KR20220003959A - Ejector, processing apparatus and cleaning apparatus - Google Patents
Ejector, processing apparatus and cleaning apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- KR20220003959A KR20220003959A KR1020210079953A KR20210079953A KR20220003959A KR 20220003959 A KR20220003959 A KR 20220003959A KR 1020210079953 A KR1020210079953 A KR 1020210079953A KR 20210079953 A KR20210079953 A KR 20210079953A KR 20220003959 A KR20220003959 A KR 20220003959A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- ejector
- cleaning
- chuck table
- driving fluid
- fluid
- Prior art date
Links
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims abstract description 58
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims abstract description 81
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 36
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 25
- 230000007423 decrease Effects 0.000 abstract description 7
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 46
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 16
- 239000002173 cutting fluid Substances 0.000 description 9
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 9
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 9
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 5
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 1
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000005323 electroforming Methods 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67092—Apparatus for mechanical treatment
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B28—WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
- B28D—WORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
- B28D5/00—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
- B28D5/02—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by rotary tools, e.g. drills
- B28D5/022—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by rotary tools, e.g. drills by cutting with discs or wheels
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B3/00—Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
- B08B3/02—Cleaning by the force of jets or sprays
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B28—WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
- B28D—WORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
- B28D5/00—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
- B28D5/0058—Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B28—WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
- B28D—WORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
- B28D5/00—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
- B28D5/0058—Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material
- B28D5/0076—Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material for removing dust, e.g. by spraying liquids; for lubricating, cooling or cleaning tool or work
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B28—WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
- B28D—WORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
- B28D5/00—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
- B28D5/0058—Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material
- B28D5/0082—Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material for supporting, holding, feeding, conveying or discharging work
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H01L21/67051—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly spraying means, e.g. nozzles
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Jigs For Machine Tools (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Pipe Accessories (AREA)
- Dicing (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 흡인력을 발생시키는 이젝터 및 상기 이젝터를 구비하는 가공 장치 및 세정 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an ejector for generating a suction force, and a processing apparatus and a cleaning apparatus having the ejector.
퍼스널 컴퓨터 및 스마트폰 등의 전자 기기는, IC(집적 회로) 및 LSI(대규모 집적 회로) 등의 반도체 디바이스의 칩을 갖는다. 상기 칩은, 실리콘 및 실리콘 카바이드 등의 반도체 기판의 표면에 형성된 기능층을 갖는 웨이퍼를 분할함으로써 제조된다.BACKGROUND ART Electronic devices such as personal computers and smartphones have chips of semiconductor devices such as ICs (integrated circuits) and LSIs (large-scale integrated circuits). The chip is manufactured by dividing a wafer having a functional layer formed on the surface of a semiconductor substrate such as silicon and silicon carbide.
상기 웨이퍼는, 예컨대, 이면이 연삭되어 원하는 두께로 가공된 후, 분할 예정 라인을 따라 절삭됨으로써 분할된다. 또한, 가공 시에 발생한 가공 부스러기가 상기 웨이퍼 및 상기 웨이퍼로부터 제조된 개개의 칩의 표면에 부착되어 있는 경우도 있기 때문에, 상기 웨이퍼 및 상기 칩은 적절한 타이밍에 세정되는 경우가 많다.The wafer is divided by, for example, grinding the back surface and processing it to a desired thickness, and then cutting along a line to be divided. Further, since processing debris generated during processing may adhere to the surface of the wafer and individual chips manufactured from the wafer, the wafer and the chips are often cleaned at an appropriate timing.
웨이퍼를 연삭 또는 절삭하는 가공 장치와, 상기 웨이퍼 및 상기 웨이퍼로부터 제조된 개개의 칩을 세정하는 세정 장치의 각각은, 웨이퍼를 유지하기 위한 유지면을 갖는 척 테이블을 포함한다.Each of the processing apparatus for grinding or cutting a wafer and the cleaning apparatus for cleaning the wafer and individual chips manufactured from the wafer include a chuck table having a holding surface for holding the wafer.
상기 웨이퍼 및 상기 칩 등에 대해 가공 및 세정 등의 처리를 행하면, 상기 웨이퍼 및 상기 칩 등의 피처리물에는 외력이 가해진다. 이러한 경우라도 피처리물이 이동하지 않도록, 상기 척 테이블은, 일반적으로, 상기 피처리물을 흡인하여 유지한다(예컨대, 특허문헌 1 및 2 참조).When processing, such as processing, cleaning, etc. are performed on the wafer and the chip, an external force is applied to the object to be processed, such as the wafer and the chip. Even in such a case, the chuck table generally sucks and holds the to-be-processed object so that the to-be-processed object does not move (for example, refer patent documents 1 and 2).
척 테이블의 표면측에는 피처리물을 흡인할 때에 부압으로 유지되는 다공질부가 형성되고, 상기 다공질부의 표면이 상기 피처리물을 흡인, 유지하는 유지면이 된다. 그리고, 상기 다공질부는 이젝터와 연통(連通)되고, 상기 이젝터에서 발생한 흡인력에 의해 상기 다공질부가 부압으로 유지된다.On the surface side of the chuck table, a porous portion held at a negative pressure when the object to be treated is sucked is formed, and the surface of the porous portion serves as a holding surface for sucking and holding the object to be treated. Then, the porous portion communicates with the ejector, and the porous portion is maintained at a negative pressure by the suction force generated by the ejector.
이젝터는, 흡인력을 발생시키기 위해서 이용되는 구동 유체가 기체인 것과, 액체인 것으로 크게 구별된다. 전자의 이젝터는, 주로, 비점성 유체가 갖는 에너지(운동량)가 보존된다고 하는 베르누이의 정리를 이용하는 것이다. 또한, 후자의 이젝터는, 주로, 점성 유체와, 그 주위의 유체 사이의 속도 구배(勾配)에 따른 마찰력이 발생한다고 하는 뉴턴의 점성 법칙을 이용하는 것이다.Ejectors are broadly classified into those in which the driving fluid used for generating the suction force is a gas and a liquid. The electron ejector mainly uses Bernoulli's theorem, which states that the energy (momentum) of a non-viscous fluid is conserved. In addition, the latter ejector mainly utilizes Newton's law of viscosity, which states that frictional force is generated according to the velocity gradient between the viscous fluid and the fluid around it.
단, 기체의 점성은 액체에 비해 낮으나, 현실적으로는 점성을 갖지 않는 기체는 존재하지 않는다. 그 때문에, 구동 유체가 기체인 이젝터라도, 상기 기체의 이동에 따라, 그 주위의 유체와의 사이에서 마찰이 발생한다. 따라서, 구동 유체가 기체인 이젝터는, 베르누이의 정리를 이용하고 뉴턴의 점성 법칙을 이용하여 흡인력을 발생시킨다.However, although the viscosity of a gas is lower than that of a liquid, in reality, there is no gas that does not have viscosity. Therefore, even in an ejector whose driving fluid is a gas, friction occurs with the surrounding fluid as the gas moves. Accordingly, an ejector in which the driving fluid is a gas generates a suction force using Bernoulli's theorem and Newton's law of viscosity.
그런데, 전술한 피처리물의 가공 및 세정은, 일반적으로, 액체를 공급하면서 행해진다. 또한, 상기 피처리물을 유지하는 유지면에서의 다공질부의 사이즈는, 상기 피처리물을 확실히 유지하기 위해서, 상기 피처리물의 사이즈보다 약간 커지도록 설계되는 경우가 많다.By the way, processing and washing of the above-mentioned to-be-processed object are generally performed while supplying a liquid. In addition, in many cases, the size of the porous portion on the holding surface for holding the object is designed to be slightly larger than the size of the object in order to securely hold the object.
