상이한 2 개의 상기 변과 상기 1 개의 직선이 교차하는 2 개의 위치를 나타내는 2 개의 XY 좌표를 취득하는 제2 좌표 취득 단계를 더 포함한다. In one aspect of the present invention described above, the acquisition step includes two straight lines parallel to the X direction passing through different positions in the Y direction by relatively moving the measuring device for measuring the height and the chuck table. Measuring the height of the area including one side of the workpiece on the image, calculating XY coordinates indicating two positions where the side and the two straight lines intersect from the obtained displacement information to obtain the direction of the side After adjusting the direction of the chuck table around the rotation axis perpendicular to the XY plane so that the direction of the side acquired in the direction acquiring step and the direction acquiring step is parallel to the Y direction, the measuring device and the By relatively moving the chuck table, the height of a region including the two opposing sides of the workpiece is measured on one straight line parallel to the X direction, and from the obtained displacement information, the two opposing sides are measured. and a first coordinate acquisition step of acquiring two XY coordinates indicating two positions where the one straight line intersects, and a direction of the side obtained in the direction acquisition step so that the direction of the side is perpendicular to the Y direction. After adjusting the peripheral direction of the chuck table, the measuring device and the chuck table are relatively moved to include the two opposite sides of the workpiece on one straight line parallel to the X direction. The method further includes a second coordinate acquisition step of measuring the height of the region and acquiring, from the obtained displacement information, two XY coordinates indicating two positions where the two opposite sides and the one straight line intersect.

또한, 상술한 본 발명의 일 측면에 있어서, 상기 취득 단계는, 높이를 측정하기 위한 측정기와, 상기 척 테이블을 상대적으로 이동시키는 것에 의해, Y 방향에 있어서 상이한 위치를 지나 X 방향에 평행한 2 개의 직선 상에서 상기 피가공물의 대향하는 2 개의 상기 변을 포함한 영역의 높이를 측정하고, 얻어진 변위 정보로부터, 대향하는 2 개의 상기 변과 상기 2 개의 직선이 교차하는 3 개 이상의 위치를 나타내는 3 개 이상의 XY 좌표를 취득하는 제1 좌표 취득 단계와, 상기 XY 평면에 대해서 수직인 회전축의 둘레의 상기 척 테이블의 방향이, 상기 제1 좌표 취득 단계에서의 상기 척 테이블의 방향에 대해서 수직인 상태로, 상기 측정기와, 상기 척 테이블을 상대적으로 이동시키는 것에 의해, 상기 X 방향에 평행한 1 개의 직선 상에서 상기 피가공물의 대향하는 상이한 2 개의 상기 변을 포함한 영역의 높이를 측정하고, 얻어진 변위 정보로부터, 대향하는 상이한 2 개의 상기 변과 상기 1 개의 직선이 교차하는 2 개의 위치를 나타내는 2 개의 XY 좌표를 취득하는 제2 좌표 취득 단계와, 상기 제1 좌표 취득 단계에서 취득되고, 대향하는 2 개의 상기 변의 한쪽과 상기 2 개의 직선이 교차하는 2 개의 위치를 나타내는 2 개의 XY 좌표로부터, 대향하는 2 개의 상기 변의 한쪽의 방향을 취득하는 방향 취득 단계와, 상기 방향 취득 단계에서 취득된 상기 변의 방향에 기초하여, 상기 제1 좌표 취득 단계에서 취득되고, 대향하는 2 개의 상기 변과 상기 2 개의 직선의 한쪽이 교차하는 2 개의 위치를 나타내는 2 개의 XY 좌표와, 상기 제2 좌표 취득 단계에서 취득된 2 개의 XY 좌표를 보정하여서, 보정된 4 개의 XY 좌표를 취득하는 보정 좌표 취득 단계를 더 포함할 수 있다. In addition, in one aspect of the present invention described above, the acquisition step includes a measuring device for measuring the height and 2 parallel to the X direction through different positions in the Y direction by relatively moving the chuck table. Measuring the height of a region including the two opposite sides of the workpiece on the straight lines of the workpiece, from the obtained displacement information, three or more points indicating three or more positions where the two opposite sides and the two straight lines intersect a first coordinate acquisition step of acquiring XY coordinates, and a state in which the direction of the chuck table around a rotation axis perpendicular to the XY plane is perpendicular to the direction of the chuck table in the first coordinate acquisition step; By relatively moving the measuring device and the chuck table, measuring the height of a region including two different opposite sides of the workpiece on one straight line parallel to the X direction, from the obtained displacement information, A second coordinate acquisition step of acquiring two XY coordinates indicating two positions where the two opposite sides and the one straight line intersect each other; A direction acquisition step of acquiring one direction of the two opposite sides from two XY coordinates indicating two positions where one and the two straight lines intersect, and based on the direction of the side acquired in the direction acquisition step , two XY coordinates obtained in the first coordinate acquisition step and indicating two positions at which two opposite sides and one of the two straight lines intersect, and two XY coordinates acquired in the second coordinate acquisition step The method may further include a corrected coordinate acquisition step of acquiring four corrected XY coordinates by correcting the coordinates.

본 발명의 다른 일 측면에 의하면, 4 개의 변을 가지는 직사각형 형상의 제1 면과, 상기 제1 면과는 반대 측에 위치하는 직사각형 형상의 제2 면을 가지는 판형의 피가공물을, 유지면을 가지는 척 테이블과, 상기 척 테이블에 유지된 상기 피가공물을 가공하는 가공 유닛을 이용하여 가공할 때에 이용되는 피가공물의 가공 방법으로서, 상기 피가공물의 상기 제2 면 측이 상기 척 테이블의 상기 유지면에 유지된 상태로, 상기 피가공물의 1 개의 상기 변을 포함한 영역을 촬상하여 얻어진 화상으로부터, 상기 변의 상기 유지면에 평행한 XY 평면 내에서의 방향을 취득하고, 상기 피가공물의 4 개의 상기 변을 포함한 영역의 높이를 측정하여 얻어진 변위 정보로부터, 4 개의 상기 변의 상기 XY 평면 내에서의 위치를 나타내는 4 개의 XY 좌표를 취득하는 취득 단계와, 상기 변의 방향과 상기 4 개의 XY 좌표에 기초하여 상기 피가공물을 가공하는 가공 단계를 포함한 피가공물의 가공 방법이 제공된다.According to another aspect of the present invention, a plate-shaped to-be-processed object having a first surface of a rectangular shape having four sides and a second surface of a rectangular shape located on the opposite side to the first surface is provided, a holding surface is provided. A processing method for a workpiece used when processing is performed using a chuck table having an having and a processing unit for processing the workpiece held by the chuck table, wherein the second surface side of the workpiece is the holding of the chuck table The direction in the XY plane parallel to the holding surface of the said side is acquired from the image obtained by imaging the area|region including one said side of the said to-be-processed object in the state hold|maintained on the surface, and the said to-be-processed 4 said an acquisition step of acquiring four XY coordinates indicating positions of the four sides in the XY plane from the displacement information obtained by measuring the height of the region including the sides; based on the direction of the sides and the four XY coordinates There is provided a method of processing a workpiece including a processing step of processing the workpiece.

본 발명의 일 측면 및 다른 일 측면에 관련된 피가공물의 가공 방법에서는, 피가공물의 제1 면이 가지는 어느 한 변의 방향과, 제1 면이 가지는 4 개의 변의 위치를 나타내는 4 개의 XY 좌표를 취득하므로, 이에 기초하여, 피가공물을 높은 정밀도로 가공할 수 있다.In the method of processing a workpiece according to one aspect and another aspect of the present invention, four XY coordinates indicating the direction of one side of the first surface of the workpiece and the positions of the four sides of the first surface are obtained. , based on this, the workpiece can be processed with high precision.

도 1은, 레이저 가공 장치를 나타내는 사시도이다.
도 2는, 피가공물의 가공 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 3은, 방향 취득 단계의 개요를 나타내는 평면도이다.
도 4는, 피가공물의 높이가 측정되는 모습을 나타내는 측면도이다.
도 5는, 변위 정보의 예를 나타내는 그래프이다.
도 6은, 제1 좌표 취득 단계의 개요를 나타내는 평면도이다.
도 7은, 제2 좌표 취득 단계의 개요를 나타내는 평면도이다.
도 8은, 가공 단계의 개요를 나타내는 측면도이다.
도 9는, 제1 변형예에 관련된 피가공물의 가공 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 10은, 제1 변형예에 관련된 제1 좌표 취득 단계의 개요를 나타내는 평면도이다.
도 11은, 제1 변형예에 관련된 제2 좌표 취득 단계의 개요를 나타내는 평면도이다.
1 : is a perspective view which shows a laser processing apparatus.
Fig. 2 is a flowchart showing a processing method of a to-be-processed object.
Fig. 3 is a plan view showing the outline of the direction acquisition step.
4 : is a side view which shows a mode that the height of a to-be-processed object is measured.
5 is a graph showing an example of displacement information.
6 is a plan view showing an outline of the first coordinate acquisition step.
Fig. 7 is a plan view showing the outline of the second coordinate acquisition step.
8 : is a side view which shows the outline|summary of a processing step.
9 is a flowchart showing a processing method of a workpiece according to a first modification.
Fig. 10 is a plan view showing the outline of the first coordinate acquisition step according to the first modification.
11 is a plan view showing an outline of the second coordinate acquisition step according to the first modification.

이하, 첨부 도면을 참조하면서, 본 발명의 실시형태에 관하여 설명한다. 도 1은, 본 실시형태로 사용되는 레이저 가공 장치(가공 장치)(2)를 나타내는 사시도이다. 또한, 도 1에서는, 레이저 가공 장치(2)의 일부의 구성요소가 생략되어 있다. 또한, 이하의 설명에서 이용되는 X 방향(전후 방향, 가공 이송 방향), Y 방향(좌우 방향, 인덱싱 이송 방향) 및 Z 방향(수직 방향, 절입 이송 방향)은, 서로 수직이다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described, referring an accompanying drawing. 1 : is a perspective view which shows the laser processing apparatus (processing apparatus) 2 used by this embodiment. In addition, in FIG. 1, some components of the laser processing apparatus 2 are abbreviate|omitted. In addition, the X direction (front-back direction, machining feed direction), Y direction (left-right direction, indexing feed direction), and Z direction (vertical direction, plunging feed direction) used in the following description are mutually perpendicular|vertical.

도 1에 도시한 바와 같이, 레이저 가공 장치(2)는, 복수의 구성요소를 지지하는 베이스(4)를 구비하고 있다. 이 베이스(4)의 후단부에는, 상방으로 돌출된 기둥 형상 또는 벽 형상의 지지 구조(6)가 설치되어 있다. 또한, 베이스(4)의 전방의 모서리부에는, 상방으로 돌출된 기둥 형상의 수용부(4a)가 설치되어 있다. As shown in FIG. 1, the laser processing apparatus 2 is equipped with the base 4 which supports a some component. At the rear end of this base 4, a pillar-shaped or wall-shaped support structure 6 protruding upward is provided. In addition, a columnar accommodating portion 4a protruding upward is provided at the front edge portion of the base 4 .

수용부(4a)의 상면에는, 개구부가 형성되어 있다. 수용부(4a)의 내측에는, 상면의 개구부를 통해서 외부로 통하는 공간이 형성되어 있고, 대략 평탄한 상면을 가지는 카세트 지지대(8)와, 카세트 지지대(8)를 승강시키는 승강 기구(도시하지 않음)가 수용되어 있다. 수용부(4a)의 개구부로부터 노출하는 카세트 지지대(8)의 상면에는, 복수의 피가공물(11)을 수용할 수 있는 카세트(10)가 배치된다. An opening is formed in the upper surface of the accommodating portion 4a. A space communicating to the outside through an opening in the upper surface is formed inside the accommodating portion 4a, the cassette support 8 having a substantially flat upper surface, and a lifting mechanism for raising and lowering the cassette support 8 (not shown) is accepted. A cassette 10 capable of accommodating a plurality of workpieces 11 is disposed on the upper surface of the cassette support 8 exposed from the opening of the accommodating portion 4a.

피가공물(11)은, 예컨대, 가시 영역에 있어서 투명한 유리 재료를 이용하여 판형으로 형성되고, 4 개의 변을 가지는 직사각형 형상의 제1 면(표면)(11a)과, 제1 면(11a)과는 반대 측에 위치하는 직사각형 형상의 제2 면(이면)(11b)(도 4 등 참조)을 가지고 있다. 이 피가공물(11)의 제1 면(11a) 및 제2 면(11b)에는, 디바이스 등의 구조가 설치되어 있지 않다. The to-be-processed object 11 is formed in a plate shape using, for example, a transparent glass material in a visible region, and has a rectangular shape with four sides, the 1st surface (surface) 11a, the 1st surface 11a, has a rectangular second surface (rear surface) 11b (refer to FIG. 4 and the like) located on the opposite side. The structure, such as a device, is not provided in the 1st surface 11a and the 2nd surface 11b of this to-be-processed object 11. As shown in FIG.

또한, 피가공물(11)의 제2 면(11b) 측에는, 피가공물(11)보다 직경이 큰 테이프(다이싱 테이프)(13)가 첩부되어 있다. 테이프(13)의 외주 부분은, 피가공물(11)을 둘러싸도록 배치된 환형의 프레임(15)에 고정되어 있다. 즉, 피가공물(11)은, 테이프(13)를 통해 프레임(15)에 지지된 상태로 카세트(10)에 수용되게 된다. Moreover, the tape (dicing tape) 13 whose diameter is larger than the to-be-processed object 11 is affixed on the 2nd surface 11b side of the to-be-processed object 11. As shown in FIG. The outer peripheral portion of the tape 13 is fixed to an annular frame 15 arranged to surround the workpiece 11 . That is, the to-be-processed object 11 is accommodated in the cassette 10 in a state supported by the frame 15 via the tape 13 .

다만, 피가공물(11)의 재질, 형상, 구조, 크기 등에 제한은 없다. 예컨대, 실리콘으로 대표되는 반도체, 세라믹스, 수지, 금속 등의 재료로 이루어진 기판을 피가공물(11)로서 이용할 수도 있다. 마찬가지로, 피가공물(11)에는, IC(Integrated Circuit)나 LED(Light Emitting Diode) 등의 디바이스가 형성되어 있어도 좋다. 또한, 피가공물(11)은, 테이프(13)를 통해 프레임(15)에 지지되고 있지 않아도 좋다. However, there is no limitation on the material, shape, structure, size, etc. of the to-be-processed object 11 . For example, a substrate made of a material such as a semiconductor, ceramics, resin, or metal typified by silicon may be used as the workpiece 11 . Similarly, devices, such as an IC (Integrated Circuit) and LED (Light Emitting Diode), may be formed in the to-be-processed object 11. FIG. In addition, the to-be-processed object 11 does not need to be supported by the frame 15 via the tape 13. FIG.

수용부(4a)에 인접하는 위치에는, 피가공물(11)을 지지하는 프레임(15)의 대략의 위치를 맞출 수 있는 위치 맞춤 유닛(12)이 배치되어 있다. 위치 맞춤 유닛(12)은, 예컨대, Y 방향에 대해서 평행한 상태를 유지하면서 접근 및 이격되는 한쌍의 가이드 레일을 포함한다. 각 가이드 레일은, 프레임(15)을 지지하는 바닥면과, 이 바닥면에 대해서 수직인 측면을 가지고 있다. At a position adjacent to the accommodating portion 4a, a positioning unit 12 capable of roughly aligning the frame 15 supporting the workpiece 11 is disposed. The positioning unit 12 includes, for example, a pair of guide rails that are approached and spaced apart while remaining parallel to the Y direction. Each guide rail has a bottom surface supporting the frame 15, and a side surface perpendicular to the bottom surface.

예컨대, 카세트(10)로부터 반출된 프레임(15)을 위치 맞춤 유닛(12)의 가이드 레일에 배치하고, 이 가이드 레일에 의해서 프레임(15)을 X 방향으로 끼움으로써, 프레임(15)(즉, 피가공물(11))을 미리 정해진 위치에 맞출 수 있다. 위치 맞춤 유닛(12)의 상방에는, 프레임(15)을 반송하기 위한 반송 유닛(14)이 배치되어 있다. For example, by arranging the frame 15 taken out from the cassette 10 on the guide rail of the positioning unit 12, and fitting the frame 15 in the X direction with the guide rail, the frame 15 (that is, The workpiece 11) can be adjusted to a predetermined position. Above the positioning unit 12 , a conveying unit 14 for conveying the frame 15 is disposed.

위치 맞춤 유닛(12)의 측방의 영역에는, 이동 기구(가공 이송 기구, 인덱싱 이송 기구)(16)가 배치되어 있다. 이동 기구(16)는, 베이스(4)의 상면에 고정되어 Y 방향에 대해서 대략 평행한 한쌍의 Y축 가이드 레일(18)을 구비하고 있다. Y축 가이드 레일(18)에는, Y축 이동 테이블(20)이 슬라이드할 수 있는 양태로 장착되어 있다. In a region on the side of the positioning unit 12 , a moving mechanism (a machining transfer mechanism, an indexing transfer mechanism) 16 is disposed. The moving mechanism 16 is provided with a pair of Y-axis guide rails 18 fixed to the upper surface of the base 4 and substantially parallel to the Y direction. The Y-axis moving table 20 is attached to the Y-axis guide rail 18 in a slidable manner.

Y축 이동 테이블(20)의 하면 측에는, 너트부(도시하지 않음)가 형성되어 있다. 이 너트부에는, Y축 가이드 레일(18)에 대해서 대략 평행한 Y축 볼 나사(22)가 회전할 수 있는 양태로 연결되어 있다. Y축 볼 나사(22)의 일단부에는, Y축 펄스 모터(24)가 연결되어 있다. Y축 펄스 모터(24)로 Y축 볼 나사(22)를 회전시키면, Y축 이동 테이블(20)은, Y축 가이드 레일(18)을 따라서 Y 방향으로 이동한다. A nut portion (not shown) is formed on the lower surface side of the Y-axis movement table 20 . A Y-axis ball screw 22 substantially parallel to the Y-axis guide rail 18 is connected to this nut portion in a rotatable manner. A Y-axis pulse motor 24 is connected to one end of the Y-axis ball screw 22 . When the Y-axis ball screw 22 is rotated by the Y-axis pulse motor 24 , the Y-axis movement table 20 moves along the Y-axis guide rail 18 in the Y direction.

Y축 이동 테이블(20)의 상면에는, X 방향에 대해서 대략 평행한 한쌍의 X축 가이드 레일(26)이 고정되어 있다. X축 가이드 레일(26)에는, X축 이동 테이블(28)이 슬라이드할 수 있는 양태로 장착되어 있다. X축 이동 테이블(28)의 하면 측에는, 너트부(도시하지 않음)가 형성되어 있다. A pair of X-axis guide rails 26 substantially parallel to the X-direction are fixed to the upper surface of the Y-axis moving table 20 . An X-axis moving table 28 is attached to the X-axis guide rail 26 in a slidable manner. A nut portion (not shown) is formed on the lower surface side of the X-axis movement table 28 .

이 너트부에는, X축 가이드 레일(26)에 대해서 대략 평행한 X축 볼 나사(30)가 회전할 수 있는 양태로 연결되어 있다. X축 볼 나사(30)의 일단부에는, X축 펄스 모터(32)가 연결되어 있다. X축 펄스 모터(32)로 X축 볼 나사(30)를 회전시키면, X축 이동 테이블(28)은, X축 가이드 레일(26)을 따라서 X 방향으로 이동한다. An X-axis ball screw 30 substantially parallel to the X-axis guide rail 26 is connected to this nut portion in a rotatable manner. An X-axis pulse motor 32 is connected to one end of the X-axis ball screw 30 . When the X-axis ball screw 30 is rotated by the X-axis pulse motor 32 , the X-axis movement table 28 moves in the X direction along the X-axis guide rail 26 .

X축 이동 테이블(28)의 상면 측에는, θ 테이블(34)이 설치되어 있다. θ 테이블(34)은, Z 방향에 대해서 대략 평행한 회전축의 둘레로 회전할 수 있도록 구성된 테이블 베이스(34a)(도 4 등 참조)와, 테이블 베이스(34a)에 연결되는 모터 등의 회전 구동원(도시하지 않음)을 포함한다. 테이블 베이스(34a)의 상면에는, 척 테이블(36)이 고정된다. A θ table 34 is provided on the upper surface side of the X-axis movement table 28 . The θ table 34 includes a table base 34a (refer to FIG. 4 and the like) configured to be rotatable around a rotation axis that is substantially parallel to the Z direction, and a rotational driving source such as a motor connected to the table base 34a ( not shown) are included. A chuck table 36 is fixed to the upper surface of the table base 34a.

척 테이블(36)은, 예컨대, 스테인리스강으로 대표되는 금속을 이용하여 형성된 원반 형상의 프레임(38)(도 4 등 참조)을 포함한다. 프레임(38)의 상면 측에는, 원형의 개구를 상단에 가지는 오목부(38a)(도 4 등 참조)가 형성되어 있다. 이 오목부(38a)에는, 세라믹스 등을 이용하여 다공질의 원반 형상으로 형성된 유지판(40)(도 4 등 참조)이 고정되어 있다. 유지판(40)의 상면은, X 방향 및 Y 방향에 대해서 대략 평행이고, 테이프(13)를 통해 피가공물(11)의 제2 면(11b) 측을 유지하는 유지면(40a)이 된다. The chuck table 36 includes, for example, a disc-shaped frame 38 (refer to FIG. 4 and the like) formed using a metal typified by stainless steel. On the upper surface side of the frame 38, a concave portion 38a (see FIG. 4 and the like) having a circular opening at the upper end is formed. A holding plate 40 (refer to Fig. 4 and the like) formed in a porous disk shape using ceramics or the like is fixed to the recessed portion 38a. The upper surface of the holding plate 40 is substantially parallel to the X direction and the Y direction, and serves as a holding surface 40a holding the second surface 11b side of the workpiece 11 via the tape 13 .

유지판(40)의 하면 측은, 프레임(38)의 내부에 설치된 유로(38b)나, 밸브(도시하지 않음) 등을 통해, 이젝터 등의 흡인원(도시하지 않음)에 접속되어 있다. 그 때문에, 유지면(40a)에 테이프(13)를 접촉시켜서, 밸브를 열고, 흡인원의 부압을 작용시키면, 피가공물(11)은, 테이프(13)를 통해 척 테이블(36)에 흡인된다. 척 테이블(36)의 주위에는, 피가공물(11)을 지지하는 환형의 프레임(15)을 사방으로부터 고정할 수 있는 4 개의 클램프(42)가 배치되어 있다. The lower surface of the holding plate 40 is connected to a suction source (not shown) such as an ejector via a flow path 38b provided inside the frame 38, a valve (not shown), or the like. Therefore, when the tape 13 is brought into contact with the holding surface 40a, the valve is opened, and the negative pressure of the suction source is applied, the workpiece 11 is sucked by the chuck table 36 via the tape 13. . Around the chuck table 36, four clamps 42 capable of fixing the annular frame 15 supporting the workpiece 11 from all directions are arranged.

지지 구조(6)에는, 그 전면으로부터 돌출하는 지지 아암(6a)이 설치되어 있다. 지지 아암(6a)의 선단부에는, 조사 헤드(가공 유닛)(44)가 배치되어 있다. 이 조사 헤드(44)는, 예컨대, 레이저 발진기(가공 유닛)(도시하지 않음)로 펄스 발진된 레이저 빔(44a)(도 8 참조)을 하방의 대상으로 조사한다. The support structure 6 is provided with the support arm 6a which protrudes from the front surface. At the distal end of the support arm 6a, an irradiation head (processing unit) 44 is disposed. This irradiation head 44 irradiates the laser beam 44a (refer FIG. 8) pulse-oscillated by the laser oscillator (processing unit) (not shown) to the downward object, for example.

레이저 발진기가 생성하는 레이저 빔(44a)의 파장에 특별한 제한은 없지만, 본 실시형태에서는, 피가공물(11)을 투과하는 파장의 레이저 빔(44a)(투과성의 레이저 빔(44a))을 생성할 수 있는 레이저 발진기가 사용된다. 이러한 파장의 레이저 빔(44a)을, 예컨대, 조사 헤드(44)에 의해서 피가공물(11)의 내부에 집광시킴으로써, 피가공물(11)의 내부가 개질된다. Although there is no particular limitation on the wavelength of the laser beam 44a generated by the laser oscillator, in the present embodiment, the laser beam 44a (transmissive laser beam 44a) having a wavelength that penetrates the workpiece 11 can be generated. A capable laser oscillator is used. By condensing the laser beam 44a of this wavelength into the inside of the workpiece 11 by, for example, the irradiation head 44, the inside of the workpiece 11 is modified.

조사 헤드(44)의 X 방향의 한쪽 측의 영역에는, 카메라(촬상 유닛)(46)가 배치되어 있다. 카메라(46)는, 예컨대, 가시 영역의 광에 감도를 가지는 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 이미지 센서나 CCD(Charge Coupled Device) 이미지 센서 등의 2 차원 광 센서와, 결상용의 렌즈를 포함하고, 척 테이블(36)에 의해서 유지된 피가공물(11)의 상면 측(제1 면(11a) 측)을 촬상하여, 피가공물(11)이 비친 화상을 생성한다. A camera (imaging unit) 46 is arranged in a region on one side of the irradiation head 44 in the X direction. The camera 46 includes, for example, a two-dimensional optical sensor such as a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) image sensor or CCD (Charge Coupled Device) image sensor having sensitivity to light in the visible region, and a lens for imaging, The upper surface side (first surface 11a side) of the to-be-processed object 11 held by the chuck table 36 is imaged, and the image which the to-be-processed object 11 reflected is produced|generated.

카메라(46)의 X 방향의 한쪽 측의 영역에는, 대상까지의 거리를 레이저 빔으로 측정하는 광학식의 변위 측정기(측정기)(48)가 배치되어 있다. 이 변위 측정기(48)는, 예컨대, 하방의 대상에 레이저 빔(48a)(도 4 참조)을 조사하는 조사 유닛과, 대상에서 반사하는 레이저 빔(48a)을 받는 수광 유닛을 포함하고, 척 테이블(36)에 의해서 유지된 피가공물(11)의 상면(제1 면(11a))의 높이 등을 측정하여서, 변위에 관한 정보(이하, 변위 정보)를 생성한다. In an area on one side of the camera 46 in the X direction, an optical displacement measuring device (measuring device) 48 for measuring the distance to the object with a laser beam is disposed. This displacement measuring device 48 includes, for example, an irradiation unit that irradiates a laser beam 48a (refer to FIG. 4 ) to a lower target, and a light receiving unit that receives a laser beam 48a reflected from the target, and includes a chuck table. By measuring the height of the upper surface (first surface 11a) of the workpiece 11 held by (36), and the like, information about displacement (hereinafter, displacement information) is generated.

카세트 지지대(8)를 승강시키는 승강 기구, 위치 맞춤 유닛(12), 반송 유닛(14), 이동 기구(16)의 Y축 펄스 모터(24) 및 X축 펄스 모터(32), θ 테이블(34)의 회전 구동원, 척 테이블(36)에 접속되는 밸브, 조사 헤드(44)나 레이저 발진기, 카메라(46), 변위 측정기(48) 등의 구성요소는, 각각, 제어 유닛(50)에 접속되어 있다. 제어 유닛(50)은, 피가공물(11)의 가공에 필요한 일련의 공정에 맞춰서, 상술한 각 구성요소를 제어한다. Y-axis pulse motor 24 and X-axis pulse motor 32 and θ table 34 of a lifting mechanism for raising and lowering the cassette support 8 , positioning unit 12 , conveying unit 14 , and moving mechanism 16 . ) of the rotation drive source, the valve connected to the chuck table 36, the irradiation head 44 and laser oscillator, the camera 46, and the components such as the displacement measuring device 48 are respectively connected to the control unit 50, there is. The control unit 50 controls each of the above-described components in accordance with a series of steps required for processing the workpiece 11 .

제어 유닛(50)은, 예컨대, CPU(Central Processing Unit) 등의 처리 장치에 의해서 구성되는 연산부(50a)와, DRAM(Dynamic Random Access Memory) 등의 주기억 장치나 플래시 메모리 등의 보조 기억 장치에 의해서 구성되는 기억부(50b)를 포함한 컴퓨터이다. 기억부(50b)에 기억되는 소프트웨어에 따라 연산부(50a) 등을 동작시키는 것에 의해서, 제어 유닛(50)의 기능이 실현된다. 다만, 제어 유닛(50)의 기능은, 하드웨어만에 의해 실현되어도 좋다. The control unit 50 includes, for example, an arithmetic unit 50a constituted by a processing device such as a CPU (Central Processing Unit), and a main storage device such as a DRAM (Dynamic Random Access Memory) or an auxiliary storage device such as a flash memory. It is a computer including the storage part 50b comprised. The function of the control unit 50 is realized by operating the arithmetic unit 50a or the like in accordance with software stored in the storage unit 50b. However, the function of the control unit 50 may be realized only by hardware.