그 때문에, 다공질부의 유지면 중 외연(外緣) 근방의 영역은, 피처리물을 가공 또는 세정할 때에 있어서, 상기 피처리물에 의해 피복되지 않고, 상기 액체에 노출되는 경우가 있다. 그 결과, 상기 피처리물에 공급되는 액체는, 상기 이젝터에서 발생한 흡인력의 작용에 의해 상기 영역을 통해 상기 다공질부의 내부로 흡인되는 경우가 있다.Therefore, the region near the outer edge of the holding surface of the porous portion may be exposed to the liquid without being covered by the to-be-processed object when processing or washing the to-be-processed object. As a result, the liquid supplied to the to-be-processed object may be sucked into the inside of the said porous part through the said area|region by the action of the suction force generated by the said ejector.
또한, 상기 다공질부에 흡인된 액체는, 연통로를 통해 이젝터의 내부까지 도달하는 경우가 있다. 이 경우, 구동 유체와, 이젝터의 내부에 침입한 액체 사이에서 마찰이 발생하여, 상기 구동 유체의 흐름이 저해될 우려가 있다. 그 결과, 이젝터의 흡인력이 저하되어, 피처리물의 가공 또는 세정에 문제가 발생할 우려가 있다.Also, the liquid sucked into the porous portion may reach the inside of the ejector through the communication path. In this case, friction may occur between the driving fluid and the liquid that has invaded the inside of the ejector, and the flow of the driving fluid may be inhibited. As a result, the suction power of the ejector is lowered, and there is a possibility that a problem may occur in processing or cleaning of the object to be processed.
내부에 침입한 액체에 의한 악영향을 저감하는 이젝터도 존재하지만, 그러한 이젝터는 복잡한 기구를 구비하는 대형의 장치이며, 또한, 대량의 구동 유체를 필요로 한다. 그 때문에, 이러한 이젝터를 이용하여 칩을 제조하는 경우에는, 상기 칩의 제조 비용이 증가한다고 하는 문제가 발생할 우려가 있다.There are also ejectors that reduce the adverse effects caused by the liquid entering the interior, but such ejectors are large devices with complicated mechanisms and require a large amount of driving fluid. Therefore, when a chip is manufactured using such an ejector, there exists a possibility that the problem that the manufacturing cost of the said chip|tip increases may arise.
전술한 점을 감안하여, 본 발명의 하나의 목적은, 이젝터의 내부에 액체가 침입한 경우에 있어서의 흡인력의 저하를 억제하고 피처리물의 가공 또는 세정을 저렴하게 행하는 것을 가능하게 하는 이젝터를 제공하는 것이다.In view of the above, one object of the present invention is to provide an ejector that suppresses a decrease in suction force when a liquid enters the inside of the ejector and enables processing or cleaning of an object to be processed at low cost will do
본 발명의 다른 목적은, 이러한 이젝터를 구비하는 가공 장치 및 세정 장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a processing apparatus and a cleaning apparatus having such an ejector.
본 발명의 일 측면에 의하면, 흡인력을 발생시키는 이젝터로서, 선단에 복수의 개구가 형성되고, 상기 유입관의 상기 개구로부터 구동 유체가 분사되는 유입관과, 상기 개구로부터 분사된 구동 유체를 받아들이는 수용구를 상기 유입관의 선단과 대향하는 위치에 갖는 유출관과, 상기 개구와 상기 수용구의 주위를 둘러싸고, 외부 유체를 흡인하는 흡인로를 갖는 본체부를 구비하는 것인, 이젝터가 제공된다.According to one aspect of the present invention, there is provided an ejector that generates a suction force, an inlet pipe having a plurality of openings formed at its front end, through which a driving fluid is injected from the opening of the inflow pipe, and receiving the driving fluid injected from the opening An ejector is provided, comprising: an outlet pipe having a receiving port at a position opposite to the tip of the inlet pipe;
바람직하게는, 상기 구동 유체는 액체이다.Preferably, the drive fluid is a liquid.
본 발명의 다른 측면에 의하면, 표면에 디바이스가 형성된 피가공물을 가공하는 가공 장치로서, 상기 피가공물을 유지하는 유지면을 갖는 척 테이블과, 상기 척 테이블에 유지된 상기 피가공물을 스핀들의 선단에 장착된 가공 지석으로 가공하는 가공 유닛과, 전술한 이젝터와, 상기 이젝터의 상기 흡인로와 상기 유지면을 연통하는 연통로를 구비하는 것인, 가공 장치가 제공된다.According to another aspect of the present invention, there is provided a processing apparatus for processing a workpiece having a device formed on the surface thereof, a chuck table having a holding surface for holding the workpiece, and the workpiece held by the chuck table at the tip of a spindle. A processing apparatus is provided, comprising: a processing unit for processing with an attached processing grindstone; the above-mentioned ejector;
본 발명의 또 다른 측면에 의하면, 표면에 디바이스가 형성된 피세정물을 세정하는 세정 장치로서, 상기 피세정물을 유지하는 유지면을 갖는 척 테이블과, 상기 척 테이블에 유지된 상기 피세정물을 세정하는 세정 유닛과, 전술한 이젝터와, 상기 이젝터의 상기 흡인로와 상기 유지면을 연통하는 연통로를 구비하는 것인, 세정 장치가 제공된다.According to another aspect of the present invention, there is provided a cleaning apparatus for cleaning an object to be cleaned having a device formed on the surface thereof, comprising: a chuck table having a holding surface for holding the object to be cleaned; and the object to be cleaned held by the chuck table; A cleaning apparatus is provided, comprising: a cleaning unit for cleaning; the ejector described above;
본 발명의 일 측면에 의하면, 유입관의 복수의 개구로부터 본체부의 내부에 구동 유체를 분사하는 이젝터가 제공된다. 상기 이젝터에 있어서는, 하나의 개구로부터 구동 유체를 분사하는 이젝터와 비교하여, 본체부의 내부에 있어서 구동 유체가 통과하는 것이 상정되는 유로의 표면적이 증가한다. 즉, 상기 이젝터에 있어서는, 상기 구동 유체와, 그 주위의 유체의 접촉 면적이 증가한다.According to one aspect of the present invention, there is provided an ejector for ejecting a driving fluid from a plurality of openings of the inlet pipe to the inside of the body portion. In the ejector, as compared with an ejector that ejects the driving fluid from one opening, the surface area of the flow path through which the driving fluid is supposed to pass inside the body portion increases. That is, in the ejector, the contact area between the driving fluid and the surrounding fluid increases.
그 때문에, 본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 구동 유체와 그 주위의 유체 사이에서 발생하는 마찰력을 효율적으로 증가시킬 수 있다. 그 결과, 본체부의 내부에 액체가 침입하여 상기 구동 유체의 흐름이 저해되는 것과 같은 경우라도, 침입한 액체에 의한 악영향이 저감된다. 즉, 이러한 경우라도 상기 이젝터의 흡인력의 저하가 억제된다.Therefore, according to one aspect of the present invention, it is possible to efficiently increase the frictional force generated between the driving fluid and the surrounding fluid. As a result, even in the case where liquid enters the inside of the main body and the flow of the driving fluid is obstructed, adverse effects due to the intruding liquid are reduced. That is, even in such a case, a decrease in the suction force of the ejector is suppressed.