예컨대, 상술한 카세트(10)로부터 반출되고, 위치 맞춤 유닛(12)으로 미리 정해진 위치에 맞춰진 피가공물(11)(프레임(15))은, 반송 유닛(14)으로 척 테이블(36)에 반입되고, 그 제2 면(11b) 측이 유지면(40a)에 의해서 유지된다. 이때, 피가공물(11)에 첩부되어 있는 테이프(13)의 위치의 정밀도나, 반송 유닛(14)에 의한 반송 동작의 정밀도 등에 기인하여, 실제로 척 테이블(36)에 반입되는 피가공물(11)의 위치와, 목표로 하는 피가공물(11)의 위치와의 사이에 어긋남이 생기는 일도 많다. For example, the to-be-processed object 11 (frame 15) carried out from the above-mentioned cassette 10 and adjusted to a predetermined position by the positioning unit 12 is carried into the chuck table 36 by the conveying unit 14. and the second surface 11b side is held by the holding surface 40a. At this time, due to the precision of the position of the tape 13 affixed to the workpiece 11, the precision of the conveying operation by the conveying unit 14, etc., the to-be-processed object 11 which is actually carried into the chuck table 36 A shift occurs in many cases between the position of , and the position of the target to-be-processed object 11 .

그래서 본 실시형태에서는, 이러한 위치의 어긋남의 영향을 배제할 수 있도록 피가공물(11)의 방향이나 위치 등의 정보를 취득한 다음, 피가공물(11)을 가공한다. 도 2는, 본 실시형태에 관련된 피가공물의 가공 방법을 나타내는 흐름도이다. 도 2에 도시한 바와 같이, 본 실시형태의 피가공물의 가공 방법에서는, 우선, 피가공물(11)의 제1 면(11a)이 가지는 변의 방향을 취득하는 방향 취득 단계(ST11)를 실시한다. 도 3은, 방향 취득 단계(ST11)의 개요를 나타내는 평면도이다. 또한, 도 3에서는, 테이프(13) 등의 일부의 요소가 생략되어 있다. Therefore, in the present embodiment, information such as the direction and position of the workpiece 11 is acquired so that the influence of such position shift can be excluded, and then the workpiece 11 is processed. Fig. 2 is a flowchart showing a processing method of a to-be-processed object according to the present embodiment. As shown in FIG. 2, in the processing method of the to-be-processed object of this embodiment, first, the direction acquisition step ST11 which acquires the direction of the side which the 1st surface 11a of the to-be-processed object 11 has is performed. 3 is a plan view showing the outline of the direction acquisition step ST11. In addition, in FIG. 3, some elements, such as the tape 13, are abbreviate|omitted.

방향 취득 단계(ST11)에서는, 우선, 피가공물(11)의 적어도 1 개의 변(11c)을 포함한 영역의 높이를 측정하고, 얻어진 변위 정보로부터, 이 근처(11c)의 위치를 나타내는 XY 좌표를 산출한다. 도 4는, 피가공물(11)의 높이가 측정되는 모습을 나타내는 측면도이다. 또한, 도 4에서는, 일부의 요소가 단면으로 나타나 있다. In the direction acquisition step ST11, first, the height of the area including at least one side 11c of the workpiece 11 is measured, and from the obtained displacement information, XY coordinates indicating the position of this neighborhood 11c are calculated. do. 4 : is a side view which shows a mode that the height of the to-be-processed object 11 is measured. In addition, in FIG. 4, some elements are shown in cross section.

예컨대, 제어 유닛(50)은, 도 4에 도시한 바와 같이, 피가공물(11)을 유지한 상태의 척 테이블(36)을 X 방향으로 이동시키면서, 변위 측정기(48)를 작동시켜서, X 방향에 있어서의 위치와 높이의 관계를 얻는다. 즉, 제어 유닛(50)은, 변위 측정기(48)와, 척 테이블(36)을 상대적으로 이동시켜서, X 방향에 평행한 직선 상에서 피가공물(11)의 변(11c)을 포함한 영역의 높이를 측정한다. For example, as shown in FIG. 4 , the control unit 50 operates the displacement measuring device 48 while moving the chuck table 36 holding the workpiece 11 in the X direction in the X direction. Get the relationship between position and height in . That is, the control unit 50 relatively moves the displacement measuring device 48 and the chuck table 36 to determine the height of the region including the side 11c of the workpiece 11 on a straight line parallel to the X direction. measure

도 5는, 이 측정에 의해서 얻어진 변위 정보의 예를 나타내는 그래프이다. 위에서 설명한 바와 같이, 변위 측정기(48)와, 척 테이블(36)을 상대적으로 이동시켜서, X 방향에 평행한 직선 상에서 피가공물(11)의 변(11c)을 포함한 영역의 높이를 측정하면, 이 직선을 따라서, 피가공물(11)의 두께의 프로파일에 상당하는 변위 정보를 얻을 수 있다. 얻어진 변위 정보는, 기억부(50b)에 기억된다. 5 is a graph showing an example of displacement information obtained by this measurement. As described above, by relatively moving the displacement measuring device 48 and the chuck table 36 to measure the height of the area including the side 11c of the workpiece 11 on a straight line parallel to the X direction, this The displacement information corresponding to the profile of the thickness of the to-be-processed object 11 can be acquired along a straight line. The obtained displacement information is stored in the storage unit 50b.

보다 구체적으로는, 우선, 도 3에 나타내는 제1 직선(21a)을 따라서, 피가공물(11)의 변(11c)을 포함한 영역의 높이를 측정한다. 여기서, 제1 직선(21a)과 변(11c)이 교차하는 위치(A)의 높이와, 위치(A)에 인접하는 피가공물(11)의 외부의 위치의 높이와의 사이에는, 큰 차이(고저차)가 존재한다. More specifically, first, along the 1st straight line 21a shown in FIG. 3, the height of the area|region including the side 11c of the to-be-processed object 11 is measured. Here, there is a large difference ( difference) exists.

따라서, 도 5에 도시한 바와 같이, 얻어진 변위 정보로부터 고저차가 큰 위치를 추출하는 것에 의해, 위치(A)의 X 좌표(X1)를 산출할 수 있다. 또한, X 방향에 대해서 평행한 제1 직선(21a) 상의 임의의 위치의 Y 좌표는, 모두 동일하다. 그 때문에, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)(척 테이블(36))의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하는 것에 의해, 위치(A)의 Y 좌표(Y1)를 산출할 수 있다. Therefore, as shown in FIG. 5, the X coordinate ( X1 ) of the position A is computable by extracting the position with a large elevation difference from the obtained displacement information. In addition, all Y coordinates of arbitrary positions on the 1st straight line 21a parallel with respect to the X direction are the same. Therefore, by using the information etc. which show the position of the Y-axis movement table 20 (chuck table 36) at the time of a measurement, the Y - coordinate Y1 of the position A is computable.

즉, 연산부(50a)는, 측정에 의해서 얻어진 변위 정보를 이용하여, 제1 직선(21a)과 변(11c)이 교차하는 위치(A)의 X 좌표(X1)를 산출하고, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하여, 위치(A)의 Y 좌표(Y1)를 산출한다. 산출된 위치(A)의 좌표(X1, Y1)는, 기억부(50b)에 기억된다. That is, the calculation unit 50a uses the displacement information obtained by the measurement to calculate the X coordinate (X 1 ) of the position A at which the first straight line 21a and the side 11c intersect, and at the time of measurement The Y coordinate (Y 1 ) of the position (A) is calculated using information indicating the position of the Y-axis movement table 20 and the like. The calculated coordinates (X 1 , Y 1 ) of the position A are stored in the storage unit 50b.

제1 직선(21a)을 따라서 피가공물(11)의 변(11c)을 포함한 영역의 높이를 측정한 후에는, 척 테이블(36)(Y축 이동 테이블(20))을 Y 방향에 이동시킨 다음, 마찬가지의 측정을 실시한다. 즉, Y 방향에 있어서 제1 직선(21a)과는 상이한 위치를 지나 X 방향에 평행한 제2 직선(21b)을 따라서, 피가공물(11)의 변(11c)을 포함한 영역의 높이를 측정한다. After measuring the height of the area including the side 11c of the workpiece 11 along the first straight line 21a, the chuck table 36 (Y-axis movement table 20) is moved in the Y direction, , the same measurement is performed. That is, the height of the region including the side 11c of the workpiece 11 is measured along the second straight line 21b parallel to the X direction through a position different from the first straight line 21a in the Y direction. .

그리고, 연산부(50a)는, 측정에 의해서 얻어진 변위 정보를 이용하여, 제2 직선(21b)과 변(11c)이 교차하는 위치(B)의 X 좌표(X2)를 산출하고, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)(척 테이블(36))의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하여, 위치(B)의 Y 좌표(Y2)를 산출한다. 산출된 위치(B)의 좌표(X2, Y2)는, 기억부(50b)에 기억된다. Then, the calculating unit 50a uses the displacement information obtained by the measurement to calculate the X coordinate (X 2 ) of the position B where the second straight line 21b and the side 11c intersect, and at the time of measurement The Y coordinate Y 2 of the position B is calculated using information indicating the position of the Y-axis movement table 20 (the chuck table 36) and the like. The calculated coordinates (X 2 , Y 2 ) of the position B are stored in the storage unit 50b.

또한, 본 실시형태에서는, 척 테이블(36)의 회전축과, 유지면(40a)에 대해서 평행한 XY 평면이 교차하는 위치를 원점(O)으로 하여, 각 위치를 나타내는 좌표를 산출하지만, 그 외의 위치가 좌표계의 원점으로 설정되어도 좋다. In addition, in this embodiment, the position where the rotation axis of the chuck table 36 and the XY plane parallel with respect to the holding surface 40a intersect is made into the origin O, and coordinates indicating each position are calculated. The position may be set as the origin of the coordinate system.

위치(A)를 나타내는 좌표(X1, Y1)와, 위치(B)를 나타내는 좌표(X2, Y2)가 산출된 후에는, 이들을 이용하여, 유지면(40a)에 대해서 평행한 XY 평면 내에서의 변(11c)의 방향을 취득한다. 예컨대, 연산부(50a)는, 위치(A)의 좌표(X1, Y1)와, 위치(B)의 좌표(X2, Y2)에 대해서 삼각법을 적용하고, 변(11c)과 Y 방향이 이루는 각도(θ1)를 산출한다. 산출된 각도(θ1)는, 변(11c)의 방향으로서 기억부(50b)에 기억된다. After the coordinates (X 1 , Y 1 ) indicating the position (A) and the coordinates (X 2 , Y 2 ) indicating the position (B) are calculated, using these, XY parallel to the holding surface 40a The direction of the side 11c in the plane is acquired. For example, the calculating unit 50a applies trigonometry to the coordinates (X 1 , Y 1 ) of the position (A) and the coordinates (X 2 , Y 2 ) of the position (B), and the side 11c and the Y direction An angle (θ 1 ) formed by this is calculated. The calculated angle θ 1 is stored in the storage unit 50b as the direction of the side 11c.

또한, 연산부(50a)는, 변(11c)의 방향으로서, 변(11c)과 X 방향이 이루는 각을 산출해도 좋다. 또한, 본 실시형태에서는, 제1 직선(21a)과 변(11c)이 교차하는 위치(A)의 좌표와, 제2 직선(21b)과 변(11c)이 교차하는 위치(B)의 좌표를 이용하여, 변(11c)의 방향을 취득하고 있지만, 예컨대, 변(11c)에 대향하는 변(11d) 상의 2 개의 위치의 좌표를 이용하여, 변(11d)의 방향을 취득해도 좋다. In addition, as the direction of the side 11c, the calculating part 50a may calculate the angle which the side 11c and the X direction make|form. In addition, in this embodiment, the coordinates of the position A where the first straight line 21a and the side 11c intersect and the coordinates of the position B where the second straight line 21b and the side 11c intersect are calculated. is used to obtain the direction of the side 11c, for example, the direction of the side 11d may be obtained using the coordinates of two positions on the side 11d opposite to the side 11c.

방향 취득 단계(ST11) 후에는, 도 2에 도시한 바와 같이, 유지면(40a)에 대해서 평행한 XY 평면 내에서 피가공물(11)의 대향하는 2 개의 변의 위치를 나타내는 2 개의 좌표를 취득하는 제1 좌표 취득 단계(ST12)를 실시한다. 도 6은, 제1 좌표 취득 단계(ST12)의 개요를 나타내는 평면도이다. 또한, 도 6에서도, 테이프(13) 등의 일부의 요소가 생략되어 있다. After the direction acquisition step ST11, as shown in FIG. 2, two coordinates indicating the positions of two opposing sides of the workpiece 11 in the XY plane parallel to the holding surface 40a are acquired. A first coordinate acquisition step ST12 is performed. 6 is a plan view showing the outline of the first coordinate acquisition step ST12. In addition, also in FIG. 6, some elements, such as the tape 13, are abbreviate|omitted.

제1 좌표 취득 단계(ST12)에서는, 우선, 방향 취득 단계(ST11)에서 취득된 변(11c)의 방향이 Y 방향에 대해서 평행이 되도록, 제어 유닛(50)이, XY 평면에 대해서 수직인 회전축의 둘레로 척 테이블(36)의 방향을 조정한다. 즉, 도 3에 나타내는 상태로부터, 척 테이블(36)을 θ1의 각도(본 실시형태에서는, 평면시로 시계 방향으로 θ1의 각도)만큼 회전시킨다. 이에 따라, 피가공물(11)의 대향하는 변(11c) 및 변(11d)은, Y 방향에 대해서 평행이 된다. In the first coordinate obtaining step ST12, first, the control unit 50 sets the rotation axis perpendicular to the XY plane so that the direction of the side 11c obtained in the direction obtaining step ST11 is parallel to the Y direction. Orient the chuck table 36 around the perimeter of That is, from the state shown in FIG. 3, the chuck table 36 is rotated only by the angle of (theta) 1 (in this embodiment, it is the angle of θ 1 clockwise in plan view). Thereby, the opposing side 11c and side 11d of the to-be-processed object 11 become parallel with respect to the Y direction.

그 후, 제어 유닛(50)은, 피가공물(11)을 유지한 상태의 척 테이블(36)을 X 방향에 이동시키면서, 변위 측정기(48)를 작동시켜서, X 방향에 있어서의 위치와, 높이와의 관계를 얻는다. 즉, 변위 측정기(48)와 척 테이블(36)을 상대적으로 이동시켜서, X 방향에 평행한 직선 상에서 피가공물(11)의 대향하는 2 개의 변(11c) 및 변(11d)을 포함한 영역의 높이를 측정한다. 얻어진 변위 정보는, 기억부(50b)에 기억된다. Thereafter, the control unit 50 operates the displacement measuring device 48 while moving the chuck table 36 holding the workpiece 11 in the X direction to obtain a position and a height in the X direction. get a relationship with That is, by relatively moving the displacement measuring device 48 and the chuck table 36, the height of the region including the two opposing sides 11c and 11d of the workpiece 11 on a straight line parallel to the X direction. measure The obtained displacement information is stored in the storage unit 50b.

보다 구체적으로는, 우선, 도 6에 나타내는 제3 직선(21c)을 따라서, 피가공물(11)의 대향하는 변(11c) 및 변(11d)을 포함한 영역의 높이를 측정한다. 여기서, 제3 직선(21c)과 변(11c)이 교차하는 위치(C1)의 높이와, 피가공물(11)의 외부에 있어서 위치(C1)에 인접하는 위치의 높이와의 사이에는, 큰 차이가 존재한다. 또한, 제3 직선(21c)과 변(11d)이 교차하는 위치(C2)의 높이와, 피가공물(11)의 외부에 있어서 위치(C2)에 인접하는 위치의 높이와의 사이에는, 큰 차이가 존재한다. More specifically, first, along the third straight line 21c shown in FIG. 6 , the height of the region including the opposite sides 11c and 11d of the workpiece 11 is measured. Here, there is a large difference between the height of the position C1 at which the third straight line 21c and the side 11c intersect and the height of the position adjacent to the position C1 outside the workpiece 11 . exists Moreover, there is a large difference between the height of the position C2 where the third straight line 21c and the side 11d intersect and the height of the position adjacent to the position C2 outside the workpiece 11 . exists

따라서, 얻어진 변위 정보로부터 고저차가 큰 위치를 추출하는 것에 의해, 위치(C1)의 X 좌표(X31)와 위치(C2)의 X 좌표(X32)를 산출할 수 있다. 또한, X 방향에 대해서 평행한 제3 직선(21c) 상의 임의의 위치의 Y 좌표는, 모두 동일하다. 그 때문에, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)(척 테이블(36))의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하는 것에 의해, 위치(C1) 및 위치(C2)의 Y 좌표(Y3)를 산출할 수 있다. Accordingly, by extracting a position with a large elevation difference from the obtained displacement information, the X coordinate (X 31 ) of the position C1 and the X coordinate (X 32 ) of the position C2 can be calculated. In addition, all Y coordinates of arbitrary positions on the 3rd straight line 21c parallel with respect to the X direction are the same. Therefore, by using information indicating the position of the Y-axis movement table 20 (chuck table 36) during measurement, the Y coordinates Y 3 of the positions C1 and C2 can be calculated. can

즉, 연산부(50a)는, 측정에 의해서 얻어진 변위 정보를 이용하여, 제3 직선(21c)과 변(11c)이 교차하는 위치(C1)의 X 좌표(X31)를 산출하고, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하여, 위치(C1)의 Y 좌표(Y3)를 산출한다. 산출된 위치(C1)의 좌표(X31, Y3)는, 기억부(50b)에 기억된다. That is, the calculating unit 50a uses the displacement information obtained by the measurement to calculate the X coordinate (X 31 ) of the position C1 where the third straight line 21c and the side 11c intersect, and at the time of measurement The Y coordinate Y 3 of the position C1 is calculated using information indicating the position of the Y-axis movement table 20 and the like. The calculated coordinates (X 31 , Y 3 ) of the position C1 are stored in the storage unit 50b.

또한, 연산부(50a)는, 측정에 의해서 얻어진 변위 정보를 이용하여, 제3 직선(21c)과 변(11d)이 교차하는 위치(C2)의 X 좌표(X32)를 산출하고, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하여, 위치(C2)의 Y 좌표(Y3)를 산출한다. 산출된 위치(C2)의 좌표(X32, Y3)는, 기억부(50b)에 기억된다. Further, the calculating unit 50a uses the displacement information obtained by the measurement to calculate the X coordinate (X 32 ) of the position C2 where the third straight line 21c and the side 11d intersect, at the time of measurement. The Y coordinate Y 3 of the position C2 is calculated using information indicating the position of the Y-axis movement table 20 and the like. The calculated coordinates (X 32 , Y 3 ) of the position C2 are stored in the storage unit 50b.

제1 좌표 취득 단계(ST12) 후에는, 도 2에 도시한 바와 같이, 유지면(40a)에 대해서 평행한 XY 평면 내에서 피가공물(11)의 대향하는 상이한 2 개의 변의 위치를 나타내는 2 개의 좌표를 취득하는 제2 좌표 취득 단계(ST13)를 실시한다. 도 7은, 제2 좌표 취득 단계(ST13)의 개요를 나타내는 평면도이다. 또한, 도 7에서도, 테이프(13) 등의 일부의 요소가 생략되어 있다. After the first coordinate acquisition step ST12, as shown in FIG. 2, two coordinates indicating the positions of two opposite sides of the workpiece 11 in the XY plane parallel to the holding surface 40a A second coordinate acquisition step ST13 of acquiring . 7 is a plan view showing the outline of the second coordinate acquisition step ST13. In addition, also in FIG. 7, some elements, such as the tape 13, are abbreviate|omitted.

제2 좌표 취득 단계(ST13)에서는, 우선, 방향 취득 단계(ST11)에서 취득된 변(11c)의 방향이 Y 방향에 대해서 수직이 되도록, 제어 유닛(50)이, XY 평면에 대해서 수직인 회전축의 둘레로 척 테이블(36)의 방향을 조정한다. 즉, 도 6에 나타내는 상태로부터, 척 테이블(36)을 90°의 각도(본 실시형태에서는, 평면시로 시계 방향으로 90°의 각도)만큼 회전시킨다. 이에 따라, 피가공물(11)의 대향하는 변(11e) 및 변(11f)은, Y 방향에 대해서 평행이 된다. In the second coordinate obtaining step ST13, first, the control unit 50 sets the rotation axis perpendicular to the XY plane so that the direction of the side 11c obtained in the direction obtaining step ST11 is perpendicular to the Y direction. Orient the chuck table 36 around the perimeter of That is, from the state shown in FIG. 6, the chuck table 36 is rotated only by an angle of 90 degrees (in this embodiment, it is an angle of 90 degrees clockwise in planar view). Thereby, the opposing side 11e and the side 11f of the to-be-processed object 11 become parallel with respect to the Y direction.

그 후, 제어 유닛(50)은, 피가공물(11)을 유지한 상태의 척 테이블(36)을 X 방향으로 이동시키면서, 변위 측정기(48)를 작동시켜서, X 방향에 있어서의 위치와, 높이와의 관계를 얻는다. 즉, 변위 측정기(48)와, 척 테이블(36)을 상대적으로 이동시켜서, X 방향에 평행한 직선 상에서 피가공물(11)의 대향하는 상이한 2 개의 변(11e) 및 변(11f)을 포함한 영역의 높이를 측정한다. 얻어진 변위 정보는, 기억부(50b)에 기억된다. Thereafter, the control unit 50 operates the displacement measuring device 48 while moving the chuck table 36 holding the workpiece 11 in the X direction to obtain a position and a height in the X direction. get a relationship with That is, by relatively moving the displacement measuring device 48 and the chuck table 36, an area including two different opposite sides 11e and 11f of the workpiece 11 on a straight line parallel to the X direction. measure the height of The obtained displacement information is stored in the storage unit 50b.

보다 구체적으로는, 우선, 도 7에 나타내는 제4 직선(21d)을 따라서, 피가공물(11)의 대향하는 변(11e) 및 변(11f)을 포함한 영역의 높이를 측정한다. 여기서, 제4 직선(21d)과 변(11e)이 교차하는 위치(D1)의 높이와, 피가공물(11)의 외부에 있어서 위치(D1)에 인접하는 위치의 높이와의 사이에는, 큰 차이가 존재한다. 또한, 제4 직선(21d)과 변(11f)이 교차하는 위치(D2)의 높이와, 피가공물(11)의 외부에 있어서 위치(D2)에 인접하는 위치의 높이와의 사이에는, 큰 차이가 존재한다. More specifically, first, along the fourth straight line 21d shown in FIG. 7 , the height of the region including the opposite sides 11e and 11f of the workpiece 11 is measured. Here, there is a large difference between the height of the position D1 where the fourth straight line 21d and the side 11e intersect and the height of the position adjacent to the position D1 outside the workpiece 11 . exists Moreover, there is a large difference between the height of the position D2 where the fourth straight line 21d and the side 11f intersect and the height of the position adjacent to the position D2 outside the workpiece 11 . exists

따라서, 얻어진 변위 정보로부터 고저차가 큰 위치를 추출하는 것에 의해, 위치(D1)의 X 좌표(X41)와 위치(D2)의 X 좌표(X42)를 산출할 수 있다. 또한, X 방향에 대해서 평행한 제4 직선(21d) 상의 임의의 위치의 Y 좌표는, 모두 동일하다. 그 때문에, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)(척 테이블(36))의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하는 것에 의해, 위치(D1) 및 위치(D2)의 Y 좌표(Y4)를 산출할 수 있다. Accordingly, by extracting a position with a large elevation difference from the obtained displacement information, the X coordinate (X 41 ) of the position D1 and the X coordinate (X 42 ) of the position D2 can be calculated. In addition, all Y coordinates of arbitrary positions on the 4th straight line 21d parallel to the X direction are the same. Therefore, by using information indicating the position of the Y-axis movement table 20 (chuck table 36) during measurement, the Y coordinates Y 4 of the positions D1 and D2 can be calculated. can

즉, 연산부(50a)는, 측정에 의해서 얻어진 변위 정보를 이용하여, 제4 직선(21d)과 변(11e)이 교차하는 위치(D1)의 X 좌표(X41)를 산출하고, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하여, 위치(D1)의 Y 좌표(Y4)를 산출한다. 산출된 위치(D1)의 좌표(X41, Y4)는, 기억부(50b)에 기억된다. That is, the calculating unit 50a uses the displacement information obtained by the measurement to calculate the X coordinate (X 41 ) of the position D1 where the fourth straight line 21d and the side 11e intersect, and at the time of measurement The Y coordinate Y 4 of the position D1 is calculated using information indicating the position of the Y-axis movement table 20 and the like. The calculated coordinates (X 41 , Y 4 ) of the position D1 are stored in the storage unit 50b.

또한, 연산부(50a)는, 측정에 의해서 얻어진 변위 정보를 이용하여, 제4 직선(21d)과 변(11f)이 교차하는 위치(D2)의 X 좌표(X42)를 산출하고, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하여, 위치(D2)의 Y 좌표(Y4)를 산출한다. 산출된 위치(D2)의 좌표(X42, Y4)는, 기억부(50b)에 기억된다. Further, the calculating unit 50a calculates the X coordinate (X 42 ) of the position D2 where the fourth straight line 21d and the side 11f intersect by using the displacement information obtained by the measurement, The Y coordinate Y4 of the position D2 is calculated using information indicating the position of the Y-axis movement table 20 and the like. The calculated coordinates (X 42 , Y 4 ) of the position D2 are stored in the storage unit 50b.

상술한 바와 같이, 제3 직선(21c)을 따라서 피가공물(11)의 높이를 측정한 후, 제4 직선(21d)을 따라서 피가공물(11)의 높이를 측정할 때에는, 척 테이블(36)을 90°의 각도만큼 회전시키고 있다. 그 때문에, 위치(C1)의 좌표(X31, Y3) 및 위치(C2)의 좌표(X32, Y3)와 위치(D1)의 좌표(X41, Y4) 및 위치(D2)의 좌표(X42, Y4)를 그대로 이용해도, 피가공물(11)의 위치는 적절하게 표현되지 않는다. As described above, after measuring the height of the workpiece 11 along the third straight line 21c, when measuring the height of the workpiece 11 along the fourth straight line 21d, the chuck table 36 is rotated by an angle of 90°. Therefore, the coordinates (X 31 , Y 3 ) of the position (C1), the coordinates (X 32 , Y 3 ) of the position (C2), the coordinates (X 41 , Y 4 ) of the position (D1), and the position (D2) of the Even if the coordinates (X 42 , Y 4 ) are used as they are, the position of the workpiece 11 is not properly expressed.

그래서 제2 좌표 취득 단계(ST13) 후에는, 도 2에 도시한 바와 같이, 위치(C1)의 좌표(X31, Y3) 및 위치(C2)의 좌표(X32, Y3)와, 위치(D1)의 좌표(X41, Y4) 및 위치(D2)의 좌표(X42, Y4) 중 한쪽을 보정하여 보정 좌표를 취득하는 보정 좌표 취득 단계(ST14)를 실시한다. Therefore, after the second coordinate acquisition step ST13, as shown in FIG. 2 , the coordinates X 31 , Y 3 of the position C1 and the coordinates X 32 , Y 3 of the position C2 and the position A correction coordinate acquisition step ST14 of acquiring correction coordinates by correcting one of the coordinates (X 41 , Y 4 ) of the position (D1) and the coordinates (X 42 , Y 4 ) of the position (D2) is performed.

구체적으로는, 예컨대, 연산부(50a)는, 위치(D1)의 좌표(X41, Y4) 및 위치(D2)의 좌표(X42, Y4)의 각각을, -90°의 각도(본 실시형태에서는, 평면시로 반시계 방향으로 90°의 각도)만큼 회전시키는 연산 처리를 실시하고, 보정 후의 위치(D1)의 좌표 및 위치(D2)의 좌표(보정 좌표)를 취득한다. 취득된 보정 후의 위치(D1)의 좌표 및 위치(D2)의 좌표는, 기억부(50b)에 기억된다. Specifically, for example, the calculating unit 50a calculates each of the coordinates X 41 , Y 4 of the position D1 and the coordinates X 42 , Y 4 of the position D2 at an angle of -90° (this In the embodiment, an arithmetic process of rotating only 90 degrees counterclockwise in plan view) is performed, and the coordinates of the position D1 and the coordinates of the position D2 (correction coordinates) after correction are obtained. The obtained coordinates of the position D1 and the coordinates of the position D2 after correction are stored in the storage unit 50b.