또한, 본 발명의 일 측면에 의하면, 장치를 복잡화, 대형화시키지 않고, 또한, 필요해지는 구동 유체의 양을 대폭 증가시키지 않고, 원하는 흡인력을 실현시킬 수 있다. 그 결과, 피처리물의 가공 또는 세정을 저렴하게 행하는 것이 가능해진다.Further, according to one aspect of the present invention, it is possible to realize a desired suction force without complicating and increasing the size of the apparatus and without significantly increasing the amount of the required driving fluid. As a result, it becomes possible to process or wash the to-be-processed object inexpensively.
또한, 본 발명의 다른 측면에 의하면, 이러한 이젝터를 구비하는 가공 장치 또는 세정 장치가 제공된다. 이들 장치에 있어서는, 전술한 바와 같이, 상기 이젝터의 흡인력의 저하가 억제되고 상기 피처리물의 가공 또는 세정이 저렴하게 행해진다.Further, according to another aspect of the present invention, a processing apparatus or a cleaning apparatus including such an ejector is provided. In these apparatuses, as described above, a decrease in the suction force of the ejector is suppressed, and the processing or cleaning of the object to be processed is performed inexpensively.
도 1은 실시형태에 따른 이젝터를 모식적으로 도시한 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시된 이젝터의 일부를 모식적으로 도시한 단면도이다.
도 3은 도 1 및 도 2에 도시된 이젝터에 연결되는 테이블 베이스 및 척 테이블을 모식적으로 도시한 사시도이다.
도 4는 도 1 및 도 2에 도시된 이젝터에 연결되는 테이블 베이스 및 척 테이블을 모식적으로 도시한 단면도이다.
도 5는 척 테이블의 유지면에서 흡인, 유지된 피가공물을 가공하는 가공 장치를 모식적으로 도시한 단면도이다.
도 6은 척 테이블(또는 스피너 테이블)의 유지면에서 흡인, 유지된 피세정물을 세정하는 세정 장치를 모식적으로 도시한 사시도이다.1 is a perspective view schematically showing an ejector according to an embodiment.
FIG. 2 is a cross-sectional view schematically illustrating a part of the ejector shown in FIG. 1 .
3 is a perspective view schematically illustrating a table base and a chuck table connected to the ejector shown in FIGS. 1 and 2 .
4 is a cross-sectional view schematically illustrating a table base and a chuck table connected to the ejector shown in FIGS. 1 and 2 .
Fig. 5 is a cross-sectional view schematically showing a processing apparatus for processing a workpiece that is sucked and held on the holding surface of the chuck table.
Fig. 6 is a perspective view schematically showing a cleaning device for cleaning an object to be cleaned that is sucked and held on the holding surface of the chuck table (or spinner table).
첨부 도면을 참조하여, 이젝터의 실시형태에 대해 설명한다. 도 1은 실시형태에 따른 이젝터(2)를 모식적으로 도시한 사시도이고, 도 2는 도 1에 도시된 이젝터(2)의 일부를 모식적으로 도시한 단면도이다.An embodiment of the ejector will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a perspective view schematically showing an ejector 2 according to an embodiment, and FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing a part of the ejector 2 illustrated in FIG. 1 .
이젝터(2)는, 외부로부터 격리된 본체부(4)의 내부에서 구동 유체를 유동시킴으로써 흡인력을 발생시킨다. 상기 구동 유체는, 액체 또는 기체의 어느 것이어도 좋다. 상기 구동 유체는, 예컨대, 물 등의 액체, 또는 공기 혹은 아르곤 가스 및 질소 가스 등의 불활성 가스 등의 기체이다.The ejector 2 generates a suction force by flowing a driving fluid inside the body portion 4 isolated from the outside. The driving fluid may be either liquid or gas. The driving fluid is, for example, a liquid such as water or a gas such as air or an inert gas such as argon gas or nitrogen gas.
본체부(4)는, 서로 대향하는 벽(4a 및 4b)과, 벽(4a 및 4b) 이외의 본체부(4)의 벽에 형성되는 흡인로(4c)를 갖는다. 그리고, 벽(4a)에는 유입관(6)의 일단측이 삽입되도록 설치되고, 또한, 벽(4b)에는 유출관(8)의 일단측이 삽입되도록 설치된다.The body part 4 has
유입관(6)은, 본체부(4)의 내부에 구동 유체를 유입시키기 위한 경로를 제공한다. 유출관(8)은, 본체부(4)의 내부에 존재하는 유체를 유출시키기 위한 경로를 제공한다. 흡인로(4c)는, 본체부(4)의 내부로 외부 유체를 흡인하기 위한 경로를 제공한다.The inlet pipe 6 provides a path for introducing the driving fluid into the body portion 4 . The
유입관(6)의 타단측은, 구동 유체가 공급되도록 도시하지 않은 구동 유체 공급원에 연결된다. 또한, 본체부(4)의 내부에 위치하는 유입관(6)의 일단부는, 본체부(4)의 벽(4a)으로부터 본체부(4)의 중앙에 근접함에 따라, 그 직경이 감소하고 나서 증가하는 부분(벤투리관으로서 기능하는 부분)(6a)을 포함한다.The other end of the inlet pipe 6 is connected to a driving fluid supply source (not shown) to which the driving fluid is supplied. In addition, one end of the inflow pipe 6 located inside the body 4 decreases in diameter as it approaches the center of the body 4 from the