절삭 장치(2)의 제어 유닛(50)에 있어서, 피가공물(11)의 형상(제1 면(11a)의 형상)은 공지의 것이다. 그 때문에, 이와 같이 하여 얻어진 보정 후의 위치(D1)의 좌표 및 위치(D2)의 좌표, 및, 상술한 위치(C1)의 좌표(X31, Y3) 및 위치(C2)의 좌표(X32, Y3)에 의해서, 제어 유닛(50)은, 피가공물(11)의 위치를 적절히 파악할 수 있다. In the control unit 50 of the cutting device 2, the shape of the to-be-processed object 11 (the shape of the 1st surface 11a) is a well-known thing. Therefore, the coordinates of the position D1 and the coordinates of the position D2 after the correction obtained in this way, and the coordinates of the position C1 (X 31 , Y 3 ) and the coordinates of the position C2 (X 32 ) , Y 3 ), the control unit 50 can appropriately grasp the position of the to-be-processed object 11 .

또한, 본 실시형태에서는, 보정된 위치(D1)의 좌표 및 위치(D2)의 좌표를 취득하고 있지만, 보정된 위치(C1)의 좌표 및 위치(C2)의 좌표를 취득해도 좋다. 이 경우에는, 위치(D1)의 좌표(X41, Y4) 및 위치(D2)의 좌표(X42, Y4)에 맞춰서, 위치(C1)의 좌표(X31, Y3) 및 위치(C2)의 좌표(X32, Y3)의 각각을, 90°의 각도(본 실시형태에서는, 평면시로 시계 방향으로 90°의 각도)만큼 회전시키는 연산 처리를 실시하게 된다. Note that, in the present embodiment, the corrected coordinates of the position D1 and the coordinates of the position D2 are acquired, but the corrected coordinates of the position C1 and the coordinates of the position C2 may be acquired. In this case, according to the coordinates (X 41 , Y 4 ) of the position (D1) and the coordinates (X 42 , Y 4 ) of the position (D2), the coordinates (X 31 , Y 3 ) of the position (C1) and the position ( Calculation processing of rotating each of the coordinates (X 32 , Y 3 ) of C2) by an angle of 90° (in the present embodiment, an angle of 90° clockwise in planar view) is performed.

보정 좌표 취득 단계(ST14) 후에는, 상술한 일련의 취득 단계(방향 취득 단계(ST11), 제1 좌표 취득 단계(ST12), 제2 좌표 취득 단계(ST13) 및 보정 좌표 취득 단계(ST14))에 있어서 취득된 피가공물(11)의 위치 및 방향에 관한 정보를 이용하여 피가공물(11)을 가공하는 가공 단계(ST15)를 실시한다. 즉, 가공 단계(ST15)에서는, 변의 방향과, 각 변의 위치를 나타내는 4 개의 XY 좌표에 기초하여 피가공물(11)이 가공된다. 도 8은, 가공 단계(ST15)의 개요를 나타내는 측면도이다. 또한, 도 8에서도, 일부의 요소가 단면으로 나타나고 있다. After the correction coordinate acquisition step ST14, the above-described series of acquisition steps (direction acquisition step ST11, first coordinate acquisition step ST12, second coordinate acquisition step ST13, and corrected coordinate acquisition step ST14) A processing step (ST15) of processing the to-be-processed object 11 is performed using the information regarding the position and direction of the to-be-processed object 11 acquired in this. That is, in the machining step ST15, the workpiece 11 is machined based on the direction of the side and the four XY coordinates indicating the position of each side. 8 : is a side view which shows the outline|summary of processing step ST15. In addition, also in FIG. 8, some elements are shown in cross section.

본 실시형태의 가공 단계(ST15)에서는, 가공 예정 라인을 따라서 피가공물(11)의 내부를 개질한다. 구체적으로는, 우선, 제어 유닛(50)이, 상술한 변의 방향을 고려하여 척 테이블(36)의 방향을 조정하고, 대상이 되는 가공 예정 라인을 X 방향에 대해서 평행으로 한다. 다음에, 제어 유닛(50)이, 상술한 4 개의 XY 좌표를 고려하여 척 테이블(36)의 위치를 조정하고, 대상의 가공 예정 라인의 연장선의 상방에 조사 헤드(44)의 위치를 맞춘다. In the processing step ST15 of this embodiment, the inside of the to-be-processed object 11 is modified along a processing schedule line. Specifically, first, the control unit 50 adjusts the direction of the chuck table 36 in consideration of the direction of the side described above, and makes the target processing line parallel to the X direction. Next, the control unit 50 adjusts the position of the chuck table 36 in consideration of the four XY coordinates described above, and aligns the position of the irradiation head 44 above the extension line of the target processing line.

그리고 도 8에 도시한 바와 같이, 조사 헤드(44)로부터 피가공물(11)을 향해서 레이저 빔(44a)을 조사하면서, X 방향으로 척 테이블(36)을 이동시킨다. 즉, 척 테이블(36)과 조사 헤드(44)를, 가공 예정 라인에 대해서 평행한 방향으로 상대적으로 이동시킨다. 여기서, 조사 헤드(44)는, 예컨대, 레이저 빔(44a)을 피가공물(11)의 내부에 집광시키도록 조정된다. Then, as shown in FIG. 8 , the chuck table 36 is moved in the X direction while irradiating the laser beam 44a from the irradiation head 44 toward the workpiece 11 . That is, the chuck table 36 and the irradiation head 44 are relatively moved in a direction parallel to the processing schedule line. Here, the irradiation head 44 is adjusted to focus the laser beam 44a into the inside of the workpiece 11, for example.

이와 같이, 피가공물(11)을 투과하는 파장의 레이저 빔(44a)(투과성의 레이저 빔(44a))을 피가공물(11)의 내부에 집광시킴으로써, 피가공물(11)의 내부가 개질되어서, 개질층(17)이 형성된다. 본 실시형태에서는, 척 테이블(36)과 조사 헤드(44)를 상대적으로 이동시켜서 가공 예정 라인에 레이저 빔(44a)을 조사하고 있으므로, 이 가공 예정 라인을 따라서 개질층(17)이 형성된다. 상술의 동작은, 모든 가공 예정 라인을 따라서 피가공물(11)이 가공될 때까지 반복된다. In this way, by condensing the laser beam 44a (transmissive laser beam 44a) of the wavelength that transmits the workpiece 11 to the inside of the workpiece 11, the inside of the workpiece 11 is modified, A modified layer 17 is formed. In this embodiment, the chuck table 36 and the irradiation head 44 are relatively moved to irradiate the laser beam 44a to the processing schedule line, so that the modified layer 17 is formed along the processing schedule line. The above-described operation is repeated until the workpiece 11 is processed along all the processing scheduled lines.

이상과 같이, 본 실시형태에 관련된 피가공물의 가공 방법에서는, 피가공물(11)의 제1 면(11a)이 가지는 변(변(11c))의 방향과 제1 면(11a)이 가지는 4 개의 변(변(11c), 변(11d), 변(11e) 및 변(11f))의 각각의 위치(위치(C1), 위치(C2), 위치(D1) 및 위치(D2))를 나타내는 4 개의 XY 좌표를 취득하므로, 이들에 기초하여, 피가공물(11)을 높은 정밀도로 가공할 수 있다. As mentioned above, in the processing method of the to-be-processed object which concerns on this embodiment, the direction of the side (side 11c) of the 1st surface 11a of the to-be-processed object 11, and the 4 direction of the 1st surface 11a 4 indicating positions (position C1, position C2, position D1, and position D2) of the sides (side 11c, side 11d, side 11e, and side 11f), respectively Since the XY coordinates are acquired, the to-be-processed object 11 can be processed with high precision based on these.

또한, 본 실시형태에 관련된 피가공물의 가공 방법에서는, 대상까지의 거리를 측정하는 변위 측정기(48)를 이용하여, 변의 방향과, 4 개의 XY 좌표를 취득하므로, 예컨대, 피가공물(11)이 투명한 경우나, 피가공물(11)에 디바이스 등의 구조(패턴)가 형성되지 않은 경우에서도, 피가공물(11)의 위치를 정확하게 파악할 수 있다. Moreover, in the processing method of the to-be-processed object which concerns on this embodiment, since the direction of a side and four XY coordinates are acquired using the displacement measuring device 48 which measures the distance to an object, for example, the to-be-processed object 11 is Even when it is transparent or when a structure (pattern), such as a device, is not formed in the to-be-processed object 11, the position of the to-be-processed object 11 can be grasped|ascertained accurately.

따라서, 피가공물(11)을 가공할 때에, 그 주연부에 레이저 빔(44a)을 조사하고 싶지 않은 경우 등에는, 본 실시형태에 관련된 피가공물의 가공 방법이 매우 유효하다. 또한, 본 실시형태에 관련된 피가공물의 가공 방법에 의하면, 피가공물(11)의 외부에 잘못하여 레이저 빔(44a)을 조사해 버리는 일 등도 방지할 수 있다. Therefore, when processing the to-be-processed object 11, when it is not desired to irradiate the laser beam 44a to the periphery, etc., the processing method of the to-be-processed object which concerns on this embodiment is very effective. Moreover, according to the processing method of the to-be-processed object which concerns on this embodiment, irradiating the laser beam 44a by mistake to the outside of the to-be-processed object 11, etc. can also be prevented.

또한, 본 발명은, 상술한 실시형태의 기재에 제한되지 않고 여러 가지로 변경하여 실시할 수 있다. 도 9는, 제1 변형예에 관련된 피가공물의 가공 방법을 나타내는 흐름도이다. 도 9에 도시한 바와 같이, 제1 변형예에 관련된 피가공물의 가공 방법에서는, 피가공물(11)의 변의 방향과, 피가공물(11)의 4 개의 변의 위치를 나타내는 4 개의 좌표를 취득하기 위한 일련의 취득 단계가, 상술한 실시형태와는 다르다. In addition, this invention is not restrict|limited to description of embodiment mentioned above, It can change variously and implement. 9 is a flowchart showing a processing method of a workpiece according to a first modification. As shown in FIG. 9 , in the processing method of the workpiece according to the first modification, four coordinates indicating the direction of the side of the workpiece 11 and the positions of the four sides of the workpiece 11 are obtained. A series of acquisition steps is different from the above-described embodiment.

구체적으로는, 우선, X 방향에 평행한 2 개의 직선 상에서 피가공물(11)의 대향하는 2 개의 변을 포함한 영역의 높이를 측정하고, 얻어진 변위 정보로부터, 대향하는 2 개의 변과 2 개의 직선이 교차하는 3 개 이상의 위치를 나타내는 3 개 이상의 XY 좌표를 취득하는 제1 좌표 취득 단계(ST21)를 실시한다. 도 10은, 제1 변형예에 관련된 제1 좌표 취득 단계(ST21)의 개요를 나타내는 평면도이다. 또한, 도 10에서도, 테이프(13) 등의 일부의 요소가 생략되어 있다. Specifically, first, on two straight lines parallel to the X direction, the height of the region including two opposing sides of the workpiece 11 is measured, and from the obtained displacement information, the two opposing sides and the two straight lines are A first coordinate acquisition step ST21 of acquiring three or more XY coordinates indicating three or more intersecting positions is performed. Fig. 10 is a plan view showing the outline of the first coordinate acquisition step ST21 according to the first modification. In addition, also in FIG. 10, some elements, such as the tape 13, are abbreviate|omitted.

제1 변형예의 제1 좌표 취득 단계(ST21)에서는, 제어 유닛(50)이, 피가공물(11)을 유지한 상태의 척 테이블(36)을 X 방향으로 이동시키면서, 변위 측정기(48)를 작동시켜서, X 방향에 있어서의 위치와 높이와의 관계를 얻는다. 즉, 변위 측정기(48)와, 척 테이블(36)을 상대적으로 이동시켜서, X 방향에 평행한 직선 상에서 피가공물(11)의 대향하는 2 개의 변을 포함한 영역의 높이를 측정한다. 얻어진 변위 정보는, 기억부(50b)에 기억된다. In the first coordinate acquisition step ST21 of the first modification, the control unit 50 operates the displacement measuring device 48 while moving the chuck table 36 holding the workpiece 11 in the X direction. By doing so, the relationship between the position and the height in the X direction is obtained. That is, the displacement measuring device 48 and the chuck table 36 are relatively moved to measure the height of the area including the two opposing sides of the workpiece 11 on a straight line parallel to the X direction. The obtained displacement information is stored in the storage unit 50b.

보다 구체적으로는, 우선, 도 10에 나타내는 제1 직선(31a)을 따라서, 피가공물(11)의 대향하는 변(11c) 및 변(11d)을 포함한 영역의 높이를 측정한다. 여기서, 제1 직선(31a)과 변(11c)이 교차하는 위치(E1)의 높이와, 피가공물(11)의 외부에 있어서 위치(E1)에 인접하는 위치의 높이와의 사이에는, 큰 차이가 존재한다. 또한, 제1 직선(31a)과 변(11d)이 교차하는 위치(E2)의 높이와, 피가공물(11)의 외부에 있어서 위치(E2)에 인접하는 위치의 높이와의 사이에는, 큰 차이가 존재한다. More specifically, first, along the first straight line 31a shown in FIG. 10 , the height of the region including the opposing sides 11c and 11d of the workpiece 11 is measured. Here, there is a large difference between the height of the position E1 where the first straight line 31a and the side 11c intersect and the height of the position adjacent to the position E1 outside the workpiece 11 . exists Moreover, there is a large difference between the height of the position E2 where the first straight line 31a and the side 11d intersect and the height of the position adjacent to the position E2 outside the workpiece 11 . exists

따라서, 얻어진 변위 정보로부터 고저차가 큰 위치를 추출하는 것에 의해, 위치(E1)의 X 좌표(X51)와 위치(E2)의 X 좌표(X52)를 산출할 수 있다. 또한, X 방향에 대해서 평행한 제1 직선(31a) 상의 임의의 위치의 Y 좌표는, 모두 동일하다. 그 때문에, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)(척 테이블(36))의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하는 것에 의해, 위치(E1) 및 위치(E2)의 Y 좌표(Y5)를 산출할 수 있다. Therefore, by extracting a position with a large elevation difference from the obtained displacement information, the X coordinate (X51) of the position E1 and the X coordinate ( X52 ) of the position E2 are computable . In addition, all Y coordinates of arbitrary positions on the 1st straight line 31a parallel to the X direction are the same. Therefore, by using information indicating the position of the Y-axis movement table 20 (chuck table 36) at the time of measurement, the Y coordinates Y 5 of the positions E1 and E2 can be calculated. can

즉, 연산부(50a)는, 측정에 의해서 얻어진 변위 정보를 이용하여, 제1 직선(31a)과 변(11c)이 교차하는 위치(E1)의 X 좌표(X51)를 산출하고, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하여, 위치(E1)의 Y 좌표(Y5)를 산출한다. 산출된 위치(E1)의 좌표(X51, Y5)는, 기억부(50b)에 기억된다. That is, the calculating unit 50a uses the displacement information obtained by the measurement to calculate the X coordinate ( X51 ) of the position E1 where the first straight line 31a and the side 11c intersect, and at the time of measurement The Y coordinate Y 5 of the position E1 is calculated using information indicating the position of the Y-axis movement table 20 and the like. The calculated coordinates (X 51 , Y 5 ) of the position E1 are stored in the storage unit 50b.