유입관(6)의 일단부는, 복수의 개구(구멍)(6b)가 형성된 벽(6c)을 갖는다. 벽(6c)은, 유입관(6)의 일단(선단)으로부터 부분(6a)을 향해 소정의 두께를 갖는다. 유입관(6)의 선단의 형상은 대략 원형이고, 그 직경은 부분(6a)에 있어서의 최대 직경과 대략 동일하다. 즉, 벽(6c)의 형상은, 대략 원기둥이다.One end of the inflow pipe 6 has a
복수의 개구(6b)의 형상은, 특정한 형상에 한정되지 않는다. 또한, 유입관(6)의 선단에 있어서의 복수의 개구(6b)의 형상은, 모두가 동일하거나 또는 상사형이어도 좋고, 각각이 상이해도 좋다. 단, 구동 유체를 균일하게 분사한다고 하는 관점에서, 유입관(6)의 선단에 있어서의 복수의 개구(6b)의 형상은, 서로 직경이 대략 동일한 원형인 것이 바람직하다.The shape of the some
또한, 구동 유체를 균일하게 분사한다는 관점에서, 복수의 개구(6b)는, 유입관(6)의 선단에 있어서의 형상을 유지한 채로 벽(6c)을 관통하는 것이 바람직하다. 예컨대, 벽(6c)의 두께가 유입관(6)의 선단의 직경보다 길고, 또한, 복수의 개구(6b)가 유입관(6)의 선단에 있어서의 형상을 유지한 채로 벽(6c)을 관통하는 것이 바람직하다.In addition, from the viewpoint of uniformly jetting the driving fluid, it is preferable that the plurality of
유입관(6)의 선단과 대향하는 위치에는, 유출관(8)의 수용구(8a)가 형성된다. 수용구(8a)는, 바닥이 개구된 사발(鉢)과 같은 형상을 갖는다. 또한, 유입관(6)의 선단과 대향하는 측의 수용구(8a)의 직경은, 유입관(6)의 선단의 직경보다 길다.The receiving
그 때문에, 본체부(4)의 내부에 있어서 구동 유체가 통과하는 것이 상정되는 유로는, 복수의 개구(6b)의 각각으로부터 수용구(8a)까지 연장된다. 또한, 본체부(4)의 내부에 위치하는 유출관(8)은, 본체부(4)의 중앙으로부터 본체부(4)의 벽(4b)에 근접함에 따라, 그 직경이 증가하는 부분(8b)을 포함한다.Therefore, the flow path through which the driving fluid is supposed to pass inside the main body 4 extends from each of the plurality of
본체부(4)는, 흡인로(4c), 유입관(6) 및 유출관(8) 이외로부터 유체가 입출(入出)하지 않도록, 유입관(6)의 복수의 개구(6b)와 유출관(8)의 수용구(8a)의 주위를 둘러싼다. 즉, 본체부(4)는, 흡인로(4c), 유입관(6) 및 유출관(8) 이외에 있어서는 밀폐된다.The main body 4 has a plurality of
또한, 도 1 및 도 2에 도시된 이젝터(2)는, 유출관(8)의 선단(8c)으로부터 배출되는 구동 유체를 도시하지 않은 구동 유체 공급원으로 순환시키는 회수 유닛을 더 갖고 있어도 좋다. 상기 회수 유닛을 갖는 이젝터(2)는, 구동 유체를 재이용할 수 있는 점에서 바람직하다.The ejector 2 shown in FIGS. 1 and 2 may further include a recovery unit for circulating the driving fluid discharged from the
도 1 및 도 2에 도시된 이젝터(2)에 있어서는, 도시하지 않은 구동 유체 공급원으로부터 유입관(6)으로 구동 유체가 공급된다. 유입관(6)에 공급된 구동 유체는, 벤투리 효과에 의해 가속되고, 선단에 형성된 복수의 개구(6b)의 각각으로부터 본체부(4)의 내부로 분사된다. 본체부(4)의 내부로 분사된 구동 유체는, 수용구(8a)로부터 유출관(8)으로 유입된다.In the ejector 2 shown in FIGS. 1 and 2 , the driving fluid is supplied to the inlet pipe 6 from a driving fluid supply source (not shown). The driving fluid supplied to the inlet pipe 6 is accelerated by the venturi effect, and is injected into the body portion 4 from each of the plurality of
이때, 상기 구동 유체가 가속됨으로써 증가한 에너지분을 상쇄하도록 상기 구동 유체의 압력이 저하되고(베르누이의 정리), 또한, 상기 구동 유체와 그 주위의 유체 사이에서 마찰이 발생한다(뉴턴의 점성 법칙). 이에 의해, 흡인로(4c)를 통해 외부 유체가 본체부(4)의 내부로 유입되고, 또한, 상기 구동 유체와 함께 상기 주위의 유체가 유출관(8)으로 유입된다. 단적으로는, 이젝터(2)는, 본체부(4)의 내부를 부압으로 하여, 흡인로(4c)를 통해 흡인력을 발생시킨다.At this time, the pressure of the driving fluid is lowered to offset the increased energy by the acceleration of the driving fluid (Bernoulli's theorem), and friction occurs between the driving fluid and the surrounding fluid (Newton's law of viscosity) . Thereby, the external fluid flows into the inside of the main body part 4 through the
여기서, 이젝터(2)는, 유입관(6)의 복수의 개구(6b)로부터 본체부(4)의 내부로 구동 유체를 분사한다. 이에 의해, 이젝터(2)에 있어서는, 하나의 개구로부터 구동 유체를 분사하는 이젝터와 비교하여, 본체부(4)의 내부에 있어서 구동 유체가 통과하는 것이 상정되는 유로의 표면적이 증가한다. 즉, 이젝터(2)에 있어서는, 상기 구동 유체와, 그 주위의 유체의 접촉 면적이 증가한다.Here, the ejector 2 ejects the driving fluid from the plurality of
그 때문에, 이젝터(2)에 있어서는, 상기 구동 유체와 그 주위의 유체 사이에서 발생하는 마찰력을 효율적으로 증가시킬 수 있다. 그 결과, 본체부(4)의 내부에 액체가 침입하여 상기 구동 유체의 흐름이 저해되는 것과 같은 경우라도, 침입한 액체에 의한 악영향이 저감된다[본체부(4)의 내부에 액체가 침입하는 구체예에 대해서는 후술한다]. 즉, 이러한 경우라도 이젝터(2)의 흡인력의 저하가 억제된다.Therefore, in the ejector 2, the frictional force generated between the driving fluid and the surrounding fluid can be effectively increased. As a result, even in the case where the liquid enters the inside of the main body 4 and the flow of the driving fluid is inhibited, the adverse effect due to the infiltrating liquid is reduced. Specific examples will be described later]. That is, even in such a case, a decrease in the suction force of the ejector 2 is suppressed.