또한, 연산부(50a)는, 측정에 의해서 얻어진 변위 정보를 이용하여, 제1 직선(31a)과 변(11d)이 교차하는 위치(E2)의 X 좌표(X52)를 산출하고, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하여, 위치(E2)의 Y 좌표(Y5)를 산출한다. 산출된 위치(E2)의 좌표(X52, Y5)는, 기억부(50b)에 기억된다. In addition, the calculating unit 50a uses the displacement information obtained by the measurement to calculate the X coordinate ( X52 ) of the position E2 where the first straight line 31a and the side 11d intersect, and at the time of measurement The Y coordinate Y 5 of the position E2 is calculated using information indicating the position of the Y-axis movement table 20 and the like. The calculated coordinates (X 52 , Y 5 ) of the position E2 are stored in the storage unit 50b.

제1 직선(31a)을 따라서 피가공물(11)의 대향하는 변(11c) 및 변(11d)을 포함한 영역의 높이를 측정한 후에는, 척 테이블(36)(Y축 이동 테이블(20))을 Y 방향으로 이동시킨 다음, 마찬가지의 측정을 실시한다. 즉, Y 방향에 있어서 제1 직선(31a)과는 상이한 위치를 지나 X 방향에 평행한 제2 직선(31b)을 따라서, 피가공물(11)의 변(11c) 및 변(11d)을 포함한 영역의 높이를 측정한다. After measuring the height of the region including the opposing sides 11c and 11d of the workpiece 11 along the first straight line 31a, the chuck table 36 (Y-axis movement table 20) is moved in the Y direction, and then the same measurement is performed. That is, the area including the side 11c and the side 11d of the workpiece 11 along the second straight line 31b parallel to the X direction through a position different from the first straight line 31a in the Y direction. measure the height of

그리고, 연산부(50a)는, 측정에 의해서 얻어진 변위 정보를 이용하여, 제2 직선(31b)과 변(11c)이 교차하는 위치(F1)의 X 좌표(X61)를 산출하고, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하여, 위치(F1)의 Y 좌표(Y6)를 산출한다. 산출된 위치(F1)의 좌표(X61, Y6)는, 기억부(50b)에 기억된다. And the calculating part 50a calculates the X coordinate ( X61 ) of the position F1 where the 2nd straight line 31b and the side 11c intersect using the displacement information obtained by the measurement, The Y coordinate Y 6 of the position F1 is calculated using information indicating the position of the Y-axis movement table 20 and the like. The calculated coordinates (X 61 , Y 6 ) of the position F1 are stored in the storage unit 50b.

또한, 연산부(50a)는, 측정에 의해서 얻어진 변위 정보를 이용하여, 제2 직선(31b)과 변(11d)이 교차하는 위치(F2)의 X 좌표(X62)를 산출하고, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하여, 위치(F2)의 Y 좌표(Y6)를 산출한다. 산출된 위치(F2)의 좌표(X62, Y6)는, 기억부(50b)에 기억된다. Further, the calculating unit 50a uses the displacement information obtained by the measurement to calculate the X coordinate ( X62 ) of the position F2 where the second straight line 31b and the side 11d intersect, at the time of measurement. The Y coordinate Y 6 of the position F2 is calculated using information indicating the position of the Y-axis movement table 20 and the like. The calculated coordinates (X 62 , Y 6 ) of the position F2 are stored in the storage unit 50b.

또한, 이 제1 변형 예의 제1 좌표 취득 단계(ST21)에서는, 제1 직선(31a) 및 제2 직선(31b)과, 변(11c) 및 변(11d)가 교차하는 4 개의 위치를 나타내는 4 개의 XY 좌표를 모두 취득하고 있지만, 본 발명에서는, 4 개의 XY 좌표 중 어느 3 개를 취득할 수 있으면 된다. In addition, in the first coordinate acquisition step ST21 of this first modification, 4 indicating four positions where the first straight line 31a and the second straight line 31b, and the side 11c and the side 11d intersect Although all of the XY coordinates are acquired, in the present invention, any three of the four XY coordinates may be acquired.

제1 좌표 취득 단계(ST21) 후에는, 도 9에 도시한 바와 같이, X 방향에 평행한 1 개의 직선 상에서 피가공물(11)의 대향하는 상이한 2 개의 변을 포함한 영역의 높이를 측정하고, 얻어진 변위 정보로부터, 대향하는 상이한 2 개의 변과 1 개의 직선이 교차하는 2 개의 위치를 나타내는 2 개의 XY 좌표를 취득하는 제2 좌표 취득 단계(ST22)를 실시한다. 도 11은, 제1 변형예에 관련된 제2 좌표 취득 단계(ST22)의 개요를 나타내는 평면도이다. 또한, 도 11에서도, 테이프(13) 등의 일부의 요소가 생략되어 있다. After the first coordinate acquisition step ST21, as shown in FIG. 9, the height of the area including two opposite sides of the workpiece 11 is measured on one straight line parallel to the X direction, and the obtained A second coordinate acquisition step ST22 of acquiring two XY coordinates indicating two positions where two opposite sides and one straight line intersect from the displacement information is performed. 11 is a plan view showing the outline of the second coordinate acquisition step ST22 according to the first modification. In addition, also in FIG. 11, some elements, such as the tape 13, are abbreviate|omitted.

제2 좌표 취득 단계(ST22)에서는, 우선, 척 테이블(36)의 방향을, 상술의 제1 좌표 취득 단계(ST21)에서의 척 테이블(36)의 방향에 대해서 수직으로 조정한다. 즉, 제어 유닛(50)은, 도 10에 나타내는 상태로부터, 척 테이블(36)을 90°의 각도(제1 변형예에서는, 평면시로 시계 방향으로 90°의 각도)만큼 회전시킨다. In the second coordinate acquisition step ST22, first, the direction of the chuck table 36 is adjusted perpendicularly to the direction of the chuck table 36 in the above-described first coordinate acquisition step ST21. That is, the control unit 50 rotates the chuck table 36 by an angle of 90° (in the first modification, an angle of 90° clockwise in plan view) from the state shown in FIG. 10 .

그 후, 제어 유닛(50)은, 피가공물(11)을 유지한 상태의 척 테이블(36)을 X 방향으로 이동시키면서, 변위 측정기(48)를 작동시켜서, X 방향에 있어서의 위치와 높이와의 관계를 얻는다. 즉, 변위 측정기(48)와, 척 테이블(36)을 상대적으로 이동시켜서, X 방향에 평행한 직선 상에서 피가공물(11)의 대향하는 상이한 2 개의 변을 포함한 영역의 높이를 측정한다. 얻어진 변위 정보는, 기억부(50b)에 기억된다. Thereafter, the control unit 50 operates the displacement measuring device 48 while moving the chuck table 36 holding the workpiece 11 in the X direction to obtain the position and height in the X direction and get the relationship of That is, the displacement measuring device 48 and the chuck table 36 are relatively moved to measure the height of a region including two opposite sides of the workpiece 11 on a straight line parallel to the X direction. The obtained displacement information is stored in the storage unit 50b.

보다 구체적으로는, 예컨대, 도 11에 나타내는 제3 직선(31c)을 따라서, 피가공물(11)의 대향하는 변(11e) 및 변(11f)을 포함한 영역의 높이를 측정한다. 여기서, 제3 직선(31c)과 변(11e)이 교차하는 위치(G1)의 높이와, 피가공물(11)의 외부에 있어서 위치(G1)에 인접하는 위치의 높이와의 사이에는, 큰 차이가 존재한다. 또한, 제3 직선(31c)과 변(11f)이 교차하는 위치(G2)의 높이와, 피가공물(11)의 외부에 있어서 위치(G2)에 인접하는 위치의 높이와의 사이에는, 큰 차이가 존재한다. More specifically, for example, along the third straight line 31c shown in FIG. 11 , the height of the region including the opposite sides 11e and 11f of the workpiece 11 is measured. Here, there is a large difference between the height of the position G1 where the third straight line 31c and the side 11e intersect and the height of the position adjacent to the position G1 outside the workpiece 11 . exists Moreover, there is a large difference between the height of the position G2 where the third straight line 31c and the side 11f intersect and the height of the position adjacent to the position G2 outside the workpiece 11 . exists

따라서, 얻어진 변위 정보로부터 고저차가 큰 위치를 추출하는 것에 의해, 위치(G1)의 X 좌표(X71)와 위치(G2)의 X 좌표(X72)를 산출할 수 있다. 또한, X 방향에 대해서 평행한 제3 직선(31c) 상의 임의의 위치의 Y 좌표는, 모두 동일하다. 그 때문에, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)(척 테이블(36))의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하는 것에 의해, 위치(G1) 및 위치(G2)의 Y 좌표(Y7)를 산출할 수 있다. Therefore, by extracting a position with a large elevation difference from the obtained displacement information, the X coordinate (X71) of the position G1 and the X coordinate ( X72 ) of the position G2 are computable . In addition, all Y coordinates of arbitrary positions on the 3rd straight line 31c parallel with respect to the X direction are the same. Therefore, the Y coordinate Y 7 of the position G1 and the position G2 can be calculated by using information etc. indicating the position of the Y-axis movement table 20 (chuck table 36) at the time of measurement. can

즉, 연산부(50a)는, 측정에 의해서 얻어진 변위 정보를 이용하여, 제3 직선(31c)과 변(11e)이 교차하는 위치(G1)의 X 좌표(X71)를 산출하고, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하여, 위치(G1)의 Y 좌표(Y7)를 산출한다. 산출된 위치(G1)의 좌표(X71, Y7)는, 기억부(50b)에 기억된다. That is, the calculating unit 50a uses the displacement information obtained by the measurement to calculate the X coordinate ( X71 ) of the position G1 where the third straight line 31c and the side 11e intersect, and at the time of measurement The Y coordinate Y 7 of the position G1 is calculated using information indicating the position of the Y-axis movement table 20 and the like. The calculated coordinates (X 71 , Y 7 ) of the position G1 are stored in the storage unit 50b.

또한, 연산부(50a)는, 측정에 의해서 얻어진 변위 정보를 이용하여, 제3 직선(31c)과 변(11f)이 교차하는 위치(G2)의 X 좌표(X72)를 산출하고, 측정시의 Y축 이동 테이블(20)의 위치를 나타내는 정보 등을 이용하여, 위치(G2)의 Y 좌표(Y7)를 산출한다. 산출된 위치(G2)의 좌표(X72, Y7)는, 기억부(50b)에 기억된다. Further, the calculating unit 50a uses the displacement information obtained by the measurement to calculate the X coordinate ( X72 ) of the position G2 where the third straight line 31c and the side 11f intersect, and at the time of measurement The Y coordinate Y 7 of the position G2 is calculated using information indicating the position of the Y-axis movement table 20 and the like. The calculated coordinates (X 72 , Y 7 ) of the position G2 are stored in the storage unit 50b.

제2 좌표 취득 단계(ST22) 후에는, 도 9에 도시한 바와 같이, 제1 좌표 취득 단계(ST21)에서 취득되고, 대향하는 2 개의 변의 한쪽과 2 개의 직선이 교차하는 2 개의 위치를 나타내는 2 개의 XY 좌표로부터, 대향하는 2 개의 변의 한쪽의 방향을 취득하는 방향 취득 단계(ST23)를 실시한다. After the second coordinate acquisition step ST22, as shown in Fig. 9, 2 is acquired in the first coordinate acquisition step ST21 and indicates two positions where one of two opposite sides and two straight lines intersect. A direction acquisition step (ST23) of acquiring one direction of two opposing sides from the XY coordinates is performed.

예컨대, 연산부(50a)는, 변(11c)과 제1 직선(31a)이 교차하는 위치(E1)의 좌표(X51, Y5)와, 변(11c)과 제2 직선(31b)이 교차하는 위치(F1)의 좌표(X61, Y6)에 대해서 삼각법을 적용하고, 변(11c)과 Y 방향과의 이루는 각도(θ2)를 산출한다. 산출된 각도(θ2)는, 변(11c)의 방향으로서 기억부(50b)에 기억된다. For example, the calculating unit 50a may include coordinates X 51 , Y 5 of a position E1 where the side 11c and the first straight line 31a intersect, and the side 11c and the second straight line 31b intersect with each other. Trigonometry is applied to the coordinates (X 61 , Y 6 ) of the position F1 to be made, and the angle (θ 2 ) formed between the side 11c and the Y direction is calculated. The calculated angle θ 2 is stored in the storage unit 50b as the direction of the side 11c.

또한, 연산부(50a)는, 변(11c)의 방향으로서, 변(11c)과 X 방향이 이루는 각을 산출해도 좋다. 또한, 연산부(50a)는, 변(11d)과 제1 직선(31a)이 교차하는 위치(E2)의 좌표(X52, Y5)와, 변(11d)과 제2 직선(31b)이 교차하는 위치(F2)의 좌표(X62, Y6)에 대해서 삼각법을 적용하고, 변(11d)과 Y 방향 또는 X 방향과의 이루는 각도를 산출해도 좋다. In addition, as the direction of the side 11c, the calculating part 50a may calculate the angle which the side 11c and the X direction make|form. In addition, the calculating unit 50a is configured such that the coordinates X 52 , Y 5 of the position E2 where the side 11d and the first straight line 31a intersect, and the side 11d and the second straight line 31b intersect The angle between the side 11d and the Y direction or the X direction may be calculated by applying a trigonometric method to the coordinates (X 62 , Y 6 ) of the position F2 to be made.