또한, 이젝터(2)는, 장치를 복잡화, 대형화시키지 않고, 또한, 필요해지는 구동 유체의 양을 대폭 증가시키지 않고, 원하는 흡인력을 실현시킬 수 있다. 그 결과, 피처리물의 가공 또는 세정을 저렴하게 행하는 것이 가능해진다(피처리물의 가공 또는 세정의 구체예에 대해서는 후술한다).In addition, the ejector 2 can realize a desired suction force without complicating or increasing the size of the device, and without significantly increasing the amount of the required driving fluid. As a result, it becomes possible to process or clean the to-be-processed object at low cost (specific examples of processing or cleaning of the to-be-processed object will be described later).
도 3은 도 1 및 도 2에 도시된 이젝터(2)에 연결되는 테이블 베이스(18) 및 척 테이블(20)을 모식적으로 도시한 사시도이고, 도 4는 그 단면도이다. 또한, 척 테이블(20)은, 테이블 베이스(18)에 대해 착탈할 수 있는 양태로 고정된다.3 is a perspective view schematically showing the
테이블 베이스(18)의 상면(18a)에는, 상향으로 돌출되는 환형의 볼록부(18b)가 형성된다. 상면(18a)의 볼록부(18b)보다 내측의 영역에는, 상향으로 돌출되고, 볼록부(18b)보다 직경이 작은 환형의 볼록부(18c)가, 볼록부(18b)와 동심형으로 형성된다. 또한, 상면(18a)의 볼록부(18b)와 볼록부(18c) 사이의 영역에는, 상향으로 돌출되는 원통형의 위치 결정 볼록부(18d)가 형성된다.An annular
상면(18a)의 볼록부(18c)보다 내측의 영역에는, 볼록부(18c)보다 직경이 작은 환형의 홈(18e)이, 볼록부(18c)와 동심형으로 형성된다. 또한, 상면(18a)의 홈(18e)보다 내측의 영역에는, 테이블 베이스(18)의 내부에 형성된 연통로(18f)의 일단이 개구된다. 또한, 연통로(18f)의 타단은, 도 1 및 도 2에 도시된 이젝터(2)의 본체부(4)의 흡인로(4c)에 연통된다.An
척 테이블(20)은, 상면측에 오목부(22a)를 갖는 프레임(22)과, 프레임(22)의 오목부(22a)에 접착제로 고정되는 다공질판(24)을 포함한다. 다공질판(24)은, 피처리물을 흡인, 유지하는 다공질부로서 기능하고, 그 상면(24a)이 피처리물을 흡인, 유지하는 유지면이 된다. 예컨대, 프레임(22)은, 금속 등을 이용하여 구성되고, 다공질판(24)은, 다공질 세라믹스 등을 이용하여 구성된다.The chuck table 20 includes a
프레임(22)의 하면(22b)에는, 테이블 베이스(18)의 볼록부(18b)에 대응하는 환형의 오목부(22c)가 형성된다. 하면(22b)의 오목부(22c)보다 내측의 영역에는, 테이블 베이스(18)의 볼록부(18c)에 대응하는 환형의 오목부(22d)가 형성된다. 즉, 오목부(22c)와 오목부(22d)는, 동심형으로 구성된다.An annular recessed
테이블 베이스(18)의 위치 결정 볼록부(18d)에 대응하는 영역[즉, 오목부(22c)와 오목부(22d) 사이의 영역]에는, 위치 결정 오목부(22e)가 형성된다. 또한, 환형의 홈(18e)에 대응하는 영역[즉, 오목부(22d)보다 내측의 영역]에는, 원형의 오목부(22f)가 형성된다. 이 오목부(22f)의 바닥에는, 프레임(22)의 내부에 형성된 연통로(22g)의 일단이 개구된다. 연통로(22g)의 타단은, 오목부(22a)의 바닥으로 개구되고, 다공질판(24)에 통하고 있다.The positioning recessed
테이블 베이스(18)에 대해 척 테이블(20)을 고정할 때에는, 예컨대, 테이블 베이스(18)의 환형의 홈(18e)에 대해, 이 홈(18e)에 대응하는 형상의 링 부재(26)를 삽입한다. 링 부재(26)는, 예컨대, 수지 등으로 형성되고, 테이블 베이스(18) 및 척 테이블(20)에 대해 미끄러지기 어렵게 되어 있다. 또한, 이 링 부재(26)는, 홈(18e)에 삽입된 상태에서 상면(18a)으로부터 돌출되는 두께(높이)로 형성된다.When fixing the chuck table 20 to the
홈(18e)에 대해 링 부재(26)를 삽입한 후에는, 테이블 베이스(18)의 상면(18a)과 프레임(22)의 하면(22b)이 대면하도록, 테이블 베이스(18)에 척 테이블(20)을 싣는다. 이때, 오목부(22c), 오목부(22d) 및 위치 결정 오목부(22e)에 대해, 각각, 볼록부(18b), 볼록부(18c) 및 위치 결정 볼록부(18d)가 삽입되도록, 테이블 베이스(18)와 척 테이블(20)의 위치를 조정한다.After inserting the
전술한 바와 같이, 오목부(22f)의 형상은, 링 부재(26)가 삽입되는 홈(18e)의 형상에 대응한다. 그 때문에, 테이블 베이스(18)에 척 테이블(20)을 실으면, 상면(18a)으로부터 돌출되는 링 부재(26)의 일부는 오목부(22f)에 삽입된다. 링 부재(26)를, 홈(18e)과 오목부(22f)에 삽입함으로써, 척 테이블(20)에 대한 테이블 베이스(18)의 위치 어긋남을 억제할 수 있다.As described above, the shape of the
테이블 베이스(18)에 대해 척 테이블(20)을 실은 후에는, 연통로(18f)와 연통로(22g)가 연통된다. 그 때문에, 도 1 및 도 2에 도시된 이젝터(2)의 본체부(4)의 흡인로(4c)는, 연통로(18f) 및 연통로(22g)를 통해, 척 테이블(20)의 유지면[다공질판(24)의 상면(24a)]에 연통된다.After the chuck table 20 is mounted on the
이 상태에서, 도 1 및 도 2에 도시된 이젝터(2)의 유입관(6)으로 구동 유체가 공급되면, 이젝터(2)는, 흡인로(4c) 및 연통로(18f) 및 연통로(22g)의 내부를 부압으로 하여 다공질판(24)을 흡인한다. 이에 의해, 척 테이블(20)의 유지면[다공질판(24)의 상면(24a)]에 있어서 피처리물을 유지하는 것이 가능해진다.In this state, when the driving fluid is supplied to the inlet pipe 6 of the ejector 2 shown in FIGS. 1 and 2 , the ejector 2 has a
도 5는 척 테이블(20)의 유지면에서 흡인, 유지된 피가공물(11)을 가공하는 가공 장치를 모식적으로 도시한 단면도이다. 구체적으로는, 도 5는 절삭 유닛(52)을 이용하여 피가공물(11)에 홈을 형성(하프 컷)하도록 절삭하는 절삭 장치(50)를 도시하고 있다.5 is a cross-sectional view schematically showing a processing apparatus for processing the
도 5에 도시된 절삭 장치(50)는, 도 3 및 도 4에 도시된 테이블 베이스(18) 및 척 테이블(20)을 갖고, 척 테이블(20)의 유지면에서 피가공물(11)을 흡인, 유지한다.The cutting
피가공물(11)은, 예컨대, 실리콘 등의 반도체를 포함하는 원반형의 웨이퍼이고, 그 표면(상면)측은, 중앙의 디바이스 영역과, 디바이스 영역을 둘러싸는 외주 잉여 영역으로 나뉘어져 있다. 디바이스 영역은, 격자형으로 배열된 분할 예정 라인(스트리트)으로 또한 복수의 영역으로 구획되어 있고, 각 영역에는, IC 및 LSI 등의 반도체 디바이스가 형성되어 있다.The
도 5에 도시된 절삭 장치(50)는, 도시하지 않은 척 테이블 이동 기구와, 도시하지 않은 절삭 유닛 이동 기구를 더 갖는다. 상기 척 테이블 이동 기구는, 예컨대, 가공 이송 방향(도 5에 있어서의 전후 방향)으로 테이블 베이스(18) 및 척 테이블(20)을 이동시키는 것이 가능하다. 또한, 상기 절삭 유닛 이동 기구는, 예컨대, 인덱싱 이송 방향(도 5에 있어서의 좌우 방향) 및 절입 이송 방향(도 5에 있어서의 상하 방향)으로 절삭 유닛(52)을 이동시키는 것이 가능하다.The cutting
절삭 유닛(52)은, 척 테이블(20)의 유지면의 평면 방향에 대략 평행한 축심을 중심으로 하여 회전하는 스핀들(56)을 갖는다. 스핀들(56)의 일단측에는 환형의 절삭 블레이드(58)가 장착되고, 타단측에는 모터 등의 회전 구동원(도시하지 않음)이 연결된다. 그 때문에, 절삭 블레이드(58)는, 스핀들(56)을 통해 전달되는 상기 회전 구동원의 토크에 의해 회전한다.The cutting
절삭 블레이드(58)는, 가공 지석에 의해 피가공물(11)을 절삭하는 가공 공구이다. 그 때문에, 절삭 유닛(52)은, 스핀들(56)의 선단에 장착된 가공 지석으로 피가공물(11)을 절삭하는 것이라고 표현할 수도 있다.The
절삭 블레이드(58)로서는, 예컨대, 금속 등을 포함하는 환형의 베이스와, 베이스의 외주 가장자리를 따라 형성된 환형의 절삭날이 일체로 되어 구성된, 허브 타입의 절삭 블레이드가 이용된다. 허브 타입의 절삭 블레이드의 절삭날은, 다이아몬드 및 입방정 질화붕소(cBN: cubic Boron Nitride) 등을 포함하는 지립(가공 지석)이 니켈 도금 등의 결합재에 의해 고정된 전기주조(電鑄) 지석에 의해 구성된다.As the
또한, 절삭 블레이드(58)로서, 지립(가공 지석)이, 금속, 세라믹스 및 수지 등을 포함하는 결합재에 의해 고정된, 환형의 절삭날에 의해 구성되는, 와셔 타입의 절삭 블레이드를 이용해도 좋다.Further, as the
절삭 블레이드(58)의 근방에는, 절삭액 공급 노즐(60)이 설치된다. 절삭액 공급 노즐(60)은, 절삭 블레이드(58)에 의해 피가공물(11)을 절삭할 때에 피가공물(11) 및 절삭 블레이드(58) 등에 절삭액(17)을 공급한다. 절삭액(17)은, 예컨대, 물이다.A cutting
절삭 유닛(52)을 이용하여 피가공물(11)을 절삭할 때에는, 먼저, 피가공물(11)을 다공질판(24)의 상면(24a)에 접촉시킨다. 혹은, 피가공물(11)과 동등한 사이즈를 갖는 다이싱 테이프에 피가공물(11)을 부착한 후, 상기 다이싱 테이프를 통해 피가공물(11)을 다공질판(24)의 상면과 접촉시켜도 좋다. 그리고, 도 1 및 도 2에 도시된 이젝터(2)의 유입관(6)에 구동 유체를 공급한다.When cutting the to-
이에 의해, 이젝터(2)에서 발생하는 부압은, 흡인로(4c) 및 연통로(18f) 및 연통로(22g)를 통해 척 테이블(20)의 유지면[다공질판(24)의 상면(24a)]에 작용한다. 그 결과, 피가공물(11)을 척 테이블(20)에 흡인, 유지하는 것이 가능해진다.Thereby, the negative pressure generated in the ejector 2 passes through the
계속해서, 스핀들(56)에 의해 절삭 블레이드(58)를 회전시키면서, 피가공물(11)이 절삭 블레이드(58)와 접촉하도록 테이블 베이스(18) 및 척 테이블(20)이 가공 이송 방향(도 5에 있어서의 전후 방향)으로 이동한다. 이에 의해, 피가공물(11)이 절삭되어, 홈이 형성된다.Subsequently, while rotating the
도 5에 도시된 바와 같이, 척 테이블(20)에 의해 흡인, 유지된 피가공물(11)을 절삭할 때에는, 피가공물(11) 및 절삭 블레이드(58) 등에 대해 절삭액 공급 노즐(60)로부터 절삭액(17)이 공급된다.As shown in FIG. 5 , when cutting the
여기서, 절삭액(17)은, 도 5에 도시된 바와 같이, 다공질판(24) 등을 통해, 연통로(18f) 및 연통로(22g)에 침입하는 경우가 있다. 그리고, 연통로(18f) 및 연통로(22g)는, 도 1 및 도 2에 도시된 이젝터(2)의 본체부(4)의 흡인로(4c)에 연결되어 있기 때문에, 이젝터(2)의 본체부(4)의 내부에 절삭액(17)이 침입하는 경우가 있다.Here, the cutting
이에 대해, 이젝터(2)는, 유입관(6)의 복수의 개구(6b)로부터 본체부(4)의 내부로 구동 유체를 분사한다. 이에 의해, 이젝터(2)에 있어서는, 하나의 개구로부터 구동 유체를 분사하는 이젝터와 비교하여, 본체부(4)의 내부에 있어서 상기 구동 유체가 통과하는 것이 상정되는 유로의 표면적이 증가한다. 그 때문에, 이젝터(2)에 있어서는, 상기 구동 유체와 그 주위의 유체 사이에서 발생하는 마찰력을 효율적으로 증가시킬 수 있다.In contrast, the ejector 2 ejects the driving fluid from the plurality of
그 결과, 이젝터(2)를 갖는 절삭 장치(50)는, 본체부(4)의 내부에 액체가 침입하여 상기 구동 유체의 흐름이 저해되는 것과 같은 경우라도, 침입한 액체에 의한 악영향이 저감된다. 즉, 이러한 경우라도 이젝터(2)의 흡인력의 저하가 억제되어, 절삭 장치(50)에 있어서의 절삭 시에 문제가 발생하는 개연성을 저감할 수 있다.As a result, in the case of the cutting
또한, 이젝터(2)는, 복잡한 기구를 갖는 대형의 장치가 아니며, 또한, 대량의 구동 유체를 필요로 하는 것도 아니다. 그 때문에, 이젝터(2)를 갖는 절삭 장치(50)를 이용함으로써, 피가공물(11)의 절삭을 저렴하게 행하는 것이 가능하다.In addition, the ejector 2 is not a large-scale device having a complicated mechanism, nor does it require a large amount of driving fluid. Therefore, by using the
또한, 이젝터(2)를 탑재 가능한 가공 유닛을 갖는 가공 장치는, 도 5에 도시된 바와 같이 절삭을 행하는 절삭 유닛을 갖는 절삭 장치에 한정되지 않는다. 이젝터(2)는, 예컨대, 피가공물의 표면을 스핀들의 선단에 장착된 가공 지석으로 연삭하는 연삭 유닛을 갖는 연삭 장치에 탑재되어도 좋다.In addition, the processing apparatus which has the processing unit which can mount the ejector 2 is not limited to the cutting apparatus which has a cutting unit which performs cutting as shown in FIG. The ejector 2 may be mounted, for example, on a grinding device having a grinding unit that grinds the surface of the workpiece with a processing grindstone mounted on the tip of the spindle.
연삭 장치에 있어서는, 일반적으로, 피가공물의 표면에 액체가 공급되면서 연삭이 행해진다. 그 때문에, 이젝터(2)는, 이러한 연삭 장치에 탑재되는 이젝터로서도 바람직하다.In a grinding apparatus, grinding is generally performed while a liquid is supplied to the surface of a to-be-processed object. Therefore, the ejector 2 is suitable also as an ejector mounted on such a grinding device.