방향 취득 단계(ST23) 후에는, 이 방향 취득 단계(ST23)에서 취득된 변의 방향에 기초하여, 제1 좌표 취득 단계(ST21)에서 취득된 2 개의 XY 좌표와, 제2 좌표 취득 단계(ST22)에서 취득된 2 개의 XY 좌표를 보정하여 보정 좌표를 취득하는 보정 좌표 취득 단계(ST24)를 실시한다. After the direction acquiring step ST23, based on the direction of the side acquired in the direction acquiring step ST23, the two XY coordinates acquired in the first coordinate acquiring step ST21 and the second coordinate acquiring step ST22 A correction coordinate acquisition step (ST24) of acquiring correction coordinates by correcting the two XY coordinates obtained in is performed.

구체적으로는, 예컨대, 연산부(50a)는, 변(11c)과 제1 직선(31a)이 교차하는 위치(E1)의 좌표(X51, Y5)와, 변(11d)과 제1 직선(31a)이 교차하는 위치(E2)의 좌표(X52, Y5)의 각각을, θ2의 각도(본 실시형태에서는, 평면시로 시계 방향으로 θ2의 각도)만큼 회전시키는 연산 처리를 실시하고, 보정 후의 위치(E1)의 좌표 및 위치(E2)의 좌표(보정 좌표)를 취득한다. 취득된 보정 후의 위치(E1)의 좌표 및 위치(E2)의 좌표는, 기억부(50b)에 기억된다. Specifically, for example, the calculating unit 50a calculates the coordinates X 51 and Y 5 of the position E1 where the side 11c and the first straight line 31a intersect, the side 11d and the first straight line ( Calculation processing is performed to rotate each of the coordinates (X 52 , Y 5 ) of the position E2 where 31a) intersects by an angle of θ 2 (in this embodiment, an angle of θ 2 clockwise in plan view) Then, the coordinates of the position E1 and the coordinates of the position E2 (correction coordinates) after correction are acquired. The obtained coordinates of the post-correction position E1 and the coordinates of the position E2 are stored in the storage unit 50b.

또한, 연산부(50a)는, 변(11c)과 제2 직선(31b)이 교차하는 위치(F1)의 좌표(X61, Y6)와, 변(11d)과 제2 직선(31b)이 교차하는 위치(F2)의 좌표(X62, Y6)의 각각을, θ2의 각도(본 실시형태에서는, 평면시로 시계 방향으로 θ2의 각도)만큼 회전시키는 연산 처리를 실시하고, 보정 후의 위치(F1)의 좌표 및 위치(F2)의 좌표를 취득해도 좋다. In addition, the calculation unit 50a is configured such that the coordinates X 61 , Y 6 of the position F1 where the side 11c and the second straight line 31b intersect, and the side 11d and the second straight line 31b intersect Calculation processing is performed to rotate each of the coordinates (X 62 , Y 6 ) of the position F2 to be performed by an angle of θ 2 (in this embodiment, an angle of θ 2 clockwise in planar view) after correction The coordinates of the position F1 and the coordinates of the position F2 may be acquired.

또한, 연산부(50a)는, 변(11e)과 제3 직선(31c)이 교차하는 위치(G1)의 좌표(X71, Y7)와, 변(11f)과 제3 직선(31c)이 교차하는 위치(G2)의 좌표(X72, Y7)의 각각을, θ2 - 90°의 각도(본 실시형태에서는, 평면시로 시계 방향으로 θ2 - 90°의 각도)만큼 회전시키는 연산 처리를 실시하고, 보정 후의 위치(G1)의 좌표 및 위치(G2)의 좌표(보정 좌표)를 취득한다. 취득된 보정 후의 위치(G1)의 좌표 및 위치(G2)의 좌표는, 기억부(50b)에 기억된다. In addition, the calculating unit 50a is configured to intersect the coordinates X 71 and Y 7 of the position G1 where the side 11e and the third straight line 31c intersect, and the side 11f and the third straight line 31c intersect. arithmetic processing for rotating each of the coordinates (X 72 , Y 7 ) of the position G2 to be made by an angle of θ 2 - 90° (in the present embodiment, an angle of θ 2 - 90° in a planar view clockwise) , and the coordinates of the position G1 after correction and the coordinates of the position G2 (correction coordinates) are acquired. The obtained coordinates of the post-correction position G1 and the coordinates of the position G2 are stored in the storage unit 50b.

이와 같이 하여 취득되는 보정 좌표는, 변(11c)의 방향이 Y 방향에 대해서 평행에 조정된 상태에서의 위치(E1), 위치(E1), 위치(G1) 및 위치(G2)를 나타낸다. 따라서, 이러한 보정 좌표를 이용함으로써, 피가공물(11)을 정밀도 좋게 가공할 수 있게 된다. 또한, 마찬가지의 방법으로, 변(11c)의 방향이 Y 방향에 대해서 수직에 조정된 상태로 각 위치를 나타내는 보정 좌표를 취득해도 좋다. The correction coordinates obtained in this way show the position E1, the position E1, the position G1, and the position G2 in a state in which the direction of the side 11c is adjusted to be parallel to the Y direction. Therefore, by using such correction coordinates, the to-be-processed object 11 can be processed accurately. Further, in the same manner, correction coordinates indicating each position may be acquired in a state in which the direction of the side 11c is adjusted perpendicular to the Y direction.

보정 좌표 취득 단계(ST24) 후에는, 상술한 일련의 취득 단계(제1 좌표 취득 단계(ST21), 제2 좌표 취득 단계(ST22), 방향 취득 단계(ST23) 및 보정 좌표 취득 단계(ST24))에서 취득된 피가공물(11)의 위치 및 방향에 관한 정보를 이용하여 피가공물(11)을 가공하는 가공 단계(ST25)를 실시한다. 즉, 가공 단계(ST25)에서는, 변의 방향과, 각 변의 위치를 나타내는 4 개의 XY 좌표에 기초하여 피가공물(11)이 가공된다. 가공 단계(ST25)의 구체적인 순서는, 실시형태에 관련된 가공 단계(ST15)와 동일하면 된다. After the corrected coordinate acquisition step ST24, the above-described series of acquisition steps (first coordinate acquisition step ST21, second coordinate acquisition step ST22, direction acquisition step ST23, and corrected coordinate acquisition step ST24) A processing step (ST25) of processing the workpiece 11 is performed using the information about the position and direction of the workpiece 11 obtained in FIG. That is, in the machining step ST25, the workpiece 11 is machined based on the direction of the side and the four XY coordinates indicating the position of each side. The specific procedure of the processing step ST25 may be the same as the processing step ST15 according to the embodiment.

이 제1 변형예에 관련된 피가공물의 가공 방법에서도, 피가공물(11)의 제1 면(11a)이 가지는 변(변(11c))의 방향과, 제1 면(11a)이 가지는 4 개의 변(변(11c), 변(11d), 변(11e) 및 변(11f))의 각각의 위치(위치(E1), 위치(E2), 위치(G1) 및 위치(G2))를 나타내는 4 개의 XY 좌표를 취득하므로, 이들에 기초하여, 피가공물(11)을 높은 정밀도로 가공할 수 있다. Also in the processing method of the to-be-processed object which concerns on this 1st modification, the direction of the side (side 11c) which the 1st surface 11a of the to-be-processed object 11 has, and the 4 sides which the 1st surface 11a has (side 11c, side 11d, side 11e, and side 11f) of four representing positions (position E1, position E2, position G1, and position G2), respectively. Since XY coordinates are acquired, the to-be-processed object 11 can be processed with high precision based on these.

또한, 제1 변형예에 관련된 피가공물의 가공 방법에서도, 대상까지의 거리를 측정하는 변위 측정기(48)를 이용하여, 변의 방향과, 4 개의 XY 좌표를 취득하므로, 예컨대, 피가공물(11)이 투명한 경우나, 피가공물(11)에 디바이스 등의 구조(패턴)가 형성되지 않은 경우라도, 피가공물(11)의 위치를 정확하게 파악할 수 있다. Also, in the processing method of the workpiece according to the first modification, the direction of the edge and the four XY coordinates are acquired by using the displacement measuring device 48 that measures the distance to the object, so for example, the workpiece 11 Even in this transparent case or when a structure (pattern), such as a device, is not formed in the to-be-processed object 11, the position of the to-be-processed object 11 can be grasped|ascertained accurately.

따라서, 피가공물(11)을 가공할 때에, 그 주연부에 레이저 빔(44a)을 조사하고 싶지 않은 경우 등에는, 제1 변형예에 관련된 피가공물의 가공 방법이 매우 유효하다. 또한, 제1 변형예에 관련된 피가공물의 가공 방법에 의하면, 피가공물(11)의 외부에 잘못하여 레이저 빔(44a)을 조사해 버리는 일 등도 방지할 수 있다. Therefore, when processing the workpiece 11, when it is not desired to irradiate the laser beam 44a to the periphery, the processing method of the workpiece according to the first modification is very effective. Moreover, according to the processing method of the to-be-processed object which concerns on the 1st modified example, irradiating the laser beam 44a by mistake to the outside of the to-be-processed object 11, etc. can also be prevented.

또한, 상술한 실시형태에서는, 변위 측정기(48)를 이용하여 변위 정보를 얻는 것에 의해서, 피가공물(11)의 제1 면(11a)이 가지는 변의 방향을 취득하고 있지만, 예컨대, 카메라(46)를 이용하여 피가공물(11)을 촬상하는 방법으로, 제1 면(11a)이 가지는 변의 방향을 취득할 수도 있다. In addition, in the above-mentioned embodiment, the direction of the side which the 1st surface 11a of the to-be-processed object 11 has is acquired by obtaining the displacement information using the displacement measuring device 48, For example, the camera 46 The direction of the side of the first surface 11a can also be acquired by the method of imaging the to-be-processed object 11 using

즉, 이 제2 변형예에 관련된 피가공물의 가공 방법의 방향 취득 단계에서는, 예컨대, 피가공물(11)의 하나의 변을 포함한 영역을 카메라(46)로 촬상하여 얻어진 화상으로부터, 연산부(50a)가, 변 위의 2 개의 위치의 좌표를 산출함으로써, 변의 방향을 취득한다. 그 외의 단계는, 상술한 실시형태와 동일하면 된다. That is, in the direction acquisition step of the processing method of the workpiece according to the second modification, for example, from the image obtained by imaging the area including one side of the workpiece 11 with the camera 46, the calculation unit 50a The direction of the side is obtained by calculating the coordinates of the two positions of the side. Other steps may be the same as in the above-described embodiment.

또한, 상술한 실시형태 및 각 변형예에서는, 제1 좌표 취득 단계(ST12)나 제1 좌표 취득 단계(ST21) 후에, 제2 좌표 취득 단계(ST13)나 제2 좌표 취득 단계(ST22)를 실시하고 있지만, 이러한 순서는 교체해도 좋다. 또한, 상술한 제1 변형예에서는, 제2 좌표 취득 단계(ST22) 후에 방향 취득 단계(ST23)를 실시하고 있지만, 방향 취득 단계(ST23)는, 제1 좌표 취득 단계(ST21) 후, 제2 좌표 취득 단계(ST22) 전에 행해져도 좋다. In addition, in the above-described embodiment and each modification, the second coordinate acquisition step ST13 or the second coordinate acquisition step ST22 is performed after the first coordinate acquisition step ST12 or the first coordinate acquisition step ST21 However, this order may be replaced. Further, in the first modification described above, the direction acquisition step ST23 is performed after the second coordinate acquisition step ST22, but the direction acquisition step ST23 is performed after the first coordinate acquisition step ST21 and the second It may be performed before the coordinate acquisition step ST22.

또한, 상술한 실시형태 및 각 변형예에서는, 가공 단계(ST15)나 가공 단계(ST25)에 있어서 피가공물(11)에 개질층(17)을 형성하고 있지만, 본 발명의 가공 단계에서는, 피가공물(11)이 레이저 빔으로 어브레이션 가공되어도 좋다. 이 경우에는, 피가공물(11)에 흡수되는 파장의 레이저 빔(흡수성의 레이저 빔)을 생성할 수 있는 레이저 발진기를 구비한 레이저 가공 장치가 사용된다. In addition, in the above-mentioned embodiment and each modification, although the modified layer 17 is formed in the to-be-processed object 11 in processing step ST15 and processing step ST25, in the processing step of this invention, to-be-processed object (11) Abrasion processing may be performed with this laser beam. In this case, a laser processing apparatus provided with a laser oscillator capable of generating a laser beam (absorptive laser beam) of a wavelength absorbed by the workpiece 11 is used.

또한, 본 발명의 가공 단계에서는, 지립을 결합제로 고정하여 형성되는 환형의 절삭 블레이드(가공 유닛)를 피가공물(11)에 절입시키는 방법으로 피가공물(11)을 가공할 수도 있다. 이 경우에는, 예컨대, 조사 헤드(44)나 레이저 발진기 대신에, 환형의 절삭 블레이드가 장착되는 스핀들(가공 유닛)을 구비한 절삭 장치(가공 장치)가 사용된다. In addition, in the processing step of the present invention, the workpiece 11 may be processed by a method in which an annular cutting blade (processing unit) formed by fixing the abrasive grains with a binder is cut into the workpiece 11 . In this case, for example, instead of the irradiation head 44 or the laser oscillator, a cutting device (machining device) provided with a spindle (machining unit) to which an annular cutting blade is mounted is used.

또한, 상술한 실시형태 및 각 변형예에서는, 대상까지의 거리를 레이저 빔(48a)으로 측정하는 광학식의 변위 측정기(48)를 사용하고 있지만, 이러한 광학식의 변위 측정기(48) 대신에, 배압 센서나 초음파 센서 등을 변위 측정기(측정기)로서 사용할 수도 있다. In addition, in the above-mentioned embodiment and each modified example, although the optical displacement measuring device 48 which measures the distance to an object with the laser beam 48a is used, instead of this optical displacement measuring device 48, a back pressure sensor Alternatively, an ultrasonic sensor or the like may be used as a displacement measuring device (measuring device).

또한, 상술한 실시형태 및 각 변형예에 관련된 피가공물의 가공 방법은, X 방향과 Y 방향과의 관계를 모순이 생기지 않는 범위에서 교체한 상태로 실시되어도 좋다. 예컨대, 상술한 실시형태 및 각 변형예에서는, 척 테이블(36)과 변위 측정기(48)를 X 방향에 있어서 상대적으로 이동시키는 것에 의해, 임의의 변을 포함한 영역의 높이를 측정하고 있지만, 척 테이블(36)과 변위 측정기(48)를 Y 방향에 있어서 상대적으로 이동시키는 것에 의해, 임의의 변을 포함한 영역의 높이를 측정할 수도 있다. In addition, the processing method of the to-be-processed object which concerns on the above-mentioned embodiment and each modification may be implemented in the state which replaced the relationship between an X direction and a Y direction in the range which does not produce a contradiction. For example, in the embodiment and each modification described above, the height of a region including an arbitrary side is measured by relatively moving the chuck table 36 and the displacement measuring device 48 in the X direction. By moving (36) and the displacement measuring device 48 relatively in the Y direction, the height of the region including any side can also be measured.

또한, 상술한 실시형태 및 각 변형예에서 취득되는 변의 방향이나, 4 개의 XY 좌표에 기초하여, 피가공물(11)의 임의의 위치의 좌표(예컨대, 피가공물(11)의 중심의 좌표)를 취득하고, 그 후의 피가공물(11)의 가공에 이용하여도 좋다. In addition, based on the direction of the side obtained in the embodiment and each modification described above and the four XY coordinates, the coordinates of any position of the workpiece 11 (eg, the coordinates of the center of the workpiece 11) It may be acquired and used for the subsequent processing of the to-be-processed object 11.

그 외, 상술한 실시형태 및 각 변형예에 관련된 구조, 방법 등은, 본 발명의 목적의 범위를 일탈하지 않는 한에 있어서 적절하게 변경하여 실시할 수 있다.In addition, the structure, method, etc. which concern on embodiment and each modified example mentioned above can be implemented by changing suitably, unless it deviates from the scope of the objective of this invention.

11: 피가공물
11a: 제1 면(표면)
11b: 제2 면(이면)
11c: 변
11d: 변
11e: 변
11f: 변
13: 테이프(다이싱 테이프)
15: 프레임
17: 개질층
21a: 제1 직선
21b: 제2 직선
21c: 제3 직선
21d: 제4 직선
31a: 제1 직선
31b: 제2 직선
31c: 제3 직선
2: 레이저 가공 장치(가공 장치)
4: 베이스
4a: 수용부
6: 지지 구조
6a: 지지 아암
8: 카세트 지지대
10: 카세트
12: 위치 맞춤 유닛
14: 반송 유닛
16: 이동 기구(가공 이송 기구, 인덱싱 이송 기구)
18: Y축 가이드 레일
20: Y축 이동 테이블
22: Y축 볼 나사
24: Y축 펄스 모터
26: X축 가이드 레일
28: X축 이동 테이블
30: X축 볼 나사
32: X축 펄스 모터
34: θ 테이블
34a: 테이블 베이스
36: 척 테이블
38: 프레임
38a: 오목부
38b: 유로
40: 유지판
40a: 유지면
42: 클램프
44: 조사 헤드(가공 유닛)
44a: 레이저 빔
46: 카메라(촬상 유닛)
48: 변위 측정기(측정기)
48a: 레이저 빔
50: 제어 유닛
50a: 연산부
50b: 기억부
11: Workpiece
11a: first side (surface)
11b: second side (back side)
11c: side
11d: side
11e: side
11f: side
13: Tape (dicing tape)
15: frame
17: modified layer
21a: first straight line
21b: second straight line
21c: third straight line
21d: fourth straight line
31a: first straight line
31b: second straight line
31c: third straight line
2: Laser processing unit (processing unit)
4: Bass
4a: receptacle
6: support structure
6a: support arm
8: Cassette support
10: cassette
12: positioning unit
14: conveying unit
16: moving mechanism (machining transfer mechanism, indexing transfer mechanism)
18: Y-axis guide rail
20: Y-axis movement table
22: Y-axis ball screw
24: Y-axis pulse motor
26: X-axis guide rail
28: X-axis movement table
30: X-axis ball screw
32: X-axis pulse motor
34: θ table
34a: table base
36: chuck table
38: frame
38a: recess
38b: Euro
40: maintenance plate
40a: retaining surface
42: clamp
44: irradiation head (machining unit)
44a: laser beam
46: camera (imaging unit)
48: displacement measuring instrument (measuring instrument)
48a: laser beam
50: control unit
50a: arithmetic unit
50b: memory

Claims (4)

4 개의 변을 가지는 직사각형 형상의 제1 면과, 상기 제1 면과는 반대 측에 위치하는 직사각형 형상의 제2 면을 가지는 판형의 피가공물을, 유지면을 가지는 척 테이블과, 상기 척 테이블에 유지된 상기 피가공물을 가공하는 가공 유닛을 이용하여 가공할 때에 이용되는 피가공물의 가공 방법으로서,
상기 피가공물의 상기 제2 면 측이 상기 척 테이블의 상기 유지면에 유지된 상태로, 상기 피가공물의 4 개의 상기 변을 포함한 영역의 높이를 측정하여 얻어진 변위 정보로부터, 상기 변의 상기 유지면에 평행한 XY 평면 내에서의 방향과, 4 개의 상기 변의 상기 XY 평면 내에서의 위치를 나타내는 4 개의 XY 좌표를 취득하는 취득 단계와,
상기 변의 방향과, 상기 4 개의 XY 좌표에 기초하여 상기 피가공물을 가공하는 가공 단계
를 포함하는 피가공물의 가공 방법.
A plate-shaped workpiece having a first surface having a rectangular shape having four sides and a second surface having a rectangular shape positioned on the opposite side to the first surface is placed on a chuck table having a holding surface and the chuck table As a processing method of a workpiece used when processing using a processing unit processing the held workpiece,
From the displacement information obtained by measuring the height of an area including the four sides of the workpiece while the second surface side of the workpiece is held on the holding surface of the chuck table, the holding surface of the side is placed on the holding surface an acquisition step of acquiring four XY coordinates indicating directions in the parallel XY plane and positions in the XY plane of the four sides;
A processing step of processing the workpiece based on the direction of the side and the four XY coordinates
A method of processing a workpiece comprising a.
제1항에 있어서, 상기 취득 단계는,
높이를 측정하기 위한 측정기와, 상기 척 테이블을 상대적으로 이동시키는 것에 의해, Y 방향에 있어서 상이한 위치를 지나 X 방향에 평행한 2 개의 직선 상에서 상기 피가공물의 하나의 상기 변을 포함한 영역의 높이를 측정하고, 얻어진 변위 정보로부터, 상기 변과 상기 2 개의 직선이 교차하는 2 개의 위치를 나타내는 XY 좌표를 산출하여, 상기 변의 방향을 취득하는 방향 취득 단계와,
상기 방향 취득 단계에서 취득된 상기 변의 방향이 상기 Y 방향에 대해서 평행이 되도록, 상기 XY 평면에 대해서 수직인 회전축의 둘레의 상기 척 테이블의 방향을 조정한 후, 상기 측정기와 상기 척 테이블을 상대적으로 이동시키는 것에 의해, 상기 X 방향에 평행한 1 개의 직선 상에서 상기 피가공물의 대향하는 2 개의 상기 변을 포함한 영역의 높이를 측정하고, 얻어진 변위 정보로부터, 대향하는 2 개의 상기 변과 상기 1 개의 직선이 교차하는 2 개의 위치를 나타내는 2 개의 XY 좌표를 취득하는 제1 좌표 취득 단계와,
상기 방향 취득 단계에서 취득된 상기 변의 방향이 상기 Y 방향에 대해서 수직이 되도록, 상기 회전축의 둘레의 상기 척 테이블의 방향을 조정한 후, 상기 측정기와 상기 척 테이블을 상대적으로 이동시키는 것에 의해, 상기 X 방향에 평행한 1 개의 직선 상에서 상기 피가공물의 대향하는 상이한 2 개의 상기 변을 포함한 영역의 높이를 측정하고, 얻어진 변위 정보로부터, 대향하는 상이한 2 개의 상기 변과 상기 1 개의 직선이 교차하는 2 개의 위치를 나타내는 2 개의 XY 좌표를 취득하는 제2 좌표 취득 단계
를 더 포함하는 피가공물의 가공 방법.
According to claim 1, wherein the acquiring step,
By relatively moving the measuring device for measuring the height and the chuck table, the height of the area including one side of the workpiece on two straight lines parallel to the X direction passing through different positions in the Y direction is determined. a direction obtaining step of calculating XY coordinates indicating two positions where the side and the two straight lines intersect from the displacement information obtained by measuring, and obtaining the direction of the side;
After adjusting the direction of the chuck table around the rotation axis perpendicular to the XY plane so that the direction of the side acquired in the direction acquiring step is parallel to the Y direction, the measuring device and the chuck table are relatively By moving, the height of the area including the two opposing sides of the workpiece is measured on one straight line parallel to the X direction, and from the obtained displacement information, the two opposing sides and the one straight line are measured. A first coordinate acquisition step of acquiring two XY coordinates indicating the two intersecting positions;
After adjusting the direction of the chuck table around the rotation shaft so that the direction of the side obtained in the direction obtaining step is perpendicular to the Y direction, by relatively moving the measuring device and the chuck table, On one straight line parallel to the X direction, the height of a region including two different opposite sides of the workpiece is measured, and from the obtained displacement information, 2 opposite two opposite sides and the one straight line intersect A second coordinate acquisition step of acquiring two XY coordinates representing the positions of
A processing method of a workpiece further comprising a.
제1항에 있어서, 상기 취득 단계는,
높이를 측정하기 위한 측정기와, 상기 척 테이블을 상대적으로 이동시키는 것에 의해, Y 방향에 있어서 상이한 위치를 지나 X 방향에 평행한 2 개의 직선 상에서 상기 피가공물의 대향하는 2 개의 상기 변을 포함한 영역의 높이를 측정하고, 얻어진 변위 정보로부터, 대향하는 2 개의 상기 변과 상기 2 개의 직선이 교차하는 3 개 이상의 위치를 나타내는 3 개 이상의 XY 좌표를 취득하는 제1 좌표 취득 단계와,
상기 XY 평면에 대해서 수직인 회전축의 둘레의 상기 척 테이블의 방향이, 상기 제1 좌표 취득 단계에서의 상기 척 테이블의 방향에 대해서 수직인 상태로, 상기 측정기와, 상기 척 테이블을 상대적으로 이동시키는 것에 의해, 상기 X 방향에 평행한 1 개의 직선 상에서 상기 피가공물의 대향하는 상이한 2 개의 상기 변을 포함한 영역의 높이를 측정하고, 얻어진 변위 정보로부터, 대향하는 상이한 2 개의 상기 변과 상기 1 개의 직선이 교차하는 2 개의 위치를 나타내는 2 개의 XY 좌표를 취득하는 제2 좌표 취득 단계와,
상기 제1 좌표 취득 단계에서 취득되고, 대향하는 2 개의 상기 변의 한쪽과 상기 2 개의 직선이 교차하는 2 개의 위치를 나타내는 2 개의 XY 좌표로부터, 대향하는 2 개의 상기 변의 한쪽의 방향을 취득하는 방향 취득 단계와,
상기 방향 취득 단계에서 취득된 상기 변의 방향에 기초하여, 상기 제1 좌표 취득 단계에서 취득되고, 대향하는 2 개의 상기 변과 상기 2 개의 직선의 한쪽이 교차하는 2 개의 위치를 나타내는 2 개의 XY 좌표와, 상기 제2 좌표 취득 단계에서 취득된 2 개의 XY 좌표를 보정하여, 보정된 4 개의 XY 좌표를 취득하는 보정 좌표 취득 단계
를 더 포함하는 피가공물의 가공 방법.
According to claim 1, wherein the acquiring step,
By relatively moving the measuring device for measuring the height and the chuck table, the area including the two opposite sides of the workpiece on two straight lines parallel to the X direction passing through different positions in the Y direction. A first coordinate acquisition step of measuring the height and acquiring three or more XY coordinates indicating three or more positions where the two opposite sides and the two straight lines intersect from the obtained displacement information;
relatively moving the measuring device and the chuck table in a state in which the direction of the chuck table around the rotation axis perpendicular to the XY plane is perpendicular to the direction of the chuck table in the first coordinate acquisition step Thus, on one straight line parallel to the X direction, the height of a region including two opposite sides of the workpiece is measured, and from the obtained displacement information, the two opposite sides and the one straight line are measured. A second coordinate acquisition step of acquiring two XY coordinates indicating the two intersecting positions;
Direction acquisition for acquiring the direction of one of the two opposite sides from two XY coordinates obtained in the first coordinate acquisition step and indicating two positions where one of the two opposite sides and the two straight lines intersect step and
two XY coordinates obtained in the first coordinate acquiring step based on the direction of the side acquired in the direction acquiring step, and indicating two positions where the two opposite sides and one of the two straight lines intersect; , A correction coordinate acquisition step of acquiring the corrected four XY coordinates by correcting the two XY coordinates acquired in the second coordinate acquisition step
A processing method of a workpiece further comprising a.
4 개의 변을 가지는 직사각형 형상의 제1 면과, 상기 제1 면과는 반대 측에 위치하는 직사각형 형상의 제2 면을 가지는 판형의 피가공물을, 유지면을 가지는 척 테이블과, 상기 척 테이블에 유지된 상기 피가공물을 가공하는 가공 유닛을 이용하여 가공할 때에 이용되는 피가공물의 가공 방법으로서,
상기 피가공물의 상기 제2 면 측이 상기 척 테이블의 상기 유지면에 유지된 상태로, 상기 피가공물의 하나의 상기 변을 포함한 영역을 촬상하여 얻어진 화상으로부터, 상기 변의 상기 유지면에 평행한 XY 평면 내에서의 방향을 취득하고, 상기 피가공물의 4 개의 상기 변을 포함한 영역의 높이를 측정하여 얻어진 변위 정보로부터, 4 개의 상기 변의 상기 XY 평면 내에서의 위치를 나타내는 4 개의 XY 좌표를 취득하는 취득 단계와,
상기 변의 방향과, 상기 4 개의 XY 좌표에 기초하여 상기 피가공물을 가공하는 가공 단계
를 포함하는 피가공물의 가공 방법.
A plate-shaped workpiece having a first surface having a rectangular shape having four sides and a second surface having a rectangular shape positioned on the opposite side to the first surface is placed on a chuck table having a holding surface and the chuck table As a processing method of a workpiece used when processing using a processing unit processing the held workpiece,
From an image obtained by imaging a region including one of the sides of the workpiece with the second surface side of the workpiece held by the holding surface of the chuck table, XY parallel to the holding surface of the side Obtaining the direction in the plane, and obtaining four XY coordinates indicating the positions of the four sides in the XY plane from the displacement information obtained by measuring the height of the area including the four sides of the workpiece acquisition stage,
A processing step of processing the workpiece based on the direction of the side and the four XY coordinates
A method of processing a workpiece comprising a.
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Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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