도 6은 척 테이블(또는 스피너 테이블)(88)의 유지면에서 흡인, 유지된 피세정물(21)을 세정하는 세정 장치(70)를 모식적으로 도시한 사시도이다. 단, 도 6에 있어서는, 편의상, 구성 요소의 일부가 제거되어, 상기 구성 요소의 단면이 도시되어 있다.6 is a perspective view schematically showing a
또한, 도 6에 있어서는, 피세정물(21)로서, 격자형으로 홈이 형성된 원반형의 웨이퍼가 도시되어 있으나, 세정 장치(70)에 의해 세정되는 피세정물은, 이러한 피세정물(21)에 한정되지 않는다. 세정 장치(70)에 의해 세정되는 피세정물로서는, 예컨대, 이러한 홈이 형성되기 전의 원반형의 웨이퍼, 또는 상기 웨이퍼를 분할함으로써 제조되는 복수의 칩을 들 수 있다.In addition, in FIG. 6 , a disk-shaped wafer with grid-shaped grooves is shown as the object to be cleaned 21 , but the object to be cleaned by the
세정 장치(70)는, 척 테이블(88)을 회전시키는 테이블 회전 유닛(84)을 갖는다. 테이블 회전 유닛(84)은, 예컨대, 연직 방향에 대략 평행한 축심을 중심으로 하여 회전하는 축(94)을 갖는다. 축(94)의 측면에는, 축(94)의 측면의 일부를 둘러싸는 커버 부재(126)가 연결된다.The
축(94)의 일단에는, 척 테이블(88)이 연결된다. 척 테이블(88)의 표면측에는, 다공질판(88a)이 설치된다. 그리고, 축(94)의 축심은, 다공질판(88a)의 표면의 평면 방향에 대략 직교한다.A chuck table 88 is connected to one end of the
또한, 축(94)의 내부에는, 일단이 다공질판(88a)의 이면으로 통하는 연통로(도시하지 않음)가 형성된다. 상기 연통로의 타단은, 도 1 및 도 2에 도시된 이젝터(2)의 본체부(4)의 흡인로(4c)에 연통된다. 즉, 상기 연통로는, 흡인로(4c)와 다공질판(88a)을 연통한다. 그 때문에, 이젝터(2)는, 흡인로(4c) 및 상기 연통로를 통해, 척 테이블(88)의 유지면[다공질판(88a)의 상면]에 연통된다.In addition, a communication path (not shown) having one end connected to the back surface of the
축(94)의 타단에는, 모터 등의 회전 구동원(도시하지 않음) 및 에어 실린더 등의 승강 구동원(도시하지 않음)이 연결된다. 그 때문에, 척 테이블(88)은, 축(94)을 통해 전해지는 회전 구동원의 동력에 의해 회전한다. 또한, 척 테이블(88)은, 승강 구동원의 동력에 의해, 피세정물(21)이 반입 또는 반출되는 상방의 반입 반출 위치와, 하방의 세정 위치 사이에서 승강한다.To the other end of the
축(94)을 둘러싸는 위치에는, 세정액 받이 유닛(86)이 배치된다. 세정액 받이 유닛(86)은, 원통형의 외주벽(100a)과, 외주벽(100a)의 하부로부터 직경 방향 내측으로 돌출되는 원환형의 바닥벽(100b)과, 바닥벽(100b)의 내주측으로부터 상방으로 세워져 설치되는 원통형의 내주벽(100c)을 갖는다. 축(94)은, 내주벽(100c)의 내측을 통과한다. 내주벽(100c)의 외경은, 커버 부재(126)의 내경보다 작게 되어 있고, 척 테이블(88)이 세정 위치까지 하강했을 때에는, 커버 부재(126)는, 내주벽(100c)을 외주측으로부터 둘러싼다.A cleaning
바닥벽(100b)에는 배수구(104)가 형성되고, 배수구(104)는 하방으로 연장되는 배수로(도시하지 않음)에 접속된다. 세정액 받이 유닛(86)에 세정액이 낙하하면, 세정액은 배수구(104)로부터 상기 배수로를 거쳐 외부로 배출된다. 척 테이블(88)이 세정 위치로 하강하면, 내주벽(100c)이 상기 커버 부재(126)에 둘러싸이기 때문에, 축(94)이 통과하는 관통 구멍을 거친 하방으로의 세정액의 비산이 억제된다.A
외주벽(100a)의 내측에는, 건조 유닛(108)이 배치된다. 건조 유닛(108)은, 바닥벽(100b)으로 삽입되는 파이프형의 축부(114)를 갖는다. 축부(114)는, 척 테이블(88)의 외측에서 상기 척 테이블(88)의 표면에 대해 대략 수직인 방향을 따라 연장되는 파이프형의 부재이다. 축부(114)의 상단은, 척 테이블(88)의 표면보다 높은 위치에 도달하고, 아암부(112)에 접속된다. 축부(114)의 하단측에는 축부(114)를 회전시키는 모터 등의 회전 구동원(도시하지 않음)이 접속된다.A drying
아암부(112)는, 축부(114)의 상단으로부터 척 테이블(88)의 중앙까지의 거리에 상당하는 길이로 연장되는 파이프형의 부재이다. 아암부(112)의 연장 방향은, 축부(114)의 연장 방향에 대략 직교한다. 아암부(112)의 선단[축부(114)와 접속되지 않는 아암부(112)의 말단]에는, 하방을 향한 건조 노즐(110)이 설치된다. 축부(114)에는, 도시하지 않은 에어 공급원이 접속되고, 축부(114) 및 아암부(112)를 거쳐 건조 노즐(110)로부터 척 테이블(88)의 표면측으로 에어를 분출할 수 있다.The
외주벽(100a)의 내측에는, 건조 유닛(108)과의 사이에 내주벽(100c)을 끼우도록 세정 유닛(116)이 배치된다. 세정 유닛(116)은, 바닥벽(100b)으로 삽입되는 파이프형의 축부(122)를 갖는다. 축부(122)는, 척 테이블(88)의 외측에서 상기 척 테이블(88)의 표면에 대해 대략 수직인 방향을 따라 연장되는 파이프형의 부재이다. 축부(114)의 상단은, 척 테이블(88)의 상면의 높이보다 높은 위치에 도달하고, 아암부(120)가 접속된다. 축부(122)의 하단측에는 축부(122)를 회전시키는 모터 등의 회전 구동원이 접속된다.A
아암부(120)는, 축부(122)로부터 척 테이블(88)의 중앙까지의 거리에 상당하는 길이로 연장되는 파이프형의 부재이다. 아암부(120)의 연장 방향은, 축부(122)의 연장 방향과 대략 직교한다. 아암부(120)의 선단[축부(122)와 접속되지 않는 아암부(120)의 말단]에는, 하방을 향한 세정 노즐(118)이 설치된다. 축부(122)에는, 도시하지 않은 세정액 공급원이 접속되고, 축부(122) 및 아암부(120)를 거쳐 세정 노즐(118)로부터 척 테이블(88)의 표면측으로 세정액을 분출할 수 있다.The
세정 장치(70)로 피세정물(21)을 세정할 때에는, 척 테이블(88)을 고속으로 회전시키면서 피세정물(21)을 향해 세정 노즐(118)로부터 세정액(대표적으로는, 물과 공기를 혼합한 혼합 유체)을 분사한다. 그 후, 건조 노즐(110)로부터 피세정물(21)로 건조 공기를 분사하여, 상기 세정액을 제거한다.When the
여기서, 상기 세정액은, 척 테이블(88)의 다공질판(88a) 등을 통해, 축(94)의 내부에 형성된 연통로에 침입하는 경우가 있다. 그리고, 상기 연통로는, 도 1 및 도 2에 도시된 이젝터(2)의 본체부(4)의 흡인로(4c)에 연결되어 있기 때문에, 이젝터(2)의 본체부(4)의 내부에 상기 세정액이 침입하는 경우가 있다.Here, the cleaning liquid may enter the communication path formed inside the
이에 대해, 이젝터(2)는, 유입관(6)의 복수의 개구(6b)로부터 본체부(4)의 내부로 구동 유체를 분사한다. 이에 의해, 이젝터(2)에 있어서는, 하나의 개구로부터 구동 유체를 분사하는 이젝터와 비교하여, 본체부(4)의 내부에 있어서 상기 구동 유체가 통과하는 것이 상정되는 유로의 표면적이 증가한다. 그 때문에, 이젝터(2)에 있어서는, 상기 구동 유체와 그 주위의 유체 사이에서 발생하는 마찰력을 효율적으로 증가시킬 수 있다.In contrast, the ejector 2 ejects the driving fluid from the plurality of
그 결과, 이젝터(2)를 갖는 세정 장치(70)는, 본체부(4)의 내부에 액체가 침입하여 상기 구동 유체의 흐름이 저해되는 것과 같은 경우라도, 침입한 액체에 의한 악영향이 저감된다. 즉, 이러한 경우라도 이젝터(2)의 흡인력의 저하가 억제되어, 세정 장치(70)에 있어서의 절삭 시에 문제가 발생하는 개연성을 저감할 수 있다.As a result, in the
또한, 이젝터(2)는, 복잡한 기구를 갖는 대형의 장치가 아니며, 또한, 대량의 구동 유체를 필요로 하는 것도 아니다. 그 때문에, 이젝터(2)를 갖는 세정 장치(70)를 이용함으로써, 피세정물(21)의 세정을 저렴하게 행하는 것이 가능하다.In addition, the ejector 2 is not a large-scale device having a complicated mechanism, nor does it require a large amount of driving fluid. Therefore, by using the
11: 피가공물
17: 절삭액
21: 피세정물
2: 이젝터
4: 본체부
4a: 벽
4b: 벽
4c: 흡인로
6: 유입관
6a: 부분
6b: 개구(구멍)
6c: 벽
8: 유출관
8a: 수용구
8b: 부분
8c: 선단
20: 척 테이블
22: 프레임
22a: 오목부
22b: 하면
22c: 오목부
22d: 오목부
22e: 위치 결정 오목부
22f: 오목부
24: 다공질판
24a: 상면(유지면)
26: 링 부재
50: 절삭 장치
52: 절삭 유닛
56: 스핀들
58: 절삭 블레이드
60: 절삭액 공급 노즐
70: 세정 장치
84: 테이블 회전 유닛
86: 세정액 받이 유닛
88: 척 테이블(또는 스피너 테이블)
88a: 다공질판
94: 축
100a: 외주벽
100b: 바닥벽
100c: 내주벽
104: 배수구
108: 건조 유닛
110: 건조 노즐
112: 아암부
114: 축부
116: 세정 유닛
118: 세정 노즐
120: 아암부
122: 축부
126: 커버 부재11: Workpiece 17: Cutting fluid
21: object to be cleaned 2: ejector
4:
4b:
6:
6b: opening (hole) 6c: wall
8:
8b:
20: chuck table 22: frame
22a:
22c: recessed
22e: positioning
24:
26: ring member 50: cutting device
52: cutting unit 56: spindle
58: cutting blade 60: coolant supply nozzle
70: cleaning device 84: table rotation unit
86: cleaning liquid receiving unit 88: chuck table (or spinner table)
88a: porous plate 94: shaft
100a: outer
100c: inner peripheral wall 104: drain hole
108: drying unit 110: drying nozzle
112: arm part 114: shaft part
116: cleaning unit 118: cleaning nozzle
120: arm portion 122: shaft portion
126: cover member
Claims (4)
선단에 복수의 개구가 형성되고, 상기 개구로부터 구동 유체가 분사되는 유입관과,
상기 유입관의 상기 개구로부터 분사된 상기 구동 유체를 받아들이는 수용구를 상기 유입관의 선단과 대향하는 위치에 갖는 유출관과,
상기 개구와 상기 수용구의 주위를 둘러싸고, 외부 유체를 흡인하는 흡인로를 갖는 본체부
를 구비하는 것을 특징으로 하는 이젝터.An ejector that generates a suction force,
an inlet pipe having a plurality of openings formed at the front end and from which the driving fluid is injected;
an outlet pipe having a receiving port for receiving the driving fluid injected from the opening of the inlet pipe at a position opposite to the tip of the inlet pipe;
A body portion surrounding the opening and the receiving port and having a suction path for sucking an external fluid
An ejector comprising a.
상기 구동 유체는 액체인 것을 특징으로 하는 이젝터.According to claim 1,
The ejector, characterized in that the driving fluid is a liquid.
상기 피가공물을 유지하는 유지면을 갖는 척 테이블과,
상기 척 테이블에 유지된 상기 피가공물을 스핀들의 선단에 장착된 가공 지석으로 가공하는 가공 유닛과,
제1항 또는 제2항에 기재된 이젝터와,
상기 이젝터의 상기 흡인로와 상기 유지면을 연통(連通)하는 연통로
를 구비하는 것을 특징으로 하는 가공 장치.A processing apparatus for processing a workpiece having a device formed on its surface, the processing apparatus comprising:
a chuck table having a holding surface for holding the workpiece;
a processing unit for processing the workpiece held on the chuck table with a processing grindstone mounted on a tip of a spindle;
The ejector according to claim 1 or 2,
A communication path for communicating the suction path and the holding surface of the ejector
A processing apparatus comprising a.
상기 피세정물을 유지하는 유지면을 갖는 척 테이블과,
상기 척 테이블에 유지된 상기 피세정물을 세정하는 세정 유닛과,
제1항 또는 제2항에 기재된 이젝터와,
상기 이젝터의 상기 흡인로와 상기 유지면을 연통하는 연통로
를 구비하는 것을 특징으로 하는 세정 장치.
A cleaning apparatus for cleaning an object to be cleaned with a device formed on its surface, comprising:
a chuck table having a holding surface for holding the object to be cleaned;
a cleaning unit for cleaning the object to be cleaned held on the chuck table;
The ejector according to claim 1 or 2,
A communication path for communicating the suction path and the holding surface of the ejector
A cleaning device comprising a.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2020-114783 | 2020-07-02 | ||
JP2020114783A JP2022012736A (en) | 2020-07-02 | 2020-07-02 | Ejector, processing device, and cleaning device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20220003959A true KR20220003959A (en) | 2022-01-11 |
Family
ID=79010754
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020210079953A KR20220003959A (en) | 2020-07-02 | 2021-06-21 | Ejector, processing apparatus and cleaning apparatus |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2022012736A (en) |
KR (1) | KR20220003959A (en) |
CN (1) | CN113878735A (en) |
TW (1) | TW202210181A (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117878024B (en) * | 2024-03-08 | 2024-05-28 | 江苏京创先进电子科技有限公司 | Jet block, jet device and dicing saw |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009246098A (en) | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Disco Abrasive Syst Ltd | Method for grinding wafer |
JP2010036275A (en) | 2008-08-01 | 2010-02-18 | Disco Abrasive Syst Ltd | Cutting device |
-
2020
- 2020-07-02 JP JP2020114783A patent/JP2022012736A/en active Pending
-
2021
- 2021-06-21 KR KR1020210079953A patent/KR20220003959A/en active Search and Examination
- 2021-06-22 TW TW110122775A patent/TW202210181A/en unknown
- 2021-06-30 CN CN202110737291.2A patent/CN113878735A/en active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009246098A (en) | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Disco Abrasive Syst Ltd | Method for grinding wafer |
JP2010036275A (en) | 2008-08-01 | 2010-02-18 | Disco Abrasive Syst Ltd | Cutting device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW202210181A (en) | 2022-03-16 |
CN113878735A (en) | 2022-01-04 |
JP2022012736A (en) | 2022-01-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10279452B2 (en) | Processing apparatus | |
JP2007111840A (en) | Cutting device | |
CN101659033A (en) | Grinding wheel | |
KR102226224B1 (en) | Wafer and wafer processing method | |
TWI823988B (en) | polishing pad | |
KR20220003959A (en) | Ejector, processing apparatus and cleaning apparatus | |
US20190099855A1 (en) | Polishing apparatus | |
JP7204318B2 (en) | grinding wheel | |
JP2007083392A (en) | Singulation apparatus | |
TWI397955B (en) | The cutting device of the workpiece | |
JP2015193056A (en) | Chuck table and grinding device | |
JP6534861B2 (en) | Grinding device | |
KR20100011909A (en) | Liquid treatment apparatus | |
JP2011110631A (en) | Cutting device | |
TW201944480A (en) | Polishing apparatus | |
US20190111537A1 (en) | Workpiece grinding method | |
JP6012239B2 (en) | Wafer processing method | |
TW202208079A (en) | Workpiece cleaning method having a removing step for removing the cleaning liquid attached on the lower surface side of the workpiece | |
JP7295653B2 (en) | chuck table | |
CN110867398B (en) | Chuck table and wafer processing method | |
CN109420975B (en) | Polishing pad | |
US20230234182A1 (en) | Chuck table and grinding apparatus | |
KR20180093801A (en) | Blade cover | |
JP7251899B2 (en) | Workpiece processing method | |
JP2022012360A (en) | Cutting device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination |